JPH11352509A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH11352509A JPH11352509A JP16353198A JP16353198A JPH11352509A JP H11352509 A JPH11352509 A JP H11352509A JP 16353198 A JP16353198 A JP 16353198A JP 16353198 A JP16353198 A JP 16353198A JP H11352509 A JPH11352509 A JP H11352509A
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Abstract
続、インターフェースケーブルのシールドGNDと回路
基板GNDとの接続といった多数ある様々なGNDとの
接続箇所数・位置を、EMI評価時にチップ部品の実装
の有無を選択することにより最適化することのできる液
晶表示装置を提供する。 【解決手段】 本発明の液晶表示装置は、回路基板上の
筐体とのGND接続箇所を複数持ち、その接続箇所と回
路基板上のGNDとを0Ω抵抗などのチップ部品の実装
のみを介することによって回路基板全体と筐体とがGN
D接続されてなることを特徴とする。
Description
路基板の接続方法に関するものである。
かわる電源や電気信号の制御のための制御回路などが備
えられている種々の回路基板が含まれている。これらの
回路基板は、電磁不要輻射ノイズ(Electro-Magnetic I
nterference)(以下、「EMI」という)低減のため
に、多数設けられている回路基板上のGNDと導電性筐
体(以下、「フレーム」と表記する)とのGND接続の
最適化は通常、回路基板の試作時の評価において試行錯
誤的に行われる。その結果によっては、評価時には導体
パターンにて接続されていた回路基板とフレームとのG
ND接続を回路基板上の全箇所で、あるいは部分的に絶
縁する必要が生じる場合がある。絶縁する方法は、
(ア)回路基板とフレームとがネジにて組み立てられる
場合には、金属製ネジではなく樹脂製ネジを用いる、あ
るいは(イ)スルーホール化されているネジ穴と回路基
板GNDとを非接続とするように導体パターンが分離さ
れて形成された別基板を用意する、といったことによっ
て行われている。樹脂製ネジのばあいには金属製に比べ
て、(i)強度が劣るためにネジ山がつぶれやすい(特
に電動ドライバーを用いるばあいは顕著)、(ii)ネジ
自体がコスト高である、または(iii)ネジ種類が増え
組み立て時の作業性が悪くなる(金属製ネジと混在した
ばあい、作業者が間違う可能性が高くなる)といった問
題があるために採用しづらい(量産には不向き)。その
ため、回路基板とフレームとの組み立てには金属製ネジ
を用いており、回路基板とフレームとの絶縁は通常は回
路基板上のネジ穴ランドとのパターン分離により行われ
るが、回路基板の再製作又は別基板を同時に用意すると
いったことが強いられ、開発費用あるいは期間の増大を
招く。また、図4に示すようなLVDS(Low Voltage
Differential Signaling)インターフェースに使用され
るGNDシールド付きのコネクタ(日本航空電子製:F
I−WE−21P−HF)があり、図5に示した回路基
板上の部品パッドのようにコネクタ外皮部分のシールド
導体はコネクタ補強用パッド10に電気的に接続されて
おり、内部ピンと分離可能となっている。前述のフレー
ムGND(以下、「FG」という)は、回路基板上の信
号用GND(以下、「SG」という)と区別できるが、
その扱いを誤ると、フレームと回路基板との間隙による
容量成分などに起因する共振現象が生じるといった具合
にフレームまたはケーブル自体がアンテナとなって不要
輻射ノイズが大きくなる場合がある。したがって、表示
信号を発生するシステム側から液晶表示装置へのインタ
ーフェースケーブルにおける外皮導体部分のGNDが電
位的に安定しているばあいにはこの外皮導体部分のGN
Dを利用するシールド効果が期待できる。しかしなが
ら、図8、図9のように回路のGNDと一括接続(補強
用パッド10の下部の引き出しパターンから他層のGN
Dベタパターンへの内層接続バイアホール12)される
とそのシールド効果がグランドバウシング(ICスイッ
チング時の電流、回路基板における浮遊容量および浮遊
誘導性のノイズなどに起因する電位的揺れ)により、逆
に悪影響を及ぼすことがある。こういったことから、製
品毎にEMIノイズレベルを測定して試行錯誤的な対策
を行っている現状では、フレーム、回路基板またはイン
タフェースケーブルなどの各GND状態の最適化を行う
ことが必要となっている。したがって、図10に示すよ
うに回路基板のGNDを全箇所同様に導体パターンで接
続(一括接続)したばあいには前述のGND接続状態の
最適化が容易に行えない。
位置・数を検討するには、ばあいの数だけ基板を用意す
る、あるいはFG接続箇所全てパターンにて接続した状
態で絶縁ネジ等による絶縁を行って最適となるFG接続
状態を把握してから、絶縁する箇所をパターン分離する
というように再製作する必要がある。
接続、インターフェースケーブルのシールドGNDと回
路基板GNDとの接続といった多数ある様々なGNDと
の接続箇所数・位置を、EMI評価時にチップ部品の実
装の有無を選択することにより最適化することによって
基板試作回数を削減し、開発費用・期間短縮化を図るこ
とを目的としている。
わる液晶表示装置は、回路基板上における筐体とのGN
D接続箇所を複数持ち、その接続箇所と回路基板上のG
NDとをチップ部品の実装のみを介することによって回
路基板全体と筐体とがGND接続されてなることを特徴
とする。
は、前記筐体と1つのGND接続箇所につき複数個のチ
ップ部品が備えられている。
は、前記チップ部品が0Ω抵抗である。
は、表示信号を発生するシステム側と電気的に接続さ
れ、かつ、信号用GND以外のシールド用GNDとなる
外皮導体を持つインターフェースコネクタを搭載する液
晶表示装置において、回路基板上における液晶表示装置
の筐体との接続部分と、前記コネクタにおけるシールド
GNDに電気的に接続されるコネクタ補強用パッドとが
導体パターンおよび第1のチップ部品実装で接続され、
前記筐体との接続部分と回路基板上のGNDとを第2の
チップ部品の実装のみを介することによって回路基板全
体と前記筐体とがGND接続されていることを特徴とす
る。
は、前記筐体との1つのGND接続箇所につき複数個の
前記第2のチップ部品が設けられている。
は、前記第2のチップ部品が0Ω抵抗である。なお、本
明細書中で使用される「0Ω抵抗」とは、両電極間が導
電体で接続され短絡されている状態におけるこの電極間
の抵抗をいうものとする。
らに詳細に本発明の実施の形態について説明する。
の拡大説明図であり、本発明の実施の形態1の一例を示
した図である。また、図3はその拡大部分を回路基板全
体に拡張したものである。チップ部品1をパッド2に実
装すればネジ穴ランド接続導体パターン3を介してスル
ーホール化されているネジ穴ランド5に接続され、この
ネジ穴に用いられる金属ネジがフレームと接続され、し
たがってGND接続される。逆にチップ部品1を未実装
とすれば、前記ネジ穴に用いられるネジが金属ネジであ
ってもFGと分離できる。このチップ部品を実装するこ
とによるFG接続を回路基板上の全接続箇所に行えば、
チップ部品を実装する、または、しないという選択また
は変更によりFG接続状態を容易に変更でき、製品ごと
にEMIノイズレベルを測定しておこなうEMIレベル
低減の最適化の評価設計が容易に行なえる。このとき用
いられるチップ部品としては、表面実装部品であるとい
う要件を満たすものとし、たとえば、0Ω抵抗を用いる
ことができる。また、0Ω抵抗とは、両電極間が導電体
で接続され短絡しているものである。
実施の形態1を拡張したものとなっている。つまり、1
接続箇所に複数個のチップ部品を介することによって、
より強固なGND接続が可能となる。また、部品配置制
限がなければ回路基板上の全接続箇所に適用することに
よって実施の形態1と同様にFG接続状態を容易に変更
でき、EMIレベル低減化の最適化が図れる。
本実施の形態にかかわる液晶表示装置においては、表示
信号を発生するシステム側と電気的に接続され、かつ、
信号用GND以外のシールド用GNDとなる外皮導体を
もつインタフェースコネクタが搭載される場合がある。
FGとの接続となるネジ穴ランド5、回路基板上のGN
D導体パターン14(SG)、およびシールドGNDと
接続されたコネクタ補強用パッド10を、それぞれ互い
にチップ部品を介することによってチップ部品実装の配
置および個数について様々な場合が検討でき、EMIレ
ベル評価により容易に最適化が図れる。この際、ネジ穴
はスルーホールであるため、図7に示した内層回路基板
ベタGNDパターン17(多層回路基板の場合には通
常、内層に設けられる)とは分離を行うためにクリアラ
ンス部16を設けている。なお、FG接続がネジ穴では
なく19に示すようなフレームと直接接続するパッドの
ばあいも同様である。
体パターンを変更した回路基板を再試作することなくE
MIレベル低減の最適化が行え、開発費用・期間短縮化
が図れる。
ーンとチップ部品実装の一例を示す説明図である。
ーンとチップ部品実装の一例を示す説明図である。
ターンとチップ部品実装の一例を示す説明図である。
図である。
である。
Dベタ導体パターンの一例を示す説明図である。
Dベタ導体パターンの一例を示す説明図である。
とFG接続箇所周辺の導体パターンの一例を示す説明図
である。
とFG接続箇所周辺の導体パターンの一例を示す説明図
である。
ンの一例を示す説明図である。
部品間の導体パターン 14 回路基板上のGND導体パターン 15 ネジ穴部分 16 クリアランス部分 17 内層回路基板ベタGNDパターン 18 回路基板上の筐体接続部分パッドとコネクタ補
強用パッドとを接続する導体パターン 19 筐体と直接接続するパッド
Claims (6)
- 【請求項1】 回路基板上における筐体とのGND接続
箇所を複数持ち、その接続箇所と回路基板上のGNDと
をチップ部品の実装のみを介することによって回路基板
全体と筐体とがGND接続されてなることを特徴とする
液晶表示装置。 - 【請求項2】 前記筐体と1つのGND接続箇所につき
複数個のチップ部品が備えられてなる請求項1記載の装
置。 - 【請求項3】 前記チップ部品が0Ω抵抗である請求項
2記載の装置。 - 【請求項4】 表示信号を発生するシステム側と電気的
に接続され、かつ、信号用GND以外のシールド用GN
Dとなる外皮導体を持つインターフェースコネクタを搭
載する液晶表示装置において、回路基板上における液晶
表示装置の筐体との接続部分と、前記コネクタにおける
シールドGNDに電気的に接続されるコネクタ補強用パ
ッドとが導体パターンおよび第1のチップ部品実装で接
続され、前記筐体との接続部分と回路基板上のGNDと
を第2のチップ部品の実装のみを介することによって回
路基板全体と前記筐体とがGND接続されてなることを
特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項5】 前記筐体との1つのGND接続箇所につ
き複数個の前記第2のチップ部品が設けられてなる請求
項4記載の装置。 - 【請求項6】 前記第2のチップ部品が0Ω抵抗である
請求項5記載の装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16353198A JP4405605B2 (ja) | 1998-06-11 | 1998-06-11 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16353198A JP4405605B2 (ja) | 1998-06-11 | 1998-06-11 | 液晶表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11352509A true JPH11352509A (ja) | 1999-12-24 |
JP4405605B2 JP4405605B2 (ja) | 2010-01-27 |
Family
ID=15775655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16353198A Expired - Lifetime JP4405605B2 (ja) | 1998-06-11 | 1998-06-11 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4405605B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1998
- 1998-06-11 JP JP16353198A patent/JP4405605B2/ja not_active Expired - Lifetime
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