JPH1138605A - Production of relief pattern - Google Patents

Production of relief pattern

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Publication number
JPH1138605A
JPH1138605A JP19241597A JP19241597A JPH1138605A JP H1138605 A JPH1138605 A JP H1138605A JP 19241597 A JP19241597 A JP 19241597A JP 19241597 A JP19241597 A JP 19241597A JP H1138605 A JPH1138605 A JP H1138605A
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JP
Japan
Prior art keywords
photosensitive resin
substrate
resin layer
film
thickness
Prior art date
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Pending
Application number
JP19241597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiji Fujita
瑛二 藤田
Satoshi Otomo
聡 大友
Seikichi Tanno
清吉 丹野
Hajime Kakumaru
肇 角丸
Yasuo Katsuya
康夫 勝谷
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP19241597A priority Critical patent/JPH1138605A/en
Publication of JPH1138605A publication Critical patent/JPH1138605A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to form uniform relief patterns to a large area with high accuracy by forming a photosensitive resin layer on a substrate having a surface region where surface roughness is within a specific range and exposing and developing this layer. SOLUTION: A photosensitive film having a base film and the photosensitive resin layer of 100 to 300 μm is thickness is honded onto a substrate having the surface region of 3 to 50 μm in Rz (ten point average roughness) by directing the photosensitive resin layer surface toward the substrate surface and is then exposed and developed, by which the relief patterns are formed on the substrate. The substrate having the surface region of 3 to 50 μm in Rz is a substrate for a rear surface plate of a plasma. display panel provided with electrodes of 3 to 50 μm height on a flat glass plate. The photosensitive film is obtd. by applying a soln. of a photosensitive resin compsn. on the base film (polyethylene terephthalate film) of 3 to 100 μm thickness and drying the coating, thereby forming the photosensitive resin layer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レリーフパターン
の製造法に関する。
[0001] The present invention relates to a method for producing a relief pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、精密加工業界、例えばプリント配
線板製造等において、めっき、エッチング等のレジスト
形成や、無電解めっきマスク、ソルダマスク等の永久マ
スク形成に、ポリエチレンテレフタレートフィルム等の
透明な支持体フィルム上に感光性樹脂層を形成し、その
上にポリエチレンフィルム等の保護フィルムを貼り合わ
せた、感光性フィルムを用いることは知られている。こ
の感光性フィルムを用いた写真法によるパターン形成法
では、スクリーン印刷法に比べ、厚さが均一で大面積に
細線を高精度に形成できる利点があるため、ICチップ
搭載用リードフレームの形成、カラーテレビ用、VTR
用、オーディオ用部品の形成など、各種産業用電子機器
の部品の形成が、民生用電子機器の部品の形成に広くそ
の適用の検討が進められている。これに伴い、表面に各
種金属の導電パターン等、高さが3〜30μmの凹凸を
有する基板上に、感光性パターンを高精度に均一に形成
することが必要となってきている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in the precision processing industry, for example, in the manufacture of printed wiring boards, a transparent support such as a polyethylene terephthalate film is used for forming a resist such as plating and etching, and for forming a permanent mask such as an electroless plating mask and a solder mask. It is known to use a photosensitive film in which a photosensitive resin layer is formed on a film, and a protective film such as a polyethylene film is bonded thereon. The lithographic pattern formation method using this photosensitive film has the advantage of being able to form fine wires with a uniform thickness and a large area with high precision compared to the screen printing method. For color TV, VTR
The formation of components for various industrial electronic devices, such as components for electronic devices and audio devices, has been widely studied for application to the formation of components for consumer electronic devices. Accordingly, it has become necessary to form a photosensitive pattern with high precision and uniformity on a substrate having irregularities of 3 to 30 μm in height, such as conductive patterns of various metals on the surface.

【0003】従来の感光性フィルムの感光性樹脂層の厚
さは25〜50μmが主体であるが、これらの感光性フ
ィルムでは貼り合わせた時、基板の凹凸を十分被覆する
ことができないため、基板上に気泡を巻き込むことな
く、感光性樹脂層を形成することは非常に困難である。
また、プリント配線板のソルダマスク形成においては、
高さ10〜20μmの銅パターンが形成されている基板
上に感光性樹脂層を形成する際、銅パターンを感光性樹
脂で十分被覆するために、真空下で張り合わせすること
を行っているが、工程が煩雑でしかも高い設備投資が必
要などの問題がある。また、プラズマディスプレイパネ
ルの背面板のアディティブ法(フォト埋込み法)による
障壁形成においては、高さが約10μm位のストライプ
状銀電極を有するガラス板上に感光性樹脂層を形成し、
公知のフォトパターニング法でレリーフパターンを作成
するが、この場合感光性樹脂層の厚さが50μm以下で
は、貼り合わせ方向に左右され電極のラインとクロス方
向で貼り合わせした場合には、気泡の巻き込みが避けら
れない問題がある。感光性樹脂層と基板との間に気泡等
の空隙があると、露光現像した時、得られる感光性樹脂
パターンに、浮き、欠け、断線等の不具合が発生し実用
に耐えない。
[0003] The thickness of a photosensitive resin layer of a conventional photosensitive film is mainly 25 to 50 µm. However, when these photosensitive films are bonded together, the unevenness of the substrate cannot be sufficiently covered. It is very difficult to form a photosensitive resin layer without involving air bubbles on it.
In the formation of a solder mask for a printed wiring board,
When forming a photosensitive resin layer on a substrate on which a copper pattern having a height of 10 to 20 μm is formed, in order to sufficiently cover the copper pattern with the photosensitive resin, bonding is performed under vacuum. There are problems that the process is complicated and that high equipment investment is required. In addition, in forming a barrier on a back plate of a plasma display panel by an additive method (photo embedding method), a photosensitive resin layer is formed on a glass plate having a striped silver electrode having a height of about 10 μm,
A relief pattern is formed by a known photo-patterning method. In this case, if the thickness of the photosensitive resin layer is 50 μm or less, depending on the bonding direction, if the bonding is performed in a cross direction with the electrode line, bubbles are trapped. There is an inevitable problem. If there is a gap such as air bubbles between the photosensitive resin layer and the substrate, the photosensitive resin pattern obtained upon exposure and development will have problems such as floating, chipping, disconnection, and the like, which is not practical.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】請求項1記載の本発明
は、表面粗さRz(十点平均粗さ)が3〜50μmの表
面領域を有する基板(例えば、各種金属の導電パターン
等の3〜50μmの凸部を表面に有する基板)上に、気
泡を巻き込むことなく感光性樹脂層を形成し、これを露
光、現像して大面積に高精度に均一なレリーフパターン
を形成できるレリーフパターンの製造法を提供するもの
である。請求項2記載の発明は、大面積の高品位なプラ
ズマディスプレイパネルに好適な、レリーフパターンの
設けられたプラズマディスプレイパネル背面板用基板を
製造できるレリーフパターンの製造法を提供するもので
ある。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a substrate having a surface area having a surface roughness Rz (ten-point average roughness) of 3 to 50 μm (for example, a metal pattern such as a conductive pattern of various metals). A substrate having a convex portion of about 50 μm on the surface), forming a photosensitive resin layer without involving air bubbles, exposing and developing the photosensitive resin layer to form a uniform relief pattern with high precision over a large area. It provides a manufacturing method. The invention according to claim 2 provides a method of manufacturing a relief pattern which can manufacture a plasma display panel rear plate substrate provided with a relief pattern, which is suitable for a large-area high-quality plasma display panel.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、支持体フィル
ム及び厚さが100〜300μmである感光性樹脂層を
有する感光性フィルムをRz(十点平均粗さ)が3〜5
0μmの表面領域を有する基板上に、感光性樹脂層面を
基板面に向けて貼り合わせ、その後、露光、現像するこ
とにより、基板上にレリーフパターンを形成することを
特徴とするレリーフパターンの製造法に関する。また、
本発明は、Rz(十点平均粗さ)が3〜50μmの表面
領域を有する基板が、平坦なガラス板上に高さ3〜50
μmの電極を設けたプラズマディスプレイパネルの背面
板用基板であるレリーフパターンの製造法に関する。
According to the present invention, a photosensitive film having a support film and a photosensitive resin layer having a thickness of 100 to 300 μm has an Rz (ten-point average roughness) of 3 to 5 mm.
A method of manufacturing a relief pattern, comprising: bonding a photosensitive resin layer surface to a substrate surface having a surface area of 0 μm with the photosensitive resin layer surface facing the substrate surface, and then exposing and developing to form a relief pattern on the substrate. About. Also,
According to the present invention, a substrate having a surface region having an Rz (ten-point average roughness) of 3 to 50 μm is formed on a flat glass plate with a height of 3 to 50 μm.
The present invention relates to a method for manufacturing a relief pattern which is a substrate for a back plate of a plasma display panel provided with a μm electrode.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】本発明に用いられる感光性フィル
ムは、厚さ3〜100μmの支持体フィルム(例えば、
ポリエチレンテレフタレートフィルム)の上に感光性樹
脂組成物の溶液を塗布し、乾燥させ感光性樹脂層を形成
させたものである。この感光性樹脂層は未硬化であり、
柔軟で幾分粘着性を有するので、必要に応じて、感光性
樹脂層の上に厚さ3〜100μmのポリエチレン等の保
護フィルムを貼り合わせて、外部からの損傷、異物の付
着を防止することができる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The photosensitive film used in the present invention is a support film (for example, having a thickness of 3 to 100 μm).
A photosensitive resin composition solution is applied on a polyethylene terephthalate film) and dried to form a photosensitive resin layer. This photosensitive resin layer is uncured,
Since it is flexible and somewhat sticky, a protective film such as polyethylene with a thickness of 3 to 100 μm may be stuck on the photosensitive resin layer as necessary to prevent external damage and adhesion of foreign matter. Can be.

【0007】前記感光性樹脂層は、光照射されることに
よりその性質(溶媒等に対する溶解性、粘着性、粘度、
流動性、弾性率、伸び、強度等の粘弾性、表面張力な
ど)が変化するものであり、このようなものとしては、
特に制限なく公知のものを使用でき、例えば、ネガ型感
光性樹脂組成物、ポジ型感光性樹脂組成物等を挙げるこ
とができる。ポジ型感光性樹脂組成物としては、特に制
限なく公知のものを使用でき、例えば、1,2−ナフト
キノンジアジド系化合物、o−ニトロベンジル系化合物
等を用いた可溶性基光生成型の組成物、オニウム塩等を
用いた光酸発生・酸分解型の組成物などが挙げられる。
ネガ型感光性樹脂組成物は、特に制限はなく公知のもの
を使用でき、例えば、(a)エチレン性不飽和化合物、
(b)フィルム形成性付与ポリマ及び(c)光重合開始
剤を必須成分とし、(d)染料又は顔料、(e)その他
添加物、(f)有機溶剤等を任意成分として含むことが
できる。
The photosensitive resin layer has properties (solubility in a solvent or the like, tackiness, viscosity,
Fluidity, elastic modulus, elongation, viscoelasticity such as strength, surface tension, etc.).
Any known materials can be used without particular limitation, and examples thereof include a negative photosensitive resin composition and a positive photosensitive resin composition. As the positive photosensitive resin composition, known ones can be used without particular limitation, for example, a soluble-based photogenerating composition using a 1,2-naphthoquinonediazide compound, an o-nitrobenzyl compound, or the like, Photoacid generation / acid decomposition type compositions using onium salts and the like are included.
The negative photosensitive resin composition is not particularly limited and known ones can be used. For example, (a) an ethylenically unsaturated compound,
(B) a film-forming property-imparting polymer and (c) a photopolymerization initiator as essential components, and (d) a dye or pigment, (e) other additives, and (f) an organic solvent as optional components.

【0008】前記(a)エチレン性不飽和化合物として
は、例えば、ブチルアクリレート、テトラエチレングリ
コールジアクリレート、γ−クロロ−β−ヒドロキシプ
ロピル−β′−メタクリロイルオキシエチル−o−フタ
レート、テトラプロピレングリコールジアクリレート、
2,2−ビス〔(4−メタクリロキシペンタエトキシ)
フェニル〕プロパン、トリメチロールプロパントリアク
リレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペ
ンタエリスリトールテトラアクリレート等のアクリレー
ト、これらに対応するメタクリレートが挙げられる。
Examples of the (a) ethylenically unsaturated compound include butyl acrylate, tetraethylene glycol diacrylate, γ-chloro-β-hydroxypropyl-β'-methacryloyloxyethyl-o-phthalate, tetrapropylene glycol diacrylate. Acrylate,
2,2-bis [(4-methacryloxypentaethoxy)
[Phenyl] propane, trimethylolpropane triacrylate, acrylates such as pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, and methacrylates corresponding thereto.

【0009】(b)フィルム形成性付与ポリマとして
は、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、アクリル酸の
炭素数1〜22のアルキルエステル、メタクリル酸の炭
素数1〜22のアルキルエステル、2−ヒドロキシエチ
ルアクリレート、、2−ヒドロキエチルシメタクリレー
ト、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、、2−ヒド
ロキシプロピルメタクリレート、メタクリル酸グリシジ
ル、ジエチルアミノエチルメタクリレート、ジメチルア
ミノプロピルメタクリレート、アクリロニトリル、N―
メチロールアクリルアミド、N―メチローメタアクリル
アミド、スチレン、ビニルトルエン等のビニル単量体と
これらのビニル単量体と共重合可能な単量体とを共重合
してなるビニル共重合体、ポリエステル、ポリアミド酸
等が挙げられる。環境性に優れたアルカリ現像液で現像
可能となる点から、(b)フィルム形成性付与ポリマが
カルボキシル基を有するポリマであることが好ましい。
(B) Examples of the film-forming polymer include acrylic acid, methacrylic acid, an alkyl ester of acrylic acid having 1 to 22 carbon atoms, an alkyl ester of methacrylic acid having 1 to 22 carbon atoms, and 2-hydroxyethyl. Acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxypropyl methacrylate, glycidyl methacrylate, diethylaminoethyl methacrylate, dimethylaminopropyl methacrylate, acrylonitrile, N-
Vinyl copolymers, polyesters and polyamides obtained by copolymerizing vinyl monomers such as methylol acrylamide, N-methyl methacrylamide, styrene and vinyl toluene with monomers copolymerizable with these vinyl monomers Acids and the like. It is preferable that the polymer (b) having a film-forming property is a polymer having a carboxyl group from the viewpoint that development can be performed with an alkaline developer having excellent environmental properties.

【0010】(c)光重合開始剤としては、例えば、ベ
ンゾフェノン、4、4′−ジエチルアミノベンゾフェノ
ン、2−エチルチオキサントン、1,7−ビス(9−ア
クリジニル)ヘプタン、ベンゾインメチルエーテル、ベ
ンジルジメチルケタール等が挙げられる。 (d)染料又は顔料としては、例えば、マラカイトグリ
ーン、フタロシアニングリーン等が挙げられる。 (e)その他添加物としては、例えば、ジエチレングリ
コール等の可塑剤、ベンゾトリアゾール、テトラゾール
等の密着性向上剤、レベリング効果や消泡効果のあるシ
リコン系界面活性剤、ロイコクリスタルバイオレット、
トリブロモメチルフェニルスルフォン等の発色剤などが
挙げられる。 (f)有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエ
チルケトン、トルエン、酢酸エチル、酢酸ブチル、2−
ブトキシエタノール、2−エトキシエタノール、2−エ
トキシエチルアセテートル、メタノール、N−メチルー
2―ピロリドン等が挙げられる。
(C) Examples of the photopolymerization initiator include benzophenone, 4,4'-diethylaminobenzophenone, 2-ethylthioxanthone, 1,7-bis (9-acridinyl) heptane, benzoin methyl ether, benzyldimethyl ketal and the like. Is mentioned. (D) Examples of the dye or pigment include malachite green and phthalocyanine green. (E) Other additives include, for example, a plasticizer such as diethylene glycol, an adhesion improver such as benzotriazole and tetrazole, a silicon-based surfactant having a leveling effect and an antifoaming effect, leuco crystal violet,
Coloring agents such as tribromomethylphenylsulfone; (F) As the organic solvent, for example, acetone, methyl ethyl ketone, toluene, ethyl acetate, butyl acetate, 2-
Butoxyethanol, 2-ethoxyethanol, 2-ethoxyethyl acetate, methanol, N-methyl-2-pyrrolidone and the like.

【0011】ここで、(a)成分の配合量は、フィルム
形成性、低エッジフュージョン性、光感度等の点から、
(a)成分及び(b)成分の総量100重量部に対して
20〜80重量部とすることが好ましい。また、(b)
成分の配合量は、光感度、低エッジフュージョン性、フ
ィルム形成性等の点から、(a)成分及び(b)成分の
総量100重量部に対して20〜80重量部とすること
が好ましい。また、(c)成分の配合量は、光感度等の
点から、(a)成分及び(b)成分の総量100重量部
に対して1〜10重量部とすることが好ましい。また、
(d)成分の配合量は、作業性等の点から、(a)成分
及び(b)成分の総量100重量部に対して0.1〜1
0重量部とすることが好ましい。また、(e)成分の配
合量は、その効果を充分発揮する点から、(a)成分及
び(b)成分の総量100重量部に対して0.1〜20
重量部とすることが好ましい。また、(f)成分の配合
量は、塗工性、生産性等の点から、(a)成分及び
(b)成分の総量100重量部に対して50〜300重
量部とすることが好ましい。
Here, the amount of the component (a) is determined from the viewpoints of film formability, low edge fusion, light sensitivity and the like.
The amount is preferably 20 to 80 parts by weight based on 100 parts by weight of the total of the components (a) and (b). (B)
The amount of the component is preferably 20 to 80 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the components (a) and (b) from the viewpoints of photosensitivity, low edge fusion properties, film forming properties, and the like. The amount of the component (c) is preferably 1 to 10 parts by weight based on 100 parts by weight of the total of the components (a) and (b) from the viewpoint of light sensitivity and the like. Also,
The amount of the component (d) is 0.1 to 1 based on 100 parts by weight of the total amount of the components (a) and (b) from the viewpoint of workability and the like.
It is preferably 0 parts by weight. The amount of the component (e) is 0.1 to 20 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the components (a) and (b) from the viewpoint of sufficiently exhibiting the effect.
It is preferable to use parts by weight. The amount of the component (f) is preferably 50 to 300 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the components (a) and (b) from the viewpoints of coatability, productivity and the like.

【0012】本発明における感光性樹脂層の厚さは75
〜300μmであり、厚い程、凹凸の被覆に効果的で、
その厚さは100μm以上が好ましく、160μm以上
がより好ましく、200μm以上であることが特に好ま
しい。厚さが、75μm未満では、凹凸の被覆に効果が
低く、300μmを超えると感度が低くなる。100μ
m以上の厚さの感光性樹脂層は、支持体フィルム上に感
光性樹脂組成物を所定厚さに塗布し、80〜130℃で
5〜10分間乾燥することにより得ることができる。ま
た、予め20〜90μm程度の厚さの感光性樹脂層を形
成しこれを多層貼り合わせて100μm以上の厚さの感
光性樹脂層とした感光性フイルムを用いても良い。感光
性樹脂層の流動性は、基板等の被着体への追従性、低変
形性、低エッジフュージョン性等の点から100〜30
0μmであることが好ましく、100〜250μmであ
ることがより好ましい。流動性を前記の範囲とすること
は、前記(a)〜(f)成分の種類と配合量を調節する
ことにより行うことができる。ここにいう流動性は、直
径20mm、厚さ2mmの感光性樹脂層をサンプルとし、こ
のサンプルを平面の基板上に置いて、その上に直径50
mmの円筒形の5kgの静荷重を加え、変形していく感光性
樹脂層の10秒後の厚み(T1μm)と900秒後の厚
み(T2μm)を測定した時のT1−T2(μm)であ
る。
In the present invention, the thickness of the photosensitive resin layer is 75
~ 300 μm, the thicker, the more effective at covering irregularities,
The thickness is preferably 100 μm or more, more preferably 160 μm or more, and particularly preferably 200 μm or more. If the thickness is less than 75 μm, the effect of covering the unevenness is low, and if it exceeds 300 μm, the sensitivity is low. 100μ
The photosensitive resin layer having a thickness of at least m can be obtained by applying the photosensitive resin composition to a predetermined thickness on a support film and drying at 80 to 130 ° C. for 5 to 10 minutes. Alternatively, a photosensitive film may be used in which a photosensitive resin layer having a thickness of about 20 to 90 μm is formed in advance, and this is laminated to form a photosensitive resin layer having a thickness of 100 μm or more. The fluidity of the photosensitive resin layer is 100 to 30 from the viewpoint of followability to an adherend such as a substrate, low deformability, low edge fusion, and the like.
It is preferably 0 μm, and more preferably 100 to 250 μm. The fluidity can be controlled within the above range by adjusting the types and amounts of the components (a) to (f). The fluidity herein refers to a photosensitive resin layer having a diameter of 20 mm and a thickness of 2 mm as a sample, which is placed on a flat substrate, and a diameter of 50 mm is placed thereon.
When a 5 kg static load of a 5 mm cylindrical shape is applied and the thickness (T 1 μm) of the photosensitive resin layer deforming after 10 seconds and the thickness (T 2 μm) after 900 seconds are measured, T 1 − T 2 (μm).

【0013】本発明におけるRz(十点平均粗さ)が3
〜50μmの表面領域を有する基板としては、各種プラ
スチック板、各種プラスチックフィルム、ガラスエポキ
シ板、セラミック板、FRP板、ガラス板及びそれらの
板やフィルムと各種金属箔と貼り合わせたシートであっ
てその表面に凹凸がありRz(十点平均粗さ)が3〜5
0μmであるものが挙げられる。また、前記した板やフ
ィルムやシートであってその表面が平坦なものの上に各
種金属の導体パターンを形成したもの等が挙げられ、そ
のようなものとして具体的には、平坦なガラス板上に高
さ3〜50μmの電極を設けたプラズマディスプレイパ
ネルの背面板用基板があり、この基板を用いた場合、本
発明の効果がよく発現する。Rz(十点平均粗さ)が3
μm未満又は50μmを超える場合は本発明の効果が充
分に発現しない。Rz(十点平均粗さ)が3〜50μm
の表面領域は、基板全体にわたっていてもよく、基板の
ほぼ全体にわたっていてもよく、基板の一部分に存在し
ていてもよい。
In the present invention, R z (ten-point average roughness) is 3
Substrates having a surface area of 5050 μm include various plastic plates, various plastic films, glass epoxy plates, ceramic plates, FRP plates, glass plates, and sheets obtained by laminating those plates and films with various metal foils. Rz (ten-point average roughness) of 3 to 5 with uneven surface
One having a thickness of 0 μm is exemplified. Further, the above-mentioned plate, film or sheet having a flat surface and a conductive pattern of various metals formed on the flat surface, and the like, specifically, as such, on a flat glass plate There is a substrate for a back plate of a plasma display panel provided with electrodes having a height of 3 to 50 μm, and when this substrate is used, the effects of the present invention are well exhibited. R z (ten point average roughness) is 3
If it is less than μm or more than 50 μm, the effects of the present invention will not be sufficiently exhibited. R z (ten-point average roughness) is 3 to 50 μm
May cover the entire substrate, may cover substantially the entire substrate, or may be present on a portion of the substrate.

【0014】本発明において、Rz(十点平均粗さ)が
3〜50μmの表面領域は、さらに、JIS B060
1で定義されるRmax(最大高さ)が、8μm以上であ
ると本発明の効果が顕著であり、10μm以上であると
より顕著である。本発明において、Rz(十点平均粗
さ)は、JIS B0601で定義されるものであり、
本発明では、基板の所定の表面領域からランダムに抽出
した少なくとも5箇所のRzの算術平均をRzとして採用
する。
In the present invention, the surface region having an Rz (ten-point average roughness) of 3 to 50 μm further complies with JIS B060.
The effect of the present invention is remarkable when R max (maximum height) defined by 1 is 8 μm or more, and more remarkable when it is 10 μm or more. In the present invention, R z (ten-point average roughness) is defined by JIS B0601,
In the present invention, an arithmetic average of at least five R z randomly extracted from a predetermined surface region of the substrate is adopted as R z .

【0015】感光性樹脂層を前記基板に貼り合わせる場
合、表面温度が25〜160℃のラミネータロールで3
〜7kgf/cm2加圧することにより、気泡巻き込みなく感
光性樹脂層を貼り合わせることができる。特にガラス板
上に、ストライプの銀等の電極を有するプラズマディス
プレイパネルの背面板ではラミネート方向が電極に対し
て平行方向、直角方向のいずれの方向でも気泡巻き込み
なく貼り合わせできる。
When the photosensitive resin layer is bonded to the substrate, a laminator roll having a surface temperature of 25 to 160.degree.
By applying a pressure of about 7 kgf / cm 2, the photosensitive resin layer can be bonded without entrapping air bubbles. In particular, on the back plate of a plasma display panel having a stripe-shaped silver electrode or the like on a glass plate, lamination can be performed in any of a direction parallel to the electrode and a direction perpendicular to the electrode without involving bubbles.

【0016】前記基板上に所定の厚さの感光性樹脂層を
形成した後、所定のパターンのネガマスクを通して活性
光線を照射する等してパターン状に露光し、その後、必
要に応じ、光硬化性を向上させるため60〜120℃で
1〜30分間加熱する。この際、用いる活性光線として
は、カーボンアーク灯、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、キ
セノンランプ等の紫外線を有効に放射するものが用いら
れる。パターン状に露光し、必要に応じ加熱処理した
後、支持体フィルムを剥がし、現像して感光性樹脂パタ
ーンを形成する。
After a photosensitive resin layer having a predetermined thickness is formed on the substrate, it is exposed in a pattern by irradiating active light through a negative mask having a predetermined pattern. Is heated at 60 to 120 ° C. for 1 to 30 minutes to improve the temperature. At this time, as an active ray to be used, a ray that effectively emits ultraviolet rays such as a carbon arc lamp, an ultra-high pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, and a xenon lamp is used. After exposure in a pattern form and, if necessary, heat treatment, the support film is peeled off and developed to form a photosensitive resin pattern.

【0017】ここで用いる現像液は未露光部又は露光部
を溶解、膨潤、剥離可能であれば特に制限はないが、例
えば、前記(a)〜(e)の組成の感光性樹脂層に対し
ては、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム等の弱アルカリ性
の稀薄水溶液が好適である。現像方法はディップ方式、
スプレー方式等によって行うことができる。これによ
り、前記基板上に、レリーフパターンを高精度に均一に
形成することができる。
The developer used herein is not particularly limited as long as it can dissolve, swell, and peel off the unexposed or exposed portions. For example, a weakly alkaline diluted aqueous solution such as sodium carbonate and potassium carbonate is preferable. Development method is dip method,
It can be performed by a spray method or the like. Thereby, a relief pattern can be formed on the substrate with high accuracy and uniformity.

【0018】[0018]

【実施例】次に、本発明を実施例により説明する。 実施例1〜5及び比較例1〜3 メタクリル酸メチル/アクリル酸エチル/メタクリル酸
共重合体(53/30/17(重量比)、重量平均分子量
10万)の41重量%メチルセロソルブ/トルエン(8
/2(重量比))溶液137g(固形分55g)、2,2
−ビス〔(4−メタクリロキシペンタエトキシ)フェニ
ル〕プロパン34g、γ−クロロ−β−ヒドロキシプロ
ピル−β′−メタクリロイルオキシエチル−o−フタレ
ート11g、2,2′−メチレンビス(4−エチル−6
−t−ブチルフェノール)0.1g、トリブロモメチル
フェニルスルフォン1.2g、1,7−ビス(9−アク
リジニル)ヘプタン0.2g、ベンジルジメチルケター
ル3g、ロイコクリスタルバイオレット1.0g、マラ
カイトグリーン0.05g、トルエン7g、メチルエチ
ルケトン13g及びメタノール3gを配合し、感光性樹
脂組成物の溶液を得た。
Next, the present invention will be described with reference to examples. Examples 1-5 and Comparative Examples 1-3 Methyl methacrylate / ethyl acrylate / methacrylic acid copolymer (53/30/17 (weight ratio), weight average molecular weight 100,000) 41% by weight of methyl cellosolve / toluene ( 8
/ 2 (weight ratio)) 137 g of solution (solid content 55 g), 2,2
-Bis [(4-methacryloxypentaethoxy) phenyl] propane 34 g, γ-chloro-β-hydroxypropyl-β′-methacryloyloxyethyl-o-phthalate 11 g, 2,2′-methylenebis (4-ethyl-6
-T-butylphenol) 0.1 g, tribromomethylphenylsulfone 1.2 g, 1,7-bis (9-acridinyl) heptane 0.2 g, benzyldimethylketal 3 g, leuco crystal violet 1.0 g, malachite green 0.05 g , Toluene 7 g, methyl ethyl ketone 13 g and methanol 3 g to obtain a photosensitive resin composition solution.

【0019】この感光性樹脂組成物の溶液を20μm厚
のポリエチレンテレフタレートフィルム上に均一に塗布
し、80〜120℃の熱風対流式乾燥機で5〜10分間
乾燥して感光性樹脂層を形成した。塗布厚さを調整し、
感光性樹脂層の乾燥後の膜厚が150μm、75μm、
50μmのフィルムを得た。ここで得られた150μm
厚の感光性樹脂層を形成したものをフィルム1、75μ
m厚を2層貼り合わせて150μm厚感光性樹脂層を形
成したものをフィルム2、50μm厚感光性樹脂層を形
成したものをフィルム3とする。
This photosensitive resin composition solution was uniformly coated on a polyethylene terephthalate film having a thickness of 20 μm, and dried with a hot air convection dryer at 80 to 120 ° C. for 5 to 10 minutes to form a photosensitive resin layer. . Adjust the coating thickness,
The thickness of the photosensitive resin layer after drying is 150 μm, 75 μm,
A 50 μm film was obtained. 150 μm obtained here
Thick photosensitive resin layer formed on film 1, 75μ
A film 2 having a thickness of 150 μm and a photosensitive resin layer having a thickness of 50 μm was formed as a film 2 and a film 3 having a thickness of 50 μm.

【0020】次いで、タテ30cm×ヨコ40cmのガラス
エポキシ板上にストライプ状銅ラインを形成した板(ガ
ラスエポキシ板の厚さ1.6mm、銅ライン厚18μm、
ライン幅150μm、ライン間隔150μm、18μm
z;L2.5mm:18μmRmax;L2.5mm)、タテ
30cm×ヨコ40cmの表面の平坦なガラス板上にストラ
イプ状銀ラインを形成した板(表面の平坦なガラス板の
厚さ3mm、銀ライン厚10μm、ライン幅100μm、
ライン間隔120μm、10μmRz;L2.5mm:1
0μmRmax;L2.5mm)の上に、フィルム1、2は
1回、フィルム3は3回貼り合わせて、150μm厚さ
の感光性樹脂層を形成した。なお、実施例5の場合に
は、タテ30cm×ヨコ40cmの表面の平坦なガラス板上
にストライプ状銀ラインを形成し、更にその上に誘電膜
を形成した板(表面の平坦なガラス板の厚さ3mm、銀ラ
イン厚10μm、ライン幅100μm、ライン間隔12
0μm、誘電膜厚10μm、9μmRz;L2.5mm:
9μmRmax;L2.5mm)上にフィルム2を貼り合わ
せて150μm厚の感光性樹脂層を形成した。ここで、
z(十点平均粗さ)及びRmax(最大高さ)は、JIS
B0601に準拠して測定した(測定には、触針式の
表面粗さ測定器のサーフコーダSE−30D((株)小坂
研究所製)を用い、各基板におけるストライプ状ライン
の長手方向に直角に触針を移動させた)。また、貼り合
わせはラミネートロール温度130℃、ロール圧4.0
kgf/cm2、速度1.0m/分の条件で行った。
Next, a plate in which striped copper lines were formed on a glass epoxy plate measuring 30 cm (length) × 40 cm (width) (a glass epoxy plate having a thickness of 1.6 mm, a copper line thickness of 18 μm,
Line width 150 μm, line interval 150 μm, 18 μm
R z; L2.5mm: 18μmR max; L2.5mm), vertical 30 cm × horizontal 40cm flat glass plate to form a stripe-shaped silver line on the plate (3mm thick flat glass plate surface of the surface of the silver Line thickness 10 μm, line width 100 μm,
Line spacing 120 μm, 10 μm R z ; L2.5 mm: 1
Films 1 and 2 were bonded once and film 3 was bonded three times on 0 μm R max ; L2.5 mm) to form a 150 μm thick photosensitive resin layer. In the case of Example 5, a plate in which stripe-shaped silver lines were formed on a flat glass plate having a length of 30 cm and a width of 40 cm and a dielectric film was further formed thereon (a flat glass plate having a flat surface) was formed. Thickness 3mm, silver line thickness 10μm, line width 100μm, line interval 12
0 μm, dielectric film thickness 10 μm, 9 μm R z ; L2.5 mm:
9 μm R max ; L2.5 mm) to form a 150 μm thick photosensitive resin layer. here,
R z (ten point average roughness) and R max (maximum height) are JIS
The measurement was carried out in accordance with B0601 (using a surf coder SE-30D (manufactured by Kosaka Laboratory Co., Ltd.) of a stylus-type surface roughness measuring device), and was perpendicular to the longitudinal direction of the striped line on each substrate. The stylus was moved to Lamination was performed at a laminating roll temperature of 130 ° C. and a roll pressure of 4.0.
The test was performed under the conditions of kgf / cm 2 and a speed of 1.0 m / min.

【0021】次に、ポリエチレンテレフタレート上にネ
ガマスクを載置し、3kw高圧水銀灯(HMW−590、
オーク製作所製)で60mJ/cm2の露光を行った。次い
で、露光後5分以内に80℃で10分加熱した。次い
で、ポリエチレンテレフタレートフィルムを剥がした
後、30℃、1重量%炭酸ソーダ水溶液でスプレー現像
を行い、水洗水切り後、80℃で5分乾燥してレリーフ
パターンを形成した。実施例1〜5、比較例1〜3につ
いて、貼り合わせ後の気泡の有無、現像後の感光性樹脂
パターンの異常の有無を調べた。これらの結果を表1に
示した。
Next, a negative mask was placed on polyethylene terephthalate, and a 3 kw high-pressure mercury lamp (HMW-590,
(Manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd.) at 60 mJ / cm 2 . Then, it was heated at 80 ° C. for 10 minutes within 5 minutes after exposure. Next, after peeling off the polyethylene terephthalate film, spray development was carried out with a 1% by weight aqueous solution of sodium carbonate at 30 ° C., washed with water and dried at 80 ° C. for 5 minutes to form a relief pattern. In Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 3, the presence or absence of bubbles after bonding and the presence or absence of abnormalities in the photosensitive resin pattern after development were examined. The results are shown in Table 1.

【0022】[0022]

【表1】 [Table 1]

【0023】表1の結果から明らかなように、厚い感光
性樹脂層を有する感光性フィルムを用いて貼り合わせた
ものは、基板に凹凸があっても、基板の凹凸を感光性樹
脂層で十分被覆することができるので感光性樹脂層と基
板間に気泡の巻き込みもなく貼り合わせ出来、これを露
光現像することによって良好な感光性樹脂パターンを形
成できる。
As is clear from the results shown in Table 1, in the case of bonding using a photosensitive film having a thick photosensitive resin layer, even if the substrate has irregularities, the irregularities of the substrate can be sufficiently covered with the photosensitive resin layer. Since it can be covered, it can be bonded without entrapment of air bubbles between the photosensitive resin layer and the substrate, and by exposing and developing this, a good photosensitive resin pattern can be formed.

【0024】[0024]

【発明の効果】請求項1記載のレリーフパターンの製造
法は、Rz(十点平均粗さが3〜50μmの表面領域を
有する基板(例えば、各種金属の導電パターン等の3〜
50μmの凸部を表面に有する基板)上に、気泡を巻き
込むことなく感光性樹脂層を形成し、これを露光、現像
して大面積に高精度に均一なレリーフパターンを形成で
きるものである。請求項2記載のレリーフパターンの製
造法は、大面積の高品位なプラズマディスプレイパネル
に好適な、その上にレリーフパターンの設けられたプラ
ズマディスプレイパネル背面板用基板を製造できるもの
である。
The method for producing a relief pattern according to the first aspect of the present invention is directed to a method for manufacturing a substrate having a surface region having a surface area of Rz (ten-point average roughness of 3 to 50 μm).
A photosensitive resin layer is formed on a substrate having a projection of 50 μm on the surface without entrapping air bubbles, and the photosensitive resin layer is exposed and developed to form a uniform relief pattern with high precision over a large area. The method for manufacturing a relief pattern according to the second aspect is capable of manufacturing a substrate for a rear plate of a plasma display panel provided with a relief pattern thereon, which is suitable for a large-area high-quality plasma display panel.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 角丸 肇 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎工場内 (72)発明者 勝谷 康夫 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎工場内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor: Hajime Kadomaru 4-3-1-1, Higashicho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture Inside the Yamazaki Plant of Hitachi Chemical Co., Ltd. No. 1 Hitachi Chemical Co., Ltd. Yamazaki Factory

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 支持体フィルム及び厚さが100〜30
0μmである感光性樹脂層を有する感光性フィルムをR
z(十点平均粗さ)が3〜50μmの表面領域を有する
基板上に、感光性樹脂層面を基板面に向けて貼り合わ
せ、その後、露光、現像することにより、基板上にレリ
ーフパターンを形成することを特徴とするレリーフパタ
ーンの製造法。
1. A support film and a thickness of 100 to 30.
A photosensitive film having a photosensitive resin layer of
z The surface of the photosensitive resin layer is bonded to a substrate having a surface area of 3 to 50 μm (ten-point average roughness), and then exposed and developed to form a relief pattern on the substrate. A method for producing a relief pattern.
【請求項2】 Rz(十点平均粗さ)が3〜50μmの
表面領域を有する基板が、平坦なガラス板上に高さ3〜
50μmの電極を設けたプラズマディスプレイパネルの
背面板用基板である請求項1記載のレリーフパターンの
製造法。
2. A substrate having a surface area with a Rz (ten-point average roughness) of 3 to 50 μm on a flat glass plate having a height of 3 to 50 μm.
The method for producing a relief pattern according to claim 1, which is a substrate for a back plate of a plasma display panel provided with an electrode of 50 µm.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007304536A (en) * 2006-04-13 2007-11-22 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition
JP2011049294A (en) * 2009-08-26 2011-03-10 Panasonic Electric Works Co Ltd Manufacturing method of circuit board and circuit board obtained thereby

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007304536A (en) * 2006-04-13 2007-11-22 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition
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