JPS6191166U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6191166U JPS6191166U JP17588384U JP17588384U JPS6191166U JP S6191166 U JPS6191166 U JP S6191166U JP 17588384 U JP17588384 U JP 17588384U JP 17588384 U JP17588384 U JP 17588384U JP S6191166 U JPS6191166 U JP S6191166U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dielectric substrate
- ground conductor
- conductor plate
- signal line
- fixed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図はこの考案によるIC測定用プローブの
一例を示す斜視図、第2図はその一端面を示す正
面図、第3図は第1図に示したIC測定用プロー
ブの使用状態を示す斜視図、第4図はこの考案の
他の実施例を示す斜視図、第5図はこの考案の更
に他の実施例の一部の使用状態を示す斜視図、第
6図は従来のIC測定用プローブを示す斜視図で
ある。 11:誘電体基板、12:接地導体板、13:
信号線、21:接触部。
一例を示す斜視図、第2図はその一端面を示す正
面図、第3図は第1図に示したIC測定用プロー
ブの使用状態を示す斜視図、第4図はこの考案の
他の実施例を示す斜視図、第5図はこの考案の更
に他の実施例の一部の使用状態を示す斜視図、第
6図は従来のIC測定用プローブを示す斜視図で
ある。 11:誘電体基板、12:接地導体板、13:
信号線、21:接触部。
Claims (1)
- 誘電体基板と、その誘電体基板の一面に取付け
られた接地導体板と、上記誘電体基板の他面に配
され、一端部がその誘電体基板に固定され、他端
部はその誘電体基板と平行に移動できる弾性をも
つ導電材の信号線とよりなり、上記接地導体板と
信号線とによりストリツプラインが構成され、上
記信号線の移動可能とされている側は上記誘電体
基板よりその板面に沿つて僅か突出され、その突
出部の上記移動可能方向における一方の側はIC
素子と接触されるべき接触部とされているIC測
定用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17588384U JPS6191166U (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17588384U JPS6191166U (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6191166U true JPS6191166U (ja) | 1986-06-13 |
Family
ID=30733484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17588384U Pending JPS6191166U (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6191166U (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5583855A (en) * | 1978-12-20 | 1980-06-24 | Fujitsu Ltd | Circuit testing probe and circuit test method |
-
1984
- 1984-11-19 JP JP17588384U patent/JPS6191166U/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5583855A (en) * | 1978-12-20 | 1980-06-24 | Fujitsu Ltd | Circuit testing probe and circuit test method |