JPH1167866A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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JPH1167866A
JPH1167866A JP23885197A JP23885197A JPH1167866A JP H1167866 A JPH1167866 A JP H1167866A JP 23885197 A JP23885197 A JP 23885197A JP 23885197 A JP23885197 A JP 23885197A JP H1167866 A JPH1167866 A JP H1167866A
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JP
Japan
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cassette
space
wafer
clean room
semiconductor manufacturing
Prior art date
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Application number
JP23885197A
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English (en)
Inventor
Noboru Matsumura
登 松村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】半導体製造設備の設置スペースの有効利用を図
り、設備投資額の低減化を図る。 【解決手段】筐体25内部に該筐体が設置されているク
リーンルーム以外のスペースに掛渡る空間28を設け、
該空間内にカセットローダ34を設け、クリーンルーム
以外のスペースと前記空間の境界面に投入ポート35を
設け、前記空間を介してクリーンルーム以外のスペース
とクリーンルーム内の前記筐体内部間でウェーハカセッ
トの搬入搬出を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はシリコンウェーハか
ら半導体素子を製造する半導体製造装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】半導体素子はシリコンウェーハ表面に気
相成長反応による膜の堆積、燐或は硼素等の不純物拡
散、エッチング等をして製造する。半導体素子の品質、
歩留りは製造過程の清浄度に大きく左右され、半導体製
造装置間のウェーハ搬送は清浄度がクラス1〜100程
度に維持されたクリーンルーム内で行われる。ウェーハ
搬送は人手による場合と自動搬送装置による場合とがあ
り、人手による場合にはウェーハが装填されたウェーハ
カセットを簡易保護ケース内に収容した状態で搬送さ
れ、又、自動搬送装置による場合には、ウェーハが装填
されたウェーハカセットをそのままの状態で搬送してい
る。
【0003】図5及び図6に於いて、従来の半導体製造
装置を具備した半導体製造設備の概略について説明す
る。
【0004】外部搬送装置1の搬送ライン2に沿って所
要数の半導体製造装置3を設置し、前記搬送ライン2の
延長線上にカセットストッカ4を設置する。
【0005】前記半導体製造装置3と前記搬送ライン2
との間にはウェーハカセット授受装置5が設けられ、前
記半導体製造装置3の筐体6の前側に位置するカセット
ローダ7と前記外部搬送装置1間のウェーハカセット8
の授受は前記ウェーハカセット授受装置5を介して行
う。
【0006】前記カセットローダ7はカセットエレベー
タ9と該カセットエレベータ9に昇降可能に設けられた
昇降ステージ10と該昇降ステージ10に設けられたカ
セットローダポート11を有し、前記昇降ステージ10
は前記カセットエレベータ9のガイドロッド12に沿っ
て昇降自在であり、前記昇降ステージ10は昇降モータ
13により昇降される。前記カセットローダポート11
はL字形状をしており、水平軸を中心に反転可能であ
り、又、前記昇降ステージ10に設けられたスライドガ
イド14に沿って前記カセットローダ7の背面に設けら
れているカセット棚15に対して近接離反可能となって
いる。
【0007】又、前記カセット棚15の後側にはウェー
ハ移載機16が昇降可能且水平回転可能に設けられ、該
ウェーハ移載機16の後側にはボート17を昇降させる
ボートエレベータ18が設けられ、該ボートエレベータ
18の上方には反応炉19が設けられている。前記した
様にウェーハ20の搬送は、前記ウェーハカセット8に
装填された状態で行われ、該ウェーハカセット8は前記
カセットストッカ4から前記外部搬送装置1によって取
出され、前記ウェーハカセット授受装置5に搬送された
後、搬出入口21を介して前記カセットローダ7の前記
カセットローダポート11に載置される。該カセットロ
ーダポート11は反転し、前記カセットエレベータ9に
より昇降し、前記カセット棚15に対して進退し、該カ
セット棚15の所要位置に前記ウェーハカセット8を装
入する。
【0008】前記ウェーハ移載機16は前記ボート17
の下降状態で前記カセット棚15の前記ウェーハカセッ
ト8から前記ウェーハ20を前記ボート17へ移載す
る。前記ボートエレベータ18はボートキャップ22を
介して前記ボート17を受載し該ボート17を前記反応
炉19内に装入する。
【0009】該反応炉19内で前記ウェーハ20に所要
の処理を行い、処理後、前記ボートエレベータ18によ
り前記ボート17を降下させ、前記反応炉19より前記
ボート17を引出す。該ボート17及び前記ウェーハ2
0を炉外で冷却し、前記ボート17の降下状態で前記ウ
ェーハ移載機16により前記ボート17から前記カセッ
ト棚15の前記ウェーハカセット8へ処理済みのウェー
ハ20の移載を行う。
【0010】処理済みのウェーハ20が装填された前記
ウェーハカセット8は前記カセットローダ7により前述
した手順と逆の手順で前記ウェーハカセット授受装置5
に払出される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記した様に、カセッ
トストッカ4から搬出入口21迄のウェーハ20の搬送
は清浄度の高いクリーンルームで行わなければならない
が、クリーンルームの建築には多大の費用が掛かる。
【0012】又、最近はシリコンウェーハの大口径化に
伴い、SEMI(Semiconductor Eq-uipment and Mater
ials International)インターナショナルスタンダード
化が進み、ウェーハの汚染物質等の付着を防止する為、
真空又は窒素を封入したSMIF(Standard Mechanica
l Interface)ボックス内にウェーハを装填したウェー
ハカセットを収納した状態で搬送することも行われる様
になり、その場合にはウェーハ搬送を清浄度の高いクリ
ーンルーム内で行う必要はないが、SMIFボックスの
設備もクリーンルームと同様に多大の費用が掛かる。
【0013】更に、DRAM(メモリ)の世代交代に伴
う工程数の増加、ウェーハの大口径化、使用装置の高度
化に対応する為、より広大なスペースのクリーンルーム
が必要となり、設備投資額も増大せざるを得ない状況に
ある。
【0014】一方、半導体製造工場では通常、クリーン
ルーム内のグレーチング床上に半導体製造装置を設置
し、床下階下のクリーンルーム以外のスペースにはクリ
ーンルーム用の電源設備、空調設備等のユーティリティ
設備を設置しており、クリーンルーム内に設置される必
要のない設備がクリーンルーム内に設置されている場合
がある。
【0015】本発明は斯かる実情に鑑み、半導体製造設
備の設置スペースの有効利用を図り、クリーンルームの
スペースを縮小することにより、設備投資額の低減化を
図ろうとするものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、筐体内部に該
筐体が設置されているクリーンルーム以外のスペースに
掛渡る空間を設け、該空間内にカセットローダを設け、
クリーンルーム以外のスペースと前記空間の境界面に投
入ポートを設けた半導体製造装置に係り、又、前記空間
を上下階に掛渡って設け、該空間内にカセットローダを
上下階間で移動可能に設けた半導体製造装置に係り、更
に、搬入搬出時にはウェーハカセットが防塵搬送用ケー
スに収納されている半導体製造装置に係り、前記空間を
介してクリーンルーム以外のスペースとクリーンルーム
内の前記筐体内部間でウェーハカセットの搬入搬出を行
う。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
【0018】先ず、図1、図2に於いて本発明に係る半
導体製造装置について説明する。
【0019】図中25は筐体であり、該筐体25の主要
部分はクリーンルーム内のグレーチング床26上に設置
され、前記筐体25内の前側部分は前記グレーチング床
26下階下のクリーンルーム以外のスペースの床27上
に設置され、上下階に掛渡って空間28が形成されてい
る。
【0020】前記筐体25内には後方上部に反応炉29
が設けられ、該反応炉29下方には図示しないボートエ
レベータが設けられ、該ボートエレベータによりボート
30が前記反応炉29に装入、引出し可能に設けられて
いる。前記ボートエレベータ(図示せず)の前方にはウ
ェーハ移載機31が昇降可能、水平回転可能に設けら
れ、該ウェーハ移載機31の前方には下カセット棚32
が設けられ、該下カセット棚32上方には上カセット棚
33が設けられている。前記下カセット棚32及び上カ
セット棚33の前方で前記空間28内の前記床27上に
はカセットローダ34が立設され、該カセットローダ3
4の前方には投入ポート35が設けられている。
【0021】該投入ポート35は、ウェーハカセット3
6を収納し真空状態又は窒素が封入されたSMIFボッ
クス37を搬入、搬出可能な様に、前記投入ポート35
の下端は前記床27からの高さが900mmで開閉可能に
設けられている。前記カセットローダ34と前記投入ポ
ート35の間には、該投入ポート35を介しSMIFボ
ックス37を受載するカセットステージ38が設けられ
ている。
【0022】次に図3に於いて、前記カセットローダ3
4について説明する。
【0023】該カセットローダ34は横行機構39と昇
降機構40により構成されている。前記横行機構39の
端部には横行モータ41が設けられ、該横行モータ41
には水平方向に棒状の横行ボールネジ42が接続され、
該横行ボールネジ42に沿って横行ガイドレール43が
設けられ、前記横行機構39の下部にはベース44が設
けられている。
【0024】前記昇降機構40の下部には横行ブロック
45が設けられ、該横行ブロック45は前記横行ボール
ネジ42と螺合し、前記横行ガイドレール43に沿っ
て、横行可能となっている。前記横行ブロック45の上
面には昇降用モータ46が設けられ、該昇降用モータ4
6には垂直方向に棒状の昇降ボールネジ47が接続さ
れ、該昇降ボールネジ47に平行に棒状のガイドシャフ
ト48が設けられ、前記昇降ボールネジ47に昇降ブロ
ック49が螺合し、該昇降ブロック49は前記ガイドシ
ャフト48に沿って昇降可能に設けられている。
【0025】前記昇降ブロック49には第1受載部50
及び第2受載部51が左右対称に固着されている。前記
第1受載部50は第1モータケース52内に設けられた
第1アーム駆動モータ53に第1ロボットアーム54が
接続され、該第1ロボットア−ム54の上面に第1カセ
ットテーブル55が接続され、構成されている。前記第
1ロボットアーム54は2節リンクで構成され、伸縮且
水平回動可能となっており、前記第1カセットテーブル
55は前記第1アーム駆動モータ53の駆動により前記
第1ロボットアーム54を介して自在に水平移動可能と
なっている。又、前記第2受載部51は前記第1受載部
50と同様に第2モータケース56、第2アーム駆動モ
ータ57、第2ロボットアーム58、第2カセットテー
ブル59により構成されている。
【0026】以下作動について説明する。
【0027】図示しない自動搬送装置は複数個、本実施
の形態では2個の前記ウェーハカセット36を収納した
SMIFボックス37を前記投入ポート35より投入
し、所要位置にセットする。投入後、図示しないSMI
Fアームにより前記各ウェーハカセット36が前記SM
IFボックス37内から前記カセットステージ38上に
取出され、空の前記SMIFボックス37は前記自動搬
送装置(図示せず)に戻される。前記SMIFボックス
37に前記ウェーハカセット36を収納して搬送するこ
とから半導体装置外部搬送経路はクリーンルームとする
必要がなくなる。
【0028】前記横行モータ41が駆動し、前記横行ボ
ールネジ42が回転することにより、前記昇降機構40
は前記横行ガイドレール43に沿って水平移動し、前記
カセットステージ38の前面で停止し、又、前記昇降用
モータ46の駆動により前記第1受載部50、第2受載
部51は前記昇降ブロック49を介して前記ガイドシャ
フト48に沿って昇降し、前記カセットステージ38の
前面で停止する。前記第1アーム駆動モータ53、第2
アーム駆動モータ57の駆動により前記第1ロボットア
ーム54、前記第2ロボットアーム58を水平方向に反
転させ、前記第1カセットテーブル55及び前記第2カ
セットテーブル59上にそれぞれ前記ウェーハカセット
36を載置し、前記昇降ブロック49を前記昇降用モー
タ46の駆動により前記ガイドシャフト48に沿って上
昇させ、更に前記横行モータ41の駆動により前記横行
ガイドレール43に沿って横行させることにより、前記
下カセット棚32又は上カセット棚33の所要位置に前
記各ウェーハカセット36を装入する。
【0029】前記ウェーハ移載機31は前記ボート30
の下降状態で前記下カセット棚32又は上カセット棚3
3の前記ウェーハカセット36からウェーハを前記ボー
ト30へ移載する。図示しないボートエレベータにより
前記ボート30を前記反応炉29内に装入し、該反応炉
29内で所定の処理後、前記ボートエレベータ(図示せ
ず)により前記ボート30を降下させ、前記反応炉29
より引出す。前記ボーート30の下降状態で前記ウェー
ハ移載機31により前記ボート30から前記下カセット
棚32、上カセット棚33の前記ウェーハカセット36
へウェーハの移載を行う。
【0030】処理済みのウェーハが装填された前記ウェ
ーハカセット36は前記カセットローダ34により前述
した手順と逆の手順で前記自動搬送装置(図示せず)に
払出す。
【0031】尚、上記実施の形態に於いては、複数枚の
ウェーハを一度に処理するバッチ式の半導体製造装置に
ついて説明したが、図4に示す様に枚葉式の半導体製造
装置について実施してもよい。図4中、60はクリーン
ルーム以外のスペースの床27上の搬送ライン61に沿
って移動する自走搬送車であり、該自走搬送車60は、
ウェーハの装填されたウェーハカセット36をカセット
ストッカ62と投入ポート35間で搬送する。前記床2
7の階上のクリーンルーム内のグレーチング床26上に
は複数、図4では2箇所のウェーハ搬送室63が設けら
れ、該ウェーハ搬送室63の後方にはそれぞれ2箇所ず
つの反応室64が接続されている。前記ウェーハ搬送室
63の前方には上下階に掛渡ってカセットローダ34が
設置される室65が設けられ、該カセットローダ34に
より前記投入ポート35と前記ウェーハ搬送室63との
間の前記ウェーハカセット36の搬送が可能な様になっ
ている。
【0032】又、上記実施の形態に於いては、自動搬送
装置によってSMIFボックス内にウェーハカセットを
収納して搬送しているが、人手によってでもよく、又、
防塵の為の搬送用ケースはSMIFボックスに限らず、
簡易保護ケースであってもよい。更に、投入ポートはク
リーンルームの階下に設けられているが、クリーンルー
ム以外のスペースであれば階上又は同じ階であってもよ
い。更に又、カセットローダには2個の受載部が設けら
れているが、1個又は3個以上であってもよい。
【0033】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、ウェー
ハカセットの搬送、保管用のスペースをクリーンルーム
内に設ける必要がない為、建築費が高く、且ランニング
コスト等の保守管理費の掛かるクリーンルームスペース
の縮小が可能となり、設備投資額の低減化や省エネルギ
化が図れる。又、ウェーハカセットの保管をクリーンル
ーム以外のスペースで行える為、ウェーハカセットの保
管に於けるスペース上の制約がなくなり、保管スペース
を2階建てで使用することも可能となり、ウェーハカセ
ットの収容能力が増加し、スペースの有効利用が可能と
なる等、種々の優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す立面図である。
【図2】該実施の形態を示す平面図である。
【図3】該実施の形態に於けるカセットローダの斜視図
である。
【図4】本発明を枚葉式半導体製造装置に実施した場合
の概略説明図である。
【図5】従来の半導体製造装置、外部搬送装置を具備し
た半導体製造設備の概略斜視図である。
【図6】従来の半導体製造装置を示す斜視図である。
【符号の説明】
34 カセットローダ 35 投入ポート 37 SMIFボックス 39 横行機構 40 昇降機構 55 第1カセットテーブル 59 第2カセットテーブル

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 筐体内部に該筐体が設置されているクリ
    ーンルーム以外のスペースに掛渡る空間を設け、該空間
    内にカセットローダを設け、クリーンルーム以外のスペ
    ースと前記空間の境界面に投入ポートを設けたことを特
    徴とする半導体製造装置。
  2. 【請求項2】 前記空間を上下階に掛渡って設け、該空
    間内にカセットローダを上下階間で移動可能に設けた請
    求項1の半導体製造装置。
  3. 【請求項3】 搬入搬出時にはウェーハカセットが防塵
    搬送用ケースに収納されている請求項1又は請求項2の
    半導体製造装置。
JP23885197A 1997-08-20 1997-08-20 半導体製造装置 Pending JPH1167866A (ja)

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