JPS58125831A - ドライエツチング装置 - Google Patents

ドライエツチング装置

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JPS58125831A
JPS58125831A JP868282A JP868282A JPS58125831A JP S58125831 A JPS58125831 A JP S58125831A JP 868282 A JP868282 A JP 868282A JP 868282 A JP868282 A JP 868282A JP S58125831 A JPS58125831 A JP S58125831A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
etching
semiconductor substrate
quartz
etched
sio2
Prior art date
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Pending
Application number
JP868282A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Katami
形見 和彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp, Suwa Seikosha KK filed Critical Seiko Epson Corp
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Publication of JPS58125831A publication Critical patent/JPS58125831A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体基板支持台上の半導体基板周辺に石英を
配置したドライエツチング装置に−する。
従来のドライエツチング装雪では、第111に示すごと
く金属製の半導体基板支持台1が配置されているだけで
、この上に半導体基板2を乗せてエツチングをしていた
。このような装ffeと、例えば、この酸化シリコン上
の多結晶シリコンをエツチングする場合郷KFi、過剰
にエツチングしたとか、#起きれたエツチングガス中の
二酸化シリコンに対して活性な反応種によって二酸化シ
リコンも同時にエツチングされる危険性があった。
本斃、明はかかる欠点を除去した亀ので、その目的は、
被エツチング物質の下に存在しているニー化シリコンの
エツチングを防止することKある。
以下、11施例に基づいて本″IR明を詳しく説明する
第28ilにおいて、半導体基板支持台1上の半導体基
112の周辺に石英3を1舒している。ごれによ〉、例
えば二酸化シリコン上の多結晶シリコンをエツチングす
る場合などK、過剰にエツチングし友としても励起され
たエツチングガス中の二酸化シリコンに対して活性な反
応種は、この石英3と反応して消費される九めに少なく
な9、多結晶シリコンの下の二酸化シリコンをエツチン
グしなくなる。
以上のように1本斃明は、二瞭化シリコン上の多結蟲シ
リコンをエツチングする際の二駿化シリコンのエツチン
グ肪止にすぐれた効果を有する4のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のドライエツチング装置Kシける半導体
基板支持台の櫃略図。 第2図は、本発11jKよるドライエツチング装置にシ
ける半導体基板支持台の歓略−0 1Fi半導体基板支持台 2F1半導体基板 3Fi石英 以  上 出願人 株丈会社 −訪精工舎 代理人 弁理士 最上 17) 優2vA

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  真空状態に保えれえ反応車内にエツチングガ
    スを導入し、これに高屑腋電界を印加することによ伽発
    生する励起状部のエツチングガスを用いてエツチングを
    行なう、いわゆるドライエツチング装置Kおiて1M応
    宸内の半導体基板支持台上の半導体基板周辺に石英を配
    置することをS*とするドライエツチング装置。
JP868282A 1982-01-22 1982-01-22 ドライエツチング装置 Pending JPS58125831A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62152435U (ja) * 1986-03-19 1987-09-28
US4954201A (en) * 1988-10-15 1990-09-04 Leybold Aktiengesellschaft Apparatus for etching substrates with a luminous discharge

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62152435U (ja) * 1986-03-19 1987-09-28
JPH0451473Y2 (ja) * 1986-03-19 1992-12-03
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