JPH11155105A - イメージセンサ - Google Patents

イメージセンサ

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JPH11155105A
JPH11155105A JP9338006A JP33800697A JPH11155105A JP H11155105 A JPH11155105 A JP H11155105A JP 9338006 A JP9338006 A JP 9338006A JP 33800697 A JP33800697 A JP 33800697A JP H11155105 A JPH11155105 A JP H11155105A
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JP
Japan
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photoelectric conversion
voltage signal
image sensor
conversion element
logarithmic
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JP9338006A
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English (en)
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Noriyuki Shinozuka
典之 篠塚
Toshiaki Tanaka
利明 田中
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Honda Motor Co Ltd
Citizen Watch Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Citizen Watch Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ダイナミックレンジが広く且つ感度が高く、し
かも光の利用率を大きくすることのできるイメージセン
サを提供する。 【解決手段】複数のフォトダイオードPDijが配列され
て成るフォトダイオードアレイ10と、該フォトダイオ
ードアレイの中の各フォトダイオードPDijを順次選択
する走査回路11、12及び13と、該走査回路によっ
て選択されたフォトダイオードPDijに流れる電流を対
数圧縮された電圧信号に変換するMOSトランジスタT
L、とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学的な像に対応
した電気信号を得るためのイメージセンサに関し、特に
MOS型イメージセンサのダイナミックレンジを拡大す
ると共に感度を向上させる技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、CCD型やMOS型のイメージセ
ンサが開発されている。これらのイメージセンサは、例
えばフォトダイオードやフォトトランジスタといった光
電変換素子がマトリックス状に配列された光電変換素子
アレイを有する。この光電変換素子アレイに光が入射さ
れると、各光電変換素子には電荷が励起される。この電
荷はセンサ電流として外部に取り出され、これによって
入射光の強弱、つまり映像が検出される。CCD型のイ
メージセンサは主に入射光によって励起された電荷を蓄
積し、この蓄積された電荷が出力端に転送され、センサ
電流として取り出される。
【0003】一方、MOS型のイメージセンサはフォト
ダイオードの接合容量に予め電荷が充電され、入射光に
よって放電された電荷が再充電時にセンサ電流として検
出され、これによって入射光の強弱が検出される。この
ような従来のMOS型イメージセンサの一例を図10に
示す。このイメージセンサは、フォトダイオードアレイ
10、垂直画素走査回路11、スイッチ回路12、水平
画素走査回路13及び抵抗Rで構成されている。このイ
メージセンサには抵抗Rを介して電源Eが供給される。
【0004】フォトダイオードアレイ10は、二次元に
配列された画素Gij(i=0,1,2,3であり、j=
0,1,2,3である)から構成されている。なお、通
常のフォトダイオードアレイは数十万画素で構成されて
いるが、本明細書では、説明を簡単にするために、4×
4画素のフォトダイオードアレイ10が使用されるもの
とする。各画素GijはフォトダイオードPDijと垂直ス
イッチとして動作するMOSトランジスタ(以下、「垂
直MOSトランジスタ」という)TVijとで構成されて
いる。このフォトダイオードPDijには、その接合容量
によって形成されるコンデンサCijが並列に挿入されて
いる。
【0005】フォトダイオードPDijのアノードは接地
され、カソードは垂直MOSトランジスタTVijのソー
スに接続されている。このフォトダイオードPDijに光
が入射されることにより電荷が励起され、センサ電流が
流れる。垂直MOSトランジスタTVijは、フォトダイ
オードPDij(及びコンデンサCij)と水平信号線Xi
とを電気的に接続するかどうかを制御する。
【0006】垂直画素走査回路11からは、4本の垂直
信号線Yjが出力されており、一定時間間隔Tで順次ア
クティブ(高レベル)にされる。各垂直信号線Yj
は、垂直MOSトランジスタTVijのゲートが接続され
ている。この垂直MOSトランジスタTVijのドレイン
は水平信号線Xiに接続されている。
【0007】スイッチ回路12は、水平スイッチとして
動作する4個のMOSトランジスタ(以下「水平MOS
トランジスタ」という)THiで構成されている。各水
平MOSトランジスタTHiのソースは水平信号線Xi
介して垂直MOSトランジスタTVijのドレインに接続
され、ドレインは出力信号線Zに接続されている。この
出力信号線Zは出力端子に接続されている。
【0008】また、水平画素走査回路13からは、4本
の信号線XAiが出力されており、一定時間間隔t(t
=T/4)で順次アクティブ(高レベル)にされる。各
信号線XAiは、それぞれスイッチ回路12の水平MO
SトランジスタTHijのゲートに接続されている。
【0009】また、出力信号線Zは抵抗Rの一方の端子
に接続されており、この抵抗Rの他方の端子は電源Eに
接続される。この抵抗Rは、センサ電流に対応するコン
デンサCijへの充電電流を、その大きさに比例した電圧
信号に変換する。この抵抗Rで成る回路を、以下「リニ
ア変換回路」と呼ぶ。従って、出力端子からは、各画素
ijに照射された光の強さに応じた電圧信号が得られる
【0010】以上の構成において、このイメージセンサ
の動作を説明する。先ず、垂直画素走査回路12は、垂
直信号線Y0をアクティブにする。これにより、この垂
直信号線Y0に接続されている各垂直MOSトランジス
タTVi0がオンになり、コンデンサCi0が水平信号線X
iに電気的に接続される。次いで、水平画素走査回路1
3は、信号線XA0をアクティブにする。これにより、
水平MOSトランジスタTH0がオンになり、コンデン
サC00と抵抗Rとが電気的に接続される。
【0011】この時点では、前回の走査で画素G00が選
択されることによりコンデンサC00に充電された電荷
は、今回の走査までの間にフォトダイオードPD00に入
射された光によって放電されている。従って、コンデン
サC00と抵抗Rとが電気的に接続されることにより、電
源Eから抵抗Rを介して上記コンデンサC00に充電が開
始される。この時、抵抗Rを流れる充電電流が電圧信号
として出力端子から取り出され、画素G00に入射された
光の強さを表す信号として使用される。また、今回の走
査で画素G00が選択されている間に、コンデンサC00
十分に充電される。以上のような構成により、イメージ
信号の検出とコンデンサC00への電荷の充電を同時に行
うことが可能になるので、次回走査時に放電量を検出す
ることが可能になっている。
【0012】以下、同様にして、水平信号線X1→X2
3と順次アクティブにされることにより、垂直信号線
0に接続されている画素Gi0に照射された光の強さを
表す信号が電圧信号として順次取り出される。そして、
垂直信号線Y0に対する処理が終了すると、以下、順次
垂直信号線Y1→Y2→Y3と順次アクティブにされ、上
述したと同様の処理が行われる。そして、画素G33に対
する処理が完了することにより1フレーム分の走査が完
了する。以上の処理が繰り返されることにより、このイ
メージセンサの出力端子には走査サイクル毎に新たなイ
メージ信号が出力される。
【0013】この従来のMOS型のイメージセンサで
は、フォトダイオードを流れるセンサ電流に比例した電
圧信号が得られるので、リニア変換回路の抵抗値を適当
に選択することにより感度を大きくすることができる。
しかしながら、感度を一定に保ちつつ広範囲なセンサ電
流を検出しようとしても、上記電圧信号は電源電圧によ
り制限されるので、ダイナミックレンジを大きくするこ
とは難しい。この種のMOS型のイメージセンサのダイ
ナミックレンジは、一般に60デシベル程度と狭いの
で、明暗の差が大きい映像を撮影すると映像中の明るい
部分と暗い部分とが潰れてしまうという問題がある。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】そこで、ダイナミック
レンジを拡大するために、各画素の光電変換素子に例え
ばMOSトランジスタ等で成る対数変換回路を直列に接
続し、光電変換素子に流れるセンサ電流を対数圧縮され
た電圧信号として検出するイメージセンサが開発されて
いる。このイメージセンサは、MOSトランジスタに流
れる電流が小さいときは、その抵抗値が対数特性で変化
することを利用している。
【0015】また、ダイナミックレンジを拡大するため
に、本出願人は、センサ電流が微少な場合はコンデンサ
への充電電流又はコンデンサからの放電電流に比例した
電圧を検出する線形応答領域を備え、センサ電流が大き
い場合にはMOSトランジスタの負荷特性に対応した対
数特性を有する電圧を検出する対数応答領域を備えた光
センサ回路を、特願平8−239503号で提案した。
【0016】しかしながら、ダイナミックレンジを拡大
するために開発されたこれらイメージセンサや光センサ
回路は、各画素に対数変換回路が設けられているので、
イメージセンサを集積回路化した場合に1画素の受光面
積が狭くなる。これにより、光の利用率が悪くなり、セ
ンサ感度が低下する。
【0017】また、上記とは別に、イメージセンサから
の出力信号を対数アンプを用いて対数圧縮する回路、例
えば図10に示したイメージセンサの出力端子に更に対
数アンプを設けた回路も従来から知られている。しかし
ながら、この回路ではイメージセンサ自体はリニア特性
を有し、このリニア特性で光電変換された信号が後段の
対数圧縮回路で対数圧縮されて出力されるだけであるの
で、イメージセンサのダイナミックレンジが拡大される
訳ではない。
【0018】そこで、本発明の目的は、ダイナミックレ
ンジが広く且つ感度が高く、しかも光の利用率を大きく
することのできるイメージセンサを提供することにあ
る。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1の態様に係るイメージセンサは、複数
の光電変換素子が配列されて成る光電変換素子群と、該
光電変換素子群の中の各光電変換素子を順次選択する走
査回路と、該走査回路によって選択された光電変換素子
に流れる電流を対数圧縮された電圧信号に変換する対数
変換手段、とを備えている。
【0020】このイメージセンサは、上記光電変換素子
群を構成する各光電変換素子が1次元に配列された場合
はリニアセンサ(1次元イメージセンサ)として使用す
ることができ、2次元に配列された場合はエリアセンサ
(2次元イメージセンサ)として使用することができ
る。光電変換素子としては、例えばフォトダイオード、
フォトトランジスタ等を使用できる。
【0021】上記走査回路は、光電変換素子群を構成す
る各光電変換素子を順次選択することにより走査を行
う。これにより、各光電変換素子は、1走査周期毎に一
定時間だけ選択される。選択された光電変換素子は対数
変換手段と電気的に接続される。対数変換手段は、走査
回路で選択された1つの光電変換素子に流れる電流を対
数圧縮された電圧信号に変換する。走査回路は光電変換
素子を順次選択するので、この対数変換手段は、光電変
換素子群の外部に1個だけ設ければよい。
【0022】従って、従来のイメージセンサのように、
各画素つまり光電変換素子毎に対数変換手段を設ける必
要がないので、イメージセンサを集積回路化した場合
に、従来の対数変換回路を有しないMOS型イメージセ
ンサと同等の受光面積を確保できる。従って、入射光の
利用効率を高めることができると共に、センサ感度の低
下を防止できる。また、光電変換素子に流れる電流が対
数圧縮された電圧信号に変換されるので、光強度に対す
るダイナミックレンジを拡大できる。この対数変換手段
としては、例えばMOSトランジスタを用いることがで
きる。
【0023】また、本発明の第1の態様に係るイメージ
センサは、前記走査回路によって選択された光電変換素
子に流れる電流を該電流に比例した電圧信号に変換する
リニア変換手段と、該リニア変換手段からの電圧信号と
前記対数変換手段からの電圧信号とを切り換えて出力す
る切換手段、とを更に備えて構成できる。
【0024】この場合、前記リニア変換手段は、前記走
査回路で選択された光電変換素子が、光が入射されるこ
とによって放電された電荷の量に比例した電圧信号を出
力するように構成できる。
【0025】上記リニア変換手段は、従来のMOS型イ
メージセンサと同様に、光電変換素子としての接合容量
に充電された電荷の放電量に応じた電圧信号を出力す
る。この構成によれば、入射光が小さい時はリニア変換
手段によって放電量に応じた電圧信号が、入射光が大き
い時は対数変換手段によって対数変換された電圧信号が
それぞれ出力されるように構成できるので、入射光が小
さいときは感度を大きく、入射光が大きいときはダイナ
ミックレンジを大きくすることができる。
【0026】また、本発明の第1の態様に係るイメージ
センサは、照度を検出する照度センサを更に備え、前記
切換手段は、該照度センサからの信号に応じて前記対数
変換手段からの電圧信号又はリニア変換手段からの電圧
信号の何れかを出力するように構成できる。この構成に
よれば、イメージセンサに入射される光の強さに応じて
リニア変換手段と対数変換手段とが自動的に切り換えら
れるので、高感度且つダイナミックレンジの広いイメー
ジセンサを提供できる。
【0027】また、本発明の第2の態様に係るイメージ
センサは、複数の光電変換素子が配列されて成る光電変
換素子群と、該光電変換素子群の中の各光電変換素子を
順次選択する第1の走査回路と、該第1の走査回路によ
って選択された光電変換素子に流れる電流を対数圧縮さ
れた電圧信号に変換して出力する対数変換手段と、該光
電変換素子群の中の各光電変換素子を順次選択する第2
の走査回路と、該第2の走査回路によって選択された光
電変換素子に流れる電流を該電流に比例した電圧信号に
変換するリニア変換手段、とを備えている。
【0028】この第2の態様に係るイメージセンサによ
れば、対数変換手段とリニア変換手段とは独立に動作す
ることができるので、高精度のイメージ信号を得ること
ができる。
【0029】また、本発明の第3の態様に係るイメージ
センサは、複数の光電変換素子が配列されて成る光電変
換素子群と、該光電変換素子群の中の各光電変換素子を
順次選択する走査回路と、該走査回路によって選択され
た光電変換素子に流れる電流を、該電流に第1の特性で
比例する電圧信号に変換する第1リニア変換手段と、該
走査回路によって選択された光電変換素子に流れる電流
を、該電流に第2の特性で比例する電圧信号に変換する
第2リニア変換手段と、該第1リニア変換手段からの電
圧信号と該第2リニア変換手段からの電圧信号とを切り
換えて出力する切換手段、とを備えている。
【0030】この第3の態様に係るイメージセンサによ
れば、光電変換素子に流れる電流を電圧信号に変換する
際に、異なるリニア特性で変換することができるので、
イメージセンサの感度を変更することができる。
【0031】更に、本発明の第4の態様に係るイメージ
センサは、複数の光電変換素子が配列されて成る光電変
換素子群と、該光電変換素子群の中の各光電変換素子を
順次選択する走査回路と、該走査回路によって選択され
た光電変換素子に流れる電流を、第1の特性で対数圧縮
された電圧信号に変換して出力する第1対数変換手段
と、該走査回路によって選択された光電変換素子に流れ
る電流を、第2の特性で対数圧縮された電圧信号に変換
して出力する第2対数変換手段と、該第1対数変換手段
からの電圧信号と該第2対数変換手段からの電圧信号と
を切り換えて出力する切換手段、とを備えている。
【0032】この第4の態様に係るイメージセンサによ
れば、光電変換素子に流れる電流を電圧信号に対数圧縮
する際に、異なる対数特性で変換することができるの
で、イメージセンサのダイナミックレンジを変更するこ
とができる。
【0033】なお、上記本発明の第3の態様に係るイメ
ージセンサにおいて、照度を検出する照度センサを更に
備え、前記切換手段は、該照度センサからの信号に応じ
て前記第1リニア変換手段からの電圧信号又は第2リニ
ア変換手段からの電圧信号の何れかを出力するように構
成できる。また、上記本発明の第4の態様に係るイメー
ジセンサにおいて、照度を検出する照度センサを更に備
え、前記切換手段は、該照度センサからの信号に応じて
前記第1対数変換手段からの電圧信号又は第2対数変換
手段からの電圧信号の何れかを出力するように構成でき
る。
【0034】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)図1に本発明の
実施の形態1に係るイメージセンサの回路図を示す。こ
のイメージセンサの構成は、図2に示すように、従来の
技術の欄で説明したイメージセンサ(図10参照)の抵
抗RがMOSトランジスタTLで置き換えられているこ
とを除けば、従来のイメージセンサと同じである。従っ
て、同一部分には同一符号を付し、説明は省略する。
【0035】このMOSトランジスタTLのソースは出
力信号線Zに接続され、ドレインは電源Eに接続され、
ゲートは可変の電源E2に接続されている。電源E2の
電圧は、MOSトランジスタTLを対数特性で動作させ
るために、可変になっている。即ち、MOSトランジス
タTLが対数特性で動作する範囲外である場合に、この
電源E2の電圧を調整することにより、対数特性で動作
する範囲内にすることができる。このMOSトランジス
タTLは、出力信号線Zに流れる電流、換言すれば走査
回路11及び13によって選択された画素Gijのフォト
ダイオードPDijに流れるセンサ電流を対数変換し、電
圧信号として出力する。このMOSトランジスタTL及
び可変電源E2で成る回路を、以下「対数変換回路」と
呼ぶ。
【0036】この構成によれば、フォトダイオードPD
ijに流れるセンサ電流が対数圧縮された電圧信号として
出力されるので、光強度に対するダイナミックレンジを
拡大できる。
【0037】なお、図1では、MOSトランジスタTL
のゲートには可変電源E2からの電圧が印加されるよう
になっているが、必要に応じて別途設けた制御回路から
正電圧のパルスを供給するように構成してもよい。ま
た、電源Eの電圧がMOSトランジスタTLのゲートに
供給されることにより該MOSトランジスタTLを対数
特性で動作させることができる場合は、電源Eをドレイ
ンとゲートとを直接接続することができる。この場合、
電源E2は省略できるのでイメージセンサの構成が簡単
になる。
【0038】また、この実施の形態1に係るイメージセ
ンサが集積回路化される場合は、フォトダイオードアレ
イ10、垂直画素走査回路11、スイッチ回路12、水
平画素走査回路13及びMOSトランジスタTLは同一
基板上に作成される。
【0039】(実施の形態2)図3に本発明の実施の形
態2に係るイメージセンサの回路図を示す。このイメー
ジセンサは、上述した実施の形態1の構成に、従来の技
術の欄で説明したと同様の抵抗Rで成るリニア変換回路
及び信号選択回路14が追加されて構成されている。
【0040】リニア変換回路としての抵抗Rは、スイッ
チとして動作するMOSトランジスタTS1を介して出
力信号線Zに接続されている。同様に、対数変換回路と
してのMOSトランジスタTLは、スイッチとして動作
するMOSトランジスタTS2を介して出力信号線Zに
接続されている。
【0041】信号選択回路14には、外部から選択信号
が入力される。また、信号選択回路14からは、制御信
号CS1がMOSトランジスタTS1のゲートに、制御
信号CS2がMOSトランジスタTS2のゲートにそれ
ぞれ供給される。この信号選択回路14は、外部からの
選択信号に応じて、制御信号CS1又は制御信号CS2
の何れか一方のみをアクティブにする。
【0042】上記制御信号CS1がアクティブにされた
場合は、MOSトランジスタTS1がオンになり、リニ
ア変換回路(抵抗R)が出力信号線Zに電気的に接続さ
れる。これにより、出力端子からは充電電流に比例した
電圧信号が得られる。一方、制御信号CS2がアクティ
ブにされた場合は、MOSトランジスタTS2がオンに
なり、対数変換回路(MOSトランジスタTL)が出力
信号線Zに電気的に接続される。これにより、出力端子
からは、フォトダイオードPDijを流れるセンサ電流が
対数圧縮された電圧信号が得られる。
【0043】外部から信号選択回路14に供給される選
択信号は、例えばこのイメージセンサとは別個に設けら
れた照度センサ(図示しない)から得ることができる。
この照度センサを用いる場合、入射された光の一部をハ
ーフミラーを透過させてイメージセンサに導き、他部を
ハーフミラーで反射させて照度センサに導くように構成
できる。この場合、照度センサから入射光量の平均値に
相当する選択信号が得られる。
【0044】信号選択回路14は、選択信号が入射光量
が所定値以下であることを示していれば制御信号CS1
をアクティブにし、該所定値より大きいことを示してい
れば制御信号CS2をアクティブにする。これにより、
入射光が弱い時はリニア変換回路が選択されるのでコン
デンサCijへの充電電流が検出され、放電された電荷の
量に比例した電圧信号が得られる。一方、入射光が強い
ときは対数変換回路が選択されるのでフォトダイオード
PDijを流れるセンサ電流が検出され、該センサ電流が
対数圧縮された電圧信号が得られる。
【0045】この実施の形態2に係るイメージセンサの
動作を示すタイミングチャートを図4に示す。図4は、
制御信号CS1が高レベルになることによってMOSト
ランジスタTS1がオンにされた場合に放電量検出動作
が行われ、制御信号CS2が高レベルになることによっ
てMOSトランジスタTS2がオンにされた場合に対数
変換動作が行われることを示している。放電量検出動作
の場合は、コンデンサCijが充電されるに連れて充電電
流が小さくなるので、出力端子からの出力信号のレベル
は徐々に小さくなる。一方、対数変換動作の場合は、フ
ォトダイオードPDijに流れるセンサ電流自体が検出さ
れることになるので、出力端子からの出力信号のレベル
は保持される。なお、図4には示されていないが、放電
量検出動作に入る前には、1フレーム分の蓄積時間が設
けられる。
【0046】この構成によれば、任意の画素における信
号検出方法を選択することが可能になるので、入射光が
弱いときは、放電量検出動作を行わせることにより感度
を向上させることができ、入射光が強い時は対数変換動
作を行わせることによりダイナミックレンジを拡大する
ことができる。
【0047】なお、上記外部からの選択信号は、照度セ
ンサから得るのではなく、イメージセンサ自体から得る
ように構成することもできる。即ち、或る画素の放電量
検出動作時の出力信号がオーバーフローしている場合
(強い光が入力された場合)はその画素の出力は対数変
換動作で検出するようにし、逆に対数変換動作で得られ
た出力信号が弱い光の入力があったことを示している場
合は放電量検出動作によって信号を検出するように構成
する。この場合、前回の検出結果に基づいて今回の検出
方法が決定されることになる。この構成によれば、画素
単位で変換方法を選択することが可能になる。また、光
学系や照度センサも不要となるので、イメージセンサを
安価に構成できる。
【0048】なお、この実施の形態2のイメージセンサ
では、任意の画素における放電量検出動作と対数変換動
作を同時に行うことはできない。また、放電量検出動作
と対数変換動作とを1フレーム毎に切り替えることが理
論的には可能であるが、対数変換動作に引き続いて放電
量検出動作を行うとコンデンサCijに電荷が充電されて
いないことから誤検出の可能性がある。この問題を解決
するためには、放電量検出動作から対数変換動作又は対
数変換動作から放電量検出動作に移行する際に1フレー
ム分の走査時間を犠牲にして充電サイクルを設ければよ
い。或るいは対数変換動作後にコンデンサCijを充電す
る時間を設ける回路を付加すればよい。
【0049】また、この実施の形態2のイメージセンサ
は、次のように変形できる。即ち、MOSトランジスタ
TLを抵抗に置き換えてイメージセンサを構成すること
ができる。この場合、抵抗値が異なる抵抗を用いれば、
入射光の強さに応じて感度の異なるイメージセンサを構
成できる。また、抵抗RをMOSトランジスタに置き換
えてイメージセンサを構成できる。この場合、特性の異
なるMOSトランジスタを用いれば、フォトダイオード
に流れるセンサ電流が異なる対数特性で電圧信号に変換
されるので、入射光の強さに応じてダイナミックレンジ
が変化するイメージセンサを構成できる。
【0050】(実施の形態3)図5に本発明の実施の形
態3に係るイメージセンサの回路図を示す。このイメー
ジセンサは、2系統の水平画素走査回路を有し、リニア
変換回路と対数変換回路とが独立して機能するように構
成されている。
【0051】このイメージセンサは、図10に示した従
来のイメージセンサに、スイッチ回路120、水平画素
走査回路130及び対数変換回路としてのMOSトラン
ジスタTLが追加されて構成されている。これら追加さ
れた回路の構成及び機能は実施の形態1と同じであるが
動作が異なる。
【0052】この実施の形態3に係るイメージセンサの
動作を示すタイミングチャートを図6に示す。図6は、
垂直信号線Yjの信号が高レベルの間に、放電量検出動
作と対数変換動作とが並行して行われることを示してい
る。
【0053】この実施の形態3が、実施の形態2と大き
く相違するところは、MOSトランジスタTHiをオン
にして放電量検出動作させながら、該MOSトランジス
タTHiと水平信号線Xiで接続されている、スイッチ回
路120内のMOSトランジスタTHi’以外のMOS
トランジスタをオンにして対数変換動作させることが可
能な点である。以下、この相違点について具体例を挙げ
て説明する。
【0054】今、上記実施の形態2の変形例で示したよ
うなイメージセンサ自体から選択信号を得る構成のイメ
ージセンサを考える。この場合、各画素について放電量
検出動作及び対数変換動作を行わせ、得られた2種類の
イメージ信号のうち好適な方を採用するように構成でき
る。このような動作を行わせるためには、上述した実施
の形態2の構成では、放電量検出動作と対数変換動作と
を同時に行わせることができないので、各動作を例えば
1フレーム毎に切り替える必要がある。このためには、
放電量検出動作から対数変換動作又はその逆に移行する
際に1フレーム分の走査時間を犠牲にして充電サイクル
を設けるか、或るいは対数変換動作後にコンデンサCij
を充電する時間を設ける必要がある。
【0055】より具体的には、イメージセンサ全体の走
査は、例えば図7に示すような幾つかの方法で行うこと
ができる。第1の方法は、図7(A)に示すように、全
画素を単位としてリニア特性による走査(放電量検出動
作)と対数特性による走査(対数変換動作)とを交互に
行う方法である。即ち、先ず最初にリニア特性で全画素
を走査する(ステップS10)。次いで、対数特性で全
画素を走査する(ステップS11)。次いで、全画素を
充電する(ステップS12)。その後、ステップS10
に戻り、同様の処理を繰り返す。
【0056】第2の方法は、図7(B)に示すように、
1ラインの画素を単位としてリニア特性による走査と対
数特性による走査とを交互に行う方法である。即ち、先
ず最初にリニア特性で垂直信号線Yjに接続されている
画素を走査する(ステップS20)。次いで、対数特性
で垂直信号線Yjに接続されている画素を走査する(ス
テップS21)。次いで、垂直信号線Yjに接続されて
いる画素を充電する(ステップS22)。次いで、次の
垂直信号線Y1を1つ進める(ステップS23)。即
ち、「j←j+1」を行う。その後、ステップS20に
戻り、同様の処理を繰り返す。
【0057】第3の方法は、図7(C)に示すように、
1画素を単位としてリニア特性による走査と対数特性に
よる走査とを交互に行う方法である。即ち、先ず最初に
リニア特性で1つの画素Gijを走査する(ステップS3
0)。次いで、対数特性でその画素Gijを走査する(ス
テップS31)。次いで、その画素Gijを充電する(ス
テップS32)。次いで、画素Gijを1つ進める(ステ
ップS33)。即ち、「i←i+1」を行い、「i」が
最大値を超えたら「i」を初期値に戻して「j←j+
1」を行う。その後、ステップS30に戻り、同様の処
理を繰り返す。
【0058】しかし、実施の形態2に係るイメージセン
サは、1系統の読出手段しか備えていないので、上述し
た何れの方法を用いても、同じ画素がシリアルに2回走
査されることになる。図8は、上記第3の方法の場合に
おける走査される画素の時間的推移を示す。この図8に
示すように、実施の形態2に係るイメージセンサでは、
走査は、水平信号線Xiと垂直信号線Yjとで指定される
画素(Xi,Yj)をリニア特性で走査→同じ画素
(Xi,Yj)を対数特性で走査→画素(Xi+1,Yj)を
リニア特性で走査→同じ画素(Xi+1,Yj)を対数特性
で走査→・・・・というように時間の経過に連れて順次
進む。従って、単純にイメージセンサ全体を1回だけ走
査する場合に比べて走査時間が2倍がかかることにな
り、コンデンサCijへの充電時間をも考慮すると更に時
間がかかることになる。
【0059】これに対し、実施の形態3に係るイメージ
センサでは、2系統の読出手段を備えており、走査はリ
ニア特性で走査するフェーズと対数特性で走査するフェ
ーズとで成る2段のパイプライン方式で進行する。図9
は、上記第3の方法の場合における走査される画素の時
間的推移を示す。この図9に示すように、実施の形態3
に係るイメージセンサでは、走査は、画素(Xi,Yj
をリニア特性で走査すると並行してその1つ前の画素
(Xi-1,Yj)を対数特性で走査→画素(Xi+1,Yj
をリニア特性で走査すると並行して画素(Xi,Yj)を
対数特性で走査→画素(Xi+2,Yj)をリニア特性で走
査すると並行して画素(Xi+1,Yj)を対数特性で走査
→・・・・というように時間の経過に連れて順次進行す
る。
【0060】従って、各画素における放電量検出動作と
対数変換動作とが同時に行われることはない。また、放
電量検出動作に引き続いて対数変換動作が行われ、その
逆のシーケンスはないので、コンデンサCijに電荷が充
電されていないことに原因する誤検出もない。また、実
施の形態2のイメージセンサのように、放電量検出動作
から対数変換動作又は対数変換動作から放電量検出動作
に移行する際に1フレーム分の走査時間だけ待たなけれ
ばならないという問題が解決される。
【0061】また、実施の形態2の場合と同様に、この
実施の形態3においても対数変換動作後にコンデンサC
ijを充電しなければならない。しかし、この充電動作は
充電フェーズを設けて3段のパイプライン方式で進行す
るように構成することで一走査周期内で行うことができ
る。また、放電量検出動作によるイメージ信号と対数変
換動作によるイメージ信号とが略同時に得られるので、
後段の信号処理回路では所望のイメージ信号を使用する
ことができる。従って、実施の形態2のように、放電量
検出動作の結果がオーバーフローを示していたら次回は
対数変換動作に切り替えるという制御を省くことができ
る。
【0062】なお、この実施の形態3のイメージセンサ
も、上記実施の形態2と同様に、以下のように変形でき
る。即ち、MOSトランジスタTLを抵抗に置き換えて
イメージセンサを構成することができる。この場合、抵
抗値が異なる抵抗を用いれば、入射光の強さに応じて感
度の異なるイメージセンサを構成できる。また、抵抗R
をMOSトランジスタに置き換えてイメージセンサを構
成できる。この場合、特性の異なるMOSトランジスタ
を用いれば、フォトダイオードに流れるセンサ電流が異
なる対数特性で電圧信号に変換されるので、入射光の強
さに応じてダイナミックレンジが変化するイメージセン
サを構成できる。
【0063】以上説明した実施の形態1〜実施の形態3
では、リニア変換回路及び対数変換回路は1つだけ設け
られているが、画素の走査速度によってはこの構成では
十分に対応できないこともあり得る。この場合、画素を
複数のグループに分割し、各グループ毎にリニア変換回
路及び対数変換回路を設けるように構成できる。
【0064】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
ダイナミックレンジが広く且つ感度が高く、しかも光の
利用率を大きくすることのできるイメージセンサを提供
できる。即ち、MOS型イメージセンサに対数変換回路
を設けることによって対数圧縮された信号が得られるの
で、ダイナミックレンジの拡大を図ることができる。ま
た、フォトダイオードの接合容量に蓄積された電荷の放
電量を検出するリニア変換回路を併設したので弱い光を
確実に検出することができる高感度なイメージセンサと
して動作させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1に係るイメージセンサの
構成を示す回路図である。
【図2】本発明の実施の形態1に係るイメージセンサと
従来のイメージセンサの相違点を説明するための図であ
る。
【図3】本発明の実施の形態2に係るイメージセンサの
構成を示す回路図である。
【図4】本発明の実施の形態2に係るイメージセンサの
動作を説明するタイミングチャートである。
【図5】本発明の実施の形態3に係るイメージセンサの
構成を示す回路図である。
【図6】本発明の実施の形態3に係るイメージセンサの
動作を説明するタイミングチャートである。
【図7】本発明の実施の形態2に係るイメージセンサの
走査方法を示すフローチャートである。
【図8】本発明の実施の形態2に係るイメージセンサの
走査の進行を説明するための図である。
【図9】本発明の実施の形態3に係るイメージセンサの
走査の進行を説明するための図である。
【図10】従来のイメージセンサの構成を示す回路図で
ある。
【符号の説明】
10 フォトダイオードアレイ 11 垂直画素走査回路 12 スイッチ回路 13 水平画素走査回路 14 信号選択回路 120 スイッチ回路 130 水平画素走査回路 TL 対数変換回路(MOSトランジスタ) R リニア変換回路(抵抗)

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の光電変換素子が配列されて成る光電
    変換素子群と、 該光電変換素子群の中の各光電変換素子を順次選択する
    走査回路と、 該走査回路によって選択された光電変換素子に流れる電
    流を対数圧縮された電圧信号に変換して出力する対数変
    換手段、とを備えたイメージセンサ。
  2. 【請求項2】前記走査回路によって選択された光電変換
    素子に流れる電流を該電流に比例した電圧信号に変換す
    るリニア変換手段と、 該リニア変換手段からの電圧信号と前記対数変換手段か
    らの電圧信号とを切り換えて出力する切換手段、とを更
    に備えた請求項1に記載のイメージセンサ。
  3. 【請求項3】前記リニア変換手段は、前記走査回路で選
    択された光電変換素子が、光が入射されることによって
    放電された電荷の量に比例した電圧信号を出力する請求
    項2に記載のイメージセンサ。
  4. 【請求項4】照度を検出する照度センサを更に備え、 前記切換手段は、該照度センサからの信号に応じて前記
    対数変換手段からの電圧信号又はリニア変換手段からの
    電圧信号の何れかを出力する請求項1乃至請求項3の何
    れか1項に記載のイメージセンサ。
  5. 【請求項5】複数の光電変換素子が配列されて成る光電
    変換素子群と、 該光電変換素子群の中の各光電変換素子を順次選択する
    第1の走査回路と、 該第1の走査回路によって選択された光電変換素子に流
    れる電流を対数圧縮された電圧信号に変換して出力する
    対数変換手段と、 該光電変換素子群の中の各光電変換素子を順次選択する
    第2の走査回路と、 該第2の走査回路によって選択された光電変換素子に流
    れる電流を該電流に比例した電圧信号に変換するリニア
    変換手段、とを備えたイメージセンサ。
  6. 【請求項6】複数の光電変換素子が配列されて成る光電
    変換素子群と、 該光電変換素子群の中の各光電変換素子を順次選択する
    走査回路と、 該走査回路によって選択された光電変換素子に流れる電
    流を、該電流に第1の特性で比例する電圧信号に変換す
    る第1リニア変換手段と、 該走査回路によって選択された光電変換素子に流れる電
    流を、該電流に第2の特性で比例する電圧信号に変換す
    る第2リニア変換手段と、 該第1リニア変換手段からの電圧信号と該第2リニア変
    換手段からの電圧信号とを切り換えて出力する切換手
    段、とを備えたイメージセンサ。
  7. 【請求項7】複数の光電変換素子が配列されて成る光電
    変換素子群と、 該光電変換素子群の中の各光電変換素子を順次選択する
    走査回路と、 該走査回路によって選択された光電変換素子に流れる電
    流を、第1の特性で対数圧縮された電圧信号に変換して
    出力する第1対数変換手段と、 該走査回路によって選択された光電変換素子に流れる電
    流を、第2の特性で対数圧縮された電圧信号に変換して
    出力する第2対数変換手段と、 該第1対数変換手段からの電圧信号と該第2対数変換手
    段からの電圧信号とを切り換えて出力する切換手段、と
    を備えたイメージセンサ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001259883A (ja) * 2000-03-10 2001-09-25 Minolta Co Ltd 観察装置、監視装置、溶接装置、及び溶接作業方法
WO2005090935A1 (ja) 2004-03-18 2005-09-29 Hamamatsu Photonics K.K. 光検出装置
CN101922966A (zh) * 2009-06-10 2010-12-22 (株)赛丽康 测量照度、接近度以及色温的图像传感器
WO2014106946A1 (en) * 2013-01-07 2014-07-10 Ricoh Company, Ltd. Photoelectric convertor, imaging device and image-forming apparatus

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001259883A (ja) * 2000-03-10 2001-09-25 Minolta Co Ltd 観察装置、監視装置、溶接装置、及び溶接作業方法
WO2005090935A1 (ja) 2004-03-18 2005-09-29 Hamamatsu Photonics K.K. 光検出装置
US7989753B2 (en) 2004-03-18 2011-08-02 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector having wide dynamic range and low temperature dependence
CN101922966A (zh) * 2009-06-10 2010-12-22 (株)赛丽康 测量照度、接近度以及色温的图像传感器
US8658975B2 (en) 2009-06-10 2014-02-25 Siliconfile Technologies Inc. Image sensor for measuring illumination, proximity and color temperature
CN105352601A (zh) * 2009-06-10 2016-02-24 (株)赛丽康 测量照度、接近度以及色温的图像传感器
WO2014106946A1 (en) * 2013-01-07 2014-07-10 Ricoh Company, Ltd. Photoelectric convertor, imaging device and image-forming apparatus

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