JPS5812193A - Semiconductor memory - Google Patents

Semiconductor memory

Info

Publication number
JPS5812193A
JPS5812193A JP56110189A JP11018981A JPS5812193A JP S5812193 A JPS5812193 A JP S5812193A JP 56110189 A JP56110189 A JP 56110189A JP 11018981 A JP11018981 A JP 11018981A JP S5812193 A JPS5812193 A JP S5812193A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pair
signal
memory
transistor
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP56110189A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0217874B2 (en
Inventor
Hiroshi Iwahashi
岩橋 弘
Masamichi Asano
正通 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP56110189A priority Critical patent/JPS5812193A/en
Publication of JPS5812193A publication Critical patent/JPS5812193A/en
Publication of JPH0217874B2 publication Critical patent/JPH0217874B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/12Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines

Abstract

PURPOSE:To reduce the power consumption, by suppressing the instant peak current when a memory access is under working with a precharging circuit that charges a pair of bit lines which serve to transfer a data to a memory cell. CONSTITUTION:The MOS transistors TR T6 and T7 which receive the supply of the 2nd precharge signal PC2 at each gate are connected between a power supply Vcc and a pair of bit lines Qn and Qn'. Furthermore an MOS TR T8 is connected between the lines Qn and Qn'. In this case, the signal PC2 is set at zero level when the Vcc is higher than a prescribed potential and then set at the same level as the 1st precharge signal PC1 when the Vcc is lower than a prescribed potential respectively.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体メモリに係り、特にランダムにリード、
ライト可能なランダムアクセスメそす(RAM )に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor memory, and particularly to a semiconductor memory that randomly reads and
This relates to writable random access memory (RAM).

最近1スタテイツクmにおいては、内部をグイ+1ツク
で動作させるようにしたメそyが徐々化増えモきている
。これは1ダイナミック動作をさせること番とよって消
費電流の低減あるいは動作速度の向上を図る目的のため
である。
In recent years, there has been a gradual increase in the number of systems in which the internals are operated in one step. This is for the purpose of reducing current consumption or improving operating speed by performing one dynamic operation.

才な、ダイナミック動作でないにしても、集積g1mの
内部ノードの初期化あるいはプリチャージ等に集積回路
内部でクロックパルス信号を作っているものも多い、こ
れも上述した目的のためになされる。
Even if they do not have a very dynamic operation, many integrated circuits generate clock pulse signals within the integrated circuit for initializing or precharging the internal nodes of the integrated circuit g1m, and this is also done for the above-mentioned purpose.

上記の様なりロックパルス信号またダイナミック動作の
ための信号は、集積回路に入力されるチップイネイブル
信号(チップを動作状IHcするための信号)に同期し
て作ったり、メモリのアドレス信号の変化に同期して作
ったりしている。この様に作られたクロックパルス信号
により、olIの初期化のための充放電に伴なう電流は
動作時の瞬時ピーク電流となって流れる。
As mentioned above, the lock pulse signal or the signal for dynamic operation is generated in synchronization with the chip enable signal (signal for placing the chip in the operating state IHc) input to the integrated circuit, or when the address signal of the memory changes. It is created in sync with the. Due to the clock pulse signal generated in this manner, the current associated with charging and discharging for initializing olI flows as an instantaneous peak current during operation.

一般的には、メモリ容量が大容量になるli1主要信号
−に付随した浮遊容量が増大するために、これらの充放
電電流は轟然増加する。また−メそツの動作速度が遮く
なればなるほど、これらの浮遊容量に対する充放電も遭
くしなければならな(なり、従って充放電電流もより鋭
いビーく増大させ、入力信号あるいはメモリチップ内の
種々の信号11に誘導電位等にょる雑fを発生させ%回
路の動作マージンに悪影響を与えるばかりでなく、また
実装技術の国難度が増すという問題を生じさせる。
Generally, these charging and discharging currents increase dramatically because the stray capacitance associated with the li1 main signal increases, which increases the memory capacity. Also - the faster the operating speed of the device, the more charging and discharging of these stray capacitances must be encountered (thus, the charging and discharging currents also increase sharply, causing the input signal or memory chip to This not only adversely affects the operating margin of the circuit, but also increases the level of difficulty in mounting technology.

例えば、アドレス信号の変化を検出してその変化に同期
して内sg回路を制御するためのクロックパルス信号を
発生する様なメモリレステムに右いては、このクロック
信号による内S回路の充放電により鎗遣した様に電漉纏
に雑音が乗り、この雑音のため再びクロックパルス信号
が脅生じ、これによって回路が発振してしまうという不
実そ一ドが発生していた。
For example, in a memory system that detects a change in an address signal and generates a clock pulse signal for controlling the inner sg circuit in synchronization with the change, charging and discharging of the inner sg circuit using this clock signal is required. This caused a noise in the electric wire as if it had been tampered with, and this noise threatened to generate a clock pulse signal again, creating a false possibility that the circuit would oscillate.

tた、#述したように瞬時ピーク電流は大赤な浮遊容量
を短時間に充放電した時により大台くなる。半導体メモ
リにおいて、この大台な浮遊容量が存極する所は行蘇及
びビット1等である。このビット線は従来、全綴同時に
プリチャージされていたために、このビット線のプリチ
ャージのための瞬時ピーク電流は他の内部)−ドの充放
電に比べて非常に大きなものとなっていた。
As mentioned above, the instantaneous peak current becomes larger when a large stray capacitance is charged and discharged in a short period of time. In a semiconductor memory, places where this large amount of stray capacitance exists are the memory cell, bit 1, and the like. Conventionally, this bit line was precharged at the same time on all pages, so the instantaneous peak current for precharging this bit line was much larger than that for charging and discharging other internal boards.

このような、ダイナミック動作を行なう半導体メモリの
一般的@lsを1111図に示す、このメそすに右いて
は、選択された行118L により駆動されるメモ夏セ
ルlは、その記憶していた情報を一対のピッ) II 
Qrs 、 Qnに出力するようになっている。そして
、このピッ) * Qa 、 Qaに出力された一対の
データは怠互いに反対の位相を持ち、このデータを竜y
スアンプIにて検出して出力するようにしている。さら
に通常、行@I!Lが選択される鍵には、プリチャージ
回路5にてピッ)IIQm−9膳が所定の電位レベルま
てプリチャージされるようになっている。
A typical example of such a semiconductor memory that performs dynamic operation is shown in Fig. 1111. On the right side of this diagram, the memory cell l driven by the selected row 118L stores its memory. Information on a pair of pins) II
It is designed to output to Qrs and Qn. Then, the pair of data output to Qa and Qa have opposite phases to each other, and this data is
The sensor amplifier I detects and outputs the signal. Furthermore, usually the line @I! For keys in which L is selected, the precharge circuit 5 precharges IIQm-9 to a predetermined potential level.

前記プリチャージglllJの従来III%−第2図に
示す、園において、MOB )うシジスタT、、’I’
Conventional III% of the precharge gllllJ - shown in Figure 2, MOB) Ushisister T,,'I'
.

は電mVcgとビットIIQfi  との間に着列!続
され、トランジスタ〒1のゲートは電11Vccjζ接
続され、トラy(>スターのゲートにはプリチャージ信
号PCが入力される。また、 MOB  )ランジスタ
T、、T・は電源Vccとビット1lQlとの間に並列
接続され、トランジスタ7県 のゲートは上記電fll
”hcic*続され、トランジスタT畠のゲージには上
記信号PCが入力される。さらに、2つのピッ) II
 Qn −Qa間には、ゲートに上記信号PCが入力さ
れるMOB )ランジスタテ−が接続されている。ここ
で、トランジスタ!i、テロはメモリセルlの負荷トラ
ンジスタとして働き、トランジスタ!■、!、は信号P
Cにより電1!IVccη)ラヒッ) l[Qm −Q
aを充電するためのプデデャ−ジ用トランジスタとして
動作し、またトランジスタT、はビットilQ鳳# Q
aの電位を等しくする働きをする。
Arranges between electric mVcg and bit IIQfi! The gate of the transistor 〒1 is connected to the voltage 11Vccjζ, and the precharge signal PC is input to the gate of the transistor 〒1.Also, the MOB) transistors T, , T are connected to the power supply Vcc and the bit 1lQl. The gates of the seven transistors are connected in parallel between the
``hcic* is connected, and the above signal PC is input to the gauge of the transistor T.Furthermore, two pins) II
A MOB transistor transistor whose gate receives the signal PC is connected between Qn and Qa. Transistor here! i, terrorism acts as a load transistor for memory cell l, transistor! ■、! , is the signal P
Electricity 1 due to C! IVccη) Rahi) l[Qm −Q
The transistor T operates as a storage transistor for charging the bit ilQ.
It works to equalize the potential of a.

上記の様な構成のプリデャ、−ジa踏においてQnに対
する′プリチャージが開始される。つまり、プリチャー
ジ信号pcffi@1”レベルとなると、トランジスタ
?、、T烏が導通し、ビット1IQa。
In the predetermined mode as described above, precharging of Qn is started. In other words, when the precharge signal becomes pcffi@1'' level, the transistors ?, , T are conductive, and the bit 1IQa becomes conductive.

Qnは充電される。この時−ビットII(amはビット
11QIIと同電位になる迄充電され1この充電電流が
ピーク電流となって現われる。従って、メそツ容量の増
大とともに相対的に大きくなるビット線容量の充電時に
大きな瞬時ピーク電流が流れ、これが雑音澹となり、回
路の動作マーyyj(Jlll響を及ぼしていた。
Qn is charged. At this time, bit II (am) is charged until it reaches the same potential as bit 11QII, and this charging current appears as a peak current. Therefore, when charging the bit line capacitance, which becomes relatively large as the capacitance increases, A large instantaneous peak current flows, which creates a lot of noise and affects the operation of the circuit.

本発明は上記の事情に鎌みてなされたもので1メモツセ
ルに対するデータの受は渡しを行なうための一対のビッ
トl!を充電するプリデャーe口IIR:よって、電源
が所定電圧以上では前記一対のピッ)IIを短絡し、電
源が所定電圧以下では鎗記一対のビットs!t−短絡す
ると共に電St#こよりプ9?ヤージすることによって
、メモリアクセス動作時の瞬時ピーク電流を抑制して消
費電流を低減し、all動作マージンを大きくし得ると
共に一作速Wを速くし得る半導体メモ9を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in consideration of the above-mentioned circumstances, and data reception for one memory cell is performed using a pair of bits l! Therefore, when the power supply voltage is above a predetermined voltage, the pair of bits II are short-circuited, and when the power supply voltage is below a predetermined voltage, the pair of bits S! T- short circuit and power St # 9? It is an object of the present invention to provide a semiconductor memory 9 that can reduce current consumption by suppressing instantaneous peak current during a memory access operation, increasing the all operation margin and increasing the single operation speed W by increasing the memory access operation.

以下、1lIIを参照して本発明の一実施例t−貌明す
る。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be explained with reference to 1lII.

134図は第1mlを参照して前述したような牛導体メ
モツのプリチャージ回路を示している。
Figure 134 shows a precharge circuit for a cow conductor memo as described above with reference to 1ml.

1路は、電源VC+Cと一対のピッ)IiQ膳a Qt
tとの間にはそれぞれのゲーFに第2のプリチャージ信
号PCjが供給されるM08トランジスタT1.テ!が
それぞれ接続され、さらに上記ビット*Qn、Q鵬間に
はゲートにIIIプリチャージ信号Pctが入力される
MJ8 )ランジスタテ虐が接続される構成となってい
る。この場合、電1111Vccが所定電位以上の時は
I8282ブリデヤ一ジ信Cjは−Oルベル、電@Vc
cが所定電位以下の時は82ブリデヤ一ジ信号Pctは
1111プツチヤ一ジ信号PCJと同じ信号となる。な
お。
The first path is the power supply VC+C and a pair of pins) IiQzena Qt
M08 transistors T1 . Te! are connected to each other, and a transistor MJ8) whose gate receives the III precharge signal Pct is connected between the bits Qn and Q. In this case, when the voltage 1111Vcc is higher than the predetermined potential, the I8282 bridge signal Cj is -O level, and the voltage @Vc
When c is below a predetermined potential, the 82 bridge signal Pct becomes the same signal as the 1111 push signal PCJ. In addition.

IIIのプリチャージ信号PCJは前述した112図の
プリチャージ信号PCと同様の信号である。
The precharge signal PCJ of III is a signal similar to the precharge signal PC of FIG. 112 described above.

上記構成のプリチャージ1路の動作をjlIslllの
信号波形図を参照して説明する。第5IIIに珈いて、
実線は電源Vccが所定電圧以上の時を示し、破線は電
源VCCが所定電圧以下になった時を示す、新たに行@
8Lが選択される鍵に第1の信号PCJは”l#レベル
となる。この時−トラあるならば、トランジスタ?、を
通してビット■QalZ)電荷がピッ)l[Qnに移動
することによって、両ピッ) III Qm 、 Qn
は同電位となる。この時、ビットII Qmは同電位と
なる。Cの時、ピッ)IIQIIを充電するのはピッ)
 II Qfiの電荷であり%を源vcCは何ら関係し
ない、従って、ビット麿の充電時に大きな瞬時ピーク電
流が流れることはない。
The operation of the first precharge path having the above configuration will be explained with reference to the signal waveform diagram of jlIslll. In the 5th III,
A solid line indicates when the power supply Vcc is above a predetermined voltage, and a broken line indicates when the power supply VCC is below a predetermined voltage.
The key for selecting 8L is that the first signal PCJ goes to the "l# level. At this time, if there is a transistor, the charge on the bit QalZ) moves to the pin)l[Qn, so that both Beep) III Qm, Qn
are at the same potential. At this time, bit II Qm has the same potential. When C, beep) When charging IIQII, beep)
The charge of II Qfi has no relation to the source vcC, so a large instantaneous peak current does not flow when charging the bit.

しかし、上記のようにピッ)illQm、Qlを短絡す
るだけては、電源Vccの電位が下がった時に問題にな
る。すなわち、この時1例えばビット線Qmの@1ルベ
ルが電11Vcc電位に応じて下がるのて、ピッ)II
Q臆#Q鳳の短絡後の電位が低すぎてセyスアyブ1の
感度外になったり、あるいはピッ)II!Ql”e−の
電位が低すぎるため一メそツセル1xihらデータを読
み出す際にメモリセル1中のデータが反輌、すなわち@
O”から“l”への書會込みが起こる恐れがある。つま
り、第1プツチヤージ信号PCIだけでは電源マージン
が小さくなる問題が生ずる。
However, simply shorting Qm and Ql as described above will cause a problem when the potential of the power supply Vcc drops. That is, at this time, 1, for example, the @1 level of bit line Qm decreases in accordance with the voltage 11Vcc potential, causing a beep) II
The potential after the short circuit of Q-Q #Q-Feng may be too low and be out of the sensitivity of SEISUAB1, or it may be beep)II! Since the potential of Ql"e- is too low, when reading data from one cell 1xih, the data in memory cell 1 is reversed, that is, @
There is a possibility that a write-in may occur from "O" to "L".In other words, if only the first charge signal PCI is used, a problem arises in that the power supply margin becomes small.

一方、電m”lc@が所定電位以下になると、第1のプ
リチャージ信号PCJと同時に$2のプリチャージ信号
rCIも@18レベルとなる。この時の電圧波形を第5
lilIの破線に示す、つまり、この時の動作は値達し
た第3図の場合と略同じであるが電電−マgcが下がっ
ている分だけ充電する電位差も小さくなり、その分だけ
瞬時ピーク電流も減少する。この場合の充放電電流Iは
次武により計算される。
On the other hand, when the voltage m"lc@ becomes lower than the predetermined potential, the $2 precharge signal rCI also becomes the @18 level at the same time as the first precharge signal PCJ. The voltage waveform at this time is
In other words, the operation at this time is almost the same as the case shown in Figure 3 when the value has been reached, but the charging potential difference becomes smaller by the amount that the electromagnetic gc is lowered, and the instantaneous peak current decreases accordingly. will also decrease. The charging/discharging current I in this case is calculated by Tsugitake.

Δ1 ここで、Cは充電すべき容量、ΔVは充電すべき電位差
、31才充電に要する時−である。
Δ1 Here, C is the capacity to be charged, ΔV is the potential difference to be charged, and the time required for charging 31 years.

つまり、上記α)式から電位差ΔVが小さければ充電電
RIも小さくなることがゎη)る、すなわち、電111
1Vc−cffi高い時はトランジスタT、によりビッ
トJIQmとQnとを煙路し、一方のビット線に溜って
いる電荷により他方のピッ)Il&充電し、電−より流
れる瞬時ピーク電流を略零にするのく対して、電源vc
@が低くなるとトランジスタT−を導通させると同時化
トランジスタT−0T、も導通させる。シ小るに、この
と愈充電すべ會電位差ΔVも電源VCCが低くなってい
るために小さく、その分瞬時ピーク電流も小さくなる。
In other words, from the above equation α), if the potential difference ΔV is small, the charging voltage RI will also be small (ゎη), that is, the voltage 111
When 1Vc-cffi is high, bits JIQm and Qn are smoked by transistor T, and the charge accumulated in one bit line charges the other bit line, reducing the instantaneous peak current flowing from the current to approximately zero. For Noku, power supply VC
When @ becomes low, transistor T- is made conductive, and simultaneous transistor T-0T is also made conductive. Furthermore, since the power supply VCC is lowered, the voltage difference ΔV between the two and the charging voltage is also smaller, and the instantaneous peak current is correspondingly smaller.

したがって、上記実施例の半導体メモリによれハ、電源
マージンが広く一シかも瞬時ピーク1流が小さいという
利点を有する。
Therefore, the semiconductor memory of the above embodiment has the advantage that the power supply margin is wide and the instantaneous peak current is small.

第fNIJは本発明の伽の実施例に係るプリチャージ回
路を示している。このブリデャージIgl路は、*述し
た第4alIOJ回路の変形であり、電源Vccとピッ
)IIQII、Qfiとの間にゲートがそれぞれ電−V
cc#c接続される負荷N08トランジスタT―、T1
6を接続したもので、他の部分はiJ4図と同機である
。もちろんトランジスタ’I’、、T、。は負荷として
働らくものであればなんでもよく、例えば単なる抵抗で
もよい、このプリチャージ回路でも、トランジスタ%−
Tssの導通抵抗が充分大きければ瞬時ピーク電流〈及
ぼす影響はなく、*つてIII述した実施例同様の効果
を有する。
No. fNIJ indicates a precharge circuit according to an embodiment of the present invention. This Bridgeage Igl path is a modification of the fourth alIOJ circuit described above, with gates connected to the voltage Vcc and IIQII and Qfi, respectively.
cc#c connected load N08 transistor T-, T1
6 is connected, and the other parts are the same as the iJ4 diagram. Of course, transistors 'I',,T,. can be anything that can act as a load, for example, it can be a simple resistor. Even in this precharge circuit, the transistor %-
If the conduction resistance of Tss is sufficiently large, there is no effect on the instantaneous peak current, and the same effect as in the embodiment described in III is obtained.

な右、上記実施例では%III及び112のプリチャー
ジ信号PCr、Pctは新たに行@8Lが選択される鍵
に@0“になる様にしたが、行@8Lの選択とプリチャ
ーPt1号の11ルベルが重なってもいいことは言うま
でもない。
On the right, in the above embodiment, the precharge signals PCr and Pct of %III and 112 were made to be @0" as the key for newly selecting row @8L, but the selection of row @8L and the precharge signal Pt1 It goes without saying that 11 rubles may overlap.

第7!Iは本発明の半導体メモリに用いられる第1のプ
リチャージ信号PC1を発生する一路である。ccIJ
a路は、電源VCCとアースとの間にそれぞれ接aされ
たデプレツシ目ン型M08トラ/ジスタTIf + ’
rul T1.およびエンへンスメント型MO8)ラン
シスターa Ti4 a Tl・とでそれぞれ2段のイ
ンバータIleumとバッファ回路Bl k構成し、初
段のインバーター、の出力nAを2段目のイ /パータ
!、のトランジスタT14のゲート及びバッファ回路B
1のトランジスタT1.のゲートにそれぞれ接続す机そ
して、2段目のインバーターの出力端をバッファ回路B
1のトランジスタ11のゲート〈接続し、このバッファ
回路B、のトランジスタ”11 @ ’r、の出力端に
容量Cの一端を接続し、他趨をゲートが電源VccK接
続された局8トランジスターマを介してプリチャージ用
りロックパルスφpolcli続する。このクロックパ
ルスφP0を初段のイtバータ!、のトランジスタTo
のゲートに加えることにより、上記トランジスタT11
の出力端から第1のプリチャージ信号Pctを得るよう
にしている。
Seventh! I is a line for generating the first precharge signal PC1 used in the semiconductor memory of the present invention. ccIJ
The path a is a depletion type M08 transistor TIf + ' connected between the power supply VCC and the ground.
rul T1. and an enhancement type MO8) run sister a Ti4 a Tl are each configured with a two-stage inverter Ileum and a buffer circuit Blk, and the output nA of the first stage inverter is transferred to the second stage I/part! , the gate of transistor T14 and buffer circuit B
1 transistor T1. The output terminal of the second stage inverter is connected to the gate of the buffer circuit B.
Connect one end of the capacitor C to the output terminal of the transistor "11@'r" of this buffer circuit B, and connect the gate of the transistor 11 of the buffer circuit B to the output terminal of the transistor "11@'r," and connect the transistor 8 of the station 8 whose gate is connected to the power supply VccK. The lock pulse φpolcli for precharging is continued through the gate.This clock pulse φP0 is applied to the transistor To of the first stage iterter!
By adding it to the gate of the transistor T11
The first precharge signal Pct is obtained from the output terminal of the circuit.

上記回路においては、プリチャージ用クロックパルスφ
P0が′1ルベルになると、トランジスタへ、8介して
容量Cの他方側が充電されるので信号PCI  ライン
の電位レベルが上昇する。
In the above circuit, the precharge clock pulse φ
When P0 reaches '1 level, the other side of the capacitor C is charged to the transistor through 8, so that the potential level of the signal PCI line rises.

この時、初段のインバータ■1のトランジスタT’ts
がオンするので、トランジスタ7161”1−はオフと
なり、容量Cの一方側は°l”レベルとなる。
At this time, the first stage inverter ■1 transistor T'ts
is turned on, the transistor 7161''1- is turned off, and one side of the capacitor C is at the l'' level.

しかもこの時、すでにある電位まで信号PCtラインは
充電されているため、容量Cの容量結合によりこの信号
PCJは電m vccよりも高い電位にまで持ち上げら
れる。このため、ピッ)IIQn 、−に対する充放電
は迅速に行なわれることになる・ ′M8ailIは本発明の半導体メモリに用いられるW
12のプリチャージ信号pczを発生する1路である。
Moreover, at this time, since the signal PCt line has already been charged to a certain potential, the capacitive coupling of the capacitor C raises this signal PCJ to a potential higher than the voltage m_vcc. Therefore, charging and discharging of pins IIQn and - will be carried out quickly.
This is one path that generates 12 precharge signals pcz.

このa路は、電@ Vccとアースとの間にそれぞれ直
列接続されたデプレツVy fil MO8)ランシス
タT、a % # Tu + % 6− およびエンへ
ンスメント型MO8)ランシスタ% a ’rut t
 Tel m−2−とでそれぞれ4段のインバータI、
〜■6とバッファ回路B、の5段回路を構成している。
This path a is connected in series between the electric @ Vcc and the ground, respectively.
Tel m-2- and 4-stage inverter I, respectively.
~■6 and buffer circuit B constitute a five-stage circuit.

さらに、初段のインバータI、のゲートは、電源VCC
とアースとの間に設けられた分圧回路の抵tcWsmR
mの互相接続点1に接続され、311!目のインバータ
Iaの出力端は反転プリチャージ用クロックパルスφp
cがゲートに印加されるM08トランジスタT、と介し
て接地されると共〈終段のバッファ回路B1のトランジ
スタTsIのゲートに接続される構成となっている。そ
して、初段のインバータ!亀のトラyt)スタT’to
のゲートに分圧回路からの所定電圧信号を入力すると共
に、トランジスター のゲートに反転クロックパルスφ
pct−人力して終段のバッファ回路B1の出力段から
第2のプリチャージ信号PCJを得るようにしている。
Furthermore, the gate of the first stage inverter I is connected to the power supply VCC.
resistance tcWsmR of the voltage divider circuit provided between
connected to interconnection point 1 of m, 311! The output terminal of the second inverter Ia receives the inversion precharge clock pulse φp.
It is configured to be connected to the gate of the transistor TsI of the final stage buffer circuit B1 while being grounded via the M08 transistor T to which the signal C is applied. And the first stage inverter! Turtle's Try) Star T'to
A predetermined voltage signal from the voltage divider circuit is input to the gate of the transistor, and an inverted clock pulse φ is input to the gate of the transistor.
pct-The second precharge signal PCJ is manually obtained from the output stage of the final stage buffer circuit B1.

上記回路においては、電源VCCが所定電位以下となれ
ばII2のプリチャージ信号PCJを発生するものであ
る。すなわち、いま抵抗Rsk40に八 抵抗R,を1
0にΩとすれば、その接続点aの電位は0.2 vcc
となる。そこで、インバータI、cD問値電圧を0.8
vに設電すれば、電源vccが4v以上ならば星点電位
は0.8v以上となり、電fiVccが4v以下ならば
1点域位は0.8v以下となる。このため、インバータ
11の出力は、電5vtcが4v以上なら°0”レベル
Iこs4V以下ならば“l”レベルになる。
In the above circuit, the II2 precharge signal PCJ is generated when the power supply VCC becomes lower than a predetermined potential. That is, now the resistor Rsk40 is 8, and the resistor R is 1
If Ω is set to 0, the potential at the connection point a is 0.2 vcc
becomes. Therefore, the inverter I, cD question value voltage is 0.8
If power is connected to v, if the power supply vcc is 4v or more, the star point potential will be 0.8v or more, and if the electric power fiVcc is 4v or less, the 1-point area will be 0.8v or less. Therefore, the output of the inverter 11 is at the 0" level if the voltage 5vtc is 4V or more, and is at the "1" level if it is 4V or less.

従って、電mV@@が4v以上ならインバータ!、の出
力は@filレベル、インパータエ1の出力は′08レ
ベルとなり、結局クロックパルスφpcによらずインバ
ータ■−の出力は°02レベルとなるため、第2のプリ
チャージ信号PCjは@Omレベルとなる。逆に、電源
Vccが4v以下になれば、インバータ11の出力は°
1”レベル。
Therefore, if the electric mV@@ is more than 4V, use an inverter! , the output of the inverter 1 becomes the @fil level, the output of the inverter 1 becomes the '08 level, and the output of the inverter ■- becomes the °02 level regardless of the clock pulse φpc, so the second precharge signal PCj becomes the @Om level. Become. Conversely, if the power supply Vcc becomes 4V or less, the output of the inverter 11 will be
1” level.

インバータ■、の出力は°0ルベルとなり、インバータ
X、の出力は反転クロックパルスφpeの°11→“O
mの変化に同期して11′″レベルになり、これに同期
して′″1m1mレベルl$2プリチャージ信号PCj
によって前述したII41m及びw6図のプリチャージ
回路のトランジスタT−−Tマ が駆動される。なお、
第8図のインバータ!6パツフア回路B1のかわりに前
記gJ7図の回路を用いてもよいこきはいうまでもない
The output of inverter ■ becomes °0 level, and the output of inverter
In synchronization with the change in m, the level becomes 11'', and in synchronization with this, the level l$2 precharge signal PCj increases to 1m1m level l$2.
The transistors T--Tma of the precharge circuit shown in FIGS. II41m and W6 described above are driven by this. In addition,
Inverter in Figure 8! It goes without saying that the circuit shown in Fig. gJ7 may be used instead of the 6-puffer circuit B1.

本発明の半導体メモリでは、上述したtJ7図及び11
8図の信号発生回路にて、電源Vccの電圧変動に応じ
て発生したIII及び112のプリチャージ信号PCI
、PCJによって前述した114図あるいはII6図の
プリチャージ回路を駆動するようにしているので、ピッ
) II Qm 、 Qmの充電時の瞬時ピーク電流を
抑制することができる。
In the semiconductor memory of the present invention, the above-mentioned tJ7 diagram and 11
In the signal generation circuit shown in FIG.
, PCJ drives the precharge circuit shown in FIG. 114 or FIG.

以上説明°したように本発明によれば、メモリセルに対
するデータの受は渡しを行なうための一対のピッ)II
を充電するプリチャージ回路によって、電源が所定電圧
以上では前記一対のビットI!を短絡し、電源が所定電
圧以下では前記一対のピッ)INを短絡すると共に電源
によりプリチャージするようにしているので、メモリア
クセス動作時の瞬時ピーク電流を抑制して消費電Rを低
減し、回路動作マージンを大きくし得ると共に動作速度
を向上し得る半導体メモリを提供できる。
As explained above, according to the present invention, data is received and transferred to a memory cell using a pair of pins) II
When the power supply voltage exceeds a predetermined voltage, the pair of bits I! When the power supply voltage is lower than a predetermined voltage, the pair of pins (IN) are short-circuited and precharged by the power supply, so that the instantaneous peak current during memory access operation is suppressed and the power consumption R is reduced. A semiconductor memory that can increase the circuit operation margin and improve the operation speed can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

111図は細yの一例を示す−II構成図、第2図は1
11図のプリチャージ回路の詳細な一路園参113図は
1112図の■路動作を説明するための波形図、114
図は本発明の一*、m例に係る牛導体メモデのプリチャ
ージ回路を示す一路図、wS図は1141!Iのl路動
作を説明するための波形−、第6因は本発明の他の実施
例に係る半導体メモリのプリチャージ回路を示す回路W
A%11711及び第8図は尋れぞれ1184図及び第
6図の回路を駆動する信号の発生回路を示す回路図であ
る。 1−・メそツセル、2−・センスアンプ、1・−プデチ
ャージ回路、8L−行線% Qfi a Qn・・・ピ
ッ)11[%PCJ、PC!−プリチャージ信号、T箇
〜1マートランジスタ%VCC−電源 出麿人代塩入 弁理士 軸 江 武 彦第2図 Qn   Qn 第3図 Qn 第4図
Figure 111 shows an example of the thin y-II configuration diagram, and Figure 2 shows 1
113 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuit shown in 1112, and 114
The figure is a line diagram showing the precharge circuit of the cow conductor memory device according to the 1* and m examples of the present invention, and the wS diagram is 1141! The sixth factor is a circuit W showing a precharge circuit of a semiconductor memory according to another embodiment of the present invention.
A% 11711 and FIG. 8 are circuit diagrams showing signal generation circuits for driving the circuits of FIG. 1184 and FIG. 6, respectively. 1-・Method cell, 2-・Sense amplifier, 1・-Pdecharge circuit, 8L-row line% Qfi a Qn...Beep) 11[%PCJ, PC! - Precharge signal, T section ~ 1mer transistor % VCC - Power supply Takehiko E Takehiko, patent attorney, patent attorney Figure 2 Qn Qn Figure 3 Qn Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 0) データを記憶する複数個のメそツセルと、これら
複数個のメモリセルから所定番地のメモリ(ルを選択し
て駆動する行線と、上記メモリセルから一対のデータを
受ける一対のビット−と411111の電圧が所定値以
上では前記一対のピッ) IIt−4m1絡しも電源の
電圧が所定値以下では前記一対のピッ)IIを短絡する
と共にこの一対のピッ)Itを電源によりプヲデャージ
するプリチャージ回路とを具備し、メモリアクセス動作
時の瞬時ピーク電流を抑−するようにしたことを轡微七
する半導体メモリ。 (2)前記プッテヤージgIIIMは、艙記一対のビッ
ト線間に接続され111プヲチヤ一ジ信号にて動作して
一対のピッ)IIを同電位とする第1のトランジスタと
鶴前記電源と一対のビット線との間にそれぞれ接続され
19Jzプリチヤ一ジ信号にて動作して一対のピッ)I
Iをプツtヤージする第2.118のトランジスタとl
k真備してなることを特徴とする特許請求の11111
11項記載の半導体メそデ。 (2)前記プリチャーシロ路は、前記一対のビット1間
に接続されIIIプリチャーe信号にて動作して上記一
対のピッ)IIを同電位とする第1のトランジスタさ、
#記電欅と一対のビット線との間にそれぞれ奈銃され8
2プヲデヤ一ジ信号−で動作して曽記一対のビット酸を
プツテヤージするWZ、*Sのトランジスタと%−記電
源と一対のビット線との間にそれぞれ上記謝意、WSの
トランジスタと並列に接続された第4、第sの負荷トラ
ンジスタとを具備してなることを特徴とする特許請求の
mm51項記載の牛導体メそヲ。 α) 前記第2のプリチャージ回路は前記行線によるメ
モリセル選択−に発生することを特徴とする特許請求の
@@Ig2項、もしくはjI8項記載の半導体メモリ。
[Scope of Claims] 0) A plurality of memory cells for storing data, a row line for selecting and driving a memory at a predetermined location from these memory cells, and a pair of data cells for storing data from the memory cells. If the voltage of the pair of bits received and 411111 exceeds a predetermined value, the pair of pins) IIt-4m1 will be connected, but if the voltage of the power supply is less than a predetermined value, the pair of pins will short-circuit and the pair of pins will short-circuit. A semiconductor memory is provided with a precharge circuit that charges the memory by a power supply, and suppresses instantaneous peak current during memory access operation. (2) The puttage gIIIM is connected between the pair of bit lines and is operated by the 111 bit line signal to bring the pair of bits to the same potential. A pair of pins are connected between the lines and operated by the 19Jz precharge signal.
2.118th transistor to push I and l
Patent claim 11111 is characterized in that it has the following features:
The semiconductor method according to item 11. (2) The preacher current path is a first transistor connected between the pair of bits 1 and operated by the III preacher e signal to bring the pair of bits II to the same potential;
# A gun is inserted between the electric keyaki and a pair of bit lines 8
The WZ and *S transistors, which operate with two output signals to put a pair of bit acids, are connected in parallel with the above-mentioned WS transistors between the power supply and the pair of bit lines. 52. The conductor method according to claim 51, characterized in that it comprises a fourth load transistor and an s-th load transistor. α) The semiconductor memory according to claim @@Ig2 or jI8, wherein the second precharge circuit is generated when a memory cell is selected by the row line.
JP56110189A 1981-07-15 1981-07-15 Semiconductor memory Granted JPS5812193A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56110189A JPS5812193A (en) 1981-07-15 1981-07-15 Semiconductor memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56110189A JPS5812193A (en) 1981-07-15 1981-07-15 Semiconductor memory

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5812193A true JPS5812193A (en) 1983-01-24
JPH0217874B2 JPH0217874B2 (en) 1990-04-23

Family

ID=14529295

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56110189A Granted JPS5812193A (en) 1981-07-15 1981-07-15 Semiconductor memory

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5812193A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59154692A (en) * 1983-02-23 1984-09-03 Toshiba Corp Semiconductor storage device
JPS59155165A (en) * 1983-02-23 1984-09-04 Toshiba Corp Semiconductor memory device
JPS6296085U (en) * 1985-12-04 1987-06-19
JPS62197990A (en) * 1986-02-25 1987-09-01 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory circuit
JPH01211394A (en) * 1988-02-19 1989-08-24 Sony Corp Memory device
JPH03100992A (en) * 1989-09-05 1991-04-25 Motorola Inc Memory with improved bit-string equalizer
JPH07130177A (en) * 1993-11-02 1995-05-19 Nec Corp Semiconductor storage device
US7835191B2 (en) * 2001-02-22 2010-11-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Bit line setup and discharge circuit for programming non-volatile memory

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5522217A (en) * 1978-07-28 1980-02-16 Fujitsu Ltd Reset circuit
JPS5619587A (en) * 1979-07-27 1981-02-24 Nec Corp Memory circuit
JPS5647990A (en) * 1979-09-21 1981-04-30 Nec Corp Memory device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5522217A (en) * 1978-07-28 1980-02-16 Fujitsu Ltd Reset circuit
JPS5619587A (en) * 1979-07-27 1981-02-24 Nec Corp Memory circuit
JPS5647990A (en) * 1979-09-21 1981-04-30 Nec Corp Memory device

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59154692A (en) * 1983-02-23 1984-09-03 Toshiba Corp Semiconductor storage device
JPS59155165A (en) * 1983-02-23 1984-09-04 Toshiba Corp Semiconductor memory device
JPH059944B2 (en) * 1983-02-23 1993-02-08 Tokyo Shibaura Electric Co
JPS6296085U (en) * 1985-12-04 1987-06-19
JPS62197990A (en) * 1986-02-25 1987-09-01 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory circuit
JPH0568798B2 (en) * 1986-02-25 1993-09-29 Mitsubishi Electric Corp
JPH01211394A (en) * 1988-02-19 1989-08-24 Sony Corp Memory device
JPH03100992A (en) * 1989-09-05 1991-04-25 Motorola Inc Memory with improved bit-string equalizer
JPH07130177A (en) * 1993-11-02 1995-05-19 Nec Corp Semiconductor storage device
US7835191B2 (en) * 2001-02-22 2010-11-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Bit line setup and discharge circuit for programming non-volatile memory

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0217874B2 (en) 1990-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4475178A (en) Semiconductor regeneration/precharge device
US20210335429A1 (en) Sensing in floating-source memory architecture
US5883837A (en) Reading circuit for semiconductor memory cells
KR100353471B1 (en) Data sense amplifier
EP0124868B1 (en) Semiconductor memory
KR100211481B1 (en) Semiconductor memory device equipped with voltage generator circuit
JPS5856198B2 (en) semiconductor storage device
US4110840A (en) Sense line charging system for random access memory
KR19980015269A (en) Internal step-up voltage generator of semiconductor memory device
JPS5812193A (en) Semiconductor memory
US4858193A (en) Preamplification method and apparatus for dram sense amplifiers
US5539701A (en) Sense circuit for semiconductor memory devices
US4733373A (en) Dynamic memory with improved arrangement for precharging bit lines
JPS5810799B2 (en) semiconductor storage device
US5577000A (en) Sense amplifier circuit
EP0170781B1 (en) Mos dynamic memory device
US5459416A (en) Sense amplifier common mode dip filter circuit to avoid false misses
US6483352B1 (en) Current mirror sense amplifier
JPS58128090A (en) Dynamic ic memory
US5694074A (en) Semiconductor integrated circuit being able to generate sufficient boost potential disregarding generation of noise
JP3094913B2 (en) Semiconductor circuit
EP0068894A2 (en) Dynamic random access memory device
EP0204488A2 (en) Semiconductor memory
JPH029084A (en) Dynamic ram
JPH03280293A (en) Semiconductor memory