JPS5812335A - 微,粗動テ−ブル - Google Patents

微,粗動テ−ブル

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JPS5812335A
JPS5812335A JP10945681A JP10945681A JPS5812335A JP S5812335 A JPS5812335 A JP S5812335A JP 10945681 A JP10945681 A JP 10945681A JP 10945681 A JP10945681 A JP 10945681A JP S5812335 A JPS5812335 A JP S5812335A
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JP
Japan
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coarse movement
coarse
shaft
movement
fine
Prior art date
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Pending
Application number
JP10945681A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Kenbo
行雄 見坊
Mitsuyoshi Koizumi
小泉 光義
Nobuyuki Akiyama
秋山 伸幸
Motoya Taniguchi
素也 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP10945681A priority Critical patent/JPS5812335A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Automatic Control Of Machine Tools (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高速の粗動機能と、超高精度の微動機能とを兼
ね備えた移動テーブルに関するものである。
3 6 半導体集積回路の製造に用いる移動テーブルはα1pm
以下の超高精度を必要とし、しかも製造能率を向上する
ために高速で作動する必要がある。
このため、比較的長いストロークを高速で作動する粗動
機構と、超高精度の微動機構とを備え九移動テーブル装
置(以下、黴、粗動テーブルと呼ぶ)が用いられる。
8111図は従来一般に用いられている黴、粗動テーブ
ルの平面図、第2図は同側面図に制御機構をIQ付記し
た図である。粗動テーブル1の上に微動テーブル3が設
けられ、その上に加工対象物2が載置される。
上記の粗動テーブル1は粗動軸7を介してボールナラ)
8に連結されておシ、このボールナツト8は回り止め用
ガイド9に案内されつつボールねじ10を介してDCモ
ータ11により図の左右方向に駆動される。以上が粗動
テーブル1を高速・長ストロークで左右に粗動させる機
構である。
前記の微動テーブル3は2枚の平行な板ばね12゜12
を介して粗動テーブル1上に弾性的に支承されける。上
記電磁石13の通電を制御してその吸引力を加減するこ
とにより微動テーブル3の左右方向の微動が行われる。
4は微動テーブル3に固着された反射鏡で、レーザ側長
機の投受光器5から投射されたレーザ光15を反射する
。反射したレーザ光は投受光器5によって電気信号に変
換された後レーザ測長機演算部6に入力され、微動テー
ブル3の位置を表わす出力信号がコントローラ14に入
力される。
上記のコントローラ14が微動テーブル移動量の目標値
を与えられると、まずDCモータ11を作動させて粗動
テーブル1を図の左方に移動させ、目標位置の僅か手前
で停止させる。この場合の停止精度は±10声m程度で
ある。次いでコントローラ14は与えられた目標値とレ
ーザ測長結果とを比較しつつ電磁石13の通電量を制御
し、微動テーブル3を目標位置の±α08pmの所まで
微動させる。
上述のように粗動テーブル1の上に微動テーブル5を設
けると構造が複雑になる上、装置が大形となる。大形に
なると、この装置を包むクリーンルームを大形にしなけ
ればならないことや、慣性力が大きくなって高速作動を
困難にすることなどの不具合を生じる。更に、第2図に
示したような構造では測長用し−f′jt15の光路が
粗動用の駆動中心軸16から離れているため、粗動テー
ブル1のμmリング、ピッチング又はチルティングによ
る測長誤差を生じ易い。このような測長誤差を軽減する
ため第3図のように駆動中心軸16を高くしてレーザ光
15の光路に近づけると、測長精度は曳くなるが装置の
機構は頁に複雑となる。
本発明の目的紘、上記の事情に鑑みて、簡単な機構で、
小形、高精度かつ安価な黴、粗動テーブルを提供しよう
とするものである。
上記の目的を達成するため、本発明は、従来装置のよう
に粗動テーブル上に微動テーブルを架装するといった二
重構造をとらず、単一のテーブルと、テーブルを駆動す
る粗動軸と、上記粗動軸とテーブルとを相互に引きつけ
る手段と、上記粗動軸とテーブルとの接近を制限するス
トッパ手段と、上記粗動軸の先端部に取付けられてテー
ブルを押動する微動装置とからなることを特徴とする。
次に、本発明の一実施例を第4図および第5図について
説明する。第4図は平面図であり、第5図四は微動装置
が作動していない状態の側面図、第5図(B)は微動装
置が作動している状態の側面図である。第1図および第
2図に示した従来装置と同一の図面参照番号を附した加
工対称物22反射鏡4.レーザ光投受光器5.レーザ測
長機演算部6、粗動軸7.ポールナラ181回シどめ用
のガイド91ボールねじ10.およびDCモータ11は
従来装置におけると同様の構成部材である。
一端をボールねじ8に取付けた粗動軸7の他端にに字形
断面を有するプ冒ツク20を固着する。
粗動軸7の軸心と垂直に側方に突出した部分20m。
20mはプラケット部で、このプラケット部とテーブル
21との間に引張ばね22.22を介装する。
本例は以上のようにして粗動軸の先端とテーブルとを互
いに引きつける手段を設ける。
25、25は上記の引張ばね22.22と並列に設けた
ダンパである。
前記π字形ブロック20の平行部20b、  20bは
ストッパ部で、その先端がテーブル21に当接して引張
ばね22.22によるテーブル21の接近を制限してい
る。
本例は以上のようにして粗動軸とテーブルとの接近を制
限するストッパ手段を設けている。
前記のストッパ20b 、 20bに挾まれた部分に、
粗動軸7の軸心と同−軸心状にピエゾブツシャ24を固
設する。ピエゾブツシャは公知のごとく電圧を与えられ
ると電圧に応じて精密に伸縮する電子部材であって、収
縮したとき第5回内のようにストッパ部20bの先端よ
シも後退してチープール21から離間し、伸長したとき
!s5図(B)のようにストッパ部20bの先端よりも
突出してテーブル21に当接してこれを押動するように
、ピエゾブツシャ24とストッパ部20bとの関係寸法
を設走する。
本例は以上のようにして粗動軸の先端部にテーブルを押
動する微動装置としてピエゾブツシャを取付ける。
26は従来装置(第2図)におけるコントローラ14に
対応するコントローラで、与えられた目標位置と、レー
ザ測長機演算部6からの入力信号とを比較してDCモー
タ11の回転およびピエゾブツシャ24の伸縮を制御す
る機能を有している。
次に上記実施例の作動を説明する。
停止目標位置25をコントリーラ26に与えると、同コ
ントm−’)26はDCモータ11を作動させて粗動軸
7を左方に移動させる。このときピエゾブツシャ24は
収縮せしめられている。テーブル21は引張ばね22の
付勢力によってブロック20のストッパ部20bに密着
し、粗動軸7と共に左方へ動かされる。
テーブル21の移動量はレーザ測長され、その結果は演
算部6からコントローラ26にフィードバックされる。
=ントロー226は、テーブル21の基準面が停止目標
位置25よシも僅かに手前の位置27に達したときDC
モータ11の回転を停止させ、粗動軸7の左20方向移
動を停止させる。以上の粗動作動は従来装−1 置([1,第2図)における粗動と同様に行われ、その
停止精度は±10pm程度である。
次にコントローラ26は、テーブル21の位置のレーず
測定結果のフィードバックを受けつつピエゾブツシャ2
4を伸長させるように電圧、を与える。ピエゾブツシャ
24の伸長によシ、テーブル21は左方に押動され、引
張ばね22の付勢力に抗して左方に移動せしめられる。
テーブル21が目標位置に達するとコントーー226は
ピエゾブツシャ24の伸長を停止させる。
本発明に係る装置は以上説明したように単一のテーブル
を用いた簡単な構成であるから、小形軽量、かつ安価に
製作することができる。従って小形であることによって
クリーンルームなどの付属設備の小形化が可能となり、
またテーブル軽量化によって駆動力が小さくて済み、し
かも高速作動が害鳥になる。
本実施例のようにテーブル21の移動量を直接的に一1
定する手段を設けるとともに、上記の−j定手段からフ
ィードバックを受けて粗動軸7および黴10   ζ1 動装置としてのピエゾブツシャ24を制御するコントロ
ーラ26を設けると、テーブル移動量のフィードバック
に基づいてその移動を制御することができるので、駆動
部材のクリープ、振動、ドリフト等に起因する誤差は自
動的に補償される。従って、熟練した作業員の手動操作
を要しないでテーブルを目標位置に高精度で停止させる
ことができ、作業の省力化に貢献し得るとともに人為的
操作ミスを防止することができる。
才た、本実施例のように粗動軸7が作動している間は微
動装置としてのピエゾブツシャ24を縮小させてテーブ
ル21から離間させ、粗動軸7が停止した後にピエゾブ
ツシャ24によってテーブルを押動するように制御する
コント算−ラ26を備えることにより、粗動軸7が高速
で作動した場合、テーブル21の慣性による衝撃力が微
動装置であるピエゾブツシャ24にかからないようにす
ることができる。
本例のように、テーブル21と粗動軸7とを相互に引き
つける手段として引張ばね22のようにばね装置を用い
ると、構造が簡単とな〉、シかもその点検中調節が容易
である。
上記のようにばねを用いた引きつけ手段を設けると、粗
動軸7が急停止したときテーブル21の慣性とばねの弾
性とによって振動を生じる虞れがある。振動が発生する
とテーブルの静止までに時間がかかるが、本例における
ダンパ25のようにばねの振動を減衰させる手段を設け
ておくとテーブルの静止が早くなってロスタイムが節減
される。
II6図鍵粗動軸の停止と微動装置であるピエゾブツシ
ャの作動開始とのタイミングの1例を示す。
横軸は時間、縦軸はテーブルの位置を貴わし、25は停
止目標位置、27拡その僅か手前に設定される粗動停止
位置であり、それぞれ第5図における目標位置25.粗
動停止位置27に対応する点である。
時点32は粗動停止時点、31拡粗動期間である。
時点32で粗動が停止した直後テーブルはばねの弾性力
によって振動しその振動は次第に減衰して1時間後の時
点33で停止する。本例の;ントローラ26Fi、上記
の振動停止時点53においてピエゾブツシャ24の伸長
を開始させ、テーブルの位置が目標位置25に達したと
きピエゾブツシャの伸長を停止させる。!ioはビエゾ
プツクヤの伸長作動期間である。このように、粗動軸の
停止によるテーブルの振動が減衰した後に微動装置の作
動を開始させるようなコン)賞−ラを備えておくと、上
述の振動におけるテーブル1の慣性力によって微動装置
が衝撃を受けて破損する虞れが無い。
第6図において、微動装置の作動期間30に対応するテ
ーブル移動−@50mの勾配は微動装置によるテーブル
移動速度を表わしている。この曲線の勾配が50bのよ
うに緩やかであると、テーブルが目標位置25に到達す
る時刻が遅くなる。しかし、50cのように急激である
と微動装置の先端がテーブル移動速度する際に大きい衝
撃力を受けて破損する虞れかめる。本例のコントp−2
26はピエゾグツシャの伸長速度を調節し得る構造ζこ
なっていて前記の勾配を適宜に設定することができる。
一般的に、本発明装置のコント四−ラは微動装置の作動
速度、および微動装置の作動開始時点を自在に制御し得
る構造のものを用いることが望ましい。
第7図紘前例と異なる作動タイミングを示す。
本例においては粗動軸が時点32で停止した後テーブル
は区間56だけオーバーシェードしている。このオーバ
ークェートは前述の第6図においても発生しておシ、振
動の最初の174サイクルに尚九る。
本例においてはこのオーバーシュート36に同調させて
ビエゾプツVヤを伸長作動させ、オーバークェート期間
に2ツブさせてピエゾブツシャによるテーブル押動を行
い、図表におけるオーバークェート56の延長−が目標
位置25に達した点Pにおいてピエゾブツシャの伸長を
停止させる。
上述のよう番ζ、粗動軸の停止に伴うテーブルの振動に
同期させて微動装置によるテーブル押動を開始させるコ
ント四−ラを備えておくと、微動装置鉱テーブルの振動
による衡撃力を受けることなく、テーブルを早期に目標
位置に静止させることができる。
第8図および第9図はそれぞれ第4図と異なる2°)実
施例の部分図である。第4図の実施側番こおいて“−1
411 祉冨字形断面を有するブロック20を粗動軸7の先端に
固着して、その平行部20b、  20bをストッパと
して作用せしめたが、粗動軸7の先端に固着するブロッ
クは第8図に示すようなL字形ブロック57、又は第9
図に示すような円筒形ブロック38等1、  任意の形
状とすることができる。1IK10図社第9図の実施例
の人−に断面である。
第11図は第4図と異なる実施例である。第4図と異な
るところはπ字形ブロック20のストッパ部の先端に電
磁石40.40を固設し、これによってテーブル21を
吸着できるようにしである。この電磁石40.40の付
設に伴い、ダンパ23を省略する。本例における;ン)
 a −′y26は第4図について前述した機能の他に
、電磁石40.40を次記のように制御する機能を有し
ている。
本例の装置においては、粗動軸7によってテーブル21
を左方IC移動させる際、電磁石40.40に通電して
テーブル21を吸着させておく。このよう化すると粗動
軸7が急停止してもテーブル21は電磁石40.40か
ら離間せず、粗動軸7と共に急停止する。従って粗動軸
7の停止後に振動を生じない。
そして、粗動軸7を停止させた直後に電磁石40゜4Q
の通電を−って電磁吸着を解除し、それとともにピエゾ
ブツシャ24による微動操作を開始する。
このように、粗動軸の作動中は粗動軸の先端をテーブル
に固定し、粗動軸の停止とともに上記の固定を解除する
手段を設けておくと、粗動軸の停止に伴うテーブルの振
動を防止で會るので、振動の減衰を待つことなく微動装
置の作動を開始し得る。
Cの場合、粗動軸の先端をテーブルに固定する手段とし
て、電磁力の他に真空力、機械力など適宜の方法を利用
することができる。
本発明を実施する場合の微動装置としては、ねじ、てこ
等を用いた機械的微動機構を適用することができ、また
、磁歪素子などの各種電磁的微動機構を適用することも
できる1本実施例のようにビエゾプツンヤを黴動装!に
用いると、消費電力が少なくて済み、その上、超高精度
で相轟の強さの耐荷重(本例の場合、約60#)が得ら
れるので、耐久性、信頼性が大きい。
ルと、テーブルを駆動する粗動軸と、上記粗動軸の先端
とテーブルとを相互に引きつける手段と、上記粗動軸と
テーブルとの接近を制限するストッパ手段と、1紀粗動
軸の先端部に取付けられてテーブルを押動する微動装置
とを設けることにより簡単な小型の装置でテーブルを動
かして目標位賃に高精度で停止させることができ、その
上、装置の製作費が安替であゐ。
【図面の簡単な説明】
H1図は従来一般に用いられている黴、粗動テーブルの
平面図、第2図は同側面図、第3図は前記と異なる従来
形像、粗動装置の側面図、第4図および第51!!i!
lは本発明に係る微、粗動装置の一実施例を示し、第4
図は平面図、第5図内および第5図β)はそれぞれ異な
る作動状態における側面図である。第6図は上記実施例
の作動タイζフグ図表、第7図は上記と異なる実施例の
作動タイ々ング図表、嬉8図および第9図はそれぞれ第
4図のgA施例と異なるlI!旅例の部分的側面図、第
10図は7 spaにおけるA −A/断面図、第11図は前記と異
なる実施例の平面図である。 4・・・反射鏡、5・・・レーf党投受光器、6・・・
レーず一1長機演算部、7・・・粗動軸、8・・・ポー
ルナツト、10、・・ボールねじ、11・・・DC4−
夕、14.26・・・;ントp−2,20・・・「字形
プ四ツク、20b・・・W字形ブーツタのストッパ部、
21・・・テーブル、22・・・粗動軸とテーブルとを
引きつける手段としての引張ばね、24・・・微動装置
としてのピエゾブツシャ、25・・・停止目標位置、5
7・・・L字形プ交ツク、s8・・・円筒形プ田ツク。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第6図 第7図 第8図 第9図 第10図 4 第11図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 テーブルと、該テーブルを駆動する粗動軸と、上
    記粗動軸の先端とテーブルとを相互に引きつ社る手段と
    、上記粗動軸とテーブルとの接近を制限するストッパ手
    段と、上記粗動軸の先端部に取勤つけられてテーブルを
    押動する微動装置とからなることを特徴とする黴、粗動
    テーブル。 2 前記のテーブルは、その移動量を直接的に測定する
    手段を設けたものとし、上記測定手段からのフィードバ
    ックに基づいて粗動軸及び微動装置を制御する手段を備
    え良ものとすることを特徴とする特許請求の範d第1項
    に記載の黴、粗動テーブル。 & 前記の微動装置は、粗動軸が作動しているときには
    微動装置をテーブルから離間させ、粗動軸の作動が停止
    した後に微動装置がテーブルを押動するように制御する
    手段を付加したものとすることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載のki              
             ’黴、粗動テーブル。 4 前記の微動装置は、その先端とテーブルとを相互に
    引きつける手段としてダyバ付きのバネを備^たものと
    し、かつ、テーブルの振動が減衰し喪後に同テーブルを
    押動するように制御する手段、並びに粗動軸が作動を停
    止するときテーブルに生じる振動に同期させてテーブル
    の押動を開始するように制御する手段−を備えたピエゾ
    素子とすることを特徴とする特許請求の範囲第1項、同
    第2項、又は同第3項に記載の黴、粗動テーブル。 & 前記の粗動軸は骸粗動軸が作動しているとき同粗動
    軸の先端部をテーブルに固定し、粗動軸が作動を停止す
    ると上記の固定が自動的に解除される機能を有する固定
    手段を備えたものとすることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項、同第2項。 または同第5項に記載の黴、粗動テーブル。
JP10945681A 1981-07-15 1981-07-15 微,粗動テ−ブル Pending JPS5812335A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6320848A (ja) * 1986-07-15 1988-01-28 Canon Inc 位置決め装置
KR100396021B1 (ko) * 2001-05-25 2003-08-27 박희재 초정밀 이송장치
US7218032B2 (en) 2004-08-06 2007-05-15 Samsung Electronics Co, Ltd. Micro position-control system

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