JPS58116748A - チツプ認識方式 - Google Patents

チツプ認識方式

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Publication number
JPS58116748A
JPS58116748A JP21371881A JP21371881A JPS58116748A JP S58116748 A JPS58116748 A JP S58116748A JP 21371881 A JP21371881 A JP 21371881A JP 21371881 A JP21371881 A JP 21371881A JP S58116748 A JPS58116748 A JP S58116748A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chips
chip
light
tape
places
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21371881A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Murata
利雄 村田
Kunimichi Nakao
中尾 邦道
Naoki Sugao
管生 直樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP21371881A priority Critical patent/JPS58116748A/ja
Publication of JPS58116748A publication Critical patent/JPS58116748A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/681Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (11発明の技術分野 本発明はチップの位fili法め、その判別に下方から
の照明を用いたチップ認識方式に関する。
(2)  技術の背景 ウェハに形成されたチップをカッティングし又はせずし
て試験してその良否轡を示す識別マークをチップに付し
、然る後にこれらチップを載せている円盤テーブルから
チップの円の良品チップのみを1個づ\i!識する際に
次のような問題があった。
(3)  従来技術と問題点 ウェハからカッティングされた各々のチップはそのt−
の状態を維持されてビニールテープ(第1図の(1))
上に載置された後、ビニールテープ支持体2上に四方へ
一様に引き伸ばしてチップ間に所定の間隔を与える。そ
のチップ3をピックアップして他の場所へ転送する機構
(Ig示せず)のピックアップ部Kl1次に位置合わせ
されるテープ上のチップtiimするのに、従来第1図
に示すような方法が採られている。第1図において、光
源4がもの光をバー7ンラー5を介してテープ1上のチ
ップ3に上面から照射し、そして八−7tツー5¥r介
して対向さねたテレビカメラ6によp照射位置を写し出
しモニタテレビに表示することで、チン130位at認
識し、その位置合わせtなし友後識別マーク7(第2図
>twttaするようKしている。しかしこのような識
別手段を採ると、これらの認敵隼が悪くなる。これはチ
ップ反射領域の白色化が不十分であり、その反射率もチ
ップにょシ異なるため、チップの゛輪郭tm*よく出し
得す、その位置合わせ、チップ大小及びその割れ勢に対
するi!識が向上しないからである。
14L  発明の目的 本発明社上述のような従来方式の有する欠点に鑑みて創
案されえもので、その目的はチップ位置決めの容易性を
得、チップの大小、割れ勢の&職を確実にして曳品チッ
プの取出し歩留りの向上を釦ったチーツブM繊方式を提
供することにある。
(5)1発明の構成 そして、この目的は光を透過しうる伸縮性膜上に載置さ
れたチップの下方から該チップに照明5を會照射してそ
のチップの11識を行うことによって達成される。
(6;0発明の実施例 以下、添付泡面を参照しながら本発明を1良品のみ管ピ
ックアップする機構に用いた*施例t−説明する。
第、3図は本発明の寮施例會示す。本発明を示す第3図
において、光源8がw、1図従米方式で説明したビニー
ルテープ尋の光透過性で且つ伸縮性の膜9の下方に設け
られている点において唯一の構成上の差違がある。従っ
て、第3図に付しである番号は上記差違を除いて同−構
成要票を示している。
この構成上の相違により、膜9が四方へ一様に引き延ば
されて第4図の如<[119上に載置さし’tt−q−
y)sの輪郭を鮮明にテレビカメラ6にて促えることが
出来る。従って、チップ位置決めの容易性が得られるば
がルでなく、チップ3の大小、割れ岬の識別性が向上す
る。従って、[9上のチップ3をピックアップ装置によ
って他の場所へ転送する良品取出しの歩留りは良くなる
上述の如く1降される1119上のチップ3は1個づ\
、上述の如くしてピックアップ装置によってピックアッ
プされる位fItに位置決めされ、上述のil!鰍がな
された徒弟11S&について説明したと同様の垂直落射
照明により位置決めされたチップ3の識別マーク(第2
図及び第4図の7参照)の有無tg識してそのチップ3
t−最終的にピックアップ装置にょp転送してよいか否
かの判断をする。この判断が肯定に出れば他の場所ヘノ
チップ3の移載を生ぜしめる。
上記実施例においては光源8、垂直落射照明系4,5、
テレビカメラ6が予め決められた位置にあって、支持体
が可動である構成のものについて説明したが逆の構成の
ものでもよい。
(7)0発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、光透
過性で且つ伸縮性の膜上に載置され、該Sを四方へ一様
に引き伸ばして夫々のチップ間が離隔されたチップの下
方より照明光を照射する構成にしたことにょシ、チップ
の位置合わせが容易になるばか〕が、その醍識率を向上
させ、ピックアップ装置による膜上がら転送されるチッ
プの良品取出しの歩留りをよくすることが出来、この効
果は装置/lKn雑化を招来することなく得ることが出
来る等の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来方式金示す図・、第2図USkllW方式
の表示1iitiO上に表示されたビニールチー1上の
チップの平Ij図、第3図は本発明方式要部を示す図、
第4図は第31方式の表示画面上に表示された伸縮性膜
上のチップの平IiI図である。 図中、9は光透過性で且つ伸縮性の験、3.iltチッ
プ、4 、5Fi&直落射照明系、6Uテレビカメラ、
7は識別マーク、8は光源である。 特許出願人 富士通株式会社 第1図 第2図 3 第3図 「十6 第4図 203−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 伸縮性膜上にウェハから切り出され九チップ管整列させ
    た後該伸縮性膜を四方へ一様に引き伸ばして上記チップ
    ta識する方式において、上記伸細性膜を光透過性とし
    、認識せんとするチップの下方から該チップに照明光を
    照射して上記チップt−認識するように構成したことを
    特徴とするチップ認識方式。
JP21371881A 1981-12-29 1981-12-29 チツプ認識方式 Pending JPS58116748A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21371881A JPS58116748A (ja) 1981-12-29 1981-12-29 チツプ認識方式

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JP21371881A JPS58116748A (ja) 1981-12-29 1981-12-29 チツプ認識方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58116748A true JPS58116748A (ja) 1983-07-12

Family

ID=16643839

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21371881A Pending JPS58116748A (ja) 1981-12-29 1981-12-29 チツプ認識方式

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JP (1) JPS58116748A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0639855A1 (en) * 1993-08-19 1995-02-22 Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. Apparatus for recognizing the shape of a semiconductor wafer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0639855A1 (en) * 1993-08-19 1995-02-22 Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. Apparatus for recognizing the shape of a semiconductor wafer
US6014965A (en) * 1993-08-19 2000-01-18 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Apparatus for recognizing the shape of a semiconductor wafer

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