JPH11204389A - Substrate processing equipment - Google Patents

Substrate processing equipment

Info

Publication number
JPH11204389A
JPH11204389A JP1324798A JP1324798A JPH11204389A JP H11204389 A JPH11204389 A JP H11204389A JP 1324798 A JP1324798 A JP 1324798A JP 1324798 A JP1324798 A JP 1324798A JP H11204389 A JPH11204389 A JP H11204389A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
substrate
character string
recipe
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1324798A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Motoaki Ono
元彰 小野
Tetsuya Hamada
哲也 濱田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP1324798A priority Critical patent/JPH11204389A/en
Publication of JPH11204389A publication Critical patent/JPH11204389A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To readily set processing and recognize the state of execution in each stage, by providing each input panel with a letter string display part which can display information regarding setting of processing recipe as a letter string. SOLUTION: In lot processing, a letter string display part 452 displays a letter string which accelerates selection of flow processing conditions. In processing on a single-wafer basis, when a processing condition selection button 460 is operated to make a processing condition display part 450 display a single- wafer basis processing mode, a letter display part 452 also displays that a single-wafer basis processing mode is selected. Here, a decision button 468 is selected and set. Then, each flow processing condition is set by operating the processing condition selection button 460. The process is executed recognizing each processing condition by the letter string display part 452. Furthermore, change of setting of flow condition is also made possible while or after a processing recipe is set by selecting a cancellation button 470. In the process, a letter string display part 452 also displays contents, etc., of change.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、複数の処理ユニ
ットを備える基板処理装置の技術に関する。
The present invention relates to a technology of a substrate processing apparatus having a plurality of processing units.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体基板、フォトマスク用のガラス基
板、液晶表示装置用のガラス基板、光ディスク用の基板
等の基板の処理を行なうための基板処理装置において
は、各種の処理を行う複数の処理ユニットが組み合わさ
れている。例えば、半導体基板にフォトレジストを塗布
する工程で用いられる半導体基板処理装置は、スピンコ
ータや、ホットプレート、クーリングプレートなどの複
数の処理ユニットから構成されている。通常、それぞれ
の処理ユニットにおけるユニット処理条件については、
ユーザがユニット毎に予め設定する。また、基板をどの
ユニットで処理するのか、およびどのような順序で基板
をユニットに搬送するかを示すフロー処理条件もユーザ
が予め設定する。こうして設定されたフロー処理条件と
ユニット処理条件で規定される処理レシピに従って基板
の処理が実行される。
2. Description of the Related Art In a substrate processing apparatus for processing substrates such as a semiconductor substrate, a glass substrate for a photomask, a glass substrate for a liquid crystal display device, and a substrate for an optical disk, a plurality of processes for performing various processes are performed. Units are combined. For example, a semiconductor substrate processing apparatus used in a process of applying a photoresist to a semiconductor substrate includes a plurality of processing units such as a spin coater, a hot plate, and a cooling plate. Normally, regarding the unit processing conditions in each processing unit,
The user sets in advance for each unit. In addition, the user also sets in advance the flow processing conditions indicating in which unit the substrate is to be processed and in what order the substrate is transported to the unit. The processing of the substrate is executed according to the processing recipe specified by the flow processing conditions and the unit processing conditions set in this way.

【0003】通常の基板処理装置は、基板を収納するた
めのカセット(「基板収納カセット」とも呼ぶ)を載置
するための複数のステージを備えている。処理対象とな
る基板は、基板収納カセット内に収納された状態でステ
ージ上にセットされる。1つのカセットは、25枚程度
の複数の基板を収納している。通常、カセット内に収納
されているすべての基板について1つの処理レシピを設
定することにより、すべての基板が同じ処理レシピに従
って処理されている。この明細書においては、このよう
にカセットに収納されているすべての基板に対して同じ
処理条件が設定されている処理を「ロット処理」と呼
ぶ。
An ordinary substrate processing apparatus includes a plurality of stages for mounting a cassette for storing substrates (also referred to as a “substrate storage cassette”). A substrate to be processed is set on a stage in a state of being stored in a substrate storage cassette. One cassette stores about 25 substrates. Usually, by setting one processing recipe for all the substrates stored in the cassette, all the substrates are processed according to the same processing recipe. In this specification, the processing in which the same processing conditions are set for all the substrates stored in the cassette in this way is referred to as “lot processing”.

【0004】各ステージには入力パネルが設けられてお
り、ユーザは、この入力パネルを用いて、各ステージで
使用する処理レシピを選択し、また、基板の処理の実行
を指示することができる。入力パネルには、選択された
処理レシピの番号が数字で表示される。
Each stage is provided with an input panel. Using this input panel, a user can select a processing recipe to be used in each stage and instruct execution of substrate processing. On the input panel, the number of the selected processing recipe is displayed by a numeral.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の基板処理装置で
は、入力パネルに処理レシピの番号が表示されるだけな
ので、ユーザが処理レシピを選択する際には、その番号
のみで処理レシピの内容を判断しなければならず、選択
を誤る可能性が高いという問題があった。また、選択し
ようとする処理レシピが一部の処理ユニットの不具合等
により使用できないにも関わらず、入力パネルには処理
レシピの番号が表示されるのみであるため、使用できな
い処理レシピを設定してしまうことがあり、適切な処理
レシピの設定ができないという問題があった。
In the conventional substrate processing apparatus, since the number of the processing recipe is only displayed on the input panel, when the user selects the processing recipe, the contents of the processing recipe are displayed only by the number. It has to be judged, and there is a problem that there is a high possibility of making a wrong selection. In addition, although the processing recipe to be selected cannot be used due to a failure of some processing units or the like, only the processing recipe number is displayed on the input panel. There is a problem that it is not possible to set an appropriate processing recipe.

【0006】ところで、1つのカセット内の基板毎に異
なる処理を実行したい場合がある。この明細書において
は、このようにカセットに収納されている基板に対して
異なる処理条件が設定されている処理を「枚葉処理」と
呼び、枚葉処理のための処理レシピを「枚葉処理レシ
ピ」と呼ぶ。なお、枚葉処理では、カセット内の各基板
に対して異なる処理レシピが設定されている必要は無
く、複数枚の基板について同じ処理レシピが設定されて
いてもよい。このような場合には、基板毎に処理レシピ
を設定する必要があるが、従来の入力パネルでは、処理
レシピの番号が表示されるのみであるため、処理レシピ
を設定すべき基板を特定できず、入力パネルでは枚葉処
理レシピを設定できないという問題があった。
In some cases, it is desired to execute different processing for each substrate in one cassette. In this specification, a process in which different processing conditions are set for a substrate housed in a cassette in this manner is referred to as “single-sheet processing”, and a processing recipe for single-sheet processing is referred to as “single-sheet processing”. Recipes. " In the single-wafer processing, different processing recipes need not be set for each substrate in the cassette, and the same processing recipe may be set for a plurality of substrates. In such a case, it is necessary to set a processing recipe for each substrate. However, in the conventional input panel, only the number of the processing recipe is displayed. However, there is a problem that a single-wafer processing recipe cannot be set on the input panel.

【0007】さらに、各ステージに載置されているカセ
ット内の基板の処理の実行状態については、各ステージ
の入力パネルでは確認することができず、基板処理装置
のメインパネルで確認しなければならないという問題も
あった。
Further, the execution state of the processing of the substrate in the cassette mounted on each stage cannot be confirmed on the input panel of each stage, but must be confirmed on the main panel of the substrate processing apparatus. There was also a problem.

【0008】この発明は、従来技術における上述の課題
を解決するためになされたものであり、基板処理装置の
各ステージにおける処理の設定と実行状態の確認を容易
に行うことのできる技術を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems in the prior art, and provides a technique capable of easily setting processing and confirming an execution state in each stage of a substrate processing apparatus. The purpose is to:

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】上
述の課題の少なくとも一部を解決するため、本発明の基
板処理装置は、複数の基板収納カセットを載置するため
の複数のステージと、各ステージに載置された基板収納
カセット内の基板の処理条件を示す処理レシピを設定す
るとともに、基板の処理の実行を指示するために、各ス
テージに設けられた入力パネルと、を備え、各入力パネ
ルは、対応するステージに載置された基板収納カセット
内の基板に対する処理レシピの設定時には処理レシピの
設定に関する情報を文字列として表示可能である文字列
表示部を備えることを特徴とする。
In order to solve at least a part of the above-mentioned problems, a substrate processing apparatus according to the present invention comprises a plurality of stages for mounting a plurality of substrate storage cassettes, An input panel provided on each stage to set a processing recipe indicating processing conditions for the substrate in the substrate storage cassette mounted on each stage, and to instruct execution of the processing of the substrate, The input panel includes a character string display unit that can display information on the setting of the processing recipe as a character string when setting the processing recipe for the substrate in the substrate storage cassette mounted on the corresponding stage.

【0010】上記基板処理装置では、基板の処理の設定
の情報を文字列として表示することができるため、処理
レシピの設定を正確に行うことができる。
In the above-described substrate processing apparatus, since information on substrate processing settings can be displayed as a character string, processing recipe settings can be made accurately.

【0011】上記基板処理装置において、前記文字列表
示部は、さらに基板の処理の実行時には処理の実行状態
に関する情報を文字列として表示可能であることが好ま
しい。
In the above-mentioned substrate processing apparatus, it is preferable that the character string display unit can further display information on the execution state of the processing as a character string when the processing of the substrate is executed.

【0012】こうすれば、基板の処理の実行についての
情報を文字列として表示することができるため、基板の
処理を実行しているときには、その処理状況を確認する
ことができる。
With this configuration, since information on the execution of the processing of the substrate can be displayed as a character string, the status of the processing can be confirmed when the processing of the substrate is being executed.

【0013】上記基板処理装置において、前記入力パネ
ルは、前記入力パネルに対応するステージに載置された
基板収納カセット内の複数の基板のそれぞれに対して処
理レシピを独立に設定する枚葉処理設定が可能であり、
前記文字列表示部は、前記枚葉処理設定において、前記
基板収納カセット内に収納されている複数の基板のう
ち、処理レシピを設定中の基板が何枚目の基板であるか
を示す文字列を表示することが好ましい。
In the above substrate processing apparatus, the input panel may be a single wafer processing setting for independently setting a processing recipe for each of a plurality of substrates in a substrate storage cassette mounted on a stage corresponding to the input panel. Is possible,
In the single-wafer processing setting, the character string display unit displays a character string indicating the number of a substrate for which a processing recipe is being set among a plurality of substrates stored in the substrate storage cassette. Is preferably displayed.

【0014】こうすれば、処理レシピを設定中の基板
が、基板収納カセット内のどの基板であるかを容易に把
握することができるため、枚葉処理レシピの設定が容易
となる。
This makes it easy to know which substrate in the substrate storage cassette is the substrate for which the processing recipe is being set, thereby facilitating the setting of the single-wafer processing recipe.

【0015】上記基板処理装置において、さらに、複数
の処理レシピを格納した読み出し可能な記録媒体を備
え、前記文字列表示部は、前記基板収納カセット内に収
納されている基板の処理に関し、ユーザが前記入力パネ
ルを用いて前記複数の処理レシピの中の1つを選択しよ
うとしたときに、その処理レシピを実行可能か否かを示
す文字列を表示することが好ましい。
In the above-mentioned substrate processing apparatus, the apparatus further comprises a readable recording medium storing a plurality of processing recipes, and the character string display unit is used by a user for processing a substrate stored in the substrate storage cassette. When trying to select one of the plurality of processing recipes using the input panel, it is preferable to display a character string indicating whether or not the processing recipe can be executed.

【0016】こうすれば、基板について処理レシピを設
定するときに、その処理レシピが実行可能であるかどう
かを予め知ることができるため、正確に処理レシピを設
定して実行させることができる。
With this configuration, when a processing recipe is set for a substrate, it is possible to know in advance whether or not the processing recipe is executable, so that the processing recipe can be accurately set and executed.

【0017】また、上記基板処理装置において、前記文
字列表示部は、前記入力パネルで処理レシピを設定する
際に、設定される処理レシピを識別するための文字列を
表示することが好ましい。
In the above substrate processing apparatus, it is preferable that the character string display section displays a character string for identifying the set processing recipe when setting the processing recipe on the input panel.

【0018】こうすれば、設定中の処理レシピの内容を
容易に把握することができるため、より正確に処理レシ
ピを設定することができる。
With this configuration, the contents of the processing recipe being set can be easily grasped, so that the processing recipe can be set more accurately.

【0019】[0019]

【発明の他の態様】この発明は、以下のような他の態様
も含んでいる。第1の態様は、複数の基板収納カセット
を載置するための複数のステージを有する基板処理装置
における基板処理方法であって、各ステージに載置され
た基板収納カセット内の基板の処理条件を示す処理レシ
ピを設定するとともに、基板の処理の実行を指示するた
めに、各ステージに入力パネルを設け、各ステージに載
置された基板収納カセット内の基板に対する処理レシピ
の設定時には、各ステージに対応する入力パネルに、処
理レシピの設定に関する情報を文字列として表示するこ
とを特徴とする基板処理方法である。
Other Embodiments of the Invention The present invention includes the following other embodiments. A first aspect is a substrate processing method in a substrate processing apparatus having a plurality of stages for mounting a plurality of substrate storage cassettes, wherein a processing condition of a substrate in a substrate storage cassette mounted on each stage is determined. In addition to setting the processing recipe shown, an input panel is provided at each stage to instruct the execution of the processing of the substrate, and when setting the processing recipe for the substrate in the substrate storage cassette mounted on each stage, the input panel is set at each stage. A substrate processing method characterized in that information on processing recipe settings is displayed as a character string on a corresponding input panel.

【0020】第2の態様は、上記の発明の各工程や各手
段の機能をコンピュータに実現させるためのコンピュー
タプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記
録媒体である。
According to a second aspect, there is provided a computer-readable recording medium having recorded thereon a computer program for causing a computer to realize the functions of each step and each means of the above invention.

【0021】第3の態様は、コンピュータに上記の発明
の各工程または各手段の機能を実現させるコンピュータ
プログラムを通信経路を介して供給するプログラム供給
装置としての態様である。こうした態様では、プログラ
ムをネットワーク上のサーバなどに置き、通信経路を介
して、必要なプログラムをコンピュータにダウンロード
し、これを実行することで、上記の各工程や各手段の機
能を実現することができる。
The third aspect is an aspect as a program supply device for supplying a computer program for realizing the functions of each step or each means of the above-described invention to a computer via a communication path. In such an embodiment, the functions of the above-described steps and units can be realized by placing the program on a server or the like on a network, downloading the necessary program to a computer via a communication path, and executing the program. it can.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】A.装置の構成:以下、本発明の
実施の形態を実施例に基づいて説明する。図1は、本発
明の一実施例としての半導体基板処理装置の構成を示す
説明図である。この半導体基板処理装置10は、プロセ
スモジュール100と、インデクサモジュール200と
の、2つのモジュールから構成されている。なお、本プ
ロセスモジュール100は半導体基板(以下「基板」と
呼ぶ)上に、フォトレジストを塗布する工程に用いられ
るモジュールであるが、図示しない他のインタフェース
モジュールを介して、さらに他のプロセスモジュール、
例えば、露光パターンの現像工程に用いられるプロセス
モジュールを、本プロセスモジュール100と接続する
ことも可能である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Configuration of Apparatus: Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on examples. FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a semiconductor substrate processing apparatus as one embodiment of the present invention. The semiconductor substrate processing apparatus 10 includes two modules, a process module 100 and an indexer module 200. The process module 100 is a module used for a process of applying a photoresist on a semiconductor substrate (hereinafter, referred to as a “substrate”).
For example, it is also possible to connect a process module used in the development process of the exposure pattern to the process module 100.

【0023】プロセスモジュール100は、2台のスピ
ンコータSC1,SC2と、3台のホットプレートHP
1,HP2,HP3と、3台のクーリングプレートCP
1,CP2,CP3と、基板搬送ユニット110と、を
備えている。2台のスピンコータSC1,SC2は、基
板上にフォトレジストを塗布する処理ユニットである。
3台のホットプレートHP1,HP2,HP3は、基板
の加熱処理を行う処理ユニットである。3台のクーリン
グプレートCP1,CP2,CP3は、基板の冷却処理
を行う処理ユニットである。基板搬送ユニット110
は、インデクサモジュールから各処理ユニットに、ある
いは処理ユニット間で、基板を搬送する搬送ユニットで
ある。
The process module 100 includes two spin coaters SC1 and SC2 and three hot plates HP
1, HP2, HP3 and three cooling plates CP
1, CP2, CP3, and a substrate transport unit 110. The two spin coaters SC1 and SC2 are processing units for applying a photoresist on a substrate.
The three hot plates HP1, HP2, and HP3 are processing units that heat the substrate. The three cooling plates CP1, CP2, and CP3 are processing units that perform a cooling process on the substrate. Substrate transfer unit 110
Is a transport unit that transports a substrate from the indexer module to each processing unit or between processing units.

【0024】インデクサモジュール200は、4つのカ
セットステージ210,212,214,216と、イ
ンデクサアーム220と、処理制御ステーション230
と、を備えている。4つのカセットステージ210,2
12,214,216には、基板を複数枚収納したカセ
ットが設置される。インデクサアーム220は、カセッ
トステージに備えられたカセット内から所定の基板を取
り出して基板搬送ユニット110に受け渡し、また、各
処理ユニットで処理された基板を基板搬送ユニット11
0から受け取り基板収納カセット内に収納する搬送ユニ
ットである。処理制御ステーション230は、本半導体
基板処理装置10におけるすべての処理を制御するコン
ピュータである。処理制御ステーション230について
は、後述する。
The indexer module 200 includes four cassette stages 210, 212, 214, 216, an indexer arm 220, and a processing control station 230.
And Four cassette stages 210, 2
Cassettes containing a plurality of substrates are installed at 12, 214, and 216. The indexer arm 220 takes out a predetermined substrate from the cassette provided on the cassette stage and transfers it to the substrate transport unit 110, and also transfers the substrate processed by each processing unit to the substrate transport unit 11
0 is a transfer unit that stores the data in the receiving substrate storage cassette. The process control station 230 is a computer that controls all processes in the semiconductor substrate processing apparatus 10. The processing control station 230 will be described later.

【0025】図2は、図1のインデクサモジュール20
0のカセットステージを示す説明図である。4つのカセ
ットステージ210,212,214,216には、さ
らに、ステージパネル260,262,264,266
がそれぞれ備えられている。カセットステージの各ステ
ージパネルにおいて、そのカセットステージに設置され
た基板収納カセット内の基板の処理を設定する。ステー
ジパネル260,262,264,266については後
述する。
FIG. 2 shows the indexer module 20 of FIG.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a cassette stage of No. 0; The four cassette stages 210, 212, 214, and 216 further include stage panels 260, 262, 264, and 266.
Are provided. In each stage panel of the cassette stage, processing of a substrate in a substrate storage cassette installed on the cassette stage is set. The stage panels 260, 262, 264, 266 will be described later.

【0026】なお、この明細書において「処理ユニッ
ト」とは、特に、基板の加工を目的とする処理を行うユ
ニットをいう。基板搬送ユニット110と、インデクサ
アーム220は基板の搬送を目的とするユニットである
ため、本実施例における「処理ユニット」には相当しな
い。従って、図1に示されているユニットの中で、「処
理ユニット」と呼べるものは、プロセスモジュール10
0内の2台のスピンコータSC1,SC2と、3台のホ
ットプレートHP1,HP2,HP3と、3台のクーリ
ングプレートCP1,CP2,CP3との8つのユニッ
トである。
In this specification, the term “processing unit” particularly refers to a unit that performs processing for processing a substrate. Since the substrate transport unit 110 and the indexer arm 220 are units for transporting substrates, they do not correspond to “processing units” in the present embodiment. Therefore, among the units shown in FIG. 1, those which can be called “processing units” are the process modules 10.
There are eight units of two spin coaters SC1, SC2, three hot plates HP1, HP2, HP3, and three cooling plates CP1, CP2, CP3 in 0.

【0027】図3は、図1の半導体基板処理装置10の
電気的構成を示すブロック図である。この半導体基板処
理装置10は、処理制御ステーション230と、搬送制
御部240と、処理制御部250とを備えている。搬送
制御部240は、図1の基板搬送ユニット110および
インデクサアーム220における搬送を制御する機能を
有する。処理制御部250は、図1の各処理ユニット
(SC1,SC2,HP1,HP2,HP3,CP1,
CP2,CP3)における処理を制御する機能を有す
る。搬送制御部240および処理制御部250は、制御
部232からの指令に基づいて各ユニットの制御を行
う。
FIG. 3 is a block diagram showing an electrical configuration of the semiconductor substrate processing apparatus 10 of FIG. The semiconductor substrate processing apparatus 10 includes a processing control station 230, a transfer control unit 240, and a processing control unit 250. The transfer control unit 240 has a function of controlling transfer in the substrate transfer unit 110 and the indexer arm 220 in FIG. The processing control unit 250 controls each processing unit (SC1, SC2, HP1, HP2, HP3, CP1,
CP2, CP3). The transport control unit 240 and the processing control unit 250 control each unit based on a command from the control unit 232.

【0028】処理制御ステーション230は、制御部2
32と、外部磁気記憶部234と、キーボードやマウ
ス、ステージパネル260,262,264,266
(図2)などの操作部236と、液晶ディスプレイなど
の表示部238と、を備えたコンピュータである。制御
部232は、図示しないCPUやメインメモリを備えて
おり、メインメモリに格納されたコンピュータプログラ
ムを実行することによって、搬送制御部240および処
理制御部250の動作を制御する。外部磁気記憶部23
4は、基板の処理を行うためのフロー処理条件、ユニッ
ト処理条件などを格納している。これらの各処理条件に
ついては後述する。
The processing control station 230 includes the control unit 2
32, an external magnetic storage unit 234, a keyboard, a mouse, and stage panels 260, 262, 264, 266.
This is a computer including an operation unit 236 such as that shown in FIG. 2 and a display unit 238 such as a liquid crystal display. The control unit 232 includes a CPU and a main memory (not shown), and controls the operations of the transport control unit 240 and the processing control unit 250 by executing a computer program stored in the main memory. External magnetic storage unit 23
Reference numeral 4 stores flow processing conditions for processing the substrate, unit processing conditions, and the like. Each of these processing conditions will be described later.

【0029】なお、図1に示す各部の機能を実現するコ
ンピュータプログラムは、フレキシブルディスクやCD
−ROM等の、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に
記録された形態で提供される。各コンピュータは、その
記録媒体からコンピュータプログラムを読み取って内部
記憶装置または外部記憶装置に転送する。あるいは、通
信経路を介してコンピュータにコンピュータプログラム
を供給するようにしてもよい。コンピュータプログラム
の各機能を実現する時には、内部記憶装置に格納された
コンピュータプログラムがコンピュータのマイクロプロ
セッサによって実行される。また、記録媒体に記録され
たコンピュータプログラムをコンピュータが読み取って
直接実行するようにしてもよい。
A computer program for realizing the function of each unit shown in FIG.
-Provided in a form recorded on a computer-readable recording medium such as a ROM. Each computer reads the computer program from the recording medium and transfers it to an internal storage device or an external storage device. Alternatively, a computer program may be supplied to a computer via a communication path. When realizing each function of the computer program, the computer program stored in the internal storage device is executed by the microprocessor of the computer. Further, a computer may read a computer program recorded on a recording medium and directly execute the computer program.

【0030】この明細書において、コンピュータとは、
ハードウェア装置とオペレーションシステムとを含む概
念であり、オペレーションシステムの制御の下で動作す
るハードウェア装置を意味している。また、オペレーシ
ョンシステムが不要でアプリケーションプログラム単独
でハードウェア装置を動作させるような場合には、その
ハードウェア装置自体がコンピュータに相当する。ハー
ドウェア装置は、CPU等のマイクロプロセッサと、記
録媒体に記録されたコンピュータプログラムを読み取る
ための手段とを少なくとも備えている。コンピュータプ
ログラムは、このようなコンピュータに、上述の各手段
の機能を実現させるプログラムコードを含んでいる。な
お、上述の機能の一部は、アプリケーションプログラム
でなく、オペレーションシステムによって実現されてい
ても良い。
In this specification, a computer is
The concept includes a hardware device and an operation system, and means a hardware device that operates under the control of the operation system. In the case where an operation system is unnecessary and a hardware device is operated by an application program alone, the hardware device itself corresponds to a computer. The hardware device includes at least a microprocessor such as a CPU and means for reading a computer program recorded on a recording medium. The computer program includes a program code that causes such a computer to realize the functions of the above-described units. Some of the functions described above may be realized by an operation system instead of the application program.

【0031】なお、この発明における「記録媒体」とし
ては、フレキシブルディスクやCD−ROM、光磁気デ
ィスク、ICカード、ROMカートリッジ、パンチカー
ド、バーコードなどの符号が印刷された印刷物、コンピ
ュータの内部記憶装置(RAMやROMなどのメモリ)
および外部記憶装置等の、コンピュータが読取り可能な
種々の媒体を利用できる。
The "recording medium" in the present invention includes a flexible disk, a CD-ROM, a magneto-optical disk, an IC card, a ROM cartridge, a punch card, a printed matter on which a code such as a bar code is printed, and an internal storage of a computer. Device (RAM, ROM, etc.)
And various computer-readable media such as an external storage device.

【0032】B.実施例における処理内容:図3の外部
磁気記憶部234内には、フロー処理データとユニット
処理データとを含む処理レシピが格納されている。図4
は、半導体基板処理装置10における処理レシピを示す
説明図である。
B. Processing content in the embodiment: A processing recipe including flow processing data and unit processing data is stored in the external magnetic storage unit 234 in FIG. FIG.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a processing recipe in the semiconductor substrate processing apparatus 10.

【0033】フロー処理データは、「0」から「9」ま
での10個のフローグループから構成されている。図4
(a)は、フローグループ「0」300を示しており、
各フローグループは99個のフロー処理条件を含んでい
る。したがって、フロー処理データには、990個のフ
ロー処理条件が含まれている。
The flow processing data is composed of ten flow groups from "0" to "9". FIG.
(A) shows a flow group “0” 300,
Each flow group contains 99 flow processing conditions. Therefore, the flow processing data includes 990 flow processing conditions.

【0034】また、ユニット処理データは、処理ユニッ
トにおける処理の種類を示すカテゴリ毎に分類されてお
り、スピンコータ用のユニット処理データと、ホットプ
レート用のユニット処理データと、クーリングプレート
用のユニット処理データとの3種の処理データに分類さ
れている。各ユニット処理データは、それぞれ「0」か
ら「9」までの10個のユニットグループから構成され
ている。図4(b)は、スピンコータ用のユニットグル
ープ「2」310、ホットプレート用のユニットグルー
プ「4」320、クーリングプレート用のユニットグル
ープ「5」330を示しており、各ユニットグループ3
10,320,330には、それぞれ99個のユニット
処理条件が含まれている。したがって、各ユニット処理
データは、990個のフロー処理条件を含んでいる。
The unit processing data is classified into categories indicating the type of processing in the processing unit, and includes unit processing data for a spin coater, unit processing data for a hot plate, and unit processing data for a cooling plate. And the three types of processing data. Each unit processing data is composed of ten unit groups from “0” to “9”. FIG. 4B shows a unit group “2” 310 for the spin coater, a unit group “4” 320 for the hot plate, and a unit group “5” 330 for the cooling plate.
Each of 10, 320 and 330 includes 99 unit processing conditions. Therefore, each unit processing data includes 990 flow processing conditions.

【0035】ここで、「フロー処理条件」とは、各処理
ユニットにおける処理内容を示したユニット処理条件を
任意に組み合わせた一連の処理の内容を示したデータで
ある。各フロー処理条件は、図4(a)に示すように、
搬送順序と、処理ユニット識別情報と、ユニット処理条
件番号とを含んでいる。搬送順序は、基板処理装置内に
おける基板の搬送の順序を示している。処理ユニット識
別情報は、基板の搬送先の処理ユニットのユニット番号
と、その処理ユニットの処理カテゴリとを含んでいる。
処理カテゴリの欄の「ID」はインデクサモジュール
を、「SC」はスピンコータを、「HP」はホットプレ
ートを、「CP」はクーリングプレートを意味してい
る。また、ユニット処理条件番号は、ユニット処理デー
タの中の1つのユニット処理条件を示している。ユニッ
ト処理条件番号の欄の「SC2.1」は、スピンコータ
用のユニットグループ「2」310に含まれる第1番目
のユニット処理条件を示しており、これによりスピンコ
ータにおけるユニット処理条件が決定されている。
Here, the "flow processing conditions" are data indicating the contents of a series of processing in which unit processing conditions indicating processing contents in each processing unit are arbitrarily combined. Each flow processing condition is, as shown in FIG.
It includes a transfer order, processing unit identification information, and a unit processing condition number. The transfer order indicates the order of transfer of the substrates in the substrate processing apparatus. The processing unit identification information includes the unit number of the processing unit to which the substrate is transported, and the processing category of the processing unit.
In the column of the processing category, “ID” indicates an indexer module, “SC” indicates a spin coater, “HP” indicates a hot plate, and “CP” indicates a cooling plate. The unit processing condition number indicates one unit processing condition in the unit processing data. “SC2.1” in the column of the unit processing condition number indicates the first unit processing condition included in the unit group “2” 310 for the spin coater, and the unit processing condition in the spin coater is thereby determined. .

【0036】また、「ユニット処理条件」とは、各処理
ユニットにおける処理内容を示したデータである。例え
ば、スピンコータのユニット処理条件には、フォトレジ
ストを基板に塗布するタイミング、処理開始からの経過
時間に対するスピンナの回転数などが含まれる。ホット
プレートのユニット処理条件には、加熱プレートの設定
温度などが含まれる。また、クーリングプレートのユニ
ット処理条件にも、冷却プレートの設定温度などが含ま
れる。
The "unit processing conditions" are data indicating the processing contents in each processing unit. For example, the unit processing conditions of the spin coater include the timing of applying the photoresist to the substrate, the number of rotations of the spinner with respect to the elapsed time from the start of the processing, and the like. The hot plate unit processing conditions include the set temperature of the heating plate. Further, the unit processing condition of the cooling plate also includes the set temperature of the cooling plate.

【0037】フロー処理条件とユニット処理条件とで規
定されている基板の処理条件は「処理レシピ」と呼ばれ
ている。また、枚葉処理レシピは、カセット内に収納さ
れた基板について複数の異なる処理条件が設定されてい
る処理レシピである。枚葉処理レシピでは、カセット内
の基板毎に異なるフロー処理条件を設定することが可能
である。
The substrate processing conditions defined by the flow processing conditions and the unit processing conditions are called "processing recipes". The single-wafer processing recipe is a processing recipe in which a plurality of different processing conditions are set for the substrates stored in the cassette. In the single-wafer processing recipe, different flow processing conditions can be set for each substrate in the cassette.

【0038】図4(a)のフローグループ「0」300
の最上部に示されるフロー処理条件「No.1」に従っ
て処理を行う場合には、基板は、インデクサID、スピ
ンコータSC、ホットプレートHP、クーリングプレー
トCPの順に搬送されて処理される。3番目の搬送順序
(3番目の搬送先ユニット)におけるユニット番号は
「#7」であり、これはホットプレートHP3(図1)
を意味している。また、4番目の搬送順序におけるユニ
ット番号は「#8」であり、これはクーリングプレート
CP3(図1)を意味している。
The flow group "0" 300 in FIG.
When the processing is performed according to the flow processing condition “No. 1” shown at the top of the table, the substrate is transported and processed in the order of the indexer ID, the spin coater SC, the hot plate HP, and the cooling plate CP. The unit number in the third transfer order (third transfer destination unit) is “# 7”, which is the hot plate HP3 (FIG. 1).
Means The unit number in the fourth transport order is “# 8”, which means the cooling plate CP3 (FIG. 1).

【0039】このように、処理ユニット識別情報は、各
処理ユニットに固有のユニット番号で基板の搬送順序を
規定しているので、複数の処理ユニットへの基板の搬送
順序を任意の順序に設定することが可能である。なお、
処理ユニット識別情報は各処理ユニットを識別できれば
よいので、少なくともユニット番号を含んでいればよ
く、処理カテゴリを含んでいなくてもよい。
As described above, since the processing unit identification information defines the transfer order of the substrates by the unit number unique to each processing unit, the transfer order of the substrates to the plurality of processing units is set to an arbitrary order. It is possible. In addition,
Since the processing unit identification information only needs to be able to identify each processing unit, it is sufficient that the processing unit identification information includes at least the unit number and does not need to include the processing category.

【0040】基板収納カセットに収納された基板は、処
理レシピに従って処理される。処理レシピの設定は、ス
テージパネル260,262,264,266(図2)
において行われる。
The substrates stored in the substrate storage cassette are processed according to a processing recipe. The setting of the processing recipe is performed on the stage panels 260, 262, 264, 266 (FIG. 2).
It is performed in.

【0041】図5は、カセットステージに備えられたス
テージパネルの一例を示す説明図である。図5(a)
は、従来の技術におけるステージパネルを示している。
図5(a)のステージパネルは、処理条件表示部400
と、処理条件選択ボタン410と、スタートボタン41
2と、送り出し停止ボタン414と、ストップボタン4
16と、動作中表示ランプ420と、終了表示ランプ4
22とを含んでいる。処理条件選択ボタン410は、基
板収納カセットに収納された基板についてフロー処理条
件を選択するためのボタンであり、選択されたフロー処
理条件を示す符号は処理条件表示部400に表示され
る。なお、従来の技術では、フロー処理条件は「01」
から「99」までの99個が存在するのみなので、すな
わち、上述のフロー処理データは1つのフローグループ
のみから構成されていたため、フローグループの指定を
する必要はなく、2桁の数字が表示されればフロー処理
条件の選択は可能であった。スタートボタン412は、
設定されたフロー処理条件に従って処理を開始するため
のボタンである。ストップボタン416は、実行中の処
理を一時的に中止するためのボタンである。送り出し停
止ボタン414は、処理中の基板をその処理の終了後に
カセットに収納させ、カセット内の未処理基板を処理の
ために各処理ユニットへ搬出させないようにするための
ボタンである。動作中表示ランプ420は、カセット内
の基板の処理が実行中であることを示すランプである。
終了表示ランプ422は、カセット内の基板の処理が終
了したことを示すランプである。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing an example of a stage panel provided on the cassette stage. FIG. 5 (a)
Shows a stage panel in the prior art.
The stage panel shown in FIG.
, Processing condition selection button 410 and start button 41
2, sending stop button 414, stop button 4
16, operation indicator lamp 420, end indicator lamp 4
22. The processing condition selection button 410 is a button for selecting a flow processing condition for a substrate stored in the substrate storage cassette, and a sign indicating the selected flow processing condition is displayed on the processing condition display unit 400. In the related art, the flow processing condition is “01”.
Since there are only 99 items from to "99", that is, since the above-described flow processing data is composed of only one flow group, there is no need to specify a flow group, and a two-digit number is displayed. If so, the flow processing conditions could be selected. The start button 412 is
This button is used to start processing according to the set flow processing conditions. The stop button 416 is a button for temporarily stopping the process being executed. The unloading stop button 414 is a button for storing a substrate under processing in a cassette after the processing is completed, and preventing unprocessed substrates in the cassette from being carried out to each processing unit for processing. The in-operation indicator lamp 420 is a lamp indicating that the processing of the substrate in the cassette is being executed.
The end indicator lamp 422 is a lamp indicating that the processing of the substrate in the cassette has been completed.

【0042】従来の技術では、図5(a)のステージパ
ネルにおいて、処理条件選択ボタン410を操作して処
理条件表示部400に目的のフロー処理条件の番号を表
示させることにより、ロット処理のみ設定して実行する
ことができた。なお、枚葉処理については、図5(a)
のステージパネルにおいては、カセット内の基板を特定
できないため枚葉処理レシピを設定することはできない
が、処理制御ステーション230(図1)の操作部23
6において、ステージパネルを用いずに枚葉処理レシピ
を設定することができる。しかし、実行はステージパネ
ルにおいて、その枚葉処理レシピを示す番号を表示させ
て行うため、正確に目的の処理条件を設定することは困
難であった。
In the prior art, only the lot processing is set by operating the processing condition selection button 410 on the stage panel of FIG. 5A to display the number of the target flow processing condition on the processing condition display section 400. And was able to run. FIG. 5A shows the single-wafer processing.
Cannot set a single-wafer processing recipe because the substrate in the cassette cannot be specified on the stage panel of the operation panel 23 of the processing control station 230 (FIG. 1).
In 6, the single-wafer processing recipe can be set without using the stage panel. However, since the execution is performed by displaying the number indicating the single-wafer processing recipe on the stage panel, it is difficult to accurately set the target processing conditions.

【0043】図5(b)は本実施例におけるステージパ
ネルを示している。このステージパネルにも、以下に説
明するような多数の表示部やボタン、ランプが設けられ
ている。
FIG. 5B shows a stage panel in this embodiment. This stage panel is also provided with a number of display units, buttons, and lamps as described below.

【0044】(1)処理条件表示部450:選択された
処理モード(後述する)の識別符号やフロー処理条件の
番号を表示する。この表示部はピリオドで区切られた1
桁および2桁の7セグメントのLEDにより構成されて
いる。本実施例において、処理条件表示部450に表示
できる符号は、「0」ないし「9」の数字と、「F」な
どのいくつかの英文字と、「−」のみである。
(1) Processing condition display section 450: Displays the identification code of the selected processing mode (described later) and the number of the flow processing condition. This display is divided by a period.
It is composed of a digit and two-digit seven-segment LEDs. In this embodiment, the symbols that can be displayed on the processing condition display section 450 are only the numerals “0” to “9”, some English characters such as “F”, and “−”.

【0045】(2)文字列表示部452:フロー処理条
件設定時には、処理を設定すべき基板が何枚目の基板か
を示す情報や、設定されたフロー処理条件の実行の可否
を示す情報などを表示する。また、処理実行時には、実
行中であることを示す情報や、処理中の基板が何枚目の
基板かを示す情報などを表示する。この表示部は液晶デ
ィスプレイにより構成されている。本実施例において、
文字列表示部452に表示される文字は、数字、英文
字、仮名文字のみであるが漢字を表示できるようにして
もよい。また、文字列表示部452には、最大16文字
までの文字列を表示することが可能である。
(2) Character string display section 452: at the time of setting flow processing conditions, information indicating the number of substrates to be set, information indicating whether the set flow processing conditions can be executed, and the like. Is displayed. When the process is executed, information indicating that the process is being executed, information indicating the number of the substrate being processed, and the like are displayed. This display unit is constituted by a liquid crystal display. In this embodiment,
The characters displayed on the character string display unit 452 are only numbers, English characters, and kana characters, but may be kanji characters. Further, the character string display unit 452 can display a character string of up to 16 characters.

【0046】(3)処理条件選択ボタン460:処理モ
ード(後述する)やフロー処理条件を選択する。上方の
ボタンを押すと、「01」から「99」および「FF」
の100個の符号がこの順番で上昇して処理条件表示部
450に表示され、下方のボタンを押すとこの符号が下
降する。中のボタンを押すと、「0」から「9」および
「F」の11個の符号がこの順番で処理条件表示部45
0に表示される。上方および下方のボタンで処理条件表
示部450のピリオドで区切られた2桁部分の表示を変
更し、中のボタンでピリオドで区切られた1桁部分の表
示を変更する。
(3) Processing condition selection button 460: Selects a processing mode (to be described later) and a flow processing condition. By pressing the upper button, "01" to "99" and "FF"
Are increased in this order and displayed on the processing condition display section 450, and when the lower button is pressed, the symbols are decreased. When the middle button is pressed, the eleven symbols “0” to “9” and “F” are displayed in this order in the processing condition display section 45.
Displayed as 0. The upper and lower buttons change the display of the two-digit portion of the processing condition display section 450 separated by a period, and the middle button changes the display of the one-digit portion separated by a period.

【0047】(4)スタートボタン464:設定された
処理レシピに従って処理を開始する。
(4) Start button 464: Starts processing according to the set processing recipe.

【0048】(5)送り出し停止ボタン/決定ボタン4
68:このボタンは、使用状況に応じて2つの機能を有
する。処理実行時には「送り出し停止ボタン」として機
能し、処理設定時には「決定ボタン」として機能する。
「送り出し停止ボタン」は、処理中の基板をその処理の
終了後にカセットに収納し、カセット内の未処理基板を
処理のために各処理ユニットへ搬出させないようにする
ためのボタンである。「決定ボタン」は、処理条件表示
部450に表示されたフロー処理条件を採用するものと
決定するためのボタンである。以後、使用状況に応じて
「送り出し停止ボタン」あるいは「決定ボタン」と呼
ぶ。
(5) Sending stop button / decision button 4
68: This button has two functions according to the use situation. It functions as a “delivery stop button” when processing is performed, and functions as a “decision button” when processing is set.
The “delivery stop button” is a button for storing a substrate under processing in a cassette after the processing is completed and preventing unprocessed substrates in the cassette from being carried out to each processing unit for processing. The “enter button” is a button for deciding to adopt the flow processing conditions displayed on the processing condition display section 450. Hereinafter, it is referred to as a “sending stop button” or a “decision button” according to the use situation.

【0049】(6)ストップボタン/キャンセルボタン
470:このボタンは、使用状況に応じて2つの機能を
有する。処理実行時には「ストップボタン」として機能
し、処理設定時には「キャンセルボタン」として機能す
る。「ストップボタン」は実行中の処理を一時的に中止
するためのボタンである。「キャンセルボタン」は処理
条件表示部450に表示されるフロー処理条件の設定を
キャンセルするためのボタンである。以後、使用状況に
応じて「ストップボタン」あるいは「キャンセルボタ
ン」と呼ぶ。
(6) Stop button / cancel button 470: This button has two functions according to the use situation. It functions as a "stop button" when processing is performed, and functions as a "cancel button" when processing is set. The “stop button” is a button for temporarily stopping the processing being executed. The “cancel button” is a button for canceling the setting of the flow processing condition displayed on the processing condition display unit 450. Hereinafter, it is referred to as a "stop button" or a "cancel button" depending on the usage status.

【0050】(7)割り込みボタン472:あるカセッ
トの基板の処理中に、異なるカセットの基板の処理を優
先的に実行するためのボタン。
(7) Interrupt button 472: A button for preferentially executing processing of a substrate of a different cassette during processing of a substrate of a certain cassette.

【0051】(8)動作中表示ランプ480:カセット
の基板の処理が実行中であることを示すためのランプ。
実行時にはランプが点灯する。
(8) In-operation indicator lamp 480: A lamp for indicating that the processing of the substrate of the cassette is being executed.
The lamp is turned on during execution.

【0052】(9)終了表示ランプ482:カセット内
のすべての基板の処理が終了したことを示すためのラン
プ。終了時にはランプが点灯する。
(9) End indicator lamp 482: A lamp for indicating that all the substrates in the cassette have been processed. At the end, the lamp lights up.

【0053】(10)一時停止表示ランプ484:カセ
ット内の基板の処理が、一時停止していることを示すた
めのランプ。一時停止中にはランプが点灯する。
(10) Pause display lamp 484: A lamp for indicating that the processing of the substrate in the cassette is temporarily stopped. The lamp lights up during the pause.

【0054】図5(b)のステージパネルには、文字列
表示部452が設けられているので、カセット内の何枚
目の基板かを示す情報を表示することができ、この情報
を順次表示してゆくことにより基板毎にフロー処理条件
を設定することができる。これにより枚葉処理の処理レ
シピを設定することが可能となる。なお、図5(b)の
ステージパネルは、本発明における入力パネルに相当す
る。
Since the character string display section 452 is provided on the stage panel of FIG. 5B, information indicating the number of substrates in the cassette can be displayed, and this information is sequentially displayed. By doing so, flow processing conditions can be set for each substrate. This makes it possible to set a processing recipe for single-wafer processing. Note that the stage panel in FIG. 5B corresponds to the input panel in the present invention.

【0055】図6は、本実施例における処理の全体手順
を示すフローチャートである。基板収納カセットに収納
された基板の処理は、図2の各カセットステージ210
(あるいは212,214,216)に備えられたステ
ージパネル262(あるいは262,264,266)
において設定する。
FIG. 6 is a flowchart showing the overall procedure of the processing in this embodiment. The processing of the substrates stored in the substrate storage cassette is performed by using each cassette stage 210 shown in FIG.
(Or 212, 214, 216) stage panel 262 (or 262, 264, 266)
Set in.

【0056】ステップS1では、基板収納カセットにつ
いて、「ロット処理」あるいは「枚葉処理」の処理モー
ドの選択を行う。図7は、ステップS1におけるステー
ジパネルの表示の一例を示す説明図である。本実施例で
は、初期設定としてロット処理モードが予め選択されて
いるので、ロット処理を行う場合にはモード選択の必要
はない。図7(a)は、ロット処理モードにおけるステ
ージパネルを示している。文字列表示部452には、フ
ロー処理条件の選択を促す文字列「No.ヲセッテイシ
テクダサイ」が表示されている。図7(b)は、枚葉処
理モードを選択した場合のステージパネルを示してい
る。処理条件選択ボタン460を操作することにより、
処理条件表示部450に枚葉処理モードを示す「F.F
F」を表示させる。このとき文字列表示部452には、
枚葉処理モードが選択されたことを示す文字列「マイヨ
ウショリモード」が表示されている。ここで、決定ボタ
ン468を選択することにより、枚葉処理モードとなり
基板毎のフロー処理条件の設定が可能となる。
In step S1, a processing mode of "lot processing" or "single wafer processing" is selected for the substrate storage cassette. FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of the display of the stage panel in step S1. In this embodiment, since the lot processing mode is selected in advance as the initial setting, there is no need to select the mode when performing lot processing. FIG. 7A shows the stage panel in the lot processing mode. The character string display section 452 displays a character string “No. FIG. 7B shows the stage panel when the single-wafer processing mode is selected. By operating the processing condition selection button 460,
"F.F" indicating the single-wafer processing mode is displayed on the processing condition display section 450.
F ”is displayed. At this time, the character string display section 452 displays
A character string “Mayoshori mode” indicating that the single-wafer processing mode has been selected is displayed. Here, by selecting the decision button 468, the mode becomes the single-wafer processing mode, and the flow processing conditions can be set for each substrate.

【0057】ロット処理を行う場合、ステップS2(図
6)においてフロー処理条件を設定する。フロー処理条
件は、処理条件選択ボタン460を操作することにより
選択する。図8は、ステップS2でフロー処理条件を選
択したときのステージパネルの表示の一例を示す説明図
である。図8の実施例では、処理条件表示部450に
「0.03」が表示されている。これは、ロット処理の
フロー処理条件として「0.03」、すなわち図4
(a)のフローグループ「0」300のフロー処理条件
「No.3」が選択されていることを示している。この
とき文字列表示部452には文字列「フローグループ0
No.3」が表示される。
When performing lot processing, flow processing conditions are set in step S2 (FIG. 6). The flow processing condition is selected by operating the processing condition selection button 460. FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of a display on the stage panel when the flow processing condition is selected in step S2. In the embodiment of FIG. 8, "0.03" is displayed on the processing condition display section 450. This is because “0.03” is the flow processing condition for the lot processing, that is, FIG.
This indicates that the flow processing condition “No. 3” of the flow group “0” 300 in FIG. At this time, the character string "flow group 0" is displayed in the character string display section 452.
No. 3 "is displayed.

【0058】枚葉処理を行う場合には、ステップS3
(図6)において枚葉処理レシピを設定する。図9は、
図6のステップS3の処理の詳細を示すフローチャート
である。ステップS3aにおいて、1枚目の基板につい
てフロー処理条件を設定する。図10は、図6のステッ
プS3で各基板についてフロー処理条件を選択したとき
のステージパネルの表示の一例を示す説明図である。図
10(a)は、1枚目の基板についてフロー処理条件を
選択したときのステージパネルを示す。文字列表示部4
52には1枚目の基板のフロー処理条件の選択を促す文
字列「1マイメノNo.ヲ セッテイ」が表示されてい
る。図10(a)の実施例では、図4(a)のフローグ
ループ「0」のフロー処理条件「No.81」が選択さ
れている。ここで、決定ボタン468を選択することに
より、1枚目の基板に対するフロー処理条件が設定さ
れ、ステップS3bに移行する。
When performing the single-wafer processing, step S3
In FIG. 6, a single-wafer processing recipe is set. FIG.
FIG. 7 is a flowchart illustrating details of a process of step S3 in FIG. 6. In step S3a, flow processing conditions are set for the first substrate. FIG. 10 is an explanatory diagram showing an example of a display on the stage panel when a flow processing condition is selected for each substrate in step S3 of FIG. FIG. 10A shows the stage panel when the flow processing condition is selected for the first substrate. Character string display section 4
52 displays a character string “1 My Menu No. ヲ Setup” that prompts the user to select the flow processing conditions for the first substrate. In the embodiment of FIG. 10A, the flow processing condition “No. 81” of the flow group “0” of FIG. 4A is selected. Here, by selecting the enter button 468, the flow processing conditions for the first substrate are set, and the flow shifts to step S3b.

【0059】ステップS3bにおいて、2枚目の基板に
ついてフロー処理条件を設定する。図10(b)は、2
枚目の基板についてフロー処理条件を選択したときのス
テージパネルを示す。図10(b)の実施例では、フロ
ーグループ「8」のフロー処理条件「No.7」が選択
されている。ここで、決定ボタン468を選択すること
により、2枚目の基板に対するフロー処理条件が設定さ
れる。このようにして、順次、基板毎にフロー処理条件
を設定してゆく。
In step S3b, flow processing conditions are set for the second substrate. FIG.
7 shows a stage panel when a flow processing condition is selected for a second substrate. In the example of FIG. 10B, the flow processing condition “No. 7” of the flow group “8” is selected. Here, by selecting the OK button 468, the flow processing conditions for the second substrate are set. In this way, the flow processing conditions are sequentially set for each substrate.

【0060】ステップS3cにおいては、25枚目の基
板についてフロー処理条件を設定する。図10(c)
は、25枚目の基板についてフロー処理条件を選択した
ときのステージパネルを示す。図10(c)の実施例で
は、フローグループ「6」のフロー処理条件「No.2
9」が選択されている。ここで、決定ボタン468を選
択することにより、25枚目の基板に対するフロー処理
条件が設定され、枚葉処理レシピの設定が完了する。図
11は、図6のステップS3での枚葉処理レシピの設定
が完了したときのステージパネルの表示の一例を示す説
明図である。図11では、文字列表示部452には枚葉
処理の実行を促す文字列「STARTデジッコウカノ
ウ」が表示され、また処理条件表示部450には、枚葉
処理モードを示す「F.FF」が表示されている。
In step S3c, flow processing conditions are set for the 25th substrate. FIG. 10 (c)
Shows a stage panel when the flow processing condition is selected for the 25th substrate. In the example of FIG. 10C, the flow processing condition “No.
9 "has been selected. Here, by selecting the OK button 468, the flow processing conditions for the 25th substrate are set, and the setting of the single wafer processing recipe is completed. FIG. 11 is an explanatory diagram showing an example of a display on the stage panel when the setting of the single-wafer processing recipe in step S3 of FIG. 6 is completed. In FIG. 11, the character string display section 452 displays a character string "START Digit Kano" that prompts the execution of single-wafer processing, and the processing condition display section 450 displays "F.FF" indicating the single-wafer processing mode. Is displayed.

【0061】本実施例のステージパネルでは、枚葉処理
レシピの設定中あるいは設定後にキャンセルボタン47
0を選択することにより、フロー処理条件が既に設定さ
れている基板について設定を変更することができる。こ
のときにも、文字列表示部452には、設定を変更する
基板が何枚目の基板であるかを示す文字列が表示され
る。これにより、基板毎のフロー処理条件の設定を確実
に実行することができる。
In the stage panel of this embodiment, the cancel button 47 is set during or after the setting of the single-wafer processing recipe.
By selecting 0, the settings can be changed for a substrate for which the flow processing conditions have already been set. Also at this time, the character string display unit 452 displays a character string indicating the number of the substrate whose setting is to be changed. Thereby, the setting of the flow processing conditions for each substrate can be reliably executed.

【0062】また、本実施例では、実行不可能なフロー
処理条件が選択された場合に、そのフロー処理条件が使
用できないことを示す文字列が表示される。実行不可能
なフロー処理条件とは、例えば、図4(a)のフローグ
ループ「0」のフロー処理条件「No.1」に含まれる
ユニット番号「#1」のスピンコータSC1(図1)に
ついてスピンナ部が故障している場合などがある。これ
によっても、基板のフロー処理条件の設定を正確に行う
ことができ、また基板の処理も確実に行うことができ
る。
In this embodiment, when an unexecutable flow processing condition is selected, a character string indicating that the flow processing condition cannot be used is displayed. The unexecutable flow processing condition is, for example, a spinner SC1 (FIG. 1) of the unit number “# 1” included in the flow processing condition “No. 1” of the flow group “0” in FIG. There is a case where the unit is out of order. This also makes it possible to accurately set the flow processing conditions for the substrate, and to surely perform the substrate processing.

【0063】本実施例では、フロー処理条件の設定は、
フロー処理条件を示す符号を選択するのみで行っている
が、各フロー処理条件に名称を割り当てて、文字列表示
部452にその名称を表示させてもよい。こうすれば、
基板のフロー処理条件の設定をさらに正確に行うことが
できる。
In this embodiment, the setting of the flow processing conditions is as follows:
Although the process is performed only by selecting a code indicating the flow processing condition, a name may be assigned to each flow processing condition, and the name may be displayed on the character string display unit 452. This way,
The setting of the flow processing conditions for the substrate can be performed more accurately.

【0064】ステップS4(図6)では、ステップS2
あるいはステップS3で設定された処理条件に従い処理
を実行する。図12は、図6のステップS4の処理の詳
細を示すフローチャートである。
In step S4 (FIG. 6), step S2
Alternatively, the processing is executed according to the processing conditions set in step S3. FIG. 12 is a flowchart showing details of the processing in step S4 in FIG.

【0065】ステップS4aにおいて、図8あるいは図
11のスタートボタン464を選択することによりロッ
ト処理あるいは枚葉処理が開始される。図13は、図1
2のステップS4aにおいて基板の処理を実行している
ときのステージパネルの表示の一例を示す説明図であ
る。図13(a)は、ロット処理を実行している場合の
ステージパネルを示している。文字列表示部452には
処理を実行していることを示す文字列「ショリチュウ」
が表示され、処理条件表示部450にはフローグループ
「0」のフロー処理条件「No.3」を示す「0.0
3」が表示されている。図13(b)は、枚葉処理を実
行している場合のステージパネルを示している。文字列
表示部452には処理を実行していることを示す文字列
「ショリチュウ」が表示され、処理条件表示部450に
は枚葉処理を示す「F.FF」が表示されている。ま
た、処理中であるときには、動作中表示ランプ480が
点灯する。
In step S4a, the lot processing or the single-wafer processing is started by selecting the start button 464 in FIG. 8 or FIG. FIG.
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of a display on a stage panel when processing of a substrate is being performed in step S4a of FIG. FIG. 13A shows a stage panel when a lot process is being performed. The character string display section 452 displays a character string “SHORICHU” indicating that the process is being executed.
Is displayed, and the processing condition display unit 450 displays “0.0” indicating the flow processing condition “No. 3” of the flow group “0”.
3 "is displayed. FIG. 13B shows a stage panel when the single-wafer processing is being performed. The character string display section 452 displays a character string “Shochu” indicating that processing is being performed, and the processing condition display section 450 displays “F.FF” indicating single-wafer processing. When the processing is being performed, the operating display lamp 480 is turned on.

【0066】本実施例では、ロット処理あるいは枚葉処
理を実行しているとき、文字列表示部452(図13)
には、処理中であることを示す文字列を表示している
が、このかわりに、何枚目の基板の処理を実行している
のかを示す文字列や、何枚目の基板まで処理が終了した
のかを示す文字列、実行中のフロー処理条件を示す文字
列などを表示してもよい。こうすれば、基板の処理の進
行状況を確認することができる。
In this embodiment, when the lot processing or the single-wafer processing is being executed, the character string display section 452 (FIG. 13)
Displays a character string indicating that processing is in progress, but instead displays a character string indicating how many substrates are being processed, and how many substrates are being processed. A character string indicating whether the processing has been completed, a character string indicating a flow processing condition being executed, or the like may be displayed. In this way, the progress of the processing of the substrate can be confirmed.

【0067】ステップS4b(図12)では、基板収納
カセットの処理中における機能選択の有無を判断する。
処理中に機能選択がない場合には、処理を続行してステ
ップS4cに移行する。
In step S4b (FIG. 12), it is determined whether a function is selected during the processing of the substrate storage cassette.
If there is no function selection during the process, the process is continued and the process proceeds to step S4c.

【0068】ステップS4bにおいて、「送り出し停
止」の機能選択があった場合にはステップS4dに移行
する。送り出し停止機能の選択は、処理中の基板収納カ
セットについてのステージパネルにおいて送り出し停止
ボタン468(図5)を選択することによって実行され
る。このとき、ステップS4dにおいては、未処理の基
板を処理ユニットへ送り出すことを停止し、処理中の基
板を処理ユニットでの処理が終了した後に受け入れ、一
時停止する。図14は、図12のステップS4dにおい
て処理が一時停止しているときのステージパネルの表示
の一例を示す説明図である。図14(a),(b)は、
それぞれロット処理、枚葉処理が一時停止したときのス
テージパネルを示している。文字列表示部452には処
理が一時停止していることを示す文字列「ショリ イチ
ジテイシ」が表示されている。また、一時停止している
ときには、一時停止表示ランプ484が点灯する。ステ
ップS4eにおいて、再度、図14(a),(b)の送
り出し停止ボタン468を選択することにより処理が再
開される。
In step S4b, if the function "stop feeding" is selected, the flow shifts to step S4d. The selection of the delivery stop function is executed by selecting the delivery stop button 468 (FIG. 5) on the stage panel for the substrate storage cassette being processed. At this time, in step S4d, sending out the unprocessed substrate to the processing unit is stopped, the substrate being processed is accepted after the processing in the processing unit is completed, and the substrate is temporarily stopped. FIG. 14 is an explanatory diagram showing an example of a display on the stage panel when the processing is temporarily stopped in step S4d of FIG. FIGS. 14 (a) and (b)
The stage panel when the lot processing and the single-wafer processing are temporarily stopped is shown. The character string display section 452 displays a character string “SHORT POSITION” indicating that the processing is temporarily stopped. When the vehicle is paused, the pause display lamp 484 is turned on. In step S4e, the process is restarted by selecting the sending stop button 468 in FIGS. 14A and 14B again.

【0069】また、ステップS4b(図12)におい
て、「割り込み」の機能選択があった場合にはステップ
S4fに移行する。割り込み機能の選択は、処理中のカ
セットと異なる他のカセットについてのステージパネル
において割り込みボタン472(図5)を選択すること
によって実行される。このとき、ステップS4fにおい
ては、処理中のカセットの未処理基板を処理ユニットへ
送り出すことを停止し、処理中の基板を処理ユニットで
の処理が終了した後に受け入れ、一時停止する。このと
きステージパネルでは、ステップS4fのときと同様、
文字列表示部452には処理が一時停止していることを
示す文字列「ショリ イチジテイシ」が表示され、一時
停止表示ランプ484が点灯する。ステップS4gにお
いて、他のカセットについての処理を実行する。他のカ
セットについての処理が終了した後、ステップS4hに
おいて、処理が一時停止していたカセットについて処理
が再開される。
If the function "interrupt" is selected in step S4b (FIG. 12), the flow shifts to step S4f. The selection of the interrupt function is executed by selecting the interrupt button 472 (FIG. 5) on the stage panel for another cassette different from the cassette being processed. At this time, in step S4f, sending out the unprocessed substrates of the cassette being processed to the processing unit is stopped, and the substrates being processed are accepted after the processing in the processing unit is completed, and then temporarily stopped. At this time, on the stage panel, as in step S4f,
The character string display section 452 displays a character string “SHORT POSITION” indicating that the processing is temporarily stopped, and the pause display lamp 484 is turned on. In step S4g, a process for another cassette is executed. After the processing for the other cassette is completed, in step S4h, the processing is resumed for the cassette for which the processing has been temporarily stopped.

【0070】ステップS4cにおいて、基板収納カセッ
ト内のすべての基板の処理が終了する。図15は、図1
2のステップS4cにおいて処理が終了したときのステ
ージパネルの表示の一例を示す説明図である。図15
(a),(b)は、それぞれロット処理、枚葉処理が終
了したときのステージパネルを示している。文字列表示
部452には処理が終了したことを示す文字列「ショリ
シュウリョウ」が表示されている。また、終了したとき
には、終了表示ランプ482が点灯する。
In step S4c, the processing of all the substrates in the substrate storage cassette ends. FIG.
FIG. 11 is an explanatory diagram showing an example of a display on the stage panel when the process is completed in step S4c of FIG. FIG.
(A) and (b) show the stage panel when the lot processing and the single-wafer processing are completed, respectively. The character string display section 452 displays a character string “SHORT” indicating that the processing has been completed. When the operation is completed, the end indicator lamp 482 is turned on.

【0071】なお、本実施例のステージパネルでは、文
字列表示部452(図5)に、ステージパネルと制御部
232(図3)との通信エラーを示す文字列、例えば
「NOT CONNECTION」を表示することがで
きる。これによりステージパネルあるいは制御部232
の異常を知ることができる。
In the stage panel of the present embodiment, a character string indicating a communication error between the stage panel and the control unit 232 (FIG. 3), for example, "NOT CONNECTION" is displayed on the character string display unit 452 (FIG. 5). can do. Thereby, the stage panel or the control unit 232 is
You can know the abnormalities.

【0072】以上説明したように、上記実施例では、文
字列表示部を設けたことにより、処理レシピの設定およ
び実行状態についての種々の情報を表示することができ
る。したがって、基板および処理レシピ、基板処理装置
についての情報を確認しながら、処理レシピを設定する
ことができる。この結果、正確な処理レシピの設定およ
び処理の実行が可能となる。
As described above, in the above embodiment, by providing the character string display section, it is possible to display various information on the setting and execution state of the processing recipe. Therefore, a processing recipe can be set while confirming information on the substrate, the processing recipe, and the substrate processing apparatus. As a result, accurate setting of the processing recipe and execution of the processing become possible.

【0073】なお、この発明は上記の実施例や実施形態
に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の態様において実施することが可能であり、
例えば次のような変形も可能である。
It should be noted that the present invention is not limited to the above examples and embodiments, but can be implemented in various modes without departing from the gist of the invention.
For example, the following modifications are possible.

【0074】(1)上記実施例においては、文字列表示
部452に表示される文字列は16文字までとされてい
るが、表示する文字数を大きくしてもよい。こうすれ
ば、より詳細な情報を表示することができる。 (2)上記実施例においては、文字列表示部452と、
処理条件表示部450とを別に設けているが、処理条件
表示部450に表示される情報を文字列表示部452に
表示させてもよい。こうすれば文字列表示フィールドを
設けるだけで必要な情報を表示することができる。 (3)上記実施例において、ハードウェアによって実現
されていた構成の一部をソフトウェアに置き換えるよう
にしてもよく、逆に、ソフトウェアによって実現されて
いた構成の一部をハードウェアに置き換えるようにして
もよい。
(1) In the above embodiment, the character string displayed on the character string display section 452 is limited to 16 characters, but the number of characters to be displayed may be increased. In this case, more detailed information can be displayed. (2) In the above embodiment, the character string display unit 452
Although the processing condition display section 450 is provided separately, information displayed on the processing condition display section 450 may be displayed on the character string display section 452. In this way, necessary information can be displayed only by providing a character string display field. (3) In the above embodiment, a part of the configuration realized by hardware may be replaced with software, and conversely, a part of the configuration realized by software may be replaced with hardware. Is also good.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例としての半導体基板処理装置
の構成を示す説明図。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a semiconductor substrate processing apparatus as one embodiment of the present invention.

【図2】図1のインデクサモジュール200のカセット
ステージを示す説明図。
FIG. 2 is an explanatory view showing a cassette stage of the indexer module 200 of FIG.

【図3】図1の半導体基板処理装置10の電気的構成を
示すブロック図。
FIG. 3 is a block diagram showing an electrical configuration of the semiconductor substrate processing apparatus 10 of FIG.

【図4】本半導体基板処理装置10における処理レシピ
を示す説明図。
FIG. 4 is an explanatory view showing a processing recipe in the present semiconductor substrate processing apparatus 10.

【図5】カセットステージに備えられたステージパネル
の一例を示す説明図。
FIG. 5 is an explanatory view showing an example of a stage panel provided on the cassette stage.

【図6】本実施例における処理の全体手順を示すフロー
チャート。
FIG. 6 is a flowchart illustrating an overall procedure of a process according to the embodiment.

【図7】ステップS1におけるステージパネルの表示の
一例を示す説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a display on a stage panel in step S1.

【図8】ステップS2でフロー処理条件を選択したとき
のステージパネルの表示の一例を示す説明図。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of a display on a stage panel when a flow processing condition is selected in step S2.

【図9】図6のステップS3の処理の詳細を示すフロー
チャート。
FIG. 9 is a flowchart showing details of the process of step S3 in FIG. 6;

【図10】図6のステップS3で各基板についてフロー
処理条件を選択したときのステージパネルの表示の一例
を示す説明図。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing an example of a display on a stage panel when a flow processing condition is selected for each substrate in step S3 of FIG. 6;

【図11】図6のステップS3での枚葉処理レシピの設
定が完了したときのステージパネルの表示の一例を示す
説明図。
FIG. 11 is an explanatory diagram showing an example of a display on a stage panel when setting of a single-wafer processing recipe in step S3 of FIG. 6 is completed.

【図12】図6のステップS4の処理の詳細を示すフロ
ーチャート。
FIG. 12 is a flowchart showing details of the process of step S4 in FIG. 6;

【図13】図12のステップS4aにおいて基板の処理
を実行しているときのステージパネルの表示の一例を示
す説明図。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing an example of a display on a stage panel when processing of a substrate is being performed in step S4a of FIG. 12;

【図14】図12のステップS4dにおいて処理が一時
停止しているときのステージパネルの表示の一例を示す
説明図。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing an example of a display on the stage panel when the processing is temporarily stopped in step S4d of FIG. 12;

【図15】図12のステップS4cにおいて処理が終了
したときのステージパネルの表示の一例を示す説明図。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing an example of a display on the stage panel when the processing is completed in step S4c of FIG. 12;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…半導体基板処理装置 100…プロセスモジュール 110…基板搬送ユニット 200…インデクサモジュール 210,212,214,216…カセットステージ 220…インデクサアーム 230…処理制御ステーション 232…制御部 234…外部磁気記憶部 236…操作部 238…表示部 240…搬送制御部 250…処理制御部 260,262,264,266…ステージパネル 300…フローグループ「0」 310…スピンコータ用のユニットグループ「2」 320…ホットプレート用のユニットグループ「4」 330…クーリングプレート用のユニットグループ
「5」 400…処理条件表示部 410…処理条件選択ボタン 412…スタートボタン 414…送り出し停止ボタン 416…ストップボタン 420…動作中表示ランプ 422…終了表示ランプ 450…処理条件表示部 452…文字列表示部 460…処理条件選択ボタン 464…スタートボタン 468…送り出し停止ボタン/決定ボタン 470…ストップボタン/キャンセルボタン 472…割り込みボタン 480…動作中表示ランプ 482…終了表示ランプ 484…一時停止表示ランプ SC1,SC2…スピンコータ HP1,HP2,HP3…ホットプレート CP1,CP2,CP3…クーリングプレート
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Semiconductor substrate processing apparatus 100 ... Process module 110 ... Substrate transfer unit 200 ... Indexer module 210,212,214,216 ... Cassette stage 220 ... Indexer arm 230 ... Processing control station 232 ... Control part 234 ... External magnetic storage part 236 ... Operation unit 238 Display unit 240 Transfer control unit 250 Processing control unit 260, 262, 264, 266 Stage panel 300 Flow group "0" 310 Unit group for spin coater "2" 320 Unit for hot plate Group "4" 330 ... Unit group "5" for cooling plate 400 ... Processing condition display section 410 ... Processing condition selection button 412 ... Start button 414 ... Sending stop button 416 ... Stop button 420 ... Middle display lamp 422 ... End display lamp 450 ... Processing condition display section 452 ... Character string display section 460 ... Processing condition selection button 464 ... Start button 468 ... Sending stop button / decision button 470 ... Stop button / Cancel button 472 ... Interruption button 480 … Indicator lamp 482… end indicator lamp 484… pause indicator lamp SC1, SC2… spin coater HP1, HP2, HP3… hot plate CP1, CP2, CP3… cooling plate

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板収納カセットに収納された基板の処
理を行うための基板処理装置であって、 複数の基板収納カセットを載置するための複数のステー
ジと、 各ステージに載置された基板収納カセット内の基板の処
理条件を示す処理レシピを設定するとともに、基板の処
理の実行を指示するために、各ステージに設けられた入
力パネルと、を備え、 各入力パネルは、対応するステージに載置された基板収
納カセット内の基板に対する処理レシピの設定時には処
理レシピの設定に関する情報を文字列として表示可能で
ある文字列表示部を備えることを特徴とする基板処理装
置。
1. A substrate processing apparatus for processing a substrate stored in a substrate storage cassette, comprising: a plurality of stages for mounting a plurality of substrate storage cassettes; and a substrate mounted on each stage. An input panel provided at each stage for setting a processing recipe indicating processing conditions of the substrate in the storage cassette and for instructing execution of the processing of the substrate; and each input panel is provided at a corresponding stage. What is claimed is: 1. A substrate processing apparatus, comprising: a character string display unit capable of displaying information regarding setting of a processing recipe as a character string when setting a processing recipe for a substrate in a mounted substrate storage cassette.
【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置であって、 前記文字列表示部は、さらに基板の処理の実行時には処
理の実行状態に関する情報を文字列として表示可能であ
る、基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the character string display unit is further capable of displaying information on an execution state of the processing as a character string when executing the processing of the substrate.
【請求項3】 請求項1または請求項2記載の基板処理
装置であって、 前記入力パネルは、前記入力パネルに対応するステージ
に載置された基板収納カセット内の複数の基板のそれぞ
れに対して処理レシピを独立に設定する枚葉処理設定が
可能であり、 前記文字列表示部は、前記枚葉処理設定において、前記
基板収納カセット内に収納されている複数の基板のう
ち、処理レシピを設定中の基板が何枚目の基板であるか
を示す文字列を表示する、基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the input panel is provided for each of a plurality of substrates in a substrate storage cassette mounted on a stage corresponding to the input panel. In the single-wafer processing setting, the character string display unit displays a processing recipe among a plurality of substrates stored in the substrate storage cassette in the single-wafer processing setting. A substrate processing apparatus for displaying a character string indicating the number of a substrate being set.
【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかに記
載の基板処理装置であって、さらに、 複数の処理レシピを格納した読み出し可能な記録媒体を
備え、 前記文字列表示部は、前記基板収納カセット内に収納さ
れている基板の処理に関し、ユーザが前記入力パネルを
用いて前記複数の処理レシピの中の1つを選択しようと
したときに、その処理レシピを実行可能か否かを示す文
字列を表示する、基板処理装置。
4. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising: a readable recording medium storing a plurality of processing recipes; Regarding the processing of the substrates stored in the substrate storage cassette, when the user attempts to select one of the plurality of processing recipes using the input panel, it is determined whether or not the processing recipe can be executed. A substrate processing apparatus that displays a character string.
【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかに記
載の基板処理装置であって、 前記文字列表示部は、前記入力パネルで処理レシピを設
定する際に、設定される処理レシピを識別するための文
字列を表示する、基板処理装置。
5. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the character string display unit displays a set processing recipe when setting the processing recipe on the input panel. A substrate processing device that displays a character string for identification.
JP1324798A 1998-01-07 1998-01-07 Substrate processing equipment Pending JPH11204389A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1324798A JPH11204389A (en) 1998-01-07 1998-01-07 Substrate processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1324798A JPH11204389A (en) 1998-01-07 1998-01-07 Substrate processing equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11204389A true JPH11204389A (en) 1999-07-30

Family

ID=11827885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1324798A Pending JPH11204389A (en) 1998-01-07 1998-01-07 Substrate processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11204389A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6473664B1 (en) Manufacturing process automation system using a file server and its control method
JP2986146B2 (en) Recipe operation system for semiconductor manufacturing equipment
WO2004100234A1 (en) Processing schedule making method, coating/developing apparatus, pattern forming device, and processing system
JP2007266050A (en) Method of executing schedule of substrate processing apparatus and program thereof
US6996449B2 (en) Semiconductor manufacturing apparatus control system
JPH11204389A (en) Substrate processing equipment
CN101802977A (en) System for processing subject to be processed and method for controlling the system
JP4509926B2 (en) Substrate processing equipment
JP4108027B2 (en) Substrate processing equipment
JP3772011B2 (en) Substrate processing equipment
JP3683957B2 (en) Substrate processing apparatus having processing recipe template function
JP2003031454A (en) Method and program for scheduling substrate treatment system
KR100954899B1 (en) Inline connection setting method and device and substrate processing device and substrate processing system
JP3739554B2 (en) Substrate processing equipment
JP3892553B2 (en) Substrate processing equipment
JP4199324B2 (en) Solid device manufacturing equipment
JP2000260676A (en) Substrate processing apparatus and storage medium storing communication control program
JP2003100586A (en) Substrate treatment apparatus and system, substrate treatment program, and data structure of job data
JP2772517B2 (en) Rotary substrate processing equipment
JPH11135395A (en) Substrate processing device
JP2813751B2 (en) Rotary substrate processing equipment
JPH10270525A (en) Substrate processor, substrate processing system and data structure of processing recipe
JP2003100585A (en) Substrate treatment apparatus and program
JP4401177B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2739142B2 (en) Rotary substrate processing equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060704

A02 Decision of refusal

Effective date: 20070109

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02