JPH1125537A

JPH1125537A - 記録再生装置

Info

Publication number: JPH1125537A
Application number: JP17868297A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Fuji; 寛藤; Tomoyuki Miyake; 知之三宅
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1997-07-03
Filing date: 1997-07-03
Publication date: 1999-01-29
Anticipated expiration: 2017-07-03
Also published as: JP3788665B2

Abstract

(57)【要約】【課題】磁気的超解像を生じる光磁気記録媒体に対し
て、環境温度の変動等の影響を受けることなく、最適記
録条件を求めるテストライトを行うことができる記録再
生装置を提供する。【解決手段】光磁気ディスク１にテストデータ発生回
路９から発生されるテストデータｃを記録し、これに光
ピックアップ２から光ビームｂを照射して得られる再生
信号ｈのレベルを検出する。上記再生信号ｈのレベルを
検出する場合には、制御回路８によって上記光ビームｂ
の光量を、光磁気ディスク１に磁気的超解像が生じない
レベルまで下げ、環境温度等の影響を受けないようにす
る。そして、異なる記録条件の下で、複数の再生信号ｈ
のレベルを獲得し、最適な記録条件を選択する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気記録媒体に
外部磁界を加える事によって、該媒体上に光ビームのス
ポット面積よりも小さいアパーチャ（開口部）が生じる
磁気的超解像を利用した光磁気記録媒体に対して、最適
な記録条件を求めるためのテストライトを行う記録再生
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば光ディスクに情報を記録す
る場合、再生時の読取誤差などを軽減するためには、安
定した大きさの記録マークを記録する必要があるが、デ
ィスクの特性ばらつきや環境温度の変化によって、該記
録マークの大きさは変動する。そのため、例えば特開平
７−２４９２２６号公報に開示されたテストライト方法
では、あらかじめ光量や磁界強度などの記録条件を変化
させながらテストデータを記録し、このテストデータを
再生して、安定した記録マークを記録するための最適な
記録条件を探す方法、いわゆるテストライトが行われて
いた。

【０００３】また、最近では記録密度の向上のために、
光ビームのスポット面積よりも小さいアパーチャ（開口
部）が生じる光磁気記録媒体の開発が行われている。例
えば、特開平３−９３０５６号公報に開示された光磁気
記録媒体は、記録マークを記録するための記録層と、前
記アパーチャを生じる再生層と、記録層と再生層の交換
結合力を切断する切断層による多層構造を有しており、
通常は、記録層に磁気記録されている情報が、切断層を
介した交換結合力によって再生層に転写されている。こ
のような光磁気記録媒体を再生する再生装置は、該光磁
気記録媒体に再生磁界を加えながら、再生層に光ビーム
を照射してデータの再生を行う。

【０００４】このとき、上記光磁気記録媒体に照射され
る光ビームのスポットは温度分布を有しており、ある所
定温度以上の高温部分においては、上記切断層の磁界が
消滅する。切断層の磁界が消滅すると、上記記録層と再
生層の交換結合力による磁界の転写が無くなり、この時
の再生層の磁界は上記再生磁界の向きに揃えられる。す
なわち、光ビームの全スポット面のうち、ある所定温度
以上の高温部分においては、記録層から再生層に転写さ
れるべき情報がマスクされることになる。このため、上
記光ビームの読み取り部は、光ビームのスポット面積よ
りも小さいアパーチャ（全スポット面積より上記高温部
分を除いた開口部）となり、分解能が向上し、光ビーム
のスポット面積よりも小さい記録マークを再生すること
ができる。尚、上記の現象を磁気的超解像と呼ぶ。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記の磁気
的超解像を生じる光磁気記録媒体に従来のテストライト
方法を用いると、テストデータの再生時に一定の光量の
再生ビームを照射したにもかかわらず、環境温度の変動
や光ディスクのばらつきによってアパーチャの大きさが
変化するため、再生信号のレベルが変動し、正確なテス
トライトが行えない。

【０００６】すなわち、上記テストライトは、光磁気記
録媒体に対してテストデータを記録し、そのテストデー
タを再生することで、最適な記録条件を探すわけである
が、このとき、テストデータを再生するときの光ビーム
が一定の光量の再生ビームでなければならない。しかし
ながら、上記の磁気的超解像を生じる光磁気記録媒体
は、アパーチャによって再生が行われるものであり、該
アパーチャは環境温度の変動や光ディスクのばらつきに
よってその大きさが変化する。したがって、上記の磁気
的超解像を生じる光磁気記録媒体では、テストライトが
行えないという問題が生じる。

【０００７】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたもので、その目的は、磁気的超解像を生じる光
磁気記録媒体に対して、環境温度の変動等の影響を受け
ることなく、最適記録条件を求めるテストライトを行う
ことができる記録再生装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１の記録再生装置
は、記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁
気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によ
って転写される再生層と、光ビームが照射されたときに
所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合
力を切断する切断層とによる多層構造を有している光磁
気記録媒体に対して、該光磁気記録媒体に外部磁界を加
えながら、再生層に光ビームを照射してデータの再生を
行うものであり、上記の課題を解決するために、光磁気
記録媒体に対し情報の記録または再生を行う場合に、光
磁気記録媒体に光ビームを照射する光ビーム照射手段
と、光磁気記録媒体に外部磁界を印加する外部磁界印加
手段と、上記光ビーム照射手段から上記光磁気記録媒体
に照射される光ビームの反射光より得られる再生信号の
信号レベルを検出する再生信号検出手段と、上記光ビー
ム照射手段および外部磁界印加手段を制御して光磁気記
録媒体への情報の記録および再生を行うと共に、上記再
生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する
場合には、光ビームの光量を、光磁気記録媒体の切断層
で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定の温度
以上となる領域が発生しないレベルまで下げるように上
記光ビーム照射手段を制御する制御手段を備えているこ
とを特徴としている。

【０００９】上記の構成によれば、通常の情報再生時に
おいて、情報の読み出しを行う場合、すなわち通常の再
生時において、外部磁界印加手段によって外部磁界を印
加しながら光ビーム照射手段による光ビームを照射する
ことによって、光記録媒体の再生層にアパーチャを生じ
させて高分解能の再生を行うことができる。

【００１０】同時に、上記光磁気記録媒体に記録されて
いる情報を再生する場合の再生信号のレベルを検出した
い場合には、光ビームの光量が、光磁気記録媒体の切断
層で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定の温
度以上となる領域が発生しないレベルまで下げられるの
で、この場合は、再生層にアパーチャを発生させずに情
報の再生を行い、この再生信号のレベルを再生信号検出
手段で検出することによって、環境温度の変動やディス
クのばらつきに影響されずに、光記録媒体上の記録マー
クの記録状態を安定して検出できる。

【００１１】請求項２の記録再生装置は、上記の課題を
解決するために、請求項１の構成に加えて、テストデー
タを発生するテストデータ発生手段と、光磁気記録媒体
に情報を記録する時の記録条件を設定する記録条件設定
手段とを備え、上記制御手段は、上記記録条件設定手段
によって設定された記録条件に基づき、上記光ビーム照
射手段と外部磁界印加手段とを制御して、上記光磁気記
録媒体に、上記テストデータ発生手段が発生するテスト
データを記録させ、再生信号検出手段によって上記テス
トデータの再生信号のレベルが検出されると、該再生信
号のレベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記
録条件を求めることを特徴としている。

【００１２】上記の構成によれば、テストライト時に
は、上記制御手段は、記録条件設定手段を制御して、上
記光ビーム照射手段あるいは外部磁界印加手段に、例え
ばある適当な範囲内の特定の記録条件を設定させる。こ
こで、上記記録条件とは、例えば記録時に光磁気記録媒
体に照射される光ビームの光量や、あるいは光磁気記録
媒体に印加される磁界強度のことである。

【００１３】そして、上記制御手段は、光ビーム照射手
段および外部磁界印加手段を制御して、上記光磁気記録
媒体にテストデータを記録させ、記録されたテストデー
タを再生させ、再生信号のレベルを検出する。このと
き、光磁気記録媒体に照射される光ビームの光量は、光
磁気記録媒体の切断層で記録層と再生層の交換結合力が
切断される所定の温度以上となる領域が発生しないレベ
ルまで下げられている。上記再生信号検出手段が、この
再生によって得られた再生信号のレベルを検出し、制御
手段に伝達する。このように、制御手段は、上記範囲内
における複数の記録条件に対応した再生信号のレベルを
取得することができる。そして、制御手段は、これら取
得した再生条件のレベルを比較して、最適な再生信号を
記録した記録条件を、最適な記録条件として決定する。

【００１４】これにより、光磁気記録媒体の再生層にア
パーチャを発生させて再生を行う記録再生装置における
最適な記録条件を、環境温度の変動やディスクのばらつ
きに影響されずに正確に求めることが可能となる。従っ
て、この記録条件を用いて上記光磁気記録媒体に記録を
行えば、最適な条件で記録を行うことが可能となる。こ
のため、エラーの少ない情報の記録を行うことが可能で
ある。

【００１５】請求項３の記録再生装置は、上記の課題を
解決するために、請求項２の構成に加えて、上記テスト
データが、該テストデータを再生する時に、隣あう２つ
の記録マークからの再生信号が波形干渉を生じないよう
な間隔をもって記録されるように設定されていることを
特徴としている。

【００１６】上記の構成により、上記テストデータは、
テストデータを再生する時に、隣あう２つの記録マーク
からの再生信号が波形干渉を生じないような間隔をもっ
て記録されるので、該テストデータを再生する場合に、
信号量を増加させることができ、高いＳ／Ｎ比によって
記録状態を検出しながら、テストライトを行うことがで
きる。

【００１７】請求項４の記録再生装置は、上記の課題を
解決するために、請求項２の構成に加えて、上記テスト
データが、光磁気記録媒体に記録される記録マークの長
さが前記光ビームのスポット径以上となるように設定さ
れていることを特徴としている。

【００１８】上記の構成により、上記テストデータは、
光磁気記録媒体に記録される記録マークの長さが前記光
ビームのスポット径以上となるように記録されるので、
該テストデータを再生する場合に、アパーチャを生じさ
せないことによる光量の低下を大きな信号量で補うこと
ができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出しなが
ら、テストライトを行うことができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について図
１ないし図１０に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。

【００２０】図１は、本実施の形態にかかる記録再生装
置（以下、本装置とする）の構成を示すブロック図であ
る。図１に示すように、本装置は、光ビーム照射手段と
しての光ピックアップ２と、送りモータ３と、レーザド
ライバ４と、外部磁界印加手段としての磁気ヘッド５
と、磁気ヘッドドライバ６と、再生信号検出手段として
の再生信号チェック回路７と、制御手段および記録条件
設定手段としての制御回路８と、テストデータ発生手段
としてのテストデータ発生回路９とから構成されてお
り、光磁気記録媒体である光磁気ディスク１に対して記
録再生を行うものである。

【００２１】光ピックアップ２は、光磁気ディスク１に
光ビームｂを照射することによって、光磁気ディスク１
に記録されている情報を読み取るためのものである。さ
らに光ピックアップ２は、読み取った情報を再生信号ｈ
として再生信号チェック回路７に送出する。

【００２２】送りモータ３は、制御回路８の指示によ
り、光ピックアップ２を移動させ、光磁気ディスク１の
所定部分に光ビームｂが照射されるようにするためのも
のである。また、レーザドライバ４は、制御回路８の指
示により、光ピックアップ２に光ピックアップ駆動信号
ｅを伝達することによって、光ピックアップ２が照射す
る光ビームのパワーを制御するためのものである。

【００２３】磁気ヘッド５は、情報を記録するために光
磁気ディスク１に磁界を印加するためのものである。ま
た、磁気ヘッドドライバ６は、制御回路８の指示によ
り、磁気ヘッド５に磁気ヘッド駆動信号ｄを伝達するこ
とによって、この磁気ヘッド５が印加する磁界の強度を
制御するためのものである。

【００２４】また、再生信号チェック回路７は、光ピッ
クアップ２によって読み出された再生信号ｈのレベルを
検出して、信号レベルデータｉとして制御回路８に伝達
するためのものである。ここで、再生信号ｈのレベルと
は、再生信号ｈの振幅の大きさのことである。

【００２５】制御回路８は、送りモータ３に移動制御信
号ａを伝達することによって、送りモータ３を制御する
ためのものである。また、制御回路８は、光量制御信号
ｇをレーザドライバ４に伝達することによって、このレ
ーザドライバ４を制御する。さらに、制御回路８は、磁
気ヘッドドライバ６に外部磁界制御信号ｆを伝達するこ
とによって、この磁気ヘッドドライバ６を制御する。

【００２６】テストデータ発生回路９は、後述する記録
条件の制御のためのテストデータを、テストデータｃと
してレーザドライバ４および磁気ヘッドドライバ６に伝
達するためのものである。

【００２７】本装置で用いられる光磁気ディスク１は、
例えば、図２に示すように、その外周部に、テストライ
ト時においてテストデータを書き込むテストライト領域
１１が形成されており、その内側に通常の記録情報を書
き込む情報記録領域１２が形成されている。なお、上記
光磁気ディスク１の構成は、これに限らず、図３に示す
ように、テストライト領域をディスクの周方向の周期的
部分に設け、この領域にテストデータを記録再生するこ
とによりテストライトを行ってもよい。

【００２８】図４は、上記の磁気ヘッドドライバ６およ
びレーザドライバ４における、制御回路８からの外部磁
界制御信号ｆおよび光量制御信号ｇの処理のための構成
を示すブロック図である。

【００２９】図４（ａ）に示すように、磁気ヘッドドラ
イバ６は、磁気ヘッド駆動回路２１と、Ｄ／Ａコンバー
タ２２とを備えている。制御回路８から送られてくる外
部磁界制御信号ｆは、例えば８ビットのバイナリデータ
であり、Ｄ／Ａコンバータ２２は、この外部磁界制御信
号ｆを受け取り、アナログ信号に変換し、磁気ヘッド駆
動回路２１に送る。磁気ヘッド駆動回路２１は、このア
ナログ信号に基づいた磁気ヘッド駆動信号ｄを磁気ヘッ
ド５に送り、磁気ヘッド５の発生する磁界を制御する。
このようにして、磁気ヘッドドライバ６は、制御回路８
の指示に基づいて、磁気ヘッド５の発生する外部磁界を
正確に制御することができる。これにより、制御回路８
の指示に基づいて外部磁界の強度を変化させながらテス
トライトを行うことができる。

【００３０】また、図４（ｂ）に示すように、レーザド
ライバ４は、光ピックアップ駆動回路２３とＤ／Ａコン
バータ２４とを備えている。また、光ピックアップ２
は、光ビームｂを発するための半導体レーザ２５を備え
ている。制御回路８から送られてくる光量制御信号ｇ
は、外部磁界制御信号ｆと同様に、例えば８ビットのバ
イナリデータであり、Ｄ／Ａコンバータ２４は、この光
量制御信号ｇを受け取り、アナログ信号に変換して光ピ
ックアップ駆動回路２３に送る。光ピックアップ駆動回
路２３は、このアナログ信号に基づいた光ピックアップ
駆動信号ｅを光ピックアップ２に備えられている半導体
レーザ２５に送り、半導体レーザ２５の発生する光ビー
ムｂの光量を制御する。このようにして、レーザドライ
バ４は、制御回路８の指示に基づいて、光ピックアップ
２の発生する光ビームｂの光量を正確に制御することが
できる。

【００３１】図５は、再生信号チェック回路７の構成を
示すブロック図である。図５に示すように、再生信号チ
ェック回路７は、アンプ３１と、ローパスフィルタ３２
と、振幅検出回路３３と、Ａ／Ｄコンバータ３４とから
構成されている。

【００３２】光ピックアップ２から送られてくる再生信
号ｈはアナログ信号であり、アンプ３１は、この再生信
号ｈを受け取り、増幅してローパスフィルタ３２に送
る。ローパスフィルタ３２は、この増幅された再生信号
ｈのＳ／Ｎ比を向上させ、振幅検出回路３３に送る。振
幅検出回路３３は、この増幅され、Ｓ／Ｎ比が向上され
た再生信号ｈの信号レベルを検出し、Ａ／Ｄコンバータ
３４に送る。Ａ／Ｄコンバータ３４は、この信号レベル
を、例えば８ビットのバイナリデータに変換し、信号レ
ベルデータｉとして制御回路８に伝達する。このように
して、再生信号チェック回路７は、正確な再生信号ｈの
レベルを制御回路８に伝達することができる。

【００３３】上記構成の本装置によって、光磁気ディス
ク１上の記録情報を読み出す場合を図６を用いて以下に
説明する。

【００３４】先ず、通常の情報再生時における光量の光
ビームｂによって、記録情報を読み出す場合を図６
（ａ）に示す。上記光磁気ディスク１は、再生層４１、
切断層４２、および記録層４３を有する多層構造となっ
ており、記録層４３に磁気記録されたデータが交換結合
によって切断層４２を介して再生層４１に転写されてい
る。

【００３５】上記光磁気ディスク１に記録された情報の
読み出し時には、該光磁気ディスク１の再生層４１に光
スポットｐが照射される。上記光スポットｐの前方、す
なわち、記録媒体の移動方向（図６中のｘ方向）側に
は、高温部ｑ（図６中の斜線部）が発生する。高温部ｑ
の領域では、切断層４２の温度がキュリー温度以上に上
昇し、切断層４２の磁界が消滅する。したがって、記録
層４３と再生層４１との交換結合が切断される。尚、上
記の説明は、ＦＡＤ方式の場合を例示している。

【００３６】このとき、上記光磁気ディスク１に、磁気
ヘッド５によって外部磁界Ｈｅｘが加えられると、高温
部ｑの再生層４１では該外部磁界Ｈｅｘの方向へ磁化が
そろえられる。このため、高温部ｑでは記録層４３に記
録された記録マークがマスクされることとなる。したが
って、この場合には、光スポットｐから高温部ｑを除い
た低温部分がアパーチャとなり、該アパーチャが読み出
し領域（図６（ａ）中の横線部）となる。このように、
光ビームｂが通常の情報再生時における光量を有する場
合には、光スポットｐよりもアパーチャが小さくなるた
め、光磁気ディスク１に対して高密度に記録された情報
を再生できる。

【００３７】一方、テストデータの再生時における光量
の光ビームｂによって、記録情報を読み出す場合を図６
（ｂ）に示す。この場合、光磁気ディスク１の再生層４
１に照射される光スポットｐの温度分布は、通常の情報
再生時における光スポットｐの温度分布に比べて全体的
に低く、最も高温となる領域においても切断層４２の温
度はキュリー温度に達しない。このため、切断層４２の
磁界は消滅せず、再生層４１には記録層４３の記録デー
タが転写されたままとなる。したがって、通常の情報再
生時のように、高温部ｑによるマスクは生じず、光スポ
ットｐの照射領域のすべてがそのまま読み出し領域（図
６（ｂ）中の横線部）となり、環境温度の変化等に関係
なく記録マークを再生することができる。つまり、テス
トライト動作においてテストデータを再生する場合の光
量を、通常再生時の光量よりも小さくすれば環境温度の
変動などに影響されない安定した記録状態のチェックが
可能となる。

【００３８】ところで、図６（ｂ）に示すように、再生
光量を下げてテストデータを再生する場合には、光スポ
ットｐの照射領域のすべてがそのまま読み出し領域とな
るので、記録マークが高密度で、すなわち狭い間隔で記
録されていれば、該光スポットｐの中に隣接する記録マ
ークｍ３およびｍ４が入ってしまう。そのため、記録マ
ークｍ３からの読み出し波形と記録マークｍ４からの読
み出し波形とが干渉し、信号量の低下が生じてテストデ
ータのＳ／Ｎ比が低下する。これを、解決するために
は、図６（ｃ）に示すように、テストデータの記録時に
は、記録マークと記録マークとの間隔を広げて、干渉が
生じないようにする。これによって、信号量が増加し、
Ｓ／Ｎ比の高いテストデータのチェックを行うことがで
きる。

【００３９】また、再生光量を下げてテストデータを再
生する場合には、再生光量の低下に伴って同じく記録マ
ークからの読み出し信号量が低下する。これも同様に、
テストデータのＳ／Ｎ比の低下を招く。これを、解決す
るためには、図６（ｄ）に示すように、記録マークの長
さが光スポットｐの径以上となるようにテストデータを
記録する。これによって、同様に信号量が増加し、Ｓ／
Ｎ比の高いテストデータのチェックを行うことができ
る。

【００４０】これより、本装置による光磁気ディスク１
の記録再生動作を詳細に説明する。図７は、上記記録再
生動作を示すフローチャートである。

【００４１】まず、本装置が光磁気ディスク１への記録
動作を行う前には、該光磁気ディスク１に照射する光ビ
ームｂの光量を適切に調節するためにテストライトを行
う。そのため、光ピックアップ２が光磁気ディスク１の
テストライト領域１１へ移動させられ（Ｓ１）、記録光
量や記録磁界強度等の記録条件を変化させながらテスト
ライトを行う（Ｓ２）。上記テストライトが終了し、光
ビームｂの光量が調節されると、光ピックアップ２が光
磁気ディスク１の情報記録領域１２へ移動させられ（Ｓ
３）、最適化された記録条件を使用しての情報の記録が
行われる（Ｓ４）。上記記録動作に続き、再生エラーの
少ない情報の再生が行われる（Ｓ５）。

【００４２】図７におけるテストライトの動作を、以下
に詳細に説明する。図１に示すように、まず、テストラ
イトを行う時には、制御回路８から送りモータ３に移動
制御信号ａが出力され、光ピックアップ２が、図２に示
す光磁気ディスク１の例えば外周部に設けたテストライ
ト領域１１へ移動させられる。

【００４３】上記テストライトでは、光ビームｂの記録
光量、もしくは外部磁界Ｈｅｘの磁界強度を最適化する
ことができる。光ビームｂの記録光量を最適化する場合
には、制御回路８から光量制御信号ｇが発せられ、レー
ザドライバ４に送出される。そして、テストデータ発生
回路９からは、テストライト時に記録されるテストデー
タｃが発せられ、磁気ヘッドドライバ６へ送出される。

【００４４】レーザドライバ４は、上記光量制御信号ｇ
に基づいて光ピックアップ駆動信号ｅを光ピックアップ
２に送出し、該光ピックアップ２は光ピックアップ駆動
信号ｅに基づいて一定光量の光ビームｂを光磁気ディス
ク１に照射する。同時に、磁気ヘッドドライバ６は、上
記テストデータｃに基づいて磁気ヘッド駆動振動ｄを磁
気ヘッド５に送出し、該磁気ヘッド５は磁気変調記録に
よって光磁気ディスク１にテストデータｃを記録する。
また、上記テストデータｃを、磁気ヘッドドライバ６で
はなくレーザドライバ４に与え、光変調記録によって光
磁気ディスク１にテストデータｃを記録してもよい。

【００４５】上述のように、ある一定光量の光ビームｂ
のもとで、テストデータｃが記録されると、レーザドラ
イバ４から発せられる光ピックアップ駆動信号ｅに基づ
いて光ビームｂの記録光量を所定量だけ増加させられ
る。そして、増加した記録光量の光ビームｂのもとで、
再びテストデータｃの記録が行われる。こうして、上記
の動作を繰り返し行うことにより、光磁気ディスク１の
テストライト領域１１に、記録光量の異なる複数のテス
トデータｃが記録される。

【００４６】尚、上述の説明では、レーザドライバ４か
ら発せられる光ピックアップ駆動信号ｅに基づいて光ビ
ームｂの記録光量を変化させながら、記録光量の異なる
複数のテストデータｃが記録している。しかしながら、
これ以外に、上記光量制御信号ｇに代わり、外部磁界制
御信号ｆを磁気ヘッドドライバ６に与え、該磁気ヘッド
ドライバ６からの磁気ヘッド駆動信号ｄに基づいて外部
磁界強度Ｈｅｘを変化させながら、外部磁界強度Ｈｅｘ
の異なる複数のテストデータｃが記録してもよい。ただ
し、この場合のテストライトでは、光ビームｂの記録光
量ではなく、外部磁界強度Ｈｅｘが最適化される。

【００４７】記録されたテストデータｃを読み出す場合
は、光ビームの光量を情報再生時の光量よりも下げる。
これにより超解像の発生が停止させられ、光スポットの
全面積によりテストデータｃが再生されるため、環境温
度の変動に影響されない記録状態のチェックが可能とな
る。このとき、光ピックアップ２にてテストデータｃが
読み出され、再生されたテストデータ（すなわち、再生
信号ｈ）が再生信号チェック回路７に送られる。再生信
号チェック回路７では、再生信号ｈの信号レベルデータ
ｉを検出して制御回路８へ送りながら、後述の最適記録
条件の制御を行う。

【００４８】最適記録条件の制御が終了すると、光ピッ
クアップ２を図２における情報記録領域１２に戻し、情
報の記録や再生が行われる。

【００４９】情報の再生時は、制御回路８から光量制御
信号ｇが発せられ、レーザドライバ４から発せられる光
ピックアップ駆動信号ｅに基づいて光ビームｂの光量を
通常の再生光量に戻される。これにより磁気的超解像が
発生し、光スポットｐの面積よりも小さいアパーチャに
よって高密度の信号再生ができる。

【００５０】上記テストライトの動作を、図８のフロー
チャートを用いてさらに詳しく説明する。ただし、以下
の説明では、最適記録条件として光ビームｂの記録光量
を最適化する場合を例示する。

【００５１】テストライトの動作命令が出され、テスト
ライトが開始されると、先ず、記録光量の初期値が設定
される（Ｓ１１）。尚、記録磁界強度を最適化する場合
は、これに代えて記録磁界強度の初期値が設定される。

【００５２】次に、図９（ａ）に示すトラックＴ₀にテ
ストデータｃを磁界変調記録する（Ｓ１２）。このと
き、上記トラックＴ₀には、図９（ａ）に示すように、
記録マークｍ１が記録される。続いて、光ビームｂの光
量をテストライトにおける低い再生光量に設定して（Ｓ
１３）、上記トラックＴ₀を再生する（Ｓ１４）。この
とき、図９（ｄ）において実線で示される再生信号の振
幅Ｖ₀が検出される（Ｓ１５）。

【００５３】上記振幅Ｖ₀が検出されれば、光ビームｂ
の光量がＳ１１（２回目のルーチン以降はＳ２３）で設
定された記録光量に戻される（Ｓ１６）。そして、上記
記録光量を有する光ビームｂの光スポットｐにより、図
９（ｂ）に示すように、隣接トラックＴ₁が消去され、
続いて同様に反対側の隣接トラックＴ_-1が消去される
（Ｓ１７）。

【００５４】再び、光ビームｂの光量がＳ１３で設定さ
れた低い再生光量に戻され（Ｓ１８）、図９（ｃ）に示
すようにトラックＴ₀が再生され（Ｓ１９）。図９
（ｄ）において破線で示される再生信号の振幅Ｖ₁が検
出される（Ｓ２０）。ここで、記録光量が大きすぎる
と、図９（ｃ）に示すように、トラックＴ₁およびＴ_-1
が消去された後の記録マークｍ２は、消去前の記録マー
クｍ１に比べてマークの両脇が消去されて小さくなる。
このため、記録マークｍ２の再生信号の振幅Ｖ₁は、記
録マークｍ１の再生信号の振幅Ｖ₀に比べて小さくな
る。逆に、記録光量が小さいと、記録マークｍ２の両脇
は消去されないため、振幅Ｖ₀と振幅Ｖ₁は等しくな
る。ここで、検出された２つの振幅Ｖ₀およびＶ₁より
振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁を算出し、これを現在の記録光量
と共にメモリに記憶する（Ｓ２１）。

【００５５】つづいて、Ｓ１１（または、Ｓ２３）およ
びＳ１６で設定された記録光量が、あらかじめ決められ
た範囲の記録光量内で全て設定終了したかどうかが判断
される（Ｓ２２）。終了していなければ記録光量を所定
の変化分だけ変更し（Ｓ２３）、トラックＴ₀への記録
動作（Ｓ１２）へ戻る。終了していれば、設定範囲の記
録光量の中から、振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁＜δＶであっ
て、かつ最も高い記録光量を最適な記録光量Ｐ_w0として
選択する（Ｓ２４）。ここで、上記δＶはノイズによる
検出誤差である。

【００５６】尚、最適な記録光量の選択方法としては、
Ｓ２１において振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁の代わりに振幅Ｖ
₁を記憶しておき、振幅Ｖ₁が最も高い記録光量を最適
記録光量としてもよい。この場合は、Ｓ１３ないしＳ１
６のステップを省略することができる。Ｓ２４における
上記の選択方法で、最適な記録光量が選択される理由に
ついては後述する。

【００５７】また、図９（ｃ）では、トラックＴ₁とＴ
_-1の両方を消去したが、どちらか一方だけ消去しても同
様な効果を得ることができる。しかし、トラックＴ₁と
Ｔ_-1の両方を消去した方が、図９（ｄ）に示した振幅減
少量Ｖ₀−Ｖ₁が大きくなり、検出感度を高くすること
ができる。

【００５８】テストライトが終了して最適な記録光量が
選択されれば、最適化された記録光量を使用して情報の
記録動作が行われる。

【００５９】図１０は上記テストライト時における、記
録光量、振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁およびＳ／Ｎ比の関係を
示す図である。記録光量を徐々に上げていった場合、最
初のうちは記録マークの両脇が消去されないので、既に
説明したように、振幅Ｖ₀と振幅Ｖ₁とは等しくなり、
しばらく振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁は変化せずノイズによる
検出誤差δＶの範囲内に収まっている。ところが、ある
記録光量を越えると記録マークの両脇が消去され始め、
徐々に振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁が増加し始める。この増加
を始める直前の記録光量Ｐ_w0においては、記録マークの
両脇が消去されず、しかも最も大きな記録マークを記録
できる。つまり、最適記録光量Ｐ_w0では、記録マークの
Ｓ／Ｎ比を最も大きくすることができ、エラーの少ない
高密度な記録再生を行うことが可能となる。

【００６０】また、隣接するトラックを消去された後の
記録マークｍ２を再生して得られる再生信号の振幅Ｖ₁
のみに注目した場合、記録光量を徐々に上げていくと、
最初のうちは記録マークの両脇が消去されないので、該
振幅Ｖ₁は記録光量の増加に伴って上昇する。そして、
ある記録光量を越えると記録マークの両脇が消去され始
めるので、徐々に振幅Ｖ₁が減少し始める。ここで、上
記振幅Ｖ₁が最大の値を示すときの記録光量Ｐ_w0におい
ては、記録マークの両脇が消去されず、しかも最も大き
な記録マークを記録できるので、記録マークのＳ／Ｎ比
を最も大きくすることができ、エラーの少ない高密度な
記録再生を行うことが可能となる。

【００６１】さらに、上述のテストライトでは、テスト
データ記録時の外部磁界強度を固定し、記録光量を最適
化する例を示しているが、これ以外に、記録光量を固定
とし、図８のＳ２３において、上記記録光量の代わりに
外部磁界強度を増加させてもよい。これにより記録時の
外部磁界強度を最適化することができる。すなわち、図
９では、説明を簡単にするため、光スポットｐを完全な
円で示し、該光スポットｐが照射された全領域で記録マ
ークの転写が生じるようになっているが、実際には、上
記光スポットは例えばガウス分布のような温度分布を有
しており、記録マークの転写領域は上記光スポットの温
度分布と外部磁界強度によって決定される。したがっ
て、記録光量を固定とした場合でも外部磁界強度が変化
すれば記録マークの大きさも変化し、外部磁界強度を増
加させ続ければ振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁が０から増加に転
じるような外部磁界強度が発生する。このため、記録光
量を最適化する場合と同様の方法で、記録時の外部磁界
強度の最適値を求めることができる。

【００６２】

【発明の効果】請求項１の発明の記録再生装置は、以上
のように、光磁気記録媒体に対し情報の記録または再生
を行う場合に、光磁気記録媒体に光ビームを照射する光
ビーム照射手段と、光磁気記録媒体に外部磁界を印加す
る外部磁界印加手段と、上記光ビーム照射手段から上記
光磁気記録媒体に照射される光ビームの反射光より得ら
れる再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段
と、上記光ビーム照射手段および外部磁界印加手段を制
御して光磁気記録媒体への情報の記録および再生を行う
と共に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レ
ベルを検出する場合には、光ビームの光量を、光磁気記
録媒体の切断層で記録層と再生層の交換結合力が切断さ
れる所定の温度以上となる領域が発生しないレベルまで
下げるように上記光ビーム照射手段を制御する制御手段
を備えている構成である。

【００６３】それゆえ、再生層にアパーチャを発生させ
ることのできる磁気的超解像の光磁気記録媒体に対し、
通常の情報再生時における高分解能の再生を行うことが
できると同時に、上記光磁気記録媒体に記録されている
情報を再生する場合の再生信号のレベルを検出したい場
合には、光ビームの光量を下げることにより、環境温度
の変動やディスクのばらつきに影響されずに、光記録媒
体上の記録マークの記録状態を安定して検出することが
できるという効果を奏する。

【００６４】請求項２の発明の記録再生装置は、以上の
ように、請求項１の構成に加えて、テストデータを発生
するテストデータ発生手段と、光磁気記録媒体に情報を
記録する時の記録条件を設定する記録条件設定手段とを
備え、上記制御手段は、上記記録条件設定手段によって
設定された記録条件に基づき、上記光ビーム照射手段と
外部磁界印加手段とを制御して、上記光磁気記録媒体
に、上記テストデータ発生手段が発生するテストデータ
を記録させ、再生信号検出手段によって上記テストデー
タの再生信号のレベルが検出されると、該再生信号のレ
ベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件
を求める構成である。

【００６５】それゆえ、請求項１の構成による効果に加
えて、光磁気記録媒体の再生層にアパーチャを発生させ
て再生を行う記録再生装置における最適な記録条件を、
環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正
確に求めることが可能となる。従って、この記録条件を
用いて上記光磁気記録媒体に記録を行えば、最適な条件
で記録を行うことができるという効果を奏する。

【００６６】請求項３の発明の記録再生装置は、以上の
ように、請求項２の構成に加えて、上記テストデータ
が、該テストデータを再生する時に、隣あう２つの記録
マークからの再生信号が波形干渉を生じないような間隔
をもって記録されるように設定されている構成である。

【００６７】それゆえ、請求項２の構成による効果に加
えて、上記テストデータを再生する場合に、隣あう２つ
の記録マークからの再生信号が波形干渉を生じないの
で、信号量を増加させることができ、高いＳ／Ｎ比によ
って記録状態を検出しながら、テストライトを行うこと
ができるという効果を奏する。

【００６８】請求項４の発明の記録再生装置は、以上の
ように、請求項２の構成に加えて、上記テストデータ
が、光磁気記録媒体に記録される記録マークの長さが前
記光ビームのスポット径以上となるように設定されてい
る構成である。

【００６９】それゆえ、請求項２の構成による効果に加
えて、上記テストデータは、光磁気記録媒体に記録され
る記録マークの長さが前記光ビームのスポット径以上と
なるように記録されるので、該テストデータを再生する
場合に、光量の低下を大きな信号量で補うことができ、
高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出しながら、テスト
ライトを行うことができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態を示すものであり、記録再
生装置の構成を示すブロック図である。

【図２】上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の構
成を示す斜視図である。

【図３】上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の他
の例を示す斜視図である。

【図４】上記記録再生装置における磁気ヘッドドライバ
およびレーザドライバの構成の一部を示すブロック図で
ある。

【図５】上記記録再生装置における再生信号チェック回
路の構成を示すブロック図である。

【図６】上記記録再生装置において、図６（ａ）は、光
ビームの光量を通常の再生時におけるレベルにした場合
の再生動作を示す説明図であり、図６（ｂ）は、光ビー
ムの光量を通常の再生時よりも下げ、アパーチャが生じ
ないレベルにした場合の再生動作を示す説明図であり、
図６（ｃ）は、光磁気ディスクの記録マークの間隔を広
げた場合を示す説明図であり、図６（ｄ）は、光磁気デ
ィスクの記録マークの大きさを大きくした場合を示す説
明図である。

【図７】上記記録再生装置の動作の流れを示すフローチ
ャートである。

【図８】上記記録再生装置の動作のうち、テストライト
に関する動作の流れを示すフローチャートである。

【図９】図９（ａ）は、図２に示した光記録媒体のトラ
ックに記録マークが記録された様子を示す説明図であ
り、図９（ｂ）は、上記トラックに隣接したトラックが
消去された様子を示す説明図であり、図９（ｃ）は、上
記トラックに記録された記録マークが再生される様子を
示す説明図であり、図９（ｄ）は、上記記録マークを再
生して得られた信号レベルデータを示すグラフである。

【図１０】図１に示した記録再生装置による記録条件の
制御によって得られた、光ビームの記録光量と振幅減少
量およびＳ／Ｎ比との関係を表すグラフである。

【符号の説明】

１光磁気ディスク（光磁気記録媒体）２光ピックアップ（光ビーム照射手段）５磁気ヘッド（外部磁界印加手段）７再生信号チェック回路（再生信号検出手段）８制御回路（制御手段・記録条件設定手段）９テストデータ発生回路（テストデータ発生手段）４１再生層４２切断層４３記録層

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】記録マークを記録するための記録層と、記
録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結
合力によって転写される再生層と、光ビームが照射され
たときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の
交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有して
いる光磁気記録媒体に対して、該光磁気記録媒体に外部
磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射してデータ
の再生を行う記録再生装置において、光磁気記録媒体に対し情報の記録または再生を行う場合
に、光磁気記録媒体に光ビームを照射する光ビーム照射
手段と、光磁気記録媒体に外部磁界を印加する外部磁界印加手段
と、上記光ビーム照射手段から上記光磁気記録媒体に照射さ
れる光ビームの反射光より得られる再生信号の信号レベ
ルを検出する再生信号検出手段と、上記光ビーム照射手段および外部磁界印加手段を制御し
て光磁気記録媒体への情報の記録および再生を行うと共
に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検
出する場合には、光ビームの光量を、光磁気記録媒体の
切断層で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定
の温度以上となる領域が発生しないレベルまで下げるよ
うに上記光ビーム照射手段を制御する制御手段を備えて
いることを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】テストデータを発生するテストデータ発生
手段と、光磁気記録媒体に情報を記録する時の記録条件を設定す
る記録条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記記録条件設定手段によって設定さ
れた記録条件に基づき、上記光ビーム照射手段と外部磁
界印加手段とを制御して、上記光磁気記録媒体に、上記
テストデータ発生手段が発生するテストデータを記録さ
せ、再生信号検出手段によって上記テストデータの再生
信号のレベルが検出されると、該再生信号のレベルに基
づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求める
ことを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項３】上記テストデータが、該テストデータを再
生する時に、隣あう２つの記録マークからの再生信号が
波形干渉を生じないような間隔をもって記録されるよう
に設定されていることを特徴とする請求項２記載の記録
再生装置。
【請求項４】上記テストデータが、光磁気記録媒体に記
録される記録マークの長さが前記光ビームのスポット径
以上となるように設定されていることを特徴とする請求
項２記載の記録再生装置。