JPS58106453A - 金属片の検出装置 - Google Patents
金属片の検出装置Info
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- JPS58106453A JPS58106453A JP20598481A JP20598481A JPS58106453A JP S58106453 A JPS58106453 A JP S58106453A JP 20598481 A JP20598481 A JP 20598481A JP 20598481 A JP20598481 A JP 20598481A JP S58106453 A JPS58106453 A JP S58106453A
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- metallic piece
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
- G01V3/08—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
- G01V3/10—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils
- G01V3/104—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils using several coupled or uncoupled coils
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はねじなどの金属片の検出装置に関し。
特に１次コイルによって形成される磁界中に金属片が存
在することによって２次コイルに誘起される電圧が変化
することを利用して金属片を検出するようにした金属片
の検出装置に関する。
在することによって２次コイルに誘起される電圧が変化
することを利用して金属片を検出するようにした金属片
の検出装置に関する。
従来では、１次コイルに一定周波数の発振電圧を供給し
、２次コイルに発生する起電力を検出して金属片を検出
している。ところが、このような従来技術では、異なる
種類の金属片であっても前記起電力の匝が近似していて
、明確に検出することが困難である場合がある。たとえ
ば、銅片とアルミニウム片とでは２次コイルで得られる
起電力の差は極〈小さく１判定することが困難である。
、２次コイルに発生する起電力を検出して金属片を検出
している。ところが、このような従来技術では、異なる
種類の金属片であっても前記起電力の匝が近似していて
、明確に検出することが困難である場合がある。たとえ
ば、銅片とアルミニウム片とでは２次コイルで得られる
起電力の差は極〈小さく１判定することが困難である。
友発明は上述の技術的課題を解決し、異なる種類の金属
片を明確に識別して検出することができる金属片の検出
装置を提供することを目的とする。
片を明確に識別して検出することができる金属片の検出
装置を提供することを目的とする。
１扶下１図面によって木発明の詳細な説明する。
第１図は木発明の一実施例の回路図である。検出部ｌは
１次コイル２と、２次コイル３とで構成される。１次コ
イＷ ２ Ｋは、異なった周波数ｆ１゜ｆ２の発振゛解
圧が供給されており、１次コ（／Ｌ／２による磁界内に
検出すべきねじなどの金属片４が存在するときに、前記
各周波数１１．ｆ２に応じて２次コイル３で得られる起
電力を検出することによって金属片４を検出することが
できる。
１次コイル２と、２次コイル３とで構成される。１次コ
イＷ ２ Ｋは、異なった周波数ｆ１゜ｆ２の発振゛解
圧が供給されており、１次コ（／Ｌ／２による磁界内に
検出すべきねじなどの金属片４が存在するときに、前記
各周波数１１．ｆ２に応じて２次コイル３で得られる起
電力を検出することによって金属片４を検出することが
できる。
１次コイル２には、トラップＴｌ卦よび第１発振器５か
ら直る直列回路、ならびにトラップＴ２および第２発振
器６から成る直列回路が並列に接続される。第１発振器
５の発振周波けｆｌであり。
ら直る直列回路、ならびにトラップＴ２および第２発振
器６から成る直列回路が並列に接続される。第１発振器
５の発振周波けｆｌであり。
第２発振５６０発撮周波数はｆ２である。トラップＴｌ
は第２発振器６の発振電圧が第１発振器５に印加される
ことを阻＋ｈＬ、）ラップＴ２け第１１１１１ 発振器５の発振電圧が第２発振器６に印加されることを
阻止する。なおトラップＴＩ、Ｔ２け、コイｌしおよび
コンデンサで構成される共振回路であ２次コイル３には
、第１バンドパスフイルタ７および坑２バンドパスフィ
ルタ８が並列に接続される。鳩１パンＶパスフィルタ７
は周ｅ数ｆｌ（Ｄ通過のみを許容１−１第２バンドパス
フイルタ８け周波数ｆ２のｌＩｎ過のみを許容する。第
１バンドパスフイルタ７および第２バンドパスフイルタ
８をそれぞれ通過した信号電圧は、第１比較器９および
第２比較器ＩＯの各一方の入力端に与えられる。
は第２発振器６の発振電圧が第１発振器５に印加される
ことを阻＋ｈＬ、）ラップＴ２け第１１１１１ 発振器５の発振電圧が第２発振器６に印加されることを
阻止する。なおトラップＴＩ、Ｔ２け、コイｌしおよび
コンデンサで構成される共振回路であ２次コイル３には
、第１バンドパスフイルタ７および坑２バンドパスフィ
ルタ８が並列に接続される。鳩１パンＶパスフィルタ７
は周ｅ数ｆｌ（Ｄ通過のみを許容１−１第２バンドパス
フイルタ８け周波数ｆ２のｌＩｎ過のみを許容する。第
１バンドパスフイルタ７および第２バンドパスフイルタ
８をそれぞれ通過した信号電圧は、第１比較器９および
第２比較器ＩＯの各一方の入力端に与えられる。
第１卦よび第２比較器９，１ｏの各他方の入力端Ｖｃは
、第１および第２基準電源１１．１２から基準重圧Ｖ１
．．Ｖ２がそり、ぞれ与えられている。
、第１および第２基準電源１１．１２から基準重圧Ｖ１
．．Ｖ２がそり、ぞれ与えられている。
第１比較Ｂ９ｉｄ：、′＠ｌバンドパスフィルタ７を通
過して来た信号電圧が基準電圧７１以上であるときに論
理「ｌ」の信号を出力し、法準電圧Ｖ１未満であるとき
に論理「０」の信号を出方する。
過して来た信号電圧が基準電圧７１以上であるときに論
理「ｌ」の信号を出力し、法準電圧Ｖ１未満であるとき
に論理「０」の信号を出方する。
第２比Ｍ器１０は、第２バンドパスフイｌレタ８を１ｎ
過して来た信号電圧が基準電圧７２以上であると衣に論
理「１」の信号を出力し、べ準電圧１２未満であるとき
に論理「ｏ」の信号を出力する。
過して来た信号電圧が基準電圧７２以上であると衣に論
理「１」の信号を出力し、べ準電圧１２未満であるとき
に論理「ｏ」の信号を出力する。
これらの第１および第２比較器９．ＩＯの出力は処理回
路１３にそれぞれ与えられる。
路１３にそれぞれ与えられる。
処理回路１３においては、ｑｔおよび第２比較ｋｉ７９
＋１０からの２に比信号の組合せによって金属片４０種
類′ｆｒ：識別し、複数の出力端子１４，１ｆｉ、１６
．１７から検出信号を出力する。
＋１０からの２に比信号の組合せによって金属片４０種
類′ｆｒ：識別し、複数の出力端子１４，１ｆｉ、１６
．１７から検出信号を出力する。
ここで、ｌ？′にコイル２に与える発掘電圧の周波数が
定寸っており、かつ検出部１のコイル定数が定まってい
る場合に１次コイル２による磁界内に金属片４が存在す
ると、金属片４の透磁率や導電率などの金属個有の特注
、ならびに塊状、積層状卦よび粉樗太等の形伏によって
定まる出力を２次コイル３で第２図で示すように得るこ
とができる。
定寸っており、かつ検出部１のコイル定数が定まってい
る場合に１次コイル２による磁界内に金属片４が存在す
ると、金属片４の透磁率や導電率などの金属個有の特注
、ならびに塊状、積層状卦よび粉樗太等の形伏によって
定まる出力を２次コイル３で第２図で示すように得るこ
とができる。
第２図（７ｆｉおいて、参照符Ａ、Ｂ、Ｃは異なる種類
の金属片をそれぞれ示し、たとえば参照符Ａは鉄片であ
り、参照符Ｂけ銅片であり、参照符Ｃはアルミニウム片
である。１次コイｌし２に周波数ｆｌの発振電圧を与え
たとき、２次コイル３で得られる起電力を、各金属片Ａ
、Ｂ、ＣＫ対応してＥＡｌ、ＥＢｌ、ＥＣＩとする。ま
た１次コイ／Ｌ／２に周波数１２の発振電圧を与えたと
きに得られる起電力ＩＥＡ２．１４ＥＢ２．ＥＣ２とｆ
る。
の金属片をそれぞれ示し、たとえば参照符Ａは鉄片であ
り、参照符Ｂけ銅片であり、参照符Ｃはアルミニウム片
である。１次コイｌし２に周波数ｆｌの発振電圧を与え
たとき、２次コイル３で得られる起電力を、各金属片Ａ
、Ｂ、ＣＫ対応してＥＡｌ、ＥＢｌ、ＥＣＩとする。ま
た１次コイ／Ｌ／２に周波数１２の発振電圧を与えたと
きに得られる起電力ＩＥＡ２．１４ＥＢ２．ＥＣ２とｆ
る。
第２図において明らかなように１周波数ｆｌにおいて金
属片Ａ、Ｂによる各起電力Ｆ、 Ａ １． 、 ＢＥ
Ｂｌけ極〈接近しておシ、壕だ周波数ｆ２において全嘴
片Ｂ、Ｃによる各起電力ＥＢ２．ＥＣ２け極〈接近して
いる。したがって従来技術のように、１次コイル２に単
一の周波数ｆｌあるいはｆ２の発掘電圧を与えるように
していては、金属片Ａ。
属片Ａ、Ｂによる各起電力Ｆ、 Ａ １． 、 ＢＥ
Ｂｌけ極〈接近しておシ、壕だ周波数ｆ２において全嘴
片Ｂ、Ｃによる各起電力ＥＢ２．ＥＣ２け極〈接近して
いる。したがって従来技術のように、１次コイル２に単
一の周波数ｆｌあるいはｆ２の発掘電圧を与えるように
していては、金属片Ａ。
ＢあるいはＢ、Ｃを明確に判別することが困難である。
そこで木発明では、鴎ｌ比較器９（でおける基準重圧を
、起゛ぽカＥＢＩ、ＥＣＩの中間の＠ＶＩＫ選び、また
第２比較器ｔｏＶＣおける基準重圧を起電力ＥＡ２．Ｅ
Ｃ２の中間の値に選ぶ。このよう（Ｃすると５周波数ｆ
ｌにおいて各起電力ＥＡ１、ＥＢｌ、Ｅｃｌを明確にレ
ベル弁別することができ、また周波数ｆ２において各起
電力ＥＡ２゜ＥＢ２．ＩｎＥＣ２を明確にレベル弁別す
ることがで＾る。
、起゛ぽカＥＢＩ、ＥＣＩの中間の＠ＶＩＫ選び、また
第２比較器ｔｏＶＣおける基準重圧を起電力ＥＡ２．Ｅ
Ｃ２の中間の値に選ぶ。このよう（Ｃすると５周波数ｆ
ｌにおいて各起電力ＥＡ１、ＥＢｌ、Ｅｃｌを明確にレ
ベル弁別することができ、また周波数ｆ２において各起
電力ＥＡ２゜ＥＢ２．ＩｎＥＣ２を明確にレベル弁別す
ることがで＾る。
上述のように基準重圧Ｖｌ、Ｖ２を選定するととによっ
て、瀉ｌおよび筆２比較器９．ｌＯからは、各金匡片Ａ
、Ｂ、Ｃに対応してｍ１表で示す論理ｆｉｌの信号が処
理回路１３に与えら名、；ｂ０第１表 処理ＩＱ路１３１ておいては、第１表に示した論理値の
＝ｎ合せによって、金属片４の種類を検出することがで
六る。
て、瀉ｌおよび筆２比較器９．ｌＯからは、各金匡片Ａ
、Ｂ、Ｃに対応してｍ１表で示す論理ｆｉｌの信号が処
理回路１３に与えら名、；ｂ０第１表 処理ＩＱ路１３１ておいては、第１表に示した論理値の
＝ｎ合せによって、金属片４の種類を検出することがで
六る。
なお、金属片４の検出にあたっては固定位置にある金属
片４を検出部ｌの近接操作によって検出するようにして
もよく、また１次コイＩし２による圃界中を金属片４が
通過するようにしてもよい。
片４を検出部ｌの近接操作によって検出するようにして
もよく、また１次コイＩし２による圃界中を金属片４が
通過するようにしてもよい。
通過する金属片４を検出するＪ４会には、金属片４の通
過位置（Ｃよって２次コイｌし３で得られる起電１ 力が異なるので、ピーク電圧によって判別するようにす
る。そのために、ピーク電圧が得られる位詩を予め設定
しておき、第１１・４で示した位置検出手段１８を設け
て金属片４が設定位置に来たことを検出する。この検出
手段１８による検出信号は処理回路１３に与えられてお
り、したがって処理回路１３は、金属片４が設定位置に
あるときに第１および第２比較器９．１０でピーク電Ｅ
全レベル弁別した結果１／ｃ基づめで金属片４０種類を
判定する。また検出手段１８に代えてピーク電圧を検出
する手段を設けてもよい。
過位置（Ｃよって２次コイｌし３で得られる起電１ 力が異なるので、ピーク電圧によって判別するようにす
る。そのために、ピーク電圧が得られる位詩を予め設定
しておき、第１１・４で示した位置検出手段１８を設け
て金属片４が設定位置に来たことを検出する。この検出
手段１８による検出信号は処理回路１３に与えられてお
り、したがって処理回路１３は、金属片４が設定位置に
あるときに第１および第２比較器９．１０でピーク電Ｅ
全レベル弁別した結果１／ｃ基づめで金属片４０種類を
判定する。また検出手段１８に代えてピーク電圧を検出
する手段を設けてもよい。
検出部ｌにおける１次コイル２および２次コイル３は、
第８図で示すように対向配青してもよく。
第８図で示すように対向配青してもよく。
あるいけ第４図で示すように２次コイル３′５ｃ外囲し
て１次コイル２を同心に配置してもよい。
て１次コイル２を同心に配置してもよい。
貞らに木発明の他の実施例として、第５図で示すように
１次コイル２に磁気結合した一対のコイル部分３ａ、３
ｂから成る２次コイル３を構成して検出部ｌを差動トラ
ンスとするようにしてもよい。このように検出部ｌを差
動トランスとし、１次コイル２およびコイル部分３ａと
の磁気回路の途中を金四片４が通過するようにする。そ
うすれば金属片４が前記磁気回路の途中にないときには
。
１次コイル２に磁気結合した一対のコイル部分３ａ、３
ｂから成る２次コイル３を構成して検出部ｌを差動トラ
ンスとするようにしてもよい。このように検出部ｌを差
動トランスとし、１次コイル２およびコイル部分３ａと
の磁気回路の途中を金四片４が通過するようにする。そ
うすれば金属片４が前記磁気回路の途中にないときには
。
２次コイル３の出力が零となるので１判別に好都合であ
る。
る。
ト述の実施例では、１次コイル２に２つの異なる周波数
ｆ１．ｆ２の発振重圧を供給するようにしているが、木
発明によれば、３以上の複数の異なる周波数の発振電圧
を供給するようにしてもよい。
ｆ１．ｆ２の発振重圧を供給するようにしているが、木
発明によれば、３以上の複数の異なる周波数の発振電圧
を供給するようにしてもよい。
上述のごとく木発明によれば、１次コイルに複数の周波
数の発振重圧を供給し、２次コイルで得られる前記複数
の出力電圧をレベｌし弁別して２値化し、その２匝ｆヒ
された信号の組合せによって金属片を検出するようにし
たので、異なる種類の金属片を確実に判別することかで
衣る。
数の発振重圧を供給し、２次コイルで得られる前記複数
の出力電圧をレベｌし弁別して２値化し、その２匝ｆヒ
された信号の組合せによって金属片を検出するようにし
たので、異なる種類の金属片を確実に判別することかで
衣る。
第１１￥Ｉは木発明の一実施例の回路図、瀉２図は周波
数に対応した２次コイｌし３の起電力を示すグラフ、筆
３図は１次コイル２および２次コイル３の位置関係を示
す図、鴎４図は１次コイル２および２次コイル３の第３
図と異なる位Ｉｔ関係を示す図、第５図は木発明の他の
実施例の検出部ｌを示す回路図である。 １・・・検出部、２・・・１次コイル、３・・・２次コ
イル。 ４・・・金属片、５，６・・・発振器、７・・・第１バ
ンドバズフイルタ、８・・・第２バンドパスフイルタ、
９・・・第１比較器、ＩＱ・・・第２比較器、１３・・
・処理回路代理人 弁理士 西教圭一部
数に対応した２次コイｌし３の起電力を示すグラフ、筆
３図は１次コイル２および２次コイル３の位置関係を示
す図、鴎４図は１次コイル２および２次コイル３の第３
図と異なる位Ｉｔ関係を示す図、第５図は木発明の他の
実施例の検出部ｌを示す回路図である。 １・・・検出部、２・・・１次コイル、３・・・２次コ
イル。 ４・・・金属片、５，６・・・発振器、７・・・第１バ
ンドバズフイルタ、８・・・第２バンドパスフイルタ、
９・・・第１比較器、ＩＱ・・・第２比較器、１３・・
・処理回路代理人 弁理士 西教圭一部
Claims (3)
- （１） １ 次コイル卦よび２次コイルから成り金属片
を検出するための検出部と。 ｍｌ前記次コイルに異なる周波数の発振電圧を供給する
複数の発振器と。 ＯｊＩ記２次コイルに並列に接続され前記複数の各個別
周波数のみの２次コイルの出力電圧の通過を許容する１
４１ｊＩ記複数のフィルタと。 前記各フィルタを通過した出力電圧をレベル弁別し、そ
のレベル弁別結果に洗づいて２値化信号を出力する前記
複数の比較器と。 前記各比較器からの２値化信号の組合せによって金属片
の種類を判別して出力する処理回路とを含むことを特徴
とする金属片の検出装置。 - （２）前記処理回路は、１１１記２次コイルの出力電圧
がピークとなったときに、前記２＠化信号の組合せを判
別することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の金
属片の検出装置。 - （３）前記検出部を差動トランスとしたことを特徴とす
る特許請求の範囲＄１項または第２項記載の金属片の検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20598481A JPS58106453A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 金属片の検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20598481A JPS58106453A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 金属片の検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106453A true JPS58106453A (ja) | 1983-06-24 |
Family
ID=16515966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20598481A Pending JPS58106453A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 金属片の検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106453A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE202006020868U1 (de) | 2005-04-11 | 2010-07-29 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop |
| DE202006020867U1 (de) | 2005-04-11 | 2010-09-02 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop |
| US9625572B2 (en) | 2011-11-18 | 2017-04-18 | Sonix, Inc. | Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5087097A (ja) * | 1973-11-22 | 1975-07-12 |
-
1981
- 1981-12-18 JP JP20598481A patent/JPS58106453A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5087097A (ja) * | 1973-11-22 | 1975-07-12 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE202006020868U1 (de) | 2005-04-11 | 2010-07-29 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop |
| DE202006020870U1 (de) | 2005-04-11 | 2010-07-29 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop |
| DE202006020867U1 (de) | 2005-04-11 | 2010-09-02 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop |
| DE202006020869U1 (de) | 2005-04-11 | 2010-09-02 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop |
| US9625572B2 (en) | 2011-11-18 | 2017-04-18 | Sonix, Inc. | Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope |
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