JPH11348240A

JPH11348240A - 印刷物検査方法及び装置

Info

Publication number: JPH11348240A
Application number: JP10158040A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Sato; 博佐藤; Takeshi Matsunami; 剛松波
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd; Omron Corp; Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd; Omron Corp
Priority date: 1998-06-05
Filing date: 1998-06-05
Publication date: 1999-12-21
Anticipated expiration: 2018-06-05
Also published as: JP4018808B2

Abstract

(57)【要約】【課題】面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い
印刷不良を確実に検出できるようにする。【解決手段】印刷物検査装置において、検査画像と基
準画像との差分画像を作成する差分絶対値回路３０と、
基準画像から、差分画像に残存する絵柄のエッジ部分を
マスクする閾値画像を作成する閾値生成回路３６と、前
記差分画像を前記閾値画像でマスク処理してマスク済画
像を作成するマスク回路４０と、マスク済画像について
１６×１６画素の矩形領域を単位に画素値を積算する積
算回路４２と、積算値が判定レベル以上のときに不良発
生と判定する判定回路４４とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明が属する技術分野】本発明は、印刷物検査方法及
び装置、特に面積は大きいが濃度差の殆どないような淡
い不良を検出する際に適用して好適な、印刷物検査方法
及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】輪転印刷機で印刷されて連続的に走行す
るウェブ（印刷物）から、所定位置に設置されているカ
メラにより、印刷絵柄を検査画像として入力し、該検査
画像と予め作成してある基準画像とを比較して、印刷欠
陥を検査することが行われている。

【０００３】このように、検査画像を基準画像と比較し
て印刷欠陥を検出する印刷物検査装置としては、これら
両画像の差分画像に対して所定の矩形領域内で、所定の
レベル差以上の画素数を計測し、その画素数が所定の値
を超えた場合に不良と判定するものが、特開平９−７６
４７０に開示されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記公
報に開示されている印刷物検査装置では、画像中の画素
を１つ１つ比較して、閾値以上のものを不良としていた
ので、面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い不良
は検出できないという問題があった。

【０００５】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、面積は大きいが濃度差の殆どないよ
うな淡い印刷不良を確実に検出することができる印刷物
検査方法及び装置を提供することを課題とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、印刷物をカメ
ラで撮像して入力される検査画像を、予め作成してある
基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法
において、前記検査画像と基準画像との差分画像を作成
するとともに、前記基準画像から、前記差分画像に残存
する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像を作成し、
前記検査画像からの差分画像を前記閾値画像でマスク処
理してマスク済画像を作成し、作成されたマスク済画像
について、所定の矩形領域を単位に画素値を積算する積
算処理を行い、その積算値が判定レベル以上のときに印
刷不良発生と判定する判定処理を行うことにより、前記
課題を解決したものである。

【０００７】本発明は、又、印刷物をカメラで撮像して
入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比
較して印刷欠陥を検出する検出手段とを備えた印刷物検
査装置において、前記検査画像と基準画像との差分画像
を作成するする手段と、前記基準画像から、前記差分画
像に残存する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像を
作成する手段と、前記検査画像からの差分画像を前記閾
値画像でマスク処理してマスク済画像を作成する手段
と、作成されたマスク済画像について、所定の矩形領域
を単位に画素値を積算する手段と、得られた積算値が判
定レベル以上のときに印刷不良発生と判定する手段を備
えた構成とすることにより、同様に前記課題を解決した
ものである。

【０００８】即ち、本発明においては、検査画像と基準
画像との差分画像を作成すると、そこには絵柄のエッジ
部分の残渣が残るので、基準画像から求めた閾値画像に
より、該差分画像における絵柄エッジ部分の残渣を各画
素毎にマスクした後、そのマスク済画像について所定の
矩形領域を単位に、そこに含まれる全画素の画素値を積
算し、その積算値を予め設定されている判定値と比較
し、その判定値以上の場合に不良と判定するようにした
ので、面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い不良
を確実に検出することができる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について詳細に説明する。

【００１０】図１は、本発明に係る第１実施形態の印刷
欠陥検査装置の概略を示す要部構成図である。

【００１１】本実施形態の印刷欠陥検査装置は、機能部
としてカメラ１０、画像入力ボード１２、位置ずれ演算
ボード１４、第１欠陥検出ボード１６、第２欠陥検出ボ
ード１８をそれぞれ備えており、カメラ１０以外の各機
能部はそれぞれのコネクタ１２Ａ〜１８Ａを介して電気
的な接続が行われるようになっている。

【００１２】又、上記印刷欠陥検査装置は、マザーボー
ド２０を備えており、このマザーボード２０には、上か
ら順に将来の拡張用バス、位置ずれ量バス、Ｒ、Ｇ、Ｂ
の各画像バス、モノクロ画像バスの各データバスがそれ
ぞれ敷設されており、又、これら各データバスと電気的
に接続可能な複数のコネクタ２２Ａ〜２２Ｅが付設され
ている。

【００１３】コネクタ２２Ａは、上記画像入力ボード１
２のコネクタ１２Ａと接続され、カメラ１０で印刷物を
撮像すると、上記Ｒ、Ｇ、Ｂ及びモノクロ画像の各バス
にそれぞれ対応する画像信号が出力されるようになって
いる。

【００１４】コネクタ２２Ｂは、前記位置ずれ演算ボー
ド１４とそのコネクタ１４Ａを介して接続され、該演算
ボード１４ではモノクロ画像バスから入力される画像信
号に基づいて検査画像の位置ずれ量を演算し、その演算
結果を前記位置ずれ量バスに出力するようになってい
る。モノクロ画像は本来Ｒ、Ｇ、Ｂの各カラー画像が合
成されたものに相当するので、モノクロ画像の位置ずれ
量とカラー画像の位置ずれ量とは同一である。

【００１５】コネクタ２２Ｃは、第１欠陥検出ボード１
６とそのコネクタ１６Ａを介して接続され、該第１欠陥
検出ボード１６では、上記位置ずれ量バスから入力され
る位置ずれ量に基づいて、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画像バスから
入力される検査画像を位置補正するとともに、各色の画
像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。

【００１６】一方、コネクタ２２Ｄは、第２欠陥検出ボ
ード１８とそのコネクタ１８Ａを介して接続され、該第
２欠陥検出ボード１８では、同様に位置ずれ量バスから
入力される位置ずれ量に基づいて、上記モノクロ画像バ
スから入力される検査画像を位置補正するとともに、モ
ノクロ画像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。

【００１７】コネクタ２２Ｅは、将来検査機能を拡張す
る場合に、新たな機能部の接続に使用するものであり、
前記拡張用バスも同様の用途に用いられるものである。
便宜上、ここでは拡張用のコネクタとバスがそれぞれ１
つである場合が示してあるが、いずれも２以上であって
もよいことは言うまでもない。

【００１８】図２は、本実施形態における前記ラインセ
ンサカメラ（１次元ＣＣＤカメラ）のハード構成の概略
を示したブロック図である。

【００１９】本実施形態のカメラ１０は、受光部である
１次元ＣＣＤセンサ１０Ａと、該センサ１０Ａの画素
（ＣＣＤ素子）の奇数番目と偶数番目から別々に出力さ
れる受光信号（奇数信号・偶数信号）を増幅する２つの
アンプ（Ａｍｐ）と、ここで増幅された信号について奇
数信号の奇数画素レベルと偶数信号の偶数画素レベルを
交互に合成するＳ／Ｈ回路１０Ｂと、合成処理された信
号の黒レベルを補正する黒レベル補正回路１０Ｃと、そ
の補正信号を増幅してビデオ信号として出力するアンプ
（Ａｍｐ）と、これらＣＣＤセンサ１０Ａ、閾値回路１
０Ｂ、黒レベル補正回路１０Ｃに対して、図示しない制
御装置から入力される外部駆動信号に基づいて、それぞ
れ信号処理のタイミングをとるための信号を出力するタ
イミング生成回路１０Ｄとを備えている。このように、
本実施形態のラインセンサカメラ１０では、入力される
受光信号の処理の高速化を図るために、奇数番目と偶数
番目の画素について交互に増幅等の電気的処理を行って
いる。

【００２０】又、図３は、本実施形態の印刷物検査装置
が備えている印刷欠陥検出部の要部構成を示すブロック
図である。

【００２１】この印刷欠陥検出部は、前記図１に示した
第２欠陥検出ボード１８に相当し、前記カメラ１０か
ら、画像入力ボード１２を介して取り込まれたモノクロ
画像信号が、その画像バスを介して入力されるようにな
っている。この欠陥検出部は、前記カメラ１０から上記
画像バスを介して順次入力される検査画像を格納する検
査画像メモリ３０と、予め正常な印刷絵柄を同カメラ１
０で撮影すると共に、適宜新しく撮影し直して更新した
基準画像を格納するＡ、Ｂの２つの基準画像メモリ３２
とを備えている。

【００２２】又、この欠陥検出部では、上記検査画像メ
モリ３０に格納されている検査画像と、基準画像メモリ
３２に格納されている基準画像との差分の絶対値からな
る差分画像を作成する差分絶対値回路３４と、上記基準
画像メモリ３２に格納されている基準画像から閾値画像
を作成する閾値生成回路３６と、作成された閾値画像を
格納するＡ、Ｂの２つの閾値画像メモリ３８と、前記差
分絶対値回路３４で作成された差分画像を上記閾値画像
メモリ３８から入力される閾値画像により画素を単位に
マスク処理してマスク済画像を作成するマスク回路４０
と、作成されたマスク済画像について、１６画素×１６
画素の矩形領域を単位に、その領域に含まれる全画素の
画素値を積算する１６×１６積算回路４２と、その積算
値が判定レベル以上のときに不良発生と判定する積算値
判定回路４４とを備えている。

【００２３】なお、ここで前記基準画像メモリ３２、閾
値画像メモリ３８がそれぞれＡ、Ｂの２組ずつあるの
は、一方のメモリに格納されている基準画像、閾値画像
に基づいて検査を行っている間に、必要に応じて入力さ
れる基準更新信号により、新たな基準画像を入力して保
存すると共に、それに基づいて作成される閾値画像を格
納するためである。

【００２４】本実施形態における上記印刷欠陥検出部に
ついて更に詳述する。但し、ここでは、後述する図６に
概念的に示すように、前記ラインセンサカメラ１０を水
平方向に所定の間隔で操作することにより、２０４８画
素（枡目で示す）からなる水平ライン画像が、例えば１
ライン（画素）／ｍｍのピッチで垂直方向に走査数分配
列されてなる検査画像が入力される場合を例に説明す
る。なお、この図６では、便宜上、垂直方向に関しては
４画素を１枡で表わしてある。

【００２５】前記差分絶対値回路３４では、前記検査画
像メモリ３０から入力される検査画像と、前記基準画像
メモリ３２から入力される基準画像とを、対応する各画
素の画素値の差分をとり、その絶対値を同画素の画素値
に設定して差分画像を作成する処理が行われる。

【００２６】前記閾値生成回路３６では、基準画像メモ
リ３２から入力された基準画像に対して、水平方向ｉ番
目、垂直方向にｊ番目（以下、座標（ｉ，ｊ）ともい
う）を中心画素とする３×５の矩形領域からなるウィン
ドウを設定し、画素値（輝度値）Ｈの中心画素に対し
て、該画素とその周囲の１４画素の画素値Ａ〜Ｏから、
次の（１）式により算出される閾値ｔijを設定する。但
し、この式でＭax｛｝は、列挙した画素値から最大値
をとり、又Ｍin｛｝は、同画素値から最小値をとるこ
とを表わしている。

【００２７】ｔij＝Ｍax｛Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ｍ，Ｎ，Ｏ｝−Ｍin｛Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ｍ，Ｎ，Ｏ｝ …（１）

【００２８】なお、上記中心画素に対して設定する閾値
ｔijは次の（２）式を用いて算出してもよい。

【００２９】ｔij＝Ｍax｛｜Ａ−Ｈ｜，｜Ｂ−Ｈ｜，｜Ｃ−Ｈ｜，｜Ｄ−Ｈ｜，｜Ｅ−Ｈ｜，｜Ｆ−Ｈ｜，｜Ｇ−Ｈ｜，｜Ｉ−Ｈ｜，｜Ｊ−Ｈ｜，｜Ｋ−Ｈ｜，｜Ｌ−Ｈ｜，｜Ｍ−Ｈ｜，｜Ｎ−Ｈ｜，｜Ｏ−Ｈ｜｝ …（２）

【００３０】上記中心画素に対する閾値処理は、計算不
能の画素を除き、基準画像の全画素に対して行う。この
ようにして得られた全ての閾値ｔijに対し、所定の定数
α、βを用いて次の（３）式により、最終的な閾値画像
の画素値として設定する閾値Ｔijを求める。

【００３１】Ｔij＝α・ｔij＋β …（３）

【００３２】この式で、定数αは全体的な明度変化が出
ないようにするためのものであり、又、定数βは、全体
のノイズレベルをオフセットを入れて隠すためのもの
で、最低閾値あるいはチューニング閾値等と呼ばれる。
このように、上記（３）式を用いることにより、全体的
な光量変動やノイズレベルを考慮した閾値からなる閾値
画像を得ることができる。

【００３３】ここで、上記閾値設定処理を、図５に示し
た中心画素の画素値が７５であるウィンドウの場合を具
体例として説明すると、このウィンドウ中での輝度値の
最大値は１７２であり、最小値は２１であることから、
これらの値を（１）式に当て嵌めると、ｔij＝１７２−
２１＝１５１となる。又、（３）式における定数をα＝
１．２、β＝１０とすると、上記中心画素に対応する閾
値画像の画素に設定する最終的な画素値である閾値Ｔij
はＴij＝１．２×１５１＋１０＝１９１となる。なお、
上記のように中心画素に対して設定するウィンドウの矩
形範囲を横方向±１、縦方向±２とているのは、縦方向
の方が原反の伸縮や画像取込みタイミングのずれによっ
て画像の歪みが大きいことによるが、これに限定されな
いことはいうまでもない。

【００３４】以上詳述した閾値設定処理を、水平方向と
垂直方向にそれぞれ１画素（１ライン）ずつずらしなが
ら全体について行うことにより、閾値画像が作成され、
その画像データは前記閾値画像メモリ３８に格納され
る。

【００３５】前記マスク回路４０では、前記検査画像か
ら得られた前記差分画像に対する閾値画像によるマスク
処理が行われるが、これは差分画像の１つの画素が前記
図４に示した座標（ｉ，ｊ）の中心画素に対応している
場合であれば、検査画像の画素値がＩ、基準画像の画素
値がＲであるとすると、該差分画像の画素値である差分
値Ｓ（＝Ｉ−Ｒ）の絶対値が、対応する閾値画像の画素
値Ｔijと比較し、｜Ｓ｜≦ＴijならばＳ＝０とし、逆の
場合には差分値（絶対値）のままにすることにより、差
分欠陥候補画素を抽出する処理である。これを式で表わ
すと、次式（４）となる。

【００３６】Ｓ＝｛０：｜Ｉ−Ｒ｜≦Ｔij，｜Ｉ−Ｒ｜：｜Ｉ−Ｒ｜＞Ｔij｝…（４）

【００３７】前記１６×１６積算回路４２では、図６に
検査画像の一部を、幅方向の画素の位置（アドレス）に
１、２、３・・・２０４８の番号を付して概念的に示し
たように、垂直方向（ウェブの流れ方向）に１６画素
（１枡＝４画素）、水平方向にも１６画素の矩形領域を
単位に画素値を積算し、その積算値ＳＵＭを求め、積算
値判定回路４６でこのＳＵＭと判定レベルＤとを比較
し、ＳＵＭ≧Ｄであれば、その領域に淡い不良が発生し
ていると判定する。この判定レベルＤとしては、２５６
階調表示の場合であれば、１〜４０８０の間の適切な値
として実績に基づいて設定する。因に全体的に階調値５
の淡い不良の場合であれば、ＳＵＭ＝１２８０となる。

【００３８】この判定を行う場合、その対象となる１６
×１６画素の積算は、水平方向、垂直方向にそれぞれ１
６画素ずつ順次シフトしながら行う。

【００３９】以上詳述した本実施形態によれば、図７に
概念的に示したように、面積は大きいが濃度差の殆どな
いような淡い不良である濃度変動を検出することができ
る。即ち、予め作成されている基準画像（Ａ）から、閾
値生成回路３６により閾値画像（Ｂ）が作成され、閾値
画像メモリ３８に格納される。この閾値画像（Ｂ）に
は、前述した閾値設定処理により、絵柄のエッジが広い
幅で抽出されている。

【００４０】この状態で、画像バスから（Ｃ）に示した
濃度変動不良Ｄが存在する検査画像が入力され、メモリ
３０に格納されると、この検査画像（Ｃ）について差分
絶対値回路３４により差分画像（Ｄ）が作成される。こ
の差分画像（Ｄ）には、検査画像と基準画像との位置ず
れ等に起因して細いエッジ部分が残っている。なお、ス
キャナ入力した添付図面は解像度が低いために視認でき
ないが、この差分画像（Ｄ）には、上記検査画像（Ｃ）
に示されている楕円形に近い薄い濃度変動不良Ｄに相当
する低輝度部分が存在している。これは、次のマスク済
画像（Ｅ）でも同様である。

【００４１】次いで、マスク回路４０により、上記差分
画像（Ｄ）に対して閾値画像メモリ３８から入力される
閾値画像（Ｂ）を用いてマスク処理することによりマス
ク済画像（Ｅ）が作成される。この段階では、差分画像
（Ｄ）にあった細いエッジは、閾値画像（Ｂ）のエッジ
によりマスクされて消えている。又、濃度不良Ｄに相当
する画素値は極めて小さいため殆どが見えず、上記のよ
うにこの図からは視認できないが、実際には存在してい
る。

【００４２】その後、上記画像（Ｅ）に対して１６×１
６積算回路４２により、積算処理が行われて積算画像
（Ｆ）が作成され、この積算画像（Ｆ）に対して積算値
判定回路４４により判定が行われる。

【００４３】この積算画像（Ｈ）には濃度不良Ｄに対応
する位置が明確な矩形で示されているように、本実施形
態によれば、淡くて面積が広い欠陥を強調することがで
きるため、確実に検出することが可能となる。

【００４４】又、本実施形態によれば、前述した如く、
マザーボード２０に欠陥検査に必要な信号が伝送される
共通のバスを敷設し、各機能部は必要なバスを任意に選
択して信号の授受ができるようにしたので、印刷欠陥検
査装置のハード構成を極めて簡素にすることができると
いう効果もある。

【００４５】図８は、本発明に係る第２実施形態の印刷
物検査装置が備えている印刷欠陥検出部の概略構成を示
すブロック図である。この検出部は、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画
像バスから入力されるカラー画像に基づいて検査を行う
ものであり、前記図１に示した第１欠陥検出ボード１６
に相当する。

【００４６】本実施形態では、前記図３の場合と同様の
検査画像メモリ３０からマスク回路４０までの各要素
を、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画像毎に備えているとともに、各画
像用のマスク回路４０から出力されるＲ、Ｇ、Ｂのマス
ク処理画像を合成するＲＧＢ合成回路５０を備え、ここ
で生成された合成画像をマスク済画像として、前記第１
実施形態と同様に１６×１６積算回路４２以下の処理が
行われるようになっている。

【００４７】本実施形態においては、前記マスク回路４
０まではＲ、Ｇ、Ｂ毎に別々に前記第１実地形態と同様
の処理が実行され、その後上記ＲＧＢ合成回路５０によ
り合成処理が行われる。このＲＧＢ合成回路５０では、
上記回路４０によりマスク処理されたＲ、Ｇ、Ｂ画像を
合成するが、その際、各画像の対応する画素の中で最大
の画素値を、同位置の画素に設定することにより合成画
像を生成するようになっている。

【００４８】即ち、本実施形態では、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に生
成される検査画像からの差分画像について、対応する各
画素毎にＲ、Ｇ、Ｂ残差の最大値を求め、その最大値か
らなる一つの差分画像を合成し、その合成差分画像に対
して、前記所定の矩形領域で残差の積算値を算出すると
ともに、その値を予め設定された基準値と比較し、その
基準値を超えた場合に不良と判断するようにしている。

【００４９】従って、本実施形態によれば、面積は大き
いが濃度差の殆どないような淡い不良が、Ｒ、Ｇ、Ｂの
いずれかに濃度が偏っている場合でも確実に検出するこ
とができる。

【００５０】又、Ｒ、Ｇ、Ｂの各カラー画像の対して
は、積算処理の前にＲ、Ｇ、Ｂ画像を合成して１枚の画
像にするようにしたことにより、回路規模を小さくで
き、しかも効率のよいカラー検査を行なうことができ
る。

【００５１】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。

【００５２】例えば、前記実施形態では、閾値生成、積
算等の各処理を行う際の単位として画素数等を具体的に
示したが、これに限定されない。

【００５３】

【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い印刷不良を
確実に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る第１実施形態の検査装置全体の概
略構成を示す説明図

【図２】第１実施形態におけるラインセンサカメラのハ
ード構成を示す回路図

【図３】第１実施形態の要部構成を示すブロック図

【図４】閾値処理に使用するウィンドウを概念的に示す
説明図

【図５】閾値処理に使用するウィンドウを設定した画素
値の具体例を示す説明図

【図６】画素値の積算処理を概念的に示す説明図

【図７】第１実施形態の作用を示す説明図

【図８】本発明に係る第２実施形態の要部構成を示すブ
ロック図

【符号の説明】

３０…検査画像メモリ３２…基準画像メモリ３４…水平差分回路３６…閾値生成回路３８…閾値画像メモリ４０…マスク回路４２…１６×１６積算回路４４…積算値判定回路５０…ＲＧＢ合成回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】印刷物をカメラで撮像して入力される検査
画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥
を検出する印刷物検査方法において、前記検査画像と基準画像との差分画像を作成するととも
に、前記基準画像から、前記差分画像に残存する絵柄のエッ
ジ部分をマスクする閾値画像を作成し、前記検査画像からの差分画像を前記閾値画像でマスク処
理してマスク済画像を作成し、作成されたマスク済画像について、所定の矩形領域を単
位に画素値を積算する積算処理を行い、その積算値が判
定レベル以上のときに印刷不良発生と判定する判定処理
を行うことを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項２】請求項１において、前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範
囲から画素値の差が最も大きくなる２つの画素を選択
し、その２つの画素値の差の絶対値を中心画素の画素値
に設定して作成することを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項３】請求項１において、前記マスク処理を、前記検査画像からの差分画像を構成
する各画素について、画素値の絶対値が前記閾値画像の
対応する画素の画素値以下の場合は０を、逆に超えてい
る場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴
とする印刷物検査方法。
【請求項４】請求項１において、前記検査画像が、Ｒ、Ｇ、Ｂの各カラー画像として入力
される場合、前記マスク処理まではＲ、Ｇ、Ｂ毎に処理し、前記マスク済画像を、マスク処理されたＲ、Ｇ、Ｂの各
画像を合成した合成画像とすることを特徴とする印刷物
検査方法。
【請求項５】請求項４において、前記合成画像を、マスク処理されたＲ、Ｇ、Ｂの各画像
の対応する画素の中で最大の画素値を同画素に設定して
作成することを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項６】印刷物をカメラで撮像して入力される検査
画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥
を検出する検出手段とを備えた印刷物検査装置におい
て、前記検査画像と基準画像との差分画像を作成するする手
段と、前記基準画像から、前記差分画像に残存する絵柄のエッ
ジ部分をマスクする閾値画像を作成する手段と、前記検査画像からの差分画像を前記閾値画像でマスク処
理してマスク済画像を作成する手段と、作成されたマスク済画像について、所定の矩形領域を単
位に画素値を積算する手段と、得られた積算値が判定レベル以上のときに印刷不良発生
と判定する手段を備えていることを特徴とする印刷物検
査装置。
【請求項７】請求項６において、前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範
囲から画素値の差が最も大きくなる２つの画素を選択
し、その２つの画素値の差の絶対値を中心画素の画素値
に設定して作成することを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項８】請求項６において、前記マスク処理を、前記検査画像からの差分画像を構成
する各画素について、画素値の絶対値が前記閾値画像の
対応する画素の画素値以下の場合は０を、逆に超えてい
る場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴
とする印刷物検査装置。
【請求項９】請求項６において、前記検査画像が、Ｒ、Ｇ、Ｂの各カラー画像として入力
される場合、前記マスク処理まではＲ、Ｇ、Ｂ毎に処理し、前記マスク済画像を、マスク処理されたＲ、Ｇ、Ｂの各
画像を合成した合成画像とすることを特徴とする印刷物
検査装置。
【請求項１０】請求項９において、前記合成画像を、マスク処理されたＲ、Ｇ、Ｂの各画像
の対応する画素の中で最大の画素値を同画素に設定して
作成することを特徴とする印刷物検査装置。