JPH11214801A - 複数の変調光を発せられる発光装置 - Google Patents

複数の変調光を発せられる発光装置

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JPH11214801A
JPH11214801A JP10023985A JP2398598A JPH11214801A JP H11214801 A JPH11214801 A JP H11214801A JP 10023985 A JP10023985 A JP 10023985A JP 2398598 A JP2398598 A JP 2398598A JP H11214801 A JPH11214801 A JP H11214801A
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light
light emitting
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JP10023985A
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Seiichi Miyazawa
誠一 宮澤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】複数の変調光を発せられる発光装置である。 【解決手段】発光装置は、少なくとも1つのモード光を
含む光を異なる複数の光出射部から発する発光領域1
と、複数の光出射部からの少なくとも1つのモード光を
含む光のうちの少なくとも1つのモード光について夫々
変調する変調機能領域2、4を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高速変調時におい
ても動的波長変動を抑えて直接変調方式での駆動を可能
とし偏波スイッチングを実現する半導体集積装置、発光
部からの光のモードの選択的吸収を実現する半導体装置
などの発光装置等に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、発振光を偏波状態の異なる偏波モ
ード間で変調できる偏波スイッチング可能な動的単一モ
ード(Dynamic Single Mode)半導体レーザとして、小
振幅のデジタル信号を注入バイアス電流に重畳してデジ
タル偏波変調を可能にする素子構造が提案されている
(例えば、特開平7−162088号公報を参照)。こ
れは、グレーティングからなる分布反射器を半導体レー
ザ共振器内部に導入し、その波長選択性を利用する構造
のDFBレーザであった。このDFBレーザでは、発振
波長近傍の波長の光のTEモードとTMモードについ
て、発振しきい値程度の電流注入下の利得をおおよそ同
程度のものとする為に、バルク活性層を用いたり、また
は活性層の量子井戸に歪を導入してブラッグ波長を利得
スペクトルのピーク波長よりも短波長側に設定してい
る。そして、複数の電極を持つ構成とし、これらの複数
の電極に対して不均一に電流注入を行うものであった。
【0003】この構成においては、不均一電流注入によ
って共振器の等価屈折率を不均一に変化させることによ
り、TEモードとTMモードのうちで、位相整合条件を
満たして最低のしきい値利得となる波長と偏波モードで
発振が起こる。ここで、不均一注入のバランスを僅かに
変えることでTEモードとTMモード間の位相整合条件
の競合関係(位相整合条件を満たした状態でどちらのモ
ードのしきい値が低くなるか)が変化して、発振波長と
発振偏波モードを変えることができるというものであっ
た。このデバイスでは、発振光出力側(一方の電極が設
けられた出力側には出力のパワーを変動させない為に変
調電流成分を注入しない)と変調側(他方の電極が設け
られた側)に対する不均一注入の効果を非対称に引き出
すためには、出力側を片面無反射コーティングとすると
いう構造的な非対称性、或は、2つの電極長を変えると
いう構造的な非対称性を導入することが有効であった。
【0004】また、特開平2−117190号公報にお
いて、マルクスクリスチャン・アマン等は、直列または
並列に接続された2つの半導体デバイスからなり、その
一方は主として特定の偏光状態の波を発生または増幅
し、他方は主として別の偏光状態の波を発生または増幅
し、それらを1つの共同層または互いに平行する層に設
けている半導体レーザ装置を提案している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の例において、位
相条件で偏波モードを選択するDFB系の偏波スイッチ
ングレーザでは、共振器内でTEモード利得とTMモー
ド利得を同程度にすることが重要である。その為の活性
層の構成としては、TEモード利得とTMモード利得が
同程度となるバルク活性層、又は、歪みなどを入れてT
Mモード利得を優位とした活性層をTEモードを発生す
る活性層と直列(特開平2−117190号公報)に形
成する方法などが提案されている。
【0006】しかしながら、これらの構成は次の様な問
題を有している。バルク活性層はTEモードおよびTM
モードの利得が等しくなるが、しきい値電流が高くなる
傾向にある。その為、量子化などによりしきい値電流を
低減する必要がある。
【0007】一方、特開平2−117190号公報にて
提案されているTMモードが優位な活性層およびTEモ
ードが優位な活性層を直列または並列に形成する方法
は、異なる歪み量の活性層を形成するために成長回数が
増加し、作製工程が複雑となる。
【0008】また、上記の構成では、TEモードとTM
モードのスイッチングは、TEモードとTMモードのそ
れぞれの領域での利得差により発生する。そして、この
利得差をサンプル毎に制御性良くコントロールすること
は困難である。
【0009】本発明の目的は、比較的成長回数が少な
く、低しきい電流密度のレーザなどの発光装置を実現す
ると共に、1つのレーザの両端面から異なったモードの
光をも取り出すことができるレーザなどの複数の変調光
を発せられる発光装置、この変調方法等を提供すること
にある。
【0010】
【課題を解決する手段および作用】上記目的を達成する
為の発光装置は、少なくとも1つのモード光を含む光を
異なる複数の光出射部から発する発光手段と、該複数の
光出射部からの少なくとも1つのモード光を含む光のう
ちの少なくとも1つのモード光について夫々変調する変
調手段を有することを特徴とする。ここにおいて、発光
手段は典型的には半導体レーザ構造(分布帰還型半導体
レーザ構造を持つものであったり、位相調整領域を持つ
ものであったりする)、これに限らない。モードは典型
的には偏波モード、波長(縦モード)などである。変調
手段(これは逆電界が印加可能に構成された半導体レー
ザ構造を有するもの(この場合、同構造を持つ発光手段
と同一基板上に形成されて構造がコンパクトにでき
る)、液晶などであったりする)は、前記複数の光出射
部からの少なくとも1つのモード光を含む光のうちの少
なくとも1つのモード光について夫々独立の信号に基づ
いて、或は同じ信号に基づいて、変調する。また、変調
手段は、前記複数の光出射部からの少なくとも1つのモ
ード光を含む光の夫々異なるモード光について変調して
もよいし、夫々同じモード光について変調してもよい。
更に、前記発光手段からの光の1つのモード光を選択す
るモード選択手段(これは偏光子、所定の波長光を選択
的に透過して所定のモード光を選択する波長選択手段、
波長フィルタなどであったりする)を有してもよい。発
光手段が1つのモード光を有する光を発する場合には、
このモード選択手段は不必要であるが、そうでない場合
は、変調前或は変調後の光をモード選択手段に入れて1
つのモード光を取り出すのが都合がよい。モード選択手
段は前記複数の光出射部から光の夫々異なるモード光を
選択してもよいし、夫々同じモード光を選択してもよ
い。本発明の構成によれば、発光部からの光を有効に利
用できて、広い用途範囲が得られるので、以上の構成の
うち何れの手段を採用するかは用途に応じて選べばよ
い。
【0011】更に具体的には、以下の如き形態も可能で
ある。TEモードおよびTMモードを発生する活性層を
含む利得領域(発光手段)を挟んで、吸収層を含む変調
領域(変調手段)が光学的に結合されて形成された半導
体レーザ装置として構成されている。また、TEモード
およびTMモードを発生する活性層を含む利得領域を挟
んで、少なくともTEモードを吸収する吸収層を含む吸
収領域と少なくともTMモードを吸収する吸収層を含む
吸収領域とが光学的に結合されて形成された構成を有
し、該吸収領域のTEモードを吸収する層が無歪みまた
は圧縮歪みの井戸を有しており、該吸収領域のTMモー
ドを吸収する層が引っ張り歪みを有している半導体レー
ザ装置として構成されている。
【0012】これらの形態において、TEモードおよび
TMモードを発生する利得領域の活性層の構成がバルク
型活性層であったり、前記利得領域の活性層のTEモー
ドを発生する層が無歪または圧縮歪み活性層であり、T
Mモードを発生する層が引っ張り歪み活性層であったり
する。後者の場合、前記利得領域がTEモードを発生す
る層とTMモードを発生する層を積層方向に独立に有し
ていたりする。
【0013】また、前記利得領域のTEモードまたはT
Mモードの少なくとも一方の活性層構成と前記吸収領域
の活性層構成が同じであったりする。また、前記利得領
域のTEモードまたはTMモードの少なくとも一方の吸
収端が、前記吸収領域の活性層の吸収端より短波長側に
なる様に設定されていると、変調が効率的に行なわれ得
る。更に、光増幅部を有している半導体レーザ装置とし
て構成されていてもよい。
【0014】更に、本発明の発光装置の変調方法は、前
記吸収手段ないし吸収領域に逆方向電圧を加えることに
より、該吸収手段ないし吸収領域へ入射してくるTEモ
ード光またはTMモード光の一方を選択的に吸収するこ
とにより変調を行なう偏波変調方法である。
【0015】本発明の光源装置は、上記の発光装置を有
し、これを上記の変調方法により変調できる様に構成さ
れていることを特徴とする。
【0016】本発明の光通信システムは、上記の光源装
置を備えた光送信機または送受信機、前記モード選択手
段によって取り出された光を伝送する伝送手段、及び前
記伝送手段によって伝送された光を受信する光受信機ま
たは送受信機からなることを特徴とする。
【0017】本発明の光通信方式は、上記の光源装置を
用い、送信信号に応じて変調された電圧を前記発光装置
の吸収手段ないし吸収領域に印加することによって、前
記モード選択手段から送信信号に応じて強度変調された
信号光を取り出し、この信号光を光受信機または送受信
機に向けて送信することを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】第1実施例 図1、図2を用いて本発明の第1の実施例について記述
する。図1は本実施例の偏波変調レーザの全体構成であ
る。図2において、1はTEモードおよびTMモードを
同時に発生する利得領域であり、2および4は、TEモ
ードおよびTMモードを同時に、または両モードの一方
のみを変調可能な変調領域、3および5はTEモードま
たはTMモードのどちらか一方を選択的に透過するモー
ド選択領域である。
【0019】図1において、TEモードおよびTMモー
ドを同時に発生する構成の利得領域としては、活性層が
バルク活性層の半導体レーザであったり、引っ張り歪み
活性層を有した半導体レーザであったり、引っ張り歪み
活性層と圧縮歪み活性層を積層した半導体レーザであっ
たりする(第2実施例以下に詳細に記載する)。この活
性領域1から出た光を活性領域1の両サイドにて独立に
変調する2および4の変調領域は、光を吸収したり、遮
断したりすることにより光強度の変調を行うものであ
り、例えば、半導体量子井戸のQCSE(電界吸収効果
ないし量子閉じ込めシュタルク効果)を用いて光を吸収
する半導体積層構造、液晶などがある。
【0020】図1においては、2の変調領域では活性層
に圧縮歪を導入して、TEモードのみを変調できる様に
している。4の変調領域ではTEモードとTMモードの
両方に変調をかけている。この変調領域2、4を通った
光を3および5のモード選択領域において一方のモード
を選択する。図1のモード選択領域3、5では偏光子を
用いて、モード選択を行っている。これ以外にもアイソ
レータ、波長フィルターなどを使用可能である。
【0021】以上の構成により、レーザの両方の端面か
ら、独立に変調されかつ異なった偏光モードを持つレー
ザ光6(TM光)、7(TE光)を取り出すことが可能
となる。ここで、利得領域1、変調領域2、4、モード
選択領域3、5は独立に形成されており、なるべく領域
端面で光の反射が発生しないようにコーティングなどを
施している。
【0022】次に図1と領域の配列順序が異なる図2に
ついて説明する。図2の構造は、図1における変調領域
と偏波モード選択領域の位置を入れ替えた構成を持つ。
TEモードとTMモードを同時に発生する利得領域11
に隣接して、モード選択領域12、14が形成されてい
る。この結果、モード選択領域12、14を通り、変調
領域13、15に届く光は一方のモードだけとなり、変
調領域13および15では選択されたモードを変調する
事となる。この結果、図1と同様に、1つのレーザの両
端面から、異なった光信号の載った2つの光16(TM
光)、17(TE光)を取り出すことが可能となる。
【0023】以上説明した様に、2つのモードを発生す
る利得領域と、一方のモードまたは両方のモードを変調
する変調領域と、一方のモードのみを透過するモード選
択領域を形成する事により、レーザの両方の端面から、
独立に変調された、異なった偏波のレーザ光を取り出す
ことが可能となり、利得領域からの光の有効利用が可能
となった。
【0024】ここで、上記の例においては、両端面から
異なった偏光の光を出していたが、偏波モードが同じで
もよい。この場合でも、新たにレーザを設けることな
く、1つのレーザから異なった2つの光信号を取り出せ
る利点がある。また、この場合には、利得領域は1つの
偏波モード光のみを供給するものでもよく、そしてモー
ド選択領域も省略できる。また、2つの変調領域では同
じ信号で光を変調してもよい。この場合、2つの光信号
が異なる偏波モードを有していれば、これらを通信の偏
波ダイバーシティ用などに用いることができ、2つの光
信号が異なる波長を有していれば(半導体レーザでは偏
波が異なれば一般に波長も異なる)、これらを通信の波
長ダイバーシティ用などに用いることができる。
【0025】既に述べた様に、更により広い概念で述べ
れば、本実施例の構成は次の様に記述できる。複数の光
出射部を持つ発光部と各光出射部からの光を変調する変
調領域を有し、発光部からの光は少なくとも1つのモー
ド光(このモードは、偏光状態であったり、波長であっ
たり等する)を含む光であり、各変調領域は少なくとも
1つのモード光について変調機能を持つ。この構成に、
変調された或は変調されていない1つのモード光を選択
するモード選択領域を設けてもよい。この構成によれ
ば、発光部からの光を有効に利用でき、その用途の範囲
も広くなる。
【0026】第2実施例 図3(a)、図3(b)、図4(a)、図4(b)を用
いて本発明の第2の実施例について説明する。本実施例
は、第1の実施例の図1の構成をより具体化したもの
で、変調領域の吸収層と利得領域の活性層の構成が同じ
である例を示している。この結果、半導体層の再成長の
工程などが少なく、偏波変調レーザ装置の作製が容易と
なっている。図3(a)は本実施例の偏波変調レーザ装
置の全体構成の共振器方向の断面図である。図3(a)
において、22は基板であるところのn−InP膜であ
り、この上にピッチ240nmで高さ300Åの回折格
子24を中央部のみ部分的に形成し、つづいて23に示
すSi doped InGaAsP光ガイド層を0.
15μmの厚さで形成している。
【0027】これまでが活性層以下の構成である。さら
にこの上に活性層25を利得領域40、変調領域39、
41に渡って一様に形成する。活性層25の構成を図3
(b)に示す(バンドギャップ構造で示す)。43は井
戸層で、引っ張り歪みを0.35%入れたundope
d InGaAs(厚さ110Å)であり、44は、無
歪のundoped InGaAsP(厚さ100Å)
のバリア層であり、これらを3層繰り返した構成となっ
ている。図3(b)中、42は積層方向を示している。
さらにこの上に、図3(a)の27に示す様に、光ガイ
ド層を含んだ上部クラッド層を成長する。光ガイド層は
Be doped InGaAsP膜により出来てお
り、厚みは0.15μmである。つづいて上部クラッド
層を形成する。その構成はBe doped InP層
で厚みは1.4μm形成している。この上に、28のコ
ンタクト層であるBe doped InGaAsを
0.3μm形成し、成長を終了する。図3(a)中の2
1はn側電極でAuGe/Auを使用した。29はp側
電極である。以上説明したのが積層方向の構成である。
【0028】この構成は共振器方向に3つの部分に分け
られる。1つは中央の電極33に対応した利得領域40
で、2つ目は電極32に対応した変調領域39で、3つ
目は電極34に対応した変調領域41である。30、3
1は3つの電極領域を充分に電気的に分離する為に形成
した溝である。
【0029】本実施例の動作について説明する。利得領
域40の電極33に電流を加えると、電極33直下の活
性層25にキャリアが注入される。この活性層25は、
先にも述べた様に引っ張り歪が0.35%加わってお
り、TEモードとTMモードの利得が拮抗している構成
である。よって、十分にキャリアを加えるとTEモード
とTMモードの光が同時に発振する。つまり、利得領域
40からはTEモードとTMモードの光が両サイドの変
調領域39、41に供給される。
【0030】変調領域39、41の動作について記述す
る。両変調領域39、41では吸収を行う事により変調
を実現する。両変調領域39、41に対応した吸収層の
構成は、利得領域40の活性層と同じで25に示した構
成となる。この結果、活性層25は両モードに利得があ
る為、吸収層25ではTEモードおよびTMモードを吸
収することとなる。39の変調領域に逆電界をかける
と、電界は変調領域39に対応した吸収層25に加わ
る。よって、変調領域39を通る両モードの光は変調さ
れる。これと同様に、41の変調領域に逆電界をかける
と、活性層25と同じ構成の吸収層を持っているため、
同様にTMモードとTEモードが変調される事となる。
【0031】つづいてモードの選択を行う。先にも述べ
た様に変調領域39から出た光はTEモードとTMモー
ドを有している。そこで、偏光子37によりー方のモー
ドを吸収し、一方のモードだけを透過させる。ここで
は、TEモードのみを透過させているので、光38はT
Eモードの変調光である。
【0032】同様に、変調領域41を通過した光の一方
のモードを選択する。35は偏光子で、この偏光子によ
りTMモードの光36のみを透過させている。
【0033】以上説明した様に、簡単な工程により作製
した半導体装置により、容易に偏波の異なる2つの独立
な光を取り出せることを示した。尚、変調領域39およ
び変調領域41の端面には無反射コーティングを施して
いる。
【0034】図4(a)、(b)は、吸収領域41にお
けるTEモードに対する吸収係数の波長依存性を示す。
縦軸52は吸収係数、横軸51は波長である。線53は
逆電界を加えていない時の吸収係数の波長依存性であ
る。吸収領域41と利得領域40は同じ活性層25を有
するが、レーザの発振波長λLaserはBand Shr
inkage効果により吸収端より十数meV長波長側
にシフトする(図4(a)の54参照)。この為、活性
領域40で発生したTEモード光は、吸収領域41に逆
電界を加えていない状態では、ここで吸収されずレーザ
発振をつづける。
【0035】この説明は波長選択機構のないファブリペ
ローレーザの場合の説明である。本実施例のレーザは波
長選択機構を持っておりレーザの発光波長は、図3
(a)の24に示すグレーティングのピッチにより決定
できる。よって、活性層25により十分な利得の発生す
る波長範囲であれば、発光波長はグレーティング24の
ピッチにより任意に設定することが可能となる。従っ
て、吸収係数の線53の吸収端とレーザ発振波長λ
Laserの位置関係の制御は容易であり、ファブリペロー
レーザより歩留まりのよい制御が見込まれる。本実施例
は、グレーティングピッチを活性層25の利得ピークに
合わせているので、吸収端(1525nm)とグレーテ
ィング24によるレーザ発振波長(1553nm)とは
16meV離れた形となっている。
【0036】つづいて、吸収領域41の電極34に逆方
向電圧を加える。ここでは10V加える。吸収領域41
の活性層25は量子井戸であるため、量子閉じ込めシュ
タルク効果により、図4(b)の55の矢印に示す様に
エキシトンの吸収ピークが長波長側にずれる(詳しく
は、Appl. Phys. Lett., vol.
50 No.15, 1011(1987)参照)。こ
こでは、30meVのシフトを観測した。この結果、図
4(b)に示す様に発振波長λLaserのTEモードのレ
ーザ光54が吸収領域41により吸収され、TEモード
の変調が可能になる。変調機構に関してはTMモードも
同様である。
【0037】以上説明した様に、活性層および吸収層の
構成を同一の構成にする事により、作製工程が簡単な偏
波変調レーザ装置が実現できる。この際、同一のレーザ
において両方の端面から異なった信号を得る事ができ
(この場合は変調領域39、41は別々の信号で変調す
る)、また、異なった偏波の光を得ることも可能であ
る。
【0038】第3実施例 図5、図6を用いて本発明の第3の実施例について記述
する。本実施例は、TE、TM利得を発生する活性層6
4にバルク層を用いたものである。図5は本実施例の偏
波変調レーザ装置の全体構成である。活性層以下の構成
については図6(a)、(b)をも用いて説明する。
【0039】図6において、62は基板であるところの
n−InP膜であり、この上にピッチ240nmで高さ
300Åの回折格子79を部分的に形成し、つづいて6
3に示すSi doped InGaAsP光ガイド層
を0.15μm形成している。この上に、64に示すu
ndoped InGaAsP活性層を0.1μm形成
した後、この活性層64を一部を残してエッチングによ
り除去する。除去後は図6(b)に示した構成となる。
活性層64にバルクInGaAsPを利用する理由とし
ては、バルク層はTEモード利得とTMモード利得をほ
ぼ同程度有していることにある。この上の層構成は図5
をもって説明する。
【0040】バルク活性層64を残した86の領域は、
TEモードおよびTMモードのレーザ利得を供給する利
得領域である。88および85の領域は、65および6
6の吸収層により活性領域86から出たTE、TMモー
ド光を吸収変調する変調領域である。吸収層65は、圧
縮歪みを0.7%入れたundoped InGaAs
井戸層(厚さ60Å)と無歪みのundoped In
GaAsPのバリア層(厚さ100Å)を3層繰り返し
た構成となっている。これがTE光を吸収する吸収層6
5となる。一方、85の吸収領域の吸収層66は、引っ
張り歪み0.9%のundoped InGaAs井戸
層(厚さ130Å)と無歪みのundoped InG
aAsPバリア層(厚さ100Å)の組み合わせを5層
形成して成っている。この結果、吸収領域85はTM光
を優先的に吸収する事となる。
【0041】さらに、この活性層64、吸収層65、6
6の上に、図5の67に示す光ガイド層を含んだ上部ク
ラッド層を成長する。光ガイド層はBe doped
InGaAsP膜により出来ており、厚みは0.15μ
mである。つづいて上部クラッド層を形成する。構成は
Be doped InP層で、厚みは1.4μm形成
している。この上に、68のコンタクト層であるBe
doped InGaAsを0.3μm形成し、成長を
終了する。図5中の61はn側電極でAuGe/Auを
使用した。69はp側電極である。以上説明したのが積
層方向の構成である。この構成を共振器方向に3つの部
分に分ける。1つは電極73に対応した利得領域86
で、2つ目は電極74に対応した変調領域88で、3つ
目は電極72に対応した変調領域85である。70、7
1は3つの電極領域を電気的に分離する為に形成した溝
である。
【0042】動作について説明する。基本的な動作は第
2実施例において説明した内容と同様である。利得領域
86の電極73に電流を加えると、電極73直下の活性
層64にキャリアが注入される。この活性層64は、先
にも述べた様にInGaAsPバルクより形成されてお
り、TEモードとTMモードの利得が拮抗している構成
である。よって、十分にキャリアを加えるとTEモード
とTMモードの光が同時に発振する。つまり、利得領域
86からはTEモードとTMモードの光が両サイドの変
調領域85、88に供給される。
【0043】変調領域85、88の動作について記述す
る。両変調領域85、88では光の吸収を行う事により
変調を実現する。変調領域88の電極74に逆電界をか
けると、逆電界は電極74に対応した65の吸収層に加
わる。よって、変調領域88を通るTEモードの光は吸
収され変調される。これと同様に変調領域85の電極7
2に電界をかけると、66に示す吸収層がTMモード光
に対する吸収を持っているため、同様にTMモード光が
変調される事となる。これらの変調光は、75、77の
波長選択領域により所望の波長が選択される。ここでは
偏光子を使用し、偏光子75はTE光を透過し、偏光子
77はTM光を透過させている。
【0044】この様にバルク活性層64を用いることに
より、TEモード光とTMモード光を同時に発生させる
ことが可能で、かつ活性層64両端に吸収領域88、8
5を形成することにより、1つのレーザの共振器両端よ
り偏波の異なる変調光76、78をも出すことが可能で
ある。
【0045】第4実施例 図7、図8(a)、(b)を用いて本発明の第4の実施
例について説明する。図7の実施例の特徴は、吸収領域
111、113の吸収層厚を変えた点にある。この結
果、利得領域112のレーザの発振波長と、吸収層9
4、96の吸収端を近づけ、より効率よい変調を実現し
たものである。
【0046】図7において、92は基板であるところの
p−InP膜であり、この上にピッチ238nmで高さ
400Åの回折格子110を部分的に形成し、つづいて
93に示すBe doped InGaAsP光ガイド
層を0.15μm形成している。以上が活性層以下の構
成である。本レーザは共振器方向に3つの領域111、
112、113を有し、それぞれの活性層が異なる。1
12の利得領域の活性層について説明する。この領域1
12の活性層は2層構成となっており層95、97より
形成されている。層95の構成としてはTEモード用の
活性層を形成する。構成は、圧縮歪みを0.6%入れた
undoped InGaAs井戸層(厚さ60Å)と
無歪のSi doped InGaAsPバリア層(厚
さ100Å)のペアを4層繰り返した構成となってい
る。層97はTMモードを優位に発生する活性層で、引
っ張り歪みを1.0%入れたundoped InGa
As井戸層(厚さ110Å)と無歪のundoped
InGaAsPバリア層(厚さ100Å)のペアを5層
繰り返した構成となっている。これが112の利得領域
の活性層で、この領域ではほぼ同程度のTEモードとT
Mモード利得を供給するものである。この活性層95、
97を部分的に利得領域112に形成する方法として
は、基板全面に95、97の層を形成した後、他の領域
111、113の層95、97をエッチングにより除去
している。
【0047】つづいて、2つの吸収領域の構成について
記述する。まず、TEモード光を吸収する113の領域
の吸収層94の構成は、圧縮歪み量0.6%の井戸層
(厚さ63Å)と無歪で厚みが105Åのバリア層を1
0回繰り返している。つづいてTMモード光を吸収する
領域111の吸収層96の構成は、引っ張り歪みを0.
9%入れたundoped InGaAs井戸層(厚さ
110Å)と無歪のundoped InGaAsPバ
リア層(厚さ100Å)を10回繰り返して形成してい
る。尚、94、96の吸収層はSiO2マスクを用いて
選択成長した。以上がそれぞれの領域の活性層である。
【0048】つづいて、これら活性層上に以下に示す構
成を一様に形成する。まず、98に示す光ガイド層を含
んだ上部クラッド層を成長する。上部光ガイド層はSi
doped InGaAsP膜により出来ており、厚
みは0.15μmである。上部クラッド層はSi do
ped InP層で、厚みは1.4μm形成している。
この上に、99のコンタクト層であるSi doped
InGaAsを0.3μm形成し、成長を終了する。
図7中の91はp側電極でCr/Auを使用した。10
0はn側電極で、このレーザは多電極化を行った。10
1、102は3つの電極領域を電気的に分離する為に形
成した溝である。106、108は偏光子で、レーザ端
面から出た光から光107、109を選択する為に設け
ている。偏光子106、108があるとTEモードとT
Mモードのどちらかを選択的に透過させることが可能と
なり、S/N比も30[dB]以上が容易に確保でき
る。
【0049】動作について説明する。活性領域112に
104の電極を通して電流を流すとTEモードとTMモ
ードが発生する構成としている。吸収領域113、11
1の動作について説明する。電極105に逆方向電界を
加えると電界は層94に加わり、TEモードの吸収が起
こる。この為、利得領域112で発振していたTEモー
ドが吸収され変調が可能となる。本実施例で、活性領域
112のTEモード活性層95と吸収領域113のTE
モード吸収層94を同一にしなかった理由としては、よ
り効率のよい吸収を実現する事にある。上述した様に、
活性領域112のTEモード活性層95の井戸幅は60
Åであり、吸収領域113のTEモード吸収層94の井
戸幅は63Åである。この結果、吸収領域113の電極
105に電界を印加していない時の吸収端と活性領域1
12によるレーザ発振波長は、第2実施例に比較して、
より近接することになる。なぜならば、第2実施例では
利得領域と吸収領域のTEモードに関する構成は同じで
あり、よって吸収端も同じであった。しかし、本実施例
の場合には、吸収領域113の層94の井戸幅を若干大
きくすることにより、吸収領域113の吸収端が長波長
側にシフトした事になる。つまり、吸収領域113のT
Eモード吸収端だけが長波長側にシフトした事になる。
この結果、利得領域112のTEモード発振波長と吸収
領域113のTEモード吸収端は、第2実施例よりも、
より近づくことができた。よって、本実施例では、吸収
領域113の電極105への僅かな逆方向電圧の印加に
より、効率よく変調が可能となる。
【0050】第2実施例にも述べた様に、グレーティン
グを有する半導体レーザではグレーティングピッチを変
えることにより、吸収端とレーザ発振波長差を制御でき
る。一方、ファブリペロー型のレーザでは吸収領域の吸
収層の構成を変えることが重要な要素となってくる。
【0051】図8(a)は、利得領域と吸収領域の活性
層が同じ構成において、吸収領域に電界をかけていない
ときの吸収係数の波長依存性の線117とレーザ発振波
長116の関係を示している。図8(b)は、本実施例
で示した吸収領域の構成を使用した時の吸収係数の波長
依存性の線120とレーザ発振波長119の関係を示し
たものである。井戸幅を改善する事により、吸収端が1
21に示すように長波長側にシフトし、レーザ発振波長
に近づく形となる。図8(a)より、図8(b)に示し
た場合の方が、吸収端とレーザ発振波長が近く、吸収領
域への僅かな電界の印加で変調が可能であることがわか
る。
【0052】TMモードの吸収領域111も吸収端をシ
フトし、レーザ発振光の変調効率を上げようとしてい
る。ただし、吸収端をシフトさせる方法は、吸収領域1
13とは異なっている。吸収領域113では吸収層94
の井戸幅を制御する事により行ったが、吸収領域111
では吸収層96の引っ張り歪み量を低減することによ
り、吸収端を制御している。この結果、層96の吸収端
は活性層97のそれより長波長側となり、吸収端が発振
波長により近接した形となる。よって、電極103に加
えるわずかな電界変化により、効率よく変調が可能とな
る。以上説明した様に、活性領域と吸収領域のバンド端
を制御する事により、より効率のよい変調が実現した。
【0053】第5実施例 図9、図10(a)、(b)を用いて本発明の第5の実
施例について説明する。図9において、132は基板で
あるところのn−InP膜であり、この上にピッチ24
0nmで高さ300Åの回折格子134を部分的に2個
所形成し、つづいて133に示すSi doped I
nGaAsP光ガイド層を0.15μmの厚さで形成し
ている。これまでが活性層以下の構成である。
【0054】このレーザは大きく分けて共振器方向に3
つの領域に分割されている。まず、利得領域である15
5に示した領域の構成について説明する。この利得領域
はTEモード利得とTMモード利得をほぼ同程度に発生
させ、かつ中央部に位相調整領域を有することにより、
TEモード、TMモードともシングルモードで変調動作
を実現しようとするものである。構成について説明す
る。活性層は135に示すTEモードを優先的に発生す
る活性層と136に示したTMモードを優先的に発生す
る活性層からなる。135のTEモード井戸層の構成と
しては、無歪であるundoped InGaAs(厚
さ60Å)と無歪のundoped InGaAsP
(厚さ100Å)のバリア層のペアを5層繰り返した構
成となっている。136のTMモード用活性層の構成
は、引っ張り歪み0.8%のundoped InGa
As井戸(厚さ110Å)と圧縮歪み0.2%のund
opedInGaAsPバリア層(厚さ100Å)を3
層繰り返して形成した。
【0055】この活性層が155の利得領域に形成され
ており、この間に157に示す位相調整領域が形成され
ている。この位相調整領域の層157は、InGaAs
Pのバルク層で、層135、136よりもバンドギャッ
プは広く、両活性層135、136から出る光を吸収す
ることはない。この層157は、層135、136を成
長後、位相調整領域に対応した部分を部分的にエッチン
グし、SiO2をマスクとした選択成長により形成し
た。
【0056】つづいて、2つの吸収領域について記述す
る。基本的な考えは第3実施例と同じで、活性層13
5、136により発生するTEモードおよびTMモード
のレーザ光について、156のTEモード吸収領域、1
54のTMモード吸収領域の吸収端の位置を改善し、よ
り効率よい変調を実現しようとしたものである。具体的
には、TEモード吸収領域156の吸収層137は、圧
縮歪のundopedInGaAs井戸(厚さ64Å)
と無歪のundoped InGaAsPバリア層(厚
さ100Å)のペアを15層繰り返した構成となってい
る。また、TMモードの吸収領域154の吸収層138
は、引っ張り歪み0.8%のundoped InGa
As井戸(厚さ130Å)と圧縮歪み0.2%のund
opedInGaAsPバリア層(厚さ100Å)を1
5回繰り返した構成としている。以上がそれぞれの領域
154、155、156の活性層構成である。
【0057】この後、再成長し、139に示す光ガイド
層を含んだ上部クラッド層を成長する。上部光ガイド層
はBe doped InGaAsP膜により出来てお
り、厚みは0.15μmである。上部クラッド層はBe
doped InP層で、厚みは1.4μm形成して
いる。この上に、140のコンタクト層であるBedo
ped InGaAsを0.3μm形成し、成長を終了
する。図9において、131はn側電極でAuGe/A
uを使用した。141でまとめて示すp側電極(Cr/
Au)は部分145、146、147、148、149
に分かれており、このレーザは多電極化を行った。それ
ぞれの領域154、155、156は、充分な深さの溝
142、143により電極分離をしている。レーザ端面
にはARコーティングが施されており、151、153
は偏光子である。
【0058】図10(a)に、図9に示したデバイスの
概念的なブロック図を示している。各領域を図9に示し
た電極の番号で表している。上の説明から分かる様に、
領域146と148はTEモードとTMモードを発生さ
せる利得領域である。147は位相調整領域である。こ
の位相調整領域147の役割については後で記す。利得
領域146と148に十分な電流を流すとTEモードと
TMモードの充分な利得が発生し、レーザ発振を生ず
る。吸収領域145、149に逆電界を加えていないと
きは、吸収が発生しないために共振器全体ではTEモー
ド光とTMモード光がレーザ端面から出ている。つづい
て、吸収領域149に電界を加える、つまり図9中の1
56の吸収領域に逆電圧を加えると、電界は137の圧
縮歪みの井戸の層に加わる。この結果、ヘビーホールに
よる吸収が発生し、選択的にTEモード光が吸収される
事となる。この動作は、原理的に154に示したTMモ
ード吸収領域でも同じで、図9の138の吸収層に逆電
界が加わり、光の吸収が発生する。この現象を利用し
て、光の変調を実現するものである。153および15
1は、ここでは偏光子で、偏光子153はTEモード光
152を通し、偏光子151はTMモード光150を通
す。この偏光子153、151はTE/TM抑圧比が3
0[dB]程度とれることから、良好なS/N比を得る
ことが可能となる。
【0059】次に、147の位相調整領域の役割につい
て記述する。通常、DFBレーでは位相調整領域を持た
ないと、各モード(TEモードおよびTMモードの利得
スペクトル)では、図10(c)に示す様にそれぞれの
モードにおいて2本の波長が発生する(TMモードは1
61と163の波長、TEモードは162と164の波
長で発振)。これは、共振器端面で位相が一致しない為
にストップバンドの両端で発振しやすくなる現象で、通
信などに使用する場合にはノイズとなる。これを避ける
為に波長の単一モード化が図られている。単一モード化
を図る為には位相を調整しストップバンド両端での強度
比を調整する必要がある。147の位相調整領域は、こ
こに電流を加えることにより発生する屈折率の変化を利
用して、光の伝搬定数を変え位相を調整する役目をして
いる。この位相調整領域147に電流を流し屈折率を調
整することにより単一モード化を図るものである。図1
0(b)は、147の位相調整領域に電流を流し、TE
モード162とTMモード161を単一モード化し発振
させている様子を示す図で、図10(b)は利得領域1
55から出た光が吸収されていない状態で見ているもの
である。以上の様に位相調整領域147を加えることに
より、それそれのモードはシングルモードで変調が可能
となる。
【0060】以上の構成により、レーザ端面から出た光
152、150の一方の偏波を抑圧し、サイドモード抑
圧比の高い光を得ることが出来る。さらに、位相調整領
域147を設ける事により、TEモード、TMモードと
もシングルモードで動作させることができる。また、上
記実施例では示していないが、図10(a)の構成に光
増幅部を付け(例えば、利得領域146、148と同様
の構成を付ける)、出力パワーを増大させることも可能
である。このことは他の実施例でも同様である。
【0061】第6実施例 図11は本発明の偏波変調レーザとミラーを集積し、同
一のレーザから出たTEモード光とTMモード光を同一
光軸上に集光した光回路176の実施例である。171
は、レーザの両端面からTEモード光およびTMモード
光を別々に発するレーザ装置である。172、173、
174は全反射ミラーで、175はハーフミラー或は偏
光ビームスプリッタである。171のレーザ端面から出
たTEモード変調信号、TMモード変調信号は、それぞ
れ、TEモード光が172のミラーにより、TMモード
光が173、174のミラーにより反射し、175のハ
ーフミラー或は偏光ビームスプリッタに達して同一の光
軸上に集光する。以上説明した様に、偏波変調レーザと
ミラーなどの組み合わせにより、2つの半導体レーザを
設けることなく、1つのレーザから偏波および波長が異
なった独立の光を得ることが出来、独立に変調が可能と
なった。
【0062】第7実施例 図12、図13、図14を用いて本発明の偏波変調レー
ザの応用を具体的に記述する。図12に、本発明による
半導体レーザを波長多重光LANシステムに応用する場
合の各端末に接続される光−電気変換部(ノード)の構
成例を示し、図13にそのノード281を用いた光LA
Nシステムの構成例を示す。
【0063】外部に接続された光ファイバ280を媒体
として光信号がノード281に取り込まれ、分岐部27
2によりその一部が波長可変光フィルタ等を備えた受信
装置273に入射する。この受信装置273により所望
の波長の光信号だけ取り出して信号検波を行う。一方、
ノード281から光信号を送信する場合には、上記実施
例の半導体レーザ装置274を適当な方法で駆動し、偏
波変調して、偏光板277及びアイソレータ275を通
して出力光を合流部276を介して光伝送路280に入
射せしめる。ここで、半導体レーザ装置274の半導体
レーザ及び受信装置273の波長可変光フィルタを2つ
以上の複数設けて、波長可変範囲を広げることもでき
る。
【0064】光LANシステムのネットワークとして、
図13に示すものはバス型であり、AおよびBの方向に
ノード281を接続しネットワーク化された多数の端末
及びセンタ282を設置することができる。ただし、多
数のノード281を接続するためには、光の減衰を補償
するために光増幅器を伝送路280上に直列に配するこ
とが必要となる。また、各端末282にノード281を
2つ接続し伝送路280を2本にすることでDQDB方
式による双方向の伝送が可能となる。また、ネットワー
クの方式として、図13のAとBをつなげたルーブ型や
スター型あるいはそれらを複合した形態のものでもよ
い。
【0065】図14は、本発明の半導体レーザを用いた
双方向光CATVシステムの構成例を示す模式図であ
る。図14において、290はCATVセンタ、292
は夫々光ファイバ291によってセンタ290と接続さ
れたサブセンタ、293はサブセンタに接続された各加
入者の受像機である。センタ290は、本発明の光半導
体デバイスの光源装置を備え、複数の画像信号を夫々波
長の異なる信号光に載せて、受像機293に送信する。
受像機293は、波長可変光フィルタ及び光検出器を含
み、入射した信号光の内、所望の波長の信号光だけを検
出して、モニタに画像を再生する。加入者は、波長可変
光フィルタの透過波長を変化させることによって、チャ
ネルを選択し、所望の画像を得ることが出来る。
【0066】従来は、送信側のDFBレーザの動的波長
変動の影響により、受信側のDFBフィルタをこのよう
なシステムに用いることが困難であったが、本発明によ
り可能となった。
【0067】さらに、加入者に外部変調器を持たせ、加
入者からの信号をこの変調器からの反射光で受け取り
(簡易型双方向光CATVの一形態、例えば、石川、古
田“光CATV加入者系における双方向伝送用LN外部
変調器”,OCS91−82,p.51)、図11のよ
うなスター型ネットワークを構築することで、双方向光
CATVが可能となり、サービスの高機能化が図れる。
【0068】本発明のレーザ装置ないし発光装置によれ
ば、1つの装置にて異なった波長或はモードで独立の信
号を送れることから(勿論、同じモードで独立の信号を
送れたり、異なったモードで同じ信号を送れたりもす
る)、これらのネットワーク上で、ネットワークの混雑
状態により、波長(モード)が選択できる等の長所を有
する。
【0069】
【発明の効果】以上に説明した様に、本発明によれば、
広い用途範囲を持ち得る複数の変調光を発せられる発光
装置が実現できる。
【0070】より具体的には、以下のような効果が得ら
れる。本発明を実現する第1の実施例は、利得領域、変
調機能領域およびモード選択領域を有した本発明の基本
的構成の一形態を示した。本発明を実現する第2の実施
例は、利得領域の活性層を一部の吸収領域に使用する事
により、前後の端面より任意の偏波光を取り出すことを
可能にした半導体装置構成を実現した。利得領域の活性
層と吸収領域の吸収層の層構成を同一にする事により、
成長回数が少ない層構成を提供できる。本発明を実現す
る第3の実施例は、利得領域にバルク活性層が利用でき
ることを示した。本発明の実現する第4の実施例は、利
得領域の活性層よりも、吸収領域の量子井戸のバンドギ
ャップが狭い事を特徴とした偏波変調装置構成を実現し
た。これにより、より効率のよい両端面独立偏波の偏波
変調レーザを実現できた。本発明を実現する第5の実施
例は、部分的に位相調整領域を設けることにより、発振
モードを単一モード化し、発光装置の両端面から任意の
偏波を取り出す事を可能にした両端面独立偏波変調レー
ザを実現した。本発明を実現する第6の実施例は、本発
明のデバイスとミラーとを集積化することにより、両端
面から出た光を同一軸上に結合させる事を可能にした半
導体集積回路を実現した。本発明を実現する第6の実施
例は、本発明のデバイスを用いた通信を実現した。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の第1の実施例の1つの形態の概
念的構成を示す図である。
【図2】図2は本発明の第1の実施例の他の形態の概念
的構成を示す図である。
【図3】図3は本発明の第2の実施例の共振器方向の断
面構成と活性層の構成を示す図である。
【図4】図4は本発明の第2の実施例の電界非印加時と
電界印加時の吸収領域の吸収係数の波長依存性を示す図
である。
【図5】図5は本発明の第3の実施例の共振器方向の構
成を示す断面図である。
【図6】図6は本発明の第3の実施例の製造方法を示す
断面図である。
【図7】図7は本発明の第4の実施例の共振器方向の断
面構成を示す図である。
【図8】図8は本発明の第4の実施例の電界非印加時と
電界印加時の吸収領域の吸収係数の波長依存性を示す図
である。
【図9】図9は本発明の第5の実施例の共振器方向の断
面構成を示す図である。
【図10】図10は本発明の第5の実施例の概念的構成
を示すと共に、TEモードとTMモードの利得スペクト
ルを、位相調整領域がある場合とない場合に分けて示す
図である。
【図11】図11は本発明の第6の実施例の構成を示す
平面図である。
【図12】図12は本発明の第7の実施例である本発明
の発光装置を用いたノードの構成例を示す図である。
【図13】図13は図12のノードを用いたバス型光通
信システムの構成例を示す図である。
【図14】図14は図12のノードを用いた双方向光C
ATVシステムの構成例を示す図である。
【符号の説明】
1、11、40、86、112、155 利得領域
(活性領域) 2、4、13、15、39、41、85、88、11
1、113、154、156 変調領域(吸収領
域) 3、5、12、14 モード選択領域 6、7、16、17、36、38、76、78、10
7、109、150、152 変調光 21、29、32、33、34、61、69、72、7
3、74、91、100、103、104、105、1
31、141、145、146、147、148、14
9 電極 22、62、92、132 基板 23、63、93、133 光ガイド層 24、79、110、134 回折格子 25、64、95、97、135、136 活性層
(吸収層) 27、67、98、139 光ガイド層及びクラッ
ド層 28、68、99、140 コンタクト層 30、31、70、71、101、102、142、1
43 分離溝 35、37、75、77、106、108、151、1
53、277偏光子 43 引っ張り歪み井戸 44 バリア 65、66、94、96、137、138 吸収層 157 位相調整領域 171、274 本発明の発光装置 172、173、174 全反射ミラー 175 ハーフミラー(PBS) 176 集積化回路 272 光分岐部 273 受信器 275 アイソレータ 276 合流部 280、291 光伝送路 281 ノード 282 端末装置 290 センタ 292 サブセンタ 293 受像機

Claims (32)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】少なくとも1つのモード光を含む光を異な
    る複数の光出射部から発する発光手段と、該複数の光出
    射部からの少なくとも1つのモード光を含む光のうちの
    少なくとも1つのモード光について夫々変調する変調手
    段を有することを特徴とする発光装置。
  2. 【請求項2】前記モードは偏波モードである請求項1記
    載の発光装置。
  3. 【請求項3】前記変調手段は、前記複数の光出射部から
    の少なくとも1つのモード光を含む光のうちの少なくと
    も1つのモード光について夫々独立の信号に基づいて変
    調する請求項1または2記載の発光装置。
  4. 【請求項4】前記変調手段は、前記複数の光出射部から
    の少なくとも1つのモード光を含む光のうちの少なくと
    も1つのモード光について夫々同じ信号に基づいて変調
    する請求項1または2記載の発光装置。
  5. 【請求項5】前記変調手段は、前記複数の光出射部から
    の少なくとも1つのモード光を含む光の夫々異なるモー
    ド光について変調する請求項1乃至4の何れかに記載の
    発光装置。
  6. 【請求項6】前記変調手段は、前記複数の光出射部から
    の少なくとも1つのモード光を含む光の夫々同じモード
    光について変調する請求項1乃至4の何れかに記載の発
    光装置。
  7. 【請求項7】更に前記発光手段からの光の1つのモード
    光を選択するモード選択手段を有する請求項1乃至6の
    何れかに記載の発光装置。
  8. 【請求項8】前記モード選択手段は前記複数の光出射部
    から光の夫々異なるモード光を選択する請求項7記載の
    発光装置。
  9. 【請求項9】前記モード選択手段は前記複数の光出射部
    から光の夫々同じモード光を選択する請求項7記載の発
    光装置。
  10. 【請求項10】前記発光手段は半導体レーザ構造を有す
    る請求項1乃至9の何れかに記載の発光装置。
  11. 【請求項11】前記発光手段は分布帰還型半導体レーザ
    構造を有する請求項10記載の発光装置。
  12. 【請求項12】前記発光手段は位相調整領域を有する請
    求項11記載の発光装置。
  13. 【請求項13】前記変調手段は半導体レーザ構造を有す
    る請求項1乃至12の何れかに記載の発光装置。
  14. 【請求項14】前記変調手段は逆電界が印加可能に構成
    された半導体レーザ構造を有する請求項13記載の発光
    装置。
  15. 【請求項15】前記変調手段は前記発光手段を挟んで同
    一基板上に形成されている請求項10乃至14の何れか
    に記載の発光装置。
  16. 【請求項16】前記モード選択手段は偏光子である請求
    項1乃至15の何れかに記載の発光装置。
  17. 【請求項17】前記モード選択手段は所定の波長光を選
    択的に透過して所定のモード光を選択する波長選択手段
    である請求項1乃至15の何れかに記載の発光装置。
  18. 【請求項18】前記モード選択手段は波長フィルタであ
    る請求項17記載の発光装置。
  19. 【請求項19】TEモードおよびTMモードを発生する
    活性層を含む利得領域を挟んで、吸収層を含む変調領域
    が光学的に結合されて形成された半導体レーザ装置とし
    て構成されている請求項1乃至18の何れかに記載の発
    光装置。
  20. 【請求項20】TEモードおよびTMモードを発生する
    活性層を含む利得領域を挟んで、少なくともTEモード
    を吸収する吸収層を含む吸収領域と少なくともTMモー
    ドを吸収する吸収層を含む吸収領域とが光学的に結合さ
    れて形成された構成を有し、該吸収領域のTEモードを
    吸収する層が無歪みまたは圧縮歪みの井戸を有してお
    り、該吸収領域のTMモードを吸収する層が引っ張り歪
    みを有している半導体レーザ装置として構成されている
    請求項19記載の発光装置。
  21. 【請求項21】TEモードおよびTMモードを発生する
    利得領域の活性層の構成がバルク型活性層である請求項
    19または20記載の発光装置。
  22. 【請求項22】前記利得領域の活性層のTEモードを発
    生する層が無歪または圧縮歪み活性層であり、TMモー
    ドを発生する層が引っ張り歪み活性層である請求項19
    または20記載の発光装置。
  23. 【請求項23】前記利得領域がTEモードを発生する層
    とTMモードを発生する層を積層方向に独立に有してい
    る請求項22記載の発光装置。
  24. 【請求項24】前記利得領域のTEモードまたはTMモ
    ードの少なくとも一方の活性層構成と前記吸収領域の活
    性層構成が同じである請求項22または23記載の発光
    装置。
  25. 【請求項25】前記利得領域のTEモードまたはTMモ
    ードの少なくとも一方の吸収端が、前記吸収領域の活性
    層の吸収端より短波長側になる様に設定されている請求
    項19乃至24の何れかに記載の発光装置。
  26. 【請求項26】少なくとも一部に回折格子を有している
    半導体レーザ装置として構成されている請求項19乃至
    25の何れかに記載の発光装置。
  27. 【請求項27】位相調整領域を有している半導体レーザ
    装置として構成されている請求項19乃至26の何れか
    に記載の発光装置。
  28. 【請求項28】光増幅部を有している半導体レーザ装置
    として構成されている請求項19乃至27の何れかに記
    載の発光装置。
  29. 【請求項29】請求項1乃至28の何れかに記載の発光
    装置の変調方法において、前記吸収手段ないし吸収領域
    に逆方向電圧を加えることにより、該吸収手段ないし吸
    収領域へ入射してくるTEモード光またはTMモード光
    の一方を選択的に吸収することにより変調を行なうこと
    を特徴とする変調方法。
  30. 【請求項30】請求項1乃至28の何れかに記載の発光
    装置を有し、これを請求項29記載の変調方法により変
    調できる様に構成されていることを特徴とする光源装
    置。
  31. 【請求項31】請求項30記載の光源装置を備えた光送
    信機または送受信機、前記モード選択手段によって取り
    出された光を伝送する伝送手段、及び前記伝送手段によ
    って伝送された光を受信する光受信機または送受信機か
    らなることを特徴とする光通信システム。
  32. 【請求項32】請求項30記載の光源装置を用い、送信
    信号に応じて変調された電圧を前記発光装置の吸収手段
    ないし吸収領域に印加することによって、前記モード選
    択手段から送信信号に応じて強度変調された信号光を取
    り出し、この信号光を光受信機または送受信機に向けて
    送信することを特徴とする光通信方式。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010287667A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体レーザ及び半導体光変調器差動型半導体装置
JP2012074409A (ja) * 2010-09-27 2012-04-12 Fujitsu Ltd 光半導体素子
JP2017528769A (ja) * 2014-09-17 2017-09-28 華為技術有限公司Huawei Technologies Co.,Ltd. 光信号変調装置およびシステム

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