JPS58116748A - チツプ認識方式 - Google Patents
チツプ認識方式Info
- Publication number
- JPS58116748A JPS58116748A JP21371881A JP21371881A JPS58116748A JP S58116748 A JPS58116748 A JP S58116748A JP 21371881 A JP21371881 A JP 21371881A JP 21371881 A JP21371881 A JP 21371881A JP S58116748 A JPS58116748 A JP S58116748A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chips
- chip
- light
- tape
- places
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
- H01L21/681—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(11発明の技術分野
本発明はチップの位fili法め、その判別に下方から
の照明を用いたチップ認識方式に関する。
の照明を用いたチップ認識方式に関する。
(2) 技術の背景
ウェハに形成されたチップをカッティングし又はせずし
て試験してその良否轡を示す識別マークをチップに付し
、然る後にこれらチップを載せている円盤テーブルから
チップの円の良品チップのみを1個づ\i!識する際に
次のような問題があった。
て試験してその良否轡を示す識別マークをチップに付し
、然る後にこれらチップを載せている円盤テーブルから
チップの円の良品チップのみを1個づ\i!識する際に
次のような問題があった。
(3) 従来技術と問題点
ウェハからカッティングされた各々のチップはそのt−
の状態を維持されてビニールテープ(第1図の(1))
上に載置された後、ビニールテープ支持体2上に四方へ
一様に引き伸ばしてチップ間に所定の間隔を与える。そ
のチップ3をピックアップして他の場所へ転送する機構
(Ig示せず)のピックアップ部Kl1次に位置合わせ
されるテープ上のチップtiimするのに、従来第1図
に示すような方法が採られている。第1図において、光
源4がもの光をバー7ンラー5を介してテープ1上のチ
ップ3に上面から照射し、そして八−7tツー5¥r介
して対向さねたテレビカメラ6によp照射位置を写し出
しモニタテレビに表示することで、チン130位at認
識し、その位置合わせtなし友後識別マーク7(第2図
>twttaするようKしている。しかしこのような識
別手段を採ると、これらの認敵隼が悪くなる。これはチ
ップ反射領域の白色化が不十分であり、その反射率もチ
ップにょシ異なるため、チップの゛輪郭tm*よく出し
得す、その位置合わせ、チップ大小及びその割れ勢に対
するi!識が向上しないからである。
の状態を維持されてビニールテープ(第1図の(1))
上に載置された後、ビニールテープ支持体2上に四方へ
一様に引き伸ばしてチップ間に所定の間隔を与える。そ
のチップ3をピックアップして他の場所へ転送する機構
(Ig示せず)のピックアップ部Kl1次に位置合わせ
されるテープ上のチップtiimするのに、従来第1図
に示すような方法が採られている。第1図において、光
源4がもの光をバー7ンラー5を介してテープ1上のチ
ップ3に上面から照射し、そして八−7tツー5¥r介
して対向さねたテレビカメラ6によp照射位置を写し出
しモニタテレビに表示することで、チン130位at認
識し、その位置合わせtなし友後識別マーク7(第2図
>twttaするようKしている。しかしこのような識
別手段を採ると、これらの認敵隼が悪くなる。これはチ
ップ反射領域の白色化が不十分であり、その反射率もチ
ップにょシ異なるため、チップの゛輪郭tm*よく出し
得す、その位置合わせ、チップ大小及びその割れ勢に対
するi!識が向上しないからである。
14L 発明の目的
本発明社上述のような従来方式の有する欠点に鑑みて創
案されえもので、その目的はチップ位置決めの容易性を
得、チップの大小、割れ勢の&職を確実にして曳品チッ
プの取出し歩留りの向上を釦ったチーツブM繊方式を提
供することにある。
案されえもので、その目的はチップ位置決めの容易性を
得、チップの大小、割れ勢の&職を確実にして曳品チッ
プの取出し歩留りの向上を釦ったチーツブM繊方式を提
供することにある。
(5)1発明の構成
そして、この目的は光を透過しうる伸縮性膜上に載置さ
れたチップの下方から該チップに照明5を會照射してそ
のチップの11識を行うことによって達成される。
れたチップの下方から該チップに照明5を會照射してそ
のチップの11識を行うことによって達成される。
(6;0発明の実施例
以下、添付泡面を参照しながら本発明を1良品のみ管ピ
ックアップする機構に用いた*施例t−説明する。
ックアップする機構に用いた*施例t−説明する。
第、3図は本発明の寮施例會示す。本発明を示す第3図
において、光源8がw、1図従米方式で説明したビニー
ルテープ尋の光透過性で且つ伸縮性の膜9の下方に設け
られている点において唯一の構成上の差違がある。従っ
て、第3図に付しである番号は上記差違を除いて同−構
成要票を示している。
において、光源8がw、1図従米方式で説明したビニー
ルテープ尋の光透過性で且つ伸縮性の膜9の下方に設け
られている点において唯一の構成上の差違がある。従っ
て、第3図に付しである番号は上記差違を除いて同−構
成要票を示している。
この構成上の相違により、膜9が四方へ一様に引き延ば
されて第4図の如<[119上に載置さし’tt−q−
y)sの輪郭を鮮明にテレビカメラ6にて促えることが
出来る。従って、チップ位置決めの容易性が得られるば
がルでなく、チップ3の大小、割れ岬の識別性が向上す
る。従って、[9上のチップ3をピックアップ装置によ
って他の場所へ転送する良品取出しの歩留りは良くなる
。
されて第4図の如<[119上に載置さし’tt−q−
y)sの輪郭を鮮明にテレビカメラ6にて促えることが
出来る。従って、チップ位置決めの容易性が得られるば
がルでなく、チップ3の大小、割れ岬の識別性が向上す
る。従って、[9上のチップ3をピックアップ装置によ
って他の場所へ転送する良品取出しの歩留りは良くなる
。
上述の如く1降される1119上のチップ3は1個づ\
、上述の如くしてピックアップ装置によってピックアッ
プされる位fItに位置決めされ、上述のil!鰍がな
された徒弟11S&について説明したと同様の垂直落射
照明により位置決めされたチップ3の識別マーク(第2
図及び第4図の7参照)の有無tg識してそのチップ3
t−最終的にピックアップ装置にょp転送してよいか否
かの判断をする。この判断が肯定に出れば他の場所ヘノ
チップ3の移載を生ぜしめる。
、上述の如くしてピックアップ装置によってピックアッ
プされる位fItに位置決めされ、上述のil!鰍がな
された徒弟11S&について説明したと同様の垂直落射
照明により位置決めされたチップ3の識別マーク(第2
図及び第4図の7参照)の有無tg識してそのチップ3
t−最終的にピックアップ装置にょp転送してよいか否
かの判断をする。この判断が肯定に出れば他の場所ヘノ
チップ3の移載を生ぜしめる。
上記実施例においては光源8、垂直落射照明系4,5、
テレビカメラ6が予め決められた位置にあって、支持体
が可動である構成のものについて説明したが逆の構成の
ものでもよい。
テレビカメラ6が予め決められた位置にあって、支持体
が可動である構成のものについて説明したが逆の構成の
ものでもよい。
(7)0発明の効果
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、光透
過性で且つ伸縮性の膜上に載置され、該Sを四方へ一様
に引き伸ばして夫々のチップ間が離隔されたチップの下
方より照明光を照射する構成にしたことにょシ、チップ
の位置合わせが容易になるばか〕が、その醍識率を向上
させ、ピックアップ装置による膜上がら転送されるチッ
プの良品取出しの歩留りをよくすることが出来、この効
果は装置/lKn雑化を招来することなく得ることが出
来る等の効果が得られる。
過性で且つ伸縮性の膜上に載置され、該Sを四方へ一様
に引き伸ばして夫々のチップ間が離隔されたチップの下
方より照明光を照射する構成にしたことにょシ、チップ
の位置合わせが容易になるばか〕が、その醍識率を向上
させ、ピックアップ装置による膜上がら転送されるチッ
プの良品取出しの歩留りをよくすることが出来、この効
果は装置/lKn雑化を招来することなく得ることが出
来る等の効果が得られる。
第1図は従来方式金示す図・、第2図USkllW方式
の表示1iitiO上に表示されたビニールチー1上の
チップの平Ij図、第3図は本発明方式要部を示す図、
第4図は第31方式の表示画面上に表示された伸縮性膜
上のチップの平IiI図である。 図中、9は光透過性で且つ伸縮性の験、3.iltチッ
プ、4 、5Fi&直落射照明系、6Uテレビカメラ、
7は識別マーク、8は光源である。 特許出願人 富士通株式会社 第1図 第2図 3 第3図 「十6 第4図 203−
の表示1iitiO上に表示されたビニールチー1上の
チップの平Ij図、第3図は本発明方式要部を示す図、
第4図は第31方式の表示画面上に表示された伸縮性膜
上のチップの平IiI図である。 図中、9は光透過性で且つ伸縮性の験、3.iltチッ
プ、4 、5Fi&直落射照明系、6Uテレビカメラ、
7は識別マーク、8は光源である。 特許出願人 富士通株式会社 第1図 第2図 3 第3図 「十6 第4図 203−
Claims (1)
- 伸縮性膜上にウェハから切り出され九チップ管整列させ
た後該伸縮性膜を四方へ一様に引き伸ばして上記チップ
ta識する方式において、上記伸細性膜を光透過性とし
、認識せんとするチップの下方から該チップに照明光を
照射して上記チップt−認識するように構成したことを
特徴とするチップ認識方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21371881A JPS58116748A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | チツプ認識方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21371881A JPS58116748A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | チツプ認識方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58116748A true JPS58116748A (ja) | 1983-07-12 |
Family
ID=16643839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21371881A Pending JPS58116748A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | チツプ認識方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58116748A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0639855A1 (en) * | 1993-08-19 | 1995-02-22 | Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. | Apparatus for recognizing the shape of a semiconductor wafer |
-
1981
- 1981-12-29 JP JP21371881A patent/JPS58116748A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0639855A1 (en) * | 1993-08-19 | 1995-02-22 | Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. | Apparatus for recognizing the shape of a semiconductor wafer |
US6014965A (en) * | 1993-08-19 | 2000-01-18 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Apparatus for recognizing the shape of a semiconductor wafer |
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