JPH11314058A - 塗膜厚みの制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】塗工装置の液体送出用ギャップを短時間で適切
な間隔にする。 【解決手段】本発明の塗膜厚みの制御装置は、プロセス
モデルを過去モデル係数および将来モデル係数というか
たちで予め求め設定しておいて、過去モデル係数および
将来モデル係数に従って、過去から将来の各制御周期で
の各ギャップ間隔変化に伴って生成される将来の塗膜厚
みを的確に予測算出した後、目標塗膜厚みと算出された
将来塗膜厚みとの差を縮めるのに最適な現在の制御周期
のギャップ間隔変化量を求め、これをギャップ操作信号
としてギャップ間隔可変機構８へ送出する構成を備え、
ギャップ操作によって生じる膜厚みの変化が膜厚検出器
９に到達する前に次々と短い制御周期で操作を行い、液
体送出用ギャップ６の間隔を短時間で適切な間隔に設定
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、長尺シートの表面
に塗膜を連続的に形成する連続コーティング工程におけ
る塗膜の厚みを制御する塗膜厚みの制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば粘着テープや粘着シートの製造過
程では、図５に示すように、塗工装置５０を用いて支持
基材である長尺シート５１の表面に粘着剤膜（塗膜）Ｑ
を連続的に形成している。塗工装置５０では、長尺シー
ト５１が裏面全体をバックアップロール５２の表面に押
し付けるようにして巻回されながら、矢印ＲＡ，ＲＢで
示す方向に連続的に搬送される。一方、バックアップロ
ール５２の向い側にはコーティングロール５３とメタリ
ングロール５４とが、液体送出用ギャップ５５を隔てて
対向して設置されているとともに、両ロール５３，５４
の後側に粘弾性を有する粘着剤液Ｓを溜めておく液溜部
５６が設けられている。

【０００３】従来の連続コーティング工程の場合、塗工
装置５０の液体送出用ギャップ５５から粘着剤液Ｓがコ
ーティングロール５３の表面上に先ず送り出される。コ
ーティングロール５３の回転に伴って粘着剤液Ｓは、バ
ックアップロール５２に支持された長尺シート５１の表
面に転写された後、乾燥処理等を経て、長尺シート５１
の表面に粘着剤膜Ｑが連続的に形成されてゆく。粘着剤
膜Ｑの厚みは塗工装置５０の液体送出用ギャップ５５の
間隔に大いに依存するので、ギャップ５５の間隔が適切
でなければ、粘着剤膜Ｑの厚みが目標厚み通りにならな
いので、粘着剤膜Ｑの目標厚みに応じてギャップ５５の
間隔を適切な間隔に設定する必要がある。

【０００４】そこで、従来の塗膜厚みの制御方式では、
ギャップ５５の間隔を変化させるギャップ間隔可変機構
５７と、長尺シート５１の表面に形成された粘着剤膜Ｑ
の厚みを検出する塗膜厚み検出器５８と、塗膜厚み検出
器５８による粘着剤膜Ｑの検出厚みと予め設定する目標
厚みとの差（膜厚偏差）に応じてギャップ５５の間隔を
調整するギャップ操作信号をギャップ間隔可変機構５７
へ送出するギャップ制御部５９を配設しておき、ギャッ
プ操作信号により液体送出用ギャップ５５の間隔を変化
させるというギャップ調整操作によって、ギャップ５５
を適切な間隔に設定している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の場合、ギャップ５５を適切な間隔にするまでに非常
に時間がかかるという問題がある。従来の塗膜厚み制御
の場合、一旦、ギャップ調整操作を行うと、メタリング
ロール５４の移動速度が遅かったり、ギャップ５５の位
置と塗膜厚み検出器５８との距離が長かったりして、ギ
ャップ操作信号の送出からギャップ５５の間隔変化を経
て粘着剤膜Ｑの厚みの変化が塗膜厚み検出器５８のとこ
ろに安定して現れるまでには長い時間（むだ時間）がか
かる（数十秒〜数分程度の時間がかかる）のであるが、
このむだ時間の間は次のギャップ調整操作を行うことが
出来ない。もし、粘着剤膜Ｑの厚みの変化が塗膜厚み検
出器５８のところに安定して現れるまでに、次のギャッ
プ調整操作を無理に行うと、前回のギャップ調整操作の
結果が十分に反映されないことから、逆に過度に薄くな
ったり厚くなったりする。すなわち、従来の塗膜厚みの
制御装置の場合、ギャップ調整操作のむだ時間が非常に
長くなってしまうことから、ギャップ５５が適切な間隔
となるまでに、長い時間がかからざるを得ないのであ
る。むだ時間が短い場合はＰＩＤ制御でも可能である
が、むだ時間が余り長いとＰＩＤ制御では不可能とな
る。

【０００６】本発明は、上記の事情に鑑み、連続コーテ
ィング工程において長尺シートの表面に粘弾性を有する
液体を連続的に送給する塗工装置の液体送出用ギャップ
を短時間で適切な間隔にすることができる塗膜厚みの制
御装置を提供することを課題とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明に係る塗膜厚みの制御装置は、連続的に搬送
される長尺シートの表面に粘弾性を有する液体を塗工装
置の液体送出用ギャップから連続的に送給し長尺シート
の表面に塗膜を連続的に形成する連続コーティング工程
における前記塗膜の厚みを制御する装置であって、前記
液体送出用ギャップの間隔を所定の制御周期で受けるギ
ャップ操作信号に従って変化させるギャップ間隔可変手
段と、長尺シートの表面に形成された塗膜の厚みを検出
する塗膜厚み検出手段と、過去の複数制御周期分のギャ
ップ間隔変化量を記憶するギャップ間隔変化履歴記憶手
段と、複数制御周期分の過去のギャップ間隔変化量に、
過去の複数制御周期分について単位量当たりのギャップ
間隔変化の塗膜の厚み変化への影響の度合いを予めモデ
ルとして求め設定してある過去モデル係数を乗算するこ
とにより、複数制御周期分の過去のギャップ間隔変化に
よって生じる将来の塗膜厚み変化量（第１塗膜厚み変化
量）を求出する第１塗膜厚み変化量求出手段と、現在か
ら将来にわたる複数制御周期分のギャップ間隔変化量
に、将来の複数制御周期分について単位量当たりのギャ
ップ間隔変化の塗膜の厚み変化への影響の度合いを予め
モデルとして求め設定してある将来モデル係数を乗算す
ることにより、現在から将来の複数制御周期分のギャッ
プ間隔変化量によって生じる将来の塗膜厚み変化量（第
２塗膜厚み変化量）を求める第２塗膜厚み変化量求出手
段と、第１塗膜厚み変化量と、第２塗膜厚み変化量と、
塗膜厚み検出手段による検出膜厚みとを、加算すること
により前記過去および将来の各制御周期における各ギャ
ップ間隔変化によって生成される将来の塗膜厚み（将来
塗膜厚み）を求める将来塗膜厚み求出手段と、目標塗膜
厚みと将来塗膜厚みとの差（膜厚み偏差）を求める膜厚
み偏差求出手段と、膜厚み偏差求出手段による膜厚み偏
差に基づき、現在から将来にわたる複数制御周期分の各
ギャップ間隔変化量を求めるとともに、現在の制御周期
におけるギャップ間隔変化量を目標塗膜厚みと将来塗膜
厚みの差を縮めるのに最も適したギャップ操作信号とし
てギャップ間隔可変手段へ送出するギャップ間隔変化量
求出手段と、を設けたことを特徴とする。

【０００８】

【作用】次に、本発明により塗膜厚みを制御する際の作
用について説明する。本発明によって塗膜厚みを制御す
る場合、塗工装置の液体送出用ギャップからは連続的に
搬送される長尺シートの表面に粘弾性を有する液体が連
続的に送給されて長尺シートの表面に塗膜が連続的に形
成されてゆくと同時に、液体送出用ギャップの先に設け
られている塗膜厚み検出手段により長尺シートの表面に
形成された塗膜の厚みが検出される。本発明の場合も、
塗膜の厚みが液体送出用ギャップの間隔に大いに依存す
るので、ギャップ間隔可変手段が、以下のようにギャッ
プ操作信号を所定の制御周期で受け、液体送出用ギャッ
プの間隔を変化させて短時間で適切な間隔に設定するこ
とにより、正確な塗膜厚みの制御を速やかに実行するこ
とになる。

【０００９】すなわち、本発明では、過去の複数周期分
について単位量当たりのギャップ間隔変化の塗膜の厚み
変化への影響の度合いを予めモデルとして求め設定して
ある過去モデル係数、および、現在から将来にわたる複
数制御周期分について単位量当たりのギャップ間隔変化
の塗膜の厚み変化への影響の度合いを予めモデルとして
求め設定してある将来モデル係数に従って、過去および
現在から将来の各制御周期における各ギャップ間隔変化
に伴って生成される将来の塗膜厚み（将来塗膜厚み）が
的確に予測算出され、さらに目標塗膜厚みと算出された
将来塗膜厚みとの差を縮めるのに最適な現在の制御周期
のギャップ間隔変化量が求められて、これがギャップ操
作信号としてギャップ間隔可変手段へ送出される。つま
り、本発明の場合、プロセスモデルを過去モデル係数お
よび将来モデル係数という形で求めて設定しておき、ギ
ャップ操作によって生じる膜厚みの変化が塗膜厚み検出
手段に到達する以前に、プロセスモデルに従って的確に
予測算出して次々とギャップ操作を行って、ギャップ調
整操作の制御周期を短くしている結果、液体送出用ギャ
ップの間隔を短時間で適切な間隔に設定することができ
るのである。

【００１０】

【発明の実施の形態】続いて、本発明の一実施例を図面
を参照しながら説明する。図１は実施例に係る塗膜厚み
の制御装置が用いられている連続コーティングシステム
の全体構成を示すブロック図である。

【００１１】実施例の連続コーティングシステム（以
下、適宜「システム」と略記）は、図１に示すように、
トップフィードリバース式の塗工装置１を用いて粘着テ
ープや粘着シートの薄い支持基材である長尺シート２の
表面に粘着剤膜Ｑを連続的に形成するシステムである。
塗工装置１では、長尺シート２が裏面全体を金属製のバ
ックアップロール３の表面に押し付けるようにして巻回
されながら、矢印ＲＡ，ＲＢで示す方向に連続的に搬送
される。具体的な薄手支持基材用の長尺シート２として
は、プラスチックフィルムや紙あるいは金属箔などが挙
げられる。

【００１２】一方、塗工装置１のバックアップロール３
の向い側には金属製のコーティングロール４とメタリン
グロール５とが、液体送出用ギャップ６を隔てて上下に
向き合う状態で設置されているとともに、両ロール４，
５の後側に粘着剤液Ｓを溜めておく液溜部７が設けられ
ている。液溜部７の中の粘着剤液Ｓは粘弾性を有する液
体である。具体的な粘着剤としては、ゴム系粘着剤、ア
クリル系粘着剤、シリコーン系粘着剤などが挙げられ
る。また、塗工装置１では、コーティングロール４とメ
タリングロール５の軸芯間距離を変化させることにより
液体送出用ギャップ６の間隔を調整するギャップ間隔可
変機構８が設けられている。実施例の塗工装置１の場
合、所定の制御周期で受けるギャップ操作信号に従って
ギャップ間隔可変機構８が、メタリングロール５を上方
または下方に移動させてコーティングロール４とメタリ
ングロール５の軸芯間距離を変えるのに伴って、液体送
出用ギャップ６の間隔が変化する構成となっている。

【００１３】さらに、実施例のシステムでは、長尺シー
ト２の表面に形成された粘着剤膜Ｑの厚みを測定する膜
厚検出器９が、バックアップロール３の後段に設置され
ている乾燥部（図示省略）の先に設けられている。具体
的な膜厚検出器９としては、長尺シート２が近赤外線領
域にて粘着剤膜と異なったスペクトル分布を示し、かつ
使用近赤外線波長での過度の減衰が認められない場合、
近赤外線式の膜厚検出器が適当である。近赤外線式の膜
厚検出器は、照射した測定光の反射光あるいは透過光の
スペクトル分布の変化に基づいて、粘着剤膜Ｑの厚みだ
けを測定できるからである。

【００１４】長尺シート２が近赤外線式の膜厚検出器で
は測定が不適切な場合は、ベータ線式やγ線式あるいは
レーザ式の膜厚検出器が適当である。これらの検出器の
場合、長尺シート２の厚みも含めた測定結果となるの
で、粘着剤膜Ｑを形成する前の長尺シート２のみの厚み
を別途に測定し、膜厚検出器９の測定結果から長尺シー
ト２の厚みを差し引いて粘着剤膜Ｑの厚みを求める過程
が必要となる。以下、実施例のシステムでは、膜厚検出
器９が近赤外線式の膜厚検出器であって粘着剤膜Ｑの厚
みだけが直に膜厚検出器９によって得られるものとして
説明する。

【００１５】次に、ギャップ間隔可変機構８へ所定の制
御周期で与えられるギャップ操作信号を作成するための
構成に関しての説明を行う。先ず、ギャップ操作信号の
作成に使われるマトリクス形式の二つの係数、すなわ
ち、過去のＳ制御周期分について単位量当たりのギャッ
プ間隔変化の塗膜の厚み変化への影響の度合いを予めモ
デルとして求め設定してある過去モデル係数Ａ ₀ と、将
来のＰ制御周期分について単位量当たりのギャップ間隔
変化の塗膜の厚み変化への影響の度合いを予めモデルと
して求め設定してある将来モデル係数Ａについて説明す
る。図１のシステムにおいては、図２に示すように、今
現在の制御周期で液体送出用ギャップ６に与えた単位量
当たりのステップ状ギャップ間隔変化によって、将来の
第Ｐ制御周期までの各制御周期において膜厚検出器９の
位置に現れる各塗膜厚み変化を実験で求める。いわゆる
プロセスモデルを予め実際のシステムについて計測する
のである。なお、図２において、ａ₁ ：第１制御周期で
膜厚検出器９の位置に現れる塗膜厚み変化，ａ₂ ：第１
制御周期より１周期先の第２制御周期で膜厚検出器９の
位置に現れる塗膜厚み変化，…，ａ_M ：第１制御周期か
ら（Ｍ−１）周期先の第Ｍ制御周期で膜厚検出器９の位
置に現れる塗膜厚み変化，…をそれぞれ示している。そ
して、求めたプロセスモデルのデータを用いて、（１）
式の過去モデル係数Ａ₀ 、および、（２）式の将来モデ
ル係数Ａを設定する。

【００１６】

【数１】

【００１７】上の過去モデル係数Ａ₀ は過去の制御周期
で単位量当たりのギャップ変化を行ったけれども、塗膜
厚み変化への影響が膜厚検出器９の位置に未だ現れては
いないギャップ変化の将来への影響の程度を意味する。
この過去モデル係数Ａ₀ は過去モデル係数乗算部１２に
設定されている。

【００１８】

【数２】

【００１９】上の将来モデル係数Ａは現在から将来にわ
たる制御周期で行う単位量当たりのギャップ変化による
塗膜厚み変化への影響の程度を意味する。この将来モデ
ル係数Ａは将来モデル係数乗算部１４に設定されてい
る。

【００２０】一方、実施例の制御装置では、（３）式に
示すように、Ｓ個の制御周期分の過去の各ギャップ間隔
変化量Δｕを記憶するギャップ間隔履歴記憶部１１と過
去のギャップ間隔変化量Δｕに過去モデル係数Ａ₀ を乗
算する過去モデル係数乗算部（第１塗膜厚み変化量求出
手段）１２が設けられていて、過去モデル係数乗算部１
２から複数制御周期分の過去のギャップ間隔変化によっ
て生じる将来の塗膜厚み変化量（第１塗膜厚み変化量）
ΔＹ₀ （＝Ａ₀ ・Δｕ）が出力されるよう構成されてい
る。なお、最初のΔＹ₀ を算出する時のΔｕの初期値
は、過去のギャップ間隔変化が全く起きていないことか
らΔｕ_-1, Δｕ_-2, …，Δｕ_-Sが全て０の零行列であ
る。

【００２１】

【数３】

【００２２】また、実施例の制御装置には、（４）式で
示される目標塗膜厚みＹ_SVHTを設定する目標厚み設定部
１０が設けられている。目標塗膜厚みＹ_SVHTの各目標塗
膜厚みｙ_SV1,ｙ_SV2,…_, ｙ_SVp には現在より将来の目標
塗膜厚みが経時的に設定されることになる。目標塗膜厚
みが常に同一の場合は、各目標塗膜厚みｙ_SV1,ｙ_SV2,…
_, ｙ_SVp は全て同じ値となり、目標塗膜厚みが時間的に
変化する場合は、各目標塗膜厚みｙ_SV1,ｙ_SV2,…_, ｙ
_SVp は変化に応じた値となる。

【００２３】他方、実施例の制御装置では、後述するよ
うに、（５）式に示すように、目標塗膜厚みと将来塗膜
厚みの差に従って現在から将来の制御周期における各ギ
ャップ間隔変化量Δｕ_HTを求めるとともに、現在の制御
周期におけるギャップ間隔変化量ｕ₀ を目標塗膜厚みと
将来塗膜厚みの差を縮めるのに最も適したギャップ操作
信号としてギャップ間隔可変機構８へ送出するギャップ
間隔変化量求出部１３と、ギャップ間隔変化量Δｕ_HTに
将来モデル係数Ａを乗算する将来モデル係数乗算部（第
１塗膜厚み変化量求出手段）１４が設けられていて、将
来モデル係数乗算部１４からギャップ間隔変化量Δｕ_HT
によって生じる将来の塗膜厚み変化量（第２塗膜厚み変
化量）ΔＹ（＝Ａ・Δｕ_HT）が出力されるよう構成され
ている。なお、最初のΔＹを算出する時のΔｕの初期値
は、Δｕ_0,Δｕ_1,Δｕ_2,…，Δｕ _M が全て０の零行列で
ある。

【００２４】

【数４】

【００２５】さらに、実施例の制御装置には、第１塗膜
厚み変化量ΔＹ₀ と、第２塗膜厚み変化量ΔＹと、
（６）式に示すように、膜厚検出器９により検出された
検出膜厚みＹ_PVの３者を加算することにより、（７）式
に示すように、過去から将来までの各制御周期における
各ギャップ間隔変化によって生成される将来の塗膜厚み
（将来塗膜厚み）Ｙ_PVHT＝（ΔＹ₀ ＋ΔＹ＋Ｙ_PV）を求
める将来塗膜厚み求出部１５と、目標塗膜厚みと将来塗
膜厚みとの差（膜厚み偏差＝Ｙ_SVHT−Ｙ_PVHT）を求める
膜厚み偏差求出部１６が設けられている。過去モデル係
数Ａ₀ では現在の予測値が差し引かれており、将来塗膜
厚みＹ_{PV HT}の算出過程では、その代わりに、現在の予測
値に相当する検出膜厚みＹ_PVを加えている。

【００２６】そして、実施例の制御装置は、膜厚み偏差
求出部１６から出力される膜厚み偏差（Ｙ_SVHT−
Ｙ_PVHT）に基づき、（８）式に従って現在から将来の第
Ｍ制御周期までの各ギャップ間隔変化量Δｕ_HTを求める
構成となっている。 Δｕ_HT＝（Ａ^T ・Ｘ・Ａ＋１−Ｘ）^-1・Ａ^T ・Ｘ・（Ｙ_SVHT−Ｙ_PVHT）…（８） 但し：Ｘは０≦Ｘ≦１の値をとるチューニング係数であ
って、最終的に制御の強弱調整用のパラメータである。

【００２７】ギャップ間隔変化量求出部１３は求めた
（５）式のギャップ間隔変化量Δｕ_HTを将来モデル係数
乗算部１４へ送るとともに、今現在の制御周期における
ギャップ間隔変化量ｕ₀ をギャップ間隔可変機構８とギ
ャップ間隔変化履歴記憶部１１の両方へ送出する。な
お、実施例の塗膜厚みの制御装置の場合、過去モデル係
数乗算部１２、ギャップ間隔変化量求出部１３、将来モ
デル係数乗算部１４、将来塗膜厚み求出部１５や、膜厚
み偏差求出部１６は、コンピュータ（中央演算処理部）
および制御プログラムを中心に構成されるものである。

【００２８】続いて、以上に述べた構成を有する連続コ
ーティングシステムを稼働させた時の粘着剤膜厚みの制
御動作を、図３のフローチャートを参照しながら説明す
る。図３は実施例の塗膜厚みの制御装置による粘着剤膜
厚みの制御の流れを示すフローチャートである。 〔ステップＳ１〕先ず長尺シート２を走行させるととも
に液体送出用ギャップ６の間隔を適当に設定し液溜部７
の中の粘着剤液Ｓを長尺シート２の表面に供給し、膜厚
検出器９による粘着剤膜Ｑの厚み測定が始まり、測定結
果である検出膜厚みＹ_PVが将来膜厚み求出部１５へ出力
される。

【００２９】〔ステップＳ２〕過去モデル係数乗算部１
２により第１塗膜厚み変化量ΔＹ₀ （＝Ａ₀ ・Δｕ）が
算出され、将来膜厚み求出部１５へ出力される。なお、
ギャップ間隔変化履歴記憶部１１には未だ何も記憶され
ていないので、最初の乗算時のΔｕは初期値の零行列で
ある。

【００３０】〔ステップＳ３〕将来モデル係数乗算部１
４により第２塗膜厚み変化量ΔＹ（＝Ａ・Δｕ_HT）が算
出され、将来膜厚み求出部１５へ出力される。なお、最
初の乗算時のΔｕ_HTも初期値の零行列である。

【００３１】〔ステップＳ４〕将来膜厚み求出部１５に
より〔第１塗膜厚み変化量ΔＹ₀ ＋第１塗膜厚み変化量
ΔＹ＋検出膜厚みＹ_PV〕なる演算が行われ、将来塗膜厚
みＹ_{PV HT}が求められ、膜厚み偏差求出部１６へ出力され
る。

【００３２】〔ステップＳ５〕膜厚み偏差求出部１６に
より、目標塗膜厚みＹ_SVHTと将来塗膜厚みＹ_PVHTの差、
すなわち膜厚み偏差（Ｙ_SVHT−Ｙ_PVHT）が求められてギ
ャップ間隔変化量求出部１３へ送られる。

【００３３】〔ステップＳ６〕ギャップ間隔変化量求出
部１３により、前記（８）式の演算が行われ、ギャップ
間隔変化量Δｕ_HTが求出される。

【００３４】〔ステップＳ７〕求出されたギャップ間隔
変化量Δｕ_HTの中の今現在の制御周期におけるギャップ
間隔変化量ｕ₀ はギャップ間隔可変機構８とギャップ間
隔変化履歴記憶部１１へそれぞれ送られる。したがっ
て、ΔｕおよびΔｕ_HTは初期値から次の制御周期のため
の値に変化することになる。

【００３５】〔ステップＳ８〕ギャップ間隔可変機構８
は受け取ったギャップ間隔変化量ｕ₀に応じて液体送出
用ギャップ６の間隔を変化させる。液体送出用ギャップ
６の間隔変化により膜厚みが変わることになる。

【００３６】〔ステップＳ９〕システムの稼働が続くか
ぎり、ステップＳ２に戻って以下のステップが繰り返さ
れて、塗膜厚みの制御が継続されることになる。もちろ
ん、液体送出用ギャップ６の間隔変化による膜厚み変動
が膜厚検出器９の位置に現れる前に次々と操作が繰り返
されるように短い制御周期が設定されているので、塗工
装置１の液体送出用ギャップ６を短時間で適切な間隔に
設定することができることは言うまでもない。システム
の稼働が停止される場合、塗膜厚みの制御も終了するこ
とになる。

【００３７】本発明は、上記実施の形態に限られること
はなく、下記のように変形実施することができる。 （１）本発明の塗膜厚みの制御装置は、図１に示す塗工
装置１に限らず、図４に示すようなメタリングロールの
無い塗工装置の場合にも適用することが可能である。図
４の塗工装置では、コーティングロール４を上方または
下方に移動させてギャップ６の間隔を変化させる構成と
なる。あるいは、図１において、メタリングロールの代
わりにブレード（刃）が用いられている塗工装置の場合
にも、本発明を適用することができる。この塗工装置で
は、ブレードを上方または下方に移動させてギャップの
間隔を変化させることになる。

【００３８】（２）本発明の塗膜厚みの制御装置の制御
対象の膜は粘着剤液に限らない。例えば、塗料膜など粘
弾性を有する液体により形成される塗膜であれば、本発
明の制御対象となり得る。

【００３９】（３）実施例の場合、膜厚検出器９は乾燥
部の後に設けられていたが、膜厚検出器９を設置する位
置は特定の位置に限られるものではない。

【００４０】

【発明の効果】以上に述べたように、本発明の塗膜厚み
の制御装置によれば、過去の複数周期分について単位量
当たりのギャップ間隔変化の塗膜の厚み変化への影響の
度合いを予めモデルとして求め設定してある過去モデル
係数、および、将来の複数制御周期分について単位量当
たりのギャップ間隔変化の塗膜の厚み変化への影響の度
合いを予めモデルとして求め設定してある将来モデル係
数に従って、過去から将来にわたる各制御周期における
各ギャップ間隔変化に伴って生成される将来の塗膜厚み
（将来塗膜厚み）が的確に予測算出され、さらに目標塗
膜厚みと算出された将来塗膜厚みとの差を縮めるのに最
適な現在の制御周期のギャップ間隔変化量が求められ
て、これがギャップ操作信号としてギャップ間隔可変手
段へ送出される構成となっているので、ギャップ操作に
よって生じる膜厚みの変化が塗膜厚み検出手段に到達す
る以前に的確に予測算出され、短い制御周期で次々とギ
ャップ操作が行われる結果、液体送出用ギャップの間隔
を短時間で適切な間隔に設定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例に係る塗膜厚みの制御装置を用いた連続
コーティングシステムの全体構成を示すブロック図であ
る。

【図２】実施例のコーティングシステムにおける液体送
出用ギャップの間隔変化による塗膜厚み変化への影響
（プロセスモデル）を示すグラフである。

【図３】実施例の塗膜厚みの制御装置による粘着剤膜厚
みの制御の流れを示すフローチャートである。

【図４】本発明の塗膜厚みの制御方法の実施に用いるこ
とができる他の塗工装置の要部構成を示す概略図であ
る。

【図５】従来の塗膜厚みの制御方法の実施に用いられる
連続コーティングシステムの要部構成を示す概略図であ
る。

【符号の説明】

１ …塗工装置 ２ …長尺シート ３ …バックアップロール ４ …コーティングロール ５ …メタリングロール ６ …液体送出用ギャップ ８ …ギャップ間隔可変機構 ９ …膜厚検出器 １０ …目標厚み設定部 １１ …ギャップ間隔変化履歴記憶部 １２ …過去モデル係数乗算部 １３ …ギャップ間隔変化量求出部 １４ …将来モデル係数乗算部 １５ …将来塗膜厚み求出部 １６ …膜厚み偏差求出部 Ｑ …粘着剤膜 Ｓ …粘着剤液

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】連続的に搬送される長尺シートの表面に粘
   弾性を有する液体を塗工装置の液体送出用ギャップから
   連続的に送給し長尺シートの表面に塗膜を連続的に形成
   する連続コーティング工程における前記塗膜の厚みを制
   御する装置であって、 前記液体送出用ギャップの間隔を所定の制御周期で受け
   るギャップ操作信号に従って変化させるギャップ間隔可
   変手段と、 長尺シートの表面に形成された塗膜の厚みを検出する塗
   膜厚み検出手段と、 過去の複数制御周期分のギャップ間隔変化量を記憶する
   ギャップ間隔変化履歴記憶手段と、 複数制御周期分の過去のギャップ間隔変化量に、過去の
   複数制御周期分について単位量当たりのギャップ間隔変
   化の塗膜の厚み変化への影響の度合いを予めモデルとし
   て求め設定してある過去モデル係数を乗算することによ
   り、複数制御周期分の過去のギャップ間隔変化によって
   生じる将来の塗膜厚み変化量（第１塗膜厚み変化量）を
   求出する第１塗膜厚み変化量求出手段と、 現在から将来にわたる複数制御周期分のギャップ間隔変
   化量に、将来の複数制御周期分について単位量当たりの
   ギャップ間隔変化の塗膜の厚み変化への影響の度合いを
   予めモデルとして求め設定してある将来モデル係数を乗
   算することにより、現在から将来の複数制御周期分のギ
   ャップ間隔変化量によって生じる将来の塗膜厚み変化量
   （第２塗膜厚み変化量）を求める第２塗膜厚み変化量求
   出手段と、 第１塗膜厚み変化量と、第２塗膜厚み変化量と、塗膜厚
   み検出手段による検出膜厚みとを、加算することにより
   前記過去および将来の各制御周期における各ギャップ間
   隔変化によって生成される将来の塗膜厚み（将来塗膜厚
   み）を求める将来塗膜厚み求出手段と、 目標塗膜厚みと将来塗膜厚みとの差（膜厚み偏差）を求
   める膜厚み偏差求出手段と、 膜厚み偏差求出手段による膜厚み偏差に基づき、現在か
   ら将来にわたる複数制御周期分の各ギャップ間隔変化量
   を求めるとともに、現在の制御周期におけるギャップ間
   隔変化量を目標塗膜厚みと将来塗膜厚みの差を縮めるの
   に最も適したギャップ操作信号としてギャップ間隔可変
   手段へ送出するギャップ間隔変化量求出手段と、 を設けたことを特徴とする塗膜厚みの制御装置。