JPH11202502A - Resist peeling treatment apparatus - Google Patents

Resist peeling treatment apparatus

Info

Publication number
JPH11202502A
JPH11202502A JP1769598A JP1769598A JPH11202502A JP H11202502 A JPH11202502 A JP H11202502A JP 1769598 A JP1769598 A JP 1769598A JP 1769598 A JP1769598 A JP 1769598A JP H11202502 A JPH11202502 A JP H11202502A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resist
section
washing
water
stripping
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1769598A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4028060B2 (en
Inventor
Takeshi Matsumoto
武司 松本
Nobuyuki Niwa
信之 丹羽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP1769598A priority Critical patent/JP4028060B2/en
Publication of JPH11202502A publication Critical patent/JPH11202502A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4028060B2 publication Critical patent/JP4028060B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus capable of efficiently executing a resist peeling treatment after sand blasting to execute patterning by spraying polishing sand to the paste film on a substrate via a mask of a prescribed shape consisting of a resist film and is capable of sufficiently dealing with quality. SOLUTION: This apparatus has a first washing section 120 for washing away the polishing sand remaining at the resist film by sand blasting, a resist peeling section 130 for peeling and removing the resist film washed in this first washing section 120 by a peeling liquid, a second washing section 140 for washing away the peeling liquid remaining at the substrate after peeling and removing in the resist peeling section 130, these sections being respectively discretely managable, and a third washing section 150. The first washing section 120 and the second washing section 140 respectively circulate and supply the water for washing via prescribed filters F0 to F5 for removing the polishing sand.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レジスト膜からな
る所定形状のマスクを用いて、基板上のペースト膜を切
削加工するサンドブラスト加工の後にレジスト膜を除去
するためのレジスト剥離処理装置に関するもので、特に
プラズマディスプレイパネル用の基板上に配設されたペ
ースト膜の加工をレジスト膜をマスクとして行うサンド
ブラスト加工の後に、レジストの剥離を行うためのレジ
スト剥離処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resist stripping apparatus for removing a resist film after sandblasting for cutting a paste film on a substrate using a mask having a predetermined shape made of a resist film. More particularly, the present invention relates to a resist stripping apparatus for stripping a resist after sandblasting in which a paste film provided on a substrate for a plasma display panel is processed using a resist film as a mask.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、プラズマディスプレイパネル(以
下PDPとも記す)は、その奥行きの薄いこと、軽量で
あること、更に鮮明な表示と液晶パネルに比べ視野角が
広いことにより、種々の表示装置に利用されつつある。
例えば、AC型のPDPは、例えば、図4に示すような
構造をしており、2枚の対向するガラス基板410、4
20にそれぞれ規則的に配列した一対の、バス電極であ
る金属電極450と透明電極440からなる複合電極と
アドレス480を設け、その間にネオン、キセノン等を
主体とするガスを封入した構造となっている。そして、
これらの電極間に電圧を印加し、電極周辺の微小なセル
内で放電を発生させることにより、各セルを発光させて
表示を行うようにしている。尚、図4はPDP構成斜視
図であるが、分かり易くするため前面板(ガラス基板4
10)、背面板(ガラス基板420)とを実際より離し
て示してある。また、DC型PDPにあっては、電極は
誘電体層で被膜されていない構造を有する点でAC型と
相違するが、その放電効果は同じである。また、図4に
示すものは、ガラス基板420の一面に下地層467を
設けその上に誘電体層465を設けた構造となっている
が、下地層467、誘電体層465は必ずしも必要とし
ない。
2. Description of the Related Art In recent years, plasma display panels (hereinafter, also referred to as PDPs) have been used in various display devices because of their small depth, light weight, clear display, and wide viewing angle compared to liquid crystal panels. It is being used.
For example, an AC type PDP has, for example, a structure as shown in FIG.
20, a pair of regularly arranged metal electrodes 450 as bus electrodes and a composite electrode composed of a transparent electrode 440 and an address 480 are provided, and a gas mainly containing neon, xenon or the like is sealed between them. I have. And
By applying a voltage between these electrodes and generating a discharge in minute cells around the electrodes, each cell emits light to perform display. FIG. 4 is a perspective view of the PDP structure.
10), the rear plate (glass substrate 420) is shown apart from the actual case. Further, the DC type PDP is different from the AC type in that the electrodes have a structure not coated with a dielectric layer, but the discharge effect is the same. 4 has a structure in which a base layer 467 is provided on one surface of a glass substrate 420 and a dielectric layer 465 is provided thereon, but the base layer 467 and the dielectric layer 465 are not necessarily required. .

【0003】そして、プラズマディスプレイ(PDP)
は、AC型の場合、例えば、図3に示すようにして、背
面板、前面板をそれぞれ別個の工程で作製し、両者を用
いてPDPをアセンブリして(S330)、作製してい
た。以下、PDP用の背面板、前面板の作製工程を簡単
に説明する。先ず、背面板の作製工程を説明する。はじ
めに、ガラス基板を用意し(S311)、ガラス基板に
厚膜印刷法により陰極用(電極配線用)ペーストを所定
パターンで印刷し、これを乾燥、焼成し、電極配線を形
成する。(S312) 次いで、このガラス基板の電極配線形成側上に障壁(バ
リアリブとも言う)を、印刷法ないしサンドブラスト法
により形成する。(S313) 印刷法の場合、ガラス基板に厚膜印刷法により障壁(バ
リアリブ)形成用ペーストを所定のパターンに印刷し、
これを乾燥する。障壁の層厚は厚く(例えば160〜2
00μmの厚さ)1回の厚膜印刷ではこの膜厚が得られ
ないため、障壁形成用ペーストの印刷および乾燥は複数
回行う。所定の膜厚が得られた後、ペーストの焼成がな
される。サンドブラスト法の場合は、障壁形成材料をガ
ラス基板上に塗布し、更にこの上に所定のレジストパタ
ーンを形成した後、研磨砂を吹きかけレジストパターン
に対応した形状に障壁形成材料を加工して、これを焼成
して障壁を形成する。更に、障壁が形成された基板に厚
膜印刷法により蛍光体用ペースト(例えば、酸化インジ
ウム含有の螢光体用ペースト)を所定パターンに印刷
し、次いでその乾燥及び焼成を行い(S314)、背面
板を形成する。(S315)
[0003] Plasma display (PDP)
In the case of the AC type, for example, as shown in FIG. 3, a back plate and a front plate are respectively manufactured in separate steps, and a PDP is assembled using both of them (S330). Hereinafter, a process of manufacturing a rear plate and a front plate for a PDP will be briefly described. First, the manufacturing process of the back plate will be described. First, a glass substrate is prepared (S311), and a paste for a cathode (for electrode wiring) is printed in a predetermined pattern on the glass substrate by a thick film printing method, and the paste is dried and fired to form electrode wiring. (S312) Next, a barrier (also referred to as a barrier rib) is formed on the electrode wiring formation side of the glass substrate by a printing method or a sandblast method. (S313) In the case of the printing method, a barrier (barrier rib) forming paste is printed in a predetermined pattern on a glass substrate by a thick film printing method.
This is dried. The thickness of the barrier is large (for example, 160-2
(Thickness of 00 μm) Since this film thickness cannot be obtained by one thick film printing, printing and drying of the barrier forming paste are performed a plurality of times. After a predetermined film thickness is obtained, the paste is fired. In the case of the sand blast method, a barrier forming material is applied on a glass substrate, and a predetermined resist pattern is further formed thereon. Then, abrasive sand is sprayed to process the barrier forming material into a shape corresponding to the resist pattern. Is fired to form a barrier. Further, a paste for a phosphor (for example, a paste for a phosphor containing indium oxide) is printed in a predetermined pattern on the substrate on which the barrier is formed by a thick film printing method, and then dried and fired (S314). Form a faceplate. (S315)

【0004】次に、前面板の作製工程を説明する。先
ず、ガラス基板を用意し(S321)、ガラス基板に例
えばITO(Indium Tin Oxide)の蒸
着層をパターニングする。(S321) パターニングは通常のフォトリソ工程(リゾグラフィー
技術)により行う。次いで、Cr−Cu−Cr(クロ
ム、銅、クロム)の3層を蒸着やスパッタリングにより
成膜し(S322)、同様にフォトリソ工程(リゾグラ
フィー技術)によりパターニングして、あるいは電極配
線用ペーストを所定パターンで印刷して、パターニング
されたITO膜とともに、放電用の電極配線を形成す
る。(S323) 次いで、ペースト状にした低融点ガラスのベタ印刷によ
り、透明誘電体層を形成して(S324)、前面板が得
られる。(S325)
[0004] Next, a process for manufacturing the front plate will be described. First, a glass substrate is prepared (S321), and a vapor deposition layer of, for example, ITO (Indium Tin Oxide) is patterned on the glass substrate. (S321) The patterning is performed by a normal photolithography process (lithography technology). Next, three layers of Cr-Cu-Cr (chromium, copper, chromium) are formed by vapor deposition or sputtering (S322), and similarly patterned by a photolithography process (lithography technique), or a paste for electrode wiring is formed in a predetermined manner. An electrode wiring for electric discharge is formed together with the patterned ITO film by printing with a pattern. (S323) Next, a transparent dielectric layer is formed by solid printing of a paste-like low melting point glass (S324), and a front plate is obtained. (S325)

【0005】上記、PDP用の背面板のサンドブラスト
法を用いた障壁の形成は、通常、図2に示すように行わ
れていた。これを以下簡単に説明しておく。まず、ガラ
ス基板310上に電極配線320、誘電体層330が形
成された基板315(図2(a))の誘電体層330上
に、障壁形成用のペースト340を塗布し、乾燥する。
(図2(b)) 次いで、ペースト340上に、レジスト350を形成し
(図2(c))、該レジスト350を所定のマスクにて
露光し、現像して、所定の絵柄にパターニングする。
(図2(d)) 通常、レジスト350の形成(図2(c))には、ベー
スフィルム上にレジストを形成し、カバーフィルムにて
覆った形態で市販されているドライフィルムレジストを
用い、カバーフィルムを剥がし、レジスト部をベースフ
ィルムとともに処理基板のペースト側にラミネートして
形成する方法が作業性の面から有利で採られている。現
像処理はベースフィルムを剥がした状態で行う。次い
で、リンス処理、エアーナイフ等による液切り処理、乾
燥処理を順次行い、パターニングされたレジスト350
をマスクとしてペースト340を研磨砂360を吹きつ
けて切削するサンドブラスト処理を行い(図2
(e))、レジスト350の絵柄に対応した形状に障壁
形成用のペーストを加工する。(図2(f)) 次いで、レジスト350を除去した後、ペーストの焼成
を行い、障壁370を形成する。(図2(g))
[0005] The formation of the barrier using the sandblasting method for the back plate for PDP is usually performed as shown in FIG. This will be briefly described below. First, a paste 340 for forming a barrier is applied on the dielectric layer 330 of the substrate 315 (FIG. 2A) in which the electrode wiring 320 and the dielectric layer 330 are formed on the glass substrate 310, and dried.
(FIG. 2B) Next, a resist 350 is formed on the paste 340 (FIG. 2C), and the resist 350 is exposed to light using a predetermined mask, developed, and patterned into a predetermined pattern.
(FIG. 2 (d)) Normally, in forming the resist 350 (FIG. 2 (c)), a commercially available dry film resist in which a resist is formed on a base film and covered with a cover film is used. A method of removing the cover film and laminating the resist portion together with the base film on the paste side of the processing substrate is advantageously employed from the viewpoint of workability. The development is performed with the base film removed. Subsequently, a rinsing process, a draining process using an air knife or the like, and a drying process are sequentially performed to form a patterned resist 350.
2 is used as a mask to perform a sandblasting process of cutting the paste 340 by blowing abrasive sand 360 (FIG. 2).
(E)) Processing the paste for forming a barrier into a shape corresponding to the pattern of the resist 350. (FIG. 2F) Next, after removing the resist 350, the paste is baked to form the barrier 370. (Fig. 2 (g))

【0006】しかし、サンドブラスト処理を施した後の
レジスト剥離処理については、レジストや、剥離液中に
研磨砂が付着ないし混入するため、その処理を効率的
に、且つ品質的にも十分対応できるように行うことが難
しく、特に量産する場合には大きな問題となっていた。
従来、この問題に対応して、サンドブラスト加工の直後
に、処理基板にノズルからエアーを吹きつける方法が採
られてきたが、基板および研磨砂のもつ静電気等の為、
十分な効果は得られなかった。
However, in the case of resist stripping after sandblasting, polishing sand adheres or mixes into the resist or stripping solution, so that the processing can be performed efficiently and sufficiently in terms of quality. In particular, it is a serious problem in mass production.
Conventionally, in response to this problem, a method has been adopted in which air is blown from a nozzle to a processing substrate immediately after sandblasting, but due to static electricity of the substrate and polishing sand, etc.
Sufficient effects were not obtained.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、PDP
用の基板におけるサンドブラスト加工においては、レジ
スト剥離処理を、効率的に、且つ品質的にも十分対応で
きるように行うことができるレジスト剥離処理装置が求
められていた。本発明は、これに対応するもので、レジ
スト膜からなる所定形状のマスクを介して、基板上のペ
ースト膜に研磨砂を吹きかけてペースト膜を切削加工す
ることによりペースト膜のパターニングを行うサンドブ
ラスト加工後に、レジスト膜を除去するためのレジスト
剥離処理装置であって、効率的にレジスト剥離処理を行
うことができ、且つ、品質的にも十分対応できるものを
提供しようとするものである。
As described above, the PDP
In sandblasting of a substrate for use, there has been a demand for a resist stripping apparatus capable of performing a resist stripping process efficiently and sufficiently in terms of quality. According to the present invention, a sandblasting process for patterning a paste film by blowing abrasive sand on the paste film on a substrate and cutting the paste film through a mask having a predetermined shape made of a resist film. It is an object of the present invention to provide a resist stripping apparatus for removing a resist film, which can efficiently perform a resist stripping process and can sufficiently cope with quality.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明のレジスト剥離処
理装置は、レジスト膜からなる所定形状のマスクを介し
て、基板上のペースト膜に研磨砂を吹きかけてペースト
膜を切削加工することによりペースト膜のパターニング
を行うサンドブラスト加工後に、レジスト膜を除去する
ための剥離装置であって、順に、サンドブラスト加工に
よりレジスト膜に残留した研磨砂を水洗除去するための
第1の水洗部と、該第1の水洗部にて水洗されたレジス
ト膜を剥離液により剥離除去するためのレジスト剥離部
と、レジスト剥離部にて剥離除去した後に基板に残留す
る剥離液を水洗除去するための、それぞれが個別に管理
できる第2の水洗部、第3の水洗部とを備えており、第
1の水洗部、第2の水洗部は、それぞれ、研磨砂を除去
するための所定のフィルターを介して、水洗用の水を循
環して供給するものであることを特徴するものである。
そして、上記において、第1の水洗部は、水貯め部を介
して水を循環使用するもので、且つ、循環使用する水の
順路とは別に、水貯め部からの水をフィルターを介して
水貯め部に戻すフィルタリング部を設けていることを特
徴とするものである。 そしてまた、上記において、レ
ジスト剥離部は、研磨砂を除去するための所定のフィル
ターを介して、剥離液を循環して供給するものであるこ
とを特徴するものである。また、上記において、レジス
ト剥離部、第2の水洗部には、それぞれ、レジスト剥離
に用いられた剥離液に含まれるレジスト粕を濾過するた
めの、あるいは、水洗に用いた水に含まれるレジスト粕
を濾過するためのステンレス等からなるメッシュを設け
ていることを特徴とするものである。また、上記におい
て、第1の水洗部とレジスト剥離部との間、およびレジ
スト剥離部と第2の水洗部との間に、それぞれ、水切り
用の、あるいは剥離液切り用の液切り部を設けているこ
とを特徴とするものである。また、上記における基板
が、プラズマディスプレイパネル(PDP)用の基板で
あることを特徴とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION A resist stripping apparatus of the present invention cuts a paste film by blowing abrasive sand on a paste film on a substrate through a mask having a predetermined shape made of a resist film. A stripping device for removing a resist film after sandblasting for patterning a film, the first washing unit for washing and removing polishing sand remaining on the resist film by sandblasting in order; A resist stripping section for stripping and removing the resist film washed with water in the washing section and a stripping solution remaining on the substrate after stripping and removing in the resist stripping section are each separately washed with water. A second flushing section and a third flushing section that can be managed are provided, and the first flushing section and the second flushing section are each provided with a predetermined flushing filter for removing abrasive sand. Via Iruta is for, characterized in that to supply the circulating water for washing.
In the above, the first rinsing section is for circulating water through the water storage section, and separates the water from the water storage section through the filter separately from the path of the circulating water. A filtering unit for returning to the storage unit is provided. Further, in the above, the resist stripper is characterized in that the stripper is circulated and supplied through a predetermined filter for removing abrasive sand. Further, in the above, the resist removing portion and the second washing portion are each provided with a resist residue contained in the removing liquid used for filtering the resist residue contained in the removing liquid used for the resist removing or the water used for the water washing. Characterized in that a mesh made of stainless steel or the like is provided for filtering the water. Further, in the above, a draining portion for draining or a draining portion for stripping liquid is provided between the first washing portion and the resist removing portion and between the resist removing portion and the second washing portion, respectively. It is characterized by having. Further, the substrate in the above is a substrate for a plasma display panel (PDP).

【0009】[0009]

【作用】本発明のレジスト剥離処理装置は、このような
構成にすることにより、レジスト膜からなるマスクを介
して基板上のペースト部をサンドブラスト加工した後に
レジスト膜を除去するためのレジスト剥離処理装置であ
って、効率的にレジスト剥離処理を行うことができ、且
つ、品質的にも十分対応できる装置の提供を可能として
いる。具体的には、順に、サンドブラスト加工によりレ
ジスト膜に残留した研磨砂を水洗除去するための第1の
水洗部と、該第1の水洗部にて水洗されたレジスト膜を
剥離液により剥離除去するためのレジスト剥離部と、レ
ジスト剥離部にて剥離除去した後に基板に残留する剥離
液を水洗除去するための、それぞれが個別に管理できる
第2の水洗部、第3の水洗部とを備えており、第1の水
洗部、第2の水洗部は、それぞれ、研磨砂を除去するた
めの所定のフィルターを介して、水洗用の水を循環して
供給するものであることにより、これを達成している。
そして、第1の水洗部は、水貯め部を介して水を循環使
用するもので、且つ、循環使用する水の順路とは別に、
水貯め部からの水をフィルターを介して水貯め部に戻す
フィルタリング部を設けていることにより、第1の水洗
部における循環量を大きくすることができ、量産に向い
たものとしている。また、レジスト剥離部は、研磨砂を
除去するための所定のフィルターを介して、剥離液を循
環して供給するものであることにより、研磨砂の除去を
より効率的なものとしている。また、レジスト剥離部、
第2の水洗部には、それぞれ、レジスト剥離に用いられ
た剥離液に含まれるレジスト粕を濾過するための、ある
いは、水洗に用いた水に含まれるレジスト粕を濾過する
ためのステンレス等からなるメッシュを設けていること
により、レジスト剥離処理を確実なものとしている。ま
た、第1の水洗部とレジスト剥離部との間、およびレジ
スト剥離部と第2の水洗部との間に、それぞれ、水切り
用の、あるいは剥離液切り用の液切り部を設けているこ
とにより、剥離液への水の混入、第2の水洗部の水への
剥離液の混入をできるだけ少なくしており、各はレジス
ト剥離部の処理、第2の水洗部での処理性を良いものと
できる。また、基板が、プラズマディスプレイパネル
(PDP)用の基板である場合には、量産性の面から特
に有効である。
According to the resist stripping apparatus of the present invention, a resist stripping apparatus for removing a resist film after sandblasting a paste portion on a substrate through a mask made of the resist film by adopting such a structure. However, it is possible to provide an apparatus that can efficiently perform the resist stripping process and that can sufficiently cope with the quality. Specifically, a first washing section for washing and removing polishing sand remaining on the resist film by sandblasting, and a resist film washed in the first washing section are sequentially stripped and removed by a stripping liquid. And a second rinsing unit and a third rinsing unit that can be individually managed for rinsing and removing the stripping solution remaining on the substrate after stripping and removing in the resist stripping unit. This is achieved by the first rinsing section and the second rinsing section, each of which circulates and supplies rinsing water through a predetermined filter for removing abrasive sand. doing.
And the 1st washing part is for circulating and using water through the water storage part, and, apart from the route of the circulating water,
By providing the filtering unit that returns the water from the water storage unit to the water storage unit via the filter, the circulation amount in the first washing unit can be increased, which is suitable for mass production. Further, the resist stripping section circulates and supplies the stripping solution through a predetermined filter for removing the polishing sand, thereby removing the polishing sand more efficiently. In addition, the resist stripping section,
Each of the second washing units is made of stainless steel or the like for filtering the resist residue contained in the stripping solution used for removing the resist, or for filtering the resist residue contained in the water used for the water washing. The provision of the mesh ensures the resist stripping process. Further, a draining part for draining or a draining part for stripping liquid is provided between the first washing part and the resist removing part and between the resist removing part and the second washing part, respectively. As a result, the mixing of water into the stripping solution and the mixing of the stripping solution into the water of the second rinsing section are minimized, and each has good processing of the resist stripping section and good processability in the second rinsing section. And can be. Further, when the substrate is a substrate for a plasma display panel (PDP), it is particularly effective in terms of mass productivity.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明のレジスト剥離処理装置の
実施の形態の1例を挙げて説明する。図1は実施の形態
の1例の構成を示す概略図である。図1(a)は装置の
前半部、図1(b)後半部を示すもので両者は一体とな
ったもので、図1(a)に示すP0 点と図1(b)に示
すP0 点とは同じ位置を示している。尚、図1は分かり
易くするため要部のみを簡略して図示したもので、処理
基板を制御するためのセンサーや、駆動部、各水貯め部
や剥離液貯め部への各液補充部等は省略して示してあ
る。また、図1中、点線矢印は処理基板210の進行方
向を示したものである。図1中、100はレジスト剥離
処理装置、110は投入部、120は第1の水洗部、1
21はノズル、122は水、123は水貯め部、125
は水切り部、127はエアー、130はレジスト剥離
部、131はノズル、132は剥離液、133は剥離液
貯め部、135は剥離液切り部、137はエアー、14
0は第2の水洗部、141はノズル、142は水、14
3は水貯め部、150は第3の水洗部、151はノズ
ル、152は水、153は水貯め部、160は第4の水
洗部、161はノズル、162は水、163は水貯め
部、170はエアーナイフ部(液切り処理部)、171
は吹きつけ部(ノズル)、172はエアー、180は乾
燥部、181は吹きつけ部(ノズル)、182はエア
ー、190は排出部、210は処理基板(背面板)、2
20は搬送用コロ(回転ロール)、225は押さえロー
ル部である。また、F0〜F7はフィルター、P0〜P
5はポンプ、D1〜D5は液排出部、BLはプローア、
H0はヒータ、C1はコンプレッサである。図1に示す
レジスト剥離処理装置100は、PDP用の背面板の一
面にペースト膜を設け、更にペースト膜上にレジスト膜
からなる所定形状のマスクを設けた状態で、該レジスト
膜からなる所定形状のマスクを介して、処理基板(背面
板)上のペースト膜に研磨砂を吹きかけてペースト膜を
切削加工する、サンドブラスト加工の後に、レジスト膜
を除去するためのレジスト剥離処理装置である。そし
て、順に、サンドブラスト加工された後の背面板(処理
基板210)を投入する投入部110と、サンドブラス
ト加工によりレジスト膜に残留した研磨砂を水洗除去す
るための第1の水洗部120と、水洗部にて付着した水
を切るための水切り部125と、第1の水洗部にて水洗
されたレジスト膜を剥離液により剥離除去するためのレ
ジスト剥離部130と、剥離液を切るための剥離液切り
部135、レジスト剥離部130にて剥離除去した後に
処理基板(背面板)210に残留する剥離液を水洗除去
するための、それぞれが個別に管理できる第2の水洗部
140、第3の水洗部150、第4の水洗部160、レ
ジスト剥離処理後の処理基板(背面板)210を排出す
る排出部190とを備えている。そして、サンドブラス
ト加工処理された処理基板210は、投入部110から
投入され、順に、各部で処理され、排出部190へと排
出される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A resist stripping apparatus according to the present invention will be described by way of an embodiment. FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an example of the embodiment. Front half of FIG. 1 (a) device, both in shows the FIG 1 (b) the second half portion in which is integral, P shown in P 0 point and FIG. 1 (b) shown in FIG. 1 (a) The point 0 indicates the same position. FIG. 1 is a simplified illustration of only essential parts for simplicity, and includes a sensor for controlling a processing substrate, a driving part, and a liquid replenishing part for each water storage part and stripping liquid storage part. Is abbreviated. Also, in FIG. 1, the dotted arrows indicate the traveling direction of the processing substrate 210. In FIG. 1, reference numeral 100 denotes a resist stripping apparatus, 110 denotes a charging unit, 120 denotes a first washing unit, 1
21 is a nozzle, 122 is water, 123 is a water reservoir, 125
Is a drainer, 127 is air, 130 is a resist stripper, 131 is a nozzle, 132 is a stripper, 133 is a stripper reservoir, 135 is a stripper drain, 137 is air, 14
0 is the second washing section, 141 is a nozzle, 142 is water, 14
3 is a water storage unit, 150 is a third washing unit, 151 is a nozzle, 152 is water, 153 is a water storage unit, 160 is a fourth washing unit, 161 is a nozzle, 162 is water, 163 is a water storage unit, 170 is an air knife section (liquid draining section), 171
Is a blowing unit (nozzle), 172 is air, 180 is a drying unit, 181 is a blowing unit (nozzle), 182 is air, 190 is a discharge unit, 210 is a processing substrate (back plate), 2
Reference numeral 20 denotes a transport roller (rotary roll), and reference numeral 225 denotes a pressing roll. F0-F7 are filters, P0-P
5 is a pump, D1 to D5 are a liquid discharge part, BL is a blower,
H0 is a heater, and C1 is a compressor. A resist stripping apparatus 100 shown in FIG. 1 has a structure in which a paste film is provided on one surface of a back plate for a PDP, and a mask having a predetermined shape is formed on the paste film. This is a resist stripping apparatus for removing a resist film after sand blasting by blowing abrasive sand on a paste film on a processing substrate (back plate) through the above mask. Then, in order, a charging unit 110 for charging the back plate (processed substrate 210) after the sand blasting, a first rinsing unit 120 for rinsing and removing polishing sand remaining on the resist film by the sand blasting, and a rinsing A draining section 125 for removing water adhering in the section, a resist stripping section 130 for stripping and removing the resist film washed in the first washing section with a stripping liquid, and a stripping solution for cutting off the stripping liquid A second washing unit 140, which can be individually managed, for washing and removing a stripping solution remaining on the processing substrate (back plate) 210 after stripping and removing by the cutting unit 135 and the resist stripping unit 130; The unit 150 includes a unit 150, a fourth washing unit 160, and a discharge unit 190 that discharges the processed substrate (back plate) 210 after the resist stripping process. Then, the processing substrate 210 subjected to the sandblasting processing is input from the input unit 110, processed by each unit in order, and discharged to the discharge unit 190.

【0011】第1の水洗部120、第2の水洗部140
は、それぞれ、サンドブラスト加工に用いる研磨砂を除
去するためのフィルターF1、あるいはF2を介して、
水洗用の水をポンプP1あるいはP2で循環して、ノズ
ル121あるいはノズル131へと供給するものであ
る。フィルターF1、F2の孔径は、サンドブラスト加
工に用いる研磨砂の大きさに対応して決める。研磨砂と
してアルミナ10〜15μm径のものを使用した場合に
は、孔径が5〜10μmのものを用いる。第3の水洗部
150、第4の水洗部160も同様に、それぞれ、フィ
ルターF3、F4を介して、ポンプP3、P4で循環し
て、ノズル151、161へと使用液を供給するもので
ある。フィルターF3、F4も研磨砂の径に対応して決
める。尚、上記フィルターに並列に同様のフィルターを
設けた液の流路(分岐路)を設け、且つ、フィルターの
前後にバルブを設け、該パルブを開閉してフィルター交
換を行うようにすると良い。こうすることにより、装置
を停止せずにフィルター交換ができる。レジスト剥離部
130も、同様に、サンドブラスト加工に用いる研磨砂
を除去するためのフィルターF5を介して、ポンプP5
で循環して、ノズル131へと剥離液を供給する。フィ
ルターF5の孔径も、サンドブラスト加工に用いる研磨
砂の大きさに対応して決める。また、同様に、フィルタ
ーF5に並列に同様のフィルターを設けた液の流路を設
けると良い。
First washing section 120, second washing section 140
Respectively, through a filter F1 or F2 for removing abrasive sand used for sandblasting,
The washing water is circulated by the pump P1 or P2 and supplied to the nozzle 121 or 131. The hole diameters of the filters F1 and F2 are determined according to the size of the sand used for sandblasting. When alumina having a diameter of 10 to 15 μm is used as the polishing sand, one having a pore diameter of 5 to 10 μm is used. Similarly, the third rinsing unit 150 and the fourth rinsing unit 160 circulate with the pumps P3 and P4 via the filters F3 and F4, respectively, and supply the working liquid to the nozzles 151 and 161. . The filters F3 and F4 are also determined according to the diameter of the sand. In addition, it is preferable to provide a liquid flow path (branch path) in which a similar filter is provided in parallel with the above-mentioned filter, and to provide a valve before and after the filter so that the filter is replaced by opening and closing the valve. In this way, the filter can be replaced without stopping the apparatus. Similarly, the resist peeling section 130 is also provided with a pump P5 through a filter F5 for removing abrasive sand used for sandblasting.
And the stripping liquid is supplied to the nozzle 131. The pore size of the filter F5 is also determined according to the size of the sand used for sandblasting. Similarly, it is preferable to provide a liquid flow path provided with a similar filter in parallel with the filter F5.

【0012】第1の水洗部は、サンドブラスト加工によ
り処理基板210に付着した研磨砂のほとんどを取り除
くためのもので、水洗で使用した水を貯める水貯め部1
23を設け、ここからフィルターF1を介して、ポンプ
1によりノズル122へと水を供給するが、ノズルへの
流路とは別に、水貯め部123からの水をポンプP0に
よりフィルターF0を介して、再度水貯め部123へと
循環させる流路、即ちフィルタリング部を設けている。
この流路(フィルタリング部)は、水貯め部123に溜
まった水に含まれる研磨砂を濾過するためのもで、必要
に応じ複数流路設ける。この流路においては、フィルタ
ー交換を流路の流れを止めずに行えるように、前述のよ
うな、フィルター部に並列な分岐路を設けておくと好ま
しい。
The first water washing section is for removing most of the polishing sand adhered to the processing substrate 210 by sandblasting, and is a water storage section 1 for storing water used in the water washing.
23 is provided, from which water is supplied to the nozzle 122 by the pump 1 via the filter F1, and separately from the flow path to the nozzle, water from the water storage unit 123 is supplied by the pump P0 via the filter F0. , A channel for circulating again to the water storage unit 123, that is, a filtering unit is provided.
This flow path (filtering section) is for filtering abrasive sand contained in the water stored in the water storage section 123, and a plurality of flow paths are provided as necessary. In this flow path, it is preferable to provide a branch path parallel to the filter section as described above so that the filter can be replaced without stopping the flow in the flow path.

【0013】水切り部125は、第1の水洗部120と
レジスト剥離部130との間に設けられ、エアー127
を吹きかけて処理基板に付着している水分を除去し、レ
ジスト剥離部130の剥離液への水の混入をできるだけ
防ぐもので、これにより、水混入による剥離液の剥離効
果の劣化をできるだけ防ぐことができる。尚、エアー1
27は、後述するエアーナイフ部(液切り部)170と
同様に、コンプレッサーによりフィルターを介して供給
される。
The draining section 125 is provided between the first washing section 120 and the resist stripping section 130, and is provided with air 127.
To remove water adhering to the processing substrate by spraying, and to prevent water from being mixed into the stripping solution of the resist stripping unit 130 as much as possible, thereby preventing deterioration of the stripping effect of the stripping solution due to water mixing as much as possible. Can be. Air 1
27 is supplied through a filter by a compressor, similarly to an air knife unit (liquid draining unit) 170 described later.

【0014】レジスト剥離部130は、サンドブラスト
加工の耐研磨砂マスクとなるレジストの剥離を行うため
のもので、ノズル131から剥離液132が処理基板2
10へ吹き付けられてレジストを溶解ないし膨潤して除
去するものである。ノズルから吹き付けられた剥離液は
ステンレス等からなるメッシュ134を介して剥離液貯
め部133へと集められ、再度、フィルターF5を介し
て、ポンプP5によりノズル131へと循環して使用さ
れる。尚、通常、剥離液が剥離性を良好な状態で維持す
るためには所定の温度に調整しておくことが必要であ
る。このため、剥離液貯め部133に貯められた液を所
定の温度に調整する温度調整機構を設けておくことが好
ましい。
The resist stripping section 130 is for stripping the resist, which becomes a sand blasting-resistant sand mask, and the stripping liquid 132 is supplied from the nozzle 131 to the processing substrate 2.
The resist is dissolved or swelled by spraying on the resist to remove the resist. The stripping solution sprayed from the nozzle is collected in the stripping solution storage 133 via the mesh 134 made of stainless steel or the like, and is again circulated to the nozzle 131 by the pump P5 through the filter F5 and used. Normally, it is necessary to adjust the temperature to a predetermined temperature in order for the stripping liquid to maintain a good stripping property. For this reason, it is preferable to provide a temperature adjustment mechanism for adjusting the liquid stored in the stripping liquid storage 133 to a predetermined temperature.

【0015】剥離液切り部135は、レジスト剥離部1
30と第2の水洗部140との間に設けられ、エアー1
37を吹きかけて処理基板に付着している剥離液を除去
し、第2の水洗部140の水への剥離液の混入をできる
だけ防ぐもので、これにより、剥離液混入による水の水
洗効果の劣化をできるだけ防ぐことができる。尚、エア
ー137は、後述するエアーナイフ部(液切り部)17
0と同様に、コンプレッサーによりフィルターを介し供
給される。
The stripper removing section 135 is provided with a resist stripper 1
30 and the second washing section 140, the air 1
37 is applied to remove the stripping solution adhering to the processing substrate, and to prevent the mixing of the stripping solution into the water of the second washing section 140 as much as possible, thereby deteriorating the water washing effect due to the mixing of the stripping solution. Can be prevented as much as possible. The air 137 is supplied to an air knife (liquid drain) 17 described later.
Like 0, supplied by a compressor through a filter.

【0016】第3の水洗部150、第4の水洗部160
は、処理基板210の水洗をより完璧なものとするため
のものである。
Third washing section 150, fourth washing section 160
Is to make the washing of the processing substrate 210 more perfect.

【0017】エアーナイフ部(液切り部)170は、第
4の水洗部160後に、吹き付け部(ノズル)171か
らエアー172を圧をかけて処理基板2210に吹きつ
け、付着した水分をを吹き飛ばして除去するものであ
り、引き続く、乾燥部180の温風あるいは熱風のエア
ー182の処理基板への吹きつけと合わせ、処理基板の
乾燥を行うものである。コンプレッサーC1により、フ
ィルターF7を介して、吹き付け部(ノズル)171へ
とエアー172が供給される。乾燥部180は、エアー
ナイフ部(液切り部)170にて水分が飛ばされた処理
基板210に、温風あるいは熱風のエアー182を吹き
付け部(ノズル)181から吹きつけて、これを乾燥す
るものである。温風あるいは熱風のエアー182はプロ
ーアBLにより、ヒータH0を介して吹き付け部(ノズ
ル)181へと供給される。
After the fourth washing section 160, the air knife section (liquid drain section) 170 blows air 172 from a spray section (nozzle) 171 by applying pressure to the processing substrate 2210 to blow off attached moisture. The processing substrate is dried in combination with the subsequent blowing of hot air or hot air from the drying unit 180 with the air 182 to the processing substrate. Air 172 is supplied to the spraying part (nozzle) 171 via the filter F7 by the compressor C1. The drying unit 180 blows hot or hot air 182 from a blowing unit (nozzle) 181 onto the processing substrate 210 from which moisture has been blown off by the air knife unit (liquid removing unit) 170 to dry the processing substrate 210. It is. The air 182 of hot air or hot air is supplied to a blowing unit (nozzle) 181 by a blower BL via a heater H0.

【0018】処理基板210は、前述の通り、PDP用
の背面板の障壁の加工をレジスト膜をマスクとしたサン
ドブラスト加工にて施した後のもので、図2(f)に示
すようにレジスト膜350を付着した状態のものであ
る。障壁形成用のペースト膜の材料としては、焼成過程
で軟化しないアルミナ、ジルコニアなどの無機粉体と、
焼成過程で流動して固着するための低融点ガラス粉末
と、さらに焼成前のこれら粉体を塗膜化するために焼成
により気化、燃焼、分解等をして消失し得る樹脂とを少
量含んだものが用いられる。サンドブラスト加工用の研
磨砂としては、アルミナ10〜15μmが一般的に使用
されるが、これに限定はされない。障壁形成用のペース
ト膜の材料の1例を以下に示しておく。これは、下記の
〜の材料を混合して作製したものである。 (ペースト膜の材料) ガラスフリット :MB−10A(松浪硝子工業株式会社製、d50=2.6 μm)64部 フィラー(骨材):WA#8000(フジインコーボレーティッド製、d50 =1.0μm)7部 顔料 :ダイピロキサイドブラック#9510(大日本精化工業 株式会社製)8部 樹脂 :エトセルSTD−100FP(ダウケミカル株式会社製 )2部 溶剤 :ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート( 純正化学株式会社製)9部 スクリーンオイル759(奥野製薬株式製)9部 尚、これらを均一に混合した後、三本ロールミルにて混
練してペーストを作製した。また、部は重量部を意味す
る。レジストとしては、ベースフィルム上にレジストを
配設し、更にこの上にカバーフィルムを設けた形態で市
販されているドライフィルムのレジストを用いるのが作
業性や装置面から有利であるが、これに限定はされな
い。ドライフィルムレジストとしては、日本合成化学工
業株式会社製のNCP225等が挙げられるが、その種
類もこれに限定はされない。
As described above, the processing substrate 210 is obtained by subjecting the barrier of the back plate for PDP to sandblasting using a resist film as a mask, as shown in FIG. 2 (f). In this state, 350 is attached. As the material of the paste film for forming the barrier, inorganic powders such as alumina and zirconia that do not soften during the firing process,
It contained a small amount of low melting point glass powder for flowing and fixing during the firing process, and a resin that could be evaporated, burned, decomposed, etc. by firing to form a film of these powders before firing. Things are used. As abrasive sand for sandblasting, alumina of 10 to 15 μm is generally used, but is not limited thereto. One example of the material of the paste film for forming the barrier is shown below. This was prepared by mixing the following materials. (Material paste layer) Glass frit: MB-10A (manufactured by Matsunami Glass Industry Co., Ltd., d 50 = 2.6 μm) 64 parts filler (aggregate): WA # 8000 (Fuji-in Kobo Retiddo made, d 50 = 1 0.0 μm) 7 parts Pigment: Dipoxide Black # 9510 (manufactured by Dainippon Seika Kogyo Co., Ltd.) 8 parts Resin: Ethocel STD-100FP (manufactured by Dow Chemical Co., Ltd.) 2 parts Solvent: diethylene glycol monobutyl ether acetate (JUNSEI CHEMICAL CO., LTD.) 9 parts Screen oil 759 (manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) 9 parts After these were uniformly mixed, they were kneaded with a three-roll mill to prepare a paste. Parts mean parts by weight. As the resist, it is advantageous in terms of workability and equipment to use a dry film resist that is commercially available in a form in which a resist is provided on a base film and a cover film is further provided thereon. There is no limitation. Examples of the dry film resist include NCP225 manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd., but the type is not limited thereto.

【0019】上記レジストを用いた場合の剥離液(図1
の132)としては、5wt%以下の水酸化ナトリウム
水溶液が30〜50°Cで使用される。
Stripping solution using the above resist (FIG. 1)
132), a 5 wt% or less aqueous sodium hydroxide solution is used at 30 to 50 ° C.

【0020】図1に示す、各処理部の条件については、
処理基板210に用いられる障壁形成用ペーストの材料
や、レジスト膜の材料や、処理基板210の搬送速度、
その他の条件により、適宜決める必要がある。
The conditions of each processing unit shown in FIG.
The material of the barrier forming paste used for the processing substrate 210, the material of the resist film, the transport speed of the processing substrate 210,
It must be determined as appropriate depending on other conditions.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明は、上記のように、レジスト膜か
らなる所定形状のマスクを介して、基板上のペースト膜
に研磨砂を吹きかけてペースト膜を切削加工することに
よりペースト膜のパターニングを行うサンドブラスト加
工後に、レジスト膜を除去するための剥離装置におい
て、効率的にレジスト剥離処理を行うことができ、且
つ、品質的にも十分対応できるレジスト剥離処理装置の
提供を可能とした。特に、PDP用の基板の、サンドブ
ラスト加工後の処理に用いた場合には有効で、結果、量
産にも対応できるものとした。
As described above, according to the present invention, the paste film is patterned by blowing abrasive sand on the paste film on the substrate through a mask of a predetermined shape made of a resist film to cut the paste film. After the sandblasting performed, in a stripping device for removing a resist film, it is possible to provide a resist stripping device capable of efficiently performing a resist stripping process and sufficiently coping with quality. In particular, the present invention is effective when used for processing of a PDP substrate after sandblasting, and as a result, can be used for mass production.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のレジスト剥離装置の実施の形態の1例
を示した概略構成図
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an example of an embodiment of a resist stripping apparatus of the present invention.

【図2】障壁形成工程図FIG. 2 is a process diagram of forming a barrier.

【図3】PDP用基板の作製方法を説明するための工程
FIG. 3 is a process chart for explaining a method of manufacturing a PDP substrate.

【図4】PDPを説明するための斜視図FIG. 4 is a perspective view for explaining a PDP.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 レジスト剥離処理装置 110 投入部 120 第1の水洗部 121 ノズル 122 水 123 水貯め部 125 水切り部 127 エアー 130 レジスト剥離部 131 ノズル 132 剥離液 133 剥離液貯め部 135 剥離液切り部 137 エアー 140 第2の水洗部 141 ノズル 142 水 143 水貯め部 150 第3の水洗部 151 ノズル 152 水 153 水貯め部 160 第4の水洗部 161 ノズル 162 水 163 水貯め部 170 エアーナイフ部(液切り処
理部) 180 乾燥部 190 排出部 210 処理基板(背面板) 220 搬送用コロ(回転ロール) 225 押さえロール部 F0〜F5、F7 フィルター P0〜P5 ポンプ D1〜D5 液排出部 BL プローア H0 ヒータ C1 コンプレッサ
REFERENCE SIGNS LIST 100 resist stripping apparatus 110 feeding section 120 first washing section 121 nozzle 122 water 123 water storage section 125 draining section 127 air 130 resist stripping section 131 nozzle 132 stripping liquid 133 stripping liquid storage section 135 stripping liquid cutting section 137 air 140 th 2 washing section 141 nozzle 142 water 143 water storage section 150 third washing section 151 nozzle 152 water 153 water storage section 160 fourth washing section 161 nozzle 162 water 163 water storage section 170 air knife section (liquid cutting section) 180 Drying unit 190 Discharge unit 210 Processing substrate (back plate) 220 Roller for conveyance (rotary roll) 225 Press roll unit F0 to F5, F7 Filter P0 to P5 Pump D1 to D5 Liquid discharge unit BL Prower H0 Heater C1 Compressor

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レジスト膜からなる所定形状のマスクを
介して、基板上のペースト膜に研磨砂を吹きかけてペー
スト膜を切削加工することによりペースト膜のパターニ
ングを行うサンドブラスト加工後に、レジスト膜を除去
するための剥離装置であって、順に、サンドブラスト加
工によりレジスト膜に残留した研磨砂を水洗除去するた
めの第1の水洗部と、該第1の水洗部にて水洗されたレ
ジスト膜を剥離液により剥離除去するためのレジスト剥
離部と、レジスト剥離部にて剥離除去した後に基板に残
留する剥離液を水洗除去するための、それぞれが個別に
管理できる第2の水洗部、第3の水洗部とを備えてお
り、第1の水洗部、第2の水洗部は、それぞれ、研磨砂
を除去するための所定のフィルターを介して、水洗用の
水を循環して供給するものであることを特徴するレジス
ト剥離処理装置。
1. A method for removing a resist film after sandblasting for patterning the paste film by blowing abrasive sand on the paste film on a substrate through a mask having a predetermined shape made of a resist film to cut the paste film. A first washing section for washing and removing polishing sand remaining on the resist film by sandblasting, and a stripping solution for removing the resist film washed with water in the first washing section. A second water washing unit and a third water washing unit, each of which can be individually managed to wash and remove a stripping solution remaining on the substrate after the film is stripped and removed by the resist stripping unit. The first washing section and the second washing section each circulate and supply washing water via a predetermined filter for removing abrasive sand. A resist stripping apparatus characterized in that:
【請求項2】 請求項1において、第1の水洗部は、水
貯め部を介して水を循環使用するもので、且つ、循環使
用する水の順路とは別に、水貯め部からの水をフィルタ
ーを介して水貯め部に戻すフィルタリング部を設けてい
ることを特徴とするレジスト剥離処理装置。
2. The first washing section according to claim 1, wherein the first rinsing section circulates and uses the water through the water storing section, and separates the water from the water storing section separately from a route of the circulating water. A resist stripping apparatus, further comprising a filtering unit for returning to a water storage unit via a filter.
【請求項3】 請求項1ないし2において、レジスト剥
離部は、研磨砂を除去するための所定のフィルターを介
して、剥離液を循環して供給するものであることを特徴
するレジスト剥離処理装置。
3. A resist stripping apparatus according to claim 1, wherein the resist stripping section circulates and feeds a stripping solution through a predetermined filter for removing abrasive sand. .
【請求項4】 請求項1ないし3において、レジスト剥
離部、第2の水洗部には、それぞれ、レジスト剥離に用
いられた剥離液に含まれるレジスト粕を濾過するため
の、あるいは、水洗に用いた水に含まれるレジスト粕を
濾過するためのステンレス等からなるメッシュを設けて
いることを特徴とするレジスト剥離処理装置。
4. The resist stripping section according to claim 1, wherein the resist stripping section and the second washing section are each used for filtering a resist residue contained in a stripping solution used for resist stripping or for washing with water. A resist stripping apparatus characterized in that a mesh made of stainless steel or the like is provided for filtering resist residue contained in waste water.
【請求項5】 請求項1ないし4において、第1の水洗
部とレジスト剥離部との間、およびレジスト剥離部と第
2の水洗部との間に、それぞれ、水切り用の、あるいは
剥離液切り用の液切り部を設けていることを特徴とする
レジスト剥離処理装置。
5. The method according to claim 1, wherein the first water-washing part and the resist-peeling part, and the resist-water-peeling part and the second water-washing part are drained or stripped, respectively. A resist stripping treatment device provided with a liquid drainage section for use.
【請求項6】 請求項1ないし5における基板が、プラ
ズマディスプレイパネル用の基板であることを特徴とす
るレジスト剥離処理装置。
6. A resist stripping apparatus according to claim 1, wherein the substrate is a substrate for a plasma display panel.
JP1769598A 1998-01-14 1998-01-14 Resist stripping equipment Expired - Fee Related JP4028060B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1769598A JP4028060B2 (en) 1998-01-14 1998-01-14 Resist stripping equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1769598A JP4028060B2 (en) 1998-01-14 1998-01-14 Resist stripping equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11202502A true JPH11202502A (en) 1999-07-30
JP4028060B2 JP4028060B2 (en) 2007-12-26

Family

ID=11950948

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1769598A Expired - Fee Related JP4028060B2 (en) 1998-01-14 1998-01-14 Resist stripping equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4028060B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001316854A (en) * 2000-04-28 2001-11-16 Shin Sti Technology Kk Device for removing peeling solution on etched substrate
JP2005251739A (en) * 2004-02-03 2005-09-15 Toray Ind Inc Repair method and repair tool
KR100761821B1 (en) 2006-07-24 2007-09-28 다이섹(주) The manufacturing method of wafer stage
EP1843208A2 (en) * 2006-04-05 2007-10-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Photoresist stripping apparatus, method of recycling photoresist stripper, and method of manufacturing thin film transistor array panel using the photoresist stripping apparatus

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001316854A (en) * 2000-04-28 2001-11-16 Shin Sti Technology Kk Device for removing peeling solution on etched substrate
JP4528415B2 (en) * 2000-04-28 2010-08-18 住友化学株式会社 Stripping solution removal method for etching substrate
JP2005251739A (en) * 2004-02-03 2005-09-15 Toray Ind Inc Repair method and repair tool
EP1843208A2 (en) * 2006-04-05 2007-10-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Photoresist stripping apparatus, method of recycling photoresist stripper, and method of manufacturing thin film transistor array panel using the photoresist stripping apparatus
EP1843208A3 (en) * 2006-04-05 2011-09-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Photoresist stripping apparatus, method of recycling photoresist stripper, and method of manufacturing thin film transistor array panel using the photoresist stripping apparatus
KR100761821B1 (en) 2006-07-24 2007-09-28 다이섹(주) The manufacturing method of wafer stage

Also Published As

Publication number Publication date
JP4028060B2 (en) 2007-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH11202502A (en) Resist peeling treatment apparatus
JP2007026960A (en) Manufacturing method of plasma display panel
JP3993272B2 (en) Thick film pattern forming method
JP4225800B2 (en) Electrode formation method for plasma display panel
KR100232593B1 (en) Etching system for plasma display panel and method thereof
JP3412613B2 (en) Apparatus and method for manufacturing plasma display device and plasma display device
KR100274031B1 (en) The recycle method for pdp's galss
JP2004006174A (en) Manufacturing method of plasma display device
JP4146879B2 (en) Thick film pattern film peeling device
JP2004006177A (en) Manufacturing method of plasma display device
JPH11345568A (en) Developing device
JP2004006176A (en) Manufacturing method of plasma display device
JP2000215795A (en) Manufacture of plasma display panel
JPH11204025A (en) Resist development apparatus
KR100267572B1 (en) Dry film separation apparatus for plasma display panel manufacturing system
KR100237208B1 (en) Developing system and developing method for pdp
KR100251156B1 (en) Exfoliation system for manufacturing plasma display panel
JP2007250283A (en) Method of manufacturing plasma display panel, and plasma display panel
KR100287729B1 (en) Viewing electrode manufacturing method for Plasma Display Panel
JP2004006180A (en) Manufacturing method of plasma display device
JP2004006178A (en) Manufacturing method of plasma display device
KR100237209B1 (en) Etching system for plasma display panel
JP2002324482A (en) Wet treating device
JP4055479B2 (en) Method for manufacturing plasma display device
KR100237207B1 (en) Etching system and etching metho for pdp

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041227

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070918

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071011

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees