JPS58103632A - 半導体圧力変換器 - Google Patents

半導体圧力変換器

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Publication number
JPS58103632A
JPS58103632A JP20148881A JP20148881A JPS58103632A JP S58103632 A JPS58103632 A JP S58103632A JP 20148881 A JP20148881 A JP 20148881A JP 20148881 A JP20148881 A JP 20148881A JP S58103632 A JPS58103632 A JP S58103632A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support
epitaxial layer
pressure transducer
diaphragm
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20148881A
Other languages
English (en)
Inventor
Haruo Yamauchi
山内 治男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Azbil Corp filed Critical Azbil Corp
Priority to JP20148881A priority Critical patent/JPS58103632A/ja
Publication of JPS58103632A publication Critical patent/JPS58103632A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0042Constructional details associated with semiconductive diaphragm sensors, e.g. etching, or constructional details of non-semiconductive diaphragms

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は1.サファイア基板からなるダイヤフラムを備
え九半導体圧力変換器に関するものである。
サファイア基板上に半導体エピタキシ’r # 鳴f成
長させてなるダイヤ72ムを使用し九半導体圧力変換器
は、従来のPN接合による絶縁構造を用いたものと異な
9、リーク電流の心配がな(、PN接會OVm−IL4
I性に制約されることなくピエゾ抵抗効果のみに着目し
て不純物Il&を選択することができるという利点を有
している。
この場合、上記ダイヤフラムは、一般にガラス等からな
る支持体に接合して用いる。従来、この接合には接着剤
や低融点ガラス等が用いられて−るが、この41I会の
不安定のために、出力の時間的トリアドやヒステリシス
等が太き−という不都合があった。
本発明は、以上のような状況に鑑みてなされたものでT
oLその目的は、サファイア基板を用い九ダイヤフラム
と支持体と01SIIK安走した接合が得られる半導体
圧力変換器を提供するととにある。
このような目的を達成する九めに、本発明は、サファイ
ア基板の両面にエピタキシャル層七*成し、支持体と接
合する側のエピタキシャル層周縁 。
部に電極を設けて轟該エビメ今シャル層と支持体とを静
電接合させたものである。
即ち、ここで静電接合とは、金属、半導体をガラスもし
くはセラミックス等、高温で固体電解質として作用する
絶縁材に振合する方法のひとつで、電界を印加すること
により、両者の融点以下の加熱で安定な機械的結合が得
られるものである。例えば、シリコンとパイレックスガ
ラスとを接合する場合には、両者の接合したい面を研拳
して合せ、300〜500℃の槽(大気圧で夷い)内に
放置し、シリコンを陽極、ガラスを陰極として300〜
1,000Vの電圧を約1分間印加するのみで、両者間
に機械的に安定し九摘会が得られる。特に、ガラスとそ
の相手との間に殆んど移動が見られない丸め、この靜1
1111合を支持体とダイヤフラムとの接合に作成が可
能である。
従って、本発明では、上記サファイア基板の両面にエピ
タキシャル層を設け、一方は従来通9ピエゾ抵抗領域の
形成に用いると共に1他方の支持体に接合する側のエピ
タキシャル層には電極を設け、このエピタキシャル層と
支持体とを静電接合させることによって、サファイア基
板を用−たダイヤフラムと支持体との間に安定した接合
が得られるようにし九ものである。以下、実施例を用i
て本発明を詳細K11l明する。
第1図は、本発明の一実施ガを示す断面図である。同v
Aにおいて、1はサファイア基板、2はずファイア基板
1の主表面上Km成し九J11のシリコンエピタキシャ
ル層からなるP形のピエゾ抵抗素子、3はこのピエゾ抵
抗素子20表面上に形成し九810.からなる表面保■
絶縁膜、4はピエゾ抵抗素子2の電極、5は、前記サフ
ァイア基板1の他面に形成し九嬉2のシリコンエピタキ
シャルm、aはこの第2のシリコンエピタキシャル層5
を介してサファイア基板1に接合し九支持体である。こ
の支持体6は、サファイア基板1と熱膨張係数の近似し
九ガラスによってチェープ状もしくはプレート状に構成
され、図上省略したが、その下面は金−ハウジングに固
着される。前記サファイア基板1のうち、この支持体6
によって拘束されない中央部が、圧力によって起歪する
ダイヤフラム部1mを構成してお9、前記ピエゾ抵抗素
子2は、このダイヤフラム部1fiK設けである◎この
ピエゾ抵抗素子2は、ブリッジ回路を構成し、その出力
電圧によって圧力が検知できるようにしである。また%
 711g2のエピタキシャル層50表面上に形成し九
靜電接合用の電極で69、第2図の下面図に示すように
、基板1と支持体6との接合面(同図中、斜線で示す)
8の中心点Aに対して対称的に配置しである。
このように電極Tを設け、これと支持体6との間に電圧
を印加しながら第2のエピタキシャル層5と支持体6と
を静電接合する。ことにより、このエピタキシャル層5
を介して、サファイア基板1は支持体6に安定に接合さ
れる。特に、電極Tを対称的に配置したことにより、接
合面8における通電時の電位分布を均一に保つことがで
き、一層均一な接合が得られる。
なお、この場合上記電極1は21w4所に配置したが、
これは接合面8に対して均等に分布させることが望まし
く、′より多数配置しても、またダイヤフラム部11の
全図をとり囲むように連続的な形状に設けてもJilL
−ことは勿論である。また、41K。
第2のエピタキシャル層5がN−形シリコンであって、
電極Tとの間にシ目ット呼障−が形成されるような場合
には、電極7との接触部に高導電性のバルクコンタクト
部を形成する必要があるが、このような場合には、この
バルクコンタクト部を電極と考えて曳く、当該バルクコ
ンタクト部を、例えばダイヤフラム部1纏をと9囲むよ
うに連続して設ければ、表面上の電極Tそれ自体は1個
所に配置しても、全周に設は九と同様の効果を得ること
ができる。
第3図は、本発明の他の実施例を示す断面図である。同
図から明らかなように、本実施例は、ダイヤフラム部1
aの下面部分において第2のエピタキシャル層5を除去
し九もので、圧力変換器としての特性に害を与える要因
、即ち、ヒステリシスヤサー!ルヒステリシスの原因と
な〕得る要素を極力排除して特性の向上をはかったもの
である。
以上説明しえように、本実@によれば、両面に半導体エ
ピタキシャル層を形成し九ナファイア基板によってダイ
ヤフラムを構成したことにより、当咳ダイヤフラムをガ
ラス等からなる支持体に安定K11合することができ、
半導体圧力変換器の特性を向上させることができるとい
う優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は同じ
く下面図、第3図は本発明0m01E施例を示す断面図
である。 1・・・・サファイア基板、11 ・φ・・ダイヤフラ
ム部、2・・・・ピエゾ抵抗素子、5・・−−@2Oシ
リコ/エピタキシャル層、6・―・拳支持体、1・・・
・静電接合用電極、8・・・−接合面。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)主面上に半導体エピタキシャル層を有するサファ
    イア基板の周縁部を鳥温で固体電解質として作用する絶
    縁材からなる支持体に!1合して中央部にダイヤ7ツム
    を構成してなる半導体圧力変換器において、前記エピタ
    キシャル層は、前記支持体との接合面と反対側の前記ダ
    イヤフラム部に形成されかクピエゾ抵抗素子を構成する
    第10エピタキシヤル層と、前fell會藺側に形成さ
    れた第2のエピタキシャル層とからなると共に、画線第
    20エピタキシャル層は周縁部に静電接合用電極を備え
    たこと、を特徴とする半導体圧力変換器。
  2. (2)静電接合用電極は、接合面に対してはぼ均等な分
    布となるように配置したことを特徴とする特許請求の範
    囲sI項記載O半導体圧力変換器。
  3. (3)第2のエピタキシャル層は、伊ファイア基板のダ
    (ヤ7ラムSを除く部位11COみ形成されていること
    を特徴とする特許請求の範囲111項記載の半導体圧力
    変換器。
JP20148881A 1981-12-16 1981-12-16 半導体圧力変換器 Pending JPS58103632A (ja)

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JP20148881A JPS58103632A (ja) 1981-12-16 1981-12-16 半導体圧力変換器

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Publications (1)

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JPS58103632A true JPS58103632A (ja) 1983-06-20

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ID=16441885

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JP20148881A Pending JPS58103632A (ja) 1981-12-16 1981-12-16 半導体圧力変換器

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JP (1) JPS58103632A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5181417A (en) * 1989-07-10 1993-01-26 Nippon Soken, Inc. Pressure detecting device
JP2016081530A (ja) * 2014-10-21 2016-05-16 ティーピーケイ タッチ ソリューションズ(シアメン)インコーポレーテッド 透過複合基板、その製造方法、及び、タッチパネル

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5181417A (en) * 1989-07-10 1993-01-26 Nippon Soken, Inc. Pressure detecting device
JP2016081530A (ja) * 2014-10-21 2016-05-16 ティーピーケイ タッチ ソリューションズ(シアメン)インコーポレーテッド 透過複合基板、その製造方法、及び、タッチパネル

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