JPH1124286A - Pattern forming method for photosensitive resin - Google Patents

Pattern forming method for photosensitive resin

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JPH1124286A
JPH1124286A JP17700697A JP17700697A JPH1124286A JP H1124286 A JPH1124286 A JP H1124286A JP 17700697 A JP17700697 A JP 17700697A JP 17700697 A JP17700697 A JP 17700697A JP H1124286 A JPH1124286 A JP H1124286A
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JP
Japan
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photosensitive resin
substrate
pattern
layer
positive photosensitive
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JP17700697A
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Inventor
Yoshiyuki Nakagawa
喜之 中川
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Citizen Watch Co Ltd
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Publication of JPH1124286A publication Critical patent/JPH1124286A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily obtain a reversed tapered pattern shape by exposing the whole surface of a first positive photosensitive resin having high heat resistance applied on a substrate, then applying a second photosensitive resin, and exposing the resin through a photomask. SOLUTION: A positive photosensitive resin (novolac resin) is dropped and uniformly applied by spin coating on a silicon substrate to form a layer of a first photosensitive resin 12. Then the whole surface of the positive photosensitive resin is exposed by using a specified stepper. Then a positive photosensitive resin 13 as a second layer is uniformly applied on the first photosensitive resin. As applied, the whole substrate is heat treated on a hot plate under specified conditions. Then the substrate is exposed through a specified photomask 14. The surface of the second photosensitive resin 13 is changed into hardly soluble and is naturally dried under specified conditions so as to prevent the edge part of the surface from dulling during development. Then, finally, the layer is developed with a developer comprising a specified alkali soln.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、感光性樹脂のパタ
ーン形成に関し、さらに詳細には、半導体集積回路、熱
電堆、圧電体素子等の形成方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a photosensitive resin pattern, and more particularly, to a method for forming a semiconductor integrated circuit, a thermopile, a piezoelectric element, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路の高集積化あるいは、赤
外線センサなどとしての熱電堆の小型化および圧力セン
サ、加速度センサなどとしての圧電体素子の小型化を達
成するためには、パターン寸法、特に感光性樹脂の微細
化が必要であるが、感光性樹脂を微細化すると、微細パ
ターン形成能(解像力)と良好な断面形状のプロファイ
ルを得ることが困難となる。
2. Description of the Related Art In order to achieve high integration of a semiconductor integrated circuit or downsizing of a thermoelectric stack as an infrared sensor and downsizing of a piezoelectric element as a pressure sensor, an acceleration sensor and the like, pattern dimensions, particularly, It is necessary to make the photosensitive resin finer, but when the photosensitive resin is made finer, it becomes difficult to obtain a fine pattern forming ability (resolution) and a profile having a good cross-sectional shape.

【0003】現在、微細パターンの形成は、縮小投影露
光装置が主に用いられている。該縮小投影露光装置で微
細パターンを形成するためには、レーリーの式で説明さ
れる3つの項目の改善が必要となる。即ち、解像度は、
プロセス定数と露光波長とを乗じた値を投影レンズ開口
数で除した値である。
[0003] At present, reduction projection exposure apparatuses are mainly used for forming fine patterns. In order to form a fine pattern with the reduction projection exposure apparatus, it is necessary to improve three items described by the Rayleigh equation. That is, the resolution is
This is a value obtained by dividing the value obtained by multiplying the process constant by the exposure wavelength by the numerical aperture of the projection lens.

【0004】従って、解像度を向上させるためのは、即
ち、感光性樹脂の微細パターンを形成するためには、プ
ロセス定数を小さくするか、露光波長を短くするか、投
影レンズ開口数を大きくするかのいずれかを実施すれば
良い。露光波長は、波長436nmのg線から波長36
5nmのi線、波長248nmのKrFエキシマレーザ
へと短波長化され、実用化されている。投影レンズ開口
数も大きくなっている。
Therefore, in order to improve the resolution, that is, to form a fine pattern of photosensitive resin, it is necessary to reduce the process constant, shorten the exposure wavelength, or increase the numerical aperture of the projection lens. Any one of the above may be performed. The exposure wavelength ranges from a 436 nm wavelength g line to a 36 wavelength wavelength line.
The wavelength has been reduced to a 5 nm i-line and a KrF excimer laser having a wavelength of 248 nm, and has been put to practical use. The numerical aperture of the projection lens is also increasing.

【0005】これに対し、プロセス定数を小さくするた
めの方法として例えば、特開63ー133626号公報
に記載のパターン形成方法は、感熱性樹脂を塗布後、熱
処理を加えながら遠紫外線を照射し、その後、露光、現
像処理を行っている。
On the other hand, as a method for reducing the process constant, for example, a pattern forming method described in JP-A-63-133626 is applied. After that, exposure and development are performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来方法により、ポジ
型感光性樹脂で、いかに急峻な断面プロファイルを持つ
パターンが形成されたとしても、該パターンの該ポジ型
感光性樹脂上に金属膜等を成膜し、リフトオフ法により
該ポジ型感光性樹脂を剥離液によって剥離させ、該金属
膜等のパターニングを行うとき、基板上に成膜された該
金属膜等は必ず該ポジ型感光性樹脂の壁に接しており、
容易には該ポジ型感光性樹脂を剥離液が溶解できないこ
とが多い。
Even if a pattern having a steep cross-sectional profile is formed of a positive photosensitive resin by a conventional method, a metal film or the like is formed on the positive photosensitive resin of the pattern. When the film is formed, the positive photosensitive resin is peeled off by a peeling liquid by a lift-off method, and when the metal film or the like is patterned, the metal film or the like formed on the substrate is necessarily formed of the positive photosensitive resin. In contact with the wall,
In many cases, the stripping solution cannot easily dissolve the positive photosensitive resin.

【0007】まして、該ポジ型感光性樹脂の断面プロフ
ァイルが順テーパになっている場合は、成膜された該基
板上の該金属膜等は該ポジ型感光性樹脂の順テーパ上へ
も連続して形成されるため、該基板上から該ポジ型感光
性樹脂の順テーパ上、該ポジ型感光性樹脂の表面へと地
続きでつながってしまう。従って、該ポジ型感光性樹脂
は該剥離液に充分に浸食されず、剥離できないか、もし
くは、剥離できたとしても、該基板上に成膜された残す
べき該金属膜等までもつながって剥離してしまう結果と
なる。
Further, when the cross-sectional profile of the positive photosensitive resin is a forward taper, the metal film or the like formed on the substrate is continuously formed on the forward taper of the positive photosensitive resin. Therefore, the substrate is connected to the surface of the positive photosensitive resin on the forward taper of the positive photosensitive resin from the substrate. Therefore, the positive photosensitive resin is not sufficiently eroded by the stripping solution and cannot be stripped, or even if it can be stripped, it is connected to the metal film and the like remaining on the substrate and stripped. Result.

【0008】従って、成膜物をリフトオフ法によって除
去する場合は、逆テーパが容易に形成できるネガ型感光
性樹脂が使用されることが多いのが実状であるが、通常
の該ネガ型感光性樹脂の主成分はゴム系で、耐熱温度が
ノボラック系のポジ型感光性樹脂よりも低い。即ち、金
属膜等と基板との密着を向上させるために基板を加熱し
ておきたいときは不利になる。
Therefore, when a film is removed by a lift-off method, a negative photosensitive resin capable of easily forming a reverse taper is often used. The main component of the resin is a rubber-based resin, and its heat-resistant temperature is lower than that of a novolak-based positive photosensitive resin. That is, it is disadvantageous when the substrate is to be heated in order to improve the adhesion between the metal film or the like and the substrate.

【0009】本発明の目的は、上記の課題を解決するこ
とである。即ち、より高耐熱性のポジ型感光性樹脂を用
いて、基板上に成膜された金属膜等が該ポジ型感光性樹
脂の壁に接触しないように、換言すれば、容易にリフト
オフが行えるように逆テーパ形状のパターン形成を提供
することである。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems. That is, using a positive heat-sensitive resin having higher heat resistance, a metal film or the like formed on a substrate is not in contact with a wall of the positive-type photosensitive resin, in other words, lift-off can be easily performed. The purpose of the present invention is to provide a reverse tapered pattern formation.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、下記記載の方法を採用した。
To achieve the above object, the present invention employs the following method.

【0011】感光性樹脂を基板上に塗布する工程と、感
光性樹脂が塗布された基板の全面を露光する工程と、さ
らに、該感光性樹脂が塗布された基板上に、再度、感光
性樹脂を塗布する工程と、2重に感光性樹脂が塗布され
た基板を加熱処理する工程と、所定のフォトマスクを用
いて露光する工程と、アルカリ性水溶液により現像処理
を行う工程とを有することを特徴とするパターン形成方
法である。
A step of applying a photosensitive resin on the substrate, a step of exposing the entire surface of the substrate to which the photosensitive resin has been applied, and a step of again applying the photosensitive resin on the substrate to which the photosensitive resin has been applied. Coating, heating the substrate on which the photosensitive resin is coated twice, exposing using a predetermined photomask, and developing with an alkaline aqueous solution. This is a pattern forming method.

【0012】本発明によれば、ポジ型感光性樹脂では逆
テーパのパターン形成が可能になり、高温で金属等の成
膜ができて、容易にリフトオフ法により該金属等の膜を
剥離、パターン形成できる。
According to the present invention, it is possible to form a reverse-tapered pattern with a positive photosensitive resin, form a film of a metal or the like at a high temperature, and easily peel off the film of the metal or the like by a lift-off method. Can be formed.

【0013】次は、感光性樹脂を基板上に塗布する工程
と、感光性樹脂が塗布された基板を第1の加熱処理する
工程と、該感光性樹脂が塗布された基板の全面を露光す
る工程と、さらに、該感光性樹脂が塗布された基板上
に、再度、感光性樹脂を塗布する工程と、2重に感光性
樹脂が塗布された基板を第2の加熱処理する工程と、所
定のフォトマスクを用いて露光する工程と、アルカリ性
水溶液により現像処理を行う工程とを有することを特徴
とするパターン形成方法である。
Next, a step of applying a photosensitive resin on the substrate, a step of performing a first heat treatment on the substrate on which the photosensitive resin has been applied, and exposing the entire surface of the substrate on which the photosensitive resin has been applied A step of again applying a photosensitive resin on the substrate on which the photosensitive resin has been applied, a step of performing a second heat treatment on the substrate on which the photosensitive resin has been applied twice, And a developing process using an alkaline aqueous solution.

【0014】本発明によれば、最初に塗布された感光性
樹脂に第1の加熱処理を施すと、瞬時に該感光性樹脂に
含まれる有機溶剤が蒸発し、硬化するため、再度、第2
層となる該感光性樹脂を塗布した際に、第1層と第2層
の該感光性樹脂の総膜厚が厚くなりやすい。すなわち、
厚膜の感光性樹脂層を得ることができ、この膜厚で逆テ
ーパのパターン形成が可能になる。
According to the present invention, when the first heat treatment is applied to the first applied photosensitive resin, the organic solvent contained in the photosensitive resin is instantaneously evaporated and hardened.
When the photosensitive resin to be a layer is applied, the total thickness of the photosensitive resin in the first layer and the second layer tends to be large. That is,
A thick photosensitive resin layer can be obtained, and a reverse tapered pattern can be formed with this thickness.

【0015】また、感光性樹脂を基板上に塗布する工程
と、感光性樹脂が塗布された基板を第1の加熱処理する
工程と、該感光性樹脂が塗布された基板の全面を露光す
る工程と、さらに、該感光性樹脂が塗布された基板上
に、再度、感光性樹脂を塗布する工程と、2重に感光性
樹脂が塗布された基板を第2の加熱処理する工程と、所
定のフォトマスクを用いて露光する工程と、該2重に感
光性樹脂が塗布された基板を第3の加熱処理をする工程
と、アルカリ性水溶液により現像処理を行う工程とを有
することを特徴とするパターン形成方法である。
A step of applying a photosensitive resin on the substrate; a step of subjecting the substrate to which the photosensitive resin has been applied to a first heat treatment; and a step of exposing the entire surface of the substrate to which the photosensitive resin has been applied. And further, a step of applying the photosensitive resin again on the substrate on which the photosensitive resin has been applied, a step of performing a second heat treatment on the substrate on which the photosensitive resin has been applied twice, and A pattern comprising a step of exposing using a photomask, a step of subjecting the substrate coated with the double photosensitive resin to a third heat treatment, and a step of performing development with an alkaline aqueous solution. It is a forming method.

【0016】本発明によれば、露光後に第3の加熱処理
を施すと、露光時にフォトマスクの陰で露光されなかっ
た部分がさらに硬化し、露光されて現像液に溶解しやす
くなった部分との境界でより硬度的に明確な差が生じ
る。したがって、現像時に、より急峻な逆テーパのパタ
ーン形成が可能になる。
According to the present invention, when the third heat treatment is performed after the exposure, the portions which were not exposed due to the shadow of the photomask at the time of the exposure are further hardened, and the portions which are exposed and are easily dissolved in the developing solution. There is a clear difference in hardness at the boundary of. Therefore, a pattern having a steeper reverse taper can be formed during development.

【0017】最後に、前記のいずれかの方法で、基板上
に第1の金属等のパターンを形成する工程と、該基板上
の逆テーパが形成された該感光性樹脂を剥離液によって
剥離する工程と、前記のいずれかの方法で、第1の金属
パターンとある特定部が接触するように第2の金属等の
パターンを形成する工程と、同様に、該基板上の逆テー
パが形成された該感光性樹脂を剥離液によって剥離する
工程とを有する感光性樹脂のパターン形成方法である。
特に、該第1の金属と該第2の金属のそれぞれの温接点
と冷接点で生じる起電力を増幅させるように熱電堆を形
成する場合に適用可能である。
Finally, a step of forming a pattern of a first metal or the like on the substrate by any of the methods described above, and stripping the photosensitive resin having the reverse taper formed on the substrate with a stripping liquid. A reverse taper on the substrate is formed in the same manner as in the step and the step of forming a pattern of a second metal or the like such that the first metal pattern and a certain specific portion are in contact with each other by any of the methods described above. Stripping the photosensitive resin with a stripping liquid.
In particular, the present invention is applicable to the case where a thermoelectric bank is formed so as to amplify the electromotive force generated at the hot junction and the cold junction of the first metal and the second metal.

【0018】本発明によれば、完全な逆テーパでパター
ン形成された感光性樹脂上への金属等の成膜であるた
め、該基板上に成膜された該第1および該第2の金属等
のパターンのエッジ部は該感光性樹脂上に堆積した金属
と完全に分離されるので、容易に該感光性樹脂を剥離液
で剥離させることができる。したがって、該感光性樹脂
の剥離の際に該基板上に成膜された金属等を引っ張るこ
とがなく、該第1、該第2の金属等のパターンは該基板
との密着力を阻害されることなく、該基板上に残留する
ことができる。なた、残留した該基板上の該金属等のパ
ターンのエッジ部には全くバリもなく、非常にきれいな
エッジ部になるため、隣接する金属等のパターンと接触
(ショート)することがない。
According to the present invention, since the film of metal or the like is formed on the photosensitive resin patterned with a complete reverse taper, the first and second metal films formed on the substrate are formed. Since the edge portion of the pattern such as is completely separated from the metal deposited on the photosensitive resin, the photosensitive resin can be easily peeled off with a peeling liquid. Therefore, the metal or the like formed on the substrate is not pulled when the photosensitive resin is separated, and the pattern of the first and second metals and the like is hindered from the adhesion to the substrate. Without being left on the substrate. There is no burr at the edge of the pattern of the metal or the like on the remaining substrate, and the edge of the pattern becomes a very clean edge.
No (short).

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】感光性樹脂を基板上に塗布する工
程と、感光性樹脂が塗布された基板の全面を露光する工
程と、さらに、該感光性樹脂が塗布された基板上に、再
度、感光性樹脂を塗布する工程と、2重に感光性樹脂が
塗布された基板を加熱処理する工程と、所定のフォトマ
スクを用いて露光する工程と、アルカリ性水溶液により
現像処理を行う工程とを有することを特徴とする感光性
樹脂のパターン形成方法。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A step of applying a photosensitive resin on a substrate, a step of exposing the entire surface of the substrate to which the photosensitive resin has been applied, and a step of re-applying the photosensitive resin on the substrate. A step of applying a photosensitive resin, a step of heating the substrate on which the photosensitive resin is applied twice, a step of exposing with a predetermined photomask, and a step of developing with an alkaline aqueous solution. A method for forming a pattern of a photosensitive resin, comprising:

【0020】[0020]

【実施例】【Example】

(実施例1)以下、図1を用いて本発明の第1の実施例
を説明する。図1(a)に示すようにシリコン基板11上
にポジ型感光性樹脂、例えばヘキスト社製AZ6130
(ノボラック系)を滴下し、回転塗布法により均一に塗
布する。これが第1層感光性樹脂12になる。
(Embodiment 1) A first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. As shown in FIG. 1A, a positive photosensitive resin, for example, AZ6130 manufactured by Hoechst Co., Ltd. is formed on a silicon substrate 11.
(Novolak type) is dropped and uniformly applied by a spin coating method. This becomes the first layer photosensitive resin 12.

【0021】次に、図1(b)に示すように、感光波長
がg線、投影レンズ口が0.54の縮小投影露光装置で
ポジ型感光性樹脂の全面を露光する。露光条件は、露光
強度10mW/cm2、露光時間10秒である。この全面
露光で、該第1層のポジ型感光性樹脂2はアルカリ性水
溶液の現像液に非常に溶解しやすい状態なっている。
Next, as shown in FIG. 1B, the entire surface of the positive photosensitive resin is exposed by a reduction projection exposure apparatus having a photosensitive wavelength of g-line and a projection lens opening of 0.54. The exposure conditions are an exposure intensity of 10 mW / cm 2 and an exposure time of 10 seconds. By this overall exposure, the positive photosensitive resin 2 of the first layer is in a state of being very easily dissolved in a developing solution of an alkaline aqueous solution.

【0022】図1(c)において、第2層になるポジ型
感光性樹脂13として、AZ6130を同様の条件にて
該第1層感光性樹脂2のAZ6130上に均一に塗布す
る。塗布した状態で該基板1全体を100℃、1分30
秒の条件にてホットプレート上で加熱処理をする。
In FIG. 1C, AZ6130 as the positive photosensitive resin 13 to be the second layer is uniformly applied on the AZ6130 of the first layer photosensitive resin 2 under the same conditions. In the state of application, the entire substrate 1 is heated at 100 ° C. for 1 minute 30
Heat treatment is performed on a hot plate under the condition of seconds.

【0023】その後、図1(d)のように、所定のフォ
トマスク14を用いて、マスク露光を行う。露光条件
は、露光強度10mW/cm2、露光時間6秒とする。
Thereafter, as shown in FIG. 1D, mask exposure is performed using a predetermined photomask 14. The exposure conditions are an exposure intensity of 10 mW / cm 2 and an exposure time of 6 seconds.

【0024】次に、該第2層感光性樹脂13のAZ61
30の表面を難溶化させ、現像時に表面のエッジ部を鈍
化させない目的で、常温で、クロロベンゼンに10分間
浸漬し、5分間自然乾燥させる。
Next, AZ61 of the second layer photosensitive resin 13
For the purpose of rendering the surface of 30 hardly soluble and not dulling the edge of the surface during development, it is immersed in chlorobenzene for 10 minutes at room temperature and air-dried for 5 minutes.

【0025】これらの工程を経た後、テトラメチルアン
モニウムハイドロオキサイトを2.38%含むアルカリ
性水溶液の現像液、例えば、東京応化製のNMD−3で
1分30秒間現像する。このときの該現像液温度は20
℃〜30℃とする。現像後の逆テーパ形状を図1(e)
に9示す。該第2層AZ6130表面の開口端に対し、
底部に当たる該第1層感光性樹脂2のAZ6130と該
基板11の接着部は広がった状態で現像され、リフトオ
フには最適の断面形状となる。
After these steps, development is carried out for 1 minute and 30 seconds with a developing solution of an alkaline aqueous solution containing 2.38% of tetramethylammonium hydroxide, for example, NMD-3 manufactured by Tokyo Ohka. The developer temperature at this time is 20
C. to 30C. Fig. 1 (e) shows the reverse tapered shape after development.
9 is shown. With respect to the open end of the surface of the second layer AZ6130,
The adhesive portion between the AZ6130 of the first layer photosensitive resin 2 and the substrate 11 which hits the bottom is developed in a spread state, and has an optimum cross-sectional shape for lift-off.

【0026】最後に、金属等を成膜し、リフトオフする
ときの効果を示す。図1(f)は、該逆テーパ形状のA
Z6130上にアルミニウム15をスパッタリングで成
膜した状態を示している。尚、成膜時は、該基板全体を
100℃に加熱している。該感光性樹脂AZ6130を
80℃に加熱したヘキストの専用剥離液リムーバ200
へ20分間浸漬すると、該第1層及び該第2層合わせた
感光性樹脂AZ6130は完全に剥離し、きれいにパタ
ーニングされたアルミニウム15だけが該基板1上に残
る。これを図1(g)に示す。
Finally, the effect of forming a film of metal or the like and lifting off the film will be described. FIG. 1 (f) shows the reverse tapered A
This shows a state in which aluminum 15 is formed on Z6130 by sputtering. During film formation, the entire substrate is heated to 100 ° C. Hoechst's exclusive stripper remover 200 in which the photosensitive resin AZ6130 is heated to 80 ° C.
After immersion for 20 minutes, the photosensitive resin AZ6130 combined with the first layer and the second layer is completely peeled off, and only the well-patterned aluminum 15 remains on the substrate 1. This is shown in FIG.

【0027】(実施例2)次に、図2を用いて本発明の
第2の実施例を説明する。
(Embodiment 2) Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0028】図2(h)に示すようにシリコン基板21上
にポジ型感光性樹脂、例えばヘキスト社製AZ6130
(ノボラック系)を滴下し、回転塗布法により均一に塗
布する。これが第1層感光性樹脂22になる。さらに、
第1の加熱処理、例えば100℃、1分30秒の条件で
ホットプレート上にてプリベークを行う。この加熱処理
により、該第1層の感光性樹脂中に含まれる有機溶剤は
完全に蒸発してしまうので、該第1層の感光性樹脂の表
面は硬化し、第2層に当たる感光性樹脂を塗布したとき
膜厚は厚くなりやすい。すなわち、厚膜化に適した方法
といえる。
As shown in FIG. 2 (h), a positive photosensitive resin such as AZ6130 manufactured by Hoechst is formed on a silicon substrate 21.
(Novolak type) is dropped and uniformly applied by a spin coating method. This becomes the first layer photosensitive resin 22. further,
First baking is performed on a hot plate under a condition of a first heat treatment, for example, at 100 ° C. for 1 minute and 30 seconds. By this heat treatment, the organic solvent contained in the photosensitive resin of the first layer is completely evaporated, so that the surface of the photosensitive resin of the first layer is cured, and the photosensitive resin corresponding to the second layer is removed. When applied, the film thickness tends to be large. That is, it can be said that this method is suitable for thickening the film.

【0029】次に、図2(i)に示すように、感光波長
がg線、投影レンズ口が0.54の縮小投影露光装置で
ポジ型感光性樹脂の全面を露光する。露光条件は、露光
強度10mW/cm2、露光時間10秒である。この全面
露光で、該第1層のポジ型感光性樹脂22はアルカリ性
水溶液の現像液に非常に溶解しやすい状態なっている。
Next, as shown in FIG. 2 (i), the entire surface of the positive type photosensitive resin is exposed by a reduction projection exposure apparatus having a photosensitive wavelength of g line and a projection lens opening of 0.54. The exposure conditions are an exposure intensity of 10 mW / cm 2 and an exposure time of 10 seconds. By this overall exposure, the positive photosensitive resin 22 of the first layer is in a state of being very easily dissolved in a developing solution of an alkaline aqueous solution.

【0030】図2(j)において、第2層になるポジ型
感光性樹脂23として、AZ6130を同様の条件にて
該第1層感光性樹脂22のAZ6130上に均一に塗布
する。塗布した状態で該基板1全体を第2の加熱処理と
して、同条件の100℃、1分30秒にてプリベークを
再度ホットプレート上で行う。
In FIG. 2J, AZ6130 as the positive photosensitive resin 23 to be the second layer is uniformly applied on the AZ6130 of the first layer photosensitive resin 22 under the same conditions. In the coated state, the entire substrate 1 is subjected to a second heat treatment, and prebaking is performed again on a hot plate at 100 ° C. for 1 minute and 30 seconds under the same conditions.

【0031】その後、図2(k)のように、所定のフォ
トマスク24を用いて、マスク露光を行う。露光条件
は、露光強度10mW/cm2、露光時間7秒とする。
Thereafter, as shown in FIG. 2 (k), mask exposure is performed using a predetermined photomask 24. The exposure conditions are an exposure intensity of 10 mW / cm 2 and an exposure time of 7 seconds.

【0032】次に、該第2層感光性樹脂3のAZ613
0の表面を難溶化させ、現像時に表面のエッジ部を鈍化
させない目的で、常温で、クロロベンゼンに10分間浸
漬し、5分間自然乾燥させる。
Next, AZ613 of the second layer photosensitive resin 3
For the purpose of making the surface of No. 0 hardly soluble and not dulling the edge of the surface during development, it is immersed in chlorobenzene for 10 minutes at room temperature and air-dried for 5 minutes.

【0033】これらの工程を経た後、テトラメチルアン
モニウムハイドロオキサイトを2.38%含むアルカリ
性水溶液の現像液、例えば、東京応化製のNMD−3で
1分50秒間現像する。このときの該現像液温度は20
℃〜30℃とする。現像後の逆テーパ形状を図2(l)
に9示す。該第2層AZ6130表面の開口端に対し、
底部に当たる該第1層感光性樹脂2のAZ6130と該
基板21の接着部は広がった状態で現像され、リフトオ
フには最適の断面形状となる。
After these steps, development is performed for 1 minute and 50 seconds with a developing solution of an alkaline aqueous solution containing 2.38% of tetramethylammonium hydroxide, for example, NMD-3 manufactured by Tokyo Ohka. The developer temperature at this time is 20
C. to 30C. Figure 2 (l) shows the reverse tapered shape after development.
9 is shown. With respect to the open end of the surface of the second layer AZ6130,
The bonding portion between the AZ6130 of the first layer photosensitive resin 2 and the substrate 21, which is at the bottom, is developed in a spread state, and has an optimum cross-sectional shape for lift-off.

【0034】最後に、金属等を成膜し、リフトオフする
ときの効果を示す。図2(m)は、該逆テーパ形状のA
Z6130上にアルミニウム25をスパッタリングで成
膜した状態を示している。尚、成膜時は、該基板全体を
100℃に加熱している。該感光性樹脂AZ6130は
2層で、厚めに塗られているが、80℃に加熱したヘキ
ストの専用剥離液リムーバ200へ20分間浸漬する
と、該第1層及び該第2層合わせた感光性樹脂AZ61
30は完全に剥離し、きれいにパターニングされたアル
ミニウムだけが該基板21上に残る。本方法は該感光性
樹脂が厚めにパターン形成できるので、アルミニウムパ
ターンも厚めに成膜することができる。これを図2
(n)に示す。 (実施例3)次に、図3を用いて本発明の第3の実施例
を説明する。
Finally, the effect of forming a film of metal or the like and performing lift-off will be described. FIG. 2 (m) shows the reverse tapered A
A state in which aluminum 25 is formed on Z6130 by sputtering is shown. During film formation, the entire substrate is heated to 100 ° C. The photosensitive resin AZ6130 is thickly coated in two layers, but when it is immersed in a Hoechst special stripper remover 200 heated to 80 ° C. for 20 minutes, the photosensitive resin of the first layer and the second layer is combined. AZ61
30 is completely stripped, leaving only the cleanly patterned aluminum on the substrate 21. In this method, since the photosensitive resin can be formed in a thicker pattern, an aluminum pattern can be formed in a thicker film. Figure 2
(N). (Embodiment 3) Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0035】図3(o)に示すようにシリコン基板31上
にポジ型感光性樹脂、例えばヘキスト社製AZ6130
(ノボラック系)を滴下し、回転塗布法により均一に塗
布する。これが第1層感光性樹脂32になる。さらに、
第1の加熱処理、例えば100℃、1分30秒の条件で
ホットプレート上にてプリベークを行う。
As shown in FIG. 3 (o), a positive photosensitive resin, for example, AZ6130 manufactured by Hoechst, is formed on a silicon substrate 31.
(Novolak type) is dropped and uniformly applied by a spin coating method. This becomes the first layer photosensitive resin 32. further,
First baking is performed on a hot plate under a condition of a first heat treatment, for example, at 100 ° C. for 1 minute and 30 seconds.

【0036】次に、図3(p)に示すように、感光波長
がg線、投影レンズ口が0.54の縮小投影露光装置で
ポジ型感光性樹脂の全面を露光する。露光条件は、露光
強度10mW/cm2、露光時間10秒である。この全面
露光で、該第1層のポジ型感光性樹脂32はアルカリ性
水溶液の現像液に非常に溶解しやすい状態なっている。
Next, as shown in FIG. 3 (p), the entire surface of the positive photosensitive resin is exposed by a reduction projection exposure apparatus having a g-line photosensitive wavelength and a projection lens opening of 0.54. The exposure conditions are an exposure intensity of 10 mW / cm 2 and an exposure time of 10 seconds. By this overall exposure, the positive photosensitive resin 32 of the first layer is in a state of being very easily dissolved in a developing solution of an alkaline aqueous solution.

【0037】図3(q)において、第2層になるポジ型
感光性樹脂33として、AZ6130を同様の条件にて
該第1層感光性樹脂32のAZ6130上に均一に塗布
する。塗布した状態で該基板31全体を第2の加熱処理
として、同条件の100℃、1分30秒にてプリベーク
を再度ホットプレート上で行う。
In FIG. 3 (q), AZ6130 as the positive photosensitive resin 33 to be the second layer is uniformly applied on the AZ6130 of the first layer photosensitive resin 32 under the same conditions. In the coated state, the entire substrate 31 is subjected to a pre-bake again on a hot plate at 100 ° C. for 1 minute and 30 seconds as a second heat treatment.

【0038】その後、図3(r)のように、所定のフォ
トマスク34を用いて、マスク露光を行う。露光条件
は、露光強度10mW/cm2、露光時間7秒とする。
Thereafter, as shown in FIG. 3 (r), mask exposure is performed using a predetermined photomask 34. The exposure conditions are an exposure intensity of 10 mW / cm 2 and an exposure time of 7 seconds.

【0039】次に、該第2層感光性樹脂33のAZ61
30の表面を難溶化させ、現像時に表面のエッジ部を鈍
化させない目的で、常温で、クロロベンゼンに10分間
浸漬し、5分間自然乾燥させる。そして、第3の加熱処
理として、120℃、1分10秒の露光後のベーク(P
EB)をホットプレート上で行う。この第3の加熱処理
により、露光時にフォトマスクの陰で露光されなかった
部分がさらに硬化し、露光されて現像液に溶解しやすく
なった部分との境界でより硬度的に明確な差が生じる。
したがって、現像時に、より急峻な逆テーパのパターン
形成が可能になる。
Next, AZ61 of the second layer photosensitive resin 33
For the purpose of rendering the surface of 30 hardly soluble and not dulling the edge of the surface during development, it is immersed in chlorobenzene for 10 minutes at room temperature and air-dried for 5 minutes. Then, as a third heat treatment, a bake after exposure at 120 ° C. for 1 minute and 10 seconds (P
EB) is performed on a hot plate. Due to the third heat treatment, a portion which is not exposed to light behind the photomask at the time of exposure is further hardened, and a clearer difference in hardness is generated at a boundary between the exposed portion and a portion which is easily dissolved in a developing solution. .
Therefore, a pattern having a steeper reverse taper can be formed during development.

【0040】これらの工程を経た後、テトラメチルアン
モニウムハイドロオキサイトを2.38%含むアルカリ
性水溶液の現像液、例えば、東京応化製のNMD−3で
1分50秒間現像する。このときの該現像液温度は20
℃〜30℃とする。現像後の逆テーパ形状を図3(s)
に9示す。該第2層AZ6130表面の開口端に対し、
底部に当たる該第1層感光性樹脂32のAZ6130と
該基板1の接着部は広がった状態で現像され、リフトオ
フには最適の断面形状となる。しかも、該第2層AZ6
130表面のパターン開口端は急峻な鋭角を保ち、さら
に良好な逆テーパ形状となる。
After these steps, development is performed for 1 minute and 50 seconds with a developing solution of an alkaline aqueous solution containing 2.38% of tetramethylammonium hydroxide, for example, NMD-3 manufactured by Tokyo Ohka. The developer temperature at this time is 20
C. to 30C. Fig. 3 (s) shows the reverse tapered shape after development.
9 is shown. With respect to the open end of the surface of the second layer AZ6130,
The adhesive portion between the AZ6130 of the first layer photosensitive resin 32 and the substrate 1, which is at the bottom, is developed in a spread state, and has an optimum cross-sectional shape for lift-off. Moreover, the second layer AZ6
The pattern opening end on the surface 130 keeps a steep acute angle, and has a more favorable reverse tapered shape.

【0041】最後に、金属等を成膜し、リフトオフする
ときの効果を示す。図3(t)は、該逆テーパ形状のA
Z6130上にアルミニウム35をスパッタリングで成
膜した状態を示している。尚、成膜時は、該基板全体を
100℃に加熱している。該感光性樹脂AZ6130を
80℃に加熱したヘキストの専用剥離液リムーバ200
へ20分間浸漬すると、該第1層及び該第2層合わせた
感光性樹脂AZ6130は完全に剥離し、きれいにパタ
ーニングされたアルミニウムだけが該基板31上に残
る。これを図3(u)に示す。 (実施例4)次に、上記本発明のパターン形成方法を用
いた熱電堆形成方法を図4によって説明する。
Finally, the effect of forming a film of metal or the like and lifting off the film will be described. FIG. 3 (t) shows the reverse tapered A
This shows a state where aluminum 35 is formed on Z6130 by sputtering. During film formation, the entire substrate is heated to 100 ° C. Hoechst's exclusive stripper remover 200 in which the photosensitive resin AZ6130 is heated to 80 ° C.
After immersion for 20 minutes, the photosensitive resin AZ6130 including the first layer and the second layer is completely peeled off, and only the patterned aluminum remains on the substrate 31. This is shown in FIG. (Embodiment 4) Next, a method for forming a thermoelectric deposit using the pattern forming method of the present invention will be described with reference to FIG.

【0042】図4(v)は、発明の実施例3で説明した
図3(s)に当たり、現像後の逆テーパ構造を持った、
金属等成膜前のポジ型感光性樹脂の断面図である。該ポ
ジ型感光性樹脂の形成条件は全て、発明の実施の形態3
で紹介した条件と同等である。熱電堆は、ゼーベック係
数と比抵抗値の関係から、比較的起電力が高く出るアン
チモンとビスマスの構成を選択した。
FIG. 4 (v) corresponds to FIG. 3 (s) described in the third embodiment of the present invention, and has a reverse tapered structure after development.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a positive photosensitive resin before film formation of metal or the like. The conditions for forming the positive photosensitive resin are all the same as those in Embodiment 3 of the present invention.
This is equivalent to the condition introduced in. For the thermoelectric bank, the composition of antimony and bismuth, which have relatively high electromotive force, was selected from the relationship between the Seebeck coefficient and the specific resistance.

【0043】さて、該逆テーパ形状の該ポジ型感光性樹
脂上にアンチモンを抵抗加熱蒸着によって成膜した該基
板41の断面図を図4(w)に示す。アンチモンを蒸着
する際には、該基板41及び該ポジ型感光性樹脂42
は、130℃に加熱されている。アンチモン43は該ポ
ジ型感光性樹脂42上及び該ポジ型感光性樹脂42のパ
ターン形成された隙間から入り込んで該基板41上に付
着、成膜される。
FIG. 4 (w) is a cross-sectional view of the substrate 41 in which antimony is formed on the reverse-tapered positive photosensitive resin by resistance heating evaporation. When depositing antimony, the substrate 41 and the positive photosensitive resin 42
Are heated to 130 ° C. The antimony 43 enters the positive-type photosensitive resin 42 and the gap formed by patterning the positive-type photosensitive resin 42 and adheres to the substrate 41 to form a film.

【0044】図4(x)に該ポジ型感光性樹脂42を剥
離液によって剥離したあとの断面を示す。リフトオフさ
れて、きれいにアンチモン45のパターンだけが該基板
41上に残る。
FIG. 4 (x) shows a cross section after the positive photosensitive resin 42 is peeled off by a peeling liquid. After being lifted off, only the pattern of antimony 45 remains on the substrate 41 cleanly.

【0045】ここで、発明の実施例3に示した方法によ
り、再度ポジ型感光性樹脂44を該アンチモン43が形
成された該基板41上にパターニングする。逆テーパ形
状を形成した断面を図4(y)に示す。該アンチモン4
3のパターンが既に形成されているため、該ポジ型感光
性樹脂44は、該アンチモン43のパターン上だけ盛り
上がった形状となる。逆テーパの溝は、該アンチモン4
3のパターン同士の間に位置する。熱電堆を構成するビ
スマスを該アンチモン43の間にパターニングするため
である。
Here, the positive photosensitive resin 44 is patterned again on the substrate 41 on which the antimony 43 is formed by the method described in the third embodiment of the invention. FIG. 4 (y) shows a cross section in which an inverted tapered shape is formed. The antimony 4
Since the pattern No. 3 has already been formed, the positive photosensitive resin 44 has a raised shape only on the pattern of the antimony 43. The reverse tapered groove is the antimony 4
3 between the three patterns. This is because the bismuth constituting the thermoelectric bank is patterned between the antimony 43.

【0046】さて、該ポジ型感光性樹脂44が形成され
た該基板41を120℃に加熱しておき、ビスマスを抵
抗加熱蒸着によって成膜した断面図を図4(z)に示
す。アンチモン同様、該ポジ型感光性樹脂44のパター
ニングされた隙間から、ビスマスが該基板41上に成膜
される。
FIG. 4 (z) shows a sectional view of the substrate 41 on which the positive photosensitive resin 44 is formed, which is heated to 120 ° C. and bismuth is deposited by resistance heating evaporation. Like antimony, bismuth is formed on the substrate 41 from the patterned gap of the positive photosensitive resin 44.

【0047】最後に、図4(aa)に該ポジ型感光性樹
脂44を剥離液によって剥離した該基板41の断面図を
示す。アンチモンとビスマスを交互に並ばせ、端部で重
なり合うようにパターニングしておけば、直列な熱電堆
を構成することができ、出力を該熱電堆数分だけ増幅す
ることができる。
Finally, FIG. 4A shows a cross-sectional view of the substrate 41 from which the positive photosensitive resin 44 has been peeled off by a peeling liquid. If antimony and bismuth are alternately arranged and patterned so as to overlap at the ends, a serial thermoelectric bank can be formed, and the output can be amplified by the number of thermoelectric banks.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、実施例に
記載の発明によれば、基板上に塗布した高耐熱性の第1
層ポジ型感光性樹脂を全面露光し、さらに第2層の感光
性樹脂を塗布してフォトマスク露光するので、逆テーパ
パターン形状が容易に得られるため、基板を充分に加熱
して、密着力を向上させた上で金属等の成膜が行え、感
光性樹脂のパターンは逆テーパ形状なので、基板表面に
付着した金属等の膜と感光性樹脂上の金属等の膜が完全
に分離しており、感光性樹脂を容易に剥離させることが
できる。
As is clear from the above description, according to the inventions described in the embodiments, the first heat-resistant first material coated on the substrate is used.
The entire surface of the photosensitive resin layer is exposed, and the photosensitive resin of the second layer is coated and exposed by a photomask, so that a reverse tapered pattern can be easily obtained. The metal film can be formed after the film is improved, and the pattern of the photosensitive resin is reversely tapered, so that the film of metal and the like attached to the substrate surface and the film of metal and the like on the photosensitive resin are completely separated. As a result, the photosensitive resin can be easily peeled off.

【0049】実施例2に記載の発明によれば、基板上に
高耐熱性の第1層ポジ型感光性樹脂を塗布した後、第1
の加熱処理を行うので、感光性樹脂が充分に乾燥、硬化
するため、感光性樹脂の表面の摩擦が大きくなり、全面
露光後に第2層のポジ型感光性樹脂を塗布した際、水平
方向に広がりにくく厚膜化しやすい。同時に、逆テーパ
パターン形状も容易に得られるため、厚めに金属等を成
膜したいときには非常に効果的である。厚めに付着させ
ても、基板表面上の金属等の膜と感光性樹脂上の金属等
の膜は完全に分離させることができ、感光性樹脂を容易
に剥離(リフトオフ)させることができる。
According to the invention described in the second embodiment, after the first layer positive photosensitive resin having high heat resistance is applied on the substrate, the first layer is formed.
Since the photosensitive resin is sufficiently dried and cured, the friction on the surface of the photosensitive resin increases, and when the positive photosensitive resin of the second layer is applied after the entire surface is exposed, the heat treatment is performed in a horizontal direction. Difficult to spread and easy to thicken. At the same time, since an inverted taper pattern shape can be easily obtained, it is very effective when a thick metal film or the like is desired to be formed. Even if the film is thickly attached, the film of metal or the like on the substrate surface and the film of metal or the like on the photosensitive resin can be completely separated, and the photosensitive resin can be easily peeled off (lift-off).

【0050】実施例3に記載の発明によれば、請求項1
および請求項2の利点を併せ持つ上に、現像前に第3の
加熱処理を行うことで、第2層の感光性樹脂のフォトマ
スク露光で、露光された部分とされない部分の境界で硬
度差を大きくすることができるため、現像後に感光性樹
脂の鋭角な逆テーパ形状が得られる。角が鋭角な上、硬
度が増しているので、さらに高温度になっても逆テーパ
形状を保っていることができるので、さらに基板を高温
にしての金属等の成膜が可能になる。
According to the invention described in the third embodiment, claim 1
In addition to having the advantages of claim 2 and the third heat treatment before development, the difference in hardness at the boundary between the exposed and unexposed portions in the photomask exposure of the photosensitive resin of the second layer is obtained. Since the size can be increased, an acute reverse tapered shape of the photosensitive resin can be obtained after development. Since the angle is sharp and the hardness is increased, the inverted tapered shape can be maintained even at a higher temperature, so that a metal film or the like can be formed at a higher temperature of the substrate.

【0051】実施例4に記載の発明によれば、請求項3
の方法で感光性樹脂を逆テーパ形状にパターン形成し
て、アンチモンとビスマスを構成材とする熱電堆を形成
すると、基板に密着力の高い熱電堆になり、パターンの
エッジ部はバリがなく非常になめらかなエッジになるの
で、隣接するパターンとショートすることもない。ま
た、厚めにアンチモンとビスマスを成膜できるために、
パターンの断面積を大きくすることができて抵抗値を下
げられるので、感度が大きな熱電堆を得ることができ
る。
According to the invention described in the fourth embodiment, claim 3
When a photosensitive resin is patterned into a reverse tapered shape by the method described above to form a thermoelectric deposit composed of antimony and bismuth, the thermoelectric deposit has high adhesion to the substrate, and the edge of the pattern has no burrs. Since the edge becomes smooth, there is no short circuit between adjacent patterns. In addition, since antimony and bismuth can be formed thicker,
Since the cross-sectional area of the pattern can be increased and the resistance value can be reduced, a thermopile with high sensitivity can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のポジ型感光性樹脂の逆テーパ形状のパ
ターン形成工程の実施例である。
FIG. 1 is an embodiment of a process of forming a reverse tapered pattern of a positive photosensitive resin according to the present invention.

【図2】本発明のポジ型感光性樹脂の厚膜型逆テーパ形
状のパターン形成工程の実施例である。
FIG. 2 is an embodiment of a thick-film reverse tapered pattern forming step of the positive photosensitive resin of the present invention.

【図3】本発明のポジ型感光性樹脂の厚膜型かつ逆テー
パ開口端部急峻形状のパターン形成工程の実施例であ
る。
FIG. 3 is an embodiment of a pattern forming step of a positive photosensitive resin thick film type and a sharply tapered opening end portion of the present invention.

【図4】本発明のポジ型感光性樹脂逆テーパ形状パター
ンを用いてアンチモンとビスマスで構成される赤外線感
知熱電堆を形成する実施例である。(v)から(aa)
まで、工程順に断面図で示してある。
FIG. 4 shows an embodiment of forming an infrared sensing thermoelectric bank composed of antimony and bismuth using the positive photosensitive resin reverse tapered pattern of the present invention. (V) to (aa)
Up to this point, sectional views are shown in the order of steps.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

41 基板 42 逆テーパが形成されたポジ型感光性樹脂 43 金属アンチモン 44 アンチモン形成後の逆テーパが形成されたポジ
型感光性樹脂 45 金属ビスマス
41 Substrate 42 Positive photosensitive resin with reverse taper formed 43 Metal antimony 44 Positive photosensitive resin with reverse taper formed after antimony formed 45 Metal bismuth

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/306 H01L 21/306 N ──────────────────────────────────────────────────の Continued on front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H01L 21/306 H01L 21/306 N

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 感光性樹脂を基板上に塗布する工程と、
感光性樹脂が塗布された基板の全面を露光する工程と、
さらに、該感光性樹脂が塗布された基板上に、再度、感
光性樹脂を塗布する工程と、2重に感光性樹脂が塗布さ
れた基板を加熱処理する工程と、所定のフォトマスクを
用いて露光する工程と、アルカリ性水溶液により現像処
理を行う工程とを有することを特徴とする感光性樹脂の
パターン形成方法。
A step of applying a photosensitive resin on a substrate;
Exposing the entire surface of the substrate coated with the photosensitive resin,
Further, on the substrate on which the photosensitive resin has been applied, a step of applying the photosensitive resin again, a step of heating the substrate on which the photosensitive resin has been applied twice, and using a predetermined photomask A method for forming a pattern of a photosensitive resin, comprising: a step of exposing; and a step of performing a developing treatment with an alkaline aqueous solution.
【請求項2】 感光性樹脂を基板上に塗布する工程と、
感光性樹脂が塗布された基板を第1の加熱処理する工程
と、該感光性樹脂が塗布された基板の全面を露光する工
程と、さらに、該感光性樹脂が塗布された基板上に、再
度、感光性樹脂を塗布する工程と、2重に感光性樹脂が
塗布された基板を第2の加熱処理する工程と、所定のフ
ォトマスクを用いて露光する工程と、 アルカリ性水溶液により現像処理を行う工程とを有する
ことを特徴とする感光性樹脂のパターン形成方法。
2. A step of applying a photosensitive resin on a substrate;
A step of performing a first heat treatment on the substrate on which the photosensitive resin has been applied, a step of exposing the entire surface of the substrate on which the photosensitive resin has been applied, and Applying a photosensitive resin, performing a second heat treatment on the substrate on which the photosensitive resin is applied twice, exposing the substrate using a predetermined photomask, and performing a developing process using an alkaline aqueous solution. And a method for forming a pattern of a photosensitive resin.
【請求項3】 感光性樹脂を基板上に塗布する工程と、
感光性樹脂が塗布された基板を第1の加熱処理する工程
と、該感光性樹脂が塗布された基板の全面を露光する工
程と、さらに、該感光性樹脂が塗布された基板上に、再
度、感光性樹脂を塗布する工程と、2重に感光性樹脂が
塗布された基板を第2の加熱処理する工程と、所定のフ
ォトマスクを用いて露光する工程と、該2重に感光性樹
脂が塗布された基板を第3の加熱処理をする工程と、ア
ルカリ性水溶液により現像処理を行う工程とを有するこ
とを特徴とする感光性樹脂のパターン形成方法。
3. A step of applying a photosensitive resin on a substrate;
A step of performing a first heat treatment on the substrate on which the photosensitive resin has been applied, a step of exposing the entire surface of the substrate on which the photosensitive resin has been applied, and Applying a photosensitive resin, performing a second heat treatment on the substrate on which the photosensitive resin has been applied twice, exposing the substrate using a predetermined photomask, 3. A method for forming a pattern of a photosensitive resin, comprising: a step of performing a third heat treatment on a substrate to which is applied, and a step of performing a development treatment with an alkaline aqueous solution.
【請求項4】 請求項1から3までのいずれかの方法
で、基板上に第1の金属等のパターンを形成する工程
と、該基板上の逆テーパが形成された該感光性樹脂を剥
離液によって剥離する工程と、再び、該請求項1から3
までのいずれかの方法で、第1の金属パターンとある特
定部が接触するように第2の金属等のパターンを形成す
る工程と、同様に、該基板上の逆テーパが形成された該
感光性樹脂を剥離液によって剥離する工程とを有するこ
とを特徴とする感光性樹脂のパターン形成方法。
4. A step of forming a pattern of a first metal or the like on a substrate by the method according to any one of claims 1 to 3, and peeling the photosensitive resin having an inverse taper formed on the substrate. A step of peeling off with a liquid;
Forming a pattern of a second metal or the like so that the first metal pattern contacts a specific portion by any one of the methods described above. Stripping the photosensitive resin with a stripping liquid.
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