JPH11305079A - 光学部品の結合構造 - Google Patents

光学部品の結合構造

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JPH11305079A
JPH11305079A JP10115425A JP11542598A JPH11305079A JP H11305079 A JPH11305079 A JP H11305079A JP 10115425 A JP10115425 A JP 10115425A JP 11542598 A JP11542598 A JP 11542598A JP H11305079 A JPH11305079 A JP H11305079A
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JP
Japan
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optical
optical waveguide
sensor
array
coupling structure
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JP10115425A
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Hurd David
デビッド・ハード
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光導波路と光センサの結合部が、温度変化等
によるずれや破損を起こさせずに、良好な結合効率を有
するようにする。 【解決手段】 この部品構成は、マイクロレンズアレイ
1、光導波路6からなる高分子光導波路アレイ2、CC
D型光センサ3、熱膨張抑制部材8である。光導波路ア
レイ2と光センサ3は、フレキシブル接着剤12によっ
て接合されており、熱膨張抑制部材8と光センサ3はエ
ポキシ接着剤13によって接合されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CCD等の光セン
サを光ファイバーや光導波路に結合する光学部品の結合
構造に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ファクシミリやコンピュータへの
画像入力手段として光学式イメージスキャナが用いられ
ている。光学式イメージスキャナは、例えば、特開平9
−37038号公報に開示されており、図4に、この装
置の概略構成図を示す。同図(a)は全体構成をしめす
斜視図、同図(b)はA−Aで切断した断面図、同図
(c)はB−Bで切断した断面図である。
【0003】この光学式イメージスキャナは、マイクロ
レンズアレイ1、光導波路6からなる高分子光導波路ア
レイ2、CCD型光センサ3、及び直線状光源4から構
成される。この光学式イメージスキャナでは、まず直線
状光源4による原稿5からの反射光からなる像が、マイ
クロレンズアレイ1により、複数の部分に分割され、高
分子光導波路アレイ52の入射面に集光される。この分
割された光は、1次元配列した各光導波路6にそれぞれ
結合し、光導波路6を導波して、光センサ3により、電
気信号に変換される。光センサ3は、光導波路アレイ2
の端面に接合したリニアアレイ(1次元配列)CCD型
光センサであり、配列されたCCD素子7が光導波路6
に対応して配置されているので、光導波路6を導波した
光をそれぞれ1ピクセル(画素)として検出する。
【0004】光導波路アレイ2の端面に光センサ3を接
合するのに、光学接着剤が用いられ、該光学接着剤が光
導波路6とCCD素子7間に介在して、屈折率の不整合
による結合損失を減少させる。さらに、高分子光導波路
アレイ2の光導波路6とCCD素子7を一つ一つ一致さ
せて接合することにより、走査した像を良い解像度で検
出する。光導波路7のパターンは、イメージサイズを縮
小するように形成され、この例においては、B4サイズ
のイメージ(256mm)を縮小する。ここで、光導波
路アレイ2は高分子材料、CCDセンサ3はシリコンか
ら作成されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の光学式イメージ
スキャナにおける問題は、高分子光導波路アレイ2とシ
リコン光センサ3の熱膨張係数が異なることである。光
導波路7に用いるアクリルポリマーと光センサ3に用い
るシリコンの線熱膨張係数は、それぞれ6×10-5-1
と3×10-6-1である。従って、温度変化があると、
光導波路7はCCDセンサ3より膨張、あるいは収縮
し、光導波路アレイ2内の導波路6とCCD素子7の配
列にずれが生じる。その結果、イメージ解像度が減少す
る。
【0006】さらに、2つの部品間のずれにより、接合
接着剤に結合破損が生じてしまい、接合間に空気の層が
形成されるおそれがある。ところで、2つの光学部品を
結合したとき、反射損失は次の式によって与えられる。 R=(n1−n22/(n1+n221は一方の光学部品の屈折率であり、n2は他方の光学
部品の屈折率である。光学部品と空気(n=1)の間の
境界において、ガラス(n=1.5)のような代表的光
学部品では、光学的損失は約4%である。それゆえ、2
つの光学部品が離れて空気を介して結合されると、損失
は2倍となり、8%あるいは0.36dBの損失を生じ
てしまう。
【0007】また、本出願人が出願した特願平9−19
8323号においては、熱膨張係数の違いを補償する方
法について記載してある。この方法は、図5の斜視図に
示すように、高分子光導波路アレイ2とCCDセンサ3
との結合部分に、断面が長方形の角形で空胴形状の熱膨
張抑制部材8をはめ込んで固定し、CCDセンサ3を光
導波路アレイ2の出射面に接着するというものである。
この熱膨張抑制部材8は、CCDセンサ3の熱膨張係数
に近い物質で形成され、接着剤を用いて高分子導波路ア
レイ2に接続している。しかし、実際には、解像度に影
響を与えない程度まで熱膨張の違いによるずれを減少さ
せることが可能だとしても、導波路とセンサ間の屈折率
の違いやずれを完全に回避することはできず、これらを
完全に補償することは不可能である。
【0008】上記出願におけるシステムにおいては、導
波路とCCDセンサ間に相対的な2μまでのずれがあっ
ても、導波路6とCCD素子7が一列に整列し、イメー
ジ解像度の損失が生じないとされている。しかし、2つ
の部品の間のずれは、ストレスを生じさせ、境界面に接
着剤の接合破損を生じさせるおそれがある。接合破損を
生じれば、上述のように、光信号の減衰が生じる。さら
に、温度が連続的に変化して、ストレスも連続的に変化
する環境下にデバイスがあると、相対的ずれは大きくな
り、上記のような問題が発生する可能性は高くなる。
【0009】本発明の目的は、光導波路と光センサの結
合部が、温度変化等によるずれや破損を起こさせずに、
良好な解像度を維持する光部品の結合構造を提供するこ
とにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、光信
号を導波する光導波手段と、光信号を検出する光検出手
段とを接合して、光信号を前記光導波手段から前記光検
出手段に結合させる光学部品の結合構造である。そし
て、透明軟質接着剤を前記光導波手段と前記光検出手段
との間に介在させて、両者を接着することを特徴とす
る。ここで、光導波手段とは、光導波路や光ファイバ等
であり、光検出手段は、CCD型光センサや、フォトダ
イオード等である。
【0011】請求項2の発明は、請求項1記載の光学部
品の結合構造であって、前記軟質接着剤は、ショア硬さ
が60以下であることを特徴とする。
【0012】請求項3の発明は、請求項1または2記載
の光学部品の結合構造であって、前記軟質接着剤の屈折
率は、前記光導波手段と前記光検出手段の屈折率の中間
値に対して±0.1の範囲内であることを特徴とする。
【0013】請求項4の発明は、請求項1、2または3
記載の光学部品の結合構造であって、前記軟質接着剤
は、光信号の動作波長で最も高い光学伝達率を有するこ
とを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて、図面を参照しながら説明する。図1は、本発明に
係る光導波路とCCDセンサの結合構造を示す構成図で
ある。この図は、図5に示す光学式イメージスキャナに
用いられる結合構造とほぼ同じ構成であり、同一部品に
は同一符号を付す。この部品構成は、マイクロレンズア
レイ1、光導波路6からなる高分子光導波路アレイ2、
CCD型光センサ3、熱膨張抑制部材8である。光導波
路アレイ2と光センサ3は、透明な軟質接着剤12によ
って接合されており、熱膨張抑制部材8と光センサ3は
エポキシ接着剤13によって接合されている。
【0015】光センサ3には、例えば、CCDラインセ
ンサであるμPD3743D(日本電気株式会社製)を
使用する。このCCDセンサ3は、パケージ14とチッ
プ15から構成され、チップ15は、12μm×14μ
mサイズのCCD素子が14ピッチで配列されて、20
48ピクセル(画素)を有し、波長570nmにピーク
感度がある。
【0016】次に、高分子光導波路アレイ2について説
明する。図2は、光導波路アレイを示す平面図であり、
図3は、光導波路アレイを示す断面図である。図3に示
すように、この高分子光導波路アレイ2は、ブラック・
ポリカーボネート・シート21と、PMMA(ポリエチ
ルメタクリレート)シート22と、導波路クラッド23
と、光導波路コア6と、導波路基板25からなる構成で
ある。まず、図2に示すように導波路基板25は、その
表面に、8μm(幅)×8μm(深さ)の溝が、光導波
路アレイ2の入射面から出射面まで形成されている。こ
の溝パターンを有する導波路基板25は、溝パターンを
形成したニッケルマスター(原盤)を用いてPMMAに
より射出成型を行って形成する。ニッケルマスターは、
パターン化されたフォトレジストをニッケルを電気メッ
キし、支持体を接着してフォトレジストを溶解すること
で形成する。このプロセスは、レーザーディスク形成に
広く用いられており、詳細についてはここでは省略す
る。
【0017】図2に示すように、溝パターンは、入射面
では125μmピッチ、出射面では14μmピッチで形
成されている。入射面におけるピッチは、200dpi
のイメージ解像度を達成するように設定され、出射面の
ピッチはCCDセンサ3のピクセルのピッチに正確に一
致させる。不透明シート26が、導波路基板25のCC
Dセンサ3の前部に設計上組み込まれ、光導波路6に結
合しないでCCDセンサ3に達する光を防ぐ。光導波路
6は、このシート26を迂回して光を伝送するようパタ
ーン化されている。
【0018】導波路6のコア24に使用されている材料
は、非常に透明な紫外線硬化型の材料であり、570n
m、20℃で重合されたときの屈折率は、1.515で
ある。この材料を、クリーンルーム環境で、溝パターン
が形成された導波路基板25の表面に広げる。過剰とな
った材料を、2cms-1の移動速度で動くポリウレタン
のスキージで掃き出す。このプロセスによって、溝のそ
れぞれに液状材料が均一に充填されるとともに、過剰材
料は完全に導波路基板25の表面から掃き出される。波
長355nmから365nmまでの紫外線を照射し、紫
外線硬化型のコア材料を重合する。
【0019】この後、紫外線硬化型である導波路クラッ
ド23の材料を導波路基板25の表面に塗布し、さらに
500μm厚のPMMAシート22をその上に載置す
る。ポリマーシート22を密着させて、紫外線硬化型の
クラッド材料が約20μm厚のフィルムを形成するよう
にする。クラッド材料を重合するため紫外線を照射し、
PMMAシート22がクラッド23に接着される。黒の
ポリカーボネートシートは導波路デバイスの上面と下面
の両方に接着する。これは、導波路6に結合しない光を
導波路6に入射させるのを防ぐためである。光導波路ア
レイ2の入射面及び出射面を、1μm以下のサイズのア
ルミナ含有懸濁駅を用いた標準的な研磨装置(例えば、
MA300(武蔵野電子製))により研磨する。
【0020】液晶ポリマーであるベクトラA230(ポ
リプラスチック株式会社製)を用いて、熱膨張抑制部材
8を射出成形により、断面長方形の角形空胴形状に形成
する。この熱膨張抑制部材8は、図1に示すように、エ
ポキシベースの接着剤11を用いて、光導波路アレイ2
に接続する。光導波路アレイ2の熱膨張を減少させ、そ
のことによりCCDセンサ3とのずれを減少させて、導
波路6に結合しない迷い光をセンサ3に入力させない。
【0021】シリコンベースの接着剤12であるS−8
060(セメダイン製)は、光導波路アレイ2の光セン
サ接合面(出射面)に塗布される。この接着剤12は、
柔らかく、ショア硬さの値が25であり、破断するまで
に500%まで伸びる性質を有する。また、光学的性質
は、570nmで屈折率1.41である。CCDセンサ
3により光導波路6を通り抜けた光信号をモニタしなが
ら、CCDセンサ3と光導波路アレイ2の位置合わせを
行う。正確な位置合わせがなされたとき、光導波路6か
ら出力した光は、CCDセンサ3のピクセル(受光素
子)だけに入射する。このような状態となるのは、軟質
接着剤12が、厚さ10μまでのフィルム状になったと
きであり、センサ3と光導波路アレイ2との間に介在し
て、両者を接着する。光導波路アレイ2と光センサ3と
を接着後、CCDセンサパッケージ14と熱膨張抑制部
材8は、図1に示すように、エポキシベースの接着剤1
3により接着される。
【0022】光導波路アレイ2の入射面に、マイクロレ
ンズアレイ1を紫外線硬化性樹脂を用いて接着する。マ
イクロレンズアレイ2のマイクロレンズのサイズは直径
125μmで形成されている。
【0023】こうして作成された光学式イメージスキャ
ナの光導波路アレイ2と光センサ3の間に軟質接着剤1
2が介在しているので、温度変化による両者の熱膨張の
違いによるずれも吸収し、結合破損も生じない。特に、
ショア硬さを60以下とすれば、光導波路アレイ2と光
センサ3の相対ずれに耐えることができる。また、熱膨
張抑制部材8により4μmまでに変位は抑制されている
ので、結合率は高い。
【0024】また、軟質接着剤12の屈折率を光導波路
と酸化シリコン(光センサの受光素子部の保護部材)の
中間値に対して±0.1の範囲内に設定してあれば、光
導波路と光センサの間に空気が介在している従来のもの
より、反射損失を抑えることができる。例えば、上記反
射損失の式より次のようなことが確認できる。上述した
ように、光導波路(n=1.515)、空気(n=1.
00)、酸化シリコン(n=1.4)の順に光が通過す
ると、光学損失は0.69%、0.31dBとなってし
まう。ここで光導波路と酸化シリコンとの間に接着剤が
介在している構造とし、接着剤の屈折率をn=1.41
とし、光導波路の屈折率(n=1.515)と酸化シリ
コンの屈折率(n=1.4)の中間値に対して±0.1
の範囲内にあるとする。光導波路、接着剤、酸化シリコ
ンへ入射する反射損失は、全体で0.13%あるいは
0.006dBまで減少する。したがって、接着剤12
も光センサ3の受光素子の保護部材(酸化シリコン)の
屈折率の中間値に対して±0.1の範囲内の間の値を有
すれば、反射損失を軽減できる。
【0025】さらに、接着剤12が、光導波路アレイ2
を通る光信号の動作波長のとき、最も伝達効率がよけれ
ば、光信号が接着剤12を通過するときも、あまり減衰
せずに済む。
【0026】本実施形態では、光導波路アレイを用いた
が、光ファイバ等の光導波を行う手段であればよい。ま
た、CCD型光センサを用いたが、フォトダイオード等
の光検出を行える装置であればよい。
【0027】
【発明の効果】請求項1及び2の発明によれば、透明軟
質接着剤を前記光導波手段と光検出手段との間に介在さ
せて、両者を接着するので、熱膨張係数の違いによる両
者のずれを抑え、光信号の結合効率を向上することがで
きる。
【0028】請求項3の発明によれば、軟質接着剤の屈
折率は、前記光導波手段と前記光検出手段の屈折率の中
間値に対して±0.1の範囲内であるので、軟質接着剤
と光検出手段の界面での反射損失を抑えることができ、
光信号の結合効率を向上できる。
【0029】請求項4の発明によれば、軟質接着剤は光
信号の動作波長で最も高い光学伝達率を有するので、軟
質接着剤を通過する光の減衰が少なくてすむので、光検
出手段の検出効率を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光導波路とCCDセンサの結合構
造を示す構成図である。
【図2】図1の光導波路アレイを示す平面図である。
【図3】図1の光導波路アレイを示す断面図である。
【図4】従来の光学式イメージスキャナの概略構成図で
ある。
【図5】光導波路アレイと光センサとの結合構造を示す
斜視図である。
【符号の説明】
1 マイクロレンズアレイ 2 光導波路アレイ 3 光センサ 6 光導波路 8 熱膨張抑制部材 11 エポキシ接着剤 12 軟質接着剤 13 エポキシ接着剤 14 パッケージ 15 チップ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光信号を導波する光導波手段と、光信号
    を検出する光検出手段とを接合して、光信号を前記光導
    波手段から前記光検出手段に結合させる光学部品の結合
    構造において、 透明軟質接着剤を前記光導波手段と前記光検出手段との
    間に介在させて、両者を接着することを特徴とする光学
    部品の結合構造。
  2. 【請求項2】 前記軟質接着剤は、ショア硬さが60以
    下であることを特徴とする請求項1記載の光学部品の結
    合構造。
  3. 【請求項3】 前記軟質接着剤の屈折率は、前記光導波
    手段と前記光検出手段の屈折率の中間値に対して±0.
    1の範囲にあることを特徴とする請求項1または2記載
    の光学部品の結合構造。
  4. 【請求項4】 前記軟質接着剤は、光信号の動作波長で
    最も高い光学伝達率を有することを特徴とする請求項
    1、2または3記載の光学部品の結合構造。
JP10115425A 1998-04-24 1998-04-24 光学部品の結合構造 Pending JPH11305079A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1134605A2 (en) * 2000-03-01 2001-09-19 Ngk Insulators, Ltd. Bonding structure of optical members
US7257297B2 (en) 2002-06-18 2007-08-14 Seiko Epson Corporation Optical communication module with particular fiber guide hole, optical-communication-module production method, and electronic device

Cited By (3)

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