JPS58103632A - 半導体圧力変換器 - Google Patents
半導体圧力変換器Info
- Publication number
- JPS58103632A JPS58103632A JP20148881A JP20148881A JPS58103632A JP S58103632 A JPS58103632 A JP S58103632A JP 20148881 A JP20148881 A JP 20148881A JP 20148881 A JP20148881 A JP 20148881A JP S58103632 A JPS58103632 A JP S58103632A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support
- epitaxial layer
- pressure transducer
- diaphragm
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0042—Constructional details associated with semiconductive diaphragm sensors, e.g. etching, or constructional details of non-semiconductive diaphragms
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は1.サファイア基板からなるダイヤフラムを備
え九半導体圧力変換器に関するものである。
え九半導体圧力変換器に関するものである。
サファイア基板上に半導体エピタキシ’r # 鳴f成
長させてなるダイヤ72ムを使用し九半導体圧力変換器
は、従来のPN接合による絶縁構造を用いたものと異な
9、リーク電流の心配がな(、PN接會OVm−IL4
I性に制約されることなくピエゾ抵抗効果のみに着目し
て不純物Il&を選択することができるという利点を有
している。
長させてなるダイヤ72ムを使用し九半導体圧力変換器
は、従来のPN接合による絶縁構造を用いたものと異な
9、リーク電流の心配がな(、PN接會OVm−IL4
I性に制約されることなくピエゾ抵抗効果のみに着目し
て不純物Il&を選択することができるという利点を有
している。
この場合、上記ダイヤフラムは、一般にガラス等からな
る支持体に接合して用いる。従来、この接合には接着剤
や低融点ガラス等が用いられて−るが、この41I会の
不安定のために、出力の時間的トリアドやヒステリシス
等が太き−という不都合があった。
る支持体に接合して用いる。従来、この接合には接着剤
や低融点ガラス等が用いられて−るが、この41I会の
不安定のために、出力の時間的トリアドやヒステリシス
等が太き−という不都合があった。
本発明は、以上のような状況に鑑みてなされたものでT
oLその目的は、サファイア基板を用い九ダイヤフラム
と支持体と01SIIK安走した接合が得られる半導体
圧力変換器を提供するととにある。
oLその目的は、サファイア基板を用い九ダイヤフラム
と支持体と01SIIK安走した接合が得られる半導体
圧力変換器を提供するととにある。
このような目的を達成する九めに、本発明は、サファイ
ア基板の両面にエピタキシャル層七*成し、支持体と接
合する側のエピタキシャル層周縁 。
ア基板の両面にエピタキシャル層七*成し、支持体と接
合する側のエピタキシャル層周縁 。
部に電極を設けて轟該エビメ今シャル層と支持体とを静
電接合させたものである。
電接合させたものである。
即ち、ここで静電接合とは、金属、半導体をガラスもし
くはセラミックス等、高温で固体電解質として作用する
絶縁材に振合する方法のひとつで、電界を印加すること
により、両者の融点以下の加熱で安定な機械的結合が得
られるものである。例えば、シリコンとパイレックスガ
ラスとを接合する場合には、両者の接合したい面を研拳
して合せ、300〜500℃の槽(大気圧で夷い)内に
放置し、シリコンを陽極、ガラスを陰極として300〜
1,000Vの電圧を約1分間印加するのみで、両者間
に機械的に安定し九摘会が得られる。特に、ガラスとそ
の相手との間に殆んど移動が見られない丸め、この靜1
1111合を支持体とダイヤフラムとの接合に作成が可
能である。
くはセラミックス等、高温で固体電解質として作用する
絶縁材に振合する方法のひとつで、電界を印加すること
により、両者の融点以下の加熱で安定な機械的結合が得
られるものである。例えば、シリコンとパイレックスガ
ラスとを接合する場合には、両者の接合したい面を研拳
して合せ、300〜500℃の槽(大気圧で夷い)内に
放置し、シリコンを陽極、ガラスを陰極として300〜
1,000Vの電圧を約1分間印加するのみで、両者間
に機械的に安定し九摘会が得られる。特に、ガラスとそ
の相手との間に殆んど移動が見られない丸め、この靜1
1111合を支持体とダイヤフラムとの接合に作成が可
能である。
従って、本発明では、上記サファイア基板の両面にエピ
タキシャル層を設け、一方は従来通9ピエゾ抵抗領域の
形成に用いると共に1他方の支持体に接合する側のエピ
タキシャル層には電極を設け、このエピタキシャル層と
支持体とを静電接合させることによって、サファイア基
板を用−たダイヤフラムと支持体との間に安定した接合
が得られるようにし九ものである。以下、実施例を用i
て本発明を詳細K11l明する。
タキシャル層を設け、一方は従来通9ピエゾ抵抗領域の
形成に用いると共に1他方の支持体に接合する側のエピ
タキシャル層には電極を設け、このエピタキシャル層と
支持体とを静電接合させることによって、サファイア基
板を用−たダイヤフラムと支持体との間に安定した接合
が得られるようにし九ものである。以下、実施例を用i
て本発明を詳細K11l明する。
第1図は、本発明の一実施ガを示す断面図である。同v
Aにおいて、1はサファイア基板、2はずファイア基板
1の主表面上Km成し九J11のシリコンエピタキシャ
ル層からなるP形のピエゾ抵抗素子、3はこのピエゾ抵
抗素子20表面上に形成し九810.からなる表面保■
絶縁膜、4はピエゾ抵抗素子2の電極、5は、前記サフ
ァイア基板1の他面に形成し九嬉2のシリコンエピタキ
シャルm、aはこの第2のシリコンエピタキシャル層5
を介してサファイア基板1に接合し九支持体である。こ
の支持体6は、サファイア基板1と熱膨張係数の近似し
九ガラスによってチェープ状もしくはプレート状に構成
され、図上省略したが、その下面は金−ハウジングに固
着される。前記サファイア基板1のうち、この支持体6
によって拘束されない中央部が、圧力によって起歪する
ダイヤフラム部1mを構成してお9、前記ピエゾ抵抗素
子2は、このダイヤフラム部1fiK設けである◎この
ピエゾ抵抗素子2は、ブリッジ回路を構成し、その出力
電圧によって圧力が検知できるようにしである。また%
711g2のエピタキシャル層50表面上に形成し九
靜電接合用の電極で69、第2図の下面図に示すように
、基板1と支持体6との接合面(同図中、斜線で示す)
8の中心点Aに対して対称的に配置しである。
Aにおいて、1はサファイア基板、2はずファイア基板
1の主表面上Km成し九J11のシリコンエピタキシャ
ル層からなるP形のピエゾ抵抗素子、3はこのピエゾ抵
抗素子20表面上に形成し九810.からなる表面保■
絶縁膜、4はピエゾ抵抗素子2の電極、5は、前記サフ
ァイア基板1の他面に形成し九嬉2のシリコンエピタキ
シャルm、aはこの第2のシリコンエピタキシャル層5
を介してサファイア基板1に接合し九支持体である。こ
の支持体6は、サファイア基板1と熱膨張係数の近似し
九ガラスによってチェープ状もしくはプレート状に構成
され、図上省略したが、その下面は金−ハウジングに固
着される。前記サファイア基板1のうち、この支持体6
によって拘束されない中央部が、圧力によって起歪する
ダイヤフラム部1mを構成してお9、前記ピエゾ抵抗素
子2は、このダイヤフラム部1fiK設けである◎この
ピエゾ抵抗素子2は、ブリッジ回路を構成し、その出力
電圧によって圧力が検知できるようにしである。また%
711g2のエピタキシャル層50表面上に形成し九
靜電接合用の電極で69、第2図の下面図に示すように
、基板1と支持体6との接合面(同図中、斜線で示す)
8の中心点Aに対して対称的に配置しである。
このように電極Tを設け、これと支持体6との間に電圧
を印加しながら第2のエピタキシャル層5と支持体6と
を静電接合する。ことにより、このエピタキシャル層5
を介して、サファイア基板1は支持体6に安定に接合さ
れる。特に、電極Tを対称的に配置したことにより、接
合面8における通電時の電位分布を均一に保つことがで
き、一層均一な接合が得られる。
を印加しながら第2のエピタキシャル層5と支持体6と
を静電接合する。ことにより、このエピタキシャル層5
を介して、サファイア基板1は支持体6に安定に接合さ
れる。特に、電極Tを対称的に配置したことにより、接
合面8における通電時の電位分布を均一に保つことがで
き、一層均一な接合が得られる。
なお、この場合上記電極1は21w4所に配置したが、
これは接合面8に対して均等に分布させることが望まし
く、′より多数配置しても、またダイヤフラム部11の
全図をとり囲むように連続的な形状に設けてもJilL
−ことは勿論である。また、41K。
これは接合面8に対して均等に分布させることが望まし
く、′より多数配置しても、またダイヤフラム部11の
全図をとり囲むように連続的な形状に設けてもJilL
−ことは勿論である。また、41K。
第2のエピタキシャル層5がN−形シリコンであって、
電極Tとの間にシ目ット呼障−が形成されるような場合
には、電極7との接触部に高導電性のバルクコンタクト
部を形成する必要があるが、このような場合には、この
バルクコンタクト部を電極と考えて曳く、当該バルクコ
ンタクト部を、例えばダイヤフラム部1纏をと9囲むよ
うに連続して設ければ、表面上の電極Tそれ自体は1個
所に配置しても、全周に設は九と同様の効果を得ること
ができる。
電極Tとの間にシ目ット呼障−が形成されるような場合
には、電極7との接触部に高導電性のバルクコンタクト
部を形成する必要があるが、このような場合には、この
バルクコンタクト部を電極と考えて曳く、当該バルクコ
ンタクト部を、例えばダイヤフラム部1纏をと9囲むよ
うに連続して設ければ、表面上の電極Tそれ自体は1個
所に配置しても、全周に設は九と同様の効果を得ること
ができる。
第3図は、本発明の他の実施例を示す断面図である。同
図から明らかなように、本実施例は、ダイヤフラム部1
aの下面部分において第2のエピタキシャル層5を除去
し九もので、圧力変換器としての特性に害を与える要因
、即ち、ヒステリシスヤサー!ルヒステリシスの原因と
な〕得る要素を極力排除して特性の向上をはかったもの
である。
図から明らかなように、本実施例は、ダイヤフラム部1
aの下面部分において第2のエピタキシャル層5を除去
し九もので、圧力変換器としての特性に害を与える要因
、即ち、ヒステリシスヤサー!ルヒステリシスの原因と
な〕得る要素を極力排除して特性の向上をはかったもの
である。
以上説明しえように、本実@によれば、両面に半導体エ
ピタキシャル層を形成し九ナファイア基板によってダイ
ヤフラムを構成したことにより、当咳ダイヤフラムをガ
ラス等からなる支持体に安定K11合することができ、
半導体圧力変換器の特性を向上させることができるとい
う優れた効果を有する。
ピタキシャル層を形成し九ナファイア基板によってダイ
ヤフラムを構成したことにより、当咳ダイヤフラムをガ
ラス等からなる支持体に安定K11合することができ、
半導体圧力変換器の特性を向上させることができるとい
う優れた効果を有する。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は同じ
く下面図、第3図は本発明0m01E施例を示す断面図
である。 1・・・・サファイア基板、11 ・φ・・ダイヤフラ
ム部、2・・・・ピエゾ抵抗素子、5・・−−@2Oシ
リコ/エピタキシャル層、6・―・拳支持体、1・・・
・静電接合用電極、8・・・−接合面。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社
く下面図、第3図は本発明0m01E施例を示す断面図
である。 1・・・・サファイア基板、11 ・φ・・ダイヤフラ
ム部、2・・・・ピエゾ抵抗素子、5・・−−@2Oシ
リコ/エピタキシャル層、6・―・拳支持体、1・・・
・静電接合用電極、8・・・−接合面。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社
Claims (3)
- (1)主面上に半導体エピタキシャル層を有するサファ
イア基板の周縁部を鳥温で固体電解質として作用する絶
縁材からなる支持体に!1合して中央部にダイヤ7ツム
を構成してなる半導体圧力変換器において、前記エピタ
キシャル層は、前記支持体との接合面と反対側の前記ダ
イヤフラム部に形成されかクピエゾ抵抗素子を構成する
第10エピタキシヤル層と、前fell會藺側に形成さ
れた第2のエピタキシャル層とからなると共に、画線第
20エピタキシャル層は周縁部に静電接合用電極を備え
たこと、を特徴とする半導体圧力変換器。 - (2)静電接合用電極は、接合面に対してはぼ均等な分
布となるように配置したことを特徴とする特許請求の範
囲sI項記載O半導体圧力変換器。 - (3)第2のエピタキシャル層は、伊ファイア基板のダ
(ヤ7ラムSを除く部位11COみ形成されていること
を特徴とする特許請求の範囲111項記載の半導体圧力
変換器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20148881A JPS58103632A (ja) | 1981-12-16 | 1981-12-16 | 半導体圧力変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20148881A JPS58103632A (ja) | 1981-12-16 | 1981-12-16 | 半導体圧力変換器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58103632A true JPS58103632A (ja) | 1983-06-20 |
Family
ID=16441885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20148881A Pending JPS58103632A (ja) | 1981-12-16 | 1981-12-16 | 半導体圧力変換器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58103632A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5181417A (en) * | 1989-07-10 | 1993-01-26 | Nippon Soken, Inc. | Pressure detecting device |
JP2016081530A (ja) * | 2014-10-21 | 2016-05-16 | ティーピーケイ タッチ ソリューションズ(シアメン)インコーポレーテッド | 透過複合基板、その製造方法、及び、タッチパネル |
-
1981
- 1981-12-16 JP JP20148881A patent/JPS58103632A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5181417A (en) * | 1989-07-10 | 1993-01-26 | Nippon Soken, Inc. | Pressure detecting device |
JP2016081530A (ja) * | 2014-10-21 | 2016-05-16 | ティーピーケイ タッチ ソリューションズ(シアメン)インコーポレーテッド | 透過複合基板、その製造方法、及び、タッチパネル |
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