JPH11260988A - リードフレーム及びその製造方法 - Google Patents

リードフレーム及びその製造方法

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JPH11260988A
JPH11260988A JP6129198A JP6129198A JPH11260988A JP H11260988 A JPH11260988 A JP H11260988A JP 6129198 A JP6129198 A JP 6129198A JP 6129198 A JP6129198 A JP 6129198A JP H11260988 A JPH11260988 A JP H11260988A
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JP
Japan
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lead frame
tip
inner lead
lead
wire bonding
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Application number
JP6129198A
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English (en)
Inventor
Hidekatsu Sekine
秀克 関根
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Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造効率を落とすことなく高密度実装に対応
した狭ピッチリードフレーム(300ピン以上、180
μmピッチ以下)及びその製造方法を提供することを目
的とする。 【解決手段】 通常のプロセス(エッチング法又はプレ
ス法等)で作製したリードフレームのインナーリード先
端部(11a、21a、31a)だけに金属導体層(1
6、26、36)を設け、インナーリード先端部のワイ
ヤボンディングポイント(18、28、38)の平坦幅
を広げたリードフレームとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
実装に用いられるリードフレームに関し、特に微細加工
を要求される多ピンリードフレーム及びその製造方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体素子の高密度化がより一層
要求されるのに伴い、その導体部品であるリードフレー
ムも多ピン化、狭ピッチ化が進んでいる。現在では、リ
ードピン数が300ピン以上、リード間のピッチが20
0μm以下のリードフレームの量産製造が行われてい
る。また、半導体素子の高速化に伴い、高い電気伝導度
を有する銅合金系の金属材料の使用も年々増加してい
る。
【0003】リードフレームの製造方法としては、金型
による打ち抜きプレス法や塩化第二鉄液等のエッチング
液を使用するエッチング法の二つに大別される。エッチ
ング法は打ち抜きプレス法と比較して微細加工性に優
れ、高価である金型を使用しないため、多品種少量の製
造にも適しており、製品の多様化が進む昨今の状況に置
いて広く採用されている方法である。
【0004】エッチング法は微細加工性に優れたエッチ
ング加工であるが、その加工能力にも限界があり、レジ
ストパターン寸法やエッチング条件の最適化を行って
も、リード間のピッチはリードフレーム板厚以下には加
工できないとされている。その理由として、ウエットエ
ッチングの場合、金属板の垂直方向と同時に水平方向へ
のエッチング、いわゆるサイドエッチがあるためであ
る。リードフレームの板厚はリードフレームの強度を確
保するため、ある程度の厚さが必要で100μm以下で
の使用は難しく、実際的には125μm以上で使用され
ている。
【0005】また、リードフレームのインナーリード先
端部はワイヤボンディングエリアの確保のため、一定値
以上(80μm以上といわれている)の平坦幅の確保が
必要となり、その結果上記加工限界値は更に高いものと
なり、現状リード間のピッチが180μmであるリード
フレームの安定量産は非常に困難である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような状況の中
で、エッチング法でリードフレームの板厚(125μm
以上)及びインナーリード先端部のワイヤボンディング
ポイントの平坦幅(80μm以上)を確保した状態で更
なる微細(300ピン以上、180μmピッチ以下)リ
ードフレームを実現することは困難な状況である。
【0007】本発明は上記問題点に鑑みなされたもの
で、その目的とするところは、製造効率を落とすことな
く高密度実装に対応した狭ピッチリードフレーム(30
0ピン以上、180μmピッチ以下)及びその製造方法
を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
に、まず請求項1においては、半導体素子と外部配線回
路の中継端子として用いられるリードフレームにおい
て、通常のプロセス(エッチング法又はプレス法等)で
作製したリードフレームのインナーリード先端部だけに
金属導体層を設け、インナーリード先端部のワイヤボン
ディングポイントの平坦幅を広げたことを特徴とするリ
ードフレームとしたものである。
【0009】また、請求項2においては、以下の工程を
含むことを特徴とする請求項1に記載のリードフレーム
の製造方法としたものである。 (a)金属板の両面に所定のレジストパターンを形成し
た後前記金属板をエッチングしてリードフレームを作製
し、前記レジストパターンは剥離しないで、インナーリ
ード先端部だけに部分電気めっき法により金属導体層を
設ける工程。 (b)レジストパターンを剥離してリードフレームとす
る工程。
【0010】さらにまた、請求項3においては、以下の
工程を含むことを特徴とする請求項1に記載のリードフ
レームの製造方法としたものである。 (a)通常のプロセス(エッチング法又はプレス法等)
で作製したリードフレームのインナーリード先端部だけ
に部分電気めっき法により金属導体層を設ける工程。 (b)前記金属導体層が形成された前記インナーリード
先端部のワイヤボンディングポイントを平坦化処理して
リードフレームとする工程。
【0011】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態につき説
明する。図1(a)に本発明のリードフレームの部分平
面図を、図1(b)〜(d)に実施形態に係る本発明の
リードフレームのインナーリードをA−A’線で切断し
たインナーリード先端部の部分断面図を、図2(a)〜
(e)、図3(a)〜(f)、図4(a)〜(f)に実
施形態に係る本発明のリードフレームの製造工程を工程
順に示すインナーリード先端部の部分断面図をそれぞれ
示す。
【0012】本発明のリードフレームは通常のプロセス
(エッチング法又はプレス法等)で作製されたリードフ
レームのインナーリード先端部だけに電気めっき法等の
手段により金属導体層を設け、ワイヤボンディングする
際のインナーリード先端部のワイヤボンディングポイン
トの平坦幅を確保しようとするものである。
【0013】金属導体層形成前のリードフレームはエッ
チング法、プレス法、レーザー加工法等の通常のプロセ
スで作製できるが、特に、量産性、微細加工性に優れた
エッチング法でその効果が発揮される。以下、エッチン
グ法でリードフレームを作製した後インナーリード先端
部に金属導体層を形成する方法について述べる。エッチ
ング法以外で作製したリードフレームにも本発明のリー
ドフレーム構成が適用できることは言うまでもない。
【0014】インナーリード先端部の金属導体層を部分
電気めっき法で形成する際、作製工程によってはワイヤ
ボンディングされる面のリード表面が平坦にならないた
め、平坦化処理してやる必要がある。
【0015】まず、金属板11の両面に感光性樹脂(フ
ォトレジスト)を塗布、乾燥して感光層12を形成する
(図2(a)参照)。
【0016】次に、所定の遮光パターンを有する露光用
マスク(表裏2枚のマスク)を位置合わせ、密着して所
定の露光量で感光層12に露光し、所定の現像液で現像
処理して、金属板11の両面に開口パターン13を有す
るレジストパターン12aを形成する(図2(b)参
照)。
【0017】次に、両面からウエットエッチングを行
い、開口部14及びインナーリードの先端部11aを有
するリードフレームを形成する(図2(c)参照)。
【0018】次に、レジストパターン12aは剥離しな
いで、インナーリード先端部11a以外が電気めっきさ
れないようにマスク治具でマスクして部分電気めっきを
行い、インナーリード先端部11a側面に所定厚の金属
導体層16を形成する(図2(d)参照)。ここで、金
属導体層の形成法は各種の方法(電気めっき法、PVD
法、CVD法等)が使用可能であるが、部分電気めっき
法が品質、効率面で最適である、
【0019】次に、レジストパターン12aを剥離し
て、インナーリード先端部11aのワイヤボンディング
ポイント18の平坦幅が80μm以上のインナーリード
先端部20を有する本発明のリードフレームを作製する
(図2(e)参照)。
【0020】他の金属導体層の形成法として、レジスト
パターンを剥離した後にインナーリード先端部以外はめ
っきされないようにマスク治具でマスクして、部分電気
めっきを行い、インナーリード先端部21a全面に所定
厚の金属導体層26を形成する(図3(e)参照)。こ
こで、金属導体層26が形成されたインナーリード先端
部21のワイヤボンディングポイントの平坦性が悪いの
で、プレス又は研磨法等で平坦化処理する。その結果、
インナーリード先端部21aのワイヤボンディングポイ
ント28の平坦幅が80μm以上のインナーリード先端
部30を有する本発明のリードフレームを作製する(図
3(f)参照)。
【0021】さらに、別の金属導体層の形成法として、
図4(e)に示すようにレジストパターン32a剥離処
理した後インナーリード先端部31aとインナーリード
先端部31aのワイヤボンディングポイント37の反対
面が電気めっきされないようなマスク治具でマスクし
て、部分電気めっきを行い金属導体層36を形成する。
金属導体層36が形成されたインナーリード先端部31
aのワイヤボンディングポイントをプレス法又は研磨法
にて平坦化処理して、インナーリード先端部31aのワ
イヤボンディングポイント38の平坦幅が80μm以上
のインナーリード先端部40を有する本発明のリードフ
レームを作製する(図4(f)参照)。
【0022】上記図3(f)及び図4(f)に示すイン
ナーリード先端部の構成はワイヤボンディング面が同一
金属導体層で形成されるため、ワイヤボンディング適性
に優れ、安定した電気的接続が得られる。
【0023】上記説明したように、本発明のリードフレ
ームでは、リードフレーム作成後インナーリード先端部
だけに金属導体層を形成して、ワイヤボンディングポイ
ントの平坦幅を確保できるため、従来の加工限界値を越
えた180μmピッチ、さらには、150μmピッチと
いった多ピンのリードフレームを作製することが可能と
なる。
【0024】
【実施例】以下実施例により本発明を詳細に説明する。
【0025】<実施例1>厚さ125μmのCu合金板
からなる金属板11の両面に、ドライフィルムレジスト
(AQ−403N:旭化成製)をドライフィルムラミネ
ータにて、ラミネート温度110℃、圧力3kg/cm
2 で圧着・貼り合わせを行い、金属板11の両面に感光
性レジスト12を形成した(図2(a)参照)。
【0026】次に、所定の遮光パターンを有する露光用
マスク(表裏2枚のマスク)を位置合わせ、密着して3
kWの超高圧水銀灯で50mj/cm2 の露光量で感光
性レジスト12に露光し、炭酸ナトリウム水溶液からな
る現像液で現像処理して、金属板11の両面に開口パタ
ーン13を有するレジストパターン12aを形成した
(図2(b)参照)。
【0027】次に、金属板11の両面から温度70℃に
加熱された塩化第二鉄溶液をスプレー圧5kg/cm2
でスプレーエッチングして、貫通孔14及びインナーリ
ード先端部11aを有するリードフレームを形成した
(図2(c)参照)。インナーリード先端部11aのワ
イヤボンディングポイント17の平坦幅は60μmであ
った。
【0028】次に、レジストパターン12aは剥離しな
いで、インナーリード先端部11a以外の部分が電気め
っきされないようにマスク治具でマスクして、硫酸銅め
っきを使った電気めっきにて、電流密度3A/dm2
インナーリード先端部側面に銅をめっきし、約10μm
厚の金属導体層16を形成した(図2(d)参照)。
【0029】次に、レジストパターン12aをアルカリ
系の剥離液で剥離して、インナーリード先端部11aの
ワイヤボンディングポイント18の平坦幅が80μmの
インナーリード先端部20を有する本発明のリードフレ
ームを作製した(図2(e)参照)。
【0030】<実施例2>まず、厚さ125μmのCu
合金板からなる金属板21の両面に、実施例1と同様な
方法で感光性レジスト22、レジストパターン22aを
形成し、実施例1と同様な方法でエッチングを行い、ア
ルカリ系の剥離液でレジストパターン22a剥離して、
貫通孔24及びインナーリード先端部21aを有するリ
ードフレームを作製した(図2(d)参照)。インナー
リード先端部21aのワイヤボンディングポイント27
の平坦幅は60μmであった。
【0031】次に、インナーリード先端部21a以外が
電気めっきされないようにマスク治具でマスクして、硫
酸銅めっきを使った電気めっきにて、電流密度3A/d
2でインナーリード先端部21a全面に銅をめっき
し、約10μm厚の金属導体層26を形成した(図3
(e)参照)。
【0032】次に、平プレス機を使ってインナーリード
先端部21a上のワイヤボンディングポイントの金属導
体層26を加圧プレスして平坦化処理を行い、インナー
リード先端部21aのワイヤボンディングポイント28
の平坦幅が80μmのインナーリード先端部30を有す
る本発明のリードフレームを作製した(図3(f)参
照)。
【0033】<実施例3>まず、厚さ125μmのCu
合金板からなる金属板31の両面に、実施例1と同様な
方法で感光性レジスト32、レジストパターン32aを
形成し、実施例1と同様な方法でエッチングを行い、ア
ルカリ系の剥離液でレジストパターン32a剥離して、
貫通孔34及びインナーリード先端部31aを有するリ
ードフレームを作製した(図4(d)参照)。インナー
リード先端部31aのワイヤボンディングポイント37
の平坦幅は60μmであった。
【0034】次に、インナーリード先端部31a以外と
インナーリード先端部31aのワイヤボンディングポイ
ント37の反対面が電気めっきされないようにマスク治
具でマスクして、硫酸銅めっきを使った電気めっきに
て、電流密度3A/dm2 でインナーリード先端部31
aに銅をめっきし、約10μm厚の金属導体層36を形
成した(図4(e)参照)。
【0035】次に、研磨機を使ってインナーリード先端
部31a上のワイヤボンディングポイントの金属導体層
36を5μm程研磨して平坦化処理を行い、インナーリ
ード先端部31aのワイヤボンディングポイント38の
平坦幅が80μmのインナーリード先端部40を有する
本発明のリードフレームを作製した(図4(f)参
照)。
【0036】
【発明の効果】上記したように、本発明のリードフレー
ム構成にすることにより、多ピンリードの加工の際問題
になったインナーリード先端部のワイヤボンディングポ
イント平坦幅を80μm以上確保できるようになり、従
来の加工限界値を越えた180μmピッチ、さらに、1
50μmピッチといった多ピンのリードフレームを作製
することが可能となる。従って本発明のリードフレーム
構成にすることにより、特にエッチング加工で多ピンリ
ードフレームを作製する際の展開幅が増し、優れた実用
上の効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、本発明に係るリードフレームを示す
平面図である。(b)は、実施例1に係る本発明のイン
ナーリードをA−A’線で切断したインナーリード先端
部を示す部分断面図である。(c)は、実施例2に係る
本発明のインナーリードをA−A’線で切断したインナ
ーリード先端部を示す部分断面図である。(d)は、実
施例3に係る本発明のインナーリードをA−A’線で切
断したインナーリード先端部を示す部分断面図である。
【図2】(a)〜(e)は、実施例1に係る本発明のリ
ードフレームの製造工程を工程順に示すインナーリード
先端部の部分断面図である。
【図3】(a)〜(f)は、実施例2に係る本発明のリ
ードフレームの製造工程を工程順に示すインナーリード
先端部の部分断面図である。
【図4】(a)〜(f)は、実施例3に係る本発明のリ
ードフレームの製造工程を工程順に示すインナーリード
先端部の部分断面図である。
【符号の説明】
11、21、31……金属板 11a、21a、31a……インナーリード先端部 12、22,32……感光性レジスト 12a、22a、32a……レジストパターン 13、23、33……開口パターン 14、24、34……貫通孔 15、25、35……金属導体層形成後の貫通孔 16、26、36……金属導体層 17、27、37……ワイヤボンディングポイント 18、28、38……金属導体層形成後のワイヤボンデ
ィングポイント 20……実施例1の金属導体層形成後のインナーリード
先端部 30……実施例2の金属導体層形成後のインナーリード
先端部 40……実施例3の金属導体層形成後のインナーリード
先端部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体素子と外部配線回路の中継端子とし
    て用いられるリードフレームにおいて、通常のプロセス
    (エッチング法又はプレス法等)で作製したリードフレ
    ームのインナーリード先端部だけに金属導体層を設け、
    インナーリード先端部のワイヤボンディングポイントの
    平坦幅を広げたことを特徴とするリードフレーム。
  2. 【請求項2】以下の工程を含むことを特徴とする請求項
    1に記載のリードフレームの製造方法。 (a)金属板の両面に所定のレジストパターンを形成し
    た後前記金属板をエッチングしてリードフレームを作製
    し、前記レジストパターンは剥離しないで、インナーリ
    ード先端部だけに部分電気めっき法により金属導体層を
    設ける工程。 (b)レジストパターンを剥離してリードフレームとす
    る工程。
  3. 【請求項3】以下の工程を含むことを特徴とする請求項
    1に記載のリードフレームの製造方法。 (a)通常のプロセス(エッチング法又はプレス法等)
    で作製したリードフレームのインナーリード先端部だけ
    に部分電気めっき法により金属導体層を設ける工程。 (b)前記金属導体層が形成された前記インナーリード
    先端部のワイヤボンディングポイントを平坦化処理して
    リードフレームとする工程。
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