JPH11250403A - ディスク記録再生装置及び同装置に適用するリードエラー処理方法 - Google Patents

ディスク記録再生装置及び同装置に適用するリードエラー処理方法

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JPH11250403A
JPH11250403A JP4825998A JP4825998A JPH11250403A JP H11250403 A JPH11250403 A JP H11250403A JP 4825998 A JP4825998 A JP 4825998A JP 4825998 A JP4825998 A JP 4825998A JP H11250403 A JPH11250403 A JP H11250403A
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JP
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disk
read
phenomenon
defect
read head
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JP4825998A
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Hirokazu Tanabe
広和 田邉
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ディスク上に存在するダストを要因とするTA
現象が発生した場合には当該要因を装置自体で除去する
手段を実現することにより、TA現象の解消を図ると共
に、TA現象に伴って設定された欠陥領域を正常な記憶
領域として復元することを図ることにある。 【解決手段】MRヘッドをリードヘッド2として使用す
るHDDにおいて、CPU12はTA検出回路10aに
よりTA現象が検出されたときに、ディスク上の当該検
出位置を基準とした所定の範囲内をシークさせるダミー
シーク動作を実行させる。このダミーシーク動作によ
り、TA現象の要因となるダストをディスク上から除去
するクリーニング処理を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ハードディスクド
ライブ等に適用し、特にリードヘッドとして磁気抵抗効
果素子(MR素子)を使用したディスク記録再生装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ハードディスク装置(HDD)等
のディスク記録再生装置は、磁気ヘッド(以下単にヘッ
ドと称する)により、記録媒体であるディスク上にデー
タを磁気的に書込み、またディスクからデータを電気的
に読出すリード/ライト動作を実行する。
【0003】ところで、HDDでは、高記録密度化を実
現する技術として、磁気抵抗効果素子を有するMR(m
agnetoresistive)ヘッドをリードヘッ
ドに使用し、またライトヘッドとして誘導型(indu
ctive)の薄膜ヘッドを使用したリード/ライト分
離型と呼ばれるヘッドが採用されている。なお、MRヘ
ッドとしては、GMR(giant MR)ヘッドまた
はスピンバルブ型リードヘッドと呼ばれるものなど、磁
気抵抗効果素子(MR素子)を主要部とする各種のリー
ドヘッドを意味する。
【0004】MRヘッドは磁界の変化に応じて電気抵抗
値が変化する性質を利用して、ディスク上の信号磁界
(即ち、記録データ)を検出してリード信号(アナログ
電圧波形)を出力する。HDDでは、前記のMRヘッド
からなるリードヘッドとライトヘッドとがスライダに一
体的に実装されて、各ヘッドが同時にディスク上を浮上
した状態で移動するように構成されている。具体的に
は、スライダは、ボイスコイルモータ(VCM)により
駆動するヘッドアクチュエータに保持されて、例えば5
0nm程度の微小な高さ(flying height)
でディスク上を飛行している状態である。
【0005】このような構造であると、スライダの浮上
量が僅かに変動しただけでも、スライダの底面(ディス
ク面に対向する側)がディスク上に存在する微小物体
(ディスク面のテクスチャも含む)に衝突するような事
態が発生する。スライダの底面部には、リードヘッドの
MR素子が実装されている。このため、スライダの衝突
に伴って、MR素子がディスクの微小物体に接触または
衝突するような事態も発生する。
【0006】ここで、MRヘッドは、ディスクの微小物
体に接触または衝突したときの摩擦熱による急激な温度
上昇に伴って抵抗値が大きく変化する。この急激な抵抗
値の変化に伴って、図3に示すように、リードヘッドは
本来の正常な振幅値Vsに対して異常に変化した振幅値
Vtaの信号波形を含むリード信号を出力する。このよ
うなMRヘッドの温度上昇に伴う急激な抵抗値変化によ
り、リード信号波形が変動する現象をサーマルアスペリ
ティ(thermal asperity)現象と称す
る。以下、TA現象と称することがある。
【0007】このTA現象が発生すると、リードヘッド
からのリード信号は急激に変動した振幅を含む信号波形
のままリード/ライト回路に入力される。リード/ライ
ト回路は、リード信号から記録データに相当するデータ
を再生(復合化)するために必要な各種の信号処理を実
行するためのリードチャネルとも呼ばれる信号処理用I
Cである。リード/ライト回路では、前記のTA現象を
伴うリード信号が入力されると、通常レベルに戻るまで
の時間だけデータを再生するための信号処理が実行でき
ない事態となる。具体的には、リード/ライト回路はA
GC回路(リード信号のレベルを一定に維持するための
自動利得調整機能を備えたアンプ)を有し、このAGC
回路の応答に悪影響を与えて、急激な信号振幅変化の時
定数に応じた時間だけ正常な信号処理を実行できないこ
とになる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、MR
ヘッドをリードヘッドとして使用したHDDでは、TA
現象が発生してリード信号波形の急激な変動により、リ
ード/ライト回路のデータ再生処理に悪影響を及ぼし、
リードエラーが発生する確率が高くなる。
【0009】従来では、TA現象に伴うリードエラーが
発生すると、信号処理によりTAの影響を低減させて、
再度のリード動作を実行するリトライ処理(一種のリー
ドエラー回復処理)が実行されている。リトライ処理
は、所定の回数だけ繰り返される。このリトライ処理で
も、リードエラーが回復しない場合には、通常のディフ
ェクト処理が実行される。ディフェクト処理は、エラー
が発生したディスク上のデータセクタ(またはトラッ
ク)を欠陥領域として使用不可とし、当該欠陥領域の代
替領域を設定する処理である。通常では、代替領域であ
る代替セクタは、欠陥セクタを含むトラックの中に用意
されている代替セクタが使用される。
【0010】ところで、TA現象の要因は、ディスク上
の表面に形成された突起物(テクスチャ)の場合もある
が、HDDの内部に発生または製造時に存在した粉塵な
どの微小物体(以下ダストと呼ぶ場合がある)による場
合も多い。即ち、ダストがディスク上に付着して、これ
が原因でTA現象が発生する場合である。このような場
合には、ディスク上のダストが除かれると、その後では
TA現象が発生せずに、リードエラーが解消する可能性
が高くなる。しかしながら、従来ではディスク上のダス
トを除く方法もなく、前記のようなリトライ処理により
リードエラーが回復しない場合には、TAが発生したデ
ータセクタは欠陥領域として使用不可になっている。こ
のようなTA現象に伴う欠陥領域を、TA現象の要因を
解消して再び正常な記憶領域として戻すことが可能であ
れば、ディスクの記憶領域を有効に利用できるため極め
て有用である。
【0011】そこで、本発明の目的は、ディスク上に存
在するダストを要因とするTA現象が発生した場合には
当該要因を装置自体で除去する手段を実現することによ
り、TA現象の解消を図ると共に、TA現象に伴って設
定された欠陥領域を正常な記憶領域として復元すること
を図ることにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、MRヘッドを
リードヘッドとして使用するディスク記録再生装置にお
いて、リードヘッドによるデータの読出し動作時にMR
素子の特性に従ったサーマルアスペリティ(TA現象)
を検出するためのTA検出手段と、前記TA現象が検出
されたディスク上の位置(トラック)を基準とした所定
の範囲内をシークさせる制御手段とを備えた装置であ
る。
【0013】具体的には、TA検出手段は、例えばリー
ド/ライト回路の中に設けられて、リードヘッドからの
リード信号のTA現象に伴う異常なレベル(急激な振幅
の増大)を検出する。リード信号に異常なレベルの波形
が含まれている場合には、リードエラーが発生する確率
が高くなるため、TA検出手段はエラー検出手段に相当
する。制御手段は、TA現象が発生したディスク上の位
置(トラック)にリードヘッドを移動させて、いわばダ
ミーシーク動作を実行させる。
【0014】この制御手段のダミーシーク動作により、
TA現象の要因となるダストを、リードヘッドによりデ
ィスク上のシーク範囲から除くことが可能となる。従っ
て、TA現象によりリードエラーが発生した位置で、前
記のダミーシーク動作の後にリトライ処理を実行した場
合に、リードエラーが回復する可能性が高くなる。これ
により、TA現象に伴ってリードエラーが発生したデー
タセクタが欠陥領域となる場合でも、TA現象の要因を
除くことにより欠陥領域から正常な記憶領域に復元した
り、また欠陥領域として設定する前にリードエラーの回
復が可能となる。
【0015】ここで、前記のダミーシーク動作では、デ
ィスクの回転数を低下させて、リードヘッドとディスク
面との浮上量を低下させた状態でシーク動作を実行させ
ると、ダストを除去できる効果が高まる。
【0016】さらに、本発明の別の観点として、TA現
象が検出されたときにTA現象に伴うリードエラーの回
復程度に基づいてTA現象の検出位置であるディスク上
の記録領域の欠陥レベルを判定する欠陥レベル判定手段
を有し、欠陥レベルが記録領域を欠陥領域として設定す
る可能性が高くなる程度に高レベルの場合に、前記制御
手段が前記ダミーシーク動作を実行するような方式があ
る。
【0017】欠陥レベル判定手段は、具体的には例えば
リトライ回数などの欠陥レベル判定用の基準情報に基づ
いて、リードエラーの回復程度が回復不可能ではない
が、このままでは回復不可能になると推定されるレベル
を高レベルとして判定する。即ち、ディスク上に付着し
たダストによりTA現象が発生した場合に、例えばダス
ト量がリードエラーの回復可能な程度から回復不可能に
増大している可能性がある。そこで、リードエラー回復
がなされた場合でも、欠陥レベルが高レベルのときに
は、制御手段が前記ダミーシーク動作を実行することに
より、ディスク上に付着したダストを除いて、その位置
を欠陥領域になることを未然に防止することが可能とな
る。
【0018】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態を説明する。図1は本実施形態に関係するHDD
の要部を示すブロック図である。 (HDDの構成)本実施形態は、リードヘッドとしてM
Rヘッド(MR素子)を使用したHDDを想定する。H
DDは大別して、図1に示すように、磁気記憶媒体であ
るディスク1、ヘッド2、リード/ライト回路10、サ
ーボ回路11、マイクロコントローラ(CPU)12、
およびディスクコントローラ(HDC)15を有する。
【0019】ディスク1は、1枚または複数枚がスピン
ドルモータ3に取り付けられて、高速回転する。スピン
ドルモータ3は、ドライバIC(ダブルドライバとも呼
ばれる)8に含まれるモータドライバ6により駆動され
る。ドライバIC8は、後述するCPU12により制御
される。ディスク1は、各データ面(1枚のディスクに
ついて2データ面)について多数の同心円状トラックが
構成されて、各トラックが複数のデータセクタに分割さ
れたフォーマットからなる。
【0020】ヘッド2は、前述したようにリードヘッド
とライトヘッドとを有するリード/ライト分離型であ
る。なお、本実施形態では、特に断らない限り、ヘッド
2はMRヘッド(GMRヘッドも含む)からなるリード
ヘッドを意味する。また、ヘッド2はスライダ上にリー
ドヘッドとライトヘッドとが実装された構造である。即
ち、スライダがヘッド本体として、ディスク1上に所定
の浮上量(flyingheight)で浮上している
状態で移動する。本実施形態では、便宜的にリードヘッ
ドがディスク1上を浮上して移動するものとして取り扱
う。
【0021】さらに、ヘッド2は、ヘッドアクチュエー
タ4により保持されて、ディスク1の半径方向に移動さ
れる。ヘッドアクチュエータ4はボイスコイルモータ
(VCM)5により回転駆動されて、ヘッド2のシーク
動作(位置決め制御)を実行する。このVCM5、リー
ド/ライト回路10、サーボ回路11、CPU12、お
よびVCMドライバ7が、ヘッド2の位置決め制御を実
行するサーボシステムを構成する要素である。
【0022】リード/ライト回路10は、リード信号お
よびライト信号の各種信号処理を実行するための信号処
理用ICであり、リードチャネルとも呼ばれる。なお、
本実施形態では、リード/ライト回路10のリード信号
処理機能に関して説明し、ライト信号処理機能について
は省略する。リード/ライト回路10は、ヘッド(リー
ドヘッド)2から出力されたリード信号をヘッドアンプ
9を介して入力し、各種の信号処理を実行する。
【0023】本実施形態のリード/ライト回路10は、
リード信号波形から前述したTA現象を検出するための
TA検出回路10aを有する。このTA検出回路10a
は、リード信号の振幅値と予め用意した基準振幅値とを
比較する比較回路(オペアンプなど)を有し、図3に示
すように、TA現象に伴うと推定される異常振幅値Vt
aを有するリード信号波形を検出して、検出信号をCP
U12に出力する。
【0024】また、リード/ライト回路10は、リード
信号に対して再生処理して復合化したリードデータを再
生データとしてHDC15に転送する。HDC15は、
HDDとホストシステムとのインターフェース機能(コ
マンド処理)およびデータコントロール機能(データ転
送処理)を有する。さらに、HDC15は、エラーチェ
ック(ECC)回路15aを有し、リードデータのエラ
ー検出およびエラー回復処理を実行する。HDC15
は、バッファメモリ(RAM)16を制御して、ディス
ク1とホストシステム間のデータ転送制御を実行する。
【0025】サーボ回路11は、リード/ライト回路1
0からのデータパルスからトラック番号に相当するシリ
ンダコードを抽出してCPU12に出力する。また、サ
ーボバ−ストデータを生成するためのサンプリング信号
の生成処理、およびデータセクタを検出するためのセク
タパルスの生成処理を有する。サーボバ−ストデータ
は、リード/ライト回路10から出力されたリード信号
(ディスク1上のサーボエリアから読出されたサーボ信
号)を、前記のサンプリング信号のタイミングでA/D
コンバータ12aにより変換されたサーボデータであ
る。
【0026】CPU12はHDDのメイン制御装置であ
り、本実施形態のTA現象に関係するリードエラー処
理、欠陥管理処理、及びシーク制御を実行する。本実施
形態では、CPU12はマイクロプロセッサだけでな
く、A/Dコンバータ12a、D/Aコンバータ12
b、およびRAM(コマンドRAM)12cを内蔵する
マイクロコントローラを想定する。
【0027】CPU12は、周辺入出力装置として、R
OM14、不揮発性メモリ(EEPROM)17、およ
びタイマ18を有する。ROM14はCPU12の動作
に必要な制御プログラムおよび本実施形態に関係する欠
陥レベル判定用テーブル24を格納している。EEPR
OM17は、各種の制御情報17a以外に、本実施形態
のTA現象に関係する欠陥情報17bを格納する。タイ
マ18は、本実施形態に関係するアイドリング状態とス
タンバイモードの制御に必要な時間データを入力するた
めに設けられている。 (本実施形態の動作)本実施形態では、図2に示すよう
に、CPU12は、欠陥検査部120、欠陥管理部12
1、代替処理部122、TA検出処理部123、および
スタンバイ処理部124の各処理を実行する。以下、図
4から図8を参照して各処理について具体的に説明す
る。
【0028】ここで、図2に示すように、HDDでは製
造時に登録された欠陥情報PIおよびHDDの動作時に
検知された欠陥に関する欠陥情報DIが、ディスク1上
の特定記憶領域に記録されている。各欠陥情報PI,D
Iはそれぞれ、欠陥領域(データセクタ)のアドレス
(位置)およびその代替領域のアドレスからなる。本実
施形態では、EEPROM17の特定記憶領域17bに
は、TA現象に伴う欠陥情報EIが格納される。この欠
陥情報EIは、代替領域を必要とする欠陥情報ではな
く、リードエラーの回復が可能な欠陥領域を示す情報で
ある。 (TA検出処理)以下図4のフローチャートを参照し
て、TA現象が発生した場合の処理について説明する。
【0029】まず、CPU12は、ホストシステムから
のコマンド(リードアクセス要求)に応じて、ヘッド2
をディスク1上の目標位置(アクセス対象のトラック)
までシークさせて、リード動作を実行させる(ステップ
S1)。このリード動作時に、リード/ライト回路10
のTA検出回路10aが、ヘッド2からのリード信号に
含まれる異常振幅値(図3を参照)を検出し、TA検出
信号をCPU12に出力したことを想定する(ステップ
S2のYES)。
【0030】CPU12はTA検出信号の受信に応じ
て、HDC15にリードエラー回復処理の実行を指示す
ると共に、レベル判定テーブル24を参照して該当する
記憶領域(データセクタ)に対する欠陥レベルを判定す
る(ステップS3)。ここで、ROM14に格納された
レベル判定テーブル24には、TAレベル(リード信号
の異常振幅値)の変動、リードエラー回復処理における
リトライ処理の回数、およびHDC15のエラーチェッ
ク回路15aによるリードエラー回復などの欠陥レベル
を判定するための基準情報が格納されている。CPU1
2は、レベル判定テーブル24を参照して、今回のTA
現象に伴う欠陥レベルが相対的に高レベルまたは低レベ
ルであるかを判定する(ステップS4)。即ち、リード
動作時の記憶領域でTA現象が発生したときの条件(レ
ベル判定テーブル24の基準情報)に基づいて、TA現
象に伴うリードエラーの発生が一時的であれば低レベル
と判定する。また、TAレベルの変動が大きい、または
エラー回復までのリトライ回数が多く、リードエラーの
発生の再現性が高い場合には、高レベルであると判定す
る。 (ダミーシーク動作)CPU12は、欠陥レベルが高レ
ベルの場合には、後述するようなダミーシーク動作によ
るクリーニング処理を実行する(ステップS5)。ここ
で、欠陥レベルが低レベルの場合も、前記クリーニング
処理を実行する(ステップS8のNO)。以下、図5と
図6を参照して、本実施形態のクリーニング処理(ダミ
ーシーク動作)を説明する。
【0031】CPU12は、図5に示すように、リード
動作時にTA現象が発生したデータセクタを含むトラッ
ク(ここでNとする)まで移動させる。このトラックN
を基準として、ディスク1の内外周方向(±方向)の所
定の範囲(ここではトラックN±2の範囲)内でヘッド
2をシークさせる。即ち、リード/ライト動作を伴わな
いシーク動作であるとして、本実施形態ではダミーシー
ク動作と呼ぶ。
【0032】このダミーシーク動作により、仮にディス
ク1上に付着したダストを要因としてTA現象が発生し
た場合に、ヘッド2の移動によりディスク1上に付着し
たダストをその範囲から除くことが可能である。従っ
て、クリーニング処理後では、ダストの存在によるTA
現象の再現を防止して、リードエラーの発生を未然に防
止することが可能となる。
【0033】ここで、前記のダミーシーク動作時に、図
6に示すように、ヘッド2の浮上量(FH)を通常の状
態より低下させると、ダミーシーク動作によるクリーニ
ング処理が効果的である。浮上量を低下させるには、ス
ピンドルモータ3の回転数を低下させる。このような制
御であれば、ディスク1の表面に対して、通常より接近
したヘッド2aによりディスク上に付着したダスト60
を除去する効率を高めることが可能となる。
【0034】以上のようなクリーニング処理の後に、C
PU12は再度のリードエラー回復処理(リトライ処
理)を実行させて、かつ再度の欠陥レベル判定処理を実
行する(ステップS6)。この場合でも、欠陥レベルが
高レベルまたはリードエラーが回復しない場合には、C
PU12は通常のディフェクト処理に含まれる代替処理
を実行する(ステップS7のYES,S9のNO,S1
0)。この代替処理では、前記のアクセス対象であるデ
ータセクタを欠陥領域として設定し、代替セクタを設定
する。CPU12はその代替処理に伴う欠陥情報DIを
ディスク145に記録する。
【0035】ここで、CPU12は、代替処理を実行し
ない場合でも、高レベルの欠陥レベルと判定された記憶
領域(データセクタ)について、EEPROM17に欠
陥情報EIとして記録する。現時点ではリードエラーの
回復が可能な記憶領域でも、進行性のTA現象の要因が
ある場合には、CPU12は前記の欠陥情報EIを使用
して管理することができる。 (欠陥検査処理)以下図7のフローチャートを参照し
て、本実施形態の欠陥検査処理について説明する。
【0036】本実施形態では、CPU12は、HDDの
アイドリング状態が所定の時間だけ継続した場合には、
スタンバイモードに移行する機能を備えている(スタン
バイ処理部124)。ここで、アイドリング状態とは、
ホストシステムからコマンドが発行されず、HDDがリ
ード/ライト動作を実行していない状態である。なお、
リードコマンドに応じて、バッファRAMをキャッシュ
メモリとしてディスク1からデータを格納する先読み処
理を実行する機能がある場合には、当該先読み処理につ
いても実行しない状態である。
【0037】一方、スタンバイモードとは、アイドリン
グ状態が所定の時間だけ継続した場合に、ホストシステ
ムからのコマンドの受信状態を維持したままディスク1
の回転を停止させる動作である。
【0038】CPU12は、アイドリング状態の開始を
検出すると、タイマ18を起動して時間の経過を監視す
る(ステップS20,S22,S23)。ここで、所定
の時間の経過前に、ホストシステムからリード/ライト
コマンドを受信したときにはアイドリング状態は解除と
なり、CPU12は通常のディスク制御処理を実行する
(ステップS21)。
【0039】CPU12は、アイドリング状態が所定の
時間だけ継続すると、本実施形態の欠陥検査処理(欠陥
検査120)を実行する(ステップS24)。この欠陥
検査処理は、図8のフローチャートに示すように、ディ
スク1上に記録された欠陥情報PI,DIおよびEEP
ROM17に格納されたTA現象に伴う欠陥情報EIに
基づいて、ディスク1上の欠陥領域に対するTA現象に
よる欠陥(TA欠陥)であるかを検査し、かつ前記のク
リーニング処理を実行して回復可能であるか否かを確認
するための処理である。即ち、CPU12は、リード/
ライト動作を実行してない空き時間を利用して、当該欠
陥検査処理を実行する。
【0040】まず、CPU12は、欠陥情報PI,D
I,EIに基づいて欠陥検査対象の記憶領域(データセ
クタ)を設定し、TA欠陥であるか否かを推定する(ス
テップS30)。具体的には、CPU12は、設定した
記憶領域に対するリード動作を実行し(テスト用リード
動作)、TAが検出されたか否かによりTA欠陥である
かを推定する。
【0041】TA欠陥の場合には、CPU12は前記の
ダミーシーク動作によるクリーニング処理を実行する
(ステップS32)。このクリーニングの後に、エラー
回復処理(ここではテスト用リード動作のリトライ処
理)を実行して、再度のTA検出処理を行なう(ステッ
プS33,S34)。ここで、TAが検出されない場合
には、CPU12は、欠陥情報DI,EIから当該欠陥
領域に関する欠陥情報を変更して、正常な記憶領域とし
て取り扱う(ステップS36)。即ち、代替領域に記録
されているデータを当該記憶領域に戻すなどの処理を実
行する。一方、TAが検出された場合には、CPU12
は前記の欠陥レベル判定テーブルを参照して、欠陥レベ
ルに基づいて欠陥情報DI,EIとして再度の登録処理
を実行する(ステップS35)。ここでは、例えば検査
対象の欠陥領域を回復不可能な領域として登録する。
【0042】ここで、アイドリング状態が所定のスタン
バイ時間まで継続すると、CPU12は前記のスタンバ
イモードに移行して、ディスク1の回転を停止すること
になる(ステップS25,S27)。このとき、本実施
形態では、ディスク1の回転を停止する前に、ディスク
1の回転数を低下させて、ヘッド2の浮上量を低下させ
た状態で、前記のクリーニング処理を指定の欠陥領域に
対して実行してもよい(ステップS26)。即ち、CP
U12は、低浮上状態でのダミーシーク動作であれば効
率的なクリーニング処理が可能であるため、例えば前記
の欠陥検査処理において低レベルのTAが検出された欠
陥領域に対して再度のクリーニング処理を実行する(図
6を参照)。
【0043】以上のような欠陥検査処理により、通常の
リード動作時にリードエラーが発生して欠陥領域として
設定された場合でも、リード/ライト動作を実行してな
い空き時間を利用して、TA欠陥に対する回復処理を行
なうことができる。従って、リード/ライト動作を遅ら
せる事なく、TA欠陥に相当する欠陥領域に対してクリ
ーニング処理を実行してTA欠陥の要因であるダストを
除去することを効率的に行なうことが可能である。
【0044】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、M
Rヘッドをリードヘッドとして使用するディスク記録再
生装置において、ディスク上に存在するダストを要因と
するTA現象に伴って設定された欠陥領域を正常な記憶
領域として復元できる可能性を高くできる。従って、通
常の代替処理を含む欠陥管理を効率的にして、結果的に
ディスク上の記憶領域を効率的に使用することが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の本実施形態に関係するHDDの要部を
示すブロック図。
【図2】同実施形態に関係するCPU12の機能を説明
するためのブロック図。
【図3】従来のサーマルアスペリティ(TA)現象を説
明するための図。
【図4】同実施形態の動作を説明するためのフローチャ
ート。
【図5】同実施形態に関係するダミーシーク動作を説明
するための図。
【図6】同実施形態に関係するダミーシーク動作を説明
するための図。
【図7】同実施形態の動作を説明するためのフローチャ
ート。
【図8】同実施形態の動作を説明するためのフローチャ
ート。
【符号の説明】
1…ディスク 2…ヘッド 3…スピンドルモータ 4…ヘッドアクチュエータ 5…ボイスコイルモータ 6…モータドライバ 7…VCMドライバ 8…ドライバIC) 9…ヘッドアンプ 10…リード/ライト回路 10a…TA検出回路 11…サーボ回路 12…マイクロコンピュータ(CPU) 14…ROM 15…ディスクコントローラ(HDC) 16…バッファRAM 17…EEPROM 18…タイマ

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気抵抗効果素子からなるリードヘッド
    によりディスク上に記録されたデータを読出して再生す
    るディスク記録再生装置であって、 前記リードヘッドにより前記ディスク上の指定位置から
    読出したデータのエラーを検出するためのエラー検出手
    段と、 前記エラー検出手段によりエラーが検出された前記ディ
    スク上の位置を特定し、当該位置まで前記リードヘッド
    を移動させた後に、当該位置を基準とした所定の範囲内
    をシークさせる制御手段とを具備したことを特徴とする
    ディスク記録再生装置。
  2. 【請求項2】 磁気抵抗効果素子(MR素子)からなる
    リードヘッドによりディスク上に記録されたデータを読
    出して再生するディスク記録再生装置であって、 前記ディスク上の指定位置から前記リードヘッドにより
    データを読出すリード動作時に、前記MR素子の特性に
    従ったサーマルアスペリティ(TA現象)を検出するた
    めのTA検出手段と、 前記TA検出手段により前記TA現象が検出された前記
    ディスク上の位置を特定し、当該位置まで前記リードヘ
    ッドを移動させた後に、当該位置を基準とした所定の範
    囲内をシークさせる制御手段とを具備したことを特徴と
    するディスク記録再生装置。
  3. 【請求項3】 磁気抵抗効果素子(MR素子)からなる
    リードヘッドによりディスク上に記録されたデータを読
    出して再生するディスク記録再生装置であって、 前記ディスク上の指定位置から前記リードヘッドにより
    データを読出すリード動作時に、前記MR素子の特性に
    従ったサーマルアスペリティ(TA現象)を検出するた
    めのTA検出手段と、 前記TA現象が検出されたときに、前記TA現象に伴う
    リードエラーの回復程度に基づいて前記TA現象の検出
    位置である前記ディスク上の記録領域の欠陥レベルを判
    定する欠陥レベル判定手段と、 前記欠陥レベルが前記記録領域を欠陥領域として設定す
    る可能性が高くなる程度に相当する高レベルの場合に
    は、前記ディスク上の前記TA現象が検出された位置ま
    で前記リードヘッドを移動させた後に、当該位置を基準
    とした所定の範囲内をシークさせる制御手段とを具備し
    たことを特徴とするディスク記録再生装置。
  4. 【請求項4】 前記制御手段は、前記欠陥レベルが前記
    リードエラーの回復が可能な程度に相当する低レベルの
    場合にはリードエラー回復処理を実行し、このリードエ
    ラー回復処理によりエラー回復ができない場合には前記
    シーク動作を実行させる手段を有することを特徴とする
    請求項3記載のディスク記録再生装置。
  5. 【請求項5】 前記制御手段は、前記欠陥レベルが前記
    高レベルの場合に前記シーク動作を実行させた後に、前
    記欠陥レベル判定手段により前記TA現象に伴う前記欠
    陥レベルが高レベルであると再度判定された場合には、
    前記記録領域を欠陥領域として設定する処理を実行する
    手段を有することを特徴とする請求項3記載のディスク
    記録再生装置。
  6. 【請求項6】 磁気抵抗効果素子(MR素子)からなる
    リードヘッドによりディスク上に記録されたデータをリ
    ードし、ライトヘッドにより前記ディスクにデータをラ
    イトするためのドライブを有し、ホストシステムからの
    コマンドの受信に応じて前記ディスクに対するデータの
    リード/ライト動作を実行するディスク記録再生装置で
    あって、 前記ディスクを回転した状態で前記ホストシステムから
    のコマンドが発行されていないアイドリング状態を検出
    し、当該アイドリング状態が所定の時間だけ継続した場
    合に前記コマンドの受信状態を維持したまま前記ディス
    クの回転を停止させるスタンバイモードを実行するため
    の手段と、 前記ディスク上の欠陥領域に関する欠陥情報であって、
    前記MR素子の特性に従ったサーマルアスペリティ(T
    A現象)に伴うTA欠陥情報を含む前記欠陥情報を記憶
    している記憶手段と、 前記アイドリング状態の開始時から前記スタンバイモー
    ドの実行前の期間に、前記TA欠陥情報に基づいて前記
    TA現象の検出位置である前記ディスク上の欠陥領域に
    対する欠陥検査処理を実行する手段と、 前記欠陥検査処理により前記TA現象に伴う欠陥領域が
    存在する場合に、前記スタンバイモードの実行前に前記
    リードヘッドを移動させた後に、当該位置を基準とした
    所定の範囲内をシークさせる制御手段とを具備したこと
    を特徴とするディスク記録再生装置。
  7. 【請求項7】 前記制御手段は、前記シーク動作の後に
    前記欠陥領域から前記TA現象に伴うリードエラーが発
    生しない場合には前記TA欠陥情報から当該ーが欠陥領
    域を削除する更新処理を実行する手段を有することを特
    徴とする請求項6記載のディスク記録再生装置。
  8. 【請求項8】 前記制御手段は、前記シーク動作時に前
    記ディスクの回転速度を低下させて、前記リードヘッド
    の浮上量を低下した状態で前記シーク動作を実行させる
    手段を有することを特徴とする請求項1、請求項2、請
    求項3、請求項4、請求項5、請求項6のいずれかに記
    載のディスク記録再生装置。
  9. 【請求項9】 磁気抵抗効果素子(MR素子)からなる
    リードヘッドによりディスク上に記録されたデータを読
    出して再生するディスク記録再生装置に適用するリード
    エラー処理方法であって、 前記ディスク上の指定位置から前記リードヘッドにより
    データを読出すリード動作時に、前記MR素子の特性に
    従ったサーマルアスペリティ(TA現象)を検出するス
    テップと、 前記TA現象が検出されたときの前記ディスク上の位置
    を特定して、当該位置まで前記リードヘッドを移動させ
    るステップと、 当該位置を基準として前記リードヘッドを所定の範囲内
    でシークさせるステップとからなる処理を実行すること
    を特徴とするリードエラー処理方法。
  10. 【請求項10】 磁気抵抗効果素子(MR素子)からな
    るリードヘッドによりディスク上に記録されたデータを
    リードし、ライトヘッドにより前記ディスクにデータを
    ライトするためのドライブを有し、ホストシステムから
    のコマンドの受信に応じて前記ディスクに対するデータ
    のリード/ライト動作を実行するディスク記録再生装置
    に適用するリードエラー処理方法であって、 前記ディスク記録再生装置は前記ディスク上の欠陥領域
    に関する欠陥情報であって、前記MR素子の特性に従っ
    たサーマルアスペリティ(TA現象)に伴うTA欠陥情
    報を含む前記欠陥情報を記憶している記憶手段を有し、 前記ディスクを回転した状態で前記ホストシステムから
    のコマンドが発行されていないアイドリング状態を検出
    するステップと、 前記アイドリング状態の開始時から前記コマンドの受信
    状態を維持したまま前記ディスクの回転を停止させるス
    タンバイモードの実行前の期間に、前記TA欠陥情報に
    基づいて前記TA現象の検出位置である前記ディスク上
    の欠陥領域に対する欠陥検査処理を実行するステップ
    と、 前記欠陥検査処理により前記TA現象に伴う欠陥領域が
    存在する場合に、前記スタンバイモードの実行前に前記
    リードヘッドを移動させた後に、当該位置を基準とした
    所定の範囲内をシークさせるステップとからなる処理を
    実行することを特徴とするリードエラー処理方法。
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