JPH1140646A - Pickup tool - Google Patents

Pickup tool

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JPH1140646A
JPH1140646A JP9193881A JP19388197A JPH1140646A JP H1140646 A JPH1140646 A JP H1140646A JP 9193881 A JP9193881 A JP 9193881A JP 19388197 A JP19388197 A JP 19388197A JP H1140646 A JPH1140646 A JP H1140646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
suction
notch
projection
pickup tool
Prior art date
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Application number
JP9193881A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Hasegawa
博 長谷川
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Manipulator (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the damage and absorption trace of an edge, generated due to a pickup tool. SOLUTION: An absorbing member 22 having a hole 23 communicated with an inlet hole 14 is connected with the top end face of a shank 12, through which the inlet hole 14 is put, and plural air grooves 24 which is made concentric with the hole 23 and which are not deformed and closed when a desired part is vacuum absorbed, are formed on an absorbing face 22' of the absorbing member 22 in which the hole 23 is opened. Each of plural projecting parts 25 formed by the air grooves 24 is provided with a notch 28 communicated with the air groove 24 at the inside and outside of the projecting part 25, and the air groove 24 which is closest to the hole 23 is communicated with the hole 23.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体チップ等を真
空吸着するピックアップツール、特に吸着した半導体チ
ップ等に傷を付けることなく、吸着される半導体チップ
等の形状に適応した寸法に切り出し可能な吸着部材を備
えたピックアップツールに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pick-up tool for vacuum-sucking a semiconductor chip or the like, and more particularly to a suction tool which can be cut into a size adapted to the shape of the semiconductor chip or the like without damaging the semiconductor chip or the like. The present invention relates to a pickup tool having a member.

【0002】従来、半導体装置メーカが中心であった半
導体ベアチップの実装(パッケージング)作業は、半導
体ベアチップの流通市場の拡大に伴って、基板実装業者
即ち購入した半導体ベアチップを基板に実装する業者に
拡大している。
Conventionally, semiconductor bare chip mounting (packaging) work, which has been mainly performed by semiconductor device manufacturers, has been carried out by board mounting companies, that is, those who mount purchased semiconductor bare chips on substrates, with the expansion of the distribution market of semiconductor bare chips. It is expanding.

【0003】半導体ベアチップを実装するノウハウ、特
に半導体ベアチップの表面ダメージ保証のノウハウは、
技術的および品質評価上、見極めが難しいものであり、
半導体ベアチップの表面ダメージ強度は一定の保証値を
持つものでもなく、実装する配線パターンの微細化およ
び実装の高密度化も、半導体ベアチップの取扱いを難し
くしている。
The know-how for mounting a semiconductor bare chip, especially the know-how for guaranteeing the surface damage of the semiconductor bare chip, is as follows.
It is difficult to determine due to technical and quality evaluations,
The surface damage strength of the semiconductor bare chip does not have a certain guaranteed value, and the miniaturization of the wiring pattern to be mounted and the increase in the mounting density also make it difficult to handle the semiconductor bare chip.

【0004】そこで、半導体ベアチップを自ら製造しな
い基板実装業界にも使用され、半導体ベアチップにダメ
ージを与えることの少ないピックアップツールが強く要
望されるようになった。
[0004] Therefore, a pickup tool that is used in the substrate mounting industry where the semiconductor bare chip is not manufactured by itself and that does not damage the semiconductor bare chip has been strongly demanded.

【0005】[0005]

【従来の技術】半導体装置の製造およびその実装工程に
おいて、半導体チップ特に半導体ベアチップのピックア
ップに使用するピックアップツールは、種々のものが工
夫され提供されている。
2. Description of the Related Art In the process of manufacturing and mounting semiconductor devices, various pickup tools used for picking up semiconductor chips, particularly semiconductor bare chips, have been devised and provided.

【0006】その代表的なものとして、超硬質の吸着部
材を備えたものと、軟質の吸着パッドを備えたものが知
られている。超硬質の吸着部材を備えたピックアップツ
ールは、一般に所望部品例えば半導体ベアチップのエッ
ジ、即ち吸着側の面のエッジが吸着部材に当接する構成
であり、半導体ベアチップ表面保護に適しているが高価
である。吸着パッド、即ち一般にゴム弾性を有する吸着
パッドを備えたピックアップツールは、超硬質の吸着部
材を備えたものより安価かつ簡便性に優れる。
[0006] As typical examples, those having an ultra-hard suction member and those having a soft suction pad are known. A pick-up tool provided with a super-hard suction member is generally configured such that an edge of a desired component, for example, a semiconductor bare chip, that is, an edge of a suction side surface abuts on the suction member, and is suitable for protecting a semiconductor bare chip surface but is expensive. . A pickup tool provided with a suction pad, that is, a suction pad generally having rubber elasticity, is less expensive and more convenient than a tool provided with a super-hard suction member.

【0007】図4は超硬質の吸着部材を備えたピックア
ップツールの説明図、図5は吸着パッドを備えたピック
アップツールの説明図、図6は吸着面に凹凸を設けたピ
ックアップツールの説明図である。
FIG. 4 is an explanatory view of a pick-up tool having a super-hard suction member, FIG. 5 is an explanatory view of a pick-up tool having a suction pad, and FIG. 6 is an explanatory view of a pick-up tool having irregularities on a suction surface. is there.

【0008】図4において、ピックアップツール1は、
シャンク2の先端に超硬質金属にてなる吸着用部材3が
接合されている。一般に吸着用部材3の下面には角錐形
状の凹部6が形成され、凹部6の中心部に開口する吸着
用部材3の透孔5は、シャンク2を貫通する吸気孔4に
連通している。
In FIG. 4, a pickup tool 1 is
A suction member 3 made of a super-hard metal is joined to the tip of the shank 2. Generally, a pyramid-shaped concave portion 6 is formed on the lower surface of the suction member 3, and the through hole 5 of the suction member 3 opening at the center of the concave portion 6 communicates with the suction hole 4 penetrating the shank 2.

【0009】かかるピックアップツール1は、シャンク
2を図示しない真空装置に接続し、該真空装置を駆動さ
せると凹部6内の空気は、透孔5,吸気孔4を通って吸
引され、凹部6内に所望部品例えば半導体ベアチップ8
を吸着する。
In the pick-up tool 1, when the shank 2 is connected to a vacuum device (not shown), and the vacuum device is driven, the air in the concave portion 6 is sucked through the through hole 5 and the suction hole 4, and Desired parts such as a semiconductor bare chip 8
To adsorb.

【0010】ピックアップツール1に吸着された半導体
ベアチップ8は、上面のエッジ即ち吸着側の面のエッジ
が、吸着用部材3の凹部6を構成するテーパ面7に当接
するようになる。
The edge of the upper surface of the semiconductor bare chip 8 sucked by the pickup tool 1, that is, the edge of the surface on the suction side comes into contact with the tapered surface 7 constituting the concave portion 6 of the suction member 3.

【0011】図5において、ピックアップツール11
は、シャンク12の先端面(図の下端面)にゴム弾性を
有する吸着用パッド13が接合されており、シャンク1
2を貫通する吸気孔14に、パッド13の中心に設けた
透孔15が連通している。
Referring to FIG.
The suction pad 13 having rubber elasticity is joined to the front end face (lower end face in the figure) of the shank 12.
A through hole 15 provided at the center of the pad 13 communicates with an intake hole 14 penetrating the pad 2.

【0012】かかるピックアップツール11は、シャン
ク12を図示しない真空装置に接続し、該真空装置を駆
動させるとパッド13の外側の空気は、透孔15,吸気
孔14を通って吸引され、パッド13の吸着面13′
に、所望部品例えば半導体ベアチップ8を吸着する。
In the pick-up tool 11, the shank 12 is connected to a vacuum device (not shown). When the vacuum device is driven, air outside the pad 13 is sucked through the through hole 15 and the suction hole 14, and the pad 13 Adsorption surface 13 '
Then, a desired component, for example, a semiconductor bare chip 8 is sucked.

【0013】図6において、ピックアップツール16
は、シャンク12の先端面に吸着部材17が接合されて
おり、弾性を有する吸着部材17の中心部に設けた透孔
18が吸気孔14に連通している。ただし、吸着部材1
7の吸着面17′は梨地等の微小凹凸面にしてある。
Referring to FIG. 6, a pickup tool 16 is shown.
The suction member 17 is joined to the tip end surface of the shank 12, and a through hole 18 provided at the center of the elastic suction member 17 communicates with the intake hole 14. However, the suction member 1
The suction surface 17 'of 7 is a fine uneven surface such as satin.

【0014】かかるピックアップツール16は、シャン
ク12を図示しない真空装置に接続し、該真空装置を駆
動させると吸着部材17の外側の空気は、透孔18,吸
気孔14を通って吸引され、吸着部材17の吸着面1
7′に所望部品例えば半導体ベアチップ8を吸着し、半
導体ベアチップ8が接する部分で吸着面17′の微小凹
凸は、(b)図に示すごとく、変形し平らになる構成で
ある。
In the pick-up tool 16, the shank 12 is connected to a vacuum device (not shown), and when the vacuum device is driven, air outside the suction member 17 is sucked through the through hole 18 and the suction hole 14 to be sucked. Suction surface 1 of member 17
A desired component, for example, a semiconductor bare chip 8 is attracted to 7 ', and the minute irregularities of the attracting surface 17' at the portion where the semiconductor bare chip 8 contacts are deformed and flattened as shown in FIG.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来のピックアップツール1は、半導体ベアチップ8の
表面にダメージを与えない利点があるが、半導体ベアチ
ップ8のエッジが当接する吸着部材3を超硬質金属で製
造するため高価となり、半導体ベアチップ8を傾斜状態
に吸着する恐れおよび、半導体ベアチップ8のエッジを
損傷させる恐れがあり、寸法が違う半導体ベアチップ8
に共用できないという問題点がある。
As described above,
The conventional pickup tool 1 has an advantage of not damaging the surface of the semiconductor bare chip 8, but is expensive because the suction member 3 to which the edge of the semiconductor bare chip 8 contacts is made of a super-hard metal, and the semiconductor bare chip 8 is tilted. The semiconductor bare chip 8 may have different dimensions because of the
There is a problem that cannot be shared.

【0016】次いで、従来のピックアップツール11お
よび16は、ピックアップツール1より安価であるが、
半導体ベアチップ8の被吸着面の全面が吸着用パッド1
3または吸着部材17に当接する。
Next, the conventional pickup tools 11 and 16 are less expensive than the pickup tool 1,
The entire surface of the suction surface of the semiconductor bare chip 8 is the suction pad 1.
3 or the suction member 17 is brought into contact.

【0017】そのため、前記被吸着面に対するダメー
ジ、特に前記被吸着面と吸着パッド13または17の間
にゴミ等の異物が挟まった場合のダメージが懸念され、
ダメージに至らなくても吸着痕が形成され易いと共に、
中心部に対して外周部の吸着力が低くなり、特に大形の
半導体ベアチップ8に対する吸着力不足が生じ易いとい
う問題点があった。
For this reason, there is a concern that damage to the surface to be attracted, particularly when foreign matter such as dust is caught between the surface to be attracted and the suction pad 13 or 17,
Adsorption marks are easily formed even without damage,
There is a problem that the attraction force of the outer peripheral portion is lower than that of the central portion, and the insufficiency of the attraction force particularly to the large semiconductor bare chip 8 tends to occur.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明のピックアップツ
ールは、従来のピックアップツール1,11,16にお
ける前記問題点を解決することを目的とし、本発明の第
1のピックアップツールは、吸気孔が貫通するシャンク
の先端面に、該吸気孔に連通する透孔が設けられた吸着
部材が接合され、該吸着部材の吸着面に所望部品を真空
吸着するピックアップツールであって、該透孔が開口す
る該吸着面に、該透孔と同心かつ該所望部品の真空吸着
時に変形閉塞されない複数の通気溝が形成され、該複数
の通気溝によって該透孔と同心に形成された複数の凸部
のそれぞれに、該凸部の内側と外側の該通気溝に連通す
る切欠きが形成され、該透孔に最も近い該通気溝が該透
孔に連通していることを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION A pickup tool of the present invention aims to solve the above-mentioned problems in the conventional pickup tools 1, 11, and 16, and a first pickup tool of the present invention has an intake hole. A suction tool provided with a through-hole communicating with the suction hole at a tip end surface of the penetrating shank, and a pickup tool for vacuum-sucking a desired component to the suction surface of the suction member; A plurality of ventilation grooves concentric with the through hole and not deformed and closed at the time of vacuum suction of the desired component are formed on the suction surface, and a plurality of convex portions formed concentrically with the through hole by the plurality of ventilation grooves. A cutout communicating with the ventilation groove inside and outside the projection is formed in each of the projections, and the ventilation groove closest to the through hole communicates with the through hole.

【0019】本発明の第2のピックアップツールは、前
記本発明の第1のピックアップツールにおいて、前記複
数の凸部に形成された前記切欠きの切欠き長は、該凸部
が前記透孔から離れるに従って短くなっていることを特
徴とする。
According to a second pick-up tool of the present invention, in the first pick-up tool of the present invention, a notch length of the notch formed in the plurality of protrusions is such that the notch is formed from the through hole. It is characterized in that it becomes shorter as it goes away.

【0020】本発明の第3のピックアップツールは、前
記本発明の第1のピックアップツールにおいて、前記切
欠きが前記凸部のそれぞれの4か所に形成され、該4か
所が、前記透孔から等角度の8方に放射する放射線の中
の間欠4方の放射線上であり、内外方向に隣接する該凸
部の該切欠きが同一放射線上に位置しないことを特徴と
する。
In a third pick-up tool according to the present invention, in the first pick-up tool according to the present invention, the notch is formed at each of four locations of the convex portion, and the four locations are provided with the through holes. The radiation is emitted intermittently in eight directions at an equal angle from the radiation, and the notches of the protrusions adjacent in the inward and outward directions are not located on the same radiation.

【0021】本発明の第4のピックアップツールは、前
記本発明の第1のピックアップツールにおいて、前記通
気溝および凸部が角形のループ状であり、該凸部が台形
断面であることを特徴とする。
A fourth pick-up tool according to the present invention is characterized in that, in the first pick-up tool according to the present invention, the ventilation groove and the convex portion have a rectangular loop shape, and the convex portion has a trapezoidal cross section. I do.

【0022】本発明の第5のピックアップツールは、前
記本発明の第1のピックアップツールにおいて、前記通
気溝および凸部が円形のループ状であり、該凸部が台形
断面であることを特徴とする前記本発明の第1のピック
アップツールは、吸着すべき所望部品の被吸着面に凸部
先端が当接し、所望部品吸着後も最も外側の凸部に形成
した切欠きから外気を吸入しながら、所望部品を保持す
るようになる。
A fifth pick-up tool of the present invention is characterized in that, in the first pick-up tool of the present invention, the ventilation groove and the convex portion have a circular loop shape, and the convex portion has a trapezoidal cross section. In the first pick-up tool of the present invention, the tip of the convex portion comes into contact with the suction surface of the desired component to be sucked, and after sucking the desired component, sucks the outside air from the notch formed in the outermost convex portion. , To hold a desired part.

【0023】従って、吸着時の異物除去作用と同時に被
吸着面に対する吸着力が分散され、被吸着面の全面に渡
って常時吸着力が作用することで、所望部品に対する吸
着および品質が保証、即ち従来のピックアップツールで
生じたエッジの損傷および吸着痕ならびに吸着力の不均
一が解消する。
Therefore, the suction force on the surface to be sucked is dispersed at the same time as the foreign matter removing operation at the time of suction, and the suction force constantly acts over the entire surface of the surface to be sucked, so that the suction and quality of the desired component are guaranteed, ie Edge damage and suction marks and non-uniform suction force caused by the conventional pickup tool are eliminated.

【0024】前記本発明の第2のピックアップツール
は、吸着すべき所望部品の大きさが変わっても吸着力が
均一化されるようになり、前記本発明の第3のピックア
ップツールは、所望部品の吸着面における吸着力の均一
化に寄与する。
According to the second pick-up tool of the present invention, even if the size of the desired component to be picked up changes, the suction force can be made uniform. Contributes to making the attraction force uniform on the attraction surface.

【0025】前記本発明の第4のピックアップツール
は、角型の所望部品に適応した吸着部材を提案し、前記
本発明の第5のピックアップツールは、円型の所望部品
に適応した吸着部材を提案したものである。
The fourth pick-up tool of the present invention proposes a suction member adapted to a square desired part, and the fifth pick-up tool of the present invention proposes a suction member adapted to a circular desired part. It is a proposal.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】図1は本発明の実施例によるピッ
クアップツールの説明図、図2は本発明の実施例による
吸着部材の説明図(その1)、図3は本発明の実施例に
よる吸着部材の説明図(その2)である。
1 is an explanatory view of a pickup tool according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory view (No. 1) of a suction member according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an embodiment of the present invention. It is explanatory drawing (the 2) of an adsorption | suction member.

【0027】図1において、(a)はピックアップツー
ルの主要構成を示す断面図、(b)は吸着部材の吸着側
の面構成を示す拡大断面図であり、ピックアップツール
21は、シャンク12の先端面に吸着用部材22が接合
されている。
In FIG. 1, (a) is a sectional view showing a main structure of the pickup tool, (b) is an enlarged sectional view showing a surface structure on a suction side of a suction member, and a pickup tool 21 is a tip end of a shank 12. The suction member 22 is joined to the surface.

【0028】一般に金属にてなるシャンク12に接合し
た吸着部材22の中心部には、シャンク12の吸気孔1
4に連通する透孔23があけられており、所望部品を吸
着する吸着部材22の下面(吸着面)22′には、所望
部品を吸着しても閉塞されることのない複数の通気溝2
4が形成されている。
At the center of the adsorbing member 22 joined to the shank 12 generally made of metal, the suction hole 1 of the shank 12 is provided.
A plurality of ventilation grooves 2 which are not closed even when the desired component is sucked are provided on the lower surface (suction surface) 22 'of the suction member 22 for sucking the desired component.
4 are formed.

【0029】複数の通気溝24は透孔23に対し同心で
あり、通気溝24の形成によって形成された複数の凸部
25には、その内外の通気溝24を連通させる切欠き2
8が形成されている。
The plurality of ventilation grooves 24 are concentric with the through holes 23, and the plurality of projections 25 formed by the formation of the ventilation grooves 24 are provided with notches 2 for communicating the inner and outer ventilation grooves 24.
8 are formed.

【0030】従って、所望部品例えば半導体ベアチップ
の被吸着面には、通気溝24の形成によって形成された
凸部25の先端面26が当接するようになり、複数の通
気溝24で該被吸着面を吸引するようになる。
Accordingly, the tip surface 26 of the projection 25 formed by the formation of the ventilation groove 24 comes into contact with the suction surface of a desired component, for example, a semiconductor bare chip. Will be sucked.

【0031】所望部品を吸着したとき弾性変形で閉塞し
ない通気溝24は、例えばピッチpが0.5mm,角度
θが30°,深さが0.6mmであり、複数の通気溝2
4の形成で形成された凸部25の先端面26の幅w-1
0.1mmとしたとき、通気溝24の底面27の幅w-2
は約0.9mmになる。
The ventilation groove 24 which is not closed by elastic deformation when a desired component is sucked has, for example, a pitch p of 0.5 mm, an angle θ of 30 ° and a depth of 0.6 mm.
Assuming that the width w -1 of the tip end surface 26 of the projection 25 formed by the formation of the groove 4 is 0.1 mm, the width w -2 of the bottom surface 27 of the ventilation groove 24 is set.
Is about 0.9 mm.

【0032】かかるピックアップツール21において、
シャンク12の先端面と吸着用部材22とは気密接合が
好ましい。従って、接合手段として接着剤を使用した貼
着、ろー材を使用したろー付け、Oリングを介在させた
接合が適用可能であり、貼着が最も簡便であるが、吸着
用部材22としては金属や各種樹脂が使用可能であるた
め、吸着用部材22の材質を考慮して接合手段を選択す
ることが好ましい。
In such a pickup tool 21,
The tip end surface of the shank 12 and the suction member 22 are preferably air-tightly joined. Therefore, it is possible to apply a bonding method using an adhesive, a bonding method using a filler, and a bonding method using an O-ring as a bonding means, and the bonding method is the simplest. Since metals and various resins can be used, it is preferable to select the joining means in consideration of the material of the suction member 22.

【0033】図2において、吸着部材22-1は図1の吸
着部材22の実施例の詳細説明図であり、(a)は側面
図、(b)は下面図(吸着面図)である。ただし、図2
(b)は図の輻輳化を避け見やすくするため、凸部25
の先端面26と凸部25の切欠き28の切欠き端28′
を実線で表示し、正確には実線で表示されるべき断面V
字形状の通気溝24の底面27の表示を省略している。
In FIG. 2, the suction member 22-1 is a detailed explanatory view of the embodiment of the suction member 22 of FIG. 1, (a) is a side view, and (b) is a bottom view (suction surface view). However, FIG.
(B) shows the projection 25 to avoid congestion in the figure and to make it easier to see.
Notch end 28 'of notch 28 of notch 28 of convex portion 25
Is indicated by a solid line, and more precisely, the cross section V to be indicated by a solid line.
The illustration of the bottom surface 27 of the V-shaped ventilation groove 24 is omitted.

【0034】厚さが例えば3.3mmであり、中心部に
透孔23があけられている吸着部材22-1において、所
望部品例えば半導体ベアチップを真空吸着する下面(吸
着面)には、透孔23に対し同心の複数の通気溝24
と、通気溝24を形成したことで形成された複数の凸部
(25)と、凸部(25)の内側と外側の通気溝24を
連通させるため凸部(25)の一部を切欠いた切欠き2
8が形成されている。
[0034] a thickness of, for example 3.3 mm, in the adsorption member 22 -1 that hole 23 is opened in the center on the lower surface (suction surface) for vacuum suction of the desired component such as a semiconductor bare chip, holes A plurality of ventilation grooves 24 concentric with 23
And a plurality of projections (25) formed by forming the ventilation groove 24, and a portion of the projection (25) is cut out to communicate the ventilation groove 24 inside and outside the projection (25). Notch 2
8 are formed.

【0035】各凸部(25)の複数箇所(図は4箇所)
に形成した切欠き28は、透孔23から等角度の8方に
放射する放射線の中の4方かつ隣接しない放射線上であ
り、隣接する凸部(25)における切欠き28が同一放
射線上に位置しない、即ちジグザクコースを辿って隣接
する通気溝24が連通するように配設されている。
A plurality of portions (four portions in the figure) of each convex portion (25)
The notches 28 formed on the four sides of the radiation radiating in eight directions at equal angles from the through holes 23 are on non-adjacent radiations, and the notches 28 on the adjacent projections (25) are on the same radiation. It is arranged so that it is not located, that is, adjacent ventilation grooves 24 follow the zigzag course.

【0036】そして、複数の通気溝24はそれぞれが角
形のループ状でり、最も内側の通気溝24の底部と透孔
23の開口部に直結しており、図示実施例では透孔23
から奇数番目の凸部(25)の切欠き28が凸部(2
5)のコーナに位置するとき、透孔23から偶数番目の
凸部(25)の切欠き28は凸部(25)の四辺の中央
部に位置する。
Each of the plurality of ventilation grooves 24 has a rectangular loop shape, and is directly connected to the bottom of the innermost ventilation groove 24 and the opening of the through hole 23.
The notch 28 of the odd-numbered convex portion (25) is the convex portion (2
When it is located at the corner of 5), the notch 28 of the even-numbered projection (25) from the through hole 23 is located at the center of the four sides of the projection (25).

【0037】なお、透孔23から放射状の線上に形成さ
れた切欠き28の幅w-Xは、透孔23から遠ざかるに従
って狭く、例えば輪郭寸法が22mm×22mmの吸着
部材22-1において、最も内側の切欠き幅w-X=1.5
mmのとき最も外側の切欠き幅w-X=0.25mmにな
っている。
[0037] The width w -X notches 28 formed from holes 23 to the radial line is narrower as the distance from the through hole 23, for example the contour dimension in the adsorption member 22 -1 of 22 mm × 22 mm, most Inner notch width w -X = 1.5
mm, the outermost notch width w- X = 0.25 mm.

【0038】図3において、吸着部材22-2は図1の吸
着部材22の他の実施例の詳細説明図であり、(a)は
側面図、(b)は下面図(吸着面図)である。ただし、
図3(b)は図の輻輳化を避け見やすくするため、凸部
25の先端面26と凸部25の切欠き28の切欠き端2
8′を実線で表示し、正確には実線で表示されるべき断
面V字形状の通気溝24の底面27の表示を省略してい
る。
In FIG. 3, the suction member 22-2 is a detailed explanatory view of another embodiment of the suction member 22 of FIG. 1, (a) is a side view, and (b) is a bottom view (suction surface view). is there. However,
FIG. 3B shows the notch end 2 of the notch 28 of the protrusion 25 and the notch 28 of the protrusion 25 in order to avoid congestion in the figure and to make it easier to see.
8 'is indicated by a solid line, and more precisely, the display of the bottom surface 27 of the ventilation groove 24 having a V-shaped cross section, which should be indicated by the solid line, is omitted.

【0039】厚さが例えば3.3mmであり、中心部に
透孔23があけられている吸着部材22-1において、所
望部品例えば半導体ベアチップを真空吸着する下面(吸
着面)には、透孔23に対し同心の複数の通気溝24
と、通気溝24を形成したことで形成された複数の凸部
(25)と、凸部(25)の内側と外側の通気溝24を
連通させるため凸部(25)の一部を切欠いた切欠き2
8が形成されている。
[0039] a thickness of, for example 3.3 mm, in the adsorption member 22 -1 that hole 23 is opened in the center on the lower surface (suction surface) for vacuum suction of the desired component such as a semiconductor bare chip, holes A plurality of ventilation grooves 24 concentric with 23
And a plurality of projections (25) formed by forming the ventilation groove 24, and a portion of the projection (25) is cut out to communicate the ventilation groove 24 inside and outside the projection (25). Notch 2
8 are formed.

【0040】各凸部(25)の複数箇所(図は4箇所)
に形成した切欠き28は、透孔23から等角度の8方に
放射する放射線の中の4方かつ隣接しない放射線上であ
り、隣接する凸部(25)における切欠き28が同一放
射線上に位置しない、即ちジグザクコースを辿って隣接
する通気溝24が連通するように配設されている。
A plurality of portions (four portions in the figure) of each convex portion (25)
The notches 28 formed on the four sides of the radiation radiating in eight directions at equal angles from the through holes 23 are on non-adjacent radiations, and the notches 28 on the adjacent projections (25) are on the same radiation. It is arranged so that it is not located, that is, adjacent ventilation grooves 24 follow the zigzag course.

【0041】そして、複数の通気溝24はそれぞれが円
形のループ状でり、最も内側の通気溝24の底部と透孔
23の開口部に直結しており、図示実施例では透孔23
から奇数番目の凸部(25)の切欠き28が図の45度
の斜線上に位置するとき、透孔23から偶数番目の凸部
(25)の切欠き28は図の垂直方向および水平方向に
位置する。
Each of the plurality of ventilation grooves 24 has a circular loop shape, and is directly connected to the bottom of the innermost ventilation groove 24 and the opening of the through hole 23.
When the notch 28 of the odd-numbered projection (25) is positioned on the 45-degree oblique line in the figure, the notch 28 of the even-numbered projection (25) from the through-hole 23 Located in.

【0042】なお、透孔23から放射状の線上に形成さ
れた切欠き28の幅w-Xは、透孔23から遠ざかるに従
って狭く、例えば輪郭寸法が22mm×22mmの吸着
部材22-1において、最も内側の切欠き幅w-X=1.5
mmのとき最も外側の切欠き幅w-X=0.25mmにな
っている。
[0042] The width w -X notches 28 formed from holes 23 to the radial line is narrower as the distance from the through hole 23, for example the contour dimension in the adsorption member 22 -1 of 22 mm × 22 mm, most Inner notch width w -X = 1.5
mm, the outermost notch width w- X = 0.25 mm.

【0043】導体ベアチップを真空吸着する吸着部材2
2,22-1,22-2は、金属または硬質樹脂またはゴム
弾性を有する材料にて製造できるが、被吸着部品の表面
ダメージを考慮したとき、半導体ベアチップの吸着用と
しては、ショアー硬さが60°程度の樹脂、例えばウレ
タンまたはテフロンまたはネオプレンが好ましく、通気
溝の形成には、通常の手段、即ちレーザを使用したレー
ザ加工・金型を使用する熱プレス加工・マスクと溶剤を
使用する溶去法が適用できる。
Suction member 2 for vacuum-sucking conductive bare chips
2,22 -1 and 22 -2 can be made of metal, hard resin or material having rubber elasticity. However, in consideration of the surface damage of the parts to be sucked, Shore hardness is low for sucking semiconductor bare chips. A resin of about 60 °, for example, urethane or Teflon or neoprene is preferable. For forming the ventilation groove, usual means, ie, laser processing using a laser, hot press processing using a mold, melting using a mask and a solvent are used. The past method is applicable.

【0044】そして、前記樹脂にてなる吸着部材22,
22-1,22-2は、被吸着部品の大きさに合わせて切断
し使用することが可能であり、図1のピックアップツー
ル21は、シャンク12を図示しない真空装置に接続
し、該真空装置を駆動させると吸着部材22または22
-1または22-2の外側の空気は、通気溝24を通して吸
引され、吸着部材22,22-1,22-2の吸着面(図の
下面)に所望部品例えば半導体ベアチップを吸着する。
Then, the adsorbing member 22, which is made of the resin,
22 -1 and 22 -2 can be cut and used according to the size of the component to be sucked, and the pickup tool 21 shown in FIG. 1 connects the shank 12 to a vacuum device (not shown). Is driven, the suction member 22 or 22
The air outside of -1 or 22 -2 is sucked through the ventilation groove 24 and sucks a desired component, for example, a semiconductor bare chip, on the suction surface (the lower surface in the drawing) of the suction members 22, 22 -1 and 22 -2 .

【0045】[0045]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によるピッ
クアップツールは、吸着すべき所望部品の被吸着面に凸
部先端が当接し、所望部品吸着後も最も外側の凸部に形
成した切欠きから外気を吸入しながら、所望部品を保持
するようになる。
As described above, in the pick-up tool according to the present invention, the notch formed in the outermost convex portion even after the suction of the desired component, the tip of the protrusion contacting the suction surface of the desired component to be suctioned. While holding the outside air from above, the desired parts are held.

【0046】従って、被吸着面に対する吸着力が分散さ
れ、被吸着面の全面に渡って常時吸着力が作用すること
で、所望部品に対する吸着および品質が保証、即ち従来
のピックアップツールで生じたエッジの損傷および吸着
痕ならびに吸着力の不均一が解消する。
Therefore, the suction force to the suction surface is dispersed, and the suction force is constantly applied to the entire surface of the suction surface, so that the suction and quality of the desired component are guaranteed, that is, the edge generated by the conventional pickup tool. The damage to the surface and the adsorption marks and the non-uniformity of the adsorption force are eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例によるピックアップツールの説
明図である。
FIG. 1 is an explanatory view of a pickup tool according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例による吸着部材の説明図(その
1)である。
FIG. 2 is an explanatory view (No. 1) of the suction member according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例による吸着部材の説明図(その
2)である。
FIG. 3 is an explanatory view (part 2) of the suction member according to the embodiment of the present invention.

【図4】超硬質の吸着部材を備えたピックアップツール
の説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a pickup tool including a super-hard suction member.

【図5】吸着パッドを備えたピックアップツールの説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a pickup tool including a suction pad.

【図6】吸着面に凹凸を設けたピックアップツールの説
明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a pickup tool provided with irregularities on a suction surface.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12 シャンク 21 ピックアップツール 22,22-1,22-2 吸着部材 23 透孔 24 通気溝 25 凸部 26 凸部の先端面 27 通気溝の底面 28 切欠き12 the shank 21 pickup tool 22 -1,-out bottom surface 28 cut-out 22-2 suction member 23 through hole 24 ventilation channel 25 the distal end surface 27 ventilation grooves of the convex portion 26 protrusion

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 吸気孔が貫通するシャンクの先端面に、
該吸気孔に連通する透孔が設けられた吸着部材が接合さ
れ、該吸着部材の吸着面に所望部品を真空吸着するピッ
クアップツールであって、 該透孔が開口する該吸着面に、該透孔と同心かつ該所望
部品の真空吸着時に変形閉塞されない複数の通気溝が形
成され、該複数の通気溝によって該透孔と同心に形成さ
れた複数の凸部のそれぞれに、該凸部の内側と外側の該
通気溝に連通する切欠きが形成され、該透孔に最も近い
該通気溝が該透孔に連通していることを特徴とするピッ
クアップツール。
1. A shank through which an intake hole penetrates,
A suction tool provided with a through-hole provided in communication with the suction hole, for picking up a desired component on the suction surface of the suction member by vacuum, and the suction surface having the through-hole opened; A plurality of ventilation grooves which are concentric with the holes and are not deformed and closed at the time of vacuum suction of the desired component are formed. Each of the plurality of projections formed concentrically with the through holes by the plurality of ventilation grooves has an inner side of the projection. And a notch communicating with the outside ventilation groove, and the ventilation groove closest to the through hole communicates with the through hole.
【請求項2】 前記複数の凸部に形成された前記切欠き
の切欠き長が、該凸部が前記透孔から離れるに従って短
いことを特徴とする請求項1記載のピックアップツー
ル。
2. The pickup tool according to claim 1, wherein a notch length of the notch formed in the plurality of protrusions becomes shorter as the protrusions move away from the through hole.
【請求項3】 前記切欠きが前記凸部のそれぞれの4か
所に形成され、該4か所が、前記透孔から等角度の8方
に放射する放射線の中の間欠4方の放射線上であり、内
外方向に隣接する該凸部の該切欠きが同一放射線上に位
置しないことを特徴とする請求項1記載のピックアップ
ツール。
3. The notch is formed at each of four positions of the convex portion, and the four positions are formed on four intermittent radiations of radiation radiating in eight directions at an equal angle from the through hole. 2. The pickup tool according to claim 1, wherein the notches of the protrusions adjacent in the inward and outward directions are not located on the same radiation.
【請求項4】 前記通気溝および凸部が角形のループ状
であり、該凸部が台形断面であることを特徴とする請求
項1記載のピックアップツール。
4. The pickup tool according to claim 1, wherein the ventilation groove and the projection have a rectangular loop shape, and the projection has a trapezoidal cross section.
【請求項5】 前記通気溝および凸部が円形のループ状
であり、該凸部が台形断面であることことを特徴とする
請求項1記載のピックアップツール。
5. The pickup tool according to claim 1, wherein the ventilation groove and the projection have a circular loop shape, and the projection has a trapezoidal cross section.
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