JPH11271241A - 誘電率および透磁率の測定方法 - Google Patents
誘電率および透磁率の測定方法Info
- Publication number
- JPH11271241A JPH11271241A JP7403698A JP7403698A JPH11271241A JP H11271241 A JPH11271241 A JP H11271241A JP 7403698 A JP7403698 A JP 7403698A JP 7403698 A JP7403698 A JP 7403698A JP H11271241 A JPH11271241 A JP H11271241A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resonator
- magnetic material
- cylindrical body
- magnetic
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】作製が容易な形状の被測定試料を使用し、外部
静磁界を印加することなく、フェライト等の磁性材料の
高周波における誘電率と透磁率を容易に、且つ高精度に
測定するための方法を提供する。 【解決手段】所定の高さＬ1 、直径ａ1 を有する磁性材
料から成る円柱体６の上下端面を所定の大きさを有する
２枚の導体板７、８で挟持した第１の共振器４と、所定
の高さＬ2 、外径ｂ1 、内径ｂ2 を有し、円柱体６と同
一材料から成る円筒体９の上下端面を所定の大きさを有
する２枚の導体板１０、１１で挟んで第２の共振器５を
形成し、第１共振器４および第２共振器５により生成さ
れたＴＥ011 の共振波形から共振周波数ｆ1 、ｆ2 を測
定し、このｆ1 、ｆ2 から、磁性材料と空気（真空）の
境界で成立する電磁界の境界条件に基づき、磁性材料の
誘電率と透磁率を算出する。
静磁界を印加することなく、フェライト等の磁性材料の
高周波における誘電率と透磁率を容易に、且つ高精度に
測定するための方法を提供する。 【解決手段】所定の高さＬ1 、直径ａ1 を有する磁性材
料から成る円柱体６の上下端面を所定の大きさを有する
２枚の導体板７、８で挟持した第１の共振器４と、所定
の高さＬ2 、外径ｂ1 、内径ｂ2 を有し、円柱体６と同
一材料から成る円筒体９の上下端面を所定の大きさを有
する２枚の導体板１０、１１で挟んで第２の共振器５を
形成し、第１共振器４および第２共振器５により生成さ
れたＴＥ011 の共振波形から共振周波数ｆ1 、ｆ2 を測
定し、このｆ1 、ｆ2 から、磁性材料と空気（真空）の
境界で成立する電磁界の境界条件に基づき、磁性材料の
誘電率と透磁率を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、高周波領域におけ
るアイソレータ等に用いられるフェライトなどの磁性材
料の誘電率と透磁率を測定するための方法に関するもの
である。
るアイソレータ等に用いられるフェライトなどの磁性材
料の誘電率と透磁率を測定するための方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】近年、移動体通信の普及により高周波回
路で使用される、フェライト等の磁性材料から構成され
るアイソレータ等が盛んに開発、製造されている。従っ
て、磁性材料の高周波領域における誘電率と透磁率を高
能率且つ高精度に測定する方法が求められている。
路で使用される、フェライト等の磁性材料から構成され
るアイソレータ等が盛んに開発、製造されている。従っ
て、磁性材料の高周波領域における誘電率と透磁率を高
能率且つ高精度に測定する方法が求められている。
【０００３】高周波における磁性材料の誘電率と透磁率
を測定する標準的な方法としては、ＪＩＳ規格（ＪＩＳ
−Ｃ−２５６５）に定められている。図３は、このＪＩ
Ｓにより規格化されたマイクロ波における誘電率の測定
方法を説明するためのもので、使用する空洞共振器３１
と被測定試料３２と測定系との結合口３３を示してい
る。この空洞共振器３１は、図３に示すように、金属か
ら成る円筒形状の空洞共振器３１の中心部に、所定の直
径ｘを有する棒状の被測定試料３２を配置された構造か
らなり、この空洞共振器３１により生成された共振周波
数から誘電率を測定するものである。
を測定する標準的な方法としては、ＪＩＳ規格（ＪＩＳ
−Ｃ−２５６５）に定められている。図３は、このＪＩ
Ｓにより規格化されたマイクロ波における誘電率の測定
方法を説明するためのもので、使用する空洞共振器３１
と被測定試料３２と測定系との結合口３３を示してい
る。この空洞共振器３１は、図３に示すように、金属か
ら成る円筒形状の空洞共振器３１の中心部に、所定の直
径ｘを有する棒状の被測定試料３２を配置された構造か
らなり、この空洞共振器３１により生成された共振周波
数から誘電率を測定するものである。
【０００４】このように上記の測定方法においては、被
測定試料３２は、細い棒状体からなることが必要であ
り、例えば、８〜１２ＧＨｚの周波数で測定する場合、
直径１．４ｍｍ、長さ１６．６２ｍｍ以上の棒状体から
なることが必要である。さらに、このＪＩＳ規格によれ
ば、共振周波数の測定中に、被測定試料３２の軸方向に
通常４×１０5 Ａ／ｍ以上の外部静磁界を加える必要が
ある。
測定試料３２は、細い棒状体からなることが必要であ
り、例えば、８〜１２ＧＨｚの周波数で測定する場合、
直径１．４ｍｍ、長さ１６．６２ｍｍ以上の棒状体から
なることが必要である。さらに、このＪＩＳ規格によれ
ば、共振周波数の測定中に、被測定試料３２の軸方向に
通常４×１０5 Ａ／ｍ以上の外部静磁界を加える必要が
ある。
【０００５】同様に、ＪＩＳ−Ｃ−２５６５に規定され
たマイクロ波における透磁率の測定法でも、上記と同様
に細い棒状体からなることが必要である。例えば、８〜
１２ＧＨｚの周波数で測定する場合、直径１ｍｍ以下、
長さ２２．９ｍｍ以上の棒状体からなることが必要であ
る。
たマイクロ波における透磁率の測定法でも、上記と同様
に細い棒状体からなることが必要である。例えば、８〜
１２ＧＨｚの周波数で測定する場合、直径１ｍｍ以下、
長さ２２．９ｍｍ以上の棒状体からなることが必要であ
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
測定方法によれば、誘電率、透磁率のいずれの測定にお
いても、非常に細い棒状体の被測定試料を作製する必要
があり、このような細い試料の作製は困難であった。ま
た、被測定試料の形状における寸法誤差により誘電率と
透磁率の測定精度が低くなるという問題があった。
測定方法によれば、誘電率、透磁率のいずれの測定にお
いても、非常に細い棒状体の被測定試料を作製する必要
があり、このような細い試料の作製は困難であった。ま
た、被測定試料の形状における寸法誤差により誘電率と
透磁率の測定精度が低くなるという問題があった。
【０００７】さらに、共振周波数の測定中に、被測定試
料の軸方向に外部静磁界を加える必要があるために、別
途、磁界発生装置が必要であり、測定システムが全体と
して大がかりで高価なものになり、測定工程も複雑にな
るという問題があった。
料の軸方向に外部静磁界を加える必要があるために、別
途、磁界発生装置が必要であり、測定システムが全体と
して大がかりで高価なものになり、測定工程も複雑にな
るという問題があった。
【０００８】従って、本発明は上述の課題を解決し、作
製が容易な形状の被測定試料を使用し、外部静磁界を印
加することなく、フェライト等の磁性材料の高周波にお
ける誘電率と透磁率を容易に、且つ高精度に測定するた
めの方法を提供することを目的とする。
製が容易な形状の被測定試料を使用し、外部静磁界を印
加することなく、フェライト等の磁性材料の高周波にお
ける誘電率と透磁率を容易に、且つ高精度に測定するた
めの方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の課題
に対して検討を重ねた結果、作製が容易な特定形状の２
つの被測定試料を作製し、それぞれについて共振周波数
を求め、得られた２つの共振周波数に基づき、誘電率と
透磁率を算出することにより、上記の目的が達成される
ことを見いだした。
に対して検討を重ねた結果、作製が容易な特定形状の２
つの被測定試料を作製し、それぞれについて共振周波数
を求め、得られた２つの共振周波数に基づき、誘電率と
透磁率を算出することにより、上記の目的が達成される
ことを見いだした。
【００１０】即ち、本発明の誘電率および透磁率の測定
方法は、所定の高さＬ1 、直径ａ1を有する磁性材料か
ら成る円柱体の上下端面を、所定の大きさを有する２枚
の導体板で挟持して第１の共振器を形成し、該第１の共
振器により生成されたＴＥ011 モードの共振波形から共
振周波数ｆ1 を測定し、所定の高さＬ2 、外径ｂ1 、内
径ｂ2 を有する、前記円柱体と同一材料からなる磁性材
料から成る円筒体の上下端面を、所定の大きさを有する
２枚の導体板で挟んで第２の共振器を形成し、該第２の
共振器により生成されたＴＥ011 モードの共振波形から
共振周波数ｆ2を測定し、前記共振周波数ｆ1 、ｆ2 に
基づき、前記磁性材料の誘電率及び透磁率を算出するこ
とを特徴とするものである。
方法は、所定の高さＬ1 、直径ａ1を有する磁性材料か
ら成る円柱体の上下端面を、所定の大きさを有する２枚
の導体板で挟持して第１の共振器を形成し、該第１の共
振器により生成されたＴＥ011 モードの共振波形から共
振周波数ｆ1 を測定し、所定の高さＬ2 、外径ｂ1 、内
径ｂ2 を有する、前記円柱体と同一材料からなる磁性材
料から成る円筒体の上下端面を、所定の大きさを有する
２枚の導体板で挟んで第２の共振器を形成し、該第２の
共振器により生成されたＴＥ011 モードの共振波形から
共振周波数ｆ2を測定し、前記共振周波数ｆ1 、ｆ2 に
基づき、前記磁性材料の誘電率及び透磁率を算出するこ
とを特徴とするものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の測定方法におけ
る測定システムの全体構成の一実施例を示すブロック図
である。図１によれば、シンセサイズドスイーパー１か
ら出力されたマイクロ波信号は、２つに分割され、一方
は基準用としてネットワークアナライザー２に入力され
る。他方は、誘電率透磁率測定用共振器３に入力され、
透過した信号がネットワークアナライザー２に入力され
るように構成される。
る測定システムの全体構成の一実施例を示すブロック図
である。図１によれば、シンセサイズドスイーパー１か
ら出力されたマイクロ波信号は、２つに分割され、一方
は基準用としてネットワークアナライザー２に入力され
る。他方は、誘電率透磁率測定用共振器３に入力され、
透過した信号がネットワークアナライザー２に入力され
るように構成される。
【００１２】次に、本発明の誘電率と透磁率の測定方法
とその原理について図２を用いて説明する。本発明の測
定方法によれば、いずれも同じ被測定試料となるフェラ
イト等の磁性材料によって、図２（ａ）に示されるよう
に、磁界が円柱体の中に集中することにより相対的に透
磁率に対する共振周波数の依存性が大きくなる、ＴＥ
011 モード円柱共振器４と、図２（ｂ）に示されるよう
に、磁界の一部が中空円筒体の中空部に分布することに
より、相対的に透磁率に対する共振周波数の依存性が小
さくなる、ＴＥ011 モード中空円筒共振器５を作製す
る。
とその原理について図２を用いて説明する。本発明の測
定方法によれば、いずれも同じ被測定試料となるフェラ
イト等の磁性材料によって、図２（ａ）に示されるよう
に、磁界が円柱体の中に集中することにより相対的に透
磁率に対する共振周波数の依存性が大きくなる、ＴＥ
011 モード円柱共振器４と、図２（ｂ）に示されるよう
に、磁界の一部が中空円筒体の中空部に分布することに
より、相対的に透磁率に対する共振周波数の依存性が小
さくなる、ＴＥ011 モード中空円筒共振器５を作製す
る。
【００１３】図２（ａ）の円柱共振器４は、所定の高さ
Ｌ1 、直径ａ1 を有する磁性材料から成る円柱体６の上
下端面を、所定の大きさを有する２枚の導体板７、８で
挟持した構造からなる。一方、図２（ｂ）の中空円筒共
振器５は、所定の高さＬ2 、外径ｂ1 、内径ｂ2 を有す
る円筒体９の上下端面を、所定の大きさを有する２枚の
導体板１０、１１で挟持した構造からなる。
Ｌ1 、直径ａ1 を有する磁性材料から成る円柱体６の上
下端面を、所定の大きさを有する２枚の導体板７、８で
挟持した構造からなる。一方、図２（ｂ）の中空円筒共
振器５は、所定の高さＬ2 、外径ｂ1 、内径ｂ2 を有す
る円筒体９の上下端面を、所定の大きさを有する２枚の
導体板１０、１１で挟持した構造からなる。
【００１４】本発明によれば、上記の円柱共振器４を用
いて、ＴＥ011 モードの共振波形から共振周波数ｆ1 を
測定する。また、同様に上記中空円筒共振器５を用い
て、ＴＥ011 モードの共振波形から共振周波数ｆ2 を測
定する。
いて、ＴＥ011 モードの共振波形から共振周波数ｆ1 を
測定する。また、同様に上記中空円筒共振器５を用い
て、ＴＥ011 モードの共振波形から共振周波数ｆ2 を測
定する。
【００１５】この時、共振周波数ｆ1 とｆ2 が近似する
ように、円柱共振器４における円柱体６の高さＬ1 、直
径ａ1 、中空円筒共振器５における中空円筒体９の高さ
Ｌ2、外径ｂ1 、内径ｂ2 の寸法を設計することが望ま
しい。
ように、円柱共振器４における円柱体６の高さＬ1 、直
径ａ1 、中空円筒共振器５における中空円筒体９の高さ
Ｌ2、外径ｂ1 、内径ｂ2 の寸法を設計することが望ま
しい。
【００１６】このようにして、測定された２つの共振器
による共振周波数ｆ1 とｆ2 から、以下のようにして誘
電率と透磁率を計算する。計算にあたっては、磁性体と
空気または真空の境界で成立する電磁界の境界条件より
導かれる下記数１、数２の式（１）乃至（８）に基づき
算出する。
による共振周波数ｆ1 とｆ2 から、以下のようにして誘
電率と透磁率を計算する。計算にあたっては、磁性体と
空気または真空の境界で成立する電磁界の境界条件より
導かれる下記数１、数２の式（１）乃至（８）に基づき
算出する。
【００１７】まず、測定された共振周波数ｆ1 を下記数
１の式（２）（３）へ代入し、さらに式（２）（３）の
ｑ，ｐを式（１）に代入する。次に、測定された共振周
波数ｆ2 を下記数２の式（６）（７）（８）式へ代入
し、さらに式（６）（７）のｓ、ｔを式（４）へ代入
し、式（７）（８）のｔ、ｕを式（５）へ代入する。
１の式（２）（３）へ代入し、さらに式（２）（３）の
ｑ，ｐを式（１）に代入する。次に、測定された共振周
波数ｆ2 を下記数２の式（６）（７）（８）式へ代入
し、さらに式（６）（７）のｓ、ｔを式（４）へ代入
し、式（７）（８）のｔ、ｕを式（５）へ代入する。
【００１８】最後に、式（１）（４）（５）を誘電率
ε、透磁率μ、Ｄを未知パラメータとする連立方程式と
して解き、最終的に誘電率εおよび透磁率μを算出する
ことができる。
ε、透磁率μ、Ｄを未知パラメータとする連立方程式と
して解き、最終的に誘電率εおよび透磁率μを算出する
ことができる。
【００１９】尚、数１及び数２中、μは磁性材料の透磁
率、μ0 は真空の透磁率、εは磁性材料の誘電率、ε0
は真空の誘電率、ω1 とω2 は共振角周波数であって、
ω1＝２πｆ1 、ω2 ＝２πｆ2 である。Ｊ0 、Ｋ0 、
Ｉ0 、Ｎ0 はそれぞれ０次の第１種ベッセル関数、第２
種変形ベッセル関数、第１種変形ベッセル関数、第２種
ベッセル関数であって、Ｊ0'、Ｋ0'、Ｉ0'、Ｎ0'はそれ
らの微分関数である。また、共振周波数ｆ1 、ｆ2 は、
近接しているので、ｆ1 〜ｆ2 の周波数における誘電率
と透磁率は周波数に依存しないものと仮定する。
率、μ0 は真空の透磁率、εは磁性材料の誘電率、ε0
は真空の誘電率、ω1 とω2 は共振角周波数であって、
ω1＝２πｆ1 、ω2 ＝２πｆ2 である。Ｊ0 、Ｋ0 、
Ｉ0 、Ｎ0 はそれぞれ０次の第１種ベッセル関数、第２
種変形ベッセル関数、第１種変形ベッセル関数、第２種
ベッセル関数であって、Ｊ0'、Ｋ0'、Ｉ0'、Ｎ0'はそれ
らの微分関数である。また、共振周波数ｆ1 、ｆ2 は、
近接しているので、ｆ1 〜ｆ2 の周波数における誘電率
と透磁率は周波数に依存しないものと仮定する。
【００２０】
【数１】
【００２１】
【数２】
【００２２】
【実施例】次に、ＹＩＧフェライトからなる磁性材料の
誘電率と透磁率の測定結果の一例を表１に示す。尚、表
１において、比誘電率ε’は被測定試料の誘電率εを真
空の誘電率ε0 で除したパラメータ、比透磁率μ’は被
測定試料の透磁率μを真空の透磁率μ0 で除したパラメ
ータである。また、比誘電率ε’、比透磁率μ’の測定
誤差は共振周波数の測定誤差より求めた。
誘電率と透磁率の測定結果の一例を表１に示す。尚、表
１において、比誘電率ε’は被測定試料の誘電率εを真
空の誘電率ε0 で除したパラメータ、比透磁率μ’は被
測定試料の透磁率μを真空の透磁率μ0 で除したパラメ
ータである。また、比誘電率ε’、比透磁率μ’の測定
誤差は共振周波数の測定誤差より求めた。
【００２３】
【表１】
【００２４】表１の結果から明らかなように、１ＧＨｚ
以上のマイクロ波においては、比透磁率μ’が１となる
理論に合致しており、また、比誘電率ε’は、ＹＩＧフ
ェライトのマイクロ波用の一般的比誘電率１５（「４．
磁性材料セラミクス」 桜井良文ら編集、昭和６１年１
１月３０日発行、オーム社）とよく一致していることが
わかる。また、本発明の測定方法によれば、比誘電率
ε’、比透磁率μ’の測定相対誤差は１％以下となり、
高精度な測定結果を得ることができた。
以上のマイクロ波においては、比透磁率μ’が１となる
理論に合致しており、また、比誘電率ε’は、ＹＩＧフ
ェライトのマイクロ波用の一般的比誘電率１５（「４．
磁性材料セラミクス」 桜井良文ら編集、昭和６１年１
１月３０日発行、オーム社）とよく一致していることが
わかる。また、本発明の測定方法によれば、比誘電率
ε’、比透磁率μ’の測定相対誤差は１％以下となり、
高精度な測定結果を得ることができた。
【００２５】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明の比誘電率、
比透磁率の測定方法によれば、円柱と中空円筒形状の試
料を用いるので、試料作製が容易であり、寸法誤差によ
る測定精度の低下も起こりにくい。また、外部静磁界を
印加する必要がないので、測定システムが構築しやす
く、測定工程も単純になり、結果として、フェライト等
の磁性材料の高周波における誘電率と透磁率を高精度に
測定できる。
比透磁率の測定方法によれば、円柱と中空円筒形状の試
料を用いるので、試料作製が容易であり、寸法誤差によ
る測定精度の低下も起こりにくい。また、外部静磁界を
印加する必要がないので、測定システムが構築しやす
く、測定工程も単純になり、結果として、フェライト等
の磁性材料の高周波における誘電率と透磁率を高精度に
測定できる。
【図１】本発明における磁性材料の誘電率と透磁率の測
定システムの全体構成を示すブロック図である。
定システムの全体構成を示すブロック図である。
【図２】本発明において用いられる共振器の構造を示す
図である。
図である。
【図３】ＪＩＳ規格に規定された磁性材料の誘電率の測
定方法で用いられる共振器の構造を示す図である。
定方法で用いられる共振器の構造を示す図である。
１ シンセサイズドスイーパー ２ ネットワークアナライザー ３ 共振器 ４ 円柱共振器 ５ 中空円筒共振器 ６ 円柱体 ７，８，１０，１１ 導体板 ９ 中空円筒体
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１０年５月１３日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２０】
【数１】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２１】
【数２】
Claims (2)
- 【請求項１】所定の高さＬ1 、直径ａ1 を有する磁性材
料から成る円柱体の上下端面を、所定の大きさを有する
２枚の導体板で挟持した第１の共振器と、所定の高さＬ
2 、外径ｂ1 、内径ｂ2 を有する、前記円柱体と同一の
磁性材料から成る円筒体の上下端面を、所定の大きさを
有する２枚の導体板で挟んで第２の共振器を形成し、前
記第１の共振器および前記第２の共振器により生成され
たＴＥ011 モードの共振波形から共振周波数ｆ1 、ｆ2
を測定し、該共振周波数ｆ1 、ｆ2 から、磁性材料と空
気の境界で成立する電磁界の境界条件に基づき、前記磁
性材料の誘電率を算出することを特徴とする誘電率の測
定方法。 - 【請求項２】所定の高さＬ1 、直径ａ1 を有する磁性材
料から成る円柱体の上下端面を、所定の大きさを有する
２枚の導体板で挟持した第１の共振器と、所定の高さＬ
2 、外径ｂ1 、内径ｂ2 を有する、前記円柱体と同一の
磁性材料から成る円筒体の上下端面を、所定の大きさを
有する２枚の導体板で挟んで第２の共振器を形成し、前
記第１の共振器および前記第２の共振器により生成され
たＴＥ011 モードの共振波形から共振周波数ｆ1 、ｆ2
を測定し、該共振周波数ｆ1 、ｆ2 から、磁性材料と空
気の境界で成立する電磁界の境界条件に基づき、前記磁
性材料の透磁率を算出することを特徴とする透磁率の測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07403698A JP3580695B2 (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 誘電率および透磁率の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07403698A JP3580695B2 (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 誘電率および透磁率の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271241A true JPH11271241A (ja) | 1999-10-05 |
| JP3580695B2 JP3580695B2 (ja) | 2004-10-27 |
Family
ID=13535539
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07403698A Expired - Fee Related JP3580695B2 (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 誘電率および透磁率の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3580695B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005308716A (ja) * | 2004-03-24 | 2005-11-04 | Kyocera Corp | 電磁気的物性値の測定方法 |
| JP2006177868A (ja) * | 2004-12-24 | 2006-07-06 | Kyocera Corp | 電磁気的物性値測定法 |
| JP2006258451A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Micro Denshi Kk | マイクロ波を利用した誘電率の測定方法とその測定装置 |
| US7567015B2 (en) * | 2006-03-03 | 2009-07-28 | Industrial Technology Research Institute | Composite mode transducer and cooling device having the composite mode transducer |
| JP2011232152A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Kyocera Corp | 厚さ測定方法 |
-
1998
- 1998-03-23 JP JP07403698A patent/JP3580695B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005308716A (ja) * | 2004-03-24 | 2005-11-04 | Kyocera Corp | 電磁気的物性値の測定方法 |
| JP2006177868A (ja) * | 2004-12-24 | 2006-07-06 | Kyocera Corp | 電磁気的物性値測定法 |
| JP2006258451A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Micro Denshi Kk | マイクロ波を利用した誘電率の測定方法とその測定装置 |
| JP4710082B2 (ja) * | 2005-03-15 | 2011-06-29 | ミクロ電子株式会社 | マイクロ波を利用した誘電率の測定方法とその測定装置 |
| US7567015B2 (en) * | 2006-03-03 | 2009-07-28 | Industrial Technology Research Institute | Composite mode transducer and cooling device having the composite mode transducer |
| JP2011232152A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Kyocera Corp | 厚さ測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3580695B2 (ja) | 2004-10-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Glisson et al. | Evaluation of modes in dielectric resonators using a surface integral equation formulation | |
| US4446429A (en) | Microwave resonator | |
| Chen et al. | Amendment of cavity perturbation method for permittivity measurement of extremely low-loss dielectrics | |
| JP2005062152A (ja) | 誘電体の複素誘電率の測定方法及び測定装置 | |
| Chen et al. | A frequency synthesizer based microwave permittivity sensor using CMRC structure | |
| CN109521079B (zh) | 一种多频点材料测试系统及方法 | |
| JP3691812B2 (ja) | 共振器を用いて複素誘電率を測定する方法および前記方法を実施する装置 | |
| JPH11271241A (ja) | 誘電率および透磁率の測定方法 | |
| JP4628116B2 (ja) | 導電率測定方法 | |
| JP4518680B2 (ja) | 誘電定数測定法 | |
| JP4035024B2 (ja) | 誘電定数測定法 | |
| JP3532069B2 (ja) | 表面抵抗の測定方法 | |
| Stockhausen et al. | Concerning measurements of high complex permittivity by the resonator perturbation method | |
| Guillon et al. | TM/sub 01p/Tubular and Cylindrical Dielectric Resonator Mode | |
| Shimizul et al. | Accurate interface conductivity measurement technique for a copper-clad dielectric substrate using a substrate sandwiched dielectric rod resonator | |
| Thompson et al. | Analysis and design of a re-entrant microwave cavity for the characterisation of single wheat grain kernels | |
| Obrzut et al. | Input impedance of a coaxial line terminated with a complex gap capacitance-numerical and experimental analysis | |
| JPH06308177A (ja) | 誘電定数の測定装置及びその測定方法 | |
| JPH11125606A (ja) | 導波装置及び電気特性測定装置 | |
| JP3204366B2 (ja) | 導波装置及び誘電特性測定装置 | |
| JPH09257851A (ja) | 導波装置、電気特性測定装置及び電気特性測定方法 | |
| JPH0460228B2 (ja) | ||
| Weiss et al. | Dielectric constant evaluation of insulating materials: an accurate, practical measurement system | |
| Kelly et al. | Cylindrical re‐entrant cavity resonator design using finite‐element simulation | |
| Daleiden et al. | Development and characterisation of a ceramic HF-resonator for the MR-tomography |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20040706 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20040720 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 4 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 5 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 7 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120730 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |