JPH112587A - 光信号生成装置および方法と可変波長レーザ信号 - Google Patents
光信号生成装置および方法と可変波長レーザ信号Info
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- JPH112587A JPH112587A JP10048868A JP4886898A JPH112587A JP H112587 A JPH112587 A JP H112587A JP 10048868 A JP10048868 A JP 10048868A JP 4886898 A JP4886898 A JP 4886898A JP H112587 A JPH112587 A JP H112587A
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
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- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 一つの可変波長レーザを使って複数の場所に
ある複数の光学装置を効率的に試験するための光信号生
成装置を提供する。 【解決手段】 光学装置を試験するために複数の場所へ
の一斉送信するための試験信号を生成するための装置が
開示される。可変波長レーザ１０はより低い波長からよ
り高い上の方の波長へと掃引し、可変入力信号を試験局
に提供する。その可変入力信号から生成されたタイミン
グ信号は試験局４０ａに与えられ、試験がいくつかの知
られた波長において実行されるように、可変入力信号の
周波数を決定する。システム８では、複数の試験局へ同
時に配信するために分離器４３によって分離された入力
可変信号とタイミング信号の両方に十分なパワーを持た
せるための増幅が加えられる。
ある複数の光学装置を効率的に試験するための光信号生
成装置を提供する。 【解決手段】 光学装置を試験するために複数の場所へ
の一斉送信するための試験信号を生成するための装置が
開示される。可変波長レーザ１０はより低い波長からよ
り高い上の方の波長へと掃引し、可変入力信号を試験局
に提供する。その可変入力信号から生成されたタイミン
グ信号は試験局４０ａに与えられ、試験がいくつかの知
られた波長において実行されるように、可変入力信号の
周波数を決定する。システム８では、複数の試験局へ同
時に配信するために分離器４３によって分離された入力
可変信号とタイミング信号の両方に十分なパワーを持た
せるための増幅が加えられる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は試験装置、特に複数
の場所における複数の光学的構成要素を試験するための
分散試験システムに関する。
の場所における複数の光学的構成要素を試験するための
分散試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】光学的構成要素を損失や他の特性につい
て試験するためのいくつかの方法が存在する。たとえ
ば、波長および強度が分かっている単一の光信号を構成
要素に送り出すことが可能であり、損失を装置の出力に
おいて測定された信号から割り出すことができる。ある
いはまた、複数の信号を継続的に装置に送り出すことが
可能であり、各波長において同様な測定がなされる。あ
る製作および製造環境においては、関心のある波長範囲
において可能な限り速やかに装置を試験することが好ま
しい。一般的に、光学的構成要素を試験するための試験
局には大変コストのかかる可変波長レーザが必要とな
る。これらのレーザは複数の波長に一度に一つずつ同調
するとともに、被試験装置（ＤＵＴ）に出力信号を提供
する。波長の所定範囲内にあるさまざまな波長において
ＤＵＴに信号を与える目的は、ＤＵＴにおける関心のあ
る各波長またはいくつかの波長における損失を検出する
ことにある。もちろん、ＤＵＴにいくつかの個別のレー
ザからの信号を与えることも可能であろう。しかしなが
ら、ある製造環境において、こうしたスキーム（枠組
み）は現実的でありそうもない。すでに言及した可変波
長レーザを使用する際、ＤＵＴの出力応答を、時間にお
ける特定の瞬間に装置を通って伝搬した光の特定波長と
関連付けるための電子回路要素が提供されるならば、そ
れが好ましい。
て試験するためのいくつかの方法が存在する。たとえ
ば、波長および強度が分かっている単一の光信号を構成
要素に送り出すことが可能であり、損失を装置の出力に
おいて測定された信号から割り出すことができる。ある
いはまた、複数の信号を継続的に装置に送り出すことが
可能であり、各波長において同様な測定がなされる。あ
る製作および製造環境においては、関心のある波長範囲
において可能な限り速やかに装置を試験することが好ま
しい。一般的に、光学的構成要素を試験するための試験
局には大変コストのかかる可変波長レーザが必要とな
る。これらのレーザは複数の波長に一度に一つずつ同調
するとともに、被試験装置（ＤＵＴ）に出力信号を提供
する。波長の所定範囲内にあるさまざまな波長において
ＤＵＴに信号を与える目的は、ＤＵＴにおける関心のあ
る各波長またはいくつかの波長における損失を検出する
ことにある。もちろん、ＤＵＴにいくつかの個別のレー
ザからの信号を与えることも可能であろう。しかしなが
ら、ある製造環境において、こうしたスキーム（枠組
み）は現実的でありそうもない。すでに言及した可変波
長レーザを使用する際、ＤＵＴの出力応答を、時間にお
ける特定の瞬間に装置を通って伝搬した光の特定波長と
関連付けるための電子回路要素が提供されるならば、そ
れが好ましい。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】システムとしては現在
のところ、試験すべき各々の波長でストップする同調機
構を有する可変波長レーザ（波長可変レーザ，若しくは
同調可能レーザ）が知られている。しかしながら、多数
の波長（すなわち１００よりも大きな数の波長）で試験
が行われるときには、この過程において何分が費やされ
る。波長の正確さは同調機構における機構上の公差によ
って制限される。
のところ、試験すべき各々の波長でストップする同調機
構を有する可変波長レーザ（波長可変レーザ，若しくは
同調可能レーザ）が知られている。しかしながら、多数
の波長（すなわち１００よりも大きな数の波長）で試験
が行われるときには、この過程において何分が費やされ
る。波長の正確さは同調機構における機構上の公差によ
って制限される。
【０００４】そこで、本発明の目的は、可変波長レーザ
信号の波長を同調しながら決定するための装置を提供す
ることにある。これによって、同調機構が波長ごとにス
トップする必要はなくなり、測定速度を向上させること
ができる。波長の正確さは同調機構の機構上の公差によ
って影響されない。
信号の波長を同調しながら決定するための装置を提供す
ることにある。これによって、同調機構が波長ごとにス
トップする必要はなくなり、測定速度を向上させること
ができる。波長の正確さは同調機構の機構上の公差によ
って影響されない。
【０００５】本発明の他の目的は、そこから遠く離れた
複数の試験局において光学装置を試験するための信号を
生成する中央システムを提供することにある。
複数の試験局において光学装置を試験するための信号を
生成する中央システムを提供することにある。
【０００６】本発明のさらに他の目的は、複数の試験局
への複数の信号を同時に生成するための一つの可変波長
レーザを有するシステムを提供することにある。
への複数の信号を同時に生成するための一つの可変波長
レーザを有するシステムを提供することにある。
【０００７】以上の目的の他に本発明の他の目的は、複
数の装置を同時に試験するためのシステムを提供するこ
とにある。
数の装置を同時に試験するためのシステムを提供するこ
とにある。
【０００８】以上の目的の他に本発明のさらなる目的
は、複数の場所における複数の装置を試験するための、
変動波長を有する入力信号に応答する装置を提供するこ
とにある。
は、複数の場所における複数の装置を試験するための、
変動波長を有する入力信号に応答する装置を提供するこ
とにある。
【０００９】以上の目的の他に本発明のさらなる目的
は、遠く離れた複数の試験場所へ分散することができる
光信号を提供することにある。ここでは、その光信号内
で波長情報が符号化され、遠く離れた試験局には、動的
にその光信号を復号化して波長を決定するとともに特定
の試験を特定の波長と関連付けるための手段が与えられ
る。
は、遠く離れた複数の試験場所へ分散することができる
光信号を提供することにある。ここでは、その光信号内
で波長情報が符号化され、遠く離れた試験局には、動的
にその光信号を復号化して波長を決定するとともに特定
の試験を特定の波長と関連付けるための手段が与えられ
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を実現するため
に本発明が提供する、光学的構成要素を試験するための
装置は、（ａ） より高い波長からより低いまで、また
は、より低い波長からより高い波長まで、その波長が時
間的に変化する第１の光信号を、該第１の光信号が時間
におけるある特定の瞬間に一つの所定の波長にあること
に対応するタイミング情報を使って符号化するための手
段と、（ｂ） 前記符号化された第１の光信号から、時
間におけるある特定の瞬間における前記第１の光信号の
波長に関する情報を引き出すための手段と、試験情報を
前記引き出された波長情報に関連付けて前記第１の光信
号に対する前記光学的構成要素の出力応答を決定すると
ともに、該出力応答を生み出した前記第１の光信号の波
長を決定するための手段とを有する試験局と、をそれぞ
れ備えたことを特徴とする。
に本発明が提供する、光学的構成要素を試験するための
装置は、（ａ） より高い波長からより低いまで、また
は、より低い波長からより高い波長まで、その波長が時
間的に変化する第１の光信号を、該第１の光信号が時間
におけるある特定の瞬間に一つの所定の波長にあること
に対応するタイミング情報を使って符号化するための手
段と、（ｂ） 前記符号化された第１の光信号から、時
間におけるある特定の瞬間における前記第１の光信号の
波長に関する情報を引き出すための手段と、試験情報を
前記引き出された波長情報に関連付けて前記第１の光信
号に対する前記光学的構成要素の出力応答を決定すると
ともに、該出力応答を生み出した前記第１の光信号の波
長を決定するための手段とを有する試験局と、をそれぞ
れ備えたことを特徴とする。
【００１１】この本発明が提供する、光学的構成要素を
試験するための装置は、波長が変化する第１の光信号を
該波長に関する情報を使って符号化するための符号化手
段を備えるように構成することが好ましい。
試験するための装置は、波長が変化する第１の光信号を
該波長に関する情報を使って符号化するための符号化手
段を備えるように構成することが好ましい。
【００１２】本発明は光学装置を試験するために複数の
場所に向けて一斉送信するための試験信号を生成する方
法も提供する。この方法は、第１のより低い波長からよ
り高いそれより上の波長まで、またはその逆方向に、そ
れらの波長の間の複数の波長を掃引しながら、波長が変
化する第１のレーザ信号を生成するステップと、前記第
１の光信号が所定の周波数にある時を示すための同期信
号を提供するステップと、前記波長が変化する第１のレ
ーザ信号を変調して、その中に、時間における複数の瞬
間における該第１のレーザ信号の複数の波長に対応する
情報を符号化するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号を一つの試験局に提供するステップと、前記装
置を試験するために、前記第１のレーザ信号を一つの光
学装置に提供するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号から、該第１のレーザ信号に関する波長情報を
引き出すステップと、試験情報を前記引き出された波長
情報と関連付けるステップと、が含まれるように構成さ
れたことを特徴とする。
場所に向けて一斉送信するための試験信号を生成する方
法も提供する。この方法は、第１のより低い波長からよ
り高いそれより上の波長まで、またはその逆方向に、そ
れらの波長の間の複数の波長を掃引しながら、波長が変
化する第１のレーザ信号を生成するステップと、前記第
１の光信号が所定の周波数にある時を示すための同期信
号を提供するステップと、前記波長が変化する第１のレ
ーザ信号を変調して、その中に、時間における複数の瞬
間における該第１のレーザ信号の複数の波長に対応する
情報を符号化するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号を一つの試験局に提供するステップと、前記装
置を試験するために、前記第１のレーザ信号を一つの光
学装置に提供するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号から、該第１のレーザ信号に関する波長情報を
引き出すステップと、試験情報を前記引き出された波長
情報と関連付けるステップと、が含まれるように構成さ
れたことを特徴とする。
【００１３】この本発明が提供する、光学装置を試験す
るために複数の場所に向けて一斉送信するための試験信
号を生成する方法は、第１のより低い波長からより高い
それより上の波長まで、それらの波長の間の複数の波長
を掃引しながら、波長が変化する第１のレーザ信号を生
成するステップと、前記第１のレーザ信号が所定の周波
数にある時を示すための同期信号を提供するステップ
と、前記波長が変化する第１のレーザ信号を変調して、
その中に、時間における複数の瞬間における該第１のレ
ーザ信号の複数の波長に対応する情報を符号化するステ
ップと、前記変調された第１のレーザ信号を一つの試験
局に提供するステップと、前記装置を試験するために、
前記第１のレーザ信号を一つの光学装置に提供するステ
ップと、前記変調された第１のレーザ信号から、該第１
のレーザ信号に関する波長情報を引き出すステップと、
試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けるステ
ップと、が含まれるように構成することが好ましい。
るために複数の場所に向けて一斉送信するための試験信
号を生成する方法は、第１のより低い波長からより高い
それより上の波長まで、それらの波長の間の複数の波長
を掃引しながら、波長が変化する第１のレーザ信号を生
成するステップと、前記第１のレーザ信号が所定の周波
数にある時を示すための同期信号を提供するステップ
と、前記波長が変化する第１のレーザ信号を変調して、
その中に、時間における複数の瞬間における該第１のレ
ーザ信号の複数の波長に対応する情報を符号化するステ
ップと、前記変調された第１のレーザ信号を一つの試験
局に提供するステップと、前記装置を試験するために、
前記第１のレーザ信号を一つの光学装置に提供するステ
ップと、前記変調された第１のレーザ信号から、該第１
のレーザ信号に関する波長情報を引き出すステップと、
試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けるステ
ップと、が含まれるように構成することが好ましい。
【００１４】本発明は上記目的を実現するための可変波
長レーザ信号も提供する。この可変波長レーザ信号は、
光学システムにおいて使用され、所定限度内で制御可能
な状態で変化する波長を有する、可変波長レーザの信号
であって、前記信号は、その波長が変化する際の時間に
おける異った瞬間における特定の波長に対応する、前記
信号内で符号化された復号化可能な符号を含むことを特
徴とする。
長レーザ信号も提供する。この可変波長レーザ信号は、
光学システムにおいて使用され、所定限度内で制御可能
な状態で変化する波長を有する、可変波長レーザの信号
であって、前記信号は、その波長が変化する際の時間に
おける異った瞬間における特定の波長に対応する、前記
信号内で符号化された復号化可能な符号を含むことを特
徴とする。
【００１５】本発明が提供する、光学的構成要素を試験
するための他の装置は、波長が変化する第１の光信号を
該波長に関する情報を使って符号化するための符号化手
段を備えることを特徴とする。
するための他の装置は、波長が変化する第１の光信号を
該波長に関する情報を使って符号化するための符号化手
段を備えることを特徴とする。
【００１６】本発明が提供するさらに他の、光学装置を
試験するために複数の場所に向けて一斉送信するための
試験信号を生成する方法は、第１のより低い波長からよ
り高いそれより上の波長まで、またはその逆方向に、そ
れらの波長の間の複数の波長を掃引しながら、波長が変
化する第１のレーザ信号を生成するステップと、前記第
１の光信号が所定の周波数にある時を示すための同期信
号を提供するステップと、前記波長が変化する第１のレ
ーザ信号を変調して、その中に、時間における複数の瞬
間における該第１のレーザ信号の複数の波長に対応する
情報を符号化するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号を一つの試験局に提供するステップと、前記装
置を試験するために、前記第１のレーザ信号を一つの光
学装置に提供するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号から、該第１のレーザ信号に関する波長情報を
引き出すステップと、試験情報を前記引き出された波長
情報と関連付けるステップとが含まれるように構成され
たことを特徴とする。
試験するために複数の場所に向けて一斉送信するための
試験信号を生成する方法は、第１のより低い波長からよ
り高いそれより上の波長まで、またはその逆方向に、そ
れらの波長の間の複数の波長を掃引しながら、波長が変
化する第１のレーザ信号を生成するステップと、前記第
１の光信号が所定の周波数にある時を示すための同期信
号を提供するステップと、前記波長が変化する第１のレ
ーザ信号を変調して、その中に、時間における複数の瞬
間における該第１のレーザ信号の複数の波長に対応する
情報を符号化するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号を一つの試験局に提供するステップと、前記装
置を試験するために、前記第１のレーザ信号を一つの光
学装置に提供するステップと、前記変調された第１のレ
ーザ信号から、該第１のレーザ信号に関する波長情報を
引き出すステップと、試験情報を前記引き出された波長
情報と関連付けるステップとが含まれるように構成され
たことを特徴とする。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に説明する。
施形態を詳細に説明する。
【００１８】図１は本発明による試験システム８の第１
の実施形態を示した高水準ブロック図である。ここで、
光学的回路および光学的構成要素の第１のブロック３０
は、第２のブロック４０ａ内のＤＵＴ（被試験装置）２
６に送り出すための可変波長光信号を提供する。第１の
ブロック３０において、可変波長レーザ信号ＳL という
形の可変波長光信号は、可変波長レーザ信号ＳL に関す
る波長情報を決定するためのタイミング信号ＳT と組み
合わされる。回路構成をこれら２つのブロック３０、４
０ａに分ける目的は、以下の２つの主たる機能を分離す
ることにある。第１の機能は、可変波長光信号を、その
可変波長光信号に関するタイミング情報を提供するため
の付随するタイミング信号とともに生み出すことであ
る。第２の機能は、関心のある装置または構成要素を試
験するとともに、２つの信号ＳL とＳT に応答してそれ
を行うのに必要な回路構成の提供も一緒に行うことであ
る。さらに、これらの２つのブロックに分離することに
よってコスト的にも可成り有利になる。たとえば、可変
波長光信号をそれに対応するタイミング信号と一緒に２
つの同じ信号に分離するための分離器４３を使用するこ
とによって、ブロック４０ａと同一の（図示されていな
い）もう一つ別の試験局４０ｂにも試験およびタイミン
グ信号を提供することが可能である。システム８全体で
最もコストのかかる部分は可変波長レーザを含むブロッ
ク３０の中にあるので、このシステム８によって２つ以
上の分離した試験局に試験信号を提供するために、可変
波長レーザを重複させないで済ますことができる。
の実施形態を示した高水準ブロック図である。ここで、
光学的回路および光学的構成要素の第１のブロック３０
は、第２のブロック４０ａ内のＤＵＴ（被試験装置）２
６に送り出すための可変波長光信号を提供する。第１の
ブロック３０において、可変波長レーザ信号ＳL という
形の可変波長光信号は、可変波長レーザ信号ＳL に関す
る波長情報を決定するためのタイミング信号ＳT と組み
合わされる。回路構成をこれら２つのブロック３０、４
０ａに分ける目的は、以下の２つの主たる機能を分離す
ることにある。第１の機能は、可変波長光信号を、その
可変波長光信号に関するタイミング情報を提供するため
の付随するタイミング信号とともに生み出すことであ
る。第２の機能は、関心のある装置または構成要素を試
験するとともに、２つの信号ＳL とＳT に応答してそれ
を行うのに必要な回路構成の提供も一緒に行うことであ
る。さらに、これらの２つのブロックに分離することに
よってコスト的にも可成り有利になる。たとえば、可変
波長光信号をそれに対応するタイミング信号と一緒に２
つの同じ信号に分離するための分離器４３を使用するこ
とによって、ブロック４０ａと同一の（図示されていな
い）もう一つ別の試験局４０ｂにも試験およびタイミン
グ信号を提供することが可能である。システム８全体で
最もコストのかかる部分は可変波長レーザを含むブロッ
ク３０の中にあるので、このシステム８によって２つ以
上の分離した試験局に試験信号を提供するために、可変
波長レーザを重複させないで済ますことができる。
【００１９】システム８をもう少し詳細に説明する。ブ
ロック３０には関心のある１５２０ｎｍから１５７０ｎ
ｍまでの波長範囲で同調させることができる可変波長レ
ーザ１０が含まれる。可変波長レーザ１０は１５２０ｎ
ｍから始めて継続的に１５７０ｎｍまで増大させながら
その出力を繰り返し変化させる。１５７０ｎｍに到達す
るとレーザは１５２０ｎｍに戻り、再び１５２０ｎｍか
ら続ける。こうしてレーザは波長範囲を掃引し、繰り返
しこうした動作を継続する。５％タップ１２はレーザか
らの出力信号（光信号）ＳL を受信して、光信号ＳL の
５％をタイミング信号生成器１４に通し、光信号ＳL の
９５％を後段の手段１６に通すように作動する。そし
て、手段１６は、上述の９５％の光信号と、タイミング
信号生成器１４から出力されるタイミング信号ＳT とを
組み合わせる。タイミング信号生成器１４は出力信号Ｓ
L のこの小さな部分（５％）から、たとえば波長が１５
２０ｎｍにある時など、出力信号ＳL が所定の波長にあ
る時を決定する。その後、タイミング生成器１４は、信
号ＳL が１５２０ｎｍにあることを示すタイミング信号
ＳT を生成する。レーザ波長がたとえば１５２０．０１
ｎｍなどの次の関心のある波長に到達する次の時点で、
タイミング信号による次のパルスが送られて、１５２
０．０１ｎｍが示される。信号ＳL とＳT の両方がカッ
プリング手段１６によって組み合わされるとき、信号Ｓ
L のデータ内容が影響されないように、タイミング信号
ＳT が信号ＳL とは異る波長にあることが保証されるよ
うに注意が払われる。基本的に、タイミング信号ＳT は
ブロック４０ａにおいて使用されるマーカまたは表示と
しての役割を果たし、特にタイミング信号ＳT に対応す
る特定の時点における信号ＳL の波長を修正するための
波長情報を決定する（引き出す）手段２０によって使用
されるマーカまたは表示としての役割を果たす。分離器
４３は、信号ＳL とＳT を、（図示されていない）一つ
以上の局４０ｂ、４０ｃ、…などに導かれ得る他の信号
ＳL とＳT に分離するように構成されている。もちろ
ん、代替として、タイミング信号を電気的手段によって
分散される電気信号とすることができる。
ロック３０には関心のある１５２０ｎｍから１５７０ｎ
ｍまでの波長範囲で同調させることができる可変波長レ
ーザ１０が含まれる。可変波長レーザ１０は１５２０ｎ
ｍから始めて継続的に１５７０ｎｍまで増大させながら
その出力を繰り返し変化させる。１５７０ｎｍに到達す
るとレーザは１５２０ｎｍに戻り、再び１５２０ｎｍか
ら続ける。こうしてレーザは波長範囲を掃引し、繰り返
しこうした動作を継続する。５％タップ１２はレーザか
らの出力信号（光信号）ＳL を受信して、光信号ＳL の
５％をタイミング信号生成器１４に通し、光信号ＳL の
９５％を後段の手段１６に通すように作動する。そし
て、手段１６は、上述の９５％の光信号と、タイミング
信号生成器１４から出力されるタイミング信号ＳT とを
組み合わせる。タイミング信号生成器１４は出力信号Ｓ
L のこの小さな部分（５％）から、たとえば波長が１５
２０ｎｍにある時など、出力信号ＳL が所定の波長にあ
る時を決定する。その後、タイミング生成器１４は、信
号ＳL が１５２０ｎｍにあることを示すタイミング信号
ＳT を生成する。レーザ波長がたとえば１５２０．０１
ｎｍなどの次の関心のある波長に到達する次の時点で、
タイミング信号による次のパルスが送られて、１５２
０．０１ｎｍが示される。信号ＳL とＳT の両方がカッ
プリング手段１６によって組み合わされるとき、信号Ｓ
L のデータ内容が影響されないように、タイミング信号
ＳT が信号ＳL とは異る波長にあることが保証されるよ
うに注意が払われる。基本的に、タイミング信号ＳT は
ブロック４０ａにおいて使用されるマーカまたは表示と
しての役割を果たし、特にタイミング信号ＳT に対応す
る特定の時点における信号ＳL の波長を修正するための
波長情報を決定する（引き出す）手段２０によって使用
されるマーカまたは表示としての役割を果たす。分離器
４３は、信号ＳL とＳT を、（図示されていない）一つ
以上の局４０ｂ、４０ｃ、…などに導かれ得る他の信号
ＳL とＳT に分離するように構成されている。もちろ
ん、代替として、タイミング信号を電気的手段によって
分散される電気信号とすることができる。
【００２０】第２のブロック４０ａには、混成信号
ＳL 、ＳT を２つの分離した信号に分離するための、Ｗ
ＤＭフィルタという形の手段１８が含まれる。信号ＳT
は波長情報を決定するための手段２０に与えられ、この
手段２０は検出器２２、２４からの情報も受信する。実
質的にフィルタ１８からの出力全体である信号ＳL はＤ
ＵＴ２６に提供される。ここで、１０％という小さな部
分が検出器２４に供給される。ＤＵＴ２６からの出力信
号は検出器２２に振り向けられる。動作に関して、検出
器２４はＤＵＴ２６への入力信号の強度を相対的に決定
し、この情報を手段２０に与える。ＤＵＴ２６において
測定された実際の強度またはパワーは検出器２２によっ
て同一の手段２０に提供される。こうして、手段２０は
ＤＵＴ２６における損失を計算することが可能となり、
タイミング信号ＳT に基づいて、この特定の損失計算に
対する信号ＳL の波長を決定することができる。タイミ
ング信号ＳT は信号ＳL が１５２０ｎｍの波長にある瞬
間を示しているので、時間における他の瞬間における信
号ＳL の波長に関して決定をすることができる。この機
能を実現させるための形態を以下、図２を参照してより
詳細に述べる。
ＳL 、ＳT を２つの分離した信号に分離するための、Ｗ
ＤＭフィルタという形の手段１８が含まれる。信号ＳT
は波長情報を決定するための手段２０に与えられ、この
手段２０は検出器２２、２４からの情報も受信する。実
質的にフィルタ１８からの出力全体である信号ＳL はＤ
ＵＴ２６に提供される。ここで、１０％という小さな部
分が検出器２４に供給される。ＤＵＴ２６からの出力信
号は検出器２２に振り向けられる。動作に関して、検出
器２４はＤＵＴ２６への入力信号の強度を相対的に決定
し、この情報を手段２０に与える。ＤＵＴ２６において
測定された実際の強度またはパワーは検出器２２によっ
て同一の手段２０に提供される。こうして、手段２０は
ＤＵＴ２６における損失を計算することが可能となり、
タイミング信号ＳT に基づいて、この特定の損失計算に
対する信号ＳL の波長を決定することができる。タイミ
ング信号ＳT は信号ＳL が１５２０ｎｍの波長にある瞬
間を示しているので、時間における他の瞬間における信
号ＳL の波長に関して決定をすることができる。この機
能を実現させるための形態を以下、図２を参照してより
詳細に述べる。
【００２１】図２において、可変波長レーザ１０の出力
信号ＳL の小さな部分が５％の光学的タップ１２ａ、１
２ｂ、１２ｃによって傍受されている。これらのタップ
によってそれぞれ傍受された３つのタップ信号ＳTa、Ｓ
Tb、ＳTcはタイミング信号生成回路１４に提供される。
この回路１４では、固定エタロン（fixed etalon）、フ
ァイバ・ブラッグ格子（ＦＢＧ（fiber Bragg gratin
g)）３２、および電気回路要素３３によって、信号ＳL
の波長について０．０１ｎｍ単位のパルスの行列を含む
パルス化された変調信号ＳM を生成する手段が与えられ
る。ＦＢＧ３２の出力と固定エタロン３１の出力とから
得られる、パルス行列における第１のパルスは、１５２
０ｎｍの波長にある信号ＳL に対応する。続いて第２の
パルスは１５２０．０１ｎｍの波長にある信号ＳL に対
応し、第３のパルスは１５２０．０２ｎｍの波長にある
信号ＳL に対応する。あとに続くパルスも以下同様であ
り、最後のパルスは１５７０ｎｍの波長にある信号ＳL
に対応する。固定エタロンへの入力信号ＳT は波長につ
いて変化し、エタロンは１５２０ｎｍから１５７０ｎｍ
までの範囲内で、１．２５ＧＨｚまたは約０．０１ｎｍ
の自由スペクトル域（ＦＳＲ（free spectral range)）
を有するように選択されるので、固定エタロン３１の出
力信号は周期的信号である。図４はエタロン３１の望ま
しい出力特性を表している。エタロン反射面の間の距離
は次式のように計算される。
信号ＳL の小さな部分が５％の光学的タップ１２ａ、１
２ｂ、１２ｃによって傍受されている。これらのタップ
によってそれぞれ傍受された３つのタップ信号ＳTa、Ｓ
Tb、ＳTcはタイミング信号生成回路１４に提供される。
この回路１４では、固定エタロン（fixed etalon）、フ
ァイバ・ブラッグ格子（ＦＢＧ（fiber Bragg gratin
g)）３２、および電気回路要素３３によって、信号ＳL
の波長について０．０１ｎｍ単位のパルスの行列を含む
パルス化された変調信号ＳM を生成する手段が与えられ
る。ＦＢＧ３２の出力と固定エタロン３１の出力とから
得られる、パルス行列における第１のパルスは、１５２
０ｎｍの波長にある信号ＳL に対応する。続いて第２の
パルスは１５２０．０１ｎｍの波長にある信号ＳL に対
応し、第３のパルスは１５２０．０２ｎｍの波長にある
信号ＳL に対応する。あとに続くパルスも以下同様であ
り、最後のパルスは１５７０ｎｍの波長にある信号ＳL
に対応する。固定エタロンへの入力信号ＳT は波長につ
いて変化し、エタロンは１５２０ｎｍから１５７０ｎｍ
までの範囲内で、１．２５ＧＨｚまたは約０．０１ｎｍ
の自由スペクトル域（ＦＳＲ（free spectral range)）
を有するように選択されるので、固定エタロン３１の出
力信号は周期的信号である。図４はエタロン３１の望ま
しい出力特性を表している。エタロン反射面の間の距離
は次式のように計算される。
【００２２】
【数１】エタロンのＦＳＲ［ｎｍ］＝λ2 ／２ｎｄ エタロンのＦＳＲ［ＧＨｚ］＝ｃ／２ｎｄ ここで、ｃは光速、ｎは反射面間の物質の屈折率、ｄは
エタロン反射面間の距離である。
エタロン反射面間の距離である。
【００２３】ＦＢＧ３２は、波長が１５２０ｎｍのとき
に入力信号を反射するのが望ましく、こうしてパルス行
列における出発点に対応する表示を回路要素に提供す
る。この様子は図３に示されており、スレショルド透過
レベル（threshold transmission level）において、ス
タートが１５２０ｎｍになることが示される。電気回路
３３は、エタロン３１からの周期的出力と信号ＳL が１
５２０ｎｍの波長にある時を示す表示とに応答して、１
３１０ｎｍ波長レーザ３４に与えられる変調信号ＳM を
生成する。変調信号ＳM に応答して、レーザ３４は可変
波長レーザ信号ＳL の０．０１ｎｍ刻みの変化に対応し
て、時間間隔が置かれた波長１３１０ｎｍのパルスの行
列を生成する。こうして、変調信号は、１５２０ｎｍか
ら１５７０ｎｍまで変化する信号ＳL とは大きく異る一
つの波長を有する、１３１０ｎｍ波長レーザ３４によっ
てパルス化された信号ＳLPに変換される。信号ＳLPおよ
びＳL が組み合わされる前に、信号ＳL はエルビウムで
ドーピングされたファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）によって
増幅される。ＥＤＦＡはＤＵＴについての損失測定を実
行するために各局おいて十分な光学的パワーが存在する
ことを保証するのに必要とされることもある。可変波長
フィルタ１７は、レーザ信号を透過させつつも、レーザ
波長以外の波長にあるＥＤＦＡまたはレーザからの自発
放出を遮断しながら、レーザ波長を追跡する。
に入力信号を反射するのが望ましく、こうしてパルス行
列における出発点に対応する表示を回路要素に提供す
る。この様子は図３に示されており、スレショルド透過
レベル（threshold transmission level）において、ス
タートが１５２０ｎｍになることが示される。電気回路
３３は、エタロン３１からの周期的出力と信号ＳL が１
５２０ｎｍの波長にある時を示す表示とに応答して、１
３１０ｎｍ波長レーザ３４に与えられる変調信号ＳM を
生成する。変調信号ＳM に応答して、レーザ３４は可変
波長レーザ信号ＳL の０．０１ｎｍ刻みの変化に対応し
て、時間間隔が置かれた波長１３１０ｎｍのパルスの行
列を生成する。こうして、変調信号は、１５２０ｎｍか
ら１５７０ｎｍまで変化する信号ＳL とは大きく異る一
つの波長を有する、１３１０ｎｍ波長レーザ３４によっ
てパルス化された信号ＳLPに変換される。信号ＳLPおよ
びＳL が組み合わされる前に、信号ＳL はエルビウムで
ドーピングされたファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）によって
増幅される。ＥＤＦＡはＤＵＴについての損失測定を実
行するために各局おいて十分な光学的パワーが存在する
ことを保証するのに必要とされることもある。可変波長
フィルタ１７は、レーザ信号を透過させつつも、レーザ
波長以外の波長にあるＥＤＦＡまたはレーザからの自発
放出を遮断しながら、レーザ波長を追跡する。
【００２４】波長分割多重化装置１６は増幅信号ＳL と
前記信号ＳLPを混成し、８個の試験信号を提供する１×
８分離器４３に送られる混成信号ＳL ＳLPを生成する。
こうして、一つの建物の異る場所にある８個の局４０
ａ、…、４０ｈに、光学装置を試験するのに必要な信号
および情報を提供することができる。図２に示された装
置を使用すると、近似的に５０００データポイントに対
応する１５２０ｎｍから１５７０ｎｍの範囲における
０．０１ｎｍ刻みの複数の波長で一つのＤＵＴを試験す
るのに要する時間は、近似的に１秒である。
前記信号ＳLPを混成し、８個の試験信号を提供する１×
８分離器４３に送られる混成信号ＳL ＳLPを生成する。
こうして、一つの建物の異る場所にある８個の局４０
ａ、…、４０ｈに、光学装置を試験するのに必要な信号
および情報を提供することができる。図２に示された装
置を使用すると、近似的に５０００データポイントに対
応する１５２０ｎｍから１５７０ｎｍの範囲における
０．０１ｎｍ刻みの複数の波長で一つのＤＵＴを試験す
るのに要する時間は、近似的に１秒である。
【００２５】図２の回路１４で示された形態では、入力
信号が１５２０ｎｍから１５７０ｎｍまで掃引する際に
エタロン（etalon）は周期的信号を提供する手段として
使用される。もちろん、エタロンは他の適当な干渉計的
手段と置き換えることもできる。さらに、ＦＲＧ３２は
入力信号が１５２０ｎｍにあることの比較的正確な表示
を獲得する手段として使用される。もう一度再び、入力
信号が１５２０ｎｍにある時を示すために、さまざまな
他の手段を考えることができる。コストおよび利用性を
考慮した上で、固定されたエタロンおよびＦＢＧが選ば
れる形態が好ましい。エタロン特性を有する出力が、で
きる限り安定になるように、温度安定化手段２９が使用
されることが好ましい。
信号が１５２０ｎｍから１５７０ｎｍまで掃引する際に
エタロン（etalon）は周期的信号を提供する手段として
使用される。もちろん、エタロンは他の適当な干渉計的
手段と置き換えることもできる。さらに、ＦＲＧ３２は
入力信号が１５２０ｎｍにあることの比較的正確な表示
を獲得する手段として使用される。もう一度再び、入力
信号が１５２０ｎｍにある時を示すために、さまざまな
他の手段を考えることができる。コストおよび利用性を
考慮した上で、固定されたエタロンおよびＦＢＧが選ば
れる形態が好ましい。エタロン特性を有する出力が、で
きる限り安定になるように、温度安定化手段２９が使用
されることが好ましい。
【００２６】タイミング信号ＳT は可変波長レーザ信号
ＳL と組み合わせる必要はない。代りに、第２の光ファ
イバまたは回線を使ってそのタイミング信号ＳT を各局
に送信することが可能である。信号が試験局への信号の
分散を容易にするように組み合わされる形態が好まし
い。あるいはその代替として、可変波長レーザ１０その
ものを変調してタイミング信号ＳT を送信することも可
能である。
ＳL と組み合わせる必要はない。代りに、第２の光ファ
イバまたは回線を使ってそのタイミング信号ＳT を各局
に送信することが可能である。信号が試験局への信号の
分散を容易にするように組み合わされる形態が好まし
い。あるいはその代替として、可変波長レーザ１０その
ものを変調してタイミング信号ＳT を送信することも可
能である。
【００２７】可変波長レーザ信号ＳL は８つ以上の局へ
分散させることが可能である。検出器２２および２４に
おいて損失測定を遂行するのに十分な光学的パワーが存
在できることが制限因子となる。必要ならば、レーザ信
号ＳL を可変波長フィルタ１７の後において分離して、
再増幅し、そして再び分離することができる。このよう
にして、無制限の数の試験局を一つの可変波長レーザ１
０から（提供された複数のタイミング信号ＳT を使っ
て）操作することができる。
分散させることが可能である。検出器２２および２４に
おいて損失測定を遂行するのに十分な光学的パワーが存
在できることが制限因子となる。必要ならば、レーザ信
号ＳL を可変波長フィルタ１７の後において分離して、
再増幅し、そして再び分離することができる。このよう
にして、無制限の数の試験局を一つの可変波長レーザ１
０から（提供された複数のタイミング信号ＳT を使っ
て）操作することができる。
【００２８】図２には、ＤＵＴに送信される可変波長レ
ーザ信号ＳL の偏波状態を制御するための光学的偏波状
態制御装置２３が示されている。この偏波状態制御装置
２３を使用して、システムは各波長において偏波依存損
失（ＰＤＬ）を測定することが可能である。偏波状態制
御装置２３は４つの偏波状態の一つに設定され、各波長
におけるＤＵＴの損失を測定しながら、一つの波長掃引
がなされる。偏波状態制御装置２３はその後、第２の偏
波状態に設定され、第２の波長掃引がなされる。各波長
において、（４つの偏波状態の上での）平均損失とＰＤ
Ｌを計算するために４つの偏波状態を使用することがで
きる。偏波依存損失を測定するためのシステムおよび方
法は本出願者名義の米国特許第５，３７１，５９７号に
記述されている。偏波状態制御装置２３は可変波長フィ
ルタ１７の直後に配置させることが可能である。こうす
ることによって、さらに各局に偏波状態制御装置２３を
置く必要をうまく回避して経済的なものとすることがで
きる。
ーザ信号ＳL の偏波状態を制御するための光学的偏波状
態制御装置２３が示されている。この偏波状態制御装置
２３を使用して、システムは各波長において偏波依存損
失（ＰＤＬ）を測定することが可能である。偏波状態制
御装置２３は４つの偏波状態の一つに設定され、各波長
におけるＤＵＴの損失を測定しながら、一つの波長掃引
がなされる。偏波状態制御装置２３はその後、第２の偏
波状態に設定され、第２の波長掃引がなされる。各波長
において、（４つの偏波状態の上での）平均損失とＰＤ
Ｌを計算するために４つの偏波状態を使用することがで
きる。偏波依存損失を測定するためのシステムおよび方
法は本出願者名義の米国特許第５，３７１，５９７号に
記述されている。偏波状態制御装置２３は可変波長フィ
ルタ１７の直後に配置させることが可能である。こうす
ることによって、さらに各局に偏波状態制御装置２３を
置く必要をうまく回避して経済的なものとすることがで
きる。
【００２９】図５は本発明の代替的な実施形態を示した
図である。ここでの可変波長レーザ５０は、同期制御信
号を受信または供給するためのポート５３と、可変波長
レーザ信号ＳL という形の可変波長光信号を供給するた
めの出力ポート５１とを有している。周波数合成器５５
は、可変波長レーザ５０にて供給される同期制御信号に
応答する。開始パルスを受信すると、周波数合成器５５
は、可変波長レーザ信号ＳL を変調するために変調器５
７への周波数合成信号の供給を開始し、それによって、
可変波長レーザ信号ＳL の変動波長を示す周波数ランプ
という形の符号化された、または周波数変調されたレー
ザ信号ＳLMを生成する。このレーザ信号ＳLMは、その
後、６０ａ〜６０ｎの出力を有する１×Ｎ分離器６０に
供給される。図示されているように、出力６０ａは被試
験装置（ＤＵＴ）６２に供給され、その後、被試験装置
を通って伝搬した出力信号が解析される。信号は最初に
臨界波長情報または瞬間的波長符号を取り除いて復調さ
れ、復調された試験信号ＳLから意味のある試験情報が
検索される。あるいはまた、信号ＳLMをＤＵＴ６２に提
供する前に復調することができる。あるいはまた、好ま
しいこととして、復調を必要とせずに変調信号内の符号
化された波長情報を、たとえば、瞬間的な周波数を測定
する周波数カウンタなどの周波数分解検出器を使って検
出するようにしてもよい。あるいは、局部発振器とミク
サを使用して、被変調周波数を直流電圧に変換すること
ができる。
図である。ここでの可変波長レーザ５０は、同期制御信
号を受信または供給するためのポート５３と、可変波長
レーザ信号ＳL という形の可変波長光信号を供給するた
めの出力ポート５１とを有している。周波数合成器５５
は、可変波長レーザ５０にて供給される同期制御信号に
応答する。開始パルスを受信すると、周波数合成器５５
は、可変波長レーザ信号ＳL を変調するために変調器５
７への周波数合成信号の供給を開始し、それによって、
可変波長レーザ信号ＳL の変動波長を示す周波数ランプ
という形の符号化された、または周波数変調されたレー
ザ信号ＳLMを生成する。このレーザ信号ＳLMは、その
後、６０ａ〜６０ｎの出力を有する１×Ｎ分離器６０に
供給される。図示されているように、出力６０ａは被試
験装置（ＤＵＴ）６２に供給され、その後、被試験装置
を通って伝搬した出力信号が解析される。信号は最初に
臨界波長情報または瞬間的波長符号を取り除いて復調さ
れ、復調された試験信号ＳLから意味のある試験情報が
検索される。あるいはまた、信号ＳLMをＤＵＴ６２に提
供する前に復調することができる。あるいはまた、好ま
しいこととして、復調を必要とせずに変調信号内の符号
化された波長情報を、たとえば、瞬間的な周波数を測定
する周波数カウンタなどの周波数分解検出器を使って検
出するようにしてもよい。あるいは、局部発振器とミク
サを使用して、被変調周波数を直流電圧に変換すること
ができる。
【００３０】図６では、可変波長レーザ５０によって提
供される信号ＳL から、波長においてそれ（信号ＳL ）
に対応する周波数合成器５５への波長情報を引き出して
提供するための波長情報引出手段５６が、可変波長レー
ザ５０と周波数合成器５５との間に配置されている。
供される信号ＳL から、波長においてそれ（信号ＳL ）
に対応する周波数合成器５５への波長情報を引き出して
提供するための波長情報引出手段５６が、可変波長レー
ザ５０と周波数合成器５５との間に配置されている。
【００３１】図７は図６に示されたシステムの一部分を
示した図であり、図６に示された手段５６は以下のよう
な形態とされる。可変波長走査レーザ５０の出力におい
て、信号ＳL の小さな一部分がタップ結合器７０によっ
て引き出される。２つの整合フィルタ７２ａと７２ｂ
は、５０：５０分離器７１からの傍受信号ＳLTの同一部
分を受信するように配置される。また、２つの検出器７
４ａと７４ｂは、それぞれフィルタ７２ａと７２ｂから
の出力信号を受信するように配置される。（正および負
の）逆傾斜を有するフィルタの領域が使用される。差動
増幅器７６は検出器７４ａと７４ｂからの出力信号を受
信し、変調器５７に信号ＳL の瞬間的な波長に比例する
信号を提供するように電気的に接続される。必要なら
ば、線形化回路網７８を差動増幅器７６と変調器５７と
の間に配置するようにしてもよい。
示した図であり、図６に示された手段５６は以下のよう
な形態とされる。可変波長走査レーザ５０の出力におい
て、信号ＳL の小さな一部分がタップ結合器７０によっ
て引き出される。２つの整合フィルタ７２ａと７２ｂ
は、５０：５０分離器７１からの傍受信号ＳLTの同一部
分を受信するように配置される。また、２つの検出器７
４ａと７４ｂは、それぞれフィルタ７２ａと７２ｂから
の出力信号を受信するように配置される。（正および負
の）逆傾斜を有するフィルタの領域が使用される。差動
増幅器７６は検出器７４ａと７４ｂからの出力信号を受
信し、変調器５７に信号ＳL の瞬間的な波長に比例する
信号を提供するように電気的に接続される。必要なら
ば、線形化回路網７８を差動増幅器７６と変調器５７と
の間に配置するようにしてもよい。
【００３２】図８は２つの光学フィルタ７２ａと７２ｂ
の出力応答を示した図である。２つの垂直な点線の間の
フィルタ領域は本実施形態の利点を実現するために使用
される。
の出力応答を示した図である。２つの垂直な点線の間の
フィルタ領域は本実施形態の利点を実現するために使用
される。
【００３３】動作に関して、図７の回路は以下の仕方で
動作する。信号ＳLTは可変波長レーザ５０の出力信号Ｓ
L から傍受され、フィルタ７２ａと７２ｂに実質的に等
しく分離される。検出器７４ａと７４ｂによって検出さ
れたパワーは差動増幅器７６に提供され、差動増幅器７
６は信号ＳL の波長に実質的に比例する出力信号を提供
する。必要ならば、この出力信号を線形化して、その
後、信号ＳL によって波長に比例する信号を変調するた
めのシステムに提供するようにしてもよい。ほとんど瞬
間的な波長情報を含むこの変調された掃引レーザ信号Ｓ
LMは、その後、被試験装置に提供される。あるいはま
た、既に記述したように、デジタルまたはアナログ変調
技術のいずれかを使って、波長情報をもう一つ別の波長
にある他の光キャリアの上に多重化させることも可能で
ある。
動作する。信号ＳLTは可変波長レーザ５０の出力信号Ｓ
L から傍受され、フィルタ７２ａと７２ｂに実質的に等
しく分離される。検出器７４ａと７４ｂによって検出さ
れたパワーは差動増幅器７６に提供され、差動増幅器７
６は信号ＳL の波長に実質的に比例する出力信号を提供
する。必要ならば、この出力信号を線形化して、その
後、信号ＳL によって波長に比例する信号を変調するた
めのシステムに提供するようにしてもよい。ほとんど瞬
間的な波長情報を含むこの変調された掃引レーザ信号Ｓ
LMは、その後、被試験装置に提供される。あるいはま
た、既に記述したように、デジタルまたはアナログ変調
技術のいずれかを使って、波長情報をもう一つ別の波長
にある他の光キャリアの上に多重化させることも可能で
ある。
【００３４】図９には、波長情報を電子合成する回路
が、図示されていない光受信機に掃引または変動信号Ｓ
L のほとんど瞬間的な波長情報を通知するように提供さ
れている。この形態では、信号ＳL は傍受され、傍受信
号ＳLTは検出器８２への光パルスを生成するファブリ・
ペロ・エタロン（Fabry Perot etalon）に提供される。
エタロンの自由スペクトル域は、複数の関心のある可変
波長におけるピークを有するように選択されなければな
らない。電子カウンタ８６は知られている波長走査のス
タートからパルス数を計数する。カウンタ８６の計数値
に応答する周波数合成器８８はカウンタに記録されたパ
ルス数を、信号ＳL の周波数に対応するほとんど瞬間的
な周波数に変換する。既に説明したように、この信号を
変調として使用することができる。つまり、デジタルま
たはアナログ変調技術のいずれかを使って、波長情報を
もう一つ別の波長にある他の光キャリアの上に多重化さ
せることも可能である。
が、図示されていない光受信機に掃引または変動信号Ｓ
L のほとんど瞬間的な波長情報を通知するように提供さ
れている。この形態では、信号ＳL は傍受され、傍受信
号ＳLTは検出器８２への光パルスを生成するファブリ・
ペロ・エタロン（Fabry Perot etalon）に提供される。
エタロンの自由スペクトル域は、複数の関心のある可変
波長におけるピークを有するように選択されなければな
らない。電子カウンタ８６は知られている波長走査のス
タートからパルス数を計数する。カウンタ８６の計数値
に応答する周波数合成器８８はカウンタに記録されたパ
ルス数を、信号ＳL の周波数に対応するほとんど瞬間的
な周波数に変換する。既に説明したように、この信号を
変調として使用することができる。つまり、デジタルま
たはアナログ変調技術のいずれかを使って、波長情報を
もう一つ別の波長にある他の光キャリアの上に多重化さ
せることも可能である。
【００３５】もちろん、ここに説明することができなか
った他の多数の実施形態も、本発明の精神および範囲を
越えることなく実現することが可能である。
った他の多数の実施形態も、本発明の精神および範囲を
越えることなく実現することが可能である。
【００３６】
【発明の効果】異常の如く、本発明によれば、遠く離れ
た複数の試験局において光学装置を試験するための信号
を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験する
ことができるシステムを提供することができる。すなわ
ち、本発明の光信号生成装置によれば、一つの可変波長
レーザを使って複数の場所にある複数の光学装置を効率
的に試験することができる。
た複数の試験局において光学装置を試験するための信号
を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験する
ことができるシステムを提供することができる。すなわ
ち、本発明の光信号生成装置によれば、一つの可変波長
レーザを使って複数の場所にある複数の光学装置を効率
的に試験することができる。
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光信号生成装置
の略ブロック図であって、可変波長レーザ信号およびタ
イミング信号の生成器ブロックが光学装置を試験するた
めの信号を試験局に提供する構成を説明するためのブロ
ック図である。
の略ブロック図であって、可変波長レーザ信号およびタ
イミング信号の生成器ブロックが光学装置を試験するた
めの信号を試験局に提供する構成を説明するためのブロ
ック図である。
【図２】本発明の第２の実施形態に係る光信号生成装置
の略ブロック図であって、可変波長レーザ信号およびタ
イミング信号の生成器ブロックが信号を複数の試験局に
提供する構成を説明するためのブロック図である。
の略ブロック図であって、可変波長レーザ信号およびタ
イミング信号の生成器ブロックが信号を複数の試験局に
提供する構成を説明するためのブロック図である。
【図３】ファイバ・ブラッグ格子の出力特性のグラフを
示す図である。
示す図である。
【図４】本発明によるエタロンの出力特性のグラフを示
す図である。
す図である。
【図５】本発明の他の実施形態による、ＦＭ変調および
タイミング信号の変調のための回路を含むブロック回路
図である。
タイミング信号の変調のための回路を含むブロック回路
図である。
【図６】図５に示されたものと類似するブロック回路図
であって、走査レーザの出力信号波長に関する同期情報
を引き出すための手段が含まれているブロック回路図で
ある。
であって、走査レーザの出力信号波長に関する同期情報
を引き出すための手段が含まれているブロック回路図で
ある。
【図７】同期信号を引き出すための、そして波長情報を
使って走査レーザの出力信号を変調するための回路の詳
細ブロック回路図である。
使って走査レーザの出力信号を変調するための回路の詳
細ブロック回路図である。
【図８】２つのフィルタの出力応答における、波長に対
する振幅のグラフを示す図である。
する振幅のグラフを示す図である。
【図９】同期信号を引き出すための、そして波長情報を
使って走査レーザの出力信号を変調するための他の回路
の詳細ブロック回路図である。
使って走査レーザの出力信号を変調するための他の回路
の詳細ブロック回路図である。
８ システム １０、５０ 可変波長レーザ １２ ５％タップ １４ タイミング信号生成器 １６ 信号結合手段 １８ ＷＤＭフィルタ ２０ 波長情報決定手段 ２２、２４ 検出器 ２６ ＤＵＴ（被試験装置） ３０ 第１のブロック ４０ａ 第２のブロック ４０ｂ 試験局 ４３ 分離器 ５５ 周波数合成器 ５６ 波長情報引出手段 ５７ 変調器 ７２ａ、７２ｂ フィルタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 597175606 570 Ｗｅｓｔ Ｈｕｎｔ Ｃｌｕｂ Ｒ ｏａｄ，Ｎｅｐｅａｎ，Ｏｎｔａｒｉｏ, Ｃａｎａｄａ Ｋ２Ｇ５Ｗ８ (72)発明者 ゲイリー・エス・ダック カナダ国、ケイ２ジェイ ３ゼット７ オ ンタリオ、ネピアン、バーチャム・クレセ ント ６ (72)発明者 ヴァジール・プリューンズ カナダ国、ケイ１ワイ ４ピー８ オンタ リオ、オタワ、ボタニカ・プライフ 259、 アパートメント 50 (72)発明者 ケアリー・エム・ギャレット カナダ国、ケイ２エム ２エル８ オンタ リオ、カナータ、ファーンブルック・ドラ イヴ 54
Claims (32)
- 【請求項１】 光学的構成要素を試験するための装置で
あって、（ａ） 波長が変化する第１の光信号の一部分
に応答して、該第１の光信号が一つの所定の波長にある
ことに対応するタイミング信号を提供するための手段
と、（ｂ） 前記タイミング信号から、前記第１の光信
号またはそこから得られた信号に関する波長情報を引き
出すための手段と、試験情報を前記引き出された波長情
報と関連付けるための手段とを有する試験局と、をそれ
ぞれ備え、 前記第１の光信号の他の部分またはそこから得られた信
号は前記光学的構成要素に提供されるためのものである
ことを特徴とする光信号生成装置。 - 【請求項２】 前記タイミング信号から前記第１の光信
号に関する波長情報を引き出すための手段と、試験情報
を前記引き出された波長情報と関連付けるための手段と
を有する、少なくとももう一つ別の試験局を備えたこと
を特徴とする請求項１に記載の光信号生成装置。 - 【請求項３】 その各々が、前記タイミング信号から前
記第１の光信号に関する波長情報を引き出すための手段
と、試験情報を前記引き出された波長情報と関連付ける
ための手段とを有する、複数の試験局を備えたことを特
徴とする請求項１に記載の光信号生成装置。 - 【請求項４】 波長が変化する前記第１の光信号を提供
するための可変波長レーザを備えたことを特徴とする請
求項１に記載の光信号生成装置。 - 【請求項５】 前記光学的構成要素を通して送り出され
た光及び該光学的構成要素から反射された光のうちの少
なくとも何れか一つを検出するための検出手段をさらに
備えたことを特徴とする請求項２に記載の光信号生成装
置。 - 【請求項６】 前記タイミング信号に応答する計数手段
が、時間における複数の瞬間において前記第１の光信号
の波長を決定するための手段をさらに備えたことを特徴
とする請求項２に記載の光信号生成装置。 - 【請求項７】 前記第１の光信号および前記タイミング
信号を傍受するための複数のタップを有し、少なくとも
前記複数のタップのいくつかは、各々、前記第１の光信
号と前記タイミング信号を一つの試験局に提供するため
のものであることを特徴とする請求項２に記載の光信号
生成装置。 - 【請求項８】 光学的構成要素を試験するための装置で
あって、 波長が変化する第１の光信号の一部分に応答して、該第
１の光信号が一つの所定の波長にあることに対応するタ
イミング信号を提供するための手段と、 前記タイミング信号を前記第１の信号と組み合わせる手
段とを備え、 前記第１の光信号の他の部分またはそこから得られた信
号は試験される前記光学的構成要素に提供されるための
ものであることを特徴とする光信号生成装置。 - 【請求項９】 前記タイミング信号を提供するための手
段が、前記波長が変化する第１の光信号に応答して周期
的信号を提供するための干渉計的装置を備えたことを特
徴とする請求項８に記載の光信号生成装置。 - 【請求項１０】 前記波長が変化する第１の光信号の一
部分に応答して、該第１の光信号が一つの所定の波長に
あることに対応するタイミング信号を提供するための手
段が、前記第１の光信号が前記所定の波長にある時を知
らせるための手段を備えたことを特徴とする請求項９に
記載の光信号生成装置。 - 【請求項１１】 前記装置はさらに、前記タイミング信
号を変調するための手段を備えたことを特徴とする請求
項１０に記載の光信号生成装置。 - 【請求項１２】 前記波長が変化する第１の光信号の一
部分に応答して、該第１の光信号が一つの所定の波長に
あることに対応するタイミング信号を提供するための手
段が、波長が変化する入力信号に応答して周期的な出力
信号を提供するための干渉計的手段を備えたことを特徴
とする請求項１に記載の光信号生成装置。 - 【請求項１３】 光学装置を試験するために複数の場所
に向けて一斉送信するための試験信号を生成する方法で
あって、 第１のより低い波長からより高いそれより上の波長ま
で、それらの波長の間の複数の波長を掃引しながら、波
長が変化する第１のレーザ信号を生成するステップと、 前記第１のレーザ信号の一部分から、該第１のレーザ信
号が所定の波長にある時を決定するためにその中に符号
化された情報を有するタイミング信号を生成するステッ
プと、 前記第１のレーザ信号と前記タイミング信号とを一つの
試験局に提供するステップと、 前記タイミング信号から前記第１のレーザ信号に関する
波長情報を引き出すステップと、 前記光学装置を試験するために前記第１のレーザ信号の
一部分を該光学装置に提供するステップと、 試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けるステ
ップと、が含まれるように構成されたことを特徴とする
光信号生成方法。 - 【請求項１４】 光学的構成要素を試験するための装置
であって、（ａ） より高い波長からより低いまで、ま
たは、より低い波長からより高い波長まで、その波長が
時間的に変化する第１の光信号を、該第１の光信号が時
間におけるある特定の瞬間に一つの所定の波長にあるこ
とに対応するタイミング情報を使って符号化するための
手段と、（ｂ） 前記符号化された第１の光信号から、
時間におけるある特定の瞬間における前記第１の光信号
の波長に関する情報を引き出すための手段と、試験情報
を前記引き出された波長情報に関連付けて前記第１の光
信号に対する前記光学的構成要素の出力応答を決定する
とともに、該出力応答を生み出した前記第１の光信号の
波長を決定するための手段とを有する試験局と、をそれ
ぞれ備えたことを特徴とする光信号生成装置。 - 【請求項１５】 前記装置はさらに、前記光学的構成要
素の特性を試験するための手段を備えたことを特徴とす
る請求項１４に記載の光信号生成装置。 - 【請求項１６】 前記装置は、前記符号化された第１の
光信号から該第１の光信号に関する波長情報を引き出す
ための手段と、試験情報を前記引き出された波長情報と
関連付けて前記第１の光信号に対する前記光学的構成要
素の出力応答を決定するとともに、該出力応答を生み出
した前記第１の光信号の波長を決定するための手段を備
えた、少なくとももう一つ別の試験局を備えたことを特
徴とする請求項１４に記載の光信号生成装置。 - 【請求項１７】 前記装置はさらに複数の試験局を備
え、該複数の試験局は各々、前記符号化された第１の光
信号から該第１の光信号に関する波長情報を引き出すた
めの手段と、試験情報を前記引き出された波長情報と関
連付けるための手段とを備えたことを特徴とする請求項
１４に記載の光信号生成装置。 - 【請求項１８】 光学的構成要素を試験するための装置
であって、 波長が変化する第１の光信号を該波長に関する情報を使
って符号化するための符号化手段を備えたことを特徴と
する光信号生成装置。 - 【請求項１９】 前記符号化手段が、該符号化手段と可
変波長レーザとの間に提供される同期信号に依存してい
ることを特徴とする請求項１８に記載の光信号生成装
置。 - 【請求項２０】 前記符号化手段が、前記第１の光信号
を変調するための手段を備えたことを特徴とする請求項
１８に記載の光信号生成装置。 - 【請求項２１】 前記装置はさらに、前記被試験装置の
偏波依存損失を測定するための手段を備えたことを特徴
とする請求項４または１７に記載の光信号生成装置。 - 【請求項２２】 前記装置はさらに、前記第１の光信号
を濾光して前記レーザ波長を透過させ、該レーザ波長以
外の波長における光を減衰させるための手段を備えたこ
とを特徴とする請求項４または１７に記載の光信号生成
装置。 - 【請求項２３】 前記装置はさらに、前記第１の光信号
を増幅させるための手段を備えたことを特徴とする請求
項４または１７に記載の光信号生成装置。 - 【請求項２４】 前記装置はさらに、前記第１の光信号
を濾光して、所定の偏波性を有する光が前記被試験装置
を通過することができるようにするための手段を備えた
ことを特徴とする請求項４または１７に記載の光信号生
成装置。 - 【請求項２５】 前記装置はさらに、前記第１の光信号
の少なくとも一部分の増幅を測定するための手段を備え
たことを特徴とする請求項２３に記載の光信号生成装
置。 - 【請求項２６】 光学装置を試験するために複数の場所
に向けて一斉送信するための試験信号を生成する方法で
あって、 第１のより低い波長からより高いそれより上の波長ま
で、またはその逆方向に、それらの波長の間の複数の波
長を掃引しながら、波長が変化する第１のレーザ信号を
生成するステップと、 前記第１の光信号が所定の周波数にある時を示すための
同期信号を提供するステップと、 前記波長が変化する第１のレーザ信号を変調して、その
中に、時間における複数の瞬間における該第１のレーザ
信号の複数の波長に対応する情報を符号化するステップ
と、 前記変調された第１のレーザ信号を一つの試験局に提供
するステップと、 前記装置を試験するために、前記第１のレーザ信号を一
つの光学装置に提供するステップと、 前記変調された第１のレーザ信号から、該第１のレーザ
信号に関する波長情報を引き出すステップと、 試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けるステ
ップと、をそれぞれ有することを特徴とする光信号生成
方法。 - 【請求項２７】 光学システムにおいて使用され、所定
限度内で制御可能な状態で変化する波長を有する、可変
波長レーザの信号であって、 前記信号は、その波長が変化する際の時間における異っ
た瞬間における特定の波長に対応する、前記信号内で符
号化された復号化可能な符号を含むことを特徴とする可
変波長レーザ信号。 - 【請求項２８】 前記符号は前記可変波長レーザ信号の
変調によって符号化されたことを特徴とする請求項２７
に記載の可変波長レーザ信号。 - 【請求項２９】 前記出力信号の振幅は光の異った波長
に対して実質的に一定であることを特徴とする請求項２
８に記載の可変波長レーザ信号。 - 【請求項３０】 前記符号化手段は、前記第１の光信号
の瞬間的な波長を検出するための手段を有し、 前記検出するための手段は、少なくとも傾斜が正反対に
なった傾斜部分を有する出力応答を有する２つのフィル
タを備え、 前記傾斜部分は、前記第１の光信号に関する波長情報を
提供するための検出手段と結合していることを特徴とす
る請求項１８に記載の光信号生成装置。 - 【請求項３１】 前記装置はさらに、前記第１の光信号
の波長に比例する電気信号を提供するための、前記検出
手段からの信号を受信することができるように結合され
た、差動回路を備えたことを特徴とする請求項３０に記
載の光信号生成装置。 - 【請求項３２】 前記符号化手段は、前記第１の光信号
の瞬間的な波長を検出するための手段を備え、 前記第１の光信号の瞬間的な波長を検出するための手段
は、一つのエタロンと、該エタロンからの、前記第１の
光信号の瞬間的な波長に対応するパルス出力を計数する
ための手段とを備えたこを特徴とする請求項１８に記載
の光信号生成装置。
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