JPS5810631A - 光照射装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光照射装置、４１に太陽電池の特性を一定す
るために用いる光照射装置ＩＣｌｌ１するものである。

一般に太陽電池につい【は、電流−電圧特性、起電力特
性等の特性を一定することが必要であり、このために太
陽光に類似した光を太−電＆に照射する光照射装置が用
いられる。

従来、斯かる光照射装置においては、第１図に示すよう
ｋ、例えばキセノンショートアークランプ等の光源ｌの
光を太陽光に類似した光、即ち平行光線であって均一な
照度が得られる光として太陽電池等の被照射物５に照射
するために、ｊ！＃光源１よりの光を、光混合１１ｍを
有するインテグレータ２によって被照射物５に照射せし
めるよ５にし、このインテグレータ２と被照射物５との
闇の光路上に、前記インテグレータ２よりの元を反射せ
しめて光の方向を規制する平面反射板３と、この平面反
射板３により反射される光を受け、この光を平行′ｙｔ
、纏束とするコリメーティングレンズ４とをこの１１Ｎ
ｋ設けている。

他方、太陽電池の前記特性を測定する測定装置において
は、従前は例えば指針で測定値を示すような指示部の慣
性の大きい可動コイル慶等の測定装置が用いられていた
が、測定に要する時間即ち処理時間が長いこと、膨大な
一定量の処理に不向なこと等のために、最近では、膨大
な一定量な短時間で処理するＡＤ変換器とマイクロコン
ピュータとを具えて成る測定装置が用いられるようｋな
っている。

ところで、′ｙｔ、＠射装置の光装置りの元には、例え
ば光源用電源のリップル或いはアークのゆれ、又はその
他のノイズ等が原因となって発生する、周波数が数ＨＸ
〜数百Ｈｚで周期が約１０ＸＩＯ−’〜２０Ｘ１０−ｓ
秒の微小な照度変動成分が不可避的に含まれているため
、前述の如きマイクロコンピュータ等を具え【成る測定
装置のように、応答＃Ｃ要する時間が約ｌＸｌ０”秒と
極めて短髪・一定装置を用いる場合においては、前記照
度変動成分の影響が一定値に直接現われることとなり、
適正な測定結果を得ることが困難である。

このような事情から、従来においては、同じく第１図を
用い【説明すると、前記被照射物Ｓｋ近接した位置で島
って、前記コリメーティングレンズ４よりの光を受ける
位置に光検出器６を配置し、この光検出器６により前述
の微小な照度変動成分を検出し、得られた検出値に基い
て、被照射物５を測定して得られた測定値から当該微小
な照度変動成分による影響を除去し、以って当該測定値
の補正を行なうようにしている。

しかしながらこのような構成では、光検出器６に照射さ
れる元は、元が到達する領域の周辺部の光であり【被照
射物５が受ける轟鋏領域の中心部の光ではないために、
当誼中心部の光とは、インテグレータ２による元の混合
状態が異なったものとなっており、しかも光検出器６は
、それが位置する特定の位置における光の照度変動成分
を検出するのみであり、従ってこの特定の位置における
照度変動成分の状態即ち当該照度変動成分における照度
の時間的変化のパターンは、被照射物５に照射される光
の照度変動成分の状態と必ずしも一致したものとはなら
ず、従って被照射物５について得られた一定値を前記光
検出器６により得られた検出値に基い【補正しても、そ
の補正が適正な補正とはならないばかりか補正をしたこ
とにより却って誤差−を太き（することもあり、結局信
頼性の大きい測定値を得ることができない。

本発明は、以上の如幹事情に基いてなされたものであっ
て被照射物が受ける党の照度変動成分の状態を確実に検
出することができる光照射装置を提供することを目的と
し、その特徴とするところは、光源と、この光源よりの
元を被照射物に投射するインテグレータと、このインテ
グレータと前記被照射物との間の光路上Ｋｌｌけた、前
記光路外に光の一部を反射する光透過板と、この光透過
板よりの反射光を受ける光検出器と、この光検出器と前
記光透過板との間に介挿した光拡散板とを具えて成る点
にある。

以下図面によって本発明の一実施例につ−・て説明する
。

第２図に示した実施例は、例えば太陽電池として用いら
れる光起電素子等の光特性を測定するために用いる光照
射装置の例であって、この例においては、キセノンショ
ートアークランプ等の光源１よりの光をインテグレータ
２により例え４１元起電素子等の被照射物５ｋｊｌｌｌ
射するよ５ｋＬ、このインテグレータ２と前記被照射物
５との閣の党の光路上ｋ、前記インテグレータ２よりの
光を反射せしめて党の方向を規制する平面反射板３と、
この平面反射板３＃／ｃより反射される元を受けこの元
を平行光−束とするコリメーティングレンズ４とをこの
Ｉｎｋ設け、前記インテグレータ２と前記平面反射板３
との関に位置する光路上に轟咳光路外に光の一部を反射
する例えば石英板より成る光透過板７を配設し、この光
透過板７により反射された反射光を受ける位置に光検出
ａ６を設け、この光検出＠６と帥記光透遥１［７との間
に番１例えｉｆオパールガラス等より成る光拡散板８を
介挿して構成する。

以上のような構成によれば、光源１よりの光はインテグ
レータ２により混合された後、光透過板７により、大部
分が透過され、一部が反射される。

透過された光は次いで平面反射板３により反射されてコ
リメーティングレンズ４に至り、このプリメーティング
レンズ４により平行光線束とされた後、被照射物５に照
射される。一方前記元透過板７１’Ｃより反射された光
は、光拡散１Ｎ８により拡散された後光検出器６に照射
される。

、、このように光透過板７を光源１より被照射物５に至
る光路上に配設したため、光検出器６が検出する光は被
照射物５が受ける光と同じ元となり、光検出ＩＩ６で検
出される光の照度変動成分の状態即ち当誼照度変動成分
における照度の時間的変化のパターンが、被照射物５が
受ける元の照度変動成分の状態と完全に一致したものと
なる。しかも光透過板７と光検出器６との間には光拡散
板８を介挿せしめて置けであるため、光検出器６が検出
する光は光透過板７による反射光が混合されたものとな
るため、被照射物５が受ける光の全体を平均化した光と
同等のものとなり、従来のよ５に特定の位置のみの光照
射状１１１に依存するものではない。従ってこり光検出
器６で検出された検出値に基いてマイクロコンピュータ
等を具えて成る応答の速い測定装置において得られた測
定値を補正すれば、轟該測定値における照度変動成分に
よる影響が確実に除去されるため、当鋏一定値の確実な
補正をすることができる。その結果補正された測定値は
信頼性の大きなものとなる。そして既述の例におけるよ
うに光透過板７を石英板より成るものとするととｋより
、光透過板７により反射される元をわずかなものとする
ことができ、したがって光透過板７を透過するととｋよ
る光の損失が少なく、更Ｋｙｔ、透過板７を透過する光
の透過前後において元の妓長轡性を殆ど変えることがな
いため、光源ｌより被照射物５に至る光路上に光透過Ｉ
［７を配設することｋよる影響は実質上何ら与えること
がない。更に、光透過板７の配設位置は、光源１より被
照射物５に至る光路上であれば任意であるが、本実施例
におけるよ５に、インテグレータ２と平面反射板３との
間に配設すれば光透過板７及び光拡散板８を小さなもの
とすることができる。

以上のように本発明によれば、光源と、この光源よりの
光を被照射物に投射するインテグレータと、このインテ
グレータと前記被照射物との間の光路上に設けた、前記
光路外に−ｙｔ、の一部を反射する光透過板と、この光
透過板よりの反射光を受ける光検出器と、この光検出器
と前記光透過板との関に介挿した光拡散板とを具えて成
る構成であるから、被照射物が受ける光の照度変動成分
の状態を確実に検出することができる。

尚、前記光ｉｌｌは、被照射物５に照射すべき元の種類
に応じ【もしくは目的に応じて、白熱電球、放電灯その
他の光源を選択しても良〜・し、前記光透過板７は、表
ＩＮＫ蒸着膜を設けて成る）・−フ電う−とすることも
できるし、或いは特定の波長領域の元のみを被照射物５
に照射する場合に◆１フィルターを兼ねる／％−フずラ
ーとしてもよ−０

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来の光照射装置の一例を示す説明図、第２
図は本発明の一実施例を示す説明図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 Ｉ）光源と、この光源よりの光を被照射物に投射するイ
   ンテグレータと、このインテグレータと前記被照射物と
   の間の光路上に設けた、前記光路外に元の一部を反射す
   る光透過板と、と９透過板よりの反射光を受ける光検出
   器と、この光検出器と前記光透過板との間に介挿した光
   拡散板とを具えて成ることを特徴とする光照射装置。 ２ン艙記元透過板が石英板より成るものであることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載の光照射装置。