JPH11246979A - めっき装置 - Google Patents

めっき装置

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JPH11246979A
JPH11246979A JP6935098A JP6935098A JPH11246979A JP H11246979 A JPH11246979 A JP H11246979A JP 6935098 A JP6935098 A JP 6935098A JP 6935098 A JP6935098 A JP 6935098A JP H11246979 A JPH11246979 A JP H11246979A
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明久 本郷
Kenichi Suzuki
憲一 鈴木
Takeshi Tokuoka
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 微細な配線用の溝等の微細窪みに銅又は銅合
金等の電気的抵抗の小さい材料を均一に充填することが
でき、しかもパーティクルの発生を抑えることができる
ようにする。 【解決手段】 めっき液及び被めっき基板Wを収容する
めっき容器10と、該めっき容器の内部において磁気浮
上機構26により非接触で支持され、回転機構40によ
って回転することにより前記基板の表面近傍のめっき液
を流動させる回転部材24を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板のめっき装置
に係り、特に半導体基板に形成された配線用の窪みに銅
等の金属を充填するための充填方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体基板上に配線回路を形成す
るためには、基板面上にスパッタリング等を用いて導体
の成膜を行った後、さらにレジスト等のパターンマスク
を用いたケミカルドライエッチングにより膜の不要部分
を除去していた。
【0003】配線回路を形成するための材料としては、
アルミニウム(Al)又はアルミニウム合金が用いられ
ていた。しかしながら、半導体の集積度が高くなるにつ
れて配線が細くなり、電流密度が増加して熱応力や温度
上昇を生じ、これはストレスマイグレーションやエレク
トロマイグレーションによってAl等が希薄化するに従
いさらに顕著となり、ついには断線のおそれが生じる。
【0004】そこで、通電による過度の発熱を避けるた
め、より導電性の高い銅などの材料を配線形成に採用す
ることが要求されている。しかしながら、銅又はその合
金はドライエッチングが難しく、全面を成膜してからパ
ターンを形成する上記の方法の採用は困難である。そこ
で、予め所定パターンの配線用の溝を形成しておき、そ
の中に銅又はその合金を充填する工程が考えられる。こ
れによれば、膜をエッチングにより除去する工程は不要
で、表面段差を取り除くための研磨工程を行えばよい。
また、多層回路の上下を連絡するプラグと呼ばれる部分
も同時に形成することができる利点がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな配線溝あるいはプラグの形状は、配線幅が微細化す
るに伴いかなりの高アスペクト比(深さと直径又は幅の
比)となり、スパッタリング成膜では均一な金属の充填
が困難であった。また、種々の材料の成膜手段として気
相成長(CVD)法が用いられるが、銅又はその合金で
は、適当な気体原料を準備することが困難であり、ま
た、有機原料を採用する場合には、これから堆積膜中へ
炭素(C)が混入してマイグレーション性が上がるとい
う問題点があった。
【0006】さらに、基板をめっき液中に浸漬させて無
電解又は電解めっきを行なう方法も提案されているが、
溝や穴の底部への液の循環やイオンの供給が不充分とな
るので、溝の縁に比べて底部の膜成長が遅く、溝の上部
が詰まって底部に空洞(ボイド)ができてしまうなどし
て、均一な充填が困難であった。また、基板のサイズが
8”、12”と大きくなるに従って、基板の被めっき面
上のめっき厚精度が落ちる傾向にあった。
【0007】このため、基板とめっき液とを相対的に回
転させ、めっき面内均一を向上させるとともに、めっき
液の基板表面の微細窪み内への流入、或いはめっきする
べき金属イオンの流動を促進し、水素ガスを早期に離脱
させることが考えられる。しかしながら、このように回
転機構を設けると、転がり軸受や滑り軸受等の軸受とめ
っき液の回転機構への浸入を防ぐオイルシールが必要と
なり、これらから回転に伴う摩耗や潤滑剤のパーティク
ルが発生し、これがめっき液中に混入して配線不良を生
じることがある。
【0008】本発明は、上記の事情に鑑み、微細な配線
用の溝等の微細窪みに銅又は銅合金等の電気的抵抗の小
さい材料を均一に、かつ品質を落とさずに充填すること
ができるめっき装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、めっき液及び被めっき基板を収容するめっき容器
と、該めっき容器の内部において磁気浮上機構により非
接触で支持され、回転機構によって回転することにより
前記基板の表面近傍のめっき液を流動させる回転部材を
有することを特徴とするめっき装置である。
【0010】これにより、回転部材の回転によって基板
の表面近傍のめっき液を流動させ、めっき面内のめっき
厚さの均一性を向上させ、さらにめっき反応によって生
じる水素ガスを早期に離脱させ、めっき液が基板表面の
微細窪み内へ流入するのを促進させて、窪み内部でのめ
っき効率を向上させるとともに、それに伴ってボイドの
生成を抑制して健全なめっき層を形成する。回転部材は
磁気浮上機構で支持されているので、回転駆動手段が簡
易なものでよく、また、摩耗によるパーティクルや潤滑
剤がめっき液に拡散してめっきの品質を低下させること
も防止される。
【0011】請求項2に記載の発明は、前記回転部材が
基板に向けてめっき液を導くめっき液供給部材であるこ
とを特徴とする請求項1に記載のめっき装置である。こ
れにより、1つの部材でめっき液を流動させつつ基板に
向けて導くことができる。
【0012】請求項3に記載の発明は、前記めっき液供
給部材が筒状部とその下方に接続されてめっき液を水平
方向に導く案内部を有し、前記筒状部において前記磁気
浮上機構により支持されていることを特徴とする請求項
2に記載のめっき装置である。めっき液供給部材をこの
ような構成とすることによって安定な支持しやすい形状
とし、また、筒状部を支持することにより磁気軸受装置
をコンパクトに構成することができる。
【0013】前記回転部材をめっき液の流れによって回
転させるようにしてもよい。これにより、別に駆動機構
を設けることなく回転部材を回転させることができ、装
置の小型化と低コスト化を図ることができる。
【0014】前記回転部材を前記基板を保持する基板保
持台としてもよい。これにより、めっき液を流動させる
ための別部材を設けることなく、装置を簡単な構成とす
ることができる。
【0015】前記めっき容器を被めっき面の表面に沿っ
て振動させる加振装置を有するようにしてもよい。これ
により、例えば振幅1mm以下の横振動を1秒或いは2
秒に1回与えることで、基板表面の微細窪み内のめっき
液の入れ換えを該めっき液の慣性力で促進させて、これ
らのめっき付着効率を向上させることができる。
【0016】請求項4に記載の発明は、請求項1ないし
3のいずれかに記載のめっき装置を用いてめっきを行っ
た後、基板に付着した金属の不要部分を化学的・機械的
研磨装置により研磨して除去することを特徴とする基板
の加工方法である。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は、この発明の第1の
実施の形態のめっき装置を示すもので、内部に被めっき
材である基板W及びめっき液を保持する略扁平な円形の
めっき容器10と、めっき容器10の上端開口部を水密
的に覆う被覆部材20と、被めっき材に対向するように
回転自在に支持されたシャワヘッド24とを備えてい
る。めっき容器10の中央部には、基板Wを真空路12
を介して真空吸着して保持する基板保持部14が設けら
れ、その下側には、ヒータ16を収容する空洞18が形
成されている。
【0018】被覆部材20は、中央がやや高くなるよう
にテーパを有し、頂部にはシャワヘッド24を支持する
磁気軸受装置を収容する軸受収容部21が設けられ、下
端部には、容器の開口部に嵌合する位置決め用の凸部2
0aが形成されている。また、被覆部材20と容器10
の接合面には、互いに係合する周方向に延びる段差10
a,20aが形成され、これらを係合させつつ、接合面
をOリング22を介して接合して両者の間の水密性が確
保されるようになっている。
【0019】シャワヘッド24は、基板と対向するノズ
ル板24a、下方に広がるテーパを有する案内部24b
及びその中央から上方に延びる筒状部24cとからなる
容器状に形成され、筒状部24cの内面には複数の羽根
40が設けられ、ノズル板24aには全面に渡って均等
にノズル孔24dが形成されている。筒状部24cは、
軸受収容部21に挿入され、磁気軸受26に支持されて
いる。すなわち、筒状部24cの外周にはターゲットデ
ィスク26aが取り付けられ、一方、軸受収容部21に
はターゲットディスク26aを挟むように上下に電磁石
26bが設けられ、これによって、シャワヘッド24を
磁気浮上させる磁気軸受26が構成されている。
【0020】被覆部材20の上端には、めっき液流入ポ
ート27が設けられ、一方、容器10の底部にはめっき
液流出ポート28が形成され、これらはポンプ36と流
量調節器38を有するめっき液の循環ライン34によっ
て連絡されている。羽根40は、流入ポート27から供
給されためっき液が衝突することによりシャワヘッド2
4を回転させる力を発生させるように形成されている。
【0021】めっき容器10には、レール42に沿って
往復移動可能な振動子44を有する加振装置46が取り
付けられており、これによって、例えば振幅が1mm以
下である横振動を1秒或いは2秒に1回程度付与するこ
とができるようになっている。
【0022】このように構成されためっき装置の作用
を、半導体基板の配線回路形成のための銅又はその合金
のめっきを行なう場合について説明する。被処理対象の
基板Wは、図2(a)に示すように、半導体素子が形成
された半導体基材50の上に導電層52及びSiO2
らなる絶縁層54を堆積させた後、リソグラフィ・エッ
チング技術によりコンタクトホール56と配線用の溝5
8が形成され、その上にTiN等からなるバリア層60
が形成されている。
【0023】このような基板Wを基板保持部14上に載
置して吸着保持し、被覆部材20を被せた後、ポンプ3
6を作動させて、めっき液をシャワヘッド24から基板
Wに向けて噴射する。すると、シャワヘッド24はこの
内部を流れるめっき液から羽根40が受ける力によって
回転する。その結果、めっき液の噴射位置が回転方向に
移動するとともに、基板Wの被めっき面上にあるめっき
液は、ノズル板24aとの間の摩擦により引きずられて
流動し、これにより、めっき面内のめっき厚さの均一性
が向上するとともに、コンタクトホール56および溝5
8内へのめっき液の流入が促進する。この時、シャワヘ
ッド24は、磁気軸受26を介して非接触で支持されて
いるため、摩耗によるパーティクルの発生が無い。
【0024】この時に、必要に応じて加振装置46を動
作させ、めっき容器10を、1mm以下程度の振幅で1
秒或いは2秒に1回程度の割合で横方向に振動させる。
これにより、コンタクトホール56および溝58の入口
におけるめっき液の流出入をめっき液の慣性力によって
促進し、コンタクトホール56および溝58の内部のめ
っき付着効率を向上させることができる。
【0025】以上のめっき工程により、図2(b)に示
すように半導体基板Wのコンタクトホール56および溝
58に銅をボイドの無い状態で充填する。その後、化学
的機械的研磨(CMP)を行って絶縁膜54の表面に付
着した銅層を除去し、コンタクトホール56および配線
用の溝58に充填された銅層62の表面と絶縁膜54の
表面とをほぼ同一平面にする。これにより、図2(c)
に示すように銅層62からなる配線が形成される。
【0026】図3は、この発明の他の実施の形態を示す
もので、この実施の形態では、図1に示すシャワヘッド
の替わりにディフューザ70を用いている。このディフ
ューザ70は、筒状部70aの先に、下方に広がるテー
パを有する案内部70bを備えており、この案内部70
bは、上部から供給されためっき液を被めっき面に沿っ
て中央から放射方向に向かうように案内する。
【0027】この実施の形態においても、先の実施の形
態と同様に、ディフューザは磁気軸受により支持されて
回転自在となっており、また、筒状部には羽根が形成さ
れており、めっき液の流れによってディフューザが回転
する。これにより、基板Wの被めっき面上にあるめっき
液を周方向に流動させて、先の実施の形態と同様に、め
っき面内のめっきの均一性を向上するとともに、コンタ
クトホール56および溝58内へのめっき液の流入を促
進する。
【0028】図4及び図5は、先の実施の形態における
シャワヘッド又はディフューザの替わりに羽根車72を
用いたものである。すなわち、この羽根車72は、筒状
部72aと、これから下方に向かって広がる円錐部72
bと、円錐部72bの下端から外方に延びる円板部72
cを備えており、筒状部72aの下部から円板部72c
の外縁部まで螺旋状に翼74が形成されている。
【0029】この翼74は、円錐部72bの近傍におい
て下降するめっき液の流れにより羽根車72に回転力を
付与する。また、平板部72cの翼74は、羽根車72
の回転によって基板Wの表面近傍のめっき液を撹拌する
作用を有する。従って、先の実施の形態と同様に、コン
タクトホール56および溝58内へのめっき液の流入を
促進する。なお、この例では筒状部72aの羽根は設け
られていないが、設けても良いことは言うまでもない。
【0030】図6は、この発明のさらに他の実施の形態
のめっき装置を示すもので、この実施の形態において
は、上面に基板保持部82が形成されている基板保持台
80が磁気軸受により支持されている。すなわち、基板
保持台80には、下端にモータ86が連結された軸体8
4が設けられ、これはめっき容器10の底部を貫通して
下方に延びている。軸体84は、容器の底部と軸体の間
に構成された上部ラジアル磁気軸受88、下部ラジアル
磁気軸受90及びアキシャル磁気軸受92によって回転
自在に支持されている。モータ86と軸体84とは、磁
気継手94を介して非接触で連結されている。
【0031】この実施の形態においても、基板保持台8
0を回転させることにより、基板Wのコンタクトホール
56および溝58内へのめっき液の流入を促進し、窪み
へのめっき金属の良好な充填を行わせる。しかも、基板
保持台80を磁気軸受88,90,92を介して支持す
ることで、めっき液中に摩耗によるパーティクルや潤滑
油が混入することを防止することができる。
【0032】なお、上記においてはめっき液供給部と基
板のいずれか一方を磁気軸受で支持して回転させる実施
の形態を説明したが、これらの双方をともに磁気軸受で
支持して回転させるようにしてもよい。両者を逆方向に
回転させることにより相対速度が大きくなり、基板表面
近傍でにおけるめっき液の流動、撹拌効果が大きくな
る。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
摩耗によるパーティクルや潤滑剤によるめっきの品質を
低下を防止しつつ、微細な配線用の溝等の窪み内部に、
銅やその合金のような金属の健全なめっき層を効率良く
形成することができるので、高密度化する半導体集積回
路の実用化を促進する有用な技術を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態のめっき装置の全体
の概要を示す断面図である。
【図2】本発明のめっき装置によってめっきを行なう工
程の一例を示す断面図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態を示す断面図であ
る。
【図4】本発明の第3の実施の形態をを示す断面図であ
る。
【図5】図4に示す羽根車の底面図である。
【図6】本発明の第4の実施の形態のめっき装置の全体
の概要を示す断面図である。
【符号の説明】
10 めっき容器 14,82 基板保持部 20 被覆部材 24 シャワヘッド(回転部材) 26,88,90,92 磁気軸受 40 羽根 46 加振装置 70 ディフューザ(回転部材) 72 羽根車(回転部材) 80 基板保持台(回転部材)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 めっき液及び被めっき基板を収容するめ
    っき容器と、 該めっき容器の内部において磁気浮上機構により非接触
    で支持され、回転機構によって回転することにより前記
    基板の表面近傍のめっき液を流動させる回転部材を有す
    ることを特徴とするめっき装置。
  2. 【請求項2】 前記回転部材は基板に向けてめっき液を
    導くめっき液供給部材であることを特徴とする請求項1
    に記載のめっき装置。
  3. 【請求項3】 前記めっき液供給部材は筒状部とその下
    方に接続されてめっき液を水平方向に導く案内部を有
    し、前記筒状部において前記磁気浮上機構により支持さ
    れていることを特徴とする請求項2に記載のめっき装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載のめ
    っき装置を用いてめっきを行った後、基板に付着した金
    属の不要部分を化学的・機械的研磨装置により研磨して
    除去することを特徴とする基板の加工方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002083995A1 (en) * 2001-04-12 2002-10-24 Arthur, Keigler Method of and apparatus for controlling fluid flow
JP2005539369A (ja) * 2002-01-28 2005-12-22 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 無電解堆積装置
CN1326216C (zh) * 2003-12-30 2007-07-11 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种避免漩涡效应缺陷的方法
JP2014181379A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Tdk Corp 電子部品モジュールの製造方法、無電解メッキ方法及び無電解メッキ装置
CN106350864A (zh) * 2015-07-17 2017-01-25 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 一种碳化硅外延生长的喷淋装置及碳化硅生长工艺方法
CN108695179A (zh) * 2018-05-29 2018-10-23 李涵 一种芯片的导电线路制作工艺

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002083995A1 (en) * 2001-04-12 2002-10-24 Arthur, Keigler Method of and apparatus for controlling fluid flow
JP2005539369A (ja) * 2002-01-28 2005-12-22 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 無電解堆積装置
CN1326216C (zh) * 2003-12-30 2007-07-11 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种避免漩涡效应缺陷的方法
JP2014181379A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Tdk Corp 電子部品モジュールの製造方法、無電解メッキ方法及び無電解メッキ装置
CN106350864A (zh) * 2015-07-17 2017-01-25 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 一种碳化硅外延生长的喷淋装置及碳化硅生长工艺方法
CN108695179A (zh) * 2018-05-29 2018-10-23 李涵 一种芯片的导电线路制作工艺

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