JPH098738A - 光中継器の動作余裕測定装置および動作余裕測定方法 - Google Patents
光中継器の動作余裕測定装置および動作余裕測定方法Info
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- JPH098738A JPH098738A JP7154905A JP15490595A JPH098738A JP H098738 A JPH098738 A JP H098738A JP 7154905 A JP7154905 A JP 7154905A JP 15490595 A JP15490595 A JP 15490595A JP H098738 A JPH098738 A JP H098738A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光増幅器と光フィルタを有する光中継器に対
して符号間干渉量を規定し、対応する動作余裕を測定す
ることができる光中継器の動作余裕測定装置を実現す
る。 【構成】 所定のビットレートで強度変調された主信号
光を入力し、主信号光とは非同期で異なるビットレート
で強度変調された符号間干渉雑音光を発生させ、主信号
光と符号間干渉雑音光とを所定の光強度比で重畳して光
中継器に送出し、光中継器の受信器から出力される受信
信号の誤り率を測定して符号間干渉量に対応する光中継
器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定装置に
おいて、主信号光の波長を測定し、主信号光の波長に基
づいて前記符号間干渉雑音光の波長を設定する波長制御
手段を備える。
して符号間干渉量を規定し、対応する動作余裕を測定す
ることができる光中継器の動作余裕測定装置を実現す
る。 【構成】 所定のビットレートで強度変調された主信号
光を入力し、主信号光とは非同期で異なるビットレート
で強度変調された符号間干渉雑音光を発生させ、主信号
光と符号間干渉雑音光とを所定の光強度比で重畳して光
中継器に送出し、光中継器の受信器から出力される受信
信号の誤り率を測定して符号間干渉量に対応する光中継
器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定装置に
おいて、主信号光の波長を測定し、主信号光の波長に基
づいて前記符号間干渉雑音光の波長を設定する波長制御
手段を備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光増幅器および光フィ
ルタを含む光中継器を用いた光通信システムにおいて、
光中継器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定
装置および動作余裕測定方法に関する。
ルタを含む光中継器を用いた光通信システムにおいて、
光中継器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定
装置および動作余裕測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光中継器の動作余裕とは、光中継器の受
信器が規定の誤り率以下で光信号を受信するために必要
な受信光強度（受信感度）と、光中継器の最小受信光強
度との差である。光中継器は、長期間使用するに従って
各種の部品が劣化したり調整がずれたりして符号間干渉
量が増大し受信感度が低下する。そのため、受信感度と
最小受信光強度には、動作余裕として所定の差が予め与
えられている。
信器が規定の誤り率以下で光信号を受信するために必要
な受信光強度（受信感度）と、光中継器の最小受信光強
度との差である。光中継器は、長期間使用するに従って
各種の部品が劣化したり調整がずれたりして符号間干渉
量が増大し受信感度が低下する。そのため、受信感度と
最小受信光強度には、動作余裕として所定の差が予め与
えられている。
【０００３】動作余裕測定装置では、受信器へ最小受信
光強度の光を入射した状態で、主信号光に符号間干渉を
人為的に与え、誤り率特性の劣化の程度と符号間干渉量
を測定することにより光中継器の動作余裕を評価する。
図７は、従来の光中継器の動作余裕測定装置の構成例を
示す。図において、動作余裕測定装置１０は、光中継器
１−１と光中継器１−２との間に挿入される。光中継器
１−１の送信器１１０は、動作余裕測定装置１０のパル
スパターン発生器１１から与えられる送信信号により強
度変調した主信号光を出力する。動作余裕測定装置１０
の符号間干渉雑音光発生回路１２は、主信号光とは非同
期で異なるビットレートで強度変調された符号間干渉雑
音光を発生する。主信号光と符号間干渉雑音光はそれぞ
れ可変減衰器１３，１４に入力され、それぞれ所定の光
強度に調整されて合分波器１５で合波される。合分波器
１５の出力光は、光強度検出器１６および光中継器１−
２の受信器１２０に入力される。制御回路１７は、光強
度検出器１６の検出結果に応じて可変減衰器１３，１４
の減衰量を制御する。受信器１２０から出力される受信
信号は、動作余裕測定装置１０の誤り率測定器１８に入
力される。ここで、制御回路１７により可変減衰器１
３，１４を調整し、主信号光と符号間干渉雑音光の平均
パワー比に対応する符号間干渉量を設定する。誤り率測
定器１８は、この符号間干渉量に応じた誤り率を測定し
て光中継器の動作余裕を判定する。
光強度の光を入射した状態で、主信号光に符号間干渉を
人為的に与え、誤り率特性の劣化の程度と符号間干渉量
を測定することにより光中継器の動作余裕を評価する。
図７は、従来の光中継器の動作余裕測定装置の構成例を
示す。図において、動作余裕測定装置１０は、光中継器
１−１と光中継器１−２との間に挿入される。光中継器
１−１の送信器１１０は、動作余裕測定装置１０のパル
スパターン発生器１１から与えられる送信信号により強
度変調した主信号光を出力する。動作余裕測定装置１０
の符号間干渉雑音光発生回路１２は、主信号光とは非同
期で異なるビットレートで強度変調された符号間干渉雑
音光を発生する。主信号光と符号間干渉雑音光はそれぞ
れ可変減衰器１３，１４に入力され、それぞれ所定の光
強度に調整されて合分波器１５で合波される。合分波器
１５の出力光は、光強度検出器１６および光中継器１−
２の受信器１２０に入力される。制御回路１７は、光強
度検出器１６の検出結果に応じて可変減衰器１３，１４
の減衰量を制御する。受信器１２０から出力される受信
信号は、動作余裕測定装置１０の誤り率測定器１８に入
力される。ここで、制御回路１７により可変減衰器１
３，１４を調整し、主信号光と符号間干渉雑音光の平均
パワー比に対応する符号間干渉量を設定する。誤り率測
定器１８は、この符号間干渉量に応じた誤り率を測定し
て光中継器の動作余裕を判定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図８は、受信器１２０
の構成例を示す。図８(a) に示す受信器は、受光素子１
２３、等化増幅回路１２４、識別回路１２５により構成
される。本受信器では、識別回路１２５の手前における
符号間干渉量は、受信器に入力される主信号光と符号間
干渉雑音光の平均パワー比で規定される。したがって、
動作余裕測定装置１０で設定した符号間干渉量に応じて
光中継器の動作余裕が測定できる。
の構成例を示す。図８(a) に示す受信器は、受光素子１
２３、等化増幅回路１２４、識別回路１２５により構成
される。本受信器では、識別回路１２５の手前における
符号間干渉量は、受信器に入力される主信号光と符号間
干渉雑音光の平均パワー比で規定される。したがって、
動作余裕測定装置１０で設定した符号間干渉量に応じて
光中継器の動作余裕が測定できる。
【０００５】図８(b) に示す受信器は、光増幅器１２
１、光フィルタ１２２、受光素子１２３、等化増幅回路
１２４、識別回路１２５により構成される。本受信器で
は、符号間干渉雑音光の波長が光フィルタ１２２の帯域
外にある場合、主信号光は光フィルタ１２２を通過する
が、符号間干渉雑音光は光フィルタ１２２で阻止され
る。例えば、符号間干渉雑音光発生回路１２として信号
帯域が 100ｎｍ程度のＬＥＤを用い、帯域幅〜１ｎｍの
光フィルタ１２２を用いると、符号間干渉雑音光が20dB
程度減衰してしまう。このため、主信号光と符号間干渉
雑音光の平均パワー比で規定される符号間干渉量は、受
信器の入力点に比べて光フィルタ１２２の出力点（識別
回路１２５の入力点）では小さくなる。すなわち、識別
回路１２５の入力点における符号間干渉量を動作余裕測
定装置１０で規定できなくなる。
１、光フィルタ１２２、受光素子１２３、等化増幅回路
１２４、識別回路１２５により構成される。本受信器で
は、符号間干渉雑音光の波長が光フィルタ１２２の帯域
外にある場合、主信号光は光フィルタ１２２を通過する
が、符号間干渉雑音光は光フィルタ１２２で阻止され
る。例えば、符号間干渉雑音光発生回路１２として信号
帯域が 100ｎｍ程度のＬＥＤを用い、帯域幅〜１ｎｍの
光フィルタ１２２を用いると、符号間干渉雑音光が20dB
程度減衰してしまう。このため、主信号光と符号間干渉
雑音光の平均パワー比で規定される符号間干渉量は、受
信器の入力点に比べて光フィルタ１２２の出力点（識別
回路１２５の入力点）では小さくなる。すなわち、識別
回路１２５の入力点における符号間干渉量を動作余裕測
定装置１０で規定できなくなる。
【０００６】また、光増幅器を有する光中継器に対して
は、光増幅器で発生する自然放出光雑音を含めた動作余
裕の測定が必要であるが、従来はそのような動作余裕測
定装置はなかった。本発明は、光増幅器と光フィルタを
有する光中継器に対して符号間干渉量を規定し、対応す
る動作余裕を測定することができる光中継器の動作余裕
測定装置および動作余裕測定方法を提供することを目的
とする。
は、光増幅器で発生する自然放出光雑音を含めた動作余
裕の測定が必要であるが、従来はそのような動作余裕測
定装置はなかった。本発明は、光増幅器と光フィルタを
有する光中継器に対して符号間干渉量を規定し、対応す
る動作余裕を測定することができる光中継器の動作余裕
測定装置および動作余裕測定方法を提供することを目的
とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光中継器の動作
余裕測定装置および動作余裕測定方法は、主信号光の波
長を測定し、主信号光の波長に基づいて符号間干渉雑音
光の波長を設定する。このとき、符号間干渉雑音光の波
長として、光中継器に含まれる光フィルタの通過帯域内
で、かつ主信号光との波長差が主信号光のビットレート
の６倍以上になるように設定する。
余裕測定装置および動作余裕測定方法は、主信号光の波
長を測定し、主信号光の波長に基づいて符号間干渉雑音
光の波長を設定する。このとき、符号間干渉雑音光の波
長として、光中継器に含まれる光フィルタの通過帯域内
で、かつ主信号光との波長差が主信号光のビットレート
の６倍以上になるように設定する。
【０００８】また、主信号光と符号間干渉雑音光を直交
する直線偏波に変換して偏波多重する。また、光中継器
の光増幅器で発生する自然放出光雑音を疑似する雑音光
を発生させ、主信号光および符号間干渉雑音光に重畳し
て送出する。
する直線偏波に変換して偏波多重する。また、光中継器
の光増幅器で発生する自然放出光雑音を疑似する雑音光
を発生させ、主信号光および符号間干渉雑音光に重畳し
て送出する。
【０００９】
【作用】本発明の光中継器の動作余裕測定装置および動
作余裕測定方法では、主信号光の波長に応じて符号間干
渉雑音光の波長が設定されるので、試験対象の光中継器
の受信器に内蔵される波長フィルタに阻害されずに光中
継器の動作余裕を測定することができる。
作余裕測定方法では、主信号光の波長に応じて符号間干
渉雑音光の波長が設定されるので、試験対象の光中継器
の受信器に内蔵される波長フィルタに阻害されずに光中
継器の動作余裕を測定することができる。
【００１０】また、主信号光と符号間干渉雑音光を偏波
多重することにより、主信号光と符号間干渉雑音光の波
長差に対する制限を緩和することができる。また、光中
継器の光増幅器で発生する自然放出光雑音を疑似するこ
とができるので、光増幅器を有する光中継器の動作余裕
を正確に測定することができる。
多重することにより、主信号光と符号間干渉雑音光の波
長差に対する制限を緩和することができる。また、光中
継器の光増幅器で発生する自然放出光雑音を疑似するこ
とができるので、光増幅器を有する光中継器の動作余裕
を正確に測定することができる。
【００１１】
（第１実施例）図１は、本発明の光中継器の動作余裕測
定装置の第１実施例の構成を示す。本実施例の構成は、
図７に示す従来構成に、主信号光の波長を弁別する波長
弁別回路２１と、主信号光の波長に応じて符号間干渉雑
音光の波長を制御する波長制御回路２２とを付加したも
のである。なお、主信号光は、可変減衰器１３と合分波
器１５との間に挿入される合分波器２０を介して波長弁
別回路２１に入力される。符号間干渉雑音光発生回路１
２は、波長制御回路２２により波長制御される。
定装置の第１実施例の構成を示す。本実施例の構成は、
図７に示す従来構成に、主信号光の波長を弁別する波長
弁別回路２１と、主信号光の波長に応じて符号間干渉雑
音光の波長を制御する波長制御回路２２とを付加したも
のである。なお、主信号光は、可変減衰器１３と合分波
器１５との間に挿入される合分波器２０を介して波長弁
別回路２１に入力される。符号間干渉雑音光発生回路１
２は、波長制御回路２２により波長制御される。
【００１２】図２は、波長弁別回路２１の構成例を示
す。図２(a) に示す波長弁別回路は、主信号光を２分岐
する分岐器３１、損失の波長依存性が既知の波長依存損
失素子３２、光強度検出器３４，３５により構成され
る。２分岐された一方の主信号光は波長依存損失素子３
２を介して光強度検出器３４に入力され、他方の主信号
光は光強度検出器３５に入力され、それぞれ光強度が測
定される。各光強度の差は波長依存損失素子３２におけ
る損失量に対応しており、主信号光の波長に対応したも
のとなる。
す。図２(a) に示す波長弁別回路は、主信号光を２分岐
する分岐器３１、損失の波長依存性が既知の波長依存損
失素子３２、光強度検出器３４，３５により構成され
る。２分岐された一方の主信号光は波長依存損失素子３
２を介して光強度検出器３４に入力され、他方の主信号
光は光強度検出器３５に入力され、それぞれ光強度が測
定される。各光強度の差は波長依存損失素子３２におけ
る損失量に対応しており、主信号光の波長に対応したも
のとなる。
【００１３】波長制御回路２２では、光強度検出器３
４，３５で検出された光強度を比較して波長依存損失素
子３２における損失量を求め、その損失量に対応する波
長をデータテーブルを参照して割り出し、主信号光の波
長を判定する。図２(b) に示す波長弁別回路は、分岐器
３１で２分岐された主信号光をそれぞれ波長依存損失素
子３２，３３を介して光強度検出器３４，３５に入力
し、光強度を測定する構成である。波長依存損失素子３
２，３３として通常の光バンドパスフィルタを用い、か
つ通過帯域の中心波長をずらした場合には、両中心波長
間で (a)の構成よりも損失の波長依存性が鋭敏になる利
点がある。これは、光バンドパスフィルタの損失の波長
依存性が、中心波長近傍および中心波長から10dB帯域幅
以上離れた波長に対して緩慢になるからである。
４，３５で検出された光強度を比較して波長依存損失素
子３２における損失量を求め、その損失量に対応する波
長をデータテーブルを参照して割り出し、主信号光の波
長を判定する。図２(b) に示す波長弁別回路は、分岐器
３１で２分岐された主信号光をそれぞれ波長依存損失素
子３２，３３を介して光強度検出器３４，３５に入力
し、光強度を測定する構成である。波長依存損失素子３
２，３３として通常の光バンドパスフィルタを用い、か
つ通過帯域の中心波長をずらした場合には、両中心波長
間で (a)の構成よりも損失の波長依存性が鋭敏になる利
点がある。これは、光バンドパスフィルタの損失の波長
依存性が、中心波長近傍および中心波長から10dB帯域幅
以上離れた波長に対して緩慢になるからである。
【００１４】図２(c) に示す波長弁別回路は、波長依存
性が既知のＷＤＭカプラ３６で主信号光を２分岐し、そ
れぞれ光強度検出器３４，３５に入力して光強度を測定
する構成である。各光強度の差はＷＤＭカプラ３６にお
ける分岐比に対応しており、主信号光の波長に対応した
ものとなる。以下、本実施例における測定手順について
説明する。
性が既知のＷＤＭカプラ３６で主信号光を２分岐し、そ
れぞれ光強度検出器３４，３５に入力して光強度を測定
する構成である。各光強度の差はＷＤＭカプラ３６にお
ける分岐比に対応しており、主信号光の波長に対応した
ものとなる。以下、本実施例における測定手順について
説明する。
【００１５】(1) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 波長弁別回路２１および波長制御回路２２で主信号
光の波長を測定する。 (3) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された主信
号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減衰量を校正す
る。
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 波長弁別回路２１および波長制御回路２２で主信号
光の波長を測定する。 (3) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された主信
号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減衰量を校正す
る。
【００１６】(4) 可変減衰器１３に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、主信号光が合分波器１５に入力さ
れないようにする。 (5) 波長制御回路２２が主信号光の波長に基づいて符号
間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干渉雑音光の波
長は、主信号光との離調量が主信号光のビットレートの
６倍以上で、かつ受信器１２０に内蔵された光フィルタ
の帯域内とする。すなわち、符号間干渉雑音光は、主信
号光と非同期で、受信器１２０の低域遮断周波数以上で
変調された強度変調光を用いる。なお、主信号光のビッ
トレートの６倍以上とする理由は、離調差に対応した光
領域での干渉による過剰なビート雑音を防ぐためであ
る。
きくし（60dB以上）、主信号光が合分波器１５に入力さ
れないようにする。 (5) 波長制御回路２２が主信号光の波長に基づいて符号
間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干渉雑音光の波
長は、主信号光との離調量が主信号光のビットレートの
６倍以上で、かつ受信器１２０に内蔵された光フィルタ
の帯域内とする。すなわち、符号間干渉雑音光は、主信
号光と非同期で、受信器１２０の低域遮断周波数以上で
変調された強度変調光を用いる。なお、主信号光のビッ
トレートの６倍以上とする理由は、離調差に対応した光
領域での干渉による過剰なビート雑音を防ぐためであ
る。
【００１７】(6) 制御回路１７が光強度検出器１６で検
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰
器１４の減衰量を校正する。 (7) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５に入力されな
いようにする。 (8) 可変減衰器１３を制御して主信号光の光強度を設定
する。
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰
器１４の減衰量を校正する。 (7) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５に入力されな
いようにする。 (8) 可変減衰器１３を制御して主信号光の光強度を設定
する。
【００１８】(9) 主信号光の光強度を基準に、可変減衰
器１４を制御して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設
定し、符号間干渉雑音光を出力する。 (10)誤り率測定器１８は、受信器１２０から出力される
受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動作余裕を測定
する。 （第２実施例）図３は、本発明の光中継器の動作余裕測
定装置の第２実施例の構成を示す。
器１４を制御して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設
定し、符号間干渉雑音光を出力する。 (10)誤り率測定器１８は、受信器１２０から出力される
受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動作余裕を測定
する。 （第２実施例）図３は、本発明の光中継器の動作余裕測
定装置の第２実施例の構成を示す。
【００１９】本実施例は、第１実施例の構成に加えて、
光増幅器を含む光中継器で発生する自然放出光に対応す
る雑音光を発生する雑音光発生回路２３と、その雑音光
の光強度を調整する可変減衰器２４とを備え、合分波器
２０を介して雑音光を主信号光に重畳する構成である。
図４は、雑音光発生回路２３の構成例を示す。
光増幅器を含む光中継器で発生する自然放出光に対応す
る雑音光を発生する雑音光発生回路２３と、その雑音光
の光強度を調整する可変減衰器２４とを備え、合分波器
２０を介して雑音光を主信号光に重畳する構成である。
図４は、雑音光発生回路２３の構成例を示す。
【００２０】図４(a) に示す雑音光発生回路は、エルビ
ウムドープファイバ４３に入力する励起光を発生するレ
ーザ４１、アイソレータ４２、エルビウムドープファイ
バ４３、アイソレータ４４、光中継器で発生する自然放
出光の帯域幅に応じて雑音光の帯域制限を行う光フィル
タ４５により構成される。励起光により励起されたエル
ビウムドープファイバ４３で発生した自然放出光は、光
フィルタ４５で帯域制限されて出力され、可変減衰器２
４で所定の光強度に設定される。これにより、光中継器
で発生する自然放出光に対応する雑音光を主信号光に重
畳することができる。
ウムドープファイバ４３に入力する励起光を発生するレ
ーザ４１、アイソレータ４２、エルビウムドープファイ
バ４３、アイソレータ４４、光中継器で発生する自然放
出光の帯域幅に応じて雑音光の帯域制限を行う光フィル
タ４５により構成される。励起光により励起されたエル
ビウムドープファイバ４３で発生した自然放出光は、光
フィルタ４５で帯域制限されて出力され、可変減衰器２
４で所定の光強度に設定される。これにより、光中継器
で発生する自然放出光に対応する雑音光を主信号光に重
畳することができる。
【００２１】図４(b) に示す雑音光発生回路は、(a) の
構成において、レーザ４１から出力される励起光をＷＤ
Ｍカプラ４７を介してエルビウムドープファイバ４３に
入力する。また、エルビウムドープファイバ４３からの
戻り光をＷＤＭカプラ４７を介して無反射終端４６で終
端する。これにより、入力側のアイソレータ４２が不要
となる。ＷＤＭカプラ４７に代えて光サーキュレータを
用いても同様である。
構成において、レーザ４１から出力される励起光をＷＤ
Ｍカプラ４７を介してエルビウムドープファイバ４３に
入力する。また、エルビウムドープファイバ４３からの
戻り光をＷＤＭカプラ４７を介して無反射終端４６で終
端する。これにより、入力側のアイソレータ４２が不要
となる。ＷＤＭカプラ４７に代えて光サーキュレータを
用いても同様である。
【００２２】図４(c) に示す雑音光発生回路は、(b) の
構成において、レーザ４１から出力される励起光をエル
ビウムドープファイバ４３の出力側から入力する。これ
により、励起光が出力されることを阻止できる。図４
(d) に示す雑音光発生回路は、(a)〜(c)の構成におい
て、励起光を発生するレーザ４１とエルビウムドープフ
ァイバ４３に代えて半導体光増幅器４８を用いる。半導
体光増幅器４８は安定化電源４９により駆動され、発生
した光はレンズ５０で集光され、アイソレータ４４，光
フィルタ４５を介して出力される。
構成において、レーザ４１から出力される励起光をエル
ビウムドープファイバ４３の出力側から入力する。これ
により、励起光が出力されることを阻止できる。図４
(d) に示す雑音光発生回路は、(a)〜(c)の構成におい
て、励起光を発生するレーザ４１とエルビウムドープフ
ァイバ４３に代えて半導体光増幅器４８を用いる。半導
体光増幅器４８は安定化電源４９により駆動され、発生
した光はレンズ５０で集光され、アイソレータ４４，光
フィルタ４５を介して出力される。
【００２３】図４(e) に示す雑音光発生回路は、(d) の
構成において、半導体光増幅器４８に代えてＳＬＤ（ス
ーパールミネッセントダイオード）５１またはＬＥＤを
用いる。この場合にはアイソレータ４４は不要である。
また、半導体光増幅器４８またはＳＬＤ５１を用いるこ
とにより装置の小型化が可能である。以下、本実施例に
おける測定手順について説明する。
構成において、半導体光増幅器４８に代えてＳＬＤ（ス
ーパールミネッセントダイオード）５１またはＬＥＤを
用いる。この場合にはアイソレータ４４は不要である。
また、半導体光増幅器４８またはＳＬＤ５１を用いるこ
とにより装置の小型化が可能である。以下、本実施例に
おける測定手順について説明する。
【００２４】(1) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 可変減衰器２４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、雑音光が合分波器２０に入力されないようにす
る。 (3) 波長弁別回路２１および波長制御回路２２で主信号
光の波長を測定する。
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 可変減衰器２４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、雑音光が合分波器２０に入力されないようにす
る。 (3) 波長弁別回路２１および波長制御回路２２で主信号
光の波長を測定する。
【００２５】(4) 制御回路１７が光強度検出器１６で検
出される主信号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減
衰量を校正する。 (5) 可変減衰器１３に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、主信号光が合分波器１５に入力されないように
する。 (6) 波長制御回路２２が主信号光の波長に基づいて符号
間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干渉雑音光の波
長は、主信号光との離調量が主信号光のビットレートの
６倍以上で、かつ受信器１２０に内蔵された光フィルタ
の帯域内とする。すなわち、符号間干渉雑音光は、主信
号光と非同期で、受信器１２０の低域遮断周波数以上で
変調された強度変調光を用いる。
出される主信号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減
衰量を校正する。 (5) 可変減衰器１３に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、主信号光が合分波器１５に入力されないように
する。 (6) 波長制御回路２２が主信号光の波長に基づいて符号
間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干渉雑音光の波
長は、主信号光との離調量が主信号光のビットレートの
６倍以上で、かつ受信器１２０に内蔵された光フィルタ
の帯域内とする。すなわち、符号間干渉雑音光は、主信
号光と非同期で、受信器１２０の低域遮断周波数以上で
変調された強度変調光を用いる。
【００２６】(7) 制御回路１７が光強度検出器１６で検
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰
器１４の減衰量を校正する。 (8) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５に入力されな
いようにする。 (9) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された雑音
光の光強度に応じて、可変減衰器２４の減衰量を校正す
る。
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰
器１４の減衰量を校正する。 (8) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５に入力されな
いようにする。 (9) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された雑音
光の光強度に応じて、可変減衰器２４の減衰量を校正す
る。
【００２７】(10)可変減衰器２４に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、雑音光が合分波器２０に入力され
ないようにする。 (11)可変減衰器１３を制御して主信号光の光強度を設定
する。 (12)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器１４を制御
して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設定し、符号間
干渉雑音光を出力する。
きくし（60dB以上）、雑音光が合分波器２０に入力され
ないようにする。 (11)可変減衰器１３を制御して主信号光の光強度を設定
する。 (12)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器１４を制御
して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設定し、符号間
干渉雑音光を出力する。
【００２８】(13)主信号光の光強度を基準に、可変減衰
器２４を制御して雑音光強度密度を規定値に設定し、雑
音光を出力する。なお、雑音光スペクトルの帯域幅は、
光増幅器および光フィルタを有する光中継器で発生する
雑音光スペクトルの帯域幅に等しく設定する。 (14)誤り率測定器１８は、受信器１２０から出力される
受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動作余裕を測定
する。
器２４を制御して雑音光強度密度を規定値に設定し、雑
音光を出力する。なお、雑音光スペクトルの帯域幅は、
光増幅器および光フィルタを有する光中継器で発生する
雑音光スペクトルの帯域幅に等しく設定する。 (14)誤り率測定器１８は、受信器１２０から出力される
受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動作余裕を測定
する。
【００２９】（第３実施例）図５は、本発明の光中継器
の動作余裕測定装置の第３実施例の構成を示す。本実施
例は、第１実施例において合分波器１５で主信号光に符
号間干渉雑音光を重畳させていた構成に代えて、主信号
光および符号間干渉雑音光を任意の偏波状態から直線偏
波状態に設定する偏波制御器２６，２７を備え、偏波合
成器２８を用いて主信号光と符号間干渉雑音光を偏波多
重する構成である。なお、偏波制御器２６，２７と偏波
合成器２８との間は、偏波保持光ファイバ２９または空
間系で結合される。
の動作余裕測定装置の第３実施例の構成を示す。本実施
例は、第１実施例において合分波器１５で主信号光に符
号間干渉雑音光を重畳させていた構成に代えて、主信号
光および符号間干渉雑音光を任意の偏波状態から直線偏
波状態に設定する偏波制御器２６，２７を備え、偏波合
成器２８を用いて主信号光と符号間干渉雑音光を偏波多
重する構成である。なお、偏波制御器２６，２７と偏波
合成器２８との間は、偏波保持光ファイバ２９または空
間系で結合される。
【００３０】このような構成では、主信号光と符号間干
渉雑音光の離調をビットレートの６倍以内に設定して
も、光が互いに直交した偏波として受信器に入力される
ので光の干渉が生じず、過剰なビート雑音を抑えて符号
間干渉雑音光を重畳することができる。以下、本実施例
における測定手順について説明する。
渉雑音光の離調をビットレートの６倍以内に設定して
も、光が互いに直交した偏波として受信器に入力される
ので光の干渉が生じず、過剰なビート雑音を抑えて符号
間干渉雑音光を重畳することができる。以下、本実施例
における測定手順について説明する。
【００３１】(1) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 波長弁別回路２１で主信号光の波長を測定する。 (3) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された主信
号光の光強度に応じて偏波制御器２６を制御し、主信号
光の偏波状態を直線偏波とする。
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 波長弁別回路２１で主信号光の波長を測定する。 (3) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された主信
号光の光強度に応じて偏波制御器２６を制御し、主信号
光の偏波状態を直線偏波とする。
【００３２】(4) 制御回路１７が光強度検出器１６で検
出された主信号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減
衰量を校正する。 (5) 可変減衰器１３に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、主信号光が合分波器１５に入力されないように
する。 (6) 波長制御回路２２が主信号光の波長に基づいて符号
間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干渉雑音光の波
長は、主信号光に対する離調量の制限が緩和され、受信
器１２０に内蔵された光フィルタの帯域内とする。すな
わち、符号間干渉雑音光は、主信号光と非同期で、受信
器１２０の低域遮断周波数以上で変調された強度変調光
を用いる。
出された主信号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減
衰量を校正する。 (5) 可変減衰器１３に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、主信号光が合分波器１５に入力されないように
する。 (6) 波長制御回路２２が主信号光の波長に基づいて符号
間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干渉雑音光の波
長は、主信号光に対する離調量の制限が緩和され、受信
器１２０に内蔵された光フィルタの帯域内とする。すな
わち、符号間干渉雑音光は、主信号光と非同期で、受信
器１２０の低域遮断周波数以上で変調された強度変調光
を用いる。
【００３３】(7) 制御回路１７が光強度検出器１６で検
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて偏波制御器
２７を制御し、符号間干渉雑音光の偏波状態を直線偏波
とし、かつ符号間干渉雑音光の偏波面と主信号光の偏波
面が直交して偏波合成されるように調整する。 (8) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された符号
間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰器１４の減衰
量を校正する。
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて偏波制御器
２７を制御し、符号間干渉雑音光の偏波状態を直線偏波
とし、かつ符号間干渉雑音光の偏波面と主信号光の偏波
面が直交して偏波合成されるように調整する。 (8) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された符号
間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰器１４の減衰
量を校正する。
【００３４】(9) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (10)可変減衰器１３を制御して主信号光の光強度を設定
する。 (11)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器１４を制御
して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設定し、符号間
干渉雑音光を出力する。
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (10)可変減衰器１３を制御して主信号光の光強度を設定
する。 (11)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器１４を制御
して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設定し、符号間
干渉雑音光を出力する。
【００３５】(12)誤り率測定器１８は、受信器１２０か
ら出力される受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動
作余裕を測定する。 （第４実施例）図６は、本発明の光中継器の動作余裕測
定装置の第４実施例の構成を示す。本実施例は、第２実
施例において合分波器１５で主信号光に符号間干渉雑音
光を重畳させていた構成に代えて、主信号光および符号
間干渉雑音光を任意の偏波状態から直線偏波状態に設定
する偏波制御器２６，２７を備え、偏波合成器２８を用
いて主信号光と符号間干渉雑音光を偏波多重する構成で
ある。なお、偏波制御器２６，２７と偏波合成器２８と
の間は、偏波保持光ファイバ２９または空間系で結合さ
れる。また、主信号光に雑音光を重畳させる位置を合分
波器２０から合分波器１５に変更する。
ら出力される受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動
作余裕を測定する。 （第４実施例）図６は、本発明の光中継器の動作余裕測
定装置の第４実施例の構成を示す。本実施例は、第２実
施例において合分波器１５で主信号光に符号間干渉雑音
光を重畳させていた構成に代えて、主信号光および符号
間干渉雑音光を任意の偏波状態から直線偏波状態に設定
する偏波制御器２６，２７を備え、偏波合成器２８を用
いて主信号光と符号間干渉雑音光を偏波多重する構成で
ある。なお、偏波制御器２６，２７と偏波合成器２８と
の間は、偏波保持光ファイバ２９または空間系で結合さ
れる。また、主信号光に雑音光を重畳させる位置を合分
波器２０から合分波器１５に変更する。
【００３６】このような構成では、主信号光と符号間干
渉雑音光の離調をビットレートの６倍以内に設定して
も、光が互いに直交した偏波として受信器に入力される
ので光の干渉が生じず、過剰なビート雑音を抑えて符号
間干渉雑音光を重畳することができる。以下、本実施例
における測定手順について説明する。
渉雑音光の離調をビットレートの６倍以内に設定して
も、光が互いに直交した偏波として受信器に入力される
ので光の干渉が生じず、過剰なビート雑音を抑えて符号
間干渉雑音光を重畳することができる。以下、本実施例
における測定手順について説明する。
【００３７】(1) 可変減衰器１４に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 可変減衰器２４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、雑音光が合分波器２０に入力されないようにす
る。 (3) 波長弁別回路２１で主信号光の波長を測定する。
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (2) 可変減衰器２４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、雑音光が合分波器２０に入力されないようにす
る。 (3) 波長弁別回路２１で主信号光の波長を測定する。
【００３８】(4) 制御回路１７が光強度検出器１６で検
出された主信号光の光強度に応じて偏波制御器２６を制
御し、主信号光の偏波状態を直線偏波とする。 (5) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出される主信
号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減衰量を校正す
る。 (6) 可変減衰器１３に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、主信号光が合分波器１５に入力されないように
する。
出された主信号光の光強度に応じて偏波制御器２６を制
御し、主信号光の偏波状態を直線偏波とする。 (5) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出される主信
号光の光強度に応じて可変減衰器１３の減衰量を校正す
る。 (6) 可変減衰器１３に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、主信号光が合分波器１５に入力されないように
する。
【００３９】(7) 波長制御回路２２が主信号光の波長に
基づいて符号間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干
渉雑音光の波長は、主信号光に対する離調量の制限が緩
和され、受信器１２０に内蔵された光フィルタの帯域内
とする。すなわち、符号間干渉雑音光は、主信号光と非
同期で、受信器１２０の低域遮断周波数以上で変調され
た強度変調光を用いる。
基づいて符号間干渉雑音光の波長を設定する。符号間干
渉雑音光の波長は、主信号光に対する離調量の制限が緩
和され、受信器１２０に内蔵された光フィルタの帯域内
とする。すなわち、符号間干渉雑音光は、主信号光と非
同期で、受信器１２０の低域遮断周波数以上で変調され
た強度変調光を用いる。
【００４０】(8) 制御回路１７が光強度検出器１６で検
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて偏波制御器
２７を制御し、符号間干渉雑音光の偏波状態を直線偏波
とし、かつ符号間干渉雑音光の偏波面と主信号光の偏波
面が直交して偏波合成されるように調整する。 (9) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された符号
間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰器１４の減衰
量を校正する。
出された符号間干渉雑音光の光強度に応じて偏波制御器
２７を制御し、符号間干渉雑音光の偏波状態を直線偏波
とし、かつ符号間干渉雑音光の偏波面と主信号光の偏波
面が直交して偏波合成されるように調整する。 (9) 制御回路１７が光強度検出器１６で検出された符号
間干渉雑音光の光強度に応じて、可変減衰器１４の減衰
量を校正する。
【００４１】(10)可変減衰器１４に設定する減衰量を大
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (11)制御回路１７が光強度検出器１６で検出された雑音
光の光強度に応じて、可変減衰器２４の減衰量を校正す
る。 (12)可変減衰器２４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、雑音光が合分波器２０に入力されないようにす
る。
きくし（60dB以上）、符号間干渉雑音光が合分波器１５
に入力されないようにする。 (11)制御回路１７が光強度検出器１６で検出された雑音
光の光強度に応じて、可変減衰器２４の減衰量を校正す
る。 (12)可変減衰器２４に設定する減衰量を大きくし（60dB
以上）、雑音光が合分波器２０に入力されないようにす
る。
【００４２】(13)可変減衰器１３を制御して主信号光の
光強度を設定する。 (14)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器１４を制御
して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設定し、符号間
干渉雑音光を出力する。 (15)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器２４を制御
して雑音光強度密度を規定値に設定し、雑音光を出力す
る。なお、雑音光スペクトルの帯域幅は、光増幅器およ
び光フィルタを有する光中継器で発生する雑音光スペク
トルの帯域幅に等しく設定する。
光強度を設定する。 (14)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器１４を制御
して符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を規定値に設定し、符号間
干渉雑音光を出力する。 (15)主信号光の光強度を基準に、可変減衰器２４を制御
して雑音光強度密度を規定値に設定し、雑音光を出力す
る。なお、雑音光スペクトルの帯域幅は、光増幅器およ
び光フィルタを有する光中継器で発生する雑音光スペク
トルの帯域幅に等しく設定する。
【００４３】(16)誤り率測定器１８は、受信器１２０か
ら出力される受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動
作余裕を測定する。
ら出力される受信信号の誤り率を測定し、光中継器の動
作余裕を測定する。
【００４４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光中継器
の動作余裕測定装置および動作余裕測定方法では、光増
幅器および光フィルタを有する光中継器に対する試験信
号光に与える符号間干渉量を正確に規定することができ
る。したがって、その符号間干渉量に対する光中継器の
動作余裕を精度よく測定することができる。
の動作余裕測定装置および動作余裕測定方法では、光増
幅器および光フィルタを有する光中継器に対する試験信
号光に与える符号間干渉量を正確に規定することができ
る。したがって、その符号間干渉量に対する光中継器の
動作余裕を精度よく測定することができる。
【００４５】また、主信号光と符号間干渉雑音光を偏波
多重することにより、主信号光と符号間干渉雑音光の波
長差を小さくできるので、試験信号光に与える符号間干
渉量をさらに正確に規定することができる。また、光中
継器の光増幅器で発生する自然放出光雑音を疑似した雑
音光を含む試験信号光を用いることにより、光増幅器を
有する光中継器の動作余裕を精度よく測定することがで
きる。
多重することにより、主信号光と符号間干渉雑音光の波
長差を小さくできるので、試験信号光に与える符号間干
渉量をさらに正確に規定することができる。また、光中
継器の光増幅器で発生する自然放出光雑音を疑似した雑
音光を含む試験信号光を用いることにより、光増幅器を
有する光中継器の動作余裕を精度よく測定することがで
きる。
【図１】本発明の光中継器の動作余裕測定装置の第１実
施例の構成を示すブロック図。
施例の構成を示すブロック図。
【図２】波長弁別回路２１の構成例を示すブロック図。
【図３】本発明の光中継器の動作余裕測定装置の第２実
施例の構成を示すブロック図。
施例の構成を示すブロック図。
【図４】雑音光発生回路２３の構成例を示すブロック
図。
図。
【図５】本発明の光中継器の動作余裕測定装置の第３実
施例の構成を示すブロック図。
施例の構成を示すブロック図。
【図６】本発明の光中継器の動作余裕測定装置の第４実
施例の構成を示すブロック図。
施例の構成を示すブロック図。
【図７】従来の光中継器の動作余裕測定装置の構成例を
示すブロック図。
示すブロック図。
【図８】受信器１２０の構成例を示すブロック図。
１０ 動作余裕測定装置 １１ パルスパターン発生器 １２ 符号間干渉雑音光発生回路 １３，１４，２４ 可変減衰器 １５，２０ 合分波器 １６，３４，３５ 光強度検出器 １７ 制御回路 １８ 誤り率測定器 ２１ 波長弁別回路 ２２ 波長制御回路 ２３ 雑音光発生回路 ２６，２７ 偏波制御器 ２８ 偏波合成器 ２９ 偏波保持光ファイバ ３１ 分岐器 ３２，３３ 波長依存損失素子 ３６，４７ ＷＤＭカプラ ４１ レーザ ４２，４４ アイソレータ ４３ エルビウムドープファイバ ４５ 光フィルタ ４６ 無反射終端 ４８ 半導体光増幅器 ４９ 安定化電源 ５０ レンズ ５１ ＳＬＤ
Claims (8)
- 【請求項１】 所定のビットレートで強度変調された主
信号光を入力し、主信号光とは非同期で異なるビットレ
ートで強度変調された符号間干渉雑音光を発生させ、主
信号光と符号間干渉雑音光とを所定の光強度比で重畳し
て光中継器に送出し、光中継器の受信器から出力される
受信信号の誤り率を測定して符号間干渉量に対応する光
中継器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定装
置において、 前記主信号光の波長を測定し、主信号光の波長に基づい
て前記符号間干渉雑音光の波長を設定する波長制御手段
を備えたことを特徴とする光中継器の動作余裕測定装
置。 - 【請求項２】 波長制御手段は、符号間干渉雑音光の波
長として、主信号光との波長差を主信号光のビットレー
トの６倍以上に設定する構成であることを特徴とする請
求項１に記載の光中継器の動作余裕測定装置。 - 【請求項３】 所定のビットレートで強度変調された主
信号光を入力し、主信号光とは非同期で異なるビットレ
ートで強度変調された符号間干渉雑音光を発生させ、主
信号光と符号間干渉雑音光とを所定の光強度比で重畳し
て光中継器に送出し、光中継器の受信器から出力される
受信信号の誤り率を測定して符号間干渉量に対応する光
中継器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定装
置において、 前記主信号光の波長を測定し、主信号光の波長に基づい
て前記符号間干渉雑音光の波長を設定する波長制御手段
と、 所定の光強度比に設定された主信号光および符号間干渉
雑音光をそれぞれ互いに直交する直線偏波に変換し、偏
波多重して出力する偏波多重手段とを備えたことを特徴
とする光中継器の動作余裕測定装置。 - 【請求項４】 光増幅器を含む光中継器内で発生する自
然放出光を疑似する雑音光を発生させ、この雑音光を主
信号光および符号間干渉雑音光に重畳して出力する手段
を備えたことを特徴とする請求項１ないし請求項３のい
ずれかに記載の光中継器の動作余裕測定装置。 - 【請求項５】 波長制御手段は、損失が波長に依存して
変化する波長依存損失素子を有し、主信号光を２分岐し
て少なくともその一方を波長依存損失素子を通過させ、
各分岐経路の光強度を検出してその光強度差から主信号
光の波長を弁別する構成であることを特徴とする請求項
１または請求項３に記載の光中継器の動作余裕測定装
置。 - 【請求項６】 波長制御手段は、分岐比が波長に依存し
て変化する光分岐素子を有し、この光分岐素子を用いて
主信号光を分岐させ、各分岐経路の光強度を検出してそ
の分岐比から主信号光の波長を弁別する構成であること
を特徴とする請求項１または請求項３に記載の光中継器
の動作余裕測定装置。 - 【請求項７】 所定のビットレートで強度変調された主
信号光を入力し、主信号光とは非同期で異なるビットレ
ートで強度変調された符号間干渉雑音光を発生させ、主
信号光と符号間干渉雑音光とを所定の光強度比で重畳し
て光中継器に送出し、光中継器の受信器から出力される
受信信号の誤り率を測定して符号間干渉量に対応する光
中継器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定方
法において、 前記主信号光の波長を測定する手順と、 前記符号間干渉雑音光の波長として、前記主信号光との
波長差を前記主信号光のビットレートの６倍以上に設定
する手順とを含むことを特徴とする光中継器の動作余裕
測定方法。 - 【請求項８】 所定のビットレートで強度変調された主
信号光を入力し、主信号光とは非同期で異なるビットレ
ートで強度変調された符号間干渉雑音光を発生させ、主
信号光と符号間干渉雑音光とを所定の光強度比で重畳し
て光中継器に送出し、光中継器の受信器から出力される
受信信号の誤り率を測定して符号間干渉量に対応する光
中継器の動作余裕を測定する光中継器の動作余裕測定方
法において、 前記主信号光の波長を測定する手順と、 前記符号間干渉雑音光の波長として、前記主信号光との
波長差を前記主信号光のビットレートの６倍以上に設定
する手順と、 所定の光強度比に設定された主信号光および符号間干渉
雑音光をそれぞれ互いに直交する直線偏波に変換し、偏
波多重して出力する手段とを含むことを特徴とする光中
継器の動作余裕測定方法。
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Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004074805A1 (ja) * | 2003-02-18 | 2004-09-02 | Fujitsu Limited | 光源装置 |
| KR100621219B1 (ko) * | 2004-12-16 | 2006-09-07 | 한국전자통신연구원 | 부반송파 다중 접속 방식 광가입자 망에서의 광간섭 발생광원 검출 장치 및 방법 |
| JP2009528791A (ja) * | 2006-03-24 | 2009-08-06 | ジェネラル・インスツルメント・コーポレーション | ハイブリッド光ファイバ同軸ケーブルネットワークに利用可能な合成パワー余裕度を判定する装置、方法、およびコンピュータ読取可能な記録媒体 |
| US8837302B2 (en) | 2012-04-27 | 2014-09-16 | Motorola Mobility Llc | Mapping a network fault |
| US8867371B2 (en) | 2012-04-27 | 2014-10-21 | Motorola Mobility Llc | Estimating physical locations of network faults |
| US8868736B2 (en) | 2012-04-27 | 2014-10-21 | Motorola Mobility Llc | Estimating a severity level of a network fault |
| US8937992B2 (en) | 2011-08-30 | 2015-01-20 | General Instrument Corporation | Method and apparatus for updating equalization coefficients of adaptive pre-equalizers |
| US9003460B2 (en) | 2012-04-27 | 2015-04-07 | Google Technology Holdings LLC | Network monitoring with estimation of network path to network element location |
| US9025469B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-05 | Arris Technology, Inc. | Method for estimating cable plant topology |
| US9042236B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Arris Technology, Inc. | Method using equalization data to determine defects in a cable plant |
| US9065731B2 (en) | 2012-05-01 | 2015-06-23 | Arris Technology, Inc. | Ensure upstream channel quality measurement stability in an upstream channel bonding system using T4 timeout multiplier |
| US9088355B2 (en) | 2006-03-24 | 2015-07-21 | Arris Technology, Inc. | Method and apparatus for determining the dynamic range of an optical link in an HFC network |
| US9113181B2 (en) | 2011-12-13 | 2015-08-18 | Arris Technology, Inc. | Dynamic channel bonding partial service triggering |
| US9136943B2 (en) | 2012-07-30 | 2015-09-15 | Arris Technology, Inc. | Method of characterizing impairments detected by equalization on a channel of a network |
| US9137164B2 (en) | 2012-11-15 | 2015-09-15 | Arris Technology, Inc. | Upstream receiver integrity assessment for modem registration |
| US9197886B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-11-24 | Arris Enterprises, Inc. | Detecting plant degradation using peer-comparison |
| US9203639B2 (en) | 2012-12-27 | 2015-12-01 | Arris Technology, Inc. | Dynamic load balancing under partial service conditions |
| US10477199B2 (en) | 2013-03-15 | 2019-11-12 | Arris Enterprises Llc | Method for identifying and prioritizing fault location in a cable plant |
-
1995
- 1995-06-21 JP JP15490595A patent/JP3257345B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7421211B2 (en) | 2003-02-18 | 2008-09-02 | Fujitsu Limited | Light source device |
| WO2004074805A1 (ja) * | 2003-02-18 | 2004-09-02 | Fujitsu Limited | 光源装置 |
| KR100621219B1 (ko) * | 2004-12-16 | 2006-09-07 | 한국전자통신연구원 | 부반송파 다중 접속 방식 광가입자 망에서의 광간섭 발생광원 검출 장치 및 방법 |
| JP2009528791A (ja) * | 2006-03-24 | 2009-08-06 | ジェネラル・インスツルメント・コーポレーション | ハイブリッド光ファイバ同軸ケーブルネットワークに利用可能な合成パワー余裕度を判定する装置、方法、およびコンピュータ読取可能な記録媒体 |
| JP4824781B2 (ja) * | 2006-03-24 | 2011-11-30 | ジェネラル・インスツルメント・コーポレーション | ハイブリッド光ファイバ同軸ケーブルネットワークに利用可能な合成パワー余裕度を判定する装置、方法、およびコンピュータ読取可能な記録媒体 |
| US9088355B2 (en) | 2006-03-24 | 2015-07-21 | Arris Technology, Inc. | Method and apparatus for determining the dynamic range of an optical link in an HFC network |
| US8937992B2 (en) | 2011-08-30 | 2015-01-20 | General Instrument Corporation | Method and apparatus for updating equalization coefficients of adaptive pre-equalizers |
| US9113181B2 (en) | 2011-12-13 | 2015-08-18 | Arris Technology, Inc. | Dynamic channel bonding partial service triggering |
| US8867371B2 (en) | 2012-04-27 | 2014-10-21 | Motorola Mobility Llc | Estimating physical locations of network faults |
| US9003460B2 (en) | 2012-04-27 | 2015-04-07 | Google Technology Holdings LLC | Network monitoring with estimation of network path to network element location |
| US8868736B2 (en) | 2012-04-27 | 2014-10-21 | Motorola Mobility Llc | Estimating a severity level of a network fault |
| US8837302B2 (en) | 2012-04-27 | 2014-09-16 | Motorola Mobility Llc | Mapping a network fault |
| US9065731B2 (en) | 2012-05-01 | 2015-06-23 | Arris Technology, Inc. | Ensure upstream channel quality measurement stability in an upstream channel bonding system using T4 timeout multiplier |
| US9136943B2 (en) | 2012-07-30 | 2015-09-15 | Arris Technology, Inc. | Method of characterizing impairments detected by equalization on a channel of a network |
| US9137164B2 (en) | 2012-11-15 | 2015-09-15 | Arris Technology, Inc. | Upstream receiver integrity assessment for modem registration |
| US9203639B2 (en) | 2012-12-27 | 2015-12-01 | Arris Technology, Inc. | Dynamic load balancing under partial service conditions |
| US10027588B2 (en) | 2012-12-27 | 2018-07-17 | Arris Enterprises Llc | Dynamic load balancing under partial service conditions |
| US9197886B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-11-24 | Arris Enterprises, Inc. | Detecting plant degradation using peer-comparison |
| US9042236B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Arris Technology, Inc. | Method using equalization data to determine defects in a cable plant |
| US9025469B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-05 | Arris Technology, Inc. | Method for estimating cable plant topology |
| US9350618B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-05-24 | Arris Enterprises, Inc. | Estimation of network path and elements using geodata |
| US10477199B2 (en) | 2013-03-15 | 2019-11-12 | Arris Enterprises Llc | Method for identifying and prioritizing fault location in a cable plant |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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