JPH1183924A - 伝送機器の試験装置及びそれを用いた試験方法 - Google Patents
伝送機器の試験装置及びそれを用いた試験方法Info
- Publication number
- JPH1183924A JPH1183924A JP24388797A JP24388797A JPH1183924A JP H1183924 A JPH1183924 A JP H1183924A JP 24388797 A JP24388797 A JP 24388797A JP 24388797 A JP24388797 A JP 24388797A JP H1183924 A JPH1183924 A JP H1183924A
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- Japan
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- waveform distortion
- transmission
- signal
- waveform
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】伝送機器の伝送信号波形歪みに対する耐力を容
易に、且つ短時間で評価できる伝送機器の試験装置及び
それを用いた試験方法を提供する。 【解決手段】送信器１２の前段に波形歪み発生回路１１
を挿入し、伝送データ１５に任意の波形歪みを印加して
送受信することで耐力を判定する。
易に、且つ短時間で評価できる伝送機器の試験装置及び
それを用いた試験方法を提供する。 【解決手段】送信器１２の前段に波形歪み発生回路１１
を挿入し、伝送データ１５に任意の波形歪みを印加して
送受信することで耐力を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、伝送媒体を介して
伝送データの通信を行う伝送機器の試験装置及びそれを
用いた試験方法に関するものである。
伝送データの通信を行う伝送機器の試験装置及びそれを
用いた試験方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は、従来の伝送機器の試験装置と試
験方法の説明図である。
験方法の説明図である。
【０００３】試験装置は送信器１２、受信器１３、伝送
媒体１４より構成されている。
媒体１４より構成されている。
【０００４】通信する情報、すなわち伝送データ１５は
送信器１２を経て伝送媒体１４に入力される。伝送媒体
１４内では、伝送データ１５は伝送媒体１４に適した伝
送データ１５ａ、例えば光信号の形態で伝送される。伝
送媒体１４を介して伝送された伝送データ１５ａは受信
器１３に入力され、送信元の伝送データ１５に復調され
る。
送信器１２を経て伝送媒体１４に入力される。伝送媒体
１４内では、伝送データ１５は伝送媒体１４に適した伝
送データ１５ａ、例えば光信号の形態で伝送される。伝
送媒体１４を介して伝送された伝送データ１５ａは受信
器１３に入力され、送信元の伝送データ１５に復調され
る。
【０００５】受信器１３で得られる伝送データ１５は一
般に、送信器１２で送信する際の波形歪みや伝送媒体１
４を経由した際の伝送信号波形の歪みの影響を受ける。
伝送媒体として石英系の光ファイバを用いた場合、通常
の波長１．３μｍ零分散ファイバを波長１．５５μｍで
使用すると、媒体１km・光源のスペクトル半値幅１nm当
たり約１８psecの分散量がある。また受信器１３の特性
の影響も受ける。従って、受信した伝送データ１５は送
信した伝送データ１５と比較して特性、品質が劣化して
いる。もし、伝送媒体１４が極短距離であれば、伝送媒
体１４を経由することでの波形歪みは殆ど生じない。
般に、送信器１２で送信する際の波形歪みや伝送媒体１
４を経由した際の伝送信号波形の歪みの影響を受ける。
伝送媒体として石英系の光ファイバを用いた場合、通常
の波長１．３μｍ零分散ファイバを波長１．５５μｍで
使用すると、媒体１km・光源のスペクトル半値幅１nm当
たり約１８psecの分散量がある。また受信器１３の特性
の影響も受ける。従って、受信した伝送データ１５は送
信した伝送データ１５と比較して特性、品質が劣化して
いる。もし、伝送媒体１４が極短距離であれば、伝送媒
体１４を経由することでの波形歪みは殆ど生じない。
【０００６】ここでの伝送機器の試験とは、実際の伝送
媒体を介し本伝送機器にて伝送データを送受信した場合
の問題の有無を予め判定するというものである。しかし
ながら、一般に実際の伝送媒体を介しての試験は実施す
ることが難しい。
媒体を介し本伝送機器にて伝送データを送受信した場合
の問題の有無を予め判定するというものである。しかし
ながら、一般に実際の伝送媒体を介しての試験は実施す
ることが難しい。
【０００７】従来、伝送機器の試験方法においては、実
際の伝送媒体の波形歪み量を模擬して行われていた。す
なわち、伝送媒体１４に実際の伝送媒体と等価の信号波
形歪み量を持つ模擬伝送媒体を用い、送信器１２で所定
の信号を送信し、受信器１３で受信する。その時に送信
器１２、受信器１３の各ポイントでタイミング測定を行
い、信号波形の歪みを調べる。その結果から、実際の伝
送媒体で考えられる最悪の信号波形歪み分のマージンの
有無を判断し、伝送機器の波形歪みに対する耐力の有無
を決定する。
際の伝送媒体の波形歪み量を模擬して行われていた。す
なわち、伝送媒体１４に実際の伝送媒体と等価の信号波
形歪み量を持つ模擬伝送媒体を用い、送信器１２で所定
の信号を送信し、受信器１３で受信する。その時に送信
器１２、受信器１３の各ポイントでタイミング測定を行
い、信号波形の歪みを調べる。その結果から、実際の伝
送媒体で考えられる最悪の信号波形歪み分のマージンの
有無を判断し、伝送機器の波形歪みに対する耐力の有無
を決定する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】従来の試験装置及び試
験方法では次のような問題があった。
験方法では次のような問題があった。
【０００９】実際の伝送媒体を模擬する伝送媒体を用意
する必要があるため、試験が迅速に行えない。送受信部
の各ポイントでタイミング測定を行い、波形の劣化程度
をトレースしながら確認するため、試験時間が長い。
する必要があるため、試験が迅速に行えない。送受信部
の各ポイントでタイミング測定を行い、波形の劣化程度
をトレースしながら確認するため、試験時間が長い。
【００１０】従って本発明の目的は、前記した従来技術
の欠点を解消し、伝送機器の伝送信号波形歪みに対する
耐力を容易に且つ短時間で確認でき、効率的な試験、評
価を行うことができる伝送機器の試験装置及びそれを用
いた試験方法を提供することにある。
の欠点を解消し、伝送機器の伝送信号波形歪みに対する
耐力を容易に且つ短時間で確認でき、効率的な試験、評
価を行うことができる伝送機器の試験装置及びそれを用
いた試験方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記の目的を実現するた
め、本発明の試験装置は、伝送データを送信する送信器
と、該伝送データの伝送媒体と、前記伝送データを受信
する受信器より成る伝送機器の試験装置において、前記
送信器の前段に伝送データに任意の波形歪みを印加する
波形歪み発生回路を設けたものである。
め、本発明の試験装置は、伝送データを送信する送信器
と、該伝送データの伝送媒体と、前記伝送データを受信
する受信器より成る伝送機器の試験装置において、前記
送信器の前段に伝送データに任意の波形歪みを印加する
波形歪み発生回路を設けたものである。
【００１２】また、本発明の試験方法は、伝送データに
実際の伝送媒体の波形歪みを模擬的に加えて送受信を行
い、伝送機器の信号歪み耐力を評価するものである。
実際の伝送媒体の波形歪みを模擬的に加えて送受信を行
い、伝送機器の信号歪み耐力を評価するものである。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は本発明の伝送機器の試験装
置及びそれを用いた試験方法の一実施例を示す説明図で
ある。本装置は、送信器１２の前段に波形歪み発生回路
１１が挿入されている。この波形歪み発生回路１１には
伝送機器の送信信号線に本回路を挿入するための端子で
ある信号入力部１と信号出力部２が設けられている。
置及びそれを用いた試験方法の一実施例を示す説明図で
ある。本装置は、送信器１２の前段に波形歪み発生回路
１１が挿入されている。この波形歪み発生回路１１には
伝送機器の送信信号線に本回路を挿入するための端子で
ある信号入力部１と信号出力部２が設けられている。
【００１４】本発明の要点は、この波形歪み発生回路１
１により、予め送信側で実際の伝送媒体で考えられる最
悪の信号波形歪みを強制的に発生して伝送データに加
え、この歪みが加えられた伝送データを送受信し、伝送
機器の問題の有無を直接に評価することにある。
１により、予め送信側で実際の伝送媒体で考えられる最
悪の信号波形歪みを強制的に発生して伝送データに加
え、この歪みが加えられた伝送データを送受信し、伝送
機器の問題の有無を直接に評価することにある。
【００１５】図２は波形歪み発生回路１１の構成図であ
る。構成要素は信号入力部１、信号出力部２、遅延ゲー
ト４、論理ゲート５、クロック入力部７、カウンタ８、
セレクタ６である。
る。構成要素は信号入力部１、信号出力部２、遅延ゲー
ト４、論理ゲート５、クロック入力部７、カウンタ８、
セレクタ６である。
【００１６】信号入力部１から入力した入力信号波形
１′を基に、遅延ゲート４により所定の時間だけ遅延し
た遅延ゲート出力信号４１′、４２′、４３′、４
４′、４５′を得る。この様子を図３の（ａ）に示す。
上部の波形は入力信号１′と遅延ゲート出力部４１の出
力信号４１′である。
１′を基に、遅延ゲート４により所定の時間だけ遅延し
た遅延ゲート出力信号４１′、４２′、４３′、４
４′、４５′を得る。この様子を図３の（ａ）に示す。
上部の波形は入力信号１′と遅延ゲート出力部４１の出
力信号４１′である。
【００１７】遅延ゲートの各出力信号は一定間隔の遅延
により出力されるが、遅延ゲートの最大と最小の時間差
が波形歪みとなるため、遅延すべき間隔は試験に用いる
波形歪みの量に応じ適宜決定することができる。
により出力されるが、遅延ゲートの最大と最小の時間差
が波形歪みとなるため、遅延すべき間隔は試験に用いる
波形歪みの量に応じ適宜決定することができる。
【００１８】遅延ゲートの各出力信号は、論理ゲート５
に入力され、パルス幅の異なる論理ゲート出力信号５
１′、５２′、５３′、５４′、５５′を得る。この論
理ゲートの各出力信号は、セレクタ回路６の入力信号と
なり、カウンタ回路８からの信号選択信号９により出力
信号２′が決定される。
に入力され、パルス幅の異なる論理ゲート出力信号５
１′、５２′、５３′、５４′、５５′を得る。この論
理ゲートの各出力信号は、セレクタ回路６の入力信号と
なり、カウンタ回路８からの信号選択信号９により出力
信号２′が決定される。
【００１９】出力信号２′は論理ゲートの各出力信号５
１′，５２′、５３′、５４′、５５′のいずれか一つ
の信号を出力する。試験に用いる所望の波形歪みが得ら
れるように、特定の論理ゲート出力信号を信号選択信号
９により選択する。例えば、論理ゲート出力部５５と５
１の出力信号５５′と５１′を用いれば、図３（ｂ）に
示すような波形歪み（ジッタ）１０を含む出力信号２′
が得られる。
１′，５２′、５３′、５４′、５５′のいずれか一つ
の信号を出力する。試験に用いる所望の波形歪みが得ら
れるように、特定の論理ゲート出力信号を信号選択信号
９により選択する。例えば、論理ゲート出力部５５と５
１の出力信号５５′と５１′を用いれば、図３（ｂ）に
示すような波形歪み（ジッタ）１０を含む出力信号２′
が得られる。
【００２０】この出力信号２′を伝送装置の送信信号と
して扱うことにより、送信信号は波形歪み１０を含んだ
伝送データ１５ａとして送られるため、波形歪みを加え
る前の伝送データ１５と比較して許容の誤り率内であれ
ば、本伝送機器は今考慮している波形歪みに対して耐力
有りと判定される。
して扱うことにより、送信信号は波形歪み１０を含んだ
伝送データ１５ａとして送られるため、波形歪みを加え
る前の伝送データ１５と比較して許容の誤り率内であれ
ば、本伝送機器は今考慮している波形歪みに対して耐力
有りと判定される。
【００２１】以上で説明したように、本実施例では実際
の伝送媒体の波形歪みを波形歪み発生回路１１で設定で
きるため、模擬の伝送媒体は不必要となる。また波形歪
みの量も任意に設定できるため、種々の波形歪みに対す
る伝送機器の耐力評価を短時間で行うことが可能とな
る。
の伝送媒体の波形歪みを波形歪み発生回路１１で設定で
きるため、模擬の伝送媒体は不必要となる。また波形歪
みの量も任意に設定できるため、種々の波形歪みに対す
る伝送機器の耐力評価を短時間で行うことが可能とな
る。
【００２２】
【発明の効果】本発明は下記の如き優れた効果を発揮す
る。
る。
【００２３】（１）送信器側に予め実際の伝送媒体で考
えられる最悪の信号波形歪みを強制的に発生することが
できるため、容易に且つ短時間で効率的な伝送機器の試
験、評価を行うことができる。
えられる最悪の信号波形歪みを強制的に発生することが
できるため、容易に且つ短時間で効率的な伝送機器の試
験、評価を行うことができる。
【００２４】（２）従来構成に信号波形歪みを発生させ
る簡単な装置を挿入すればよく、従って従来の試験装置
からの移行が容易である。
る簡単な装置を挿入すればよく、従って従来の試験装置
からの移行が容易である。
【図１】本発明の伝送機器の試験装置及びそれを用いた
試験方法のー実施例を示す説明図である。
試験方法のー実施例を示す説明図である。
【図２】本発明に係わり、波形歪み発生回路の構成図で
ある。
ある。
【図３】本発明に係わり、（ａ）は波形歪み発生回路の
各部の出力信号、（ｂ）は波形歪み発生回路の出力信号
の説明図である。
各部の出力信号、（ｂ）は波形歪み発生回路の出力信号
の説明図である。
【図４】従来の伝送機器の試験装置の説明図である。
１ 信号入力部 ２ 信号出力部 ４ 遅延ゲート ５ 論理ゲート ６ セレクタ ７ クロック入力部 ８ カウンタ ９ 信号選択信号 １０ 波形歪み（ジッタ） １１ 波形歪み発生回路 １２ 送信器 １３ 受信器 １４ 伝送媒体 １５、１５ａ 伝送データ １′ 入力信号 ２′ 出力信号 ４１′ 遅延ゲート出力部41の出力信号 ４２′ 遅延ゲート出力部42の出力信号 ４３′ 遅延ゲート出力部43の出力信号 ４４′ 遅延ゲート出力部44の出力信号 ４５′ 遅延ゲート出力部45の出力信号 ５５′ 論理ゲート出力部55の出力信号 ５１′ 遅延ゲート出力部51の出力信号
Claims (2)
- 【請求項１】伝送データを送信する送信器と、該伝送デ
ータの伝送媒体と、前記伝送データを受信する受信器よ
り成る伝送機器の試験装置において、前記送信器の前段
に伝送データに任意の波形歪みを印加する波形歪み発生
回路を設けたことを特徴とする伝送機器の試験装置。 - 【請求項２】伝送データに実際の伝送媒体の波形歪みを
模擬的に加えて送受信を行い、伝送機器の信号歪み耐力
を評価することを特徴とする伝送機器の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24388797A JPH1183924A (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 伝送機器の試験装置及びそれを用いた試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24388797A JPH1183924A (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 伝送機器の試験装置及びそれを用いた試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1183924A true JPH1183924A (ja) | 1999-03-26 |
Family
ID=17110477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24388797A Pending JPH1183924A (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 伝送機器の試験装置及びそれを用いた試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1183924A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003073115A1 (fr) * | 2002-02-26 | 2003-09-04 | Advantest Corporation | Instrument et procede de mesure |
| WO2003093846A1 (fr) * | 2002-04-29 | 2003-11-13 | Advantest Corporation | Dispositif et procede de mesure |
| JP2006090788A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Fujitsu Ltd | 伝送マージンの検証装置、その検証方法及び検証プログラム |
| US7636387B2 (en) | 2002-02-26 | 2009-12-22 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
-
1997
- 1997-09-09 JP JP24388797A patent/JPH1183924A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003073115A1 (fr) * | 2002-02-26 | 2003-09-04 | Advantest Corporation | Instrument et procede de mesure |
| US7305025B2 (en) | 2002-02-26 | 2007-12-04 | Advantest Corporation | Measurement instrument and measurement method |
| US7636387B2 (en) | 2002-02-26 | 2009-12-22 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
| WO2003093846A1 (fr) * | 2002-04-29 | 2003-11-13 | Advantest Corporation | Dispositif et procede de mesure |
| US7054358B2 (en) | 2002-04-29 | 2006-05-30 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
| JP2006090788A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Fujitsu Ltd | 伝送マージンの検証装置、その検証方法及び検証プログラム |
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