JPH11309408A - Substrate treating system - Google Patents
Substrate treating systemInfo
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- JPH11309408A JPH11309408A JP12133098A JP12133098A JPH11309408A JP H11309408 A JPH11309408 A JP H11309408A JP 12133098 A JP12133098 A JP 12133098A JP 12133098 A JP12133098 A JP 12133098A JP H11309408 A JPH11309408 A JP H11309408A
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶表示デ
バイス(LCD)およびプラズマ表示デバイス(PD
P)などのフラットパネルディスプレイ(FPD)、半
導体デバイスおよび各種電子部品などの製造プロセスに
おいて、例えばLCDまたはPDP用ガラス基板、半導
体基板およびプリント基板などの基板を例えば塗布装置
にセットして各種塗布液を塗布することで、フォトレジ
スト膜、カラーフィルタ材、平坦化材、層間絶縁膜、絶
縁膜および導電膜などの薄膜を基板表面上に形成する塗
布システムなどの基板処理システムに関する。The present invention relates to a liquid crystal display device (LCD) and a plasma display device (PD), for example.
In the manufacturing process of flat panel displays (FPDs) such as P), semiconductor devices and various electronic components, for example, substrates such as glass substrates for LCDs or PDPs, semiconductor substrates, and printed boards are set in coating apparatuses, for example, and various coating liquids are set. The present invention relates to a substrate processing system such as a coating system in which a thin film such as a photoresist film, a color filter material, a planarizing material, an interlayer insulating film, an insulating film, and a conductive film is formed on a substrate surface by coating the substrate.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、基板表面に塗布液を塗布する方式
としては、回転塗布方式、ブレード塗布方式、スプレイ
塗布方式およびロールコート方式などがある。2. Description of the Related Art Conventionally, as a method of applying a coating liquid on a substrate surface, there are a spin coating method, a blade coating method, a spray coating method, a roll coating method and the like.
【0003】近年、液晶表示デバイスや半導体デバイス
などの製造プロセスにおいて、基板を水平に保った状態
で回転させ、その中央部に塗布液を供給して塗布液に遠
心力を与えることで、基板表面上の中央部から外周部に
均一に塗布液を塗布する回転塗布方式が広く利用されて
いた。In recent years, in a manufacturing process of a liquid crystal display device, a semiconductor device, or the like, a substrate is rotated while being kept horizontal, and a coating liquid is supplied to a central portion thereof to give a centrifugal force to the coating liquid. A spin coating method of uniformly applying a coating liquid from the upper central portion to the outer peripheral portion has been widely used.
【0004】ところが、この回転塗布方式では、基板の
大型化や角形化の傾向とも相俟って、塗布液を遠心力で
外方に飛ばすため、使用される塗布液の有効利用という
点で無駄があり、塗布液の利用効率が悪かった。また、
角形の基板を水平姿勢で回転させることで、基板の大型
化にも伴って装置も大型化し、その設置スペースも増大
せざるを得なかった。さらに、角形の基板を高速に回転
させると、基板表面に気流の乱れが発生し易く、しか
も、その基板が大型化すると、その回転時における基板
表面上の線速度差が増大することにより、塗布むらや塗
布膜厚の均一性などの塗布品質を確保することが難しく
なっていた。However, in this spin coating method, the coating solution is spun outward by centrifugal force in combination with the tendency of the substrate to become larger and squarer, so that the coating solution used is not effectively used. And the use efficiency of the coating liquid was poor. Also,
By rotating the rectangular substrate in a horizontal posture, the size of the apparatus is increased as the size of the substrate is increased, and the installation space has to be increased. Furthermore, when a rectangular substrate is rotated at a high speed, turbulence of the air flow easily occurs on the substrate surface. It has been difficult to ensure coating quality such as unevenness and uniformity of coating film thickness.
【0005】これに対して、毛管現象を用いた縦型の塗
布装置では、基板を鉛直姿勢または傾斜した姿勢に立て
て保持し、その基板幅方向(水平方向)のノズルと基板
とをその被塗布面に沿って相対移動させつつ、毛管現象
で塗布液槽から汲み上げられた塗布液をノズルから基板
表面に対して吐出させて塗布液を塗布するため、回転塗
布方式の上記問題、つまり、塗布液の利用効率の低下、
設置スペースの増大および塗布膜厚の不均一を解決する
ことができる。On the other hand, in a vertical type coating apparatus using the capillary phenomenon, the substrate is held in a vertical position or an inclined position, and the nozzle and the substrate in the substrate width direction (horizontal direction) are covered with the nozzle. Since the coating liquid is applied by discharging the coating liquid pumped from the coating liquid tank by capillary action from the nozzle to the substrate surface while relatively moving along the coating surface, the above problem of the rotary coating method, that is, coating Decrease in liquid use efficiency,
It is possible to solve an increase in installation space and an uneven coating film thickness.
【0006】このような塗布装置の基板保持用のステー
ジに従来より周知の多関節ロボットを用いて基板をセッ
ティングするセッティング動作を、仮想の従来技術とし
て、図30に示している。FIG. 30 shows a setting operation of setting a substrate on a substrate holding stage of such a coating apparatus using a conventionally known articulated robot as a virtual conventional technique.
【0007】図30は仮想の従来技術の塗布システムの
正面図である。FIG. 30 is a front view of a virtual prior art coating system.
【0008】図30に示すように、塗布装置80aの手
前側には基板セッティング用の多関節ロボット81が配
設されている。この多関節ロボット81の左右には、処
理前水平搬送経路82の取込位置82aと、処理済み水
平搬送経路83の受渡位置83aとが配設されている。As shown in FIG. 30, an articulated robot 81 for setting a substrate is provided in front of a coating apparatus 80a. On the left and right of the articulated robot 81, a take-in position 82a of the pre-processing horizontal transfer path 82 and a delivery position 83a of the processed horizontal transfer path 83 are arranged.
【0009】この多関節ロボット81のアーム部81a
の先端部分は基板84を保持可能な吸着構造になってお
り、塗布装置80aの基板垂直保持用のステージ85a
に対して、基板84を垂直姿勢にセッティングするのに
際して、処理前水平搬送経路82を水平搬送されてきた
水平姿勢の基板84を、多関節ロボット81のアーム部
81aの先端吸着部分によって、処理前水平搬送経路8
2の取込位置82aから吸着して取り込み、塗布装置8
0aのステージ85a上に垂直姿勢にセッティングする
ようになっている。また、多関節ロボット81のアーム
部81aの先端吸着部分によって、塗布装置80aにお
いて垂直姿勢の塗布済みの基板84をステージ85aか
ら受け取ってこれを水平姿勢にして処理済み水平搬送経
路83の受渡位置83a上に移送するようになってい
る。The arm portion 81a of the articulated robot 81
Has a suction structure capable of holding the substrate 84, and a stage 85a for vertically holding the substrate of the coating apparatus 80a.
When the substrate 84 is set in the vertical position, the horizontal position of the substrate 84 that has been horizontally conveyed along the pre-processing horizontal transfer path 82 is transferred to the pre-processing position by the tip suction portion of the arm 81 a of the articulated robot 81. Horizontal transport path 8
2 from the intake position 82a,
The stage is set in a vertical position on the stage 85a. In addition, the application portion 80a receives the coated substrate 84 in the vertical position from the stage 85a by the suction portion at the tip of the arm portion 81a of the articulated robot 81, sets the substrate 84 in the horizontal position, and transfers the substrate 84 to the transfer position 83a of the processed horizontal transfer path 83. It is designed to be transported up.
【0010】ここで、多関節ロボット81のアーム部8
1aの先端吸着部分について、図31および図32を用
いて、以下に詳細に説明する。The arm 8 of the articulated robot 81
The tip suction portion 1a will be described in detail below with reference to FIGS. 31 and 32.
【0011】図31は図30の多関節ロボット81のア
ーム部81aの先端吸着部分におけるトグル式チャック
開閉機構の要部構成を示す側面図である。FIG. 31 is a side view showing an essential structure of a toggle type chuck opening / closing mechanism at a tip suction portion of an arm portion 81a of the articulated robot 81 shown in FIG.
【0012】上記多関節ロボット81のアーム部81a
の先端吸着部分は、図31に示すように、上記ステージ
85aへの基板84のセッティング動作時や、そのステ
ージ85aからの基板84の取外し動作時に、基板84
の表面84aが手前側にくるため、基板84の上下端に
おける裏面84bの外周縁部を複数のチャックノズル9
1のL字爪裏側の吸盤状のバキュームパッド91aによ
ってそれぞれ吸着して基板84を垂直姿勢の状態で保持
するようになっている。The arm portion 81a of the articulated robot 81
As shown in FIG. 31, when the substrate 84 is set on the stage 85a or when the substrate 84 is removed from the stage 85a,
Because the front surface 84a of the substrate 84 comes to the near side, the outer peripheral edge of the back surface 84b at the upper and lower ends of the substrate 84 is moved to the plurality of chuck nozzles 9.
The sucker-shaped vacuum pad 91a on the back side of the L-shaped nail 1 holds the substrate 84 in a vertical posture by being sucked respectively.
【0013】図32は図31のトグル式チャック開閉機
構を模式的に示す動作説明用の斜視図であり、図32の
機構内容を判りやすくするために図31のクランピング
シリンダを180度だけ反対側に配置した状態で示し、
この場合、クランピングシリンダとチャックノズルの動
作は図31と図32で逆動作となるが、使用部材の符号
は同一の符号を付けている。FIG. 32 is a perspective view for schematically explaining the operation of the toggle chuck opening / closing mechanism of FIG. 31. In order to make the contents of the mechanism of FIG. Shown in a state where it is placed on the side,
In this case, the operations of the clamping cylinder and the chuck nozzle are reversed in FIGS. 31 and 32, but the same reference numerals are used for the members used.
【0014】図32において、上記基板84の上下寸法
よりも若干大きい寸法だけ離間して2本の軸92,93
が上下に平行に配設されている。この上側の軸92はベ
ース板94上に固定され所定距離を置いた2個の軸受部
材95で回転自在に軸支されており、また、下側の軸9
3は、図示しないベース板上に固定され所定距離を置い
た2個の軸受部材96で回転自在に軸支されている。こ
れらの2本の軸92,93にはそれぞれ、それぞれの両
端部と中央部にL字状の3個のチャックノズル91がそ
れぞれ固定されており、軸92,93の回動に伴って一
部仮想線で示した開放位置と、実線で示した保持位置と
の間で全チャックノズル91が回動するようになってい
る。In FIG. 32, two shafts 92 and 93 are separated from each other by a dimension slightly larger than the vertical dimension of the substrate 84.
Are arranged in parallel up and down. The upper shaft 92 is rotatably supported by two bearing members 95 fixed on a base plate 94 and separated by a predetermined distance.
Numeral 3 is rotatably supported by two bearing members 96 fixed on a base plate (not shown) at a predetermined distance. Three L-shaped chuck nozzles 91 are fixed to both ends and a center of each of the two shafts 92 and 93, respectively, and are partially attached with the rotation of the shafts 92 and 93. All chuck nozzles 91 rotate between an open position indicated by a virtual line and a holding position indicated by a solid line.
【0015】また、下側の軸93にはアーム部材97の
一方端部が固定され、アーム部材97の他方端部はクラ
ンピングシリンダ98のロッド先端部に回動自在に軸支
されており、シリンダ98のロッド先端部の移動で軸9
3を介して下側の各チャックノズル91を回動させて基
板84の裏側端縁部を吸引保持位置または吸引保持解除
位置に移動自在に構成している。また、上側の軸92に
はアーム部材99の一方端部が固定され、アーム部材9
9の他方端部は連結アーム部材100の一方端部に回動
自在に軸支され、連結アーム部材100の他方端部は、
一方端部が下側の軸92に回動自在に連結されたアーム
部材101の他方端部に回動自在に軸支され、そのアー
ム部材101の他方端部近傍位置にクランピングシリン
ダ102のロッド先端部が回動自在に軸支されており、
シリンダ102のロッド先端部の移動で軸92を介して
上側の各チャックノズル91を回動させて基板84の裏
側端縁部を吸引保持位置または吸引保持解除位置に移動
自在に構成している。One end of an arm member 97 is fixed to the lower shaft 93, and the other end of the arm member 97 is rotatably supported by a rod tip of a clamping cylinder 98. The movement of the rod end of the cylinder 98 moves the shaft 9
By rotating each lower chuck nozzle 91 via 3, the rear edge of the substrate 84 is configured to be movable to a suction holding position or a suction holding release position. One end of an arm member 99 is fixed to the upper shaft 92, and the arm member 9
9 is rotatably supported on one end of the connecting arm member 100, and the other end of the connecting arm member 100 is
One end is rotatably supported by the other end of the arm member 101 rotatably connected to the lower shaft 92, and the rod of the clamping cylinder 102 is positioned near the other end of the arm member 101. The tip is pivotally supported pivotally,
The upper chuck nozzle 91 is rotated via a shaft 92 by the movement of the rod tip of the cylinder 102, so that the rear edge of the substrate 84 is movable to a suction holding position or a suction holding release position.
【0016】上記構成によって、多関節ロボット81の
アーム部81aの先端吸着部分による基板84のステー
ジ85aへの着脱動作について説明する。まず、基板8
4をステージ85aに装着する場合、基板84の裏面外
周部をステージ側の複数の吸盤状のバキュームパッド
(図示せず)で吸着するべくステージ側のパッド収納凹
部内から複数のバキュームパッドが突出して待機してい
る。A description will be given of the operation of attaching and detaching the substrate 84 to and from the stage 85a by the end suction portion of the arm portion 81a of the articulated robot 81 with the above configuration. First, the substrate 8
When the stage 4 is mounted on the stage 85a, a plurality of vacuum pads protrude from the inside of the pad storage recess on the stage side so that the outer peripheral portion of the back surface of the substrate 84 is sucked by a plurality of suction cup-shaped vacuum pads (not shown) on the stage side. I'm waiting.
【0017】そこへ多関節ロボット81のアーム部81
aの先端吸着部分に吸引保持された基板84が来て、縦
姿勢の基板84の裏面外周部をステージ側の複数のバキ
ュームパッド(図示せず)で吸着する。さらに、その多
関節ロボット81のアーム部81aの先端吸着部分はそ
の吸着を解除したのちに全チャックノズル91を立てて
基板保持を解除し、それらの複数のバキュームパッドを
基板84に吸着させた状態でそのバキュームパッド収納
凹部内の所定位置に引き込んで収納することで基板84
をステージ85aまたはステージ85b上に装着保持す
る。The arm 81 of the articulated robot 81
The substrate 84 sucked and held arrives at the leading end suction portion a, and the outer peripheral portion of the back surface of the substrate 84 in the vertical posture is sucked by a plurality of vacuum pads (not shown) on the stage side. Further, the suction portion of the arm portion 81a of the articulated robot 81 releases the suction, and then raises all the chuck nozzles 91 to release the substrate, thereby releasing the plurality of vacuum pads to the substrate 84. The substrate 84 is pulled into a predetermined position in the vacuum pad storage recess and stored therein.
Is mounted and held on the stage 85a or the stage 85b.
【0018】このとき、アーム部81aの先端吸着部分
の基板保持解除動作は、まず、全チャックノズル91の
L字爪裏側のバキュームパッドによる吸引を解除して基
板84の裏側端縁部をそれらのバキュームパッド(図示
せず)から離れさせ、シリンダ98のロッド先端部が伸
長すると共に、シリンダ102のロッド先端部が収縮す
ることで、上下の全チャックノズル91は仮想線で一部
示しているように基板面に対して垂直に立ち、基板84
を受渡し完了とすることができる。At this time, the substrate holding operation of the suction portion at the tip end of the arm portion 81a is performed by first releasing the suction by the vacuum pad on the back side of the L-shaped claw of all the chuck nozzles 91 so as to move the back side edge of the substrate 84 to them. When the rod tip of the cylinder 98 is extended and the rod tip of the cylinder 102 is contracted while being separated from the vacuum pad (not shown), all the upper and lower chuck nozzles 91 are partially shown by phantom lines. At right angles to the substrate surface,
Can be completed.
【0019】また同様に、基板84をステージ85aか
ら取り外す場合、基板84の裏面外周縁部を複数のバキ
ュームパッドで吸着した状態でパッド収納凹部内から複
数のバキュームパッドが突出して待機している。Similarly, when the substrate 84 is detached from the stage 85a, a plurality of vacuum pads protrude from the pad storage recess and stand by while the outer peripheral edge of the back surface of the substrate 84 is sucked by the plurality of vacuum pads.
【0020】そこへ多関節ロボット81のアーム部81
aの先端吸着部分が来る。このとき、アーム部81aの
先端吸着部分の基板保持動作は、シリンダ98のロッド
先端部が伸長すると共に、シリンダ102のロッド先端
部が収縮することで、上下の全チャックノズル91は、
仮想線で一部示しているように基板面に対して垂直に立
つことになり、基板84を受入れ可能な状態とすること
ができる。The arm 81 of the articulated robot 81
The tip adsorption part of a comes. At this time, the substrate holding operation of the tip suction portion of the arm portion 81a is performed by extending the rod tip of the cylinder 98 and contracting the rod tip of the cylinder 102, so that all the upper and lower chuck nozzles 91
As indicated by the imaginary line, it stands perpendicular to the substrate surface, and the substrate 84 can be received.
【0021】さらに、上下の全チャックノズル91内に
基板84を受け入れた後に、シリンダ98のロッド先端
部が収縮すると共に、シリンダ102のロッド先端部が
伸長して、上下の全チャックノズル91は実線で示して
いるように基板面に平行な状態となって、基板84の裏
側端縁部を全チャックノズル91のL字爪裏側のバキュ
ームパッドで吸引して保持する。Further, after receiving the substrate 84 in all the upper and lower chuck nozzles 91, the rod end of the cylinder 98 contracts, and the rod end of the cylinder 102 extends, so that the upper and lower chuck nozzles 91 become solid lines. As shown in the figure, the back side edge of the substrate 84 is sucked and held by the vacuum pad on the back side of the L-shaped nail of all the chuck nozzles 91 in a state parallel to the substrate surface.
【0022】さらに、ステージ側の複数のバキュームパ
ッドによる基板84の裏面外周縁部の吸着を解除して、
基板84の裏側端縁部をそれらのバキュームパッドから
離れさせ、これによって、基板84のステージ85aま
たはステージ85bからの受渡しが完了となる。Further, the suction of the outer peripheral edge of the back surface of the substrate 84 by the plurality of vacuum pads on the stage side is released,
The back edge of the substrate 84 is moved away from the vacuum pads, whereby the delivery of the substrate 84 from the stage 85a or the stage 85b is completed.
【0023】[0023]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記構成で
は、塗布直後の基板84は、基板84の端面部分にも塗
布液が付いている虞があり、その端面を保持するのは適
当ではないため、その周辺部裏面を吸着して搬送するわ
けであるが、基板84を立てた垂直姿勢時にロボット側
とステージ側との間で受渡しをすると、ロボット側のバ
キュームパッドとステージ側のバキュームパッドとの吸
引タイミングおよび吸引解除タイミングによっては、基
板84が落下する危険性があり、このため、ハンドリン
グ速度を遅くする必要があった。However, in the above structure, the substrate 84 immediately after coating may have a coating liquid on the end face of the substrate 84, and it is not appropriate to hold the end face. When the substrate 84 is transferred between the robot side and the stage side in the vertical posture with the substrate 84 upright, the vacuum pad on the robot side and the vacuum pad on the stage side may be transported. Depending on the suction timing and the suction release timing, there is a risk that the substrate 84 will fall, and therefore, it is necessary to reduce the handling speed.
【0024】また、ステージ85aへのセッティング動
作時および、ステージ85aからの取外し動作時に、多
関節ロボット81のアーム部81aのハンド先端吸着部
は基板84の表面側にくるため、ハンド先端吸着部がシ
リンダやモータなどの駆動源を必要としており、その構
成が複雑で重量も大きくなって多関節ロボット81とし
ての負荷も大きくなっている。また、多関節ロボット8
1のアーム部81aのハンド先端吸着部に、基板84を
覆って前記駆動源からのパーティクルの付着を防ぐため
のプレートを取り付けると、ハンド先端吸着部がさらに
重くなってアーム部81aに負荷がかかり過ぎ、また、
そのハンド先端吸着部にプレートを取り付けない場合に
は、前記駆動源からのパーティクルが基板84に付着す
るのみならず、ハンドリング時に基板84に風圧がかか
り基板84が振動し、それによってパーティクルが発生
する虞がある。Further, at the time of setting operation to the stage 85a and at the time of removing operation from the stage 85a, the hand tip suction portion of the arm portion 81a of the articulated robot 81 comes to the surface side of the substrate 84. A driving source such as a cylinder or a motor is required, and the configuration is complicated, the weight is increased, and the load as the articulated robot 81 is also increased. Also, the articulated robot 8
When a plate for covering the substrate 84 and preventing the particles from adhering to the drive source is attached to the hand tip suction portion of the first arm portion 81a, the hand tip suction portion becomes even heavier and a load is applied to the arm portion 81a. Too much
When the plate is not attached to the hand tip suction portion, not only the particles from the driving source adhere to the substrate 84, but also the wind pressure is applied to the substrate 84 during handling, and the substrate 84 vibrates, thereby generating particles. There is a fear.
【0025】さらに、多関節ロボット81のアーム部8
1aのハンド先端吸着部が、水平姿勢の基板84に対し
てアクセス時に基板84の表面上方位置にくるため、基
板84の表面にパーティクルが付着する虞があり、前述
の基板84を覆うプレートを設けない場合に特に問題と
なる。また、この基板84の被塗布面に対する塗布処理
が多関節ロボット81による搬送エリア側で行われてい
るため、搬送時に発生したパーティクルが基板84の表
面に付着する虞があった。Further, the arm 8 of the articulated robot 81
Since the hand tip suction portion 1a comes to a position above the surface of the substrate 84 when accessing the substrate 84 in a horizontal posture, particles may adhere to the surface of the substrate 84, and a plate for covering the substrate 84 is provided. This is especially problematic if not. Further, since the coating process on the surface to be coated of the substrate 84 is performed on the transfer area side by the articulated robot 81, particles generated during the transfer may adhere to the surface of the substrate 84.
【0026】このように、塗布が搬送エリア側で行われ
るためにメンテナンス性も悪くなっていた。つまり、塗
布装置の外側から基板84に対する塗布状態が目視で検
査できないため、人が入りにくい搬送エリア側に入る必
要が生じてメンテナンス性が非常に悪い。As described above, since the coating is performed on the transfer area side, the maintainability is also deteriorated. That is, since the coating state of the substrate 84 cannot be visually inspected from the outside of the coating apparatus, it is necessary to enter the transport area where people cannot easily enter, and the maintenance is very poor.
【0027】以上のことを解決するべく、本発明者等
は、後述する各実施形態で詳細に説明するが、別の出願
で以下のような提案を行っている。In order to solve the above problems, the present inventors will be described in detail in each embodiment described later, but have made the following proposal in another application.
【0028】つまり、基板が保持される基板保持ステー
ジを設け、この基板保持ステージの基板保持面が所定角
度姿勢と垂直または傾斜姿勢の何れかになるように軸支
部を回動中心として基板保持ステージを回動自在に構成
したステージ旋回手段を開発し、このステージ旋回手段
の回動動作で基板保持ステージを所定角度姿勢から傾斜
または垂直姿勢にし、この状態が塗布装置などの基板処
理装置における基板処理位置になるようにすれば、所定
角度姿勢が略水平姿勢であれば、基板の基板保持ステー
ジへのセッティングはその略水平姿勢で行われ、従来の
ような吸引タイミングおよび吸引解除タイミングの乱れ
による基板落下の危険性もなく、これによって、ハンド
リング速度を遅くする必要もなくなって、より安定な基
板移載を行うことが可能となる。また、ステージ旋回手
段の回動動作で基板保持ステージを所定角度姿勢から傾
斜または垂直姿勢にして、基板処理装置の裏側から基板
処理位置にセットし、その表側で基板処理を行うので、
基板処理エリアと搬送エリアとを容易に分離することが
可能となって、搬送エリア側のパーティクルが基板処理
エリア側の基板表面上に付着することが抑制され、ま
た、基板処理エリア側に基板搬送機構がないので、基板
処理エリア側に人が入りやすくかつその基板処理状態が
見やすくメンテナンス性のよい基板処理システムとな
る。このように、塗布エリアと搬送エリアとがうまく分
離されるので、基板保持ステージの基板保持面側の基板
処理空間を覆って密閉する外郭部材を容易に配置するこ
とが可能となって、風圧や気圧変化などの周囲からの悪
影響が防止されてより安定した基板処理が可能となる。That is, a substrate holding stage for holding a substrate is provided, and the substrate holding stage is pivoted about a pivot portion so that the substrate holding surface of the substrate holding stage is at a predetermined angle and either vertical or inclined. The stage rotation means is configured to be rotatable. The rotation of the stage rotation means moves the substrate holding stage from a predetermined angle posture to an inclined or vertical posture, and this state corresponds to the substrate processing in a substrate processing apparatus such as a coating apparatus. If the predetermined angular attitude is substantially horizontal, the setting of the substrate on the substrate holding stage is performed in the substantially horizontal attitude, and the substrate is disturbed by the conventional suction timing and suction release timing disturbance. There is no danger of falling, and therefore, there is no need to slow down the handling speed, and a more stable substrate transfer It can become. Further, since the substrate holding stage is tilted from a predetermined angle posture to the vertical or vertical posture by the rotation operation of the stage turning means, and is set to the substrate processing position from the back side of the substrate processing apparatus, and the substrate processing is performed on the front side,
The substrate processing area and the transfer area can be easily separated from each other, so that particles on the transfer area side are prevented from adhering to the substrate surface on the substrate processing area side. Since there is no mechanism, the substrate processing system is easy to enter the substrate processing area side, the substrate processing state is easy to see, and the substrate processing system is easy to maintain. As described above, since the application area and the transfer area are well separated from each other, it is possible to easily arrange an outer member that covers and seals the substrate processing space on the substrate holding surface side of the substrate holding stage. An adverse effect from the surroundings such as a change in atmospheric pressure is prevented, and more stable substrate processing can be performed.
【0029】このような基板処理装置を1つの基板処理
システムの搬送ラインに沿って複数台設ける場合には、
それら各基板処理装置のレイアウトによっては、例えば
一方の基板処理装置へは搬送ライン上で右側であった辺
が上になるようにその基板が基板保持ステージへセッテ
ィングされ、他方の基板処理装置へは搬送ライン上で左
側であった辺が上になるようにその基板が基板保持ステ
ージへセッティングされる、といったことがおこる。と
ころが、処理される基板は必ずしも上下あるいは左右に
対称なものではなく、このように基板のセッティング方
向が変わると不都合が生じる。すなわち、上述の例にお
いては、搬送ライン上の右側の辺と左側の辺とで基板の
不使用領域の幅が異なっているなどのために基板の有効
領域の範囲が変わったり、基板への文字表示を行う位置
が同一にならなかったりする不都合が生じる。When a plurality of such substrate processing apparatuses are provided along a transfer line of one substrate processing system,
Depending on the layout of each of the substrate processing apparatuses, for example, the substrate is set on the substrate holding stage such that the side on the right side on the transfer line is directed to one substrate processing apparatus, and the other substrate processing apparatus is set to the other substrate processing apparatus. For example, the substrate is set on the substrate holding stage such that the left side on the transfer line is on the upper side. However, the substrate to be processed is not necessarily symmetrical in the vertical and horizontal directions, and if the setting direction of the substrate changes in this way, inconvenience occurs. That is, in the above example, the width of the non-use area of the substrate is different between the right side and the left side on the transport line, etc., so that the effective area of the substrate changes, There is a disadvantage that the display positions are not the same.
【0030】本発明は、搬送されてきた基板を複数の基
板処理装置へ同一方向にセッティングすることができる
基板処理システムを提供することを目的とする。An object of the present invention is to provide a substrate processing system capable of setting a transferred substrate to a plurality of substrate processing apparatuses in the same direction.
【0031】[0031]
【課題を解決するための手段】本発明の基板処理システ
ムは、所定姿勢で搬送された基板を受け入れて保持する
第1の受入手段と、該第1の受入手段を回動させること
により第1の受入手段により保持した基板を当該基板面
内において回動可能な基板回動手段と、該第1の受入手
段から基板を受け入れて保持する第2の受入手段と、該
第2の受入手段により保持された基板を受け取り保持し
て該基板を垂直または傾斜姿勢に変換する第1の姿勢変
換手段と、第1の姿勢変換手段に保持された垂直または
傾斜姿勢の基板に対して処理を施す第1の基板処理手段
と、前記第2の受入手段に保持された基板を受け取り保
持して該基板を垂直または傾斜姿勢に変換する第2の姿
勢変換手段と、第2の姿勢変換手段に保持された垂直ま
たは傾斜姿勢の基板に対して処理を施す第2の基板処理
手段とを有することを特徴とするものである。A substrate processing system according to the present invention comprises a first receiving means for receiving and holding a substrate transported in a predetermined posture, and a first receiving means for rotating the first receiving means. A substrate rotating means capable of rotating the substrate held by the receiving means in the plane of the substrate, a second receiving means for receiving and holding the substrate from the first receiving means, and a second receiving means. A first attitude converting means for receiving and holding the held substrate and converting the substrate into a vertical or inclined attitude, and a process for processing the vertical or inclined attitude held by the first attitude converting means. A first substrate processing means, a second attitude converting means for receiving and holding the substrate held by the second receiving means and converting the substrate into a vertical or inclined attitude, and a second attitude converting means. Vertical or inclined position It is characterized in that a second substrate processing means for performing processing on.
【0032】この構成により、第1および第2の基板処
理手段が配置され、その一方側の基板処理手段に基板を
供給する場合と、その他方側の基板処理手段に基板を供
給する場合とで、各姿勢変換手段による各基板処理手段
への基板セッティング方向が逆方向となる場合がある
が、上記構成により、各基板処理手段の入口側に基板回
動手段を設け、各基板処理手段への基板セッティング方
向が同一方向となるように基板回動手段で基板を方向転
換させるようにすれば、各基板処理手段の入口側に基板
回動手段がない場合と比べて多面取りやタイトル表示な
どで生じる基板上下が逆になるという不都合を解消する
ことが可能となる。According to this structure, the first and second substrate processing means are disposed, and the substrate is supplied to one of the substrate processing means and the substrate is supplied to the other substrate processing means. In some cases, the substrate setting direction to each substrate processing unit by each attitude conversion unit may be in the opposite direction, but with the above configuration, a substrate rotating unit is provided at the entrance side of each substrate processing unit, and If the direction of the substrate is changed by the substrate rotating means so that the substrate setting direction is the same direction, compared to a case where there is no substrate rotating means at the entrance side of each substrate processing means, it is possible to obtain a plurality of substrates or display a title. It is possible to eliminate the disadvantage that the substrate is turned upside down.
【0033】さらに、好ましくは、本発明の基板処理シ
ステムにおける基板回動手段は、前記第1の受入手段に
より保持した基板の搬送先が前記第1の姿勢変換手段で
あるか前記第2の姿勢変換手段であるかに応じて当該基
板を回動させるものである。Further preferably, in the substrate processing system of the present invention, the substrate rotating means may be configured such that a destination of the substrate held by the first receiving means is the first attitude changing means or the second attitude changing means. The substrate is rotated depending on whether it is a conversion unit.
【0034】この構成により、基板回動手段が第1の姿
勢変換手段に搬送されるか第2の姿勢変換手段に搬送さ
れるかに応じて基板を回動させるようにすれば、各基板
処理手段への基板セッティング方向が第1の姿勢変換手
段と第2の姿勢変換手段とによって基板上下が逆になる
という不都合を解消することが可能となる。According to this configuration, if the substrate is rotated according to whether the substrate rotating means is transported to the first attitude converting means or the second attitude converting means, each substrate processing can be performed. It is possible to eliminate the inconvenience that the substrate setting direction of the means is turned upside down by the first attitude converting means and the second attitude converting means.
【0035】さらに、好ましくは、本発明の基板処理シ
ステムにおける基板回動手段は、前記第1の受入手段に
より保持した基板の搬送先が前記第1の姿勢変換手段で
あるか前記第2の姿勢変換手段であるかに応じて、当該
基板の搬送先である前記第1の姿勢変換手段と前記第2
の姿勢変換手段との配置関係に応じた回動角度だけ、当
該基板を回動させるものである。Still preferably, in a substrate processing system according to the present invention, the substrate rotating means may be configured such that a destination of the substrate held by the first receiving means is the first attitude changing means or the second attitude. The first attitude converting means as the transfer destination of the substrate and the second
The substrate is rotated by a rotation angle corresponding to the arrangement relationship with the posture changing means.
【0036】この構成により、基板回動手段が第1の姿
勢変換手段に搬送されるか第2の姿勢変換手段に搬送さ
れるかに応じて、各姿勢変換手段の配置関係に応じた回
動角度だけ基板を回動させるようにすれば、各種配置関
係の各基板処理手段への基板セッティング方向が第1の
姿勢変換手段と第2の姿勢変換手段とによって基板上下
が逆になるという不都合を解消することが可能となる。According to this configuration, the rotation in accordance with the positional relationship of each attitude converting means depends on whether the substrate rotating means is transported to the first attitude converting means or the second attitude converting means. If the substrate is rotated by an angle, the inconvenience that the substrate setting direction for each substrate processing means in various arrangement relations is reversed by the first attitude converting means and the second attitude converting means. It can be eliminated.
【0037】さらに、本発明の基板処理システムは、処
理前基板搬送経路を所定搬送角度姿勢で搬送されてきた
処理前基板を基板処理装置の基板処理位置上に移送して
垂直または傾斜姿勢で基板処理すると共に、この基板処
理装置で基板処理された処理済み基板を基板処理装置の
基板処理位置から処理済み基板搬送経路に移送する基板
処理システムにおいて、基板処理装置が対向配置され、
この対向配置された各基板処理装置に対してそれぞれ、
基板を保持する基板保持ステージの基板保持面が軸支部
を回動中心として所定角度姿勢と垂直または傾斜姿勢の
何れかになるように基板保持ステージを回動自在な各旋
回手段がそれぞれ配置され、処理前基板搬送経路から移
載され、対向配置された各基板処理装置のうち一方に供
給される基板のみ180度方向転換させるように回動さ
せる基板回動手段と、この基板回動手段から所定角度姿
勢の基板保持ステージの基板保持面上に基板を移送する
と共に、基板処理装置で基板処理された処理済み基板を
所定角度姿勢の基板保持ステージから処理済み基板搬送
経路上に移送する基板移載手段とが配置されたことを特
徴とするものである。Further, in the substrate processing system of the present invention, the pre-processed substrate, which has been conveyed in the pre-processed substrate conveying path at a predetermined conveying angle, is transferred to the substrate processing position of the substrate processing apparatus, and the substrate is processed in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for processing and transferring a processed substrate processed by the substrate processing apparatus from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed to face the substrate processing apparatus,
For each of the opposed substrate processing apparatuses,
Each of the turning means capable of rotating the substrate holding stage is arranged such that the substrate holding surface of the substrate holding stage that holds the substrate is at a predetermined angle posture and either a vertical or inclined posture with the pivot portion as a rotation center, A substrate rotating means for rotating only the substrate supplied from one of the substrate processing apparatuses which are transferred from the pre-processing substrate transport path and supplied to one of the opposed substrate processing apparatuses so as to change the direction by 180 degrees; A substrate transfer for transferring a substrate onto the substrate holding surface of an angled substrate holding stage and transferring a processed substrate processed by the substrate processing apparatus from the substrate holding stage having a predetermined angle onto a processed substrate transport path. And means are arranged.
【0038】各基板処理装置が基板搬送経路を介して対
向配置されており、基板搬送経路から基板を、一方側の
基板処理装置に供給する場合と、他方側の基板処理装置
に供給する場合とで、旋回手段の旋回による各基板処理
装置への基板セッティング方向は逆方向となるが、上記
構成により、対向配置された各基板処理装置のうち一方
に供給される基板のみ基板回動手段で180度方向転換
させた後に基板保持ステージの基板保持面上に基板移載
手段で移送するようにすれば、対向配置された各基板処
理装置への基板セッティング方向は同一方向となって、
従来のように多面取りやタイトル表示などで不都合が生
じるようなことはなくなる。Each of the substrate processing apparatuses is disposed to face each other via the substrate transport path, and the substrate is supplied from the substrate transport path to one of the substrate processing apparatuses and the substrate is supplied to the other substrate processing apparatus. In this case, the direction of setting the substrates to the respective substrate processing apparatuses by the rotation of the rotation means is in the opposite direction. If the substrate is transferred by the substrate transfer means on the substrate holding surface of the substrate holding stage after changing the direction, the substrate setting direction to each of the opposed substrate processing apparatuses is the same direction,
Inconveniences such as conventional multi-paneling and title display will not occur.
【0039】また、本発明の基板処理システムは、処理
前基板搬送経路を所定搬送角度姿勢で搬送されてきた処
理前基板を基板処理装置の基板処理位置上に移送して垂
直または傾斜姿勢で基板処理すると共に、この基板処理
装置で基板処理された処理済み基板を基板処理装置の基
板処理位置から処理済み基板搬送経路に移送する基板処
理システムにおいて、基板処理装置が対向配置され、こ
の対向配置された各基板処理装置に対してそれぞれ、基
板を保持する基板保持ステージの基板保持面が軸支部を
回動中心として所定角度姿勢と垂直または傾斜姿勢の何
れかになるように基板保持ステージを回動自在な各旋回
手段がそれぞれ配置され、処理前基板搬送経路から移載
され、対向配置された各基板処理装置のうち一方に供給
される基板のみ180度方向転換させるように回動させ
る第1基板回動手段と、処理済み基板搬送経路上に移送
される180度方向転換した基板のみさらに180度方
向転換させて元に戻すように回動させる第2基板回動手
段と、この第1基板回動手段から所定角度姿勢の基板保
持ステージの基板保持面上に処理前基板を移送すると共
に、基板処理装置で基板処理された処理済み基板を所定
角度姿勢の基板保持ステージから第2基板回動手段上に
移送する基板移載手段とが配置されたことを特徴とする
ものである。Further, the substrate processing system of the present invention transfers the pre-processed substrate, which has been conveyed in the pre-processed substrate transfer path at a predetermined transfer angle posture, to the substrate processing position of the substrate processing apparatus and moves the substrate in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for performing processing and transferring a processed substrate processed by the substrate processing apparatus from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatuses are disposed opposite to each other. The substrate holding stage is rotated with respect to each of the substrate processing apparatuses such that the substrate holding surface of the substrate holding stage for holding the substrate is at a predetermined angle, vertical or inclined around the pivot. Each of the free turning means is disposed, and the substrate is transferred from the pre-processing substrate transport path, and only one substrate is supplied to one of the opposed substrate processing apparatuses. First substrate rotating means for rotating so as to change the direction by 0 degrees, and only the substrate which has been changed in the direction of 180 degrees transferred on the processed substrate transport path is further changed in direction by 180 degrees and rotated to return to the original state. A second substrate rotating means, transferring the unprocessed substrate from the first substrate rotating means onto the substrate holding surface of the substrate holding stage at a predetermined angle, And a substrate transfer means for transferring the substrate from the substrate holding stage in the angular posture onto the second substrate rotating means.
【0040】この構成により、処理済み基板搬送経路上
に移送される180度方向転換した基板のみ第2基板回
動手段でさらに180度方向転換させて元に戻すように
するので、各基板処理装置から処理済み基板搬送経路を
経て次工程に供給する基板方向が同一方向となって、次
工程における基板処理の際にも基板を同一方向にセッテ
ィングでき、基板の向きによる不都合なく処理できる。
例えば、この次工程の基板処理として、基板の下端縁部
分から塗布時の塗布液のだれを取り除くエッジリンス処
理あるいは露光焼付処理などがある。According to this configuration, only the substrate that has been turned 180 degrees and transferred on the processed substrate transfer path is further turned 180 degrees by the second substrate rotating means and returned to its original position. The direction of the substrate to be supplied to the next process through the processed substrate transport path becomes the same direction, so that the substrate can be set in the same direction during the substrate processing in the next process, and processing can be performed without any inconvenience due to the orientation of the substrate.
For example, as the substrate processing in the next step, there is an edge rinsing processing or an exposure baking processing for removing dripping of a coating liquid at the time of coating from a lower edge portion of the substrate.
【0041】さらに、本発明の基板処理システムは、処
理前基板搬送経路を所定搬送角度姿勢で搬送されてきた
処理前基板を基板処理装置の基板処理位置上に移送して
垂直または傾斜姿勢で基板処理すると共に、この基板処
理装置で基板処理された処理済み基板を基板処理装置の
基板処理位置から処理済み基板搬送経路に移送する基板
処理システムにおいて、基板処理装置が所定角度をなす
ように隣設配置され、この隣設された各基板処理装置に
対してそれぞれ、基板を保持する基板保持ステージの基
板保持面が軸支部を回動中心として所定角度姿勢と垂直
または傾斜姿勢の何れかになるように基板保持ステージ
を回動自在な各旋回手段がそれぞれ隣設され、処理前基
板搬送経路から移載され、隣設配置された各基板処理装
置にそれぞれ供給される基板方向が同一となるように回
動させる基板回動手段と、この基板回動手段からの基板
を所定角度姿勢の基板保持ステージの基板保持面上に移
送すると共に、基板処理装置で基板処理された処理済み
基板を所定角度姿勢の基板保持ステージから処理済み基
板搬送経路上に移送する基板移載手段が配置されたこと
を特徴とするものである。Further, the substrate processing system of the present invention transfers the pre-processed substrate, which has been conveyed in the pre-processed substrate transfer path at a predetermined transfer angle posture, to the substrate processing position of the substrate processing apparatus, and moves the substrate in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for processing and transferring a processed substrate processed by the substrate processing apparatus from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed adjacently so as to form a predetermined angle. The substrate holding surface of the substrate holding stage that holds the substrate is arranged with respect to each of the adjacent substrate processing apparatuses so that the substrate holding surface is at a predetermined angle posture and any one of a vertical position and an inclined position around the pivot portion. The rotating means for rotating the substrate holding stage are provided next to each other, transferred from the substrate transfer path before processing, and supplied to each of the adjacently disposed substrate processing apparatuses. Rotating means for rotating the substrate so that the directions of the substrates to be rotated are the same, transferring the substrate from the substrate rotating means onto a substrate holding surface of a substrate holding stage having a predetermined angle, and processing the substrate by a substrate processing apparatus. A substrate transfer means for transferring the processed substrate from the substrate holding stage at a predetermined angle to a processed substrate transport path is provided.
【0042】上記構成により、互いに所定角度をなすよ
うに隣設配置された各基板処理装置にそれぞれ供給され
る基板方向が同一となるように基板回動手段で回動させ
た後に基板保持ステージの基板保持面上に基板移載手段
で移送するようにすれば、鈍角または直角に隣設配置さ
れた各基板処理装置への基板セッティング方向は同一方
向となって、従来のように多面取りやタイトル表示など
で不都合が生じるようなことはなくなる。According to the above configuration, the substrate holding stage is rotated by the substrate rotating means so that the directions of the substrates supplied to the respective substrate processing apparatuses disposed adjacent to each other at a predetermined angle are the same. If the substrate is transferred onto the substrate holding surface by the substrate transfer means, the substrate setting direction to each of the substrate processing apparatuses disposed adjacent to each other at an obtuse angle or at a right angle becomes the same direction. Inconveniences such as display will not occur.
【0043】さらに、本発明の基板処理システムは、処
理前基板搬送経路を所定搬送角度姿勢で搬送されてきた
処理前基板を基板処理装置の基板処理位置上に移送して
垂直または傾斜姿勢で基板処理すると共に、この基板処
理装置で基板処理された処理済み基板を基板処理装置の
基板処理位置から処理済み基板搬送経路に移送する基板
処理システムにおいて、基板処理装置が鈍角または直角
に隣設配置され、この隣設された各基板処理装置に対し
てそれぞれ、基板を保持する基板保持ステージの基板保
持面が軸支部を回動中心として所定角度姿勢と垂直また
は傾斜姿勢の何れかになるように基板保持ステージを回
動自在な各旋回手段がそれぞれ隣設され、処理前基板搬
送経路から移載され、隣設配置された各基板処理装置に
それぞれ供給される基板方向が同一となるように回動さ
せる第1基板回動手段と、隣設された各基板処理装置の
基板保持ステージから移載される基板の方向が同一とな
るように回動させる第2基板回動手段と、この第1基板
回動手段から所定角度姿勢の基板保持ステージの基板保
持面上に処理前基板を移送すると共に、基板処理装置で
基板処理された処理済み基板を所定角度姿勢の基板保持
ステージから第2基板回動手段上に移送する基板移載手
段とが配置されたことを特徴とするものである。Further, the substrate processing system of the present invention transfers the pre-processed substrate, which has been conveyed in the pre-processed substrate conveyance path at a predetermined conveyance angle posture, to the substrate processing position of the substrate processing apparatus, and moves the substrate in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for processing and transferring a processed substrate processed by the substrate processing apparatus from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed adjacently at an obtuse angle or a right angle. For each of the adjacent substrate processing apparatuses, the substrate holding surface of the substrate holding stage for holding the substrate is set so that the substrate holding surface is in a predetermined angle posture and either a vertical or inclined posture about a pivot portion as a rotation center. Revolving means for rotating the holding stage are provided next to each other, transferred from the pre-processing substrate transport path, and supplied to each of the adjacently disposed substrate processing apparatuses. First substrate rotating means for rotating so that the substrate direction is the same, and second substrate rotating means for rotating the substrate transferred from the substrate holding stage of each of the adjacent substrate processing apparatuses so as to be the same. A substrate rotating means, and transferring the unprocessed substrate from the first substrate rotating means onto the substrate holding surface of the substrate holding stage having a predetermined angular posture, and holding the processed substrate processed by the substrate processing apparatus at a predetermined angular posture. And a substrate transfer means for transferring the substrate from the substrate holding stage onto the second substrate rotating means.
【0044】この構成により、処理済み基板搬送経路上
に移送される基板を第2基板回動手段で基板方向が同一
となるように回動させるので、各基板処理装置から処理
済み基板搬送経路を経て次工程に供給する基板方向が同
一方向となって、次工程における基板処理が容易とな
る。According to this configuration, the substrate transferred onto the processed substrate transport path is rotated by the second substrate rotating means so that the substrate direction is the same. The direction of the substrate to be supplied to the subsequent process is the same direction, and the substrate processing in the next process is facilitated.
【0045】さらに、本発明の基板処理システムは、処
理前基板搬送経路を所定搬送角度姿勢で搬送されてきた
処理前基板を基板処理装置の基板処理位置上に移送して
垂直または傾斜姿勢で基板処理すると共に、この基板処
理装置で基板処理された処理済み基板を基板処理装置の
基板処理位置から処理済み基板搬送経路に移送する基板
処理システムにおいて、基板処理装置が鈍角または直角
に隣設配置され、この隣設された各基板処理装置に対し
てそれぞれ、基板を保持する基板保持ステージの基板保
持面が軸支部を回動中心として所定角度姿勢と垂直また
は傾斜姿勢の何れかになるように基板保持ステージを回
動自在な各旋回手段がそれぞれ隣設され、処理前基板搬
送経路から前記所定角度姿勢の基板保持ステージの基板
保持面上に、隣設配置された各基板処理装置にそれぞれ
供給される基板方向が同一となるように処理前基板を移
送すると共に、基板処理装置で基板処理された処理済み
基板を所定角度姿勢の基板保持ステージから処理済み基
板搬送経路上に移送する基板移載手段とが配置されたこ
とを特徴とするものである。Further, in the substrate processing system of the present invention, the pre-processed substrate, which has been conveyed in the pre-processed substrate conveying path at a predetermined conveying angle, is transferred to the substrate processing position of the substrate processing apparatus, and the substrate is processed in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for processing and transferring a processed substrate processed by the substrate processing apparatus from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed adjacently at an obtuse angle or a right angle. For each of the adjacent substrate processing apparatuses, the substrate holding surface of the substrate holding stage for holding the substrate is set so that the substrate holding surface is in a predetermined angle posture and either a vertical or inclined posture about a pivot portion as a rotation center. Revolving means for rotatably holding the holding stage are provided next to each other, and are provided on the substrate holding surface of the substrate holding stage having the predetermined angle posture from the substrate transfer path before processing. The pre-processed substrate is transferred so that the direction of the substrate supplied to each placed substrate processing apparatus is the same, and the processed substrate processed by the substrate processing apparatus is processed from the substrate holding stage at a predetermined angle. And a substrate transfer means for transferring the substrate on the substrate transfer path.
【0046】この構成により、多関節ロボットなどの基
板移載手段で、隣設配置された各基板処理装置にそれぞ
れ供給される基板方向が同一となるように処理前基板を
移送するようにすれば、隣設配置された各基板処理装置
への基板セッティング方向は同一方向となって、従来の
ように多面取りやタイトル表示などで不都合が生じるよ
うなことはなくなる。According to this configuration, the substrate transfer means such as an articulated robot can transfer the unprocessed substrate so that the directions of the substrates supplied to the adjacently disposed substrate processing apparatuses are the same. In addition, the substrate setting direction for each of the adjacently disposed substrate processing apparatuses is the same direction, so that there is no problem that inconvenience occurs in multi-panel layout and title display as in the related art.
【0047】[0047]
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る基板処理シス
テムの実施形態について図面を参照して説明するが、本
発明は以下に示す実施形態に限定されるものではない。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a substrate processing system according to the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited to the following embodiments.
【0048】A.実施形態1 図1は本発明の実施形態1の基板処理システムの概略要
部構成を示す一部断面図であり、図2は図1の基板処理
システムの概略要部構成を模式的に示す平面図である。A. Embodiment 1 FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing a schematic main part configuration of a substrate processing system according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is a plan view schematically showing a schematic main part configuration of the substrate processing system of FIG. FIG.
【0049】A-1.本実施形態の概要 基板処理システム1では、図1に示すように、2つの塗
布装置2a,2bが所定間隔だけ離隔して対向配置され
るとともに、それぞれに対応して姿勢変換手段としての
旋回手段4a,4bが設けられている。この旋回手段4
aには、塗布装置2aの基板保持ステージ3aが設けら
れるとともに、ステージ移動手段5aによって水平移動
(スライド)可能で塗布装置2aに対して接離自在とな
っている。このため、基板保持ステージ3aによって処
理前の基板7を略水平に保持した状態で旋回手段4aが
セッティング位置10aから塗布装置2a側に回動し、
さらにステージ移動手段5aによって塗布装置2a側に
水平移動(スライド)されると、当該基板7が塗布装置
2aの塗布基準位置に位置するようになっている。逆
に、塗布装置2aによって塗布処理が完了すると、処理
済み基板7を保持した状態のまま、ステージ移動手段5
aによって旋回手段4aが塗布装置2aから後退され、
さらに反塗布装置2a側に回動すると、セッティング位
置10aに戻り、処理済み基板7を略水平状態で搬送可
能となる。A-1. Overview of the Embodiment In the substrate processing system 1, as shown in FIG. 1, two coating apparatuses 2a and 2b are arranged facing each other with a predetermined interval therebetween, and correspond to each other. Turning means 4a and 4b are provided as attitude changing means. This turning means 4
A is provided with a substrate holding stage 3a of the coating apparatus 2a, and can be horizontally moved (slid) by a stage moving means 5a so as to be able to freely contact and separate from the coating apparatus 2a. Therefore, while the substrate 7 before processing is held substantially horizontally by the substrate holding stage 3a, the turning means 4a rotates from the setting position 10a to the coating apparatus 2a side,
Further, when the substrate 7 is horizontally moved (slid) toward the coating apparatus 2a by the stage moving means 5a, the substrate 7 is positioned at the coating reference position of the coating apparatus 2a. Conversely, when the coating process is completed by the coating device 2a, the stage moving means 5 is held while the processed substrate 7 is held.
a, the turning means 4a is retracted from the coating device 2a,
When it is further rotated to the side opposite to the coating apparatus 2a, it returns to the setting position 10a, and the processed substrate 7 can be transported in a substantially horizontal state.
【0050】一方、塗布装置2aと正対する塗布装置2
bに設けられた旋回手段4bも、上記旋回手段4aと同
一構成を有しており、セッティング位置10bで基板保
持ステージ3bによって処理前の基板7を略水平に保持
した後、旋回手段4bを塗布装置2b側に回動し、さら
にステージ移動手段5bによって塗布装置2b側に水平
移動(スライド)すると、当該基板7を塗布装置2bの
塗布基準位置に位置させることができるようになってい
る。逆に、塗布装置2bによる塗布処理完了後、ステー
ジ移動手段5bによって旋回手段4bを塗布装置2bか
ら後退し、さらに反塗布装置2b側に回動すると、セッ
ティング位置10bに戻り、処理済み基板7を略水平状
態で搬送可能となる。On the other hand, the coating device 2 facing the coating device 2a
The swirling means 4b provided on the substrate b also has the same configuration as the above-described swirling means 4a. After the substrate 7 before processing is held substantially horizontally by the substrate holding stage 3b at the setting position 10b, the turning means 4b is applied. When the substrate 7 is turned to the side of the apparatus 2b and further horizontally moved (slid) by the stage moving means 5b to the side of the coating apparatus 2b, the substrate 7 can be positioned at the coating reference position of the coating apparatus 2b. Conversely, after the coating process by the coating device 2b is completed, the swiveling unit 4b is retracted from the coating device 2b by the stage moving unit 5b, and further turned to the anti-coating device 2b side, returns to the setting position 10b, and the processed substrate 7 is removed. It can be transported in a substantially horizontal state.
【0051】このように、この実施形態1では、塗布装
置2aに対する旋回手段4aの水平な基板保持ステージ
3a上への基板7のセッティング位置10aと、塗布装
置2bに対する旋回手段4bの水平な基板保持ステージ
3b上への基板7のセッティング位置10bとは位置的
に同一で、基板セッティングエリアとして共用されてい
る。As described above, in the first embodiment, the setting position 10a of the substrate 7 on the horizontal substrate holding stage 3a of the rotating means 4a with respect to the coating apparatus 2a, and the horizontal substrate holding of the rotating means 4b with respect to the coating apparatus 2b. The setting position 10b of the substrate 7 on the stage 3b is positionally the same, and is shared as a substrate setting area.
【0052】また、このように設けられたセッティング
位置10a,10bからは、図2に示すように、塗布装
置2a,2bの配置方向と直交する方向(同図における
縦方向)に処理前の基板を搬送するための処理前基板搬
送経路6と、処理済みの基板を他の基板処理装置に搬送
するための処理済み基板搬送経路9とが一直線状につな
がって伸びている。そして、処理前基板搬送経路6側に
は、受入手段としての処理前基板移載手段8aが配置さ
れ、前工程から処理前基板搬送経路6の先端位置、つま
り取込位置6aに搬送されてきた処理前の基板7をセッ
ティング位置10a,10bに搬送可能となっている。
また、処理済み基板搬送経路9には、受入手段としての
処理済み基板移載手段8bが配置され、処理済み基板搬
送経路9の終端部、つまり受渡位置9aに向けて、塗布
装置2a,2bによる塗布処理を受けた処理済み基板7
を搬送可能となっている。From the setting positions 10a and 10b provided as described above, as shown in FIG. 2, the substrate before processing is arranged in a direction orthogonal to the arrangement direction of the coating apparatuses 2a and 2b (vertical direction in FIG. 2). And a processed substrate transfer path 9 for transferring a processed substrate to another substrate processing apparatus are linearly connected and extend. On the side of the pre-process substrate transfer path 6, a pre-process substrate transfer means 8 a as a receiving means is arranged, and has been conveyed from the previous process to the leading end position of the pre-process substrate transfer path 6, that is, the take-in position 6 a. The substrate 7 before processing can be transported to the setting positions 10a and 10b.
A processed substrate transfer means 8b as a receiving means is disposed in the processed substrate transport path 9, and is moved by the coating apparatuses 2a and 2b toward the terminal end of the processed substrate transport path 9, that is, the delivery position 9a. Processed substrate 7 that has been coated
Can be transported.
【0053】さらに、この実施形態では、塗布処理に加
え、処理済み基板7を他の基板処理システムに搬送する
のに先立って塗布処理の際に下側に位置する基板7の下
端縁部をエッジリンス処理(EBR処理)するために、
後処理手段としての基板端縁処理手段であるエッジリン
ス処理装置190が受渡位置9aの近傍に配置されてい
る。Further, in this embodiment, in addition to the coating process, prior to transporting the processed substrate 7 to another substrate processing system, the lower edge of the substrate 7 located at the lower side during the coating process is edged. In order to perform the rinsing process (EBR process)
An edge rinse processing device 190 as a substrate edge processing means as a post-processing means is arranged near the delivery position 9a.
【0054】以上のように構成された基板処理システム
では、処理前基板搬送経路6の取込位置6aに処理前基
板7が搬送されてくると、当該基板7を処理前基板移載
手段8aがセッティング位置10a(10b)に位置す
る旋回手段4a(4b)の基板保持ステージ3a(3
b)に渡し、当該塗布装置2a(2b)による塗布処理
を行う。また、塗布装置2a(2b)での塗布処理が完
了すると、処理済み基板7を旋回手段4a(4b)によ
ってセッティング位置10a(10b)に戻し、さらに
エッジリンス処理した後で、次の基板処理システムに向
けて搬出される。なお、この実施形態1では、後の動作
説明において詳述するが、取込位置6aに搬送されてく
る基板7を塗布装置2a,2bで交互に処理する。In the substrate processing system configured as described above, when the unprocessed substrate 7 is transferred to the take-in position 6a of the unprocessed substrate transfer path 6, the unprocessed substrate transfer means 8a transfers the substrate 7 to the unprocessed substrate transfer path 6a. The substrate holding stage 3a (3) of the turning means 4a (4b) located at the setting position 10a (10b).
b) to perform the coating process by the coating device 2a (2b). When the coating process in the coating device 2a (2b) is completed, the processed substrate 7 is returned to the setting position 10a (10b) by the turning means 4a (4b), and after the edge rinsing process, the next substrate processing system is started. It is carried out toward. In the first embodiment, the substrate 7 conveyed to the take-in position 6a is alternately processed by the coating devices 2a and 2b, as will be described in detail later in the description of the operation.
【0055】A-2.システム各部の詳細構成 次に、この実施形態1にかかる基板処理システムを構成
する各部の詳細について図面を参照しながら説明する。A-2. Detailed Configuration of Each Unit of System Next, details of each unit constituting the substrate processing system according to the first embodiment will be described with reference to the drawings.
【0056】A-2-1.塗布装置2a,2b 塗布装置2a,2bはともに同一構成を有している。す
なわち、図1に示すように、塗布装置2a,2bはそれ
ぞれ、塗布液を供給可能なノズル手段11を載置した各
ノズルユニット12と、基板保持ステージ3a,3b上
にそれぞれセッティングされた垂直姿勢の各基板7とを
それらの被塗布面にそれぞれ沿って相対移動させつつ、
ノズル手段11内部の大気開放された塗布液槽(図示せ
ず)から流路の毛管現象で汲み上げられた塗布液を各ノ
ズル手段11からそれぞれ供給して各基板7の被塗布面
にそれぞれ塗布するようになっている。なお、図1では
ノズルユニット12は塗布終了位置を実線で示してお
り、それよりも上方に塗布開始位置を、下方に退避位置
を仮想線(2点鎖線)でそれぞれ示している。A-2-1. Coating Devices 2a and 2b The coating devices 2a and 2b have the same configuration. That is, as shown in FIG. 1, the coating apparatuses 2a and 2b respectively have a nozzle unit 12 on which a nozzle means 11 capable of supplying a coating liquid is mounted, and a vertical posture set on the substrate holding stages 3a and 3b, respectively. While relatively moving each of the substrates 7 along the surface to be coated,
A coating liquid pumped up by a capillary phenomenon in a flow path from a coating liquid tank (not shown) that is open to the atmosphere inside the nozzle means 11 is supplied from each nozzle means 11 and applied to the coating surface of each substrate 7. It has become. In FIG. 1, the nozzle unit 12 shows the application end position by a solid line, the application start position above it, and the retracted position below it by a virtual line (two-dot chain line).
【0057】また、この塗布装置2aには、図3に示す
ように、その裏面側を覆っている架台ベース板37が設
けられ、この架台ベース板37の略中央部分に開口部3
8が設けられている。そして、ステージ移動手段5aに
よって、基板保持ステージ3aの基板保持面が垂直姿勢
の状態で、この基板保持ステージ3aを旋回手段4aと
共に塗布装置2a側に水平移動させて、その開口部38
の裏側から基板保持ステージ3aの基板保持面を覗かせ
ると共に、その開口部38の周囲縁の基準面に対して後
述するステージ取付部材14aの表側の外周縁部をE部
のように当接させることで、基板保持ステージ3aの基
板保持面上の基板7の被塗布面が塗布基準面に設定され
るようになっている。このとき、ステージ取付部材14
aは、高精度かつ高剛性の架台ベース板37に倣うの
で、基板保持ステージ3aの位置や平面性を良好に定め
保つことができる。As shown in FIG. 3, the coating apparatus 2a is provided with a gantry base plate 37 which covers the back side thereof.
8 are provided. When the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a is in a vertical posture by the stage moving means 5a, the substrate holding stage 3a is horizontally moved together with the turning means 4a toward the coating apparatus 2a, and the opening 38 is formed.
The substrate holding surface of the substrate holding stage 3a can be seen from the back side of the substrate holding member, and the outer peripheral edge of the front side of the stage mounting member 14a, which will be described later, is brought into contact with the reference surface of the peripheral edge of the opening portion 38 as shown by E. Thus, the application surface of the substrate 7 on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a is set as the application reference surface. At this time, the stage mounting member 14
Since “a” follows the pedestal base plate 37 having high accuracy and high rigidity, the position and flatness of the substrate holding stage 3a can be determined and maintained well.
【0058】また、この少なくとも上下のE部にはそれ
ぞれ、図4に示すように、ステージ取付部材14aの裏
側からクランプして押圧することで、ステージ取付部材
14aの表側の外周縁部と開口部38の周囲縁部とを当
接させるステージ固定手段39がそれぞれ配設されてい
る。このステージ固定手段39は、一定圧力で押圧可能
でその押圧力を可変可能なクランプ部材40と、このク
ランプ部材40をクランプ位置とクランプ解除位置とに
移動させるトグルクランプ機構41と、このトグルクラ
ンプ機構41を駆動させる駆動手段としてのエアーシリ
ンダ42とを有している。このエアーシリンダ42のロ
ッド43を伸縮させることで、実線で示すクランプ位置
と、仮想線(2点鎖線)で示すクランプ解除位置とにク
ランプ部材40を移動させるようになっている。このエ
アーシリンダ42の代りにボールねじおよびトルクモー
タによる駆動機構(図示せず)でもよい。また、このク
ランプ部材40は、ステージ取付部材14aをその裏側
から押圧するゴムなどの弾性部材44と、図示していな
いが、この弾性部材44を押圧側に付勢する圧縮ばねな
どの付勢手段と、これらの弾性部材44および付勢手段
(図示せず)の位置を出退させて押圧力を調整自在なね
じ部材45とを有している。塗布装置2aの開口部38
の裏側から基板保持ステージ3aの基板保持面上に載置
された基板7を覗かせた状態(表側から基板7の被塗布
面に塗布可能な状態)で、その開口部38の周囲縁の基
準面に対してステージ取付部材14aの外周縁側を止め
て、基板保持ステージ3aを後述する旋回軸17aおよ
びスライド機構からフローティングさせて、基板保持ス
テージ3aと共に基板7をノズル手段11と平行な塗布
基準位置に位置させ得るようになり、塗布面の再現性が
保証され得るようになっている。また、この場合、塗布
時に振動が発生しないようにある程度強固にクランプす
るようになっている。さらに、この当接面部分のパーテ
ィクル対策として当接面部分の近傍位置に排気装置(図
示せず)を設けるようにすることもできる。As shown in FIG. 4, each of the at least upper and lower portions E is clamped and pressed from the back side of the stage mounting member 14a, thereby forming the outer peripheral edge and the opening of the front side of the stage mounting member 14a. Stage fixing means 39 for bringing the peripheral edge portion 38 into contact therewith are provided. The stage fixing means 39 includes a clamp member 40 capable of pressing with a constant pressure and capable of changing the pressing force, a toggle clamp mechanism 41 for moving the clamp member 40 to a clamp position and a clamp release position, and a toggle clamp mechanism. An air cylinder 42 is provided as driving means for driving the air cylinder 41. By extending and contracting the rod 43 of the air cylinder 42, the clamp member 40 is moved to a clamp position indicated by a solid line and a clamp release position indicated by a virtual line (two-dot chain line). Instead of the air cylinder 42, a drive mechanism (not shown) using a ball screw and a torque motor may be used. The clamp member 40 includes an elastic member 44 such as rubber for pressing the stage mounting member 14a from the back side thereof, and an urging means such as a compression spring (not shown) for urging the elastic member 44 toward the pressing side. And a screw member 45 capable of adjusting the pressing force by moving the positions of the elastic member 44 and the urging means (not shown). Opening 38 of coating device 2a
In a state where the substrate 7 placed on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a is viewed from the back side (a state in which the substrate 7 can be applied to the coating surface of the substrate 7 from the front side). The outer peripheral edge side of the stage mounting member 14a is stopped with respect to the surface, the substrate holding stage 3a is floated from a rotating shaft 17a and a slide mechanism described later, and the substrate 7 is moved together with the substrate holding stage 3a in a coating reference position parallel to the nozzle means 11. And the reproducibility of the coated surface can be guaranteed. In this case, the clamp is made firmly strong to some extent so that no vibration occurs during the coating. Furthermore, an exhaust device (not shown) may be provided at a position near the contact surface portion as a measure against particles at the contact surface portion.
【0059】また、この実施形態1では、図3に示すよ
うに、この開口部38をステージ取付部材14aで覆
い、基板保持ステージ3aの基板保持面側の表側の塗布
処理空間を覆って内部を密閉可能で内部が見える透明な
材質の外郭部材46(図1)が配設されている。図1に
戻って説明を続ける。この外郭部材46には、その内部
に、均一気流を発生させて内部を陽圧化させる乾燥促進
機構47a,47bがそれぞれ配設されている。この乾
燥促進機構47aは装置上方に配設されており、上から
下の方向Dに均一気流(垂直層流)を発生させるファン
とフィルタ(図示せず)などよりなるクリーン度維持用
のダウンフロー発生装置(エアー吸引式垂直層流HEP
A)である。また、乾燥促進機構47bは、開口部38
にセッティングされた基板保持ステージ3aの基板保持
面に対向して配設されており、その基板保持面上の基板
7の被塗布面に対して垂直な方向の均一気流(水平層
流)を発生させるファンとフィルタ(図示せず)などよ
りなる乾燥用の横方向気流発生装置(エアー吸引式水平
層流HEPA)である。また、図示しない切換制御手段
によって、塗布時には乾燥促進機構47aに切り換え
て、パーティクル排除およびより均一な膜厚にするべく
ダウンフローの均一気流を発生させ、乾燥時に、乾燥促
進機構47aから乾燥促進機構47bに切り換えて、塗
布した塗布液の乾燥をより早く均一化するために基板7
の塗布面に対して垂直な方向の気流を発生させるように
なっている。Further, in the first embodiment, as shown in FIG. 3, the opening 38 is covered with the stage mounting member 14a, and the coating processing space on the front side of the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a is covered. An outer shell member 46 (FIG. 1) made of a transparent material that can be hermetically sealed and whose inside can be seen is provided. Returning to FIG. 1, the description will be continued. Drying promotion mechanisms 47a and 47b for generating a uniform airflow to make the inside positive pressure are disposed inside the outer member 46, respectively. The drying promotion mechanism 47a is disposed above the apparatus, and includes a fan and a filter (not shown) for generating a uniform airflow (vertical laminar flow) in a direction D from top to bottom, and a downflow for maintaining cleanness. Generator (Air suction type vertical laminar flow HEP
A). Further, the drying promotion mechanism 47b is
The substrate holding stage 3a is set so as to face the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a. This is a drying horizontal airflow generator (air suction type horizontal laminar flow HEPA) including a fan to be driven and a filter (not shown). Further, a switching control unit (not shown) switches to the drying promoting mechanism 47a at the time of coating to generate a uniform airflow of a down flow so as to eliminate particles and achieve a more uniform film thickness. 47b, the substrate 7 is used in order to quickly and uniformly dry the applied coating solution.
An airflow in a direction perpendicular to the application surface is generated.
【0060】この乾燥促進機構47aによる垂直層流は
塗布装置2a,2bの下部から抜け出るようになってお
り、また、乾燥促進機構47bによる水平層流は、塗布
装置2a,2bの下部に配設されたエアー排気装置によ
って排気されるようになっている。The vertical laminar flow generated by the drying promotion mechanism 47a escapes from the lower part of the coating devices 2a and 2b, and the horizontal laminar flow generated by the drying promotion mechanism 47b is disposed below the coating devices 2a and 2b. The air is exhausted by the air exhaust device.
【0061】また、これらの乾燥促進機構47a(ダウ
ンフロー発生装置)および乾燥促進機構47b(横方向
気流発生装置)はそれぞれ、カバーである外郭部材46
の窓部分にヒンジなどで開閉自在に取り付けられてお
り、ノズル手段11などのメンテナンススペースを確保
している。The drying promoting mechanism 47a (downflow generating device) and the drying promoting mechanism 47b (lateral airflow generating device) are each a cover member 46 serving as a cover.
Is openably and closably attached to a window portion by a hinge or the like, and a maintenance space for the nozzle means 11 and the like is secured.
【0062】また、本実施形態1のように塗布装置を複
数配置した場合、基板搬送動作などによる風圧や、設置
ルームの扉開閉による気圧変化などの悪影響を排除する
ため、塗布エリアが外郭部材46で覆われた塗布エリア
の開口部38を基板保持ステージ3aまたは基板保持ス
テージ3bで塞いで塗布エリアの内部を密閉する構造と
なっている。In the case where a plurality of coating apparatuses are arranged as in the first embodiment, the coating area is set to the outer member 46 in order to eliminate adverse effects such as the wind pressure due to the substrate transfer operation and the pressure change due to the opening and closing of the installation room door. The opening 38 of the application area covered with is covered with the substrate holding stage 3a or the substrate holding stage 3b to seal the inside of the application area.
【0063】さらに、これらの乾燥促進機構47a,4
7bにはそれぞれ温度制御機能が設けられており、所定
の設定温度になるように内部ヒータなどで層流の温度を
制御するようになっている。Further, these drying promoting mechanisms 47a, 47
Each of 7b is provided with a temperature control function, and the temperature of the laminar flow is controlled by an internal heater or the like so as to reach a predetermined set temperature.
【0064】A-2-2.旋回手段4a,4b 旋回手段4a,4bはともに同一構成を有している。こ
のため、ここでは、一方の旋回手段4aについて詳述
し、他方については同一あるいは相当符号を付して説明
を省略する。A-2-2. Turning Means 4a, 4b The turning means 4a, 4b have the same configuration. For this reason, here, one of the turning means 4a will be described in detail, and the other will be denoted by the same or corresponding reference numerals, and description thereof will be omitted.
【0065】図5は、旋回手段4aの概略要部構成を模
式的に示す斜視図である。この旋回手段4aは、同図に
示すように、基板保持ステージ3aを備えている。この
基板保持ステージ3aでは、基板7のサイズ毎の外周縁
部(非有効部分)に対応した適所に、真空吸引可能な吸
着部材としての複数のバキュームパッド(図示せず)が
細長い凹部(図示せず)内にそれぞれ配設されている。
そして、各バキュームパッド内に、その内部を減圧可能
な減圧用チューブ(図示せず)の先端部が開口してお
り、基板7へのバキュームパッドによる真空吸着で基板
7を保持するようになっている。また、吸着部材として
のバキュームパッドが基板7の中央部を保持しないの
は、基板7の中央部は重要な回路などが配置される部分
であり、バキュームパッドによる真空吸引と解除によっ
て温度が下がったり上がったりすることで塗布むらとな
るのを防止するためである。したがって、バキュームパ
ッドの形状も基板7の外周縁部だけを真空吸引するべ
く、それらの細長い凹部と同様の細長いバキュームパッ
ドの形状となっている。FIG. 5 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part of the turning means 4a. The turning means 4a includes a substrate holding stage 3a as shown in FIG. In the substrate holding stage 3a, a plurality of vacuum pads (not shown) as suction members capable of vacuum suction are formed in elongated concave portions (not shown) at appropriate positions corresponding to the outer peripheral edge (ineffective portion) of each size of the substrate 7. )).
In each vacuum pad, a distal end of a decompression tube (not shown) capable of depressurizing the inside is opened, and the substrate 7 is held by vacuum suction to the substrate 7 by the vacuum pad. I have. Also, the reason why the vacuum pad as the suction member does not hold the central portion of the substrate 7 is that the central portion of the substrate 7 is a portion where important circuits and the like are arranged, and the temperature may be reduced by vacuum suction and release by the vacuum pad. This is to prevent application unevenness due to rising. Therefore, the shape of the vacuum pad is also the shape of an elongated vacuum pad similar to those elongated recesses in order to vacuum-suction only the outer peripheral edge of the substrate 7.
【0066】また、旋回手段4aは、上記のように構成
された基板保持ステージ3aが固定されている板状のバ
ックアッププレートであるステージ取付部材14aと、
このステージ取付部材14aが固定されている2枚のア
ーム部材15aと、これらのアーム部材15aの間に配
設されてアーム部材15aの一方端部に設けられた軸支
部16aの旋回軸17aおよび軸受部18aからなる旋
回部材とをさらに備えている。そして、この軸支部16
aを回動中心に基板保持ステージ3aおよびステージ取
付部材14aと共に、アーム部材15aをベース部材1
9a上に載置した状態で、基板保持ステージ3aの基板
保持面が所定角度姿勢(本実施形態では水平姿勢)と垂
直または傾斜姿勢(本実施形態では垂直姿勢)の何れか
になるように回動自在に構成されている。また、このベ
ース部材19aには軸受部18aが載置されて固定され
ている。The turning means 4a includes a stage mounting member 14a which is a plate-shaped backup plate to which the substrate holding stage 3a constructed as described above is fixed.
Two arm members 15a to which the stage mounting member 14a is fixed, and a pivot shaft 17a and a bearing of a shaft support 16a provided between the arm members 15a and provided at one end of the arm member 15a. And a revolving member comprising a portion 18a. And this shaft support 16
a, the arm member 15a is connected to the base member 1 together with the substrate holding stage 3a and the stage mounting member 14a.
In the state of being placed on the substrate 9a, the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a is rotated so as to have a predetermined angle posture (horizontal posture in the present embodiment) and a vertical or inclined posture (vertical posture in the present embodiment). It is configured to be movable. A bearing 18a is mounted and fixed on the base member 19a.
【0067】また、旋回手段4aには旋回駆動手段20
aが設けられている。この旋回駆動手段20aは、図5
に示すように、旋回軸17aの一方端が出力部分に連結
されたウォーム減速機21aと、このウォーム減速機2
1aのウォーム入力軸22aが連結手段としてのカップ
リング23aを介して連結されたサーボモータ24aと
を有し、サーボモータ24aの回転駆動がウォーム減速
機21aを介した減速度で、基板保持ステージ3aの基
板保持面がステージ取付部材14aおよびアーム部材1
5aと共に旋回軸17aの軸心を回動中心として塗布装
置2a側に水平姿勢から垂直姿勢に、または、塗布装置
2a側の垂直姿勢から水平姿勢になるように回動するよ
うになっている。また、メンテナンス時などに、このカ
ップリング23aを外してサーボモータ24aとウォー
ム入力軸22aとの連結を解除すると、手動ハンドル2
5を用いてウォーム入力軸22aを手動で回転させるこ
とで旋回手段4aを回動駆動させて基板保持ステージ3
aを所望の角度姿勢にすることができるようになってい
る。The turning means 4a is provided with a turning drive means 20.
a is provided. This turning drive means 20a is provided in FIG.
As shown in the figure, a worm speed reducer 21a having one end of a turning shaft 17a connected to an output portion, and the worm speed reducer 2
The worm input shaft 22a of FIG. 1a has a servomotor 24a connected via a coupling 23a as a connecting means, and the rotation of the servomotor 24a is decelerated via the worm speed reducer 21a and the substrate holding stage 3a The substrate holding surface of the stage mounting member 14a and the arm member 1
The application device 2a is rotated from the horizontal posture to the vertical posture or from the vertical posture to the coating device 2a side to the horizontal posture around the axis of the revolving shaft 17a together with 5a. Also, when the coupling 23a is detached and the connection between the servo motor 24a and the worm input shaft 22a is released during maintenance or the like, the manual handle 2
5, the worm input shaft 22a is manually rotated to rotate the turning means 4a to rotate the worm input shaft 22a.
a can be set to a desired angle posture.
【0068】また、この旋回駆動手段20aの他に、旋
回手段4aをバランスさせるバランス手段26aが設け
られている。このバランス手段26aは、実際にはバラ
ンスの関係上両側に配設されているが、図5では説明を
簡略化させるために、一方側のバランス手段26aしか
図示していない。同図に示すように、バランス手段26
aは、2枚のアーム部材15aの両外側に設けられ、旋
回軸17aにそれぞれ外嵌された各2個のプーリ27
と、これらのプーリ27にそれぞれ巻回された連結部材
としてのワイヤ28がロール29,29さらにリニアガ
イド30を介して可動軸31と連結されたカウンタシリ
ンダ32とを有した構成である。Further, in addition to the turning drive means 20a, a balance means 26a for balancing the turning means 4a is provided. Although the balance means 26a is actually arranged on both sides in terms of balance, FIG. 5 shows only one balance means 26a for simplicity of explanation. As shown in FIG.
a are provided on both outer sides of the two arm members 15a, and each of two pulleys 27 respectively fitted to the pivot 17a.
And a wire 28 serving as a connecting member wound around each of the pulleys 27 has a roll 29, 29 and a counter cylinder 32 connected to a movable shaft 31 via a linear guide 30.
【0069】バランス手段26aを制御する制御手段4
8としては、例えば図6に示す構成を採用することがで
きる。図6は、図1の旋回手段における回動制御の一例
を模式的に示す制御構成図である。この制御手段48
は、同図に示すように、旋回手段4aの旋回軸17aの
回転角度を検出する角度検出手段としてのエンコーダ4
8aと、このエンコーダ48aに接続され、エンコーダ
48aからの角度信号に基づいてエアー源48cのエア
ー圧力を制御してカウンタシリンダ32にエアー供給す
る電空レギュレータ48bとを有している。そして、か
かる制御は、エンコーダ48aが検出する基板保持ステ
ージ3aの傾斜角度に応じて、その姿勢の基板保持ステ
ージ3a等の重量により旋回軸17aに生じる回転モー
メントとバランスするだけの逆方向の回転モーメント
を、カウンタシリンダ32が旋回軸17aに与えるよう
に、電空レギュレータ48bにより行なわれる。Control means 4 for controlling balance means 26a
As for 8, for example, the configuration shown in FIG. 6 can be adopted. FIG. 6 is a control configuration diagram schematically showing an example of the rotation control in the turning means of FIG. This control means 48
Is an encoder 4 serving as an angle detecting means for detecting the rotation angle of the turning shaft 17a of the turning means 4a, as shown in FIG.
8a and an electropneumatic regulator 48b connected to the encoder 48a and controlling the air pressure of the air source 48c based on the angle signal from the encoder 48a to supply air to the counter cylinder 32. This control is performed in accordance with the tilt angle of the substrate holding stage 3a detected by the encoder 48a. Is performed by the electropneumatic regulator 48b so that the counter cylinder 32 gives the rotation shaft 17a.
【0070】かかる構成によっても、基板保持ステージ
3aを旋回させるための駆動力が小さくてすみ、旋回駆
動手段20aを小型化できる等の効果が得られる。According to such a configuration, the driving force for rotating the substrate holding stage 3a can be small, and effects such as downsizing of the rotation driving means 20a can be obtained.
【0071】さらに、例えば旋回手段4aにおける基板
保持ステージ3aの基板保持面が基板搬送姿勢の水平状
態から起き上がる場合や、その基板保持面が基板搬送姿
勢の水平状態になる場合に、そのときの風圧によって下
部のパーティクル巻き上げが発生し得るが、そのような
風圧を発生させない程度に、水平状態からの起き上がり
や、水平状態に降りて行くときの回動速度を低速度に回
動制御(ソフトライニングおよびソフトスターティン
グ)するようにサーボモータ24aなどを制御するよう
になっている。Further, for example, when the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a in the turning means 4a rises from the horizontal state of the substrate transfer posture, or when the substrate holding surface changes to the horizontal state of the substrate transfer posture, the wind pressure at that time is changed. The lower particles may be wound up, but the rotation speed when rising from the horizontal state or going down to the horizontal state is controlled to a low speed so that the wind pressure is not generated (soft lining and soft lining). The servo motor 24a and the like are controlled so as to perform soft starting.
【0072】A-2-3.ステージ移動手段5a,5b スライド機構であるステージ移動手段5a,5bはそれ
ぞれ、図5に示すように、ベース部材19aの裏(下)
側両端縁部にそれぞれ、中央部に溝が形成されたリニア
ガイド部材35と、このリニアガイド部材35の溝内に
スライド自在に嵌合して案内するレール部材36と、図
示していないがベース部材19aに連結されベース部材
19aをレール部材36に沿って移動させるピニオンお
よびラック(またはボールねじ機構)と接離モータなど
よりなる駆動手段とを有している。そして、この駆動手
段の駆動によってベース部材19aは旋回手段4aと共
にリニアガイド部材35およびレール部材36で案内さ
れて塗布装置2a側に接近または、塗布装置2a側から
離間させるようにスライド自在に構成されている。A-2-3. Stage Moving Means 5a, 5b Each of the stage moving means 5a, 5b as a slide mechanism is, as shown in FIG.
A linear guide member 35 having a groove formed in the center at each of both side edges, a rail member 36 slidably fitted and guided in the groove of the linear guide member 35, and a base (not shown) It has a pinion and a rack (or a ball screw mechanism) connected to the member 19a for moving the base member 19a along the rail member 36, and a driving means such as a contact / separation motor. Then, the base member 19a is guided by the linear guide member 35 and the rail member 36 together with the turning means 4a by the driving of the driving means, and is configured to be slidable so as to approach the coating device 2a or to be separated from the coating device 2a. ing.
【0073】A-2-4.リフトピンユニット33 実施形態1においては、上記したように塗布装置2a,
2bの間には位置的に同一のセッティング位置10a,
10bがあり、これらのセッティング位置10a,10
bに対応して、共用のリフトピンユニット33が配設さ
れている。このリフトピンユニット33は、水平位置に
ある基板保持ステージ3aの基板保持面に対して図示し
ない駆動源により昇降して出退自在な複数のリフトピン
34が設けられ、基板保持ステージ3aを基板面よりも
ほぼ同等か大きく構成し、基板保持ステージ3aおよび
ステージ取付部材14aにリフトピン34用の穴34a
を明けておく図3に示すような構成かまたは、基板保持
ステージ3aを基板面よりも小さく構成し、基板保持ス
テージ3aの外側であって基板7の外周部を下方から支
持可能なリフトピン用の穴をステージ取付部材14aだ
けに明けておくようにできる。かかる構成であれば、旋
回手段4aが塗布装置2a側とは反対側に回動してその
基板保持面が水平姿勢の状態でそのリフトピンユニット
33上に重なるように配置されたときに、複数のリフト
ピン34の上下動で基板保持ステージ3a上に基板7を
載置できると共に、基板保持ステージ3a上から基板7
を剥離させることができる。A-2-4. Lift Pin Unit 33 In the first embodiment, as described above, the coating device 2a,
2b, between the same setting positions 10a,
10b, these setting positions 10a, 10
A common lift pin unit 33 is provided corresponding to b. The lift pin unit 33 is provided with a plurality of lift pins 34 that can be moved up and down by a driving source (not shown) with respect to the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a at a horizontal position, so that the substrate holding stage 3a can be moved higher and lower than the substrate surface. A hole 34a for the lift pin 34 is formed in the substrate holding stage 3a and the stage mounting member 14a.
3, or the substrate holding stage 3a is configured to be smaller than the surface of the substrate, and is provided outside the substrate holding stage 3a for the lift pins capable of supporting the outer peripheral portion of the substrate 7 from below. A hole can be made only in the stage mounting member 14a. With such a configuration, when the turning means 4a is rotated to the opposite side to the coating apparatus 2a side and the substrate holding surface is placed on the lift pin unit 33 in a horizontal posture, a plurality of The substrate 7 can be placed on the substrate holding stage 3a by the vertical movement of the lift pins 34, and the substrate 7 can be placed on the substrate holding stage 3a.
Can be peeled off.
【0074】A-2-5.基板移載手段8 次に、処理前基板移載手段8aおよび処理済み基板移載
手段8bよりなる基板移載手段8について説明する。こ
の基板移載手段8は、図2に示すように、セッティング
位置10a(10b)のリフトピン34上と処理前基板
搬送経路6上または処理済み基板搬送経路9上との間で
基板7を移送して載置するようになっている。すなわ
ち、処理前基板移載手段8aは、旋回手段4a,4bに
よる回動動作で基板保持ステージ3a,3bの基板保持
面が基板搬送姿勢の水平状態で、処理前基板搬送経路6
上の基板7を基板保持ステージ3a,3bの基板保持面
から突出しているリフトピン34上に載置するように移
送する構成となっている。また、処理済み基板移載手段
8bは、旋回手段4a,4bによる回動動作で基板保持
ステージ3a,3bの基板保持面が基板搬送姿勢の水平
状態で、基板保持ステージ3a,3bの基板保持面から
突出しているリフトピン34上の基板7を処理済み基板
搬送経路9上に載置するように移送する構成となってい
る。以下、図7を参照しながら、基板移載手段8の構成
についてさらに詳述する。A-2-5. Substrate Transfer Means 8 Next, the substrate transfer means 8 including the pre-processing substrate transfer means 8a and the processed substrate transfer means 8b will be described. As shown in FIG. 2, the substrate transfer means 8 transfers the substrate 7 between the lift pins 34 at the setting positions 10a (10b) and the unprocessed substrate transport path 6 or the processed substrate transport path 9. To be placed. In other words, the pre-processing substrate transfer means 8a rotates the substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a and 3b in the horizontal state of the substrate transfer posture by the rotation of the turning means 4a and 4b, and the pre-processing substrate transfer path 6a.
The upper substrate 7 is transferred so as to be placed on lift pins 34 projecting from the substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a and 3b. Further, the processed substrate transfer means 8b moves the substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a, 3b in the horizontal state of the substrate transfer posture by the rotation of the turning means 4a, 4b. The substrate 7 on the lift pins 34 projecting from the substrate is transferred so as to be placed on the processed substrate transfer path 9. Hereinafter, the configuration of the substrate transfer means 8 will be described in more detail with reference to FIG.
【0075】図7は基板移載手段の概略要部構成を模式
的に示す一部斜視図である。基板移載手段8は、同図に
示すように、基板7の片側を載置して所定位置に吸着保
持可能な基板セッティング部材50と、この基板セッテ
ィング部材50を水平方向に移動可能な水平移動部材5
1と、これらの基板セッティング部材50および水平移
動部材51を上下移動可能な垂直移動部材52とを有す
る基板移載部材53とで構成されており、これらの要素
が一対設けられ、互いに対向して配設されている。FIG. 7 is a partial perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part of the substrate transfer means. As shown in the drawing, the substrate transfer means 8 includes a substrate setting member 50 that can place one side of the substrate 7 and hold the substrate 7 by suction at a predetermined position, and a horizontal movement that can move the substrate setting member 50 in the horizontal direction. Member 5
1 and a substrate transfer member 53 having a vertical movement member 52 capable of vertically moving the substrate setting member 50 and the horizontal movement member 51. A pair of these elements are provided and face each other. It is arranged.
【0076】基板移載手段8aについて説明すると、処
理前基板搬送経路6の取込位置6aで垂直移動部材52
による基板セッティング部材50の上移動で基板7を取
り込んで、一対の基板セッティング部材50上に基板7
を載置して所定位置に吸着保持した状態で、基板保持ス
テージ3a,3bが位置するセッティング位置10aの
センターポジションP1と、基板待機位置6xのセンタ
ーポジションP2と、塗布装置2a,2bの対向方向と
は直交する一方向に延びている終端の処理前基板搬送経
路6における取込位置6aのセンターポジションP3と
の間を水平移動部材51で移動させて、垂直移動部材5
2による基板セッティング部材50の下移動で基板保持
ステージ3a,3bの基板保持面から突出しているリフ
トピン34上に基板7を受け渡すようになっている。The substrate transfer means 8a will be described below.
The substrate 7 is taken in by the upward movement of the substrate setting member 50 by the
Is placed and sucked and held at a predetermined position, the center position P1 at the setting position 10a where the substrate holding stages 3a and 3b are located, the center position P2 at the substrate standby position 6x, and the facing direction of the coating devices 2a and 2b. Is moved by the horizontal moving member 51 between the take-in position 6a and the center position P3 of the terminal unprocessed substrate transfer path 6 extending in one direction perpendicular to the vertical moving member 5.
The substrate 7 is transferred to the lift pins 34 protruding from the substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a and 3b by the downward movement of the substrate setting member 50 by 2.
【0077】この基板セッティング部材50は断面逆L
字状に構成されており、その平面部材54の長手方向両
端部にそれぞれ、その一方側面に沿った長手方向と、そ
の長手方向に対して直角な方向とに回動自在な各回動載
置部材55がそれぞれ配設されている。これらの各回動
載置部材55と平面部材54によってコ字状に囲まれる
上面部分には、真空吸引可能な吸着部材としての複数の
バキュームパッド56がそれぞれ細長い凹部(図示せ
ず)内にそれぞれ配設されている。このバキュームパッ
ド56内には、図示していないが、その内部を減圧可能
な減圧用チューブの先端部が開口しており、基板7の裏
面側外周縁部へのバキュームパッド56による真空吸着
で基板7を吸着保持するようになっている。これらの各
回動載置部材55の回動駆動は、ロータリーソレノイド
やロータリーシリンダさらにはステッピングモータなど
の駆動手段57によって行われるようになっており、駆
動手段57による平面部材54に対する各回動載置部材
55の直角方向位置で基板7の搬送方向に直角な方向の
弛みを抑制するようになっている。The substrate setting member 50 has a section L
Each of the rotary mounting members is formed in a U-shape, and is rotatable at both longitudinal end portions of the planar member 54 in a longitudinal direction along one side surface and in a direction perpendicular to the longitudinal direction. 55 are provided respectively. A plurality of vacuum pads 56 as suction members capable of vacuum suction are respectively arranged in elongated concave portions (not shown) on the upper surface portion surrounded by the respective rotating mounting members 55 and the planar members 54 in a U-shape. Has been established. Although not shown, the vacuum pad 56 has an opening at the distal end of a decompression tube capable of depressurizing the inside of the vacuum pad 56. 7 is held by suction. Each of the rotary mounting members 55 is driven to rotate by a driving means 57 such as a rotary solenoid, a rotary cylinder, and a stepping motor. At a position perpendicular to 55, slack in a direction perpendicular to the transport direction of the substrate 7 is suppressed.
【0078】また、水平移動部材51は、垂直方向に立
設されたベース板58と、このベース板58の上端部に
沿って水平方向(長手方向)に配設された上側レール5
9と、ベース板58の下端部に沿って水平方向(長手方
向)に配設された下側レール60と、この上側レール5
9が嵌合可能で上側レール59に沿ってスライド自在で
あると共に、基板セッティング部材50の平面部材54
の長手方向両端にそれぞれ固定されている2個の上側案
内部材61と、下側レール60が嵌合可能で下側レール
60に沿ってスライド自在な2個の下側案内部材62と
を有している。これらの2個の下側案内部材62に対し
て、ベース板58が上側レール59および下側レール6
0と共にその長手方向に沿ってスライド自在に構成さ
れ、かつ、上側レール59に対して上側案内部材61が
平面部材54および各各回動載置部材55と共にその長
手方向に沿ってスライド自在に構成されている。これに
よって、基板セッティング部材50の移動ストローク量
は、上側レール59に対する2個の上側案内部材61お
よびベース板58の移動ストロークと、2個の下側案内
部材62に対する下側レール60およびベース板58の
移動ストロークとの合計ストローク量となっている。The horizontal moving member 51 includes a vertically extending base plate 58 and an upper rail 5 disposed horizontally (longitudinally) along the upper end of the base plate 58.
9, a lower rail 60 disposed in the horizontal direction (longitudinal direction) along the lower end of the base plate 58, and the upper rail 5
9 is slidable along the upper rail 59 and the flat member 54 of the board setting member 50.
It has two upper guide members 61 fixed to both ends in the longitudinal direction, respectively, and two lower guide members 62 to which the lower rail 60 can be fitted and is slidable along the lower rail 60. ing. For these two lower guide members 62, the base plate 58 is connected to the upper rail 59 and the lower rail 6.
0 and is slidable along its longitudinal direction, and the upper guide member 61 is configured to be slidable along its longitudinal direction with the planar member 54 and each of the rotating mounting members 55 with respect to the upper rail 59. ing. As a result, the movement stroke of the substrate setting member 50 is reduced by the movement strokes of the two upper guide members 61 and the base plate 58 with respect to the upper rail 59 and the lower rail 60 and the base plate 58 with respect to the two lower guide members 62. The total stroke amount is equal to the moving stroke.
【0079】さらに、垂直移動部材52は、2個の下側
案内部材62が水平方向両端上部に固定され、垂直方向
に立設されたベース板63と、このベース板63の水平
方向両端側の上下方向にそれぞれ沿って配設され、ベー
ス板63を水平移動部材51およびセッティング部材5
0と共に上下方向に移動させるためのラックおよびピニ
オンよりなる各上下駆動機構64と、これらの各上下駆
動機構64をそれぞれ駆動させるサーボモータやステッ
ピングモータなどの駆動手段65と、このベース板63
の裏面側が嵌合されて上下方向に案内する2本のレール
66と、これらの2本のレール66が長手方向にそれぞ
れ固定された2個の主柱部材67とを有している。Further, the vertical moving member 52 includes a base plate 63 having two lower guide members 62 fixed to the upper portions at both ends in the horizontal direction and standing upright in the vertical direction, and a base plate 63 at both ends in the horizontal direction of the base plate 63. The base plate 63 is disposed along the vertical direction, and the base plate 63 is connected to the horizontal moving member 51 and the setting member 5.
0, a vertical drive mechanism 64 composed of a rack and a pinion for moving in the vertical direction, a drive means 65 such as a servo motor or a stepping motor for driving each of the vertical drive mechanisms 64, and a base plate 63
Have two rails 66 fitted on the back surface side and guided in the vertical direction, and two main pillar members 67 each of which is fixed in the longitudinal direction.
【0080】A-2-6.基板回動手段160 この実施形態1にかかる基板処理システム1では、処理
前基板搬送経路6の取込位置6aと、処理済み基板搬送
経路9の受渡位置9aとに、他の基板処理装置あるいは
システムとの間で基板7の受渡を行うとともに、適宜基
板7を180゜回転させて基板7の向きを調整する基板
回動手段160が配置されている。このように基板回動
手段160を設ける理由は、本実施形態1では、塗布装
置2a,2bが対向配置されているので、単純に基板7
を搬送したのでは、塗布装置2a,2bに供給される基
板7の方向が上下逆になり、多面取りやタイトル表示な
どで不都合が生じる可能性があるためである。なお、こ
の基板回動手段160は、基板7を回転させるのみなら
ず、基板7をセンタリングする機能も有している。A-2-6. Substrate Rotating Means 160 In the substrate processing system 1 according to the first embodiment, the take-in position 6a of the unprocessed substrate transport path 6 and the transfer position 9a of the processed substrate transport path 9 In addition, a substrate rotating means 160 for transferring the substrate 7 to and from another substrate processing apparatus or system and adjusting the orientation of the substrate 7 by appropriately rotating the substrate 7 by 180 ° is disposed. The reason for providing the substrate rotating means 160 in this manner is that, in the first embodiment, since the coating devices 2a and 2b are arranged facing each other, the substrate 7 is simply provided.
Is transported, the direction of the substrate 7 supplied to the coating devices 2a and 2b is reversed, and there is a possibility that inconvenience may occur in multi-panning or title display. The substrate rotating means 160 has a function of not only rotating the substrate 7 but also centering the substrate 7.
【0081】図8は、図1の基板処理システム1で用い
られている基板回動手段の一例を示す斜視図である。こ
の基板回動手段160は、適所に複数配設されたピン先
端部にそれぞれ設けられた真空吸着可能なテフロン製の
吸着パッド161で基板7を裏面側から受けて保持する
受入手段としての基板載置部材162と、ボールねじ1
63とモータ(図示せず)よりなり、この基板載置部材
162を昇降させる昇降ユニット164と、これらの基
板載置部材162および昇降ユニット164を載置して
回動させる回動駆動アクチュエータ165と、この回動
駆動アクチュエータ165を基板載置部材162および
昇降ユニット164と共に水平移動させるXYテーブル
駆動部材166と、基板載置部材162上の基板7の位
置を検知し、その検知結果に基づいて回動駆動アクチュ
エータ165およびXYテーブル駆動部材166を駆動
制御して基板7をセンタリングするセンタリング部材
(図9)とを有している。FIG. 8 is a perspective view showing an example of the substrate rotating means used in the substrate processing system 1 of FIG. The substrate rotating means 160 is a substrate mounting means serving as a receiving means for receiving and holding the substrate 7 from the back side by vacuum-adsorbable Teflon suction pads 161 provided at a plurality of pin tips provided at appropriate positions. Mounting member 162 and ball screw 1
63, a motor (not shown), an elevating unit 164 for elevating and lowering the substrate mounting member 162, and a rotary drive actuator 165 for mounting and rotating the substrate mounting member 162 and the elevating unit 164; An XY table driving member 166 for horizontally moving the rotation driving actuator 165 together with the substrate mounting member 162 and the elevating unit 164, and the position of the substrate 7 on the substrate mounting member 162 are detected, and the rotation is performed based on the detection result. And a centering member (FIG. 9) for driving and controlling the dynamic drive actuator 165 and the XY table drive member 166 to center the substrate 7.
【0082】図9は、図8の基板回動手段160で採用
されているセンタリング部材を示す図である。このセン
タリング部材は、同図に示すように、対角方向の2つの
基板7のコーナ部分とそれぞれ対向して配設された各C
CDカメラ170と、CCDカメラ170からの基板コ
ーナ部分の画像に基づいて、その基板コーナ部分の画像
の位置と基準位置との画像ずれを認識する映像認識手段
171と、映像認識手段171からの画像ずれ情報に基
づいて回動駆動アクチュエータ165およびXYテーブ
ル駆動部材166を駆動制御して基板7をセンタリング
するように制御する駆動制御手段172とを有してい
る。FIG. 9 is a view showing a centering member employed in the substrate rotating means 160 of FIG. As shown in the figure, each of the centering members is provided with a respective C disposed opposite to a corner portion of two substrates 7 in a diagonal direction.
Based on the image of the substrate corner portion from the CD camera 170, the image recognition means 171 for recognizing the image displacement between the position of the image of the substrate corner portion and the reference position, and the image from the image recognition means 171 A drive control means 172 for controlling the drive of the rotary drive actuator 165 and the XY table drive member 166 based on the displacement information to control the centering of the substrate 7 is provided.
【0083】A-2-7.エッジリンス処理装置190 「A-1.本実施形態の概要」で説明したように、この実施
形態1では、エッジリンス処理装置190が受渡位置9
aの近傍に配置されている。このエッジリンス処理装置
190は、図2に示すように、基板7の端縁部分を収容
かつ通過可能なエッジリンス溝191が設けられ、基板
7の端縁部分に対してエッジリンス処理を行うエッジリ
ンス部192と、このエッジリンス部192を基板7の
端縁処理辺に沿って案内するレールよりなる案内部材1
93と、エッジリンス部192をレールにそって移動さ
せるモータなどの移動手段(図示せず)と、このエッジ
リンス部192を案内部材193と共に、基板7の端縁
部分に対して接近または離間させるボールねじおよびモ
ータなどの接離手段(図示せず)とを有している。A-2-7. Edge Rinse Processing Apparatus 190 As described in “A-1. Overview of this Embodiment”, in the first embodiment, the edge rinse processing apparatus 190 is
a. As shown in FIG. 2, the edge rinsing apparatus 190 is provided with an edge rinsing groove 191 capable of accommodating and passing the edge of the substrate 7, and performing edge rinsing on the edge of the substrate 7. A guide member 1 comprising a rinsing portion 192 and a rail for guiding the edge rinsing portion 192 along an edge processing side of the substrate 7
93, a moving means (not shown) such as a motor for moving the edge rinse portion 192 along the rail, and the edge rinse portion 192 together with the guide member 193 is moved toward or away from the edge portion of the substrate 7. And a contact / separation means (not shown) such as a ball screw and a motor.
【0084】また、このエッジリンス部192のエッジ
リンス溝191内には、図示しないが、塗布膜などを溶
かす処理液を基板7の塗布面側の端縁部分に噴出させる
ノズルと、その処理液で溶かされた塗布膜を処理液と共
に吸引して取り除く吸引口とが配設されており、ノズル
から基板7の塗布面側の端縁部分に所定の処理液が供給
され吸引口から不要な塗布膜が取り除かれるようになっ
ている。また、この場合、対向配設された2台の塗布装
置2a,2bで1台のエッジリンス処理装置190を共
用でき、システムとして小型化、低コスト化できるよう
になっている。Although not shown, a nozzle for ejecting a treatment liquid for dissolving a coating film or the like to the edge portion on the application surface side of the substrate 7 is provided in the edge rinse groove 191 of the edge rinse portion 192, A suction port for sucking and removing the coating film dissolved in the step 7 together with the processing liquid is provided. A predetermined processing liquid is supplied from a nozzle to an edge portion on the coating surface side of the substrate 7, and unnecessary coating is performed from the suction port. The membrane is to be removed. Further, in this case, one edge rinsing device 190 can be shared by the two coating devices 2a and 2b disposed opposite to each other, so that the system can be reduced in size and cost.
【0085】A-2.実施形態1の動作 次に、上記のように構成された基板処理システム1の動
作について図10〜図12を参照しながら説明する。な
お、これらの図において、基板7に「A」なる符号を付
しているが、これは基板7の上下左右関係を視覚的に明
らかにし、発明の理解を助けるための便宜であり、基板
7の塗布処理とは一切関係ない。また、この実施形態1
(および後で説明する他の実施形態2〜4)こでは、最
初、いずれの塗布装置2a,2bにも基板7は搬送され
ていないものとして説明する。A-2. Operation of First Embodiment Next, the operation of the substrate processing system 1 configured as described above will be described with reference to FIGS. In these drawings, the reference numeral “A” is given to the substrate 7, but this is for the purpose of visually clarifying the relationship between the top, bottom, left and right of the substrate 7 and assisting the understanding of the invention. Has nothing to do with the coating process. Also, the first embodiment
(And other embodiments 2 to 4 to be described later) First, the description will be made on the assumption that the substrate 7 is not transported to any of the coating apparatuses 2a and 2b.
【0086】(1) 未処理基板7の搬入および基板待機
位置への移動 まず、図10(a)に示すように、前工程の装置から処理
前基板搬送経路6の取込位置6aに塗布処理前の基板7
が水平搬送され、基板回動手段160(図8)に載置さ
れる。そして、搬送されてきたままの状態の基板7をセ
ンタリングした後、当該基板7を基板移載手段8aが受
取り、基板待機位置6xまで移動させる。具体的には、
基板移載手段8aはその中心位置が取込位置6aのセン
ターポジションP3の位置となるように、各回動載置部
材55と平面部材54が一列状態で移動した後に、処理
前基板搬送経路6の取込位置6aにおいて、各駆動手段
57によって各回動載置部材55を平面部材54に対し
て直角方向(図7に示す状態)となるように回動させ
る。このとき、処理前の基板7は取込位置6aの基板載
置台(図示せず)上に外周縁部がはみ出すようにして載
置されており、各回動載置部材55および平面部材54
は、基板7の載置位置よりも下方に位置している。この
状態で、垂直移動部材52による基板セッティング部材
50の上移動をして基板7の外周縁部を下方から受けて
載置し、複数のバキュームパッド56による真空吸着で
基板7を吸着保持することで基板7を取り込む。このよ
うに、一対の基板セッティング部材50上に基板7を載
置して所定位置に吸着保持した状態で、基板移載手段8
aの基板セッティング部材50はその中心位置が基板待
機位置6xのセンターポジションP2まで移動して待機
している。(1) Loading of Unprocessed Substrate 7 and Movement to Substrate Standby Position First, as shown in FIG. Previous substrate 7
Are horizontally conveyed and placed on the substrate rotating means 160 (FIG. 8). Then, after centering the substrate 7 in the state of being transferred, the substrate 7 is received by the substrate transfer means 8a and moved to the substrate standby position 6x. In particular,
The substrate transfer unit 8a moves the rotary mounting member 55 and the planar member 54 in line so that the center position thereof is the center position P3 of the take-in position 6a. At the take-in position 6a, the respective rotation mounting members 55 are rotated by the respective driving means 57 so as to be in a direction perpendicular to the plane member 54 (the state shown in FIG. 7). At this time, the substrate 7 before processing is mounted on the substrate mounting table (not shown) at the take-in position 6a such that the outer peripheral portion protrudes, and the respective rotary mounting members 55 and the planar members 54 are provided.
Are located below the mounting position of the substrate 7. In this state, the substrate setting member 50 is moved upward by the vertical moving member 52 to receive and mount the outer peripheral edge of the substrate 7 from below, and the substrate 7 is suction-held by vacuum suction by the plurality of vacuum pads 56. Takes in the substrate 7. In this manner, with the substrate 7 placed on the pair of substrate setting members 50 and sucked and held at a predetermined position, the substrate transfer means 8
The center position of the substrate setting member 50a moves to the center position P2 of the substrate standby position 6x and stands by.
【0087】また、旋回手段4aはその基板保持ステー
ジ3aの基板保持面がセッティング位置10aで水平姿
勢の状態で止まっている。このとき、基板保持ステージ
3aの下方にはリフトピンユニット33が重なるように
位置しており、その基板保持面上に複数のリフトピン3
4が突出した状態で基板7を受け得る状態になってい
る。また、この時、基板保持ステージ3bは塗布装置2
b側に起き上がっている。The turning means 4a is stopped in a state where the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a is in a horizontal posture at the setting position 10a. At this time, the lift pin unit 33 is positioned below the substrate holding stage 3a so as to overlap, and a plurality of lift pins 3 are placed on the substrate holding surface.
4 is in a state where it can receive the substrate 7 in a protruding state. At this time, the substrate holding stage 3b is
Standing on b side.
【0088】(2) リフトピン34への基板7の移載 次に、基板移載手段8aの基板セッティング部材50は
その中心位置が基板待機位置6xのセンターポジション
P2から基板保持ステージ3aが位置するセッティング
位置10aのセンターポジションP1まで水平移動部材
51で基板7と共に移動する(図10(b))。このと
き、基板移載手段8aの基板セッティング部材50は、
各回動載置部材55と平面部材54のコ字状部分の開放
部が対向した状態になっており、その対向した一対のコ
字状部分上に基板7が載置されている。この状態で、各
回動載置部材55と平面部材54の複数のバキュームパ
ッド56による真空吸着を解除すると共に、垂直移動部
材52によって基板セッティング部材50を下方向に移
動させて、基板保持ステージ3aの基板保持面から突出
しているリフトピン34上に基板7を載置して受け渡
す。この場合、対向した一対のコ字状部分の開口エリア
内にリフトピン34および基板保持ステージ3aの配設
エリアが内在している。(2) Transfer of the substrate 7 to the lift pins 34 Next, the substrate setting member 50 of the substrate transferring means 8a is set such that the center position of the substrate setting member 50 is from the center position P2 of the substrate standby position 6x to the position of the substrate holding stage 3a. It is moved together with the substrate 7 by the horizontal moving member 51 to the center position P1 at the position 10a (FIG. 10B). At this time, the substrate setting member 50 of the substrate transfer means 8a
The open portions of the U-shaped portions of the rotating mounting members 55 and the planar members 54 are in an opposed state, and the substrate 7 is mounted on the pair of the opposed U-shaped portions. In this state, the vacuum suction by the plurality of vacuum pads 56 of each of the rotation mounting member 55 and the plane member 54 is released, and the substrate setting member 50 is moved downward by the vertical moving member 52, so that the substrate holding stage 3a The substrate 7 is placed and transferred on the lift pins 34 protruding from the substrate holding surface. In this case, an area where the lift pins 34 and the substrate holding stage 3a are disposed is present in the opening areas of the pair of U-shaped portions facing each other.
【0089】このようにして、処理前基板搬送経路6の
取込位置6a上の塗布処理前の基板7を基板セッティン
グ部材50上に載置して取り込んで、セッティング位置
10aにおいて、旋回手段4aにおける水平姿勢の基板
保持ステージ3aの基板保持面上に突出した複数のリフ
トピン34上に載置するように移送する。さらに、各基
板移載部材53は、回動載置部材55を駆動手段57に
よって回動させて回動載置部材55の長手方向を基板セ
ッティング部材50の長手方向と平行となるようにす
る。これは、基板移載部材53の移動時に回動載置部材
55が基板保持ステージ3a等と干渉するのを防止する
ためである。かかる回動の後、基板移載部材53はセン
ターポジションP2に戻る。In this manner, the substrate 7 before the coating process on the take-in position 6a of the pre-process substrate transfer path 6 is placed on the substrate setting member 50 and taken in. The substrate is transferred so as to be placed on a plurality of lift pins 34 protruding above the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a in a horizontal posture. Further, each substrate transfer member 53 rotates the rotation mounting member 55 by the driving means 57 so that the longitudinal direction of the rotation mounting member 55 is parallel to the longitudinal direction of the substrate setting member 50. This is to prevent the rotation mounting member 55 from interfering with the substrate holding stage 3a or the like when the substrate transfer member 53 moves. After such rotation, the substrate transfer member 53 returns to the center position P2.
【0090】(3) 塗布装置2aでの塗布処理 続いて、このリフトピンユニット33は基板7が載置さ
れた複数のリフトピン34をゆっくりと下降させて基板
保持ステージ3aの基板保持面上に基板7を載置すると
共に、この基板保持面において、基板7のサイズに応じ
た基板外周縁部に対応した位置に沿って配設された複数
のバキュームパッド(図示せず)による真空吸引処理を
行って、基板7を水平姿勢のままで保持ステージ3aの
所定位置にセッティングして保持状態とする。(3) Coating Processing by Coating Apparatus 2a Subsequently, the lift pin unit 33 slowly lowers the plurality of lift pins 34 on which the substrate 7 is placed, and places the substrate 7 on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a. And a vacuum suction process is performed on the substrate holding surface by a plurality of vacuum pads (not shown) disposed along positions corresponding to the outer peripheral edge of the substrate according to the size of the substrate 7. Then, the substrate 7 is set at a predetermined position of the holding stage 3a while keeping the horizontal posture, and is brought into a holding state.
【0091】その後、旋回手段4aは、基板保持ステー
ジ3a上に基板7を保持した状態で、基板7と共に基板
保持ステージ3aおよびステージ取付部材14aを、2
枚のアーム部材15aを介して、軸支部16aを回動中
心として基板保持面が水平姿勢から垂直姿勢になるよう
に、サーボモータ24aやカウンタシリンダ32などの
駆動手段によって回転駆動させる。特に、水平姿勢から
起き上がるときにゆっくりと回動し始めることで、その
下部のパーティクルの巻き上げを防止する。After that, while the substrate 7 is held on the substrate holding stage 3a, the turning means 4a moves the substrate holding stage 3a and the stage mounting member 14a together with the substrate 7 to two.
Via the arm members 15a, the driving means such as the servomotor 24a and the counter cylinder 32 is driven so as to rotate the substrate holding surface from the horizontal posture to the vertical posture about the pivot 16a as the center of rotation. In particular, by slowly rotating when getting up from the horizontal posture, the particles below it are prevented from winding up.
【0092】このように、基板7を基板保持ステージ3
a上に保持した垂直姿勢の状態で、ステージ移動手段5
aは、その駆動手段(図示せず)の駆動によって、ベー
ス部材19a上の旋回手段4aと共に基板7を、リニア
ガイド部材35およびレール部材36で案内されて塗布
装置2a側の開口部38に接近させ、基板7および基板
保持ステージ3aがその開口部38の裏側から覗くよう
になるまで水平移動させる。さらに、その開口部38の
周囲縁部の基準面に対してステージ取付部材14aの表
側の外周縁部を当接させることで、基板保持ステージ3
aの基板保持面上の基板7の被塗布面が塗布基準面に設
定される(同図(c))。As described above, the substrate 7 is moved to the substrate holding stage 3.
a in a state of being held vertically on the stage moving means 5
By the driving of the driving means (not shown), the substrate 7 is guided by the linear guide member 35 and the rail member 36 together with the turning means 4a on the base member 19a to approach the opening 38 on the coating apparatus 2a side. Then, the substrate 7 and the substrate holding stage 3a are horizontally moved until they can be seen from behind the opening 38. Further, by bringing the outer peripheral edge of the front side of the stage mounting member 14a into contact with the reference surface of the peripheral edge of the opening 38, the substrate holding stage 3
The application surface of the substrate 7 on the substrate holding surface a is set as the application reference surface (FIG. 3C).
【0093】さらに、ステージ固定手段39によって、
ステージ取付部材14aの裏側からクランプして押圧す
ることで、ステージ取付部材14aの表側と開口部38
の周囲縁部とを当接させて、基板保持ステージ3aと共
に基板7を塗布装置2aの開口部38に固定し、基板7
が塗布基準位置で動かないようにする。Further, by the stage fixing means 39,
The front side of the stage mounting member 14a and the opening 38 are clamped and pressed from the back side of the stage mounting member 14a.
The substrate 7 is fixed to the opening 38 of the coating device 2a together with the substrate holding stage 3a by bringing the substrate 7 into contact with the peripheral edge of the substrate 7.
Should not move at the application reference position.
【0094】さらに、このように、基板7が基板保持ス
テージ3aと共に開口部38の裏側から固定されるまで
の一連の処理の間に、塗布装置2aは、その表側にある
ノズル手段11を載置したノズルユニット12を待機位
置(下方位置)から塗布開始位置(上方位置)まで移動
させると共に、その塗布開始位置において、ノズル手段
11を基板7の被塗布面側に接近させ、基板7の幅方向
に細長く開口したノズル手段11のノズル口を基板7の
被塗布面に近接させ、ノズル手段11内部の塗布液槽か
ら流路の毛管現象により汲み上げられた塗布液によりノ
ズル口と基板7との間に液だまりを形成する。Further, as described above, during a series of processes until the substrate 7 is fixed together with the substrate holding stage 3a from the back side of the opening 38, the coating apparatus 2a places the nozzle means 11 on the front side thereof. The nozzle unit 12 is moved from the standby position (lower position) to the application start position (upper position), and at the application start position, the nozzle unit 11 is moved closer to the surface to be coated of the substrate 7 so that the width direction of the substrate 7 is reduced. The nozzle opening of the nozzle means 11 which is elongated into the nozzle means 11 is brought close to the surface to be coated of the substrate 7, and the coating liquid pumped up from the coating liquid tank inside the nozzle means 11 by the capillary action in the flow path causes the nozzle opening 11 to move between the nozzle opening and the substrate 7. A puddle forms on the surface.
【0095】その後、ノズル手段11のノズル口と各基
板7とをその被塗布面に沿って相対移動させつつ、毛管
現象でノズル手段11内部の塗布液槽(図示せず)から
汲み上げられた塗布液を各ノズル手段11のノズル口か
らそれぞれ供給して各基板7の被塗布面にそれぞれ塗布
する。Thereafter, while the nozzle port of the nozzle means 11 and each substrate 7 are relatively moved along the surface to be coated, the coating liquid pumped up from the coating liquid tank (not shown) inside the nozzle means 11 by capillary action. The liquid is supplied from the nozzle port of each nozzle means 11 and applied to the application surface of each substrate 7.
【0096】このとき、塗布装置2aの内部は密閉状態
であり、乾燥促進機構47aによってダウンフローの均
一気流を発生させて内部を陽圧化させてパーティクルの
排除と、塗布液のレベリングを行ないながらの乾燥によ
ってより均一な膜厚になるようにしている。塗布終了
後、例えば乾燥促進機構47aから乾燥促進機構47b
に切り換えて、基板7の塗布面に対して垂直な方向の気
流を発生させてその乾燥を均一にすると共に促進させ
る。At this time, the inside of the coating apparatus 2a is in a closed state, and a uniform airflow of down flow is generated by the drying promoting mechanism 47a to make the inside positive, thereby eliminating particles and leveling the coating liquid. Is dried to obtain a more uniform film thickness. After the application is completed, for example, the drying promoting mechanism 47a to the drying promoting mechanism 47b
To generate an airflow in a direction perpendicular to the application surface of the substrate 7 to make the drying uniform and promote the drying.
【0097】なお、このように、基板保持ステージ3a
が起き上がって塗布装置2aによる塗布処理が行われて
いる間に、基板保持ステージ3bがセッティング位置1
0bに位置して次なる基板を塗布装置2bへセットする
作業が為される。それと同時に、次の未処理基板7が前
工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6aに
水平搬送され、基板回動手段160(図8)に載置され
る。Note that, as described above, the substrate holding stage 3a
Is raised and the substrate holding stage 3b is in the setting position 1 while the coating process is being performed by the coating device 2a.
An operation of setting the next substrate at 0b in the coating apparatus 2b is performed. At the same time, the next unprocessed substrate 7 is horizontally transferred from the device in the previous process to the take-in position 6a of the pre-processing substrate transfer path 6, and is placed on the substrate rotating means 160 (FIG. 8).
【0098】(4) 基板7の180゜回転および基板待
機位置への移動 上記のようにして取込位置6aに搬送された次なる基板
7については、塗布装置2bによって処理することとな
るため、図11(a)に示すように、基板回動手段160
によって180゜回転される。すなわち、基板回動手段
160の基板載置部材162を、昇降ユニット164を
駆動することで上昇させて吸着パッド161上に基板7
を保持すると共に、吸着パッド161で基板7を真空吸
着する。その後、基板載置部材162上の基板7の位置
を検知し、その検知結果に基づいて回動駆動アクチュエ
ータ165およびXYテーブル駆動部材166を駆動制
御して基板7をセンタリングし位置決めする。そして、
基板7を180度方向転換させるように回動させる。さ
らに、その基板載置部材162を、昇降ユニット164
を駆動することで下降させると共に、吸着パッド161
の真空吸着を解除して基板移載手段8aに載置する。(4) Rotation of the substrate 7 by 180 ° and movement to the substrate standby position The next substrate 7 conveyed to the take-in position 6a as described above is processed by the coating device 2b. As shown in FIG.
Is rotated 180 °. That is, the substrate placing member 162 of the substrate rotating means 160 is raised by driving the lifting / lowering unit 164 so that the substrate 7 is placed on the suction pad 161.
Is held, and the substrate 7 is vacuum-sucked by the suction pad 161. Thereafter, the position of the substrate 7 on the substrate mounting member 162 is detected, and based on the detection result, the rotation driving actuator 165 and the XY table driving member 166 are driven and controlled to center and position the substrate 7. And
The substrate 7 is rotated to change its direction by 180 degrees. Further, the substrate placing member 162 is moved to the elevating unit 164.
Is driven to lower the suction pad 161.
Is released and placed on the substrate transfer means 8a.
【0099】これに続いて、上記工程(1)と同様にし
て、基板7は基板待機位置6xに搬送され、待機され
る。Subsequently, the substrate 7 is transported to the substrate standby position 6x and waits in the same manner as in the above step (1).
【0100】(5) リフトピン34への基板7の載置 次に、上記工程(2)と同様にして、基板待機位置6xの
基板7をリフトピン34の上に載置する(同図(b))。(5) Placement of Substrate 7 on Lift Pins 34 Next, the substrate 7 at the substrate standby position 6x is placed on the lift pins 34 in the same manner as in the above step (2) (FIG. 2B). ).
【0101】(6) 塗布装置2bでの塗布処理および処
理済み基板7の搬出 そして、工程(3)と同様にして、塗布装置2bによる基
板7への塗布処理を開始する(同図(c))。このとき、
この実施形態1では、工程(4)で塗布装置2bによる処
理を施すべき基板7については、取込位置6aで予め1
80゜回転させており、塗布装置2a,2bに供給され
セッティングされる基板7の方向は常に同一になる。(6) Coating process in coating device 2b and unloading of processed substrate 7 Then, in the same manner as in step (3), coating process on substrate 7 by coating device 2b is started (FIG. 3 (c)). ). At this time,
In the first embodiment, with respect to the substrate 7 to be subjected to the processing by the coating device 2b in the step (4), one
The substrate 7 is rotated by 80 °, and the direction of the substrate 7 supplied and set to the coating devices 2a and 2b is always the same.
【0102】一方、塗布装置2bへの基板7のセッティ
ング後に、塗布装置2aにおける乾燥処理が終了する
と、工程(3)での動作とは逆に、ステージ固定手段39
によるステージ取付部材14aと開口部38との固定を
解除して、基板7を基板保持ステージ3a上に保持した
垂直姿勢の状態で、ステージ移動手段5aは、その駆動
手段の駆動によって、その開口部38の周囲縁部の基準
面に対してステージ取付部材14aの表側の外周縁部が
離間するように所定位置まで退進させる。On the other hand, after the setting of the substrate 7 in the coating device 2b, when the drying process in the coating device 2a is completed, the stage fixing means 39 is reversed, contrary to the operation in the step (3).
The stage moving means 5a releases the fixing of the stage mounting member 14a and the opening 38 by the above-mentioned state, and in a vertical posture in which the substrate 7 is held on the substrate holding stage 3a, the opening of the opening The stage mounting member 14a is retreated to a predetermined position such that the outer peripheral edge on the front side of the stage mounting member 14a is separated from the reference surface of the peripheral edge of the stage 38.
【0103】その後、旋回手段4aは、基板保持ステー
ジ3a上に基板7を保持した状態で、基板7と共に基板
保持ステージ3aおよびステージ取付部材14aを、2
枚のアーム部材15aを介して、軸支部16aを回動中
心として基板保持面が垂直姿勢から水平姿勢になるよう
に、サーボモータ24aやカウンタシリンダ32などの
駆動手段によって回転駆動させる。特に、水平姿勢にな
る前にブレーキを徐々にきかせてゆっくりと水平姿勢で
止めることで、その下部のパーティクルの巻き上げを防
止する。なお、このときには基板保持ステージ3bはす
でに基板のセットを終了して起立し、塗布装置2bによ
る塗布が開始されており、基板保持ステージ3aがセッ
ティング位置10aへ回動下降しても問題はない。After that, while the substrate 7 is held on the substrate holding stage 3a, the turning means 4a moves the substrate holding stage 3a and the stage mounting member 14a together with the substrate 7 to two.
Via the arm members 15a, the driving means such as the servomotor 24a and the counter cylinder 32 is driven to rotate around the pivot 16a so that the substrate holding surface changes from a vertical position to a horizontal position. In particular, before the horizontal posture, the brake is gradually applied and the vehicle is stopped slowly in the horizontal posture, thereby preventing the particles below it from rolling up. At this time, the substrate holding stage 3b has already finished setting the substrate and stands up, the application by the coating device 2b has been started, and there is no problem even if the substrate holding stage 3a is turned down to the setting position 10a.
【0104】そして、水平姿勢の基板保持ステージ3a
の基板保持面において、複数のバキュームパッドによる
吸引を解除すると共に、リフトピンユニット33は基板
7が載置された基板保持ステージ3aの基板保持面に対
して複数のリフトピン34をゆっくりと上昇させて基板
保持ステージ3aの基板保持面から、真空吸引解除後に
張り付いた基板7を剥離させつつ上昇させる。Then, the substrate holding stage 3a in the horizontal posture
On the substrate holding surface, the suction by the plurality of vacuum pads is released, and the lift pin unit 33 slowly raises the plurality of lift pins 34 with respect to the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a on which the substrate 7 is placed. From the substrate holding surface of the holding stage 3a, the substrate 7 stuck after releasing the vacuum suction is lifted while being peeled off.
【0105】その後、こんどは、基板移載手段8bは各
回動載置部材55と平面部材54が一列の状態で、その
中心位置が、基板保持ステージ3aの位置するセッティ
ング位置10aのセンターポジションP1まで水平移動
部材51によって移動した後に、セッティング位置10
aにおいて、各駆動手段57によって各回動載置部材5
5を平面部材54に対して直角方向となるように回動さ
せる。このとき、処理済みの基板7は複数のリフトピン
34上に外周縁部がはみ出すようにして載置されてお
り、各回動載置部材55および平面部材54は、基板7
の載置位置よりも下方に位置している。この状態で、垂
直移動部材52による基板セッティング部材50の上方
向の移動をして基板7の外周縁部を下方から受けて載置
し、複数のバキュームパッド56による真空吸着で基板
7を吸着保持することで基板7を取り込む。Thereafter, the substrate transfer means 8b is now in a state where each of the rotary mounting members 55 and the plane members 54 are in a line, and the center position thereof is shifted to the center position P1 of the setting position 10a where the substrate holding stage 3a is located. After moving by the horizontal moving member 51, the setting position 10
5A, each of the rotation mounting members 5 is
5 is rotated so as to be perpendicular to the plane member 54. At this time, the processed substrate 7 is mounted on the plurality of lift pins 34 such that the outer peripheral portion protrudes, and each of the rotating mounting members 55 and the planar members 54
Is located below the mounting position. In this state, the substrate setting member 50 is moved upward by the vertical moving member 52 to receive and mount the outer peripheral edge of the substrate 7 from below, and the plurality of vacuum pads 56 hold the substrate 7 by vacuum suction. Then, the substrate 7 is taken in.
【0106】このように、一対の基板セッティング部材
50上に基板7を載置して所定位置に吸着保持した状態
で、基板移載手段8bの基板セッティング部材50はそ
の中心位置が基板待機位置のセンターポジションまで移
動した後に、その中心位置が基板搬送経路9の受渡位置
9aのセンターポジションまで水平移動部材51で基板
7と共に移動する。このとき、基板移載手段8bの基板
セッティング部材50は、各回動載置部材55と平面部
材54のコ字状部分の開放部が対向した状態になってお
り、その対向した一対のコ字状部分上に基板7が載置さ
れている。この状態で、各回動載置部材55と平面部材
54の複数のバキュームパッド56による真空吸着を解
除すると共に、垂直移動部材52によって一対の基板セ
ッティング部材50を下方向に移動させて、基板搬送経
路9の受渡位置9aにおける基板回動手段160上に基
板7を載置して受け渡す。その後、基板移載手段8bの
基板セッティング部材50はその中心位置が待機位置9
xのセンターポジションまで水平移動部材51によっ
て、各回動載置部材55と平面部材54が一列状態のま
まで移動させておく。As described above, in a state where the substrate 7 is placed on the pair of substrate setting members 50 and is suction-held at a predetermined position, the substrate setting member 50 of the substrate transfer means 8b is set so that its center position is the substrate standby position. After moving to the center position, the center position is moved by the horizontal moving member 51 together with the substrate 7 to the center position of the transfer position 9 a of the substrate transfer path 9. At this time, the substrate setting member 50 of the substrate transfer means 8b is in a state where the open portions of the U-shaped portions of the rotary mounting members 55 and the planar members 54 face each other. The substrate 7 is mounted on the portion. In this state, the vacuum suction by the plurality of vacuum pads 56 of each of the rotation mounting member 55 and the plane member 54 is released, and the pair of substrate setting members 50 is moved downward by the vertical moving member 52, so that the substrate transport path is moved. The substrate 7 is placed and transferred on the substrate rotating means 160 at the transfer position 9a of FIG. Thereafter, the center position of the substrate setting member 50 of the substrate transfer means 8b is changed to the standby position 9
Each of the rotating mounting members 55 and the plane members 54 is moved by the horizontal moving member 51 to the center position of x in a state of being aligned.
【0107】このようにして、セッティング位置10a
において、基板移載手段8bは、旋回手段4aにおける
水平姿勢の基板保持ステージ3aの基板保持面上に突出
した複数のリフトピン34上の塗布処理済み基板7を基
板セッティング部材50上に載置して取り込んで、基板
搬送経路9の受渡位置9aにおける基板回動手段160
上に載置するように移送する。Thus, the setting position 10a
In the above, the substrate transfer means 8b places the coated substrate 7 on the plurality of lift pins 34 projecting on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a in the horizontal posture in the turning means 4a on the substrate setting member 50. The substrate rotating means 160 at the delivery position 9a of the substrate transport path 9
Transfer to rest on top.
【0108】このようにした受渡位置9aへの処理済み
基板7の移送と並行して、工程(1)と同様にして次の未
処理基板7が基板待機位置6xに搬送されて塗布装置2
aでの塗布処理に備える。In parallel with the transfer of the processed substrate 7 to the delivery position 9a as described above, the next unprocessed substrate 7 is transported to the substrate standby position 6x and the coating device 2
Prepare for the coating process in a.
【0109】(7) 基板7のエッジリンス処理 受渡位置9aに搬送されてきた基板7については、接離
手段(図示せず)で、エッジリンス処理装置190のエ
ッジリンス部192を基板7の下端縁7a側、即ち、塗
布装置2aの塗布位置で下側に位置していた辺側に接近
させると共に、さらにエッジリンス部192のエッジリ
ンス溝191内にその下端縁7aが収容されるまで接近
させる。さらに、エッジリンス部192をレールにそっ
て移動手段(図示せず)で移動させると共に、エッジリ
ンス溝191内のノズル(図示せず)から基板7の塗布
面側の端縁部分に所定の処理液を供給し、エッジリンス
溝191内の吸引口(図示せず)から不要な塗布膜が取
り除かれてエッジリンス処理が行われる。(7) Edge Rinse Processing of the Substrate 7 The substrate 7 conveyed to the delivery position 9a is moved by the contact / separation means (not shown) to the edge rinse section 192 of the edge rinse processing device 190 at the lower end of the substrate 7. The edge 7a side, that is, the side that was located at the lower side in the application position of the application device 2a, is approached, and is further approached until the lower edge 7a is accommodated in the edge rinse groove 191 of the edge rinse portion 192. . Further, the edge rinsing section 192 is moved by a moving means (not shown) along the rail, and a predetermined processing is performed from a nozzle (not shown) in the edge rinsing groove 191 to the edge portion of the substrate 7 on the application surface side. The liquid is supplied, an unnecessary coating film is removed from a suction port (not shown) in the edge rinse groove 191, and an edge rinse process is performed.
【0110】こうして、塗布処理およびエッジリンス処
理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処理
工程に搬送される。Thus, the substrate 7 which has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0111】(8) 塗布装置2bからの処理済み基板7
の搬出 そして、工程(2)と同様にして基板待機位置6xの基板
7をリフトピン34の上に載置した後、さらに工程(3)
と同様にして当該基板7を塗布装置2aにセットする。(8) Processed substrate 7 from coating device 2b
Then, the substrate 7 at the substrate standby position 6x is placed on the lift pins 34 in the same manner as in the step (2).
The substrate 7 is set in the coating device 2a in the same manner as described above.
【0112】この塗布装置2aへの基板7のセッティン
グ後に、塗布装置2bにおける乾燥処理が終了すると、
工程(6)と同様にして、塗布装置2bから処理済み基板
7を搬出し、基板搬送経路9の受渡位置9aにおける基
板回動手段160上に載置するように移送する(図12
(a))。After the setting of the substrate 7 in the coating device 2a, when the drying process in the coating device 2b is completed,
In the same manner as in step (6), the processed substrate 7 is unloaded from the coating device 2b and transported so as to be placed on the substrate rotating means 160 at the delivery position 9a of the substrate transport path 9 (FIG. 12).
(a)).
【0113】なお、これと並行して、次の未処理基板7
が前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6
aに水平搬送され、基板回動手段160(図8)に載置
される。In parallel with this, the next unprocessed substrate 7
Is the take-in position 6 of the pre-process substrate transfer path 6 from the device in the previous process.
a and is placed on the substrate rotating means 160 (FIG. 8).
【0114】(9) 基板7のエッジリンス処理と、基板
7の基板待機位置への移動 同図(b)に示すように、基板搬送経路9の受渡位置9a
に設けられた基板回動手段160に搬送されてきた処理
済み基板7(同図中の下方側の基板)については、工程
(4)と同様にして、基板回動手段160によって180
゜回転される。これによって、この受渡位置9aでは、
常に基板7の方向が同一、つまり基板7の下端縁、即
ち、塗布装置2bの塗布位置で下側に位置していた辺側
がエッジリンス部192側を向いている。(9) Edge Rinsing of the Substrate 7 and Movement of the Substrate 7 to the Substrate Standby Position As shown in FIG.
The processed substrate 7 (substrate on the lower side in the figure) transferred to the substrate rotating means 160 provided in
In the same manner as (4), 180
゜ It is rotated. Thereby, at this delivery position 9a,
The direction of the substrate 7 is always the same, that is, the lower edge of the substrate 7, that is, the side located at the lower side in the application position of the application device 2b faces the edge rinse portion 192 side.
【0115】そして、これに続いて、上記工程(7)と同
様に、基板7の塗布面側の端縁部分に所定の処理液を供
給し、エッジリンス溝191内の吸引口(図示せず)か
ら不要な塗布膜が取り除かれてエッジリンス処理が行わ
れる。Subsequently, similarly to the above step (7), a predetermined processing liquid is supplied to the edge portion of the substrate 7 on the application surface side, and a suction port (not shown) in the edge rinse groove 191 is supplied. ), Unnecessary coating films are removed and edge rinse processing is performed.
【0116】こうして、塗布処理およびエッジリンス処
理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処理
工程に搬送される。Thus, the substrate 7 which has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0117】また、このような動作と並行して、工程
(4)と同様に、塗布装置2bで処理すべき基板7は、基
板回動手段160によって180゜回転された後、基板
待機位置6xに搬送され、待機される。In parallel with such an operation, a process
Similarly to (4), after the substrate 7 to be processed by the coating apparatus 2b is rotated by 180 ° by the substrate rotating means 160, it is transported to the substrate standby position 6x and is standby.
【0118】本実施形態では、上記一連の処理ステップ
が繰り返されて基板7が順次処理(塗布処理+エッジリ
ンス処理)を受ける。In the present embodiment, the above-described series of processing steps are repeated, and the substrate 7 is sequentially processed (coating processing + edge rinsing processing).
【0119】A-3.実施形態1による効果 以上のように、基板処理装置としての塗布装置2a,2
bが対向して配置されるとともに、各々に対応して設け
られた旋回手段4a,4bの基板保持ステージ3a,3
bが所定角度姿勢となる基板セッティングエリアである
セッティング位置10a,10bを共用するように対称
的にそれぞれ配置されるため、設置スペースを共用する
ことができて省スペースとすることができると共に、シ
ステム全長の短縮化が可能でフットプリントの悪化や、
システム全長によるレイアウト上の制約を解消すること
ができる。また、基板処理装置である塗布装置2a,2
bが複数台直列に隣接配置した場合に比べて、基板搬送
における基板の持ち変え回数を少なくできて、その分、
基板の搬送安定性を図ることができる。A-3. Effects of First Embodiment As described above, the coating apparatuses 2a and 2 serving as the substrate processing apparatuses are used.
b are opposed to each other, and the substrate holding stages 3a, 3 of the turning means 4a, 4b provided correspondingly to each other.
Since b is symmetrically arranged so as to share the setting positions 10a and 10b, which are substrate setting areas having a predetermined angle posture, the installation space can be shared and the space can be saved. The overall length can be shortened and the footprint deteriorates,
The layout restrictions due to the overall length of the system can be eliminated. Further, the coating apparatuses 2a, 2 which are substrate processing apparatuses.
b can reduce the number of times the substrate is changed in the substrate transfer as compared with the case where a plurality of b are arranged adjacently in series.
The transfer stability of the substrate can be improved.
【0120】また、リフトピンユニット33の複数のリ
フトピン34で基板保持ステージ3a,3bにそれぞれ
吸引解除後に貼り付いた基板7を容易に剥がすことがで
きる。特に、本実施形態1のように対向して配設された
塗布装置2a,2bの場合には、共用の一つのリフトピ
ンユニット33で済み、部品点数が少なくなって故障の
確率が低下すると共に低コストとすることができる。Further, the substrate 7 adhered to the substrate holding stages 3a and 3b after the suction is released can be easily peeled off by the plurality of lift pins 34 of the lift pin unit 33. In particular, in the case of the coating apparatuses 2a and 2b that are disposed to face each other as in the first embodiment, only one common lift pin unit 33 is required, and the number of parts is reduced, and the probability of failure is reduced and low. Cost.
【0121】また、旋回手段4a,4bの各回動動作で
基板保持ステージ3a,3bをそれぞれ所定の搬送角度
姿勢の水平姿勢から塗布姿勢の垂直姿勢にし、この状態
が基板処理装置としての塗布装置2a,2bの垂直方向
における基板処理位置である塗布基準位置になってい
る。つまり、基板7の水平な搬送姿勢と垂直な塗布姿勢
の姿勢変換を旋回手段4a,4bによるステージ旋回動
作で行うため、基板7の基板保持ステージ3a,3b上
への各セッティングを水平姿勢のままで行うことができ
る。また、従来のロボットハンドと垂直なステージ間で
の基板7の受渡しのような吸引タイミングおよび吸引解
除タイミングの乱れなどによる基板7の落下の危険性も
ない。このため、動作速度(ハンドリング速度)を遅く
する必要もないばかりかむしろ早くなり、より安定な基
板移載を行うことができる。Further, the substrate holding stages 3a, 3b are respectively changed from the horizontal posture at a predetermined transfer angle posture to the vertical posture of the coating posture by the respective rotating operations of the turning means 4a, 4b. , 2b in the vertical direction. In other words, since the posture conversion between the horizontal transfer posture and the vertical application posture of the substrate 7 is performed by the stage turning operation by the turning means 4a and 4b, each setting of the substrate 7 on the substrate holding stages 3a and 3b is kept in the horizontal position. Can be done with Further, there is no danger of the substrate 7 dropping due to disturbance of the suction timing and the suction release timing such as the transfer of the substrate 7 between the conventional robot hand and the vertical stage. Therefore, the operating speed (handling speed) does not need to be slowed down, but rather becomes faster, and more stable substrate transfer can be performed.
【0122】また、基板移載手段8a,8bの基板搬送
機構を水平姿勢のみとすることができるため、多関節ロ
ボット81の構成に比べてその搬送構造を大幅に簡易化
することができると共に、その搬送部への負担を大幅に
軽減することができて、搬送の安定性を向上することが
できる。また、従来の基板搬送用の多関節ロボット81
はその動作やその制御系が複雑であり、基板移載手段8
a,8bによる移載制御および旋回手段4a,4bの回
動制御は、多関節ロボット81の搬送制御に比べてより
単純であってトラブルもより少ない。Further, since the substrate transfer mechanism of the substrate transfer means 8a, 8b can be in only a horizontal posture, the transfer structure can be greatly simplified as compared with the configuration of the articulated robot 81, and The load on the transport unit can be significantly reduced, and the stability of transport can be improved. In addition, a conventional articulated robot 81 for transferring a substrate is used.
Is complicated in its operation and its control system.
The transfer control by a and 8b and the rotation control of the turning means 4a and 4b are simpler and have less trouble than the transfer control by the articulated robot 81.
【0123】また、旋回手段4a,4bの各回動動作で
基板保持ステージ3a,3bをそれぞれ水平姿勢から垂
直姿勢にして、基板処理装置の裏側から基板保持ステー
ジ3a,3bを基板処理位置にセットし、その表面側で
基板処理をそれぞれ行うため、基板処理エリアと搬送エ
リアとを効率よく分離することが可能となり、搬送エリ
ア側の、動作による風圧に起因した浮遊パーティクルが
基板処理エリア側の基板7の表面上に付着することを抑
制することができる。また、基板処理エリアである塗布
エリア側に基板搬送機構がなく、塗布処理が、基板保持
ステージ3a,3bを挟んで搬送エリアの反対側で行わ
れるため、ノズル手段11などのメンテナンス時などに
人が搬送エリア側に入る必要がなくて塗布エリア側に入
りやすくかつその塗布状態が見やすくメンテナンス性の
よい基板処理システムを得ることができる。このよう
に、塗布エリアと搬送エリアとが分離されるので、ステ
ージ塗布面側には基板搬送関係の機構がなく、基板保持
ステージ3a,3bの各基板保持面側の基板処理空間を
それぞれ覆って密閉する各外郭部材46や、風乾促進ユ
ニットおよびその駆動機構を容易にそれぞれ配置するこ
とができて、風圧や気圧変化、パーティクルなどの周囲
からの悪影響を防止することができて、より安定した基
板処理としての塗布処理を行うことができる。Further, the substrate holding stages 3a, 3b are respectively changed from the horizontal position to the vertical position by the respective rotating operations of the turning means 4a, 4b, and the substrate holding stages 3a, 3b are set to the substrate processing position from the back side of the substrate processing apparatus. Since the substrate processing is performed on the front surface side, the substrate processing area and the transfer area can be efficiently separated from each other. Can be suppressed from adhering to the surface of the substrate. Further, since there is no substrate transport mechanism on the application area side which is the substrate processing area, and the application processing is performed on the opposite side of the transport area with the substrate holding stages 3a and 3b interposed therebetween, it is necessary to perform maintenance when the nozzle means 11 and the like are performed. It is not necessary to enter the application area side, and the substrate processing system can be easily obtained, the application state can be easily seen, and the maintenance property is good. As described above, since the application area and the transfer area are separated from each other, there is no mechanism related to the substrate transfer on the stage application surface side, and the substrate processing spaces on the substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a and 3b are respectively covered. Each outer member 46 to be hermetically sealed, the air-drying accelerating unit and its driving mechanism can be easily arranged respectively, and it is possible to prevent adverse effects from surroundings such as wind pressure and pressure change, particles, etc., and to achieve a more stable substrate. A coating treatment as a treatment can be performed.
【0124】つまり、基板保持ステージ3a,3bの各
基板保持面側の処理空間をそれぞれ各外郭部材46でそ
れぞれ覆って密閉すれば、図30の多関節ロボット81
によって基板搬送すると風圧が生じて塗布処理に悪影響
が生じたが、このような風圧による塗布処理への塗布ム
ラなどの悪影響を防止すると共に、例えば設置ルーム
(クリーンルーム)の扉の開閉などによる気圧変動で塗
布処理に対して塗布膜厚変動など悪影響が生じたが、こ
のような気圧変動による塗布処理への影響を防止するこ
とができる。したがって、例えば一方の塗布装置2aで
塗布中に他方の塗布装置2bで基板7のセッティングを
行っても風圧の干渉がなく塗布性能に悪影響がない。ま
た、例えば設置ルーム(クリーンルーム)の扉の開閉に
よる塗布性能への悪影響も排除されて塗布不良を発生さ
せない。That is, if the processing space on each substrate holding surface side of the substrate holding stages 3a and 3b is covered and sealed by each outer member 46, the articulated robot 81 in FIG.
When the substrate is transported, a wind pressure is generated and adversely affects the coating process. However, such a wind pressure prevents the coating process from being adversely affected, such as uneven coating, and a pressure fluctuation caused by, for example, opening and closing a door of an installation room (clean room). In this case, an adverse effect such as a change in the coating film thickness occurs on the coating process. Therefore, for example, even if the setting of the substrate 7 is performed by the other coating device 2b while the coating is performed by the one coating device 2a, there is no interference of the wind pressure and the coating performance is not adversely affected. In addition, for example, an adverse effect on coating performance due to opening and closing of a door of an installation room (clean room) is also eliminated, so that defective coating does not occur.
【0125】また、このような外郭部材46で塗布エリ
アを密閉することで、排気効率(特に下部からの)を向
上でき、溶剤雰囲気漏れを防止することができる。ま
た、密閉した外郭部材46内に均一気流を発生させる乾
燥促進機構47a,47bで、外郭部材46内の基板処
理部である塗布エリア内に層流を流すと共にその内部を
陽圧化すれば、浮遊パーティクルの発生を防止すると共
に、基板処理部へのパーティクルの侵入を防止すること
ができて、塗布エリア内の清浄度を保証することができ
る。また、この乾燥促進機構47a,47bで基板処理
および乾燥処理をより安定的に行うことができる。Further, by sealing the application area with the outer member 46, the exhaust efficiency (particularly from the lower part) can be improved, and the leakage of the solvent atmosphere can be prevented. In addition, the drying promotion mechanisms 47a and 47b that generate a uniform airflow in the sealed outer member 46 allow a laminar flow to flow into an application area, which is a substrate processing unit in the outer member 46, and make the inside thereof positive pressure. The generation of floating particles can be prevented, and the intrusion of particles into the substrate processing section can be prevented, so that the cleanliness in the application area can be guaranteed. Further, the substrate processing and the drying processing can be more stably performed by the drying promotion mechanisms 47a and 47b.
【0126】また、旋回手段4a,4bの各回動動作で
基板保持ステージ3a,3bをそれぞれ所定の搬送角度
姿勢である水平姿勢から垂直姿勢にし、この垂直姿勢に
変換後に塗布装置2a,2bの各基板処理位置である塗
布基準面までそれぞれ、ステージ移動手段5a,5bの
サーボ系によるねじ送り機構などの駆動源がそれぞれ基
板保持ステージ3a,3bをそれぞれパーティクル制御
(ソフトスタートおよびソフトストップ)しつつ水平移
動(スライド)させるため、浮遊パーティクルを発生さ
せるようなことなく、塗布装置2a,2bの各基板処理
位置にそれぞれ基板保持ステージ3a,3bをより正確
にそれぞれ移動させ位置させることができる。Further, the substrate holding stages 3a, 3b are respectively changed from a horizontal posture, which is a predetermined conveying angle posture, to a vertical posture by each rotation operation of the turning means 4a, 4b. A drive source such as a screw feed mechanism by a servo system of the stage moving means 5a, 5b horizontally controls the substrate holding stages 3a, 3b while performing particle control (soft start and soft stop), respectively, up to the coating reference plane which is the substrate processing position. Because of the movement (sliding), the substrate holding stages 3a and 3b can be more accurately moved and positioned at the respective substrate processing positions of the coating devices 2a and 2b without generating floating particles.
【0127】また、垂直姿勢の基板7および基板保持ス
テージ3a,3bを基板処理装置(塗布装置2a,2
b)の基板処理位置(塗布基準位置)である開口部38
に位置決めした状態でステージ固定手段39でこれをガ
タなく固定するため、より安定した基板処理(塗布処
理)を行うことができる。Further, the substrate 7 and the substrate holding stages 3a and 3b in the vertical posture are connected to a substrate processing apparatus (coating apparatuses 2a and 2b).
Opening 38 that is the substrate processing position (application reference position) in b)
In this state, the stage is fixed by the stage fixing means 39 without play, so that more stable substrate processing (coating processing) can be performed.
【0128】また、上記旋回手段4a,4bを用いた本
発明の基板7の基板保持ステージ3a,3b上へのセッ
ティングや、基板保持ステージ3a,3b上の基板7の
基板処理位置へのスライド移動が、縦型の塗布装置2
a,2bに効率よく適応させることができる。これらの
塗布装置2a,2bには、その下部にノズル洗浄および
待機位置があり、ステージ旋回動作(基板セット動作)
とノズル手段11の塗布開始位置(上方位置)への移動
タイミングをオーバーラップ可能であり処理タクトを短
縮することができる。また、本実施形態とは逆に、例え
ばノズル待機位置が上方の場合には、ステージ旋回動作
(基板セット動作)とノズル手段11の塗布後の待機位
置(上方位置)への移動タイミングをオーバーラップ可
能であり、やはりこの場合にも処理タクトを短縮するこ
とができる。The setting of the substrate 7 of the present invention on the substrate holding stages 3a, 3b using the above-mentioned turning means 4a, 4b, and the sliding movement of the substrate 7 on the substrate holding stages 3a, 3b to the substrate processing position. Is a vertical coating device 2
a, 2b can be efficiently adapted. These coating apparatuses 2a and 2b have nozzle cleaning and standby positions at the lower part thereof, and perform a stage rotating operation (substrate setting operation).
And the movement timing of the nozzle means 11 to the application start position (upper position) can be overlapped, and the processing tact can be shortened. Contrary to the present embodiment, for example, when the nozzle standby position is at the upper position, the stage turning operation (substrate setting operation) and the movement timing of the nozzle means 11 to the standby position (upper position) after coating are overlapped. It is possible, and also in this case, the processing tact can be shortened.
【0129】また、以上のように、処理前基板搬送経路
6の取込位置6aにおいて、対向配置された各塗布装置
2a,2bのうち一方の塗布装置2bに供給される基板
7のみ基板回動手段(第1基板回動手段)160で18
0度方向転換させた後に基板保持ステージ3bの基板保
持面上に基板移載手段8aで移送するため、対向配置さ
れた各塗布装置2a,2bへの基板セッティング方向は
同一方向となって、基板回動手段を設けない場合と比べ
て多面取りやタイトル表示などで生じる基板上下が逆に
なるという不都合を解消することができる。また、処理
済み基板搬送経路9の受渡位置9aにおいて、受渡位置
9a上に移送される180度方向転換した基板7のみ基
板回動手段(第2基板回動手段)160でさらに180
度方向転換させて元に戻すようにするため、各塗布装置
2a,2bから処理済み基板搬送経路9を経て次工程に
供給する基板方向が同一方向となって、次工程における
エッジリンス処理または各種露光などの基板処理を容易
なものとすることができる。As described above, at the take-in position 6a of the pre-processing substrate transfer path 6, only the substrate 7 supplied to one of the coating devices 2a and 2b disposed opposite to each other is rotated. Means (first substrate rotating means) 160 to 18
After the direction is changed by 0 degrees, the substrate is transferred onto the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b by the substrate transfer means 8a. Therefore, the substrate setting directions to the coating devices 2a and 2b disposed opposite to each other are the same, and It is possible to eliminate the inconvenience that the substrate is turned upside down, which occurs in multi-paneling and title display, as compared with the case where no rotating means is provided. Further, at the transfer position 9a of the processed substrate transfer path 9, only the substrate 7 that has been turned 180 degrees and transferred to the transfer position 9a is further rotated by 180 degrees by the substrate rotating means (second substrate rotating means) 160.
In order to change the direction and return to the original state, the direction of the substrate supplied from the coating apparatus 2a, 2b to the next step via the processed substrate transport path 9 becomes the same direction, and the edge rinse processing or various Substrate processing such as exposure can be facilitated.
【0130】さらに、この場合、次工程のエッジリンス
処理などの基板処理工程を、受渡位置9aに設けること
ができて、設置スペースを共用することができると共
に、システム全長の短縮化が可能でフットプリントの悪
化や、システム全長によるレイアウト上の制約を解消す
ることができる。Further, in this case, a substrate processing step such as an edge rinsing processing in the next step can be provided at the delivery position 9a, so that the installation space can be shared and the overall length of the system can be reduced, and the foot can be reduced. Deterioration of printing and layout restrictions due to the total length of the system can be eliminated.
【0131】A-4.本実施形態1における変形例 なお、上記実施形態1では、処理前基板搬送経路6およ
び処理済み基板搬送経路9の基板搬送姿勢は水平姿勢と
したが、これに限らず、この水平姿勢から多少傾いた傾
斜搬送姿勢であってもよい。この場合、傾斜搬送姿勢で
搬送されてきた基板7は、処理前基板移載手段8aや処
理済み基板移載手段8bで、一旦水平姿勢にするかまた
は直に、水平姿勢の基板保持ステージ3a,3b上に移
送するようにしてもよい。また、上記実施形態1では、
塗布装置2a,2bの塗布基準位置に対してそれぞれ、
基板保持ステージ3a,3bがそれぞれ垂直姿勢でセッ
ティングされるように構成したが、垂直姿勢から多少傾
いた傾斜姿勢で基板保持が為されて塗布処理が行われる
ように構成してもよい。この場合、旋回手段4a,4b
もそれぞれ、その傾斜姿勢まで基板保持ステージ3a,
3bをそれぞれ旋回させ、その状態のままで塗布装置2
a,2b側にそれぞれスライドさせて塗布基準位置とす
る。A-4. Modification of First Embodiment In the first embodiment, the substrate transfer posture of the pre-processed substrate transfer path 6 and the processed substrate transfer path 9 is a horizontal position, but is not limited to this. Alternatively, an inclined conveyance posture slightly inclined from this horizontal posture may be used. In this case, the substrate 7 conveyed in the inclined conveyance posture is temporarily set in the horizontal posture by the pre-processing substrate transfer means 8a or the processed substrate transfer means 8b, or immediately, in the horizontal posture. 3b. In the first embodiment,
With respect to the coating reference positions of the coating devices 2a and 2b,
Although the substrate holding stages 3a and 3b are configured to be set in the vertical posture, the substrate holding stages 3a and 3b may be configured to hold the substrate in an inclined posture slightly inclined from the vertical posture to perform the coating process. In this case, the turning means 4a, 4b
To the substrate holding stage 3a,
3b, and the coating device 2
Slide to the a and 2b sides respectively to set the application reference position.
【0132】また、上記実施形態1では、処理前基板搬
送経路6側においては取込位置6aに図8に示す基板回
動手段160を配置するとともに、処理済み基板搬送経
路9側においては受渡位置9aに図8に示す基板回動手
段160を配置しているが、基板回動手段の配設位置お
よび構成はこれらに限定されるものではなく、以下のよ
うに変形することができる。なお、この点に関しては、
後で説明する他の実施形態においても同様である。In the first embodiment, the substrate rotating means 160 shown in FIG. 8 is arranged at the take-in position 6a on the side of the unprocessed substrate transfer path 6 and the delivery position on the processed substrate transfer path 9 side. Although the substrate rotating means 160 shown in FIG. 8 is arranged in 9a, the arrangement position and configuration of the substrate rotating means are not limited to these, and can be modified as follows. In this regard, regarding this point,
The same applies to other embodiments described later.
【0133】すなわち、基板回動手段の配設位置につい
ては、処理前基板搬送経路6側、および処理済み基板搬
送経路9側ともに、それぞれ任意の位置に配設すること
ができる。また、取込位置6aに搬送される際、すでに
塗布装置2a,2bに対応して基板7の方向が制御され
ている場合には、処理前基板搬送経路6側に基板回動手
段160を設ける必要はない。また、エッジリンス処理
が必要でなく、しかも処理済み基板搬送経路9から処理
済み基板7が搬送される次の工程において基板方向が一
定でなくとも支障がない場合に、処理済み基板搬送経路
9側に基板回動手段を設ける必要はない。さらに、塗布
処理の際、基板7の方向を全く考慮する必要がない場合
には、処理前基板搬送経路6側、および処理済み基板搬
送経路9側ともに基板回動手段160を設けなくともよ
い。That is, the position of the substrate rotating means can be set at any position on each of the pre-processing substrate transfer path 6 and the processed substrate transfer path 9. Further, when the direction of the substrate 7 is already controlled corresponding to the coating apparatuses 2a and 2b when the substrate is transferred to the take-in position 6a, a substrate rotating means 160 is provided on the pre-processing substrate transfer path 6 side. No need. Further, in the case where the edge rinsing process is not required, and there is no problem even if the substrate direction is not constant in the next step in which the processed substrate 7 is transferred from the processed substrate transfer route 9, It is not necessary to provide a substrate rotating means on the substrate. Further, when it is not necessary to consider the direction of the substrate 7 at all during the coating processing, the substrate rotating means 160 may not be provided on both the pre-processing substrate transport path 6 side and the processed substrate transport path 9 side.
【0134】また、上記実施形態1では、基板回動手段
の一例として、図8および図9に示すものを示したが、
その構成はこれに限定されるものではなく、処理前基板
搬送経路6側および処理済み基板搬送経路9側の少なく
とも一方の基板回動手段160を以下のように構成して
もよい。In the first embodiment, the one shown in FIGS. 8 and 9 is shown as an example of the substrate rotating means.
The configuration is not limited to this, and at least one of the substrate rotating means 160 on the pre-processing substrate transport path 6 side and the processed substrate transport path 9 side may be configured as follows.
【0135】上記基板回動手段160では、センタリン
グ部材として図9に示す構成のものを採用しているが、
センタリング部材を、基板7のエッジを検出する複数の
エッジ検出手段およびその駆動制御手段で構成してもよ
い。このエッジ検出手段は、図13(a)に示すよう
に、基板7の面に対する検出部分173a〜173fを
備えている。これらの検出部分173a〜173fの各
々は、光ファイバーの一端を基板7の端縁部分(エッジ
部分)に対向配設する一方、その他端側にそれぞれ反射
型光センサ(図示せず)を配設したものであり、これら
によって基板7のセンタリング位置を検出する反射型光
検出ユニットが構成されている。また、この駆動制御手
段(図示せず)は、これらのエッジ検出手段の検出部分
173a〜173fからの端縁検出情報(オンかオフ
か)に基づいて、全てのエッジ検出手段の検出部分17
3a〜173fが基板端縁を検出(オン)するように、
図8の回動駆動アクチュエータ165およびXYテーブ
ル駆動部材166を駆動制御して基板7をセンタリング
するようになっている。In the substrate rotating means 160, the centering member having the structure shown in FIG. 9 is employed.
The centering member may be constituted by a plurality of edge detecting means for detecting the edge of the substrate 7 and its drive control means. As shown in FIG. 13A, the edge detection means includes detection portions 173a to 173f for the surface of the substrate 7. In each of these detection portions 173a to 173f, one end of the optical fiber is disposed to face an edge portion (edge portion) of the substrate 7, and a reflection type optical sensor (not shown) is disposed on the other end side. These components constitute a reflection-type light detection unit that detects the centering position of the substrate 7. Further, the drive control means (not shown), based on the edge detection information (on or off) from the detection parts 173a to 173f of these edge detection means, detects the detection parts 17 of all the edge detection means.
As 3a to 173f detect (turn on) the edge of the substrate,
The drive of the rotation drive actuator 165 and the XY table drive member 166 of FIG. 8 is controlled to center the substrate 7.
【0136】より具体的に説明すれば、駆動制御手段
は、図13(b)に示すように、エッジ検出手段の検出部
分173a,173bがオフで、検出部分173a,1
73bがオンの場合には、XYテーブル駆動部材166
を駆動制御して基板7を検出部分173a,173bが
オンするまで−X方向に移動するようになっている。More specifically, as shown in FIG. 13 (b), the drive control means turns off the detection parts 173a, 173b of the edge detection means and turns off the detection parts 173a, 173a.
When 73b is on, the XY table driving member 166
Is driven to move the substrate 7 in the -X direction until the detection portions 173a and 173b are turned on.
【0137】また、このようなX方向のアライメント時
に1つだけオフとなる場合、例えば図13(c)に示すよ
うに、エッジ検出手段の検出部分173a,173bお
よび検出部分173c,173dのうち検出部分173
aだけがオフで、検出部分173b〜173dがオンの
場合には、駆動制御手段は、回動駆動アクチュエータ1
65を駆動制御して基板7を検出部分173a,173
bおよび検出部分173c,173dがオン状態となる
まで基板7を矢印方向の反時計回りに回動するようにな
っている。また同様に、例えば検出部分173bだけが
オフで、検出部分173a,173c,173dがオン
の場合には、駆動制御手段は、回動駆動アクチュエータ
165を駆動制御して基板7を検出部分173a,17
3bおよび検出部分173c,173dが全てオン状態
となるまで基板7を矢印方向とは反対側の時計回りに回
動させるようになっている。これらの検出部分173
a,173bおよび検出部分173c,173dが全て
オン状態とならない場合には、さらに引き続いて、検出
部分173a,173bおよび検出部分173c,17
3dが全てオン状態となるまで上記X方向や回動方向の
アライメント動作を行うように、駆動制御手段は、XY
テーブル駆動部材166や回動駆動アクチュエータ16
5を駆動制御するようになっている。When only one of them is turned off at the time of such X-direction alignment, for example, as shown in FIG. 13 (c), the detection is performed among the detection portions 173a and 173b and the detection portions 173c and 173d of the edge detection means. Part 173
When only a is off and the detection portions 173b to 173d are on, the drive control means
65 is driven and the substrate 7 is detected by detecting portions 173a and 173.
The substrate 7 is rotated counterclockwise in the direction of the arrow until b and the detection portions 173c and 173d are turned on. Similarly, when, for example, only the detection portion 173b is off and the detection portions 173a, 173c, 173d are on, the drive control means drives and controls the rotary drive actuator 165 to move the substrate 7 to the detection portions 173a, 173.
The substrate 7 is rotated clockwise in the direction opposite to the arrow direction until all of the detection portions 3b and the detection portions 173c and 173d are turned on. These detection parts 173
If all of the detection portions 173a and 173b and the detection portions 173c and 173d are not turned on, the detection portions 173a and 173b and the detection portions 173c and 173d continue.
The drive control unit controls the XY control so that the alignment operation in the X direction and the rotation direction is performed until all the 3d are turned on.
Table driving member 166 and rotation driving actuator 16
5 is driven.
【0138】さらに、検出部分173a,173bおよ
び検出部分173c,173dが全てオン状態となった
後に、検出部分173e,173fも共にオン状態とな
るまで、駆動制御手段は、XYテーブル駆動部材166
を駆動制御して基板7をY方向(オフしている検出部分
173eまたは検出部分173f側)に移動させてアラ
イメント動作をするようになっている。以上のようにし
て、センタリング手段は、検出部分173a〜173f
を全てオン状態とするように基板7を移動させることに
よってセンタリングするようになっている。Further, after the detection portions 173a and 173b and the detection portions 173c and 173d are all turned on, the drive control means operates the XY table driving member 166 until both the detection portions 173e and 173f are turned on.
Is driven to move the substrate 7 in the Y direction (the detection portion 173e or the detection portion 173f that is off) to perform an alignment operation. As described above, the centering means detects the detection portions 173a to 173f.
The centering is performed by moving the substrate 7 so that all are turned on.
【0139】また、このように、センタリング部材(図
示せず)として、基板7のエッジを検出する6個のエッ
ジ検出手段(図示せず)およびその駆動制御手段で構成
したが、これに限らず、エッジ検出手段をその検出部分
173e,173c,173dの3点としてもよい。こ
の場合には、図13(d)の実線に示すように、基板7が
明らかに正位置から予め左下側に外れた位置に載置さ
れ、検出部分173c,173dが共にオン状態となる
まで、駆動制御手段は、XYテーブル駆動部材166を
駆動制御して基板7をX方向に移動させてX方向のアラ
イメント動作をするようになっている。このとき、検出
部分173c,173dの直前位置に減速ポイントを設
ければ、その減速ポイントからは微動にて基板7を移動
させ、検出部分173c,173dをより正確にオン状
態の正位置とすることができると共に、素早く正位置に
基板7を位置させることができるようになっている。こ
れらの検出部分173c,173dのうち何れか一方が
オン状態で他方がオフ状態の場合には、上記と同様に回
動補正を行うようになっている。つまり、検出部分17
3c,173dが共にオン状態となるまで、駆動制御手
段は、回動駆動アクチュエータ165を駆動制御して基
板7を所定回動方向(オフしている検出部分173cま
たは検出部分173d側の回動方向)に回動させてθ方
向のアライメント動作をするようになっている。さら
に、この回動補正の後に、検出部分173eがオン状態
となるまで、駆動制御手段は、XYテーブル駆動部材1
66を駆動制御して基板7をY方向に移動させてY方向
のアライメント動作をするようになっている。As described above, the centering member (not shown) is constituted by the six edge detecting means (not shown) for detecting the edge of the substrate 7 and its drive control means, but is not limited to this. Alternatively, the edge detection means may be three points of the detection portions 173e, 173c, 173d. In this case, as shown by a solid line in FIG. 13 (d), the substrate 7 is placed on a position deviated from the normal position to the lower left side in advance, and the detection portions 173c and 173d are both turned on. The drive control means drives and controls the XY table drive member 166 to move the substrate 7 in the X direction to perform an X-direction alignment operation. At this time, if a deceleration point is provided immediately before the detection portions 173c and 173d, the substrate 7 is moved by a slight movement from the deceleration point, and the detection portions 173c and 173d are more accurately set to the ON position of the ON state. And the substrate 7 can be quickly positioned at the correct position. When one of these detection parts 173c and 173d is in the ON state and the other is in the OFF state, the rotation correction is performed in the same manner as described above. That is, the detection part 17
Until both 3c and 173d are turned on, the drive control means drives and controls the rotation drive actuator 165 to move the substrate 7 in the predetermined rotation direction (the rotation direction on the side of the detection part 173c or the detection part 173d which is off). ) To perform an alignment operation in the θ direction. Further, after this rotation correction, the drive control means continues to control the XY table drive member 1 until the detection portion 173e is turned on.
66 is driven to move the substrate 7 in the Y direction to perform an alignment operation in the Y direction.
【0140】さらに、上記に限らず、センタリング部材
(図示せず)として、図14に示すように、基板載置部
材162a上にメカニカルセンタリング機構174を設
ける構成であってもよい。この基板載置部材162a
は、ベース板175上の適所に複数立設された各仮置ピ
ン176の先端部上に基板7をその裏面側から受けて支
持するようになっている。また、メカニカルセンタリン
グ機構174は、2組のラックとピニオン177よりな
っており、基板7の長辺と短辺の両側端面をそれぞれ挟
持するように当接させて基板7をセンタリングするべ
く、相対向する2組みのセンタリングローラ178a,
178bを同時に接近または離間自在に構成している。
これらのセンタリングローラ178aの接近または離間
動作は、センタリングシリンダ179により為されるよ
うになっており、このセンタリングシリンダ179のロ
ッドが伸長すれば、ラックとピニオン177により連動
して基板7の短辺に沿って位置する一対のセンタリング
ローラ178aが同時に互いに離間する方向に移動す
る。また、基板7の長辺にそって位置する一対のセンタ
リングローラ178bも同時に、図示しない別のラック
とピニオン及びセンタリングシリンダにより、離間及び
接近するように構成されている。そして、各仮置ピン1
76の先端部上に基板7が載置された後に、上述の2つ
のセンタリングシリンダのロッドを収縮させれば、一対
のセンタリングローラ178aと、一対のセンタリング
ローラ178bとが同時に接近する方向に移動して基板
7を、相対向する基板辺をそれぞれ挟持することでセン
タリングして位置決めするようになっている。Furthermore, the present invention is not limited to the above, and a mechanical centering mechanism 174 may be provided on the substrate mounting member 162a as a centering member (not shown) as shown in FIG. This substrate mounting member 162a
Is configured to receive and support the substrate 7 from the back side on the tip of each of the plurality of temporary placement pins 176 erected at appropriate places on the base plate 175. The mechanical centering mechanism 174 is composed of two sets of racks and pinions 177. The two sets of racks and pinions 177 are opposed to each other so that the long sides and the short sides of the substrate 7 are held in contact with each other so as to be held therebetween. Two sets of centering rollers 178a,
178b are configured so as to be able to approach or separate at the same time.
The approach or separation of the centering rollers 178a is performed by a centering cylinder 179. When the rod of the centering cylinder 179 extends, the rack and the pinion 177 work together to move the centering roller 178a to the short side of the substrate 7. A pair of centering rollers 178a located along the center move simultaneously in a direction away from each other. Also, a pair of centering rollers 178b located along the long side of the substrate 7 are simultaneously separated and approached by another rack (not shown), a pinion, and a centering cylinder. And each temporary placement pin 1
If the rods of the above-mentioned two centering cylinders are contracted after the substrate 7 has been placed on the tip of 76, the pair of centering rollers 178a and the pair of centering rollers 178b move in the direction of approaching simultaneously. The substrate 7 is centered and positioned by sandwiching the opposing substrate sides.
【0141】また、上記実施形態1では、処理前基板搬
送経路6側の基板回動手段160は、塗布装置2a,2
bでの基板7の方向を揃えるための基板回転調整と、セ
ンタリング機能とを兼ね備えたものであるが、図15に
示すように、基板回転調整に基板冷却機能を付加しても
よい。すなわち、基板回動手段には、図15に示すよう
な冷却プレート180を設けて基板7を冷却する構成と
することもできる。この冷却プレート180は内部を恒
温水が流れるように構成されていてもよく、また、この
冷却プレート180を昇降および回動可能に構成するこ
ともできる。つまり、この基板処理システムに搬送され
てくる基板は、その前工程において密着強化剤の塗布ま
たは洗浄の処理が施され、その際に加熱処理を受けて比
較的高温とされていることがある。このような場合にお
いては、処理前基板搬送経路6の途中の例えば基板待機
位置6xにおいて冷却プレート180を配置し、セッテ
ィング位置10a,10bへ搬送するまでの間、当該基
板待機位置6xにおいて冷却処理を施すようにすること
ができる。かかる構成により、冷却プレートを別に配置
する場合と比べて装置を小型化しつつ、基板を充分に冷
却した後に塗布装置2a,2bへ搬入して塗布処理を行
うことができる。In the first embodiment, the substrate rotating means 160 on the side of the pre-processing substrate transfer path 6 is provided with the coating devices 2a and 2b.
Although the substrate rotation adjustment for aligning the direction of the substrate 7 in b is combined with the centering function, a substrate cooling function may be added to the substrate rotation adjustment as shown in FIG. That is, the substrate rotating means may be provided with a cooling plate 180 as shown in FIG. 15 to cool the substrate 7. The cooling plate 180 may be configured so that constant-temperature water flows therein, or the cooling plate 180 may be configured to be able to move up and down and rotate. In other words, the substrate conveyed to the substrate processing system may be subjected to a process of applying or cleaning an adhesion enhancer in a previous process, and may be heated to a relatively high temperature at that time. In such a case, the cooling plate 180 is arranged at, for example, the substrate standby position 6x in the middle of the pre-processing substrate transport path 6, and the cooling process is performed at the substrate standby position 6x until the cooling plate 180 is transported to the setting positions 10a and 10b. Can be applied. With this configuration, the size of the apparatus can be reduced as compared with the case where the cooling plate is separately arranged, and the substrate can be sufficiently cooled and then loaded into the coating apparatuses 2a and 2b to perform the coating processing.
【0142】B.実施形態2 図16は、本発明の実施形態2の基板処理システムの概
略要部構成を模式的に示す平面図であり、図17は図1
6の基板処理システムの概略要部構成を模式的に示す斜
視図であり、上記実施形態1と同様の作用効果を奏する
部材には同一の符号を付すことにする。B. Embodiment 2 FIG. 16 is a plan view schematically showing a schematic main configuration of a substrate processing system according to Embodiment 2 of the present invention. FIG.
6 is a perspective view schematically illustrating a schematic configuration of a main part of the substrate processing system of FIG.
【0143】B-1.構成 この実施形態2が先に説明した実施形態1と大きく相違
する点は、上記実施形態1では取込位置6a及び受渡位
置9aとセッティング位置10a,10bとの間で搬送
姿勢を変えることなく基板7を直線的に移送するしてい
るの対し、本実施形態2では基板7の搬送姿勢の方向
と、基板保持ステージ3a,3b上への基板7のセッテ
ィング方向とが角度90度だけ異なっている点であり、
その他の基本的構成は同一である。B-1. Configuration The second embodiment is largely different from the first embodiment described above in that the first embodiment has a configuration between the take-in position 6a and the delivery position 9a and the setting positions 10a and 10b. While the substrate 7 is transferred linearly without changing the transfer posture, in the second embodiment, the direction of the transfer posture of the substrate 7 and the setting direction of the substrate 7 on the substrate holding stages 3a, 3b are different. That they differ by 90 degrees.
Other basic configurations are the same.
【0144】すなわち、この実施形態2にかかる基板処
理システム109では、処理前基板搬送経路6側に搬送
旋回アーム110aが配設され、処理前基板搬送経路6
の取込位置6a上の処理前の基板7を基板保持ステージ
3a,3bの各基板保持面上に移送する一方、処理済み
基板搬送経路9側に搬送旋回アーム110bが配設さ
れ、基板保持ステージ3a,3bの各基板保持面上の処
理済みの基板7を処理済み基板搬送経路9の受渡位置9
a上に移送するように構成されている。That is, in the substrate processing system 109 according to the second embodiment, the transfer swivel arm 110a is provided on the pre-processing substrate transfer path 6 side, and
While the substrate 7 before processing on the take-in position 6a is transferred onto each substrate holding surface of the substrate holding stages 3a and 3b, a transfer swivel arm 110b is provided on the processed substrate transfer path 9 side, and the substrate holding stage The processed substrate 7 on each of the substrate holding surfaces 3a and 3b is transferred to the transfer position 9 of the processed substrate transport path 9.
a.
【0145】これらの受入手段としての搬送旋回アーム
110a,110bは、アーム部材111a,111b
の各根本部分が水平旋回自在に軸支部112a,112
bで軸支されていると共に、各先端部分は基板保持用に
コ字状部113a,113bに形成されており、そのコ
字状に囲まれる上面部分には、そのコ字状に対応した基
板7の裏面外周部分を真空吸引可能な吸着部材としての
複数のバキュームパッド(図示せず)が細長い凹部(図
示せず)内に配設されている。また、搬送旋回アーム1
10a,110bの軸支部112a,112bは、主柱
部材114a,114bで支持されていると共に、アー
ム部材111a,111bは主柱部材114a,114
bによって基板取込みまたは基板受渡しのために上下に
昇降移動自在に構成されている。The transport turning arms 110a and 110b as receiving means are provided with arm members 111a and 111b.
Each of the root portions of the shaft support portions 112a, 112
b, and each tip is formed in U-shaped portions 113a and 113b for holding the substrate, and the upper surface portion surrounded by the U-shape has a substrate corresponding to the U-shape. A plurality of vacuum pads (not shown) as suction members capable of vacuum-sucking the outer peripheral portion of the back surface of 7 are disposed in an elongated concave portion (not shown). Also, the transfer swing arm 1
The shaft support portions 112a and 112b of 10a and 110b are supported by main column members 114a and 114b, and the arm members 111a and 111b are main column members 114a and 114b.
By means of b, it is configured to be able to move up and down vertically for taking in or transferring a substrate.
【0146】また、コ字状部113a,113bはそれ
ぞれ、各軸支部112a,112bをそれぞれ回動中心
として水平姿勢の基板保持ステージ3a,3b側に回動
する場合の回動側の突出部材115a,115bが、図
中実線で示すコ字状を形成する位置と、図中仮想線で示
すコ字状を開放したL字状をなす位置との間で回動自在
(本実施形態2では回動角度90度)に構成されてい
る。また、これらの各突出部材115a,115の回動
駆動は、ロータリーソレノイドやロータリーシリンダさ
らにはステッピングモータなどの駆動手段116a,1
16bによって搬送旋回アーム110a,110bの回
動動作の所定のタイミングに連動して行われるようにな
っている。The U-shaped portions 113a and 113b are pivotally protruding members 115a when pivoting toward the substrate holding stages 3a and 3b in a horizontal posture with the respective pivot portions 112a and 112b as pivot centers. , 115b are rotatable between a position forming a U-shape indicated by a solid line in the drawing and a position forming an L-shape opening the U-shape indicated by an imaginary line in the drawing (the rotation in the second embodiment). (Moving angle 90 degrees). The rotation of these projecting members 115a, 115 is performed by driving means 116a, 1 such as a rotary solenoid, a rotary cylinder, and a stepping motor.
16b, the rotation is performed in conjunction with a predetermined timing of the rotation operation of the transfer swing arms 110a and 110b.
【0147】B-2.実施形態2の動作 次に、上記のように構成された基板処理システムの動作
について説明するが、この実施形態2の基本動作は実施
形態1のそれと同一であり、両者が相違するのは取込位
置6a及び受渡位置9aとセッティング位置10a,1
0bとの間で搬送態様のみである。したがって、この相
違点を中心に動作を説明する。B-2. Operation of the Second Embodiment Next, the operation of the substrate processing system configured as described above will be described. The basic operation of the second embodiment is the same as that of the first embodiment. Are different from the take-in position 6a and the delivery position 9a and the setting positions 10a and 1a.
0b. Therefore, the operation will be described focusing on this difference.
【0148】(1) 未処理基板7の搬入 まず、前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位
置6aに塗布処理前の基板7が水平搬送され、基板回動
手段160(図8)に載置される。そして、搬送されて
きたままの状態の基板7をセンタリングした後、当該基
板7を搬送旋回アーム110aが受取る。すなわち、予
め処理前基板搬送経路6の取込位置6aの上方からコ字
状部113aを主柱部材114aによって下降させて取
込位置6aの載置部側面部分をコ字状部113aで囲む
状態で待機しておき、その取込位置6a(基板回動手段
160)上に基板7が搬送され、センタリングされる。
それに続いて、このコ字状部113aを主柱部材114
aによって上昇させて、そのコ字状部113aの内側平
面上に基板7の裏面外周縁部を下方から受けて載置する
と共に、その基板7の裏面外周縁部を複数のバキューム
パッド(図示せず)で真空吸引して保持する。(1) Loading of Unprocessed Substrate 7 First, the substrate 7 before the coating process is horizontally transported from the device in the previous process to the take-in position 6a of the pre-processed substrate transport path 6, and the substrate rotating means 160 (FIG. 8). ). Then, after centering the substrate 7 that has been transferred, the transfer turning arm 110a receives the substrate 7. That is, the U-shaped portion 113a is lowered by the main column member 114a from above the take-up position 6a of the pre-processing substrate transfer path 6 and the side surface of the mounting portion at the take-up position 6a is surrounded by the U-shaped portion 113a. The substrate 7 is transported to the take-in position 6a (substrate rotating means 160) and is centered.
Subsequently, the U-shaped portion 113a is
a, the outer peripheral edge of the rear surface of the substrate 7 is received and placed on the inner flat surface of the U-shaped portion 113a from below, and the outer peripheral edge of the rear surface of the substrate 7 is placed on a plurality of vacuum pads (not shown). )) And hold by vacuum suction.
【0149】また、旋回手段4aはその基板保持ステー
ジ3aの基板保持面がセッティング位置10aで水平姿
勢の状態で止まっている。このとき、基板保持ステージ
3aの下方にはリフトピンユニット33が重なるように
位置しており、その基板保持面上に複数のリフトピン3
4が突出した状態で基板7を受け得る状態になってい
る。また、この時、基板保持ステージ3bは塗布装置2
b側に起き上がっている。Further, the turning means 4a is stopped with the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a in a horizontal position at the setting position 10a. At this time, the lift pin unit 33 is positioned below the substrate holding stage 3a so as to overlap, and a plurality of lift pins 3 are placed on the substrate holding surface.
4 is in a state where it can receive the substrate 7 in a protruding state. At this time, the substrate holding stage 3b is
Standing on b side.
【0150】(2) リフトピン34への基板7の移載 次に、基板7をコ字状部113aの表面上に載置した状
態で、搬送旋回アーム110aは、軸支部112aを回
動中心としてアーム部材111aおよびそのコ字状部1
13aを所定角度(本実施形態2では回動角度90度)
回動させて、セッティング位置10aにおいて、水平姿
勢になっている基板保持ステージ3aの上方位置まで回
動する。このとき、コ字状部113aの表面上に載置さ
れた基板7は、搬送方向から所定角度(本実施形態2で
は回動角度90度)だけ回動した方向に向いている。基
板7をコ字状部113aの表面上に載置した搬送旋回ア
ーム110aは、基板保持ステージ3aの上方位置から
コ字状部113aを基板7と一緒に主柱部材114aに
よって下降させると共に、基板7の裏面外周縁部に対す
る複数のバキュームパッドによる真空吸引を解除して、
リフトピン34上に載置する。(2) Transfer of Substrate 7 to Lift Pins 34 Next, with the substrate 7 mounted on the surface of the U-shaped portion 113a, the transfer turning arm 110a rotates about the pivot 112a. Arm member 111a and its U-shaped portion 1
13a is a predetermined angle (rotation angle 90 degrees in the second embodiment)
By rotating, at the setting position 10a, it rotates to a position above the substrate holding stage 3a in a horizontal posture. At this time, the substrate 7 placed on the surface of the U-shaped portion 113a faces in a direction rotated by a predetermined angle (a rotation angle of 90 degrees in the second embodiment) from the transport direction. The transfer revolving arm 110a having the substrate 7 placed on the surface of the U-shaped portion 113a lowers the U-shaped portion 113a together with the substrate 7 from the position above the substrate holding stage 3a by the main column member 114a. 7, the vacuum suction by the plurality of vacuum pads on the outer peripheral edge of the back surface is released,
It is placed on the lift pins 34.
【0151】こうしてリフトピン34への基板7の移載
が完了すると、コ字状部113aの突出部材115a
は、駆動手段116aによって回動させてコ字状の一方
を開放させる。そして、この状態で、搬送旋回アーム1
10aは、先ほどとは逆方向の処理前基板搬送経路6の
取込位置6a側の上方位置まで、軸支部112aを回動
中心としてアーム部材111aおよびそのコ字状部11
3aを所定角度(本実施形態2では回動角度90度)回
動させる。さらに、その取込位置6aの上方位置からコ
字状部113aを主柱部材114aによって下降させて
取込位置6aの側面部分をコ字状部113aで囲んで、
取込位置6a上に次の処理前の基板7が搬送されて載置
されるのを待つことになる。When the transfer of the substrate 7 to the lift pins 34 is completed, the projecting members 115a of the U-shaped portion 113a are formed.
Is rotated by the driving means 116a to open one of the U-shape. Then, in this state, the transfer swing arm 1
Reference numeral 10a denotes an arm member 111a and its U-shaped portion 11 around the pivot 112a to a position above the take-up position 6a of the unprocessed substrate transfer path 6 in a direction opposite to the above.
3a is rotated by a predetermined angle (a rotation angle of 90 degrees in the second embodiment). Further, the U-shaped portion 113a is lowered by the main column member 114a from a position above the capturing position 6a, and the side surface portion of the capturing position 6a is surrounded by the U-shaped portion 113a.
It waits for the next unprocessed substrate 7 to be transported and placed on the take-in position 6a.
【0152】(3) 塗布装置2aでの塗布処理 続いて、このリフトピンユニット33は基板7が載置さ
れた複数のリフトピン34をゆっくりと下降させて基板
保持ステージ3aの基板保持面上に基板7を載置すると
共に、この基板保持面において、基板7のサイズに応じ
た基板外周縁部に対応した位置に沿って配設された複数
のバキュームパッド(図示せず)による真空吸引処理を
行って、基板7を水平姿勢のままで保持ステージ3aの
所定位置にセッティングして保持状態とする。そして、
基板保持ステージ3aが起き上がって塗布装置2aによ
る塗布処理が開始される。(3) Coating Processing by Coating Apparatus 2a Subsequently, the lift pin unit 33 slowly lowers the plurality of lift pins 34 on which the substrate 7 is placed, and places the substrate 7 on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a. And a vacuum suction process is performed on the substrate holding surface by a plurality of vacuum pads (not shown) arranged along positions corresponding to the outer peripheral edge of the substrate according to the size of the substrate 7. Then, the substrate 7 is set at a predetermined position of the holding stage 3a while keeping the horizontal posture, and is brought into a holding state. And
The substrate holding stage 3a rises and the coating process by the coating device 2a is started.
【0153】なお、塗布装置2aによる塗布処理が行わ
れている間に、基板保持ステージ3bがセッティング位
置10bに位置して次なる基板を塗布装置2bへセット
する作業が為される。それと同時に、次の未処理基板7
が前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6
aに水平搬送され、基板回動手段160(図8)に載置
される。While the coating process is being performed by the coating device 2a, the substrate holding stage 3b is located at the setting position 10b, and an operation of setting the next substrate to the coating device 2b is performed. At the same time, the next unprocessed substrate 7
Is the take-in position 6 of the pre-process substrate transfer path 6 from the device in the previous process.
a and is placed on the substrate rotating means 160 (FIG. 8).
【0154】(4) 基板7の180゜回転 上記のようにして取込位置6aに搬送された基板7につ
いては、塗布装置2bによって処理することとなるた
め、基板回動手段160によって180゜回転される。(4) 180 ° Rotation of Substrate 7 The substrate 7 conveyed to the take-in position 6a as described above is processed by the coating device 2b. Is done.
【0155】(5) リフトピン34への基板7の載置 次に、上記工程(2)と同様にして、取込位置6aの基板
7をリフトピン34の上に載置する。(5) Placement of Substrate 7 on Lift Pins 34 Next, the substrate 7 at the loading position 6a is placed on the lift pins 34 in the same manner as in the above step (2).
【0156】(6) 塗布装置2bでの塗布処理および処
理済み基板7の搬出 そして、工程(3)と同様にして、塗布装置2bによる基
板7への塗布処理を開始する。このとき、この実施形態
2では、工程(4)で塗布装置2bによる処理を施すべき
基板7については、取込位置6aで予め180゜回転さ
せており、塗布装置2a,2bに供給されセッティング
される基板7の方向は常に同一になる。(6) Coating process in coating device 2b and unloading of processed substrate 7 Then, in the same manner as in step (3), coating process on substrate 7 by coating device 2b is started. At this time, in the second embodiment, the substrate 7 to be subjected to the processing by the coating device 2b in the step (4) is previously rotated by 180 ° at the take-in position 6a, and is supplied to the coating devices 2a and 2b to be set. The direction of the substrate 7 is always the same.
【0157】一方、塗布装置2bへの基板7のセッティ
ング後に、塗布装置2aにおける乾燥処理が終了する
と、基板保持ステージ3aを水平姿勢に移動させた後、
複数のバキュームパッドによる吸引を解除すると共に、
リフトピンユニット33は基板7が載置された基板保持
ステージ3aの基板保持面に対して複数のリフトピン3
4をゆっくりと上昇させて基板保持ステージ3aの基板
保持面から、真空吸引解除後に張り付いた基板7を剥離
させつつ上昇させる。On the other hand, when the drying process in the coating device 2a is completed after the setting of the substrate 7 in the coating device 2b, the substrate holding stage 3a is moved to a horizontal posture.
While releasing suction by multiple vacuum pads,
The lift pin unit 33 is provided with a plurality of lift pins 3 on a substrate holding surface of the substrate holding stage 3a on which the substrate 7 is mounted.
4 is slowly lifted, and the substrate 7 stuck after releasing the vacuum suction is lifted from the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a while being peeled off.
【0158】この状態で、搬送旋回アーム110bは、
工程(2)での搬送旋回アーム110aと同様の動作で、
リフトピン34上の処理済みの基板7を処理済み基板搬
送経路9の受渡位置9aに配設された基板回動手段16
0上に移送する。In this state, the transport turning arm 110b is
In the same operation as the transfer swing arm 110a in the step (2),
The processed substrate 7 on the lift pins 34 is transferred to the substrate rotating means 16 disposed at the delivery position 9 a of the processed substrate transport path 9.
Transfer to 0.
【0159】つまり、コ字状部113bの突出部材11
5bは、駆動手段116bによって回動させてコ字状部
113bの一方を開放させると共に、コ字状部113b
を主柱部材114bによって下降させてリフトピン34
の先端部よりも低位置にする。この状態で、搬送旋回ア
ーム110bは、軸支部112bを回動中心としてアー
ム部材111bおよびそのコ字状部113bを所定角度
(本実施形態2では回動角度90度)回動させて、水平
姿勢になっているリフトピン34上の基板7の下方位置
まで回動する。ここで、コ字状部113bの突出部材1
15bは、駆動手段116bによって回動させてコ字状
にする。That is, the projecting member 11 of the U-shaped portion 113b
5b is rotated by the driving means 116b to open one of the U-shaped portions 113b and the U-shaped portion 113b
Is lowered by the main pillar member 114b, and the lift pins 34
Lower than the tip of In this state, the transport revolving arm 110b rotates the arm member 111b and the U-shaped portion 113b thereof about a pivotal support portion 112b as a center of rotation by a predetermined angle (a rotation angle of 90 degrees in the second embodiment), and sets the horizontal posture. Is rotated to a position below the substrate 7 on the lift pins 34 which are described above. Here, the protruding member 1 of the U-shaped portion 113b
15b is turned by the driving means 116b to have a U-shape.
【0160】さらに、搬送旋回アーム110bは、主柱
部材114bによってコ字状部113bを上昇させて、
そのコ字状部113bの平面上に基板7の裏面外周縁部
を下方から受けて載置すると共に、その基板7の裏面外
周縁部を複数のバキュームパッドで真空吸引して保持す
る。Further, the transport turning arm 110b raises the U-shaped portion 113b by the main column member 114b,
The outer peripheral edge of the rear surface of the substrate 7 is received and placed on the flat surface of the U-shaped portion 113b from below, and the outer peripheral edge of the rear surface of the substrate 7 is held by vacuum suction with a plurality of vacuum pads.
【0161】このように、基板7をコ字状部113bの
表面上に載置した状態で、搬送旋回アーム110bは、
軸支部112bを回動中心としてアーム部材111bお
よびそのコ字状部113bを所定角度(本実施形態2で
は回動角度90度)回動させて、水平姿勢の処理済み基
板搬送経路9の受渡位置9aの上方位置まで回動する。
このとき、コ字状部113bの表面上に載置された基板
7は、所定角度(本実施形態2では回動角度90度)回
動して所定の搬送方向に向くことになる。As described above, with the substrate 7 placed on the surface of the U-shaped portion 113b, the transport turning arm 110b
The arm member 111b and its U-shaped portion 113b are rotated by a predetermined angle (a rotation angle of 90 degrees in the second embodiment) around the pivotal support portion 112b as a rotation center, and the delivery position of the processed substrate transfer path 9 in a horizontal posture is transferred. It rotates to the position above 9a.
At this time, the substrate 7 placed on the surface of the U-shaped portion 113b rotates by a predetermined angle (in the second embodiment, a rotation angle of 90 degrees) and faces in a predetermined conveyance direction.
【0162】このように、受渡位置9aの上方位置で、
基板7をコ字状部113bの表面上に載置した搬送旋回
アーム110bは、コ字状部113bを基板7と一緒に
主柱部材114bによって下降させると共に、基板7の
裏面外周縁部に対する複数のバキュームパッドによる真
空吸引を解除して、受渡位置9aに配設された基板回動
手段160上に基板7を載置させる。As described above, at the position above the delivery position 9a,
The transfer revolving arm 110b, on which the substrate 7 is placed on the surface of the U-shaped portion 113b, lowers the U-shaped portion 113b together with the substrate 7 by the main column member 114b, and also moves the plurality of Then, the vacuum suction by the vacuum pad is released, and the substrate 7 is placed on the substrate rotating means 160 disposed at the delivery position 9a.
【0163】このようにした受渡位置9aへの処理済み
基板7の移送と並行して、工程(1)と同様にして次の未
処理基板7が搬入されて塗布装置2aでの塗布処理に備
える。In parallel with the transfer of the processed substrate 7 to the delivery position 9a as described above, the next unprocessed substrate 7 is carried in in the same manner as in the step (1) to prepare for the coating process in the coating device 2a. .
【0164】(7) 基板7のエッジリンス処理 受渡位置9aに搬送されてきた基板7については、受渡
位置9aの近傍に配置されたエッジリンス処理装置19
0によって不要な塗布膜が取り除かれてエッジリンス処
理が行われる。こうして、塗布処理およびエッジリンス
処理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処
理工程に搬送される。(7) Edge Rinse Processing of the Substrate 7 For the substrate 7 transported to the delivery position 9a, the edge rinsing device 19 disposed near the delivery position 9a
By 0, the unnecessary coating film is removed and the edge rinsing process is performed. Thus, the substrate 7 that has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0165】(8) 塗布装置2bからの処理済み基板7
の搬出 そして、工程(2)と同様にして取込位置6aの基板7を
リフトピン34の上に載置した後、さらに工程(3)と同
様にして当該基板7を塗布装置2aにセットする。(8) Treated substrate 7 from coating device 2b
Then, the substrate 7 at the loading position 6a is placed on the lift pins 34 in the same manner as in the step (2), and then the substrate 7 is set in the coating apparatus 2a in the same manner as in the step (3).
【0166】塗布装置2aへの基板7のセッティング後
に、塗布装置2bにおける乾燥処理が終了すると、工程
(6)と同様にして、塗布装置2bから処理済み基板7を
搬出し、基板搬送経路9の受渡位置9aにおける基板回
動手段160上に載置するように移送する。After the setting of the substrate 7 in the coating device 2a, the drying process in the coating device 2b is completed.
In the same manner as in (6), the processed substrate 7 is carried out from the coating apparatus 2b and transferred so as to be placed on the substrate rotating means 160 at the delivery position 9a of the substrate transfer path 9.
【0167】なお、これと並行して、次の未処理基板7
が前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6
aに水平搬送され、基板回動手段160(図8)に載置
される。In parallel with this, the next unprocessed substrate 7
Is the take-in position 6 of the pre-process substrate transfer path 6 from the device in the previous process.
a and is placed on the substrate rotating means 160 (FIG. 8).
【0168】(9) 基板7のエッジリンス処理 基板搬送経路9の受渡位置9aに設けられた基板回動手
段160に搬送されてきた処理済み基板7については、
工程(4)と同様にして、基板回動手段160によって1
80゜回転される。これによって、この受渡位置9aで
は、常に基板7の方向が同一、つまり基板7の下端縁7
aがエッジリンス部192側を向いている。そして、こ
れに続いて、上記工程(7)と同様に、基板7の塗布面側
の端縁部分に所定の処理液を供給し、不要な塗布膜が取
り除かれてエッジリンス処理が行われる。(9) Edge Rinse Processing of the Substrate 7 The processed substrate 7 transported to the substrate rotating means 160 provided at the transfer position 9a of the substrate transport path 9 is:
In the same manner as in step (4), 1
Rotated by 80 °. Thus, at the delivery position 9a, the direction of the substrate 7 is always the same, that is, the lower edge 7 of the substrate 7
a faces the edge rinse portion 192 side. Subsequently, similarly to the above step (7), a predetermined processing liquid is supplied to the edge portion on the coating surface side of the substrate 7 to remove an unnecessary coating film and perform an edge rinsing process.
【0169】こうして、塗布処理およびエッジリンス処
理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処理
工程に搬送される。The substrate 7 that has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0170】本実施形態では、上記一連の処理ステップ
が繰り返されて基板7が順次処理(塗布処理+エッジリ
ンス処理)を受ける。In the present embodiment, the above series of processing steps are repeated, and the substrate 7 is sequentially subjected to processing (coating processing + edge rinsing processing).
【0171】B-3.実施形態2による効果 上記のように、本実施形態2では基板7の搬送姿勢の方
向と、基板保持ステージ3a,3b上への基板7のセッ
ティング方向とが角度90度だけ異なっている点を除
き、基本的構成および動作は実施形態1と同一であるた
め、実施形態1と同様の効果が得られる。B-3. Effects of Second Embodiment As described above, in the second embodiment, the direction of the transfer posture of the substrate 7 and the setting direction of the substrate 7 on the substrate holding stages 3a and 3b are at an angle of 90 degrees. Except for this point, the basic configuration and operation are the same as those of the first embodiment, so that the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
【0172】なお、搬送旋回アーム110aによって、
処理前の基板7の搬送姿勢を塗布装置2a,2bの基板
セッティング方向に所定角度(本実施形態2では回動角
度90度)だけ回動させてセッティングするとともに、
搬送旋回アーム110bによって、処理済みの基板7を
塗布装置2a,2bの基板セッティング方向から搬送方
向に所定角度(本実施形態2では回動角度90度)だけ
回動させて基板搬送するようにしている。このため、基
板処理システム全体をコンパクトにすることができる。Note that the transfer swivel arm 110a provides
The transport posture of the substrate 7 before processing is set by rotating the substrate 7 by a predetermined angle (rotation angle 90 degrees in the second embodiment) in the substrate setting direction of the coating apparatuses 2a and 2b.
The transport turning arm 110b rotates the processed substrate 7 by a predetermined angle (a rotation angle of 90 degrees in the second embodiment) in the transport direction from the substrate setting direction of the coating apparatuses 2a and 2b to transport the substrate. I have. Therefore, the entire substrate processing system can be made compact.
【0173】B-4.本実施形態2における変形例 なお、基板搬送経路6,9については、以下のように構
成することもできる。すなわち、図18および図19に
は、処理前基板搬送経路6に、搬送旋回アーム110a
上に処理前の基板7を搬送するシャトルアーム117a
が設けられ、処理済み基板搬送経路9に、搬送旋回アー
ム110b上から処理済みの基板7を搬送するシャトル
アーム117bが設けられている。B-4. Modification Example of Second Embodiment The substrate transfer paths 6 and 9 may be configured as follows. That is, in FIGS. 18 and 19, the transport turning arm 110a
Shuttle arm 117a for transporting substrate 7 before processing
And a shuttle arm 117b that transports the processed substrate 7 from above the transport turning arm 110b is provided in the processed substrate transport path 9.
【0174】図18および図19に示すように、これら
のシャトルアーム117a,117bはそれぞれ、基板
7の中央部分の裏面端縁を下方から受けて保持したりそ
の保持を開放するべく、基板7の幅方向(基板搬送方向
とは直交する方向)に接近または離間自在な基板保持爪
118a,118bを有している。また、シャトルアー
ム117a,117bはそれぞれ、搬送方向に延びるレ
ール119a,119bにそれぞれ沿って所定の搬送距
離だけタクト送り可能に構成されている。さらに、シャ
トルアーム117a,117bはそれぞれ、基板7を取
り込みまたは受渡し可能なように、基板7を保持可能な
基板保持爪118a,118bを上下に昇降移動自在に
構成されている。この場合、搬送旋回アーム110a,
110bはそれぞれ、シャトルアーム117a,117
bの先端部分の基板保持爪118a,118bが逃げる
ように、図示していないが、切欠き部を設けるか段差部
を設けて、シャトルアーム117aから搬送旋回アーム
110aのコ字状部113a上に直に、また、搬送旋回
アーム110bのコ字状部113bからシャトルアーム
117bに直に基板7の受渡しが行われ得るように構成
することができる。As shown in FIGS. 18 and 19, the shuttle arms 117a and 117b respectively receive and hold the rear edge of the central portion of the substrate 7 from below, and release the holding. It has substrate holding claws 118a and 118b which can approach or separate in the width direction (the direction orthogonal to the substrate transport direction). The shuttle arms 117a and 117b are configured to be capable of tact feeding by a predetermined transfer distance along rails 119a and 119b extending in the transfer direction, respectively. Further, the shuttle arms 117a and 117b are configured to vertically move the substrate holding claws 118a and 118b capable of holding the substrate 7 so as to be able to take in or transfer the substrate 7. In this case, the transfer swing arms 110a,
110b are shuttle arms 117a and 117, respectively.
Although not shown, a notch or a stepped portion is provided so that the substrate holding claws 118a and 118b at the front end portion of the b may escape from the shuttle arm 117a and the U-shaped portion 113a of the transport turning arm 110a. The substrate 7 can be directly transferred from the U-shaped portion 113b of the transfer swivel arm 110b to the shuttle arm 117b.
【0175】C.実施形態3 図20は、本発明の実施形態3の基板処理システムの概
略要部構成を模式的に示す平面図であり、図21は図2
0の基板処理システムの概略要部構成を模式的に示す斜
視図であり、上記実施形態1と同様の作用効果を奏する
部材には同一の符号を付すことにする。C. Third Embodiment FIG. 20 is a plan view schematically showing a schematic configuration of a main part of a substrate processing system according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view schematically showing a configuration of a main part of the substrate processing system of No. 0, and members having the same functions and effects as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals.
【0176】C-1.構成 この実施形態3が先に説明した実施形態1と大きく相違
する点は、実施形態1では塗布装置2a,2bを対向配
置としているのに対したが、本実施形態3では塗布装置
2a,2bをその処理中における基板面が直角または鈍
角をなす角度に隣接配置している点である。また、この
実施形態3では、処理前基板搬送経路6側において取込
位置6aに基板回動手段を設けずに、処理前基板移載手
段に基板回動機能を付加するとともに、処理済み基板搬
送経路9側においても受渡位置9aに基板回動手段を設
けずに、処理済み基板移載手段に基板回動機能を付加し
ており、この点で実施形態1と相違する。なお、その他
の基本的構成は同一である。C-1. Configuration A major difference of the third embodiment from the first embodiment described above is that the coating devices 2a and 2b are opposed to each other in the first embodiment. 3 is that the coating apparatuses 2a and 2b are arranged adjacent to each other at an angle where the substrate surface during processing is a right angle or an obtuse angle. In the third embodiment, a substrate rotation function is added to the pre-processing substrate transfer means without providing the substrate rotation means at the take-in position 6a on the pre-processing substrate transfer path 6 side. On the path 9 side as well, a substrate rotation function is added to the processed substrate transfer means without providing the substrate rotation means at the delivery position 9a, and this is different from the first embodiment. The other basic configurations are the same.
【0177】すなわち、これらの図に示すように、この
実施形態にかかる基板処理システム120では、基板処
理装置としての塗布装置2a,2bが、処理前基板搬送
経路6と処理済み基板搬送経路9とがなす直線の片側
に、上から見て折れ曲がった状態で隣設配置(本実施形
態3では直角に隣接配置)されている。また、この隣設
された塗布装置2a,2bに対して旋回手段4a,4b
がそれぞれ設けられており、基板7を保持する基板保持
ステージ3a,3bの各基板保持面が軸支部を回動中心
として所定角度姿勢(本実施形態3では水平姿勢)と垂
直または傾斜姿勢(本実施形態3では垂直姿勢)の何れ
かになるように基板保持ステージ3a,3bを回動自在
となっている。しかも、旋回手段4a,4bは、上記実
施形態1,2と同様に、基板保持ステージ3a,3bが
水平姿勢となるセッティング位置10a,10bを基板
セッティングエリアとして共用するように隣設されてい
る。That is, as shown in these figures, in the substrate processing system 120 according to the present embodiment, the coating apparatuses 2a and 2b as the substrate processing apparatuses include the pre-processing substrate transport path 6, the processed substrate transport path 9, One side of the straight line formed is disposed adjacently (in the third embodiment, adjacently disposed at a right angle) in a bent state when viewed from above. Further, swirling means 4a, 4b are provided for the coating devices 2a, 2b provided next to each other.
Each of the substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a and 3b for holding the substrate 7 has a predetermined angle posture (horizontal posture in the third embodiment) and a vertical or inclined posture (this In the third embodiment, the substrate holding stages 3a and 3b are rotatable so as to be in one of the vertical postures. In addition, similarly to the first and second embodiments, the turning means 4a and 4b are provided adjacently so that the setting positions 10a and 10b where the substrate holding stages 3a and 3b are in a horizontal posture are shared as a substrate setting area.
【0178】また、基板保持ステージ3a,3bへの基
板搬送機構として水平姿勢の基板保持ステージ3a,3
bの各基板保持面上にそれぞれ交互に移送する処理前基
板移載手段121aが配設されるとともに、基板保持ス
テージ3a,3bからの基板搬送機構として塗布装置2
a,2bでそれぞれ塗布された処理済み基板7を水平姿
勢の基板保持ステージ3a,3bからそれぞれ受入手段
としての基板載置部121bb上に移送する処理済み基
板移載手段121bが配設されている。なお、これら処
理前基板移載手段121aおよび処理済み基板移載手段
121bは、いずれも同一構成を有しているため、ここ
では、処理前基板移載手段121aの構成のみを詳述
し、処理済み基板移載手段121bの各部については同
一または相当符合を付して説明を省略する。Further, the substrate holding stages 3a, 3b in a horizontal posture are used as a substrate transfer mechanism to the substrate holding stages 3a, 3b.
b, a pre-processing substrate transfer means 121a for alternately transferring the substrate on each of the substrate holding surfaces is provided, and the coating apparatus 2 serves as a substrate transfer mechanism from the substrate holding stages 3a and 3b.
A processed substrate transfer means 121b for transferring the processed substrates 7 applied in a and 2b from the substrate holding stages 3a and 3b in a horizontal position onto a substrate mounting portion 121bb as a receiving means, respectively, is provided. . Since the pre-processing substrate transfer means 121a and the processed substrate transfer means 121b have the same configuration, only the configuration of the pre-processing substrate transfer means 121a will be described in detail here. The components of the completed substrate transfer means 121b are denoted by the same or corresponding reference numerals, and description thereof is omitted.
【0179】この処理前基板移載手段121aは、図2
1に示すように、基板7を基板載置部121aaで下方
から受けて支持すると共に基板7を時計回りに角度45
度回動させるかまたは反時計回りに角度45度回動させ
る基板回動手段121aaaと、この基板回動手段の受
入手段としての基板載置部121aa上の基板7を基板
載置部122a上に保持して、基板載置部122a上か
ら基板保持ステージ3a,3bの各基板保持面上に交互
に受け渡すべく移送する基板搬送手段123aとを有し
ている。かかる構成において、塗布装置2bの基板保持
ステージ3bに対して基板7を搬入搬出する際には、処
理前基板移載手段121aは基板載置部121aaで支
持した基板7を反時計回りに45度回動させて基板保持
ステージ3b上へ搬入し、処理済み基板移載手段121
bは、基板載置部122bbで支持した基板7を時計回
りに45度回動させて処理済み基板搬送経路9へ引き渡
す(図20参照)。また、塗布装置2aの基板保持ステ
ージ3aへ基板7を搬入搬出する際には、それぞれの回
動向きを逆にする。これは、塗布装置2a,2bにおけ
る基板7の長辺と短辺の向きをそろえるためである。This pre-processing substrate transfer means 121a is provided by
As shown in FIG. 1, the substrate 7 is received and supported by the substrate mounting portion 121aa from below, and the substrate 7 is rotated clockwise by 45 °.
And a substrate 7 on the substrate mounting portion 121aa serving as a receiving device of the substrate rotating device. There is provided a substrate transport means 123a for holding and transporting the substrate so as to alternately transfer it from the substrate mounting portion 122a to each of the substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a and 3b. In such a configuration, when carrying in / out the substrate 7 to / from the substrate holding stage 3b of the coating apparatus 2b, the pre-processing substrate transfer means 121a rotates the substrate 7 supported by the substrate mounting portion 121aa counterclockwise by 45 degrees. The substrate is transferred to the substrate holding stage 3b by rotating,
b turns the substrate 7 supported by the substrate mounting portion 122bb clockwise 45 degrees and delivers it to the processed substrate transport path 9 (see FIG. 20). When loading and unloading the substrate 7 to and from the substrate holding stage 3a of the coating device 2a, the respective rotating directions are reversed. This is because the directions of the long side and the short side of the substrate 7 in the coating apparatuses 2a and 2b are aligned.
【0180】この処理前基板搬送用の基板搬送手段12
3aは、基板7の裏面外周縁部に対する複数のバキュー
ムパッド124による真空吸引で基板7を保持する基板
載置部122aと、この基板載置部122aを、ラック
およびピニオンと駆動モータ125aによる駆動手段に
よって基板保持ステージ3a,3bの各基板保持面に対
応した位置と取込位置との間でアーム126aを介して
水平に伸縮可能な水平送り手段127aと、この基板載
置部122aをアーム126aと共に上下に移動させる
上下移動手段(図示せず)とを有している。The substrate transporting means 12 for transporting the substrate before processing
Reference numeral 3a denotes a substrate mounting portion 122a for holding the substrate 7 by vacuum suction by a plurality of vacuum pads 124 with respect to the outer peripheral edge portion of the rear surface of the substrate 7, and a driving means by a rack and a pinion and a driving motor 125a. The horizontal feeding means 127a which can be horizontally extended and contracted via an arm 126a between a position corresponding to each substrate holding surface of the substrate holding stages 3a and 3b and a take-in position, and the substrate mounting portion 122a is moved together with the arm 126a. And a vertical moving means (not shown) for moving vertically.
【0181】また、基板載置部122aには、角部材1
28が互いに平行に配設されている。この角部材128
の段落ちした中央平面部分では基板7を載置可能となっ
ているのに対し、その中央平面部分以外の両側には、基
板7の長辺ピッチ位置に対応し、その基板長辺に沿った
方向とその方向に対して直角な基板短辺方向とに回動自
在でその上面が中央平面部分と面一な各回動載置部材1
29が配設されている。また、各回動載置部材129の
内側に、基板7の短辺ピッチ位置にも、その基板短辺に
沿った方向とその方向に対して直角な基板長辺方向とに
回動自在でその上面が中央平面部分および各回動載置部
材129と面一な各回動載置部材130が配設されてい
る。これらの各回動載置部材129,130および角部
材128の中央平面部分上には、真空吸引可能な吸着部
材としての複数のバキュームパッド124が細長い凹部
(図示せず)内に配設されている。このバキュームパッ
ド124内には、図示していないが、その内部を減圧可
能な減圧用チューブの先端部が開口しており、基板7の
裏面側外周縁部への複数のバキュームパッド124によ
る真空吸着で基板7を保持するようになっている。これ
らの各回動載置部材129,130の回動駆動は、ロー
タリーソレノイドやロータリーシリンダさらにはステッ
ピングモータなどの駆動手段(図示せず)によって行わ
れるようになっている。The corner member 1 is mounted on the substrate mounting portion 122a.
28 are arranged in parallel with each other. This corner member 128
The substrate 7 can be placed on the stepped central plane portion, while on both sides other than the central plane portion, corresponding to the long side pitch position of the substrate 7, along the substrate long side. Each rotation mounting member 1 is rotatable in a direction and a substrate short side direction perpendicular to the direction, and the upper surface thereof is flush with the central plane portion.
29 are provided. Also, inside each of the rotation mounting members 129, the position of the short side pitch of the substrate 7 is freely rotatable in the direction along the short side of the substrate and in the direction of the long side of the substrate perpendicular to the direction. However, each of the rotary mounting members 130 is flush with the central plane portion and each of the rotary mounting members 129. A plurality of vacuum pads 124 as suction members capable of vacuum suction are provided in an elongated concave portion (not shown) on the center plane portion of each of the rotating mounting members 129 and 130 and the corner member 128. . Although not shown, the vacuum pad 124 has an opening at the tip end of a decompression tube capable of depressurizing the inside thereof, and a plurality of vacuum pads 124 adsorb the vacuum on the outer peripheral edge of the back surface of the substrate 7. Holds the substrate 7. The rotation of each of the rotation mounting members 129 and 130 is performed by driving means (not shown) such as a rotary solenoid, a rotary cylinder, and a stepping motor.
【0182】また、互いに平行に配設された角部材12
8は、駆動モータ131によって駆動機構を介して接近
または離間自在に構成されており、各角部材128間の
距離が基板7の短辺寸法の場合には、基板短辺方向に回
動した各回動載置部材129と、基板長辺に沿った方向
に回動した各回動載置部材130および角部材128の
中央平面部分とによってコ字状に囲まれる各上面部分が
対向して配設され、これらの各上面部分がそれぞれ基板
7の裏側の各長辺側にそれぞれ対応するようになってい
る。また、各角部材128間の距離が基板7の長辺寸法
の場合には、基板長辺方向に回動した各回動載置部材1
30と、角部材128の中央平面部分とによってコ字状
に囲まれる各上面部分が対向して配設され、これらの各
上面部分がそれぞれ基板7の裏側の各短辺側にそれぞれ
対応するようになっている。このような塗布装置2a,
2bに対応した場合の角部材128の距離調整と各回動
載置部材129,130の回動タイミングはそれぞれ交
互に行われて、その対向位置した各コ字状部が、回動さ
れた基板7の裏側外周縁部に対応するようになってい
る。The corner members 12 arranged in parallel with each other
Numeral 8 is configured so that it can be freely approached or separated by a drive motor 131 via a drive mechanism. When the distance between the corner members 128 is the short side dimension of the substrate 7, each rotation is performed in the substrate short side direction. Each upper surface portion surrounded by a U-shape by the moving mounting member 129 and the central plane portion of each of the rotating mounting member 130 and the corner member 128 rotated in the direction along the long side of the substrate is disposed to face each other. Each of these top surfaces corresponds to each long side on the back side of the substrate 7. When the distance between the corner members 128 is the length of the long side of the substrate 7, each of the rotating mounting members 1 rotated in the direction of the long side of the substrate 7.
The upper surface portions surrounded by the U-shaped portion 30 and the central plane portion of the corner member 128 are disposed so as to face each other, and these upper surface portions correspond to the respective short sides on the back side of the substrate 7. It has become. Such a coating device 2a,
2b, the distance adjustment of the corner member 128 and the rotation timing of each of the rotation mounting members 129 and 130 are performed alternately, and the U-shaped portions opposed to each other are moved to the rotated substrate 7. Corresponds to the outer peripheral edge on the back side.
【0183】さらに、基板7の上下受渡し動作、水平送
り動作、角部材128の距離調整および各回動載置部材
129,130の回動動作、さらには、複数のバキュー
ムパッド124による真空吸引または真空吸引解除動作
における駆動タイミングは各駆動手段がシーケンサやマ
イクロコンピュータからの指示に従って各動作を順次実
行するようになっている。Further, the vertical transfer operation of the substrate 7, the horizontal feeding operation, the distance adjustment of the corner member 128, the rotation operation of each of the rotation mounting members 129 and 130, and the vacuum suction or vacuum suction by the plurality of vacuum pads 124. The drive timing in the release operation is such that each drive means sequentially executes each operation in accordance with an instruction from a sequencer or a microcomputer.
【0184】C-2.実施形態3の動作 次に、上記のように構成された基板処理システムの動作
について説明する。 (1) 未処理基板7の搬入および基板待機位置への移動 まず、前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位
置6aに塗布処理前の基板7が水平搬送されると、当該
基板7を基板回動手段121aaaはその基板載置部1
21aaで受取り、基板7と共に搬送方向から反時計回
りに角度45度だけ回動し、このとき、基板7の長辺側
が基板載置部122aの角部材128に対して平行な状
態となる。また、各角部材128間の距離が基板7の短
辺寸法になるように駆動モータ131による駆動で角部
材128の距離を調整し、各回動載置部材129を基板
短辺方向に回動させ、各回動載置部材130を基板長辺
に沿った方向に回動させておくことで、基板載置部12
2aは、各回動載置部材129,130および角部材1
28の中央平面部分によってコ字状に囲まれる各上面部
分が対向して、これらの各上面部分がそれぞれ基板7の
裏側の各長辺側外周縁部にそれぞれ対応した位置にな
る。この状態で、基板載置部122aを上方に移動させ
ると共に、複数のバキュームパッド124による真空吸
着を駆動させて、基板載置部121aa上から基板載置
部122a上に基板7を取り込んで保持する。その後
で、基板7を基板待機位置6xに搬送する。C-2. Operation of Embodiment 3 Next, the operation of the substrate processing system configured as described above will be described. (1) Loading of Unprocessed Substrate 7 and Movement to Substrate Standby Position First, when the substrate 7 before the coating process is horizontally transferred from the device in the previous process to the take-in position 6a of the pre-processed substrate transfer path 6, the substrate is 7 is the substrate rotation unit 121aaa.
At 21aa, it is rotated counterclockwise with the substrate 7 counterclockwise by an angle of 45 degrees. At this time, the long side of the substrate 7 is parallel to the corner member 128 of the substrate mounting portion 122a. Further, the distance between the corner members 128 is adjusted by driving by the drive motor 131 so that the distance between the respective corner members 128 becomes the short side dimension of the substrate 7, and each rotation mounting member 129 is rotated in the direction of the substrate short side. By rotating each rotation mounting member 130 in a direction along the long side of the substrate, the substrate mounting portion 12
2a is the rotary mounting members 129 and 130 and the square member 1
The upper surface portions surrounded in a U-shape by the central plane portion of 28 oppose each other, and these upper surface portions are located at positions corresponding to the outer peripheral edges of the long sides on the back side of the substrate 7, respectively. In this state, the substrate mounting part 122a is moved upward, and the vacuum suction by the plurality of vacuum pads 124 is driven to capture and hold the substrate 7 from the substrate mounting part 121aa to the substrate mounting part 122a. . Thereafter, the substrate 7 is transported to the substrate standby position 6x.
【0185】また、図20および図21に示すように、
旋回手段4bはその基板保持ステージ3bの基板保持面
がセッティング位置10bで水平姿勢の状態で止まって
いる。このとき、基板保持ステージ3bの下方にはリフ
トピンユニット33が重なるように位置しており、その
基板保持面上に複数のリフトピン34が突出した状態で
基板7を受け得る状態になっている。また、この時、基
板保持ステージ3aは塗布装置2a側に起き上がってい
る。As shown in FIGS. 20 and 21,
The turning means 4b is stopped with the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b in a horizontal position at the setting position 10b. At this time, the lift pin unit 33 is positioned below the substrate holding stage 3b so as to overlap with the substrate holding stage 3b, so that the substrate 7 can be received with the plurality of lift pins 34 protruding above the substrate holding surface. Also, at this time, the substrate holding stage 3a has risen to the coating device 2a side.
【0186】(2) リフトピン34への基板7の移載 次に、基板載置部122aを基板7と共に、基板保持ス
テージ3bの基板保持面の上方まで水平送り手段127
aでアーム126aを介して水平に移動させる。さら
に、上下移動手段(図示せず)によって基板載置部12
2aをアーム126aと一緒に下降させると共に、複数
のバキュームパッド124による基板7の真空吸着を解
除させ、リフトピン34の上に基板7を受け渡す。この
とき、対向した一対のコ字状部分の開口エリア内に基板
保持ステージ3bが内在した状態となっている。(2) Transferring the substrate 7 to the lift pins 34 Next, the substrate mounting portion 122a is moved together with the substrate 7 to a horizontal feeding means 127 to a position above the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b.
a to move horizontally via the arm 126a. Further, the substrate mounting portion 12 is moved by a vertical moving means (not shown).
2a is lowered together with the arm 126a, the vacuum suction of the substrate 7 by the plurality of vacuum pads 124 is released, and the substrate 7 is transferred onto the lift pins 34. At this time, the substrate holding stage 3b is in a state where the substrate holding stage 3b is present inside the opening area of the pair of U-shaped portions facing each other.
【0187】さらに、一対のコ字状部分を構成する基板
載置部122aの各角部材128は、駆動モータ131
によって駆動機構を介して離間させられた後に、水平送
り手段127aでアーム126aを水平に短縮させて、
その基板載置部122aの一対のコ字状部分を、基板載
置部121aaを下方で挟み込む元の位置まで戻す。そ
の基板載置部121aaを下方位置において、次に、基
板搬送手段123aは基板7を塗布装置2aに移送する
ように、各角部材128間の距離が基板7の長辺寸法に
なるように駆動モータ131による駆動で角部材128
の距離を調整し、各回動載置部材130を基板長辺方向
に回動させ、各回動載置部材129は基板短辺に沿った
方向に回動させることで、基板載置部122aは、各回
動載置部材130および角部材128の中央平面部分に
よってコ字状に囲まれる各上面部分が対向し、これらの
各上面部分がそれぞれ基板7の裏側の各短辺側外周縁部
にそれぞれ対応した位置になる。Further, each corner member 128 of the substrate mounting portion 122a forming a pair of U-shaped portions is provided with a drive motor 131.
The arm 126a is horizontally shortened by the horizontal feed means 127a after being separated by the
The pair of U-shaped portions of the substrate mounting portion 122a is returned to the original position where the substrate mounting portion 121aa is sandwiched below. When the substrate mounting portion 121aa is at the lower position, the substrate transport means 123a is driven so that the distance between the corner members 128 becomes the long side dimension of the substrate 7 so as to transfer the substrate 7 to the coating device 2a. Square member 128 driven by motor 131
Is adjusted, the respective rotating mounting members 130 are rotated in the direction of the longer side of the substrate, and the respective rotating mounting members 129 are rotated in the direction along the shorter side of the substrate. The upper surface portions surrounded in a U-shape by the central plane portions of the rotary mounting members 130 and the corner members 128 face each other, and these upper surface portions respectively correspond to the short-side outer peripheral edges on the back side of the substrate 7. Position.
【0188】(3) 塗布装置2bでの塗布処理 続いて、リフトピンユニット33は、基板7が載置され
た複数のリフトピン34をゆっくりと下降させて基板保
持ステージ3bの基板保持面上に基板7を載置すると共
に、この基板保持面において、基板7のサイズに応じた
基板外周縁部に対応した位置に沿って配設された複数の
バキュームパッド(図示せず)による真空吸引処理を行
って、基板7を水平姿勢のままで基板保持ステージ3b
の所定位置にセッティングして保持状態とする。そし
て、基板保持ステージ3bが起き上がって塗布装置2b
による塗布処理が開始される。(3) Coating Process in Coating Apparatus 2b Subsequently, the lift pin unit 33 slowly lowers the plurality of lift pins 34 on which the substrate 7 is mounted, and places the substrate 7 on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b. And a vacuum suction process is performed on the substrate holding surface by a plurality of vacuum pads (not shown) arranged along positions corresponding to the outer peripheral edge of the substrate according to the size of the substrate 7. , The substrate holding stage 3b while keeping the substrate 7 in a horizontal posture.
Is set to a predetermined position to be in a holding state. Then, the substrate holding stage 3b rises and the coating device 2b
Is started.
【0189】なお、塗布装置2bによる塗布処理が行わ
れている間に、基板保持ステージ3aがセッティング位
置10aに位置して次なる基板を塗布装置2aへセット
する作業が為される。それと同時に、次の未処理基板7
が前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6
aに水平搬送され、基板載置部121aa上に載置され
る。While the coating process is being performed by the coating device 2b, the substrate holding stage 3a is positioned at the setting position 10a, and an operation of setting the next substrate to the coating device 2a is performed. At the same time, the next unprocessed substrate 7
Is the take-in position 6 of the pre-process substrate transfer path 6 from the device in the previous process.
a, and is placed on the substrate placing portion 121aa.
【0190】(4) 基板待機位置への移動および基板7
の回転 上記のようにして基板載置部121aa上に載置された
基板7については、基板載置部121aaとともに基板
待機位置6xに移動する。そして、処理前基板搬送経路
6の基板待機位置6xにおいて、基板回動手段121a
aaの基板載置部121aa上で基板7を反時計回りに
角度135度だけ回動させる。このように、予め基板待
機位置6xにおいて回転させておくことで、塗布装置2
a,2bに供給されセッティングされる基板7の方向が
同一になる。(4) Movement to Substrate Standby Position and Substrate 7
The rotation of the substrate 7 placed on the substrate mounting portion 121aa as described above moves to the substrate standby position 6x together with the substrate mounting portion 121aa. Then, at the substrate standby position 6x of the pre-processing substrate transfer path 6, the substrate rotating means 121a
The substrate 7 is rotated counterclockwise by an angle of 135 degrees on the substrate mounting portion 121aa of aa. In this manner, by rotating the coating apparatus in advance at the substrate standby position 6x, the coating apparatus 2
The directions of the substrates 7 supplied and set to the terminals a and 2b become the same.
【0191】(5) リフトピン34への基板7の載置 次に、上記工程(2)と同様にして、基板待機位置6xの
基板7をリフトピン34の上に載置する。(5) Placement of Substrate 7 on Lift Pins 34 Next, the substrate 7 at the substrate standby position 6x is placed on the lift pins 34 in the same manner as in the above step (2).
【0192】(6) 塗布装置2aでの塗布処理および処
理済み基板7の搬出 そして、工程(3)と同様にして、塗布装置2aによる基
板7への塗布処理を開始する。このとき、この実施形態
3では、工程(4)で塗布装置2aによる処理を施すべき
基板7については、基板待機位置6xで予め回転調整し
ており、塗布装置2a,2bに供給されセッティングさ
れる基板7の方向は常に同一になる。(6) Coating Process in Coating Apparatus 2a and Unloading of Treated Substrate 7 In the same manner as in step (3), the coating process on the substrate 7 by the coating apparatus 2a is started. At this time, in the third embodiment, the rotation of the substrate 7 to be subjected to the processing by the coating device 2a in the step (4) is adjusted in advance at the substrate standby position 6x, and is supplied to the coating devices 2a and 2b and set. The direction of the substrate 7 is always the same.
【0193】一方、塗布装置2aへの基板7のセッティ
ング後に、塗布装置2bにおける乾燥処理が終了する
と、工程(3)での動作とは逆に、基板保持ステージ3b
を水平姿勢に戻す。なお、このときには基板保持ステー
ジ3aはすでに基板のセットを終了して起立し、塗布装
置2aによる塗布が開始されており、基板保持ステージ
3bがセッティング位置10bへ回動下降しても問題は
ない。On the other hand, when the drying process in the coating device 2b is completed after the setting of the substrate 7 in the coating device 2a, the operation of the substrate holding stage 3b is reversed, contrary to the operation in the step (3).
To the horizontal position. At this time, the substrate holding stage 3a has already finished setting the substrate and stands up, the coating by the coating device 2a has been started, and there is no problem even if the substrate holding stage 3b is rotated down to the setting position 10b.
【0194】そして、水平姿勢の基板保持ステージ3b
の基板保持面において、複数のバキュームパッドによる
吸引を解除すると共に、リフトピンユニット33は基板
7が載置された基板保持ステージ3bの基板保持面に対
して複数のリフトピン34をゆっくりと上昇させて基板
保持ステージ3bの基板保持面から、真空吸引解除後に
張り付いた基板7を剥離させつつ上昇させる。Then, the substrate holding stage 3b in the horizontal posture
On the substrate holding surface, the suction by the plurality of vacuum pads is released, and the lift pin unit 33 slowly raises the plurality of lift pins 34 with respect to the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b on which the substrate 7 is placed. From the substrate holding surface of the holding stage 3b, the substrate 7 stuck after releasing the vacuum suction is lifted while being peeled off.
【0195】その後、こんどは、リフトピン34に載置
されている処理済みの基板7を基板載置部121bbで
受取り、基板待機位置9xに移動する。Thereafter, the processed substrate 7 placed on the lift pins 34 is received by the substrate placing portion 121bb, and moves to the substrate standby position 9x.
【0196】(7) 基板7のエッジリンス処理 基板待機位置9xに搬送されてきた基板7については、
接離手段(図示せず)で、エッジリンス処理装置190
のエッジリンス部192を基板7の下端縁7a側に接近
させると共に、さらにエッジリンス部192のエッジリ
ンス溝191内にその下端縁7aが収容されるまで接近
させる。さらに、エッジリンス部192をレールにそっ
て移動手段(図示せず)で移動させると共に、エッジリ
ンス溝191内のノズル(図示せず)から基板7の塗布
面側の端縁部分に所定の処理液を供給し、エッジリンス
溝191内の吸引口(図示せず)から不要な塗布膜が取
り除かれてエッジリンス処理が行われる。(7) Edge Rinsing of the Substrate 7 For the substrate 7 transported to the substrate standby position 9x,
An edge rinsing device 190 is provided by a contact / separation means (not shown).
Of the edge rinse portion 192 of the substrate 7 and the edge rinse groove 191 of the edge rinse portion 192 until the lower edge 7a is accommodated in the edge rinse groove 191. Further, the edge rinsing section 192 is moved by a moving means (not shown) along the rail, and a predetermined processing is performed from a nozzle (not shown) in the edge rinsing groove 191 to the edge portion of the substrate 7 on the application surface side. The liquid is supplied, an unnecessary coating film is removed from a suction port (not shown) in the edge rinse groove 191, and an edge rinse process is performed.
【0197】こうして、塗布処理およびエッジリンス処
理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処理
工程に搬送される。Thus, the substrate 7 which has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0198】(8) 塗布装置2aからの処理済み基板7
の搬出 そして、工程(2)と同様にして基板待機位置6xの基板
7をリフトピン34の上に載置した後、さらに工程(3)
と同様にして当該基板7を塗布装置2bにセットする。(8) Treated substrate 7 from coating device 2a
Then, the substrate 7 at the substrate standby position 6x is placed on the lift pins 34 in the same manner as in the step (2).
The substrate 7 is set in the coating device 2b in the same manner as described above.
【0199】この塗布装置2bへの基板7のセッティン
グ後に、塗布装置2aにおける乾燥処理が終了すると、
工程(6)と同様にして、塗布装置2aから処理済み基板
7を搬出し、基板搬送経路9の基板待機位置9xまで移
送する。After the setting of the substrate 7 in the coating device 2b, when the drying process in the coating device 2a is completed,
In the same manner as in the step (6), the processed substrate 7 is unloaded from the coating device 2a and transferred to the substrate standby position 9x on the substrate transfer path 9.
【0200】なお、これと並行して、次の未処理基板7
が前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6
aに水平搬送され、基板載置部121aa上に載置され
る。At the same time, the next unprocessed substrate 7
Is the take-in position 6 of the pre-process substrate transfer path 6 from the device in the previous process.
a, and is placed on the substrate placing portion 121aa.
【0201】(9) 基板7のエッジリンス処理 基板搬送経路9の基板待機位置9xに搬送されてきた処
理済み基板7については、工程(4)と同様にして、基板
回動手段121aaaによって元の回転状態に戻され
る。これによって、この基板待機位置9xでは、常に基
板7の方向が同一、つまり基板7の下端縁7aがエッジ
リンス部192側を向いている。(9) Edge Rinsing of the Substrate 7 The processed substrate 7 transported to the substrate standby position 9x on the substrate transport path 9 is returned to the original state by the substrate rotating means 121aaa in the same manner as in the step (4). It is returned to a rotating state. Thus, at the substrate standby position 9x, the direction of the substrate 7 is always the same, that is, the lower edge 7a of the substrate 7 faces the edge rinse portion 192 side.
【0202】そして、これに続いて、上記工程(7)と同
様に、基板7の塗布面側の端縁部分に所定の処理液を供
給し、エッジリンス溝191内の吸引口(図示せず)か
ら不要な塗布膜が取り除かれてエッジリンス処理が行わ
れる。Subsequently, similarly to the above step (7), a predetermined processing liquid is supplied to the edge portion of the substrate 7 on the application surface side, and a suction port (not shown) in the edge rinse groove 191 is supplied. ), Unnecessary coating films are removed and edge rinse processing is performed.
【0203】こうして、塗布処理およびエッジリンス処
理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処理
工程に搬送される。The substrate 7 that has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0204】また、このような動作と並行して、工程
(4)と同様に、塗布装置2aで処理すべき基板7は、処
理前基板搬送経路6の基板待機位置6xにおいて、基板
回動手段121aaaの基板載置部121aa上で基板
7を反時計回りに角度135度だけ回動される。In parallel with such an operation, the process
Similarly to (4), the substrate 7 to be processed by the coating apparatus 2a rotates the substrate 7 counterclockwise on the substrate mounting portion 121aa of the substrate rotating means 121aaa at the substrate standby position 6x of the pre-processing substrate transport path 6. At 135 degrees.
【0205】本実施形態では、上記一連の処理ステップ
が繰り返されて基板7が順次処理(塗布処理+エッジリ
ンス処理)を受ける。In the present embodiment, the above series of processing steps are repeated, and the substrate 7 is sequentially processed (coating processing + edge rinsing processing).
【0206】C-3.実施形態3による効果 上記のように、本実施形態3では塗布装置2a,2bの
配列形態と、その配列形態の相違に基づく搬送姿勢が異
なっている点を除き、基本的構成および動作は実施形態
1と同一であるため、実施形態1と同様の効果が得られ
る。C-3. Effect of Third Embodiment As described above, in the third embodiment, the basic configuration is different except that the arrangement of the coating apparatuses 2a and 2b is different from the conveyance posture based on the difference in the arrangement. Since the configuration and operation are the same as those of the first embodiment, the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
【0207】なお、この実施形態3では、各塗布装置2
a,2bが共に搬送経路に対して一方側に隣設してクラ
スター的配置となっているため、塗布側の反対側にある
搬送経路を介さずに片側だけから両塗布装置2a,2b
に対するメンテナンスをそれぞれより容易に素早く行う
ことができるという特有の効果を有している。In the third embodiment, each coating device 2
Since both a and 2b are adjacent to one side with respect to the transport path and are arranged in a cluster, the two coating apparatuses 2a and 2b are provided only from one side without passing through the transport path on the opposite side to the coating side.
Has a unique effect that maintenance can be performed more easily and quickly.
【0208】C-4.本実施形態3における変形例 なお、上記実施形態3では、基板保持ステージ3a,3
bへの基板搬送機構として処理前基板移載手段121a
を用い、基板保持ステージ3a,3bからの基板搬送機
構として処理済み基板移載手段121bを用いている
が、上記実施形態2の変形例で用いたシャトルアーム1
17a、117bなどの搬送アームを用いてもよい。C-4. Modification of Third Embodiment In the third embodiment, the substrate holding stages 3a, 3
b as a substrate transfer mechanism to the substrate b.
And the processed substrate transfer means 121b is used as a substrate transfer mechanism from the substrate holding stages 3a and 3b, but the shuttle arm 1 used in the modification of the second embodiment is used.
A transfer arm such as 17a, 117b may be used.
【0209】また、本実施形態3では、基板7を基板載
置部(図示せず)で支持して基板7を時計回りに角度4
5度回動させるかまたは反時計回りに角度45度回動さ
せる基板回動手段と、基板7を基板載置部122aまた
は基板載置部122b上に保持して基板回動手段の基板
載置部と基板保持ステージ3a,3bとの間で受け渡し
を行うべく移送する基板搬送手段123a,123bと
を有する基板移載手段121a,121bを設けたが、
これらの基板搬送手段123a,123bの代りに、図
22および図23に示すように、複数のリフトピン14
3を用い、処理前基板搬送経路と処理済み基板搬送経路
側の両基板回動手段132の基板載置部と基板保持ステ
ージ3a,3bの複数のリフトピン34上との間で基板
7を移送する1台の基板水平搬送ロボット133を設け
るようにしてもよい。この基板水平搬送ロボット133
は、複数のリフトピン143で支持されて浮いた基板7
の下方に侵入可能な厚みの板状平面(その上面に複数の
バキュームパッド124を設けてもよい)で受けて載置
可能なアクチュエータ部材134と、このアクチュエー
タ部材134を伸縮自在に支持すると共に、アクチュエ
ータ部材134を回動自在なアーム部材135と、この
アーム部材135を回動自在に軸支すると共に、アーム
部材135をアクチュエータ部材134と共に昇降可能
に構成した支柱部材136と、この支柱部材136内に
設けられアーム部材135を回動させる回動駆動手段
(図示せず)と、支柱部材136内に設けられアーム部
材135を昇降させる昇降駆動手段(図示せず)とを有
するようにしてもよい。In the third embodiment, the substrate 7 is supported by a substrate mounting portion (not shown), and the substrate 7 is rotated clockwise at an angle of 4 °.
A substrate rotating means for rotating by 5 degrees or an angle of 45 degrees counterclockwise; and a substrate mounting means for holding the substrate 7 on the substrate mounting portion 122a or 122b. Substrate transfer means 121a and 121b having substrate transfer means 123a and 123b for transferring the image data between the unit and the substrate holding stages 3a and 3b.
Instead of these substrate transporting means 123a and 123b, as shown in FIGS.
3, the substrate 7 is transferred between the substrate mounting portions of the substrate rotation means 132 on the substrate transfer path before processing and the processed substrate transfer path and on the plurality of lift pins 34 of the substrate holding stages 3a and 3b. One substrate horizontal transfer robot 133 may be provided. This substrate horizontal transfer robot 133
Is a floating substrate 7 supported by a plurality of lift pins 143.
An actuator member 134 that can be received and placed on a plate-shaped flat surface (a plurality of vacuum pads 124 may be provided on the upper surface thereof) having a thickness that can penetrate below, and supports the actuator member 134 so that it can expand and contract. An arm member 135 rotatably supporting the actuator member 134; a support member 136 rotatably supporting the arm member 135; and a vertically movable arm member 135 together with the actuator member 134; May be provided with a rotation driving means (not shown) for rotating the arm member 135 provided on the support member 136, and a lifting drive means (not shown) for raising and lowering the arm member 135 provided in the support member 136. .
【0210】また、この基板水平搬送ロボット133の
平板状のアクチュエータ部材134の代りに、図24お
よび図25に示すように、複数のリフトピン143を用
いない場合にも適応可能なL字状のアクチュエータ部材
137を有する基板水平搬送ロボット133aとしても
よい。この基板水平搬送ロボット133aのアクチュエ
ータ部材137は、基板7の短辺と長辺を下方から受け
て支持する基板載置部138と、この基板載置部138
上の適所に複数配設された基板裏面外周縁部保持用のバ
キュームパッド139とを有するようにしてもよい。Further, instead of the flat actuator member 134 of the substrate horizontal transfer robot 133, as shown in FIGS. 24 and 25, an L-shaped actuator which can be applied even when a plurality of lift pins 143 are not used. The substrate horizontal transfer robot 133a having the member 137 may be used. The actuator member 137 of the substrate horizontal transfer robot 133a includes a substrate mounting portion 138 that receives and supports the short side and the long side of the substrate 7 from below, and the substrate mounting portion 138.
A plurality of vacuum pads 139 for holding the outer peripheral edge portion of the back surface of the substrate may be provided at a plurality of appropriate locations on the upper side.
【0211】これらの実施形態3の変形例(図22〜図
25)では、塗布装置2bに基板7を供給する場合は、
処理前基板搬送経路の基板回動手段132で基板7を時
計回りに角度45度回動させた後に基板水平搬送ロボッ
ト133,133aで基板保持ステージ3bに基板7を
移送し、また、塗布装置2aに基板7を供給する場合
は、処理前基板搬送経路の基板回動手段132で基板7
を反時計回りに角度45度回動させた後に基板水平搬送
ロボット133,133aで基板保持ステージ3aに基
板7を移送するようにすれば、基板7の基板処理時のセ
ッティング方向は同一方向となる。また、塗布装置2b
の基板保持ステージ3bから基板水平搬送ロボット13
3,133aで基板7を取り出した場合は、処理済み基
板搬送経路側の基板回動手段132で基板7をエッジリ
ンス処理用に反時計回りに角度90度回動させた後に時
計回りに角度45度回動させて処理済み基板搬送経路9
に基板搬送し、また、塗布装置2aの基板保持ステージ
3bから基板水平搬送ロボット133,133aで基板
7を取り出した場合は、処理済み基板搬送経路側の基板
回動手段132で基板7をエッジリンス処理用に回動さ
せる必要はなく、エッジリンス処理後に時計回りに角度
45度回動させて処理済み基板搬送経路9に基板搬送す
るようにすればよい。In the modified examples (FIGS. 22 to 25) of the third embodiment, when the substrate 7 is supplied to the coating apparatus 2b,
After rotating the substrate 7 clockwise by 45 degrees by the substrate rotating means 132 in the substrate transport path before processing, the substrate 7 is transferred to the substrate holding stage 3b by the substrate horizontal transport robots 133 and 133a, and the coating device 2a In the case where the substrate 7 is supplied to the
Is rotated counterclockwise by 45 degrees and then the substrate 7 is transferred to the substrate holding stage 3a by the substrate horizontal transfer robots 133 and 133a, so that the setting direction of the substrate 7 during the substrate processing becomes the same direction. . Also, the coating device 2b
Horizontal transfer robot 13 from the substrate holding stage 3b
When the substrate 7 is taken out at 3,133a, the substrate 7 is rotated counterclockwise by 90 degrees for edge rinsing by the substrate rotating means 132 on the processed substrate transfer path side, and then clockwise by 45 degrees. Rotated substrate transfer path 9
When the substrate 7 is taken out by the substrate horizontal transfer robots 133 and 133a from the substrate holding stage 3b of the coating apparatus 2a, the substrate 7 is edge-rinsed by the substrate rotating means 132 on the processed substrate transfer path side. It is not necessary to rotate the substrate for processing, and it is sufficient to rotate the substrate 45 degrees clockwise after the edge rinsing process and transport the substrate to the processed substrate transport path 9.
【0212】このように、図8に示すもの(基板回動手
段160)と同様の基板回動手段132を、処理前基板
搬送経路6の基板待機位置6xと処理済み基板搬送経路
9の基板待機位置9xに設けて、塗布機構裏側が直角ま
たは鈍角に隣設された塗布装置2a,2bに対する基板
供給側と基板取出側においてそれぞれ、塗布装置2a,
2bの一方に対する基板7を所定の回動処理(基板7を
時計回りに角度45度回動させるかまたは反時計回りに
角度45度回動させる基板供給側の処理、基板7を反時
計回りに角度90度回動させた後に時計回りに角度45
度回動させるかまたは、時計回りに角度45度回動させ
る基板取出側の処理)を行うようにすれば、塗布装置2
a,2bに対して基板7の上下セッティング方向を揃え
て塗布処理できると共に、基板取出側で基板方向を揃え
てエッジリンス処理装置190でエッジリンス処理を行
うことができる。As described above, the substrate rotating means 132 similar to that shown in FIG. 8 (substrate rotating means 160) is moved to the substrate standby position 6x of the pre-processing substrate transport path 6 and the substrate standby position of the processed substrate transport path 9 The coating devices 2a, 2b are provided at the position 9x, and on the substrate supply side and the substrate unloading side with respect to the coating devices 2a, 2b whose coating mechanism back sides are provided at right angles or obtuse angles, respectively.
2b, a predetermined rotation process (a substrate supply side process in which the substrate 7 is rotated clockwise by 45 degrees or a counterclockwise angle 45 degrees), and the substrate 7 is rotated counterclockwise. After rotating 90 degrees, clockwise 45 degrees
(The process on the substrate take-out side that is rotated by 45 degrees or rotated clockwise by 45 degrees), the coating apparatus 2
The coating process can be performed by aligning the upper and lower setting directions of the substrate 7 with respect to the substrates a and 2b, and the edge rinsing process can be performed by the edge rinsing device 190 by aligning the substrate direction on the substrate extracting side.
【0213】D.実施形態4 図26は、本発明の実施形態4の基板処理システムの概
略要部構成を模式的に示す平面図であり、図27は図2
6の基板処理システムの概略要部構成を模式的に示す斜
視図であり、上記実施形態1と同様の作用効果を奏する
部材には同一の符号を付すことにする。D. Fourth Embodiment FIG. 26 is a plan view schematically showing a schematic configuration of a main part of a substrate processing system according to a fourth embodiment of the present invention.
6 is a perspective view schematically illustrating a schematic configuration of a main part of the substrate processing system of FIG.
【0214】D-1.構成 この実施形態4が先に説明した実施形態1と大きく相違
する点は、実施形態13の場合と同様に、塗布装置2
a,2bをその処理中における基板面が直角または鈍角
をなす角度に隣接配置している点である。また、この実
施形態4における最大の特徴は、取込位置6a、塗布装
置2a,2bおよび受渡位置9aの間での基板搬送を多
関節水平ロボットで行っている点であり、その他の構成
は実施形態3の基本構成と同一である。以下、この相違
点を中心に実施形態4にかかる基板処理システムの構成
について説明する。D-1. Configuration The fourth embodiment differs greatly from the first embodiment described above in that the coating apparatus 2 is similar to the thirteenth embodiment.
The point is that a and 2b are arranged adjacent to each other so that the substrate surface during processing is at a right angle or an obtuse angle. The greatest feature of the fourth embodiment is that a multi-joint horizontal robot transfers a substrate between the take-in position 6a, the coating devices 2a and 2b, and the delivery position 9a. This is the same as the basic configuration of mode 3. Hereinafter, the configuration of the substrate processing system according to the fourth embodiment will be described focusing on this difference.
【0215】図26に示すように、この基板処理システ
ム140では、塗布装置2a,2b、処理前基板搬送経
路6および処理済み基板搬送経路9が実施形態3と同様
に配置されている。これらの塗布装置2a,2bの間は
セッティング位置となっており、基板保持ステージ3
a,3bが水平姿勢となるセッティング位置10a,1
0bとして共用されている。また、このセッティング位
置10a,10bに、複数のリフトピン34を昇降可能
に配置したリフトピンユニット33が設けられている。
さらに、このリフトピンユニット33と同一構成のリフ
トピンユニット142が処理前基板搬送経路6の取込位
置6aおよび処理済み基板搬送経路9の受渡位置9aに
も配設されており、各リフトピンユニット142におい
て複数のリフトピン143が基板保持面や基板載置面に
対して出退自在となっている。As shown in FIG. 26, in the substrate processing system 140, the coating apparatuses 2a and 2b, the pre-processing substrate transport path 6 and the processed substrate transport path 9 are arranged in the same manner as in the third embodiment. The setting position is between the coating devices 2a and 2b, and the substrate holding stage 3
Setting positions 10a, 1 where a, 3b are in a horizontal position
0b. Further, a lift pin unit 33 in which a plurality of lift pins 34 are arranged to be able to move up and down is provided at the setting positions 10a and 10b.
Further, a lift pin unit 142 having the same configuration as the lift pin unit 33 is also provided at the take-in position 6a of the pre-processed substrate transfer path 6 and the transfer position 9a of the processed substrate transfer path 9. The lift pins 143 can freely move back and forth with respect to the substrate holding surface and the substrate mounting surface.
【0216】また、この実施形態4では、基板移載手段
として機能する多関節水平ロボット141が各塗布装置
2a,2bの水平姿勢の基板保持ステージ3a,3bに
対して等距離に配置されている。この多関節水平ロボッ
ト141は、図27に示すように、一方端が回動自在に
支柱部材144の上面中央部に軸支された第1アーム部
材145と、この第1アーム部材145の他端に一方端
が回動自在に軸支された第2アーム部材146と、この
第2アーム部材146の他端に一方端が回動自在に軸支
され、その他端部が、複数のリフトピン143で支持さ
れて浮いた基板7の下方に侵入可能な厚みの板状平面で
基板7を受けて載置可能なアクチュエータ部材147
と、支柱部材144内に設けられ第1アーム部材145
の一方端を昇降することで、これらの第1アーム部材1
45、第2アーム部材146およびアクチュエータ部材
147を上下に移動可能な基板受渡用の上下移動部材
(図示せず)とを有している。そして、基板保持ステー
ジ3a,3bの各基板保持面に対してそれぞれ出退自在
な複数のリフトピン143上と、処理前基板搬送経路6
の取込位置6aまたは処理済み基板搬送経路9の受渡位
置9aにおける複数のリフトピン143上との間で基板
7を移送して載置可能なようになっている。また、この
アクチュエータ部材147の表面側には、基板7を強固
に保持するために、基板7の裏面側を真空吸着可能な複
数のバキュームパッド(図示せず)が配設されていても
よい。In the fourth embodiment, the multi-joint horizontal robot 141 functioning as a substrate transfer means is disposed equidistant from the substrate holding stages 3a and 3b in the horizontal posture of each of the coating devices 2a and 2b. . As shown in FIG. 27, the articulated horizontal robot 141 has a first arm member 145 whose one end is rotatably supported at the center of the upper surface of a column member 144, and the other end of the first arm member 145. A second arm member 146 having one end rotatably supported at one end, and one end rotatably supported at the other end of the second arm member 146, and the other end at a plurality of lift pins 143. Actuator member 147 capable of receiving and mounting substrate 7 on a plate-like flat surface having a thickness capable of entering below supported and floating substrate 7
And a first arm member 145 provided in the support member 144.
By moving up and down one end of the first arm member 1
45, a vertically moving member (not shown) for transferring the substrate, which can move the second arm member 146 and the actuator member 147 up and down. Then, a plurality of lift pins 143 which can be respectively moved back and forth with respect to the respective substrate holding surfaces of the substrate holding stages 3a and 3b,
The substrate 7 can be transferred to and placed on the plurality of lift pins 143 at the take-in position 6a of the substrate transfer path 9 or at the transfer position 9a of the processed substrate transfer path 9. Further, a plurality of vacuum pads (not shown) capable of vacuum-sucking the back surface of the substrate 7 may be provided on the front surface side of the actuator member 147 in order to firmly hold the substrate 7.
【0217】また、この多関節水平ロボット141は、
処理前基板搬送経路6から基板保持ステージ3aまたは
基板保持ステージ3bの基板保持面上に、隣設配置され
た各塗布装置2a,2bにそれぞれ供給される基板方向
(本実施形態では、基板塗布処理時の垂直姿勢の基板7
の上下方向)が各塗布装置2a,2bで同一となるよう
に処理前基板7を移送すると共に、各塗布装置2a,2
bでそれぞれ基板処理された処理済み基板7を基板保持
ステージ3aまたは基板保持ステージ3bの基板保持面
上から処理済み基板搬送経路9上に移送するようになっ
ている。これによって、各塗布装置2a,2bに対する
基板7のセティング方向および基板取出側の基板搬送方
向が揃うようになる。The articulated horizontal robot 141 is
Substrate directions to be supplied from the pre-processing substrate transfer path 6 to the coating apparatuses 2a and 2b disposed adjacently on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a or the substrate holding stage 3b (in this embodiment, the substrate coating processing Vertical position of substrate 7
(Up and down direction) is the same for each of the coating apparatuses 2a and 2b.
In step b, the processed substrate 7 is transferred from the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a or the substrate holding stage 3b to the processed substrate transfer path 9. As a result, the setting direction of the substrate 7 with respect to each of the coating devices 2a and 2b and the substrate transfer direction on the substrate take-out side are aligned.
【0218】D-2.実施形態4の動作 次に、上記のように構成された基板処理システム140
の動作について説明する。 (1) 未処理基板7の搬入 まず、前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位
置6aに設けられた複数のリフトピン143上に載置さ
れる。なお、ここでは説明の便宜から、図26および図
27に示すように、旋回手段4bはその基板保持ステー
ジ3bの基板保持面がセッティング位置10bで水平姿
勢の状態で止まっており、しかも基板保持ステージ3b
の下方にはリフトピンユニット33が重なるように位置
しており、その基板保持面上に複数のリフトピン34が
突出した状態で基板7を受け得る状態になっているもの
とする。なお、この状態においては、基板保持ステージ
3aは塗布装置2a側に起き上がっている。D-2. Operation of Embodiment 4 Next, the substrate processing system 140 configured as described above
Will be described. (1) Loading of Unprocessed Substrate 7 First, the unprocessed substrate 7 is placed on a plurality of lift pins 143 provided at the take-in position 6a of the pre-processed substrate transport path 6 from the device in the previous process. Here, for convenience of explanation, as shown in FIGS. 26 and 27, the turning means 4b stops the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b in the horizontal position at the setting position 10b. 3b
The lift pin unit 33 is positioned so as to overlap the lower side, and is capable of receiving the substrate 7 with a plurality of lift pins 34 protruding above the substrate holding surface. Note that, in this state, the substrate holding stage 3a rises toward the coating device 2a.
【0219】(2) リフトピン34への基板7の移載 次に、複数のリフトピン143上に位置する処理前の基
板7を、多関節水平ロボット141が、アクチュエータ
部材147を基板7の中央部下方に侵入させ、上下移動
部材でアクチュエータ部材147を上昇させて基板7を
アクチュエータ部材147上に載置する。この状態で、
アクチュエータ部材145を基板保持ステージ3bの上
方位置で止めた後に、上下移動部材でアクチュエータ部
材145を基板7と共に下降させて基板保持ステージ3
bの複数のリフトピン34上に載置する。(2) Transfer of Substrate 7 to Lift Pins 34 Next, the unjoined substrate 7 positioned on the plurality of lift pins 143 is moved by the multi-joint horizontal robot 141 to the actuator member 147 below the center of the substrate 7. The substrate 7 is placed on the actuator member 147 by raising the actuator member 147 with the vertical movement member. In this state,
After the actuator member 145 is stopped at a position above the substrate holding stage 3b, the actuator member 145 is lowered together with the substrate 7 by a vertically moving member, and
b on the plurality of lift pins 34.
【0220】このとき、この多関節水平ロボット141
は、処理前基板搬送経路6から基板保持ステージ3bの
基板保持面上に、隣設配置された各塗布装置2a,2b
にそれぞれ供給される基板方向(本実施形態では、基板
塗布処理時の垂直姿勢の基板7の上下方向)が各塗布装
置2a,2bで同一となるように処理前基板7を移送す
る。At this time, the articulated horizontal robot 141
Are applied from the pre-processing substrate transfer path 6 to the coating apparatuses 2a and 2b disposed adjacently on the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b.
The unprocessed substrate 7 is transferred such that the direction of the substrate (in this embodiment, the vertical direction of the substrate 7 in the vertical position during the substrate coating process) is the same in each of the coating apparatuses 2a and 2b.
【0221】(3) 塗布装置2bでの塗布処理 続いて、リフトピンユニット33は、基板7が載置され
た複数のリフトピン34をゆっくりと下降させて基板保
持ステージ3bの基板保持面上に基板7を載置すると共
に、この基板保持面において、基板7のサイズに応じた
基板外周縁部に対応した位置に沿って配設された複数の
バキュームパッド(図示せず)による真空吸引処理を行
って、基板7を水平姿勢のままで基板保持ステージ3b
の所定位置にセッティングして保持状態とする。そし
て、基板保持ステージ3bが起き上がって塗布装置2b
による塗布処理が開始される。(3) Coating Processing by Coating Apparatus 2b Subsequently, the lift pin unit 33 slowly lowers the plurality of lift pins 34 on which the substrate 7 is mounted, and moves the substrate 7 onto the substrate holding surface of the substrate holding stage 3b. And a vacuum suction process is performed on the substrate holding surface by a plurality of vacuum pads (not shown) arranged along positions corresponding to the outer peripheral edge of the substrate according to the size of the substrate 7. , The substrate holding stage 3b while keeping the substrate 7 in a horizontal posture.
Is set to a predetermined position to be in a holding state. Then, the substrate holding stage 3b rises and the coating device 2b
Is started.
【0222】なお、塗布装置2bによる塗布処理が行わ
れている間に、基板保持ステージ3aがセッティング位
置10aに位置して次なる基板を塗布装置2aへセット
する作業が為される。それと同時に、次の未処理基板7
が前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6
aに水平搬送され、リフトピン143上に載置される。While the coating process is being performed by the coating device 2b, the substrate holding stage 3a is located at the setting position 10a, and an operation of setting the next substrate to the coating device 2a is performed. At the same time, the next unprocessed substrate 7
Is the take-in position 6 of the pre-process substrate transfer path 6 from the device in the previous process.
a and is placed on the lift pins 143.
【0223】(4) リフトピン34への基板7の載置 次に、上記工程(2)と同様にして、多関節水平ロボット
141がリフトピン143上の基板7をリフトピン34
の上に載置する。なお、この時にも、多関節水平ロボッ
ト141は、処理前基板搬送経路6から基板保持ステー
ジ3aの基板保持面上に、隣設配置された各塗布装置2
a,2bにそれぞれ供給される基板方向(本実施形態で
は、基板塗布処理時の垂直姿勢の基板7の上下方向)が
各塗布装置2a,2bで同一となるように処理前基板7
を移送する。(4) Placement of Substrate 7 on Lift Pins 34 Next, as in the above step (2), the articulated horizontal robot 141 moves the substrate 7 on the lift pins 143 to the lift pins 34.
Place on top of. Also at this time, the articulated horizontal robot 141 moves the pre-processing substrate transfer path 6 from the pre-processing substrate transfer path 6 onto the substrate holding surface of the substrate holding stage 3a.
The pre-processed substrate 7 is set so that the direction of the substrate supplied to each of the coating apparatuses 2a and 2b (the vertical direction of the substrate 7 in the vertical position during the substrate coating processing) is the same in each of the coating apparatuses 2a and 2b.
Is transported.
【0224】(5) 塗布装置2aでの塗布処理および処
理済み基板7の搬出 そして、工程(3)と同様にして、塗布装置2aによる基
板7への塗布処理を開始する。このとき、この実施形態
4では、工程(4)で多関節水平ロボット141による基
板7の移載制御を行っているので、塗布装置2a,2b
に供給されセッティングされる基板7の方向は常に同一
になる。(5) Coating process in coating device 2a and unloading of processed substrate 7 Then, in the same manner as in step (3), coating process on substrate 7 by coating device 2a is started. At this time, in the fourth embodiment, since the transfer control of the substrate 7 is performed by the articulated horizontal robot 141 in the step (4), the coating apparatuses 2a and 2b are controlled.
The direction of the substrate 7 supplied and set at the same time is always the same.
【0225】一方、塗布装置2aへの基板7のセッティ
ング後に、塗布装置2bにおける乾燥処理が終了する
と、基板保持ステージ3bがセッティング位置10bへ
回動して処理済み基板7がリフトピン34上に載置され
る。なお、このときには基板保持ステージ3aはすでに
基板のセットを終了して起立し、塗布装置2aによる塗
布が開始されており、基板保持ステージ3bがセッティ
ング位置10bへ回動下降しても問題はない。On the other hand, after the setting of the substrate 7 in the coating device 2a, when the drying process in the coating device 2b is completed, the substrate holding stage 3b rotates to the setting position 10b, and the processed substrate 7 is placed on the lift pins 34. Is done. At this time, the substrate holding stage 3a has already finished setting the substrate and stands up, the coating by the coating device 2a has been started, and there is no problem even if the substrate holding stage 3b is rotated down to the setting position 10b.
【0226】これに続いて、多関節水平ロボット141
は受渡位置9aに設けられた複数のリフトピン143上
に移載する。すなわち、この多関節水平ロボット141
は、アクチュエータ部材147を基板7の中央部下方に
侵入させ、上下移動部材でアクチュエータ部材147を
上昇させて基板7をアクチュエータ部材147上に載置
する。この状態で、第1アーム部材145および第2ア
ーム部材146を基板保持ステージ3b側から処理済み
基板搬送経路9の受渡位置9a側に、回動および伸縮さ
せてアクチュエータ部材147を受渡位置9aの上方位
置で止めた後に、上下移動部材でアクチュエータ部材1
47を基板7と共に下降させて受渡位置9aの複数のリ
フトピン143上に載置する。Subsequently, the articulated horizontal robot 141
Is transferred onto a plurality of lift pins 143 provided at the delivery position 9a. That is, this articulated horizontal robot 141
In this case, the actuator member 147 is made to enter the lower part of the center of the substrate 7, and the actuator member 147 is raised by the vertically moving member, and the substrate 7 is placed on the actuator member 147. In this state, the first arm member 145 and the second arm member 146 are rotated and expanded and contracted from the substrate holding stage 3b side to the transfer position 9a side of the processed substrate transfer path 9 to move the actuator member 147 above the transfer position 9a. After stopping at the position, the actuator member 1
47 is lowered together with the substrate 7 and mounted on the plurality of lift pins 143 at the delivery position 9a.
【0227】(6) 基板7のエッジリンス処理 受渡位置9aに搬送されてきた基板7については、上記
実施形態1〜3と同様に、図26には示していないが、
受渡位置9aに近接配置されたエッジリンス処理装置1
90によって基板7の塗布面側の端縁部分に所定の処理
液を供給し、不要な塗布膜を取り除く。(6) Edge Rinsing of the Substrate 7 The substrate 7 transported to the delivery position 9a is not shown in FIG.
Edge rinsing device 1 arranged close to delivery position 9a
By 90, a predetermined processing liquid is supplied to the edge portion on the application surface side of the substrate 7 to remove an unnecessary application film.
【0228】こうして、塗布処理およびエッジリンス処
理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処理
工程に搬送される。Thus, the substrate 7 which has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0229】(7) 塗布装置2aからの処理済み基板7
の搬出 そして、工程(2)と同様にして取込位置6aに設けられ
たリフトピン143上の基板7をリフトピン34の上に
載置した後、さらに工程(3)と同様にして当該基板7を
塗布装置2bにセットする。(7) Processed substrate 7 from coating device 2a
After the substrate 7 on the lift pins 143 provided at the loading position 6a is placed on the lift pins 34 in the same manner as in the step (2), the substrate 7 is further removed in the same manner as in the step (3). It is set on the coating device 2b.
【0230】この塗布装置2bへの基板7のセッティン
グ後に、塗布装置2aにおける乾燥処理が終了すると、
工程(5)と同様にして、塗布装置2aから処理済み基板
7を搬出し、基板搬送経路9の受渡位置9aに設けられ
たリフトピン143上に移送する。After the setting of the substrate 7 in the coating device 2b, when the drying process in the coating device 2a is completed,
In the same manner as in the step (5), the processed substrate 7 is unloaded from the coating device 2a and transferred onto the lift pins 143 provided at the delivery position 9a of the substrate transfer path 9.
【0231】なお、これと並行して、次の未処理基板7
が前工程の装置から処理前基板搬送経路6の取込位置6
aに水平搬送され、当該取込位置6aのリフトピン14
3上に載置される。In parallel with this, the next unprocessed substrate 7
Is the take-in position 6 of the pre-process substrate transfer path 6 from the device in the previous process.
a and the lift pin 14 at the take-in position 6a
3 is placed.
【0232】(8) 基板7のエッジリンス処理 工程(7)によって基板搬送経路9の受渡位置9aに設け
られたリフトピン143に処理済み基板7については、
上記実施形態1〜3と同様に、図26には示していない
が、受渡位置9aに近接配置されたエッジリンス処理装
置190によって基板7の塗布面側の端縁部分に所定の
処理液を供給し、不要な塗布膜を取り除く。なお、この
多関節水平ロボット141は、塗布装置2aで基板処理
された基板7の下端縁部分が同一の方向を向くように搬
送するため、塗布装置2a,2bのいずれから搬送され
たのかを問わず、その下端縁部分をエッジリンス処理装
置190によって同一箇所をエッジリンス処理すること
ができる。(8) Edge Rinse Treatment of Substrate 7 The substrate 7 processed by the lift pins 143 provided at the transfer position 9a of the substrate transport path 9 in the step (7) is
As in the first to third embodiments, although not shown in FIG. 26, a predetermined processing liquid is supplied to an edge portion on the application surface side of the substrate 7 by the edge rinse processing device 190 arranged close to the delivery position 9 a. Then, unnecessary coating films are removed. The articulated horizontal robot 141 transports the substrate 7 processed by the coating apparatus 2a so that the lower edge portion of the substrate 7 faces in the same direction. Therefore, it does not matter which of the coating apparatuses 2a and 2b has been transported. Instead, the same lower portion can be edge rinsed by the edge rinse device 190 at the same location.
【0233】こうして、塗布処理およびエッジリンス処
理を受けた基板7は、基板搬送経路9に沿って次の処理
工程に搬送される。The substrate 7 which has been subjected to the coating process and the edge rinsing process is transported along the substrate transport path 9 to the next processing step.
【0234】本実施形態では、上記一連の処理ステップ
が繰り返されて基板7が順次処理(塗布処理+エッジリ
ンス処理)を受ける。In the present embodiment, the above-described series of processing steps are repeated, and the substrate 7 is sequentially processed (coating processing + edge rinsing processing).
【0235】D-3.実施形態4による効果 上記のように、本実施形態4では塗布装置2a,2bの
配列形態と、その配列形態の相違に基づく搬送姿勢が異
なっている点を除き、基本的構成および動作は実施形態
1と同一であるため、実施形態1と同様の効果が得られ
る。D-3. Effects of the Fourth Embodiment As described above, the fourth embodiment is basically the same as the fourth embodiment except that the arrangement of the coating apparatuses 2a and 2b is different from the conveyance posture based on the difference in the arrangement. Since the configuration and operation are the same as those of the first embodiment, the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
【0236】また、本実施形態4では、多関節水平ロボ
ット141を用いてリフトピン143,34,143を
搬送しているため、次のような特有の効果が得られる。
すなわち、基板7を基板保持ステージ3a,3b上に移
載する基板移載手段と、基板7と共に所定角度だけ回動
させる基板回動手段と、この基板回動手段の基板載置部
上と処理前基板搬送経路6の取込位置6aまたは処理済
み基板搬送経路9の受渡位置9aに基板7を移送する上
記シャトルアーム(図示せず)とに代えて、上記多関節
水平ロボット141を配設するだけで、構成が大幅に簡
単なものとなる。この場合にも上記実施形態3と同様
に、設置スペースが一部共用化されて省スペースとする
ことができると共に、共用の一つのリフトピンユニット
142で済み、また、片側だけから両塗布装置2a,2
bに対するメンテナンスをそれぞれより容易に素早く行
うこともできる。In the fourth embodiment, since the lift pins 143, 34, and 143 are transported using the articulated horizontal robot 141, the following specific effects can be obtained.
That is, substrate transfer means for transferring the substrate 7 onto the substrate holding stages 3a and 3b, substrate rotation means for rotating the substrate 7 by a predetermined angle together with the substrate 7, and processing on the substrate mounting portion of the substrate rotation means. The articulated horizontal robot 141 is provided instead of the shuttle arm (not shown) for transferring the substrate 7 to the take-in position 6a of the front substrate transfer path 6 or the transfer position 9a of the processed substrate transfer path 9. Just by itself, the configuration is greatly simplified. Also in this case, similarly to the third embodiment, the installation space can be partially shared to save space, and only one common lift pin unit 142 is required. 2
The maintenance for b can be performed more easily and quickly.
【0237】D-4.本実施形態4における変形例 なお、本実施形態4では、多関節水平ロボット141
は、そのアクチュエータ部材147を、複数のリフトピ
ン143で支持して浮せた状態の基板7の下側に侵入可
能な所定厚みの板状平面で基板7を受けて載置可能な構
成としたが、図28の平面図および図29の斜視図に示
すように、複数のリフトピン143を用いない場合にも
適応可能なL字状のアクチュエータ部材148を有する
多関節水平ロボット141aとした場合である。この多
関節水平ロボット141aのアクチュエータ部材148
は、基板7の短辺と長辺を下方から受けて支持する基板
載置部149と、この基板載置部149上の適所に複数
配設された基板裏面外周縁部保持用のバキュームパッド
150とを有している。D-4. Modification Example of Embodiment 4 In Embodiment 4, the articulated horizontal robot 141 is used.
Has a configuration in which the actuator member 147 is supported by a plurality of lift pins 143 and can receive and place the substrate 7 on a plate-like flat surface having a predetermined thickness that can enter the lower side of the substrate 7 in a floating state. As shown in the plan view of FIG. 28 and the perspective view of FIG. 29, this is the case of a multi-joint horizontal robot 141a having an L-shaped actuator member 148 that can be adapted even when a plurality of lift pins 143 are not used. Actuator member 148 of this articulated horizontal robot 141a
A substrate mounting portion 149 for receiving and supporting the short side and the long side of the substrate 7 from below, and a plurality of vacuum pads 150 disposed at appropriate positions on the substrate mounting portion 149 for holding the outer peripheral edge of the substrate rear surface. And
【0238】E.その他 なお、上記実施形態1〜4では、基板回動手段160
や、基板回動手段121aaa,121bbb、基板回
動手段132を設けて、各塗布装置2a,2bへの基板
セッティング方向を同一とするように構成することで、
従来のように多面取りやタイトル表示などで生じる基板
7の上下方向が逆になるという不都合やエッジリンス部
分が異なってしまうという不都合などを解消している。
しかしながら、これらの点が問題とならない場合には、
これらの基板回動手段160や、基板回動手段121a
aa,121bbb、基板回動手段132を設ける必要
はなく、言うまでもないが、この場合にも、基板保持ス
テージ3a,3bが所定角度姿勢となる基板セッティン
グエリアであるセッティング位置を共用することで、設
置スペースを共用することができると共に、システム全
長の短縮化が可能でフットプリントの悪化や、システム
全長によるレイアウト上の制約を解消することができる
効果や、共用の一つのリフトピンユニットで済む効果は
得られる。E. Others In the first to fourth embodiments, the substrate rotating means 160
Alternatively, by providing the substrate rotating means 121aaa, 121bbb and the substrate rotating means 132 so that the substrate setting directions to the coating devices 2a, 2b are the same,
It eliminates the inconvenience that the vertical direction of the substrate 7 is reversed and that the edge rinsing part is different, which occurs in the conventional multi-paneling and title display.
However, if these points are not a problem,
These substrate rotating means 160 and substrate rotating means 121a
Needless to say, it is not necessary to provide the aa, 121bbb and the substrate rotating means 132, but in this case as well, the substrate holding stages 3a, 3b share a setting position, which is a substrate setting area where the substrate holding stage 3a has a predetermined angle posture, so that the installation is possible. The space can be shared, the overall system length can be reduced, the footprint can be degraded, the layout restrictions due to the overall system length can be eliminated, and the effect of using a single lift pin unit can be obtained. Can be
【0239】さらに、上記実施形態1〜4では、塗布装
置2a,2bは基板搬送経路を介して対向配置される
か、または直角または鈍角をなす角度を有するように隣
設配置するように構成したが、これらの対向配置は必ず
しも正対している必要はなく、例えば互いに若干斜めを
向いた状態で対向しているものでもよい。また、例えば
対向配置した塗布装置2a,2bと、これとは別に直角
または鈍角を有するように隣設配置した塗布装置2a,
2bとを共に設けるようにすることもできるし、直角ま
たは鈍角を有するように隣設配置した塗布装置2a,2
bに基板搬送経路を介して別の塗布装置を対向配設する
こともできて、上記実施形態1〜4の一部をそれぞれ組
み合わせることができる。例えば図26に示す実施形態
4の構成に対して、基板搬送方向をはさんで向い側に1
台または2台の塗布装置を設けることより、1台の多関
節水平ロボット141による基板搬送で塗布装置が3台
または4台の運用も可能である。Further, in the first to fourth embodiments, the coating apparatuses 2a and 2b are arranged to be opposed to each other via the substrate transfer path, or are arranged adjacently so as to have a right angle or an obtuse angle. However, these opposed arrangements do not necessarily have to face each other, and may be, for example, opposed to each other in a slightly inclined state. In addition, for example, the coating devices 2a and 2b that are arranged to face each other, and the coating devices 2a and 2b that are separately arranged so as to have a right angle or an obtuse angle.
2b may be provided together, or the coating devices 2a and 2 disposed adjacently so as to have a right angle or an obtuse angle.
Another coating apparatus can be disposed to face b through a substrate transport path, and a part of the first to fourth embodiments can be combined. For example, in contrast to the configuration of Embodiment 4 shown in FIG.
By providing one or two coating apparatuses, three or four coating apparatuses can be operated by transferring a substrate by one articulated horizontal robot 141.
【0240】[0240]
【発明の効果】以上のように本発明の請求項1によれ
ば、第1および第2の基板処理手段が配置され、その一
方側の基板処理手段に基板を供給する場合と、その他方
側の基板処理手段に基板を供給する場合とで、各姿勢変
換手段による各基板処理手段への基板セッティング方向
が逆方向となる場合があるが、上記構成により、各基板
処理手段の入口側で、各基板処理手段への基板セッティ
ング方向が同一方向となるように基板回動手段で基板を
方向転換させるようにすれば、各基板処理手段の入口側
に基板回動手段がない場合と比べて多面取りやタイトル
表示などで生じる基板上下が逆になるという不都合を解
消することができる。As described above, according to the first aspect of the present invention, the first and second substrate processing means are arranged, and the substrate is supplied to one of the substrate processing means and the other substrate processing means. In the case of supplying a substrate to the substrate processing means, the substrate setting direction to each substrate processing means by each attitude conversion means may be in the opposite direction, but with the above configuration, at the entrance side of each substrate processing means, If the direction of the substrate is changed by the substrate rotating means so that the directions of setting the substrates to the respective substrate processing means are the same, the number of substrates can be increased as compared with the case where there is no substrate rotating means at the entrance side of each substrate processing means. The inconvenience that the substrate is turned upside down due to chamfering or title display can be solved.
【0241】さらに、本発明の請求項2によれば、基板
回動手段が第1の姿勢変換手段に搬送されるか第2の姿
勢変換手段に搬送されるかに応じて基板を回動させるよ
うにすれば、各基板処理手段への基板セッティング方向
が第1の姿勢変換手段と第2の姿勢変換手段とによって
基板上下が逆になるという不都合を解消することができ
る。Further, according to the second aspect of the present invention, the substrate is rotated according to whether the substrate rotating means is transported to the first attitude converting means or the second attitude converting means. By doing so, it is possible to eliminate the inconvenience that the substrate setting direction for each substrate processing means is turned upside down by the first attitude converting means and the second attitude converting means.
【0242】さらに、本発明の請求項3によれば、基板
回動手段が第1の姿勢変換手段に搬送されるか第2の姿
勢変換手段に搬送されるかに応じて、各姿勢変換手段の
配置関係に応じた回動角度だけ基板を回動させるように
すれば、各種配置関係の各基板処理手段への基板セッテ
ィング方向が第1の姿勢変換手段と第2の姿勢変換手段
とによって基板上下が逆になるという不都合を解消する
ことができる。Further, according to the third aspect of the present invention, each of the posture changing means depends on whether the substrate rotating means is conveyed to the first posture changing means or to the second posture changing means. If the substrate is rotated by a rotation angle corresponding to the arrangement relation of the substrate, the substrate setting directions for the substrate processing means of various arrangement relations can be adjusted by the first posture conversion means and the second posture conversion means. The inconvenience of turning upside down can be eliminated.
【0243】本発明の請求項4によれば、対向配置され
た各基板処理装置のうち一方に供給される基板のみ基板
回動手段で180度方向転換させた後に基板保持ステー
ジの基板保持面上に基板移載手段で移送するため、対向
配置された各基板処理装置への基板セッティング方向は
同一方向となって、従来のように多面取りやタイトル表
示などで生じる不都合を解消することができる。According to the fourth aspect of the present invention, only the substrate supplied to one of the opposed substrate processing apparatuses is turned 180 degrees by the substrate rotating means, and then the substrate is turned on the substrate holding surface of the substrate holding stage. Since the substrate is transferred by the substrate transfer means, the substrate setting directions for the substrate processing apparatuses arranged opposite to each other are the same direction, so that the inconvenience that occurs in conventional multi-panel picking and title display can be eliminated.
【0244】また、本発明の請求項5によれば、処理済
み基板搬送経路上に移送される180度方向転換した基
板のみ第2基板回動手段でさらに180度方向転換させ
て元に戻すようにするため、各基板処理装置から処理済
み基板搬送経路を経て次工程に供給する基板方向が同一
方向となって、次工程におけるエッジリンス処理や各種
露光焼付処理などの基板処理を容易なものとすることが
できる。Further, according to the fifth aspect of the present invention, only the substrate which has been turned on the processed substrate transport path and turned by 180 degrees is further turned by 180 degrees by the second substrate rotating means and returned to the original position. Therefore, the direction of the substrate to be supplied from the substrate processing apparatus to the next process via the processed substrate transport path is the same direction, so that the substrate process such as the edge rinsing process and various exposure printing processes in the next process can be easily performed. can do.
【0245】さらに、本発明の請求項6によれば、互い
に鈍角または直角に隣設配置された各基板処理装置にそ
れぞれ供給される基板方向が同一となるように基板回動
手段で回動させた後に基板保持ステージの基板保持面上
に基板移載手段で移送するため、鈍角または直角に隣設
配置された各基板処理装置への基板セッティング方向は
同一方向となって、従来のように多面取りやタイトル表
示など生じる不都合を解消することができる。Further, according to the sixth aspect of the present invention, the substrate is rotated by the substrate rotating means so that the directions of the substrates supplied to the respective substrate processing apparatuses disposed adjacent to each other at an obtuse angle or a right angle become the same. After that, the substrate is transferred onto the substrate holding surface of the substrate holding stage by the substrate transfer means, so that the substrate setting directions for the substrate processing apparatuses disposed adjacent to each other at an obtuse angle or at a right angle are the same, and as in the related art, Inconveniences such as chamfering and title display can be eliminated.
【0246】さらに、本発明の請求項7によれば、処理
済み基板搬送経路上に移送される基板を第2基板回動手
段で基板方向が同一となるように回動させるため、各基
板処理装置から処理済み基板搬送経路を経て次工程に供
給する基板方向が同一方向となって、次工程におけるエ
ッジリンス処理や各種露光焼付処理などの基板処理を容
易なものとすることができる。Further, according to the seventh aspect of the present invention, the substrate transferred onto the processed substrate transport path is rotated by the second substrate rotating means so that the substrate direction is the same. The direction of the substrate supplied from the apparatus to the next step via the processed substrate transport path is the same direction, and substrate processing such as edge rinsing processing and various exposure printing processing in the next step can be facilitated.
【0247】さらに、本発明の請求項8によれば、多関
節ロボットなどの基板移載手段で、隣設配置された各基
板処理装置にそれぞれ供給される基板方向が同一となる
ように処理前基板を移送するため、隣設配置された各基
板処理装置への基板セッティング方向は同一方向となっ
て、従来のように多面取りやタイトル表示などで生じる
不都合を解消することができる。Further, according to the eighth aspect of the present invention, the substrate transfer means such as an articulated robot performs pre-processing so that the directions of the substrates supplied to the adjacently disposed substrate processing apparatuses are the same. Since the substrates are transferred, the directions of setting the substrates to the adjacently disposed substrate processing apparatuses are the same, so that it is possible to eliminate the inconvenience that occurs in conventional multi-screening and title display.
【図1】本発明の実施形態1の基板処理システムの概略
要部構成を示す一部断面図である。FIG. 1 is a partial cross-sectional view illustrating a schematic main configuration of a substrate processing system according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1の基板処理システムの概略要部構成を模式
的に示す平面図である。FIG. 2 is a plan view schematically showing a schematic configuration of a main part of the substrate processing system of FIG. 1;
【図3】図1の旋回手段の基板保持ステージを塗布装置
にセッティングした状態を模式的に示す基板処理システ
ムの一部側面図である。FIG. 3 is a partial side view of a substrate processing system schematically showing a state in which a substrate holding stage of a rotating unit in FIG. 1 is set in a coating apparatus.
【図4】トグルクランプ機構が取付られた状態を示す図
3のE部の拡大図である。4 is an enlarged view of a portion E in FIG. 3 showing a state where a toggle clamp mechanism is attached.
【図5】図1の旋回手段の旋回駆動手段およびステージ
移動手段の動作を説明するための概略要部構成を模式的
に示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part for describing operations of a turning drive unit and a stage moving unit of the turning unit of FIG. 1;
【図6】図1の旋回手段における回動制御の一例を模式
的に示す制御構成図である。FIG. 6 is a control configuration diagram schematically showing an example of rotation control in the turning means of FIG. 1;
【図7】図2の基板移載手段8の概略要部構成を模式的
に示す一部斜視図である。FIG. 7 is a partial perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part of the substrate transfer means 8 of FIG. 2;
【図8】本発明の基板回動手段の概略要部構成を模式的
に示す斜視図である。FIG. 8 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part of the substrate rotating means of the present invention.
【図9】図8における基板センタリング制御の構成を示
すブロック図である。FIG. 9 is a block diagram illustrating a configuration of substrate centering control in FIG. 8;
【図10】(a)〜(c)は図1の基板処理システムの
動作を示す図である。FIGS. 10A to 10C are diagrams showing the operation of the substrate processing system of FIG.
【図11】(a)〜(c)は図1の基板処理システムの
動作を示す図である。FIGS. 11A to 11C are diagrams illustrating the operation of the substrate processing system of FIG. 1;
【図12】(a),(b)は図1の基板処理システムの
動作を示す図である。FIGS. 12A and 12B are diagrams illustrating the operation of the substrate processing system of FIG. 1;
【図13】図9に対する変形例であって、(a)は基板
に対するエッジ検知位置を示す図、(b)は基板とエッ
ジ検知位置とが左側で全て外れた場合の図、(c)は基
板とエッジ検知位置とが左側で1つ外れた場合の図、
(d)は図13(a)〜図13(c)に対する変形例
で、エッジ検知位置に対する基板の移動制御を示す図あ
る。FIGS. 13A and 13B are modified examples of FIGS. 9A and 9B, wherein FIG. 13A shows an edge detection position with respect to the substrate, FIG. 13B shows a case where the substrate and the edge detection position are all off the left side, and FIG. Figure when the board and the edge detection position deviate by one on the left side,
FIG. 13D is a modification example of FIGS. 13A to 13C and illustrates the control of the movement of the substrate with respect to the edge detection position.
【図14】図8の基板回動手段におけるセンタリング機
構がメカニカル機構の場合を示す斜視図である。FIG. 14 is a perspective view showing a case where the centering mechanism in the substrate rotating means of FIG. 8 is a mechanical mechanism.
【図15】図8および図14に対する変形例であって、
クールプレートを用いる場合の概略構成を模式的に示す
斜視図である。FIG. 15 is a modification example of FIGS. 8 and 14,
It is a perspective view which shows typically the schematic structure at the time of using a cool plate.
【図16】本発明の実施形態2の基板処理システムの概
略要部構成を模式的に示す平面図である。FIG. 16 is a plan view schematically illustrating a schematic configuration of a main part of a substrate processing system according to a second embodiment of the present invention.
【図17】図16の基板処理システムの概略要部構成を
模式的に示す斜視図である。FIG. 17 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part of the substrate processing system of FIG. 16;
【図18】図16の変形例を模式的に示す平面図であ
る。FIG. 18 is a plan view schematically showing a modification of FIG.
【図19】図18の変形例の斜視図である。FIG. 19 is a perspective view of a modification of FIG. 18;
【図20】本発明の実施形態3の基板処理システムの概
略要部構成を模式的に示す平面図である。FIG. 20 is a plan view schematically illustrating a schematic configuration of a main part of a substrate processing system according to a third embodiment of the present invention.
【図21】図20の基板処理システムの概略要部構成を
模式的に示す斜視図である。21 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part of the substrate processing system of FIG. 20;
【図22】図20の第1変形例を模式的に示す平面図で
ある。FIG. 22 is a plan view schematically showing a first modification of FIG.
【図23】図22の変形例の斜視図である。FIG. 23 is a perspective view of a modification of FIG. 22;
【図24】図20の第2変形例を模式的に示す図であっ
て、塗布装置2bに基板受渡しする場合の平面図であ
る。FIG. 24 is a view schematically showing a second modification of FIG. 20, and is a plan view when a substrate is delivered to a coating apparatus 2b.
【図25】図24の変形例の斜視図である。FIG. 25 is a perspective view of a modification of FIG. 24;
【図26】本発明の実施形態4の基板処理システムの概
略要部構成を模式的に示す平面図である。FIG. 26 is a plan view schematically illustrating a schematic configuration of a main part of a substrate processing system according to a fourth embodiment of the present invention.
【図27】図26の基板処理システムの概略要部構成を
模式的に示す斜視図である。FIG. 27 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of a main part of the substrate processing system of FIG. 26;
【図28】図26の変形例を模式的に示す平面図であ
る。FIG. 28 is a plan view schematically showing a modification of FIG. 26;
【図29】図28の変形例の斜視図である。FIG. 29 is a perspective view of a modification of FIG. 28.
【図30】仮想の従来技術における塗布システムの要部
構成を模式的に示す正面図である。FIG. 30 is a front view schematically illustrating a main configuration of a coating system according to a virtual conventional technique.
【図31】図30の多関節ロボットにおけるアーム部の
先端吸着部分におけるトグル式チャック開閉機構の要部
構成を示す側面図である。FIG. 31 is a side view showing a main configuration of a toggle-type chuck opening / closing mechanism at a tip suction portion of an arm in the articulated robot of FIG. 30;
【図32】図31のトグル式チャック開閉機構を模式的
に示す動作説明用の斜視図である。FIG. 32 is a perspective view for schematically illustrating the operation of the toggle chuck opening / closing mechanism of FIG. 31;
1 基板処理システム 2a,2b 塗布装置 3a,3b 基板保持ステージ 4a,4b 旋回手段(姿勢変換手段) 6 処理前基板搬送経路 6a 取込位置 6x 入口側基板待機位置 7 基板 8a 処理前基板移載手段 8b 処理済み基板移載手段 9 処理済み基板搬送経路 9a 受渡位置 9x 出口側基板待機位置 10a,10b セッティング位置 11 ノズル手段 20a 旋回駆動手段 109,120,140 基板処理システム 110a,110b 搬送旋回アーム 121a 処理前基板移載手段 121b 処理済み基板移載手段 121aa,121bb 基板載置部 133,133a 基板水平搬送ロボット 141,141a 多関節水平ロボット 160,121aaa,121bbb,132 基板
回動手段DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing system 2a, 2b Coating device 3a, 3b Substrate holding stage 4a, 4b Turning means (posture conversion means) 6 Pre-processing substrate transport path 6a Take-in position 6x Inlet-side substrate standby position 7 Substrate 8a Pre-processing substrate transfer means 8b Processed substrate transfer means 9 Processed substrate transfer path 9a Delivery position 9x Exit side substrate standby position 10a, 10b Setting position 11 Nozzle means 20a Swivel drive means 109, 120, 140 Substrate processing system 110a, 110b Transfer swivel arm 121a Processing Front substrate transfer means 121b Treated substrate transfer means 121aa, 121bb Substrate placement parts 133, 133a Horizontal substrate transfer robot 141, 141a Articulated horizontal robot 160, 121aaa, 121bbb, 132 Substrate rotation means
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/68 H01L 21/68 A ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H01L 21/68 H01L 21/68 A
Claims (8)
保持する第1の受入手段と、 該第1の受入手段を回動させることにより第1の受入手
段により保持した基板を当該基板面内において回動可能
な基板回動手段と、 該第1の受入手段から基板を受け入れて保持する第2の
受入手段と、 該第2の受入手段により保持された基板を受け取り保持
して該基板を垂直または傾斜姿勢に変換する第1の姿勢
変換手段と、 第1の姿勢変換手段に保持された垂直または傾斜姿勢の
基板に対して処理を施す第1の基板処理手段と、 前記第2の受入手段に保持された基板を受け取り保持し
て該基板を垂直または傾斜姿勢に変換する第2の姿勢変
換手段と、 第2の姿勢変換手段に保持された垂直または傾斜姿勢の
基板に対して処理を施す第2の基板処理手段とを有する
ことを特徴とする基板処理システム。1. A first receiving means for receiving and holding a substrate conveyed in a predetermined posture, and a substrate held by the first receiving means by rotating the first receiving means in a plane of the substrate. , A substrate rotating means rotatable at a second position, a second receiving means for receiving and holding a substrate from the first receiving means, and a substrate held by the second receiving means for receiving and holding the substrate. First attitude converting means for converting the attitude into a vertical or inclined attitude, first substrate processing means for performing processing on a substrate in a vertical or inclined attitude held by the first attitude converting means, and the second receiving means Second attitude converting means for receiving and holding the substrate held by the means and converting the substrate into a vertical or inclined attitude; and performing processing on the substrate in the vertical or inclined attitude held by the second attitude converting means. Second substrate processing means to be applied; A substrate processing system comprising:
第1の姿勢変換手段であるか前記第2の姿勢変換手段で
あるかに応じて当該基板を回動させるものであることを
特徴とする請求項1に記載の基板処理システム。2. The method according to claim 1, wherein the substrate rotating unit is configured to determine whether the destination of the substrate held by the first receiving unit is the first posture changing unit or the second posture changing unit. The substrate processing system according to claim 1, wherein the substrate is rotated.
第1の姿勢変換手段であるか前記第2の姿勢変換手段で
あるかに応じて、当該基板の搬送先である前記第1の姿
勢変換手段と前記第2の姿勢変換手段との配置関係に応
じた回動角度だけ、当該基板を回動させるものであるこ
とを特徴とする請求項6に記載の基板処理システム。3. The method according to claim 1, wherein the substrate rotating unit is configured to: transfer the substrate held by the first receiving unit to the first position changing unit or the second position changing unit; The substrate is rotated by a rotation angle corresponding to a positional relationship between the first attitude conversion unit and the second attitude conversion unit that is a destination of the substrate. 7. The substrate processing system according to 6.
で搬送されてきた処理前基板を基板処理装置の基板処理
位置上に移送して垂直または傾斜姿勢で基板処理すると
共に、この基板処理装置で基板処理された処理済み基板
を前記基板処理装置の基板処理位置から処理済み基板搬
送経路に移送する基板処理システムにおいて、 前記基板処理装置が対向配置され、 この対向配置された各基板処理装置に対してそれぞれ、
基板を保持する基板保持ステージの基板保持面が軸支部
を回動中心として所定角度姿勢と垂直または傾斜姿勢の
何れかになるように前記基板保持ステージを回動自在な
各旋回手段がそれぞれ配置され、 前記処理前基板搬送経路から移載され、前記対向配置さ
れた各基板処理装置のうち一方に供給される基板のみ1
80度方向転換させる基板回動手段と、 この基板回動手段から前記所定角度姿勢の基板保持ステ
ージの基板保持面上に基板を移送すると共に、前記基板
処理装置で基板処理された処理済み基板を前記所定角度
姿勢の基板保持ステージから前記処理済み基板搬送経路
上に移送する基板移載手段とが配置されたことを特徴と
する基板処理システム。4. A pre-processed substrate that has been conveyed in a pre-processed substrate conveyance path at a predetermined conveyance angle posture is transferred to a substrate processing position of a substrate processing apparatus, and is processed in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for transferring a processed substrate that has been subjected to the substrate processing from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed in opposition to each of the substrate processing apparatuses disposed in opposition. In contrast,
Each of the turning means is arranged so that the substrate holding stage is rotatable so that the substrate holding surface of the substrate holding stage holding the substrate is at a predetermined angle posture and either a vertical or inclined posture with the pivot portion as a rotation center. Only one substrate transferred from the pre-processing substrate transport path and supplied to one of the opposed substrate processing apparatuses is 1
A substrate rotating unit for changing the direction by 80 degrees, and transferring the substrate from the substrate rotating unit onto the substrate holding surface of the substrate holding stage in the predetermined angle posture, and processing the processed substrate processed by the substrate processing apparatus. And a substrate transfer unit configured to transfer the substrate from the substrate holding stage having the predetermined angle to the processed substrate transfer path.
で搬送されてきた処理前基板を基板処理装置の基板処理
位置上に移送して垂直または傾斜姿勢で基板処理すると
共に、この基板処理装置で基板処理された処理済み基板
を前記基板処理装置の基板処理位置から処理済み基板搬
送経路に移送する基板処理システムにおいて、 前記基板処理装置が対向配置され、 この対向配置された各基板処理装置に対してそれぞれ、
基板を保持する基板保持ステージの基板保持面が軸支部
を回動中心として所定角度姿勢と垂直または傾斜姿勢の
何れかになるように前記基板保持ステージを回動自在な
各旋回手段がそれぞれ配置され、 前記処理前基板搬送経路から移載され、前記対向配置さ
れた各基板処理装置のうち一方に供給される基板のみ1
80度方向転換させる第1基板回動手段と、 前記処理済み基板搬送経路上に移送される前記180度
方向転換した基板のみさらに180度方向転換させて元
に戻す第2基板回動手段と、 この第1基板回動手段から前記所定角度姿勢の基板保持
ステージの基板保持面上に処理前基板を移送すると共
に、前記基板処理装置で基板処理された処理済み基板を
前記所定角度姿勢の基板保持ステージから前記第2基板
回動手段上に移送する基板移載手段とが配置されたこと
を特徴とする基板処理システム。5. An unprocessed substrate transported in a pre-processed substrate transport path at a predetermined transport angle posture to a substrate processing position of a substrate processing apparatus for processing the substrate in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for transferring a processed substrate that has been subjected to the substrate processing from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed in opposition to each of the substrate processing apparatuses disposed in opposition. In contrast,
Each of the turning means is arranged so that the substrate holding stage is rotatable so that the substrate holding surface of the substrate holding stage holding the substrate is at a predetermined angle posture and either a vertical or inclined posture with the pivot portion as a rotation center. Only one substrate transferred from the pre-processing substrate transport path and supplied to one of the opposed substrate processing apparatuses is 1
First substrate turning means for turning by 80 degrees, second substrate turning means for turning only the 180-turned substrate transferred on the processed substrate transport path further and turning it back by 180 degrees, The unprocessed substrate is transferred from the first substrate rotating means onto the substrate holding surface of the substrate holding stage in the predetermined angle posture, and the processed substrate processed by the substrate processing apparatus is held in the substrate in the predetermined angle posture. A substrate processing system, comprising: a substrate transfer means for transferring the substrate from the stage onto the second substrate rotating means.
で搬送されてきた処理前基板を基板処理装置の基板処理
位置上に移送して垂直または傾斜姿勢で基板処理すると
共に、この基板処理装置で基板処理された処理済み基板
を前記基板処理装置の基板処理位置から処理済み基板搬
送経路に移送する基板処理システムにおいて、 前記基板処理装置が所定角度をなすように隣設配置さ
れ、 この隣設された各基板処理装置に対してそれぞれ、基板
を保持する基板保持ステージの基板保持面が軸支部を回
動中心として所定角度姿勢と垂直または傾斜姿勢の何れ
かになるように前記基板保持ステージを回動自在な各旋
回手段が隣設され、 前記処理前基板搬送経路から移載され、前記隣設配置さ
れた各基板処理装置にそれぞれ供給される基板方向が同
一となるように回動させる基板回動手段と、 この基板回動手段からの基板を前記所定角度姿勢の基板
保持ステージの基板保持面上に移送すると共に、前記基
板処理装置で基板処理された処理済み基板を前記所定角
度姿勢の基板保持ステージから前記処理済み基板搬送経
路上に移送する基板移載手段が配置されたことを特徴と
する基板処理システム。6. An unprocessed substrate transported in a pre-processed substrate transport path at a predetermined transport angle attitude to a substrate processing position of a substrate processing apparatus and processed in a vertical or inclined attitude. In the substrate processing system for transferring the processed substrate processed by the substrate processing apparatus from the substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed adjacently so as to form a predetermined angle. For each of the substrate processing apparatuses, the substrate holding stage of the substrate holding stage for holding the substrate is held at a predetermined angle with respect to the pivot portion as a rotation center, and the substrate holding stage is vertically or inclined. Each of the rotatable circling means is adjacently disposed, the substrate is transferred from the pre-processing substrate transfer path, and the direction of the substrate supplied to each of the adjacently disposed substrate processing apparatuses is the same. A substrate rotating means for rotating the substrate from the substrate rotating means onto the substrate holding surface of the substrate holding stage in the predetermined angle posture, and a substrate processed by the substrate processing apparatus. A substrate processing system, comprising: a substrate transfer unit configured to transfer a substrate from the substrate holding stage having the predetermined angle to the processed substrate transfer path.
で搬送されてきた処理前基板を基板処理装置の基板処理
位置上に移送して垂直または傾斜姿勢で基板処理すると
共に、この基板処理装置で基板処理された処理済み基板
を前記基板処理装置の基板処理位置から処理済み基板搬
送経路に移送する基板処理システムにおいて、 前記基板処理装置が鈍角または直角に隣設配置され、 この隣設された各基板処理装置に対してそれぞれ、基板
を保持する基板保持ステージの基板保持面が軸支部を回
動中心として所定角度姿勢と垂直または傾斜姿勢の何れ
かになるように前記基板保持ステージを回動自在な各旋
回手段がそれぞれ隣設され、 前記処理前基板搬送経路から移載され、前記隣設配置さ
れた各基板処理装置にそれぞれ供給される基板方向が同
一となるように回動させる第1基板回動手段と、 前記隣設された各基板処理装置の前記基板保持ステージ
から移載される基板の方向が同一となるように回動させ
る第2基板回動手段と、 この第1基板回動手段から前記所定角度姿勢の基板保持
ステージの基板保持面上に処理前基板を移送すると共
に、前記基板処理装置で基板処理された処理済み基板を
前記所定角度姿勢の基板保持ステージから前記第2基板
回動手段上に移送する基板移載手段とが配置されたこと
を特徴とする基板処理システム。7. An unprocessed substrate transported in a pre-processing substrate transport path at a predetermined transport angle posture is transferred to a substrate processing position of a substrate processing apparatus and processed in a vertical or inclined posture. In a substrate processing system for transferring a processed substrate that has been subjected to the substrate processing from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed adjacently at an obtuse angle or a right angle, and For each of the substrate processing apparatuses, the substrate holding stage is rotated so that the substrate holding surface of the substrate holding stage for holding the substrate is at a predetermined angle posture and either vertical or inclined around the pivot portion. Each of the free turning means is disposed adjacent to each other, transferred from the pre-processing substrate transfer path, and supplied to the adjacently disposed substrate processing apparatuses in the same direction. First substrate rotating means for rotating so as to be one, and second substrate for rotating so that the direction of a substrate transferred from the substrate holding stage of each of the adjacent substrate processing apparatuses is the same. Rotating means, transferring the unprocessed substrate from the first substrate rotating means onto the substrate holding surface of the substrate holding stage in the predetermined angle posture, and transferring the processed substrate processed by the substrate processing apparatus to the predetermined position. A substrate processing system, wherein substrate transfer means for transferring the substrate from the substrate holding stage in an angular posture onto the second substrate rotating means is arranged.
で搬送されてきた処理前基板を基板処理装置の基板処理
位置上に移送して垂直または傾斜姿勢で基板処理すると
共に、この基板処理装置で基板処理された処理済み基板
を前記基板処理装置の基板処理位置から処理済み基板搬
送経路に移送する基板処理システムにおいて、 前記基板処理装置が鈍角または直角に隣設配置され、 この隣設された各基板処理装置に対してそれぞれ、基板
を保持する基板保持ステージの基板保持面が軸支部を回
動中心として所定角度姿勢と垂直または傾斜姿勢の何れ
かになるように前記基板保持ステージを回動自在な各旋
回手段がそれぞれ隣設され、 前記処理前基板搬送経路から前記所定角度姿勢の基板保
持ステージの基板保持面上に、前記隣設配置された各基
板処理装置にそれぞれ供給される基板方向が同一となる
ように処理前基板を移送すると共に、前記基板処理装置
で基板処理された処理済み基板を前記所定角度姿勢の基
板保持ステージから前記処理済み基板搬送経路上に移送
する基板移載手段とが配置されたことを特徴とする基板
処理システム。8. An unprocessed substrate transported along a pre-processing substrate transport path at a predetermined transport angle attitude to a substrate processing position of a substrate processing apparatus, and the substrate is processed in a vertical or inclined attitude. In a substrate processing system for transferring a processed substrate that has been subjected to the substrate processing from a substrate processing position of the substrate processing apparatus to a processed substrate transport path, the substrate processing apparatus is disposed adjacently at an obtuse angle or a right angle, and For each of the substrate processing apparatuses, the substrate holding stage is rotated so that the substrate holding surface of the substrate holding stage for holding the substrate is at a predetermined angle posture and either vertical or inclined around the pivot portion. Each of the free turning means is disposed adjacent to each other, and each of the bases disposed adjacent to each other on the substrate holding surface of the substrate holding stage at the predetermined angle from the pre-processing substrate transfer path. The pre-processed substrate is transferred so that the directions of the substrates supplied to the plate processing apparatus are the same, and the processed substrate processed by the substrate processing apparatus is transferred from the substrate holding stage at the predetermined angle to the processed substrate. A substrate processing system, comprising: a substrate transfer unit that transfers the substrate on a transport path.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12133098A JPH11309408A (en) | 1998-04-30 | 1998-04-30 | Substrate treating system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12133098A JPH11309408A (en) | 1998-04-30 | 1998-04-30 | Substrate treating system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11309408A true JPH11309408A (en) | 1999-11-09 |
Family
ID=14808598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12133098A Abandoned JPH11309408A (en) | 1998-04-30 | 1998-04-30 | Substrate treating system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11309408A (en) |
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1998
- 1998-04-30 JP JP12133098A patent/JPH11309408A/en not_active Abandoned
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