JPH0749288A - 光線路特性の自動解析方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光線路の接続損失、ケーブル損失、反射量、
これらの発生位置及び故障発生位置を求め、これらを表
示する光線路特性の自動解析方法を提供する。 【構成】 光線路特性の自動解析方法において、光パル
ス試験器の測定条件を対象線路に合わせて適切に設定し
た後測定し、得られたデータを、損失を座標データとし
てコンピュータに取り込み、ケーブル区間の損失、コネ
クタ接続位置における接続損失と反射量、融着接続位置
における接続損失、全線路損失を求め、求められたケー
ブル区間損失、接続損失、反射量、これらの発生位置、
全線路損失、故障位置を表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光パルス試験器を用い
光線路の光学特性を測定し、コンピュータを利用して測
定データの自動解析を行い、光線路の接続損失、ケーブ
ル損失、反射量、これらの発生位置及び故障発生位置を
求めて表示する方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光線路の接続位置や故障位置を自
動検出する方法に関する技術が開示されている（例え
ば、特願昭６２−２３８１３８号：光ファイバの欠陥位
置及び開放端位置の検出方法参照）。その開示された技
術のフローチャートを図１３に示す。この従来方法は、
図１３に示すように、ＯＴＤＲ波データの着目点を中心
に±Ｖτ／４だけ離れた位置間の差分を求め（ステップ
）、差分値がステップ状に急激に変化するか否かを判
定する（ステップ）。急激に変化する場合には、ステ
ップ状に変る位置Ｚｓより、Ｖτ／４だけ遠い位置を欠
陷位置または開放端位置とする（ステップ）。

【０００３】前記ステップの判定において、急激に変
化しない場合には、差分値が所定値より大きくなる距離
区間内で最大もしくは最小となる位置Ｚｐを求め（ステ
ップ）、位置ＺｐよりＶτ／４だけ入射端側に近い位
置を欠陷位置とする。

【０００４】前記図１３に示す従来方法の特徴は、測定
された光パルス試験器のデータ列について、適当に間隔
を有したデータの差分を求め、この差分データ列におい
て、所定値以上のデータ区間中で最大または最小となる
ピーク点から接続位置や故障位置を示す特異点が推定で
きるというものである。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】前記従来の特異点検出
方法では、通常光パルス試験器の測定データは、遠距離
ほど信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）が悪いため、しきい値の設
定をケーブル単位及び距離ごとに変える必要があり、そ
のための実験稼動またはプロクラムのパラメータ変更稼
働が大きくなるという問題があった。

【０００６】また、接続損失等を求める場合、解析結果
と実際の光線路における接続位置を示すデータベースと
の比較を人の手によって求めていたため、非能率であっ
た。

【０００７】本発明は、前記問題点を解決するためにな
されたものであり、本発明の目的は、光線路の光学特性
を測定して得られた測定データから光線路の接続損失、
ケーブル損失、反射量、これらの発生位置及び故障発生
位置を求め、これらを表示する光線路特性の自動解析方
法を提供することにある。

【０００８】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。

【０００９】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の（１）の手段は、光パルス試験器を用いて
光線路の光学特性を測定し、得られた測定データをコン
ピュータを使用して自動的に光線路の接続損失、ケーブ
ル損失、反射量、これらの発生位置及び異常発生位置を
求めて表示する光線路特性の自動解析方法において、光
パルス試験器の測定条件を対象線路に合わせて適切に設
定した後測定する第１の処理段階と、前記光パルス試験
器から得られたデータを、損失を表す縦軸Ｙと距離を表
す横軸Ｘを座標データ（Ｘｉ，Ｙｉ）としてコンピュー
タに取り込み、ケーブルフラグをＫとしたケーブルデー
タ列（Ｋ，Ｘｉ）を作成する第２の処理段階と、各座標
における微係数列（ｄＹｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）を作成する
第３の処理段階と、前記微係数列の符号がプラスまたは
零からマイナスへと変化する点をデータのピーク位置と
し、該ピークの位置を基準として近端方向及び遠端方向
にパルス幅区間の各ポイントの微係数（ｄＹｉ／ｄＸ
ｉ，Ｘｉ）が、ケーブルの場合と比較して誤差範囲内と
なる近端部分のポイント（ｆs）及び遠端部分のポイン
ト（ｆe）を求め、求めた該区間（ｆs〜ｆe）のケーブ
ルフラグをＦとしてケーブルデータ列を（Ｆ，Ｘｆs〜
ｆe）と書き換える第４の処理段階と、前記Ｘｆｓより
遠端側のデータＹがノイズレベル以下となる場合は、そ
のＸｆｓを線路の終端Ｌｅとし、ノイズレベル以下にな
らない場合は、最後のＸｆｓを線路の終端Ｌｅとする第
５の処理段階と、該終端Ｌｅがデータベース上の線路長
と計測誤差を含んで一致するかどうかを判定し、一致し
ない場合は、線路に故障ありと判断し、故障の表示及び
故障位置が終端Ｌｅであると表示する第６の処理段階
と、前記微係数列（ｄＹｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）の微係数が
ケーブルの場合より大きく変化する範囲（ｊｓ〜ｊｅ）
のケーブルフラグをＪとしてケーブルデータ列を（Ｊ，
Ｘｊｓ〜ｊｅ）と書き換える第７の処理段階と、前記Ｘ
ｊｓより遠端側のデータがノイズレベル以下でしかも前
記第５の処理段階で求めた終端Ｌｅより近端の場合、前
記Ｘｊｓを線路の終端Ｌｅとする第８の処理段階と、終
端Ｌｅがデータベース上の線路長と計測誤差を含んで一
致するかどうかを判定し、一致しない場合は、線路に故
障ありと判断し、故障の表示及び故障位置が終端Ｌｅで
あると表示する第９の処理段階と、ケーブルデータ例で
ケーブルフラグがＫとなる区間をケーブル区間、ケーブ
ルフラグがＦとなる各区間の最初の位置をコネクタ接続
位置、ケーブルフラグがＪとなる各区間の最初の位置を
融着接続位置とする第１０の処理段階と、前記ケーブル
区間の損失、コネクタ接続位置における接続損失と反射
量、融着接続位置における接続損失、全線路損失を求め
る第１１の処理段階と、該第１１の処理段階で求められ
たケーブル区間損失、接続損失、反射量、これらの発生
位置、全線路損失、故障位置を表示する第１２の処理段
階とを有することを特徴とする。

【００１０】本発明の（２）の手段は、前記（１）の手
段の第７及び第８の処理段階の替わりに、パルス幅に相
当する距離間隔のポイントの差分数列（ΔＹｉ，Ｘｉ）
を作成する第１３の処理段階と、前記で求めた差分数列
の微分係数列（ｄΔＹｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）を作成する第
１４の処理段階と、前記微分係数列の符号がマイナスま
たは零からプラスに及びプラスまたは零からマイナスに
変化する位置Ｘｋを求める第１５の処理段階と、前記Ｘ
ｋからパルス幅（ｐｗ）に相当する区間のケーブルフラ
グをＪとして、ケーブルデータ列を（Ｊ，Ｘｋ〜Ｘｋ＋
ｐｗ）とする第１６の処理、段階とを有することを特徴
とする。

【００１１】本発明の（３）の手段は、前記（１）また
は（２）の手段の第９及び第１０の処理段階の間に、予
め光線路の設計書よりつくられた線路の接続点情報が登
録されているデータベースを用いて、データベースから
接続点情報を読み込み、接続点データ列（ＳＦ，ＳＸ
ｉ）（ＳＪ，ＳＸｉ）を作成する第１７の処理段階と、
各接続点データに対して設備の誤差から許容区間を設定
し、解析で求めた接続点が各接続点の許容区間にいくつ
入るかを数える第１８の処理段階と、接続点の数が０の
区間は、接続点データ列の位置を接続点とし、接続点の
数が１の区間は解析で求めた接続点の位置を用い、接続
点の数が２以上の区間は距離と損失の関係を用いて接続
点を１つに絞り、ケーブルデータ列を書き換える第１９
の処理段階とを有することを特徴とする。

【００１２】

【作用】前述した手段によれば、光線路の特異点の検出
時に対象線路に特定したしきい値による判定を行う必要
がなく、また、信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）が悪くなる遠距
離部分においてもしきい値の設定をケーブル単位及び距
離ごとに変える必要がないため、線路特性に依存せず解
析することができ、更に、しきい値設定のための実験稼
働またはプログラムのパラメータ変更稼働を削減でき
る。また、接続損失等を求める場合、解析結果と実際の
光線路における接続位置を示すデータベースとを自動的
に対応させて解析することができる。

【００１３】

【実施例】以下、本発明による実施例を図面を参照して
詳細に説明する。

【００１４】（実施例１）図１は、本発明による光線路
特性の自動解析方法を実施するシステムの実施例１の構
成を示すブロック図であり、１は光パルス試験部、２-
１，２-２ａ，２-２ｂ，２-２ｃは光ファイバ、３-１，
３-１ａはコネクタ接続部、３-２ａ，３-２ｂは融着接
続部、４はデータバス、５は制御・演算部、６はデータ
処理部、７はデータベース、８は結果の表示部である。

【００１５】次に、前記光パルス試験部１の測定原理を
説明する。光ファイバに光を入射した場合、光ファイバ
の途中から入射端に戻ってくる光には、コネクタ接続点
等によるフレネル反射光、光ファイバ中で起こるレイリ
ー散乱の一部が光ファイバ入射端へと戻る後方散乱光が
ある。

【００１６】ここで、パルス発生器と半導体レーザによ
って得られた光パルスを光ファイバに入射すると、光フ
ァイバ中で発生した後方散乱光及びフレネル反射は、入
射端から各発生位置の距離に比例した時間後に入射端に
戻る。戻った光は受光素子で電気信号に変換することで
波形を求めることができる。本実施例１では、縦軸が光
パルス試験部１が受光した受光電力を対数変換しデシベ
ル（ｄＢ）で表示し、ここでは受光レベルと呼ぶ。横軸
は距離を示す。

【００１７】図２及び図３は、本実施例１の光線路特性
の自動解析方法の処理手順を示すフローチャートであ
る。

【００１８】本実施例１の光線路特性の自動解析方法を
図１、図２、図３を用いて説明する。

【００１９】まず、制御・演算部５において、以下に示
すように、光パルス試験条件を最適化し、光パルス試験
部１にデータバス４を経由して指示を与え、光パルス試
験を実施する。ここの部分は、図２におけるステップＳ
Ａ-１，ＳＡ-２にあたる。

【００２０】設定すべき主なパラメータは、距離レン
ジ、近端マスク、屈折率、光アッテネータ、パルス幅、
アベレージング回数である。距離レンジについては、デ
ータベース７上の距離に誤差分を考えた１.１５をかけ
た区間が測定できる最も短いレンジを使用する。近端マ
スクは、光パルス試験部１に接続するコネクタ種別に対
応して予め最適長を実験的に求めておく。屈折率は実験
的に各波長において距離誤差が少なくなるような値を求
め１.４８とする。

【００２１】光アッテネータは、測定波形の開始部分及
びコネクタからのフレネル反射部分が飽和しないように
設定する。パルス幅は、光パルス試験全体のダイナミッ
クレンジが対象線路損失以下にならない範囲でなるべく
分解能を良くするため小さい幅を設定する。アベレージ
ング回数は、光パルス試験全体のダイナミックレンジが
対象線路損失以下にならない範囲でなるべく少なく設定
する。光アッテネータＺ、パルス幅Ｐｗ、アベレージン
グ回数Ｎは、相互にシステムダイナミックレンジＤと関
係しており、これらの関係は、光パルス試験部のダイナ
ミックレンジをＤｏ、線路とのカップリング損失をＣ、
光パルス試験波形の損失分解能をＸとすると数１で表さ
れる。

【００２２】

【数１】D＝Do−C−5log(10X/5-1)−2.5log(N/218)＋10
log(Pw/1μs)−Z システムダイナミックレンジＤは、測定可能距離に相当
している。Ｄｏ、Ｃ、Ｄ、Ｘを一定とすると、数１を用
いて光アッテネータＺ、パルス幅Ｐｗ、アベレージング
回数Ｎの関係を計算することにより各パラメータを最適
にすることができる。

【００２３】次に、光パルス試験部１で測定したデータ
をデータ処理部６で解析を行う。動作手順としては、ス
テップＳＡ-３からステップＳＡ-１４となる。以下、こ
の手順について説明する。

【００２４】まず、光パルス波形データ（Ｙｉ，Ｘｉ）
をデータ処理部６に取り込む（ＳＡ-３）。ここで、Ｙ
ｉは受光レベル（ｄＢ）、Ｘｉは距離に対応するポイン
トである。実際の距離は、Ｘｉに１ポイントの距離ΔＬ
を掛けたものとなる。図１に示す光線路の光パルス試験
波形の測定例を図４に示す。データは点であるが通常Δ
Ｌが数メートルと小さいので表示上線として見える。同
図４で２-２ａ，２-２ｂ，２-２ｃ，２-２ｄはケーブル
区間、３-２ａ，３-２ｂは融着接続点、区間１２〜１
３，区間１６〜１７は融着接続点区間、３-１ａはコネ
クタ接続点、区間１４〜１５はコネクタ接続点区間、１
８は線路の端末点であり、コネクタ接続点及び線路の端
末点ではフレネル反射が生じている。

【００２５】近端マスク区間の補正は、図５を用いて説
明する。近端マスク区間はパルス幅及び距離レンジで決
まるため、近端マスク幅より遠端に予め決められた位置
mask１より、区間mask２ごとに最小二乗法を用いて傾き
を求め、区間mask２の傾きがケーブルの傾きの誤差範囲
を越える位置mask３を求める。そして、ケーブル区間ma
sk１からmask３までの区間の傾きmask４を最小二乗法に
よって求め、入射端からmask１の区間を傾きmask４のケ
ーブル区間としてデータ列（Ｙｉ，Ｘｉ）の補正を行
う。補正を行った波形例を図６に示す。

【００２６】次に、全区間のケーブルフラグをＫとし
て、ケーブルデータ列（Ｋ，Ｘｉ）を作成する（ステッ
プＳＡ-４）。ケーブルデータ列とはＸｉが示すポイン
トの設備の状態を示すものである。このステップＳＡ-
４では、ケーブル区間を示すケーブルフラグにＫを用い
て、初期設定としてすべての区間をケーブル区間とす
る。

【００２７】次に、各ポイントＸｉにおける微分係数ｄ
Ｙｉ／ｄＸｉを求め微係数列（ｄＹｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）
を作成する（ステップＳＡ-５）。ここで、微分係数ｄ
Ｙｉ／ｄＸｉは、Ｘｉの前後のポイントを用いて回帰直
線を計算し、その傾きとして求められる。次に、ｄＹｉ
／ｄＸｉの符号がプラスまたは零からマイナスへとノイ
ズレベル以上に大きく変化する点をピークとした区間Ｘ
ｆｓ及びＸｆｅを求める。

【００２８】この区間は、微係数列（ｄＹｉ／ｄＸｉ，
Ｘｉ）のプラスまたは零からマイナスへと変化する点を
データのピーク位置とし、ピークの位置を基準として近
端方向及び遠端方向にパルス幅区間のポイントの微係数
（ｄＹｉ／ｄＸｉ）が、ケーブル区間の微係数（ｄＹｉ
／ｄＸｉ）と比較して誤差範囲内となる近端部分のポイ
ントＸｆｓ及び遠端部分のポイントＸｆｅである。これ
を全データ区間について行いＸｆｓｎ、Ｘｆｅｎを求め
る。ただし、ｎ＝１，２，・・・となり、光線路開始位
置から見て、ｎは何番目の区間であるかを示す（ステッ
プＳＡ-６）。

【００２９】更に、前記で求めたフレネル反射区間Ｘｆ
ｓｎ〜Ｘｆｅｎのケーブルフラグをフレネル反射区間を
示すＦとし、前記区間のケーブルデータ列を（Ｆ，Ｘｆ
ｓｎ〜Ｘｆｅｎ）と書き換える（ステップＳＡ-７）。
この区間は、図４において、フレネル反射区間１４〜１
５、区間１８〜１９に相当する。従って、このステップ
ＳＡ-７でフレネル反射区間が検出することができる。

【００３０】次に、Ｘｆｓｎより遠端側のデータＹがノ
イズレベル以下となる区間がある場合はそのＸｆｓｎを
線路の終端Ｌｅとし、ノイズレベル以下となる区間がな
い場合は最後のＸｆｓｎを線路の終端Ｌｅとする（ステ
ップＳＡ-８）。次に、求めた線路の終端Ｌｅの位置が
データベース上の線路長と計測誤差を含んで一致するか
どうか判定する（ステップＳＡ-９）。もし、一致しな
い場合は、線路に故障ありと判断し、故障の表示及び故
障位置が終端Ｌｅであると表示をして終了する（ステッ
プＳＡ-１０）。一致した場合はステップＳＡ-１１に進
む。

【００３１】ステップＳＡ-１１では、ｄＹｉ／ｄＸｉ
の絶対値がケーブル区間の傾きより大きくなる区間をケ
ーブルフラグがＫである全データ区間で求め、前記で求
めた区間のケーブルフラグを融着区間を示すＪとし、前
記区間のケーブルデータを（Ｊ，Ｘｊｓｍ〜Ｘｊｅｍ）
と書き換える。ただし、ｍ＝１，２，・・・となり、光
線路開始位置から見て何番目の区間であるかをｍは示
す。この区間は、図４において、融着接続区間１２〜１
３，区間１６〜１７に相当する。従ってこのステップで
融着接続区間が検出できる。

【００３２】次に、Ｘｆｓｎより遠端側のデータＹがノ
イズレベル以下となる区間があり、しかも、そのＸｊｓ
ｍが図２のステップＳＡ-８で求めた終端Ｌｅより近端
の場合、Ｘｊｓｍを線路の終端Ｌｅとする（ステップＳ
Ａ-１２）。次に、求めた線路の終端Ｌｅが予めデータ
ベース上の線路長と計測誤差を含んで一致するかどうか
判定し（ステップＳＡ-１３）、もし、一致しない場合
は、線路に故障ありと判断し、故障の表示及び故障位置
が終端Ｌｅであると表示して終了する（ステップＳＡ-
１４）。一致した場合はステップＳＡ-１５に進む。

【００３３】ステップＳＡ-１５ではケーブルフラグが
Ｋの区間をケーブル区間、Ｆの区間をフレネル反射区
間、Ｊの区間を融着接続区間とし、Ｆの区間の開始ポイ
ントをコネクタ接続位置、Ｊの区間の開始ポイントを融
着接続位置とする。

【００３４】次に、ステップＳＡ-１６では、ステップ
ＳＡ-１５で求めた各接続点位置を用いてケーブル区間
損失、コネクタ及び融着接続損失、コネクタの反射量、
全線路損失を求める。以下にその手法を説明する。ま
ず、区間損失について、図８を参照して説明する。接続
点ｌｉ（ｌはＬの小文字）とｌｉ＋１の区間内に、接続
点による波形のみだれがなくなる区間ｌｉ’とｌｉ＋
１’の間の波形データを用いて最小自乗法による直線近
似を行う。その結果の式をｙ＝ａｘ＋ｂとすると、区間
損失（Ｓi-Ｓi+1）は（ａ＊ｌi-ａ＊ｌi+1）で求められ
る。

【００３５】次に、接続損失について図９を参照して説
明する。各ケーブル区間の中央の受光レベル{Ｓｍ(i i+
1)，(Ｓｍi+2 i+3,・・・}と区間損失値{(Ｓi−Ｓi+1)，
(Ｓi+2−Ｓi+3)，・・・}から接続損失Ｓloseを求め
る。これらは図９から次の関係式数２が成り立つ。

【００３６】

【数２】Ｓｍ(i i+1)−(Ｓｍi+2 i+3)＝{Si-(Si+1}/2＋
Sp＋{(Si+2)-(Si+3)}/2 従って、

【００３７】

【数３】接続損失Ｓlose＝Ｓｍ(i i+1)−(Ｓｍi+2 i+3)
−{Si-(Si+1)}/2−{(Si+2)-(Si+3)}/2 このような数３で求めることにより、接続点周辺の波形
データのばらつきの影響を少なくすることができる。

【００３８】次に、コネクタの反射量について図１０を
参照して説明する。コネクタ接続位置ｌｃｉにおけるケ
ーブル区間の近似直線の受光レベルＳｃｉとコネクタ接
続位置ｌｃｉにおけるフレネル反射のピーク値Ｓｆｉと
のレベル差（Ｓｃｉ-Ｓｆｉ）をコネクタの反射量とし
て求める。また、全線路損失は、これまでに求めた各ケ
ーブル区間損失、コネクタ接続損失、融着接続損失をす
べて加えて求める。

【００３９】最後に、ステップＳＡ-１７で解析結果と
して各ケーブル区間損失、全線路損失、コネクタ接続損
失、融着接続損失、反射量、及び接続点位置を表示し
て、解析を終了する。

【００４０】（実施例２）本発明の実施例２は、実施例
１の光パルス試験部１で測定したデータをデータ処理部
６で解析を行う、図２及び図３に示すフローにおけるス
テップＳＡ-１１及びＳＡ１２を、図１１に示す新たな
データ解析フローにおけるステップＳＢ-１からＳＢ-５
と交換したものである。

【００４１】本発明の実施例２の解析の手順としては、
図２のステップＳＡ-９が終了した後、図１１のステッ
プＳＢ-１へと進み、以下、ステップＳＢ-１からＳＢ-
５を説明する。なお、ステップＳＡ-３からＳＡ-１０ま
では、実施例１で説明されているので、ここでの説明は
省略する。

【００４２】ステップＳＡ-９終了後、図１１に示すス
テップＳＢ-１に進み、パルス幅(ｐｗ)に相当する距離
間隔で各ポイントについてのデータＹの差分を求め、差
分数列(ΔＹｉ，Ｘｉ)を作成する。次に、差分関数列の
微分係数ｄΔＹｉ／ｄＸｉを求め、微分係数列（ｄΔＹ
ｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）を作成する（ステップＳＢ-２）。
前記求めた差分波形を図７に示す。

【００４３】次に、ｄΔＹｉ／ｄＸｉの符号がマイナス
または零からプラスに若しくはプラスまたは零からマイ
ナスへとノイズレベル以上に大きく変化する点をケーブ
ル区間がＫとなる全データ区間で求め、(Ｘｋｌ，Ｘｉ)
とする。ただし、ｌ＝１，２・・・（ｌはＬの小文字）と
なり、光線路開始位置から見て、何番目の区間であるか
をｌは示す(ステップＳＢ-３)。さらに前記で求めたＸ
ｋｌからパルス幅に相当する区間(ｐｗ)についてケーブ
ルデータ列を（Ｊ，Ｘｋｌ〜Ｘｋ+ｐｗｌ）とする(ＳＢ
-４)。この区間は、図４において融着区間（１２〜１
３），(１６〜１７)に相当する。従って、このステップ
ＳＢ-３で融着接続区間を検出することができる。

【００４４】次に、ケーブルデータ列においてＸｋｌま
たはＸｋ+ｐｗｌより遠端側のデータＹがノイズレベル
以下でしかもＸｋｌがステップＳＡ-８で求めた終端Ｌ
ｅより近端の場合、Ｘｋｌを線路の終端Ｌｅとする（ス
テップＳＢ-５）。ステップＳＢ-５が終了した後、図３
に示すステップＳＡ-１３へ進む。ステップＳＡ-１３以
降の処理は前記実施例１と同様である。

【００４５】本実施例２は、融着接続検出において、差
分間隔がパルス幅に相当する差分関数列の微分係数列を
用いることで融着接続区間を検出しているが、前記実施
例１と比べてノイズの影響を受けにくくなり精度がよく
検出することができる。

【００４６】（実施例３）本発明の実施例３は、前記実
施例１及び実施例２で求められた融着区間及びフレネル
反射区間と光線路の建設時の設計書より作られた線路の
データベースを用いて、図３に示すフローのステップＳ
Ａ-１３とステップＳＡ-１５の間に付け加えられる。以
下、図１２を用いて説明をする。

【００４７】データベースより接続点情報を読み込み、
接続点データ列（ＳＦ，ＳＸｉｆｎ）（ＳＪ，ＳＸｉｊ
ｎ）を作成する。ただし、ｆｎ＝１，２・・・、ｊｎ＝
１，２・・・となり、光線路開始位置から見て、何番目
のコネクタ接続点であるかをｆｎは示し、何番目の融着
接続点かをｊｎは示す。このＳＦはコネクタ接続を示す
ケーブルフラグで、ＳＸｉのポイントの位置にあること
を示す。また、ＳＪは融着接続を示すケーブルフラグ
で、ＳＸｉのポイントの位置にあることを示す（ＳＣ-
１）。

【００４８】次に、各接続点データに対して設備の誤差
から許容区間を設定し、解析で求めた接続点が各接続点
の許容区間にいくつ入るかを数える。許容範囲は設備デ
ータの信頼性によって決められる（ステップＳＣ-
２）。

【００４９】次に、ステップＳＣ-３に進み、解析で求
めた接続点の数が０の区間では、接続点データの位置を
接続点としてケーブルデータ列を書き換える。ステップ
ＳＣ-４では解析で求めた接続点の数が１つの区間で
は、求めた接続点を用いて、ケーブルデータ列を書き換
える。次に、ステップＳＣ-５に進み、解析で求めた接
続点の数が２以上の区間では、距離と損失の関係を用い
て接続点を１つに絞り、他の部分はケーブルノイズの影
響によって発生したものとみなし、ケーブルデータ列を
書き換える。なお、距離と損失の関係は数４を用いて表
され、Ａが最大となる求めた接続点を用いる。

【００５０】

【数４】Ａ＝（｜設備データのポイント-求めた接続点
のポイント｜×Ｂ）×｛（求めた接続点の損失-Ｃ）＾
Ｄ＊Ｅ｝ 数４に使われているＢ、Ｃ、Ｄ、Ｅの各係数は、実験室
等で測定したデータから求めることができる。

【００５１】本実施例３では、線路のデータベースを用
いることにより、ノイズ等の影響で間違えて接続点とみ
なしたものを除くことが可能になる。

【００５２】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前
記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能であることは勿論であ
る。

【００５３】

【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、接続点の検出に微分係数の符号の変化を用いるた
め、従来の方法のようにしきい値の設定をケーブル単位
及び距離ごとに変える必要がないので、しきい値の設定
のための実験稼働またはプロクラムのパラメータ変更稼
働を減少することができる。

【００５４】また、パラメータの設定が少ないため解析
の高速化を図ることができる。

【００５５】また、解析結果と実際の光線路における接
続位置を示すデータベースとを自動的に対応させて解析
することにより、解析の稼働を減少することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明による光線路特性の自動解析方法を実
施するシステムの実施例１のシステム構成を示すブロッ
ク図、

【図２】 本実施例１の光線路特性の自動解析方法の処
理手順を示すフローチャート、

【図３】 図２に示すフローチャートの続き、

【図４】 本実施例１の光パルス試験波形の例を示す
図、

【図５】 本実施例１の近端マスク間の補正を説明する
ための図、

【図６】 本実施例１の近端マスク間を補正した光パル
ス試験波形の例を示す図、

【図７】 本実施例２の光パルス試験波形の差分波形の
例を示す図、

【図８】 本実施例１の区間損失を求める説明図、

【図９】 本実施例１の区間損失を求める説明図、

【図１０】 本実施例のコネクタの反射量を求める説明
図、

【図１１】 本発明の実施例２の光線路特性の自動解析
方法の処理手順を示すフローチャート、

【図１２】 本発明の実施例３の光線路特性の自動解析
方法の処理手順を示すフローチャート、

【図１３】 従来の接続点検出手順を示すフローチャー
ト。

【符号の説明】

１…光パルス試験部、２-１，２-２ａ，２-２ｂ，２-２
ｃ，２-２ｄ…光ファイバ、３-１，３-１ａ…コネクタ
接続部、３-２ａ，３-２ｂ…融着接続部、４…データバ
ス、５…制御・演算部、６…データ処理部、７…データ
ベース、８…結果の表示部。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 跡部 直之 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 長崎 隆 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光パルス試験器を用いて光線路の光学特
   性を測定し、得られた測定データをコンピュータを使用
   して自動的に光線路の接続損失、ケーブル損失、反射
   量、これらの発生位置及び異常発生位置を求めて表示す
   る光線路特性の自動解析方法において、 光パルス試験器の測定条件を対象線路に合わせて適切に
   設定した後測定する第１の処理段階と、 前記光パルス試験器から得られたデータを、損失を表す
   縦軸Ｙと距離を表す横軸Ｘを座標データ（Ｘｉ，Ｙｉ）
   としてコンピュータに取り込み、ケーブルフラグをＫと
   したケーブルデータ列（Ｋ，Ｘｉ）を作成する第２の処
   理段階と、 各座標における微係数列（ｄＹｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）を作
   成する第３の処理段階と、 前記微係数列の符号がプラスまたは零からマイナスへと
   変化する点をデータのピーク位置とし、該ピークの位置
   を基準として近端方向及び遠端方向にパルス幅区間の各
   ポイントの微係数（ｄＹｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）が、ケーブ
   ルの場合と比較して誤差範囲内となる近端部分のポイン
   ト（ｆs）及び遠端部分のポイント（ｆe）を求め、求め
   た該区間（ｆs〜ｆe）のケーブルフラグをＦとしてケー
   ブルデータ列を（Ｆ，Ｘｆs〜ｆe）と書き換える第４の
   処理段階と、 前記Ｘｆｓより遠端側のデータＹがノイズレベル以下と
   なる場合は、そのＸｆｓを線路の終端Ｌｅとし、ノイズ
   レベル以下にならない場合は、最後のＸｆｓを線路の終
   端Ｌｅとする第５の処理段階と、 該終端Ｌｅがデータベース上の線路長と計測誤差を含ん
   で一致するかどうかを判定し、一致しない場合は、線路
   に故障ありと判断し、故障の表示及び故障位置が終端Ｌ
   ｅであると表示する第６の処理段階と、 前記微係数列（ｄＹｉ／ｄＸｉ，Ｘｉ）の微係数がケー
   ブルの場合より大きく変化する範囲（ｊｓ〜ｊｅ）のケ
   ーブルフラグをＪとしてケーブルデータ列を（Ｊ，Ｘｊ
   ｓ〜ｊｅ）と書き換える第７の処理段階と、 前記Ｘｊｓより遠端側のデータがノイズレベル以下でし
   かも前記第５の処理段階で求めた終端Ｌｅより近端の場
   合、前記Ｘｊｓを線路の終端Ｌｅとする第８の処理段階
   と、 終端Ｌｅがデータベース上の線路長と計測誤差を含んで
   一致するかどうかを判定し、一致しない場合は、線路に
   故障ありと判断し、故障の表示及び故障位置が終端Ｌｅ
   であると表示する第９の処理段階と、 ケーブルデータ例でケーブルフラグがＫとなる区間をケ
   ーブル区間、ケーブルフラグがＦとなる各区間の最初の
   位置をコネクタ接続位置、ケーブルフラグがＪとなる各
   区間の最初の位置を融着接続位置とする第１０の処理段
   階と、 前記ケーブル区間の損失、コネクタ接続位置における接
   続損失と反射量、融着接続位置における接続損失、全線
   路損失を求める第１１の処理段階と、 該第１１の処理段階で求められたケーブル区間損失、接
   続損失、反射量、これらの発生位置、全線路損失、故障
   位置を表示する第１２の処理段階とを有することを特徴
   とする光線路特性の自動解析方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の第７及び第８の処理段階
   の替わりに、パルス幅に相当する距離間隔のポイントの
   差分数列（ΔＹｉ，Ｘｉ）を作成する第１３の処理段階
   と、前記で求めた差分数列の微分係数列（ｄΔＹｉ／ｄ
   Ｘｉ，Ｘｉ）を作成する第１４の処理段階と、前記微分
   係数列の符号がマイナスまたは零からプラスに及びプラ
   スまたは零からマイナスに変化する位置Ｘｋを求める第
   １５の処理段階と、前記Ｘｋからパルス幅（ｐｗ）に相
   当する区間のケーブルフラグをＪとして、ケーブルデー
   タ列を（Ｊ，Ｘｋ〜Ｘｋ＋ｐｗ）とする第１６の処理段
   階とを有することを特徴とする光線路特性の自動解析方
   法。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載されてい
   る第９及び第１０の処理段階の間に、予め光線路の設計
   書よりつくられた線路の接続点情報が登録されているデ
   ータベースを用いて、データベースから接続点情報を読
   み込み、接続点データ列（ＳＦ，ＳＸｉ）（ＳＪ，ＳＸ
   ｉ）を作成する第１７の処理段階と、各接続点データに
   対して設備の誤差から許容区間を設定し、解析で求めた
   接続点が各接続点の許容区間にいくつ入るかを数える第
   １８の処理段階と、接続点の数が０の区間は、接続点デ
   ータ列の位置を接続点とし、接続点の数が１の区間は解
   析で求めた接続点の位置を用い、接続点の数が２以上の
   区間は距離と損失の関係を用いて接続点を１つに絞り、
   ケーブルデータ列を書き換える第１９の処理段階とを有
   することを特徴とする光線路特性の自動解析方法。