JPH11331857A - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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JPH11331857A
JPH11331857A JP10130731A JP13073198A JPH11331857A JP H11331857 A JPH11331857 A JP H11331857A JP 10130731 A JP10130731 A JP 10130731A JP 13073198 A JP13073198 A JP 13073198A JP H11331857 A JPH11331857 A JP H11331857A
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JP
Japan
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image
pixel
line segment
circuit
pixels
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Application number
JP10130731A
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English (en)
Inventor
Masaji Tamura
正司 田村
Narihiro Matoba
成浩 的場
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 画素数の増加量に対して十分に解像度が向上
せず画像のエッジ成分の先鋭性が失われるという問題点
があった。 【解決手段】 レンズ1からの入射光の撮像素子3への
入射位置を所定方向に微小画素分変位させることによ
り、所定時間内に連続して撮影し画素ずらしを施された
画像を出力する撮像部5と、各画像の各色成分信号の撮
影信号に対し処理対象画素を中心とする3×3画素から
なる小領域内の信号レベル平均値から小領域内を2値化
し、この信号に対し予め定められた所定のパターンを基
に処理対象画素を含む線分角度を検出し、処理対象画素
を2×2倍の小画素に分割し各小画素を前記検出された
線分角度に従って所定の信号レベル配分を行う高解像度
化回路9、及び前記小画素への分割を行った各撮像画像
を合成する画像合成回路10を有する画像処理部13と
を備えた。 【効果】 MTFが低下することなく斜線分の高解像度
な再現が良好に行える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、二次元固体撮像
素子を用いた撮像素子と撮影光学系との間に入射光の角
度変位が可能な機構を設けたディジタルスチルカメラ等
の高解像度の撮像装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の撮像装置について図面を参照しな
がら説明する。図25は、例えば、特開平7−2360
86号公報に示された従来の撮像装置の構成を示す図で
ある。また、図26は、図25に示す従来の撮像装置の
撮像部の機構を示す斜視図である。
【0003】CCD等の二次元撮像素子を用いた撮像装
置においては、画像と撮像素子との相対位置を微小に変
化させ、変化させた毎に画像を入力後各画像を合成し、
見かけ上の画素数を増加させて解像度を上昇させるもの
が知られている。
【0004】このような方法による解像度の向上に当た
っては、従来、特開平7−236086号公報に記載さ
れるように、撮影光学系と二次元撮像素子との間に透明
平板部材を平行に配置し、この透明平板部材上に配置さ
れる直線上にない3点の傾斜手段の1点を支持部とし他
の2点を該透明平板部材を作動させる作動部として用い
撮影光学系からの入射光を変位させることで撮像素子上
の画像を微小変位させるものである。
【0005】図25及び図26において、1は画像を結
像させるための撮像レンズ、3は画像を光電変換するた
めの二次元に配列されたCCD等の撮像素子、103は
撮像レンズ1と撮像素子3の間にほぼ平行に配置され撮
像レンズ1から撮像素子3への入射光の入射角度に微小
変位をもたらす透明平板部材である。
【0006】また、同図において、104はレンズ1及
び透明平板部材103を支持するベースユニット、10
5a、105b、及び105cは透明平板部材103を
ベースユニット104に固定すると共に2点を選択的に
作動させて透明平板ユニットを傾斜させる圧縮ばね、1
06a、106b、及び106cは対応する圧縮ばね1
05a〜105cを各々押さえるばね押さえ板、107
aは透明平板部材103と圧縮ばね105a、105b
を貫通するねじと共に設けられ駆動により透明平板部材
103の近傍部位を光軸方向に変位させ透明平板部材1
03に傾斜をもたらすモータ、108a、及び108b
は透明平板部材103及び圧縮ばね105a、105
b、ばね押さえ板106a、106bを含む第一及び第
二作動部である。
【0007】さらに、同図において、109は透明平板
部材103及び圧縮ばね105c、ばね押さえ板106
cを含む支持部であり、作動部108a、及び108b
の作動時に透明平板部材103を支持する。これらは図
示しない匡体に一体的に固定されると共に、図25に示
されるように後段には光電変換された画像信号を処理す
るための所定の画像処理回路、画像バッファメモリ11
0、画像合成メモリ111等が接続されている。
【0008】つぎに、この従来の撮像装置の動作につい
て説明する。まず、2つの作動部108a、及び108
bのいずれも作動させない状態で撮像を行い、後段の画
像バッファメモリ110に画像を記憶する。
【0009】次に、2つの作動部のうちひとつ108a
を作動させると他の作動部108bと支持部109を結
ぶ線を回転軸として透明平板部材103が回転する。し
たがって、透明平板部材103を透過した画像は、かか
る透明平板部材103の傾斜によって移動されて撮像素
子3上に結像し、画像バッファメモリ110にわずかに
ずれた画像を記憶する。
【0010】更に、同じひとつの作動部108aを作動
させれば同一方向に順次画像が移動し、順次画像が撮像
素子3に結像され記憶される。また、作動部108bを
駆動させると、作動部108aと支持部109を結ぶ線
を回転軸として透明平板部材103が傾斜し、前述とは
異なる方向に画像の移動が行われる。
【0011】これら2方向の移動を適宜組み合わせるこ
とにより、任意の位置への2次元の画素ずらしを実施の
後、画像バッファメモリ110に蓄積された複数の撮影
画像を画素ずらしの実施方向を考慮して各対応画素毎に
内挿することで光学的に画素数を増加させた画像が画像
合成メモリ111に得られる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
撮像装置では、光路を二次元的に変更するために透明平
板部材103を2つのモータにより機械的に駆動制御す
るので精度の高い画素ずらし量を実現することが困難で
あるという問題点があった。
【0013】特に、近年の固体撮像素子の画素ピッチ
は、数ミクロンものが主流となっており機械的にその数
分の一の精度を得る為には、複雑な制御系が必要となる
という問題点があった。
【0014】また、光学的な画素ずらしによって得られ
た複数の画像を画像処理回路においてずらし位置に応じ
て単純に内挿し合成しているため、例えば、図27
(a)に示すインパルス画像を水平方向及び垂直方向各
々2段階ずらしで得られる図27(c)、同図(d)、
及び同図(e)と、図27(a)とを4枚の画像として
合成した場合、各撮像素子における光エネルギの積分効
果により合成画像は、図27(b)に示すMTFの劣化
した結果が得られ、画素数の増加量に対して十分に解像
度が向上せず画像のエッジ成分の先鋭性が失われるとい
う問題点があった。
【0015】この発明は、前述した問題点を解決するた
めになされたもので、画素数の増加量に対して十分に解
像度が向上した画像を実現することができる撮像装置を
得ることを目的とする。
【0016】なお、かかる問題を解決するために、本出
願人は特開昭62−26984号公報等において撮像光
学系を機械的に振動させることなく微小画素ずらしを行
う方法を出願している。
【0017】
【課題を解決するための手段】この発明に係る撮像装置
は、撮像光学系からの入射光の撮像素子への入射位置を
所定方向に微小画素分変位させることにより、所定時間
内に連続して撮影し画素ずらしを施された画像を出力す
る撮像部と、前記撮像部から出力されたアナログ画像を
デジタル画像に変換するA/D変換回路、前記デジタル
画像を記憶する画像メモリ、各画像の各色成分信号の撮
影信号に対し処理対象画素を中心とするM×N画素(M
及びN≧2、M及びN:自然数)からなる小領域内の信
号レベル平均値から小領域内を2値化し、2値化された
信号に対し予め定められた所定のパターンを基に前記処
理対象画素を含む線分角度を検出し、前記処理対象画素
をL×K倍(L及びK:自然数)の小画素に分割し分割
された各小画素を前記検出された線分角度に従って所定
の信号レベル配分を行う高解像度化回路、及び前記小画
素への分割を行った各撮像画像を合成する画像合成回路
を有する画像処理部とを備えたものである。
【0018】また、この発明に係る撮像装置は、前記高
解像度化回路が、過去複数ライン分の画素データを順次
蓄積するラインバッファと、前記処理対象画素及び(M
×N−1)近傍画素の1色成分に対して信号レベル平均
値を算出し、この算出した信号レベル平均値をしきい値
としてP×Q(P及びQ≧2、P及びQ:自然数)画素
ウィンドウ内の各G画素の信号値を2値化し、この2値
化されたウィンドウ内のG画素を予めパターンメモリに
記憶されている複数のパターンと比較し、パターンの一
致により中心画素を通る線分角度及び線分のどちら側に
明あるいは暗があるかという線分角度情報を検出する線
分角度検出回路と、前記処理対象画素をL×K倍の小画
素に分割し分割された各小画素を前記線分角度に従って
G色信号レベル配分を行うG色信号レベル配分回路と、
前記線分角度検出回路により線分角度検出を行わなかっ
た残りのRB色成分信号の各画素に対して前記信号レベ
ル配分されたG色信号を用いてL×K倍の小画素への分
割を行い、分割された各小画素を前記線分角度に従って
RB色信号レベル配分を行うRB色信号レベル配分回路
とを含むものである。
【0019】また、この発明に係る撮像装置は、前記高
解像度化回路が、過去複数ライン分の画素データを順次
蓄積するラインバッファと、前記処理対象画素及び(M
×N−1)近傍画素のG成分に対して信号レベル平均値
を算出し、この算出した信号レベル平均値をしきい値と
してP×Q(P及びQ≧2、P及びQ:自然数)画素ウ
ィンドウ内の各G画素の信号値を2値化し、この2値化
されたウィンドウ内のG画素を予めパターンメモリに記
憶されているG色信号用線分検出パターンと比較し、パ
ターンの一致により中心画素を通る線分角度及び線分の
どちら側に明あるいは暗があるかという線分角度情報を
検出するG色用線分角度検出回路と、前記処理対象画素
及び(M×N−1)近傍画素のR成分に対して信号レベ
ル平均値を算出し、この算出した信号レベル平均値をし
きい値としてM×N画素ウィンドウ内の各R画素の信号
値を2値化し、この2値化されたウィンドウ内のR画素
を予めパターンメモリに記憶されているR色信号用線分
検出パターンと比較し、パターンの一致により中心画素
を通る線分角度及び線分のどちら側に明あるいは暗があ
るかという線分角度情報を検出するR色用線分角度検出
回路と、前記処理対象画素及び(M×N−1)近傍画素
のB成分に対して信号レベル平均値を算出し、この算出
した信号レベル平均値をしきい値としてM×N画素ウィ
ンドウ内の各B画素の信号値を2値化し、この2値化さ
れたウィンドウ内のB画素を予めパターンメモリに記憶
されているB色信号用線分検出パターンと比較し、パタ
ーンの一致により中心画素を通る線分角度及び線分のど
ちら側に明あるいは暗があるかという線分角度情報を検
出するB色用線分角度検出回路と、前記処理対象画素を
L×K倍の小画素に分割し分割された各小画素を前記線
分角度情報に従ってG色信号レベル配分を行うG色信号
レベル配分回路と、前記処理対象画素をL×K倍の小画
素に分割し分割された各小画素を前記線分角度情報に従
ってR色信号レベル配分を行うR色信号レベル配分回路
と、前記処理対象画素をL×K倍の小画素に分割し分割
された各小画素を前記線分角度情報に従ってB色信号レ
ベル配分を行うB色信号レベル配分回路とを含むもので
ある。
【0020】また、この発明に係る撮像装置は、前記画
像合成回路が、画素ずらし位置に対応して各色成分信号
値の単純平均演算を行うものである。
【0021】また、この発明に係る撮像装置は、前記画
像合成回路が、画素ずらし位置に対応して実際の撮像素
子の開口率を考慮した交差比率に準じて重み付け平均演
算を行うものである。
【0022】また、この発明に係る撮像装置は、前記各
信号レベル配分回路における小画素は1×1であり、前
記画像合成回路が、ずらし方向に対応して高解像度化さ
れた画素を仮挿入した後、各画像の1色成分信号に対し
処理対象画素を中心とするM×N画素からなる小領域内
の信号レベル平均値から小領域内を2値化する小領域内
2値化手段と、2値化された信号に対し予め定められた
所定のパターンを基に前記処理対象画素を含む線分角度
検出を行う線分角度検出手段と、前記処理対象画素をL
×K倍の小画素に分割し分割された各小画素を前記検出
された線分角度に従って所定の信号レベル配分を行う信
号レベル配分手段とを含むものである。
【0023】また、この発明に係る撮像装置は、前記高
解像度化回路及び前記画像合成回路が、前記画像メモリ
に記憶された各撮影画像をM×N倍の画素数の画像テン
プレート内の対応する位置に挿入する画像合成手段と、
合成後の全色成分信号の撮影信号に対し処理対象画素を
中心とするP×Q画素からなる小領域内の信号レベル平
均値から小領域内を2値化する小領域内2値化手段と、
2値化された信号に対し予め定められた所定のパターン
を基に前記処理対象画素を含む線分角度検出を行う線分
角度検出手段と、前記処理対象画素をL×K倍の小画素
に分割し分割された各小画素を前記検出された線分角度
に従って所定の信号レベル配分を行う信号レベル配分手
段とを含むものである。
【0024】また、この発明に係る撮像装置は、前記撮
像部が、画像を結像するレンズと、直線偏光を作る偏光
子と、RGBの原色フィルタが表面上に配置され電荷結
合素子を面状に備え光学像を光電変換する撮像素子と、
前記偏光子と前記撮像素子との間に配設され磁界発生回
路によりコイル内に発生した磁界によって磁気光学効果
を生じるファラデー素子と、前記ファラデー素子と前記
撮像素子との間に配設され光を独立した偏光成分に分割
する複屈折板と、前記ファラデー素子への印加磁界条件
を変更することができる撮像部制御回路とを有するもの
である。
【0025】また、この発明に係る撮像装置は、前記撮
像部が、画像を結像するレンズと、RGBの原色フィル
タが表面上に配置され電荷結合素子を面状に備え光学像
を光電変換する撮像素子と、前記レンズと前記撮像素子
との間に配設され電界発生回路による電解の強さに応じ
て透過光の屈折現象が変化する電気光学素子と、前記電
気光学素子と前記撮像素子との間に配設され直線偏光を
作る偏光子と、前記電気光学素子への印加電界条件を変
更することができる撮像部制御回路とを有するものであ
る。
【0026】また、この発明に係る撮像装置は、前記撮
像部が、画像ずらし方向を45度とし、ずらし距離を半
画素とした、2枚の画素ずらし撮影画像を出力するもの
である。
【0027】さらに、この発明に係る撮像装置は、前記
撮像部が、画像ずらし方向を水平あるいは垂直とし、ず
らし距離を1画素とした、2枚の画素ずらし撮影画像を
出力するものである。
【0028】
【発明の実施の形態】実施の形態1.この発明の実施の
形態1に係る撮像装置について図面を参照しながら説明
する。図1は、この発明の実施の形態1に係る撮像装置
の全体構成を示すブロック図である。また、図2は、こ
の実施の形態1に係る撮像装置の撮像素子の色フィルタ
配列を示す図である。さらに、図3は、この実施の形態
1に係る撮像装置の撮像部の構成を示す図である。な
お、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
【0029】なお、図3は、図1における撮像部5の詳
細構成を示したものであり、画素ずらし手段2として、
例えば本出願人により出願済みの特開昭61−2674
62号公報に示される磁場によって異方性を示す磁気光
学素子を用いた場合を例にとって説明する。
【0030】図1において、1はレンズ、2はレンズ1
に入射する被写体像の光路を変調する画素ずらし手段、
3はRGBの原色フィルタが図2のように表面上に配置
された開口率100%の正方形の電荷結合素子(CC
D)を面状に備え光学像を光電変換する撮像素子、4は
印加磁界の変化によりレンズ1からの入射光を斜め45
度方向に半画素分画素ずらしを行う画素ずらし手段2、
撮像素子3を制御する撮像部制御回路、5はレンズ1、
画素ずらし手段2、撮像素子3、及び撮像部制御回路4
を含む撮像部である。
【0031】また、同図において、6は撮像データを一
時記憶する画像メモリ、7は撮像部5で撮影したアナロ
グ画像をデジタル化し画像メモリ6に記憶するアナログ
デジタル変換回路(A/D変換回路)、8はデジタル化
された撮像データに対し白バランス補正処理を行う自動
白バランス回路(AWB回路)、9は撮影画像をデジタ
ル画像処理で高解像度化する高解像度化回路、10は高
解像度化された2枚の撮影画像を1枚の画像に合成する
画像合成回路、11は画像合成回路10で得られる1枚
の高解像度化された画像に対し光学系あるいは回路系で
発生するノイズ除去を行うノイズ除去フィルタ等を含む
画像補正回路、12はAWB回路8、高解像度化回路
9、画像合成回路10、及び画像補正回路11を制御す
るとともに撮像部5と通信しカメラ全体の動作を制御す
る画像処理制御回路、13はAWB回路8、高解像度化
回路9、画像合成回路10、画像補正回路11、及び画
像処理制御回路12を含む画像処理部である。
【0032】さらに、同図において、14は撮像部5及
び画像処理部13を経て最終的に得られる画像を液晶画
面表示、あるいはフラッシュメモリ等の2次記憶手段に
蓄積、あるいはシリアルインタフェースや赤外線通信等
の伝送路とのデータインタフェース、あるいはシャッタ
スイッチ等のマンマシンインタフェースを行うインタフ
ェース部である。
【0033】つぎに、この実施の形態1の動作について
説明する。ここでは、画素ずらし手段2を用いて45度
方向に半画素ずらした画像を2枚撮影し、CCDの実際
の画素数に対して2×2倍の画素密度を有する高精細画
像を得る手順について説明する。
【0034】高精細モードでの撮影がインタフェース部
14より撮影者によって設定され、図示しないレリーズ
スイッチの押し下げがマンマシンインタフェースから画
像処理部13に伝達されると、撮像部5では後述する磁
界発生回路における第一の印加磁界条件(例えば、印加
磁界なし)での撮像動作を行う。これにより撮影された
画像は、撮像部5から画像処理部13へ伝送される。
【0035】画像処理部13では、入力画像信号を逐次
A/D変換回路7によってデジタル信号に変換し画像メ
モリ6に記憶させる。
【0036】次に、撮像部制御回路4における第二の印
加磁界条件により撮影された画像は、伝送路を経て撮像
部5から画像処理部13へ伝送され、同様にA/D変換
回路7によってデジタル信号に変換し画像メモリ6に記
憶される。
【0037】次に、画像処理部13では、第二の撮影画
像の入力終了に伴い画像メモリ6上に記憶されている第
一及び第二の撮影画像の読出しを行い、AWB回路8に
より両画像のRGB各色プレーンの信号値に基づき各色
用信号の強度補正係数を算出する。
【0038】次に、画像メモリ6に蓄積された第一及び
第二の撮影画像は、再度AWB回路8によって読み出さ
れ、各色毎の信号レベル値に強度補正係数を乗じ白補正
処理を施した後、高解像度化回路9に順次画像データを
転送する。
【0039】次に、高解像度化回路9では、第一及び第
二の撮影画像に対しパターンマッチング法により線分角
度検出を行い、これにより得られた線分の角度に基づき
同色の周辺画素値を用いることで該当色の色情報欠落位
置(色フィルタの補色位置)に信号レベルを補間すると
同時に、斜線分を撮影時より2×2倍に高密度化された
線分情報に置き換えて高解像度化を実施する。さらに、
ここで完成した2枚のRGBフルプレーンからなる2×
2倍の画素密度を持つ画像は、画像合成回路10におい
て撮影時の画素ずらし位置に合わせて合成され、後段の
画像補正回路11、インタフェース部14へ順次転送さ
れる。
【0040】以下に、撮像部5における画素ずらし手段
2、並びに画像処理部13における高解像度化回路9及
び画像合成回路10の詳細な説明を行う。
【0041】撮像部5の詳細構成及び動作について図3
及び図4を参照しながら説明する。図4は、この実施の
形態1に係る撮像装置の撮像部の動作原理を示す図であ
る。
【0042】図3及び図4において、15は磁界発生回
路、16は磁界発生回路15に印加する電圧に応じて内
部に磁界を発生させるコイル、17は磁界発生回路15
によりコイル16内に発生した磁場により磁気光学効果
を生じるファラデー素子、18は偏光子、19は複屈折
板である。
【0043】図5、図6、及び図7は、偏光子18、フ
ァラデー素子17、及び複屈折板19を、それぞれ図4
のA−A線、B−B線、及びC−C線から見た図であ
る。
【0044】図4において、画像を結像させるためのレ
ンズ1からの光が偏光子18に入射すると、図5に示す
振幅方向Waの直線偏光が得られる。図4に示すHaは
ファラデー素子17に印加されている磁界の方向であ
る。図5に示されている振動方向Waの直線偏光が、例
えば鉛ガラスのようなファラデー素子17に入射する
と、上記磁界の方向Haの印加磁界により上記直線偏光
の偏光面が回転する。なお、ファラデー素子17に磁界
の方向Haに進む直線偏光を入射させると、その透過光
の偏光面が回転するが、その回転角θは次の式1により
得られる。
【0045】 θ=R×l×H ・・・式1
【0046】ここで、「l」はファラデー素子17の厚
さ、「H」は磁界の強さ、「R」はベルデ(Verde
t)定数である。なお、上記式1に関しては、例えば株
式会社朝倉書店発行の「光学的測定ハンドブック」等に
記載されている。
【0047】図4において、回転角θが0度となる磁界
の強さをHθ0とすると、H=Hθのときに示す振動方
向Waの直線偏光が得られ、H=Hθ0のときには、図
6に示す振動方向Wθ0の直線偏光が得られる。
【0048】図7に示すQは複屈折板19の光学軸であ
る、振動方向Waの直線偏光が複屈折板19に入射する
と、図7に示す常光線LOが得られる。また、振動方向
θ0の直線偏光が複屈折板19に入射すると、図7に
示す異常光線LEが得られる。常光線LOと異常光線LE
の距離をPとし、各図3及び図4に示す複屈折板19に
おける上記Pを、P=PH/2(PHは撮像素子3の水平
画素ピッチを示す)に選ぶ。
【0049】ファラデー素子17に印加される磁界の強
さHの変化の位相は、図8(1)に示すフィールドシフ
トパルスに一致させる。上述した動作により、この実施
の形態1による撮像装置では、各A、Bフィールドでの
信号電荷蓄積を入射画像と撮像素子3の画素との相対的
な位置に関して、PH/2だけ離れた位置で行うことが
できる。すなわち、ファラデー素子17に印加される磁
界の強さHを時間的に変化させ、入射光学像と撮像素子
3との相対的な位置関係を時間的に変化させることによ
り、空間サンプリング領域を増加できる。これに対応し
て図8(3)に示す信号読み出しパルスのタイミング
も、上記PH/2に相当する時間Tだけずらしてある。
その結果、図8(5)に示すように、この実施の形態1
による撮像装置は、各A、Bフィールドを1フレームと
した1周期で高画素密度化画像を得ることが可能にな
る。
【0050】この実施の形態1では、説明の簡易化のた
め画素ずらし方向として水平方向すなわち一次元空間に
対する座標について説明したが、同様な原理で画素ずら
し位置を二次元的に行える。その際には、偏光子18、
磁気光学効果を有する第一の光学素子、複屈折板19か
らなるn組の光学素子群を撮像系に配置しそれぞれの光
学素子群の間に、例えば、直線偏光を円偏光に変換する
1/4波長板をn−1個挿入すればよい。上記n組の光
学素子群におけるn個の磁気光学効果を有する光学素子
に印加する2値的な電圧をそれぞれ設定することにより
2のn乗枚の画素ずらしした画像を得ることができる。
【0051】次に、上記撮像原理により図9に示す●
(黒丸)印で表される第一の印加磁界条件による画素位
置に対し、○(白丸)印で表される第二の印加磁界条件
による画素ずらし画像を撮影した場合の高解像度化処理
について、図を用いて詳細に説明する。
【0052】図10は、図1における高解像度化回路9
の内部構成図である。同図において、20a及び20b
は1枚目及び2枚目の撮影画像に対する高解像度化回路
であり、構成及び動作は同一である。
【0053】また、図11は、第一及び第二の撮影画像
用高解像度化回路20a及び20bの実際の内部構成を
示した概略構成図である。同図において、21(21a
〜21g)はラインバッファ、22はラインバッファ2
1a〜21gから入力される複数の画像信号に対して信
号レベルの平均値を算出する平均値算出回路、23は平
均値算出回路22で算出した平均信号レベルをしきい値
に入力される画像信号を2値化する2値化処理回路、2
4は2値化処理回路23で2値化処理された画素ウィン
ドウの模式図、25は2値化された画素ウィンドウ24
に対しパターン検出を行うためのパターンメモリ、26
は検出されたパターンに付随する線分角度情報に基づい
てG色信号に信号レベル値を配分するG色信号レベル配
分回路、27はR色及びB色信号に対して信号レベル値
を配分するRB色信号レベル配分回路、28は平均値算
出回路22、及び2値化処理回路23から構成される線
分角度検出回路である。なお、平均値算出回路22は、
小領域内の信号レベル平均値でなく中央値(メディア
ン)を用いてもよく、2値化処理の際のしきい値を8近
傍画素の平均値を用いる場合に比べて、ショットノイズ
のような周辺画素において例外的にレベルの異なる信号
値に影響されずに安定したしきい値算出が可能となり、
線分角度情報検出が高精度に行えるという効果がある。
【0054】次に、動作について説明する。AWB回路
8から出力された撮像データはファーストイン・ファー
ストアウト・バッファ(FIFOバッファ)により構成
されるラインバッファ21に順次蓄積される。このライ
ンバッファ21は、AWB回路8から送出された過去7
ライン分の画素信号データがラインバッファ21a、ラ
インバッファ21b、・・・、ラインバッファ21gに
1画素ずつ順送りされながら保持されている。注目画素
1画素を対象に線分検出処理を行う際、ラインバッファ
21からは線分角度検出回路28に対し処理対象画素を
中心とする7×7画素からなるウィンドウ単位に画素信
号を供給する。
【0055】線分角度検出回路28では、処理対象画素
及び8近傍画素のG成分に対して信号レベル平均値を算
出する。次に、算出した信号レベル平均値をしきい値と
して7×7画素ウィンドウ内の各G画素の信号値を2値
化する。2値化されたウィンドウ内のG画素は予めパタ
ーンメモリ25に記憶されている複数のパターンと比較
され、パターンの一致により中心画素を通る線分角度及
び線分のどちら側に明あるいは暗があるかという線分角
度情報が認識される。7×7画素ウィンドウ24を用い
ることで検出可能な線分角度を図12に示す。
【0056】これらの線分角度情報は、ラインバッファ
21から出力される7×7画素ウィンドウの2値化前の
画素信号とともに後段のG色信号レベル配分回路26及
びRB色信号レベル配分回路27に引き渡される。G色
信号レベル配分回路26及びRB色信号レベル配分回路
27では、注目画素を2×2倍に分割した各画素への各
色用信号レベル配分が行われる。
【0057】例えば、G色信号レベル配分回路26で
は、注目画素がG色フィルタを透過した信号である場
合、図13(a)に示す注目画素を含む8近傍にある網
掛け部分5画素の信号レベル値をもとに、線分角度及び
線分の両側の明暗情報に従って新規の4個の小画素に信
号値を最適配分する。また、注目画素がR色またはB色
フィルタを透過した信号である場合、図13(b)に示
す注目画素8近傍の網掛け部分4画素の信号レベル値を
もとに同様に注目画素の新規4個の小画素に信号値を配
分し画素補間を行う。G色信号レベル配分回路26にお
けるこれら2種類の参照画素配置は、図示しない画素ア
ドレスカウンタにより管理され、いずれの配置で処理す
るかが制御される。
【0058】また、RB色信号レベル配分回路27で
は、信号レベル配分する場合の同色参照画素の配置とし
て図14に示す4種類のケースが考えられる。これらは
G色信号レベル配分回路26と同様、画素アドレスカウ
ンタにより管理及び制御されている。RB色信号レベル
配分回路27では、G色信号レベル配分回路26と同様
に、線分角度検出回路28からの情報をもとに注目画素
を含む周辺1または2または4画素の信号レベル値を参
照して注目画素を新規に4分割した場合の最適信号レベ
ル配分を実施する。このようにして2枚の画像を対象と
した各処理対象画素に対する高解像度化処理が高解像度
化回路9で行われ、画像合成回路10へと送出される。
【0059】次に、RGB色全ての色プレーンに対して
欠落画素の補間及び画素分割及び信号レベル配分された
2枚の高画素密度化画像データは、逐次、画像合成回路
10に入力される。画像合成回路10では、2枚の画像
データを1枚の画像に合成処理される。撮像の際の半画
素ずらしによって生じる2枚の画像が4分割された小画
素単位で重なることから、対応する画素間でRGB各プ
レーンに対して例えば単純平均値を求めることで算出さ
れる。
【0060】以上のように、撮像素子の2×2倍の画素
数を持つ4画素分の高解像度画像が画像合成回路10よ
り出力され、画像補正回路11において光学系及び撮像
系の画像歪を補正するノイズ除去フィルタ等の処理が施
され、インタフェース部14に送られる。
【0061】このようにして、入力1画素に対する一連
の処理終了後は、処理対象とする注目画素が1画素ラス
タスキャン方向に変更され同様の処理過程を繰り返すこ
とで、撮像画面全体の高解像度化処理が実施される。
【0062】なお、この実施の形態1では、磁界発生回
路15における第一及び第二の印加磁界条件による撮影
画像を共に画像メモリ6に記憶し、第二の印加磁界条件
による撮影終了に合わせて画像処理部13で高精細化処
理を行うよう構成したが、画像メモリ6をA/D変換回
路7及びAWB回路8の双方からアクセス可能な構成に
しておき、第一の印加磁界条件による撮影及び画像メモ
リ6への蓄積後、第二の印加磁界条件による撮影画像中
に第一の撮影画像を画像メモリ6から読み出しAWB回
路8で色補正係数を算出しておき、第二の撮影終了後、
第一の撮影画像及び第二の撮影画像を画像メモリ6から
読み出し、AWB回路8で白バランス補正処理を実行す
る構成にしても同様な効果が得られる。
【0063】また、この実施の形態1では、画素ずらし
手段2を用いて45度方向に半画素ずらして撮影した2
枚の画像を用いて高解像度化処理する例を示したが、こ
の限りでない。すなわち、CCDの撮像素子3は有限数
が面状に配置されており撮像素子面における入射光を積
分値として信号出力するため、これにより撮影画像の空
間周波数は制約を受けていることが標本化定理より説明
できる。これに対し、「2台のカメラを用いる超高精細
画像取得法」(小松、相澤、斎藤:テレビジョン学会誌
Vol.45,N0.10,pp.1256〜126
2)によると、開口率100%の撮像素子を用いて画素
ずらし画像を統合した場合、2倍以内の解像度まで改善
可能であることが明示されている。本方式を用いて実際
の撮像素子3の開口率や撮像素子の形状等を考慮してず
らし方向、ずらし量及び撮影枚数を最適化することで合
成画像における解像度を最適化することができる。
【0064】すなわち、この実施の形態1に係る撮像装
置は、撮像光学系(レンズ1)と、二次元的に配置され
た複数の画素により構成された撮像素子3と、撮像光学
系からの入射光の所定波長成分のみを選択的に透過する
撮像素子上に形成された複数種の色フィルタと、撮像光
学系からの入射光の撮像素子への入射位置を所定方向に
微小画素分変位させる画素ずらし手段2と、画素ずらし
手段を制御する撮像部制御回路4とを備えた撮像装置に
おいて、所定時間内に連続して撮影したT枚(T≧2、
T:自然数)の画素ずらしを施された各画像を記憶する
画像メモリ6と、画像メモリ6に記憶された各画像の1
色成分信号の撮影信号に対し処理対象画素を中心とする
M×N画素(M及びN≧2、M及びN:自然数)からな
る小領域内の信号レベル平均値から小領域内を2値化す
る2値化処理回路23と、2値化された信号に対し予め
定められた所定のパターンを基に処理対象画素を含む線
分角度検出を行う線分角度検出回路28と、処理対象画
素をL×K倍(L及びK:自然数)の小画素に分割し分
割された各小画素を線分角度検出回路28で検出された
線分角度に従って所定の信号レベル配分を行うG色信号
レベル配分回路26と、線分角度検出回路28により線
分角度検出を行わなかった残りの色成分信号の各画素に
対して前記信号レベル配分された色信号を用いてL×K
倍の小画素への分割を行うRB色信号レベル配分回路2
7と、小画素への分割を行った2枚の撮像画像を合成す
る画像合成回路10とを備えたものである。
【0065】この実施の形態1に係る撮像装置は、画素
ずらし手段2としてモータ等による機械的駆動制御が不
要なため小電力且つ簡易な装置構成で、ずらし精度の高
い画素ずらし画像を入力できるという効果がある。
【0066】また、この実施の形態1に係る撮像装置
は、画素ずらしで得られた複数の撮影画像に対し高解像
度化のための画素分割をパターンマッチング法に基づい
た線分角度情報を使用して最適な信号レベル配分を行っ
ているため、最終的に得られる画素密度の増加した出力
画像においてMTFが低下することなく斜線分の高解像
度な再現が良好に行えるという効果がある。
【0067】また、この実施の形態1に係る撮像装置
は、画像の高解像度化のための処理系は入力用画像メモ
リ6より後段については入力画素を逐次処理可能なた
め、高々7ライン程度のラインバッファ21及びパター
ン参照用パターンメモリ25で構成可能であり、装置コ
ストの上昇を最小限に抑えながら付加価値を付与可能と
いう効果がある。
【0068】さらに、この実施の形態1に係る撮像装置
は、入力画像の全色成分に対してG成分のみの線分角度
情報をもとに画素分割の際の信号レベル配分を行ってい
るため、複数の線分角度検出回路が不要であり、簡易な
回路で実現可能であるという効果がある。
【0069】さらに、この実施の形態1に係る撮像装置
は、画像合成回路10における画像合成処理を2枚の画
像のずらし位置に対応する合成処理を単純平均演算で算
出しているため、画像合成に必要な演算処理が簡易に実
現できるとともに、第一の高解像度化画像及び第二の高
解像度化画像の対応点での線分角度検出回路における検
出結果の相違等から生じるエッジ再現の相違を低域通過
フィルタ効果により吸収できるいう効果がある。
【0070】さらに、この実施の形態1に係る撮像装置
は、2枚の撮影画像を斜め45度方向に半画素ずらして
撮影することにより、通常使用される単板カラー撮像素
子に水平及び垂直方向に周期的に配置される各色フィル
タ配列が原因で補間時に生じる色モアレ縞を良好に低減
できるという効果がある。
【0071】以上のように、この実施の形態1に係る撮
像装置によれば、安価な低密度撮像素子を用いて高解像
度を得ることができるという優れた効果を有するもので
ある。
【0072】実施の形態2.この発明の実施の形態2に
係る撮像装置について図面を参照しながら説明する。図
15は、この発明の実施の形態2に係る撮像装置の高解
像度化回路の第一の撮影画像用高解像度化回路の構成を
示す図である。図15は、この実施の形態2における高
解像度化回路のうち1枚の撮影画像用高解像度化回路の
構成を示したものである。なお、この実施の形態2の全
体構成は、撮影画像用高解像度化回路以外については上
記の実施の形態1と同様である。
【0073】図15において、29はG色用線分角度検
出回路、30はR色用線分角度検出回路、31はB色用
線分角度検出回路、32はR色信号レベル配分回路、3
3はB色用信号レベル配分回路である。
【0074】次に、動作について説明する。画素ずらし
機構を含む撮像部5の動作については上記の実施の形態
1と同様である。
【0075】画素ずらし手段2を用いて撮像部5から入
力された撮影画像は、順次画像メモリ6に蓄積され、A
WB回路8で白バランス補正が施された後、高解像度化
回路9の各画像用の高解像度化回路20a及び20bに
逐次入力される。
【0076】高解像度化回路20aでは、入力された画
像データがラインバッファ21に一時蓄積され、処理対
象の注目画素を中心とする7×7画素ウィンドウとして
G色、R色及びB色用の線分角度検出回路29及び30
及び31にそれぞれ同じデータが入力される。
【0077】各色用線分角度検出回路29、30及び3
1では、入力画素信号のうち図13及び図14に示す処
理対象画素の8近傍にある各々該当する色信号に関する
信号レベル平均値を算出し、それをしきい値にして該当
色信号を2値化する。2値化された各色信号は、パター
ンメモリ25に予め記憶されている各色信号用線分検出
パターンと比較され、該当する線分角度情報として各色
用信号レベル配分回路26、32及び33に伝送され
る。
【0078】各信号レベル配分回路26、32及び33
では、検出された線分角度情報に従って各色の4分割画
素に対し最適な信号レベル配分が行われる。このように
して色毎に画素を4分割または画素情報を持たない座標
に関しては4分割された画素補間が行われ高解像度のR
GB色信号を持った画素として出力される。
【0079】次に、高解像度化回路20a及び20bか
ら出力された2枚の高解像度画像は、上記の実施の形態
1に示したものと同様に構成可能な画像合成回路10に
逐次入力され、1枚の高解像度画像として合成される。
このようにして得られた高解像度画像は、インタフェー
ス部14に転送され、撮像素子1画素分の一連の高精細
化処理が終了する。以下、画像メモリ6からの読み出し
及びラインバッファ21の入出力をスキャン方向に1画
素ずつ順次FIFO形式で入出力させることで画像全体
の高解像度化処理が終了する。
【0080】すなわち、この実施の形態2に係る撮像装
置は、撮像光学系(レンズ1)と、二次元的に配置され
た複数の画素により構成された撮像素子3と、撮像光学
系からの入射光の所定波長成分のみを選択的に透過する
撮像素子上に形成された複数種の色フィルタと、撮像光
学系からの入射光の撮像素子への入射位置を所定方向に
微小画素分変位させる画素ずらし手段2と、画素ずらし
手段を制御する撮像部制御回路4とを備えた撮像装置に
おいて、所定時間内に連続して撮影したT枚の画素ずら
しを施された各画像を記憶する画像メモリ6と、この画
像メモリに記憶された各画像の全色成分信号の撮影信号
に対し処理対象画素を中心とするM×N画素(M及びN
≧2、M及びN:自然数)からなる小領域内の信号レベ
ル平均値から小領域内を2値化する2値化処理回路23
a〜23cと、2値化された信号に対し予め定められた
所定のパターンを基に処理対象画素を含む線分角度検出
を行う線分角度検出回路29〜31と、処理対象画素を
L×K倍(L及びK:自然数)の小画素に分割し分割さ
れた各小画素を線分角度検出回路で検出された線分角度
に従って所定の信号レベル配分を行う信号レベル配分手
段26、32、33と、小画素への分割を行った2枚の
撮像画像を合成する画像合成回路10とを備えたもので
ある。
【0081】この実施の形態2に係る撮像装置は、色毎
に線分角度検出を行うよう構成したため、例えばマゼン
タ色のようなG成分のみでは検出が困難な色輪郭に存在
する線分を適正に高解像度化できるという効果がある。
【0082】実施の形態3.この発明の実施の形態3に
係る撮像装置について図面を参照しながら説明する。な
お、この実施の形態3の全体構成は、上記の実施の形態
1と同様である。
【0083】画素ずらし手段2を含む撮像部5の構成及
び動作、並びに画像処理部13の構成に関しては上記の
実施の形態1と同様に図1のように構成される。この実
施の形態3で特徴的である画像処理部13の画像合成回
路10の動作について詳細な説明を行う。
【0084】撮像部5で撮影された2枚の画像信号は、
画像処理部13のA/D変換回路7を経て画像メモリ6
に蓄積される。蓄積された画像データは、AWB回路8
で白バランス補正を施された後、高解像度化回路9に逐
次入力される。この高解像度化回路9では、7×7画素
ウィンドウ形成用のラインバッファ21に画像データが
蓄積された後、線分角度検出回路において上記の実施の
形態1または2に示す方法により各画像の線分角度情報
の検出を行う。検出された線分角度情報はラインバッフ
ァ21からの多値画像信号とともに画像合成回路10に
入力される。
【0085】以下に、画像合成回路10の動作に関し図
を用いて説明する。図16は、2枚の画像を斜め45度
方向に半画素ずらして連続撮影する場合の模式図であ
り、光路を固定と想定した場合の撮像素子3の相対的な
ずれ位置を示している。
【0086】例えば、撮像素子3としてCCDを用いた
場合、撮像素子3を配置する基板またはLSIウェハー
上には撮像素子3と電荷伝送路等の配線が配置されてお
り、CCDの受光部分の占める面積比である開口率を十
分に取れない場合がある。
【0087】この場合、画像合成回路10における画像
合成を考慮すると、上記条件で撮影された2枚の入力画
像は画像情報を相互に重複して持つ領域が開口率に対し
て変化し、開口率100%で完全に重複し開口率50%
で重複部分は完全になくなる。
【0088】図16において、1枚目の撮影画像から4
分割し高精細化した場合のある画素の任意色信号レベル
をX1とおくと、半画素ずらしにより同一のCCDで得
られる高精細化された重複画素はX2の位置で示され
る。高解像度化された1枚目の画像における任意色X1
に対して2枚目の高解像度化された画像における対応点
の対応色X2を画像合成回路10で合成する場合、次の
式2に従って、開口面積比率に準じた最適な最終画素値
Xを算出することが可能である。
【0089】 X=(X1+Y2×X2)/(1+Y2) ・・・式2
【0090】但し、上記の式2中のYは、次の式3の条
件を満たす。
【0091】 Y=0.02×K−1 ・・・式3
【0092】ここで、Kは開口率(単位は%)であり、
50≦K≦100とする。
【0093】以上のように、CCDの開口率を考慮する
ことで被写体上の撮影座標に対応した高解像度の画素補
間が実施できる。
【0094】すなわち、この実施の形態3に係る撮像装
置は、画像合成回路10が画素ずらし手段2によってず
らされた画素ずらし位置に対応して実際の撮像素子3の
開口率を考慮した交差比率に準じて重み付け平均演算を
行うものである。
【0095】この実施の形態3に係る撮像装置は、開口
率が低い安価な撮像素子を使用した場合でも良好に線分
情報を再現することが可能であり、十分に高解像度化で
きるという効果がある。
【0096】実施の形態4.この発明の実施の形態4に
係る撮像装置について図面を参照しながら説明する。な
お、この実施の形態4の全体構成は、上記の実施の形態
1と同様である。
【0097】撮像部5による画素ずらしを用いた2枚の
画像撮影、AWB回路8による白バランス調整の構成及
び動作、高解像度化回路9の構成は上記の実施の形態1
と同様である。また、画像合成回路10は、図15の高
解像度化回路20aと同様の構成をとっており、入力に
7×7画素からなるウィンドウを形成するためのライン
バッファが備えられ、後段には線分角度検出回路及び信
号レベル配分回路が備えられている。すなわち、上記の
実施の形態1に示す高解像度化回路20a及びbの後段
にそれぞれ同等の回路が2段目として存在する構成であ
る。
【0098】次に、動作について説明する。画素ずらし
手段2により画素ずらしされた2枚の撮影画像は、画像
処理部13でAWB回路8を経て高解像度化回路9に入
力される。
【0099】入力された2枚の画像信号は、上記の実施
の形態1または実施の形態2に示す方法を用いて4分割
はされずに1×1倍のまま高解像度化される。すなわ
ち、ここでは画素数を変えることなく線分方向に対応し
た該当色画素値の調整と色フィルタによる画像信号欠落
部分への画素補間のみが実施される。
【0100】高解像度化回路20a及びbで線分輪郭補
正されたRGB全色揃った2枚の画像は、画像合成回路
10に入力される。この画像合成回路10では、画素ず
らし位置に準じた画素位置に2枚の画像データが仮挿入
された新規の7×7画素からなるウィンドウを形成され
る。
【0101】図17には、この7×7画素からなるウィ
ンドウと仮挿入の状態を模式的に示している。X11、
X12、・・・で示される画素は第一の撮影画像のもの
であり、X21、X22、・・・で示される画素は第二
の撮影画像のものである。各画素は高解像度化処理によ
りRGB全信号が揃っている。画像合成回路10では、
これら仮挿入の状態の高画素密度画像に対し、高解像度
化回路20a及びbと同様な動作で現在画素情報が欠落
している画素に対する補間及び線分における信号レベル
調整を行う。このようにして、最終的に撮像素子3に比
較して2×2倍の画素密度を持つ高精細画像が得られ
る。
【0102】すなわち、この実施の形態4に係る撮像装
置は、前記信号レベル配分回路における小画素は1×1
(L=1、K=1)であり、前記画像合成回路10は画
素ずらし手段2によるずらし方向に対応して高解像度化
された画素を仮挿入した後、各画像の1色成分信号に対
し処理対象画素を中心とするP×Q画素(P及びQ≧
2、P及びQ:自然数)からなる小領域内の信号レベル
平均値から小領域内を2値化する第二の2値化処理回路
と、2値化された信号に対し予め定められた所定のパタ
ーンを基に処理対象画素を含む線分角度検出を行う第二
の線分角度検出回路と、処理対象画素をR×S倍(R及
びS:自然数)の小画素に分割し分割された各小画素を
第二の線分角度検出回路で検出された線分角度に従って
所定の信号レベル配分を行う第三の信号レベル配分回路
とを備えたものである。
【0103】この実施の形態4に係る撮像装置は、画素
分割を画像合成回路10内で行う構成にしたことによ
り、2枚の撮影画像に対して画素分割時の線分角度検出
を統一的に扱うことにより最終的に得られる高精細画像
における線分がより高精度に再現できるという効果があ
る。
【0104】実施の形態5.この発明の実施の形態5に
係る撮像装置について図面を参照しながら説明する。な
お、この実施の形態5の全体構成は、上記の実施の形態
1と同様である。
【0105】撮像部5及び画像処理部13のAWB回路
8までの構成及び動作は、上記の実施の形態1と同様で
ある。図18には、この実施の形態5における特徴であ
る高解像度化回路20a及びbにおける7×7画素から
なるマトリクスウィンドウの構成例を示す。
【0106】次に、動作について説明する。撮像部5か
ら取り込まれた2枚の画像信号は、画像処理部13のA
WB回路8を経て高解像度化回路9に入力される。高解
像度化回路9の高解像度化回路20a及びbでは、入力
に7×7画素からなるウィンドウ形成用のラインバッフ
ァ21が配置されている。ラインバッファ21には図1
8に示すような撮像素子3の2×2倍の画素数を持つ画
像テンプレートを想定した画素位置に、逐次2枚の画像
から画像信号が供給される。
【0107】図18において、「1」の添え字を持つ色
信号は第一の撮影画像から供給される信号であり、
「2」の添え字を持つ色信号は第二の撮影画像から供給
されるものである。
【0108】ラインバッファ21から供給される画像信
号は、線分角度検出回路28の2値化処理回路23にお
いて上記の実施の形態1と同様にG色信号の3×3画素
からなるウィンドウ内の平均値をしきい値に2値化さ
れ、パターンメモリ25の内容と比較することで線分角
度情報が得られる。
【0109】ここで、パターンメモリ25に予め記憶さ
れているマッチングパターンは、図18のマトリクスに
対応したパターンを使用する。さらに、画像合成回路1
0では、画素分割は行わずにG信号から得られた線分角
度情報をもとにRGB全色に対し空白画素の補間及び線
分の信号レベル配分を行うことで高解像度な出力画像が
得られる。
【0110】すなわち、この実施の形態5に係る撮像装
置は、撮像光学系(レンズ1)と、二次元的に配置され
た複数の画素により構成された撮像素子3と、撮像光学
系からの入射光の所定波長成分のみを選択的に透過する
撮像素子上に形成された複数種の色フィルタと、撮像光
学系からの入射光の撮像素子への入射位置を所定方向に
微小画素分変位させる画素ずらし手段2と、画素ずらし
手段を制御する撮像部制御回路4とを備えた撮像装置に
おいて、所定時間内に連続して撮影したT枚の画素ずら
しを施された各画像を記憶する画像メモリ6と、画像メ
モリに記憶された各撮影画像をU×V倍(U及びV≧
2、U及びV:自然数)の画素数の画像テンプレート内
の対応する位置に挿入する画像合成手段と、合成後の1
色成分信号の撮影信号に対し処理対象画素を中心とする
M×N画素(M及びN≧2、M及びN:自然数)からな
る小領域内の信号レベル平均値から小領域内を2値化す
る2値化処理回路と、2値化された信号に対し予め定め
られた所定のパターンを基に処理対象画素を含む線分角
度検出を行う線分角度検出回路と、処理対象画素をL×
K倍(L及びK:自然数)の小画素に分割し分割された
各小画素を線分角度検出回路で検出された線分角度に従
って所定の信号レベル配分を行う第一の信号レベル配分
回路と、線分角度検出回路で線分角度検出を行わなかっ
た残りの色成分信号の各画素に対して前記信号レベル配
分された色信号を用いてL×K倍の小画素への分割を行
う第二の信号レベル配分回路とを備えたものである。
【0111】この実施の形態5に係る撮像装置は、2枚
の撮影画像に対し1度の線分検出処理で実現可能である
ため最終的に得られる画像の線分がより高精度に再現で
きるという効果がある。
【0112】実施の形態6.この発明の実施の形態6に
係る撮像装置について図面を参照しながら説明する。な
お、この実施の形態6の全体構成は、上記の実施の形態
1と同様である。
【0113】前記実施の形態5との差異は、高解像度化
回路9にあり、図15に概略回路構成を示す。
【0114】次に、動作について説明する。撮像部5か
ら得られた2枚の画像信号は画像処理部13においてA
WB回路8を経た後、図15の構成で単一のマトリクス
として線分角度検出回路29、30及び31に入力され
る。これら線分角度検出回路29、30及び31では、
7×7画素からなるウィンドウに関して各色成分毎の線
分情報検出が行われ、信号レベル配分回路26、32及
び33で最適信号レベル配分及び画素補間が行われる。
【0115】すなわち、この実施の形態6に係る撮像装
置は、撮像光学系(レンズ1)と、二次元的に配置され
た複数の画素により構成された撮像素子3と、撮像光学
系からの入射光の所定波長成分のみを選択的に透過する
撮像素子上に形成された複数種の色フィルタと、撮像光
学系からの入射光の撮像素子への入射位置を所定方向に
微小画素分変位させる画素ずらし手段2と、画素ずらし
手段を制御する撮像部制御回路4とを備えた撮像装置に
おいて、所定時間内に連続して撮影したT枚の画素ずら
しを施された各画像を記憶する画像メモリ6と、画像メ
モリに記憶された各撮影画像をU×V倍(U及びV≧
2、U及びV:自然数)の画素数の画像テンプレート内
の対応する位置に挿入する画像合成手段と、合成後の全
色成分信号の撮影信号に対し処理対象画素を中心とする
M×N画素(M及びN≧2、M及びN:自然数)からな
る小領域内の信号レベル平均値から小領域内を2値化す
る2値化処理回路と、2値化された信号に対し予め定め
られた所定のパターンを基に処理対象画素を含む線分角
度検出を行う線分角度検出回路と、処理対象画素をL×
K倍(L及びK:自然数)の小画素に分割し分割された
各小画素を線分角度検出回路で検出された線分角度に従
って所定の信号レベル配分を行う信号レベル配分回路と
を備えたものである。
【0116】この実施の形態6に係る撮像装置は、2枚
の撮影画像に対し1度の線分検出処理で実現可能である
ため最終的に得られる画像の線分がより高精度に再現で
きるという効果がある。
【0117】実施の形態7.この発明の実施の形態7に
係る撮像装置について図面を参照しながら説明する。な
お、この実施の形態7の全体構成は、上記の実施の形態
1と同様である。
【0118】但し、高解像度化回路9に関しては、20
aまたは20bの一方のみが存在する。図19は、この
実施の形態7の特徴的な構成である高解像度化回路20
における7×7画素からなるウィンドウ構成を示したも
のである。
【0119】次に、動作について説明する。撮像部5に
よる1枚目の撮像の後、2枚目の撮影を撮像部5におけ
る画素ずらし手段2を用いて1枚目の撮影条件より水平
方向に1画素分ずらして行う。
【0120】画像処理部13に入力された2枚の撮影画
像は、AWB回路8を経て複数色成分を持つ1枚の画像
として高解像度化回路20に入力される。この時、撮像
時の画素ずらし方向及び距離に対応して図19のように
1画素当たり2色の信号レベルを持つことになる。
【0121】高解像度化回路20では、線分角度検出回
路28においてG成分を用いた線分角度情報の検出を行
う。すなわち、撮像時の画素ずらしによりG成分に関し
ては撮像素子の画素数分の信号値を持っていることにな
る。高解像度化回路20では、2値化処理回路23で2
値化処理を行った画素値に対してパターンメモリ25に
予め記憶されるパターンと比較を行い、注目画素を通る
線分に関する角度情報を得る。G色信号レベル配分回路
26では、線分角度情報を用いて注目画素を4分割した
最適信号レベル配分を実施する。RB色成分に関して
は、G色の角度情報を参照して画素情報が欠落している
ラインの信号レベルを補間するとともに、RB色信号レ
ベル配分回路27で4分割画素への最適な信号レベル配
分を実施する。このようにして、1枚の高解像度画像が
得られる。
【0122】なお、この実施の形態7では、線分角度情
報としてG色成分のみを全色に用いたが、上記の実施の
形態2に示すように線分角度検出を全色信号に対して独
立に行った場合も有効な高解像度化画像が得られるのは
前述の通りである。
【0123】また、この実施の形態7では、高解像度化
回路20におけるラインバッファ21を7ライン分使用
する構成を示したが、全ての画素にG成分が予め存在す
るために図12と同等の線分角度成分を検出するために
は、5ライン分のバッファを持ち画素ウィンドウ24も
これに対応して5×5画素から形成すればさらに回路コ
ストの低減が可能である。
【0124】すなわち、この実施の形態7に係る撮像装
置は、前記画素ずらし手段による画素ずらし撮影枚数は
2枚であり、2枚の画像ずらし方向は水平または垂直方
向であり、ずらし距離は1画素としたものである。
【0125】この実施の形態7に係る撮像装置は、予め
撮像素子数のG色成分が撮像されているため、色フィル
タ配列に合わせて画素情報が欠落しているウィンドウに
対してパターンマッチングを行う場合に比べて高精度の
線分角度検出が行えるとともに、同程度の数の角度検出
を行うためのラインバッファが少なく構成でき、装置コ
ストが比較的安価に構成できるという効果がある。
【0126】実施の形態8.この発明の実施の形態8に
係る撮像装置について図面を参照しながら説明する。な
お、この実施の形態8の全体構成は、上記の実施の形態
1と同様である。
【0127】この実施の形態8では、画素ずらし手段2
として、電界の強さに応じて透過光の屈折現象が変化す
る電気光学素子を用いる点が実施の形態1と異なる。
【0128】図20及び図21は、この実施の形態8に
おける撮像部5の構成及び動作原理を示す図である。
【0129】図20及び図21において、34は電圧印
加により電界を発生する電界発生回路、35は電気光学
素子である。
【0130】次に、動作について説明する。まず、図2
0の撮像部5について構成及び動作を説明する。
【0131】図20の動作原理図である図21中の電気
光学素子35及び偏光子18をA−A、B−B、及びC
−Cの方向から見たものをそれぞれ図22、図23、及
び図24に示す。
【0132】図21において、画像を結像するためのレ
ンズ1から電気光学素子35に入射する自然光は、図2
2に示すように互いに直交する2つの偏光成分LX、LY
であらわすことができる。電気光学素子35に電界が印
加されていない場合は、図23のLX0、LY0に示す偏光
成分が前記LX、LYが直進した位置に観測される。
【0133】電気光学素子35に所定の電界E1が印加
されると、該電気光学素子35は複屈折現象を呈し、図
24のLX1、LY1に示す偏光成分が観測される。ここ
で、LX1は複屈折現象における常光線としてLXが直進
した位置に、LY1は複屈折現象の異常光線としてLY
距離Pだけずれ対置に観測される。ただし、P=PH
2(PHは撮像素子3の水平画素ピッチを示す)となる
ような電界E1を電界発生回路34により電気光学素子
35に印加する。
【0134】図8は、上記撮像装置における動作タイミ
ング図である。図8(1)はフィールドシフトパルス、
同図(2)は電気光学素子35に印加される電界Eの強
さを示す図、同図(3)は信号読み出しパルス、同図
(4)は撮像素子3の出力信号を示す図、同図(5)は
A、Bフィールドを1フレームとして見た場合の図であ
る。電界Eの強さの変化の位相を図8(1)のフィール
ドシフトパルスに一致させる。
【0135】上述の動作により、この実施の形態8の撮
像装置は、A、Bフィールドでの信号電荷蓄積を入射画
像と撮像素子3の画素との相対的な位置に関してPH
2だけ離れた位置で行うことができる。これに対応して
図8(3)に示す信号読み出しパルスのタイミングもP
H/2に相当する時間Tだけずらしてある。その結果、
図8(5)に示すように、この撮像装置はA、Bフィー
ルドを1フレームとした1周期で高画素密度化した画像
を得ることができる。
【0136】なお、この実施の形態8における画像処理
部13の構成及び動作は、これまでの実施の形態で説明
したいずれを用いても構成できる。
【0137】以上の全ての実施の形態においては、発明
を構成する手段として電子回路での構成例を説明したが
この限りでなく、処理用に同等の容量のメモリを用い画
像処理制御手段として用いるCPU上等で実行されるソ
フトウェアとして構成してもよい。
【0138】また、以上の全ての実施の形態において
は、静止画像を連続的に取り込み可能なディジタルスチ
ルカメラでの構成例を示したが、動画像を取り込み可能
なディジタルムービーにおける高精細静止画撮影モード
として構成可能であることは言うまでもない。
【0139】また、以上の全ての実施の形態において
は、撮像装置の内部で高解像度化処理を実行可能な構成
例で示したがこの限りでなく、パーソナルコンピュータ
やカラープリンタ等、撮像装置に直接あるいは記憶媒体
を間接的に経由して接続可能な機器上で構成してもよ
い。
【0140】さらに、以上の全ての実施の形態において
は、線分角度検出回路でのパターンマッチング時にパタ
ーンメモリを使用する構成例を示したが、2値入力デー
タと検出すべきパターンとの論理回路を構成し、パター
ン該当時は真信号を非該当時は偽信号を出力する構成に
してもよい。
【0141】
【発明の効果】この発明に係る撮像装置は、以上説明し
たとおり、撮像光学系からの入射光の撮像素子への入射
位置を所定方向に微小画素分変位させることにより、所
定時間内に連続して撮影し画素ずらしを施された画像を
出力する撮像部と、前記撮像部から出力されたアナログ
画像をデジタル画像に変換するA/D変換回路、前記デ
ジタル画像を記憶する画像メモリ、各画像の各色成分信
号の撮影信号に対し処理対象画素を中心とするM×N画
素(M及びN≧2、M及びN:自然数)からなる小領域
内の信号レベル平均値から小領域内を2値化し、2値化
された信号に対し予め定められた所定のパターンを基に
前記処理対象画素を含む線分角度を検出し、前記処理対
象画素をL×K倍(L及びK:自然数)の小画素に分割
し分割された各小画素を前記検出された線分角度に従っ
て所定の信号レベル配分を行う高解像度化回路、及び前
記小画素への分割を行った各撮像画像を合成する画像合
成回路を有する画像処理部とを備えたので、最終的に得
られる画素密度の増加した出力画像においてMTFが低
下することなく斜線分の高解像度な再現が良好に行える
という効果を奏する。
【0142】また、この発明に係る撮像装置は、前記高
解像度化回路が、過去複数ライン分の画素データを順次
蓄積するラインバッファと、前記処理対象画素及び(M
×N−1)近傍画素の1色成分に対して信号レベル平均
値を算出し、この算出した信号レベル平均値をしきい値
としてP×Q(P及びQ≧2、P及びQ:自然数)画素
ウィンドウ内の各G画素の信号値を2値化し、この2値
化されたウィンドウ内のG画素を予めパターンメモリに
記憶されている複数のパターンと比較し、パターンの一
致により中心画素を通る線分角度及び線分のどちら側に
明あるいは暗があるかという線分角度情報を検出する線
分角度検出回路と、前記処理対象画素をL×K倍の小画
素に分割し分割された各小画素を前記線分角度に従って
G色信号レベル配分を行うG色信号レベル配分回路と、
前記線分角度検出回路により線分角度検出を行わなかっ
た残りのRB色成分信号の各画素に対して前記信号レベ
ル配分されたG色信号を用いてL×K倍の小画素への分
割を行い、分割された各小画素を前記線分角度に従って
RB色信号レベル配分を行うRB色信号レベル配分回路
とを含むので、複数の線分角度検出回路が不要であり、
簡易な回路で実現することができるという効果を奏す
る。
【0143】また、この発明に係る撮像装置は、前記高
解像度化回路が、過去複数ライン分の画素データを順次
蓄積するラインバッファと、前記処理対象画素及び(M
×N−1)近傍画素のG成分に対して信号レベル平均値
を算出し、この算出した信号レベル平均値をしきい値と
してP×Q(P及びQ≧2、P及びQ:自然数)画素ウ
ィンドウ内の各G画素の信号値を2値化し、この2値化
されたウィンドウ内のG画素を予めパターンメモリに記
憶されているG色信号用線分検出パターンと比較し、パ
ターンの一致により中心画素を通る線分角度及び線分の
どちら側に明あるいは暗があるかという線分角度情報を
検出するG色用線分角度検出回路と、前記処理対象画素
及び(M×N−1)近傍画素のR成分に対して信号レベ
ル平均値を算出し、この算出した信号レベル平均値をし
きい値としてM×N画素ウィンドウ内の各R画素の信号
値を2値化し、この2値化されたウィンドウ内のR画素
を予めパターンメモリに記憶されているR色信号用線分
検出パターンと比較し、パターンの一致により中心画素
を通る線分角度及び線分のどちら側に明あるいは暗があ
るかという線分角度情報を検出するR色用線分角度検出
回路と、前記処理対象画素及び(M×N−1)近傍画素
のB成分に対して信号レベル平均値を算出し、この算出
した信号レベル平均値をしきい値としてM×N画素ウィ
ンドウ内の各B画素の信号値を2値化し、この2値化さ
れたウィンドウ内のB画素を予めパターンメモリに記憶
されているB色信号用線分検出パターンと比較し、パタ
ーンの一致により中心画素を通る線分角度及び線分のど
ちら側に明あるいは暗があるかという線分角度情報を検
出するB色用線分角度検出回路と、前記処理対象画素を
L×K倍の小画素に分割し分割された各小画素を前記線
分角度情報に従ってG色信号レベル配分を行うG色信号
レベル配分回路と、前記処理対象画素をL×K倍の小画
素に分割し分割された各小画素を前記線分角度情報に従
ってR色信号レベル配分を行うR色信号レベル配分回路
と、前記処理対象画素をL×K倍の小画素に分割し分割
された各小画素を前記線分角度情報に従ってB色信号レ
ベル配分を行うB色信号レベル配分回路とを含むので、
例えばマゼンタ色のようなG成分のみでは検出が困難な
色輪郭に存在する線分を適正に高解像度化できるという
効果を奏する。
【0144】また、この発明に係る撮像装置は、前記画
像合成回路が、画素ずらし位置に対応して各色成分信号
値の単純平均演算を行うので、画像合成に必要な演算処
理が簡易に実現できるとともに、第一の高解像度化画像
及び第二の高解像度化画像の対応点での線分角度検出回
路における検出結果の相違等から生じるエッジ再現の相
違を低域通過フィルタ効果により吸収できるという効果
を奏する。
【0145】また、この発明に係る撮像装置は、前記画
像合成回路が、画素ずらし位置に対応して実際の撮像素
子の開口率を考慮した交差比率に準じて重み付け平均演
算を行うので、開口率が低い安価な撮像素子を使用した
場合でも良好に線分情報を再現することが可能であり、
十分に高解像度化できるという効果を奏する。
【0146】また、この発明に係る撮像装置は、前記各
信号レベル配分回路における小画素は1×1であり、前
記画像合成回路が、ずらし方向に対応して高解像度化さ
れた画素を仮挿入した後、各画像の1色成分信号に対し
処理対象画素を中心とするM×N画素からなる小領域内
の信号レベル平均値から小領域内を2値化する小領域内
2値化手段と、2値化された信号に対し予め定められた
所定のパターンを基に前記処理対象画素を含む線分角度
検出を行う線分角度検出手段と、前記処理対象画素をL
×K倍の小画素に分割し分割された各小画素を前記検出
された線分角度に従って所定の信号レベル配分を行う信
号レベル配分手段とを含むので、2枚の撮影画像に対し
て画素分割時の線分角度検出を統一的に扱うことにより
最終的に得られる高精細画像における線分がより高精度
に再現できるという効果を奏する。
【0147】また、この発明に係る撮像装置は、前記高
解像度化回路及び前記画像合成回路が、前記画像メモリ
に記憶された各撮影画像をM×N倍の画素数の画像テン
プレート内の対応する位置に挿入する画像合成手段と、
合成後の全色成分信号の撮影信号に対し処理対象画素を
中心とするP×Q画素からなる小領域内の信号レベル平
均値から小領域内を2値化する小領域内2値化手段と、
2値化された信号に対し予め定められた所定のパターン
を基に前記処理対象画素を含む線分角度検出を行う線分
角度検出手段と、前記処理対象画素をL×K倍の小画素
に分割し分割された各小画素を前記検出された線分角度
に従って所定の信号レベル配分を行う信号レベル配分手
段とを含むので、最終的に得られる画像の線分がより高
精度に再現できるという効果を奏する。
【0148】また、この発明に係る撮像装置は、前記撮
像部が、画像を結像するレンズと、直線偏光を作る偏光
子と、RGBの原色フィルタが表面上に配置され電荷結
合素子を面状に備え光学像を光電変換する撮像素子と、
前記偏光子と前記撮像素子との間に配設され磁界発生回
路によりコイル内に発生した磁界によって磁気光学効果
を生じるファラデー素子と、前記ファラデー素子と前記
撮像素子との間に配設され光を独立した偏光成分に分割
する複屈折板と、前記ファラデー素子への印加磁界条件
を変更することができる撮像部制御回路とを有するの
で、モータ等による機械的駆動制御が不要なため小電力
且つ簡易な装置構成で、ずらし精度の高い画素ずらし画
像を入力できるという効果を奏する。
【0149】また、この発明に係る撮像装置は、前記撮
像部が、画像を結像するレンズと、RGBの原色フィル
タが表面上に配置され電荷結合素子を面状に備え光学像
を光電変換する撮像素子と、前記レンズと前記撮像素子
との間に配設され電界発生回路による電解の強さに応じ
て透過光の屈折現象が変化する電気光学素子と、前記電
気光学素子と前記撮像素子との間に配設され直線偏光を
作る偏光子と、前記電気光学素子への印加電界条件を変
更することができる撮像部制御回路とを有するので、モ
ータ等による機械的駆動制御が不要なため小電力且つ簡
易な装置構成で、ずらし精度の高い画素ずらし画像を入
力できるという効果を奏する。
【0150】また、この発明に係る撮像装置は、前記撮
像部が、画像ずらし方向を45度とし、ずらし距離を半
画素とした、2枚の画素ずらし撮影画像を出力するの
で、通常使用される単板カラー撮像素子に水平及び垂直
方向に周期的に配置される各色フィルタ配列が原因で補
間時に生じる色モアレ縞を良好に低減できるという効果
を奏する。
【0151】さらに、この発明に係る撮像装置は、前記
撮像部が、画像ずらし方向を水平あるいは垂直とし、ず
らし距離を1画素とした、2枚の画素ずらし撮影画像を
出力するので、予め撮像素子数のG色成分が撮像されて
おり、色フィルタ配列に合わせて画素情報が欠落してい
るウィンドウに対してパターンマッチングを行う場合に
比べて高精度の線分角度検出が行えるとともに、同程度
の数の角度検出を行うためのラインバッファが少なく構
成でき、装置コストが比較的安価に構成できるという効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の全
体構成を示すブロック図である。
【図2】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の色
フィルタ配列を示す図である。
【図3】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の撮
像部の詳細構成を示す図である。
【図4】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の撮
像部の動作原理を示す図である。
【図5】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の撮
像部の動作原理を示す図である。
【図6】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の撮
像部の動作原理を示す図である。
【図7】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の撮
像部の動作原理を示す図である。
【図8】 この発明の実施の形態1及び8に係る撮像装
置の動作を示すタイミングチャートである。
【図9】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の動
作を示す図である。
【図10】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の
高解像度化回路の構成を示す図である。
【図11】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の
高解像度化回路の第一の撮影画像用高解像度化回路の構
成を示す図である。
【図12】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の
7×7画素ウィンドウで検出可能な線分角度を示す図で
ある。
【図13】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の
G色における参照画素配置を示す図である。
【図14】 この発明の実施の形態1に係る撮像装置の
R色及びB色における参照画素配置を示す図である。
【図15】 この発明の実施の形態2に係る撮像装置の
高解像度化回路の第一の撮影画像用高解像度化回路の構
成を示す図である。
【図16】 この発明の実施の形態3に係る撮像装置に
おいて画素ずらしの状況を示す模式図である。
【図17】 この発明の実施の形態4に係る撮像装置に
おいて2枚の画像を仮挿入した状態を示す模式図であ
る。
【図18】 この発明の実施の形態5に係る撮像装置の
7×7画素ウィンドウの状態を示す模式図である。
【図19】 この発明の実施の形態7に係る撮像装置の
7×7画素ウィンドウの状態を示す模式図である。
【図20】 この発明の実施の形態8に係る撮像装置の
撮像部の詳細構成を示す図である。
【図21】 この発明の実施の形態8に係る撮像装置の
撮像部の動作原理を示す図である。
【図22】 この発明の実施の形態8に係る撮像装置の
撮像部の動作原理を示す図である。
【図23】 この発明の実施の形態8に係る撮像装置の
撮像部の動作原理を示す図である。
【図24】 この発明の実施の形態8に係る撮像装置の
撮像部の動作原理を示す図である。
【図25】 従来の撮像装置の全体構成を示す図であ
る。
【図26】 従来の撮像装置の撮像部の詳細構成を示す
斜視図である。
【図27】 従来の撮像装置の撮像部のMTF特性を示
す図である。
【符号の説明】
1 レンズ、2 画素ずらし手段、3 撮像素子、4
撮像部制御回路、5撮像部、6 画像メモリ、7 A/
D変換回路、8 AWB回路、9 高解像度化回路、1
0 画像合成回路、11 画像補正回路、12 画像処
理制御回路、13 画像処理部、14 インタフェース
部、15 磁界発生回路、16 コイル、17 ファラ
デー素子、18 偏光子、19 複屈折板、20a 第
一の撮影画像用高解像度化回路、20b 第二の撮影画
像用高解像度化回路、21 ラインバッファ、22 平
均値算出回路、23 2値化処理回路、24 画素ウィ
ンドウ、25 パターンメモリ、26 G色信号レベル
配分回路、27 RB色信号レベル配分回路、28 線
分角度検出回路、29 G色用線分角度検出回路、30
R色用線分角度検出回路、31 B色用線分角度検出
回路、32 R色信号レベル配分回路、33 B色信号
レベル配分回路、34 電界発生回路、35 電気光学
素子。

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撮像光学系からの入射光の撮像素子への
    入射位置を所定方向に微小画素分変位させることによ
    り、所定時間内に連続して撮影し画素ずらしを施された
    画像を出力する撮像部と、 前記撮像部から出力されたアナログ画像をデジタル画像
    に変換するA/D変換回路、 前記デジタル画像を記憶する画像メモリ、 各画像の各色成分信号の撮影信号に対し処理対象画素を
    中心とするM×N画素(M及びN≧2、M及びN:自然
    数)からなる小領域内の信号レベル平均値から小領域内
    を2値化し、2値化された信号に対し予め定められた所
    定のパターンを基に前記処理対象画素を含む線分角度を
    検出し、前記処理対象画素をL×K倍(L及びK:自然
    数)の小画素に分割し分割された各小画素を前記検出さ
    れた線分角度に従って所定の信号レベル配分を行う高解
    像度化回路、 及び前記小画素への分割を行った各撮像画像を合成する
    画像合成回路を有する画像処理部とを備えたことを特徴
    とする撮像装置。
  2. 【請求項2】 前記高解像度化回路は、 過去複数ライン分の画素データを順次蓄積するラインバ
    ッファと、 前記処理対象画素及び(M×N−1)近傍画素の1色成
    分に対して信号レベル平均値を算出し、この算出した信
    号レベル平均値をしきい値としてP×Q(P及びQ≧
    2、P及びQ:自然数)画素ウィンドウ内の各G画素の
    信号値を2値化し、この2値化されたウィンドウ内のG
    画素を予めパターンメモリに記憶されている複数のパタ
    ーンと比較し、パターンの一致により中心画素を通る線
    分角度及び線分のどちら側に明あるいは暗があるかとい
    う線分角度情報を検出する線分角度検出回路と、 前記処理対象画素をL×K倍の小画素に分割し分割され
    た各小画素を前記線分角度に従ってG色信号レベル配分
    を行うG色信号レベル配分回路と、 前記線分角度検出回路により線分角度検出を行わなかっ
    た残りのRB色成分信号の各画素に対して前記信号レベ
    ル配分されたG色信号を用いてL×K倍の小画素への分
    割を行い、分割された各小画素を前記線分角度に従って
    RB色信号レベル配分を行うRB色信号レベル配分回路
    とを含むことを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
  3. 【請求項3】 前記高解像度化回路は、 過去複数ライン分の画素データを順次蓄積するラインバ
    ッファと、 前記処理対象画素及び(M×N−1)近傍画素のG成分
    に対して信号レベル平均値を算出し、この算出した信号
    レベル平均値をしきい値としてP×Q(P及びQ≧2、
    P及びQ:自然数)画素ウィンドウ内の各G画素の信号
    値を2値化し、この2値化されたウィンドウ内のG画素
    を予めパターンメモリに記憶されているG色信号用線分
    検出パターンと比較し、パターンの一致により中心画素
    を通る線分角度及び線分のどちら側に明あるいは暗があ
    るかという線分角度情報を検出するG色用線分角度検出
    回路と、 前記処理対象画素及び(M×N−1)近傍画素のR成分
    に対して信号レベル平均値を算出し、この算出した信号
    レベル平均値をしきい値としてM×N画素ウィンドウ内
    の各R画素の信号値を2値化し、この2値化されたウィ
    ンドウ内のR画素を予めパターンメモリに記憶されてい
    るR色信号用線分検出パターンと比較し、パターンの一
    致により中心画素を通る線分角度及び線分のどちら側に
    明あるいは暗があるかという線分角度情報を検出するR
    色用線分角度検出回路と、 前記処理対象画素及び(M×N−1)近傍画素のB成分
    に対して信号レベル平均値を算出し、この算出した信号
    レベル平均値をしきい値としてM×N画素ウィンドウ内
    の各B画素の信号値を2値化し、この2値化されたウィ
    ンドウ内のB画素を予めパターンメモリに記憶されてい
    るB色信号用線分検出パターンと比較し、パターンの一
    致により中心画素を通る線分角度及び線分のどちら側に
    明あるいは暗があるかという線分角度情報を検出するB
    色用線分角度検出回路と、 前記処理対象画素をL×K倍の小画素に分割し分割され
    た各小画素を前記線分角度情報に従ってG色信号レベル
    配分を行うG色信号レベル配分回路と、 前記処理対象画素をL×K倍の小画素に分割し分割され
    た各小画素を前記線分角度情報に従ってR色信号レベル
    配分を行うR色信号レベル配分回路と、 前記処理対象画素をL×K倍の小画素に分割し分割され
    た各小画素を前記線分角度情報に従ってB色信号レベル
    配分を行うB色信号レベル配分回路とを含むことを特徴
    とする請求項1記載の撮像装置。
  4. 【請求項4】 前記画像合成回路は、画素ずらし位置に
    対応して各色成分信号値の単純平均演算を行うことを特
    徴とする請求項2又は3記載の撮像装置。
  5. 【請求項5】 前記画像合成回路は、画素ずらし位置に
    対応して実際の撮像素子の開口率を考慮した交差比率に
    準じて重み付け平均演算を行うことを特徴とする請求項
    2又は3記載の撮像装置。
  6. 【請求項6】 前記各信号レベル配分回路における小画
    素は1×1であり、 前記画像合成回路は、ずらし方向に対応して高解像度化
    された画素を仮挿入した後、各画像の1色成分信号に対
    し処理対象画素を中心とするM×N画素からなる小領域
    内の信号レベル平均値から小領域内を2値化する小領域
    内2値化手段と、2値化された信号に対し予め定められ
    た所定のパターンを基に前記処理対象画素を含む線分角
    度検出を行う線分角度検出手段と、前記処理対象画素を
    L×K倍の小画素に分割し分割された各小画素を前記検
    出された線分角度に従って所定の信号レベル配分を行う
    信号レベル配分手段とを含むことを特徴とする請求項2
    又は3記載の撮像装置。
  7. 【請求項7】 前記高解像度化回路及び前記画像合成回
    路は、 前記画像メモリに記憶された各撮影画像をM×N倍の画
    素数の画像テンプレート内の対応する位置に挿入する画
    像合成手段と、 合成後の全色成分信号の撮影信号に対し処理対象画素を
    中心とするP×Q画素からなる小領域内の信号レベル平
    均値から小領域内を2値化する小領域内2値化手段と、 2値化された信号に対し予め定められた所定のパターン
    を基に前記処理対象画素を含む線分角度検出を行う線分
    角度検出手段と、 前記処理対象画素をL×K倍の小画素に分割し分割され
    た各小画素を前記検出された線分角度に従って所定の信
    号レベル配分を行う信号レベル配分手段とを含むことを
    特徴とする請求項2又は3記載の撮像装置。
  8. 【請求項8】 前記撮像部は、 画像を結像するレンズと、 直線偏光を作る偏光子と、 RGBの原色フィルタが表面上に配置され電荷結合素子
    を面状に備え光学像を光電変換する撮像素子と、 前記偏光子と前記撮像素子との間に配設され磁界発生回
    路によりコイル内に発生した磁界によって磁気光学効果
    を生じるファラデー素子と、 前記ファラデー素子と前記撮像素子との間に配設され光
    を独立した偏光成分に分割する複屈折板と、 前記ファラデー素子への印加磁界条件を変更することが
    できる撮像部制御回路とを有することを特徴とする請求
    項1から請求項7までのいずれかに記載の撮像装置。
  9. 【請求項9】 前記撮像部は、 画像を結像するレンズと、 RGBの原色フィルタが表面上に配置され電荷結合素子
    を面状に備え光学像を光電変換する撮像素子と、 前記レンズと前記撮像素子との間に配設され電界発生回
    路による電解の強さに応じて透過光の屈折現象が変化す
    る電気光学素子と、 前記電気光学素子と前記撮像素子との間に配設され直線
    偏光を作る偏光子と、 前記電気光学素子への印加電界条件を変更することがで
    きる撮像部制御回路とを有することを特徴とする請求項
    1から請求項7までのいずれかに記載の撮像装置。
  10. 【請求項10】 前記撮像部は、画像ずらし方向が45
    度であり、ずらし距離が半画素である、2枚の画素ずら
    し撮影画像を出力することを特徴とする請求項8又は9
    記載の撮像装置。
  11. 【請求項11】 前記撮像部は、画像ずらし方向が水平
    あるいは垂直であり、ずらし距離が1画素である、2枚
    の画素ずらし撮影画像を出力することを特徴とする請求
    項8又は9記載の撮像装置。
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