JPH1125475A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】レーザ光がランド部上およびグルーブ部上のい
ずれにあるかを容易に判別する。 【解決手段】光ディスクには、記録トラックを構成する
ランド部およびグルーブ部が半径方向に交互に形成さ
れ、ランド部若しくはグルーブ部に位相情報を有するマ
ークが記録されている。マークＣＭは、グルーブ部１２
Ｇの両端面より内部に突出するように形成された一対の
凸部４ａ，４ｂで構成されており、このマークＣＭの再
生信号は、レーザ光ＰPBがランド部１２Ｌを走査すると
き（ＳＬ）とグルーブ部１２Ｇを走査するとき（ＳＧ）
とで極性が反対となって得られる。この再生信号の極性
より、光ディスクを走査するレーザ光ＰPBがランド部１
２Ｌ上にあるかグルーブ部１２Ｇ上にあるかを判別す
る。レーザ光ＰPBがランド部１２Ｌ上およびグルーブ部
１２Ｇ上のいずれにあるかを容易に判別し得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、記録トラックを
構成するランド部およびグルーブ部が半径方向に交互に
形成され、ランド部若しくはグルーブ部に位相情報を有
するマークが記録された光ディスクを駆動する光ディス
ク装置に関する。詳しくは、マークの再生信号の極性よ
り光ディスクを走査するレーザ光がランド部上にある
か、グルーブ部上にあるかを判別することによって、レ
ーザ光がランド部上およびグルーブ部上のいずれにある
かを容易に判別し得る光ディスク装置に係るものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】本出願人等により次世代光磁気ディスク
（ＡＳＭＯ）が現在開発中であるが、この光磁気ディス
クとしてグルーブウォブルによるクロックマークをアド
レス情報と共にプリフォーマットすることが提案されて
いる（公共にはオープンにされていない）。光ディスク
装置では、このクロックマークの再生信号を利用してデ
ータを記録再生するためのデータクロック信号を得てい
る。

【０００３】図３７Ａはクロックマークの再生信号ＳCM
を示しており、この再生信号ＳCMより図３７Ｂに示すよ
うな０クロス点のタイミングを示すパルス信号ＰCMが形
成され、このパルス信号ＰCMを参照してＰＬＬ（phase-
locked loop）回路によってデータクロック信号が得ら
れる。

【０００４】上述したクロックマークＣＭは、図３８
Ａ，Ｂに示すように、一対のカッティング用ビーム（レ
ーザビーム）を使用してディスク原盤の盤面をカッティ
ングしながら形成する。図３８Ａは、ディスク原盤の盤
面を半径方向に向かって描いたものであり、ランド部１
２Ｌとグルーブ部１２Ｇとが交互に形成される。カッテ
ィング用ビームを用いて、図３８Ｂに示す断面図のよう
に、グルーブ部１２Ｇが所定の深さＤａとなるようにカ
ッティングされる。なお、図３８Ａは、ビームＢａ，Ｂ
ｂを除き、縦方向を１とするとき、横方向は１／１０に
縮小して示している。後述する図３９も同様である。

【０００５】グルーブ部１２Ｇにおける一方のカッティ
ング端面１１ａは平坦面であるが、他方のカッティング
端面１１ｂはウォブリングされ、その端面１１ｂに、幅
Ｗａの範囲にわたってアドレス情報（サイン波で示す）
ＡＤＭや、このアドレス情報ＡＤＭに連続してクロック
マーク（１サイクル分のサイン波）ＣＭが形成される。

【０００６】グルーブウォブル用のカッティングを行う
ためにカッティング用のビームとしては、図３８Ａのよ
うに、一対のカッティング用ビームＢａ，Ｂｂが使用さ
れる。カッティング用ビームＢａ，Ｂｂは、図示するよ
うに一部重複した状態でディスク原盤の盤面を走査する
ものであり、この例では第１のカッティング用ビームＢ
ａによってグルーブウォブルが形成される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、グルーブウ
ォブルによってグルーブ部１２Ｇに形成されるクロック
マークＣＭを、図３９に示すビーム（レーザ光）ＰPBに
よって再生する場合、ランド部１２Ｌ上を走査したとき
に得られるクロックマークＣＭの再生信号ＳCMも、グル
ーブ部１２Ｇ上を走査したときに得られるクロックマー
クＣＭの再生信号ＳCMも共に、図３７Ａに示すような同
一極性の信号となる。

【０００８】したがって、この再生信号ＳCMのみによっ
て、現在、ビームＰPBがランド部１２Ｌ上を走査してい
るのか、グルーブ部１２Ｇ上を走査しているのかを判別
することができない。再生信号ＳCMの極性から、現在ビ
ームＰPBがランド部１２Ｌ上を走査しているのか、グル
ーブ部１２Ｇ上を走査しているのかを判別できれば、光
ピックアップ系を構成する光学手段のサーボコントロー
ルを正確に行うことができる。

【０００９】そこで、この発明では、位相情報を有する
マークの再生信号の極性より光ディスクを走査するビー
ムがランド部上にあるか、グルーブ部上にあるかを判別
することによって、ビームがランド部上およびグルーブ
部上のいずれにあるかを容易に判別し得る光ディスク装
置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明に係る光ディス
ク装置は、記録トラックを構成するランド部およびグル
ーブ部が半径方向に交互に形成され、ランド部若しくは
グルーブ部に位相情報を有するマークが記録された光デ
ィスクを駆動する光ディスク装置であって、マークは、
ランド部若しくはグルーブ部の一端側に形成され、半径
方向に平行な立ち下がり部を有し、凹部または凸部から
なる第１の部分と、ランド部若しくはグルーブ部の他端
側に形成され、半径方向に平行で、かつ上記立ち下がり
部に対応したトラック方向位置に立ち上がり部を有し、
凹部または凸部からなる第２の部分とからなり、光ディ
スクにレーザ光を照射するレーザ照射手段と、光ディス
クから反射されたレーザ光を受光し、再生信号を出力す
る受光手段と、マークの再生信号の極性により、光ディ
スクを走査するレーザ光がランド部上にあるかグルーブ
部上にあるかを検出する検出手段とを備えるものであ
る。

【００１１】この発明において、ランド部とグルーブ部
とでは、位相情報を有するマークを構成する凹部または
凸部の突出方向は反対向きとなる。そのため、レーザ光
がランド部およびグルーブ部をそれぞれ走査していると
きのマークの再生信号の極性は反対となる。これによ
り、マークの再生信号の極性により、レーザ光がランド
部上にあるか、上記グルーブ部にあるかを簡単に判別可
能となる。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明の第１の実施の形態について説明する。図１は、第
１の実施の形態としての光磁気ディスク装置１０の構成
を示している。このディスク装置１０で駆動される光磁
気ディスク１１は、図２に示すプリフォーマット装置２
００によってプリフォーマットされたディスク原盤を用
いて作成されたものである。まず、プリフォーマット装
置２００について説明する。

【００１３】プリフォーマット装置２００は、カッティ
ング用の光源２０１を有している。光源２０１として
は、例えばヘリウム−カドミウム（Ｈｅ−Ｃｄ）レーザ
光源などを使用することができる。

【００１４】光源２０１より出射したカッティング用ビ
ーム（レーザ光）はハーフミラー２０２によって２光路
に分光される。一方のビームＢａは反射ミラー２０３を
介してスイッチ２０４に供給され、他方のビームＢｂは
直接スイッチ２０５に供給される。

【００１５】スイッチ２０４，２０５は、ビームの出射
および停止をコントロールするものであって、この例で
は電気光学効果変調器ＥＯＭ（Erectro Optical Modula
tor）が使用されている。これらのスイッチ２０４，２
０５はビームオン／オフコントローラ２０６からの制御
信号Ｃａ，Ｃｂに基づいて制御され、ビームオン／オフ
コントローラ２０６はコントローラ２０７によって制御
信号の出力タイミングなどが制御される。

【００１６】出射状態が制御されたカッティング用ビー
ムＢａ，Ｂｂは、ビームウォブル部２１１，２１２によ
ってウォブル状態が制御される。ビームウォブル部２１
１，２１２として、この例では音響効果変調器ＡＯＭ
（Acoustic Optical Modulator）が使用されている。ビ
ームウォブル部２１１，２１２は、ビームウォブルコン
トローラ２１３からの制御信号Ｆａ，Ｆｂによって、ウ
ォブル量が制御される。実際には、制御信号Ｆａ，Ｆｂ
の振幅レベルによってウォブル量が制御される。また、
制御信号Ｆａ，Ｆｂの極性によってウォブル方向が制御
される。そして、制御信号が三角波で与えられたときの
ウォブル軌跡は三角波となり、サイン波で与えられたと
きのウォブル軌跡はサイン波となる。ビームウォブルコ
ントローラ２１３は、コントローラ２０７によって制御
信号の出力タイミングなどが制御される。

【００１７】ウォブル状態が制御されたカッティング用
ビームｂａ，Ｂｂは光学系２１５に入力され、図４に示
すように一部重複するように光結合される。この場合、
一対のプリズム２１６，２１７が用意され、これらプリ
ズム２１６，２１７によってカッティング用ビームＢ
ａ，Ｂｂが、図４に示すように、一部が重なり合うよう
に光結合される。

【００１８】光結合されたカッティング用ビームＢａ，
Ｂｂは、対物レンズ２１８を介してディスク原盤１１Ｅ
の盤面１１ｆに照射されて、グルーブ部１２Ｇの形成と
グルーブウォブルの形成（何れもディスクカッティン
グ）が行われる。ここで、ディスク原盤１１ＥのＲ方向
の回転と、ｘ方向の送りとを行う回転・送り装置２１９
が設けられている。ディスク原盤１１Ｅが１回転する毎
に、このディスク原盤１１Ｅは、１スパイラル分、つま
りあるグルーブ部から次のグルーブ部までの距離だけ送
られる。

【００１９】クロックマークＣＭはディスク原盤１１Ｅ
の盤面１１ｆのカッティング状態を制御することによっ
て形成する。ビームオンでディスク原盤１１Ｅの盤面１
１ｆにビームが照射されるとき、そのディスク原盤１１
Ｅに対するカッティングが行われる。一方、ビームオフ
でディスク原盤１１Ｅの盤面１１ｆへのビームの照射が
停止されるとき、そのディスク原盤１１Ｅに対するカッ
ティングは行われない。

【００２０】したがって、得ようとするクロックマーク
ＣＭの再生信号ＳCM（図３Ａ）の０クロス点（タイミン
グｔo）を境にして、カッティング用ビームＢａとカッ
ティング用ビームＢｂとのオンオフ状態を切り替えるこ
とでクロックマークＣＭが形成される。つまり、０クロ
ス点の直前の所定位置から０クロス点まではカッティン
グ用ビームＢａがオフとされ（図３Ｂ）、０クロス点か
ら直後の所定位置まではカッティング用ビームＢｂがオ
フとされる（図３Ｃ）。

【００２１】この場合、カッティング用ビームＢａ，Ｂ
ｂの走査軌跡ＴＲａ，ＴＲｂは、それぞれ図４に示すよ
うになる。したがって、ディスク原盤１１Ｅの盤面１１
ｆには、ランド部１２Ｌとグルーブ部１２Ｇとが形成さ
れる。

【００２２】グルーブ部１２Ｇに注目すると、上側端面
はグルーブウォブルされる片側の端面であり、下側端面
は平坦面である。そして、上側端面にはビームＢａのオ
フ期間に対応して矩形状の凸部４ａが内部に突出するよ
うに形成される。一方、下側端面にはビームＢｂのオフ
期間に対応して矩形状の凸部４ｂが内部に突出するよう
に形成される。

【００２３】逆に、ランド部１２Ｌに注目すると、下側
端面はグルーブウォブルされる片側の端面であり、上側
端面は平坦面である。そして、下側端面にはビームＢａ
のオフ期間に対応して矩形状の凸部４ａが外部に突出す
るように形成される。一方、上側端面にはビームＢｂの
オフ期間に対応して矩形状の凸部４ｂが外部に突出する
ように形成される。

【００２４】この場合、ビームＢａ，Ｂｂによって形成
される一対の凸部４ａ，４ｂがクロックマークＣＭを構
成するものとなる。そして、この一対の凸部４ａ，４ｂ
の端面形状は急峻となり、その結果、凸部４ａのオン端
面４ａ′と、凸部４ｂのオフ端面４ｂ′とはトラック方
向の位置が一致し、従って同一半径上に形成される。

【００２５】図２に示すプリフォーマット装置２００に
よって、上述したようにプリフォーマットされたディス
ク原盤１１Ｅを用いて作成された光磁気ディスクの盤面
には、図５Ａに示すように、図４に示すようなディスク
原盤１１Ｅの盤面１１ｆに形成されたと同様のランド部
１２Ｌおよびグルーブ部１２Ｇが形成されている。

【００２６】図５Ａに示すように光磁気ディスクにプリ
フォーマットているクロックマークＣＭ（凸部４ａ，４
ｂ）を、図示のようなビーム（レーザ光）ＰPBによって
再生すると、図５Ｂに示すような再生信号ＳCMが得られ
る。この場合、走査軌跡５に対して上の部分Ｐｕによる
信号Ｓｕと下の部分Ｐｄによる信号Ｓｄとの差分（プッ
シュプル信号：ＳPP＝Ｓｕ−Ｓｄ）をとると、ランド部
１２Ｌ上を走査しているときには凸部４ａ，４ｂ分だけ
差分が大きくなり、しかもその極性は逆であるから、再
生信号ＳCMは図５Ｂに実線で示すような信号ＳＬとな
る。この再生信号ＳCM＝ＳＬは、０クロス点付近でのレ
ベル変化が急峻である。

【００２７】これに対して、グルーブ部１２Ｇを走査し
ているときには、凸部４ａ，４ｂの関係が逆になるの
で、再生信号ＳCMは図５Ｂに破線で示すような信号ＳＧ
となり、上述した信号ＳＬに対して極性が反転したもの
となる。この再生信号ＳCM＝ＳＧも、０クロス点付近で
のレベル変化は急峻である。

【００２８】後述するデータクロック再生器７０では、
エッジ検出器７３によりプッシュプル信号ＳPPより抽出
されたクロックマーク再生信号ＳCM（ＳＬ，ＳＧ）の０
クロス点のタイミングを示すパルス信号ＰCM（図５Ｃに
図示）が得られ、このパルス信号ＰCMに基づいてデータ
クロック信号ＤＣＫが再生される。

【００２９】ところで、図４の例では、カッティング用
ビームＢａ，Ｂｂをオンオフさせることで形成される凸
部４ａ，４ｂの向きがランド部１２Ｌとグルーブ部１２
Ｇとで反対になるので、見かけ上ランド部１２Ｌの方が
グルーブ部１２Ｇよりも太った（幅広）状態となる。そ
のため、クロックマーク再生信号ＳCMとしての信号Ｓ
Ｌ，ＳＧの振幅レベルも違ってくる（図５Ｂ参照）。

【００３０】これは、図４の例のように、ビームＢａ，
Ｂｂのオンオフだけを行ってクロックマークＣＭ（凸部
４ａ，４ｂ）を形成しているためである。これをなくす
には、例えば図６Ａのように、カッティング用ビームＢ
ｂを、少なくともカッティング用ビームＢａのオフ期間
だけランド部１２Ｌ側にシフト（定量ウォブル）させれ
ばよい。ビームＢｂのシフト処理は、図２に示すビーム
ウォブル部２１２によって行われる。

【００３１】こうすると、ビームＢａのオフ期間におけ
るグルーブ部１２Ｇ上のピッチＷａと、ランド部１２Ｌ
上のピッチＷｂとが一致するようになる。これによっ
て、図６Ｂにように、クロックマーク再生信号ＳCMとし
ての信号ＳＬ，ＳＧの振幅レベルの差を是正できる。た
だし、負側と正側の振幅レベルの差は解消されない。図
７に示す例は、この正負の振幅レベルの差をも是正でき
るようにしたものである。

【００３２】この場合には、ビームＢａ，Ｂｂのオンオ
フ切り替えタイミングｔoを境にして、その前後で両ビ
ームＢａ，Ｂｂを互いに反対方向にシフト（定量ウォブ
ル）させる。そのため、カッティング用ビームＢａに関
しては、スイッチ２０４に対して図７Ａに示す制御信号
Ｃａが供給され、ビームウォブル部２１１には図７Ｂに
示す制御信号Ｆａが供給される。

【００３３】同様に、カッティング用ビームＢｂに関し
ては、スイッチ２０５に対して図７Ｃに示す制御信号Ｃ
ｂが供給され、ビームウォブル部２１２には図７Ｄに示
す制御信号Ｆｂが供給される。制御信号Ｆａ，Ｆｂによ
ってビームＢａ，Ｂｂをシフトさせる期間は任意であ
り、この例ではビームオフ期間のほぼ１／２としてい
る。

【００３４】図７Ｂ，Ｄに示すような制御信号Ｆａ，Ｆ
ｂを供給することによって、ビームＢａ，Ｂｂはそれぞ
れ互いに反対方向にウォブリングされるため、例えばグ
ルーブ部１２Ｇは図７Ｅに斜線で示すようにカッティン
グされることになる。その結果、ランド部１２Ｌとグル
ーブ部１２Ｇとの関係は、図７Ｆに示すようになり、ラ
ンド部１２Ｌとグルーブ部１２Ｇとの幅の不揃いがなく
なる。したがって、図７Ｇに示すように、クロックマー
ク再生信号ＳCMとしての信号ＳＬ，ＳＧの振幅レベルの
差が完全に解消される。

【００３５】図７の例では、制御信号Ｆａ，Ｆｂとして
三角波を例示しているが、サイン波やその他の波形であ
ってもよい。三角波の幅や振幅レベル、つまりウォブル
量なども一例であり、例えばウォブル量を大きくすれ
ば、それだけ信号ＳＬ，ＳＧの振幅レベルを高めること
ができる。

【００３６】なお、上述では、光磁気ディスク１１にプ
リフォーマットされるクロックマークＣＭは、グルーブ
部１２Ｇに注目した場合、その両側端面より内部に突出
するように形成された一対の凸部４ａ，４ｂからなるも
のであるが、これら凸部４ａ，４ｂの代わりに、これら
一対の凸部４ａ，４ｂに対応したトラック方向位置に、
外部に突出するように一対の凹部を形成し、これをクロ
ックマークＣＭとして使用することも考えられる。

【００３７】図１に戻って、光磁気ディスク１１の盤面
には、図５Ａに示すように、図４に示すようなディスク
原盤１１Ｅの盤面１１ｆに形成されたと同様のランド部
１２Ｌおよびグルーブ部１２Ｇが形成されている。

【００３８】図８は、光磁気ディスク１１のセクタのレ
イアウトを示している。この光磁気ディスク１１には内
周側より外周側に向かってトラック０〜トラックｎがス
パイラル状に形成される。また、光磁気ディスク１１は
ゾーニングされており、内周側のゾーンＸ１の各トラッ
クには円周方向に０〜ｍ１のセクタが含まれ、外周側の
ゾーンＸ２の各トラックには円周方向に０〜ｍ２のセク
タが含まれている。

【００３９】図９Ａ〜Ｄは、セクタ（ウォブルアドレス
フレーム）フォーマットを示している。光磁気ディスク
１１には、図９Ａに示すように、半径方向にグルーブ部
１２Ｇとランド部１２Ｌとが交互に形成され、グルーブ
部１２Ｇまたはランド部１２Ｌのいずれか一方、または
双方にデータが記録される。グルーブ部１２Ｇの片側
は、例えばバイフェーズ変調後のアドレス情報ＡＤＭに
応じてウォブリングした状態とされている。

【００４０】この場合、アドレス情報ＡＤＭが周波数変
調（ＦＭ）され、変調後の信号に対応するようにグルー
ブ部１２Ｇがウォブリングされている。つまり、その変
調後の信号がグルーブウォブルとして記録されている。
なお、グルーブ部１２Ｇの片側がウォブリングされるこ
とから、結果的にランド部１２Ｌの片側もアドレス情報
ＡＤＭに応じてウォブリングされた状態となっている。

【００４１】なお、アドレス情報ＡＤＭはバイフェーズ
変調後のものであるが、アドレス情報にバイフェーズ変
調を施してアドレス情報ＡＤＭを得て用いるのは、周知
のようにＤＣ成分の発生を防止するためである（ＤＣフ
リー）。ここで、バイフェーズ変調を施す前のアドレス
情報の１ビットは、バイフェーズ２ビットに対応してい
る。

【００４２】グルーブウォブルは、図１１に示すよう
に、アドレス情報ＡＤＭの１ビット（バイフェーズ１ビ
ット）当たり、“１”のときは４波（４周期のサイン
波）となり、“０”のときは３波（３周期のサイン波）
となっている。しかも、このグルーブウォブルの振幅
は、変調後の信号の周波数に応じて変化するようにさ
れ、図１１に拡大して示すように、アドレス情報ＡＤＭ
の“１”および“０”の接合部に対応するグルーブウォ
ブルの０クロス点の前後での傾きが変化しないようにさ
れている。

【００４３】ここで、１セクタ（１ウォブルアドレスフ
レーム）の期間のグルーブウォブルは、バイフェーズ変
調前のアドレス情報（データ）で、例えば４２ビットの
データを有している。この４２ビッのトデータは、図１
０に示すように、４ビットの同期信号データ、２４ビッ
トのフレームアドレスデータ、１４ビットのＣＲＣ（cy
clic redundancy check）コードで構成される。

【００４４】また、１セクタは、図９Ｂに示すように、
例えば４２セグメントで構成されている。各セグメント
の境界位置には、図９Ａに示すように、クロックマーク
ＣＭがグルーブウォブルに多重化されてプリフォーマッ
トされている。そして、図９Ｃに示すように、各セグメ
ント内に６０バイトのデータ領域が設けられると共に、
各セグメントの境界位置に対応して６バイトの固定パタ
ーン領域が設けられている。データ書き込み時には、後
述するようにデータ領域にはＮＲＺＩデータが記録され
るが、固定パターン領域にはＮＲＺＩデータに同期した
２Ｔの長さの固定パターン信号が記録される（Ｔはデー
タのビット間隔）。この固定パターン信号は、データ読
み出し時におけるデータクロック信号の位相を制御する
ために使用される。

【００４５】ここで、光磁気ディスク１１では、１セク
タが４２セグメントで構成され、各セグメントの境界位
置にクロックマークＣＭがプリフォーマットされている
ことから、隣接するクロックマーク間のバイフェーズビ
ット数ａは２ビットとなる。また、光磁気ディスク１１
では、各セグメント内に６０バイトのデータ領域が設け
られると共に、各セグメントの境界位置に対応して６バ
イトの固定パターン領域が設けられることから、隣接す
るクロックマーク間のチャネルビット数ｎは５２８ビッ
トとなる。

【００４６】また、図１に戻って、ディスク装置１０
は、光磁気ディスク１１を回転駆動するためのスピンド
ルモータ１３を有している。光磁気ディスク１１は、記
録時および再生時には角速度一定で回転駆動される。ス
ピンドルモータ１３の回転軸には、その回転速度を検出
するための周波数発電機１４が取り付けられている。

【００４７】また、ディスク装置１０は、外部磁界発生
用の磁気ヘッド１５と、この磁気ヘッド１５の磁界発生
を制御する磁気ヘッドドライバ１６と、半導体レーザ、
対物レンズ、光検出器等から構成される光学ヘッド１７
と、この光学ヘッド１７の半導体レーザの発光を制御す
るレーザドライバ１８とを有している。磁気ヘッド１５
と光学ヘッド１７は光磁気ディスク１１を挟むように対
向して配設されている。

【００４８】レーザドライバ１８には、後述するサーボ
コントローラ４１よりＤ／Ａコンバータ１９を介してレ
ーザパワー制御信号ＳPCが供給され、光学ヘッド１７の
半導体レーザより出力されるレーザ光のパワーが、記録
時には記録パワーＰWとなり、再生時には記録パワーＰW
より低い再生パワーＰRとなるように制御される。

【００４９】データ書き込み時（記録時）には、後述す
るように磁気ヘッドドライバ１６に記録データＤｒおよ
び固定パターン信号ＳFPが供給され、磁気ヘッド１５よ
り記録データＤｒおよび固定パターン信号ＳFPに対応し
た磁界が発生され、光学ヘッド１７からのレーザビーム
（レーザ光）との共働により光磁気ディスク１１のデー
タ領域に記録データＤｒが記録されると共に、この記録
データＤｒが記録されるデータ領域に対応した固定パタ
ーン領域に固定パターン信号ＳFPが記録される。

【００５０】図１２は、光学ヘッド１７の光学系の構成
を示している。光学ヘッド１７は、レーザビームＬＢを
得るための半導体レーザ３１と、この半導体レーザ３１
より出力されるレーザビームＬＢを発散光より平行光に
整形するためのコリメータレンズ３２と、レーザビーム
を透過光と反射光の２つに分離するためのビームスプリ
ッタ３３と、レーザビームの光路を変更するための反射
ミラー３４と、レーザビームＬＢを光磁気ディスク１１
の記録面（記録膜）に照射するための対物レンズ３５と
を有している。

【００５１】また、光学ヘッド１７は、ビームスプリッ
タ３３の反射面３３ｂで反射されて外部に出射されるレ
ーザビームを偏光方向の違いによって３つのレーザビー
ムに分離するためのウォラストンプリズム（偏光面検波
プリズム）３６と、このウォラストンプリズム３６より
出力される３つのレーザビーム（平行光）を集光させる
ための集光レンズ３７と、この集光レンズ３７より出射
される３つのレーザビームが照射されるフォトディテク
タ３９と、集光レンズ３７とフォトディテクタ３９との
間に配されるマルチレンズ３８とを有している。

【００５２】マルチレンズ３８は凹レンズおよび円筒レ
ンズの組み合わせで構成される。円筒レンズを使用する
のは、フォーカスエラー信号を周知の非点収差法で得る
ためである。フォトディテクタ３９は、図１３に示すよ
うに、４分割フォトダイオード部３９ｍと、２個のフォ
トダイオード部３９ｉ，３９ｊとで構成される。

【００５３】図１４は、ウォラストンプリズム３６の構
成例を示している。このプリズム３６は、１軸性結晶、
例えば水晶よりなる直角プリズム３６ａ，３６ｂが接合
されて構成されている。この場合、プリズム３６ｂの光
軸Ａxbはプリズム３６ａの光軸Ａxaに対して４５゜だけ
傾くように設定されている。

【００５４】このような構成において、水晶は入射光の
偏光面に関連して２つの異なった屈折率を持っている。
そのため、プリズム３６ａにその光軸Ａxaに対して４５
゜だけ傾いた偏光面Ｐpoを有する直線偏光Ｌａを入射す
ると、図１５に示すようにプリズム３６ａでは光軸Ａxa
に垂直な偏光面を有する偏光成分Ｌb1および光軸Ａxaに
平行な偏光面を有する偏光成分Ｌb2に分離される。さら
に、プリズム３６ｂでは、偏光成分Ｌb1が光軸Ａxbに平
行な偏光面を有する偏光成分Ｌc1および光軸Ａxbに垂直
な偏光面を有する偏光成分Ｌc2に分離されると共に、偏
光成分Ｌb2が光軸Ａxbに平行な偏光面を有する偏光成分
Ｌc3および光軸Ａxbに垂直な偏光面を有する偏光成分Ｌ
c4に分離される。

【００５５】ここで、偏光成分Ｌc1，Ｌc2はプリズム３
６ａの光軸Ａxaに垂直な偏光面を有するものであり、そ
れぞれの光量は直線偏光Ｌａの１／４の量となる。一
方、偏光成分Ｌc3，Ｌc4はプリズム３６ａの光軸Ａxaと
平行な偏光面を有するものであり、それぞれの光量は直
線偏光Ｌａの１／４の量となる。そして、偏光成分Ｌc
2，Ｌc3のプリズム３６ｂからの出射角は等しく、結果
としてプリズム３６ｂ、従ってウォラストンプリズム３
６からは３本のレーザビームＬｉ，Ｌｍ，Ｌｊが分離し
て得られることになる。

【００５６】図１２に示す光学ヘッド１７の光学系の動
作を説明する。半導体レーザ３１から放射される発散光
としてのレーザビームＬＢは、コリメータレンズ３２に
よって平行光に整形されてビームスプリッタ３３に入射
される。ビームスプリッタ３３の多層膜３３ａを透過し
たレーザビームは反射ミラー３４で直角に光路が変更さ
れ、対物レンズ３５を介して光磁気ディスク１１の記録
面に照射される。

【００５７】また、光磁気ディスク１１の記録面で反射
されるレーザビームは対物レンズ３５および反射ミラー
３４を介してビームスプリッタ３３に入射される。そし
て、ビームスプリッタ３３の多層膜３３ａで反射された
レーザビームＬｒは、さらにビームスプリッタ３３の反
射面３３ｂで反射されて外部に出射され、ウォラストン
プリズム３６に入射される。

【００５８】このように光磁気ディスク１１の記録面で
の反射に係るレーザビームＬｒがウォラストンプリズム
３６に入射されるが、上述せずも、光磁気ディスク１１
の記録面での偏光面の回転（カー回転）がなかった場合
の偏光面が光軸Ａxaに対して４５゜だけ傾くように設定
されている（図１４の直線偏光Ｌａの偏光面Ｐpoと光軸
Ａxaとの関係参照）。これにより、上述した直線偏光Ｌ
ａが入射される場合と同様に、ウォラストンプリズム３
６によってレーザビームＬｒより３本のレーザビームＬ
ｉ，Ｌｍ，Ｌｊが分離して得られる。

【００５９】ここで、レーザビームＬｒの偏光面は光磁
気ディスク１１の記録膜の磁化の向きに従って時計方向
または反時計方向にわずかに回転し、レーザビームＬ
ｉ，Ｌｊの光量に光磁気ディスク１１の記録膜の磁化の
向きに従った大小関係が生じる。そのため、レーザビー
ムＬｉ，Ｌｊの光量を検出し、その差をとることで光磁
気記録されたデータ（信号）に対応する再生信号を得る
ことができる。なお、レーザビームＬｒの偏光面が回転
してもレーザビームＬｍの光量は一定である。

【００６０】上述したようにウォラストンプリズム３６
より出射される３本のレーザビームＬｉ，Ｌｍ，Ｌｊは
集光レンズ３７およびマルチレンズ３８を介してフォト
ディテクタ３９に入射される。フォトディテクタ３９を
構成するフォトダイオード部３９ｉ，３９ｍ，３９ｊに
は、図１３に示すように、それぞれレーザビームＬｉ，
Ｌｍ，ＬｊによるスポットＳＰｉ，ＳＰｍ，ＳＰｊが形
成される。

【００６１】この場合、４分割フォトダイオード部３９
ｍを構成する４個のフォトダイオードＤａ〜Ｄｄの検出
信号をそれぞれＳａ〜Ｓｄとし、フォトダイオード部３
９ｉ，３９ｊを構成するフォトダイオードＤｉ，Ｄｊの
検出信号をＳｉ，Ｓｊとするとき、光学ヘッド１７の増
幅回路部（図示せず）で以下の演算が行われ、記録領域
からの再生信号ＳMO、非点収差方式のフォーカスエラー
信号ＳFEおよびプッシュプル信号ＳPPが生成される。

【００６２】ＳMO＝Ｓｉ−Ｓｊ ＳFE＝（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ） ＳPP＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）

【００６３】図１に戻って、ディスク装置１０は、ＣＰ
Ｕ（central processing unit）を備えるサーボコント
ローラ４１を有している。サーボコントローラ４１に
は、光学ヘッド１７で生成されるフォーカスエラー信号
ＳFEがＡ／Ｄコンバータ４２を介して供給される。ま
た、光学ヘッド１７で生成されるプッシュプル信号ＳPP
は、プッシュプル法によるトラッキングエラー信号ＳTE
と、光磁気ディスク１１のグルーブウォブルに対応した
ウォブル信号（ＦＭ信号）ＳWBと、光磁気ディスク１１
のクロックマークＣＭに対応したクロックマーク再生信
号ＳCMとを含むものである。ここで、信号ＳTE，ＳWB，
ＳCMはそれぞれ異なる周波数帯域にある。したがって、
プッシュプル信号ＳPPより、ローパスフィルタやバンド
パスフィルタを使用して、信号ＳTE，ＳWB，ＳCMをそれ
ぞれ抽出することが可能である。

【００６４】サーボコントローラ４１には、プッシュプ
ル信号ＳPPよりローパスフィルタ４３で抽出されたトラ
ッキングエラー信号ＳTEがＡ／Ｄコンバータ４４を介し
て供給される。このサーボコントローラ４１には、さら
に上述した周波数発電機１４より出力される周波数信号
ＳFGが供給される。

【００６５】サーボコントローラ４１の動作は、後述す
るシステムコントローラ５１によって制御される。この
サーボコントローラ４１によって、トラッキングコイル
やフォーカスコイル、さらには光学ヘッド１７をラジア
ル方向に移動させるためのリニアモータを含むアクチュ
エータ４５が制御され、トラッキングやフォーカスのサ
ーボが行われ、また光学ヘッド１７の半径方向（ラジア
ル方向）への移動が制御される。また、サーボコントロ
ーラ４１によってスピンドルモータ１３が制御され、上
述したように記録時や再生時に光磁気ディスク１１が角
速度一定で回転するように制御される。

【００６６】また、ディスク装置１０は、ＣＰＵを備え
るシステムコントローラ５１と、データバッファ５２
と、ホストコンピュータとの間でデータやコマンドの送
受を行うためのＳＣＳＩ（Small Computer System Inte
rface）５３とを有している。システムコントローラ５
１はシステム全体を制御するためのものである。

【００６７】また、ディスク装置１０は、ホストコンピ
ュータからＳＣＳＩ５３を通じて供給される書き込みデ
ータに対して誤り訂正符号の付加を行うと共に、後述す
るデータ復調器５９の出力データに対して誤り訂正を行
うためのＥＣＣ（error correction code）回路５４
と、このＥＣＣ回路５４で誤り訂正符号が付加された書
き込みデータをＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverte
d）データに変換して記録データＤｒを得ると共に、上
述した固定パターン信号ＳFPを発生するデータ変調器５
５とを有している。

【００６８】また、ディスク装置１０は、光学ヘッド１
７で生成される再生信号ＳMOの周波数特性を補償するた
めのイコライザ回路５６と、このイコライザ回路５６の
出力信号をディジタル信号に変換するためのＡ／Ｄコン
バータ５７と、このＡ／Ｄコンバータ５７の出力データ
に対してディジタル的にデータ識別処理をして再生デー
タＤｐを得るデータ識別器５８と、このデータ識別器５
８より出力される再生データＤｐに対してＮＲＺＩ逆変
換をして読み出しデータを得るためのデータ復調器５９
とを有している。データ識別器５８は、２値化回路やビ
タビ復号器等で構成される。

【００６９】また、ディスク装置１０は、光学ヘッド１
７で生成されるプッシュプル信号ＳPPに含まれるウォブ
ル信号ＳWBよりフレーム同期信号ＦＤおよびフレームア
ドレスデータＦＡＤを得るＡＤＩＰ（Address In Pre-g
roove）デコーダ６０と、プッシュプル信号ＳPPに含ま
れるクロックマーク再生信号ＳCMおよび光磁気ディスク
１１の固定パターン領域に対応した再生信号ＳMOより、
再生信号ＳCMの０クロス点のタイミングを示すパルス信
号ＰCMおよびデータクロック信号ＤＣＫを得るデータク
ロック再生器７０と、フレーム同期信号ＦＤ、フレーム
アドレスデータＦＡＤ、パルス信号ＰCMおよびデータク
ロック信号ＤＣＫを使用して、リードゲート信号やライ
トゲート信号等のシステム各部に必要なタイミング信号
を発生するタイミング発生器９０とを有している。フレ
ームアドレスデータＦＡＤはサーボコントローラ４１に
も供給され、またデータクロック信号ＤＣＫはＡ／Ｄコ
ンバータ５７にサンプリングクロックとして供給され
る。

【００７０】図１６は、ＡＤＩＰデコーダ６０の構成を
示している。このＡＤＩＰデコーダ６０は、プッシュプ
ル信号ＳPPよりウォブル信号ＳWBを抽出するためのバン
ドパスフィルタ６１と、直流カット用のコンデンサ６２
と、閾値＝０としてウォブル信号ＳWBをパルス信号（２
値信号）ＰWBに変換するコンパレータ６３とを有してい
る。

【００７１】また、ＡＤＩＰデコーダ６０は、ＰＬＬ回
路６４を構成する電圧制御発振器６４ａと、この電圧制
御発振器６４ａより出力されるクロック信号ＣＫ24を１
／２４に分周する分周器６４ｂと、コンパレータ６３よ
り出力されるパルス信号ＰWBと分周器６４ｂの出力信号
との位相比較を行うための位相比較器６４ｃと、この位
相比較器６４ｃより出力される位相誤差信号の低域成分
を取り出して電圧制御発振器６４ａに供給するための制
御信号を得るローパスフィルタ６４ｄとを有している。

【００７２】また、ＡＤＩＰデコーダ６０は、コンパレ
ータ６３より出力されるパルス信号ＰWBに対して電圧制
御発振器６４ａより出力されるクロック信号ＣＫ24を使
用した復調処理を行ってアドレス情報ＡＤＭを得ると共
に、このアドレス情報ＡＤＭに同期したクロック信号Ａ
ＣＫを得る検波回路６７と、この検波回路６７より出力
されるアドレス情報ＡＤＭに対し、クロック信号ＡＣＫ
を使用して、同期検出、バイフェーズ復調、誤り検出な
どを行って、フレーム同期信号ＦＤおよびフレームアド
レスデータＦＡＤを得るアドレス変換器６８とを有して
いる。

【００７３】次に、図１６に示すＡＤＩＰデコーダ６０
の動作を説明する。プッシュプル信号ＳPPよりバンドパ
スフィルタ６１でウォブル信号ＳWBが抽出される。そし
て、このウォブル信号ＳWBがコンデンサ６２を介してコ
ンパレータ６３に供給されてパルス信号ＰWBに変換され
る。上述したように、光磁気ディスク１１には、バイフ
ェーズ変調後のアドレス情報ＡＤＭが周波数変調され、
この変調後の信号がグルーブウォブルとして記録されて
いる。そのため、ウォブル信号ＳWBは、周波数変調後の
信号と同じく、図１７Ａに示すように、アドレス情報Ａ
ＤＭの１ビット（バイフェーズ１ビット）に対応して、
“１”のときは４波を有し、“０”のときは３波を有す
るものとなっている。そのため、コンパレータ６３から
は、図１７Ｂに示すように、パルス信号（２値信号）Ｐ
WBが得られる。なお、ウォブル信号ＳWBの振幅は、光磁
気ディスク１１のグルーブウォブルの振幅に比例したも
のとなる。

【００７４】ビット“１”に対応するウォブル信号ＳWB
の周波数がｆａであり、ビット“０”に対応するウォブ
ル信号ＳWBの周波数がｆｂであるとき、電圧制御発振器
６４ａの発振周波数は、ｆａ，ｆｂの公倍数の周波数
（＝６ｆａ＝８ｆｂ）近傍で変化するように設定されて
いる。そのため、電圧制御発振器６４ａからは、図１７
Ｃに示すように、ｆｃ＝６ｆａ＝８ｆｂの周波数、従っ
てバイフェーズのビット周波数の２４倍の周波数を持
ち、パルス信号ＰWBに同期したクロック信号ＣＫ24が得
られる。

【００７５】このクロック信号ＣＫ24を基準にすると、
バイフェーズ１ビット＝“１”に対応するパルス信号Ｐ
WB（１周期分）は３クロック分の値“１”と３クロック
分の値“０”とからなる６Ｔパターンを有し、バイフェ
ーズ１ビット＝“０”に対応するパルス信号ＰWBは４ク
ロック分の値“１”と４クロック分の値“０”とからな
る８Ｔパターンを有している。

【００７６】検波回路６７は、パルス信号ＰWBより８Ｔ
パターンの連続を検出するときは、クロック信号ＡＣＫ
（図１７Ｄに図示）に同期して次のバイフェーズ１ビッ
ト期間に“０”を出力し、一方パルス信号ＰWBより６Ｔ
パターンの連続を検出するときは、クロック信号ＡＣＫ
に同期して次のバイフェーズ１ビット期間に“１”を出
力する。

【００７７】つまり、検波回路６７ではパルス信号ＰWB
に対して復調処理が行われ、この検波回路６７からはク
ロック信号ＡＣＫと共に、このクロック信号ＡＣＫに同
期してグルーブウォブルに対応したアドレス情報ＡＤＭ
が出力される（図１７Ｅに図示）。なお、図１７Ｆは、
クロックマークＣＭの再生信号ＳCMを示している。

【００７８】このアドレス情報ＡＤＭは、アドレス変換
器６８に供給される。このアドレス変換器６８では、ア
ドレス情報ＡＤＭに対し、同期検出、バイフェーズ復
調、誤り検出などが行われて、フレーム同期信号ＦＤお
よびフレームアドレスデータＦＡＤが得られる。これに
より、アドレス変換器６８からは、フレーム同期信号Ｆ
Ｄと共に、アドレス情報ＡＤＭより得られるフレームア
ドレスデータＦＡＤが出力される。

【００７９】図１８は、検波回路６７の構成を示してい
る。この検波回路６７は、クロック信号ＣＫ24を使用し
て、パルス信号ＰWBのパターン判別によりバイフェーズ
ビット“１”および“０”の切れ目（変わり目）を検出
し、バイフェーズのビット周期のクロック信号ＣＫBPを
得るためのバイフェーズ周期検出回路１０２と、このク
ロック信号ＣＫBPがリセット信号として供給されると共
に、クロック信号ＣＫ24がカウント用のクロック信号と
して供給される５ビットカウンタ１０３とを有してい
る。

【００８０】また、検波回路６７は、５ビットカウンタ
１０３のカウント出力に基づいて、バイフェーズビット
“０”用のウインドーパルスＰW0と、バイフェーズビッ
ト“１”用のウインドーパルスＰW１とを生成するウイ
ンドーパルス生成回路１０４を有している。ここで、ウ
インドーパルスＰW0は、正規の８Ｔパターンのパルス信
号ＰWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジにそ
れぞれ対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ
１ビット期間に６個のパルスが生成される。同様に、ウ
インドーパルスＰW1は、正規の６Ｔパターンのパルス信
号ＰWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジにそ
れぞれ対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ
１ビット期間に８個のパルスが生成される。

【００８１】また、検波回路６７は、クロック信号ＣＫ
24を使用して、パルス信号ＰWBの立ち上がりエッジおよ
び立ち下がりエッジを検出し、エッジ検出パルスＰｅを
出力するエッジ検出回路１１０を有している。

【００８２】図１９は、エッジ検出回路１１０の構成を
示している。このエッジ検出回路１１０は、クロック信
号ＣＫ24で動作する２段構成のＤフリップフロップ回路
１１１，１１２と、エクスクルーシブ・オア回路１１３
とから構成されている。パルス信号ＰWBはＤフリップフ
ロップ回路１１１のデータ端子Ｄに供給され、このＤフ
リップフロップ回路１１１の非反転出力端子Ｑに得られ
る信号がＤフリップフロップ回路１１２のデータ端子Ｄ
に供給される。そして、Ｄフリップフロップ回路１１
１，１１２の非反転出力端子Ｑに得られる信号がエクス
クルーシブ・オア回路１１３の入力側に供給され、この
エクスクルーシブ・オア回路１１３の出力側よりエッジ
検出パルスＰｅが出力される。

【００８３】また、図１８に戻って、検波回路６７は、
ウインドーパルス生成回路１０４で生成されるウインド
ーパルスＰW0，ＰW1をゲート信号としてエッジ検出パル
スＰｅをゲートし、一致検出回路として機能するアンド
ゲート１２１，１２２と、アンドゲート１２１，１２２
でそれぞれゲートされたエッジ検出パルスＰｅをカウン
トするエッジパルスカウンタ１２３，１２４と、前のバ
イフェーズ１ビット期間でカウントされたエッジパルス
カウンタ１２３，１２４のカウント値ｘ，ｙを比較し、
次のバイフェーズ１ビット期間に、その比較結果に基づ
いたアドレス情報ＡＤＭを出力する比較回路１２５とを
有している。

【００８４】ここで、エッジパルスカウンタ１２３，１
２４には、それぞれバイフェーズのビット周期のクロッ
ク信号ＣＫBPがリセット信号として供給される。また、
このクロック信号ＣＫBPは、比較回路１２５にもタイミ
ング信号として供給される。比較回路１２５では、ｘ＞
ｙのときはアドレス情報ＡＤＭとしてビット“０”が出
力され、ｘ＜ｙのときはアドレス情報ＡＤＭとしてビッ
ト“１”が出力される。

【００８５】また、検波回路６７は、クロック信号ＣＫ
24を１／２４に分周し、クロック信号ＣＫBPを参照し
て、アドレス情報ＡＤＭに同期したクロック信号ＡＣＫ
（図１７Ｄ参照）を出力する分周器１２６を有してい
る。

【００８６】図１８に示す検波回路６７の動作を説明す
る。バイフェーズ周期検出回路１０２にパルス信号ＰWB
およびクロック信号ＣＫ24が供給され、バイフェーズの
ビット周期のクロック信号ＣＫBPが得られる。また、５
ビットカウンタ１０３には、このクロック信号ＣＫBPが
リセット信号として供給されると共に、クロック信号Ｃ
Ｋ24がカウント用のクロック信号として供給される。こ
れにより、５ビットカウンタ１０３では、バイフェーズ
の各ビット周期において、最初にリセットされ、その後
にクロック信号ＣＫ24によるカウント動作が行われ、１
０進法で「０」〜「２３」までカウントされることとな
る。

【００８７】この５ビットカウンタ１０３のカウント出
力はウインドーパルス生成回路１０４に供給され、５ビ
ットカウンタ１０３のカウント出力に基づいて、バイフ
ェーズビット“０”用のウインドーパルスＰW0と、バイ
フェーズビット“１”用のウインドーパルスＰW１とが
生成され、それぞれアンドゲート１２１，１２２にゲー
ト信号として供給される。

【００８８】一方、エッジ検出回路１１０にパルス信号
ＰWBおよびクロック信号ＣＫ24が供給され、パルス信号
ＰWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジが検出
されてエッジ検出パルスＰｅが得られ、このエッジ検出
パルスＰｅがそれぞれアンドゲート１２１，１２２に供
給される。そして、アンドゲート１２１，１２２でゲー
トされたエッジ検出パルスＰｅは、それぞれエッジパル
スカウンタ１２３，１２４に供給され、各バイフェーズ
１ビット期間毎にカウントされる。

【００８９】そして、比較回路１２５では、前のバイフ
ェーズ１ビット期間でカウントされたエッジパルスカウ
ンタ１２３，１２４のカウント値ｘ，ｙが比較され、次
のバイフェーズ１ビット期間に、その比較結果に基づい
たアドレス情報ＡＤＭが出力される。

【００９０】例えば、あるバイフェーズ１ビット期間の
ウォブル信号ＳWBが図２０Ａに示すようにバイフェーズ
ビット“０”に対応するものであるとき、パルス信号
(２値信号）ＰWBは図２０Ｂに示すように８Ｔパターン
が３回連続したものとなり、図２０Ｄ，図２０Ｄ′に示
すようにエッジ検出パルスＰｅが得られる。図２０Ｃ
は、クロック信号ＣＫ24を示している。

【００９１】そして、アンドゲート１２１に供給される
ウインドーパルスＰW0は図２０Ｅに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ１２３に供給される
ゲート出力Ｐ00は図２０Ｆに示すようになり、ｘ＝６と
なる。一方、アンドゲート１２２に供給されるウインド
ーパルスＰW1は図２０Ｅ′に示すように形成されている
ため、エッジパルスカウンタ１２４に供給されるゲート
出力Ｐ01は図２０Ｆ′に示すようになり、ｙ＝２とな
る。したがって、比較回路１２５より、次のバイフェー
ズ１ビット期間に、アドレス情報ＡＤＭとして、ビット
“０”が出力される。

【００９２】また、あるバイフェーズ１ビット期間のウ
ォブル信号ＳWBが図２１Ａに示すようにバイフェーズビ
ット“１”に対応するものであるとき、パルス信号(２
値信号）ＰWBは図２１Ｂに示すように６Ｔパターンが４
回連続したものとなり、図２１Ｄ，図２１Ｄ′に示すよ
うにエッジ検出パルスＰｅが得られる。図２１Ｃは、ク
ロック信号ＣＫ24を示している。

【００９３】そして、アンドゲート１２１に供給される
ウインドーパルスＰW0は図２１Ｅに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ１２３に供給される
ゲート出力Ｐ00は図２１Ｆに示すようになり、ｘ＝２と
なる。一方、アンドゲート１２２に供給されるウインド
ーパルスＰW1は図２１Ｅ′に示すように形成されている
ため、エッジパルスカウンタ１２４に供給されるゲート
出力Ｐ01は図２１Ｆ′に示すようになり、ｙ＝８とな
る。したがって、比較回路１２５より、次のバイフェー
ズ１ビット期間に、アドレス情報ＡＤＭとして、ビット
“１”が出力される。

【００９４】次に、光磁気ディスク１１に傷などの欠陥
（ディフェクト）がある場合であって、ウォブル信号Ｓ
WBが変形している場合について説明する。

【００９５】例えば、あるバイフェーズ１ビット期間の
ウォブル信号ＳWBがバイフェーズビット“０”に対応す
るものであって、図２２Ａに示すようにディフェクトに
よる変形があるとき、パルス信号(２値信号）ＰWBは図
２２Ｂに示すように得られ、図２２Ｄ，図２２Ｄ′に示
すようにエッジ検出パルスＰｅが得られる。図２２Ｃ
は、クロック信号ＣＫ24を示している。

【００９６】そして、アンドゲート１２１に供給される
ウインドーパルスＰW0は図２２Ｅに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ１２３に供給される
ゲート出力Ｐ00は図２２Ｆに示すようになり、ｘ＝６と
なる。一方、アンドゲート１２２に供給されるウインド
ーパルスＰW1は図２２Ｅ′に示すように形成されている
ため、エッジパルスカウンタ１２４に供給されるゲート
出力Ｐ01は図２２Ｆ′に示すようになり、ｙ＝３とな
る。したがって、比較回路１２５より、次のバイフェー
ズ１ビット期間に、アドレス情報ＡＤＭとして、ビット
“０”が出力される。

【００９７】また、あるバイフェーズ１ビット期間のウ
ォブル信号ＳWBがバイフェーズビット“１”に対応する
ものであって、図２３Ａに示すようにディフェクトによ
る変形があるとき、パルス信号(２値信号）ＰWBは図２
３Ｂに示すようになり、図２３Ｄ，図２３Ｄ′に示すよ
うにエッジ検出パルスＰｅが得られる。図２３Ｃは、ク
ロック信号ＣＫ24を示している。

【００９８】そして、アンドゲート１２１に供給される
ウインドーパルスＰW0は図２３Ｅに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ１２３に供給される
ゲート信号Ｐ00は図２３Ｆに示すようになり、ｘ＝１と
なる。一方、アンドゲート１２２に供給されるウインド
ーパルスＰW1は図２３Ｅ′に示すように形成されている
ため、エッジパルスカウンタ１２４に供給されるゲート
出力Ｐ01は図２３Ｆ′に示すようになり、ｙ＝６とな
る。したがって、比較回路１２５より、次のバイフェー
ズ１ビット期間に、アドレス情報ＡＤＭとして、ビット
“１”が出力される。

【００９９】このように、図１８に示す検波回路６７で
は、ウォブル信号ＳWBに、図２２Ａおよび図２３Ａに示
すようなディフェクトによる変形がある場合であって
も、ウォブル信号ＳWBにディフェクトによる変形がない
場合と同様に、良好にアドレス情報ＡＤＭを得ることが
できる。

【０１００】ところで、図２２Ａおよび図２３Ａに示す
ようなディフェクトによる変形がある場合には、上述し
たようにｘ，ｙの差が大きくなるので、ｘ，ｙの大小の
みによって、ビット“０”またはビット“１”と判定し
ても、正しくアドレス情報ＡＤＭを得ることができる。
しかし、ｘ，ｙの差があまりないときは、ビット“０”
と判定すべきか、ビット“１”と判定すべきかが困難と
なる場合がある。

【０１０１】例えば、あるバイフェーズ１ビット期間の
ウォブル信号ＳWBが図２４Ａに示すように変形したもの
であるとき、パルス信号(２値信号）ＰWBは図２４Ｂに
示すようになり、図２４Ｄ（＝図２４Ｅ＝図２４Ｅ′）
に示すようにエッジ検出パルスＰｅが得られる。図２４
Ｃは、クロック信号ＣＫ24を示している。

【０１０２】そして、アンドゲート１２１に供給される
ウインドーパルスＰW0は図２４Ｆに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ１２３に供給される
ゲート出力Ｐ00は図２４Ｇに示すようになり、ｘ＝４と
なる。ビット“０”と仮定するならば、ｘ＝６となるは
ずである。

【０１０３】一方、アンドゲート１２２に供給されるウ
インドーパルスＰW1は図２４Ｆ′に示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ１２４に供給される
ゲート出力Ｐ01は図２４Ｇ′に示すようになり、ｙ＝６
となる。ビット“１”と仮定するならば、ｙ＝８となる
はずである。

【０１０４】したがって、単純な比較であると、ｘ＜ｙ
であることから、ビット“１”であると判定することと
なる。しかし、本当にビット“１”であるとは即断でき
ない。なぜならば、それぞれが本来検出されるべき数と
比較すると、ともにカウントが２不足しているという点
で同じ誤差を持っているからである。

【０１０５】そこで、ウインドーについてさらに条件を
加え、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとを分離し
て検出することによって、より正確な判定が可能にな
る。

【０１０６】図２５は、他の構成の検波回路６７Ａを示
すものであり、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジと
を分離して検出するようにしたものである。この図２５
において、図１８と対応する部分には同一符号を付して
示している。

【０１０７】この検波回路６７Ａは、クロック信号ＣＫ
24を使用して、パルス信号ＰWBのパターン判別によりバ
イフェーズビット“１”および“０”の切れ目（変わり
目）を検出し、バイフェーズのビット周期のクロック信
号ＣＫBPを得るためのバイフェーズ周期検出回路１０２
と、このクロック信号ＣＫBPがリセット信号として供給
されると共に、クロック信号ＣＫ24がカウント用のクロ
ック信号として供給される５ビットカウンタ１０３とを
有している。

【０１０８】また、検波回路６７Ａは、５ビットカウン
タ１０３のカウント出力に基づいて、バイフェーズビッ
ト“０”用のウインドーパルスＰW0u，ＰW0dと、バイフ
ェーズビット“１”用のウインドーパルスＰW１u，ＰW1
dとを生成するウインドーパルス生成回路１０４Ａを有
している。

【０１０９】ここで、ウインドーパルスＰW0uは正規の
８Ｔパターンのパルス信号ＰWBの立ち上がりエッジに対
応して出力されるパルスであり、バイフェーズ１ビット
期間に３個のパルスが生成される。ウインドーパルスＰ
W0dは正規の８Ｔパターンのパルス信号ＰWBの立ち下が
りエッジに対応して出力されるパルスであり、バイフェ
ーズ１ビット期間に３個のパルスが生成される。

【０１１０】ウインドーパルスＰW1uは正規の６Ｔパタ
ーンのパルス信号ＰWBの立ち上がりエッジに対応して出
力されるパルスであり、バイフェーズ１ビット期間に４
個のパルスが生成される。ウインドーパルスＰW1dは正
規の６Ｔパターンのパルス信号ＰWBの立ち下がりエッジ
に対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ１ビ
ット期間に４個のパルスが生成される。

【０１１１】また、検波回路６７Ａは、クロック信号Ｃ
Ｋ24を使用して、パルス信号ＰWBの立ち上がりエッジを
検出し、エッジ検出パルスＰeuを出力する立ち上がりエ
ッジ検出回路１３０と、同様にクロック信号ＣＫ24を使
用して、パルス信号ＰWBの立ち下がりエッジを検出し、
エッジ検出パルスＰedを出力するエッジ検出回路１４０
とを有している。

【０１１２】図２６は、立ち上がりエッジ検出回路１３
０の構成を示している。このエッジ検出回路１３０は、
クロック信号ＣＫ24で動作する２段構成のＤフリップフ
ロップ回路１３１，１３２と、アンド回路１３３とから
構成されている。パルス信号ＰWBはＤフリップフロップ
回路１３１のデータ端子Ｄに供給され、このＤフリップ
フロップ回路１３１の非反転出力端子Ｑに得られる信号
がＤフリップフロップ回路１３２のデータ端子Ｄに供給
される。そして、Ｄフリップフロップ回路１３１の非反
転出力端子Ｑに得られる信号とＤフリップフロップ回路
１３２の反転出力端子Ｑバーに得られる信号とがアンド
回路１３３の入力側に供給され、このアンド回路１３３
の出力側よりエッジ検出パルスＰeuが出力される。

【０１１３】また、図２７は、立ち下がりエッジ検出回
路１４０の構成を示している。このエッジ検出回路１４
０は、クロック信号ＣＫ24で動作する２段構成のＤフリ
ップフロップ回路１４１，１４２と、アンド回路１４３
とから構成されている。パルス信号ＰWBはＤフリップフ
ロップ回路１４１のデータ端子Ｄに供給され、このＤフ
リップフロップ回路１４１の非反転出力端子Ｑに得られ
る信号がＤフリップフロップ回路１４２のデータ端子Ｄ
に供給される。そして、Ｄフリップフロップ回路１４１
の反転出力端子Ｑバーに得られる信号とＤフリップフロ
ップ回路１４２の非反転出力端子Ｑに得られる信号とが
アンド回路１４３の入力側に供給され、このアンド回路
１４３の出力側よりエッジ検出パルスＰedが出力され
る。

【０１１４】また、図２５に戻って、検波回路６７Ａ
は、ウインドーパルス生成回路１０４Ａで生成されるウ
インドーパルスＰW0u，ＰW0dをゲート信号としてそれぞ
れエッジ検出パルスＰeu，Ｐedをゲートし、一致検出回
路として機能するアンドゲート１５１，１５２と、ウイ
ンドーパルス生成回路１０４Ａで生成されるウインドー
パルスＰW1u，ＰW1dをゲート信号としてそれぞれエッジ
検出パルスＰeu，Ｐedをゲートし、一致検出回路として
機能するアンドゲート１５３，１５４とを有している。

【０１１５】また、検波回路６７Ａは、アンドゲート１
５１，１５２でそれぞれゲートされたエッジ検出パルス
Ｐeu，Ｐedをカウントするエッジパルスカウンタ１５
５，１５６と、アンドゲート１５３，１５４でそれぞれ
ゲートされたエッジ検出パルスＰeu，Ｐedをカウントす
るエッジパルスカウンタ１５７，１５８と、エッジパル
スカウンタ１５５，１５６のカウント値を加算する加算
器１５９と、エッジパルスカウンタ１５７，１５８のカ
ウント値を加算する加算器１６０とを有している。

【０１１６】また、検波回路６７Ａは、前のバイフェー
ズ１ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ
１５５，１５６のカウント値の合計値（加算器１５９の
出力値）ｘと、同様に前のバイフェーズ１ビット期間で
カウントされたエッジパルスカウンタ１５７，１５８の
カウント値の合計値（加算器１６０の出力値）ｙとを比
較し、次のバイフェーズ１ビット期間に、その比較結果
に基づいたアドレス情報ＡＤＭを出力する比較回路１６
１とを有している。

【０１１７】ここで、エッジパルスカウンタ１５５〜１
５８には、それぞれバイフェーズのビット周期のクロッ
ク信号ＣＫBPがリセット信号として供給される。また、
このクロック信号ＣＫBPは、比較回路１６１にもタイミ
ング信号として供給される。比較回路１６１では、ｘ＞
ｙのときはアドレス情報ＡＤＭとしてビット“０”が出
力され、ｘ＜ｙのときはアドレス情報ＡＤＭとしてビッ
ト“１”が出力される。

【０１１８】また、検波回路６７Ａは、クロック信号Ｃ
Ｋ24を１／２４に分周し、クロック信号ＣＫBPを参照し
て、アドレス情報ＡＤＭに同期したクロック信号ＡＣＫ
（図１７Ｄ参照）を出力する分周器１２６を有してい
る。

【０１１９】図２５に示す検波回路６７Ａの動作を説明
する。バイフェーズ周期検出回路１０２にパルス信号Ｐ
WBおよびクロック信号ＣＫ24が供給され、バイフェーズ
のビット周期のクロック信号ＣＫBPが得られる。また、
５ビットカウンタ１０３には、このクロック信号ＣＫBP
がリセット信号として供給されると共に、クロック信号
ＣＫ24がカウント用のクロック信号として供給される。
これにより、５ビットカウンタ１０３では、バイフェー
ズの各ビット周期において、最初にリセットされ、その
後にクロック信号ＣＫ24によるカウント動作が行われ、
１０進法で「０」〜「２３」までカウントされることと
なる。

【０１２０】この５ビットカウンタ１０３のカウント出
力はウインドーパルス生成回路１０４Ａに供給され、５
ビットカウンタ１０３のカウント出力に基づいて、バイ
フェーズビット“０”用のウインドーパルスＰW0u，ＰW
0dと、バイフェーズビット“１”用のウインドーパルス
ＰW１u，ＰW1dとが生成され、それぞれアンドゲート１
５１〜１５４にゲート信号として供給される。

【０１２１】一方、立ち上がりエッジ検出回路１３０に
パルス信号ＰWBおよびクロック信号ＣＫ24が供給され、
パルス信号ＰWBの立ち上がりエッジが検出されてエッジ
検出パルスＰeuが得られ、このエッジ検出パルスＰeuが
それぞれアンドゲート１５１，１５３に供給される。同
様に、立ち下がりエッジ検出回路１４０にパルス信号Ｐ
WBおよびクロック信号ＣＫ24が供給され、パルス信号Ｐ
WBの立ち下がりエッジが検出されてエッジ検出パルスＰ
edが得られ、このエッジ検出パルスＰedがそれぞれアン
ドゲート１５２，１５４に供給される。

【０１２２】アンドゲート１５１，１５２でゲートされ
たエッジ検出パルスＰeu，Ｐedはそれぞれエッジパルス
カウンタ１５５，１５６に供給され、各バイフェーズ１
ビット期間毎にカウントされる。同様に、アンドゲート
１５３，１５４でゲートされたエッジ検出パルスＰeu，
Ｐedはそれぞれエッジパルスカウンタ１５７，１５８に
供給され、各バイフェーズ１ビット期間毎にカウントさ
れる。

【０１２３】そして、比較回路１６１では、前のバイフ
ェーズ１ビット期間でカウントされたエッジパルスカウ
ンタ１５５，１５６のカウント値の合計値ｘと同様に前
のバイフェーズ１ビット期間でカウントされたエッジパ
ルスカウンタ１５７，１５８のカウント値の合計値ｙと
が比較され、次のバイフェーズ１ビット期間に、その比
較結果に基づいたアドレス情報ＡＤＭが出力される。

【０１２４】図２５に示す検波回路６７Ａで、あるバイ
フェーズ１ビット期間のウォブル信号ＳWBが図２８Ａ
（＝図２４Ａ）に示すように変形したものである場合に
ついて説明する。この場合、パルス信号(２値信号）ＰW
Bは図２８Ｂに示すようになり、図２８Ｅ（＝図２８
Ｅ′）に示すように立ち上がりエッジに対応したエッジ
検出パルスＰeuが得られると共に、図２８Ｇ（＝図２８
Ｇ′）に示すように立ち下がりエッジに対応したエッジ
検出パルスＰedが得られる。図２８Ｃはクロック信号Ｃ
Ｋ24を示しており、図２８Ｄはエッジ検出パルスＰeu，
Ｐedを合わせたエッジ検出パルスＰｅを示している。

【０１２５】また、アンドゲート１５１，１５２に供給
されるウインドーパルスＰW0u，ＰWOdは図２８Ｆ，Ｈに
示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ
１５５，１５６に供給されるゲート出力Ａ0u，Ａ0dは図
２８Ｉに示すようになり、ｘ＝１となる。一方、アンド
ゲート１５３，１５４に供給されるウインドーパルスＰ
W1u，ＰW1dは図２８Ｆ′，Ｈ′に示すように形成されて
いるため、エッジパルスカウンタ１５７，１５８に供給
されるゲート出力Ａ1u，Ａ1dは図２８Ｉ′に示すように
なり、ｙ＝６となる。この場合、ｘ，ｙの差が十分に大
きくなるので、その比較結果をそのまま利用しても、正
しい検波結果となる。

【０１２６】したがって、比較回路１６１では、ｘ，ｙ
の比較結果がそのまま利用され、次のバイフェーズ１ビ
ット期間に、アドレス情報ＡＤＭとして、ビット“１”
が出力される。

【０１２７】このように、ウインドーパルスだけでな
く、パルス信号ＰWBのエッジ情報をも加味することによ
り、より正確な判定が可能になる利益がある。

【０１２８】また、図２９は、データクロック再生器７
０の構成を示している。このデータクロック再生器７０
は、プッシュプル信号ＳPPよりクロックマーク再生信号
ＳCMを抽出するためのバンドパスフィルタ７１と、直流
カット用のコンデンサ７２と、クロックマーク再生信号
ＳCMの０クロス点のタイミングを示すパルス信号ＰCMを
得るエッジ検出器７３とを有している。

【０１２９】また、データクロック再生器７０は、再生
信号ＳMOの直流成分をカットするコンデンサ７４と、閾
値＝０として再生信号ＳMOをパルス信号（２値信号）Ｐ
MOに変換するコンパレータ７５と、このパルス信号ＰMO
からタイミング発生器９０より供給される固定パターン
ゲート信号ＳＧｏを使用して光磁気ディスク１１の固定
パターン領域の再生信号ＳMOに対応するパルス信号ＰFP
をゲートするアンド回路７６とを有している。この場
合、図９Ｄに示すように、固定パターンゲート信号ＳＧ
ｏは、固定パターン領域の再生信号ＳMOが得られる期間
で“１”となり、その他の期間では“０”となるもので
ある。

【０１３０】なお、タイミング発生器９０には、上述し
たクロックマーク再生信号ＳCMの０クロス点のタイミン
グを示すパルス信号ＰCMが供給される。そして、タイミ
ング発生器９０では、このパルス信号ＰCMをタイミング
基準とし、データクロック信号ＤＣＫをカウントするこ
とで、固定パターンゲート信号ＳＧｏが生成される。

【０１３１】また、データクロック再生器７０は、ＰＬ
Ｌ回路を構成する電圧制御発振器７７と、この電圧制御
発振器７７より出力されるデータクロック信号ＤＣＫを
１／Ｎ（ここでは、Ｎ＝ｎ＝５２８）に分周する分周器
７８と、エッジ検出器７３より出力されるパルス信号Ｐ
CMと分周器７８の出力信号との位相比較を行うための位
相比較器７９と、この位相比較器７９より出力される位
相誤差信号の低域成分を取り出すローパスフィルタ８０
とを有している。

【０１３２】また、データクロック再生器７０は、アン
ド回路７６より出力されるパルス信号ＰFPと分周器７８
の出力信号との位相比較を行うための位相比較器８１
と、この位相比較器８１より出力される位相誤差信号の
高域成分を取り出すハイパスフィルタ８２と、ローパス
フィルタ８０の出力信号と接続スイッチ８３を介して供
給されるハイパスフィルタ８２の出力信号とを加算して
電圧制御発振器７７に供給する制御信号を得るための加
算器８４とを有している。接続スイッチ８３にはシステ
ムコントローラ５１よりスイッチ制御信号ＳＷが供給さ
れる。これにより、接続スイッチ８３は、データ書き込
み時（記録時）にはオフとされると共に、データ読み出
し時（再生時）にはオンとされる。

【０１３３】次に、図２９に示すデータクロック再生器
７０の動作を説明する。プッシュプル信号ＳPPよりクロ
ックマーク再生信号ＳCM（図３０Ａに図示）が抽出さ
れ、このクロックマーク再生信号ＳCMはコンデンサ７２
を介してエッジ検出器７３に供給される。そして、エッ
ジ検出器７３よりクロックマーク再生信号ＳCMの０クロ
ス点のタイミングを示すパルス信号ＰCM（図３０Ｂに図
示）が得られる。

【０１３４】また、光学ヘッド１７（図１参照）より出
力される再生信号ＳMOはコンデンサ７４を介してコンパ
レータ７５に供給されてパルス信号（２値信号）ＰMOに
変換される。そして、アンド回路７６では、固定パター
ンゲート信号ＳＧｏ（図３０Ｃに図示）により、パルス
信号ＰMOから光磁気ディスク１１の固定パターン領域の
再生信号ＳMOに対応するパルス信号（２値信号）ＰFP
（図３０Ｄに図示）が取り出される。

【０１３５】そして、データ書き込み時（記録時）に
は、接続スイッチ８３がオフとされることから、電圧制
御発振器７７、分周器７８、位相比較器７９およびロー
パスフィルタ８０によってＰＬＬ回路が構成され、電圧
制御発振器７７には位相比較器７９より出力される位相
誤差信号がローパスフィルタ８０を通じて制御信号とし
て供給される。そのため、電圧制御発振器７７からは、
クロックマーク再生信号ＳCMが持つ位相情報によって位
相が制御されたデータクロック信号ＤＣＫが得られる。

【０１３６】また、データ読み出し時（再生時）には、
接続スイッチ８３がオンとされることから、電圧制御発
振器７７、分周器７８、位相比較器７９，８１、ローパ
スフィルタ８０およびハイパスフィルタによってＰＬＬ
回路が構成され、電圧制御発振器７７には位相比較器７
９より出力される位相誤差信号の低域成分と位相比較器
８１より出力される位相誤差信号の高域成分との加算信
号が制御信号として供給される。そのため、電圧制御発
振器７７からは、クロックマーク再生信号ＳCMが持つ位
相情報と固定パターン領域の再生信号ＳMOが持つ位相情
報とによって位相が制御されたデータクロック信号ＤＣ
Ｋが得られる。なお、図３０Ｅは、データクロック信号
ＤＣＫを示している。

【０１３７】また、図１に戻って、ディスク装置１０
は、クロックマーク信号ＳCMの極性より、ビームＰPBが
ランド部１２Ｌ上にあるか、グルーブ部１２Ｇ上にある
かを判別する極性判別回路４６を有している。この極性
判別回路４６で得られる判別信号ＳＧＬは、本実施の形
態ではサーボコントローラ４１に供給される。サーボコ
ントローラ４１では、判別信号ＳＧＬに基づいて、ラン
ド部１２Ｌに対するトラッキングサーボを行うか、グル
ーブ部１２Ｇに対するトラッキングサーボを行うかの選
択がなされる（ランド部とグルーブ部とではサーボ信号
の極性が相違する）。そして、選択されたトラッキング
サーボに基づいて、ビームがランド部１２Ｌ上若しくは
グルーブ部１２Ｇ上にトラッキングするようにサーボコ
ントローラ４１からのトラッキング制御信号によってア
クチュエータ４５が制御される。

【０１３８】図３１は、極性判別回路４６の構成を示し
ている。この極性判別回路４６は、プッシュプル信号Ｓ
PPよりクロックマーク再生信号ＳCMを抽出するバンドパ
スフィルタ４６ａと、直流カット用のコンデンサ４６ｂ
と、クロックマーク再生信号ＳCMを正側のしきい値ＴＨ
１と比較するコンパレータ４６ｃと、クロックマーク再
生信号ＳCMを負側のしきい値ＴＨ２と比較するコンパレ
ータ４６ｄとを有している。

【０１３９】この場合、コンパレータ４６ｃにおいて、
クロックマーク信号ＳCMは非反転入力端子に供給され、
しきい値ＴＨ１は反転入力端子に供給される。このコン
パレータ４６ｃの出力信号Ｓ１は、ＳCM≧ＴＨ１のとき
は“１”となり、ＳCM＜ＴＨ１のときは“０”となる。
また、コンパレータ４６ｄにおいて、クロックマーク信
号ＳCMは反転入力端子に供給され、しきい値ＴＨ２は非
反転入力端子に供給される。このコンパレータ４６ｄの
出力信号Ｓ２は、ＳCM≦ＴＨ２のときは“１”となり、
ＳCM＞ＴＨ１のときは“０”となる。

【０１４０】また、極性判別回路４６は、コンパレータ
４６ｃ，４６ｄの出力信号Ｓ１，Ｓ２に基づいて、クロ
ックマーク再生信号ＳCMの極性より、ビームＰPBがラン
ド部１２Ｌ上にあるか、グルーブ部１２Ｇ上にあるかを
判別して、判別信号ＳＧＬを出力するグルーブ／ランド
判別回路４６ｅを有している。このグルーブ／ランド判
別回路４６ｅには、タイミング発生器９０（図１参照）
より、クロックマーク再生信号ＳCMの０クロス点のタイ
ミングｔoの前後のタイミングｔ1，ｔ2を示すタイミン
グパルスＴ１，Ｔ２（図５Ｆに図示）が供給される。

【０１４１】そして、判別回路４６ｅでは、タイミング
ｔ1で出力信号Ｓ１が“１”で、タイミングｔ2で出力信
号Ｓ２が“１”となるときは、ビームＰPBがグルーブ部
１２Ｇ上にあると判別し、判別信号ＳＧＬとして“１”
を出力し、一方、タイミングｔ1で出力信号Ｓ２が
“１”で、タイミングｔ2で出力信号Ｓ１が“１”とな
るときは、ビームＰPBがランド部１２Ｌ上にあると判別
し、判別信号ＳＧＬとして“０”を出力するように構成
されている。

【０１４２】図３１に示す極性判別回路４６の動作を説
明する。ビームＰPBがグルーブ部１２Ｇ上を走査してい
るとき、クロックマーク再生信号ＳCMは図５Ｂに破線で
示すような信号ＳＧとなる。そのため、コンパレータ４
６ｃ，４６ｄの出力信号Ｓ１，Ｓ２は図５Ｄに示すよう
になり、タイミングｔ1で出力信号Ｓ１が“１”で、タ
イミングｔ2で出力信号Ｓ２が“１”となる。したがっ
て、判別回路４６ｅではビームＰPBがグルーブ部１２Ｇ
上にあると判別され、判別信号ＳＧＬとして“１”が出
力される。

【０１４３】一方、ビームＰPBがランド部１２Ｌ上を走
査しているとき、クロックマーク再生信号ＳCMは図５Ｂ
に実線で示すような信号ＳＬとなる。そのため、コンパ
レータ４６ｃ，４６ｄの出力信号Ｓ１，Ｓ２は図５Ｅに
示すようになり、タイミングｔ1で出力信号Ｓ２が
“１”で、タイミングｔ2で出力信号Ｓ１が“１”とな
る。したがって、判別回路４６ｅではビームＰPBがラン
ド部１２Ｌ上にあると判別され、判別信号ＳＧＬとして
“０”が出力される。

【０１４４】また、図１に戻って、ディスク装置１０で
は、データ書き込み時（記録時）に、記録データＤｒお
よび固定パターン信号ＳFPを記録する際に、レーザビー
ムをデータクロック信号ＤＣＫで変調することが行われ
る。そのため、データクロック再生器７０で再生された
データクロック信号ＤＣＫがレーザドライバ１８に供給
されている。このようにレーザビームをデータクロック
信号ＤＣＫで変調することは、例えばＵＳＰ５１８２７
３４に記載されている。

【０１４５】ところで、データ書き込み時（記録時）に
おいても、光磁気ディスク１１よりクロックマークＣＭ
の再生が行われている。上述したようにレーザビームが
データクロック信号ＤＣＫで変調されている場合、デー
タクロック信号ＤＣＫが重畳されたクロックマーク再生
信号ＳCM′（図３７Ｃに図示）が得られることとなる。
このクロックマーク再生信号ＳCM′よりデータクロック
信号ＤＣＫを取り除くためローパスフィルタでフィリタ
リングすると、出力されるクロックマーク再生信号ＳCM
（図３７Ｄに図示）は高域成分が失われたものとなり、
０クロス点付近の波形がなまったものとなる。このクロ
ックマーク再生信号ＳCMを位相情報として用いてデータ
クロック信号ＤＣＫを再生した場合、そのデータクロッ
ク信号ＤＣＫにジッタが発生し、データの記録に悪影響
を及ぼすこととなる。

【０１４６】そこで、図１に示すディスク装置１０で
は、データ書き込み時に、システムコントローラ５１よ
りレーザドライバ１８に、図３２Ｂに示すような制御信
号ＣＴ１が供給され、クロックマークＣＭが再生されて
クロックマーク再生信号ＳCM（図３２Ａに図示）が得ら
れる期間（クロックマーク期間）ＴCMは、図３２Ｄに示
すようにレーザビームがデータクロック信号ＤＣＫで変
調されないようにされる。また、システムコントローラ
５１よりサーボコントローラ４１に、図３２Ｃに示すよ
うなパワー制御信号が供給され、クロックマーク期間Ｔ
CMではレーザビームのパワーは、記録パワーＰWではな
く、再生パワーＰRとされる。

【０１４７】このように、クロックマーク期間ＴCMでレ
ーザビームがデータクロック信号ＤＣＫで変調されない
ようにすることで、図３２Ａに示すように、データクロ
ック信号ＤＣＫの重畳されていないクロックマーク再生
信号ＳCMを得ることができる。そのため、このクロック
マーク再生信号ＳCMの０クロス点から位相情報を高精度
に得ることができ、データクロック信号ＤＣＫの再生等
を良好に行うことができる。

【０１４８】次に、図１に示す光磁気ディスク装置１０
の動作を説明する。ホストコンピュータよりシステムコ
ントローラ５１にデータライトコマンドが供給される場
合には、データ書き込み（記録）が行われる。この場
合、ＳＣＳＩ５３で受信されてデータバッファ５２に格
納されているホストコンピュータからの書き込みデータ
に対して、ＥＣＣ回路５４で誤り訂正符号の付加が行わ
れ、さらにデータ変調器５５でＮＲＺＩデータへの変換
が行われる。そして、データ変調器５５より磁気ヘッド
ドライバ１６に記録データＤｒおよび固定パターン信号
ＳFPが供給され、光磁気ディスク１１のターゲット位置
としてのデータ領域に記録データＤｒが記録されると共
に、記録データＤｒが記録されるデータ領域に対応した
固定パターン領域に固定パターン信号ＳFPが記録され
る。

【０１４９】また、ホストコンピュータよりシステムコ
ントローラ５１にデータリードコマンドが供給される場
合には、データ読み出し（再生）が行われる。この場
合、光磁気ディスク１１のターゲット位置としてのデー
タ領域およびそのデータ領域に対応した固定パターン領
域より再生信号ＳMOが得られる。この再生信号ＳMOはイ
コライザ回路５６で周波数特性が補償され、Ａ／Ｄコン
バータ５７でデータクロック信号ＤＣＫを使用してディ
ジタル信号に変換され、その後にデータ識別器５８でデ
ータの識別が行われて再生データＤｐが得られる。そし
て、この再生データＤｐに対して、データ復調器５９で
ＮＲＺＩ逆変換が行われ、さらにＥＣＣ回路５４で誤り
訂正が行われて読み出しデータが得られる。そして、こ
の読み出しデータはデータバッファ５２に一旦格納さ
れ、その後に所定タイミングでＳＣＳＩ５３を介してホ
ストコンピュータに送信される。

【０１５０】なお、データ書き込みやデータ読み出しに
おいて、磁気ヘッド１５および光学ヘッド１７はサーボ
コントローラ４１によってターゲット位置にシークされ
る。この場合、ＡＤＩＰデコーダ６０より出力されるフ
レームアドレスデータＦＡＤを参照してシーク動作が行
われる。また、データ書き込み時（記録時）には、デー
タクロック再生器７０よりクロックマーク再生信号ＳCM
が持つ位相情報の低域成分によって位相が制御されたデ
ータクロック信号ＤＣＫが得られ、このデータクロック
信号ＤＣＫに同期してデータ書き込みが行われる。一
方、データ読み出し時（再生時）には、データクロック
再生器７０よりクロックマーク再生信号ＳCMが持つ位相
情報の低域成分と固定パターン領域の再生信号ＳMOが持
つ位相情報の高域成分とによって位相が制御されたデー
タクロック信号ＤＣＫが得られ、このデータクロック信
号ＤＣＫに同期してデータ読み出しが行われる。

【０１５１】図１に示すディスク装置１０においては、
データ読み出し時（再生時）には、データクロック再生
器７０よりクロックマーク再生信号ＳCMが持つ位相情報
と固定パターン領域の再生信号ＳMOが持つ位相情報とに
よって位相が制御されたデータクロック信号ＤＣＫを得
るものであり（図２９参照）、クロックマーク再生信号
ＳCMの振幅が小さく、そのＳ／Ｎが悪くても、再生デー
タに高精度に同期したクロック信号を得ることができ、
データ読み出しの処理精度を上げることができる。

【０１５２】また、光磁気ディスク１１のグルーブウォ
ブルの振幅が変調後の信号の周波数に応じて変化するよ
うにされ、アドレス情報ＡＤＭの“１”および“０”の
接合部に対応するグルーブウォブルの０クロス点の前後
での傾きが変化しないようにされている（図１１参
照）。そのため、アドレス情報ＡＤＭの“１”および
“０”の接合部に対応するウォブル信号ＳWBの時間軸方
向のジッタを低減でき、ＡＤＩＰデコーダ６０（図１６
参照）でアドレス情報ＡＤＭを良好に得ることができ
る。本実施の形態においては、上述したように、アドレ
ス情報ＡＤＭの“１”および“０”に対応するグルーブ
ウォブルの波数がそれぞれ整数とされており、アドレス
情報ＡＤＭの“１”および“０”に対応するグルーブウ
ォブルの接合部は全て０クロス点となることから、特に
有効である。

【０１５３】また、ＡＤＩＰデコーダ６０では、アドレ
ス情報ＡＤＭの“１”および“０”のデータにそれぞれ
対応するウォブル信号ＳWBの周波数ｆａ，ｆｂの公倍数
の周波数ｆｃ（＝６ｆａ＝８ｆｂ）を持つクロック信号
ＣＫ24を使用した復調処理でアドレス情報ＡＤＭを得る
ものである（図１６参照）。そのため、ＰＬＬ回路を１
系統持つだけで構成でき、ＡＤＩＰデコーダ６０の構成
が簡単となる利益がある。この場合、アドレス情報ＡＤ
Ｍの“１”および“０”に対応するグルーブウォブルの
波数がそれぞれ整数とされており、アドレス情報ＡＤＭ
の“１”および“０”のデータにそれぞれ対応してコン
パレータ６３より出力されるパルス信号ＰWBは常に同じ
形状となることから、検波回路６７におけるクロック信
号ＣＫ24を使用した復調処理を容易に行うことができ
る。

【０１５４】また、ＡＤＩＰデコーダ６０の検波回路６
７では、ウインドーパルスを使用してビット“０”とビ
ット“１”の検波を行うものであるため、ウォブル信号
ＳWBにディフェクトによる変形がある場合であっても、
その変形がない場合と同様に、アドレス情報ＡＤＭを良
好に得ることができる。

【０１５５】また、クロックマーク再生信号ＳCMの極性
より光磁気ディスク１１を走査するビームＰPBがランド
部上にあるか、グルーブ部上にあるかを判別するもので
あり、ビームＰPBがランド部上およびグルーブ上部のい
ずれにあるかを容易に判別できる。

【０１５６】また、データ書き込み時に、クロックマー
ク期間ＴCMでレーザビームがデータクロック信号ＤＣＫ
で変調されないように制御される。そのため、データク
ロック信号ＤＣＫの重畳されていないクロックマーク再
生信号ＳCMが得られ、そのクロックマーク再生信号ＳCM
の０クロス点から位相情報を高精度に得ることができ、
データクロック信号ＤＣＫの再生を良好に行うことがで
きる。

【０１５７】また、図２に示すプリフォーマット装置２
００においては、カッティング用ビームＢａ，Ｂｂの時
間軸方向に対するオンオフ制御をしてクロックマークＣ
Ｍを構成する一対の凸部４ａ，４ｂが形成される。この
ように形成されるクロックマークＣＭ（４ａ，４ｂ）の
再生信号ＳCMの０クロス点付近でのレベル変化は急峻と
なるため、このクロックマーク再生信号ＳCMの０クロス
点から位相情報を高精度に得ることができ、データクロ
ック信号ＤＣＫの再生等を良好に行うことができる。

【０１５８】次に、この発明の第２の実施の形態につい
て説明する。図３３は、第２の実施の形態としての光磁
気ディスク装置１０Ａの構成を示している。この図３３
において、図１と対応する部分には同一符号を付し、そ
の詳細説明は省略する。

【０１５９】図１に示すディスク装置１０においては、
クロックマーク期間ＴCMは、レーザビームがデータクロ
ック信号ＤＣＫで変調されないように制御すると共に、
レーザビームのパワーが再生パワーＰRとなるように制
御するものであったが、図３３のディスク装置１０Ａに
おいては、クロックマーク期間ＴCMは、レーザビーム
を、データクロック信号ＤＣＫに代えて、高周波信号Ｈ
Ｆで変調するものである。

【０１６０】そのため、ディスク装置１０Ａには高周波
信号ＨＦを出力する発振器９１が設けられ、この高周波
信号ＨＦはレーザドライバ１８に供給される。高周波信
号ＨＦとしては、半導体レーザのノイズを低減できるよ
うな周波数帯が選ばれており、周知のように５００ＭＨ
ｚ程度の周波数が使用される。

【０１６１】また、ディスク装置１０Ａでは、データ書
き込み時に、システムコントローラ５１より発振器９１
に図３４Ｂに示すような制御信号ＣＴ２が供給され、ク
ロックマーク期間ＴCMだけ、発振器９１よりレーザドラ
イバ１８に高周波信号ＨＦが供給される。そのため、図
３４Ｄに示すように、レーザビームは、クロックマーク
期間ＴCMは、データクロック信号ＤＣＫに代わって、高
周波信号ＨＦで変調されたものとなる。なお、レーザビ
ームのパワーは、図３４Ｃに示すように、常に記録パワ
ーＰWの状態に制御されているが、クロックマーク期間
ＴCMのみ再生パワーＰRとなるように制御してもよい。

【０１６２】このように、クロックマーク期間ＴCMでレ
ーザビームが高周波信号ＨＦで変調されたものであると
き、クロックマークＣＭの再生時に出力されるプッシュ
プル信号ＳPPは高周波信号ＨＦが重畳された状態で得ら
れるが、高周波信号ＨＦはクロックマーク再生信号ＳCM
の周波数帯域よりもはるかに高い周波数帯域に存在す
る。したがって、図３４Ａに示すように、この高周波信
号ＨＦが全く影響を与えない状態でクロックマーク再生
信号ＳCMをバンドパスフィルタ７１（図２９参照）で抽
出でき、このクロックマーク再生信号ＳCMの０クロス点
から位相情報を高精度に得ることができ、データクロッ
ク信号ＤＣＫの再生等を良好に行うことができる。

【０１６３】次に、この発明の第３の実施の形態につい
て説明する。図３５は、第３の実施の形態としての光磁
気ディスク装置１０Ｂの構成を示している。この図３５
において、図３３と対応する部分には同一符号を付し、
その詳細説明は省略する。

【０１６４】図３３に示すディスク装置１０Ａにおいて
は、クロックマーク期間ＴCMはレーザビームが高周波信
号ＨＦで変調されるものであったが、図３５のディスク
装置１０Ｂにおいては、クロックマーク期間ＴCMは、レ
ーザビームを、データクロック信号ＤＣＫに代えて、そ
の２倍の周波数のクロック信号２ＤＣＫで変調するもの
である。

【０１６５】そのため、ディスク装置１０Ｂにはデータ
クロック信号ＤＣＫを２逓倍してクロック信号２ＤＣＫ
を得る２逓倍回路９２が設けら、このクロック信号２Ｄ
ＣＫはレーザドライバ１８に供給される。また、ディス
ク装置１０Ｂでは、データ書き込み時に、システムコン
トローラ５１よりレーザドライバ１８に、図３６Ｂに示
すような制御信号ＣＴ３が供給され、クロックマーク期
間ＴCMは、図３６Ｄに示すようにレーザビームがクロッ
ク信号２ＤＣＫで変調されたものとなる。なお、レーザ
ビームのパワーは、図３６Ｃに示すように、常に記録パ
ワーＰWの状態に制御される。

【０１６６】このように、クロックマーク期間ＴCMでレ
ーザビームがクロック信号２ＤＣＫで変調されたもので
あるとき、クロックマークＣＭの再生時に出力されるプ
ッシュプル信号ＳPPはクロック信号２ＤＣＫが重畳され
た状態で得られるが、クロック信号２ＤＣＫはクロック
マーク再生信号ＳCMの周波数帯域よりもはるかに高い周
波数帯域に存在する。したがって、図３６Ａに示すよう
に、このクロック信号２ＤＣＫが全く影響を与えない状
態でクロックマーク再生信号ＳCMをバンドパスフィルタ
７１（図２９参照）で抽出でき、このクロックマーク再
生信号ＳCMの０クロス点から位相情報を高精度に得るこ
とができ、データクロック信号ＤＣＫの再生等を良好に
行うことができる。

【０１６７】図３５に示すディスク装置１０Ｂでは２逓
倍回路９２を設けるだけで済み、図３３に示すディスク
装置１０Ａのように発振器９１を設けるものに比べて安
価に構成できる。また、図３５に示すディスク装置１０
Ｂでは記録パワーＰWと再生パワーＰRの切換をしないの
で、図１に示すディスク装置１０に比べて半導体レーザ
に対するパワー制御が簡単となる利益がある。

【０１６８】なお、上述実施の形態においては、光磁気
ディスク１１のグルーブ部１２Ｇの片側のみウォブリン
グした状態とされたものを示したが、グルーブ部１２Ｇ
の両側がウォブリングされた状態であってもよい。

【０１６９】また、上述においては、アドレス情報ＡＤ
Ｍの“１”および“０”に対応するグルーブウォブルの
波数がそれぞれ「４」、「３」としたが、これに限定さ
れるものではない。

【０１７０】また、上述実施の形態においては、記録領
域の固定パターン領域がクロックマークＣＭの記録位置
に１対１に対応して設けられているが、必ずしも対応さ
せる必要はない。例えば、固定パターン領域の個数をク
ロックマークＣＭの個数より少なくしてもよい。

【０１７１】また、上述実施の形態においては、光磁気
ディスク１１の固定パターン領域には２Ｔの固定パター
ン信号が記録されるものであったが、１Ｔあるいは３Ｔ
以上の固定パターン信号が記録されるようにしてもよ
い。ただし、パターン間隔が短くなると、ＭＴＦ（Modu
lation Transfer Function）によって再生信号ＳMOの振
幅が小さく、Ｓ／Ｎが悪化したものとなる。逆に、パタ
ーン間隔が長くなると、位相比較のためのエッジ数を同
じ数だけ得るためには、固定パターン領域を広くとる必
要があり、データが記録されるデータ領域が狭くなる。

【０１７２】また、上述実施の形態において、ＡＤＩＰ
デコーダ６０では、アドレス情報ＡＤＭの“１”および
“０”のデータにそれぞれ対応するウォブル信号ＳWBの
周波数ｆａ，ｆｂの公倍数の周波数ｆｃ（＝６ｆａ＝８
ｆｂ）を持つクロック信号ＣＫ24を使用した復調処理を
行うようにしたものであるが、周波数ｆａ，ｆｂのその
他の公倍数の周波数を持つクロック信号を使用して同様
の復調処理を行うことができる。

【０１７３】

【発明の効果】この発明によれば、位相情報を有するマ
ークの再生信号はレーザ光がランド部を走査するときと
グルーブ部を走査するときとで極性が反対となって得ら
れ、この再生信号の極性より光ディスクを走査するレー
ザ光がランド部上にあるかグルーブ部上にあるかを判別
するものであり、レーザ光がランド部上およびグルーブ
部上のいずれにあるかを容易に判別できる。そして、こ
の判別結果をサーボコントローラに供給することで、光
ピックアップ系を構成する光学手段のサーボコントロー
ルを正確に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施の形態としての光磁気ディスク装置
の構成を示すブロック図である。

【図２】プリフォーマット装置の構成を示すブロック図
である。

【図３】クロックマーク再生信号とカッティング用ビー
ムのオンオフ関係を示す図である。

【図４】カッティング用ビームのオンオフを示す概念図
である。

【図５】クロックマークとその再生信号等の関係を示す
図である。

【図６】カッティング用ビームのオンオフおよび定量シ
フトを示す概念図である。

【図７】カッティング用ビームのオンオフおよび定量シ
フトを示す概念図である。

【図８】光磁気ディスクのセクタのレイアウトを示す図
である。

【図９】セクタ（ウォブルアドレスフレーム）フォーマ
ットを説明するための図である。

【図１０】バイフェーズ変調前の１セクタ（ウォブルア
ドレスフレーム）のアドレス情報を示す図である。

【図１１】グルーブウォブルの構成例を示す図である。

【図１２】光学ヘッドの光学系を示す図である。

【図１３】光学ヘッドの光学系を構成するフォトディテ
クタの構成と、その上に形成されたスポットを示す図で
ある。

【図１４】光学ヘッドの光学系を構成するウォラストン
プリズムの構成例を示す図である。

【図１５】ウォラストンプリズムによる光線の分離状態
を示す図である。

【図１６】ＡＤＩＰデコーダの構成を示すブロック図で
ある。

【図１７】ＡＤＩＰデコーダの動作を説明するためのタ
イミングチャートである。

【図１８】検波回路の構成を示すブロック図である。

【図１９】エッジ検出回路の構成を示すブロック図であ
る。

【図２０】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。

【図２１】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。

【図２２】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。

【図２３】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。

【図２４】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。

【図２５】検波回路の他の構成を示すブロック図であ
る。

【図２６】立ち上がりエッジ検出回路の構成を示すブロ
ック図である。

【図２７】立ち下がりエッジ検出回路の構成を示すブロ
ック図である。

【図２８】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。

【図２９】データクロック再生器の構成を示すブロック
図である。

【図３０】データクロック再生器の動作を説明するため
のタイミングチャートである。

【図３１】極性判別回路の構成を示すブロック図であ
る。

【図３２】データクロック信号によるレーザビームの変
調動作を説明するための図である。

【図３３】第２の実施の形態としての光磁気ディスク装
置の構成を示すブロック図である。

【図３４】データクロック信号によるレーザビームの変
調動作を説明するための図である。

【図３５】第３の実施の形態としての光磁気ディスク装
置の構成を示すブロック図である。

【図３６】データクロック信号によるレーザビームの変
調動作を説明するための図である。

【図３７】光磁気ディスク装置におけるクロックマーク
の再生信号等を示す図である。

【図３８】クロックマークとカッティングビームの関係
を示す図である。

【図３９】ランド部上およびグルーブ部上でのクロック
マークを説明するための図である。

【符号の説明】

４ａ，４ｂ・・・マークを構成する凸部、１０，１０
Ａ，１０Ｂ・・・光磁気ディスク装置、１１・・・光磁
気ディスク、１１Ｅ・・・ディスク原盤、１２Ｇ・・・
グルーブ部、１２Ｌ・・・ランド部、１５・・・外部磁
界発生用の磁気ヘッド、１６・・・磁気ヘッドドライ
バ、１７・・・光学ヘッド、１８・・・レーザドライ
バ、４１・・・サーボコントローラ、４６・・・極性判
別回路、５１・・・システムコントローラ、５５・・・
データ変調器、５８・・・データ識別器、５９・・・デ
ータ復調器、６０・・・ＡＤＩＰデコーダ、６４・・・
ＰＬＬ回路、６７，６７Ａ・・・検波回路、６８・・・
アドレス変換器、７０・・・データクロック再生器、９
１・・・発振器、９２・・・２逓倍回路、２００・・・
プリフォーマット装置、２０１・・・光源、２０４，２
０５・・・スイッチ、２０６・・・ビームオン／オフコ
ントローラ、２１１，２１２・・・ビームウォブル部、
２１３・・・ビームウォブルコントローラ、２１５・・
・光学系

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録トラックを構成するランド部および
   グルーブ部が半径方向に交互に形成され、上記ランド部
   若しくはグルーブ部に位相情報を有するマークが記録さ
   れた光ディスクを駆動する光ディスク装置であって、 上記マークは、上記ランド部若しくはグルーブ部の一端
   側に形成され、上記半径方向に平行な立ち下がり部を有
   し、凹部または凸部からなる第１の部分と、上記ランド
   部若しくはグルーブ部の他端側に形成され、上記半径方
   向に平行で、かつ上記立ち下がり部に対応したトラック
   方向位置に立ち上がり部を有し、凹部または凸部からな
   る第２の部分とからなり、 上記光ディスクにレーザ光を照射するレーザ照射手段
   と、 上記光ディスクから反射されたレーザ光を受光し、再生
   信号を出力する受光手段と、 上記マークの再生信号の極性により、上記光ディスクを
   走査するレーザ光が上記ランド部上にあるか、上記グル
   ーブ部上にあるかを検出する検出手段とを備えることを
   特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 上記レーザ照射手段から照射されるレー
   ザ光を上記記録トラックに追従させるサーボコントロー
   ラをさらに備え、 上記検出手段は、検出結果を上記サーボコントローラに
   供給することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク
   装置。
3. 【請求項３】 上記受光手段は、再生信号としてプッシ
   ュプル信号を出力し、 上記検出手段は、上記プッシュプル信号の極性に基づい
   て、上記光ディスクを走査するレーザ光が上記ランド部
   上にあるか、上記グルーブ部上にあるかを検出すること
   を特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。