JPH11160354A - プローブ - Google Patents

プローブ

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JPH11160354A
JPH11160354A JP32307497A JP32307497A JPH11160354A JP H11160354 A JPH11160354 A JP H11160354A JP 32307497 A JP32307497 A JP 32307497A JP 32307497 A JP32307497 A JP 32307497A JP H11160354 A JPH11160354 A JP H11160354A
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JP
Japan
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probe
test clip
subject
sample
test
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Pending
Application number
JP32307497A
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English (en)
Inventor
Shoji Fukuoka
正二 福岡
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被験体の形状のいかんを問わず、探針を被験
体の被計測領域に接触させた状態を持続し易いようにし
たプローブを提供する。 【解決手段】 本プローブは、被験体の電気的データを
計測する際、導電体からなる探針を被験体の被計測領域
に接触させ、探針と接続したリード線を介して被験体の
被計測領域を計測装置に電気的に導通させるプローブで
ある。更に、本プローブは、探針24に沿って探針から
突出、後退自在なテストクリップ28を備えている。テ
ストクリップは、リード線に接続された導電体から形成
され、被験体を引っかける釣り針状の先端部32を有
し、かつ、テストクリップに連結した連結棒体の基部に
設けられたボタン34を押圧してテストクリップを突出
させ、バネ力40により後退させるバネ付勢型押し出し
駆動手段を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被験体の電気的デ
ータを計測する際、導電体からなる探針を被験体の被計
測領域に接触させ、探針と接続したリード線を介して被
験体の被計測領域を計測装置に電気的に導通させるプロ
ーブに関し、更に詳細には、被験体の被計測領域の形状
のいかんを問わず、探針を被験体の被計測領域に接触さ
せた状態を持続し易いようにした、テスタ、オシロスコ
ープ等の計測装置に設けるのに最適なプローブに関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】電気・電子機器等の被験体の電圧、電
流、抵抗等の電気的データを計測する際には、通常、プ
ローブの探針を被験体の被計測領域に接触させ、探針と
接続したリード線を介して被験体の被計測領域をテスタ
等の計測装置に電気的に導通させて、計測している。こ
こで、図3を参照して、従来のプローブの構成を説明す
る。図3は、従来のプローブの構成を示す模式的な部分
断面側面図である。従来のプローブ10は、図3に示す
ように、基本的には、銅、アルミニウム、クロム等の金
属からなる先端の固定型探針12と、一方の端部で探針
12の基部に接続し、他方の端部にプラグ(図示せず)
を備え、テスタ、オシロスコープ等の計測装置のプラグ
孔に差し込んで接続するようにしたリード線14と、探
針12を固定し、手で保持するように形成された細い円
管状の絶縁体からなる保持体16とから構成されてい
る。プローブ10を使って被験体の電気的データを計測
するには、プローブ10の探針12を被験体の被計測領
域、例えば露出した金属端子又は露出した配線に接触さ
せている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
のプローブは、探針が単に棒状体で形成されているため
に、被験体の形状によっては、被験体の被計測領域に探
針を接触させた状態を持続することが難しい場合が多
い。例えば、図4(a)に示すように、被験体の被計測
領域が凹部状に形成されている場合には、探針を凹部に
押し当てることにより、探針を被験体の被計測領域に接
触させた状態を容易に持続できる。しかし、被験体の被
計測領域が、図4(b)に示すように、ICの露出した
ピン等又は配線である場合には、探針の先端が尖状又は
半球形等の曲面であるために、被験体の被計測領域に探
針を接触させた状態を持続することは難しく、従って、
被験体の正しい電気的データを得ることが難しかった。
そこで、接触し易い形状の探針に交換したり、或いは適
当な試験治具を使って被験体の被計測領域を保持して、
それに探針を接触させたりして、計測しているものの、
探針を交換したり、試験治具を使用したりするので、計
測作業が煩雑になり、計測作業の作業性が悪かった。
【0004】そこで、本発明の目的は、被験体の形状の
いかんを問わず、被験体の被計測領域に探針を接触させ
た状態を持続し易いようにしたプローブを提供すること
である。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者は、探針に加え
てテストクリップを設けることを着想し、試行錯誤して
本発明を完成するに到った。上記目的を達成するため
に、本発明に係るプローブは、被験体の電気的データを
計測する際、導電体からなる探針を被験体の被計測領域
に接触させ、探針と接続したリード線を介して被験体の
被計測領域を計測装置に電気的に導通させるプローブに
おいて、リード線に接続する導電体で形成された釣り針
状の先端部を有し、駆動手段により駆動されて、釣り針
の尖端を探針に向け、探針の側縁に沿って突出、後退自
在なテストクリップを探針の側縁に沿って備えているこ
とを特徴としている。
【0006】被験体の被計測領域が、従来のプローブで
は正確に計測することが難しい、例えばICのピン等で
ある場合には、テストクリップの釣り針状先端部を探針
の先端から突出させて、その釣り針状先端部でピンを引
っかけ、接触状態を維持することができる。また、テス
トクリップの釣り針状先端部でピンを引っかけ、かつ釣
り針状先端部の反対側からピンに探針の先端を当接さ
せ、ピンを挟んだ状態でテストクリップとピンとの接触
を維持することもできる。一方、被験体の被計測領域が
凹部を有する場合には、従来と同様に、探針の先端を凹
部状の被計測領域に接触させることができる。以上のよ
うに、本発明に係るプローブでは、被験体の被計測領域
の形状に合わせて、テストクリップ又は探針を使い分け
することができるので、被験体の被計測領域を触針する
際の態様がそれだけ多様になって、被験体の被計測領域
の形状にかかわらず、プローブを介して計測装置により
被験体の電気的データを正確に得ることができる。
【0007】また、テストクリップを突出、後退させる
手段について制約はないが、例えばテストクリップの駆
動手段は、テストクリップに連結した連結棒体の基部に
設けられたボタンを押圧してテストクリップを突出さ
せ、バネ力により後退させるバネ付勢型押し出し駆動手
段、又はテストクリップに連結した連結棒体の基部をノ
ックしてテストクリップを突出、後退させるノック式駆
動手段である。
【0008】
【発明の実施の形態】以下に、実施形態例を挙げ、添付
図面を参照して、本発明の実施の形態を具体的かつ詳細
に説明する。 実施形態例 本実施形態例は、本発明に係るプローブの実施形態の一
つ例であって、図1は本実施形態例のプローブの構成を
示す断面側面図である。本実施形態例のプローブ20
は、図1に示すように、金属からなる先端の固定型探針
22と、一方の端部で探針22の基部に接続し、他方の
端部にプラグ(図示せず)を備え、テスタ、オシロスコ
ープ等の計測装置のプラグ孔に差し込んで接続するよう
にしたリード線24と、探針22を固定し、手で保持す
るように形成された、細い円管状の絶縁体からなる保持
体26とを備えている。
【0009】更に、プローブ20は、棒状体として形成
され、探針22に沿って突出、後退自在なテストクリッ
プ28を備えている。テストクリップ28は、尖端30
を探針22に向けた釣り針状の先端部32(テストクリ
ップが突出した状態を示す図2を参照する)を一方の端
部に有し、保持体26内に延在して、保持体26の他方
の端部から突出し、突出したテストクリップ28の他方
の端部に押しボタン34を有する。テストクリップ28
は、更に、テストクリップ28の他方の端部近傍であっ
て、保持体26内にバネ押さえ板36を備え、保持体2
6の内部に固定され、テストクリップ28を貫通させる
環状板38との間にバネ40を備えている。また、テス
トクリップ28は、リード線24の分岐線42に接続さ
れていて、接続点44から押しボタン34までの棒状体
は絶縁体で形成されているか、又は接続点44から貫通
板38までの棒状体の一部が絶縁体で形成されていて、
テストクリップ28の先端部32以外の部分をリード線
24から電気的に絶縁している。
【0010】プローブ20を使用する際、被験体の被計
測領域が図4(a)に示すように凹部を有する端子の場
合には、従来と同様に、探針22の先端を端子の凹部に
接触させ、接触させた状態をそのまま維持する。被験体
の被計測領域が、図4(b)に示すように、ICのピン
等の線状体である場合には、バネ40のバネ力に抗して
押しボタン34を押圧し、図2(a)に示すように、テ
ストクリップ28の釣り針状の先端部32を探針22か
ら突出させ、図2(b)に示すように、先端部32でピ
ンPを引っかけてテストクリップ28と接触を保持し、
リード線42、24を介してピンPと計測装置(図示せ
ず)との導通を維持する。また、別法として、図2
(b)に示すように、先端部32でピンPを引っかけて
テストクリップ28と接触を保持し、次いで、押しボタ
ン34の押圧を解除すると、テストクリップ28の釣り
針状の先端部32は、探針22に向かって後退する、実
際には、探針22が釣り針状の先端部32に向かって前
進して、図2(c)に示すように、ピンPを釣り針状の
先端部32と探針22との間に保持する。以上のように
して、計測に必要な時間だけ、ピンPとテストクリップ
28との接触を確実に維持することができる。
【0011】
【発明の効果】本発明によれば、被験体の電気的データ
を計測する際、導電体からなる探針を被験体の被計測領
域に接触させ、探針と接続したリード線を介して被験体
の被計測領域を計測装置に電気的に導通させるプローブ
に、リード線に接続した導電体からなる釣り針状の先端
部を有し、釣り針の尖端を探針に向けて探針に沿って突
出、後退自在なテストクリップを探針に沿って設けてい
る。本発明に係るプローブを使用する際、被験体の被計
測領域が凹部を有する金属端子等である場合には、従来
と同様に探針の先端を被験体の被計測領域に接触させ、
また、被験体の被計測領域がICのピン等の線状体であ
る場合には、テストクリップを探針の先端から突出させ
て、テストクリップの先端で被験体を引っかけ、又は、
テストクリップの先端と探針とで被験体を挟み、テスト
クリップと被験体との接触を確実に維持することができ
るので、接触不良等による電圧、電流、抵抗等の電気的
データの測定誤りを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例のプローブの構成を示す断面側面図
である。
【図2】図2(a)はテストクリップが突出した状態を
示すプローブの断面側面図、図2(b)及び(c)は、
それぞれ、テストクリップとピンとの接触状態を示す図
である。
【図3】従来のプローブの構成を示す断面側面図であ
る。
【図4】図4(a)及び(b)は、それぞれ、被験体の
被計測領域の形状を示す図である。
【符号の説明】
10……従来のプローブ、12……探針、14……リー
ド線、16……保持体、20……実施形態例のプロー
ブ、22……探針、24……リード線、26……保持
体、28……テストクリップ、30……釣り針状の先端
部の尖端、32……釣り針状の先端部、34……押しボ
タン、36……バネ押さえ板、38……環状板、40…
…バネ、42……リード線の分岐線、44……接続点。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被験体の電気的データを計測する際、導
    電体からなる探針を被験体の被計測領域に接触させ、探
    針と接続したリード線を介して被験体の被計測領域を計
    測装置に電気的に導通させるプローブにおいて、 リード線に接続する導電体で形成された釣り針状の先端
    部を有し、駆動手段により駆動されて、釣り針の尖端を
    探針に向け、探針の側縁に沿って突出、後退自在なテス
    トクリップを探針の側縁に沿って備えていることを特徴
    とするプローブ。
  2. 【請求項2】 テストクリップの駆動手段が、テストク
    リップに連結した連結棒体の基部に設けられたボタンを
    押圧してテストクリップを突出させ、バネ力により後退
    させるバネ付勢型押し出し駆動手段、又はテストクリッ
    プに連結した連結棒体の基部をノックしてテストクリッ
    プを突出、後退させるノック式駆動手段であることを特
    徴とする請求項1に記載のプローブ。
  3. 【請求項3】 計測装置が、テスタ、又はオシロスコー
    プであることを特徴とする請求項1又は2に記載のプロ
    ーブ。
JP32307497A 1997-11-25 1997-11-25 プローブ Pending JPH11160354A (ja)

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JP32307497A JPH11160354A (ja) 1997-11-25 1997-11-25 プローブ

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JP32307497A JPH11160354A (ja) 1997-11-25 1997-11-25 プローブ

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ID=18150805

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JP32307497A Pending JPH11160354A (ja) 1997-11-25 1997-11-25 プローブ

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