JPH11248690A - 超音波探傷装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】欠陥の端部位置を超音波探傷により、高精度で
測定する。 【解決手段】走査機構８に搭載され、被検査物１にセッ
トされた探触子構造体３は電子走査機能付きで、かつ電
子位相制御集束型可変角走査機能を有する送信探触子４
とその前方に配した欠陥の端部エコーを受信するための
固定角の受信探触子６で構成されている。この自動探傷
走査において、まず端部エコーを最大感度で検出する走
査機構８の座標を求め、この位置で超音波探傷制御器１
５で送信探触子４の超音波集束距離をほぼ欠陥端部に自
動調整した後、可変角，電子走査により欠陥の端部エコ
ーデータをデータ収録演算制御装置１６に収録する。こ
こで各可変角走査の送信超音波入射点と端部エコー最大
値検出点を結んだ多数の直線の交点を欠陥端部として求
め、欠陥のサイジングを行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は超音波を用いた固体
の非破壊検査に用いられる技術に関している。

【０００２】

【従来の技術】ここ数年来、原子力発電所の耐圧溶接部
の健全性評価において、経年変化として発生が予測され
る各種の疲労割れ，応力腐食割れ等の欠陥の大きさの評
価の精度向上が、強度と予測寿命評価技術の急速な確立
とあいまって、要請されてきており、一般産業界におい
てもその趨勢にある。

【０００３】このような状況下にあって、種々の手法が
提案されてきているが、未だ不十分な状況にある。

【０００４】現在提唱されている有用と考えられている
基本的な方法は超音波探傷試験における欠陥端部から発
生する超音波反射波、いわゆる端部エコーを計測評価す
る方法である。

【０００５】まず現在実用されている手動超音波探傷試
験における端部エコー法とその問題点を述べる。

【０００６】図１３に内部割れの高さを端部エコー法で
測定する原理図を示した。

【０００７】この図で内部割れの高さＨは探傷屈折角を
θ、割れ上下端の端部エコーのビーム路程の差をΔＷと
すれば、Ｈ＝ΔＷ・cosθ で求まる。

【０００８】しかし現実には、図１４に示した超音波探
傷器のブラウン管７６上の信号波形７７中の端部エコー
７８の表示例の如く、欠陥端部での発生時の信号値が低
い上に、周辺に一様に無指向に拡散するため、超音波探
触子で受信する時には更に低下し、その近傍のノイズ信
号との識別に大きな問題をかかえている。

【０００９】この問題点の改善策として、散乱波法が提
案されている。

【００１０】この散乱波法の原理を図１５に示したが、
同一仕様の送信探触子８０と受信探触子８１を分離して
欠陥８３を挟んで対称の位置に対向して置き、欠陥の上
下端の端部エコー８４，８５、表面７９の伝達波８２と
底面８７での反射波８６を測定し、欠陥の大きさを算定
する方法であり、送信超音波の直接反射波を受信しない
方式で端部エコーの受信信号のＳＮ比の改善を図ってい
る。

【００１１】一方、送信兼受信用のアレイ探触子の受信
結果と受信探触子による受信結果とを比較して傷か否か
を判定し、傷の場合には、傷の深さ寸法をアレイ探触子
からのビーム偏向制御に伴うエコーレベルとビーム路経
値を計測して推定することが、特開平1−145565 号公報
によって周知であり、この際、受信探触子を欠陥に出来
るだけ近接させて最大受信点に受信探触子を位置させて
いることが認められる。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】従来の散乱波法は、以
下の問題点を持っている。

【００１３】一つの探触子から送信される超音波ビー
ムの広がりを利用して探傷情報を得て欠陥の大きさを算
定する方法であり、その広がりで送信超音波の音圧が著
しく低下するので、欠陥端部エコーがますます微弱にな
り、ノイズ信号との識別等に測定限界がある。

【００１４】図１６はオーステナイトステンレス鋼の
溶接部８９の近傍の欠陥９０のサイジングに散乱波法を
適用した場合の説明図であり、この溶接金属８９は超音
波の減衰が大きく、柱状晶金属組織による超音波の曲が
りを生じ、かつ林状ノイズエコーを生じるので、このよ
うな部位を挟んで送受の探触子８０，８１を配置して探
傷する散乱波法の適用は困難である。また、溶接部ビー
ド表面８８の形状の影響も受ける。

【００１５】また、特開平1−145565 号公報のものは、
欠陥である傷の深さを推定する際に、送信と受信を兼ね
るアレイ探触子の受信信号をも利用するのであるが、欠
陥端部での反射信号値が低い上に、欠陥端部周辺に一様
に無指向に拡散するため、アレイ探触子で受信する時に
は更に低下し、その近傍のノイズ信号との識別に大きな
問題をかかえる。

【００１６】本発明の目的は、欠陥の端部位置の高精度
な把握にある。

【００１７】

【課題を解決するための手段】第１手段は、欠陥に近い
位置に受信探触子を、前記受信探触子の位置にくらべて
相対的に前記欠陥に遠い位置に送信探触子として可変角
超音波探触子を置いた探触子構造体と、少なくとも前記
送信探触子から被検査体表面への超音波入射点を変化さ
せる手段と、前記受信探触子からの受信信号に基づくデ
ータの処理手段と、前記処理手段からのデータの表示手
段とを備えた超音波探傷装置において、前記データの処
理手段は、前記超音波入射点と前記欠陥の端部の超音波
反射波の見掛け上の超音波反射点とを結んだ複数の直線
の交点を欠陥の端部として算定する欠陥端部評定処理部
を備え、前記表示手段は、前記処理手段と前記算定結果
を表示するように接続されていることを特徴とする超音
波探傷装置である。

【００１８】このような第１手段によれば、超音波探傷
作業では送信探触子と受信探触子を分離し、後者を前者
の前面、即ち受信探触子を送信探触子よりも欠陥個所に
近い位置に配置してあるので、 図７に示した如く、微弱な端部エコーを受信する受信
探触子５１を送信探触子５０から独立させて前方に置
き、送信探触子５０の主ビーム５２のライン上からずら
すことにより、端部エコーを受信する探触子５１が供試
体の結晶粒界等からの主ビーム反射ノイズ信号を受信し
ないように配置でき、大幅にＳＮ比を改善することが可
能になり、微弱な信号値である端部エコー信号の検出，
測定が容易になる。

【００１９】探傷のための送信超音波ビームは直進指
向性を持つが、図７に示したごとく、欠陥端部からの端
部エコーは無指向一様拡散特性５６を持ち、距離の２乗
に反比例して急速に減衰するので、受信探触子を送信探
触子の前面に、供試体（被検査体）の探傷面の形状が許
す限り欠陥端部直上に配置することにより、欠陥端部か
らの距離を短縮して端部エコー信号値の減衰を抑制で
き、微弱な信号値である端部エコー信号の検出，測定が
容易になる。

【００２０】図８に示した如く、送信用探触子５０と
端部エコー受信用探触子５１が、溶接部８９に対して、
検出すべき欠陥５４と同じ側にあり、送信と受信の探触
子が溶接部を挟むことが無いので、溶接部が超音波の減
衰等の問題のあるオーステナイトステンレス鋼等であっ
ても問題なく適用できる。

【００２１】第１手段で採用されたデータの処理手段
は、前記超音波入射点と前記欠陥の端部の超音波反射波
の見掛け上の超音波反射点とを結んだ複数の直線の交点
を欠陥の端部として算定する欠陥端部評定処理部を備
え、その処理部での端部エコーの発信点、すなわち欠陥
の端部を算定する方法について述べる。

【００２２】一般に超音波探傷器においては、送受分割
方式であっても見掛け上あたかも送受を同一の探触子で
行っているかのごとき信号処理方式を取っている。すな
わち、図９において被検査物に内在する欠陥５４の高さ
Ｈを測定する場合において、送信探触子５０で欠陥５４
の端部５５から発生し、一様に拡散していく端部エコー
５６を計測した場合、超音波が丁度送信探触子５０と欠
陥端部５５を往復した時間を距離に換算して、送信超音
波ビーム５２上に欠陥端部５５の端部エコー発生点を求
める方式になっている。従って、送信探触子５０が超音
波を発信して、端部エコー受信探触子５１で欠陥端部５
５からの端部エコー５６を経路５３を経て受信する送受
分割方式の場合でも、端部エコー発生点は送信超音波５
２の線上に、発信から受信までの超音波伝達時間の換算
距離による算定した点５７があたかも欠陥端部の如く計
測される。

【００２３】図１０の如く、送信探触子５０を入射超音
波の屈折角θを変化可能とする可変角探触子とし、これ
と端部エコー受信探触子５１とを結合状態で、送信探触
子を可変角走査しながら、欠陥５４上を矢印の方向に走
査すると、欠陥の端部をその発信超音波５２ａから５２
ｄで捉えた端部エコーの見掛け上の発生点５７ａから５
７ｄが任意に設定した探触子位置座標ピッチ毎に得られ
る。これら端部エコーの見掛け上の発生点とそれぞれの
超音波の入射点を結んだ多数の探傷直線が得られ、これ
らの延長線上の交点が欠陥端部５５の位置と演算され
る。すなわち複雑な三角関数の演算を行うことなしに、
超音波探傷器の原理を用いて簡易に欠陥端部を求めるこ
とを可能とし、かつ多数のデータの集合点とする加算効
果により、結晶粒界等のノイズエコーとの区別を明確に
することを可能とし、測定精度を著しく向上する画期的
な働きが得られる。

【００２４】第２手段は、第１手段において、前記送信
探触子を送受信共用の探触子として採用し、前記可変角
超音波探触子にデータの処理手段を接続し、前記データ
の処理手段に、前記可変角超音波探触子からの受信信号
によるデータに基づいて欠陥の位置を算定する探傷処理
部を備え、前記表示手段は、前記探傷処理部と欠陥端部
評定処理部からのデータを併記するように前記データの
処理手段に接続してあることを特徴とする超音波探傷装
置であり、第１手段による作用効果に加えて、可変角超
音波探触子による欠陥の超音波受信情報をデータの処理
手段で欠陥探傷像のデータとし、その欠陥探傷像のデー
タに欠陥端部評定処理部からの欠陥端部のデータを表示
手段上に合成して端部を正確に表した欠陥の実態に近い
正確な表示が可能と成るという作用効果が得られる。

【００２５】第３手段は、第１手段又は第２手段におい
て、前記送信探触子は超音波ビームを集束させる手段を
備えていることを特徴とする超音波探傷装置であり、第
１手段又は第二手段による作用効果に加えて、送信探触
子の超音波ビームを集束型にすることは、欠陥に当たる
超音波ビームを強力にして、端部エコーの信号レベルを
高める作用があり、その作用によって端部エコーの信号
の検出や測定が一層容易になるという効果が得られる。

【００２６】第４手段は、第１手段から第３手段までの
いずれか一手段において、送信探触子に電子位相制御型
の超音波探触子を用いたことを特徴とする超音波探傷装
置であり、第１手段から第３手段までのいずれか一手段
による作用効果に加えて、送信探触子に電子位相制御型
の探触子を用いることにより、送信超音波のビームの集
束距離を任意に設定可能と成る作用が得られ、可変角走
査も容易に可能となる効果が得られる。

【００２７】第５手段は、第１手段から第４手段までの
いずれか一手段において、受信探触子に可変角超音波探
触子を用いたことを特徴とする超音波探傷装置であり、
第１手段から第４手段までのいずれか一手段による作用
効果に加えて、受信探触子を自由に受信指向特性を変え
られる可変角型とすることにより、受信角を最大感度の
角度に調整してその受信最大感度を維持しできる作用が
得られ、その作用によって、受信探触子をどの様な位置
にあってもその位置における受信最大感度にセットし
て、微弱な信号値である端部エコー信号の検出，測定が
容易になる効果が得られる。

【００２８】第６手段は、第１手段において、送信探触
子として、複数の超音波振動子を被検査物表面への超音
波入射点を同心円中心とする楔材の円周上に配置したア
レイ型探触子をスッチング制御する探触子を用いること
を特徴とする超音波探傷装置であり、第１手段による作
用効果に加えて、複数の超音波振動子を被検査物への超
音波入射点を同心円中心とする楔材の円周上に配置し
て、スッチング制御することにより任意の屈折角の超音
波送信を可能とし、図６に示した如く、端部エコーを最
大感度で受信する位置に受信探触子６をセットして、二
箇所の送信探触子位置２８ａ，２８ｂで、欠陥上端部２
１をそれぞれの二つの屈折角の超音波ビームで捉え、欠
陥上端部の算定が可能となる。

【００２９】第７手段は、第１手段又は第２手段又は第
３手段において、受信探触子に固定角探触子を用い、送
信探触子に可変角探触子を用い、前記受信探触子を固定
し、これに対して走査方向に移動自在に送信探触子を搭
載した探触子構造体と、前記探触子構造体に連結された
走査機構とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置で
あり、第１手段又は第２手段又は第３手段による作用効
果に加えて、以下の作用効果が得られる。

【００３０】図１１に示した如く、受信用に固定角探
触子５１を用い、これに対し矢印５９の方向に走査可能
とする可変角探触子６２とを一体とした探触子構造体６
１を搭載した走査機構６３から構成され、探触子構造体
６１を走査機構６３により矢印６０の方向に一定の微小
走査ピッチ送っては、可変角探触子の超音波屈折角θを
設定された角度範囲を回転走査しては送って行くと、必
ずその欠陥からの端部エコーが受信探触子の超音波振動
子面で垂直に受信される座標に到達する。この座標位置
で可変角探触子をその超音波屈折角を回転走査しなが
ら、受信用の固定角探触子に対して矢印５９の方向に探
傷走査すると、端部エコーを最良の条件で計測すること
になり、精度の良い欠陥の大きさの評価が可能になる。

【００３１】第８手段は、第１手段又は第２手段又は第
３手段において、受信探触子と送信探触子とを走査方向
において相対的に固定されて装備した探触子構造体と、
前記送信探触子として採用された電子走査機能付き電子
位相制御集束型可変角探触子と、前記探触子構造体に連
結された走査機構とを備えたことを特徴とする超音波探
傷装置であり、第１手段又は第２手段又は第３手段によ
る作用効果に加えて、電子走査が可能となって、機械式
の走査機構無しで走査でき、装置がコンパクトに成る効
果が得られる。

【００３２】第９手段は、第１手段から第８手段までの
いずれか一手段において、受信用探触子の振動子の後面
の充填材を無くするか、あるいは前記後面での超音波に
対するダンパー効果を緩める手段を講じてあることを特
徴とする超音波探傷装置であり、第１手段から第８手段
までのいずれか一手段による作用効果に加えて、受信用
探触子の振動子の背面のダンパー材を除去、あるいはそ
の効果を弱めて、受信感度を著しく高める作用が得ら
れ、感度を高くして高精度な欠陥検査が可能となる効果
が得られる。

【００３３】第１０手段は、第１手段から第９手段まで
のいずれか一手段において、前記データの処理手段は、
被検査体の肉厚方向への超音波送受信データにより前記
被検査体の表面と底面との位置を認識する演算部と、前
記演算部による表面と底面との情報を表示手段に表示す
るように前記表示手段が前記データの処理手段に接続さ
れていることを特徴とする超音波探傷装置であり、第１
手段から第９手段までのいずれか一手段による作用効果
に加えて、被検査体の圧肉方向の超音波受信情報から被
検査体の表面と底面との位置を演算して共通の表示手段
に欠陥端部の位置と被検査体の表面と底面との位置とを
合成して表示できる作用が得られるので、被検査体内の
欠陥の存在位置が認識しやすい効果が得られる。

【００３４】

【発明の実施の形態】以下に本発明の一実施例を図１〜
図６を用いて説明する。

【００３５】図１は被検査物１に内在する割れ状の欠陥
２の欠陥の高さｈを測定するための全体説明図である。
探触子構造体３は、送信探触子４と受信探触子６からな
り、送信探触子４は幅の狭い短冊状の多数の超音波振動
子の集合体としたアレイ超音波振動子５を電子制御によ
り超音波ビームを任意の距離の点（２０，２１等）に集
束させ、更にその方向を振る、いわゆる可変角機能１２
を持たせ、かつその超音波ビームを矢印のようにアレイ
超音波振動子の電子走査方向１４の方向に電子走査する
位相制御方式の集束型可変角探触子である。

【００３６】受信探触子６は送信超音波ビームが欠陥の
下端２０に当たり、発生した端部エコーを受信するもの
で、固定角の探触子である。

【００３７】この探触子構造体３は走査ロッド９と結合
され、走査機構８によって左右に探傷走査される。走査
機構８は走査ロッド９を介して結合された探触子構造体
３を、位置座標検出用のエンコーダ１９の出力をもとに
走査機構用制御器１７により、所定ピッチ送り、この位
置で送信探触子４は超音波ビームの集束距離を被検査物
１の底面にセットした条件で、所定の角度範囲を可変角
動作しながら、所定のストロークをアレイ超音波振動子
の電子走査方向１４の左矢印方向に電子走査する。次
に、また走査機構８で探触子構造体３を所定ピッチ送
り，送信探触子４で同様の動作を行い、これをくり返し
ていく。

【００３８】図２を用いて、これらの探傷走査において
得られる欠陥からの一連の端部エコー値により、受信探
触子でその端部エコーを最大感度で受信可能な走査機構
８の座標を下記のようにして求める。

【００３９】走査機構８の座標ａ 図２（ａ）は走査機構８の座標がａの探傷の状況の説明
図である。この状態は欠陥下端２０からの端部エコー１
０ａが受信探触子６ａの受信振動子７ａに垂直には入射
していないが、受信探触子６ａが端部エコーによる受信
信号を出力出来る状態である。電子走査機能付きの電子
位相制御集束型可変角探触子４の電子走査座標における
送信集束超音波ビームの中心ビームを１１ａ−１，１１
ａ−２，１１ａ−３とし、それぞれがその座標位置で所
定の角度範囲回転走査する。これら送信超音波ビームに
は幅があるために、受信探触子６ａで受信する端部エコ
ー値はアレイ超音波振動子電子走査座標毎に図２（ｂ）
のような曲線１１ａ−１，１１ａ−２，１１ａ−３の集
合となり、これら各曲線の最高点を結んだ包絡線１１ａ
が得られる。

【００４０】走査機構８の所定のピッチ毎の座標で上
記のデータをとると、包絡線１１ａ〜１１ｅが得られ、
欠陥端部からの端部エコー１１ｅが受信探触子６ｅの受
信振動子７ｅへ垂直に入射する時に最高値となる。

【００４１】この時の走査機構８の座標ｅが、受信探触
子６の指向特性上から、端部エコーを最大感度で受信可
能な座標となる。

【００４２】これに続いて行われる制御動作を図１を用
いて説明する。

【００４３】まず、データ収録演算制御装置１６の指
令で、走査機構用制御器１７により走査機構８が自動的
に動作して、端部エコーが最大感度で受信される座標ｅ
に探触子構造体３が戻され、かつ超音波探傷制御器１５
によりアレイ超音波振動子５の中心座標に超音波入射点
がセットされる。

【００４４】送信超音波ビームの集束距離を、アレイ
超音波振動子の発信遅延制御を超音波探傷制御器１５に
より行い、端部エコー受信ビーム路程に一致させる。

【００４５】送信探触子４の電子走査基点から可変角
電子走査を実施して、所定ピッチ毎の各座標における可
変角探傷端部エコーデータを採取して、その最高値にお
ける屈折角を求める。

【００４６】上記のそれぞれの送信超音波入射点座標
を基点として、それぞれの端部エコー最高値の屈折角に
より得られる複数の直線の交点が欠陥の下端部として、
演算制御装置１６により求まる。

【００４７】次に走査機構８により、探触子構造体３を
左方向に探傷走査していくと、欠陥２の上端２１の端部
エコーが計測されはじめ、上述と同様にして、この端部
エコー１３が最大感度で受信される受信探触子２２の位
置が求まり、ここで電子走査可変角探傷が行われ、欠陥
上端の位置が求まる。これらから演算制御装置１６によ
り、欠陥高さｈがプリンタ１８により、出力される。

【００４８】次に、図１において、送信探触子４に専用
の超音波探傷制御器１５の受信信号処理回路１チャンネ
ルを割り当て、送受兼用として欠陥探傷を行う実施例に
ついて述べる。これは端部エコー計測走査に並行して、
送信探触子４で欠陥２からの超音波反射信号を受信し、
欠陥像を演算制御装置１６で演算し、図３に示した如
く、上述の如く求めた欠陥上下端位置２０ｐ，２１ｐに
欠陥像２ｐを重ね合わせた探傷画像をプリンタ１８から
出力する。なお、この場合において、送信探触子４の可
変角０°のデータも収録し、被検査物の表面７９ｐと底
面８７ｐも演算し、同一画面に表示している。

【００４９】図４は走査機構８を設備しない場合の実施
例である。まず大きさを評価すべき欠陥の付近の探傷面
上に探触子構造体３を当て、キーボード２５で電子位相
制御集束型可変角探触子を用いた送信探触子４が作動状
態の探傷モードに設定し、探触子構造体３を手動で左右
に探傷走査して、超音波探傷制御器１５のブラウン管表
示器上で欠陥下端２０からの端部エコー１３が最大とな
る位置を見つけ、そこに探触子構造体３を固定する。

【００５０】次にキーボード２５でモードを欠陥サイジ
ングに切替え、上記の固定点で送信探触子４の電子走
査，可変角探傷等の上述と同様の計測，制御及び演算を
超音波探傷制御器１５とデータ収録演算制御装置１６で
行い、かつ欠陥上端も同様にして求め、欠陥のサイジン
グを終了する。

【００５１】図５は欠陥の端部エコーの検出，計測のた
めの受信探触子６に垂直探触子を用い、欠陥端部からの
距離を最小にして、かつ楔材を介せずに、超音波振動子
７で端部エコーを受け、その減衰を少なくして測定感度
を改善する実施例である。

【００５２】ここで、この受信探触子６を可変角型にし
て、欠陥２の上部に溶接ビード等の近接障害があった場
合に、これを避けて受信探触子６を右側に移動し、端部
エコーを最大感度で受信する角度に調整して使用する実
施例もある。

【００５３】また、受信探触子６において、楔材に超音
波振動子を接着した場合、その背面ダンパ材を使用せ
ず、受信感度を大幅に改善する使用例もある。

【００５４】図６の実施例は複数の短冊状の超音波振動
子群２９を被検査物への超音波入射点を同心円中心とす
る楔材の円周上に配置して、スッチング制御することに
より任意の屈折角の送信を可能とする可変角送信探触子
を使用するものである。

【００５５】まず、受信探触子６の中心と可変角送信探
触子２８ａの被検査物への入射点との距離がほぼ被検査
物１の肉厚寸法になるように位置決め機構２６により調
整する。この距離はエンコーダ１９から自動的にデータ
収録演算制御装置１６に入力される。次に、データ収録
演算制御装置１６により切替えスイッチ回路３０を制御
して、所定の入射屈折角範囲の連続可変角探傷走査をし
ながら、前記と同様に手動で欠陥２の上端２１の端部エ
コーが最大となる受信位置を見付け、受信探触子６を位
置決めセットする。

【００５６】この可変角送信探触子２８ａの位置で、デ
ータ収録演算制御装置１６により切替えスイッチ回路３
０を制御して送信超音波の屈折角を連続的に変え、受信
探触子６で受信した端部エコー値を超音波探傷器３１を
介して、データ収録演算制御装置１６に収録する。ここ
で端部エコー値が最大となる屈折角での超音波入射点３
２と見掛け上の端部エコー反射点３４を結んだ直線３３
が得られる。

【００５７】次に、位置決め機構２６により、可変角送
信探触子を２８ｂに移動し、この距離をエンコーダ１９
の出力としてデータ収録演算制御装置１６に自動入力す
る。ここで可変角探触子２８ａの場合と同様にして、端
部エコー値が最大となる屈折角での超音波入射点３５と
見掛け上の端部エコー反射点３７を結んだ直線３６が得
られる。以上の２本の直線の交点が欠陥上端２１とデー
タ収録演算制御装置１６により演算される。なお、更に
計測点を増やし、欠陥サイジング精度を上げることも可
能である。

【００５８】以上、詳細に説明した如く、本発明の実施
例では、集束超音波を用いることによる検出限界寸法の
改善，探触子を送受分割型にし受信探触子を欠陥に近づ
けることによる微弱な欠陥の端部エコー受信の感度向
上，探触子を送受分割型にしたことによる送信反射波の
受信探触子での受信回避によるＳＮ比の大幅改善，端部
エコー発生点の積算算定方式の採用によるノイズの影響
の排除等画期的な機能と性能の超音波探傷欠陥寸法測定
装置の提供を可能にした。

【００５９】

【発明の効果】請求項１の発明によれば、被検査体内の
欠陥端部をノイズに惑わされることなく高精度に測定で
きるので、その欠陥の測定精度や測定限界最小寸法を改
善することが出来るという効果が得られる。

【００６０】請求項２の発明によれば、請求項１の発明
による作用効果に加えて、表示手段上に欠陥の長さ方向
の情報に正確な欠陥端部の情報を合成して表示し、実像
に近い欠陥情報が表示手段を通じて認識できるという効
果が得られる。

【００６１】請求項３の発明によれば、請求項１又は請
求項２の発明による効果に加えて、受信強度が高まっ
て、欠陥端部エコーの信号の検出や測定が一層容易にな
るという効果が得られる。

【００６２】請求項４の発明によれば、請求項１から請
求項３までのいずれか一項の発明による効果に加えて、
超音波の収束と可変角走査の制御を電子的に行えるの
で、装置の取扱が容易となる。

【００６３】請求項５の発明によれば、請求項１から請
求項４までのいずれか一項の発明による効果に加えて、
受信探触子をどの様な位置にあってもその位置における
受信最大感度にセットして、微弱な信号値である端部エ
コー信号の検出，測定が容易になる効果が得られる。

【００６４】請求項６の発明によれば、請求項１の発明
による効果をスッチング制御で送信超音波の屈折角を任
意の屈折角に容易に可変して欠陥端部の算定が容易に達
成できる。

【００６５】請求項７の発明によれば、請求項１から請
求項３までのいずれか一項の発明による効果に加えて、
端部エコーを最良の条件で計測出来て、欠陥の精度の良
い評価が可能になる。

【００６６】請求項８の発明によれば、請求項１から請
求項３までのいずれか一項の発明による効果に加えて、
機械式の走査機構を電子式走査に置き換えたので、装置
がコンパクトに成る効果が得られる。

【００６７】請求項９の発明によれば、請求項１から請
求項８までのいずれか一手段による効果に加えて、受信
探触子の感度を向上して一層高精度な欠陥検査が可能と
なる効果が得られる。

【００６８】請求項１０の発明によれば、請求項１から
請求項９までのいずれか一手段による効果に加えて、共
通の表示手段に欠陥端部の位置と被検査体の表面と底面
との位置とを合成して表示できるから、被検査体内の欠
陥の存在位置が認識しやすいという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す超音波探傷欠陥寸法測
定装置の説明図である。

【図２】本発明の一実施例を示す探傷データ計測に関す
る原理説明図である。

【図３】本発明の一実施例を示す画像処理出力の説明図
である。

【図４】本発明の一実施例を示す簡易型の超音波探傷欠
陥寸法測定装置の説明図である。

【図５】本発明の一実施例を示す受信探触子に垂直探触
子を用いた説明図である。

【図６】本発明の一実施例を示す電子走査可変角探触子
を用いた超音波探傷欠陥寸法測定装置の説明図である。

【図７】本発明の探傷原理説明図である。

【図８】本発明を溶接部に適用した場合の探触子配置説
明図である。

【図９】本発明の欠陥端部位置標定の基本原理説明図で
ある。

【図１０】本発明の欠陥端部位置演算の原理説明図であ
る。

【図１１】機械的走査による超音波探傷欠陥寸法測定走
査の原理説明図である。

【図１２】電子走査による超音波探傷欠陥寸法測定走査
の原理説明図である。

【図１３】端部エコー法による欠陥サイジングの公知例
の説明図である。

【図１４】端部エコーの信号出力の説明図である。

【図１５】散乱波法による欠陥サイジングの公知例の説
明図である。

【図１６】散乱波法による欠陥サイジングの適用上の問
題点の一例の説明図である。

【符号の説明】

１…被検査物、２…欠陥、３…超音波探触子構造体、４
…送信探触子、５…アレイ超音波振動子、６…欠陥下端
からの端部エコー受信位置の受信探触子、７…欠陥下端
受信位置の受信超音波振動子、８…走査機構、９…走査
ロッド、１０…欠陥下端からの端部エコー、１１…集束
超音波中心ビーム、１３…欠陥上端からの端部エコー、
１４…アレイ超音波振動子の電子走査方向、１５…超音
波探傷制御器、１６…データ収録演算制御装置、１７…
走査機構用制御器、１８…プリンタ、１９…エンコー
ダ、２０…欠陥下端、２１…欠陥上端、２２…欠陥上端
からの端部エコー受信位置の受信探触子。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 洋司 茨城県日立市幸町三丁目２番１号 日立エ ンジニアリング株式会社内

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】欠陥に近い位置に受信探触子を、前記受信
   探触子の位置にくらべて相対的に前記欠陥に遠い位置に
   送信探触子として可変角超音波探触子を置いた探触子構
   造体と、少なくとも前記送信探触子から被検査体表面へ
   の超音波入射点を変化させる手段と、前記受信探触子か
   らの受信信号に基づくデータの処理手段と、前記処理手
   段からのデータの表示手段とを備えた超音波探傷装置に
   おいて、前記データの処理手段は、前記超音波入射点と
   前記欠陥の端部の超音波反射波の見掛け上の超音波反射
   点とを結んだ複数の直線の交点を欠陥の端部として算定
   する欠陥端部評定処理部を備え、前記表示手段は、前記
   処理手段と前記算定結果を表示するように接続されてい
   ることを特徴とする超音波探傷装置。
2. 【請求項２】請求項１において、前記送信探触子を送受
   信共用の探触子として採用し、前記可変角超音波探触子
   にデータの処理手段を接続し、前記データの処理手段
   に、前記可変角超音波探触子からの受信信号によるデー
   タに基づいて欠陥の位置を算定する探傷処理部を備え、
   前記表示手段は、前記探傷処理部と欠陥端部評定処理部
   からのデータを併記するように前記データの処理手段に
   接続してあることを特徴とする超音波探傷装置。
3. 【請求項３】請求項１又は請求項２において、前記送信
   探触子は超音波ビームを集束させる手段を備えているこ
   とを特徴とする超音波探傷装置。
4. 【請求項４】請求項１から請求項３までのいずれか一項
   において、送信探触子に電子位相制御型の超音波探触子
   を用いたことを特徴とする超音波探傷装置。
5. 【請求項５】請求項１から請求項４までのいずれか一項
   において、受信探触子に可変角超音波探触子を用いたこ
   とを特徴とする超音波探傷装置。
6. 【請求項６】請求項１において、送信探触子として、複
   数の超音波振動子を被検査物表面への超音波入射点を同
   心円中心とする楔材の円周上に配置したアレイ型探触子
   をスッチング制御する探触子を用いることを特徴とする
   超音波探傷装置。
7. 【請求項７】請求項１又は請求項２又は請求項３におい
   て、受信探触子に固定角探触子を用い、送信探触子に可
   変角超音波探触子を用い、前記受信探触子を固定し、こ
   れに対して走査方向に移動自在に送信探触子を搭載した
   探触子構造体と、前記探触子構造体に連結された走査機
   構とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。
8. 【請求項８】請求項１又は請求項２又は請求項３におい
   て、受信探触子と送信探触子とを走査方向において相対
   的に固定されて装備した探触子構造体と、前記送信探触
   子として採用された電子走査機能付き電子位相制御集束
   型可変角探触子と、前記探触子構造体に連結された走査
   機構とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。
9. 【請求項９】請求項１から請求項８までのいずれか一項
   において、受信用探触子の振動子の後面の充填材を無く
   するか、あるいは前記後面での超音波に対するダンパー
   効果を緩める手段を講じてあることを特徴とする超音波
   探傷装置。
10. 【請求項１０】請求項１から請求項９までのいずれか一
    項において、前記データの処理手段は、被検査体の肉厚
    方向への超音波送受信データにより前記被検査体の表面
    と底面との位置を認識する演算部と、前記演算部による
    表面と底面との情報を表示手段に表示するように前記表
    示手段が前記データの処理手段に接続されていることを
    特徴とする超音波探傷装置。