JPH11281482A - 放射温度検出素子 - Google Patents

放射温度検出素子

Info

Publication number
JPH11281482A
JPH11281482A JP8062298A JP8062298A JPH11281482A JP H11281482 A JPH11281482 A JP H11281482A JP 8062298 A JP8062298 A JP 8062298A JP 8062298 A JP8062298 A JP 8062298A JP H11281482 A JPH11281482 A JP H11281482A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detecting element
temperature
stem
infrared
temperature detecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8062298A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3750340B2 (ja
Inventor
Yoshiaki Honda
由明 本多
Yoshifumi Watabe
祥文 渡部
Koichi Aizawa
浩一 相澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP08062298A priority Critical patent/JP3750340B2/ja
Publication of JPH11281482A publication Critical patent/JPH11281482A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3750340B2 publication Critical patent/JP3750340B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 待機時間をなくし、雰囲気温度が変化が起こ
る状況下でも安定に非接触で温度を計測できる放射温度
検出素子を提供する。 【解決手段】 リード2が一体成型されたステム1に、
略凹型形状のキャン3が接続され、ステム1とキャン3
とで空間を構成している。キャン3の凹部底面には開口
部が形成され、該開口部には赤外線透過フィルタ4が封
止されている。ステム1とキャン3とで構成される空間
内のステム1上には、赤外線検出素子5と、赤外線検出
素子5の素子温度を計測する接触式温度検出素子である
サーミスタ6が実装されている。なお、リード2は、赤
外線検出素子5及びサーミスタ6の信号の出力端子を兼
ねている。また、ステム1及びキャン3の厚みを略同一
としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、赤外線を利用して
非接触で温度を検出する放射温度計に用いる放射温度検
出素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の放射温度計、特に、例えば0〜500
℃のような中低温領域においては、主に熱型赤外線検出
素子が用いられ、熱型赤外線検出素子としては、チョッ
パーを用いた焦電素子やサーモパイル素子が使用されて
いる。
【0003】実際に赤外線を用いて、非接触で温度を計
測するためには、赤外線の検出と赤外線素子の素子温度
の計測が必要である。即ち、赤外線検出素子に入射され
る赤外線により、赤外線素子と対象物との温度差が算出
でき、この値に赤外線素子の素子温度を加えることによ
り、対象物の絶対温度を計測できるのである。
【0004】従来においては、サーモパイルのような赤
外線素子とサーミスタのような接触式温度検出素子を用
いて、対象物の絶対温度を計測していた。より具体的に
は、キャンパッケージタイプの赤外線素子に外付けでサ
ーミスタを接触させたり、キャンパッケージ内のステム
側にサーミスタを接着させることによって、赤外線素子
の温度をキャンパッケージの温度で代用していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記に示したように、
キャンパッケージの外側や、キャンパッケージ内のステ
ム側にサーミスタを接着させることで赤外線素子の温度
の計測を行った場合、上記の赤外線素子と接触式温度検
出素子から成る放射温度検出素子を使用する雰囲気温度
が変化すると、先ず、キャンパッケージ外周の温度が変
化し、特にパッケージの熱容量の小さいキャンが変化
し、その後、熱容量の大きなステムが外側及びキャンへ
の接着部から変化し、サーミスタ,赤外線素子の順で温
度が変化する。
【0006】このため、非常に大きな熱容量のメタル製
ブロックで放射温度検出素子を囲んだり、また、温度が
安定するまでの待機時間を必要とした。
【0007】この待機時間は、測定精度が上がれば上が
るほど大きくなり、赤外線より温度換算するまでの時間
が1秒以内であっても、待機時間が数十分にもおよんで
実使用上問題がある。
【0008】本発明は、上記の点に鑑みて成されたもの
であり、その目的とするところは、待機時間をなくし、
雰囲気温度が変化が起こる状況下でも安定に非接触で温
度を計測できる放射温度検出素子を提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
ステムと、赤外線を透過する開口を備えて成るキャンと
で構成される空間内に、赤外線検出素子及び接触式温度
検出素子が実装され、前記ステム及びキャンの厚みが同
一であることを特徴とするものである。
【0010】請求項2記載の発明は、請求項1記載の放
射温度検出素子において、前記空間内における前記キャ
ンに、接触式温度検出素子を設けたことを特徴とするも
のである。
【0011】請求項3記載の発明は、請求項2記載の放
射温度検出素子において、前記空間内における前記キャ
ンに、赤外線の放射率が一定な塗料を塗布したことを特
徴とするものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面に基づき説明する。
【0013】=実施の形態1= 図1は、本発明の一実施の形態に係る放射温度検出素子
の概略構成図である。本実施の形態に係る放射温度検出
素子は、リード2が一体成型されたステム1に、略凹型
形状のキャン3が接続され、ステム1とキャン3とで空
間を構成している。キャン3の凹部底面には開口部が形
成され、該開口部には赤外線透過フィルタ4が封止され
ている。
【0014】ステム1とキャン3とで構成される空間内
のステム1上には、赤外線検出素子5と、赤外線検出素
子5の素子温度を計測する接触式温度検出素子であるサ
ーミスタ6が実装されている。なお、リード2は、赤外
線検出素子5及びサーミスタ6の信号の出力端子を兼ね
ている。
【0015】また、ステム1及びキャン3の厚みを略同
一としている。従って、本実施の形態においては、ステ
ム1及びキャン3の厚みを略同一とすることで、熱容量
を同じか、同程度とすることができ、周囲温度が変化す
る中でも、ステム1及びキャン3で同じ温度変化が生じ
れば、熱の不均一な温度変化が生じず、サーミスタ6の
出力をそのまま赤外線検出素子5の素子温度とすること
ができ、雰囲気温度の変化が起こる状況下でも安定に非
接触で温度を計測することができる。
【0016】=実施の形態2= 図2は、本発明の他の実施の形態に係る放射温度検出素
子の概略構成図である。本実施の形態に係る放射温度検
出素子は、実施の形態1として図1に示す放射温度検出
素子において、ステム1とキャン3により構成される空
間内のキャン3に、別途サーミスタ7を接着した構成で
ある。
【0017】従って、本実施の形態においては、サーミ
スタ7により赤外線検出素子5の視野角に入るキャン3
の温度変化情報を得ることができ、キャン1及びステム
3の温度変化が起こった場合においても、キャン3より
入る赤外線を信号処理により除去することができ、対象
物からの赤外線のみを算出することができる。
【0018】=実施の形態3= 図3は、本発明の他の実施の形態に係る放射温度検出素
子の概略構成図である。本実施の形態に係る放射温度検
出素子は、実施の形態2として図2に示す放射温度検出
素子において、ステム1とキャン3により構成される空
間内におけるキャン3の、赤外線検出素子5の視野角に
含まれる部分を、予め放射率の解っている塗料8(例え
ば黒色塗料)を塗布した構成である。
【0019】従って、本実施の形態においては、キャン
3の温度をより正確に求めることができ、キャン3の温
度が変化した場合においても安定に放射温度を検出する
ことができる。
【0020】
【発明の効果】請求項1記載の発明は、ステムと、赤外
線を透過する開口を備えて成るキャンとで構成される空
間内に、赤外線検出素子及び接触式温度検出素子が実装
され、ステム及びキャンの厚みが同一であるので、熱容
量を同じか、同程度とすることができ、周囲温度が変化
する中でも、ステム及びキャンで同じ温度変化が生じれ
ば、熱の不均一な温度変化が生じず、接触式温度検出素
子の出力をそのまま赤外線検出素子の素子温度とするこ
とができ、待機時間をなくし、雰囲気温度が変化が起こ
る状況下でも安定に非接触で温度を計測できる放射温度
検出素子を提供することができた。
【0021】請求項2記載の発明は、請求項1記載の放
射温度検出素子において、空間内におけるキャンに、接
触式温度検出素子を設けたので、請求項1記載の発明の
効果に加えて、赤外線検出素子の視野角に入るキャンの
温度変化情報を得ることができ、ステム及びキャンの温
度変化が起こった場合においても、キャンより入る赤外
線を信号処理によって除去することができ、対象物から
の赤外線のみを算出することができる。
【0022】請求項3記載の発明は、請求項2記載の放
射温度検出素子において、空間内におけるキャンに、赤
外線の放射率が一定な塗料を塗布したので、請求項2記
載の発明の効果に加えて、キャンの温度変化情報をより
正確に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る放射温度検出素子
の概略構成図である。
【図2】本発明の他の実施の形態に係る放射温度検出素
子の概略構成図である。
【図3】本発明の他の実施の形態に係る放射温度検出素
子の概略構成図である。
【符号の説明】
1 ステム 2 リード 3 キャン 4 赤外線透過フィルタ 5 赤外線検出素子 6 サーミスタ 7 サーミスタ 8 塗料

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ステムと、赤外線を透過する開口を備え
    て成るキャンとで構成される空間内に、赤外線検出素子
    及び接触式温度検出素子が実装され、前記ステム及びキ
    ャンの厚みが同一であることを特徴とする放射温度検出
    素子。
  2. 【請求項2】 前記空間内における前記キャンに、接触
    式温度検出素子を設けたことを特徴とする請求項1記載
    の放射温度検出素子。
  3. 【請求項3】 前記空間内における前記キャンに、赤外
    線の放射率が一定な塗料を塗布したことを特徴とする請
    求項2記載の放射温度検出素子。
JP08062298A 1998-03-27 1998-03-27 放射温度検出素子 Expired - Fee Related JP3750340B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08062298A JP3750340B2 (ja) 1998-03-27 1998-03-27 放射温度検出素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08062298A JP3750340B2 (ja) 1998-03-27 1998-03-27 放射温度検出素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11281482A true JPH11281482A (ja) 1999-10-15
JP3750340B2 JP3750340B2 (ja) 2006-03-01

Family

ID=13723460

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08062298A Expired - Fee Related JP3750340B2 (ja) 1998-03-27 1998-03-27 放射温度検出素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3750340B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003028721A (ja) * 2001-07-18 2003-01-29 Fuji Xerox Co Ltd 温度検知装置及びこれを用いた定着装置
WO2021235127A1 (ja) * 2020-05-20 2021-11-25 浜松ホトニクス株式会社 熱輻射光検出装置及びレーザ加工装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003028721A (ja) * 2001-07-18 2003-01-29 Fuji Xerox Co Ltd 温度検知装置及びこれを用いた定着装置
WO2021235127A1 (ja) * 2020-05-20 2021-11-25 浜松ホトニクス株式会社 熱輻射光検出装置及びレーザ加工装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3750340B2 (ja) 2006-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6129673A (en) Infrared thermometer
JP2826337B2 (ja) 放射体温計
JP3743394B2 (ja) 赤外線センサおよびそれを用いた電子装置
US7385199B2 (en) Microbolometer IR focal plane array (FPA) with in-situ mirco vacuum sensor and method of fabrication
US6043493A (en) Infrared sensor and method for compensating temperature thereof
JP2008501963A (ja) センサ
US10436647B2 (en) Non-contact temperature measurement sensor
JP2008145133A (ja) 放射温度計
JP5564681B2 (ja) 赤外線センサ
JPH09329499A (ja) 赤外線センサ及び赤外線検出器
US20090207882A1 (en) Temperature Sensor Module
JPH11337415A (ja) 放射温度検出素子
JPH1075934A (ja) 放射体温計
JP3750340B2 (ja) 放射温度検出素子
KR20170135153A (ko) 비접촉식 적외선 온도 센서 모듈
JPH0585014B2 (ja)
JPH11281483A (ja) 放射温度検出素子
JPH11281481A (ja) 放射温度検出素子
JPS63286729A (ja) サ−モパイル検出装置
JP3855458B2 (ja) 放射温度検出素子
JPH07140008A (ja) 放射温度計
GB2107455A (en) Apparatus for contactless measurement of temperature
JPS6255529A (ja) 放射温度計
JPH11337416A (ja) 放射温度検出素子
JPH0634448A (ja) 放射温度計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20040618

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041027

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20041102

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050301

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050502

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050628

A521 Written amendment

Effective date: 20050829

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20050927

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20051017

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051115

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20051128

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 3

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081216

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081216

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 4

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091216

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 4

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091216

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101216

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111216

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121216

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees