JPH11204726A - 集積回路装置モジュール - Google Patents
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Abstract
ける信号供給用の分岐信号線上での信号の干渉によるリ
ンギングを防止する。 【解決手段】本発明は、複数の集積回路装置を並列に搭
載したモジュールにおいて、マザーボード上の分岐信号
線の単位長さ当たりのインダクタンスを、分岐点から先
端部までの長さが長い分岐信号線では小さく、同長さが
短い分岐信号線では大きくして、各分岐信号線上の分岐
点と先端部間での供給信号の伝搬時間を同等にすること
を特徴とする。
Description
集積回路装置を搭載した集積回路装置モジュールに関
し、特に複数の集積回路装置に並列に信号を供給する信
号線上のリンギングを防止する新規な構成に関する。
回路装置を1枚の基板上に搭載してより大規模なモジュ
ール構成にして、マザーボード上に搭載されることがし
ばしば行われる。かかる集積回路モジュールは、搭載さ
れている複数の集積回路装置に対して、例えば、アドレ
ス信号や、コントロール信号や、クロック等の共通信号
が、基板上に形成され分岐された信号線を介して供給さ
れる。
ュールの平面図と一部信号線を示す図である。マザーボ
ード10の表面に、ドライバデバイス12と9つの半導
体メモリデバイス14〜30が搭載されている。また、
図示しないが、マザーボード10の裏面に、同様に9個
の半導体メモリデバイスが搭載されている。そして、マ
ザーボード10の外部端子32が、メインのマザーボー
ドのコネクタに接続される。
ばアドレス信号が、ドライバ12の出力端子N1から共
通信号線36及び分岐ノードN3で表面側の分岐信号線
38,40と裏面側の分岐信号線42,44を介して、
4つの群に分けられた合計18個のメモリデバイスに供
給される。出力端子N1と共通信号線36の一端N2と
の間に、ダンピング抵抗R1が接続される。また、ノー
ドN3から4方向に分岐した分岐信号線38,40.4
2.44には、メモリデバイスそれぞれの対応する入力
端子が接続される。
向に、複数のメモリデバイス等の集積回路装置14〜3
0が搭載されている。また、マザーボード10の裏面に
は、それらと同様の位置関係に、別の9個の集積回路装
置が搭載されている。従って、ドライバ装置12を長手
方向の中央部に搭載し、そこからの供給信号を、長手方
向の中央部に配置した供給信号線36及び分岐ノードN
3から、上下の長手方向に配した分岐信号線38,4
0,42,44に与えている。こうすることにより、で
きるだけ全てのメモリデバイスに対して、供給信号をシ
ンメトリに供給できるようにする。
38〜44の先端N4,N5,N6,N7での伝搬信号
の反射信号を考慮して設けられる。即ち、ドライバ12
の出力端子N1でのフルスイングの供給信号の振幅を、
ダンピング抵抗R1を設けることにより半分の振幅に
し、分岐信号線38〜44の先端部N4〜N7での反射
信号の重畳により、最終的に、分岐信号線上の電位がフ
ルスイングの電位にされる。即ち、供給信号は、出力端
子N1、ノードN2、分岐ノードN3を経て、それぞれ
の分岐信号線38〜44を伝搬する。そして、それぞれ
の分岐信号線の先端部N4〜N7で反射し、それぞれの
分岐信号線を経由して再度ノードN3に戻ってくる。
ら明らかな通り、必ずしも分岐信号線38〜44の長さ
は等しくない。これは、マザーボード10上に搭載され
るメモリデバイス等の集積回路装置14〜30の方向が
同じであるため、それぞれの対応する外部端子の位置関
係が、図1に示される通りマザーボードの上下で逆にな
るからである。その結果、マザーボード10の表面側で
いえば、ノードN3からそれぞれの先端部N4、N5ま
での距離が異なり、先端部に位置する集積回路装置に到
達する信号に時間差(スキュー)が発生する。この先端
部に達した供給信号は、先端部で反射して反対側の先端
部N4,N5にそれぞれ伝搬する。その結果、本来の供
給信号にスキューを持つ反射信号が重畳され、その位相
差を持つ反射信号同士の干渉により、リンギングと呼ば
れる振動波形が発生することが見いだされた。
ドN1〜N5でのシミュレーションによる信号波形を示
す図である。また、図3は、図2の最初の4nsecの
期間を時間軸に関して拡大した信号波形を示す図であ
る。図2の信号波形に示される通り、ドライバデバイス
12の出力端子N1では、短時間で立ち上がり、短時間
で立ち下がる振幅3Vのパルス信号である。それに対し
て、ノードN2は、ダンピング抵抗R1によりその立ち
上がりの傾きが1/2になっている。
により、出力端子N1の立ち上がりの傾きの半分の傾き
で半分の振幅1.5Vまで立ち上がる。図1のモジュー
ルは、供給信号の往復伝搬時間よりも立ち上がり時間の
ほうが短くなるように設計されているので、ノードN2
の電位は、一端1.5Vで静止する。その後、先端部N
4,N5からの反射信号が重畳されて、ノードN2の電
位は更に3Vまで上昇する。供給信号の立ち下がりも、
上記の立ち上がりと同様に、出力端子N1での3Vの立
ち下がりに対して、ノードN2では、ダンピング抵抗R
1により、一端1.5Vまで立ち下がってから、先端部
N4,N5での反射信号の重畳により、0Vまで立ち下
がる。
での距離は、先端部N4までのほうが短いので、先端部
N4での信号の立ち上がりが先行し、わずかなスキュー
の後に、先端部N5での信号が立ち上がる。先端部N
4,N5では、即、反射信号が重畳するので、ノードN
2の如き階段状の波形にはならず、実質的に出力端子N
1と同等の傾きで立ち上がり、立ち下がる。
信号のスキューにより、その後に反射してきた信号との
干渉により、図に示される通り、先端部N4,N5での
信号にリンギングが発生する。かかるリンギングは、先
端部N4,N5のメモリデバイス30(I)と14
(A)の入力信号の振動の原因となり、誤動作の原因と
なる。
信号に限らず、ドライバデバイス12から共通に供給さ
れるコントロール信号やクロック信号の場合も同様に発
生する。即ち、複数のロジックデバイスが搭載されるモ
ジュールの場合も、共通のコントロール信号やクロック
信号に振動の問題が発生する。
点を解決し、マザーボード上の分岐配線の長さの違いに
伴う、分岐配線の先端部に配置される集積回路装置の入
力信号の振動をなくすことができる集積回路装置モジュ
ールを提供することにある。
の先端部での反射信号どうしの干渉の問題を解決した集
積回路装置モジュールを提供することにある。
の先端部でのスキューをなくした集積回路装置モジュー
ルを提供することにある。
に発生する信号の干渉をなくした集積回路装置モジュー
ルを提供することにある。
に、本発明は、複数の集積回路装置を並列に搭載したモ
ジュールにおいて、マザーボード上の分岐信号線の単位
長さ当たりのインダクタンスを、分岐点から先端部まで
の長さが長い分岐信号線では小さく、同長さが短い分岐
信号線では大きくして、各分岐信号線上の分岐点と先端
部間での供給信号の伝搬時間を同等にすることを特徴と
する。
さの異なる分岐信号線に対して、分岐点から先端部まで
の長さが長い分岐信号線は、同長さが短い分岐信号線よ
りもその特性インピーダンスが小さく、その結果、各分
岐信号線上の分岐点から先端部間での信号の伝搬時間を
等しくすることを特徴とする。
い分岐信号線の幅よりも大きくする。その結果、長い分
岐信号線の単位長さ当たりのインダクタンスが短い分岐
信号線の単位長さ当たりのインダクタンスよりも小さく
なる。単純に信号線の幅を大きくすると、そのインダク
タンスは小さくなるが、同時にグランド等の電源配線層
に対向して形成される分岐信号線の容量も大きくなる。
しかし、分岐信号線には、かかる信号線容量よりも大き
い複数の集積回路装置の端子容量も接続されている。し
たがって、信号線容量が増大しても、端子容量も合わせ
た全体の容量値の増大の割合はそれほどでもない。した
がって、長い分岐信号線の幅を太くすることにより、そ
のインダクタンスを小さくして、分岐信号線の信号の伝
搬時間を短縮することができる。もちろん、短い分岐信
号線の幅を細くしてもよい。
して設けられるグランド等の電源配線層との対向面積
を、かかる短い分岐信号線では小さくした構造にする。
一方、長い分岐信号線は対向面積を大きくした構造とす
る。より具体的な構造は、短い分岐信号線に対向する電
源配線層を間欠的に除去した構成とする。一方、長い分
岐信号線に対向する電源配線層は連続的に形成されれた
構成とする。
における単位長さ当たりのインダクタンスが増大する。
その結果、その短い分岐信号線における信号伝搬時間は
長くなる。長い分岐信号線における信号伝搬遅延時間と
短い分岐信号線における信号伝搬時間とを同等にするこ
とで、反射信号による干渉を防止することができる。そ
の結果、従来の先端部での信号の振動の問題を解決する
ことができる。
の一部を強磁性物質を含む材料で形成する。より具体的
な例では、短い方の分岐信号線を、銅薄膜上に選択的に
Ni等の強磁性材料をメッキした構成とする。強磁性体
を付加することにより、短い方の分岐配線のインダクタ
ンスを大きくすることができる。
を接続する構成にする。即ち、マザーボードの表面側と
裏面側に形成される分岐信号線の先端部を接続して、ル
ープ状の形状にすることで、分岐点から分離した分岐信
号線は同じ長さのループ構造となる。その結果、同じ長
さのループ上の信号線を伝搬してきた信号どうしが干渉
しあうことがなくなり、従来の干渉によるリンギングの
問題を解決することができる。
集積回路装置が搭載される集積回路装置モジュールにお
いて、前記複数の集積回路が複数の群に分けられ、前記
マザーボードに設けられ、共通の分岐ノードからそれぞ
れの先端部まで延びて、前記集積回路装置の群それぞれ
に対して共通の信号を供給する複数の分岐信号線を有
し、前記複数の分岐信号線は、前記分岐ノードから先端
部まで第1の距離を有する第1の分岐信号線と、前記分
岐ノードから先端部まで前記第1の距離よりも短い第2
の分岐信号線とを有し、前記第1の分岐信号線の単位長
当たりのインダクタンスが前記第2の分岐信号線の単位
長当たりのインダクタンスよりも小さいことを特徴とす
る。
に複数の集積回路装置が搭載される集積回路装置モジュ
ールにおいて、前記複数の集積回路が複数の群に分けら
れ、前記マザーボードに設けられ、共通の分岐ノードか
らそれぞれの先端部まで延びて、集積回路装置の群それ
ぞれに対して共通の信号を供給する複数の分岐信号線を
有し、前記複数の分岐信号線は、前記分岐ノードから先
端部まで第1の距離を有する第1の分岐信号線と、前記
分岐ノードから先端部まで前記第1の距離よりも短い第
2の分岐信号線とを有し、前記第1及び第2の分岐信号
線の先端部が接続されて信号線ループを構成してなるこ
とを特徴とする。
ついて図面を参照して説明する。しかしながら、かかる
実施の形態例が本発明の技術的範囲を限定するものでは
ない。
積回路装置のモジュールの平面図である。図1と同じ部
分には同じ引用番号を付した。本実施の形態例では、モ
ジュールのマザーボード10の表面側に形成される分岐
信号線38,40に対して、ノードN3から先端N4,
N5までの距離が長い分岐信号線40の線幅を短い分岐
信号線38よりも太くして、その単位長さ当たりのイン
ダクタンスL0 を小さくする。同様に、マザーボード1
0の裏面側に形成される分岐信号線42,44(図中破
線)に対しても、ノードN3から先端N6,N7までの
距離が長い分岐信号線44の線幅を短い分岐信号線42
よりも太くして、その単位長さ当たりのインダクタンス
L0 を小さくする。
の等価回路図である。図5には、マザーボード10の表
面側の分岐信号線38,40が例として示される。ドラ
イバデバイス12の出力端子N1は、例えばトランジス
タ50,51からなるCMOSインバータ回路によりド
ライブされる。出力端子N1には、ダンピング抵抗R1
が直列に接続され、ノードN2に接続される。ノードN
2と分岐ノードN3との間には、共通信号線36が設け
られ、分岐ノードN3から、分岐信号線38と40に分
岐される。分岐信号線38,40それぞれの先端ノード
がN4,N5である。分岐信号線38,40は、その信
号線自体の持つインダクタンスL38、L 40と、図示しな
いマザーボード10内に形成されたシールド用のグラン
ド配線層(電源配線層)53との間の信号線容量C38,
C40とを有する。更に、分岐信号線38は、図4に示さ
れる通り、集積回路デバイス24,26,28,30の
それぞれの入力端子124,126,128,130に
接続され、それぞれの端子容量C124 、C126 、
C128 、C130 を有する。同様に、分岐信号線40は、
図4に示される通り、集積回路デバイス14,16,1
8,20,22のそれぞれの入力端子114,116,
118,120,122に接続され、それぞれの端子容
量C114 、C116 、C118 、C120 、C122 を有する。
での距離が長い分岐信号線40の信号線幅を、短い分岐
信号線38の線幅よりも太くすることにより、分岐信号
線40におけるインダクタンスL40を小さくすることが
できる。
時間Tdは、
ンピーダンスZ0 は、
ダクタンス、C0 は信号線の容量C38、C40、Cdは接
続される入力端子容量(C124 +C126 +C128 +C
130 、またはC114 +C116 +C118 +C120 +
C122 )である。
幅を太くすることにより、高周波の信号に対するインダ
クタンスL0 は、小さくなる。しかし、マザーボード内
のグランド配線53との間の信号線容量C0 は、逆に大
きくなる。但し、上記式(1)に示される通り、信号伝
搬時間Tdの容量成分は、信号線容量C0 に加えて端子
容量Cdを有する。通常信号線容量C0 に対して端子容
量Cdのほうが大きな値を持つ。したがって、分岐信号
線40の線幅を太くしてそのインダクタンスL 0 を小さ
くした場合、信号伝搬時間Tdの容量成分の増大の割合
はそれほど大きくない。したがって、上記の実施の形態
例の、分岐信号線40の線幅を太くすることにより、分
岐信号線40における分岐ノードN3から先端N5まで
の信号伝搬時間Tdを短くして、分岐信号線38と同等
にすることができる。
搬時間を示す図表である。この図表は、マザーボード1
0のグランド配線層53と分岐信号線との間の絶縁膜の
誘電率が4.4×10-11 F/m、膜厚が0.2mm
で、その分岐信号線38,40を例えば厚み60μmの
銅配線で構成した場合の例を示す。図表には、端子容量
Cd、信号線容量C0 、インダクタンスL0 、特性イン
ピーダンスZ0 (図5中参照)、端子容量Cdを考慮し
ない場合の信号伝搬時間Td、端子容量Cdを考慮した
場合の信号伝搬時間Tdlが示される。いずれも単位長
さ当たりの値である。
05mm、0.10mm、0.20mm、0.40mm
及び0.80mmとした時の、それぞれの値が示され
る。図表から明らかな通り、分岐信号線幅を太くするこ
とにより、インダクタンスL0を小さくすることがで
き、端子容量を考慮した信号伝搬時間Tdlの値がそれ
ぞれ小さくなることが理解される。
の分岐信号線38の線幅は0.10mmが選択され、長
さが約61mmの分岐信号線40の線幅は0.40mm
が選択される。その結果、単位長さ当たりの信号伝搬時
間Tdlは、それぞれ12.22ns/m、10.37
nsmとなる。その結果、それぞれの分岐信号線38,
40での信号伝搬時間は、 52mm×12.22ns/m=0.635ns 61mm×10.37ns/m=0.633ns と同程度の時間となることが確認される。
て、上記の分岐信号線幅を採用したモジュールにおけ
る、各ノードの信号波形図である。従来例の図2の信号
波形図に対応する。また、図8は、図7の最初の立ち上
がり時間の4nsecの期間を時間軸に関して拡大した
信号波形を示す図である。
すると明らかな通り、第1の実施の形態例では、先端ノ
ードまでの長さが長い分岐信号線40の線幅を太くし
て、そのインダクタンスL0 を小さくしたことで、両分
岐信号線38,40の信号伝搬時間が同等となった。そ
の結果、先端部のノードN4,N5での信号波形が、ほ
ぼ一致して、従来例の両信号のスキューがなくなった。
そして、それに伴い、両先端部でのリンギングによる振
動波形もなくなっている。また、ノードN3,N4,N
5の信号は、ほぼ同時に振幅3Vの半分の電圧1,5V
に達している。即ち、それぞれの集積回路装置14〜3
0のそれぞれの入力端子114〜130において、立ち
上がり信号及び立ち下がり信号は、ほぼ同時に電圧1.
5Vに達する。このことは、9個の集積回路装置14〜
30に対して、ほぼ同時に入力回路の閾値電圧近傍の信
号を供給することができることを意味する。
に、ダンピング抵抗R1によりノードN2の電圧は一端
1.5Vで止まり、反射信号により再度3.0Vまで上
昇している。
施の形態例の集積回路装置のモジュールの平面図であ
る。図9において、図1、図4と同じ部分には同じ引用
番号を付した。第2の実施の形態例では、モジュールの
マザーボード10内に形成されるグランド配線層53
を、短い分岐信号線38、42に対向する領域をスリッ
ト状に除去した構成をとる。その結果、短い分岐信号線
38,42に対向するグランド配線層53の面積は、長
い分岐信号線40,44よりも小さくなり、短い分岐信
号線38,42における単位長さ当たりのインダクタン
スL0 を大きくすることができる。図9中、それぞれ短
い方の分岐信号線38,42に沿って、複数の丸が示さ
れるのが、上記のグランド配線層をスリット状に除去し
た構成を示す。
ード10の断面図である。この例では、マザーボード1
0は、絶縁層52,54の間に、グランド配線層53が
形成され、絶縁層52の表面側に分岐信号線38が形成
され、絶縁層54の表面側(マザーボードの裏面)に分
岐信号線44が形成される。それぞれの分岐信号線3
8,44には、集積回路装置20,22,24等の端子
が接続される。
2,54の間に全面に形成され、分岐信号線間のシール
ド効果を提供し、分岐信号線と共に実質的にストリップ
ラインを構成する。その結果、高周波信号に対してイン
ピーダンス整合された信号線構造を提供することができ
る。
態例におけるマザーボード10の断面図である。また、
図12は、その一部平面図である。図11及び図12か
ら明らかな通り、第2の実施の形態例では、マザーボー
ド10内のグランド配線層53に対して、短い分岐信号
線38、44に対向する位置を、スリット状に除去す
る。図中60で示された部分が、除去された領域であ
る。かかる構成にすることにより、短い分岐信号線38
とグランド配線層53との間の絶縁層52の膜厚が実質
的に厚くなったことになる。一般に、ストリップライン
構造において、その絶縁膜(或いは誘電膜)の膜厚を大
きくすると、そのインダクタンスL0 が大きくなること
が知られている。また、それに伴い信号容量C0 は小さ
くなることが知られている。
り、短い分岐信号線におけるインダクタンスL0 の増大
は、その信号伝搬時間の増大を招く。上記の第1の実施
の形態例の場合と同様に、信号容量C0 は端子容量Cd
より小さいので、上記のグランド配線層53のスリット
構造60により信号容量C0 が小さくなっても、インダ
クタンスL0 の増大のほうが、信号伝搬時間Tdlの増
大に寄与する。その結果、短い分岐信号線38,42の
信号伝搬時間Tdlが大きくなり、適切なスリット構造
を選択することにより、分岐ノードN3から分岐する4
つの分岐信号線を伝搬する時間は、同程度になり、反射
波どうしの干渉によるリンギングは防止される。
時の信号伝搬時間が遅くなることを概念的に示す図であ
る。一般にストリップライン構造の場合、信号線38を
伝搬した信号は、対向するグランド配線53に沿って帰
還する。その場合、図9,図12の如くグランド配線層
53を部分的に除去(領域60)すると、その分帰還路
の迂回路が必要になる。このことからも、グランド配線
層53を部分的に除去することにより、信号の伝搬時間
が遅くなることが理解される。
例では、図1に示された様に、それぞれの分岐信号線の
線幅は同等であり、また、マザーボード内のグランド配
線層も特別のスリット構造は有しない。但し、短い分岐
信号線38,42は、銅等の導電性の薄膜で形成され、
更に強磁性体であるニッケルNi等のメッキ層が形成さ
れる。その結果、この短い方の分岐信号線38,42
は、強磁性体を有し、そのインダクタンスL0 を大きく
することができる。その結果、短い分岐信号線における
単位長さ当たりの信号伝搬時間Tdlは、長い分岐信号
線よりも長くなり、両分岐信号線での分岐ノードN3か
ら先端部までの伝搬時間は同程度となる。
の実施の形態例では、分岐信号線38〜44は全て先端
部で開放されている構造を前提に考えた。従って、開放
端での反射信号間の干渉の発生をなくす構造をそれぞれ
備えた。第4の実施の形態例では、分岐信号線の先端部
をそれぞれマザーボードの表面側と裏面側とで接続し
て、信号線ループの構成をとる。かかる信号線ループの
構成をとることにより、開放端での反射信号の問題を考
慮する必要はない。但し、分岐ノードN3から2つに分
かれる信号線ループでの信号伝搬時間を同程度にして、
信号線ループを伝搬して戻ってきた信号が、分岐ノード
N3で干渉しないようにする。即ち、同じ材料で同じ構
造であるならば、両信号線ループの長さを同じにするこ
とが必要である。
ードの平面図である。図4,9と同じ部分には同じ引用
番号を付している。第4の実施の形態例では、分岐ノー
ドN3から下側に分岐する表面側の分岐信号線38と裏
面側の分岐信号線44とを先端部で接続する。即ち、ノ
ードN4とノードN7との間を接続する追加の配線70
aとスルーホール70bとを形成することにより、分岐
信号線38,44とで、第1の信号線ループ70を形成
する。同様に、分岐ノードN3から上側に分岐する表面
側の分岐信号線40と裏面側の分岐信号線42とを先端
部で接続する。即ち、ノードN5とノードN6との間を
接続する追加の配線72aとスルーホール72bとを形
成することにより、分岐信号線40,42とで、第2の
信号線ループ72を形成する。両信号線ループ70,7
2は、分岐ノードN3に対して対称形であり、同じ長さ
である。
ある。図5と同じ部分には同じ引用番号を付した。図1
5に示される通り、分岐ノードN3の左側に、分岐信号
線38,追加の信号線70a及びスルーホール70bと
分岐信号線44により、第1の信号線ループ70が形成
される。同様に、分岐ノードN3の右側に、分岐信号線
40,追加の信号線72a及びスルーホール72bと分
岐信号線42により、第2の信号線ループ72が形成さ
れる。そして、両信号線ループ70,72は同じ特性イ
ンピーダンスであり同じ長さである。従って、分岐ノー
ドN3に供給された信号は、それぞれの信号線ループ7
0,72を時計回り及び反時計回りに伝搬し、それぞれ
のノードN4〜N7を通過して、再度分岐ノードN3に
戻る。即ち、先端ノードでの反射波の発生はない。そし
て、その伝搬時間は等しいので、ノードN3においてル
ープを伝搬してきた信号どうしが干渉しあうことはな
い。その結果、ノードN4〜N7でのリンギングによる
振動の問題は解決される。
数の集積回路装置をマザーボード上に並列に搭載したモ
ジュールにおいて、それぞれの集積回路装置に共通に信
号を供給する為の複数の分岐信号線での分岐点から先端
部までの信号伝搬時間を同程度にしたので、先端部で反
射する信号同士による干渉がなくなり、リンギングによ
る信号の振動を防止することができる。
ザーボード上に並列に搭載したモジュールにおいて、そ
れぞれの集積回路装置に共通に信号を供給する為の複数
の分岐信号線に関し、分岐点から先端までの長さが長い
分岐信号線の単位長さ当たりのインダクタンスを短い分
岐信号線よりも小さくしたので、両分岐信号線の伝搬時
間を同程度にして、位相ずれした反射波の干渉によるリ
ンギングの現象をなくすことができる。
置をマザーボード上に並列に搭載したモジュールにおい
て、それぞれの集積回路装置に共通に信号を供給する為
の複数の分岐信号線を先端部で接続して、信号線ループ
構造とした。その結果、先端部での信号の反射がなくな
り、且つ信号線ループの長さを同程度にしてループを帰
還してくる信号間の干渉をなくしたので、従来のリンギ
ングによる信号の振動をなくすことができる。
を示す図である。
でのシミュレーションによる信号波形を示す図である。
て拡大した信号波形を示す図である。
ルの平面図である。
である。
図表である。
波形図である。
間を時間軸に関して拡大した信号波形を示す図である。
ルの平面図である。
面図である。
0の断面図である。
0の一部平面図である。
時間が遅くなることを概念的に示す図である。
である。
Claims (9)
- 【請求項1】マザーボード上に複数の集積回路装置が搭
載される集積回路装置モジュールにおいて、 前記複数の集積回路が複数の群に分けられ、 前記マザーボードに設けられ、共通の分岐ノードからそ
れぞれの先端部まで延びて、前記集積回路装置の群それ
ぞれに対して共通の信号を供給する複数の分岐信号線を
有し、 前記複数の分岐信号線は、前記分岐ノードから先端部ま
で第1の距離を有する第1の分岐信号線と、前記分岐ノ
ードから先端部まで前記第1の距離よりも短い第2の分
岐信号線とを有し、前記第1の分岐信号線の単位長当た
りのインダクタンスが前記第2の分岐信号線の単位長当
たりのインダクタンスよりも小さいことを特徴とする集
積回路装置モジュール。 - 【請求項2】請求項1において、 前記第1の分岐信号線の線幅が、前記第2の分岐信号線
の線幅よりも太いことを特徴とする集積回路装置モジュ
ール。 - 【請求項3】請求項1において、 前記マザーボードは、前記分岐信号線に絶縁膜を介して
対向する位置に形成された電源配線層を有し、前記第1
の分岐信号線の対向する該電源配線層の単位長さ当たり
の対向面積が、前記第2の分岐信号線の対向面積よりも
大きいことを特徴とする集積回路装置モジュール。 - 【請求項4】請求項1において、 前記マザーボードは、前記分岐信号線に絶縁膜を介して
対向する位置に形成された電源配線層を有し、前記第2
の分岐信号線に対向する領域において、前記電源配線層
が除去されていることを特徴とする集積回路装置モジュ
ール。 - 【請求項5】請求項1において、 前記第2の分岐信号線の少なくとも一部がニッケル又は
それ以外の強磁性体物質を含む材料を有することを特徴
とする集積回路装置モジュール - 【請求項6】請求項1〜5において、 前記マザーボードは、更に前記共通の信号を出力するド
ライブデバイスを搭載し、前記ドライブデバイスが前記
共通のノードに前記共通の信号を出力することを特徴と
する集積回路装置モジュール。 - 【請求項7】マザーボード上に複数の集積回路装置が搭
載される集積回路装置モジュールにおいて、 前記複数の集積回路が複数の群に分けられ、 前記マザーボードに設けられ、共通の分岐ノードからそ
れぞれの先端部まで延びて、集積回路装置の群それぞれ
に対して共通の信号を供給する複数の分岐信号線を有
し、 前記複数の分岐信号線は、前記分岐ノードから先端部ま
で第1の距離を有する第1の分岐信号線と、前記分岐ノ
ードから先端部まで前記第1の距離よりも短い第2の分
岐信号線とを有し、前記第1及び第2の分岐信号線の先
端部が接続されて信号線ループを構成してなることを特
徴とする集積回路装置モジュール。 - 【請求項8】請求項7において、 前記信号線ループを複数有し、それら複数の信号線ルー
プの長さがほぼ同じであることを特徴とする集積回路装
置モジュール。 - 【請求項9】請求項7または8において、 前記マザーボードは、更に前記信号を出力するドライブ
デバイスを搭載し、前記ドライブデバイスが前記共通の
ノードに前記信号を出力することを特徴とする集積回路
装置モジュール。
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