JPH11337442A - 光ディスク評価装置 - Google Patents
光ディスク評価装置Info
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- JPH11337442A JPH11337442A JP15865398A JP15865398A JPH11337442A JP H11337442 A JPH11337442 A JP H11337442A JP 15865398 A JP15865398 A JP 15865398A JP 15865398 A JP15865398 A JP 15865398A JP H11337442 A JPH11337442 A JP H11337442A
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- circuit
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- optical disk
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 フォーカスエラー信号の生成条件である、フ
ォーカシング・コイル駆動信号を、任意に可変できる回
路構成とし、多様な評価条件およびユーザ条件に柔軟に
対応できる光ディスク評価装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク評価装置において、フォーカ
スエラー信号検出回路・Ｓ字信号検出回路または同様の
構成のフォーカス引き込み回路８に、正弦波・三角波・
ＤＣなどの任意波形を発生でき、周波数可変機能を有す
る任意信号発生回路14と、その発生信号を任意レベルに
可変できるレベル調整回路15で構成されるフォーカス・
コイル駆動回路13を構成し、評価装置使用者あるいは構
成デバイス仕様の要求する任意の条件で、フォーカスエ
ラー信号（Ｓ字信号）を生成させる。
ォーカシング・コイル駆動信号を、任意に可変できる回
路構成とし、多様な評価条件およびユーザ条件に柔軟に
対応できる光ディスク評価装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク評価装置において、フォーカ
スエラー信号検出回路・Ｓ字信号検出回路または同様の
構成のフォーカス引き込み回路８に、正弦波・三角波・
ＤＣなどの任意波形を発生でき、周波数可変機能を有す
る任意信号発生回路14と、その発生信号を任意レベルに
可変できるレベル調整回路15で構成されるフォーカス・
コイル駆動回路13を構成し、評価装置使用者あるいは構
成デバイス仕様の要求する任意の条件で、フォーカスエ
ラー信号（Ｓ字信号）を生成させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォーカスエラー
信号を利用してフォーカスサーボをおこなう光ディスク
装置において、該装置を構成する多数の構成要素の評
価、検査、調整をおこなう光ディスク評価装置に関し、
特に任意波形・任意周波数・任意振幅の信号を発生させ
る任意信号発生手段を備えるよう構成したものである。
信号を利用してフォーカスサーボをおこなう光ディスク
装置において、該装置を構成する多数の構成要素の評
価、検査、調整をおこなう光ディスク評価装置に関し、
特に任意波形・任意周波数・任意振幅の信号を発生させ
る任意信号発生手段を備えるよう構成したものである。
【０００２】
【従来の技術】図２は、従来の光ディスク評価装置の構
成を示している。図２において増幅器１は、光ピックア
ップ・アクチュエータ４に、直列に接続された電流検出
用の抵抗２の端子電圧を、増幅器１の入力へフィードバ
ックすることにより、電圧帰還率βを有する電流帰還型
増幅回路を構成し、フォーカシング・コイル３を駆動す
る。フォーカシング・コイル駆動にともない光ピックア
ップでは、レーザダイオード５で光ディスク６を照射
し、その反射光をフォトディテクタ７により検出し電流
電圧変換機能及び演算機能を有するエラー信号検出回路
８によりフォーカスエラー信号を得る。
成を示している。図２において増幅器１は、光ピックア
ップ・アクチュエータ４に、直列に接続された電流検出
用の抵抗２の端子電圧を、増幅器１の入力へフィードバ
ックすることにより、電圧帰還率βを有する電流帰還型
増幅回路を構成し、フォーカシング・コイル３を駆動す
る。フォーカシング・コイル駆動にともない光ピックア
ップでは、レーザダイオード５で光ディスク６を照射
し、その反射光をフォトディテクタ７により検出し電流
電圧変換機能及び演算機能を有するエラー信号検出回路
８によりフォーカスエラー信号を得る。
【０００３】通常の光ディスクの信号の再生状態または
記録状態では、サーボ回路９が機能しこの出力信号が前
記電流帰還型増幅回路１によりフォーカシング・コイル
３を駆動する。すなわちレーザダイオード５→光ディス
ク６→フォトディテクタ７→エラー信号検出回路８→サ
ーボ回路９→スイッチ11→増幅器１→フォーカシング・
コイル３→レーザダイオード５というサーボシステムを
構築する。
記録状態では、サーボ回路９が機能しこの出力信号が前
記電流帰還型増幅回路１によりフォーカシング・コイル
３を駆動する。すなわちレーザダイオード５→光ディス
ク６→フォトディテクタ７→エラー信号検出回路８→サ
ーボ回路９→スイッチ11→増幅器１→フォーカシング・
コイル３→レーザダイオード５というサーボシステムを
構築する。
【０００４】一方サーボ回路引き込み時においては、ス
イッチ11をオフにし、スイッチ12をオンにすることによ
り、サーボ回路出力信号ではなく光ピックアップ・アク
チュエータ固有の駆動信号を発生させる駆動信号発生回
路17の出力を前記電流帰還型増幅回路１に接続し、エラ
ー信号（Ｓ字信号とよばれる）を図３のように得る。
イッチ11をオフにし、スイッチ12をオンにすることによ
り、サーボ回路出力信号ではなく光ピックアップ・アク
チュエータ固有の駆動信号を発生させる駆動信号発生回
路17の出力を前記電流帰還型増幅回路１に接続し、エラ
ー信号（Ｓ字信号とよばれる）を図３のように得る。
【０００５】光ディスク評価装置においては、このエラ
ー信号（Ｓ字信号）を分析することにより、光ディスク
や光ピックアップまたは、光ディスク信号再生装置を構
成する構成要素の多くの特性を知ることができる。
ー信号（Ｓ字信号）を分析することにより、光ディスク
や光ピックアップまたは、光ディスク信号再生装置を構
成する構成要素の多くの特性を知ることができる。
【０００６】ここで、フォーカシング・コイル駆動信号
発生回路17はアナログ方式またはデジタル方式の単一波
形・単一周波数・一定振幅の信号発生回路で構成され、
通常、光ピックアップと光ディスクの性能により規定さ
れた固定信号が発生される。
発生回路17はアナログ方式またはデジタル方式の単一波
形・単一周波数・一定振幅の信号発生回路で構成され、
通常、光ピックアップと光ディスクの性能により規定さ
れた固定信号が発生される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例の光ディスク評価装置では、フォーカシング・コイ
ルは常に単一の信号で駆動されるため、エラー信号とし
て得られるＳ字信号も常に同一の条件での信号しか得ら
れない。光ディスク評価装置では、評価対象が変わった
場合やユーザの試験規則により多様な条件でのフォーカ
シング・コイル駆動ができなければならないという問題
点がある。
来例の光ディスク評価装置では、フォーカシング・コイ
ルは常に単一の信号で駆動されるため、エラー信号とし
て得られるＳ字信号も常に同一の条件での信号しか得ら
れない。光ディスク評価装置では、評価対象が変わった
場合やユーザの試験規則により多様な条件でのフォーカ
シング・コイル駆動ができなければならないという問題
点がある。
【０００８】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、フォーカシング・コイル駆動信号を可変
できるようにすることにより、多様な条件での駆動が可
能であり、その結果任意条件でのフォーカスエラー信号
の評価を可能にできる、優れた光ディスク評価装置を提
供することを目的とする。
るものであり、フォーカシング・コイル駆動信号を可変
できるようにすることにより、多様な条件での駆動が可
能であり、その結果任意条件でのフォーカスエラー信号
の評価を可能にできる、優れた光ディスク評価装置を提
供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、電流帰還型増幅器に印加するフォーカ
シング・コイル駆動信号発生回路に、任意波形信号発生
器とレベル可変回路を採用し、これらを制御回路より制
御することにより、フォーカシング・コイル駆動信号を
任意の信号に設定できるよう構成したものである。
に、本発明では、電流帰還型増幅器に印加するフォーカ
シング・コイル駆動信号発生回路に、任意波形信号発生
器とレベル可変回路を採用し、これらを制御回路より制
御することにより、フォーカシング・コイル駆動信号を
任意の信号に設定できるよう構成したものである。
【００１０】このように本発明の光ディスク評価装置
は、フォーカシング・コイルの駆動信号を、固定信号で
はなく任意の信号を発生しうるようにしているので、す
なわち、制御回路から条件を設定することにより、フォ
ーカシング・コイル駆動信号発生回路は任意の波形で任
意の周波数かつ任意のレベルの信号をフォーカシング・
コイル駆動信号として出力することができ、多様な条件
でのフォーカスエラー信号の評価試験を実施することが
できる。
は、フォーカシング・コイルの駆動信号を、固定信号で
はなく任意の信号を発生しうるようにしているので、す
なわち、制御回路から条件を設定することにより、フォ
ーカシング・コイル駆動信号発生回路は任意の波形で任
意の周波数かつ任意のレベルの信号をフォーカシング・
コイル駆動信号として出力することができ、多様な条件
でのフォーカスエラー信号の評価試験を実施することが
できる。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、光ピックアップの光学系および電気系の検査のた
め、または光ディスクの評価のため、フォーカスエラー
信号発生手段を有し、該フォーカスエラー信号発生手段
が発生した信号を前記光ピックアップのフォーカス駆動
コイルに印加して前記光ピックアップの出力をフォーカ
スエラー信号として利用する光ディスク評価装置におい
て、前記フォーカス駆動コイルに印加するフォーカスエ
ラー信号発生のための信号を任意に変化させ、エラー信
号評価の多様な条件に対応できるよう構成したことを特
徴とする光ディスク評価装置としたものであり、多様な
条件でのフォーカスエラー信号の評価試験を実施するこ
とができるという作用を有する。
は、光ピックアップの光学系および電気系の検査のた
め、または光ディスクの評価のため、フォーカスエラー
信号発生手段を有し、該フォーカスエラー信号発生手段
が発生した信号を前記光ピックアップのフォーカス駆動
コイルに印加して前記光ピックアップの出力をフォーカ
スエラー信号として利用する光ディスク評価装置におい
て、前記フォーカス駆動コイルに印加するフォーカスエ
ラー信号発生のための信号を任意に変化させ、エラー信
号評価の多様な条件に対応できるよう構成したことを特
徴とする光ディスク評価装置としたものであり、多様な
条件でのフォーカスエラー信号の評価試験を実施するこ
とができるという作用を有する。
【００１２】本発明の請求項２に記載の発明は、前記フ
ォーカス駆動コイルに印加するフォーカスエラー信号発
生のための信号を生成する手段として、任意波形・任意
周波数・任意振幅の信号を発生させる任意信号発生手段
を備えたことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク
評価装置としたものであり、任意の波形で任意の周波数
かつ任意のレベルの信号をフォーカシング・コイル駆動
信号として出力することができるという作用を有する。
ォーカス駆動コイルに印加するフォーカスエラー信号発
生のための信号を生成する手段として、任意波形・任意
周波数・任意振幅の信号を発生させる任意信号発生手段
を備えたことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク
評価装置としたものであり、任意の波形で任意の周波数
かつ任意のレベルの信号をフォーカシング・コイル駆動
信号として出力することができるという作用を有する。
【００１３】本発明の請求項３に記載の発明は、前記任
意信号発生手段は、複数の異なる波形の信号を周波数可
変で発生できる方式の任意信号発生器と、その出力信号
の振幅およびオフセットを任意に可変できる方式のレベ
ル可変回路と、これらの設定をプログラマブルに制御す
る制御回路とから構成されることを特徴とする請求項２
に記載の光ディスク評価装置としたものであり、制御回
路から条件を設定することにより、任意の波形で任意の
周波数かつ任意のレベルの信号をフォーカシング・コイ
ル駆動信号を出力することができるという作用を有す
る。
意信号発生手段は、複数の異なる波形の信号を周波数可
変で発生できる方式の任意信号発生器と、その出力信号
の振幅およびオフセットを任意に可変できる方式のレベ
ル可変回路と、これらの設定をプログラマブルに制御す
る制御回路とから構成されることを特徴とする請求項２
に記載の光ディスク評価装置としたものであり、制御回
路から条件を設定することにより、任意の波形で任意の
周波数かつ任意のレベルの信号をフォーカシング・コイ
ル駆動信号を出力することができるという作用を有す
る。
【００１４】以下、本発明の実施の形態の光ディスク評
価装置について、図面を用いて説明する。図１は本発明
の光ディスク評価装置の構成を示すブロック図である。
図１において、光ピックアップ・アクチュエータ４は、
増幅器１、サーボ回路９、エラー信号検出回路８、フォ
ーカシング・コイル駆動信号発生回路13、スイッチ11お
よびスイッチ12で構成される信号処理系により駆動さ
れ、光ディスク６から信号再生をおこなう回路を構成す
る。
価装置について、図面を用いて説明する。図１は本発明
の光ディスク評価装置の構成を示すブロック図である。
図１において、光ピックアップ・アクチュエータ４は、
増幅器１、サーボ回路９、エラー信号検出回路８、フォ
ーカシング・コイル駆動信号発生回路13、スイッチ11お
よびスイッチ12で構成される信号処理系により駆動さ
れ、光ディスク６から信号再生をおこなう回路を構成す
る。
【００１５】次にこの実施の形態の光ディスク評価装置
の動作について説明する。増幅器１は光ピックアップ・
アクチュエータ４に直列に接続された電流検出用の抵抗
２の端子電圧を入力へフィードバックすることにより、
電圧帰還率βを有する電流帰還型増幅回路を構成し、フ
ォーカシング・コイル３を駆動する。
の動作について説明する。増幅器１は光ピックアップ・
アクチュエータ４に直列に接続された電流検出用の抵抗
２の端子電圧を入力へフィードバックすることにより、
電圧帰還率βを有する電流帰還型増幅回路を構成し、フ
ォーカシング・コイル３を駆動する。
【００１６】コイル駆動にともない光ピックアップ・ア
クチュエータ４では、光発光素子（レーザダイオード）
５で光ディスク６を照射し、その反射光を光検出器（フ
ォトディテクタ）７により検出し、電流電圧変換機能お
よび演算機能を有するエラー信号検出回路８により、フ
ォーカスエラー信号ＶFEを得る。
クチュエータ４では、光発光素子（レーザダイオード）
５で光ディスク６を照射し、その反射光を光検出器（フ
ォトディテクタ）７により検出し、電流電圧変換機能お
よび演算機能を有するエラー信号検出回路８により、フ
ォーカスエラー信号ＶFEを得る。
【００１７】フォーカスエラー信号ＶFEは、サーボ回路
９で処理された後、スイッチ11がオンされ、電流帰還型
増幅器１へ入力することにより、光発光素子（レーザダ
イオード）５を光ディスク６との最適焦点を維持するよ
う光ピックアップ・アクチュエータ４を動作する、いわ
ゆるフォーカスサーボ系を構築し、光ディスク６の信号
再生をおこなう。
９で処理された後、スイッチ11がオンされ、電流帰還型
増幅器１へ入力することにより、光発光素子（レーザダ
イオード）５を光ディスク６との最適焦点を維持するよ
う光ピックアップ・アクチュエータ４を動作する、いわ
ゆるフォーカスサーボ系を構築し、光ディスク６の信号
再生をおこなう。
【００１８】一方、フォーカスサーボ引き込み時または
エラー信号評価時においては、スイッチ11をオフしスイ
ッチ12をオンすることにより、フォーカシング・コイル
駆動信号ＶINが増幅器１へ入力される。
エラー信号評価時においては、スイッチ11をオフしスイ
ッチ12をオンすることにより、フォーカシング・コイル
駆動信号ＶINが増幅器１へ入力される。
【００１９】フォーカシング・コイル駆動信号ＶINはフ
ォーカシング・コイル駆動信号発生回路13によって生成
されるアナログ信号である。ここでフォーカシング・コ
イル駆動信号発生回路13は、複数の異なる波形の信号を
周波数可変で発生できる方式の任意信号発生器14と、そ
の出力信号ＶGENの振幅およびオフセットを任意に可変
できる方式のレベル可変回路15と、これらの設定をプロ
グラマブルに制御する制御回路16とで構成され、任意波
形・任意周波数・任意レベルの信号ＶINを生成し、この
信号をフォーカシング・コイル３に印加することによ
り、前述のフォーカスエラー信号ＶFEが得られ、バッフ
ァ回路10により信号を取り出すことにより、多様な評価
条件に対応するフォーカスエラー信号を得ることができ
る。
ォーカシング・コイル駆動信号発生回路13によって生成
されるアナログ信号である。ここでフォーカシング・コ
イル駆動信号発生回路13は、複数の異なる波形の信号を
周波数可変で発生できる方式の任意信号発生器14と、そ
の出力信号ＶGENの振幅およびオフセットを任意に可変
できる方式のレベル可変回路15と、これらの設定をプロ
グラマブルに制御する制御回路16とで構成され、任意波
形・任意周波数・任意レベルの信号ＶINを生成し、この
信号をフォーカシング・コイル３に印加することによ
り、前述のフォーカスエラー信号ＶFEが得られ、バッフ
ァ回路10により信号を取り出すことにより、多様な評価
条件に対応するフォーカスエラー信号を得ることができ
る。
【００２０】なお、フォーカシング・コイル駆動信号発
生回路13は増幅器・抵抗・コンデンサによるディスクリ
ート方式はもとより、専用ＩＣを使用しても同様の作用
効果が得られる。
生回路13は増幅器・抵抗・コンデンサによるディスクリ
ート方式はもとより、専用ＩＣを使用しても同様の作用
効果が得られる。
【００２１】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の光ディスク評価装置は、フォーカシング・コイル駆動
信号に、任意波形・任意周波数・任意レベルの信号が生
成できる任意信号発生回路を用いることにより、フォー
カスエラー信号（Ｓ字信号）の評価検討に際し、多様な
条件でのエラー信号の生成が可能になるという効果を有
する。
の光ディスク評価装置は、フォーカシング・コイル駆動
信号に、任意波形・任意周波数・任意レベルの信号が生
成できる任意信号発生回路を用いることにより、フォー
カスエラー信号（Ｓ字信号）の評価検討に際し、多様な
条件でのエラー信号の生成が可能になるという効果を有
する。
【図１】本発明における光ディスク評価装置の構成を示
すブロック図、
すブロック図、
【図２】従来の光ディスク評価装置の構成を示すブロッ
ク図、
ク図、
【図３】エラー信号（Ｓ字信号）発生の原理を示す図で
ある。
ある。
１ 増幅器 ２ 抵抗 ３ フォーカシング・コイル ４ 光ピックアップ・アクチュエータ ５ 光発光素子（レーザダイオード） ６ 光ディスク ７ 受光素子（フォトダイオード） ８ エラー信号検出回路 ９ サーボ回路 10 バッファ回路 11、12 スイッチ 13 フォーカシング・コイル駆動信号発生回路 14 任意波形信号発生回路 15 任意レベル調整回路 16 制御回路 17 固定信号発生回路 ＶFE フォーカスエラー信号 ＶOUT、ＶGEN 出力信号 ＶIN 駆動信号
Claims (3)
- 【請求項１】 光ピックアップの光学系および電気系の
検査のため、または光ディスクの評価のため、フォーカ
スエラー信号発生手段を有し、該フォーカスエラー信号
発生手段が発生した信号を前記光ピックアップのフォー
カス駆動コイルに印加して前記光ピックアップの出力を
フォーカスエラー信号として利用する光ディスク評価装
置において、前記フォーカス駆動コイルに印加するフォ
ーカスエラー信号発生のための信号を任意に変化させ、
エラー信号評価の多様な条件に対応できるよう構成した
ことを特徴とする光ディスク評価装置。 - 【請求項２】 前記フォーカス駆動コイルに印加するフ
ォーカスエラー信号発生のための信号を生成する手段と
して、任意波形・任意周波数・任意振幅の信号を発生さ
せる任意信号発生手段を備えたことを特徴とする請求項
１に記載の光ディスク評価装置。 - 【請求項３】 前記任意信号発生手段は、複数の異なる
波形の信号を周波数可変で発生できる方式の任意信号発
生器と、その出力信号の振幅およびオフセットを任意に
可変できる方式のレベル可変回路と、これらの設定をプ
ログラマブルに制御する制御回路とから構成されること
を特徴とする請求項２に記載の光ディスク評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15865398A JPH11337442A (ja) | 1998-05-25 | 1998-05-25 | 光ディスク評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15865398A JPH11337442A (ja) | 1998-05-25 | 1998-05-25 | 光ディスク評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11337442A true JPH11337442A (ja) | 1999-12-10 |
Family
ID=15676420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15865398A Pending JPH11337442A (ja) | 1998-05-25 | 1998-05-25 | 光ディスク評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11337442A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008135130A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Ekisupaato Magnetics Kk | 光ディスク検査装置および光ディスク検査方法 |
| US8013886B2 (en) * | 2004-08-27 | 2011-09-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | System for scribing a visible label |
-
1998
- 1998-05-25 JP JP15865398A patent/JPH11337442A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8013886B2 (en) * | 2004-08-27 | 2011-09-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | System for scribing a visible label |
| JP2008135130A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Ekisupaato Magnetics Kk | 光ディスク検査装置および光ディスク検査方法 |
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