JPH11508394A - 赤外線放射を低減した白熱光エネルギーの変換 - Google Patents

赤外線放射を低減した白熱光エネルギーの変換

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JPH11508394A
JPH11508394A JP9502071A JP50207197A JPH11508394A JP H11508394 A JPH11508394 A JP H11508394A JP 9502071 A JP9502071 A JP 9502071A JP 50207197 A JP50207197 A JP 50207197A JP H11508394 A JPH11508394 A JP H11508394A
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ウッダール,ジェリー・マクファーソン
コーネゲイ,ケヴィン・タイロン
スペンサー,マイケル・グレッグ
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Abstract

(57)【要約】 白熱光の放射において熱または電気と白熱光との間のエネルギー変換が、低減されたIR含量を有する放射を伴って、高いバンドギャップの半導体(1)を用いて達成され、この半導体は、半導体のバンドギャップ未満の光子エネルギーを通過させるかまたは反射させそして半導体のバンドギャップ以上の光子エネルギーだけを放射させるように、自由キャリヤの吸収が抑制されるように構造とエネルギー変換物理特性が適合されている。わずかに”N”型にドーピングされた3C-SiCからなるフィラメント(2)は、約900℃において、約2eV以上のエネルギーに対して可視範囲で白熱して輻射を生じ、約2eV未満のエネルギーに対して光子の不十分な放射を呈する。

Description

【発明の詳細な説明】 赤外線放射を低減した白熱光エネルギーの変換 発明の分野 本発明は、光、熱、および電気の中のエネルギー変換の分野に関し、特に、熱 または電気から低い赤外線(IR)を有する白熱光への交換可能な変換に関する 。発明の背景および先行技術との関連 エネルギーは、照明、表示、および伝達等の様々な用途において、一つの形態 から別の形態へ、例えば熱または電気から光のような輻射エネルギーへ変換され る。当分野において従来、エレクトロルミネセンス光(これは最小の熱を伴う) は高密度の表示や伝達の用途のための光源であった。一方、白熱光は最大のパワ ーを含む。さらに当分野において従来、白熱光エネルギーの電気および熱との交 換を含む用途において、スペクトルの赤外線(IR)部分におけるエネルギーの 存在は熱の発生をもたらし、それはまた、光変換効率を低下させるように作用し 、適応させるには追加の構造を必要としている。 物質において熱または電気が白熱光に変換される用途においては非常に高い温 度を必要とし、それはまた、スペクトルの赤外線部分における実質的な量のエネ ルギーの放出をもたらす。 多くの白熱光の適用において、白熱放射は直接的な抵抗熱の産物である。”グ ローバー(Glow Bars)”の技術において知られているドーピングされたバル ク形態の炭化ケイ素(SiC)材料は加熱要素として用いられる。”グローバー ”は約900℃において赤−橙色で白熱する。白色光を伴う適用の中で、米国特 許第223,898号におけるエジソンの電球は白熱する高抵抗でコイル状の炭 素フィラメント(繊条)を備えているが、しかしエジソンは環境上と物理上の衝 撃保護のために排気したガラス電球からなる追加の構造を用いなければならなか った。後に白熱フィラメントタイプの電球は進歩して、エジソンの炭素フィラメ ントはコイル状で高抵抗のタングステンに置き換えられた。タングステンは白熱 し、衝撃抵抗に関して物理的により強いが、しかしガラス電球の環境保護を依然 とし て必要としている。Hochbergらの製品(Electron Devices Vol.ED-20 No .11 Nov.1973,p1002-1005)において、排気した環境中で1200℃で機能す るタングステンフィラメント型のものを用いる高密度のディスプレイ(表示)が 記載されている。 当分野の従来の白熱光の適用において、白熱要素は通常の黒体の発光分光分布 を伴う分光分布を有していて、一方でそれはいかなる物質に対しても最も高い放 射率を有するが、放射される出力の大部分はスペクトルの赤外線部分にあり、従 ってかなりの浪費を伴っていた。 白熱光エネルギー変換の分野において、白熱光放射の中の赤外線(IR)の量 とそれに伴う熱が低減されるように変換を行うことを可能にする必要がある。発明の概要 熱または電気と白熱光の間のエネルギー変換は、例えば低減されたIR量を生 み出すしきい値未満の光子エネルギーが除去された放射に伴って、半導体のバン ドギャップ未満の光子エネルギーを通過させるかまたは反射させそして半導体の バンドギャップ以上のエネルギーをもつ光子のみを放出させるために、自由キャ リヤの吸収を抑えるように構造とエネルギー変換物理を適合させた高いバンドギ ャップの半導体素子を用いて、達成される。わずかに”N”型にドーピングした 3C-SiCのうちの一つのようなフィラメントは、約900℃において、約2e V以上のエネルギーに対して可視範囲において白熱と放射を示し、約2eV未満 のエネルギーに対しては光子の不十分な放出を示す。良好な可視エミッターは光 を熱に変換する良好な可視コレクターでもある。図面の簡単な説明 図1は、本発明の白熱光放射要素の透視図である。 図2は、本発明の低IR白熱光放射要素の放射スペクトルのグラフである。 図3は、本発明の放射率スペクトルを標準の黒体のそれと比較した理想的な関係 を示すグラフである。 図4は、先行技術の従来の半導体の光応答性を示すバンドエネルギーの図であり 、自由キャリヤの吸収の影響を示している。 図5は、本発明の光応答性を示すバンドエネルギーの図である。 図6は、3C-SiC材料を用いる本発明の好ましい実施態様の平面図である。 図7は、図6の実施態様の側面図である。発明の説明 本発明において、高いバンドギャップ(>2eV)の半導体部材は、半導体の バンドギャップ未満の光子エネルギーを通過させるかまたは反射させそして半導 体のバンドギャップ以上の光子エネルギーのみを効率良く放出させるために、自 由キャリヤの吸収を抑えるように相関的に適合させた構造とエネルギー変換物理 を有する。本発明の放射スペクトルは、著しく低減されたIR量を伴う可視範囲 の白熱光を示す。 本発明において、白熱光放射要素は自立した(それ自体で独立した)フィラメ ント構造形態のものであり、フィラメントを適度に高い温度である600℃以上 、好ましくは900℃以上の温度にする手段を有する。 この放射要素は高いバンドギャップ(>2eV)の耐熱性半導体材料からなる 物体であり、約1017原子/ccまでわずかにドーピングされていて不純物を少 なくとも放射表面に隣接する領域に限定するエキストリンシック導電性を有し、 またその物体は前記バンドギャップ未満の光子エネルギーの自由キャリヤの吸収 を抑えるように改造されたエネルギー変換特性を有する。この要素は、レーザ光 のような強い光を、放射されない熱に変換することができる。 約2.3eVのバンドギャップを有する立方晶炭化ケイ素(3C-SiC)材料 および約3eVのバンドギャップを有する六方晶炭化ケイ素(α-SiC)材料の 両者は窒素を約1017原子/ccまでドーピングされ、約6.1eVのバンドギ ャップを有する窒化アルミニウム(AlN)材料はケイ素で”n”型の導電性に ドーピングされるかまたは適当な受容体ドーピングエージェントで”p”型の導 電性に約1017原子/ccまでドーピングされ、これらは単結晶または多結晶の 形態、例えば高いバンドギャップの耐熱性半導体材料からなり、また薄いフィル ム構造の形態の場合は、900℃以上、1300℃以上、および1800℃以上 の温度において、それぞれ低い光子エネルギーを有する白熱光放射材料として用 いることができる。 本発明の低いIRを有する光放射材料の構造態様を図1に示す。図1において 、 本体1は2電子ボルト(eV)以上の高いバンドギャップを有する耐熱性半導体 材料からなる。耐酸化性であって1000℃以上の温度に対して耐性があるとき に、その材料は耐熱性であると考えられる。本体1は、光放射表面3に隣接する 領域2において境界面4として破線で示す深さまで、約1017原子/ccまでわ ずかにドーピングされている。さらに本体1は、本質的に自立した白熱光放射フ ィラメント形態のものである。この形態においてフィラメントは、例えば本体1 の少なくとも領域2において領域5から領域6まで電流を通すことによって加熱 される。フィラメントを900℃以上の温度まで直接加熱に供してもよい。この 自立した構造形態において、支持体を通しての伝導による熱の損失は最少化され る。 900℃以上の温度において、本体1は低いIRを有する白熱光を表面3を通 して放射するか、またはバンドギャップ以上の光子エネルギーを表面3に衝突さ せて加熱することによって光を変換する。領域2のドーピング濃度は主として電 流(I)がこの領域を流れるときに領域2についての加熱力(I2R)に対する 抵抗(R)を与える。表面3と境界面4の間の厚さ寸法は、領域2に形成される 自由キャリヤ(電子と空孔)の総数の抑制(suppression)に関係する。自由キ ャリヤの抑制は、境界面4を越える領域7の選択的ドーピングを行い、それによ って、領域7のフェルミレベルを望まれない自由キャリヤの形成を防ぐように作 用するエネルギーレベルまで移動させることによってコントロールすることもで きる。 図2において、例としての材料である3C-SiCについての本発明の低いIR を有する白熱光放射要素の放射スペクトルを示す。図2において、放射の強度は 本発明に従って放射された低いIRを有する光を示すバンドギャップエネルギー 値よりも下に低下している。 図3において、本発明の放射率と標準的な黒体の放射率との理想的な関係が示 されていて、ある温度において、黒体の放射率はIR領域におけるスペクトルの 実質的な部分を有する。図3において、曲線は本発明の放射率のIR部分が小さ いことを示す。当分野において、白熱光源の光度は、放射エネルギースペクトル 中に含まれる熱に対する可視スペクトル中の全放射の比率として定義されるので 、本発明は明らかに高い光度と優れた光源を提供する。 本発明の原理はさらに、バンドエネルギーの図を比較することに関連して説明 される。図4において、先行技術の従来の半導体の応答性が示されていて、これ は、自由キャリヤの吸収を生じさせるのに十分な電荷キャリヤおよび全ての光子 エネルギーに対して1に近似した放射率(E)を伴う半導体の黒体の性質を例証 している。図5において、本発明の光応答性が示されていて、これは、光エネル ギー(hν)がバンドギャップよりも大きい場合(hν>Eg)に放射率(E) が1に近似し、また光エネルギー(hν)がバンドギャップよりも小さい場合( hν<Eg)に放射率(E)が0に近似するような選択的吸収と放射特性を例証 している。 図4において、”E-価電子”と表示した価電子帯エネルギーレベルは、これ に隣接する空孔型のキャリヤに対する記号”○”を有し、”E-伝導”と表示し た伝導帯エネルギーレベルは、これに隣接する電子型のキャリヤに対する記号” ●”を有する。この材料のバンドギャップ(Eg)は価電子帯と伝導帯の間のエ ネルギー分離である。光エネルギー(hν)がバンドギャップエネルギーよりも 小さい場合(hν<Eg)、光エネルギーは自由キャリヤ吸収として知られるプ ロセスで強く吸収され、再結合するときに材料の本体にエネルギーを移動させる 光によって自由電子と自由空孔が励起される場合、IR放射が生じる。光エネル ギー(hν)がバンドギャップエネルギーよりも大きい場合(hν>Eg)、大 きな(バンドギャップより大きな)吸収によって空孔-電子対の励起が生じる。 これによって、十分に高い温度においては、バンドギャップよりも大きな光エネ ルギーを用いて光の放射が生じ得る。 図5において、本発明の材料は2電子ボルトよりも大きな(>2eV)高いバ ンドギャップ分離を有する。この材料は電子と空孔の数がより少なく、従ってバ ンドギャップよりも小さな光エネルギー(hν<Eg)に対して著しい電子また は空孔の励起はないので、自由キャリヤの吸収が抑制され、従ってIR放射は抑 制される。バンドギャップよりも大きな光エネルギー(hν>Eg)に対して、 光エネルギーは空孔-電子対の発生によって強く吸収される。これによって、十 分に高い温度においては、バンドギャップよりも大きな光エネルギーを用いて光 の放射が生じ得る。 材料の光応答性は下記に従う。吸収率(A)は吸収される入射輻射線の率を決 定する特性である。反射率(R)は反射される入射輻射線の率を決定する特性で ある。透過率(T)は材料を通過する入射輻射線の率を決定する特性である。各 々の特性は0から1まで変化し得るが、しかしA、R、およびTの総計は1であ る。放射率(E)は(A)に等しく、またこれは1−(R+T)に等しく、さら にこれは、単位面積当たりの輻射エネルギーの放射率を、黒体材料(この場合( A)が1である)の放射率で割った値に等しい。与えられた温度について、黒体 はいかなる材料に対しても最も高い放射率を有する。 半導体材料を含めてEg>0のバンドギャップエネルギーを有する材料は、輻 射エネルギー、誘導、伝導、または電流によって最大温度まで加熱される。最大 温度とは、イントリンシック(内因性の)キャリアとエキストリンシック(外因 性の)キャリアのいずれかの濃度が、バンドギャップエネルギーよりも小さなエ ネルギーを有する光子の顕著な量の自由キャリアの吸収を起こすには不十分な温 度である。バンドギャップエネルギー以上の光子に対して、この材料はあるAを 有し、従ってEは1−Rに近似する。この条件について、Rを0に近づけること ができ、このときEは1に近づくだろう。バンドギャップエネルギーEよりも小 さなエネルギーを有する光子について、Eは0に近似するだろう。 本発明に従えば、十分な温度に加熱されるとき、バンドギャップよりも大きい 光子エネルギー(hν>Eg)に対してEが1に近似してそしてバンドギャップ よりも小さい光子エネルギー(hν<Eg)に対してEが0に近似するような材 料は、バンドギャップエネルギー以上のエネルギーを有する光子を効果的に放射 し、そのようなエネルギーに対して黒体のように挙動するだろう。さらに、本発 明の材料は、バンドギャップエネルギー未満のエネルギーを有する光子を効果的 には放射せず、そのようなエネルギーに対して良好な反射材料または良好な透過 材料のように挙動するだろう。従って、図3に示すように、本発明の材料は、バ ンドギャップエネルギー以上のエネルギーに対しては黒体に類似する放射輻射線 のスペクトル分布を有し、バンドギャップ未満のエネルギーに対しては大きく減 衰した黒体のスペクトル分布を有するだろう。 さらにまた、本発明によれば、材料が高いバンドギャップ(2eV)の半導体 であって、自由キャリアの吸収が抑制されるように適合されていてそして900 ℃まで加熱されるとき、新しいタイプの白熱光が生じる。白熱フィラメントの標 準電球について報告された白熱光は、図3に示される先行技術の黒体のものに類 似するスペクトル分布を有していて、この場合、放出される出力の大部分はスペ クトルの赤外線部分にあり、それは高い可視光放射の適用に対して浪費される。 本発明の白熱光は大きく抑制された赤外線放射を与え、従ってそれは、スペクト ルの熱赤外線の輻射率に関しての可視光の中の輻射線の割合である大きく増大し た光度を有するだろう。 図1に示す本発明の白熱要素は自立したフィラメント形状のものであり、これ はフィラメントに電流を通すことによって加熱するかあるいは外部熱源から加熱 するように用意されたものである。支持体を通しての伝導による熱の損失は自立 構造によって最少化される。本発明を遂行するための最良の態様 白熱要素の好ましい実施態様は、ベータ型または立方晶型の半導体材料の炭化 ケイ素(3C-SiC)の構造のものであり、これはスペクトルのIR部分での輻 射の変更に対して感受性の高い高温において強く安定な有利な特性を有し、また 安価で容易に除去される支持体の上に成長させることができる。この要素は、あ らゆる照明および伝達の用途に使用するために多数の形状と形態に製造すること ができる。 3C-SiCは室温で2.3eVの間接バンドギャップ(Eg)を有し、従って バンド間の輻射の吸収は2.3eV以上の光子エネルギーに対して開始する。温 度が上昇するとEgは減少するので、それによって、バンド間の吸収が開始する 光子エネルギーをより小さなエネルギーに変化させる。 吸収の弱い材料について、白熱輻射の放射スペクトルは次の式1の関係に従う 。 (式1) K(hν)XQ(hν,T) ここで、Q は黒体からの正常輻射 K はその波長におけるSiCの光学吸収係数 X は材料の厚さ 2.3eV未満の輻射エネルギーの吸収を抑制することによって、本発明によ れば、赤外線を著しく少なくした白熱輻射線が生成される。この実施態様におい て、2.3eV未満の吸収の抑制は図1の層7の中にホウ素を1015原子/cc までドーピングすることによって達成されるが、このドーピングによってフェル ミレベルが荷電子帯の上約0.4eVに固定されて高抵抗の材料が生成され、そ れによって自由キャリヤの吸収が最小化される。図1において、窒素をドーピン グした伝導性の層2は同じ理由によって薄く保たれる。本質的に自由キャリヤの 存在しない比較的厚い構造の層7と薄い高伝導性の層2の組み合わせによって、 理想的な白熱構造を実現することができる。最も単純な自立したフィラメント要 素およびその製造方法は、図1に用いているのと同様の符号を用いて、図6およ び図7と関連づけて説明され示されている。ここで図6は平面図であり、図7は 図6のライン7--7に沿う側面図である。 図1、6、および7を参照すれば、3C-SiCのホウ素をドーピングしたエピ タキシャル層7がSi 基板10の上に約10ミクロンの厚さまで成長され、次い で、境界面4の上に、窒素をドーピングしたSiCの500〜1000オングス トロームの厚さの層2が形成され、また図1のフィラメント1に相当する部分1 が、その下の基板10の部分を除去することによって形成される。 ケイ素上への炭化ケイ素の成長は、文献に報告されている通常の方法を用いて 行われ、本質的には、清浄にしたケイ素のウェファーを化学蒸着炉の中に装填す ることによって達成される。1000℃以上の熱処理によってウェファーから全 ての酸化物が除去される。ケイ素ウェファーはプロパンのガス流れの中で約14 00℃の温度にされ、それによってケイ素ウェファーの表面上に炭化ケイ素の薄 膜すなわち緩衝層が形成される。次いで温度は約1350℃まで下げられ、炭化 ケイ素の緩衝層の上に炭化ケイ素のエピタキシャル成長が行われ、これが所望の 層厚になるまで続けられる。この成長は水素、プロパン、およびシランの3つの ガスを用いて行われる。水素対シランの比は約1000:1であり、シラン対プ ロパンの比は約3:1である。層7において、ホウ素のドーピングはガス流れの 中に三フッ化ホウ素を添加することによって達成される。層2において、窒素の ドーピングはアンモニアを用いることによって達成される。1時間当たり3ミク ロンまでの成長速度を得ることができる。 通常のリトグラフィー技術を用いて、所望のフィラメントと電気接点領域の形 状のフォトレジストのエッチングマスクがエピタキシャル層の上に置かれ、図1 の面5および6に相当する端部5および6を有するフィラメント1の形状が、例 えば六フッ化硫黄を用いるプラズマエッチングによって層2および7からエッチ ング除去される。種々のレベルの蒸着マスキングを用いて、絶縁領域11および 12のための領域が、次いで電気接点13および14のための領域が画定される 。二酸化ケイ素(SiO2)の絶縁層15および16が基板10の上に蒸着され、 次いでニッケル(Ni)のオーミック接点13および14のマスキングと蒸着が 行われる。絶縁領域15および16は、伝導による熱移動ができるだけ最少化さ れるように、フィラメント1の加熱されるべき領域から熱的に隔離されるべきで ある。オーミック接点13および14は不活性雰囲気中で約1000℃で焼鈍さ れる。接点13および14を焼鈍した後、フィラメント1を自立させるために、 ケイ素基板10が領域17でエッチング除去されるようにエッチングのマスキン グ層が形成される。エッチングはフッ化水素酸(HF)の希釈溶液中で行われる 。高温で不動態化させるために、フィラメントは約100オングストロームの窒 化アルミニウム(AlN)で被覆されるが、この被覆は通常SiCと格子的に適合 し、またこれは高温においてフィラメント1を空気中で本質的に耐酸化性にする 。 得られたデバイスを支持体上に装着し、必要ならばカバーを付け、そして、通 常の電源(図示せず)から十分な電流を供給し、またフィラメント1の層2を面 5および6の間で900℃以上まで抵抗型負荷にするために、通常のワイヤ(図 示せず)が電気接点13および14に取り付けられる。 以上で説明したことは、電流または熱の白熱光への交換可能な変換の構造上の 原理である。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】1997年1月2日 【補正内容】 請求の範囲 1. 以下の要素の組み合わせからなる、熱と電気と白熱光のうちの少なくとも 1つの間でエネルギーを変換するための装置: 少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面と、熱および電気のうちの少なくと も1つを移動させるための少なくとも第1の領域とを備えた半導体本体を有する 半導体エネルギー変換装置本体部材、 前記半導体エネルギー変換装置本体部材は約2eV以上のバンドギャップを有 し、 前記半導体エネルギー変換装置本体は、前記第1の領域に隣接していてこれと 実質的に平行な少なくとも第2の層を有し、前記層において前記半導体の自由キ ャリヤ吸収特性が抑制され、前記第2の層は前記第1の領域と境界面によって分 離されていて、そして、 熱および電気のうちの少なくとも1つを少なくとも前記第1の領域へ移動させ る手段。 2. 請求の範囲第1項に記載の装置であって、少なくとも前記第1の領域は、 電流によって発生する加熱のためにドーピングされている。 3. 請求の範囲第1項に記載の装置であって、前記半導体本体は、立方晶炭化 ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(SiC)、および窒化アルミニウム (AlN)からなる群から選択された材料からなる。 4. 請求の範囲第2項に記載の装置であって、前記半導体本体は、立方晶炭化 ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(αSiC)、および窒化アルミニウ ム(AlN)からなる群から選択された材料からなる。 5. 請求の範囲第4項に記載の装置であって、前記熱および電気のうちの少な くとも1つを移動させる手段は前記層を通る電流の通過である。 6. 請求の範囲第5項に記載の装置であって、前記半導体エネルギー変換装置 本体は前記輻射エネルギー移動表面に隣接する第1の薄い層を有し、前記薄い層 は厚い構造的支持体層によって支持されている。 7. 請求の範囲第6項に記載の装置であって、前記半導体エネルギー変換装置 本体部材は窒化アルミニウム(AlN)の層で被覆されている。 8. 以下の要素の組み合わせからなる白熱光放射装置: 少なくとも1つの輻射エネルギー放射表面を含むエネルギー変換本体部材であ って、前記本体部材はさらに前記少なくとも1つの輻射エネルギー放射表面を含 む少なくとも第1の領域を含み、また前記第1の領域とは異なる特性を有する少 なくとも第2の領域を有し、前記第2の領域は前記第1の領域に隣接していて、 前記本体部材の少なくとも前記第2の領域は前記輻射エネルギー放射表面を介 して放射される赤外線スペクトル範囲にある光エネルギーを抑制するように適合 されていて、そして、 前記輻射エネルギー放射表面を介しての放射を生成するように作用可能な熱と 電気のうちの少なくとも1つを前記本体に適用する手段。 9. 請求の範囲第4項に記載の白熱光放射装置であって、前記エネルギー変換 本体部材は半導体であって、前記適合は前記移動表面を介しての白熱光放射の抑 制である。 10.請求の範囲第9項に記載の白熱光放射装置であって、前記半導体本体は、 立方晶炭化ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(αSiC)、および窒化 アルミニウム(AlN)からなる群から選択された材料からなる。 11.請求の範囲第10項に記載の装置であって、前記輻射エネルギー移動表面 に隣接する前記層は、電流によって発生する加熱のためにドーピングされている 。 12.請求の範囲第11項に記載の装置であって、前記熱と電気のうちの少なく とも1つを適用する手段は、前記層を通る電流の通過である。 13.請求の範囲第12項に記載の装置であって、前記半導体エネルギー変換装 置本体は前記輻射エネルギー移動表面に隣接する第1の薄い層を有し、前記薄い 層は厚い構造的支持体層によって支持されている。 14.以下の要素の組み合わせからなる白熱光放射装置: 約2以上のバンドギャップを有する半導体からなる群から選択された材料から なる半導体本体、 前記本体は少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面を有していて、 前記本体は前記エネルギー移動表面に隣接する第1の薄いわずかにドーピング された層を少なくとも有し、前記層は自由キャリヤ吸収特性が抑制されるように 適合されていて、 前記本体はさらに前記第1の層に隣接する少なくとも第2のドーピングされた 層を含み、前記第2の層は前記エネルギー移動表面から離れていて、前記第1の 層は前記第2の層よりも多量にドーピングされていて、前記第2の層はさらに自 由キャリヤ吸収特性が抑制されるように適合されていて、そして、 前記移動表面を介して白熱放射を発生させるのに十分なだけ少なくとも前記第 1の層を加熱する手段。 15.請求の範囲第14項に記載の装置であって、前記層を加熱する前記手段は 前記層を通しての電流の通過を含む。 16.請求の範囲第15項に記載の装置であって、前記半導体本体は、立方晶炭 化ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(αSiC)、および窒化アルミニ ウム(AlN)からなる群から選択された材料からなる。 17.請求の範囲第16項に記載の白熱光放射装置であって、前記半導体本体は 窒化アルミニウム(AlN)の層で被覆されている。 18.以下の要素の組み合わせからなる白熱光放射装置: 2以上のバンドギャップを有する半導体からなる群から選択された材料からな る半導体本体、 前記本体は少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面を有していて、 前記本体は前記エネルギー移動表面に隣接する薄いわずかにドーピングされた 層を少なくとも有し、前記層は自由キャリヤ吸収特性が抑制されるように適合さ れていて、 前記移動表面を介して白熱放射を発生させるのに十分なだけ前記層を加熱する 手段であって、 前記層を加熱する前記手段は前記層を通しての電流の通過を含み、 前記半導体本体は、立方晶炭化ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(α SiC)、および窒化アルミニウム(AlN)からなる群から選択された材料から なり、そして、前記本体は立方晶炭化ケイ素からなり、前記層は約1017原子/ ccまでドーピングされていてそして約500〜1000オングストロームの厚 さを有し、また前記層は約1015原子/ccまでドーピングされた前記炭化ケイ 素の層によって支持されている。 19.以下の工程からなる、白熱光変換部材を調製する方法: 立方晶SiC、六方晶SiC、およびAlNのうちの少なくとも1種からなる自 立したフィラメントを形成する工程であって、前記フィラメントは約1017原子 /ccまでドーピングされた厚さが約500〜1000オングストロームの層を 有し、前記層は約10ミクロンの厚さの前記立方晶SiCからなる第2の層によ って支持されていて、前記第2の層は前記第1の層とは異なるドーピング特性を 有し、そして、 前記フィラメントを600℃以上の温度に維持する工程。 20.請求の範囲第19項に記載の方法であって、前記温度を維持する工程は前 記フィラメントに電流を通すことを含む。 21.請求の範囲第14項に記載の白熱光放射装置であって、前記第1の層は窒 素でドーピングされていて、前記第2の層はホウ素でドーピングされている。 22.請求の範囲第18項に記載の白熱光放射装置であって、前記半導体本体は 窒化アルミニウム(AlN)の層で被覆されている。 23.以下の要素の組み合わせからなる、熱と電気と白熱光のうちの少なくとも 1つの間でエネルギーを変換するための装置: 少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面と熱および電気のうちの少なくとも 1つを移動させるための少なくとも1つの領域とを備えた半導体本体を有するエ ネルギー変換装置本体部材であって、前記第1の領域はドーピングされた3C- SiC半導体材料からなり、前記半導体エネルギー変換装置本体部材は約2eV 以上のバンドギャップを有し、 前記半導体エネルギー変換装置本体は、前記輻射エネルギー移動表面に隣接し ていてかつ本質的にこれと平行であってそして前記半導体の自由キャリヤ吸収特 性が抑制される少なくとも1つの層を有し、そして、 熱と電気のうちの少なくとも1つを前記エネルギー移動表面に隣接する少なく とも前記層に移動させる手段。 24.請求の範囲第23項に記載の、熱と電気と白熱光のうちの少なくとも1つ の間でエネルギーを変換するための装置であって、前記少なくとも第1の領域と 前記1つの層は同じものである。 25.以下の要素を含む白熱光フィラメント: 少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面を有する本体を含むエネルギー変換 装置本体部材であって、前記本体は熱と電気のうちの少なくとも1つを移動させ るための少なくとも第1の領域を含み、前記第1の領域は少なくとも第1および 第2の対向する表面を含み、前記第1の表面は前記少なくとも1つの輻射エネル ギー移動表面からなり、前記第1の領域はさらにドーピングされた3C-SiC半 導体材料からなり、前記エネルギー変換装置本体は、前記第1の領域とは異なっ ていてそして前記少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面と本質的に平行に配 置されている少なくとも第2の領域を含み、 前記半導体エネルギー変換装置本体部材は約2eV以上のバンドギャップを有 し、そして、 熱と電気のうちの少なくとも1つを前記半導体本体へ移動させるための接点。 26.請求の範囲第25項に記載の白熱光フィラメントであって、前記第2の層 は前記第1の領域の相対的厚さよりも大きい相対的厚さを有する。 27.請求の範囲第26項に記載の白熱光フィラメントであって、前記第2の層 はさらに半導体材料からなる。 28.請求の範囲第27項に記載の白熱光フィラメントであって、前記第1の領 域は前記第2の層の上にエピタキシャル層として成長される。 29.請求の範囲第28項に記載の白熱光フィラメントであって、少なくとも前 記第1の領域は、前記第1および第2の対向する表面に垂直でそしてそれらの間 で延びている第3および第4の対向する表面を含み、そして前記移動する手段は 少なくとも前記第3および第4の対向する表面に隣接するオーミック接点を含む 。 30.以下の要素を含む白熱ランプ: ランプ本体部材であって、前記本体部材は熱と電気のうちの少なくとも1つを 移動させるために前記本体部材の上に少なくとも第1の領域を含み、前記第1の 領域は少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面を有し、前記輻射エネルギー移 動表面は3C-SiC半導体材料からなり、そして、 熱と電気のうちの少なくとも1つを前記ランプ本体部材に供給するための1対 の金属接点。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF ,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE, SN,TD,TG),AP(KE,LS,MW,SD,S Z,UG),UA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD ,RU,TJ,TM),AL,AU,BB,BG,BR ,CA,CN,CZ,EE,GE,HU,IL,IS, JP,KP,KR,LK,LR,LT,LV,MG,M K,MN,MX,NO,NZ,PL,RO,RU,SG ,SI,SK,TR,TT,UA,UZ,VN (72)発明者 コーネゲイ,ケヴィン・タイロン アメリカ合衆国インディアナ州47906,ウ エスト・ラファイエット,ノース・サリス バリー・ストリート 1428 (72)発明者 スペンサー,マイケル・グレッグ アメリカ合衆国ワシントン・ディーシー 20017,ブチャナン・ストリート・ノー ス・イースト 1605

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. 以下の要素の組み合わせからなる、熱と電気と白熱光のうちの少なくとも 1つの間でエネルギーを変換するための装置: 少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面と、熱および電気のうちの少なくと も1つを移動させるための少なくとも1つの領域とを備えた半導体本体を有する 半導体エネルギー変換装置本体部材、 前記半導体エネルギー変換装置本体部材は2eV以上のバンドギャップを有し 、 前記半導体エネルギー変換装置本体は、前記輻射エネルギー移動表面に隣接し ていてこれと実質的に平行な少なくとも1つの層を有し、前記層において前記半 導体の自由キャリヤ吸収特性が抑制され、そして、 熱および電気のうちの少なくとも1つを前記エネルギー移動表面に隣接する少 なくとも前記層へ移動させる手段。 2. 請求の範囲第1項に記載の装置であって、前記輻射エネルギー移動表面に 隣接する前記層は、電流によって発生する加熱のためにドーピングされている。 3. 請求の範囲第1項に記載の装置であって、前記半導体本体は、立方晶炭化 ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(SiC)、および窒化アルミニウム (AlN)からなる群から選択された材料からなる。 4. 請求の範囲第2項に記載の装置であって、前記半導体本体は、立方晶炭化 ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(αSiC)、および窒化アルミニウ ム(AlN)からなる群から選択された材料からなる。 5. 請求の範囲第4項に記載の装置であって、前記熱および電気のうちの少な くとも1つを移動させる手段は前記層を通る電流の通過である。 6. 請求の範囲第5項に記載の装置であって、前記半導体エネルギー変換装置 本体は前記輻射エネルギー移動表面に隣接する第1の薄い層を有し、前記薄い層 は厚い構造的支持体層によって支持されている。 7. 請求の範囲第6項に記載の装置であって、前記半導体エネルギー変換装置 本体部材は窒化アルミニウム(AlN)の層で被覆されている。 8. 以下の要素の組み合わせからなる白熱光放射装置: 少なくとも1つの輻射エネルギー放射表面を有するエネルギー変換本体部材、 前記本体部材は、前記輻射エネルギー放射表面を介して放射される赤外線スペ クトル範囲にある光エネルギーを抑制するように適合されていて、そして、 前記輻射エネルギー放射表面を介しての放射を生成するように作用可能な熱と 電気のうちの少なくとも1つを前記本体に適用する手段。 9. 請求の範囲第4項に記載の白熱光放射装置であって、前記エネルギー変換 本体部材は半導体であって、前記適合は前記移動表面を介しての白熱光放射の抑 制である。 10.請求の範囲第9項に記載の白熱光放射装置であって、前記半導体本体は、 立方晶炭化ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(αSiC)、および窒化 アルミニウム(AlN)からなる群から選択された材料からなる。 11.請求の範囲第10項に記載の装置であって、前記輻射エネルギー移動表面 に隣接する前記層は、電流によって発生する加熱のためにドーピングされている 。 12.請求の範囲第11項に記載の装置であって、前記熱と電気のうちの少なく とも1つを適用する手段は、前記層を通る電流の通過である。 13.請求の範囲第12項に記載の装置であって、前記半導体エネルギー変換装 置本体は前記輻射エネルギー移動表面に隣接する第1の薄い層を有し、前記薄い 層は厚い構造的支持体層によって支持されている。 14.以下の要素の組み合わせからなる白熱光放射装置: 2以上のバンドギャップを有する半導体からなる群から選択された材料からな る半導体本体、 前記本体は少なくとも1つの輻射エネルギー移動表面を有していて、 前記本体は前記エネルギー移動表面に隣接する薄いわずかにドーピングされた 層を少なくとも有し、前記層は自由キャリヤ吸収特性が抑制されるように適合さ れていて、そして、 前記移動表面を介しての白熱光放射。 15.請求の範囲第14項に記載の装置であって、前記層を加熱する前記手段は 前記層を通しての電流の通過を含む。 16.請求の範囲第15項に記載の装置であって、前記半導体本体は、立方晶炭 化ケイ素(3C-SiC)、六方晶炭化ケイ素(αSiC)、および窒化アルミニ ウム(AlN)からなる群から選択された材料からなる。 17.請求の範囲第16項に記載の装置であって、前記半導体エネルギー変換装 置本体部材は窒化アルミニウム(AlN)の層で被覆されている。 18.請求の範囲第16項に記載の装置であって、 前記本体は立方晶炭化ケイ素からなり、前記層は約1017原子/ccまでドー ピングされていてそして約500〜1000オングストロームの厚さを有し、ま た前記層は約1015原子/ccまでドーピングされた前記炭化ケイ素の層によっ て支持されている。 19.以下の工程からなる、白熱光変換部材を調製する方法: 立方晶SiC、六方晶SiC、およびAlNのうちの少なくとも1種からなる自 立したフィラメントを形成する工程であって、前記フィラメントは約1017原子 /ccまでドーピングされた厚さが約500〜1000オングストロームの層を 有し、前記層は約10ミクロンの厚さの前記立方晶SiCからなる層によって支 持されていて、そして、 前記フィラメントを600℃以上の温度に維持する工程。 20.請求の範囲第19項に記載の方法であって、前記温度を維持する工程は前 記フィラメントに電流を通すことを含む。
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