JPH11186365A - Apparatus for treatment substrate - Google Patents

Apparatus for treatment substrate

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JPH11186365A
JPH11186365A JP36710497A JP36710497A JPH11186365A JP H11186365 A JPH11186365 A JP H11186365A JP 36710497 A JP36710497 A JP 36710497A JP 36710497 A JP36710497 A JP 36710497A JP H11186365 A JPH11186365 A JP H11186365A
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unit
processing
flow
group
substrate
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Satoshi Yamamoto
聡 山本
Tetsuya Hamada
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily find intended treatment conditions by grouping the treating conditions and storing them. SOLUTION: An apparatus comprises a substrate treating unit and external magnetic memory for storing treating recipes. This memory has a flow process data 300 and unit process data 350. The unit process data 350 is classified in a spin coater unit process data 310, hot plate unit process data 320, and cleaning plate unit process data 330 every category showing the kind of process in treating units. The flow process data 300 is composed of flow groups having 990 flow treating conditions. The spin coater unit process data 310, hot plate unit process data 320 and cleaning plate unit process data 330 have also 990 pieces of unit treating conditions.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、複数の処理ユニ
ットから構成される基板処理装置の技術に関し、特に、
各処理ユニットにおける処理条件を任意に組み合わせた
一連の処理条件に従って基板の処理を行う技術に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technology of a substrate processing apparatus composed of a plurality of processing units.
The present invention relates to a technique for processing a substrate according to a series of processing conditions obtained by arbitrarily combining processing conditions in each processing unit.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体基板、フォトマスク用のガラス基
板、液晶表示装置用のガラス基板、光ディスク用の基板
等の基板の処理を行なうための基板処理装置において
は、各種の処理を行う複数の処理ユニットが組み合わさ
れている。例えば、半導体基板にフォトレジストを塗布
する工程で用いられる半導体基板処理装置は、スピンコ
ータや、ホットプレート、クーリングプレートなどの複
数の処理ユニットから構成されている。通常、それぞれ
の処理ユニットにおけるユニット処理条件については、
ユーザがユニット毎に予め設定する。また、基板をどの
ユニットで処理するのか、およびどのような順序で基板
をユニットに搬送するかを示すフロー処理条件もユーザ
が予め設定する。こうして設定されたユニット処理条件
とフロー処理条件とに従って、一連の処理が実行され
る。
2. Description of the Related Art In a substrate processing apparatus for processing substrates such as a semiconductor substrate, a glass substrate for a photomask, a glass substrate for a liquid crystal display device, and a substrate for an optical disk, a plurality of processes for performing various processes are performed. Units are combined. For example, a semiconductor substrate processing apparatus used in a process of applying a photoresist to a semiconductor substrate includes a plurality of processing units such as a spin coater, a hot plate, and a cooling plate. Normally, regarding the unit processing conditions in each processing unit,
The user sets in advance for each unit. In addition, the user also sets in advance the flow processing conditions indicating in which unit the substrate is to be processed and in what order the substrate is transported to the unit. A series of processes is executed according to the unit processing conditions and the flow processing conditions set in this way.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の基板処
理装置は、ユニット毎のユニット処理条件が多数存在す
る場合、特定のフロー処理条件を設定するときに、その
ユニット処理条件を容易に探し出すことができないとい
う問題があった。また、フロー処理条件が多数存在する
場合にも、同様に、目的のフロー処理条件を容易に探し
出すことができないという問題があった。さらに、他人
に変更あるいは消去されたくないユニット処理条件およ
びフロー処理条件がある場合に、その管理を的確に行え
ないという問題があった。
However, in a conventional substrate processing apparatus, when there are a large number of unit processing conditions for each unit, when setting a specific flow processing condition, the unit processing condition can be easily searched for. There was a problem that can not be. Further, even when there are many flow processing conditions, similarly, there is a problem that a target flow processing condition cannot be easily found. Furthermore, when there is a unit processing condition and a flow processing condition that another person does not want to change or delete, there is a problem that the management cannot be performed accurately.

【0004】この発明は、従来技術における上述の課題
を解決するためになされたものであり、基板処理装置に
おいて処理条件が多数存在する場合に、目的の処理条件
を容易に探し出せるようにするための技術を提供するこ
とを第1の目的とする。また、処理条件の管理を的確に
行えるようにするための技術を提供することを第2の目
的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems in the prior art, and is intended to make it possible to easily find a target processing condition when there are many processing conditions in a substrate processing apparatus. A primary purpose is to provide technology. It is a second object of the present invention to provide a technique for appropriately managing processing conditions.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】上
述の課題の少なくとも一部を解決するため、本発明の基
板処理装置は、基板を処理するための複数の処理ユニッ
トと、前記複数の処理ユニットにおけるユニット処理条
件と、基板を前記複数の処理ユニットのいくつかに順次
搬送してゆく順序を示すフロー処理条件と、を含む処理
レシピを記憶する処理条件記憶手段と、を備え前記複数
のユニット処理条件は、処理ユニットにおける処理の種
類を示すカテゴリ毎に分類されているとともに、各カテ
ゴリに関する複数のユニット処理条件は、さらに、それ
ぞれ複数のユニット処理条件を含む複数のユニットグル
ープに区分されており、前記複数のフロー処理条件は、
それぞれ複数のフロー処理条件を含む複数のフローグル
ープに区分されていることを特徴とする。
In order to solve at least a part of the above-mentioned problems, a substrate processing apparatus according to the present invention comprises a plurality of processing units for processing a substrate, and a plurality of processing units. A processing condition storage unit for storing a processing recipe including a unit processing condition in a unit, and a flow processing condition indicating an order of sequentially transporting a substrate to some of the plurality of processing units; The processing conditions are classified for each category indicating the type of processing in the processing unit, and the plurality of unit processing conditions for each category are further divided into a plurality of unit groups each including a plurality of unit processing conditions. And the plurality of flow processing conditions include:
It is characterized by being divided into a plurality of flow groups each including a plurality of flow processing conditions.

【0006】上記基板処理装置では、複数の処理条件が
グループ毎に区分されて記憶されているため、処理条件
が多数存在する場合にも、目的の処理データを探し出す
ことを容易に行うことができる。
In the above-described substrate processing apparatus, a plurality of processing conditions are stored separately for each group. Therefore, even when there are many processing conditions, it is possible to easily search for the target processing data. .

【0007】上記基板処理装置において、さらに、前記
基板処理装置を取り扱う複数のユーザグループを示すユ
ーザグループ情報を記憶するユーザグループ情報記憶手
段を備え、各ユーザグループが使用し得る少なくとも1
つのユニットグループと、各ユーザグループが使用し得
る少なくとも1つのフローグループが各ユーザグループ
に割り当てられていることが好ましい。
[0007] In the above substrate processing apparatus, further, there is provided user group information storage means for storing user group information indicating a plurality of user groups handling the substrate processing apparatus, and at least one user group usable by each user group.
Preferably, one unit group and at least one flow group that can be used by each user group are assigned to each user group.

【0008】こうすれば、ユーザグループに応じてユニ
ットグループおよびフローグループの使用の可否が決定
されるため、他人に変更あるいは消去されたくないユニ
ット処理条件およびフロー処理条件がある場合に、その
管理を的確に行うことができる。
[0008] In this case, since the use of the unit group and the flow group is determined according to the user group, if there is a unit processing condition and a flow processing condition that are not desired to be changed or deleted by another person, the management thereof is performed. Can be performed accurately.

【0009】上記基板処理装置において、さらに、各ユ
ーザグループに対するユニットグループとフローグルー
プとの割り当てを設定するための設定手段を備えること
が好ましい。
[0009] In the above substrate processing apparatus, it is preferable that the apparatus further comprises a setting means for setting assignment of a unit group and a flow group to each user group.

【0010】この設定手段を用いれば、各ユーザグルー
プに対するユニットグループとフローグループの割り当
てを任意に設定、変更することができる。
By using this setting means, it is possible to arbitrarily set and change the assignment of the unit group and the flow group to each user group.

【0011】上記基板処理装置において、さらに、前記
基板処理装置を取り扱うユーザが自己のユーザグループ
情報を入力するための入力手段と、前記入力されたユー
ザグループ情報に応じて、前記ユーザグループ情報で示
されるユーザグループに割り当てられたユニットグルー
プおよびフローグループのみを表示する表示手段と、を
備えることを特徴とする。
[0011] In the above substrate processing apparatus, further, an input means for a user who handles the substrate processing apparatus to input his / her own user group information, and the user group information is displayed in accordance with the input user group information. Display means for displaying only the unit group and the flow group assigned to the user group to be used.

【0012】こうすれば、あるユーザレベルのユーザに
とって使用することができない無用なフローグループお
よびユニットグループが表示されないため、目的のフロ
ー処理条件やユニット処理条件をさらに容易に探し出す
ことができる。
[0012] In this way, unnecessary flow groups and unit groups that cannot be used by a user at a certain user level are not displayed, so that a desired flow processing condition or unit processing condition can be more easily found.

【0013】[0013]

【発明の他の態様】この発明は、以下のような他の態様
も含んでいる。第1の態様は、基板の処理を行うための
複数の処理ユニットを備える基板処理装置における基板
処理方法であって、前記複数の処理ユニットにおけるユ
ニット処理条件と、基板を前記複数の処理ユニットのい
くつかに順次搬送してゆく順序を示すフロー処理条件
と、を含む処理レシピを設定する工程を備え、前記複数
のユニット処理条件は、処理ユニットにおける処理の種
類を示すカテゴリ毎に分類されているとともに、各カテ
ゴリに関する複数のユニット処理条件は、さらに、それ
ぞれ複数のユニット処理条件を含む複数のユニットグル
ープに区分されており、前記複数のフロー処理条件は、
それぞれ複数のフロー処理条件を含む複数のフローグル
ープに区分されていることを特徴とする基板処理方法で
ある。
Other Embodiments of the Invention The present invention includes the following other embodiments. A first aspect is a substrate processing method in a substrate processing apparatus including a plurality of processing units for processing a substrate, wherein a unit processing condition in the plurality of processing units and a number of the substrates are determined by the number of the plurality of processing units. And setting a processing recipe including a flow processing condition indicating an order of sequentially transferring the plurality of unit processing conditions, wherein the plurality of unit processing conditions are classified by category indicating a type of processing in the processing unit. The plurality of unit processing conditions for each category are further divided into a plurality of unit groups each including a plurality of unit processing conditions, and the plurality of flow processing conditions are:
A substrate processing method characterized by being divided into a plurality of flow groups each including a plurality of flow processing conditions.

【0014】第2の態様は、上記の発明の各工程や各手
段の機能をコンピュータに実現させるためのコンピュー
タプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記
録媒体である。
According to a second aspect, there is provided a computer-readable recording medium having recorded thereon a computer program for causing a computer to realize the functions of each step and each means of the above invention.

【0015】第3の態様は、コンピュータに上記の発明
の各工程または各手段の機能を実現させるコンピュータ
プログラムを通信経路を介して供給するプログラム供給
装置としての態様である。こうした態様では、プログラ
ムをネットワーク上のサーバなどに置き、通信経路を介
して、必要なプログラムをコンピュータにダウンロード
し、これを実行することで、上記の各工程や各手段の機
能を実現することができる。
A third aspect is an aspect as a program supply device for supplying, via a communication path, a computer program for causing a computer to realize the functions of the respective steps or means of the above invention. In such an embodiment, the functions of the above-described steps and units can be realized by placing the program on a server or the like on a network, downloading the necessary program to a computer via a communication path, and executing the program. it can.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】A.装置の構成:以下、本発明の
実施の形態を実施例に基づいて説明する。図1は、本発
明の一実施例としての半導体基板処理装置の構成を示す
説明図である。この半導体基板処理装置10は、プロセ
スモジュール100と、インデクサモジュール200と
の、2つのモジュールから構成されている。なお、本プ
ロセスモジュール100は半導体基板(以下「基板」と
呼ぶ)上に、フォトレジストを塗布する工程に用いられ
るモジュールであるが、図示しない他のインタフェース
モジュールを介して、さらに他のプロセスモジュール、
例えば、露光パターンの現像工程に用いられるプロセス
モジュールを、本プロセスモジュール100と接続する
ことも可能である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Configuration of Apparatus: Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on examples. FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a semiconductor substrate processing apparatus as one embodiment of the present invention. The semiconductor substrate processing apparatus 10 includes two modules, a process module 100 and an indexer module 200. The process module 100 is a module used for a process of applying a photoresist on a semiconductor substrate (hereinafter, referred to as a “substrate”).
For example, it is also possible to connect a process module used in the development process of the exposure pattern to the process module 100.

【0017】プロセスモジュール100は、2台のスピ
ンコータSC1,SC2と、3台のホットプレートHP
1,HP2,HP3と、3台のクーリングプレートCP
1,CP2,CP3と、基板搬送ユニット110と、を
備えている。2台のスピンコータSC1,SC2は、基
板上にフォトレジストを塗布する処理ユニットである。
3台のホットプレートHP1,HP2,HP3は、基板
の加熱処理を行う処理ユニットである。3台のクーリン
グプレートCP1,CP2,CP3は、基板の冷却処理
を行う処理ユニットである。基板搬送ユニット110
は、インデクサモジュールから各処理ユニットに、ある
いは処理ユニット間で、基板を搬送する搬送ユニットで
ある。
The process module 100 includes two spin coaters SC1 and SC2 and three hot plates HP
1, HP2, HP3 and three cooling plates CP
1, CP2, CP3, and a substrate transport unit 110. The two spin coaters SC1 and SC2 are processing units for applying a photoresist on a substrate.
The three hot plates HP1, HP2, and HP3 are processing units that heat the substrate. The three cooling plates CP1, CP2, and CP3 are processing units that perform a cooling process on the substrate. Substrate transfer unit 110
Is a transport unit that transports a substrate from the indexer module to each processing unit or between processing units.

【0018】インデクサモジュール200は、4つのカ
セットステージ210,212,214,216と、イ
ンデクサアーム220と、処理制御ステーション230
と、を備えている。4つのカセットステージ210,2
12,214,216は、基板を複数枚収納したカセッ
トが設置されるステージである。インデクサアーム22
0は、カセットステージに備えられたカセット内から所
定の基板を取り出して基板搬送ユニット110に受け渡
し、また、各処理ユニットで処理された基板を基板搬送
ユニット110から受け取りカセット内に収納する搬送
ユニットである。処理制御ステーション230は、本半
導体基板処理装置10におけるすべての処理を制御する
コンピュータである。処理制御ステーション230につ
いては、後述する。
The indexer module 200 includes four cassette stages 210, 212, 214, 216, an indexer arm 220, and a processing control station 230.
And Four cassette stages 210, 2
Reference numerals 12, 214, and 216 denote stages on which a cassette containing a plurality of substrates is installed. Indexer arm 22
Reference numeral 0 denotes a transfer unit that takes out a predetermined substrate from the cassette provided in the cassette stage and transfers it to the substrate transfer unit 110, and also receives the substrate processed in each processing unit from the substrate transfer unit 110 and stores it in the cassette. is there. The process control station 230 is a computer that controls all processes in the semiconductor substrate processing apparatus 10. The processing control station 230 will be described later.

【0019】なお、この明細書において「処理ユニッ
ト」とは、特に、基板の加工を目的とする処理を行うユ
ニットをいう。基板搬送ユニット110と、インデクサ
アーム220は基板の搬送を目的とするユニットである
ため、本実施例における「処理ユニット」には相当しな
い。従って、図1に示されているユニットの中で、「処
理ユニット」と呼べるものは、プロセスモジュール10
0内の2台のスピンコータSC1,SC2と、3台のホ
ットプレートHP1,HP2,HP3と、3台のクーリ
ングプレートCP1,CP2,CP3との8つのユニッ
トである。
In this specification, the term "processing unit" particularly refers to a unit that performs processing for processing a substrate. Since the substrate transport unit 110 and the indexer arm 220 are units for transporting substrates, they do not correspond to “processing units” in the present embodiment. Therefore, among the units shown in FIG. 1, those which can be called “processing units” are the process modules 10.
There are eight units of two spin coaters SC1, SC2, three hot plates HP1, HP2, HP3, and three cooling plates CP1, CP2, CP3 in 0.

【0020】図2は、図1の半導体基板処理装置10の
電気的構成を示すブロック図である。この半導体基板処
理装置10は、処理制御ステーション230と、搬送制
御部240と、処理制御部250とを備えている。搬送
制御部240は、図1の基板搬送ユニット110および
インデクサアーム220における搬送を制御する機能を
有する。処理制御部250は、図1の各処理ユニット
(SC1,SC2,HP1,HP2,HP3,CP1,
CP2,CP3)における処理を制御する機能を有す
る。搬送制御部240および処理制御部250は、制御
部232からの指令に基づいて各ユニットの制御を行
う。
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the semiconductor substrate processing apparatus 10 of FIG. The semiconductor substrate processing apparatus 10 includes a processing control station 230, a transfer control unit 240, and a processing control unit 250. The transfer control unit 240 has a function of controlling transfer in the substrate transfer unit 110 and the indexer arm 220 in FIG. The processing control unit 250 controls each processing unit (SC1, SC2, HP1, HP2, HP3, CP1,
CP2, CP3). The transport control unit 240 and the processing control unit 250 control each unit based on a command from the control unit 232.

【0021】処理制御ステーション230は、制御部2
32と、外部磁気記憶部234と、キーボードやマウ
ス、コントロールパネルなどの操作部236と、液晶デ
ィスプレイなどの表示部238と、を備えたコンピュー
タである。制御部232は、さらに、図示しないCPU
やメインメモリを備えており、メインメモリに格納され
たコンピュータプログラムを実行することによって、搬
送制御部240および処理制御部250の処理を制御す
る。外部磁気記憶部234は、ユーザグループ情報およ
び処理条件などを格納している。ユーザグループ情報お
よび処理条件の内容については後述する。なお、外部磁
気記憶部234は、本発明におけるユーザグループ情報
記憶手段と処理条件記憶手段に相当する。
The processing control station 230 includes the control unit 2
32, an external magnetic storage unit 234, an operation unit 236 such as a keyboard, a mouse, and a control panel, and a display unit 238 such as a liquid crystal display. The control unit 232 further includes a CPU (not shown).
And a main memory, and controls processes of the transport control unit 240 and the process control unit 250 by executing a computer program stored in the main memory. The external magnetic storage unit 234 stores user group information, processing conditions, and the like. The details of the user group information and the processing conditions will be described later. Note that the external magnetic storage unit 234 corresponds to a user group information storage unit and a processing condition storage unit in the present invention.

【0022】なお、図1に示す各部の機能を実現するコ
ンピュータプログラムは、フレキシブルディスクやCD
−ROM等の、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に
記録された形態で提供される。各コンピュータは、その
記録媒体からコンピュータプログラムを読み取って内部
記憶装置または外部記憶装置に転送する。あるいは、通
信経路を介してコンピュータにコンピュータプログラム
を供給するようにしてもよい。コンピュータプログラム
の各機能を実現する時には、内部記憶装置に格納された
コンピュータプログラムがコンピュータのマイクロプロ
セッサによって実行される。また、記録媒体に記録され
たコンピュータプログラムをコンピュータが読み取って
直接実行するようにしてもよい。
A computer program for realizing the function of each unit shown in FIG.
-Provided in a form recorded on a computer-readable recording medium such as a ROM. Each computer reads the computer program from the recording medium and transfers it to an internal storage device or an external storage device. Alternatively, a computer program may be supplied to a computer via a communication path. When realizing each function of the computer program, the computer program stored in the internal storage device is executed by the microprocessor of the computer. Further, a computer may read a computer program recorded on a recording medium and directly execute the computer program.

【0023】この明細書において、コンピュータとは、
ハードウェア装置とオペレーションシステムとを含む概
念であり、オペレーションシステムの制御の下で動作す
るハードウェア装置を意味している。また、オペレーシ
ョンシステムが不要でアプリケーションプログラム単独
でハードウェア装置を動作させるような場合には、その
ハードウェア装置自体がコンピュータに相当する。ハー
ドウェア装置は、CPU等のマイクロプロセッサと、記
録媒体に記録されたコンピュータプログラムを読み取る
ための手段とを少なくとも備えている。コンピュータプ
ログラムは、このようなコンピュータに、上述の各手段
の機能を実現させるプログラムコードを含んでいる。な
お、上述の機能の一部は、アプリケーションプログラム
でなく、オペレーションシステムによって実現されてい
ても良い。
In this specification, a computer is
The concept includes a hardware device and an operation system, and means a hardware device that operates under the control of the operation system. In the case where an operation system is unnecessary and a hardware device is operated by an application program alone, the hardware device itself corresponds to a computer. The hardware device includes at least a microprocessor such as a CPU and means for reading a computer program recorded on a recording medium. The computer program includes a program code that causes such a computer to realize the functions of the above-described units. Some of the functions described above may be realized by an operation system instead of the application program.

【0024】なお、この発明における「記録媒体」とし
ては、フレキシブルディスクやCD−ROM、光磁気デ
ィスク、ICカード、ROMカートリッジ、パンチカー
ド、バーコードなどの符号が印刷された印刷物、コンピ
ュータの内部記憶装置(RAMやROMなどのメモリ)
および外部記憶装置等の、コンピュータが読取り可能な
種々の媒体を利用できる。
The "recording medium" in the present invention includes a flexible disk, a CD-ROM, a magneto-optical disk, an IC card, a ROM cartridge, a punched card, a printed matter on which a code such as a bar code is printed, and an internal storage of a computer. Device (RAM, ROM, etc.)
And various computer-readable media such as an external storage device.

【0025】B.実施例における処理内容:図3は、図
2の外部磁気記憶部234内に格納されているフロー処
理データおよびユニット処理データの内容を示す説明図
である。外部磁気記憶部234内には、フロー処理デー
タ300と、ユニット処理データ350とを含む処理レ
シピが格納されている。ユニット処理データ350は、
処理ユニットにおける処理の種類を示すカテゴリ毎に分
類されており、スピンコータ用のユニット処理データ3
10と、ホットプレート用のユニット処理データ320
と、クーリングプレート用のユニット処理データ330
との3種の処理データに分類されている。フロー処理デ
ータ300は、フローグループ「A」ないし「J」の1
0のグループから構成されており、各フローグループ、
例えば図3(E)に示すフローグループ「A」302
は、1から99までの99個のフロー処理条件から構成
されている。したがって、フロー処理データ300内に
は、990個のフロー処理条件が存在する。また、スピ
ンコータ用のユニット処理データ310は、ユニットグ
ループ「A」ないし「J」の10のグループから構成さ
れており、各ユニットグループ、例えば図3(F)に示
すスピンコータ用のユニットグループ「A」312は、
さらに、1から99までの99個のユニット処理条件か
ら構成されている。したがって、ユニット処理データ3
10内には、990個のユニット処理条件が存在する。
ホットプレート用のユニット処理データ320およびク
ーリングプレート用のユニット処理データ330につい
ても、同様に、それぞれ990個のユニット処理条件か
ら構成される。図3のうち斜線が付された部分について
は後述する。
B. FIG. 3 is an explanatory diagram showing the contents of the flow processing data and the unit processing data stored in the external magnetic storage unit 234 of FIG. In the external magnetic storage unit 234, a processing recipe including the flow processing data 300 and the unit processing data 350 is stored. The unit processing data 350 is
The processing units are classified by category indicating the type of processing in the processing unit.
10 and unit processing data 320 for hot plate
And the unit processing data 330 for the cooling plate
And the three types of processing data. The flow processing data 300 includes one of the flow groups “A” to “J”.
0, each flow group,
For example, the flow group “A” 302 shown in FIG.
Is composed of 99 flow processing conditions from 1 to 99. Therefore, there are 990 flow processing conditions in the flow processing data 300. The unit processing data 310 for the spin coater includes ten groups of unit groups “A” to “J”, and each unit group, for example, the unit group “A” for the spin coater shown in FIG. 312 is
Further, it is composed of 99 unit processing conditions from 1 to 99. Therefore, the unit processing data 3
In 10, there are 990 unit processing conditions.
Similarly, the unit processing data 320 for the hot plate and the unit processing data 330 for the cooling plate are similarly configured from 990 unit processing conditions. The hatched portions in FIG. 3 will be described later.

【0026】ここで、「ユニット処理条件」とは、各処
理ユニットにおける処理内容を示したデータである。例
えば、スピンコータのユニット処理条件には、フォトレ
ジストを基板に塗布するタイミング、処理開始からの経
過時間に対するスピンナの回転数などが含まれる。ホッ
トプレートのユニット処理条件には、加熱プレートの設
定温度などが含まれる。また、クーリングプレートのユ
ニット処理条件にも、冷却プレートの設定温度などが含
まれる。
Here, the "unit processing condition" is data indicating the processing content in each processing unit. For example, the unit processing conditions of the spin coater include the timing of applying the photoresist to the substrate, the number of rotations of the spinner with respect to the elapsed time from the start of the processing, and the like. The hot plate unit processing conditions include the set temperature of the heating plate. Further, the unit processing condition of the cooling plate also includes the set temperature of the cooling plate.

【0027】また、「フロー処理条件」とは、各処理ユ
ニットにおける処理内容を示したユニット処理条件を任
意に組み合わせた一連の処理の内容を示したデータであ
る。図4は、本半導体基板処理装置10におけるフロー
処理条件の具体例を示す説明図である。図4では、フロ
ー処理データ300(図3)のうちフローグループ
「A」302の2番目のフロー処理条件400が示され
ている。フロー処理条件は、搬送順序と、処理ユニット
識別情報と、ユニット処理条件とを含んでいる。搬送順
序は、基板処理装置内における基板の搬送の順序を示し
ている。処理ユニット識別情報は、基板の搬送先の処理
ユニットのユニット番号と、その処理ユニットの処理カ
テゴリとを含んでいる。ユニット処理条件は、上記の各
処理ユニットにおける処理内容を示したデータである。
処理カテゴリの欄の「ID」はインデクサモジュール
を、「SC」はスピンコータを、「HP」はホットプレ
ートを、「CP」はクーリングプレートを意味してい
る。また、ユニット処理条件の欄の「SCB.01」
は、スピンコータ用のユニットグループ「B」420に
含まれる第1番目のユニット処理条件「01」を示して
おり、これによりスピンコータにおけるユニット処理条
件が決定されている。
The "flow processing conditions" are data indicating the contents of a series of processing in which unit processing conditions indicating processing contents in each processing unit are arbitrarily combined. FIG. 4 is an explanatory diagram showing a specific example of the flow processing conditions in the semiconductor substrate processing apparatus 10. FIG. 4 shows the second flow processing condition 400 of the flow group “A” 302 in the flow processing data 300 (FIG. 3). The flow processing conditions include a transport order, processing unit identification information, and unit processing conditions. The transfer order indicates the order of transfer of the substrates in the substrate processing apparatus. The processing unit identification information includes the unit number of the processing unit to which the substrate is transported, and the processing category of the processing unit. The unit processing condition is data indicating the processing content of each processing unit.
In the column of the processing category, “ID” indicates an indexer module, “SC” indicates a spin coater, “HP” indicates a hot plate, and “CP” indicates a cooling plate. “SCB.01” in the unit processing condition column
Indicates the first unit processing condition “01” included in the spin coater unit group “B” 420, and the unit processing condition in the spin coater is determined thereby.

【0028】フロー処理条件400(図4)に従って処
理を行う場合には、基板は、インデクサID、スピンコ
ータSC、ホットプレートHP、クーリングプレートC
P、インデクサIDの順に搬送されて処理される。3番
目の搬送順序(3番目の搬送先ユニット)におけるユニ
ット番号は「#3」であり、これはホットプレートHP
1(図1)を意味している。また、4番目の搬送順序に
おけるユニット番号は「#4」であり、これはクーリン
グプレートCP1(図1)を意味している。
When processing is performed in accordance with the flow processing conditions 400 (FIG. 4), the substrate includes an indexer ID, a spin coater SC, a hot plate HP, and a cooling plate C.
P and the indexer ID are conveyed and processed in this order. The unit number in the third transfer order (third transfer destination unit) is “# 3”, which is the hot plate HP
1 (FIG. 1). The unit number in the fourth transport order is "# 4", which means the cooling plate CP1 (FIG. 1).

【0029】このように、処理ユニット識別情報は、各
処理ユニットに固有のユニット番号で基板の搬送順序を
規定しているので、複数の処理ユニットへの基板の搬送
順序を任意の順序に設定することが可能である。なお、
処理ユニット識別情報は各処理ユニットを識別できれば
よいので、少なくともユニット番号を含んでいればよ
く、処理カテゴリを含んでいなくてもよい。
As described above, the processing unit identification information defines the transfer order of the substrates by the unit number unique to each processing unit, so that the transfer order of the substrates to the plurality of processing units is set to an arbitrary order. It is possible. In addition,
Since the processing unit identification information only needs to be able to identify each processing unit, it is sufficient that the processing unit identification information includes at least the unit number and does not need to include the processing category.

【0030】図5は、本実施例における処理の全体手順
を示すフローチャートである。ステップS1では、本半
導体基板処理装置10における各種の操作について、ユ
ーザレベルを設定する。ユーザレベルは、各種の操作の
可否を決定するアクセス権を設定するために用いられ
る。ここで、「各種の操作」とは、フローグループおよ
びユニットグループの使用や変更を行う操作、および本
装置の基本機能、例えば各処理ユニットのパラメータ設
定やユニット番号設定などを行う操作を含んでいる。な
お、本実施例において上記設定をすることができるの
は、管理担当者に限られている。これにより、本装置の
処理レシピの管理を的確に行うことができる。
FIG. 5 is a flowchart showing the overall procedure of the processing in this embodiment. In step S1, a user level is set for various operations in the semiconductor substrate processing apparatus 10. The user level is used to set an access right that determines whether or not various operations can be performed. Here, the “various operations” include operations of using and changing flow groups and unit groups, and operations of performing basic functions of the present apparatus, for example, setting parameters and unit numbers of each processing unit. . In this embodiment, the above setting can be performed only by the person in charge of management. As a result, it is possible to accurately manage the processing recipe of the present apparatus.

【0031】図6は、図5のステップS1の処理の詳細
を示すフローチャートである。ステップS1aでは、管
理担当者は操作部236(図2)において所定の操作を
行うことにより、半導体基板処理装置10の表示部23
8(図2)にユーザレベル登録画面を表示させる。
FIG. 6 is a flowchart showing details of the processing in step S1 of FIG. In step S1a, the manager performs a predetermined operation on the operation unit 236 (FIG. 2), thereby causing the display unit 23 of the semiconductor substrate processing apparatus 10 to operate.
8 (FIG. 2) to display a user level registration screen.

【0032】図7は、図5のステップS1において表示
されるユーザレベル登録画面の一例を示す説明図であ
る。図7のユーザレベル登録画面は、ユーザレベル数フ
ィールド500と、ユーザレベル名フィールド510
と、終了ボタン520と、設定保存ボタン530とを含
んでいる。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of the user level registration screen displayed in step S1 of FIG. The user level registration screen of FIG. 7 includes a user level number field 500 and a user level name field 510.
, An end button 520, and a setting save button 530.

【0033】図6のステップS1bでは、登録するユー
ザレベル数をユーザレベル数フィールド500(図7)
に入力する。本実施例においては、ユーザレベル数は5
つまで設定可能であり、ここではユーザレベル数として
「4」が入力されている。
In step S1b of FIG. 6, the number of user levels to be registered is set in the user level number field 500 (FIG. 7).
To enter. In this embodiment, the number of user levels is 5
Up to four can be set, and “4” is input as the number of user levels here.

【0034】ステップS1cでは、登録するユーザレベ
ル名およびそのパスワードをユーザレベル名フィールド
510(図7)に入力する。ユーザレベル名とは、ある
作業を担当する少なくとも1人のユーザから成るユーザ
グループの総称であり、本実施例では、ユーザレベル1
は管理担当者、ユーザレベル2は実験担当者、ユーザレ
ベル3は作業担当者、ユーザレベル4は設備担当者と設
定されている。また、それぞれのユーザレベルに対して
パスワードを設定することにより、本半導体基板処理装
置10における種々の操作について、ユーザレベルに対
応した操作の可否の管理を容易に行うことができる。
In step S1c, the user level name to be registered and its password are entered in the user level name field 510 (FIG. 7). The user level name is a general term of a user group including at least one user who is in charge of a certain task.
Is set as an administrator, user level 2 is set as an experimenter, user level 3 is set as an operator, and user level 4 is set as equipment. Further, by setting a password for each user level, it is possible to easily manage whether or not various operations in the semiconductor substrate processing apparatus 10 can be performed according to the user level.

【0035】ステップS1dにおいて、図7の設定保存
ボタン530を選択すると、ステップS1eにおいて、
入力したユーザグループ情報が外部磁気記憶部234
(図2)に登録される。また、ステップS1dにおいて
終了ボタン520を選択すると、ユーザレベルの登録は
終了する。
In step S1d, when the setting save button 530 in FIG. 7 is selected, in step S1e,
The input user group information is stored in the external magnetic storage unit 234.
(FIG. 2). When the end button 520 is selected in step S1d, the registration of the user level ends.

【0036】図5のステップS2においては、図3のフ
ロー処理データ300および各ユニット処理データ31
0,320,330に含まれる複数のフローグループお
よび複数のユニットグループについて、ユーザレベル毎
に使用可能なフローグループおよびユニットグループを
割り当てる。なお、この割り当て機能を実現するプログ
ラムが本発明における設定手段に相当する。
In step S2 of FIG. 5, the flow process data 300 and the unit process data 31 of FIG.
For the plurality of flow groups and the plurality of unit groups included in 0, 320, and 330, usable flow groups and unit groups are assigned for each user level. Note that a program for realizing this assignment function corresponds to the setting means in the present invention.

【0037】図8は、図5のステップS2の処理の詳細
を示すフローチャートである。ステップS2aでは、ユ
ーザは操作部236(図2)において所定の操作を行う
ことにより、半導体基板処理装置10の表示部238
(図2)に処理データ設定画面を表示させ、設定すべき
処理データを選択する。
FIG. 8 is a flowchart showing details of the processing in step S2 in FIG. In step S2a, the user performs a predetermined operation on the operation unit 236 (FIG. 2) to thereby display the display unit 238 of the semiconductor substrate processing apparatus 10.
A processing data setting screen is displayed on (FIG. 2), and processing data to be set is selected.

【0038】図9は、図5のステップS2において表示
される処理データ設定画面の一例を示す説明図である。
図9の処理データ設定画面は、処理データ選択ボタンフ
ィールド600と、グループ選択フィールド610と、
ユーザレベル選択ボタンフィールド620と、終了ボタ
ン630と、設定保存ボタン640とを含んでいる。ユ
ーザレベル選択ボタンフィールド620には、図7のユ
ーザレベル登録画面にて登録したユーザレベルが表示さ
れている。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of the processing data setting screen displayed in step S2 of FIG.
The processing data setting screen of FIG. 9 includes a processing data selection button field 600, a group selection field 610,
A user level selection button field 620, an end button 630, and a setting save button 640 are included. The user level registered on the user level registration screen of FIG. 7 is displayed in the user level selection button field 620.

【0039】図8のステップS2aにおいて、処理デー
タ選択ボタンフィールド600(図9)の中から、設定
すべき処理データを選択する。図9では、斜線が付され
ている「フロー」が選択されており、このときグループ
選択フィールド610には、フローグループ「A」ない
し「J」が表示される。
In step S2a of FIG. 8, processing data to be set is selected from the processing data selection button field 600 (FIG. 9). In FIG. 9, “flow” with hatching is selected, and at this time, flow groups “A” to “J” are displayed in the group selection field 610.

【0040】ステップS2bにおいて、フロー処理デー
タの設定をすべきユーザレベルをユーザレベル選択ボタ
ンフィールド620(図9)において指定する。本実施
例では、実験担当者が指定されている。
In step S2b, a user level for which flow processing data is to be set is specified in a user level selection button field 620 (FIG. 9). In this embodiment, the person in charge of the experiment is designated.

【0041】さらに、ステップS2cにおいて、フロー
処理データ300(図3)のフローグループ「A」ない
し「J」の中から、指定したユーザレベルに使用の許可
を与える少なくとも1つのフローグループをグループ選
択フィールド610(図9)において選択する。ここで
は、フローグループ「A」のみが選択されている。
Further, in step S2c, at least one of the flow groups "A" to "J" of the flow processing data 300 (FIG. 3) for which use permission is given to the designated user level is selected in the group selection field. Select at 610 (FIG. 9). Here, only the flow group “A” is selected.

【0042】ステップS2dにおいて、設定保存ボタン
640を選択すると、ステップS2eにおいて、入力し
たフロー処理データ情報が外部磁気記憶部234(図
2)に登録される。この登録により、指定されたユーザ
レベルについて、選択されたフローグループのアクセス
権が設定される。なお、ステップS2dにおいて、終了
ボタン630を選択すると、フロー処理データの設定は
終了する。
When the setting save button 640 is selected in step S2d, the input flow processing data information is registered in the external magnetic storage unit 234 (FIG. 2) in step S2e. With this registration, the access right of the selected flow group is set for the specified user level. When the end button 630 is selected in step S2d, the setting of the flow processing data ends.

【0043】次に、図8のステップS2aにおいて、処
理データ選択ボタンフィールド600(図9)の「ユニ
ットSC」を選択した場合、グループ選択フィールド6
10には、ユニット処理データ310(図3)のスピン
コータ用のユニットグループ「A」ないし「J」が表示
される。ステップS2fにおいて、スピンコータ用のユ
ニット処理データの設定をすべきユーザレベルをユーザ
レベル選択ボタンフィールド620において指定する。
さらに、ステップS2gにおいて、ユニットグループ
「A」ないし「J」の中から、指定したユーザレベルに
使用の許可を与える少なくとも1つのユニットグループ
をグループ選択フィールド610(図9)において選択
する。ステップS2hにおいて、設定保存ボタン640
を選択すると、ステップS2iにおいて、入力したユニ
ット処理データ情報が外部磁気記憶部234(図2)に
登録される。この登録により、指定されたユーザレベル
について、選択されたスピンコータ用のユニットグルー
プのアクセス権が設定される。なお、ステップS2hに
おいて、終了ボタン630を選択すると、ユニット処理
データの設定は終了する。
Next, in step S2a of FIG. 8, when "unit SC" is selected in the processing data selection button field 600 (FIG. 9), the group selection field 6
10, the unit groups “A” to “J” for the spin coater in the unit processing data 310 (FIG. 3) are displayed. In step S2f, a user level for which unit processing data for a spin coater is to be set is specified in a user level selection button field 620.
Further, in step S2g, from the unit groups "A" to "J", at least one unit group that is permitted to use the specified user level is selected in the group selection field 610 (FIG. 9). In step S2h, a setting save button 640
Is selected, the input unit processing data information is registered in the external magnetic storage unit 234 (FIG. 2) in step S2i. By this registration, the access right of the selected unit group for the spin coater is set for the specified user level. When the end button 630 is selected in step S2h, the setting of the unit processing data ends.

【0044】また、ステップS2aにおいて、処理デー
タ選択ボタンフィールド600(図9)の「ユニットH
P」および「ユニットCP」を選択した場合も、ホット
プレート用のユニット処理データ320およびクーリン
グプレート用のユニット処理データ330は、スピンコ
ータ用のユニット処理データ310と同様に指定された
ユーザレベルについてアクセス権を設定することができ
る。なお、本実施例において、ステップ2(図5)の操
作が可能なユーザは、本装置の管理担当者に限られてい
る。
In step S2a, the "unit H" in the processing data selection button field 600 (FIG. 9) is displayed.
When “P” and “unit CP” are selected, the unit processing data 320 for the hot plate and the unit processing data 330 for the cooling plate have the same access rights as the unit processing data 310 for the spin coater for the specified user level. Can be set. In the present embodiment, the user who can perform the operation in step 2 (FIG. 5) is limited to the person in charge of the management of this apparatus.

【0045】上記の操作によって、各処理データに含ま
れる複数のフローグループおよび複数のユニットグルー
プに対し、ユーザレベル毎にアクセス権が設定される。
本実施例において、実験担当者にアクセス権が設定され
ているフローグループおよびユニットグループが図3に
おける斜線を付した部分に示されている。図3におい
て、実験担当者にアクセス権が設定されているのは、フ
ロー処理データ300についてはフローグループ「A」
のみである。同様に、スピンコータ用のユニット処理デ
ータ310のうちのユニットグループ「A」,「B」,
「C」と、ホットプレート用のユニット処理データ32
0のうちのユニットグループ「J」と、クーリングプレ
ート用のユニット処理データ330のうちのユニットグ
ループ「B」,「D」とに、アクセス権が設定されてい
る。実験担当者は、アクセス権を設定されたフローグル
ープのフロー処理条件およびユニットグループのユニッ
ト処理条件のみを自由に使用および変更することがで
き、アクセス権の設定されていないフローグループのフ
ロー処理条件およびユニットグループのユニット処理条
件については使用や変更を行うことができない。したが
って、例えばフローグループ「A」のフロー処理条件
が、スピンコータ用のユニットグループ「D」のユニッ
ト処理条件を組み合わせて構成されている場合には、ス
ピンコータ用のユニットグループ「D」にはアクセス権
が設定されていないため、そのフロー処理条件に従って
処理を行うことはできない。
By the above operation, access rights are set for each user level for a plurality of flow groups and a plurality of unit groups included in each piece of processing data.
In the present embodiment, the flow groups and the unit groups for which the experimenter has the access right are shown in the shaded portions in FIG. In FIG. 3, the access right is set for the experimenter in the flow group “A” for the flow processing data 300.
Only. Similarly, the unit groups “A”, “B”,
"C" and unit processing data 32 for hot plate
The access right is set to the unit group “J” of “0” and the unit groups “B” and “D” of the unit processing data 330 for the cooling plate. The experimenter can freely use and change only the flow processing conditions of the flow group to which the access right is set and the unit processing conditions of the unit group. The unit processing conditions of the unit group cannot be used or changed. Therefore, for example, when the flow processing conditions of the flow group “A” are configured by combining the unit processing conditions of the unit group “D” for the spin coater, the access right is not granted to the unit group “D” for the spin coater. Since it is not set, processing cannot be performed according to the flow processing conditions.

【0046】また、フローグループおよび各処理ユニッ
トのユニットグループについてユーザレベル毎にアクセ
ス権を設定することにより、あるユーザレベルのユーザ
が本半導体基板処理装置10を使用する場合には、アク
セス権が設定されたフローグループおよびユニットグル
ープのみを表示部238(図2)に表示させるようにし
てもよい。こうすれば、あるユーザレベルのユーザにと
って使用することができない無用なフローグループおよ
びユニットグループが表示されないため、目的のフロー
処理条件やユニット処理条件を容易に探し出すことがで
きる。
By setting the access right for each user level for the flow group and the unit group of each processing unit, the access right is set when a user of a certain user level uses the semiconductor substrate processing apparatus 10. Only the performed flow group and unit group may be displayed on the display unit 238 (FIG. 2). In this way, useless flow groups and unit groups that cannot be used by a user at a certain user level are not displayed, so that a desired flow processing condition or unit processing condition can be easily found.

【0047】実際にフロー処理条件に従って処理を行う
場合、まず、ユーザは処理制御ステーション230(図
2)の操作部236において、そのユーザが属するユー
ザレベルを入力する。通常、パスワードが設定されてい
るため、パスワードも入力する。これにより、アクセス
権が設定されている範囲内において本半導体基板処理装
置10の操作が可能となる。ユーザは、操作部236の
コントロールパネルにおいて、フローグループおよびフ
ロー処理条件の入力を行い、本装置における処理を行
う。
When processing is actually performed in accordance with the flow processing conditions, first, the user inputs the user level to which the user belongs via the operation unit 236 of the processing control station 230 (FIG. 2). Usually, a password is set, so the password is also entered. Thus, the operation of the semiconductor substrate processing apparatus 10 can be performed within the range in which the access right is set. The user inputs a flow group and flow processing conditions on the control panel of the operation unit 236, and performs processing in the present apparatus.

【0048】図10は、フロー処理条件を選択して実行
するためのコントロールパネルの一例を示す説明図であ
る。図10のコントロールパネルには、フロー処理条件
表示フィールド700と、フローグループ選択ボタン7
10と、フロー処理条件選択ボタン720と、スタート
ボタン730と、ストップボタン740と、キャンセル
ボタン750と、ポーズボタン760と、を含んでい
る。フローグループ選択ボタン710と、フロー処理条
件選択ボタン720とは、フロー処理条件を選択するた
めのボタンであり、選択されたフロー処理条件を示す符
号はフロー処理条件表示フィールド700に表示され
る。スタートボタン730は、選択されたフロー処理条
件を実行するためのボタンである。ストップボタン74
0は、実行中の処理を強制的に中止するためのボタンで
ある。キャンセルボタン750は、選択したフロー処理
条件の設定をキャンセルするためのボタンである。ま
た、ポーズボタン760は、実行中の処理を一時的に中
断するためのボタンである。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing an example of a control panel for selecting and executing flow processing conditions. The control panel of FIG. 10 includes a flow processing condition display field 700 and a flow group selection button 7.
10, a flow processing condition selection button 720, a start button 730, a stop button 740, a cancel button 750, and a pause button 760. The flow group selection button 710 and the flow processing condition selection button 720 are buttons for selecting a flow processing condition, and a sign indicating the selected flow processing condition is displayed in the flow processing condition display field 700. The start button 730 is a button for executing the selected flow processing condition. Stop button 74
0 is a button for forcibly stopping the process being executed. The cancel button 750 is a button for canceling the setting of the selected flow processing condition. The pause button 760 is a button for temporarily interrupting the process being executed.

【0049】目的のフロー処理条件が図4に示すフロー
処理条件400である場合、ユーザは図10のコントロ
ールパネルにおいて、フローグループ選択ボタン710
によりフローグループ「A」を選択し、フロー処理条件
選択ボタン720により、フローグループ「A」の第2
番目のフロー処理条件を選択する。このとき、フロー処
理条件表示フィールド700には、「A.02」と表示
される。スタートボタン730を押すと、選択された
「A.02」のフロー処理条件、すなわちフロー処理条
件400(図4)に従い、本半導体基板処理装置10
(図1)の各処理ユニット(SC1,SC2,HP1,
HP2,HP3,CP1,CP2,CP3)における処
理が開始される。
When the target flow processing condition is the flow processing condition 400 shown in FIG. 4, the user can select the flow group selection button 710 on the control panel shown in FIG.
The flow group "A" is selected by the button, and the second flow group "A" is selected by the flow processing condition selection button 720.
Select the second flow processing condition. At this time, “A.02” is displayed in the flow processing condition display field 700. When the start button 730 is pressed, the semiconductor substrate processing apparatus 10 according to the selected flow processing condition of “A.02”, that is, the flow processing condition 400 (FIG. 4).
Each processing unit (SC1, SC2, HP1,
HP2, HP3, CP1, CP2, and CP3) are started.

【0050】図4のフロー処理条件400は、5段階の
搬送順序に伴う処理によって処理条件が構成されてい
る。第1段階では、図1のインデクサアーム220は、
カセットステージ210(あるいは212,214,2
16)の中から所定の基板を取り出し、基板搬送ユニッ
ト110は、ユニット番号「#0」であるインデクサモ
ジュール200においてインデクサアーム220から基
板を受け取る。第2段階では、基板搬送ユニット110
は、ユニット番号「#1」であるスピンコータSC1に
基板を搬送しスピンコータSC1に受け渡す。スピンコ
ータSC1は、スピンコータ用のユニットグループ
「B」420の第1番目のユニット処理条件に従って処
理を行う。第3段階では、基板搬送ユニット110は、
スピンコータSC1における処理が終了した基板を受け
取り、ユニット番号「#3」であるホットプレートHP
1に搬送し、受け渡す。ホットプレートHP1は、ホッ
トプレート用のユニットグループ「J」430の第2番
目のユニット処理条件に従って処理を行う。第4段階で
は、基板搬送ユニット110は、ホットプレートHP1
における処理が終了した基板を受け取り、ユニット番号
「#4」であるクーリングプレートCP1に搬送し、受
け渡す。クーリングプレートCP1は、クーリングプレ
ート用のユニットグループ「D」440の第99番目の
ユニット処理条件に従って処理を行う。第5段階では、
基板搬送ユニット110は、クーリングプレートCP1
における処理が終了した基板を受け取り、ユニット番号
「#0」であるインデクサモジュール200においてイ
ンデクサアーム220に受け渡す。インデクサアーム2
20は、カセットステージ210の所定の場所に基板搬
送ユニット110から受け取った基板を収納して、フロ
ー処理条件400の処理は終了する。
The flow processing conditions 400 shown in FIG. 4 are constituted by processings in a five-stage transport sequence. In the first stage, the indexer arm 220 of FIG.
Cassette stage 210 (or 212, 214, 2)
16), a predetermined substrate is taken out, and the substrate transport unit 110 receives the substrate from the indexer arm 220 in the indexer module 200 with the unit number “# 0”. In the second stage, the substrate transport unit 110
Transports the substrate to the spin coater SC1 with the unit number "# 1" and transfers it to the spin coater SC1. The spin coater SC1 performs processing according to the first unit processing condition of the unit group “B” 420 for spin coaters. In the third stage, the substrate transport unit 110
The substrate on which the processing in the spin coater SC1 has been completed is received, and the hot plate HP having the unit number “# 3” is received.
Transport to 1 and hand over. The hot plate HP 1 performs processing according to the second unit processing condition of the hot plate unit group “J” 430. In the fourth stage, the substrate transport unit 110 moves the hot plate HP1
Receives the substrate on which the processing in is completed, transports the substrate to the cooling plate CP1 having the unit number “# 4”, and delivers it. The cooling plate CP1 performs processing according to the 99th unit processing condition of the cooling plate unit group “D” 440. In the fifth stage,
The substrate transport unit 110 includes a cooling plate CP1.
Is received, and is transferred to the indexer arm 220 in the indexer module 200 having the unit number “# 0”. Indexer arm 2
20 stores the substrate received from the substrate transport unit 110 at a predetermined location on the cassette stage 210, and the processing under the flow processing conditions 400 ends.

【0051】以上説明したように、上記実施例では、複
数のユニット処理条件が処理ユニット毎に複数のユニッ
トグループに区分されており、また、複数のフロー処理
条件も複数のフローグループに区分されている。従っ
て、ユニットグループ毎に、また、フローグループ毎
に、ユーザレベルに応じてその使用の可否を設定するこ
とができる。この結果、本半導体基板処理装置の処理レ
シピの管理を的確に行うことが可能となる。
As described above, in the above embodiment, a plurality of unit processing conditions are divided into a plurality of unit groups for each processing unit, and a plurality of flow processing conditions are also divided into a plurality of flow groups. I have. Therefore, it is possible to set the use permission for each unit group and each flow group according to the user level. As a result, it is possible to accurately manage the processing recipe of the semiconductor substrate processing apparatus.

【0052】なお、この発明は上記の実施例や実施形態
に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の態様において実施することが可能であり、
例えば次のような変形も可能である。
The present invention is not limited to the above examples and embodiments, but can be implemented in various modes without departing from the gist thereof.
For example, the following modifications are possible.

【0053】(1)上記実施例では、ユーザレベルの登
録数は5つまでに限られていたが、より多数のユーザレ
ベルの登録ができるようにしてもよい。こうしておけ
ば、ユーザグループをさらに細分化したグループとして
登録ができ、また、ユーザ毎の登録も可能となる。 (2)上記実施例では、各処理データをそれぞれ10の
フローグループあるいは処理ユニット毎に10のユニッ
トグループに区分していたが、より多数の、あるいは、
より少数のグループに区分できるようにしてもよい。ま
た、1つのグループあたりに収納可能な処理条件数をグ
ループ毎に任意に設定できるようにしてもよい。こうす
れば、本装置についてのより適切なアクセス権設定が可
能となる。 (3)上記実施例では、本半導体基板処理装置10の処
理制御ステーション230において、ユーザレベルの設
定、フロー処理条件の実行などを行っているが、処理制
御ステーション230をネットワークに接続して、ネッ
トワーク上の他のコンピュータにおいて、クライアント
プログラムを実行することによって上記操作を行っても
よい。この場合にも、上述した実施例と同じような効果
があり、さらに、遠隔操作ができるという利点がある。 (4)上記実施例において、ハードウェアによって実現
されていた構成の一部をソフトウェアに置き換えるよう
にしてもよく、逆に、ソフトウェアによって実現されて
いた構成の一部をハードウェアに置き換えるようにして
もよい。
(1) In the above embodiment, the number of registered user levels is limited to five. However, a larger number of user levels may be registered. By doing so, the user group can be registered as a further subdivided group, and registration for each user is also possible. (2) In the above embodiment, each processing data is divided into 10 flow groups or 10 unit groups for each processing unit.
It may be possible to classify into a smaller number of groups. Further, the number of processing conditions that can be stored in one group may be arbitrarily set for each group. This makes it possible to set more appropriate access rights for the present apparatus. (3) In the above embodiment, the processing control station 230 of the semiconductor substrate processing apparatus 10 sets the user level, executes the flow processing conditions, and the like. The above operation may be performed by executing the client program on another computer. In this case, the same effect as in the above-described embodiment can be obtained, and further, there is an advantage that remote operation can be performed. (4) In the above embodiment, a part of the configuration realized by hardware may be replaced by software, and conversely, a part of the configuration realized by software may be replaced by hardware. Is also good.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例としての半導体基板処理装置
の構成を示す説明図。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a semiconductor substrate processing apparatus as one embodiment of the present invention.

【図2】図1の半導体基板処理装置10の電気的構成を
示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the semiconductor substrate processing apparatus 10 of FIG.

【図3】図2の外部磁気記憶部234内に格納されてい
るフロー処理データおよびユニット処理データの内容を
示す説明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing contents of flow processing data and unit processing data stored in an external magnetic storage unit 234 of FIG. 2;

【図4】本半導体基板処理装置10におけるフロー処理
条件の具体例を示す説明図。
FIG. 4 is an explanatory view showing a specific example of flow processing conditions in the semiconductor substrate processing apparatus 10.

【図5】本実施例における処理の全体手順を示すフロー
チャート。
FIG. 5 is a flowchart illustrating an overall procedure of a process according to the embodiment.

【図6】図5のステップS1の処理の詳細を示すフロー
チャート。
FIG. 6 is a flowchart showing details of a process in step S1 of FIG. 5;

【図7】図5のステップS1において表示されるユーザ
レベル登録画面の一例を示す説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a user level registration screen displayed in step S1 of FIG.

【図8】図5のステップS2の処理の詳細を示すフロー
チャート。
FIG. 8 is a flowchart showing details of the processing in step S2 in FIG. 5;

【図9】図5のステップS2において表示される処理デ
ータ設定画面の一例を示す説明図。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of a processing data setting screen displayed in step S2 of FIG. 5;

【図10】フロー処理条件を選択して実行するためのコ
ントロールパネルの一例を示す説明図
FIG. 10 is an explanatory diagram showing an example of a control panel for selecting and executing a flow processing condition.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…半導体基板処理装置 100…プロセスモジュール 110…基板搬送ユニット 200…インデクサモジュール 210,212,214,216…カセットステージ 220…インデクサアーム 230…処理制御ステーション 232…制御部 234…外部磁気記憶部 236…操作部 238…表示部 240…搬送制御部 250…処理制御部 300…フロー処理データ 302…フローグループA 310…スピンコータ用のユニット処理データ 312…スピンコータ用のユニットグループA 320…ホットプレート用のユニット処理データ 330…クーリングプレート用のユニット処理データ 350…ユニット処理データ 400…フロー処理条件 420…ユニットグループB(スピンコータ) 430…ユニットグループJ(ホットプレート) 440…ユニットグループD(クーリングプレート) 500…ユーザレベル数フィールド 510…ユーザレベル名フィールド 520…終了ボタン 530…設定保存ボタン 600…処理データ選択ボタンフィールド 610…グループ選択フィールド 620…ユーザレベル選択ボタンフィールド 630…終了ボタン 640…設定保存ボタン 700…フロー処理条件表示フィールド 710…フローグループ選択ボタン 720…フロー処理条件選択ボタン 730…スタートボタン 740…ストップボタン 750…キャンセルボタン 760…ポーズボタン SC1,SC2…スピンコータ HP1,HP2,HP3…ホットプレート CP1,CP2,CP3…クーリングプレート DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Semiconductor substrate processing apparatus 100 ... Process module 110 ... Substrate transfer unit 200 ... Indexer module 210,212,214,216 ... Cassette stage 220 ... Indexer arm 230 ... Processing control station 232 ... Control part 234 ... External magnetic storage part 236 ... Operation unit 238 Display unit 240 Transport control unit 250 Processing control unit 300 Flow processing data 302 Flow group A 310 Unit processing data for spin coater 312 Unit group A for spin coater 320 Unit processing for hot plate Data 330: Unit processing data for cooling plate 350: Unit processing data 400: Flow processing conditions 420: Unit group B (spin coater) 430: Unit group J (hot Rate) 440 ... unit group D (cooling plate) 500 ... user level number field 510 ... user level name field 520 ... end button 530 ... setting save button 600 ... processing data selection button field 610 ... group selection field 620 ... user level selection button Field 630 ... End button 640 ... Setting save button 700 ... Flow processing condition display field 710 ... Flow group selection button 720 ... Flow processing condition selection button 730 ... Start button 740 ... Stop button 750 ... Cancel button 760 ... Pause button SC1, SC2 ... Spin coater HP1, HP2, HP3 ... Hot plate CP1, CP2, CP3 ... Cooling plate

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の処理を行うための基板処理装置で
あって、 基板を処理するための複数の処理ユニットと、 前記複数の処理ユニットにおけるユニット処理条件と、
基板を前記複数の処理ユニットのいくつかに順次搬送し
てゆく順序を示すフロー処理条件と、を含む処理レシピ
を記憶する処理条件記憶手段と、を備え、 前記複数のユニット処理条件は、処理ユニットにおける
処理の種類を示すカテゴリ毎に分類されているととも
に、各カテゴリに関する複数のユニット処理条件は、さ
らに、それぞれ複数のユニット処理条件を含む複数のユ
ニットグループに区分されており、 前記複数のフロー処理条件は、それぞれ複数のフロー処
理条件を含む複数のフローグループに区分されているこ
とを特徴とする基板処理装置。
1. A substrate processing apparatus for processing a substrate, comprising: a plurality of processing units for processing a substrate; unit processing conditions in the plurality of processing units;
And a processing condition storage means for storing a processing recipe including a flow processing condition indicating an order in which the substrate is sequentially transferred to some of the plurality of processing units. And a plurality of unit processing conditions relating to each category are further divided into a plurality of unit groups each including a plurality of unit processing conditions. The substrate processing apparatus, wherein the conditions are divided into a plurality of flow groups each including a plurality of flow processing conditions.
【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置であって、
さらに、 前記基板処理装置を取り扱う複数のユーザグループを示
すユーザグループ情報を記憶するユーザグループ情報記
憶手段を備え、 各ユーザグループが使用し得る少なくとも1つのユニッ
トグループと、各ユーザグループが使用し得る少なくと
も1つのフローグループが各ユーザグループに割り当て
られていることを特徴とする基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein:
The apparatus further includes a user group information storage unit that stores user group information indicating a plurality of user groups that handle the substrate processing apparatus. At least one unit group that each user group can use, and at least one unit group that each user group can use A substrate processing apparatus, wherein one flow group is assigned to each user group.
【請求項3】 請求項2記載の基板処理装置であって、
さらに、 各ユーザグループに対するユニットグループとフローグ
ループとの割り当てを設定するための設定手段を備える
ことを特徴とする基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein
The substrate processing apparatus further comprises setting means for setting assignment of a unit group and a flow group to each user group.
【請求項4】 請求項3記載の基板処理装置であって、
さらに、 前記基板処理装置を取り扱うユーザが自己のユーザグル
ープ情報を入力するための入力手段と、 前記入力されたユーザグループ情報に応じて、前記ユー
ザグループ情報で示されるユーザグループに割り当てら
れたユニットグループおよびフローグループのみを表示
する表示手段と、 を備えることを特徴とする基板処理装置。
4. The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein:
Further, input means for a user who handles the substrate processing apparatus to input his / her own user group information, and a unit group assigned to the user group indicated by the user group information according to the input user group information And a display unit for displaying only the flow group.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007102582A1 (en) * 2006-03-09 2007-09-13 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate treating device system
JP2008004737A (en) * 2006-06-22 2008-01-10 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate treating apparatus
WO2008096792A1 (en) * 2007-02-07 2008-08-14 Tokyo Electron Limited Server device, information processing method, and program

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007102582A1 (en) * 2006-03-09 2007-09-13 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate treating device system
US8438655B2 (en) 2006-03-09 2013-05-07 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing system
JP5254779B2 (en) * 2006-03-09 2013-08-07 株式会社日立国際電気 Substrate processing system
JP2008004737A (en) * 2006-06-22 2008-01-10 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate treating apparatus
JP4734185B2 (en) * 2006-06-22 2011-07-27 株式会社日立国際電気 Substrate processing apparatus and substrate processing apparatus control method
WO2008096792A1 (en) * 2007-02-07 2008-08-14 Tokyo Electron Limited Server device, information processing method, and program
JP5097134B2 (en) * 2007-02-07 2012-12-12 東京エレクトロン株式会社 Server apparatus, information processing method, and program
US8607312B2 (en) 2007-02-07 2013-12-10 Tokyo Electron Limited Server, information processing method and program

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