JPH1194538A - 形状測定装置 - Google Patents
形状測定装置Info
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- JPH1194538A JPH1194538A JP25379697A JP25379697A JPH1194538A JP H1194538 A JPH1194538 A JP H1194538A JP 25379697 A JP25379697 A JP 25379697A JP 25379697 A JP25379697 A JP 25379697A JP H1194538 A JPH1194538 A JP H1194538A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 歪みによる誤差を防止し、高精度に被測定物
の形状を測定する。 【解決手段】 形状測定装置は、発信器12,歪量検出
器14,接触子16,アンテナ18を備える送信部10
と、受信器22,位置算出手段24,位置補正手段2
6,アンテナ28を備える受信部20とによって構成さ
れている。接触子16は歪量検出器14に接続され、そ
の歪量検出器14は接触子16を被測定物30に接触さ
せる際に生ずる歪み量を検出する。発信器12は、歪み
量と信号情報とを電波信号に変換してアンテナ18から
発信する。アンテナ28は所定位置に設置されている。
受信器22は、アンテナ28で受信した電波信号を内部
処理形式に変換する。位置算出手段24は、信号情報に
基づいて接触子16が被測定物30に接触する接触位置
を算出する。位置補正手段26は、歪み量に基づいて接
触位置を補正して被測定物30の形状を求める。
の形状を測定する。 【解決手段】 形状測定装置は、発信器12,歪量検出
器14,接触子16,アンテナ18を備える送信部10
と、受信器22,位置算出手段24,位置補正手段2
6,アンテナ28を備える受信部20とによって構成さ
れている。接触子16は歪量検出器14に接続され、そ
の歪量検出器14は接触子16を被測定物30に接触さ
せる際に生ずる歪み量を検出する。発信器12は、歪み
量と信号情報とを電波信号に変換してアンテナ18から
発信する。アンテナ28は所定位置に設置されている。
受信器22は、アンテナ28で受信した電波信号を内部
処理形式に変換する。位置算出手段24は、信号情報に
基づいて接触子16が被測定物30に接触する接触位置
を算出する。位置補正手段26は、歪み量に基づいて接
触位置を補正して被測定物30の形状を求める。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は形状測定装置に関
し、接触子を用いて被測定物の形状を精度よく測定する
ための技術に関する。
し、接触子を用いて被測定物の形状を精度よく測定する
ための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の形状測定装置の一例を図9に示
す。図9において、形状測定装置500には、基台50
2、スライド部材504,506,514、タッチプロ
ーブ512等によって構成されている。スライド部材5
04は基台502に対して矢印D4(例えばX軸)方向
に、スライド部材506はスライド部材504に対して
矢印D2(例えばY軸)方向に、スライド部材514は
スライド部材506に対して矢印D6(例えばZ軸)方
向にそれぞれ移動可能に設けられている。このスライド
部材514には、タッチプローブ512が取り付けられ
ている。上記形状測定装置500では、スライド部材5
04,506,514をスライドさせてタッチプローブ
512を移動させる。その移動の際、測定台508上に
固定された被測定物510にタッチプローブ512を接
触させる。こうして被測定物510とタッチプローブ5
12との接触位置を求めることによって、被測定物51
0の立体形状を測定する。
す。図9において、形状測定装置500には、基台50
2、スライド部材504,506,514、タッチプロ
ーブ512等によって構成されている。スライド部材5
04は基台502に対して矢印D4(例えばX軸)方向
に、スライド部材506はスライド部材504に対して
矢印D2(例えばY軸)方向に、スライド部材514は
スライド部材506に対して矢印D6(例えばZ軸)方
向にそれぞれ移動可能に設けられている。このスライド
部材514には、タッチプローブ512が取り付けられ
ている。上記形状測定装置500では、スライド部材5
04,506,514をスライドさせてタッチプローブ
512を移動させる。その移動の際、測定台508上に
固定された被測定物510にタッチプローブ512を接
触させる。こうして被測定物510とタッチプローブ5
12との接触位置を求めることによって、被測定物51
0の立体形状を測定する。
【0003】ところが、形状測定装置500を正面側か
ら見ると、図10のようになる。すなわち、スライド部
材504,506,514やタッチプローブ512等の
重みによって基台502の水平部位(橋梁部分)が撓ん
でしまう。この撓みによって基台502の直角度が失わ
れ、さらに被測定物510に接触するタッチプローブ5
12の接触圧が高まってタッチプローブ512自体が歪
む。そのため、被測定物510の形状を精度よく測定す
ることができない。こうした不具合を解消するための技
術の一例が、特開昭62−284205号公報に開示さ
れている。
ら見ると、図10のようになる。すなわち、スライド部
材504,506,514やタッチプローブ512等の
重みによって基台502の水平部位(橋梁部分)が撓ん
でしまう。この撓みによって基台502の直角度が失わ
れ、さらに被測定物510に接触するタッチプローブ5
12の接触圧が高まってタッチプローブ512自体が歪
む。そのため、被測定物510の形状を精度よく測定す
ることができない。こうした不具合を解消するための技
術の一例が、特開昭62−284205号公報に開示さ
れている。
【0004】この技術では、まず、被測定物の一面側に
複数の発光素子を所定間隔で一列に配置した発光部材
を、他面側にその発光部材に対応して複数の受光素子を
所定間隔で一列に配置した受光部材をそれぞれ設けてい
る。また、被測定物の移動量を測定する移動量測定装置
を設けている。この場合、発光部材から出た光が被測定
物に当たれば受光部材に到達せず、当たらなければ受光
部材に到達する。この現象を利用して光が受光部材に到
達しない部分を特定し、移動量測定装置で測定された移
動量に対応して測定することにより、タッチプローブ等
の歪みによる誤差が防止される。したがって、被測定物
の平面形状が精度よく測定される。
複数の発光素子を所定間隔で一列に配置した発光部材
を、他面側にその発光部材に対応して複数の受光素子を
所定間隔で一列に配置した受光部材をそれぞれ設けてい
る。また、被測定物の移動量を測定する移動量測定装置
を設けている。この場合、発光部材から出た光が被測定
物に当たれば受光部材に到達せず、当たらなければ受光
部材に到達する。この現象を利用して光が受光部材に到
達しない部分を特定し、移動量測定装置で測定された移
動量に対応して測定することにより、タッチプローブ等
の歪みによる誤差が防止される。したがって、被測定物
の平面形状が精度よく測定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、複数の発光素
子や複数の受光素子を一列に配置するためには、各素子
間に所定間隔が必要になる。この所定間隔を要請される
精度に合わせて短くすることは素子を構成する上で極め
て困難である。そのため、被測定物の形状を高精度に測
定することができない。本発明はこのような点に鑑みて
なされたものであり、歪みによる誤差を防止するととも
に、高精度に被測定物の形状を測定することができる形
状測定装置を提供することを目的とする。
子や複数の受光素子を一列に配置するためには、各素子
間に所定間隔が必要になる。この所定間隔を要請される
精度に合わせて短くすることは素子を構成する上で極め
て困難である。そのため、被測定物の形状を高精度に測
定することができない。本発明はこのような点に鑑みて
なされたものであり、歪みによる誤差を防止するととも
に、高精度に被測定物の形状を測定することができる形
状測定装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための第1の手段】請求項1に記載の
発明は、接触子を被測定物に接触させて、その被測定物
の形状を測定する形状測定装置において、その接触子を
前記被測定物に接触させる際に生ずる歪み量を検出し、
その歪み量と信号情報とを電波信号に変換してアンテナ
から発信する送信部と、設置位置が分かっているアンテ
ナによって前記電波信号を受信し、その電波信号に含ま
れている信号情報と前記設置位置とに基づいて前記接触
子が被測定物に接触している接触位置を求め、その接触
位置を前記歪み量に基づいて補正して前記被測定物の形
状を求める受信部とを有することを特徴とする。ここ
で、「電波信号」には、伝達すべき信号や情報の有無に
かかわらず、送信部から受信部に送る全ての電波を含
む。例えば、歪み量と信号情報とを伝達する電波や、そ
うした情報を持たない単なるパルス信号(インパルス信
号)のみを伝達する電波等がある。
発明は、接触子を被測定物に接触させて、その被測定物
の形状を測定する形状測定装置において、その接触子を
前記被測定物に接触させる際に生ずる歪み量を検出し、
その歪み量と信号情報とを電波信号に変換してアンテナ
から発信する送信部と、設置位置が分かっているアンテ
ナによって前記電波信号を受信し、その電波信号に含ま
れている信号情報と前記設置位置とに基づいて前記接触
子が被測定物に接触している接触位置を求め、その接触
位置を前記歪み量に基づいて補正して前記被測定物の形
状を求める受信部とを有することを特徴とする。ここ
で、「電波信号」には、伝達すべき信号や情報の有無に
かかわらず、送信部から受信部に送る全ての電波を含
む。例えば、歪み量と信号情報とを伝達する電波や、そ
うした情報を持たない単なるパルス信号(インパルス信
号)のみを伝達する電波等がある。
【0007】請求項1に記載の発明によれば、送信部は
歪み量と信号情報とを発信し、受信部は信号情報とアン
テナの設置位置とに基づいて接触位置を求め、その接触
位置を歪み量に基づいて補正して被測定物の形状を求め
る。この場合、接触位置を歪み量に基づいて補正してい
るので歪みによる誤差が防止される。さらに、信号情報
とアンテナの設置位置とに基づいて接触位置を求めてい
るので、被測定物の形状を高精度に測定することができ
る。
歪み量と信号情報とを発信し、受信部は信号情報とアン
テナの設置位置とに基づいて接触位置を求め、その接触
位置を歪み量に基づいて補正して被測定物の形状を求め
る。この場合、接触位置を歪み量に基づいて補正してい
るので歪みによる誤差が防止される。さらに、信号情報
とアンテナの設置位置とに基づいて接触位置を求めてい
るので、被測定物の形状を高精度に測定することができ
る。
【0008】
【課題を解決するための第2の手段】請求項2に記載の
発明は、接触子を被測定物に接触させて、その被測定物
の形状を測定する形状測定装置において、その接触子を
前記被測定物に接触させる際に生ずる接触圧を一定に維
持し、信号情報を電波信号に変換してアンテナから発信
する送信部と、設置位置が分かっているアンテナによっ
て前記電波信号を受信し、その電波信号に含まれている
信号情報と前記設置位置とに基づいて前記接触子が被測
定物に接触している接触位置を求め、その接触位置を前
記接触圧に基づいて補正して前記被測定物の形状を求め
る受信部とを有することを特徴とする。
発明は、接触子を被測定物に接触させて、その被測定物
の形状を測定する形状測定装置において、その接触子を
前記被測定物に接触させる際に生ずる接触圧を一定に維
持し、信号情報を電波信号に変換してアンテナから発信
する送信部と、設置位置が分かっているアンテナによっ
て前記電波信号を受信し、その電波信号に含まれている
信号情報と前記設置位置とに基づいて前記接触子が被測
定物に接触している接触位置を求め、その接触位置を前
記接触圧に基づいて補正して前記被測定物の形状を求め
る受信部とを有することを特徴とする。
【0009】請求項2に記載の発明によれば、送信部は
接触圧を一定に維持するとともに信号情報を発信し、受
信部は信号情報とアンテナの設置位置とに基づいて接触
位置を求め、その接触位置を歪み量に基づいて補正して
被測定物の形状を求める。この場合、接触圧を一定に維
持しているので歪みによる誤差が防止される。さらに、
信号情報とアンテナの設置位置とに基づいて接触位置を
求めているので、高精度に被測定物の形状を測定するこ
とができる。
接触圧を一定に維持するとともに信号情報を発信し、受
信部は信号情報とアンテナの設置位置とに基づいて接触
位置を求め、その接触位置を歪み量に基づいて補正して
被測定物の形状を求める。この場合、接触圧を一定に維
持しているので歪みによる誤差が防止される。さらに、
信号情報とアンテナの設置位置とに基づいて接触位置を
求めているので、高精度に被測定物の形状を測定するこ
とができる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面に基づいて説明する。 〔実施の形態1〕まず、実施の形態1について、本発明
の概略構成をブロック図で示す図1を参照して説明す
る。この実施の形態1では、歪み量に基づいて接触位置
を補正しながら計測を行う方法について本発明を適用し
たものである。図1において、形状測定装置は、送信部
10と受信部20とによって構成されている。送信部1
0は、発信器12,歪量検出器14,接触子16,アン
テナ18を備えている。接触子16は、歪量検出器14
に接続されている。また、接触子16が被測定物30と
接触する接触部とアンテナ18とは所定の位置関係にあ
る。歪量検出器14は、接触子16を被測定物30に接
触させる際に生ずる歪み量を検出する。アンテナ18の
本数は、信号情報の内容に応じて変わる。すなわち、信
号情報がGPS信号の場合には少なくとも4本必要にな
り、電波信号の場合には少なくとも3本必要になる。な
お、上記GPS信号には、コードおよび衛星メッセージ
に相当する情報が含まれている。発信器12は、歪み量
と信号情報とを電波信号に変換してアンテナ18から発
信する。また、受信部20は、受信器22,位置算出手
段24,位置補正手段26,アンテナ28を備えてい
る。アンテナ28は信号情報の内容に応じて必要な本数
が変わり、それぞれ所定位置に設置されている。受信器
22は、アンテナ28で受信した電波信号を内部処理形
式に変換する。位置算出手段24は、信号情報に基づい
て接触子16が被測定物30に接触する接触位置を算出
する。位置補正手段26は、歪み量に基づいて接触位置
を補正して被測定物30の形状を求める。
て図面に基づいて説明する。 〔実施の形態1〕まず、実施の形態1について、本発明
の概略構成をブロック図で示す図1を参照して説明す
る。この実施の形態1では、歪み量に基づいて接触位置
を補正しながら計測を行う方法について本発明を適用し
たものである。図1において、形状測定装置は、送信部
10と受信部20とによって構成されている。送信部1
0は、発信器12,歪量検出器14,接触子16,アン
テナ18を備えている。接触子16は、歪量検出器14
に接続されている。また、接触子16が被測定物30と
接触する接触部とアンテナ18とは所定の位置関係にあ
る。歪量検出器14は、接触子16を被測定物30に接
触させる際に生ずる歪み量を検出する。アンテナ18の
本数は、信号情報の内容に応じて変わる。すなわち、信
号情報がGPS信号の場合には少なくとも4本必要にな
り、電波信号の場合には少なくとも3本必要になる。な
お、上記GPS信号には、コードおよび衛星メッセージ
に相当する情報が含まれている。発信器12は、歪み量
と信号情報とを電波信号に変換してアンテナ18から発
信する。また、受信部20は、受信器22,位置算出手
段24,位置補正手段26,アンテナ28を備えてい
る。アンテナ28は信号情報の内容に応じて必要な本数
が変わり、それぞれ所定位置に設置されている。受信器
22は、アンテナ28で受信した電波信号を内部処理形
式に変換する。位置算出手段24は、信号情報に基づい
て接触子16が被測定物30に接触する接触位置を算出
する。位置補正手段26は、歪み量に基づいて接触位置
を補正して被測定物30の形状を求める。
【0011】上記構成によれば、送信部10は歪み量と
信号情報とを発信し、受信部20は信号情報とアンテナ
の設置位置とに基づいて接触位置を求め、その接触位置
を歪み量に基づいて補正して被測定物30の形状を求め
ている。この場合、接触位置を歪み量に基づいて補正し
ているので歪みによる誤差が防止される。さらに、信号
情報とアンテナの設置位置とに基づいて接触位置を求め
ているので、被測定物30の形状を高精度に測定するこ
とができる。
信号情報とを発信し、受信部20は信号情報とアンテナ
の設置位置とに基づいて接触位置を求め、その接触位置
を歪み量に基づいて補正して被測定物30の形状を求め
ている。この場合、接触位置を歪み量に基づいて補正し
ているので歪みによる誤差が防止される。さらに、信号
情報とアンテナの設置位置とに基づいて接触位置を求め
ているので、被測定物30の形状を高精度に測定するこ
とができる。
【0012】次に、本形態の具体的な内容について、図
2〜図5を参照しながら説明する。この形態では、信号
情報としてGPS信号を適用した一例を示す。ここで、
図2には形状測定装置の全体構成を斜視図で示す。図3
には、タッチプローブの全体構成を模式図で示す。図4
には、プローブ制御部の構成をブロック図で示す。図5
には、形状測定部の構成をブロック図で示す。
2〜図5を参照しながら説明する。この形態では、信号
情報としてGPS信号を適用した一例を示す。ここで、
図2には形状測定装置の全体構成を斜視図で示す。図3
には、タッチプローブの全体構成を模式図で示す。図4
には、プローブ制御部の構成をブロック図で示す。図5
には、形状測定部の構成をブロック図で示す。
【0013】図2において、形状測定装置は、測定台6
0、送信装置50、形状測定部200、アンテナ22
0,222,224,226等によって構成されてい
る。測定台60上には被測定物30が載置され、必要に
応じて固定される。
0、送信装置50、形状測定部200、アンテナ22
0,222,224,226等によって構成されてい
る。測定台60上には被測定物30が載置され、必要に
応じて固定される。
【0014】送信装置50は、図3に示すように、指令
スイッチ52,歪みゲージ54,タッチプローブ58,
アンテナ110,112,114,プローブ制御部10
0等によって構成されている。指令スイッチ52はアン
テナ110,112,114からそれぞれ電波信号を発
信させるためのスイッチである。歪みゲージ54はタッ
チプローブ58に接続されており、タッチプローブ58
が上記被測定物30に接触したときに生ずる圧力(歪
み)を計測する。歪みゲージ54には、例えば圧電素子
が用いられる。タッチプローブ58は接触子16を具体
化したものであって、その先端部には被測定物30と接
触する接触部58aが設けられている。タッチプローブ
58はベアリング56によって軸回りに正逆回転可能と
なっている。また、接触部58aとアンテナ110,1
14とは、非接触状態において所定の位置関係にあるこ
とが分かっている。アンテナ110,114からはそれ
ぞれGPSメッセージが電波信号で発信され、アンテナ
112からは歪み量が電波信号で発信される。
スイッチ52,歪みゲージ54,タッチプローブ58,
アンテナ110,112,114,プローブ制御部10
0等によって構成されている。指令スイッチ52はアン
テナ110,112,114からそれぞれ電波信号を発
信させるためのスイッチである。歪みゲージ54はタッ
チプローブ58に接続されており、タッチプローブ58
が上記被測定物30に接触したときに生ずる圧力(歪
み)を計測する。歪みゲージ54には、例えば圧電素子
が用いられる。タッチプローブ58は接触子16を具体
化したものであって、その先端部には被測定物30と接
触する接触部58aが設けられている。タッチプローブ
58はベアリング56によって軸回りに正逆回転可能と
なっている。また、接触部58aとアンテナ110,1
14とは、非接触状態において所定の位置関係にあるこ
とが分かっている。アンテナ110,114からはそれ
ぞれGPSメッセージが電波信号で発信され、アンテナ
112からは歪み量が電波信号で発信される。
【0015】プローブ制御部100は、図4に示すよう
に、第1GPS信号送信器102,歪量送信器104,
歪量変換器106,第2GPS信号送信器108等によ
って構成されている。第1GPS信号送信器102は、
アンテナ110から第1GPSメッセージを電波信号で
発信する。同様に、第2GPS信号送信器108は、ア
ンテナ114から第2GPSメッセージを電波信号で発
信する。歪量変換器106は歪みゲージ54から出力さ
れた圧力を受けて、その圧力を歪み量に変換して出力す
る。歪量送信器104は、指令スイッチ52から出力さ
れたトリガ(パルス)を受けたときに歪量変換器106
から出力された歪み量を受けて、その歪み量をアンテナ
112から電波信号で発信する。なお、歪量変換器10
6と歪みゲージ54とは、歪量検出器14を具体化した
ものである。
に、第1GPS信号送信器102,歪量送信器104,
歪量変換器106,第2GPS信号送信器108等によ
って構成されている。第1GPS信号送信器102は、
アンテナ110から第1GPSメッセージを電波信号で
発信する。同様に、第2GPS信号送信器108は、ア
ンテナ114から第2GPSメッセージを電波信号で発
信する。歪量変換器106は歪みゲージ54から出力さ
れた圧力を受けて、その圧力を歪み量に変換して出力す
る。歪量送信器104は、指令スイッチ52から出力さ
れたトリガ(パルス)を受けたときに歪量変換器106
から出力された歪み量を受けて、その歪み量をアンテナ
112から電波信号で発信する。なお、歪量変換器10
6と歪みゲージ54とは、歪量検出器14を具体化した
ものである。
【0016】図2に戻って、形状測定部200の構成に
ついて、図5を参照しながら説明する。図5において、
形状測定部200は、受信波分離回路202,204,
206,208、第1位置算出部210、第2位置算出
部212、プローブ位置算出部214、プローブ位置補
正部216、三次元形状形成部218、アンテナ22
0,222,224,226等によって構成されてい
る。ここで、受信波分離回路202,204,206,
208は、受信器22を具体化したものである。また、
第1位置算出部210,第2位置算出部212,プロー
ブ位置算出部214は、位置算出手段24を具体化した
ものである。さらに、プローブ位置補正部216は、位
置補正手段26を具体化したものである。
ついて、図5を参照しながら説明する。図5において、
形状測定部200は、受信波分離回路202,204,
206,208、第1位置算出部210、第2位置算出
部212、プローブ位置算出部214、プローブ位置補
正部216、三次元形状形成部218、アンテナ22
0,222,224,226等によって構成されてい
る。ここで、受信波分離回路202,204,206,
208は、受信器22を具体化したものである。また、
第1位置算出部210,第2位置算出部212,プロー
ブ位置算出部214は、位置算出手段24を具体化した
ものである。さらに、プローブ位置補正部216は、位
置補正手段26を具体化したものである。
【0017】受信波分離回路202はアンテナ220で
受信した電波信号群の中から第1GPSメッセージと第
2GPSメッセージとを分離する。そして、第1GPS
メッセージに受信時刻を付加した受信信号R12を第1
位置算出部210に、第2GPSメッセージに受信時刻
を付加した受信信号R22を第2位置算出部212にそ
れぞれ出力する。以下、受信信号R1n(ただし、n=
4,6,8)は受信信号R12と、受信信号R2n(た
だし、n=4,6,8)は受信信号R22とそれぞれ同
様の信号である。受信波分離回路204,206は受信
波分離回路202と同様の処理を行う。受信波分離回路
204では受信信号R14を第1位置算出部210に、
受信信号R24を第2位置算出部212にそれぞれ出力
する。受信波分離回路206では受信信号R16を第1
位置算出部210に、受信信号R26を第2位置算出部
212にそれぞれ出力する。受信波分離回路208は受
信波分離回路202と同様の処理を行うとともに、電波
信号群の中から歪み量を分離する。この受信波分離回路
208は受信信号R18を第1位置算出部210に、受
信信号R28を第2位置算出部212に、歪み量を受信
信号R30としてプローブ位置補正部216にそれぞれ
出力する。
受信した電波信号群の中から第1GPSメッセージと第
2GPSメッセージとを分離する。そして、第1GPS
メッセージに受信時刻を付加した受信信号R12を第1
位置算出部210に、第2GPSメッセージに受信時刻
を付加した受信信号R22を第2位置算出部212にそ
れぞれ出力する。以下、受信信号R1n(ただし、n=
4,6,8)は受信信号R12と、受信信号R2n(た
だし、n=4,6,8)は受信信号R22とそれぞれ同
様の信号である。受信波分離回路204,206は受信
波分離回路202と同様の処理を行う。受信波分離回路
204では受信信号R14を第1位置算出部210に、
受信信号R24を第2位置算出部212にそれぞれ出力
する。受信波分離回路206では受信信号R16を第1
位置算出部210に、受信信号R26を第2位置算出部
212にそれぞれ出力する。受信波分離回路208は受
信波分離回路202と同様の処理を行うとともに、電波
信号群の中から歪み量を分離する。この受信波分離回路
208は受信信号R18を第1位置算出部210に、受
信信号R28を第2位置算出部212に、歪み量を受信
信号R30としてプローブ位置補正部216にそれぞれ
出力する。
【0018】第1位置算出部210は受信信号R12,
R14,R16,R18を受けて、アンテナ110の位
置P2(X2,Y2,Z2)を求める。その算出式(連
立方程式)を次に示す。この連立方程式ではX2,Y
2,Z2,Δτの4変数が未知数であるため、連立させ
た4つの式を解いて求められる。ここで、アンテナ22
0の位置を(Xa,Ya,Za)とし、アンテナ222
の位置を(Xb,Yb,Zb)とし、アンテナ224の
位置を(Xc,Yc,Zc)とし、アンテナ226の位
置を(Xd,Yd,Zd)とする。また、アンテナ11
0の発信時刻をTo2とし、アンテナ220の受信時刻
をTa2とし、アンテナ222の受信時刻をTb2と
し、アンテナ224の受信時刻をTc2とし、アンテナ
226の受信時刻をTd2とする。さらに、電波の伝搬
速度をCとし、形状測定部200の内蔵時計の誤差をΔ
τとする。
R14,R16,R18を受けて、アンテナ110の位
置P2(X2,Y2,Z2)を求める。その算出式(連
立方程式)を次に示す。この連立方程式ではX2,Y
2,Z2,Δτの4変数が未知数であるため、連立させ
た4つの式を解いて求められる。ここで、アンテナ22
0の位置を(Xa,Ya,Za)とし、アンテナ222
の位置を(Xb,Yb,Zb)とし、アンテナ224の
位置を(Xc,Yc,Zc)とし、アンテナ226の位
置を(Xd,Yd,Zd)とする。また、アンテナ11
0の発信時刻をTo2とし、アンテナ220の受信時刻
をTa2とし、アンテナ222の受信時刻をTb2と
し、アンテナ224の受信時刻をTc2とし、アンテナ
226の受信時刻をTd2とする。さらに、電波の伝搬
速度をCとし、形状測定部200の内蔵時計の誤差をΔ
τとする。
【数1】
【0019】同様に、第2位置算出部212は受信信号
R22,R24,R26,R28を受けて、アンテナ1
14の位置P4(X4,Y4,Z4)を算出する。その
算出式を次に示す。ここで、アンテナ114の発信時刻
をTo4とし、アンテナ220の受信時刻をTa4と
し、アンテナ222の受信時刻をTb4とし、アンテナ
224の受信時刻をTc4とし、アンテナ226の受信
時刻をTd4とする。
R22,R24,R26,R28を受けて、アンテナ1
14の位置P4(X4,Y4,Z4)を算出する。その
算出式を次に示す。ここで、アンテナ114の発信時刻
をTo4とし、アンテナ220の受信時刻をTa4と
し、アンテナ222の受信時刻をTb4とし、アンテナ
224の受信時刻をTc4とし、アンテナ226の受信
時刻をTd4とする。
【数2】
【0020】プローブ位置算出部214はアンテナ11
0の位置P2とアンテナ114の位置P4とに基づい
て、タッチプローブ58の接触部58aが被測定物30
に接触する位置P6(X6,Y6,Z6)すなわち接触
位置を算出する。その算出式を次に示す。
0の位置P2とアンテナ114の位置P4とに基づい
て、タッチプローブ58の接触部58aが被測定物30
に接触する位置P6(X6,Y6,Z6)すなわち接触
位置を算出する。その算出式を次に示す。
【数3】
【0021】プローブ位置補正部216は、プローブ位
置算出部214で算出された接触部58aの位置P6
と、受信信号R30の歪み量とに基づいて、位置P6を
補正したプローブ位置P8(X8,Y8,Z8)を求め
る。その算出式を次に示す。なお、f(L2,δ)は歪
み量とタッチプローブ58の引き込み量との関係を表す
関数である。また、距離L1はアンテナ110とアンテ
ナ114との間の距離であり、距離L2は歪み量が0の
ときにおけるアンテナ114と接触部58aとの間の距
離である。
置算出部214で算出された接触部58aの位置P6
と、受信信号R30の歪み量とに基づいて、位置P6を
補正したプローブ位置P8(X8,Y8,Z8)を求め
る。その算出式を次に示す。なお、f(L2,δ)は歪
み量とタッチプローブ58の引き込み量との関係を表す
関数である。また、距離L1はアンテナ110とアンテ
ナ114との間の距離であり、距離L2は歪み量が0の
ときにおけるアンテナ114と接触部58aとの間の距
離である。
【数4】
【0022】三次元形状形成部218は、プローブ位置
補正部216で補正された複数のプローブ位置P8に基
づいて被測定物30の立体形状を形成する。この立体形
状の形成方法は既に知られている方法であるので、説明
を省略する。
補正部216で補正された複数のプローブ位置P8に基
づいて被測定物30の立体形状を形成する。この立体形
状の形成方法は既に知られている方法であるので、説明
を省略する。
【0023】上記実施の形態1では、送信装置50のタ
ッチプローブ58を被測定物30に接触させた状態で指
令スイッチ52を押すと、その接触位置が信号情報とア
ンテナ220,222,224,226の設置位置とに
基づいて形状測定部200によって求められる。この計
測を被測定物30の複数の部位に対して行うことによ
り、形状測定部200では被測定物30の立体形状が形
成される。この場合、接触位置を歪み量に基づいて補正
しているので歪みによる誤差が補正されるため、被測定
物30の形状を高精度に測定することができる。ここ
で、図9に示す形状測定装置500に対して歪み量を補
正する手段を設けても、本発明と同様な効果を得ること
ができる。具体的には、タッチプローブ512(接触
子)を被測定物510に接触させる際に生ずる歪み量
を、上記歪みゲージ54および歪量変換器106(歪量
検出手段)によって検出する。そして、検出された歪み
量に基づいて、タッチプローブ512が被測定物510
に接触している接触位置を、上記プローブ位置補正部2
16(位置補正手段)によって補正する。これに対し
て、本発明では従来のような大掛かりな移動機構(すな
わち、基台502やスライド部材504,506,51
4等)を設けることなく、小型の送信装置50を持った
オペレータがタッチプローブ58を被測定物30に接触
させるだけで被測定物30の形状を高精度に測定するこ
とができる。
ッチプローブ58を被測定物30に接触させた状態で指
令スイッチ52を押すと、その接触位置が信号情報とア
ンテナ220,222,224,226の設置位置とに
基づいて形状測定部200によって求められる。この計
測を被測定物30の複数の部位に対して行うことによ
り、形状測定部200では被測定物30の立体形状が形
成される。この場合、接触位置を歪み量に基づいて補正
しているので歪みによる誤差が補正されるため、被測定
物30の形状を高精度に測定することができる。ここ
で、図9に示す形状測定装置500に対して歪み量を補
正する手段を設けても、本発明と同様な効果を得ること
ができる。具体的には、タッチプローブ512(接触
子)を被測定物510に接触させる際に生ずる歪み量
を、上記歪みゲージ54および歪量変換器106(歪量
検出手段)によって検出する。そして、検出された歪み
量に基づいて、タッチプローブ512が被測定物510
に接触している接触位置を、上記プローブ位置補正部2
16(位置補正手段)によって補正する。これに対し
て、本発明では従来のような大掛かりな移動機構(すな
わち、基台502やスライド部材504,506,51
4等)を設けることなく、小型の送信装置50を持った
オペレータがタッチプローブ58を被測定物30に接触
させるだけで被測定物30の形状を高精度に測定するこ
とができる。
【0024】〔実施の形態2〕次に、実施の形態2は、
本発明の他の概略構成をブロック図で示す図6を参照し
て説明する。この実施の形態2では、接触圧を維持しな
がら計測を行う方法について本発明を適用したものであ
る。なお、図1と同一の要素については同一の符号を付
して説明を省略する。図6に示す形状測定装置は、送信
部10に接触圧維持手段13を付加している点で図1に
示す形状測定装置と異なっている。この接触圧維持手段
13は、歪量検出器14から出力された圧力を受けて、
目標圧力を維持するように電圧を調整して歪量検出器1
4に出力する。このフィードバック制御によって、接触
子16が被測定物30と接触する圧力が目標圧力に維持
される。一方、位置補正手段26では目標圧力(歪み
量)に対応する補正を行えばよい。そのため、発信器1
2は信号情報のみを発信すればよくなり、歪み量を発信
する必要がなくなる。
本発明の他の概略構成をブロック図で示す図6を参照し
て説明する。この実施の形態2では、接触圧を維持しな
がら計測を行う方法について本発明を適用したものであ
る。なお、図1と同一の要素については同一の符号を付
して説明を省略する。図6に示す形状測定装置は、送信
部10に接触圧維持手段13を付加している点で図1に
示す形状測定装置と異なっている。この接触圧維持手段
13は、歪量検出器14から出力された圧力を受けて、
目標圧力を維持するように電圧を調整して歪量検出器1
4に出力する。このフィードバック制御によって、接触
子16が被測定物30と接触する圧力が目標圧力に維持
される。一方、位置補正手段26では目標圧力(歪み
量)に対応する補正を行えばよい。そのため、発信器1
2は信号情報のみを発信すればよくなり、歪み量を発信
する必要がなくなる。
【0025】次に、本形態の具体的な内容について、図
7,図8を参照しながら説明する。この形態では、信号
情報としてGPS信号を適用した一例を示す。ここで、
図7には、他のタッチプローブの全体構成を模式図で示
す。図8には、他のプローブ制御部の構成をブロック図
で示す。なお、図3,図4と同一の要素については同一
の符号を付して説明を省略する。図7に示す送信装置5
0は、上記接触圧維持手段13に相当する接触圧維持回
路53を付加している点で図3の送信装置50と異なっ
ている。この接触圧維持回路53は、歪みゲージ54か
ら出力された圧力Fを受けて、目標圧力Foを維持する
ように電圧Vcを調整して歪みゲージ54に出力する。
このフィードバック制御によって、タッチプローブ58
の接触部58aが被測定物30と接触する圧力が目標圧
力Foに維持される。
7,図8を参照しながら説明する。この形態では、信号
情報としてGPS信号を適用した一例を示す。ここで、
図7には、他のタッチプローブの全体構成を模式図で示
す。図8には、他のプローブ制御部の構成をブロック図
で示す。なお、図3,図4と同一の要素については同一
の符号を付して説明を省略する。図7に示す送信装置5
0は、上記接触圧維持手段13に相当する接触圧維持回
路53を付加している点で図3の送信装置50と異なっ
ている。この接触圧維持回路53は、歪みゲージ54か
ら出力された圧力Fを受けて、目標圧力Foを維持する
ように電圧Vcを調整して歪みゲージ54に出力する。
このフィードバック制御によって、タッチプローブ58
の接触部58aが被測定物30と接触する圧力が目標圧
力Foに維持される。
【0026】図8に示すプローブ制御部100は、歪量
送信器104の代わりに指令送信器105とフィードバ
ック制御回路107とを設けた点で図4に示すプローブ
制御部100と異なっている。指令送信器105は指令
スイッチ52から出力されたトリガ(パルス)を受け
て、その信号をアンテナ112から電波信号で発信す
る。フィードバック制御回路107は、歪量変換器10
6から出力された歪み量を受けて、上記目標圧力Foに
相当する歪み量に達するように電圧を調整して歪みゲー
ジ54に出力する。ここで、歪量変換器106およびフ
ィードバック制御回路107は、上記接触圧維持回路5
3に相当する。
送信器104の代わりに指令送信器105とフィードバ
ック制御回路107とを設けた点で図4に示すプローブ
制御部100と異なっている。指令送信器105は指令
スイッチ52から出力されたトリガ(パルス)を受け
て、その信号をアンテナ112から電波信号で発信す
る。フィードバック制御回路107は、歪量変換器10
6から出力された歪み量を受けて、上記目標圧力Foに
相当する歪み量に達するように電圧を調整して歪みゲー
ジ54に出力する。ここで、歪量変換器106およびフ
ィードバック制御回路107は、上記接触圧維持回路5
3に相当する。
【0027】形状測定部200は図5に示す構成と同様
である。動作として異なるのは、受信波分離回路208
とプローブ位置補正部216である。プローブ位置補正
部216は、プローブ制御部100から歪み量が送信さ
れないため、上記指令送信器105からアンテナ112
を介して発信されたトリガ信号を受信信号R30として
出力する。一方、プローブ位置補正部216は上記受信
信号R30を受けたとき、上述したような手順でプロー
ブ位置P8(X8,Y8,Z8)を求める。なお、位置
P6の補正は、目標圧力Foに対応する歪み量に対応し
て行う。
である。動作として異なるのは、受信波分離回路208
とプローブ位置補正部216である。プローブ位置補正
部216は、プローブ制御部100から歪み量が送信さ
れないため、上記指令送信器105からアンテナ112
を介して発信されたトリガ信号を受信信号R30として
出力する。一方、プローブ位置補正部216は上記受信
信号R30を受けたとき、上述したような手順でプロー
ブ位置P8(X8,Y8,Z8)を求める。なお、位置
P6の補正は、目標圧力Foに対応する歪み量に対応し
て行う。
【0028】上記実施の形態2では、送信部10は接触
子16が被測定物30に接触する際の接触圧を一定に維
持する。また、送信部10から発信された信号情報を受
けた受信部20は、その信号情報とアンテナ220,2
22,224,226の設置位置とに基づいて接触位置
を求め、その接触位置を目標圧力Foに対応する歪み量
に基づいて補正して被測定物30の形状を求める。その
ため、高精度に被測定物30の形状を測定することがで
きる。この場合、接触圧を一定に維持しているので歪み
による誤差が防止される。したがって、送信部10は信
号情報のみを発信すればよくなり、別個に歪み量を発信
する必要がなくなる。
子16が被測定物30に接触する際の接触圧を一定に維
持する。また、送信部10から発信された信号情報を受
けた受信部20は、その信号情報とアンテナ220,2
22,224,226の設置位置とに基づいて接触位置
を求め、その接触位置を目標圧力Foに対応する歪み量
に基づいて補正して被測定物30の形状を求める。その
ため、高精度に被測定物30の形状を測定することがで
きる。この場合、接触圧を一定に維持しているので歪み
による誤差が防止される。したがって、送信部10は信
号情報のみを発信すればよくなり、別個に歪み量を発信
する必要がなくなる。
【0029】〔他の実施の形態〕上述した形状測定装置
において、その他の部分の構造,形状,大きさ,材質,
個数,配置および動作条件等については、上記実施の形
態に限定されるものでない。例えば、上記実施の形態を
応用した次の各形態を実施することもできる。 (1)上記実施の形態1,2では、信号情報としてGP
S信号を用いたが、他の信号情報を用いてもよい。他の
信号情報としては、発信するアンテナ(例えば図3の場
合ではアンテナ110とアンテナ114)を識別するた
めの情報と、その発信時刻とが少なくとも含まれていれ
ばよい。この場合であっても、GPS信号の場合と同様
に被測定物30に接触する接触位置が求められる。こう
して被測定物30の複数の部位に対して行うことによっ
て、被測定物30の立体形状を計測することができる。
において、その他の部分の構造,形状,大きさ,材質,
個数,配置および動作条件等については、上記実施の形
態に限定されるものでない。例えば、上記実施の形態を
応用した次の各形態を実施することもできる。 (1)上記実施の形態1,2では、信号情報としてGP
S信号を用いたが、他の信号情報を用いてもよい。他の
信号情報としては、発信するアンテナ(例えば図3の場
合ではアンテナ110とアンテナ114)を識別するた
めの情報と、その発信時刻とが少なくとも含まれていれ
ばよい。この場合であっても、GPS信号の場合と同様
に被測定物30に接触する接触位置が求められる。こう
して被測定物30の複数の部位に対して行うことによっ
て、被測定物30の立体形状を計測することができる。
【0030】(2)上記実施の形態1,2では、信号情
報を発信したが、他の電波信号を発信してもよい。例え
ば、図3に示す送信装置50のアンテナ110,114
から同時刻にパルス信号やインパルス信号等の電波信号
を発信し、図2に示すアンテナ220,222,22
4,226で受信した時刻に基づいて、それぞれの伝達
遅れ時間によって接触子16が被測定物30に接触する
接触位置を求める。この場合、〔数1〕におけるアンテ
ナ110の発信時刻To2と、〔数2〕におけるアンテ
ナ114の発信時刻To4とは同じ時刻になる。同様
に、アンテナ110,114から同一位相信号を同時に
発信し、アンテナ220,222,224,226で受
信した各信号間の位相差に基づいて上記接触位置を求め
る。これらの場合、図3に示すゲージ54によって計測
された圧力に対応する歪み量に基づいて、求められた接
触位置を補正してプローブ位置を求める。こうして被測
定物30の複数の部位に対して行うことによって、被測
定物30の立体形状を計測することができる。
報を発信したが、他の電波信号を発信してもよい。例え
ば、図3に示す送信装置50のアンテナ110,114
から同時刻にパルス信号やインパルス信号等の電波信号
を発信し、図2に示すアンテナ220,222,22
4,226で受信した時刻に基づいて、それぞれの伝達
遅れ時間によって接触子16が被測定物30に接触する
接触位置を求める。この場合、〔数1〕におけるアンテ
ナ110の発信時刻To2と、〔数2〕におけるアンテ
ナ114の発信時刻To4とは同じ時刻になる。同様
に、アンテナ110,114から同一位相信号を同時に
発信し、アンテナ220,222,224,226で受
信した各信号間の位相差に基づいて上記接触位置を求め
る。これらの場合、図3に示すゲージ54によって計測
された圧力に対応する歪み量に基づいて、求められた接
触位置を補正してプローブ位置を求める。こうして被測
定物30の複数の部位に対して行うことによって、被測
定物30の立体形状を計測することができる。
【0031】(3)上記実施の形態1,2では、複数の
アンテナ110,112,114等からそれぞれ電波信
号を発信させるために指令スイッチ52を設けた。この
形態に代えて、指令スイッチ52をなくして電波信号を
常時発信するとともに、受信した電波のうち測定中か否
かを判別する判別手段を受信部20(形状測定部20
0)に設けるようにしてもよい。この判別手段は、例え
ば受信された電波によって求められた接触位置が前回の
位置から所定距離内にあれば測定中と判別し、所定距離
外にあれば非測定中と判別する。そして、測定中と判別
された接触位置に基づいて被測定物30の形状を形成す
る。こうすれば、指令スイッチ52を押す手間を省くこ
とができるので、形状測定に必要な時間を短縮すること
ができる。
アンテナ110,112,114等からそれぞれ電波信
号を発信させるために指令スイッチ52を設けた。この
形態に代えて、指令スイッチ52をなくして電波信号を
常時発信するとともに、受信した電波のうち測定中か否
かを判別する判別手段を受信部20(形状測定部20
0)に設けるようにしてもよい。この判別手段は、例え
ば受信された電波によって求められた接触位置が前回の
位置から所定距離内にあれば測定中と判別し、所定距離
外にあれば非測定中と判別する。そして、測定中と判別
された接触位置に基づいて被測定物30の形状を形成す
る。こうすれば、指令スイッチ52を押す手間を省くこ
とができるので、形状測定に必要な時間を短縮すること
ができる。
【0032】
【他の発明の態様】以上、本発明の実施の形態について
説明したが、この実施の形態には特許請求の範囲に記載
した発明の態様以外の発明の態様を有するものである。
この発明の態様を以下に示すとともに、必要に応じて関
連説明を行う。 〔態様1〕 接触子を被測定物に接触させて、その被測
定物の形状を測定する形状測定装置において、その接触
子を前記被測定物に接触させる際に生ずる歪み量を検出
する歪量検出手段と、その歪量検出手段によって検出さ
れた歪み量に基づいて、前記接触子が被測定物に接触し
ている接触位置を補正する位置補正手段と、を有するこ
とを特徴とする形状測定装置。 〔態様1の関連説明〕 接触子を被測定物に接触させる
際に生ずる歪み量に基づいて、接触位置が位置補正手段
によって補正される。そのため、被測定物の形状を高精
度に測定することができる。
説明したが、この実施の形態には特許請求の範囲に記載
した発明の態様以外の発明の態様を有するものである。
この発明の態様を以下に示すとともに、必要に応じて関
連説明を行う。 〔態様1〕 接触子を被測定物に接触させて、その被測
定物の形状を測定する形状測定装置において、その接触
子を前記被測定物に接触させる際に生ずる歪み量を検出
する歪量検出手段と、その歪量検出手段によって検出さ
れた歪み量に基づいて、前記接触子が被測定物に接触し
ている接触位置を補正する位置補正手段と、を有するこ
とを特徴とする形状測定装置。 〔態様1の関連説明〕 接触子を被測定物に接触させる
際に生ずる歪み量に基づいて、接触位置が位置補正手段
によって補正される。そのため、被測定物の形状を高精
度に測定することができる。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、送信部は歪み量と信号
情報とを発信し、受信部は信号情報とアンテナの設置位
置とに基づいて接触位置を求め、その接触位置を歪み量
に基づいて補正して被測定物の形状を求める。この場
合、接触位置を歪み量に基づいて補正しているので歪み
による誤差が防止される。さらに、信号情報とアンテナ
の設置位置とに基づいて接触位置を求めているので、被
測定物の形状を高精度に測定することができる。
情報とを発信し、受信部は信号情報とアンテナの設置位
置とに基づいて接触位置を求め、その接触位置を歪み量
に基づいて補正して被測定物の形状を求める。この場
合、接触位置を歪み量に基づいて補正しているので歪み
による誤差が防止される。さらに、信号情報とアンテナ
の設置位置とに基づいて接触位置を求めているので、被
測定物の形状を高精度に測定することができる。
【図1】本発明の概略構成を示すブロック図である。
【図2】形状測定装置の全体構成を示す斜視図である。
【図3】タッチプローブの全体構成を示す模式図であ
る。
る。
【図4】プローブ制御部(送信部)の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図5】形状測定部(受信部)の構成を示すブロック図
である。
である。
【図6】本発明の概略構成を示す他のブロック図であ
る。
る。
【図7】他のタッチプローブの全体構成を示す模式図で
ある。
ある。
【図8】他のプローブ制御部(送信部)の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図9】従来の形状測定装置を概略的に示す斜視図であ
る。
る。
【図10】従来の形状測定装置を概略的に示す正面図で
ある。
ある。
10 送信手段 12 発信器 13 接触圧維持手段 14 歪量検出器 16 接触子 20 受信手段 22 受信器 24 位置算出手段 26 位置補正手段 50 送信装置 52 指令スイッチ 54 歪みゲージ 58 タッチプローブ 58a 接触部 60 測定台 70 被測定物 100 プローブ制御部 200 形状測定部 220,222,224,226 アンテナ
Claims (2)
- 【請求項1】 接触子を被測定物に接触させて、その被
測定物の形状を測定する形状測定装置において、 その接触子を前記被測定物に接触させる際に生ずる歪み
量を検出し、その歪み量と信号情報とを電波信号に変換
してアンテナから発信する送信部と、 設置位置が分かっているアンテナによって前記電波信号
を受信し、その電波信号に含まれている信号情報と前記
設置位置とに基づいて前記接触子が被測定物に接触して
いる接触位置を求め、その接触位置を前記歪み量に基づ
いて補正して前記被測定物の形状を求める受信部と、 を有することを特徴とする形状測定装置。 - 【請求項2】 接触子を被測定物に接触させて、その被
測定物の形状を測定する形状測定装置において、 その接触子を前記被測定物に接触させる際に生ずる接触
圧を一定に維持し、信号情報を電波信号に変換してアン
テナから発信する送信部と、 設置位置が分かっているアンテナによって前記電波信号
を受信し、その電波信号に含まれている信号情報と前記
設置位置とに基づいて前記接触子が被測定物に接触して
いる接触位置を求め、その接触位置を前記接触圧に基づ
いて補正して前記被測定物の形状を求める受信部と、 を有することを特徴とする形状測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25379697A JPH1194538A (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25379697A JPH1194538A (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 形状測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1194538A true JPH1194538A (ja) | 1999-04-09 |
Family
ID=17256279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25379697A Pending JPH1194538A (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 形状測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1194538A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008134112A (ja) * | 2006-11-28 | 2008-06-12 | Canon Inc | 形状測定装置 |
JP2009503538A (ja) * | 2005-08-04 | 2009-01-29 | ヘキサゴン メトロロジー エービー | 測定システムに用いる測定方法及び測定装置 |
WO2017221282A1 (ja) * | 2016-06-21 | 2017-12-28 | 川崎重工業株式会社 | パイプ形状計測システム及びパイプ形状整合システム |
-
1997
- 1997-09-18 JP JP25379697A patent/JPH1194538A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009503538A (ja) * | 2005-08-04 | 2009-01-29 | ヘキサゴン メトロロジー エービー | 測定システムに用いる測定方法及び測定装置 |
JP2008134112A (ja) * | 2006-11-28 | 2008-06-12 | Canon Inc | 形状測定装置 |
WO2017221282A1 (ja) * | 2016-06-21 | 2017-12-28 | 川崎重工業株式会社 | パイプ形状計測システム及びパイプ形状整合システム |
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