JPH111772A - マグネトロンスパッタリング装置 - Google Patents

マグネトロンスパッタリング装置

Info

Publication number
JPH111772A
JPH111772A JP16495297A JP16495297A JPH111772A JP H111772 A JPH111772 A JP H111772A JP 16495297 A JP16495297 A JP 16495297A JP 16495297 A JP16495297 A JP 16495297A JP H111772 A JPH111772 A JP H111772A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
magnetic field
magnetron sputtering
field forming
ring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16495297A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuji Kiyota
清田  哲司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Inc filed Critical Ulvac Inc
Priority to JP16495297A priority Critical patent/JPH111772A/ja
Publication of JPH111772A publication Critical patent/JPH111772A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】膜厚分布が均一な薄膜を形成できるマグネトロ
ンスパッタリング装置を提供する。 【解決手段】このマグネトロンスパッタリング装置1
は、リング状磁石261〜263が同心状に配置された磁
界形成装置26を有しており、ターゲット21表面で多
量にスパッタリングされる部分が二重リング状になって
おり、一重リング状の従来のマグネトロンスパッタリン
グ装置に比べ、スパッタリング粒子が均一に基板31に
付着するので、面内膜厚分布の良好な薄膜を得ることが
できる。この磁界形成装置26を回転させる場合には、
偏心量が小さくて済むので、低トルクの小型モータを用
いることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に薄膜を形
成するマグネトロンスパッタリング装置にかかり、特
に、薄膜の膜厚分布が良好なマグネトロンスパッタリン
グ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置や電子機器の製造工程におい
て、基板上に薄膜を形成する場合には、取り扱いの容易
さや制御性のよさからマグネトロンスパッタリング装置
が広く用いられている。
【0003】公知のように、スパッタリング方法は、薄
膜材料で構成されたターゲットと成膜対象の基板とを真
空槽内で対向配置させ、その真空槽内を真空排気した
後、アルゴン等の放電ガスを一定圧力まで導入し、ター
ゲット側に負電圧を印加し、ターゲット表面近傍で放電
を発生させており、その放電によって放電ガス分子が電
離し、ターゲットに入射すると、ターゲット表面の原子
が余弦則に従って飛び出し、基板に到達した原子によ
り、その表面に薄膜を形成させることが可能になってい
る。
【0004】マグネトロンスパッタリング装置の場合に
は、ターゲットの裏面に磁石を有する磁界形成装置を設
け、ターゲット表面に磁界を形成して電子を閉じ込め、
放電ガス分子が効率よく電離できるように構成されてお
り、このようなマグネトロンスパッタリング装置は成膜
速度が大きいことから、現在では、スパッタリング装置
のうちでも主流の装置である。
【0005】図4の符号101は、上述したマグネトロ
ンスパッタリング装置の従来技術のものである。このマ
グネトロンスパッタリング装置101は、真空槽110
を有しており、その内部の天井側にはターゲット電極1
20が配置されている。
【0006】ターゲット電極120には、薄膜材料で構
成されたターゲット121が装着されており、ターゲッ
ト121直下位置の真空槽110の底壁上には、基板ホ
ルダ130が配置されている。基板ホルダ130上に
は、ターゲット121に平行に対向した状態で、成膜対
象である基板131が載置されている。
【0007】ターゲット電極120の裏面には、磁界形
成装置126が設けられており、その磁界形成装置12
6によって、符号127で示すような磁力線がターゲッ
ト121表面に形成されている。
【0008】磁界形成装置126は、図6に示すよう
に、棒状の磁石1261とリング状の磁石1262とで構
成されており、棒状の磁石1261がヨーク125の中
心に固定され、リング状の磁石1262が棒状磁石12
1の周囲に固定されている。従って、ターゲット12
1表面では、二重に配置された磁石1261、1262
中間付近で磁力線127が水平になり、磁場の垂直成分
がゼロになっている。
【0009】一般に、磁界の垂直成分がゼロの部分でタ
ーゲットが多くスパッタリングされることが知られてお
り、このスパッタリング装置101によって薄膜を形成
する場合には、図示しない真空ポンプを起動し、排気口
112から真空槽110内を真空排気しながら、導入口
111から放電ガスを導入し、真空槽110内を一定の
減圧状態にした後、電源115を動作させてターゲット
電極120に負電圧を印加すると、磁石1261、12
2の中間部分において、ターゲット121表面に強い
放電が起こり、その部分が多量にスパッタリングされ
る。従って、多量にスパッタリングされる部分は、ター
ゲット121表面では、符号128に示すように、リン
グ状になる。
【0010】ところで、スパッタリング等の薄膜作成プ
ロセスにおいては、基板131上に形成される薄膜の膜
厚分布が問題とされる場合が多く、基板131面内での
膜厚を均一にする技術が求められている。
【0011】しかし、上記のように、ターゲット121
のスパッタリング量が大きい部分が符号128で示すリ
ング状である場合には、リングが小さいと基板131の
中心部分の薄膜が厚く形成され、それとは逆に、リング
が大きいと基板131の周辺部分の薄膜が厚く形成され
る傾向があり、いずれにしろ、基板131面内で膜厚分
布が均一な薄膜を得ることは困難であると言われてい
る。
【0012】そこで従来技術でも対策が採られており、
図5に示すようなスパッタリング装置201が提案され
ている。このスパッタリング装置201では、磁界形成
装置226を中心の磁石2261とリング状磁石2262
とで構成させ、各磁石2261、2262を同心円状に配
置してヨーク225に固定しているが、磁界形成装置2
26はヨーク225と一緒に、ターゲット221に対し
て平行に回転できるように構成されている。
【0013】ターゲット電極220の中心と、ターゲッ
ト221の中心と、基板ホルダー230の中心と、基板
231の中心とは、同じ中心軸線248上に位置してい
るが、磁界形成装置226の中心軸線247は、基板2
31等の中心軸線248に対して偏心されており、磁界
形成装置226が回転する際には、基板231等の中心
軸線248を回転軸線として回転するように構成されて
いる。
【0014】これにより、ターゲット220表面は磁力
線227によって走査され、電源215を起動した場合
にターゲット221の広い面積をスパッタリングできる
ため、良好な膜厚分布を得ることが可能になると言われ
ている。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来技術のスパッタリング装置101、201では、タ
ーゲット121、221の表面には、リング状の磁束が
一重にしか形成されないため、それを回転させて膜厚分
布を向上させようとしても、磁石の大きさ、偏心量、タ
ーゲット・基板間の距離等のパラメータを最適に設定す
ることが困難であり、パラメータを少し変えただけで、
膜厚分布が大きく変化してしまうという問題がある。
【0016】また、磁界形成装置226を回転させ、均
一な膜厚分布の薄膜を得ようとする場合には、特に、成
膜速度を大きく、成膜時間中の回転数が少ない場合に膜
厚分布が不均一になる傾向がある。従来のマグネトロン
スパッタリング装置201では、磁界形成装置226の
偏心量が大きく、回転させるとターゲット電極220内
に大きな渦電流が発生してモータの負荷となるため、回
転速度を早くできず、膜厚分布が不均一になるという問
題がある。
【0017】本発明は、上記従来技術の不都合を解決す
るために創作されたもので、その目的は、均一な膜厚分
布の薄膜を得ることができるマグネトロンスパッタリン
グ装置を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、ターゲットと、前記ターゲ
ットの裏面に配置された磁界形成装置とを有し、前記タ
ーゲット表面に磁界を形成して前記ターゲットをスパッ
タリングするマグネトロンスパッタリング装置であっ
て、前記磁界形成装置は、リング形状の磁石を少なくと
も3個有し、前記各磁石は、隣り合う磁石は前記ターゲ
ットに異なる磁極を向け、互いに離間した状態で同心状
に配置されたことを特徴とする。
【0019】この場合、請求項2記載の発明のように、
前記磁界形成装置を、その中心軸線が前記ターゲットの
中心軸線に対して偏心した状態で、前記ターゲットに対
して平行に回転できるように構成することができる。そ
の回転軸線は、請求項3記載の発明のように、最内周の
磁石の内径内に位置させるとよい。
【0020】先に述べた通り、マグネトロンスパッタリ
ング装置においては、ターゲット表面での垂直磁場成分
がゼロとなる位置に強い放電が発生する。従来技術のよ
うに、中心に棒状磁石を配置し、その周囲にリング状磁
石を配置して磁界形成装置を構成する場合には、ターゲ
ット表面での放電が強く、スパッタリング量が大きい部
分の形状は、一重のリング状になる。
【0021】それに対し、本発明の構成によれば、ター
ゲット裏面に配置された磁界形成装置が、リング形状の
磁石を少なくとも3個有しており、隣り合う磁石はター
ゲットに異なる磁極を向けている。そして、その磁界形
成装置は、各磁石が互いに離間した状態で同心状に配置
されている。
【0022】このような配置の磁界形成装置の場合、隣
合う磁石の中間位置で垂直磁場成分がゼロとなる領域が
形成されるが、それは同心状に二重のリングとして形成
される。従って、ターゲット表面では、強い放電が生じ
る領域が二重のリング状に形成される。
【0023】また、リング状の磁石を三重以上の同心状
に配置する場合には、磁石の形状や磁石間の強度差を調
整することにより、垂直磁場がゼロとなる位置やその位
置での水平磁場強度を任意に設定できる。従って、放電
が強いリング状の部分から飛び出すスパッタリング粒子
の量を調整しやすいため、内側のリングのスパッタリン
グ量と外側のリングのスパッタリング量とを配分し、基
板面内の膜厚分布を均一にすることができる。
【0024】更に、リングの数が二個以上あるので放電
の領域が広いため、静止状態でもターゲット表面を広く
スパッタリングできるが、磁界形成装置を回転させる場
合には、ターゲットの中心軸線と磁界形成装置の回転軸
線との偏心量を小さくできるので、ターゲット電極に発
生する渦電流が小さく、小型で低トルクのモータを用い
ることが可能となっている。
【0025】
【発明の実施の形態】図1の符号1は、本発明の一実施
形態のマグネトロンスパッタリング装置であり、真空槽
10を有している。真空槽10の天井部分は開放されて
おり、オーリング51と絶縁碍子55とオーリング52
を介してターゲット電極20が気密に取り付けられてい
る。
【0026】ターゲット電極20の表面には、ターゲッ
ト21が装着されており、ターゲット21直下位置の真
空槽10の底壁上には、基板ホルダ30が配置されてい
る。その基板ホルダ30上には、基板31が、ターゲッ
ト21に対して平行な状態で対向配置されている。
【0027】ターゲット電極25の裏面には、磁界形成
装置26が配置されており、ターゲット21表面上に磁
束27が漏洩し、所望形状の磁界を形成できるように構
成されている。図2を参照し、その磁界形成装置26
は、大きさが異なるリング形状の磁石261〜263が、
中心軸線47を中心にし、互いに離間した状態でヨーク
25上に同心円状に固定されている。
【0028】最内周の磁石261の内径は8mm、外径
は32mmであり、その外側の磁石262の内径は48
mm、外径は64mmであり、最外周の磁石263の内
径は80mm、外径は96mmにされており、3個の磁
石261〜263が三重のリング構造にされている。ヨー
ク25の直径は100mmである。
【0029】最内周の磁石261と最外周の磁石26
3は、ターゲット電極20側にN極が向けられ、ヨーク
25側にS極が向けられており、その中間に配置された
磁石262は、ターゲット電極20側にS極が、ヨーク
25側にN極が向けられている。
【0030】このように配置された磁石261〜263
は、最内周の磁石261の内径よりも内側の部分3は空
洞になっており、磁束を発生させる磁石は設けられてい
ない。従って、ターゲット21表面で、磁界の垂直成分
がゼロになる領域は、内側が符号271、外側が符号2
2で示すように、二重のリング状になる。
【0031】図示しない真空ポンプを起動して真空槽1
0内を真空排気し、放電ガスを導入して一定の減圧状態
の下でターゲット電極20に負電圧を印加すると、ター
ゲット21表面では、その二重リング状の部分が強く放
電し、スパッタリング粒子が多量に飛び出す。従って、
ターゲット21表面の二重リング状の部分271、272
からスパッタリング粒子が多量に飛び出すので、強く放
電する部分が一重のリング状である場合に比べると、基
板31には、ターゲット21表面の広い範囲からのスパ
ッタリング粒子が到達するので、基板31表面に均一な
膜厚の薄膜を形成することができる。
【0032】図3の符号5は、本発明のマグネトロンス
パッタリング装置の他の実施形態であり、上述した磁界
形成装置26が回転可能に構成されている。このスパッ
タリング装置5でも真空槽11の天井にターゲット電極
60が設けられ、そのターゲット電極60に、ターゲッ
ト61が装着されており、ターゲット61直下位置の真
空槽11の底壁上には、基板ホルダ70が設けられてお
り、該基板ホルダ70上には基板71が載置されてい
る。
【0033】ターゲット電極60の裏面には磁界形成装
置26が配置されているが、ターゲット61の中心と基
板71の中心とは同じ中心軸線67上に位置するように
されているのに対し、磁界形成装置26の中心軸線47
は、ターゲット61等の中心軸線67に対して、僅かに
偏心されている。従って、磁界形成装置26が、ターゲ
ット61等の中心軸線67を回転軸線として、ターゲッ
ト61に対して平行に回転すると、ターゲット61表面
の磁界は僅かに移動する。
【0034】このマグネトロンスパッタリング装置5で
は、磁界形成装置26の中心軸線47と、ターゲット6
1等の中心軸線との偏心量(軸線間の距離)は、最大でも
最内周の磁石261の内径の半分にされており、従っ
て、磁界形成装置26を配置する際には、ターゲット6
1等の中心軸線67が、最内周の磁石261の内径の内
側に位置するようにされている。
【0035】このように偏心量が少ない場合は、磁界形
成装置26が回転しても、ターゲット電極60に発生す
る渦電流は小さく、渦電流による抵抗も小さいので、小
型で低トルクのモータを用いることが可能である。従っ
て、磁界形成装置26を高速回転させながら、直流電源
15によってターゲット電極60に負電圧を印加するこ
とが可能であり、小型低トルクのモータで、ターゲット
61表面の広い領域をスパッタすることが可能となって
いる。
【0036】以上説明したように、同心の三重リング状
磁石261〜263を用いて磁界形成装置26を構成すれ
ば、二重のリング状磁石の場合に比べて強く放電するリ
ング状部分を増加させることができるため、小さい偏心
量で済み、高速回転をさせることができる。
【0037】なお、上記実施形態の磁界形成装置26に
は、同心の三重リング状磁石261〜263を用いたが、
隣り合う磁極が反対になっていれば、同心四重以上のリ
ング状磁石を用いることもできる。同心リング状の磁石
は、必ずしも同心円状に配置する必要はなく、非対称で
あっても良い。また、リング状磁石は円形に限定される
ものではなく、矩形リング状の磁石や他の形状のリング
状の磁石であってもよい。
【0038】上記実施形態では、放電に直流電源を用い
たが、電源は直流電源に限定されず、13.56MHz
やそれ以上の周波数の高周波電源であってもよい。また
直流電源と高周波電源の組合せでもよい。
【0039】
【発明の効果】ターゲット表面でのスパッタリング量が
大きい部分が二重以上のリング状になるため、基板表面
に形成される薄膜の膜厚分布が均一になる。また、磁界
形成装置を回転させる場合には、偏心量が少なくて済む
ため、小型でトルクの小さいモータを用いることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のマグネトロンスパッタリング装置の一
実施形態を説明するための図
【図2】その磁界形成装置を説明するための図
【図3】本発明のマグネトロンスパッタリング装置の他
の例を説明するための図
【図4】従来技術のマグネトロンスパッタリング装置の
一例
【図5】そのマグネトロンスパッタリング装置が有する
磁界形成装置を説明するための図
【図6】従来技術の他のマグネトロンスパッタリング装
置の一例
【符号の説明】 1、5……マグネトロンスパッタリング装置 21、
61……ターゲット 26……磁界形成装置 261〜263……磁石

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ターゲットと、前記ターゲットの裏面に配
    置された磁界形成装置とを有し、前記ターゲット表面に
    磁界を形成して前記ターゲットをスパッタリングするマ
    グネトロンスパッタリング装置であって、 前記磁界形成装置は、リング形状の磁石を少なくとも3
    個有し、 前記各磁石は、隣り合う磁石は前記ターゲットに異なる
    磁極を向け、互いに離間した状態で同心状に配置された
    ことを特徴とするマグネトロンスパッタリング装置。
  2. 【請求項2】前記磁界形成装置は、その中心軸線を、前
    記ターゲットの中心軸線に対して偏心した状態で、前記
    ターゲットに対して平行に回転できるように構成された
    ことを特徴とする請求項1記載のマグネトロンスパッタ
    リング装置。
  3. 【請求項3】前記回転軸線は、最内周の磁石の内径内に
    位置していることを特徴とする請求項2記載のマグネト
    ロンスパッタリング装置。
JP16495297A 1997-06-06 1997-06-06 マグネトロンスパッタリング装置 Pending JPH111772A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16495297A JPH111772A (ja) 1997-06-06 1997-06-06 マグネトロンスパッタリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16495297A JPH111772A (ja) 1997-06-06 1997-06-06 マグネトロンスパッタリング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH111772A true JPH111772A (ja) 1999-01-06

Family

ID=15802990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16495297A Pending JPH111772A (ja) 1997-06-06 1997-06-06 マグネトロンスパッタリング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH111772A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009157186A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 キヤノンアネルバ株式会社 磁場発生装置及びプラズマ処理装置
CN103132028A (zh) * 2011-11-30 2013-06-05 台湾积体电路制造股份有限公司 具有多个靶体和磁体的沉积室的pvd装置和方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009157186A1 (ja) * 2008-06-24 2009-12-30 キヤノンアネルバ株式会社 磁場発生装置及びプラズマ処理装置
US8231767B2 (en) 2008-06-24 2012-07-31 Canon Anelva Corporation Magnetic field generating apparatus and plasma processing apparatus
JP5166531B2 (ja) * 2008-06-24 2013-03-21 キヤノンアネルバ株式会社 磁場発生装置及びプラズマ処理装置
CN103132028A (zh) * 2011-11-30 2013-06-05 台湾积体电路制造股份有限公司 具有多个靶体和磁体的沉积室的pvd装置和方法
US9708706B2 (en) 2011-11-30 2017-07-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. PVD apparatus and method with deposition chamber having multiple targets and magnets
US10190209B2 (en) 2011-11-30 2019-01-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. PVD apparatus and method with deposition chamber having multiple targets and magnets
CN110230030A (zh) * 2011-11-30 2019-09-13 台湾积体电路制造股份有限公司 具有多个靶体和磁体的沉积室的pvd装置和方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6113752A (en) Method and device for coating substrate
EP0884761B1 (en) Sputtering apparatus with a rotating magnet array
US8580094B2 (en) Magnetron design for RF/DC physical vapor deposition
KR101855083B1 (ko) 낮은 저항률 및 불균일성을 가진 박막들을 생성하기 위한 물리 기상 증착 프로세스들을 위한 자석
JP4306958B2 (ja) 真空スパッタ装置
KR20150114986A (ko) Pvd rf dc 개방/폐쇄 루프 선택가능한 마그네트론
JPH07166346A (ja) マグネトロンスパッタリング装置
US9281167B2 (en) Variable radius dual magnetron
JP2912864B2 (ja) スパッタリング装置のマグネトロンユニット
US20140042023A1 (en) Magnetron design for extended target life in radio frequency (rf) plasmas
JPH01309965A (ja) マグネトロンスパッタ装置
JPH111772A (ja) マグネトロンスパッタリング装置
JP4219566B2 (ja) スパッタ装置
JP2004346387A (ja) スパッタ源、スパッタリング装置、及びスパッタリング方法
JPS62167877A (ja) プラズマ移動式マグネトロン型スパツタ装置
JP2000319780A (ja) スパッタリングカソード及びこれを備えたマグネトロン型スパッタリング装置
JPH04324631A (ja) 表面処理装置
JPS6217175A (ja) スパツタリング装置
JPH11140639A (ja) マグネトロン装置及びスパッタリング装置
JPH04276069A (ja) スパッタリング方法およびその装置
JPS61288067A (ja) スパツタ装置
KR100456287B1 (ko) 스퍼터링 증착장치의 스퍼터 건
JP3343819B2 (ja) イオンエッチング方法および装置
JPH0474861A (ja) プレーナマグネトロンスパッタ装置
JPS63277758A (ja) マグネトロンスパッタリング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040401

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060802

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061114

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070313