JPH11258181A - 多分岐光線路試験方法および装置 - Google Patents
多分岐光線路試験方法および装置Info
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- JPH11258181A JPH11258181A JP10060131A JP6013198A JPH11258181A JP H11258181 A JPH11258181 A JP H11258181A JP 10060131 A JP10060131 A JP 10060131A JP 6013198 A JP6013198 A JP 6013198A JP H11258181 A JPH11258181 A JP H11258181A
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers
Abstract
(57)【要約】
【課題】 多分岐光線路の障害発生時刻，発生回線およ
び発生距離を自動的に検出することができる多分岐光線
路試験方法および装置を提供すること。 【解決手段】 ステップＳ１では、ＯＴＤＲ波形データ
を対数波形データへ変換する。ステップＳ２では、該対
数波形データに対して、最小２乗近似法を用いて近似直
線を計算する。次に、該近似直線と対数変換後の波形と
の交点の位置を計算する。そして、該位置に基づいて、
反射ピークの立ち上がり点および立ち下がり点の位置を
計算する。ステップＳ３では、各反射ピークを分割点と
して、ＯＴＤＲ波形データを分割し、各分割範囲につい
て減衰定数分離解析を行う。ステップＳ４では、ステッ
プＳ３で算出された減衰定数を記憶装置に格納する。ス
テップＳ１〜Ｓ４の処理は一定時間毎に繰り返される。
ステップＳ５では、格納されている減衰定数に基づい
て、障害発生時刻，発生回線，発生距離を判断する。
び発生距離を自動的に検出することができる多分岐光線
路試験方法および装置を提供すること。 【解決手段】 ステップＳ１では、ＯＴＤＲ波形データ
を対数波形データへ変換する。ステップＳ２では、該対
数波形データに対して、最小２乗近似法を用いて近似直
線を計算する。次に、該近似直線と対数変換後の波形と
の交点の位置を計算する。そして、該位置に基づいて、
反射ピークの立ち上がり点および立ち下がり点の位置を
計算する。ステップＳ３では、各反射ピークを分割点と
して、ＯＴＤＲ波形データを分割し、各分割範囲につい
て減衰定数分離解析を行う。ステップＳ４では、ステッ
プＳ３で算出された減衰定数を記憶装置に格納する。ス
テップＳ１〜Ｓ４の処理は一定時間毎に繰り返される。
ステップＳ５では、格納されている減衰定数に基づい
て、障害発生時刻，発生回線，発生距離を判断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の回線（光線
路）に分岐した多分岐光線路について、該多分岐光線路
の障害発生時刻，障害発生回線および障害発生距離を測
定する多分岐光線路試験方法および装置に関するもので
ある。
路）に分岐した多分岐光線路について、該多分岐光線路
の障害発生時刻，障害発生回線および障害発生距離を測
定する多分岐光線路試験方法および装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】図１０は、従来の多分岐光線路試験装置
の構成例を示すブロック図である。この多分岐光線路試
験装置は、１．３１／１．５５波長多重伝送システムに
設けられた８分岐型光線路について、該光線路の故障切
分けの試験を行うものである。この図において、ＯＴＤ
Ｒ測定器１から出射された試験光（１．６μｍ帯）は、
カプラ２を介して光線路３に入射し、スターカプラ４に
よって分岐された後、光ファイバｆｂ１〜ｆｂ８に分配
される。
の構成例を示すブロック図である。この多分岐光線路試
験装置は、１．３１／１．５５波長多重伝送システムに
設けられた８分岐型光線路について、該光線路の故障切
分けの試験を行うものである。この図において、ＯＴＤ
Ｒ測定器１から出射された試験光（１．６μｍ帯）は、
カプラ２を介して光線路３に入射し、スターカプラ４に
よって分岐された後、光ファイバｆｂ１〜ｆｂ８に分配
される。
【０００３】各光ファイバｆｂ１〜ｆｂ８のＯＮＵ（Op
tical Network Unit：加入者ネットワーク装置）の手前
には、フィルタ４１〜４８が各々設けられている。フィ
ルタ４１〜４８は、各ＯＮＵに対する信号光のみを通過
させ、試験光を反射する通過帯域特性を有している。し
たがって、光ファイバｆｂ１〜ｆｂ８を進んできた各試
験光は、これらのフィルタ４１〜４８によって反射さ
れ、各フィルタ４１〜４８の反射光が光ファイバｆｂ１
〜ｆｂ８を逆戻りすることとなる。そして、これらの反
射光は、スターカプラ４を通過することにより合波さ
れ、カプラ２を介して応答光としてＯＴＤＲ測定器１に
戻される。このようにして戻された応答光は、ＯＴＤＲ
測定器１によって解析される。
tical Network Unit：加入者ネットワーク装置）の手前
には、フィルタ４１〜４８が各々設けられている。フィ
ルタ４１〜４８は、各ＯＮＵに対する信号光のみを通過
させ、試験光を反射する通過帯域特性を有している。し
たがって、光ファイバｆｂ１〜ｆｂ８を進んできた各試
験光は、これらのフィルタ４１〜４８によって反射さ
れ、各フィルタ４１〜４８の反射光が光ファイバｆｂ１
〜ｆｂ８を逆戻りすることとなる。そして、これらの反
射光は、スターカプラ４を通過することにより合波さ
れ、カプラ２を介して応答光としてＯＴＤＲ測定器１に
戻される。このようにして戻された応答光は、ＯＴＤＲ
測定器１によって解析される。
【０００４】図１１は、ＯＴＤＲ測定器１によって観測
される応答光の波形例を示すグラフである。この図に示
す波形は、上記応答光の時系列的変化を示すものである
が、図１１では、該応答光の伝播時間に光の伝送速度を
乗じた値（すなわち、応答光が伝播してきた光ファイバ
の長さ）を横軸としている。ここで、応答光は、各フィ
ルタ４１〜４８の反射光が合波されたものであるが、こ
れらのフィルタ４１〜４８は、ＯＴＤＲ測定器１からの
距離が互いに異なる位置に設けられている。従って、Ｏ
ＴＤＲ測定器１によって観測される各フィルタ４１〜４
８からの反射光は時間軸上において重ならず、各々分離
して観測されることとなる。図１１では、最も左側に示
されている波形Ｒがスターカプラ４からの反射光であ
り、該波形Ｒから右側に向かって順に、光ファイバｆｂ
１〜ｆｂ８を介してＯＴＤＲ測定器１に戻される反射光
の波形が表示されている。
される応答光の波形例を示すグラフである。この図に示
す波形は、上記応答光の時系列的変化を示すものである
が、図１１では、該応答光の伝播時間に光の伝送速度を
乗じた値（すなわち、応答光が伝播してきた光ファイバ
の長さ）を横軸としている。ここで、応答光は、各フィ
ルタ４１〜４８の反射光が合波されたものであるが、こ
れらのフィルタ４１〜４８は、ＯＴＤＲ測定器１からの
距離が互いに異なる位置に設けられている。従って、Ｏ
ＴＤＲ測定器１によって観測される各フィルタ４１〜４
８からの反射光は時間軸上において重ならず、各々分離
して観測されることとなる。図１１では、最も左側に示
されている波形Ｒがスターカプラ４からの反射光であ
り、該波形Ｒから右側に向かって順に、光ファイバｆｂ
１〜ｆｂ８を介してＯＴＤＲ測定器１に戻される反射光
の波形が表示されている。
【０００５】図１２は、ＯＴＤＲ測定器１によって観測
される応答光のうち光ファイバｆｂ６〜ｆｂ８を介して
戻ってきた反射光の波形を拡大して示したグラフであ
る。ここで、図１２（ａ）は、いずれの光ファイバにも
障害が発生していない場合を示し、図１２（ｂ）は、光
ファイバｆｂ７に３ｄＢの曲げ損失を付与して障害をシ
ミュレートした場合を示している。これらの図に示すよ
うに、光ファイバｆｂ７については、障害を模擬的に発
生させたことにより、反射光の強度の低下が生じている
ことが分かる。
される応答光のうち光ファイバｆｂ６〜ｆｂ８を介して
戻ってきた反射光の波形を拡大して示したグラフであ
る。ここで、図１２（ａ）は、いずれの光ファイバにも
障害が発生していない場合を示し、図１２（ｂ）は、光
ファイバｆｂ７に３ｄＢの曲げ損失を付与して障害をシ
ミュレートした場合を示している。これらの図に示すよ
うに、光ファイバｆｂ７については、障害を模擬的に発
生させたことにより、反射光の強度の低下が生じている
ことが分かる。
【０００６】このように、図１０に示す構成によれば、
ＯＴＤＲ測定器１に戻ってくる応答光中の各反射光の強
度を解析することにより、光線路に生じた障害を検出す
ることができる。なお、この技術については、１９９４
年電子情報通信学会秋期大会における論文Ｂ−８４６
「分岐型光線路の１．６μｍ帯故障切り分け試験技術」
に開示されている。
ＯＴＤＲ測定器１に戻ってくる応答光中の各反射光の強
度を解析することにより、光線路に生じた障害を検出す
ることができる。なお、この技術については、１９９４
年電子情報通信学会秋期大会における論文Ｂ−８４６
「分岐型光線路の１．６μｍ帯故障切り分け試験技術」
に開示されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の多分岐光線路試験装置においては、障害が発生した
光線路を特定することはできるが、該光線路における障
害発生点の距離（位置）は検出できない、という課題が
あった。また、上述した従来の多分岐光線路試験装置に
おいては、分岐した各光ファイバについて、該光ファイ
バに設置するフィルタを、カプラから該フィルタまでの
間隔が互いに異なるように設置しなければならないの
で、ファイバ長が制限されてしまう、という課題があっ
た。さらに、上述した従来の多分岐光線路試験装置にお
いては、各光ファイバにそれぞれフィルタを設けなくて
はならないので、システムが高コストになる、という課
題があった。
来の多分岐光線路試験装置においては、障害が発生した
光線路を特定することはできるが、該光線路における障
害発生点の距離（位置）は検出できない、という課題が
あった。また、上述した従来の多分岐光線路試験装置に
おいては、分岐した各光ファイバについて、該光ファイ
バに設置するフィルタを、カプラから該フィルタまでの
間隔が互いに異なるように設置しなければならないの
で、ファイバ長が制限されてしまう、という課題があっ
た。さらに、上述した従来の多分岐光線路試験装置にお
いては、各光ファイバにそれぞれフィルタを設けなくて
はならないので、システムが高コストになる、という課
題があった。
【０００８】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、多分岐光線路の障害発生時刻，障害発生回線
および障害発生距離を自動的に検出することができる多
分岐光線路試験方法および装置を提供することを目的と
する。
たもので、多分岐光線路の障害発生時刻，障害発生回線
および障害発生距離を自動的に検出することができる多
分岐光線路試験方法および装置を提供することを目的と
する。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
複数の光線路に分岐した多分岐光線路の分岐点に光パル
スを導入する第１の過程と、前記各光線路の各部におけ
る前記光パルスの反射光が重なった応答光を受光する第
２の過程と、前記応答光を電気信号に変換した波形デー
タを対数変換する第３の過程と、対数変換された波形デ
ータに対して、近似直線を計算する第４の過程と、対数
変換された波形データと前記近似直線とを比較して、前
記波形データにおけるフレネル反射点を検出する第５の
過程と、前記フレネル反射点を分割点として、前記波形
データを分割する第６の過程と、分割された各範囲につ
いて減衰定数分離解析を行い、各光線路の減衰定数を算
出する第７の過程と、算出した減衰定数を、測定時刻に
対応させて記憶装置に格納する第８の過程と、前記第１
の過程から前記第８の過程が一定時間毎に繰り返し行わ
れた後、前記記憶装置に格納されている減衰定数に基づ
いて、前記多分岐光線路における障害発生時刻，障害発
生回線および障害発生距離を判断する第９の過程とを具
備することを特徴とする。請求項２記載の発明は、請求
項１記載の多分岐光線路試験方法において、前記第３の
過程における対数変換式は、 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ただし、ｘn は前記波形データ、ｙn は対数変換された
波形データであることを特徴とする。請求項３記載の発
明は、請求項１または請求項２のいずれかに記載の多分
岐光線路試験方法において、前記第５の過程は、対数変
換された波形データと前記近似直線との交点に基づい
て、前記フレネル反射点を検出することを特徴とする。
請求項４記載の発明は、請求項１ないし請求項３のいず
れかに記載の多分岐光線路試験方法において、前記第９
の過程は、前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、減衰
定数が変化すると、障害が発生したと判断し、減衰定数
が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断し、減衰定数
から反射ピークの距離を判断し、該反射ピークの距離が
変化した光線路を障害発生回線と判断し、変化後の反射
ピークの距離を障害発生距離と判断することを特徴とす
る。請求項５記載の発明は、複数の光線路に分岐した多
分岐光線路の分岐点に光パルスを導入する発光手段と、
前記各光線路の各部における前記光パルスの反射光が重
なった応答光を受光する受光手段と、前記応答光を電気
信号に変換した波形データを対数変換する変換手段と、
対数変換された波形データに対して、近似直線を計算す
る近似手段と、対数変換された波形データと前記近似直
線とを比較して、前記波形データにおけるフレネル反射
点を検出する比較手段と、前記フレネル反射点を分割点
として、前記波形データを分割する分割手段と、分割さ
れた各範囲について減衰定数分離解析を行い、各光線路
の減衰定数を算出する解析手段と、算出した減衰定数
を、測定時刻に対応させて記憶装置に格納する書込手段
と、前記各手段による処理が一定時間毎に繰り返し行わ
れた後、前記記憶装置に格納されている減衰定数に基づ
いて、前記多分岐光線路における障害発生時刻，障害発
生回線および障害発生距離を判断する判断手段とを具備
することを特徴とする。請求項６記載の発明は、請求項
５記載の多分岐光線路試験装置において、前記変換手段
における対数変換式は、 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ただし、ｘn は前記波形データ、ｙn は対数変換された
波形データであることを特徴とする。請求項７記載の発
明は、請求項５または請求項６のいずれかに記載の多分
岐光線路試験装置において、前記比較手段は、対数変換
された波形データと前記近似直線との交点に基づいて、
前記フレネル反射点を検出することを特徴とする。請求
項８記載の発明は、請求項５ないし請求項７のいずれか
に記載の多分岐光線路試験装置において、前記判断手段
は、前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、減衰定数が
変化すると、障害が発生したと判断し、減衰定数が変化
した測定時刻を障害発生時刻と判断し、減衰定数から反
射ピークの距離を判断し、該反射ピークの距離が変化し
た光線路を障害発生回線と判断し、変化後の反射ピーク
の距離を障害発生距離と判断することを特徴とする。
複数の光線路に分岐した多分岐光線路の分岐点に光パル
スを導入する第１の過程と、前記各光線路の各部におけ
る前記光パルスの反射光が重なった応答光を受光する第
２の過程と、前記応答光を電気信号に変換した波形デー
タを対数変換する第３の過程と、対数変換された波形デ
ータに対して、近似直線を計算する第４の過程と、対数
変換された波形データと前記近似直線とを比較して、前
記波形データにおけるフレネル反射点を検出する第５の
過程と、前記フレネル反射点を分割点として、前記波形
データを分割する第６の過程と、分割された各範囲につ
いて減衰定数分離解析を行い、各光線路の減衰定数を算
出する第７の過程と、算出した減衰定数を、測定時刻に
対応させて記憶装置に格納する第８の過程と、前記第１
の過程から前記第８の過程が一定時間毎に繰り返し行わ
れた後、前記記憶装置に格納されている減衰定数に基づ
いて、前記多分岐光線路における障害発生時刻，障害発
生回線および障害発生距離を判断する第９の過程とを具
備することを特徴とする。請求項２記載の発明は、請求
項１記載の多分岐光線路試験方法において、前記第３の
過程における対数変換式は、 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ただし、ｘn は前記波形データ、ｙn は対数変換された
波形データであることを特徴とする。請求項３記載の発
明は、請求項１または請求項２のいずれかに記載の多分
岐光線路試験方法において、前記第５の過程は、対数変
換された波形データと前記近似直線との交点に基づい
て、前記フレネル反射点を検出することを特徴とする。
請求項４記載の発明は、請求項１ないし請求項３のいず
れかに記載の多分岐光線路試験方法において、前記第９
の過程は、前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、減衰
定数が変化すると、障害が発生したと判断し、減衰定数
が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断し、減衰定数
から反射ピークの距離を判断し、該反射ピークの距離が
変化した光線路を障害発生回線と判断し、変化後の反射
ピークの距離を障害発生距離と判断することを特徴とす
る。請求項５記載の発明は、複数の光線路に分岐した多
分岐光線路の分岐点に光パルスを導入する発光手段と、
前記各光線路の各部における前記光パルスの反射光が重
なった応答光を受光する受光手段と、前記応答光を電気
信号に変換した波形データを対数変換する変換手段と、
対数変換された波形データに対して、近似直線を計算す
る近似手段と、対数変換された波形データと前記近似直
線とを比較して、前記波形データにおけるフレネル反射
点を検出する比較手段と、前記フレネル反射点を分割点
として、前記波形データを分割する分割手段と、分割さ
れた各範囲について減衰定数分離解析を行い、各光線路
の減衰定数を算出する解析手段と、算出した減衰定数
を、測定時刻に対応させて記憶装置に格納する書込手段
と、前記各手段による処理が一定時間毎に繰り返し行わ
れた後、前記記憶装置に格納されている減衰定数に基づ
いて、前記多分岐光線路における障害発生時刻，障害発
生回線および障害発生距離を判断する判断手段とを具備
することを特徴とする。請求項６記載の発明は、請求項
５記載の多分岐光線路試験装置において、前記変換手段
における対数変換式は、 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ただし、ｘn は前記波形データ、ｙn は対数変換された
波形データであることを特徴とする。請求項７記載の発
明は、請求項５または請求項６のいずれかに記載の多分
岐光線路試験装置において、前記比較手段は、対数変換
された波形データと前記近似直線との交点に基づいて、
前記フレネル反射点を検出することを特徴とする。請求
項８記載の発明は、請求項５ないし請求項７のいずれか
に記載の多分岐光線路試験装置において、前記判断手段
は、前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、減衰定数が
変化すると、障害が発生したと判断し、減衰定数が変化
した測定時刻を障害発生時刻と判断し、減衰定数から反
射ピークの距離を判断し、該反射ピークの距離が変化し
た光線路を障害発生回線と判断し、変化後の反射ピーク
の距離を障害発生距離と判断することを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施形態について説明する。図１は、この発明の一実
施形態による多分岐光線路試験装置の構成例を示すブロ
ック図である。この図において、ＭＳ１はＯＴＤＲ測定
器であり、ＳＷ１はデータ解析を行う為のソフトウェア
が格納されたメモリである。また、ＦＢ１〜ＦＢ４はそ
れぞれ分岐光ファイバであり、ＥＤ１〜ＥＤ４はそれぞ
れ各分岐光ファイバの終端器である。また、ＣＰ１は光
カプラであり、ＣＮ１〜ＣＮ４は、該光カプラＣＰ１と
分岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４とを接続するコネクタで
あり、ＣＮ５は、該光カプラＣＰ１とＯＴＤＲ測定器Ｍ
Ｓ１とを接続するコネクタである。上記光カプラＣＰ
１，分岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４および終端器ＥＤ１
〜ＥＤ４は、本実施形態における試験対象を構成してい
る。そして、この試験対象に対し、カプラＣＰ１を介し
て接続されたＯＴＤＲ測定器ＭＳ１、および、該ＯＴＤ
Ｒ測定器ＭＳ１が実行するソフトウェアを格納したメモ
リＳＷ１が、本実施形態に係る多分岐光線路試験装置を
構成している。なお、図１には示されていないが、本装
置は、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１の測定結果を記憶する大容
量の測定結果記憶装置（ハードディスク等）を有してい
る。
の実施形態について説明する。図１は、この発明の一実
施形態による多分岐光線路試験装置の構成例を示すブロ
ック図である。この図において、ＭＳ１はＯＴＤＲ測定
器であり、ＳＷ１はデータ解析を行う為のソフトウェア
が格納されたメモリである。また、ＦＢ１〜ＦＢ４はそ
れぞれ分岐光ファイバであり、ＥＤ１〜ＥＤ４はそれぞ
れ各分岐光ファイバの終端器である。また、ＣＰ１は光
カプラであり、ＣＮ１〜ＣＮ４は、該光カプラＣＰ１と
分岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４とを接続するコネクタで
あり、ＣＮ５は、該光カプラＣＰ１とＯＴＤＲ測定器Ｍ
Ｓ１とを接続するコネクタである。上記光カプラＣＰ
１，分岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４および終端器ＥＤ１
〜ＥＤ４は、本実施形態における試験対象を構成してい
る。そして、この試験対象に対し、カプラＣＰ１を介し
て接続されたＯＴＤＲ測定器ＭＳ１、および、該ＯＴＤ
Ｒ測定器ＭＳ１が実行するソフトウェアを格納したメモ
リＳＷ１が、本実施形態に係る多分岐光線路試験装置を
構成している。なお、図１には示されていないが、本装
置は、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１の測定結果を記憶する大容
量の測定結果記憶装置（ハードディスク等）を有してい
る。
【００１１】次に、上記構成による多分岐光線路試験装
置の動作を説明する。 （１）ＯＴＤＲ波形データの取り込み ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１が光パルスを出射すると、該光パ
ルスは光カプラＣＰ１で分割され、各分岐光ファイバＦ
Ｂ１〜ＦＢ４に入射する。それぞれの分岐光ファイバＦ
Ｂ１〜ＦＢ４で生じた後方散乱光は、光カプラＣＰ１で
重なり、応答光としてＯＴＤＲ測定器ＭＳ１に戻る。こ
の応答光は、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１内部で、そのレベル
に応じた電気信号に変換される。変換された電気信号
は、ＯＴＤＲ波形データ（デジタル波形データ）として
メモリに保存される。
置の動作を説明する。 （１）ＯＴＤＲ波形データの取り込み ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１が光パルスを出射すると、該光パ
ルスは光カプラＣＰ１で分割され、各分岐光ファイバＦ
Ｂ１〜ＦＢ４に入射する。それぞれの分岐光ファイバＦ
Ｂ１〜ＦＢ４で生じた後方散乱光は、光カプラＣＰ１で
重なり、応答光としてＯＴＤＲ測定器ＭＳ１に戻る。こ
の応答光は、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１内部で、そのレベル
に応じた電気信号に変換される。変換された電気信号
は、ＯＴＤＲ波形データ（デジタル波形データ）として
メモリに保存される。
【００１２】図２は、いずれの分岐光ファイバにも障害
が発生していない場合におけるＯＴＤＲ波形データの一
例を示すグラフである。この図において、横軸は距離を
示し、該横軸上において各データを示す点（ポイント）
は、１点が２ｍに対応している。すなわち、例えば、２
００００ポイントは４０ｋｍ（＝２ｍ×２００００）に
対応する。また、この図において、縦軸は各分岐光ファ
イバＦＢ１〜ＦＢ４の後方散乱光のレベルを示す。な
お、このＯＴＤＲ波形データは、各分岐光ファイバＦＢ
１〜ＦＢ４の後方散乱光が様々重なったものである。ま
た、図２において、ＥＤ１〜ＥＤ４は、それぞれ、各分
岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４の終端器における反射ピー
クの波形である。一方、ＣＰは、カプラＣＰ１におい
て、各分岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４に接続するコネク
タの反射ピークの波形である。
が発生していない場合におけるＯＴＤＲ波形データの一
例を示すグラフである。この図において、横軸は距離を
示し、該横軸上において各データを示す点（ポイント）
は、１点が２ｍに対応している。すなわち、例えば、２
００００ポイントは４０ｋｍ（＝２ｍ×２００００）に
対応する。また、この図において、縦軸は各分岐光ファ
イバＦＢ１〜ＦＢ４の後方散乱光のレベルを示す。な
お、このＯＴＤＲ波形データは、各分岐光ファイバＦＢ
１〜ＦＢ４の後方散乱光が様々重なったものである。ま
た、図２において、ＥＤ１〜ＥＤ４は、それぞれ、各分
岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４の終端器における反射ピー
クの波形である。一方、ＣＰは、カプラＣＰ１におい
て、各分岐光ファイバＦＢ１〜ＦＢ４に接続するコネク
タの反射ピークの波形である。
【００１３】（２）波形解析 図３は、本試験装置によるＯＴＤＲ波形データの解析処
理の一例を示すフローチャートである。まず、ステップ
Ｓ１では、ＯＴＤＲ波形データ（リニア波形データ：図
２の波形）を対数波形データへ変換する。本実施形態に
おける対数波形データへの変換式は、下記の式（１）で
ある。 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（１） ここで、ｘn は、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１によって受信さ
れる後方散乱光のレベル（光パワー）を示す。また、ｘ
n の添え字ｎは、図２に示すグラフの横軸上における各
ポイントの番号（ｎ＝１，２，３、……，２００００）
を示す。すなわち、ｘn において、ｘ1 は図２に示すグ
ラフにおける２ｍ（＝２ｍ×１）地点からの後方散乱光
のレベルを表し、ｘ20000 は４０ｋｍ（＝２ｍ×２００
００）地点からの後方散乱光のレベルを表している。式
（１）により、２００００個のリニア波形データｘn
は、２００００個の対数データｙn に変換される。図４
は、図２に示すグラフ（リニア波形データ）を対数波形
データに変換したグラフである。
理の一例を示すフローチャートである。まず、ステップ
Ｓ１では、ＯＴＤＲ波形データ（リニア波形データ：図
２の波形）を対数波形データへ変換する。本実施形態に
おける対数波形データへの変換式は、下記の式（１）で
ある。 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（１） ここで、ｘn は、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ１によって受信さ
れる後方散乱光のレベル（光パワー）を示す。また、ｘ
n の添え字ｎは、図２に示すグラフの横軸上における各
ポイントの番号（ｎ＝１，２，３、……，２００００）
を示す。すなわち、ｘn において、ｘ1 は図２に示すグ
ラフにおける２ｍ（＝２ｍ×１）地点からの後方散乱光
のレベルを表し、ｘ20000 は４０ｋｍ（＝２ｍ×２００
００）地点からの後方散乱光のレベルを表している。式
（１）により、２００００個のリニア波形データｘn
は、２００００個の対数データｙn に変換される。図４
は、図２に示すグラフ（リニア波形データ）を対数波形
データに変換したグラフである。
【００１４】ステップＳ２では、図４に示す対数波形デ
ータに対して、最小２乗近似法を用いて、近似直線ｙ＝
ａ1 ・ｄ＋ｂ1 （図４の直線Ｄ１）の定数ａ1 およびｂ
1 を計算する。次に、図４に示すように、該近似直線Ｄ
１が対数変換後の波形と交わる点をＰｕ０，Ｐｄ０，Ｐ
ｕ１，Ｐｄ１，……，Ｐｕ４，Ｐｄ４とし、これらの交
点の距離ｄ（Ｐｕ０），ｄ（Ｐｄ０），……，ｄ（Ｐｄ
４）を計算する。そして、距離ｄ（Ｐｕ０），ｄ（Ｐｄ
０）に基づいて、反射ピークＣＰの立ち上がり点ＰＵ０
および立ち下がり点ＰＤ０の距離を計算する。同様の方
法で、反射ピークＥＤ１〜ＥＤ４の立ち上がり点ＰＵ１
〜ＰＵ４および立ち下がり点ＰＤ１〜ＰＤ４の距離を計
算する。
ータに対して、最小２乗近似法を用いて、近似直線ｙ＝
ａ1 ・ｄ＋ｂ1 （図４の直線Ｄ１）の定数ａ1 およびｂ
1 を計算する。次に、図４に示すように、該近似直線Ｄ
１が対数変換後の波形と交わる点をＰｕ０，Ｐｄ０，Ｐ
ｕ１，Ｐｄ１，……，Ｐｕ４，Ｐｄ４とし、これらの交
点の距離ｄ（Ｐｕ０），ｄ（Ｐｄ０），……，ｄ（Ｐｄ
４）を計算する。そして、距離ｄ（Ｐｕ０），ｄ（Ｐｄ
０）に基づいて、反射ピークＣＰの立ち上がり点ＰＵ０
および立ち下がり点ＰＤ０の距離を計算する。同様の方
法で、反射ピークＥＤ１〜ＥＤ４の立ち上がり点ＰＵ１
〜ＰＵ４および立ち下がり点ＰＤ１〜ＰＤ４の距離を計
算する。
【００１５】ステップＳ３では、上記反射ピーク（フレ
ネル反射点）を分割点として、図２に示すＯＴＤＲ波形
データを分割する。本実施形態では、図２に示すＯＴＤ
Ｒ波形データは、下記の範囲（Ｌ１〜Ｌ４）に分割され
る。 Ｌ１：点ＰＤ０−点ＰＵ１間 Ｌ２：点ＰＤ１−点ＰＵ２間 Ｌ３：点ＰＤ２−点ＰＵ３間 Ｌ４：点ＰＤ３−点ＰＵ４間 波形分割後、それぞれの範囲Ｌ１〜Ｌ４について減衰定
数分離解析を行い、減衰定数を算出する。図５は、いず
れの分岐光ファイバにも障害が発生していない場合にお
ける減衰定数とその判断の一例を示す表である。
ネル反射点）を分割点として、図２に示すＯＴＤＲ波形
データを分割する。本実施形態では、図２に示すＯＴＤ
Ｒ波形データは、下記の範囲（Ｌ１〜Ｌ４）に分割され
る。 Ｌ１：点ＰＤ０−点ＰＵ１間 Ｌ２：点ＰＤ１−点ＰＵ２間 Ｌ３：点ＰＤ２−点ＰＵ３間 Ｌ４：点ＰＤ３−点ＰＵ４間 波形分割後、それぞれの範囲Ｌ１〜Ｌ４について減衰定
数分離解析を行い、減衰定数を算出する。図５は、いず
れの分岐光ファイバにも障害が発生していない場合にお
ける減衰定数とその判断の一例を示す表である。
【００１６】ステップＳ４では、ステップＳ３で算出さ
れた減衰定数を、測定結果記憶装置（図示略）に格納す
る。なお、以上説明したステップＳ１〜Ｓ４の処理は、
一定時間毎に繰り返される。本実施形態では、一定時間
毎に一回の測定を行うので、各測定時刻をｔ1 ，ｔ2 ，
……，ｔk ，ｔk+1 ，ｔk+2 ，……とする。この測定時
刻は、ステップＳ４において、該測定時刻に測定された
減衰定数と共に、測定結果記憶装置に記録される。
れた減衰定数を、測定結果記憶装置（図示略）に格納す
る。なお、以上説明したステップＳ１〜Ｓ４の処理は、
一定時間毎に繰り返される。本実施形態では、一定時間
毎に一回の測定を行うので、各測定時刻をｔ1 ，ｔ2 ，
……，ｔk ，ｔk+1 ，ｔk+2 ，……とする。この測定時
刻は、ステップＳ４において、該測定時刻に測定された
減衰定数と共に、測定結果記憶装置に記録される。
【００１７】ここで、例えば、図６に示すように、時刻
ｔk+1 において、分岐光ファイバＦＢ３の×点で障害が
発生した場合を考える。この場合、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ
１に取り込まれるＯＴＤＲ波形データは、図２に示す波
形から図７に示す波形に変化する。図７において、ＥＤ
３’は、分岐光ファイバＦＢ３の×点における反射ピー
クの波形である。
ｔk+1 において、分岐光ファイバＦＢ３の×点で障害が
発生した場合を考える。この場合、ＯＴＤＲ測定器ＭＳ
１に取り込まれるＯＴＤＲ波形データは、図２に示す波
形から図７に示す波形に変化する。図７において、ＥＤ
３’は、分岐光ファイバＦＢ３の×点における反射ピー
クの波形である。
【００１８】図７に示すＯＴＤＲ波形データの取り込み
後、処理はステップＳ１（図３参照）に進み、該ＯＴＤ
Ｒ波形データ（リニア波形データ）は、図８に示す対数
波形データに変換される。次に、ステップＳ２では、図
８に示す対数波形データに対して、最小２乗近似法を用
いて、近似直線ｙ＝ａ2 ・ｄ＋ｂ2 （図８の直線Ｄ２）
の定数ａ2 およびｂ2 を計算する。そして、障害が発生
していない場合（図４参照）と同様の方法で、反射ピー
クＣＰ〜ＥＤ４の立ち上がり点ＰＵ０’〜ＰＵ４’およ
び立ち下がり点ＰＤ０’〜ＰＤ４’の距離を計算する。
後、処理はステップＳ１（図３参照）に進み、該ＯＴＤ
Ｒ波形データ（リニア波形データ）は、図８に示す対数
波形データに変換される。次に、ステップＳ２では、図
８に示す対数波形データに対して、最小２乗近似法を用
いて、近似直線ｙ＝ａ2 ・ｄ＋ｂ2 （図８の直線Ｄ２）
の定数ａ2 およびｂ2 を計算する。そして、障害が発生
していない場合（図４参照）と同様の方法で、反射ピー
クＣＰ〜ＥＤ４の立ち上がり点ＰＵ０’〜ＰＵ４’およ
び立ち下がり点ＰＤ０’〜ＰＤ４’の距離を計算する。
【００１９】ステップＳ３では、上記反射ピーク（フレ
ネル反射点）を分割点として、図７に示すＯＴＤＲ波形
データをＬ１’〜Ｌ４’に分割し、それぞれの範囲Ｌ
１’〜Ｌ４’について減衰定数分離解析を行う。図９
は、分岐光ファイバＦＢ３で障害が発生した場合におけ
る減衰定数とその判断の一例を示す表である。ステップ
Ｓ４では、ステップＳ３で算出された減衰定数を、測定
時刻ｔk+1における測定結果として、測定結果記憶装置
（図示略）に記憶する。以上、ステップＳ１〜Ｓ４の処
理を繰り返すことにより、測定結果記憶装置には、測定
時刻ｔ1 〜ｔk における減衰定数（図５参照）と、測定
時刻ｔk+1 における減衰定数（図９参照）とが格納され
ることとなる。
ネル反射点）を分割点として、図７に示すＯＴＤＲ波形
データをＬ１’〜Ｌ４’に分割し、それぞれの範囲Ｌ
１’〜Ｌ４’について減衰定数分離解析を行う。図９
は、分岐光ファイバＦＢ３で障害が発生した場合におけ
る減衰定数とその判断の一例を示す表である。ステップ
Ｓ４では、ステップＳ３で算出された減衰定数を、測定
時刻ｔk+1における測定結果として、測定結果記憶装置
（図示略）に記憶する。以上、ステップＳ１〜Ｓ４の処
理を繰り返すことにより、測定結果記憶装置には、測定
時刻ｔ1 〜ｔk における減衰定数（図５参照）と、測定
時刻ｔk+1 における減衰定数（図９参照）とが格納され
ることとなる。
【００２０】上記ステップＳ１〜Ｓ４の処理の終了後、
ステップＳ５では、測定結果記憶装置（図示略）に格納
されている減衰定数に基づいて、障害発生時刻，障害発
生回線および障害発生距離を判断する。この判断処理に
ついて、上記障害（時刻ｔk+1 において、分岐光ファイ
バＦＢ３の×点で障害が発生した場合：図６参照）を例
に取って説明する。この場合、時刻ｔ1 →時刻ｔk で
は、減衰定数の変化がないので（図５参照）、障害は発
生していないと判断する。一方、時刻ｔk →時刻ｔk+1
では、減衰定数が変化するので（図５→図９）、障害が
発生したと判断する。このとき、減衰定数の変化は時刻
ｔk →時刻ｔk+1 の間で発生したので、この時刻間に障
害が発生したと判断する。また、障害発生回線について
は、反射ピークの位置が変化した分岐光ファイバＦＢ３
が障害発生回線であると判断する。また、障害発生距離
（位置）については、該障害発生距離は反射ピークＥＤ
３’の距離と判断する。以上説明したように、本試験装
置は、多分岐光線路の障害発生時刻，障害発生回線およ
び障害発生距離を自動的に検出することができる。
ステップＳ５では、測定結果記憶装置（図示略）に格納
されている減衰定数に基づいて、障害発生時刻，障害発
生回線および障害発生距離を判断する。この判断処理に
ついて、上記障害（時刻ｔk+1 において、分岐光ファイ
バＦＢ３の×点で障害が発生した場合：図６参照）を例
に取って説明する。この場合、時刻ｔ1 →時刻ｔk で
は、減衰定数の変化がないので（図５参照）、障害は発
生していないと判断する。一方、時刻ｔk →時刻ｔk+1
では、減衰定数が変化するので（図５→図９）、障害が
発生したと判断する。このとき、減衰定数の変化は時刻
ｔk →時刻ｔk+1 の間で発生したので、この時刻間に障
害が発生したと判断する。また、障害発生回線について
は、反射ピークの位置が変化した分岐光ファイバＦＢ３
が障害発生回線であると判断する。また、障害発生距離
（位置）については、該障害発生距離は反射ピークＥＤ
３’の距離と判断する。以上説明したように、本試験装
置は、多分岐光線路の障害発生時刻，障害発生回線およ
び障害発生距離を自動的に検出することができる。
【００２１】以上、この発明の実施形態を図面を参照し
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があってもこの発明に含まれる。たとえ
ば、上述した一実施形態においては、ステップＳ１〜Ｓ
４の処理を繰り返し行って各時刻の減衰定数を求めた
後、ステップＳ５で障害の各種判断を行ったが、ステッ
プＳ１〜Ｓ５までの処理を繰り返し行うことも考えられ
る。すなわち、一定時間毎に減衰定数が求められる度
に、ステップＳ５で（１つ前の時刻における減衰定数と
比較することにより）障害の各種判断を行うことも考え
られる。この場合、ほぼリアルタイムで障害の各種判断
を行うことができる。また、同実施形態においては、４
分岐型の光線路を対象とした例を示したが、対象となる
多分岐光線路の分岐数はこれに限定されず、本発明は、
任意の分岐数の多分岐光線路に対応することができる。
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があってもこの発明に含まれる。たとえ
ば、上述した一実施形態においては、ステップＳ１〜Ｓ
４の処理を繰り返し行って各時刻の減衰定数を求めた
後、ステップＳ５で障害の各種判断を行ったが、ステッ
プＳ１〜Ｓ５までの処理を繰り返し行うことも考えられ
る。すなわち、一定時間毎に減衰定数が求められる度
に、ステップＳ５で（１つ前の時刻における減衰定数と
比較することにより）障害の各種判断を行うことも考え
られる。この場合、ほぼリアルタイムで障害の各種判断
を行うことができる。また、同実施形態においては、４
分岐型の光線路を対象とした例を示したが、対象となる
多分岐光線路の分岐数はこれに限定されず、本発明は、
任意の分岐数の多分岐光線路に対応することができる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、多分岐光線路の障害発生時刻，障害発生回線および
障害発生距離を自動的に検出することができる。したが
って、従来のように、障害回線を測定する際に、フィル
タを回線毎に異なる間隔に設置することなく、効率よく
これら測定作業を行うことが可能である。また、この多
分岐光線路試験装置においては、該装置によって常に同
一の計測動作が行われるので、人が計測を行う場合と比
較して、客観性および信頼性がより高い計測を行うこと
が可能である。
ば、多分岐光線路の障害発生時刻，障害発生回線および
障害発生距離を自動的に検出することができる。したが
って、従来のように、障害回線を測定する際に、フィル
タを回線毎に異なる間隔に設置することなく、効率よく
これら測定作業を行うことが可能である。また、この多
分岐光線路試験装置においては、該装置によって常に同
一の計測動作が行われるので、人が計測を行う場合と比
較して、客観性および信頼性がより高い計測を行うこと
が可能である。
【図１】 この発明の一実施形態による多分岐光線路試
験装置の構成例を示すブロック図である。
験装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】 いずれの分岐光ファイバにも障害が発生して
いない場合におけるＯＴＤＲ波形データ（リニア波形デ
ータ）の一例を示すグラフである。
いない場合におけるＯＴＤＲ波形データ（リニア波形デ
ータ）の一例を示すグラフである。
【図３】 本実施形態によるＯＴＤＲ波形データの解析
処理の一例を示すフローチャートである。
処理の一例を示すフローチャートである。
【図４】 いずれの分岐光ファイバにも障害が発生して
いない場合におけるＯＴＤＲ波形データ（対数波形デー
タ）の一例を示すグラフである。
いない場合におけるＯＴＤＲ波形データ（対数波形デー
タ）の一例を示すグラフである。
【図５】 いずれの分岐光ファイバにも障害が発生して
いない場合における減衰定数とその判断の一例を示す図
表である。
いない場合における減衰定数とその判断の一例を示す図
表である。
【図６】 障害発生点の一例を示すブロック図である。
【図７】 分岐光ファイバＦＢ３で障害が発生した場合
におけるＯＴＤＲ波形データ（リニア波形データ）の一
例を示すグラフである。
におけるＯＴＤＲ波形データ（リニア波形データ）の一
例を示すグラフである。
【図８】 分岐光ファイバＦＢ３で障害が発生した場合
におけるＯＴＤＲ波形データ（対数波形データ）の一例
を示すグラフである。
におけるＯＴＤＲ波形データ（対数波形データ）の一例
を示すグラフである。
【図９】 分岐光ファイバＦＢ３で障害が発生した場合
における減衰定数とその判断の一例を示す図表である。
における減衰定数とその判断の一例を示す図表である。
【図１０】 従来の多分岐光線路試験装置の構成例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図１１】 従来の多分岐光線路試験装置によって観測
される応答光の波形例を示すグラフである。
される応答光の波形例を示すグラフである。
【図１２】 図１１に示す応答光のうち光ファイバｆｂ
６〜ｆｂ８に対応する反射光の波形を拡大して示したグ
ラフである。
６〜ｆｂ８に対応する反射光の波形を拡大して示したグ
ラフである。
ＭＳ１……ＯＴＤＲ測定器、 ＳＷ１……メモリ、ＦＢ
１〜ＦＢ４……分岐光ファイバ、 ＥＤ１〜ＥＤ４……
終端器、ＣＰ１……カプラ、 ＣＮ１〜ＣＮ５……コネ
クタ
１〜ＦＢ４……分岐光ファイバ、 ＥＤ１〜ＥＤ４……
終端器、ＣＰ１……カプラ、 ＣＮ１〜ＣＮ５……コネ
クタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清水 慶一 大阪府大阪市北区中之島３丁目３番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 篠崎 孝一 大阪府大阪市北区中之島３丁目３番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 元治 崇 大阪府大阪市北区中之島３丁目３番22号 関西電力株式会社内
Claims (8)
- 【請求項１】 複数の光線路に分岐した多分岐光線路の
分岐点に光パルスを導入する第１の過程と、 前記各光線路の各部における前記光パルスの反射光が重
なった応答光を受光する第２の過程と、 前記応答光を電気信号に変換した波形データを対数変換
する第３の過程と、 対数変換された波形データに対して、近似直線を計算す
る第４の過程と、 対数変換された波形データと前記近似直線とを比較し
て、前記波形データにおけるフレネル反射点を検出する
第５の過程と、 前記フレネル反射点を分割点として、前記波形データを
分割する第６の過程と、 分割された各範囲について減衰定数分離解析を行い、各
光線路の減衰定数を算出する第７の過程と、 算出した減衰定数を、測定時刻に対応させて記憶装置に
格納する第８の過程と、 前記第１の過程から前記第８の過程が一定時間毎に繰り
返し行われた後、前記記憶装置に格納されている減衰定
数に基づいて、前記多分岐光線路における障害発生時
刻，障害発生回線および障害発生距離を判断する第９の
過程とを具備することを特徴とする多分岐光線路試験方
法。 - 【請求項２】 請求項１記載の多分岐光線路試験方法に
おいて、 前記第３の過程における対数変換式は、 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ただし、ｘn は前記波形データ、ｙn は対数変換された
波形データであることを特徴とする多分岐光線路試験方
法。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２のいずれかに記
載の多分岐光線路試験方法において、 前記第５の過程は、対数変換された波形データと前記近
似直線との交点に基づいて、前記フレネル反射点を検出
することを特徴とする多分岐光線路試験方法。 - 【請求項４】 請求項１ないし請求項３のいずれかに記
載の多分岐光線路試験方法において、 前記第９の過程は、 前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、 減衰定数が変化すると、障害が発生したと判断し、 減衰定数が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断し、 減衰定数から反射ピークの距離を判断し、該反射ピーク
の距離が変化した光線路を障害発生回線と判断し、 変化後の反射ピークの距離を障害発生距離と判断するこ
とを特徴とする多分岐光線路試験方法。 - 【請求項５】 複数の光線路に分岐した多分岐光線路の
分岐点に光パルスを導入する発光手段と、 前記各光線路の各部における前記光パルスの反射光が重
なった応答光を受光する受光手段と、 前記応答光を電気信号に変換した波形データを対数変換
する変換手段と、 対数変換された波形データに対して、近似直線を計算す
る近似手段と、 対数変換された波形データと前記近似直線とを比較し
て、前記波形データにおけるフレネル反射点を検出する
比較手段と、 前記フレネル反射点を分割点として、前記波形データを
分割する分割手段と、 分割された各範囲について減衰定数分離解析を行い、各
光線路の減衰定数を算出する解析手段と、 算出した減衰定数を、測定時刻に対応させて記憶装置に
格納する書込手段と、 前記各手段による処理が一定時間毎に繰り返し行われた
後、前記記憶装置に格納されている減衰定数に基づい
て、前記多分岐光線路における障害発生時刻，障害発生
回線および障害発生距離を判断する判断手段とを具備す
ることを特徴とする多分岐光線路試験装置。 - 【請求項６】 請求項５記載の多分岐光線路試験装置に
おいて、 前記変換手段における対数変換式は、 ｙn ＝５ｌｏｇ（ｘn ） ただし、ｘn は前記波形データ、ｙn は対数変換された
波形データであることを特徴とする多分岐光線路試験装
置。 - 【請求項７】 請求項５または請求項６のいずれかに記
載の多分岐光線路試験装置において、 前記比較手段は、対数変換された波形データと前記近似
直線との交点に基づいて、前記フレネル反射点を検出す
ることを特徴とする多分岐光線路試験装置。 - 【請求項８】 請求項５ないし請求項７のいずれかに記
載の多分岐光線路試験装置において、 前記判断手段は、 前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、 減衰定数が変化すると、障害が発生したと判断し、 減衰定数が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断し、 減衰定数から反射ピークの距離を判断し、該反射ピーク
の距離が変化した光線路を障害発生回線と判断し、 変化後の反射ピークの距離を障害発生距離と判断するこ
とを特徴とする多分岐光線路試験装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06013198A JP3527844B2 (ja) | 1998-03-11 | 1998-03-11 | 多分岐光線路試験方法および装置 |
| US09/261,835 US6512610B1 (en) | 1998-03-11 | 1999-03-03 | Device and method for testing of multi-branch optical network |
| DE19910867A DE19910867A1 (de) | 1998-03-11 | 1999-03-11 | Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines optischen Mehrfachverzweigungs-Netzwerks |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06013198A JP3527844B2 (ja) | 1998-03-11 | 1998-03-11 | 多分岐光線路試験方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11258181A true JPH11258181A (ja) | 1999-09-24 |
| JP3527844B2 JP3527844B2 (ja) | 2004-05-17 |
Family
ID=13133285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06013198A Expired - Fee Related JP3527844B2 (ja) | 1998-03-11 | 1998-03-11 | 多分岐光線路試験方法および装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6512610B1 (ja) |
| JP (1) | JP3527844B2 (ja) |
| DE (1) | DE19910867A1 (ja) |
Families Citing this family (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2321915C (en) * | 1998-02-23 | 2007-04-17 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Branch line monitoring system and branch line monitoring method |
| JP4055306B2 (ja) * | 1999-11-08 | 2008-03-05 | 富士通株式会社 | 伝送路の障害検出装置及び方法 |
| US6934655B2 (en) * | 2001-03-16 | 2005-08-23 | Mindspeed Technologies, Inc. | Method and apparatus for transmission line analysis |
| US6885954B2 (en) * | 2001-03-16 | 2005-04-26 | Mindspeed Technologies, Inc. | Sequence time domain reflectometry using complementary golay codes |
| US20030068024A1 (en) * | 2001-10-05 | 2003-04-10 | Jones William W. | Communication system activation |
| ITTO20020168A1 (it) * | 2002-02-28 | 2003-08-28 | Telecom Italia Lab Spa | Procedimento per il controllo automatico di fibre ottiche in reti ad albero. |
| DE60309572T2 (de) * | 2002-03-21 | 2007-07-05 | United Parcel Service Of America, Inc. | System zur Erfassung und Speicherung von Fahrzeugsensordaten |
| KR100566203B1 (ko) * | 2003-12-19 | 2006-03-29 | 삼성전자주식회사 | 자기 치유 수동형 광 가입자망 |
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