JPH1187470A - Retention transportation device of semiconductor chip - Google Patents

Retention transportation device of semiconductor chip

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JPH1187470A
JPH1187470A JP24628097A JP24628097A JPH1187470A JP H1187470 A JPH1187470 A JP H1187470A JP 24628097 A JP24628097 A JP 24628097A JP 24628097 A JP24628097 A JP 24628097A JP H1187470 A JPH1187470 A JP H1187470A
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JP
Japan
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check valve
vacuum
filter
semiconductor chip
pipe
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JP24628097A
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Japanese (ja)
Inventor
Shunji Hasegawa
俊司 長谷川
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve the retention transportation device of a semiconductor chip for preventing blocking of a pipe and suction force of a suction-retaining tool from decreasing by automatically discharging dust clogged in a pipe and a filter, while the manufacturing facility of a semiconductor is being driven with a relatively simple method. SOLUTION: A first check valve 2 is provided closer to the side of a collet 1 than of a filter 4 of a vacuum pipe 6, a vacuum branch pipe is provided between the filter 4 and the first check valve 2, a second check valve 3 is provided at a side opposite to the vacuum pipe of the branch pipe, and a direction-switching valve 5 for switching at which a vacuum pipe 8 is connected to the vacuum pipe or to an air discharge port 9 is provided a side opposite the collet 1 rasher than the filter 4. Then, the direction-switching valve 5 is connected to the vacuum port 8, the first check valve 2 is opened, the second check valve 3 is closed, a semiconductor chip 10 is sucked and retained by the collet 1, the direction-switching valve 5 is connected to the air discharge port 9, the first check valve 2 is closed, and the second check valve 3 is opened, thus eliminating dust that is clogged in the filter 4.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップの保
持搬送装置に関し、特に半導体装置の製造工程の半導体
チップをリードフレーム等に接合するダイボンディング
工程で用いられる半導体チップの保持搬送装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor chip holding and conveying apparatus, and more particularly to a semiconductor chip holding and conveying apparatus used in a die bonding step of joining a semiconductor chip to a lead frame or the like in a semiconductor device manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】ダイシング工程でウェーハから切り出さ
れ、ダイシングテープ上にセットされている1個1個の
半導体チップを、ワイヤボンディングによる布線に先だ
ってリードフレームなどのパッケージ材料に移送して固
定することをダイボンディングと呼ぶ。このダイボンデ
ィング工程で重要なのは、後の工程で耐えられる十分な
強度を持ってチップを固定すること、および適正な熱伝
導性、電気伝導性を持たせて、チップからの熱を放出
し、静電的な帯電などがないように電気的に導電性を持
たすことである。
2. Description of the Related Art Each semiconductor chip cut from a wafer in a dicing process and set on a dicing tape is transferred and fixed to a package material such as a lead frame prior to wiring by wire bonding. Is called die bonding. What is important in this die bonding process is to fix the chip with sufficient strength to withstand the subsequent processes, and to release heat from the chip by providing appropriate thermal and electrical conductivity. To have electrical conductivity so as not to be electrically charged.

【0003】ダイボンディングの方法には、共晶接合
法、はんだ接合法、樹脂接合法の3つの種類がある。図
2の図表に、この各種のダイボンディング法の特徴を示
した。
There are three types of die bonding methods: eutectic bonding, solder bonding, and resin bonding. The chart of FIG. 2 shows the features of these various die bonding methods.

【0004】共晶接合法は、AuとSiが共晶温度37
0°Cで合金を作ることを利用して接合するもので、チ
ップのシリコン面と基板のAuメッキ面を、直接または
Au−Si等のプリフォーム(箔など)を介して加熱圧
着する。この方法によると非常に強固な接合が得られる
が、その反面チップ・サイズが大きい場合に、シリコン
と熱膨脹計数の異なるパッケージを使用したときに、か
えってチップにかかる応力を大きくしてしまい、チップ
クラックを引き起こすなどの虞がある。また、材料にA
uを使用するため、ランニングコストが高くなる欠点も
ある。
In the eutectic bonding method, Au and Si have a eutectic temperature of 37.
The bonding is performed by making an alloy at 0 ° C., and the silicon surface of the chip and the Au plating surface of the substrate are heat-pressed directly or via a preform (foil or the like) of Au-Si or the like. According to this method, a very strong bond can be obtained. However, when the chip size is large, when a package having a different thermal expansion coefficient from silicon is used, the stress applied to the chip is rather increased, and the chip crack is generated. May be caused. In addition, A
The use of u also has the disadvantage of increasing running costs.

【0005】はんだ接合法はPb−Sn系のプリフォー
ム(箔など)を用い、不活性ガス雰囲気中で加熱溶融し
て接合する。この方法は、熱伝導性が良好で、接合が柔
らかいため応力を吸収しやすく、発熱量の大きいチップ
とCu系のパッケージとの接合に有効である。
In the solder joining method, a Pb-Sn preform (such as a foil) is used, and is joined by heating and melting in an inert gas atmosphere. This method has good thermal conductivity and is easy to absorb stress due to soft bonding, and is effective for bonding a chip generating a large amount of heat to a Cu-based package.

【0006】樹脂接合法は、エポキシ系やポリイミド系
の熱硬化性樹脂を用い、常温でチップと基板を接着した
後、加熱硬化させる。
In the resin bonding method, a chip and a substrate are bonded at room temperature using an epoxy-based or polyimide-based thermosetting resin, followed by heating and curing.

【0007】共晶接合法とはんだ接合法では気泡(ボイ
ド)発生の原因となる酸化の防止のために、高温の窒素
ガスなどの不活性ガスの中で接合を行う必要があり、装
置の構造や作業性に問題があり、さらに、材料やプロセ
ス的な面でもコストが高くなる問題がある。この点、樹
脂接合法は、常温で不活性ガスを用いずに作業でき、材
料的にも廉価なので、耐熱性、熱伝導性で劣り、接着剤
による汚染の虞があるものの現在の主流になっている。
In the eutectic bonding method and the solder bonding method, it is necessary to perform the bonding in an inert gas such as a high-temperature nitrogen gas in order to prevent oxidation which causes the generation of bubbles (voids). In addition, there is a problem in that the cost is high in terms of material and process. In this regard, the resin joining method can be operated at room temperature without using an inert gas and is inexpensive in material, so it is inferior in heat resistance and heat conductivity, and may be contaminated by an adhesive, but it has become the current mainstream. ing.

【0008】図3に樹脂接合法を用いたダイボンディン
グ装置の基本構成を示す。ダイボンディング装置はボン
ディングヘッド部21、チップ供給部22、リードフレ
ーム供給部23、リードフレーム搬送部24、ダイボン
ディング後のリードフレーム収納部25、ペースト(樹
脂)供給部26から構成されている。
FIG. 3 shows a basic configuration of a die bonding apparatus using a resin bonding method. The die bonding apparatus includes a bonding head section 21, a chip supply section 22, a lead frame supply section 23, a lead frame transport section 24, a lead frame storage section 25 after die bonding, and a paste (resin) supply section 26.

【0009】ここで、ボンディングヘッド部21は、ウ
ェーハカセットリング221内でダイシングテープ上に
置かれている半導体チップを、コレット223と呼ぶ吸
着保持具でピックアップし、チップゲージング222に
よる位置決め後、加圧装置211によってチップに加圧
して接合する機能を持っている。すなわち、コレット2
23は半導体チップを真空吸着して保持し、リードフレ
ーム等に移送してマウントする機能を持っている。
Here, the bonding head unit 21 picks up a semiconductor chip placed on the dicing tape in the wafer cassette ring 221 by a suction holder called a collet 223, and presses after positioning by a chip gauging 222. The device 211 has a function of bonding to the chip by pressing. That is, collet 2
Reference numeral 23 has a function of holding the semiconductor chip by vacuum suction, transferring the semiconductor chip to a lead frame or the like, and mounting it.

【0010】図4に、このようなコレット223の一例
の形状図(a)と、その先端の拡大図(b)を示した。
この例ではコレット223のチップの吸着面が凹状で、
4面にテーパを有し、中央に真空吸引口を持っている。
このような構造により、チップの表面の回路面に接触す
ることなくチップの辺に接した状態で保持することがで
きるようになっている。
FIG. 4 shows a shape diagram (a) of an example of such a collet 223 and an enlarged view (b) of its tip.
In this example, the chip suction surface of the collet 223 is concave,
It has a taper on four sides and a vacuum suction port in the center.
With such a structure, the chip can be held in contact with the side of the chip without contacting the circuit surface on the surface of the chip.

【0011】一方、リードフレームはリードフレーム供
給部23のローディングユニット231から供給され、
以上に述べたダイボンディング工程でチップを接合され
た後に、リードフレーム収納部25のマガジン251へ
収納される。
On the other hand, the lead frame is supplied from the loading unit 231 of the lead frame supply section 23,
After the chips are bonded in the above-described die bonding step, the chips are stored in the magazine 251 of the lead frame storage unit 25.

【0012】ところで半導体チップにはダイシング工程
でカットされるときに発生したシリコン屑等の粉塵が付
着していることがある。例えば、ダイヤモンドブレーブ
ダイシングでは純水を研削液として使う。この研削液の
比抵抗が高いと、研削したシリコン屑が静電気を帯びて
チップに付着しやすい。
By the way, dust such as silicon dust generated when the semiconductor chip is cut in the dicing process may adhere to the semiconductor chip. For example, in diamond brave dicing, pure water is used as a grinding fluid. If the specific resistance of the grinding fluid is high, the ground silicon dust tends to be charged with static electricity.

【0013】半導体チップをコレット223で真空吸着
するとき、半導体チップからこのようなシリコン屑等の
粉塵が発生してコレット223に接続されている真空配
管の内部に侵入することがある。このような粉塵等が真
空配管の内部に入ると、真空配管が詰まって装置に故障
が発生したり、コレット223の吸着力が低下する等の
原因になる。
When the semiconductor chip is vacuum-adsorbed by the collet 223, dust such as silicon dust may be generated from the semiconductor chip and may enter the inside of the vacuum pipe connected to the collet 223. If such dust or the like enters the inside of the vacuum pipe, the vacuum pipe may be clogged and cause a failure in the apparatus, or the suction force of the collet 223 may be reduced.

【0014】通常、これを避けるために、真空配管に粉
塵除去用のフィルタを設けるなどの方法が採られるが、
例えフィルタを設けても完全に配管の詰まりなどを予防
することができず、フィルタの目詰まりによってコレッ
トの吸着力が低下していくおそれがある。また、いった
ん目詰まりが発生すると、フィルタの交換作業と真空配
管内の粉塵除去作業が必要になってくる。このようなフ
ィルタの交換と粉塵除去の作業は簡単に行える作業では
なく、そのために長時間に亙って設備を停止する必要が
生まれ、これが生産性の低下を生む原因にもなる。
Usually, in order to avoid this, a method such as providing a filter for removing dust in the vacuum pipe is adopted.
For example, even if a filter is provided, it is not possible to completely prevent clogging of a pipe, and the adsorbing force of the collet may be reduced due to clogging of the filter. Further, once clogging occurs, it is necessary to replace the filter and remove dust from the vacuum pipe. Such an operation of replacing the filter and removing the dust is not an easy operation, and therefore, it is necessary to stop the equipment for a long time, which causes a decrease in productivity.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】上述のごとく、従来の
半導体装置製造工程中のダイボンディング工程では、真
空吸着保持具によって半導体チップを保持する際に、半
導体チップの粉塵が真空配管の内部に侵入して真空配管
が詰まり吸着保持具の吸着力を低下させるなどの問題を
起こす虞があった。これを防ぐために、真空配管にフィ
ルタを設けても、このフィルタの掃除や交換に手間がか
かり、それによって生産性が低下するといった問題があ
った。
As described above, in the conventional die bonding process in the semiconductor device manufacturing process, when the semiconductor chip is held by the vacuum suction holder, the dust of the semiconductor chip enters the inside of the vacuum pipe. As a result, there is a possibility that the vacuum pipe may be clogged and a problem such as a decrease in the suction force of the suction holder may occur. In order to prevent this, even if a filter is provided in the vacuum pipe, there is a problem that it takes time and effort to clean and replace this filter, thereby reducing productivity.

【0016】本発明は、比較的簡単な方法によって、半
導体の製造設備の駆動中に自動的に配管やフィルタに溜
まった粉塵を排出して、配管の詰まりや吸着保持具の吸
着力の低下の発生を防止することができる半導体チップ
の保持搬送装置の実現を課題とする。
According to the present invention, dust accumulated in a pipe or a filter is automatically discharged while a semiconductor manufacturing facility is being driven by a relatively simple method, thereby preventing clogging of a pipe and a decrease in suction force of a suction holder. It is an object of the present invention to realize a semiconductor chip holding / transporting device capable of preventing occurrence.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、真空源と、この真空源に接続される真空
配管手段と、この真空配管手段に接続され半導体チップ
を真空吸着して保持する吸着保持手段と、この真空配管
手段内に設けられた塵埃除去用のフィルタ手段とを具備
する半導体チップの保持搬送装置において、前記真空配
管手段の前記フィルタ手段よりも前記吸着保持手段側に
設けられる第1のチェック弁手段と、前記真空配管手段
内の前記フィルタ手段と前記第1のチェック弁手段の間
に設けられた分岐配管手段と、この分岐配管手段の前記
真空配管手段との反対側に設けられる第2のチェック弁
手段と、空気吹出源と、前記真空配管手段内の前記フィ
ルタ手段よりも前記吸着保持手段とは逆側に設けられ、
前記真空配管手段を前記真空源に接続するかまたは前記
空気吹出源に接続するかを切り換える方向切換弁手段と
を具備し、前記方向切換弁手段を真空源側に接続し、前
記第1のチェック弁手段を開き、前記第2のチェック弁
手段を閉じて前記吸着保持手段による半導体チップの吸
着保持を行い、前記方向切換弁手段を空気吹出源側に接
続し、前記第1のチェック弁手段を閉じ、前記第2のチ
ェック弁手段を開いて前記フィルタ手段に溜まった塵埃
の除去を行うことを特徴とする。
To achieve the above object, the present invention provides a vacuum source, vacuum piping connected to the vacuum source, and vacuum suction of a semiconductor chip connected to the vacuum piping. In a semiconductor chip holding / transporting device comprising a suction holding means for holding and a filter means for removing dust provided in the vacuum pipe means, the vacuum pipe means is closer to the suction holding means than the filter means. First check valve means provided, branch pipe means provided between the filter means and the first check valve means in the vacuum pipe means, and opposite of the branch pipe means to the vacuum pipe means Second check valve means provided on the side, an air blowing source, and the suction holding means are provided on the opposite side of the filter means in the vacuum pipe means,
Directional switching valve means for switching between connecting the vacuum piping means to the vacuum source or connecting to the air blowing source, connecting the directional switching valve means to the vacuum source side, the first check The valve means is opened, the second check valve means is closed, the semiconductor chip is sucked and held by the suction holding means, the direction switching valve means is connected to the air blowing source side, and the first check valve means is opened. The method is characterized in that the second check valve means is closed and the dust accumulated in the filter means is removed by opening the second check valve means.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明にかかる半導体チッ
プの保持搬送装置を添付図面を参照にして詳細に説明す
る。図1は、本発明の一実施の形態の半導体チップの保
持搬送装置の構成を示すブロック図である。図1で、1
は吸着保持手段であるコレット、2はチェック弁、3
はチェック弁、4は粉塵フィルタ、5は方向切換弁、
6は配管、7は排出口、8は真空源につながる真空口、
9は空気吹出源につながる吹出口、10は半導体チッ
プ、11はダイシングテープ、12はリードフレーム等
である。このうち方向切換弁5は切り換えによって配管
6を真空口8または吹出口9に接続する機能を有してい
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a semiconductor chip holding and conveying device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor chip holding and conveying device according to one embodiment of the present invention. In FIG. 1, 1
Is a collet as suction holding means, 2 is a check valve, 3
Is a check valve, 4 is a dust filter, 5 is a direction switching valve,
6 is a pipe, 7 is an outlet, 8 is a vacuum port connected to a vacuum source,
Reference numeral 9 denotes an air outlet connected to an air blowing source, 10 denotes a semiconductor chip, 11 denotes a dicing tape, and 12 denotes a lead frame or the like. The directional control valve 5 has a function of connecting the pipe 6 to the vacuum port 8 or the outlet 9 by switching.

【0019】この真空吸着装置は、通常の吸着のモード
では、方向切換弁5を真空口8側に切り換え、チェック
弁2を開き、粉塵フィルタ4から分岐された配管6−
1に設けられたチェック弁3を閉じておく。すると配
管6は真空配管となり、コレット1は半導体チップ10
を吸着することができるようになる。このとき吸気に含
まれる粉塵は粉塵フィルタ4に捕らえられる。この状態
で、コレット1を使って半導体チップ10をダイシング
テープ11からピックアップし、リードフレーム等12
に移送して、樹脂ペースト等で接着してダイボンディン
グ作業を行う。
In the vacuum suction device, in a normal suction mode, the direction switching valve 5 is switched to the vacuum port 8 side, the check valve 2 is opened, and the pipe 6-6 branched from the dust filter 4 is opened.
The check valve 3 provided in 1 is closed. Then, the pipe 6 becomes a vacuum pipe, and the collet 1 becomes the semiconductor chip 10.
Can be adsorbed. At this time, the dust contained in the intake air is captured by the dust filter 4. In this state, the semiconductor chip 10 is picked up from the dicing tape 11 using the collet 1 and
And die-bonding work is performed by bonding with a resin paste or the like.

【0020】ダイボンディング作業が終了すると、方向
切換弁5を吹出口9側に切り換え、チェック弁3を開
き、チェック弁2を閉じて排塵のモードにする。する
とチェック弁2から後方の配管6は排出配管となり、
先の吸着のモードで半導体チップ10に付着していた粉
塵等が粉塵フィルタ4内に蓄積されていたものが、排出
されて排出口7から外部へ出される。これにより、粉塵
等は粉塵フィルタ4に捕らえられた後に排出され、粉塵
フィルタ4から真空口側の配管6の内部に粉塵等が侵入
する虞がなくなり、コレット1は常に一定の吸着力を維
持することができる。
When the die bonding operation is completed, the direction switching valve 5 is switched to the outlet 9 side, the check valve 3 is opened, and the check valve 2 is closed to set a dust discharging mode. Then, the pipe 6 behind the check valve 2 becomes a discharge pipe,
Dust and the like that have adhered to the semiconductor chip 10 in the previous suction mode and accumulated in the dust filter 4 are discharged and discharged to the outside through the discharge port 7. As a result, dust and the like are discharged after being caught by the dust filter 4, and there is no possibility that dust or the like may enter the inside of the pipe 6 on the vacuum port side from the dust filter 4, and the collet 1 always maintains a constant suction force. be able to.

【0021】また、半導体チップ10に付着している粉
塵を予め除去する作業を不要にすることができる。さら
に、粉塵フィルタ4に溜まった粉塵は、その都度、排出
されるので、粉塵フィルタ4の交換作業も不要になる。
粉塵フィルタ4内に蓄積されていた粉塵を排出する工程
はコレット1を使って半導体チップ10をピックアップ
する工程の間で短時間に実行することができるので、こ
れによって全体にタクト時間が長くなることはない。
Further, the operation of removing dust adhering to the semiconductor chip 10 in advance can be eliminated. Further, the dust accumulated in the dust filter 4 is discharged each time, so that the dust filter 4 does not need to be replaced.
Since the step of discharging the dust accumulated in the dust filter 4 can be executed in a short time between the steps of picking up the semiconductor chip 10 using the collet 1, the takt time becomes longer as a whole. There is no.

【0022】以上の説明では、方向切換弁5の切り換え
と、チェック弁2およびチェック弁3の開閉を独立
に行うように説明したが、方向切換弁5の切り換えに連
動して、チェック弁2およびチェック弁3の開閉が
行われるようにすることも、容易に実現可能である。こ
のようにすると、特別な操作を行わなくても自動的に粉
塵の除去が行え、さらに作業性を高くし、効率的にする
ことができる。
In the above description, the switching of the directional control valve 5 and the opening and closing of the check valve 2 and the check valve 3 have been described independently. The opening and closing of the check valve 3 can be easily realized. In this case, dust can be automatically removed without performing a special operation, and workability can be further improved and efficiency can be improved.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項1の
発明は、真空源と、この真空源に接続される真空配管
と、この真空配管に接続され半導体チップを真空吸着し
て保持するコレットと、真空配管内に設けられた塵埃除
去用のフィルタとを備えた半導体チップの保持搬送装置
において、真空配管のフィルタよりもコレット側に設け
られる第1のチェック弁と、フィルタと第1のチェック
弁の間に設けられる分岐配管と、この分岐配管の真空配
管との反対側に設けられる第2のチェック弁と、空気吹
出源と、フィルタよりもコレットの逆側に設けられ真空
配管を真空源に接続するか空気吹出源に接続するかを切
り換える方向切換弁とを備え、方向切換弁を真空源側に
接続し、第1のチェック弁を開き、第2のチェック弁を
閉じてコレットによる半導体チップの吸着保持を行い、
方向切換弁を空気吹出源側に接続し、第1のチェック弁
を閉じ、第2のチェック弁を開いてフィルタに溜まった
塵埃の除去を行うことを特徴とする。このようにするこ
とによって、フィルタから真空源側の配管の内部に粉塵
等が侵入する虞がなくなり、また、半導体チップの吸着
搬送作業の合間に、フィルタの清掃が自動的に行える。
これにより、コレットが常に一定の吸着力を維持するこ
とができる。したがって、半導体チップに付着している
粉塵を予め除去する作業を不要にすることができ、ま
た、粉塵フィルタを交換する作業も不要になる。さら
に、タクト時間も長くはならない。したがって清掃や交
換のために生産性を低下する問題を解消することができ
る。
As described above, according to the first aspect of the present invention, a vacuum source, a vacuum pipe connected to the vacuum source, and a semiconductor chip connected to the vacuum pipe and held by vacuum suction. In a semiconductor chip holding / transporting device provided with a collet and a dust removing filter provided in a vacuum pipe, a first check valve provided on a collet side of a vacuum pipe filter, a filter and a first filter. A branch pipe provided between the check valves, a second check valve provided on the side of the branch pipe opposite to the vacuum pipe, an air blow source, and a vacuum pipe provided on the opposite side of the collet with respect to the filter. A directional control valve for switching between connection to a source and connection to an air blowing source, connecting the directional control valve to the vacuum source side, opening a first check valve, closing a second check valve, and forming a collet. Yo Performs suction holding of the semiconductor chip,
The directional control valve is connected to the air blowing source side, the first check valve is closed, and the second check valve is opened to remove dust accumulated in the filter. By doing so, there is no possibility that dust or the like may enter the inside of the pipe on the vacuum source side from the filter, and the filter can be automatically cleaned between the suction and transfer operations of the semiconductor chip.
Thereby, the collet can always maintain a constant suction force. Therefore, the operation of removing the dust adhering to the semiconductor chip in advance can be made unnecessary, and the operation of replacing the dust filter becomes unnecessary. Furthermore, the tact time does not increase. Therefore, it is possible to solve the problem that productivity is reduced due to cleaning or replacement.

【0024】本発明の請求項2の発明は、方向切換弁の
切り換えと、第1のチェック弁および第2のチェック弁
の開閉を連動して行うようにする。これにより、効率的
に粉塵の除去が行え、作業性をより高くできる。
According to a second aspect of the present invention, the switching of the directional control valve and the opening and closing of the first check valve and the second check valve are performed in conjunction with each other. Thereby, dust can be efficiently removed and workability can be further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態の半導体チップの保持搬
送装置の構成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor chip holding and conveying device according to an embodiment of the present invention.

【図2】各種のダイボンディング方法の特徴を示す図
表。
FIG. 2 is a table showing characteristics of various die bonding methods.

【図3】本発明が用いられる樹脂接合法を用いたダイボ
ンディング装置の基本構成を示す構成図。
FIG. 3 is a configuration diagram showing a basic configuration of a die bonding apparatus using a resin bonding method in which the present invention is used.

【図4】半導体チップの保持搬送装置に用いられるコレ
ットの形状を示す図と先端の拡大図。
FIG. 4 is a diagram showing a shape of a collet used in a semiconductor chip holding and conveying device and an enlarged view of a tip.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…コレット、2…チェック弁、3…チェック弁、
4…粉塵フィルタ、5…方向切換弁、6…配管、7…排
出口、8…真空口、9…吹出口、10…半導体チップ、
11…ダイシングテープ、12…リードフレーム、21
…ボンディングヘッド部、22…チップ供給部、23…
リードフレーム供給部、24…リードフレーム搬送部、
25…リードフレーム収納部、26…ペースト供給部、
211…加圧装置、221…ウェーハカセットリング、
222…チップゲージング、223…コレット、224
…カメラ、231…ローディングユニット、251…マ
ガジン、261…ペーストディスペンサ。
1 ... collet, 2 ... check valve, 3 ... check valve,
4 ... Dust filter, 5 ... Direction switching valve, 6 ... Piping, 7 ... Exhaust port, 8 ... Vacuum port, 9 ... Outlet, 10 ... Semiconductor chip,
11: dicing tape, 12: lead frame, 21
... bonding head part, 22 ... chip supply part, 23 ...
Lead frame supply unit, 24 ... lead frame transport unit,
25: Lead frame storage section, 26: Paste supply section,
211 ... Pressurizing device, 221 ... Wafer cassette ring,
222: tip gauging, 223: collet, 224
… Camera, 231 loading unit, 251 magazine, 261 paste dispenser.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空源と、この真空源に接続される真空
配管手段と、この真空配管手段に接続され半導体チップ
を真空吸着して保持する吸着保持手段と、この真空配管
手段内に設けられた塵埃除去用のフィルタ手段とを具備
する半導体チップの保持搬送装置において、 前記真空配管手段の前記フィルタ手段よりも前記吸着保
持手段側に設けられる第1のチェック弁手段と、 前記真空配管手段内の前記フィルタ手段と前記第1のチ
ェック弁手段の間に設けられた分岐配管手段と、 この分岐配管手段の前記真空配管手段との反対側に設け
られる第2のチェック弁手段と、 空気吹出源と、 前記真空配管手段内の前記フィルタ手段よりも前記吸着
保持手段とは逆側に設けられ、前記真空配管手段を前記
真空源に接続するかまたは前記空気吹出源に接続するか
を切り換える方向切換弁手段とを具備し、 前記方向切換弁手段を真空源側に接続し、前記第1のチ
ェック弁手段を開き、前記第2のチェック弁手段を閉じ
て前記吸着保持手段による半導体チップの吸着保持を行
い、 前記方向切換弁手段を空気吹出源側に接続し、前記第1
のチェック弁手段を閉じ、前記第2のチェック弁手段を
開いて前記フィルタ手段に溜まった塵埃の除去を行うこ
とを特徴とする半導体チップの保持搬送装置。
1. A vacuum source, vacuum piping means connected to the vacuum source, suction holding means connected to the vacuum piping means for vacuum-suctioning and holding a semiconductor chip, and provided in the vacuum piping means. A semiconductor chip holding / transporting device provided with a dust removing filter means, a first check valve means provided closer to the suction holding means than the filter means of the vacuum pipe means, A branch pipe means provided between the filter means and the first check valve means, a second check valve means provided on a side of the branch pipe means opposite to the vacuum pipe means, and an air blowing source. Provided on the opposite side of the suction and holding means from the filter means in the vacuum piping means, and connecting the vacuum piping means to the vacuum source or connecting to the air blowing source. Directional switching valve means for switching whether to perform the operation, connecting the directional switching valve means to the vacuum source side, opening the first check valve means, closing the second check valve means, and holding the suction holding means The direction switching valve means is connected to the air blowing source side, and the first
Wherein the check valve means is closed, and the second check valve means is opened to remove dust accumulated in the filter means.
【請求項2】 前記方向切換弁手段の切り換えと、前記
第1のチェック弁手段および前記第2のチェック弁手段
の開閉を連動して行う制御手段を具備することを特徴と
する請求項1に記載の半導体チップの保持搬送装置。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising control means for interlocking the switching of said direction switching valve means and the opening and closing of said first check valve means and said second check valve means. A semiconductor chip holding and conveying device according to claim 1.
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