JPH11501735A - 光ファイバー接続用マイクロ機械加工済みホール - Google Patents

光ファイバー接続用マイクロ機械加工済みホール

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JPH11501735A
JPH11501735A JP8526950A JP52695096A JPH11501735A JP H11501735 A JPH11501735 A JP H11501735A JP 8526950 A JP8526950 A JP 8526950A JP 52695096 A JP52695096 A JP 52695096A JP H11501735 A JPH11501735 A JP H11501735A
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Abstract

(57)【要約】 精密なスルーホール(24)が薄スラブ(22)に製作され、好ましくはシリコンあるいはヒ化ガリウムといった半導体ウエハ上に、優先的エッチング技術を用いる、光ファイバーコネクタープラグおよびスリーブの新規実施例および製造方法が開示されている。プラグの実施例においては、光ファイバー(26)がスルーホール(24)にスラブの表面に直交するように挿入されている。スリーブ(49)の実施例では、傾きのあるサイドの表面のあるプラグ(47,48)が、薄スラブスリーブ(49)の両側にあるV字溝正方形の凹部にはめ込まれる。

Description

【発明の詳細な説明】 光ファイバー接続用マイクロ機械加工済みホール 発明の詳細な説明 技術分野 本発明は一般的に光ファイバーの分野に関し、特に一本の光ファイバーをもう 一本の光ファイバーあるいはレーザーダイオード、検出器、および変調器といっ た光学装置に接続する構造に関するものである。 発明の背景 本出願は1995年7月18日に出願されたPCT特許出願シリアル番号PC T/US95/09296「光ファイバーおよびその他の光学コンポーネント用 フェースロック連結手段、およびその製造方法」に関連するものである。本出願 に開示されている新規の実施例のほとんどは、PCT/US95/09296出 願で請求されている新規の実施例の理解を深めるために参照の親出願PCT/U S95/09296で説明されている。しかし、本出願に開示、請求されている 実施例はPCT/US95/09296では請求されていない。光ファイバーは 幅広く様々な応用に使われてきており、もっとも目に着くのが光ファイバー通信 である。光ファイバー通信が個人のオフィスや住宅地へと徐々に広がりつつある 中、光ファイバーの接続にかかるコストが大きな問題となってくる。光ファイバ ー接続には、ファイバーとファイバーの接続、ファイバーと光源、ファイバーと 検出器、およびファイバーとその他の光学コンポーネント間の接続がある。これ らに関する光線が小さいものであることから、接続にかかるコストは高いものと なる。典型的なレーザーダイオードは1、2ミクロン程度の発光スポットを有す る。もっとも広く使われているシングルモードのファイバーには、約9ミクロン のコア(および125ミクロンのクラッド)がある。2本のシングルモードファ イバー、あるいはシングルモードとレーザーダイオードが接続される場合、その アライメントは横の片寄りに関しては1、2ミクロン以内に収められなければな らない。 従来のコネクターでは、2本の光ファイバーを接続する際にこのような正確な アライメントを達成させるために、それぞれのファイバーは内側直径(ID)が 名目上125ミクロンの延長された精密なプラグに挿入される。これらの二つの 接続されたプラグは次に延長された精密なスリーブに挿入される。これらの延長 部分の厳しい寸法条件のため、光ファイバー接続にかかるコストは高くなるので ある。 光ファイバーの数がいわゆる列接続という形で増加すると、その困難さは急速 に増す。表面発光レーザーダイオードと検出器が半導体ウエハ上に2次元的列と なって作られる。ウエハ上にあるこれらの光学コンポーネントの位置の正確さは 、写真撮影法でレジスターされているように1ミクロン以内である。しかしなが ら、ローカルエリアネットワーク、光学データプロセス、光学コンピュータ用の 大型の接続が益々要求されている一方で、このような正確さは従来の光ファイバ ー用の列コネクターでは達成されていない。 発明の開示 従って、本発明の第一の目的は、光ファイバーを別の光ファイバー、光源、検 出器、レンズ、およびほかの光学コンポーネントに接続する別の方法を考案する ことである。 本発明の最終的な目的は、ファイバー光学を情報スーパーハイウェイ基本的施 設の構築に最大限に活用できるように、光ファイバー、光集積導波路、光源、検 出器、レンズ、およびその他の関連した光学コンポーネントを含む光学相互接続 のコストを下げることである。 本発明においては、スルーホールが薄スラブに製作され、光ファイバーが薄ス ラブの前部の接続表面で切断されるようにホールに挿入される。光ファイバーは 薄スラブにほぼ直交する。ホールの位置は、サブミクロンのレジストレーション の正確さを有する従来のフォトリソグラフィックにより作られた後、マイクロ機 械加工技術によって製造される。マイクロ機械加工技術は基本的に表面技術であ るため、このような製造技術により限られた深さをもつホールを作ることができ る。ファイバーを正しい位置に、垂直に保つため、薄スラブの後部に適当な支え を加えてもよい。特有な優先エッチングの特徴を有する半導体ウエハ、シリコン 、ヒ化ガリウムおよびインジウムエステルは、光ファイバーを容易に挿入できる 鋭いテーパーを有する精密なV字溝正方形のホールを作ることができるため、薄 スラブの材質には特に向いている。プラグおよびスリーブ共に、このような技術 を用いて作ってもよい。 図面の簡単な説明 図1は、光ファイバーの配列、特に列様式での、ピンとホールを用いた従来の コネクターの実施例の概略図である。 図2は、図1のコネクターの実施例のQ−Q’に沿った断面図である。図3は 、マイクロ機械加工されたV字溝を用いたファイバー整列の、別の従来の実施例 である。 図4は、光ファイバーの配列のための、本発明の新規の実施例の概略図である 。 図5は、表面がマスク層で覆われた薄スラブを示す。 図6は、開口部がマスク上に作られていることを除いては、図5と同じ構造を 示す。 図7は、マイクロ機械加工技術により薄スラブを通り抜けるホールが作られて いることを除いては、図6と同様の構造を示す。 図8は、異方性優先エッチング法を用いたマイクロ機械加工技術で製造された 2つのウエハを示し、光ファイバーが異なった方法で切断されている。 図9は、マスク層を有するウエハを示し、前側のマスク層にエッチングのため の開口部を有する面側にマスク層のあるウエハを示し、断面図を左側に、表面図 を右側に示す。 図10は、V字溝正方形ホールを作るためにウエハが前側から優先エッチング されていることを除いては、図9と同様の構造を示す。 図11は、図10の表面の図を示す。 図12は、V字溝正方形ホールが図10のそれとは逆の向きになるように後側 から優先エッチングされたウエハを示す。 図13は、図12の実施例を並べて延長した構造を示す。 図14は、二つの同一の開口部が両側のマスク層にあるウエハを示す。 図15は、両側から優先エッチングして対を成すV字溝正方形ホールを作り、 コネクタースリーブとなる図14のウエハである。 図16は、大きめの正方形マスクを有するウエハで、その大きめの正方形マス ク内に小さめの正方形マスクを有するウエハを示す。 図17は、コネクタープラグを作る優先エッチングが行われた後の図16の実 施例を示す。 図18は、図16および図17で説明された方法により作られた2つのコネク タープラグと、図14および図15で説明された方法により作られたコネクター スリーブである。 図19は、図18の実施例の延長を列にして組み合わせたたもので、一つはフ ァイバー用、もう一つはプラグ用である。 図20は、図11のホールの繰り返しである。 図21は、クリアランスがそれぞれわずかに異なるいくつかのホールを示す。 図22は、図4のそれぞれのホールが図21の一組のスルーホールに置き換え られていることを除いては、図4に示されたものと同じスルーホールの配列であ る。 図23は、ファイバーが長さに沿って一定の位置にしっかりフィットするよう に光ファイバーが長さに沿って先細りになり、ホールクリアランスがわずかにや や小さめにされていることを除いては、図8と基本的に同じ構造を示す。 図24は、ファイバーの先をカットし、磨いて先端部が仕上げられていること を除いては、図23と同様の構造を示す。 図25は、図8に示されたプラグの繰り返しである。 図26は、光ファイバーの向きを安定させるために同一なプラグが加えられて いることを除いては、図25と同様の構造である。 図27は、サイズオーバーのスルーホールを有する支えのバルクがマイクロ機 械加工された図25のプラグの後ろに付けられていることを示す。 図28は、サイズオーバーのスルーホールを有するバルクがマイクロ機械加工 されたそれぞれのプラグとスリーブの後ろに付けられていることを除いては、図 18と同様の構造を示す。 図29は、完全に接続がなされた後の図28の構造を示す。 説明を実施するための最良の形態 図1は、一組の細長いアライメントピン(5)を用いて光ファイバー配列(1 )と(2)を別のファイバー配列(3)と(4)に接続する従来の方法のひとつ を示す。図2は、Q−Q’に沿った断面図を示す。 この従来の技術の例は、米 国特許第4,341,439号(Malcom H.Hodge.)に見られる。別の従来の方法 として、図3は、シリコンウエハであることが望ましい基板(9)上にマイクロ 機械加工されたV字溝におかれた光ファイバー(6)、(7)、(8)の配列を 有するコネクターの一部を示す。このような部分の一組を、ファイバーとファイ バーの先で接続するために一致する。この種の従来の技術の例は、米国特許第5 ,315,678号(前川ら)および第4,725,114号(Murphy)に見られ る。これらの例において、2本の光ファイバーを配列する際に最も重要となるの は、ファイバーの先端を接続する平面に精密に接合することであることがわかる 。そこで問題となるのが、その二次元性である。しかしながら、従来の光コネク ターはプラグ、スリーブ、ピン、および溝といった細長い素子を通して光学アラ イメントを行うため、光学相互接続の問題はほとんどが二次元的要素のものから 三次元的なものにすることである。これが、従来の相互接続のアプローチにおい て経験されてきた困難さの原因である。特に、従来の接続手段は本来三次元であ る一方、リソグラフィック技術は概して表面技術であるため、従来の相互接続の アプローチはサブミクロンのレジストレーションの正確さを有する現代のフォト リソグラフィック技術に恩恵を受けることはできない。 本発明では、光学アライメントはほとんど二次元的表面の問題として残ってい る。つまり、本発明でのアライメントは、薄スラブの接続表面にスルーホールを 正確に位置することに主に頼っている。ホールの位置はサブミクロンの正確さを 有する従来の精密なフォトリソグラフィによってレジスターされる。次に、マイ クロエレクトロニクスやマイクロ機械産業でよく使われるケミカルエッチング、 イオン研磨、スパッタエッチング、等といった様々なマイクロ機械加工を用いて ホールがエッチングされて、薄スラブに開けられる。このアプローチでは、ホー ルの深さはホールのサイズと類似したものである(アスペクト比約1)。図4は 、光ファイバー(10)の配列が直交している浅いスルーホール(11)のグル ープとともに、薄スラブ上で切断されている本発明の実施例を概略的に示してい る。センター間の長さS1およびS2は、特にシリコンスラブ上で、フォトリソ グラフィーを用いて1ミクロン以内の正確なものにすることができる。 図5から図7は、薄い基板あるいは薄スラブ(12)の横から見た図を示す図 4にあるホールを製造する一つのマイクロ機械加工技術の一順を示す。まず、図 5に示されるように、薄いマスク層(13)と(14)をスラブ(12)の両側 に作る。この層は、ふつう厚さ約1ミクロンである。次に、図6にあるように開 口部(15)および(16)を片側に作る。オプションとして、マッチする開口 部(17)および(18)を別の面に設けてもよい。そして、ホール(19)お よび(20)を適当なマイクロ機械加工技術を用いて開口部を突き抜けるように エッチングする。図7は、このエッチングによる結果をきわめて簡潔に示した図 である。マスク層(13)と(14)は図にあるよう外されてもよく、また図に あるように極薄いものを残してもよい。使用する技術に応じて、ホール(19) および(20)の両壁はスムーズでも粗くてもよく、直径に沿ってまっすぐでも 先細りになっていてもよい。一般に、かなり正確なホールの直径を得ようとする ならば、スラブの厚さはホールの直径よりそれほど大きくすることはできない。 実際、スラブの厚さは正確な製造のためには、ホールの直径とほぼ等しいかそれ よりも小さくあるべきである。光ファイバーのほとんどは直径が125μmのク ラッドを有するので、ホールのサイズは125μmに近いものでなければならな い。これにより、スラブの厚さは約100から200μmとなる。 ここで、図8から図28においてマイクロ機械加工技術を導入する。この好ま しいマイクロ機械加工技術は、広く知られている特定の半導体ウエハの異法性優 先的エッチングの特性に基づくものである。たとえば、V字溝とV字溝正方形は (100)の方向でシリコン上に製造してもよい。実際、上記に紹介された従来 の実施例は、図3に関するものであり、すなわち合衆国特許番号第5,315, 678号(前川ら)および第4,725,114号(Murphy)は光ファイバーの アライメントを行うためのV字溝の使い方を教えている。本発明では、光ファイ バーのアライメントを行うためのV字溝正方形スルーホールの使い方を教えるも のである。従来の技術と本発明の光ファイバーでは、直交する位置関係にある。 図8は、先に述べられたようなスルーホール(23)および(24)を有する二 つのウエハ(21)および(22)の横から見た断面図である。左側に示される のが前部(ファイバー接続側)からエッチングされており、右側に示されるのは 後部からエッチングされている。このようなスルーホールを作るエッチング技術 は、図9から図13を用いて下に詳しく説明されている。 製造は、(100)あるいは(101)フェーセットを有するシリコンウエハ のよく知られた優先的エッチングに基づいたものである。同様の、あるいはよく 似た技術はヒ化ガリウムあるいはインジウムエステルといった他の結晶ウエハに 使用することもできる。 例えば、(100)シリコンウエハ上に側壁が正方形のサイズにかかわらず表 面に関して一定の角度を有するV字溝正方形を製造することができる。詳しい製 造方法は次のようである。図9(左側に断面図、右側に表面図)に示されるよう に、マスク層(27)をシリコンウエハの片側にパターン化し、もう一つの層( 28)が別の側(この二つめのマスクは後側のエッチングを防ぐためのものであ る)に、所定の位置に望ましいパターンをサブミクロンのレゾリューションで位 置させることのできるフォトリソグラフィック技術を用いてパターン化する。次 に、ウエハ(21)を、〈111〉の方向よりもはるかに早く(約50から10 00の換算係数で)〈100〉の方向にウエハをエッチングする腐食液に浸ける 。優先的エッチングの結果を図10(断面図)および図11(表面図)に示す。 図10に示されたV字溝正方形(23)の内側の側壁は、エッチングし難いフェ ーセットで、(111)フェーセットという。従って、V字溝の深さはおもにマ スク(27)の開口部の巾W3によって決まる。マスク層(28)は、エッチン グがスルーホール(23)の製造が終わった時点て剥がされる。側壁の角度は、 シリコンの(111)フェーセットに特徴づけられているように、ウエハに関し てすべて同じでコンスタントである。従って、ホールW2のサイズおよびウエハ の厚さTがわかっている場合には、マスク開口部W3の値を計算することができ る。 図8に示されたように光ファイバーがスルーホールの左側から入ってくる場合 、図12にあるように、ウエハの左側からスルーホールが先細りになっているよ うにすると都合がよい。これは、図にあるように左側のマスク層(29)に開口 部を設けることにより実現される。図12にあるマスク層(30)にはガラスや シリコン窒化物といった透明な薄膜の誘電性の材質で作ることができる。これは 、スルーホール(24)に挿入された光ファイバーの窓として働くことができる ので取り除く必要はない。図13は、図9から図12で説明された実施例と技術 で、二つのスルーホール(31)および(32)が同じ要領で作られ、二つの光 ファイバー(33)および(34)が図示されるように前表面で切断されている 一配列型への簡単な外延である。スルーホール(31)および(32)間の中心 と中心の距離S3は、1ミクロン以内の公差で正確なものにすることができる。 図14は、マスク層(35)がおよび(36)が開口部を有する点で、わずか に異なるバリエーションである。ウエハ(37)がエッチングされると、対のV 字溝正方形が作られる。後に(図18)に示されるように、この部分がコネクタ ースリーブ(49)を構成する。 ここで、図4に示されるようなコネクタープラグの先を作る方法を説明する。 図16は、プラグの輪郭を描く大きな正方形のマスク(40)を有するウエハ( 39)と、ファイバーにホールを作る小さな正方形の開口部の整列(41)(図 4の(11)にあたる)を示す。優先的エッチングにより、V型のエッジ(43 )(44)(45)および(46)を有するコネクタープラグ(42)の整列を 作る。小さいほうの正方形の開口部(41)がウエハ(39)の前部にある場合 、エッチングの結果できるホールとファイバーの位置関係は、図8の左側に示さ れたようになる。そして、小さいほうの正方形の開口部(41)がウエハ(39 )の後部にある場合には、図8の右側のようになる。 図17にあるホールの数は一つから数百、あるいはそれ以上の範囲をとること ができる。一つのホールをエッチングするのに、千個のホールをエッチングする のと同じ時間がかかる。二つの隣り合せのホールの間の距離は0.5mmより近 いものであるので、3インチ(約7.62cm)のシリコンウエハ上に一万個以上 のホールを持つことができる。 図18は、一つのホールと一つのファイバーを有する図16および図17に描 かれる手順にそって製造された二つのプラグ(47)および(48)、また図1 4および図15に説明される手順で製造されるスリーブ(49)を示す。側壁は 等しい傾斜角度をもち、寸法は正確にレジスターされているので、プラグ(47 )および(48)は正確なアライメントをもってスリーブ(49)を通して接続 することができる。 図19は、図18を組み合わせた配列型にした簡単な外延を示す。この配列は 、ファイバー用の配列とプラグ用の配列である。 図20は、図11の正方形ホールの図の繰り返しである。スルーホール(23 )を製造する時、ホールクリアランスW2は正確なファイバーアライメントのた めに光ファイバーの直径と非常に近いものでなければならない。既知の値W2に 関して、図10および図11ではウヱハ(21)の厚さTのバリエーションおよ び腐食液によるマスクを被ったエッジのアンダーカットのために、W2の値は多 少変化してもよい。例えば光ファイバーの直径そのものが123から127ミク ロンの間で変化する一方で、ホールクリアランスW2は、124から130ミク ロンの間の数値であればよい。最悪の場合には、ホールのサイズW2は光ファイ バーより7ミクロン大きいか、ホールサイズW2はファイバーの直径よりも小さ くてもよい。ホールのサイズおよびファイバーの直径のこのバリエーションに応 じるために、数多くの様々な寸法のスルーホールが、3つの異なるマスクの開口 部W3、W3’、およびW3”、および3つの対応するマスクのサイズW2、W 2’、およびW2”(例として、これらの3つの値は、それぞれ127、125 、123ミクロンとする。)を有する3つのスルーホール(52)、(53)、 (54)を示す図21に説明されるように、数多くの異なるスルーホールを製造 することができる。これらの3つのスルーホールのうちのひとつは、別のホール よりうまく所定の光ファイバーにマッチする。ホールの数は、3個以上でもよい 。実施例の結果が、図4に示される表面のレイアウトの一つのバリエーションで ある図22に示される。ただし、図4にあるスルーホールの各々が図22にある 3つのスルーホールに置き換えられている。 図4および図22に示されるファイバーコネクタープラグは、図18にある同 一のコネクタープラグだけでなく、かみ合って整列した形でレーザーダイオード 、検出器、LEDおよびその他の光学コンポーネントに接続することができる。 これに関するより詳しい教義は、1995年7月18日に出願された関連PCT 出願特許シリアル番号PCT/US95/09296、「光ファイバーおよびそ の他の光学コンポーネント用フェースロック相互連結手段およびその製造方法」 に説明されている。 ホールへのファイバーのフィットを向上させる別の方法として、光ファイバー が特定の位置にあるホール(57)にしっかりとフィットするように、長さに沿 って直径が先細りになっているのが、図23である。セメント材(58)でホー ル(57)を埋めたあと、ファイバー(56)の先端を切り落とし、先の部分を 研磨して図24に示されるように作ってもよい。 上記に新規の実施例を説明するにあたり、図25に示されるような薄スラブと 光ファイバーのみに関して説明した。これは、新規の実施例の特徴を明白にする ためである。図25に示される光ファイバー(60)を安定させる方法は数多く ある。一つの例として図26に、同一のプラグ(61)がファイバー(60)を 固定させるために使われている例を示す。別の方法として、バルクボディ(63 )が後部から薄スラブプラグ(59)を支える方法を図27に示す。薄スラブプ ラグがアライメント機能を果たすので、支えのボディはホールサイズに正確であ る必要はない。実際、プラグの組み立ておよびファイバーの挿入を容易にするた めに、支えのバルク部分の穴(63)が大きめのサイズである必要がある。図2 8は、支えのバルク部分がはっきりと示されていることを除いては、図18と同 じ構成を示す。図29はプラグ(47)および(48)の接続が終わった後の同 じ構成を示す。図29の接続する光ファイバー(67)および(68)の軸のア ライメントを確実にするために、完全に接続した後にプラグ(47)および(4 8)の間にギャップができるように、スリーブ(49)のクリアランスをわずか に小さめにするとよい。これは、優先エッチング時のホールサイズがウエハの厚 さ(図10の”T”)のわずかなバリエーションとエッジのアンダーカットのた めに、ホールのサイズが異なる場合でも、一般にマイクロ機械加工されたV字溝 正方形は不変であることによるものである。この「センターの不変性」が、本発 明の出願書に説明された新規の実施例による正確なアライメントの達成に強く関 連しているのである。 明らかに、本発明の多くの変更やバリエーションが上記の教義に鑑みて可能で ある。ゆえに、本発明は付加された特許請求の範囲内において、特に説明された 以外にも実施されるものとする。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.スルーホール(24)は、正確な位置に置かれるよう、リソグラフィーの 助けをもってレジスターおよび製造され、スルーホール(24)の穴のサイズは 光ファイバー(26)の直径よりわずかに大きく、光ファイバー(26)は薄ス ラブの前表面(22A)で切断され、そして光ファイバー(26)がスラブ(2 2)の前表面(22A)に対してほぼ直交するようにおかれている、光ファイバ ー(26)、前表面(22A)、後表面(22B)、およびスルーホール(24 )を備えたほぼ平面な薄スラブ(22)から成る光ファイバーコネクタープラグ 。 2.光ファイバーが先細りになった部分で特定の位置にスルーホールがぴった りとフィットするように、光ファイバーの直径が先細りになった請求項1記載の 発明。 3.スルーホールがマイクロ機械加工技術によりエッチングを行って作られる 、請求項1記載の発明。 4.マイクロ機械加工技術がウエットケミカルエッチングから成る請求項3記 載の発明。 5.マイクロ機械加工技術がドライエッチングから成る請求項3記載の発明。 6.ドライエッチング技術がイオンフライス削りから成る請求項5記載の発明 。 7.ドライエッチング技術がスパッタエッチングから成る請求項5記載の発明 。 8.正確なスルーホールが製造されるように、薄スラブが優先的エッチング特 性を有する材質で作られている請求項1記載の発明。 9.材質にシリコンを用いる請求項8記載の発明。 10.V字型スルーホールが薄スラブの表面に関して明確に定義された共通の壁 の角度を有して製造されるよう、シリコンで作られた薄スラブが(100)のオ リエンテーションを有する、請求項9記載の発明。 11.材質にヒ化ガリウムを用いる請求項8記載の発明。 12.材質にインジウムエステルを用いる請求項8記載の発明。 13.スルーホールの穴のサイズが前部より後部が大きくなるように、スルーホ ールが薄スラブの後側からエッチングされる請求項8記載の発明。 14.スラブがほぼ長方形で、サイドの長さが正確であり、サイドのエッジが優 先的エッチングにより特徴付けられる内側の壁の傾斜角と等しい傾斜角を有する 斜めの表面になるように、スラブの外側の境界が優先的エッチングにより作られ る請求項8に記載の発明。 15.スルーホール(38)は正確なサイズと位置を確保するためにリソグラフ イック法でレジスターされ、スルーホール(38)の穴のサイズは、コネクター プラグが光ファイバーアライメントのために、薄スラブの前部および後部表面に おかれるように2つの表面の間の中間点の穴のサイズに比べると前表面(37A )と後表面(37B)が大きい、前表面(37A)と後表面(37B)を有する 非常に薄いスラブ(37)、およびスルーホール(38)からなる光ファイバー コネクタースリーブ。 16.薄スラブは正確なスルーホールを製造することができるよう優先的エッチ ング特性を有する材質で作られる、請求項15に記載の発明。 17.材質がシリコンを用いる請求項16に記載の発明。 18.V字型スルーホールが薄スラブの表面に関して明確に定義された共通の壁 の角度を有するように製造されるよう、シリコンで作られた薄スラブが(100 )のオリエンテーションを有する、請求項記17載の発明。 19.材質にヒ化ガリウムを用いる請求項16記載の発明。 20.材質にインジウムエステルを用いる請求項16記載の発明。 21.スルーホール(31および32)はスルーホール(31および32)が正 確な位置とそれぞれのスルーホール(31および32)が正確な間隔になるよう 、リソグラフィーの助けをもってレジスター、製造され、スルーホール(31お よび32)の穴のサイズは光ファイバー(33および34)の直径よりわずかに 大きく、光ファイバーの一つ(33あるいは34)が、光ファイバー(33ある いは34)の先端が薄スラブの前表面で切断されるよう、後部からスルーホール (31および32)に挿入され、そして光ファイバー(33および34)がスラ ブの前表面に対してほぼ直交するようにおかれている、複数の光ファイバー(3 3および34)と、前表面、後表面、および複数のスルーホール(31および3 2)を有するほぼ平面の薄スラブから成る光ファイバーコネクタープラグ。 22.スルーホールが正確な位置とスルーホール間が正確な間隔になるよう、リ ソグラフィーの助けをもってレジスター、製造され、スルーホールの穴のサイズ はコネクタープラグが光ファイバーアライメントのために薄スラブの前および後 表面に置かれるように、前後の二つの表面の間の中間点の穴のサイズに比較して 、前表面と後表面のほうが大きい、前表面および後表面を有する薄スラブ、およ び複数のスルーホールから成る光ファイバーコネクタースリーブ。 23.スルーホールが正確な位置とスルーホール間が正確な間隔になるよう、リ ソグラフィーの助けをもってレジスター製造され、スルーホールの穴のサイズは 光ファイバーの直径よりわずかに大きく、スルーホールのクリアランスは3つの スルーホールのうち一つがファイバー接続に選ばれ、光ファイバーの先端が薄ス ラブの前表面で切断されるよう、光ファイバーが後部から選ばれたスルーホール に挿入されるようそれぞれわずかに異なり、そして光ファイバーがスラブの前表 面に対しほぼ直交するようにおかれている、光ファイバー、前表面および後表面 を有するほぼ平面な薄スラブと複数のスルーホール(52、53および54)か らなる光ファイバーコネクタープラグ。
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