JPH1138375A - 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 液晶表示装置の静電気による表示欠陥を防止
し、また簡易な一括画像検査を可能にする。 【解決手段】 互いに交差させて配置した複数のゲート
配線２と、複数のソース配線３と、両配線２，３の各交
差点にＴＦＴ５と表示電極６とがマトリックス状に複数
配列され、さらに液晶層を挟んで対向基板７が設けられ
た液晶表示装置において、ゲート配線２およびソース配
線３を、高抵抗の配線材を用いて複数本で短絡した並列
配線17を介して接続することによって低抵抗にし、この
ため静電気の侵入に対しては高抵抗の配線にて侵入を防
止し、しかもゲート配線２およびソース配線３は低抵抗
にて短絡して良好な表示検査を可能にする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、基板の一主面上に
信号配線および走査配線が配設された液晶表示装置に適
用され、その表示品位などを確認するため検査方法およ
びその検査方法に対応した構成の液晶表示装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】現在、薄膜トランジスタ(以下、ＴＦＴ
と略記する)アレイ基板を用いた液晶表示装置は、薄
型，軽量になるという利点からカーテレビ，ノートブッ
ク型のコンピュ−タにおけるディスプレイ，ナビゲーシ
ョンなどに用いられており、近年では携帯用端末機器な
どにも用いられ、特に情報機器においてその用途が広が
っている。そして、これらの需要の広がりに対応するた
め、液晶パネルの製造工程における生産性の向上を図る
ことが急務となっている。

【０００３】図６を参照して従来のＴＦＴアレイ基板を
有する液晶表示装置の構成とその検査方法の一例を説明
する。

【０００４】図６は従来のＴＦＴアレイ基板を用いた液
晶表示装置の平面構成図である。従来の液晶表示装置に
おいて、ＴＦＴアレイ基板１には、その一主面上のＸ方
向には走査配線であるゲート配線２群が、またＹ方向に
は信号配線であるソース配線３群が、それぞれ等ピッチ
で延在している。ゲ−ト配線２とソ−ス配線３の各交点
にはＴＦＴ５が設置されている。ＴＦＴアレイ基板１上
では静電気の侵入を分散する目的のために、ゲート配線
２とソース配線３はそれぞれ短絡されており、かつ静電
気侵入時のＴＦＴ５の破壊を防ぐために挿入抵抗４を有
している。

【０００５】また透明導電体からなる表示電極６がＴＦ
Ｔ５と接続する形で設置されている。ＴＦＴ５はスイッ
チ素子として働き、パルス信号がゲ−ト配線２に入力さ
れることによってオン状態となる。そしてソ−ス配線３
からそのオン状態のＴＦＴ５を経由して接続された表示
電極６に映像信号が供給される。ゲ−ト配線２に信号が
入力されない期間はＴＦＴ５がオフ状態である。表示電
極６に供給された映像信号はゲート配線２に次のパルス
信号が加えられるまで保持される。

【０００６】ＴＦＴアレイ基板１と対向する対向基板７
が一定のギャップを保持しながら配設されている。対向
基板７には透明導電体からなる共通電極８が配設され、
共通電極８は導電ペースト９を介してＴＦＴアレイ基板
１上に取り出されるようになっている。そして前記ギャ
ップ間に液晶が注入され、表示電極６に供給された映像
信号の大きさによって、共通電極８と表示電極６間の電
圧、つまり液晶に印加される電圧が変化する。液晶に印
加された電圧によって、公知のように液晶分子の配向状
態が変化し、液晶表示装置における画素の明るさが変化
する。

【０００７】前記液晶表示装置の製造工程において、液
晶を注入しその注入部分を封口した後に、表示品位を確
認するために画像検査を行っている。

【０００８】前記検査を行う方法は様々であるが、一般
的に行われている検査の一例、すなわちゲート配線２，
ソース配線３の各１本１本に信号を印加して画像を確認
する方法を図６を参照して説明する。ＴＦＴアレイ基板
１上で短絡されているゲート配線２およびソース配線３
の短絡部である挿入抵抗４部分をレーザなどを用いて切
断しておき、ソース実装部10とゲート実装部11とにそれ
ぞれプローブのピンを当ててゲート配線２，ソース配線
３，対向基板７に対して実際に使用される信号を印加し
て画像の検査を行う。

【０００９】この検査方法では、配線数が多くなるほど
使用するピン数も増えるため、コストが多くかかり、か
つ前記ピンをソース実装部10，ゲート実装部11に正確に
アライメントする必要があるため、生産性が悪いという
問題があった。

【００１０】このため検査効率を向上させることを目的
として、信号配線および走査配線を短絡して結び、全信
号ラインと走査ラインに同一の信号を印加して検査を行
うようにした簡易検査方法がある。

【００１１】図７は前記簡易検査方法の一例を説明する
ためのＴＦＴアレイ基板を用いた液晶表示装置の平面構
成図である。なお、以下の説明において、既に前におい
て説明されている部材に対応する部材には同一符号を付
して詳しい説明は省略する。

【００１２】図７において、12はＴＦＴアレイ基板１上
で短絡されているゲート一括配線、13は同様に短絡され
ているソース一括配線、14はゲート一括配線12に接続さ
れたゲート電極一括パッド、15はソース一括配線13に接
続されたソース電極一括パッドである。ゲート配線２に
はゲート一括配線12を介してＴＦＴ５がオンとなる電圧
とオフとなる電圧をパルス信号で印加し、またソース配
線３にはソース一括配線13を介して対向基板７との間に
白から黒の表示を行うためのパルス信号を印加すること
によって簡易の画像検査を行い、検査後に前記短絡部分
をレーザなどを用いて分離する。

【００１３】この簡易検査方法によれば、印加する電圧
のピン数は、少なくともゲート電極一括パッド14，ソー
ス電極一括パッド15，対向電極パッド16に印加する３本
さえあれば検査を行うことができるため、検査設備が簡
略化され、しかも検査タクトを大幅に向上させることが
可能である。このため、近年では前記簡易検査方法が多
く用いられるようになってきた。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の簡易検査方法では、ゲート配線２およびソース配線
３を低抵抗によって短絡すると、電荷の移動が容易にな
るため電荷の変動に対してゲート配線２またはソース配
線３に静電気が侵入しやすくなる。静電気は、一般的に
集中して侵入するために、数本のＴＦＴ５を破壊してし
まうという問題を有していた。このため前記短絡部分に
静電気の侵入を防止するために挿入抵抗４を必要として
いた。

【００１５】しかし、ゲート配線２およびソース配線３
を高抵抗によって短絡すると、この検査方法が一括して
パルス信号により電圧を印加する方法であるために、時
定数によりパルス信号が歪み、ＴＦＴ５に正規の信号が
印加されなくなる。したがって、ゲート信号が歪んだ場
合、ＴＦＴ５がオンまたはオフしなくなり、ノーマーリ
ーホワイト表示の場合、黒の表示が浮いてしまうという
問題が生じる。またソース信号が歪んだ場合、ＴＦＴ５
に信号が印加されなくなり、白または黒の表示が行われ
ないという問題も生じる。これらの問題は、特に大画
面，高精細な液晶表示パネルでは顕著である。

【００１６】本発明は、前記従来の問題を解決し、静電
気の侵入を防止し、かつ簡易の一括画像検査が可能であ
り、生産性の大幅な向上が図れる液晶表示装置の検査方
法および液晶表示装置を提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置
は、基板の一主面上に、信号配線および走査配線が配設
された液晶表示装置において、前記信号配線および走査
配線の少なくとも一部が２本以上の並列配線を介して短
絡した状態で画像検査などの特性検査が行われるように
したものであって、配線抵抗に応じた配線本数によって
短絡することができるため、高抵抗の材料を用いながら
低抵抗に接続することが可能になり、このため静電気の
侵入に対しては高抵抗の配線でその侵入を防止し、しか
も各配線は低抵抗にて短絡することが実現され、良好な
状態で検査が行われることになる。

【００１８】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、基板の一主面上に信号配線および走査配線が配設さ
れた液晶表示装置を製造するための工程に用いられる液
晶表示装置の検査方法において、前記信号配線または前
記走査配線の少なくとも一部を２本以上の並列配線を介
して短絡した状態で特性検査を行うことを特徴とし、高
抵抗の配線材を用い急激な静電気の侵入を防ぎながら低
抵抗に短絡することができるため、良好な状態で適正な
検査が行われる。

【００１９】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の発明において、信号配線または走査配線を並列配線に
よって一括に結合することを特徴とし、配線に対して一
括して電圧を印加することができ、検査効率がよくな
る。

【００２０】請求項３に記載の発明は、請求項２に記載
の発明において、並列配線の配線の少なくとも１本を他
の並列に配置された配線と異なる抵抗値に設定すること
を特徴とし、静電気の侵入に対し最も抵抗値の低い配線
をヒューズの役割として用いることによって静電気から
保護し、残る配線によって配線を一括して電圧を印加す
ることができる。

【００２１】請求項４に記載の発明は、基板の一主面上
に信号配線および走査配線が配設された構成の液晶表示
装置において、前記基板に、前記信号配線または前記走
査配線の少なくとも一部を結合する２本以上の並列配線
を設けたことを特徴とし、装置の特性検査に際して、高
抵抗の配線材を用い急激な静電気の侵入を防ぎながら低
抵抗に短絡できて、自体の特性検査に際して、良好な状
態で適正な検査が行われるようになる。

【００２２】請求項５に記載の発明は、請求項４に記載
の発明において、並列配線によって信号配線または走査
配線を一括に結合したことを特徴とし、配線に対して一
括して電圧を印加することができる。

【００２３】請求項６，７に記載の発明は、請求項５に
記載の発明において、並列配線の少なくとも一部分をシ
ート抵抗１Ω／□以上の抵抗値を有する材料、例えばＩ
ＴＯによって形成したことを特徴とし、形成するパター
ンの幅，長さおよび並列配線の本数を適宜調整すること
によって、数Ωから数十キロΩの配線抵抗に設定するこ
とができる。

【００２４】請求項８に記載の発明は、請求項４に記載
の発明において、並列配線における配線の少なくとも１
本を他の並列に配置された配線と異なる抵抗値に設定し
たことを特徴とし、静電気の侵入に対し最も抵抗値の低
い配線をヒューズの役割として用いることで、装置を静
電気から保護し、残る配線によって配線を一括して電圧
を印加することができる。

【００２５】以下、本発明の実施の形態について図面を
参照して説明する。

【００２６】図１は本発明の第１実施形態を説明するた
めの液晶表示装置の一部の拡大図であって、図７のＡ部
に相当する部分である。図２は図１のＢ部における並列
配線の拡大図である。

【００２７】図１において、ガラスからなるＴＦＴアレ
イ基板１上に、走査配線であるゲート配線２，信号配線
であるソース配線３，スイッチング素子としてのＴＦＴ
５、および表示電極６が形成され、すべてのゲート配線
２，ソース配線３に同じ信号が印加されるように並列配
線17を介してそれぞれ短絡されている。ＴＦＴアレイ基
板１に対して一定のギャップを保持しながら対向基板７
が配設され、図７に示すように、対向基板７には、透明
導電体からなる共通電極８が導電ペースト９を介してＴ
ＦＴアレイ基板１上に取り出されている。そして前記ギ
ャップ間に液晶が注入されている。

【００２８】ここで、図２に示すように、並列配線17に
高抵抗の配線材料を用い、複数本ｎの配線で短絡する。
この配線１本がＲ(Ω)の配線抵抗であった場合、短絡し
ている抵抗値Ｒnは、(数１)に示すように、

【００２９】

【数１】

【００３０】となる。

【００３１】したがって、配線抵抗Ｒに応じた配線本数
ｎにて短絡することによって、高抵抗の配線材料を用い
ながら低抵抗に接続することができる。ゲート配線２側
も同様である。このため静電気の侵入に対しては高抵抗
の配線にて侵入を防止し、しかもゲート配線２およびソ
ース配線３は低抵抗にて短絡することが可能となる。

【００３２】図３は本発明の第２実施形態を説明するた
めのＴＦＴアレイ基板を用いた液晶表示装置の平面構成
図である。

【００３３】図３に示す装置の構成は、図７における挿
入抵抗４部に並列配線17を配したものである。第２実施
形態の装置の構成では、ゲート配線２およびソース配線
３は並列配線17を介してゲート一括配線12，ソース一括
配線13にそれぞれ接続されており、ゲート一括配線12に
接続されたゲート電極一括パッド14と、ソース一括配線
13に接続されたソース電極一括パッド15と、導電ペース
ト９に接続された対向電極パッド16とを備えている。

【００３４】これらのゲート一括配線12，ソース一括配
線13に高抵抗の配線材料を用いることによって低抵抗に
接続することができる。実験による確認によれば、静電
気は１本の配線に対して侵入するため、高抵抗値の配線
を使用することにより、静電気の侵入を防止することが
できた。またゲート配線２，ソース配線３に対する電圧
の印加は、並列配線の全体の抵抗値にかかるために、並
列で接続することによって低抵抗化が実現できた。この
ためすべての表示電極６には、同じ映像信号が良好に供
給され、液晶表示装置の簡易検査のための画像表示が可
能となった。

【００３５】図４は本発明の第３実施形態を説明するた
めの並列配線を示す拡大図であり、第３実施形態は並列
配線17の高抵抗配線材料としてＩＴＯを用いたものであ
る。ＩＴＯ配線は比抵抗が比較的高く、シート抵抗が１
Ω／□以上の抵抗値を有する。仮にシート抵抗が50Ω／
□とすれば、本例のように配線幅を20μｍ，配線長を50
0μｍとした場合、１本の配線は1.25kΩの抵抗値を有す
る。この配線を並列に５本接続すれば、この並列配線の
接続抵抗は１／５になって250Ωとなる。このため、配
線幅，長さ，本数を適宜調整することにより、数キロΩ
から数十キロΩの抵抗値に設定することができる。した
がって、液晶表示装置の大きさ，配線本数に応じた抵抗
値を任意に設定することが可能となる。

【００３６】図５は本発明の第４実施形態を説明するた
めの並列配線を示す拡大図であり、第４実施形態におけ
る液晶表示装置は、前記のように並列配線17を備えてい
るが、並行配線17の内、少なくとも１本(図５では左側
の配線ａ)の配線長を他の配線ｂに対して配線長を異な
らしたものである。図５において、配線ａは他の配線ｂ
の半分の長さとすることによって、抵抗値を半分に設定
することができる。ここで静電気が侵入した場合、その
静電気を抵抗値の低い配線ａに選択的に侵入させること
ができる。このときに配線ａを静電気によって焼き切れ
るような、抵抗値，配線幅に設定することにより、ヒュ
ーズの役割を持たすことができる。

【００３７】第４実施形態の構成の場合では、配線ａの
配線長を他の配線ｂの１／２である250μｍとすること
によって、配線ａの抵抗値が低くなるようにした。この
ヒューズとしての配線ａによって静電気のサージを吸収
し、液晶表示装置の保護を可能とした。また簡易の画像
検査時においては、他の配線によって接続されているた
め電圧の印加が可能になり、検査のための画像表示が可
能となった。

【００３８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の液晶表示
装置の検査方法および液晶表示装置によれば、静電気の
侵入に対して装置の構成部材を保護することができ、し
かも簡易な一括画像検査を行えるため、生産性を大幅に
向上させることが実現する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施形態を説明するための液晶表
示装置における要部の拡大図である。

【図２】第１実施形態における図１のＢ部における並列
配線の拡大図である。

【図３】本発明の第２実施形態を説明するための液晶表
示装置における平面構成図である。

【図４】本発明の第３実施形態を説明するための並列配
線を示す拡大図である。

【図５】本発明の第４実施形態を説明するための並列配
線を示す拡大図である。

【図６】従来のＴＦＴアレイ基板を用いた液晶表示装置
の平面構成図である。

【図７】従来の液晶表示装置に対する簡易検査方法の一
例を説明するための液晶表示装置の平面構成図である。

【符号の説明】

１…ＴＦＴアレイ基板、 ２…ゲ−ト配線、 ３…ソー
ス配線、 ５…薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）、 ６…表
示電極、 ７…対向基板、 ８…共通電極、 ９…導電
ペースト、 10…ソース実装部、 11…ゲート実装部、
12…ゲート一括配線、 13…ソース一括配線、 14…
ゲート電極一括パッド、 15…ソース電極一括パッド、
16…対向電極パッド、 17…並列配線、 ａ…低抵抗
配線、 ｂ…高抵抗配線。

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基板の一主面上に信号配線および走査配
   線が配設された液晶表示装置を製造するための工程に用
   いられる液晶表示装置の検査方法において、前記信号配
   線または前記走査配線の少なくとも一部を２本以上の並
   列配線を介して短絡した状態で特性検査を行うことを特
   徴とする液晶表示装置の検査方法。
2. 【請求項２】 前記信号配線または前記走査配線を前記
   並列配線によって一括に結合することを特徴とする請求
   項１記載の液晶表示装置の検査方法。
3. 【請求項３】 前記並列配線において、その配線の少な
   くとも１本を他の並列に配置された配線と異なる抵抗値
   に設定することを特徴とする請求項２記載の液晶表示装
   置の検査方法。
4. 【請求項４】 基板の一主面上に信号配線および走査配
   線が配設された構成の液晶表示装置において、前記基板
   に、前記信号配線または前記走査配線の少なくとも一部
   を結合する２本以上の並列配線を設けたことを特徴とす
   る液晶表示装置。
5. 【請求項５】 前記並列配線によって前記信号配線また
   は前記走査配線を一括に結合したことを特徴とする請求
   項４記載の液晶表示装置。
6. 【請求項６】 前記並列配線の少なくとも一部分をシー
   ト抵抗１Ω／□以上の抵抗値を有する材料によって形成
   したことを特徴とする請求項４または請求項５記載の液
   晶表示装置。
7. 【請求項７】 前記並列配線の少なくとも１部分をＩＴ
   Ｏによって形成したことを特徴とする請求項６記載の液
   晶表示装置。
8. 【請求項８】 前記並列配線における配線の少なくとも
   １本を他の並列に配置された配線と異なる抵抗値に設定
   したことを特徴とする請求項４記載の液晶表示装置。