JPH11306760A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH11306760A
JPH11306760A JP10111638A JP11163898A JPH11306760A JP H11306760 A JPH11306760 A JP H11306760A JP 10111638 A JP10111638 A JP 10111638A JP 11163898 A JP11163898 A JP 11163898A JP H11306760 A JPH11306760 A JP H11306760A
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JP
Japan
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bank
read
precharge
auto
semiconductor memory
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JP10111638A
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Inventor
Kenji Nishimoto
賢二 西本
Yoshitaka Kinoshita
嘉隆 木下
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 オートプリチャージ付きリード/ライト動作
中に他バンクのリード/ライト動作のインタラプトが発
生した際、プリチャージ動作の開始ポイントを速めて次
のアクティブコマンドの入力を速くできる半導体記憶装
置を提供する。 【解決手段】 メモリアレイバンクと、その周辺回路か
らなる2バンク16MビットSDRAMであって、制御
論理&タイミング発生器にはインタラプト用制御回路が
内蔵され、選択された特定のメモリアレイバンクのオー
トプリチャージ付きリード/ライト動作中に、他のメモ
リアレイバンクのリード/ライト動作のインタラプトを
可能とすることができる。1サイクル目のバンク0のオ
ートプリチャージ付きリードコマンドReadA0が入
力され、3サイクル目にバンク1のリードコマンドRe
ad1のインタラプトが発生する動作例においては、次
の4サイクル目にバンク0のプリチャージ動作が開始さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置技
術に関し、特に外部クロック信号に同期して動作し、複
数のバンクを有するメモリにおいて、入出力仕様として
オートプリチャージ付きリード/ライト動作中に他バン
クのリード/ライト動作のインタラプトが可能なシンク
ロナスDRAM(SDRAM)などの半導体記憶装置に
適用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、本発明者が検討した技術とし
て、SDRAMでは、プリチャージコマンドの実行を不
要とするために、リード/ライト動作終了後に自動的に
プリチャージ動作を行うことが可能なオートプリチャー
ジ付きリード/ライトコマンドを用いる技術などが考え
られる。このオートプリチャージ付きリード/ライト動
作中は、リード/ライトコマンドの入力は仕様で保証さ
れていない。
【0003】なお、このようなSDRAMなどの半導体
記憶装置に関する技術としては、たとえば1994年1
1月5日、株式会社培風館発行の「アドバンスト エレ
クトロニクスI−9 超LSIメモリ」P344〜P3
48などに記載される技術などが挙げられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
なSDRAMなどの半導体記憶装置においては、たとえ
ば2バンクのうちのバンク0,1ともに、オートプリチ
ャージ付きリード動作中のリード/ライトコマンドの入
力は受け付けず、従ってオートプリチャージ付きリード
/ライトコマンドの入力後、バースト長のサイクル後か
ら他のバンクのリード/ライトコマンドを入力する必要
が生じる。
【0005】この動作は、たとえば図6のようなタイミ
ングとなる。図6において、CASレイテンシーCL=
3、バースト長BL=4の条件で、“ReadA0”は
バンク0のオートプリチャージ付きリードコマンド、
“a0”〜“a3”はバンク0のリードデータである。
すなわち、バンク0のオートプリチャージ付きリード動
作中にバンク1のリード/ライト動作のインタラプトが
発生すると、BL=4なので、4サイクル後から次のコ
マンドの入力が可能である。
【0006】以上のように、特定のバンクのオートプリ
チャージ付きリード/ライト動作中に他のバンクのリー
ド/ライト動作を実施する場合、先のオートプリチャー
ジ付きリード/ライト動作の完了した後で次のコマンド
を入力する必要がある。このために、プリチャージ動作
が開始するポイントが遅くなり、次のアクティブコマン
ドの入力が制限されることが考えられる。
【0007】そこで、本発明の目的は、特定のバンクの
オートプリチャージ付きリード/ライト動作中に他のバ
ンクのリード/ライト動作のインタラプトが可能な制御
方式を提案し、プリチャージ動作の開始ポイントを速め
て次のアクティブコマンドの入力を速くすることができ
る半導体記憶装置を提供するものである。
【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
次のとおりである。
【0010】すなわち、本発明による半導体記憶装置
は、オートプリチャージ付きリード/ライト動作中に他
のバンクのリード/ライト動作のインタラプトができる
制御回路を追加し、入出力仕様としての新規制御方式を
提案するものである。
【0011】この構成において、各バンクに対応する複
数のバーストエンド判定回路と複数のカラムアドレスカ
ウンタとを設け、インタラプトに関係なく、バーストエ
ンド判定後、プリチャージ動作を開始するようにした
り、あるいは各バンクに対応するカラムイネーブル信号
発生回路を設け、インタラプトされた次のサイクルから
プリチャージ動作を開始するようにしたものである。
【0012】よって、前記半導体記憶装置によれば、オ
ートプリチャージ付きリード/ライト動作中に他のバン
クのリード/ライト動作のインタラプトが可能となり、
特に1つの制御方式として、インタラプトされた次のサ
イクルからプリチャージ動作を開始することができる。
この方式により、小規模回路で機能が実現できる。しか
も、プリチャージ動作が開始するポイントが速いため、
次のアクティブコマンドの入力が速くできる。
【0013】これにより、これまでのSDRAMでは、
オートプリチャージ付きリード/ライト動作中に他のバ
ンクのリード/ライトを行いたい場合、先のオートプリ
チャージ付きライト動作が完了した後で次のコマンドを
入力する必要があったが、本制御による入出力仕様を追
加することにより、オートプリチャージ付きリード/ラ
イト動作中にリード/ライト動作のインタラプトができ
るようになる。
【0014】これは、プリチャージ動作が開始するポイ
ントが速いため、次のアクティブコマンドの入力が速く
できるのは、バンク毎のカラムイネーブル信号による制
御方式のためである。特に、外部クロック信号に同期し
て動作するSDRAMなどに適用できる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
【0016】図1は本発明の一実施の形態である半導体
記憶装置を示す全体ブロック図、図2(a),(b) は本実施
の形態の半導体記憶装置において、第1の制御方式の動
作例を示すタイミング図、図3は第2の制御方式の動作
例を示すタイミング図、図4は第2の制御方式の回路例
を示す回路図、図5は第2の制御方式の回路動作例を示
すタイミング図である。
【0017】まず、図1により本実施の形態の半導体記
憶装置の構成を説明する。
【0018】本実施の形態の半導体記憶装置は、たとえ
ば2バンク16MビットSDRAMとされ、メモリアレ
イバンク1,2と、各メモリアレイバンク1,2に対応
するロウデコーダ3,4、カラムデコーダ5,6および
センスアンプ&入出力バス7,8と、共通のロウアドレ
スバッファ9、カラムアドレスバッファ10、カラムア
ドレスカウンタ11、リフレッシュカウンタ12、入力
バッファ13、出力バッファ14、制御論理&タイミン
グ発生器15などの一般的な構成からなり、周知の半導
体製造技術により1個の半導体チップ上に形成されてい
る。
【0019】このSDRAMには、外部からアドレス信
号Aiが入力され、ロウアドレス信号XA、カラムアド
レス信号YAが生成されて、それぞれロウアドレスバッ
ファ9、カラムアドレスバッファ10に入力され、ロウ
デコーダ3,4、カラムデコーダ5,6を介してメモリ
アレイバンク1,2内の任意のメモリセルが選択され
る。そして、入出力データI/Oiは、書き込み動作時
に入力バッファ13を介して入力され、読み出し動作時
にセンスアンプ&入出力バス7,8、出力バッファ14
を介して出力される。
【0020】また、制御信号として、外部クロック信号
CLK、クロックイネーブル信号CKE、チップセレク
ト信号/CS、ロウアドレスストローブ信号/RAS、
カラムアドレスストローブ信号/CAS、ライトイネー
ブル信号/WE、データマスク信号DQMなどが外部か
ら入力され、これらの制御信号に基づいて制御論理&タ
イミング発生器15によりコマンド、内部制御信号が生
成され、このコマンド、内部制御信号により内部回路の
動作が制御されるようになっている。
【0021】特に、本実施の形態における制御論理&タ
イミング発生器15にはインタラプト用制御回路16が
内蔵されており、このインタラプト用制御回路16に
は、バンク0のメモリアレイバンク1とバンク1のメモ
リアレイバンク2のうち、選択された特定のメモリアレ
イバンク1,2のオートプリチャージ付きリード/ライ
ト動作中に、他のメモリアレイバンク2,1のリード/
ライト動作のインタラプトを可能とする制御機能が備え
られている。具体的には、第1の制御方式と第2の制御
方式とがあり、それぞれの動作例も含めた比較内容は以
下に示す。
【0022】次に、本実施の形態の作用について、第1
の制御方式と第2の制御方式との動作例を順に、図2〜
図5に基づいて説明する。
【0023】第1の制御方式は、インタラプトに関係な
く、バーストエンド判定後にプリチャージ動作を開始す
る方式であり、図2に示すようなタイミングとなる。な
お、このタイミングはCASレイテンシーCL=3、バ
ースト長BL=4の条件で行われ、図2における、“R
eadA0”はバンク0のオートプリチャージ付きリー
ドコマンド、“a0”〜“a3”はバンク0のリードデ
ータ、“Read1”はバンク1のリードコマンド、
“a0”,“a1”はバンク0のリードデータ、“b
0,“b1”はバンク1のリードデータである。
【0024】この第1の制御方式において、図2(a) は
通常のバンク0のオートプリチャージ付きリード動作の
タイミング、図2(b) はバンク0のオートプリチャージ
付きリード動作中にバンク1のリード/ライト動作のイ
ンタラプトが発生したタイミングをそれぞれ示してい
る。この図2(b) のタイミングでは、バンク0のオート
プリチャージ付きリードコマンドReadA0が入力さ
れ、その2サイクル後にバンク1のリードコマンドRe
ad1が入力され、バンク0のリードデータa0,a1
はオートプリチャージ付きリードコマンドReadA0
の入力から3サイクル後、バンク1のリードデータb
0,b1はリードコマンドRead1の入力から3サイ
クル後からそれぞれ出力される。
【0025】特に、第1の制御方式では図2(b) のよう
に、1サイクル目のバンク0のオートプリチャージ付き
リードコマンドReadA0が入力されると、これから
バースト長BL=4に相当する4サイクル後(5サイク
ル目)のバーストエンド判定後に、このバンク0のプリ
チャージ動作を開始することができる。この第1の制御
方式では、バンク毎にバーストエンドを判定するため
に、図1に示すカラムアドレスカウンタ11と図示しな
いバーストエンド判定回路とをバンク数(たとえば本実
施の形態のように16Mの場合は2個)必要になる。よ
って、回路規模も大きくなる。そこで、これを解決する
ために第2の制御方式が考えられる。
【0026】第2の制御方式は、インタラプトされた次
のサイクルからプリチャージ動作を開始する方式であ
り、図3に示すようなタイミングとなる。この図3のタ
イミングでは、バンク0のオートプリチャージ付きリー
ドコマンドReadA0が入力され、その2サイクル後
にバンク1のリードコマンドRead1が入力され、バ
ンク0のリードデータa0,a1はオートプリチャージ
付きリードコマンドReadA0の入力から3サイクル
後、バンク1のリードデータb0,b1はリードコマン
ドRead1の入力から3サイクル後からそれぞれ出力
される。
【0027】特に、第2の制御方式では、1サイクル目
のバンク0のオートプリチャージ付きリードコマンドR
eadA0が入力され、3サイクル目にバンク1のリー
ドコマンドRead1のインタラプトが発生すると、次
の4サイクル目にバンク0のプリチャージ動作を開始す
ることができる。この第2の制御方式では、インタラプ
トされた次のサイクルからプリチャージ動作を開始する
ため、後述するカラムイネーブル信号を新たにバンク毎
に用意する必要があるが、次のアクティブコマンドの入
力が前記第1の制御方式に比べて速くできる。よって、
第1の制御方式の図2(b) と第2の制御方式の図3とを
比較すると、回路規模も小さく抑えることができ、さら
にこの場合では第2の制御方式の方が1サイクル速くプ
リチャージ動作を開始することができる。
【0028】この第2の制御方式を実現する回路例を図
4、その内部動作例のタイミングを図5にそれぞれ示
す。図4において、このインタラプト用制御回路16
は、インバータIV1、否定論理積ゲートNAND1、
否定論理和ゲートNOR1、フリップフロップ回路FF
1からなるカラムイネーブル信号発生回路17と、イン
バータIV2〜IV5、論理積ゲートAND1,AND
2、否定論理積ゲートNAND2、フリップフロップ回
路FF2からなるオートプリチャージ開始信号発生回路
18と、インバータIV6、否定論理和ゲートNOR
2、フリップフロップ回路FF3からなるロウ起動信号
発生回路19とから構成されている。このインタラプト
用制御回路16は、図1の制御論理&タイミング発生器
15に内蔵されている。
【0029】このインタラプト用制御回路16には、外
部クロック信号CLKから生成される内部クロック信号
ICLK、リード/ライトコマンドRead/Writ
eによる特定のバンクのバンクリード/ライト信号BR
D/BWTi、他のバンクのバンクリード/ライト信号
BRD/BWTiB、アクティブコマンドActive
によるバンクアクティブ信号BACTi、プリチャージ
コマンドPrechargeによるプリチャージ信号P
Riがそれぞれ入力される。各信号のサフィックス
“i”はバンクを識別する符号であり、“i”=0(バ
ンク0),1(バンク1)である。
【0030】カラムイネーブル信号発生回路17は、イ
ンバータIV1に特定のバンクのバンクリード/ライト
信号BRD/BWTiが入力され、反転されてフリップ
フロップ回路FF1のセット端子に入力される。また、
否定論理積ゲートNAND1には他のバンクのバンクリ
ード/ライト信号BRD/BWTiBが入力され、論理
積演算されて否定論理和ゲートNOR1の一方の入力端
子に入力され、他方の入力端子にはバーストエンド信号
BENDが入力され、論理和演算されてフリップフロッ
プ回路FF1のリセット端子に入力される。このカラム
イネーブル信号発生回路17のフリップフロップ回路F
F1からは、カラムイネーブル信号COEiが出力され
る。
【0031】オートプリチャージ開始信号発生回路18
は、インバータIV2にカラムイネーブル信号発生回路
17からのカラムイネーブル信号COEiが入力され、
反転されて論理積ゲートAND1の一方の入力端子に入
力され、他方の入力端子にはインバータIV2の出力を
さらにインバータIV3〜IV5により反転が繰り返さ
れた信号が入力される。これらの入力信号は論理積演算
されて否定論理積ゲートNAND2の一方の入力端子に
入力され、他方の入力端子にはオートプリチャージフラ
グAPFiが入力される。これらの入力信号は論理積演
算されてフリップフロップ回路FF2のセット端子に入
力され、またリセット端子にはロウ起動信号発生回路1
9からのロウ起動信号R1iが入力される。このフリッ
プフロップ回路FF2の出力は論理積ゲートAND2の
一方の入力端子に入力され、他方の入力端子には内部ク
ロック信号ICLKが入力される。このオートプリチャ
ージ開始信号発生回路18の論理積ゲートAND2から
は、オートプリチャージ開始信号APSTiが出力され
る。
【0032】ロウ起動信号発生回路19は、インバータ
IV6にバンクアクティブ信号BACTiが入力され、
反転されてフリップフロップ回路FF3のセット端子に
入力される。また、否定論理和ゲートNOR2の一方の
入力端子にはプリチャージ信号PRiが入力され、他方
の入力端子にはオートプリチャージ開始信号発生回路1
8からのオートプリチャージ開始信号APSTiが入力
され、論理和演算されてフリップフロップ回路FF3の
リセット端子に入力される。このロウ起動信号発生回路
19のフリップフロップ回路FF3からは、ロウ起動信
号R1iが出力される。
【0033】このインタラプト用制御回路16における
動作を図5に基づいて説明する。この動作タイミングに
おいては、外部クロック信号CLKに同期してコマンド
が入力され、またインタラプト用制御回路16内の内部
動作は内部クロック信号ICLKに同期して制御され、
前記図3に示した、バンク0のオートプリチャージ付き
リードコマンドReadA0の入力後に、バンク1のリ
ードコマンドRead1のインタラプトが発生する例を
示している。
【0034】初期状態においては、カラムイネーブル信
号COE0、オートプリチャージフラグAPF0、オー
トプリチャージ開始信号APST0がそれぞれ発生して
おらず、またロウ起動信号R10が発生している状態で
ある。これらの信号は、発生している際にはセット状態
で電圧レベルが“H”レベル、発生していない場合には
リセット状態で電圧レベルが“L”レベルである。
【0035】まず、外部クロック信号CLKに同期し
て、バンク0のオートプリチャージ付きリードコマンド
ReadA0が入力された時、内部クロック信号ICL
Kの立ち上がりに同期してカラムイネーブル信号COE
0とオートプリチャージフラグAPF0がセットされ
る。ここで、たとえばReadA0の入力から2サイク
ル後に、他のバンク1のリードコマンドRead1を入
力すると、この時点で内部クロック信号ICLKの立ち
上がりに同期してカラムイネーブル信号COE0はリセ
ットされる。
【0036】そして、次の内部クロック信号ICLKの
立ち上がりに同期してオートプリチャージ開始信号AP
ST0が発生し、これに同期してロウ起動信号R10が
リセットされてロウ系がディセーブルされる。このオー
トプリチャージ開始信号APST0はワンショットパル
スなので、この立ち下がりに同期してオートプリチャー
ジフラグAPF0がリセットされる。この次のサイクル
からバンク0のプリチャージが開始される。
【0037】以上のようにして、第2の制御方式では、
特定のバンクのオートプリチャージ付きリードコマンド
が入力された後、他のバンクのリードコマンドのインタ
ラプトが発生すると、次のサイクルから特定のバンクの
プリチャージ動作を開始することができるので、次のア
クティブコマンドの入力が速くできる。
【0038】なお、このような動作はリードコマンドに
限らず、オートプリチャージ付きライトコマンドの入力
後のライトコマンドによるインタラプト、さらにオート
プリチャージ付きリードコマンドの入力後のライトコマ
ンドによるインタラプト、逆にオートプリチャージ付き
ライトコマンドの入力後のリードコマンドによるインタ
ラプトなどの組み合わせにおいても同様に適用すること
ができる。
【0039】従って、本実施の形態の半導体記憶装置に
よれば、インタラプト用制御回路16が制御論理&タイ
ミング発生器15に内蔵されることにより、選択された
特定のバンクのオートプリチャージ付きリード/ライト
動作中に、他のバンクのリード/ライト動作のインタラ
プトを可能とすることができる。
【0040】たとえば、第1の制御方式では、バンク毎
にカラムアドレスカウンタとバーストエンド判定回路と
を備えることにより、特定のバンクのオートプリチャー
ジ付きリード/ライト動作中に他のバンクのリード/ラ
イト動作のインタラプトが発生した場合に、インタラプ
トに関係なく、オートプリチャージ付きリード/ライト
動作のバーストエンド判定後にプリチャージ動作を開始
することができる。
【0041】また、第2の制御方式では、バンク毎にカ
ラムイネーブル信号を用意することにより、特定のバン
クのオートプリチャージ付きリード/ライト動作中に他
のバンクのリード/ライト動作のインタラプトが発生し
た場合に、リード/ライト動作によりインタラプトされ
た次のサイクルからプリチャージ動作を開始することが
できる。特に、この第2の制御方式では、小規模回路で
機能が実現できる。しかも、プリチャージ動作が開始す
るポイントが速いため、次のアクティブコマンドの入力
を速くすることができる。
【0042】以上、本発明者によってなされた発明をそ
の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前
記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
【0043】たとえば、前記実施の形態においては、2
バンク16MビットSDRAMの例で説明したが、これ
に限定されるものではなく、4バンク、8バンク、さら
に多バンク化の傾向にあり、また64Mビット、256
Mビット、さらに大容量化の傾向にあるSDRAMにつ
いても広く適用可能であり、このように多バンク、大容
量の構成とすることにより本発明の効果はますます大き
くなる。
【0044】また、SDRAMに適用した場合について
説明したが、外部クロック信号に同期して動作し、複数
のバンクを有する他の半導体記憶装置についても適用す
ることができる。
【0045】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0046】(1).インタラプト用制御回路を有すること
で、特定のバンクのオートプリチャージ付きリード/ラ
イト動作中に他のバンクのリード/ライト動作のインタ
ラプトが可能となる。
【0047】(2).各バンクに対応する複数のバーストエ
ンド判定回路と複数のカラムアドレスカウンタとを有す
る場合には、特定のバンクのオートプリチャージ付きリ
ード/ライト動作におけるバーストエンド判定後に、こ
の特定のバンクのプリチャージ動作を開始することが可
能となる。
【0048】(3).各バンクに対応するカラムイネーブル
信号発生回路を有する場合には、他のバンクのリード/
ライト動作のためのインタラプトされた次のサイクルか
ら、特定のバンクのプリチャージ動作を開始することが
可能となる。
【0049】(4).前記(3) により、インタラプト用制御
回路を小規模回路で実現でき、しかもプリチャージ動作
が開始するポイントが速いために次のアクティブコマン
ドの入力を速くすることが可能となる。
【0050】(5).前記(1) 〜(4) により、外部クロック
信号に同期して動作し、複数のバンクを有するSDRA
Mなどの半導体記憶装置において、入出力仕様として特
定のバンクのオートプリチャージ付きリード/ライト動
作中に他のバンクのリード/ライト動作のインタラプト
が可能となり、プリチャージ動作の開始ポイントを速め
て動作周波数の高速化に対応することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態である半導体記憶装置を
示す全体ブロック図である。
【図2】(a),(b) は本発明の一実施の形態の半導体記憶
装置において、第1の制御方式の動作例を示すタイミン
グ図である。
【図3】本発明の一実施の形態の半導体記憶装置におい
て、第2の制御方式の動作例を示すタイミング図であ
る。
【図4】本発明の一実施の形態の半導体記憶装置におい
て、第2の制御方式の回路例を示す回路図である。
【図5】本発明の一実施の形態の半導体記憶装置におい
て、第2の制御方式の回路動作例を示すタイミング図で
ある。
【図6】本発明の前提となる半導体記憶装置において、
制御方式の動作例を示すタイミング図である。
【符号の説明】
1,2 メモリアレイバンク 3,4 ロウデコーダ 5,6 カラムデコーダ 7,8 センスアンプ&入出力バス 9 ロウアドレスバッファ 10 カラムアドレスバッファ 11 カラムアドレスカウンタ 12 リフレッシュカウンタ 13 入力バッファ 14 出力バッファ 15 制御論理&タイミング発生器 16 インタラプト用制御回路 17 カラムイネーブル信号発生回路 18 オートプリチャージ開始信号発生回路 19 ロウ起動信号発生回路 IV1〜IV6 インバータ NAND1,NAND2 否定論理積ゲート NOR1,NOR2 否定論理和ゲート FF1〜FF3 フリップフロップ回路 AND1,AND2 論理積ゲート

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部クロック信号に同期して動作し、複
    数のバンクを有する半導体記憶装置であって、前記複数
    のバンクのうち、選択された特定のバンクのオートプリ
    チャージ付きリード/ライト動作中に、他のバンクのリ
    ード/ライト動作のインタラプトを可能とする制御回路
    を有することを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体記憶装置であっ
    て、前記制御回路は、前記各バンクに対応する複数のバ
    ーストエンド判定回路と複数のカラムアドレスカウンタ
    とを含み、前記特定のバンクのオートプリチャージ付き
    リード/ライト動作におけるバーストエンド判定後に、
    この特定のバンクのプリチャージ動作を開始することを
    特徴とする半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の半導体記憶装置であっ
    て、前記制御回路は、前記各バンクに対応するカラムイ
    ネーブル信号発生回路を含み、前記他のバンクのリード
    /ライト動作のためのインタラプトされた次のサイクル
    から、前記特定のバンクのプリチャージ動作を開始する
    ことを特徴とする半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の半導体記憶装置であっ
    て、前記カラムイネーブル信号発生回路は、前記特定の
    バンクのオートプリチャージ付きリード/ライト信号
    と、前記他のバンクのリード/ライト信号とを入力とし
    て、前記特定のバンクのオートプリチャージ付きリード
    /ライト信号の入力で“H”レベルとなり、前記他のバ
    ンクのリード/ライト信号の入力で“L”レベルとなる
    カラムイネーブル信号を発生し、このカラムイネーブル
    信号に基づいてオートプリチャージ開始信号発生回路を
    介してインタラプトされた次のサイクルで内部クロック
    信号に同期してオートプリチャージ開始信号を発生し、
    このオートプリチャージ開始信号に基づいてロウ起動信
    号発生回路を介してロウ起動信号を“H”レベルから
    “L”レベルに移行させることを特徴とする半導体記憶
    装置。
  5. 【請求項5】 請求項1、2、3または4記載の半導体
    記憶装置であって、前記半導体記憶装置は、シンクロナ
    スDRAMであることを特徴とする半導体記憶装置。
JP10111638A 1998-04-22 1998-04-22 半導体記憶装置 Pending JPH11306760A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100368970B1 (ko) * 2000-10-24 2003-01-24 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR100408716B1 (ko) * 2001-06-29 2003-12-11 주식회사 하이닉스반도체 오토프리챠지 갭리스 보호회로를 가진 반도체 메모리소자의 오토프리챠지장치
KR100746620B1 (ko) 2006-06-29 2007-08-08 주식회사 하이닉스반도체 오토프리차지 신호 생성회로
US8120978B2 (en) 2008-12-25 2012-02-21 Elpida Memory, Inc. Semiconductor memory device having auto-precharge function

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100368970B1 (ko) * 2000-10-24 2003-01-24 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR100408716B1 (ko) * 2001-06-29 2003-12-11 주식회사 하이닉스반도체 오토프리챠지 갭리스 보호회로를 가진 반도체 메모리소자의 오토프리챠지장치
KR100746620B1 (ko) 2006-06-29 2007-08-08 주식회사 하이닉스반도체 오토프리차지 신호 생성회로
US7436719B2 (en) 2006-06-29 2008-10-14 Hynix Semiconductor Inc. Auto-precharge signal generating circuit
US8120978B2 (en) 2008-12-25 2012-02-21 Elpida Memory, Inc. Semiconductor memory device having auto-precharge function

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