JPS5811026B2 - 回路試験用プロ−ブ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （１）発明の技術分野 本発明は高周波回路の回路試験用プローブに関する。

（２）従来技術と問題点 プリント板に形成され或いはストリップ線路に数十ＭＨ
ｚ以上の高周波回路を構成して組み立てられたユニット
の調整・試験或いは点検等をおこなうに際して、このプ
リント板をたとえば試験装置に装着し電源等を接続して
回路の動作状態において所定の試験がおこなわれる。

このとき回路の要部について試験装置に接続されたプロ
ーブで所定の試験部位と接続するが、従来のプローブは
一般に特性インピーダンスが高く、複雑な構成であり機
械的にも強度が低く大形かつ高価である。

（３）発明の目的 本発明は以上のことに鑑み極めて簡単な構成で機械的強
度が大きく、小形にでき周波数特性が良好で超高周波帯
まで使用することができ、しかも特性インピーダンスが
任意に選定して作ることができ、低コストなプローブを
周知のストリップ線路を用いて提供するものである。

（４）発明の構成 本発明のプローブは誘電体基板の一方の面の線路パター
ンと他方の面の導電層とよりなるストリップ線路と、該
ストリップ線路の一端該線路パターンと導電層側それぞ
れに対応して並行に突設される被試験体への押圧に伴な
って接触方向へ弾性復帰可能に摺動偏位する接触子を具
える一対の触針とよりなり、該ストリップ線路の他端で
線路パターンと同軸ケーブルの中心導体を接続し導体層
と該同軸ケーブルの外部導体を接続固定せしめるように
した回路試験用プローブである。

（５）発明の実施例 本発明を実施例の図面にもとずき以下説明する。

なお本発明において試験とは被試験体回路の機能或いは
状態の試験調整、点検、検査等をいう。

図は本発明の一実施例であって第１図、第２図は回路試
験用プローブの正面図および側面図をそれぞれ示す。

プローブ本体１を長方形の誘電体基板１１の表面に所定
のパターンで高周波伝送路としての導電層１２を形成し
裏面にこれと対応する導電層１３を形成しストリップ線
路が構成される。

このプローブ本体１の一方の端部に所定の試験器（図示
せず）ａ接続され延長された同軸ケーブル２の端部を接
続する。

すなわち同軸ケーブル２の中心導体２１をプローブ本体
１の導電層１２と半田付は接続し、外部導体２２を裏面
の導電層１３に半田付は接続する。

そしてこの同軸ケーブル２を押え金３で押え、この押え
金の両端を小ねじ（或いはリベット）で止めプローブ本
体１に同軸ケーブル２を固定する。

以上のようなことは押え金３の下面の誘電体基板１１の
表面に導電層１２とは別の独立した導電層が形成されて
おり、この導電層の面上に誘電体基板１１を跨ぐようほ
ぼコ形の金具を載置しこの金具乃至は導電層に外部導体
２２を半田付けし、さらに金具端部を導電層１３に半田
付けして外部導体２２が導電層１３と電気的に接続され
る。

押え金３は外部導体２２を締め付け、この外部導体２２
の編組線をまとまりよく、かつ電気的に安定なように固
定する。

プローブ本体１の反対側の端部導電層１２上に底のある
スリーブ４１の中に図示しないコイルばねを収容し、さ
らにその上から棒状の接触子４２をはめた触針４をプロ
ーブ本体１の端部から接触子４２が突出するようにして
スリーブ４１を半田付けして取り付ける。

この触針と対応させてプローブ本体の裏面の導電層１３
の同じ位置に同様にして触針４′を取り付ける。

この触針４，４′は軸方向に接触子を押さえるとスリー
ブ４１の中へ入り込むが放すとコイルばねの力によって
元の状態に復する。

このスリーブ４１と接触子４２は電気的に接触が保たれ
て摺動するように構成されている。

上記構成の回路試験用プローブは２個の接触子４２．４
２’に印加された高周波電流が、誘電体基板１１と導電
層１２の形状幅によって定められる同軸ケーブル２と同
じ特性インピーダンスのストリップ線路上を伝送し、同
軸ケーブル２を介して試験器に入力（或いは試験器の出
力と）接続されるので被試験用回路パターンにこの接触
子４２゜４２′が押圧して接続されるようにパターンを
形成しておけばよい。

すなわち被試験体の回路の試験部位に設けられたそれぞ
れの試験用パターンに形成された端子部にプローブの２
個の接触子４２゜４２′を押圧すると該試験部位と試験
器とはストリップ線路・同軸ケーブルを介して接読され
る。

次にこの回路試験用プローブを実際に使用した回路試験
装置の好ましい一実施例を説明する。

第３図に示すように被試験体５を装着する回路試験装置
６の取り付は台６１の内部に、被試験体５の下方（或い
は上方）より前述の回路試験用プローブを７として被試
験体５に設けられた試験部部の試験用パターンのそれぞ
れに触針４，４′の接触子４２，４２´が押圧し接続さ
れるよう配設しそれぞれ図示しない試験装置と接続する
ならば、所望とする被試験体５の高周波部の試験をおこ
なうことができるので同じ被試験体５を数多く試験する
ような場合極めて好適である。

そしてまたこのプローブ７の配置をその取り付は位置を
予め所定の位置に取り付けできるようたとえばマトリッ
クス状に取り付は位置を定め、この位置の中から任意に
組み合わせておこなうこともできる。

上記回路試験装置６に配設されたプローブ７を全て（或
いは所望とする数量）をその取り付は装置８（詳細は図
示せず）に、プローブ７を電磁ソレノイドに取り付ける
とともにその下方向にたとえばばねで引き下げて被試験
体５の試験部位と触針を離脱させておき、回路試験装置
６の外部から上記電磁ソレノイドの電源スィッチを投入
して電磁ソレノイドを動作させて被試験体５の試験部位
にプローブ７の接触子４２，４２’を押圧させると、必
要な時のみ被試験体５の要部回路を試験することができ
る。

このスイッチは全ての電磁ソレノイドを一度に或いは個
々にもしくはグループごとに動作させ被試験体とプロー
ブの接続および離脱をさせることができる。

（６）発明の詳細 な説明したように本発明による回路試験用プローブは高
周波回路の伝送線路としての回路試験装置からの同軸ケ
ーブルを、同様に高周波回路の伝送線路としてのストリ
ップ線路の一端において同軸線路の内導体と外導体をそ
れぞれストリップ線路の表面の線路パターンと裏面の導
電層に接続固定し、高周波信号を同軸伝送モードとスト
リップ伝送モードに変換するとともに、先端部にはスト
リップ線路の線路パターンと導電層側それぞれに対応し
て並行に突設される被試験体への押圧に伴なって接触方
向へ弾性復帰可能に摺動偏位する接触子を具える一対の
触針を固着したものであることから、触針は即ちストリ
ップ線路を丁度延長する線路が形成されることになる。

触針は被試験体回路に弾性によりそれぞれの接触子が摺
動伸縮して接触押圧するから被試験体回路の高周波回路
接続端とは電気的整合が保たれた状態で接続される。

このようなことはプローブのストリップ線路を被試験体
の回路の特性インピーダンス或いは同軸線路の特性イン
ピーダンスと対応させてその特性インピーダンスを任意
の整合された値に設定し得ることができ周波数特性もま
た高周波域まで良好ならしめることが可能である。

このようにして本発明によれば回路試験装置から被試験
体の試験部位の回路が一貫した高周波信号の伝送線路が
変換形成されるので電気的に整合された線路が可逆的に
確保される。

そして先端の触針と組み合わせて構成されるプローブは
極めて簡単なものであり機械的に強固でしかも基板を適
当な形状にすると各部に取り付は固定することが容易に
おこなえる。

構成が簡単なために低コストでありしかも小形に製する
ことが可能であるために単体で使用するにとどまらず回
路試験装置に多数配設して、被試験体をこの装置に装着
し一時に要部の試験をおこなうのに極めて都合がよい。

またこのプローブを用いた回路試験装置においては、回
路試験装置に配設されたプローブを装置の外部から操作
して回路要部と任意に接続或いは離脱することができる
ように電磁ソレノイド或いは梃子に取り付け、操作して
おこなうと必要に応じてその要部の試験をおこなうこと
ができるので好適であるなど回路試験に用いて種々の優
れた効果を示す。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図は本発明による回路試験用プローブの一
実施例の正面図および側面図、第３図は本発明プローブ
を用いた回路状１験装置の一実施例概略断面図。 １はプローブ本体、１１は基板、１２，１３は導電層、
２は同軸ケーブル、２１は中心導体、２２は外部導体、
３は押え金、４，４′は触針、４１．４１’はスリーブ
、４２，４２’は接触子、５は被試験体、６は回路試験
装置、６１は取り付は台、７は回路試験用プローブ、８
は取り付は装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 誘電体基板の一方の面の線路パターンと他方の面の
   導電層とよりなるストリップ線路と、該ストリップ線路
   の一端該線路パターンと導電層側それぞれに対応して並
   行に突設される被試験体への押圧に伴なって接触方向へ
   弾性復帰可能に摺動偏位する接触子を具える一対の触針
   とよりなり、該ストリップ線路の他端で線路パターンと
   同軸ケーブルの中心導体を接続し導体層と該同軸ケーブ
   ルの外部導体を接続固定せしめるようにしたことを特徴
   とする回路試験用プローブ。