JPH11163056A - テープキャリアの製造方法 - Google Patents
テープキャリアの製造方法Info
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- JPH11163056A JPH11163056A JP9331741A JP33174197A JPH11163056A JP H11163056 A JPH11163056 A JP H11163056A JP 9331741 A JP9331741 A JP 9331741A JP 33174197 A JP33174197 A JP 33174197A JP H11163056 A JPH11163056 A JP H11163056A
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
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- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0017—Etching of the substrate by chemical or physical means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
-
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0055—After-treatment, e.g. cleaning or desmearing of holes
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Perforating, Stamping-Out Or Severing By Means Other Than Cutting (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 テープの貫通孔にはんだボールを搭載したと
きに、打ち抜きの際生じたバリに起因するクラックを生
ずることがなく、レーザ加工による孔明けのように長時
間を要しない、BGA用テープキャリアの製造方法を提
供する。 【課題の解決】 打ち抜きによりテープ1に貫通孔3を
形成した後、貫通孔3の周囲に生じたバリをレーザビー
ムにより除去する。
きに、打ち抜きの際生じたバリに起因するクラックを生
ずることがなく、レーザ加工による孔明けのように長時
間を要しない、BGA用テープキャリアの製造方法を提
供する。 【課題の解決】 打ち抜きによりテープ1に貫通孔3を
形成した後、貫通孔3の周囲に生じたバリをレーザビー
ムにより除去する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はテープキャリアの製
造方法、特にはんだボールを搭載するための貫通孔を設
けた、ボールグリッドアレイ(BGA)等に用いるテー
プキャリアの製造方法に関する。
造方法、特にはんだボールを搭載するための貫通孔を設
けた、ボールグリッドアレイ(BGA)等に用いるテー
プキャリアの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は一般的なBGA構造パッケージの
断面図である。テープ11は、表面に接着剤2が塗布さ
れており、貫通孔13が設けられている。そして、接着
剤2を介して所定のパターンを有する銅箔5が貼り付け
られ、銅箔5には半導体チップ6がエラストマー7を介
して接着される。半導体チップ6はボンディングワイヤ
8により銅箔5のパターンと電気的に接続されている。
半導体チップ6とパターンを有する銅箔5との電気的接
続には、ボンディングワイヤ以外の手段も用いられる。
貫通孔13にははんだボール4が搭載され、銅箔5の外
部端子となる。貫通孔13は打ち抜きあるいはレーザ加
工によって形成されていた。
断面図である。テープ11は、表面に接着剤2が塗布さ
れており、貫通孔13が設けられている。そして、接着
剤2を介して所定のパターンを有する銅箔5が貼り付け
られ、銅箔5には半導体チップ6がエラストマー7を介
して接着される。半導体チップ6はボンディングワイヤ
8により銅箔5のパターンと電気的に接続されている。
半導体チップ6とパターンを有する銅箔5との電気的接
続には、ボンディングワイヤ以外の手段も用いられる。
貫通孔13にははんだボール4が搭載され、銅箔5の外
部端子となる。貫通孔13は打ち抜きあるいはレーザ加
工によって形成されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、テープに打ち
抜きによって貫通孔を形成する方法によると、貫通孔に
バリが発生することがあり、このバリは、はんだボール
4を搭載したとき、クラックを生ずる原因となる。
抜きによって貫通孔を形成する方法によると、貫通孔に
バリが発生することがあり、このバリは、はんだボール
4を搭載したとき、クラックを生ずる原因となる。
【0004】図3は、打ち抜きによって形成した貫通孔
の断面を示す。貫通孔23にはテープ11の裏面側の周
囲にバリ23aが生じている。
の断面を示す。貫通孔23にはテープ11の裏面側の周
囲にバリ23aが生じている。
【0005】また、レーザ加工によってテープに貫通孔
を形成する方法によると、バリは生じないが、打ち抜き
の場合の数倍の加工時間を要する。レーザの出力を大き
くすれば、加工時間を短縮できるが、テープや接着剤が
劣化する。
を形成する方法によると、バリは生じないが、打ち抜き
の場合の数倍の加工時間を要する。レーザの出力を大き
くすれば、加工時間を短縮できるが、テープや接着剤が
劣化する。
【0006】図4は、レーザ加工によって形成した貫通
孔の断面を示す。貫通孔33は擂り鉢状で、バリは生じ
ていない。
孔の断面を示す。貫通孔33は擂り鉢状で、バリは生じ
ていない。
【0007】上に述べた通り、打ち抜きによって形成し
た貫通孔にはバリが発生して、はんだボールを搭載した
ときクラックを生ずる原因となり、レーザ加工によって
形成する方法は、加工に長時間を要する。
た貫通孔にはバリが発生して、はんだボールを搭載した
ときクラックを生ずる原因となり、レーザ加工によって
形成する方法は、加工に長時間を要する。
【0008】従って、本発明の目的は、はんだボールを
搭載したときにクラックを生ずることがなく、しかも加
工に長時間を要しないテープキャリアの製造方法を提供
することにある。
搭載したときにクラックを生ずることがなく、しかも加
工に長時間を要しないテープキャリアの製造方法を提供
することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するため、はんだボールを搭載するための貫通孔を
打ち抜きによって形成し、貫通孔の周辺に生じたバリを
レーザ加工によって除去することを特徴とするテープキ
ャリアの製造方法を提供する。
達成するため、はんだボールを搭載するための貫通孔を
打ち抜きによって形成し、貫通孔の周辺に生じたバリを
レーザ加工によって除去することを特徴とするテープキ
ャリアの製造方法を提供する。
【0010】
【発明の実施の形態】打ち抜きは通常、パンチとダイを
有する金型を用いて行ない、その後、孔の周辺のみにレ
ーザビームを照射して、打ち抜きの際生じたバリを除去
する。
有する金型を用いて行ない、その後、孔の周辺のみにレ
ーザビームを照射して、打ち抜きの際生じたバリを除去
する。
【0011】図1は、本発明の方法で製造されたBGA
用テープキャリアの、ポリイミドテープに形成された貫
通孔の断面を示す。まず、金型を用いて打ち抜きによ
り、前記テープ1に垂直の内周壁を有する貫通孔3が形
成される。このとき、貫通孔3の裏面側の周囲には、図
3に示したようなバリ23aが生じている。打ち抜き
後、貫通孔3の周辺のみにレーザビームを照射して、バ
リを取り除く。貫通孔3の断面は、図1に示すように、
テープ裏面側の縁3aがレーザ加工により傾斜した内周
壁を有するようになり、はんだボールの搭載が容易にな
る。
用テープキャリアの、ポリイミドテープに形成された貫
通孔の断面を示す。まず、金型を用いて打ち抜きによ
り、前記テープ1に垂直の内周壁を有する貫通孔3が形
成される。このとき、貫通孔3の裏面側の周囲には、図
3に示したようなバリ23aが生じている。打ち抜き
後、貫通孔3の周辺のみにレーザビームを照射して、バ
リを取り除く。貫通孔3の断面は、図1に示すように、
テープ裏面側の縁3aがレーザ加工により傾斜した内周
壁を有するようになり、はんだボールの搭載が容易にな
る。
【0012】
【発明の効果】本発明のテープキャリアの製造方法によ
ると、打ち抜きによりテープに貫通孔を形成した後、貫
通孔の周辺に生じたバリがレーザビームにより除去され
るため、はんだボールを搭載したとき、バリに起因する
クラックを生ずることがなく、しかもレーザ加工による
孔明けのように長時間を要しない。
ると、打ち抜きによりテープに貫通孔を形成した後、貫
通孔の周辺に生じたバリがレーザビームにより除去され
るため、はんだボールを搭載したとき、バリに起因する
クラックを生ずることがなく、しかもレーザ加工による
孔明けのように長時間を要しない。
【図1】 本発明の方法で製造されたBGA用テープキ
ャリアの、貫通孔の断面図。
ャリアの、貫通孔の断面図。
【図2】 BGA構造パッケージの断面図。
【図3】 従来の方法で製造されたBGA用テープキャ
リアの、貫通孔の断面図。
リアの、貫通孔の断面図。
【図4】 従来の方法で製造されたBGA用テープキャ
リアの、貫通孔の断面図。
リアの、貫通孔の断面図。
1 テープ 2 接着剤 3 貫通孔 3a テープ裏面側の縁 4 はんだボール 5 銅箔 6 半導体チップ 7 エラストマー 8 ボンディングワイヤ 9 モールド樹脂 11 テープ 13 貫通孔 23 貫通孔 23a バリ 33 貫通孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉岡 修 茨城県土浦市木田余町3550番地 日立電線 株式会社システムマテリアル研究所内
Claims (2)
- 【請求項1】 はんだボールを搭載するための貫通孔を
有するテープキャリアの製造方法において、 前記貫通孔を打ち抜きによって形成し、この貫通孔の周
辺に生じたバリをレーザによって除去することを特徴と
する、テープキャリアの製造方法。 - 【請求項2】 前記貫通孔は、垂直の内周壁を有するよ
うに形成され、前記バリの除去は、前記貫通孔の下部に
傾斜した内周壁を形成する、請求項1のテープキャリア
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9331741A JPH11163056A (ja) | 1997-12-02 | 1997-12-02 | テープキャリアの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9331741A JPH11163056A (ja) | 1997-12-02 | 1997-12-02 | テープキャリアの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11163056A true JPH11163056A (ja) | 1999-06-18 |
Family
ID=18247098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9331741A Pending JPH11163056A (ja) | 1997-12-02 | 1997-12-02 | テープキャリアの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11163056A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007245542A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | カード後処理方法及び該カード後処理方法で後処理されたカード |
JP2008150115A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Sunwoo Id Co Ltd | キャリアテープのバリ除去方法 |
JP2009002233A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Shimadzu Corp | 固定翼の製造方法、およびその固定翼を備えたターボ分子ポンプ |
JP2020199521A (ja) * | 2019-06-10 | 2020-12-17 | 日本電産サンキョー株式会社 | 溶接構造体の製造方法および振れ補正機能付き光学ユニット |
-
1997
- 1997-12-02 JP JP9331741A patent/JPH11163056A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007245542A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | カード後処理方法及び該カード後処理方法で後処理されたカード |
JP2008150115A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Sunwoo Id Co Ltd | キャリアテープのバリ除去方法 |
JP2009002233A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Shimadzu Corp | 固定翼の製造方法、およびその固定翼を備えたターボ分子ポンプ |
US8257033B2 (en) | 2007-06-21 | 2012-09-04 | Shimadzu Corporation | Production method of stator blade and turbo-molecular pump with the stator blade |
JP2020199521A (ja) * | 2019-06-10 | 2020-12-17 | 日本電産サンキョー株式会社 | 溶接構造体の製造方法および振れ補正機能付き光学ユニット |
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