JP2000019065A

JP2000019065A - Ｏｔｄｒ波形データの自動解析方法

Info

Publication number: JP2000019065A
Application number: JP10190822A
Authority: JP
Inventors: Takao Minami; 隆生南; Nobunari Takeuchi; 伸成竹内; Keiichi Shimizu; 慶一清水; Takashi Ganji; 崇元治
Original assignee: Kansai Electric Power Co Inc; Ando Electric Co Ltd
Current assignee: Kansai Electric Power Co Inc; Ando Electric Co Ltd
Priority date: 1998-07-06
Filing date: 1998-07-06
Publication date: 2000-01-21

Abstract

(57)【要約】【課題】多分岐光伝送路から得られるＯＴＤＲ波形デ
ータに基づいて障害回線及び障害距離を自動的に検出す
ることができるＯＴＤＲ波形データの自動解析方法を提
供すること。【解決手段】多分岐光線路へ光パルスを入射させ、反
射される光を測定し（ステップＳ１０）、この測定結果
からフレネル反射点・接続点を検出し、検出されたフレ
ネル反射点・接続点を分割点として、測定結果を分割し
（ステップＳ３０）、分割された測定結果の各範囲につ
いて移動分離解析を行い（ステップＳ５０）、各範囲各
々に対して、前記移動分離解析の解析結果から光線路の
本数を判断し（ステップＳ７０）、ステップＳ１０から
ステップＳ７０を繰り返し行って得られる光線路の本数
の変化によって障害の発生を検出する（ステップＳ８
０）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＯＴＤＲ波形デー
タの自動解析方法に係り、特に多分岐光伝送路の障害発
生時間や障害回線及び障害発生箇所の距離を測定するＯ
ＴＤＲ波形データの自動解析方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７は、従来の多分岐光線路試験装置の
全体構成を示す図である。この多分岐光線路試験装置
は、１．３１／１．５５μｍ帯の波長を通信用の波長と
して用い、波長多重伝送路として設けられた８分岐形光
線路の故障の試験を行うものである。図７において、Ｏ
ＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）測定器
１からの試験光（１．６μｍ帯）はカプラ２を介し光線
路３へ入射し、スターカプラ４によって分岐された後、
光ファイバＮｏ１〜Ｎｏ８に分配される。これらの各光
ファイバＮｏ１〜Ｎｏ８のＯＮＵ（Optical Network Un
it：加入者ネットワーク装置）の手前の箇所には、フィ
ルタ４１〜４８が各々設けられている。これらのフィル
タ４１〜４８は、各ＯＮＵに対する光信号のみを通過さ
せ、試験光は反射する通過帯域特性を有している。

【０００３】したがって、光ファイバＮｏ１〜Ｎｏ８を
進んできた各試験光は、これらのフィルタ４１〜４８に
よって反射され、各フィルタからの反射光が光フィルタ
４１〜４８を逆戻りすることとなる。そして、これらの
反射光はスターカプラ４を通過することにより合波さ
れ、カプラ２を介して応答光としてＯＴＤＲ測定器１に
戻される。このようにして戻された応答光がＯＴＤＲ測
定器１によって解析される。

【０００４】図８は、このＯＴＤＲ測定器１によって観
測される応答光の波形例を示すグラフである。図８に示
す波形は、上記応答光の時系列的変化を示すものである
が、図８では、応答光の伝搬時間に光の伝送速度を乗じ
た値（すなわち、応答光が伝搬してきた光ファイバの長
さ）を横軸としている。ここで、応答光は、各フィルタ
４１〜４８からの反射光が合波されたものであるが、こ
れらのフィルタはＯＴＤＲ測定器１からの距離が異なっ
た位置に設けられている。従って、ＯＴＤＲ測定器１に
よって観測される各フィルタ４１〜４８からの反射光は
時間軸上において重ならず、各々分離して観測されるこ
ととなる。図８中において、最も左側に示された波形Ｒ
がスターカプラからの反射光であり、これから右側に向
かって順に、光ファイバＮｏ１〜Ｎｏ８を介してＯＴＤ
Ｒ測定器１に戻される反射光の波形が表示されている。

【０００５】図９（ａ），（ｂ）は、ＯＴＤＲ測定器１
によって観測される反射光のうち光ファイバＮｏ６〜Ｎ
ｏ８を介して戻ってきた各反射光の波形を拡大して示し
たものであり、図９（ａ）は、いずれの光ファイバにも
故障が生じていない場合、図９（ｂ）は、光ファイバＮ
ｏ７に３ｄＢの曲げ損失を付与して故障を模擬した場合
を各々示している。

【０００６】これらの図に示すように、光ファイバＮｏ
７については、故障を模擬的に生じさせたことにより反
射光の強度の低下が生じていることが分かる。このよう
に、図７に示す構成によれば、ＯＴＤＲ測定器１に戻っ
てくる応答光中の各反射光の強度を解析することにより
光線路に生じた故障を検出することができるのである。
なお、この技術については、１９９４年電子情報通信学
会秋期大会における論文Ｂ−８４６「分岐形光線路の
１．６ｍ帯故障切り分け試験技術」に開示されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の多分岐光線路の故障切り分けの試験系では、光線路
の故障回線だけ検出できる。つまり、故障が発生した回
線を特定できる。しかしながら、故障回線の故障が生じ
た点の距離が検出できないという問題がある。さらに、
スターカプラ４からフィルタ４１〜４８までの間隔をそ
れぞれ異なるように設置しなければならないのでファイ
バ長が制限されてしまうという問題がある。上記のよう
に、スターカプラ４からフィルタ４１〜４８までの間隔
をそれぞれ異なるように設置する場合には、それぞれの
フィルタを構成するシステムのコストを考えれば実際上
実用化が困難である。

【０００８】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、多分岐光伝送路から得られるＯＴＤＲ波形デー
タに基づいて障害回線及び障害距離を自動的に検出する
ことができるＯＴＤＲ波形データの自動解析方法を提供
することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、多分岐光線路へ光パルスを入射させ、反
射される光を測定する第１のステップと、前記第１のス
テップにおける測定結果からフレネル反射点・接続点を
検出する第２のステップと、前記第２のステップで検出
されたフレネル反射点・接続点を分割点として、前記測
定結果を分割する第３のステップと、分割された前記測
定結果の各範囲について移動分離解析を行う第４のステ
ップと、前記各範囲各々に対して、前記移動分離解析の
解析結果から光線路の本数を判断する第５のステップ
と、前記第１のステップから前記第５のステップを繰り
返し行って得られる前記光線路の本数の変化によって障
害の発生を検出する第６のステップとを具備することを
特徴とする。また、本発明は、前記第６のステップが、
光線路の本数の変化があった箇所を障害発生箇所として
検出することを特徴とする。また、本発明は、前記移動
分離解析が、前記測定結果の各範囲に対して所定の幅を
有する分離解析幅を設定し、当該分離解析幅で指定され
る範囲の中心点を、前記測定結果の各範囲全てにわたっ
て移動させながら分離解析を行うことを特徴とする。ま
た、本発明は、前記第３のステップが、前記測定結果を
分割した後に雑音を除去するステップを有することを特
徴とする。また、本発明は、前記第２のステップが、前
記測定結果を対数変換した後、前記フレネル反射点・接
続点を検出することを特徴とする。また、本発明は、前
記第６のステップが、光線路の本数の変化があった時間
を障害発生時間として検出することを特徴とする。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態について詳細に説明する。図１は、本発明の一
実施形態によるＯＴＤＲ波形データの自動解析方法が適
用される多分岐光線路試験装置の構成例を示すブロック
図である。図１において、５０はＯＴＤＲ測定器であ
り、５２はデータ解析を行う為のソフトウェアが格納さ
れたメモリ、当該ソフトウェアを実行してＯＴＤＲ測定
器５０を制御し、ＯＴＤＲ測定器５０によって得られた
測定結果を解析する制御部等を備えた制御装置である。

【００１１】上記ＯＴＤＲ測定装置５０は、レーザ光を
出射する光出射端を備えている。５４はこの光出射端と
光ファイバ５６とを接続する光コネクタであり、光ファ
イバ５６の他端は光カプラ５８と接続されている。光カ
プラ５８は光ファイバ５６から入射されるレーザ光を光
ファイバ６０ａ及び光ファイバ６０ｂへ分岐し、逆に光
ファイバ６０ａ及び光ファイバ６０ｂから入射される光
を合波して光ファイバ５６へ出射する。

【００１２】６２ａは光ファイバ６０ａと分岐光ファイ
バ６４ａとを接続する光コネクタであり、６２ｂは光フ
ァイバ６０ｂと分岐光ファイバ６４ｂとを接続する光コ
ネクタである。また、６６ａは分岐光ファイバ６４ａの
終端器であり、６６ｂは分岐光ファイバ６４ｂの終端器
である。

【００１３】上記光カプラ５８、分岐光ファイバ６４
ａ，６４ｂ、及び終端点６６ａ，６６ｂは、本実施形態
における試験対象を構成している。そして、上記試験対
象に対し、光カプラ５８を介して接続されたＯＴＤＲ測
定器５０及びＯＴＤＲ測定器５０を制御するためのソフ
トウェアを格納したメモリ等が備えられた制御装置５２
が、本実施形態における多分岐光線路試験装置を構成し
ている。なお、図１には図示されていないが、本多分岐
光線路試験装置は、ＯＴＤＲ測定器５０の測定結果を記
憶する大容量の測定結果記憶装置、例えばハードディス
ク等を有している。

【００１４】次に、上記構成による多分岐光線路試験装
置の測定時の動作について説明する。まず、ＯＴＤＲ測
定器５０から光パルスが出射されると、出射された光パ
ルスは光コネクタ５４及び光ファイバ５６を介して光カ
プラ５８へ入射する。光カプラ５８へ入射した光パルス
は光カプラ５８で分岐され、分岐光は光ファイバ６０ａ
及び光ファイバ６０ｂへ各々入射する。

【００１５】分岐光は光ファイバ６０ａ及び光ファイバ
６０ｂ内を各々伝搬し、光コネクタ６２ａ，６２ｂを介
して、分岐光ファイバ６４ａ，６４ｂへ各々入射する。
光パルスが分岐光ファイバ６４ａ，６４ｂ内を伝搬する
際に後方散乱光が生じ、この後方散乱光は光パルスが伝
搬する方向と反対の方向に伝搬する。各々の分岐光ファ
イバ６４ａ，６４ｂ内で生じた後方散乱光はカプラ５８
によって合波され、光ファイバ５６及び光コネクタ５４
を介して応答光としてＯＴＤＲ測定器５０へ入射する。

【００１６】この応答光は、ＯＴＤＲ測定器５０内部
で、そのレベルに応じた電気信号に変換され、標本化及
び量子化されてディジタル信号に変換される。変換され
たディジタル信号は、ＯＴＤＲ波形データとして制御装
置内に設けられたメモリに保存される。

【００１７】図２は、分岐光ファイバ６４ａ，６４ｂの
何れにも障害が発生していない場合におけるＯＴＤＲ波
形データの一例を示す図である。図２において、図中の
横軸は距離を示し、横軸上において各データを示す点
（ポイント）は、１点が２［ｍ］に対応している。すな
わち、例えば、２００００ポイントは、４０ｋｍ（＝２
［ｍ］x２００００）に対応する。

【００１８】また、この図において、縦軸は各分岐光フ
ァイバ６４ａ，６４ｂの後方散乱光のレベルを示す。な
お、図２に示されたＯＴＤＲ波形データは、各分岐光フ
ァイバ６４ａ，６４ｂの後方散乱光が様々に重なった波
形であることを示している。更に、図２において、符号
Ｅ１が付されたスパイク状の波形は、分岐光ファイバ６
４ａに入射した光パルスが分岐光ファイバ６４ａの終端
器６６ａにおいてフレネル反射されて得られる波形であ
り、符号Ｅ２が付されたスパイク状の波形は、分岐光フ
ァイバ６４ｂに入射した光パルスが分岐光ファイバ６４
ｂの終端器６６ｂにおいてフレネル反射されて得られる
波形である。また、図２において符号Ｃ１が付されたス
パイク状の波形は、光カプラ５８に入射する光パルスが
フレネル反射されることによって得られる波形である。

【００１９】次に、上述した動作によって得られた測定
結果から障害回線及び障害距離を自動的に検出すること
ができる本発明の一実施形態によるＯＴＤＲ波形データ
の自動解析方法について説明する。図３は、本発明の一
実施形態によるＯＴＤＲ波形データの自動解析方法の手
順の一例を示す流れ図である。

【００２０】ステップＳ１０の処理は、上述のように、
受光信号をディジタル・データに変換する処理である。
操作者の操作によって解析処理の開始が指示された場
合、又は上述した測定が終了するとステップＳ２０へ進
む。まず、ステップＳ２０では、ＯＴＤＲ波形データを
対数変換して直線化する処理が行われる。この処理は、
一般的なＯＴＤＲ測定データが指数関数的に減少するデ
ータであるので、取扱いを簡便にするために行われる処
理である。

【００２１】本実施形態においては、ステップＳ２０で
行われる対数変換は以下の（１）式に基づいて行われ
る。ｙ_n＝５・ｌｏｇ（ｘ_n）・・・・・（１）ここで、上記（１）式において変数ｘ_nは、ＯＴＤＲ測
定器５０によって受光される後方散乱光のレベル（光パ
ワー）を示す。また、変数ｘ_nの添え字ｎ（ｎ＝１，
２，３，…，２００００）は、図２に示すグラフの横軸
上における各ポイントを識別するために用いられる添え
字である。つまり、変数ｘ₁は、図２に示すグラフにお
ける２［ｍ］（＝２ｍ×１）の地点において生じた後方
散乱光のレベルを示し、ｘ₂₀₀₀₀は、４０ｋｍ（＝２
［ｍ］x２００００）の地点において生じた後方散乱光
のレベルを示す。

【００２２】上記（１）式によって、２００００個のＯ
ＴＤＲ測定データは、２００００個の波形データｙ_nに
変換される。図４は、図２に示すＯＴＤＲ測定データを
対数変換して得られる波形を示す図である。図４に示さ
れたように、図２中において指数的に減少している箇所
（例えば、図２中において符号Ｌ１〜Ｌ３が付された区
間）は直線化される。尚、図４において、図２に示され
たステップ状の波形に対応する部分には、図２中で用い
た符号と同一の符号が付してある。

【００２３】ステップＳ２０の処理が終了するとステッ
プＳ３０へ進む、ステップＳ３０では、直線化した波形
からスパイク状の波形を検出することにより、フレネル
反射点及び光ファイバの接続点を検出する処理が行われ
る。つまり、図４を参照して説明すると、図４中におい
て符号Ｌ１〜Ｌ３が付された区間は連続した値を有する
が、符号Ｃ１，Ｅ１，Ｅ２が付された箇所は波形がスパ
イク状となり不連続である。つまり、ステップ３０で
は、波形の不連続点を検出する処理が行われ、これらの
点を分割点として、図４に示すＯＴＤＲ波形データを分
割する。その結果符号Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３が付された区間
は、それぞれ分割された区間となる。

【００２４】ステップＳ４０では、ステップＳ３０で分
割された区間について波形に畳重しているノイズを除去
する処理が行われる。ステップＳ４０の処理が終了する
とステップＳ５０へ進み、移動分離解析処理が行われ
る。ここで、ステップＳ５０で行われる移動分離解析処
理について図５を参照して説明する。図５は、移動分離
解析処理を説明するための図である。尚、図５では、図
４中の区間Ｌ３に対して移動分離解析処理を行う場合を
例に挙げて説明する。

【００２５】移動分離解析処理とは、要約すると図３中
のステップＳ３０で分割した各区間に含まれる分岐光フ
ァイバの本数を解析する処理である。この処理は、図４
に示された対数変換して得られた波形に基づいて、区間
Ｌ１〜Ｌ３各々についてその傾き等から減衰定数を算出
することによりその区間に含まれる分岐光ファイバの本
数を算出する。図５に示した例では、移動分離解析処理
を行う全範囲は符号Ｌ３が付された区間の全体範囲とな
る。

【００２６】移動分離解析処理は、まず、上記の全体範
囲に対して分離解析を行う幅、即ち分離解析幅（パラメ
ータ）を設定する処理を行う。この分離解析幅は、対象
となる分岐光ファイバ６４ａ，６４ｂの長さ、本数等に
応じて適宜設定される。設定の際には操作者が処理装置
５２に対してその値を入力するようにしてもよい。

【００２７】上記分離解析幅が設定されると、設定され
た分離解析幅で指定された範囲の中心点を全体範囲の端
部に設定し、分離解析幅で指定された範囲と全体範囲と
が重複する範囲について分離解析が行われる。図５の例
では、符号Ｅ１が付された箇所に分離解析幅で指定され
た範囲の中心点を設定することにより、分離解析が行わ
れる範囲は、図５中の符号Ｒ１が付された範囲となる。

【００２８】このとき、分離解析幅で指定された範囲の
中心点が全体範囲の両端の近傍に位置する場合は、中心
点の移動が制限されているので、全体範囲の両端の近傍
では分離解析幅を少しずつ減らしながら分離解析を行
う。図５の例では、符号Ｄ３が付された範囲においては
分離解析幅が減ぜられて解析が行われる。

【００２９】上記範囲に関して分離解析が終了すると、
次に、分離解析幅で指定された範囲の中心点を図中右側
へ移動し、分離解析幅で指定された範囲と全体範囲とが
重複する範囲について分離解析が行われる。図５に示さ
れた例では、符号Ｒ２が付された範囲となる。以降同様
に、全体範囲、即ち図５の例においては符号Ｌ３が付さ
れた区間全体にわたって移動分離解析処理をおこない。
分離解析幅で指定された範囲に含まれる分岐光ファイバ
の本数を算出する。分離解析幅で指定された範囲の中心
点が全体範囲の端部、即ち符号Ｅ３が付されたスパイク
状の波形が得られた箇所に近づくと分離解析幅が少しず
つ減ぜられて分離解析が行われる（図５中の符号Ｄ２が
付された範囲）。

【００３０】ステップＳ５０の処理が終了すると、ステ
ップＤ６０へ進む。ステップＳ６０では、ステップＳ５
０で行われた分離解析結果から分離解析グラフを作成す
る処理が行われる。図６は、分離解析処理によって得ら
れた解析結果から得られた分離解析グラフの例を示す図
である。図６（ａ）は、図４中符号Ｌ１が付された範囲
の分離解析処理によって得られた分離解析グラフであ
り、図６（ｂ）は、図４中符号Ｌ２が付された範囲の分
離解析処理によって得られた分離解析グラフであり、図
６（ｃ）は、図４中符号Ｌ３が付された範囲の分離解析
処理によって得られた分離解析グラフである。図６
（ａ）〜図６（ｃ）に示されたグラフの横軸は距離を表
示し、縦軸は光ファイバの本数を示す。

【００３１】ステップＳ７０では、ステップＳ６０で得
られた分離解析グラフに基づいて光ファイバの本数を判
断する処理が行われる。この処理では、解析結果に解析
誤差が入っている可能性を考えて統計的に判断する必要
がある。図６（ｃ）の解析結果によると、全体範囲の両
端側、即ち図６（ｃ）の範囲Ｄ３′，Ｄ２′を解析する
ことによって得られた結果は、分離解析幅が短くなるの
で分離解析が不可と考えられる。従って、画面に表示さ
れる結果は、範囲Ｄ３′，Ｄ１′，Ｄ２′であるが、光
ファイバの本数を判定するのは範囲Ｄ１′の分離解析に
よる。分離解析の結果、範囲Ｌ３（図４）についての光
ファイバの本数は「１」、範囲Ｌ２の光ファイバの本数
は「２」、範囲Ｌ１の光ファイバの本数は「１」と判定
する。

【００３２】ステップＳ７０の処理が終了するとステッ
プＳ８０へ進む。ステップＳ８０では、ステップＳ１０
〜ステップＳ７０の処理で得られた光ファイバの本数に
基づいて、障害回線・障害距離を判断する処理が行われ
る。ステップＳ１０〜ステップＳ７０の処理は、一定時
間間隔で行われており、この測定時間をｔ₁，ｔ₂，…，
ｔ_k，ｔ_k+1，ｔ_k+2，…とすると、ある時点ｔ_iの測定結
果と、以前の測定結果とを比較することにより障害回線
・障害距離が得られることになる。つまり、フレネル反
射点までの距離が変化したことが検出されたら障害が発
生したと判断する。また、障害回線は、分岐光ファイバ
の終端器の位置が異なっているために、分離解析を行う
ことによって特定できる。更に、障害位置は、光ファイ
バ本数の変化があった箇所を特定することによって障害
距離を得ることができる。また、光ファイバ本数の変化
があった時間を記録することにより、障害が発生した時
間を得ることもできる。

【００３３】上述説明したように、本発明の一実施形態
によるＯＴＤＲ波形データの自動解析方法によれば、多
分岐光線路の発生する障害回線及び障害点の位置と発生
時間を自動的に測定することができる。従って、従来の
ように、障害回線を測定する際に、フィルタを回線毎に
異なる間隔に設置することなく、効率よくこれら測定作
業を行うことが可能である。また、本発明の一実施形態
によるＯＴＤＲ波形データの自動解析方法によれば、同
一な計測動作が行われるので、人が計測を行う場合に比
較し、客観性があり、より高い信頼性を有する計測を行
うことが可能である。

【００３４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
多分岐光伝送路から得られるＯＴＤＲ波形データに基づ
いて障害回線、障害距離、及び障害発生時間を自動的に
検出することができるという効果がある。また、本発明
によれば、同一な計測動作が行われるので、人が計測を
行う場合に比較し、客観性があり、より高い信頼性を有
する計測を行うことが可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態によるＯＴＤＲ波形デー
タの自動解析方法が適用される多分岐光線路試験装置の
構成例を示すブロック図である。

【図２】分岐光ファイバの何れにも障害が発生してい
ない場合におけるＯＴＤＲ波形データの一例を示す図で
ある。

【図３】本発明の一実施形態によるＯＴＤＲ波形デー
タの自動解析方法の手順の一例を示す流れ図である。

【図４】図２に示すＯＴＤＲ測定データを対数変換し
て得られる波形を示す図である。

【図５】移動分離解析処理を説明するための図であ
る。

【図６】分離解析処理によって得られた解析結果から
得られた分離解析グラフの例を示す図である。

【図７】従来の多分岐光線路試験装置の全体構成を示
す図である。

【図８】ＯＴＤＲ測定器１によって観測される応答光
の波形例を示すグラフである。

【図９】ＯＴＤＲ測定器１によって観測される反射光
のうち光ファイバＮｏ６〜Ｎｏ８を介して戻ってきた各
反射光の波形を拡大して示したものであり、（ａ）は、
いずれの光ファイバにも故障が生じていない場合、
（ｂ）は、光ファイバＮｏ７に３ｄＢの曲げ損失を付与
して故障を模擬した場合を各々示している。

【符号の説明】

５０ＯＴＤＲ測定器５２制御装置５４光コネクタ５８光カプラ６４ａ，６４ｂ分岐光ファイバ６６ａ，６６ｂ終端器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者竹内伸成東京都大田区蒲田４丁目19番７号安藤電気株式会社内 (72)発明者清水慶一大阪府大阪市北区中之島３丁目３番22号関西電力株式会社内 (72)発明者元治崇大阪府大阪市北区中之島３丁目３番22号関西電力株式会社内Ｆターム(参考） 2G086 CC01 CC03 CC04

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】多分岐光線路へ光パルスを入射させ、反
射される光を測定する第１のステップと、前記第１のステップにおける測定結果からフレネル反射
点・接続点を検出する第２のステップと、前記第２のステップで検出されたフレネル反射点・接続
点を分割点として、前記測定結果を分割する第３のステ
ップと、分割された前記測定結果の各範囲について移動分離解析
を行う第４のステップと、前記各範囲各々に対して、前記移動分離解析の解析結果
から光線路の本数を判断する第５のステップと、前記第１のステップから前記第５のステップを繰り返し
行って得られる前記光線路の本数の変化によって障害の
発生を検出する第６のステップとを具備することを特徴
とするＯＴＤＲ波形データの自動解析方法。
【請求項２】前記第６のステップは、光線路の本数の
変化があった箇所を障害発生箇所として検出することを
特徴とする請求項１記載のＯＴＤＲ波形データの自動解
析方法。
【請求項３】前記移動分離解析は、前記測定結果の各
範囲に対して所定の幅を有する分離解析幅を設定し、当
該分離解析幅で指定される範囲の中心点を、前記測定結
果の各範囲全てにわたって移動させながら分離解析を行
うことを特徴とする請求項１記載のＯＴＤＲ波形データ
の自動解析方法。
【請求項４】前記第３のステップは、前記測定結果を
分割した後に雑音を除去するステップを有することを特
徴とする請求項１記載のＯＴＤＲ波形データの自動解析
方法。
【請求項５】前記第２のステップは、前記測定結果を
対数変換した後、前記フレネル反射点・接続点を検出す
ることを特徴とする請求項１記載のＯＴＤＲ波形データ
の自動解析方法。
【請求項６】前記第６のステップは、光線路の本数の
変化があった時間を障害発生時間として検出することを
特徴とする請求項１記載のＯＴＤＲ波形データの自動解
析方法。