JPH11233475A - Substrate cleaning device - Google Patents

Substrate cleaning device

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Publication number
JPH11233475A
JPH11233475A JP2975598A JP2975598A JPH11233475A JP H11233475 A JPH11233475 A JP H11233475A JP 2975598 A JP2975598 A JP 2975598A JP 2975598 A JP2975598 A JP 2975598A JP H11233475 A JPH11233475 A JP H11233475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
brush
cleaning
cleaning apparatus
rectangular
Prior art date
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Pending
Application number
JP2975598A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Yoshioka
哲也 吉岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPH11233475A publication Critical patent/JPH11233475A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent a brush from dropping from a substrate end part even at the time of cleaning the substrate of a different type. SOLUTION: A substrate cleaning device has a holding means 12c holding a substrate 11 to be cleaned, a brush 13 which brush-cleans the surface of the substrate 11, and brush driving parts 14 and 17 driving the brush 13. The substrate cleaning device 10 is provided with an auxiliary holding means 16 for preventing the brush 13 which brush-cleans the surface of the substrate 11 held by the holding means 12C from dropping from the end part of the substrate 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板を洗浄するた
めの基板洗浄装置、特にブラシ洗浄する基板洗浄装置に
関するものである。
The present invention relates to a substrate cleaning apparatus for cleaning a substrate, and more particularly to a substrate cleaning apparatus for performing a brush cleaning.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、液晶表示装置等で使用される基
板、例えば角形基板を洗浄する場合、一般にはロール式
ブラシ洗浄が多く採用されている。しかしながら、この
ようなロール式ブラシ洗浄においては、洗浄部分の占有
スペースが基板の大きさの約2倍程度必要となることか
ら、洗浄装置全体が大型化してしまうと共に、洗浄機構
自体が複雑になり、コストが高くなってしまう。また、
角形基板表面全体にブラシを均一に当接させることが困
難であることから、洗浄効果にバラツキが生じてしま
う。さらに、通常の円形の基板である半導体ウェハと角
形基板が混在する生産ラインにおいては、円形の基板と
角形基板に対してそれぞれ別個の洗浄装置を用意する必
要があるため、スペース効率が悪く、コストが高くなっ
てしまうという問題があった。
2. Description of the Related Art Conventionally, when cleaning a substrate used in a liquid crystal display device or the like, for example, a rectangular substrate, a roll-type brush cleaning is generally adopted in many cases. However, in such a roll-type brush cleaning, the space occupied by the cleaning portion needs to be about twice as large as the size of the substrate, so that the entire cleaning apparatus becomes large and the cleaning mechanism itself becomes complicated. , And the cost increases. Also,
Since it is difficult to make the brush uniformly contact the entire surface of the rectangular substrate, the cleaning effect varies. Further, in a production line in which a semiconductor wafer, which is a normal circular substrate, and a square substrate are mixed, it is necessary to prepare separate cleaning devices for the circular substrate and the square substrate, respectively. There was a problem that the cost would be high.

【0003】これに対して、円形の基板を洗浄するため
に多く採用されている所謂自転及び公転式ブラシ洗浄を
利用して角形基板を洗浄する方法も考えられる。このよ
うな自転及び公転式ブラシ洗浄は、例えば図7に示すよ
うな構成の基板洗浄装置によって行なわれる。図7にお
いて、基板洗浄装置1は、洗浄すべき基板2を水平に支
持し且つ水平方向に回転駆動する基板支持部3と、基板
支持部3の上方にてブラシ4を支持し且つ自転及び公転
させるブラシ駆動部5と、基板支持部3上に支持された
基板2に対して洗浄液を供給する供給管6と、から構成
されている。
On the other hand, a method of cleaning a rectangular substrate using a so-called rotation and revolving brush cleaning, which is widely used for cleaning a circular substrate, is also conceivable. Such rotation and revolution type brush cleaning is performed by, for example, a substrate cleaning apparatus having a configuration as shown in FIG. In FIG. 7, a substrate cleaning apparatus 1 supports a substrate 2 to be cleaned horizontally and drives the substrate 4 to rotate in the horizontal direction, and supports a brush 4 above the substrate support 3 and rotates and revolves. The apparatus includes a brush driving unit 5 for supplying a cleaning liquid to the substrate 2 supported on the substrate supporting unit 3.

【0004】上記基板支持部3は、基板回転スピンドル
モータ3aと、このスピンドルモータ3aの回転軸3b
に取り付けられた吸着ヘッド3cと、から成り、この吸
着ヘッド3cが洗浄すべき基板2を適宜の方法により吸
着保持するようになっている。
[0004] The substrate support 3 includes a substrate rotating spindle motor 3a and a rotating shaft 3b of the spindle motor 3a.
The suction head 3c is adapted to hold the substrate 2 to be cleaned by suction by an appropriate method.

【0005】ブラシ駆動部5は、基板支持部3の側方に
上下動可能に且つ回動可能に配設された旋回軸5aと、
この旋回軸5aの下端に取り付けられた上下動スライダ
5bと、上下動スライダ5bを上下方向に駆動する上下
動駆動シリンダ5cと、さらに旋回軸の下端に被駆動タ
イミングプーリ5d,駆動タイミングベルト5e,駆動
タイミングプーリ5fを介して連結された旋回駆動モー
タ5gと、を含んでおり、この旋回軸5aは、上記上下
動駆動シリンダ5c及び旋回駆動モータ5gによって、
上下動され且つ旋回され得るようになっている。
[0005] The brush driving unit 5 is provided with a turning shaft 5a movably and vertically rotatable beside the substrate supporting unit 3, and
A vertically moving slider 5b attached to the lower end of the turning shaft 5a, a vertically moving driving cylinder 5c for driving the vertically moving slider 5b in the vertical direction, and a driven timing pulley 5d, a driving timing belt 5e, And a turning drive motor 5g connected via a drive timing pulley 5f. The turning shaft 5a is moved by the vertical drive cylinder 5c and the turning drive motor 5g.
It can be moved up and down and turned.

【0006】さらに、ブラシ駆動部5は、その旋回軸5
aの上端にブラシユニット7を備えている。このブラシ
ユニット7は、旋回軸5aの上端に対して一体的に固定
され且つ基板支持部3の上方に延びるブラシユニットベ
ース7aと、ブラシユニットベース7aの自由端に対し
てブラケット7bを介して取り付けられたブラシ回転駆
動モータ7cと、ブラシ回転駆動モータ7cの回転軸7
dに取り付けられたブラシ4と、から構成されている。
[0006] Further, the brush driving unit 5 has a pivot shaft 5.
The brush unit 7 is provided at the upper end of the block a. The brush unit 7 is integrally fixed to the upper end of the turning shaft 5a and extends above the substrate support portion 3, and is attached to a free end of the brush unit base 7a via a bracket 7b. Brush rotation driving motor 7c and rotation shaft 7 of brush rotation driving motor 7c
d.

【0007】上記供給管6は、基板支持部3に支持され
た基板2の表面に対して、洗浄用の純水または薬液,あ
るいはリンス液等を噴射するように、構成されているも
のである。
The supply pipe 6 is configured to spray pure water for cleaning, a chemical solution, a rinsing solution, or the like onto the surface of the substrate 2 supported by the substrate support 3. .

【0008】このような構成の基板洗浄装置1によれ
ば、基板支持部3の吸着ヘッド3cに対して、基板2が
吸着保持された状態にて、ブラシユニット7のブラシ4
が基板2の表面に接触するように、ブラシ駆動部5の旋
回軸5aが上下動駆動シリンダ5cによって下降され
る。そして、ブラシ4が基板2の表面に接触した状態に
て、供給管6から洗浄用の純水,薬液またはリンス液が
噴射されると共に、基板回転スピンドルモータ3a及び
ブラシ回転駆動モータ7cが回転し、さらにブラシ旋回
駆動モータ5gが回転する。これにより、基板2が回転
すると共に、ブラシ4はブラシ回転駆動モータ7cによ
り自転し且つブラシ旋回駆動モータ5gにより公転即ち
例えば基板2の中心から外側に向かって移動することに
なる。かくして、ブラシ4は、基板2の表面全体に亘っ
て接触し、その自転によって基板表面を洗浄することに
なる。
According to the substrate cleaning apparatus 1 having such a configuration, the brush 4 of the brush unit 7 is held in a state where the substrate 2 is sucked and held by the suction head 3 c of the substrate support 3.
The rotating shaft 5a of the brush driving unit 5 is moved down by the vertical movement driving cylinder 5c so that the brush contacts the surface of the substrate 2. Then, with the brush 4 in contact with the surface of the substrate 2, pure water for cleaning, a chemical solution or a rinsing liquid is jetted from the supply pipe 6, and the substrate rotation spindle motor 3 a and the brush rotation drive motor 7 c rotate. Then, the brush turning drive motor 5g rotates. As a result, while the substrate 2 rotates, the brush 4 rotates by the brush rotation drive motor 7c and revolves, that is, moves outward from the center of the substrate 2, for example, by the brush rotation drive motor 5g. Thus, the brush 4 contacts the entire surface of the substrate 2 and cleans the substrate surface by its rotation.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな基板洗浄装置1においては、円形の半導体ウェハ等
の基板の洗浄を行なう場合には、上述したようにブラシ
4の自転及び公転によって、基板表面全体が均一に洗浄
され得ることになるが、角形基板の洗浄を行なう場合に
は、図8に示すように、角形基板8の外形が正方形また
は長方形であることから、各辺の中央付近が大きく内側
に入り込んでいるので、ブラシ4の自転及び公転による
移動範囲に対して、基板が存在しない領域(図8にて斜
線図示)が生じてしまうことになる。このため、このよ
うな領域においては、ブラシ4が基板から脱落してしま
い、場合によっては、角形基板8の表面が傷ついたり、
基板洗浄装置1が破壊してしまう可能性があるという問
題があった。さらに、上記領域においてブラシ4が、角
形基板8の端縁にブラシ4が当たることにより、ブラシ
4の摩耗が早くなったり、偏摩耗が生じたり、あるいは
このような摩耗によるダストが角形基板8を汚染する可
能性があるという問題があった。上記問題は、角形基板
の場合に限らず、外形に凹凸を有する異形基板に関して
も同様である。
However, in such a substrate cleaning apparatus 1, when cleaning a substrate such as a circular semiconductor wafer, the substrate surface is rotated by the rotation and revolution of the brush 4 as described above. The entire substrate can be uniformly cleaned. However, when the rectangular substrate is cleaned, as shown in FIG. 8, since the external shape of the rectangular substrate 8 is square or rectangular, the vicinity of the center of each side is large. Since the brush 4 enters the inside, a region where the substrate does not exist (shown by oblique lines in FIG. 8) occurs in the movement range of the rotation and revolution of the brush 4. For this reason, in such an area, the brush 4 falls off the substrate, and in some cases, the surface of the rectangular substrate 8 is damaged,
There is a problem that the substrate cleaning apparatus 1 may be broken. Further, in the above-mentioned region, the brush 4 is brought into contact with the edge of the rectangular substrate 8 by the brush 4, so that the brush 4 wears quickly, uneven wear occurs, or dust due to such abrasion causes the rectangular substrate 8 to adhere to the rectangular substrate 8. There was a problem that it could be contaminated. The above problem is not limited to the case of a rectangular substrate, but also applies to a deformed substrate having irregularities in its outer shape.

【0010】本発明は、以上の点に鑑み、異形基板の洗
浄の際にもブラシが基板端部から脱落しないようにし
た、基板洗浄装置を提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above, an object of the present invention is to provide a substrate cleaning apparatus which prevents a brush from falling off from an end of a substrate even when cleaning a deformed substrate.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的は、請求項1の
発明によれば、洗浄すべき基板を保持する保持手段と、
この基板の表面をブラシ洗浄するブラシと、このブラシ
を駆動するブラシ駆動部と、を有する基板洗浄装置にお
いて、上記保持手段により保持された上記基板の表面を
ブラシ洗浄するブラシが、この基板の縁部から脱落しな
いための補助保持手段が設けられている基板洗浄装置に
より、達成される。
According to the first object of the present invention, there is provided a holding means for holding a substrate to be cleaned,
In a substrate cleaning apparatus having a brush for brush cleaning the surface of the substrate and a brush driving unit for driving the brush, a brush for brush cleaning the surface of the substrate held by the holding means is provided at an edge of the substrate. This is achieved by a substrate cleaning apparatus provided with auxiliary holding means for preventing the substrate from falling off.

【0012】この構成によれば、保持手段により保持さ
れた基板の表面をブラシ洗浄する上記ブラシがこの基板
の縁部から脱落しないための補助保持手段が設けられて
いる。このため、ブラシ駆動部で駆動されるブラシは、
この基板の縁部付近では、この補助保持手段によって、
この基板から脱落することなく円滑に駆動されることに
なる。したがって、基板の表面全体が均一に洗浄され
る。また、ブラシが基板から脱落しないため、この基板
の端部を傷つけることがない。
According to this structure, the auxiliary holding means is provided so that the brush for cleaning the surface of the substrate held by the holding means with the brush does not fall off the edge of the substrate. For this reason, the brush driven by the brush driving unit
In the vicinity of the edge of the substrate, the auxiliary holding means
Driving is performed smoothly without falling off the substrate. Therefore, the entire surface of the substrate is uniformly cleaned. Further, since the brush does not fall off the substrate, the edge of the substrate is not damaged.

【0013】上記目的は、請求項5の発明によれば、洗
浄すべき基板を保持する保持手段と、この基板の表面を
ブラシ洗浄するブラシと、このブラシを駆動するブラシ
駆動部と、を有する基板洗浄装置において、上記ブラシ
の上記基板と接触する面の半分以上の面積で、この基板
の表面をブラシ洗浄する基板洗浄装置により、達成され
る。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a holding means for holding a substrate to be cleaned, a brush for brush-cleaning the surface of the substrate, and a brush driving unit for driving the brush. In a substrate cleaning apparatus, the present invention is achieved by a substrate cleaning apparatus that brush-cleans a surface of a substrate with an area equal to or more than half of a surface of the brush that contacts the substrate.

【0014】この構成によれば、ブラシが基板の縁部か
らその全体が脱落しないような大きさで形成されている
ため、このブラシの一部が基板の縁部から外側にはみ出
したとしても、ブラシの他の部分が基板の表面に接触し
ているので、ブラシの脱落が抑止されることになる。
According to this structure, the brush is formed in such a size that the entire brush does not fall off from the edge of the substrate. Therefore, even if a part of the brush protrudes outside from the edge of the substrate, Since the other part of the brush is in contact with the surface of the substrate, the brush is prevented from falling off.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図1乃至図6を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. still,
Since the embodiments described below are preferred specific examples of the present invention, various technically preferred limitations are added.
The scope of the present invention is not limited to these embodiments unless otherwise specified in the following description.

【0016】図1は、本発明を適用した基板を洗浄する
ための基板洗浄装置の第一の実施形態の構成を示してい
る。図1において、基板洗浄装置10は、洗浄すべき基
板、例えば角形基板11を水平に支持し且つ水平方向に
回転駆動する基板支持部12と、基板支持部12の上方
にてブラシ13を支持し且つ自転及び公転自させるブラ
シ駆動部14と、基板支持部12上に支持された基板1
1に対して洗浄液を供給する供給管15と、から構成さ
れている。
FIG. 1 shows the configuration of a first embodiment of a substrate cleaning apparatus for cleaning a substrate to which the present invention is applied. In FIG. 1, a substrate cleaning apparatus 10 supports a substrate to be cleaned, for example, a rectangular substrate 11 horizontally, and supports a substrate support portion 12 that is driven to rotate in the horizontal direction, and a brush 13 above the substrate support portion 12. A brush driving unit 14 for rotating and revolving, and a substrate 1 supported on a substrate supporting unit 12
And a supply pipe 15 for supplying a cleaning liquid to the cleaning liquid.

【0017】上記基板支持部12は、基板回転スピンド
ルモータ12aと、このスピンドルモータ12aの回転
軸12bに着脱可能に取り付けられた補助保持手段であ
るアダプタユニット16と、このアダプタユニット16
内に取り付けられた保持手段としての吸着ヘッド12c
と、から成り、この吸着ヘッド12cが洗浄すべき角形
基板11を適宜の方法により吸着保持するようになって
いる。尚、上記基板支持部12は、アダプタユニット1
6を除いては、図7に示した基板洗浄装置1における基
板支持部3と同様の構成である。
The substrate supporting portion 12 includes a substrate rotating spindle motor 12a, an adapter unit 16 serving as auxiliary holding means detachably attached to a rotating shaft 12b of the spindle motor 12a,
Suction head 12c as holding means mounted inside
The suction head 12c sucks and holds the rectangular substrate 11 to be cleaned by an appropriate method. Note that the substrate support portion 12 is provided with the adapter unit 1.
Except for 6, the configuration is the same as that of the substrate support 3 in the substrate cleaning apparatus 1 shown in FIG.

【0018】ここで、上記アダプタユニット16は、図
2及び図3に示すように構成されている。即ち、アダプ
タユニット16は、例えば外形が円形であって、その上
面に上記角形基板11に対応した形状の凹陥部16aを
備えている。そして、この凹陥部16a内に、上記吸着
ヘッド12cが取り付けられている。この凹陥部16a
は、吸着ヘッド12cに吸着保持された角形基板11の
表面が、アダプタユニット16の上面と同一又はほぼ同
一平面になるような深さを有するように、形成されてい
る。尚、アダプタユニット16は、金属,樹脂等の材料
から構成され、好ましくは、後述するブラシの摩耗を防
止するために、外形や凹陥部16aの端縁が面取りある
いはR面加工される。
Here, the adapter unit 16 is configured as shown in FIGS. That is, the adapter unit 16 has, for example, a circular outer shape, and has, on its upper surface, a concave portion 16 a having a shape corresponding to the rectangular substrate 11. The suction head 12c is mounted in the recess 16a. This recess 16a
Is formed such that the surface of the rectangular substrate 11 sucked and held by the suction head 12c has a depth such that it is flush with or substantially flush with the upper surface of the adapter unit 16. The adapter unit 16 is made of a material such as metal or resin. Preferably, the outer shape and the edge of the concave portion 16a are chamfered or rounded to prevent abrasion of the brush described later.

【0019】ブラシ駆動部14は、基板支持部12の側
方に上下動可能に且つ回動可能に配設された旋回軸14
aと、この旋回軸14aの下端に取り付けられた上下動
スライダ14bと、上下動スライダ14bを上下方向に
駆動する上下動駆動シリンダ14cと、さらに旋回軸の
下端に被駆動タイミングプーリ14d,駆動タイミング
ベルト14e,駆動タイミングプーリ14fを介して連
結された旋回駆動モータ14gと、を含んでおり、この
旋回軸14aは、上記上下動駆動シリンダ14c及び旋
回駆動モータ14gによって、上下動され且つ旋回され
得るようになっている。
The brush driving unit 14 is provided on a side of the substrate supporting unit 12 so as to be vertically movable and rotatable.
a vertical slider 14b attached to the lower end of the rotary shaft 14a, a vertical drive cylinder 14c for driving the vertical slider 14b in the vertical direction, and a driven timing pulley 14d at the lower end of the rotary shaft. A turning drive motor 14g connected via a belt 14e and a drive timing pulley 14f. The turning shaft 14a can be moved up and down and turned by the vertically moving drive cylinder 14c and the turning drive motor 14g. It has become.

【0020】さらに、ブラシ駆動部14は、その旋回軸
14aの上端にブラシユニット17を備えている。この
ブラシユニット17は、旋回軸14aの上端に対して一
体的に固定され且つ基板支持部12の上方に延びるブラ
シユニットベース17aと、ブラシユニットベース17
aの自由端に対してブラケット17bを介して取り付け
られたブラシ回転駆動モータ17cと、ブラシ回転駆動
モータ17cの回転軸17dに取り付けられたブラシ1
3と、から構成されている。
Further, the brush driving section 14 has a brush unit 17 at the upper end of the turning shaft 14a. The brush unit 17 includes a brush unit base 17a integrally fixed to the upper end of the rotating shaft 14a and extending above the substrate support portion 12, and a brush unit base 17
a of the brush rotation drive motor 17c attached to the free end of the brush rotation drive motor 17c via the bracket 17b, and the brush 1 attached to the rotation shaft 17d of the brush rotation drive motor 17c.
And 3.

【0021】上記供給管15は、基板支持部12に支持
された角形基板11の表面に対して、洗浄用の純水また
は薬液,あるいはリンス液等を噴射するように、構成さ
れているものである。
The supply pipe 15 is configured to inject cleaning pure water, a chemical solution, a rinsing liquid, or the like onto the surface of the rectangular substrate 11 supported by the substrate support portion 12. is there.

【0022】尚、上記ブラシ駆動部14,ブラシユニッ
ト17及び供給管15は、図7に示した従来の基板洗浄
装置1におけるブラシ駆動部5,ブラシユニット7,供
給管6と同じ構成である。
The brush drive unit 14, brush unit 17 and supply pipe 15 have the same configuration as the brush drive unit 5, brush unit 7 and supply pipe 6 in the conventional substrate cleaning apparatus 1 shown in FIG.

【0023】本発明の実施の形態による基板洗浄装置1
0は、以上のように構成されており、角形基板11の洗
浄を行なう場合、以下のようにして行なわれる。先づ、
基板支持部12のアダプタユニット16の凹陥部16a
内に角形基板11が挿入され、吸着ヘッド12cにより
吸着保持される。そして、この状態にて、ブラシユニッ
ト17のブラシ13が基板11の表面に接触するよう
に、ブラシ駆動部14の旋回軸14aが上下動駆動シリ
ンダ14cによって下降される。そして、ブラシ13が
基板11の表面に接触した状態にて、供給管15から洗
浄用の純水,薬液またはリンス液が噴射されると共に、
基板回転スピンドルモータ12a及びブラシ回転駆動モ
ータ17cが回転し、さらにブラシ旋回駆動モータ14
gが回転する。
A substrate cleaning apparatus 1 according to an embodiment of the present invention.
0 is configured as described above. When the rectangular substrate 11 is cleaned, the cleaning is performed as follows. First,
Recess 16a of adapter unit 16 of substrate support 12
The rectangular substrate 11 is inserted thereinto, and is suction-held by the suction head 12c. Then, in this state, the turning shaft 14a of the brush driving unit 14 is moved down by the vertical driving cylinder 14c so that the brush 13 of the brush unit 17 comes into contact with the surface of the substrate 11. Then, in a state where the brush 13 is in contact with the surface of the substrate 11, pure water for cleaning, a chemical solution or a rinsing liquid is jetted from the supply pipe 15, and
The substrate rotation spindle motor 12a and the brush rotation drive motor 17c rotate, and the brush rotation drive motor 14
g rotates.

【0024】これにより、角形基板11が回転すると共
に、ブラシ13はブラシ回転駆動モータ17cにより自
転し且つブラシ旋回駆動モータ14gにより公転即ち例
えば基板11の中心から外側に向かって移動することに
なる。かくして、ブラシ13は、基板11の表面全体に
亘って接触し、その自転によって基板表面を洗浄するこ
とになる。
As a result, the rectangular substrate 11 is rotated, and at the same time, the brush 13 is rotated by the brush rotation drive motor 17c and revolved by the brush rotation drive motor 14g, that is, moves outward from the center of the substrate 11, for example. Thus, the brush 13 contacts the entire surface of the substrate 11 and cleans the substrate surface by its rotation.

【0025】その際、角形基板11がアダプタユニット
16の凹陥部16a内に収容されることにより、角形基
板11の表面及びアダプタユニット16の凹陥部16a
を除く上面が同一又は略同一平面となり、全体として円
形の表面を画成することになる。従って、上記ブラシ1
3の自転及び公転による洗浄の際に、ブラシ13は、円
形基板の洗浄の場合と同様に、角形基板11及びアダプ
タユニット16により画成された円形の表面上に常に接
触しているので、洗浄が円滑に即ち均一に行なわれ得る
と共に、ブラシ13が角形基板11の端部である端縁か
ら外側にはみだして脱落してしまうようなことがない。
従って、角形基板11の洗浄の際に、ブラシ13の基板
端縁からの脱落によって、基板表面が傷ついたり、基板
洗浄装置10が破壊してしまうようなことはなく、また
角形基板11の端縁にブラシ13が当たって摩耗するこ
とがない。
At this time, the rectangular substrate 11 is accommodated in the concave portion 16a of the adapter unit 16 so that the surface of the rectangular substrate 11 and the concave portion 16a of the adapter unit 16 are accommodated.
Are substantially the same or substantially the same plane, thereby defining a circular surface as a whole. Therefore, the brush 1
Since the brush 13 is always in contact with the circular surface defined by the rectangular substrate 11 and the adapter unit 16 in the same manner as in the case of cleaning a circular substrate during the cleaning by rotation and revolution of 3, the brush 13 is cleaned. Can be performed smoothly, that is, uniformly, and the brush 13 does not protrude outward from the edge of the rectangular substrate 11 and fall off.
Therefore, when the rectangular substrate 11 is washed, the brush 13 does not fall off from the edge of the substrate, so that the substrate surface is not damaged or the substrate cleaning device 10 is not damaged. The brush 13 is not worn by hitting the brush.

【0026】さらに、上記基板洗浄装置10は、図7に
示した従来の基板洗浄装置1に対して、アダプタユニッ
ト16を追加するだけで、容易に且つ低コストで構成さ
れ得る。従って、円形の基板を洗浄する場合は、アダプ
タユニット16を基板回転スピンドルモータ12aの回
転軸12bから取り外し、吸着ヘッド12cを回転軸1
2bに直接に取り付ければよいこととなる。なお、この
構成は、図7に示した従来の基板洗浄装置1と同じであ
る。このように、角形基板11と円形基板が混在する生
産ラインにおいては、アダプタユニット16の着脱によ
って、何れの形状の基板に対しても、容易に対応するこ
とが可能となる。
Further, the substrate cleaning apparatus 10 can be easily and inexpensively constructed by simply adding the adapter unit 16 to the conventional substrate cleaning apparatus 1 shown in FIG. Therefore, when cleaning a circular substrate, the adapter unit 16 is removed from the rotating shaft 12b of the substrate rotating spindle motor 12a, and the suction head 12c is
2b. This configuration is the same as that of the conventional substrate cleaning apparatus 1 shown in FIG. As described above, in a production line in which the rectangular substrates 11 and the circular substrates are mixed, it is possible to easily cope with substrates of any shape by attaching and detaching the adapter unit 16.

【0027】図4は、本発明による基板を洗浄するため
の基板洗浄装置の第二の実施形態の構成を示している。
図4において、基板洗浄装置20は、図1に示した基板
洗浄装置10とほぼ同じ構成であり、異なる点は、アダ
プタユニット16がないことと、ブラシ13の代わり
に、大型ブラシ21が備えられていることである。
FIG. 4 shows the configuration of a second embodiment of a substrate cleaning apparatus for cleaning a substrate according to the present invention.
4, the substrate cleaning apparatus 20 has substantially the same configuration as the substrate cleaning apparatus 10 shown in FIG. 1, except that there is no adapter unit 16 and a large brush 21 is provided instead of the brush 13. That is.

【0028】ここで、上記大型ブラシ21は、図5及び
図6に示すように、基板支持部12の吸着ヘッド12c
によって固定保持される角形基板11の回転の際に、角
形基板11の周縁からその全体が脱落しないような大き
さを有するように、形成されている。特に、好ましく
は、図5にて左側に示すように、角形基板11の各辺の
中央付近の領域、即ち半径方向の長さが最も短い位置付
近にて、大型ブラシ21の角形基板11と接触する面の
半分以上の面積で、角形基板11の表面をブラシ洗浄す
るように、大型ブラシ21の大きさが選定されている。
Here, as shown in FIGS. 5 and 6, the large brush 21 is attached to the suction head 12c of the substrate support portion 12.
The rectangular substrate 11 is formed so as to have such a size that the entire rectangular substrate 11 does not fall off from the periphery of the rectangular substrate 11 when the rectangular substrate 11 is fixed and held. Particularly, as shown on the left side in FIG. 5, the large brush 21 comes into contact with the rectangular substrate 11 near the center of each side of the rectangular substrate 11, that is, near the position where the length in the radial direction is the shortest. The size of the large brush 21 is selected so that the surface of the rectangular substrate 11 is brush-washed with an area of half or more of the surface to be cleaned.

【0029】従って、ブラシが大型ブラシ21であるた
め、角形基板11の回転によって大型ブラシ21の一部
が角形基板11の各辺の中央付近の領域、即ち、半径方
向の長さが最も短い位置付近にて、角形基板11の端部
から外側にはみ出しても大型ブラシ21の他の部分が、
角形基板11の表面に接触しているため、大型ブラシ2
1の脱落が防止されることになる。このように、大型ブ
ラシ21は、角形基板11の表面に対して安定した状態
で接触するため、より一層均一な洗浄が行なわれ得るこ
とになる。
Accordingly, since the brush is the large brush 21, the rotation of the rectangular substrate 11 causes a part of the large brush 21 to be in a region near the center of each side of the rectangular substrate 11, that is, a position where the length in the radial direction is the shortest. In the vicinity, even if it protrudes outside from the end of the rectangular substrate 11, other parts of the large brush 21
Because it is in contact with the surface of the rectangular substrate 11, the large brush 2
1 is prevented from falling off. As described above, since the large brush 21 contacts the surface of the rectangular substrate 11 in a stable state, more uniform cleaning can be performed.

【0030】さらに、上記基板洗浄装置20において、
図7に示した従来の基板洗浄装置1に対してブラシ4を
大型ブラシ21に交換するだけで、本実施の形態に係る
基板洗浄装置20を構成することができる。このため容
易かつ低コストで基板洗浄装置20を構成することがで
きる。したがって、従来の円形の基板を洗浄するための
自転及び公転式ブラシによる基板洗浄装置1に対して
も、ブラシ4を大型ブラシ21に交換するだけで、角形
基板11の洗浄が行われると共に、そのままの状態で、
半導体ウエハ等の円形基板の洗浄も可能である。また、
円形基板と角形基板11とが混在する生産する生産ライ
ンにおいては、一台の基板洗浄装置20を利用して、そ
のままの状態で、何れの形状の基板にも対応することが
可能となる。
Further, in the substrate cleaning apparatus 20,
The substrate cleaning apparatus 20 according to the present embodiment can be configured by simply replacing the brush 4 with the large brush 21 in the conventional substrate cleaning apparatus 1 shown in FIG. Therefore, the substrate cleaning apparatus 20 can be configured easily and at low cost. Therefore, even with the conventional substrate cleaning apparatus 1 using a rotating and revolving brush for cleaning a circular substrate, the rectangular substrate 11 is cleaned simply by replacing the brush 4 with the large brush 21, and the cleaning is performed as it is. In the state,
Cleaning of circular substrates such as semiconductor wafers is also possible. Also,
In a production line in which a circular substrate and a rectangular substrate 11 are mixed, a single substrate cleaning apparatus 20 can be used to support substrates of any shape as they are.

【0031】そして、角形基板11の各辺の中央付近の
領域、即ち半径方向の長さが最も短い位置付近にて、大
型ブラシ21の角形基板11と接触する面の半分以上の
面積で、角形基板11の表面をブラシ洗浄するように大
型ブラシ21の大きさが選定されている場合には、角形
基板11の各辺の中央付近の領域においても、大型ブラ
シ21が安定した状態で角形基板11の表面に接触する
ことになり、より一層均一な洗浄が行われることにな
る。
In the area near the center of each side of the rectangular substrate 11, that is, near the position where the length in the radial direction is the shortest, the area of the large brush 21 that is in contact with the rectangular substrate 11 is at least half the area of the rectangular shape. When the size of the large brush 21 is selected so that the surface of the substrate 11 is brush-cleaned, the rectangular brush 11 is stably maintained even in a region near the center of each side of the rectangular substrate 11. , So that more uniform cleaning is performed.

【0032】尚、上述した実施形態においては、洗浄す
べき基板として、角形基板11を使用する場合について
説明したが、これに限らず他の形状を有する異型基板の
洗浄を行なう場合についても、本発明を適用し得ること
は明らかである。
In the above-described embodiment, the case where the rectangular substrate 11 is used as the substrate to be cleaned has been described. However, the present invention is not limited to this case. Obviously, the invention can be applied.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、異
形基板の洗浄の際にもブラシが基板端部から脱落しない
ようにした、基板洗浄装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a substrate cleaning apparatus in which a brush is prevented from falling off from an end of a substrate even when cleaning a deformed substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による基板洗浄装置の第一の実施形態の
構成を示す概略側面図である。
FIG. 1 is a schematic side view showing a configuration of a first embodiment of a substrate cleaning apparatus according to the present invention.

【図2】図1の基板洗浄装置におけるアダプタユニット
の拡大平面図である。
FIG. 2 is an enlarged plan view of an adapter unit in the substrate cleaning device of FIG.

【図3】図2のアダプタユニットの断面図である。FIG. 3 is a sectional view of the adapter unit of FIG. 2;

【図4】本発明による基板洗浄装置の第二の実施形態の
構成を示す概略側面図である。
FIG. 4 is a schematic side view showing a configuration of a second embodiment of the substrate cleaning apparatus according to the present invention.

【図5】図4の基板洗浄装置における基板と大型ブラシ
との関係を示す拡大平面図である。
FIG. 5 is an enlarged plan view showing a relationship between a substrate and a large brush in the substrate cleaning apparatus of FIG.

【図6】図5の基板と大型ブラシとの関係を示す断面図
である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a relationship between the substrate of FIG. 5 and a large brush.

【図7】従来の基板洗浄装置の一例の構成を示す概略側
面図である。
FIG. 7 is a schematic side view showing a configuration of an example of a conventional substrate cleaning apparatus.

【図8】図7の基板洗浄装置による角形基板洗浄時のブ
ラシの移動を示す拡大平面図である。
FIG. 8 is an enlarged plan view showing movement of a brush when a rectangular substrate is cleaned by the substrate cleaning apparatus of FIG. 7;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,20・・・基板洗浄装置、11・・・角形基板、
12・・・基板支持部、13・・・ブラシ、14・・・
ブラシ駆動部、15・・・供給管、16・・・アダプタ
ユニット、17・・・ブラシユニット、21・・・大型
ブラシ。
10, 20 ... substrate cleaning device, 11 ... square substrate,
12 ... substrate support, 13 ... brush, 14 ...
Brush drive unit, 15: supply pipe, 16: adapter unit, 17: brush unit, 21: large brush.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 洗浄すべき基板を保持する保持手段と、 この基板の表面をブラシ洗浄するブラシと、 このブラシを駆動するブラシ駆動部と、を有する基板洗
浄装置において、 上記保持手段により保持された上記基板の表面をブラシ
洗浄するブラシが、この基板の縁部から脱落しないため
の補助保持手段が設けられていることを特徴とする基板
洗浄装置。
1. A substrate cleaning apparatus comprising: holding means for holding a substrate to be cleaned; a brush for cleaning the surface of the substrate with a brush; and a brush driving unit for driving the brush. An apparatus for cleaning a substrate, further comprising auxiliary holding means for preventing a brush for cleaning the surface of the substrate from falling off from an edge of the substrate.
【請求項2】 上記基板の上面と上記補助保持手段の上
面の高さが同一又は略同一となるように構成されている
ことを特徴とする請求項1に記載の基板洗浄装置。
2. The substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the height of the upper surface of the substrate and the upper surface of the auxiliary holding means are the same or substantially the same.
【請求項3】 上記補助保持手段が着脱可能に構成され
ていることを特徴とする請求項1に記載の基板洗浄装
置。
3. The substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein said auxiliary holding means is configured to be detachable.
【請求項4】 上記補助保持手段が着脱可能に構成され
ていることを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装
置。
4. The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein said auxiliary holding means is configured to be detachable.
【請求項5】 洗浄すべき基板を保持する保持手段と、 この基板の表面をブラシ洗浄するブラシと、 このブラシを駆動するブラシ駆動部と、を有する基板洗
浄装置において、 上記ブラシの上記基板と接触する面の半分以上の面積
で、この基板の表面をブラシ洗浄することを特徴とする
基板洗浄装置。
5. A substrate cleaning apparatus comprising: holding means for holding a substrate to be cleaned; a brush for cleaning the surface of the substrate with a brush; and a brush driving unit for driving the brush. A substrate cleaning apparatus characterized in that the surface of the substrate is brush-cleaned with an area equal to or more than half of a contact surface.
JP2975598A 1998-02-12 1998-02-12 Substrate cleaning device Pending JPH11233475A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005294835A (en) * 2004-04-01 2005-10-20 Lam Res Corp Interface between substrate and mechanics and handling method of the same

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